JP6631880B2 - 蓄電デバイスの検査装置およびその校正システム - Google Patents

Description

本発明は、二次電池やキャパシタなどの蓄電デバイスを検査する充放電検査装置に関し、特にその温度校正に関する。

リチウムイオン電池、ニッケル水素電池をはじめとする繰り返し充電可能な二次電池、あるいは電気二重層コンデンサ（以下、蓄電デバイスと総称する）がモバイル機器、電気自動車、ハイブリッド自動車、家庭用蓄電システム、などの幅広い分野で利用されており、その重要性は近年ますます高まっている。

蓄電デバイスはその出荷前に、充放電検査装置を用いて正常に機能するかが検査される。図１は、本発明者が検討した充放電検査装置を示す図である。充放電検査装置１００ｒは、電源ユニット１０２および検査ラック（検査台）２００を備える。

蓄電デバイス１０は、トレー２に収容された状態で、搬送され、検査される。ひとつのトレー２には、最大でＮ個（Ｎは２以上の整数）の蓄電デバイス１０が収容可能となっている。

検査ラック２００には、Ｋ個（Ｋは２以上の整数）のスロット２０２が設けられる。蓄電デバイス１０を載せたトレー２は、スロット２０２に挿入される。検査ラック２００の内部には、各スロット２０２ごとに設けられたプローブが設けられ、このプローブが蓄電デバイス１０の電極と電気的に接触する。

電源ユニット１０２は、検査ラック２００に収容される蓄電デバイス１０それぞれを、充放電することにより、複数の蓄電デバイス１０を並列に検査可能に構成される。たとえば電源ユニット１０２は、スロット２０２ごとに設けられたコンバータ１０４を備える。コンバータ１０４は、対応するスロット２０２に収容されるＮ個の蓄電デバイス１０に対応するＮチャンネルの出力を有する。

スタッカクレーン４は、トレー２を搬入し、それを検査ラック２００の空きスロットにトレー２を挿入する。また検査が終了したトレー２を、スロット２０４から引き抜き、搬出する。

特開平８−１８９９５５号公報 特開平８−００７９３３号公報 特開２０１１−１３８９８１号公報 特開２０１２−２１６４２４号公報

蓄電デバイス１０の検査工程において、その温度管理はきわめて重要であり、高精度な検査のためには、蓄電デバイス１０のデバイス温度、あるいは環境温度が所望の値に安定に保たれている必要がある。

図１の充放電検査装置１００ｒにおいて、検査ラック２００には、最大でＫ×Ｎ個の蓄電デバイス１０が収容される。複数の蓄電デバイス１０の温度を個別に測定、管理するために、充放電検査装置１００ｒには温度センサユニットが設けられる。図２（ａ）、（ｂ）は、温度センサユニット４００を示す図である。温度センサユニット４００は、蓄電デバイス１０ごとに設けられた温度計測器４０２と、温度計測器４０２を支持するブラケット４０４を有する。温度計測器４０２は、熱電対や測温抵抗体などが利用される。温度センサユニット４００には、トレー２に収容される蓄電デバイス１０と同数の温度計測器４０２が設けられる。

複数の温度計測器４０２は、それぞれが対応する蓄電デバイス１０の底面と接触するように配列されている。温度センサユニット４００とトレー２は、高さ方向に相対的に可動である。トレー２の底面には温度計測器４０２が挿通可能な開口が設けられる。図２（ｂ）に示すように、充放電検査中には、温度計測器４０２の先端部４０６が蓄電デバイス１０の底面１４の所定位置（たとえば中央）と接触し、蓄電デバイス１０の温度が測定される。先端部４０６は、温度計測器４０２の本体に対して、上下にストロークする。蓄電デバイス１０の上面の電極１２には、プローブユニット５００に設けられたプローブ５０２が接触し、図１のコンバータ１０４によって充電、放電が行われる。

このような温度センサユニット４００は、定期的に校正する必要がある。図３は、従来の温度センサユニット４００の校正を説明する図である。校正に際して、作業者が、温度計測器４０２をブラケット４０４から取り外す。そして、温度計測器４０２を、その内部が所定の基準温度Ｔ_ＲＥＦに安定化された恒温槽４１０に入れて、温度計測器４０２の測定値Ｔ_ＭＥＡＳを取得し、基準温度Ｔ_ＲＥＦと測定値Ｔ_ＭＥＡＳの関係にもとづいて、温度計測器４０２を校正していた。

ところが、量産検査に用いられる充放電検査装置１００ｒは、数千チャンネルもの温度計測器４０２を備えている。また恒温槽４１０は、一旦、蓋を開けると、その温度を再び基準温度Ｔ_ＲＥＦまで戻すのに数十分〜１時間を要する。したがって従来の校正方法では、作業者がすべての温度計測器４０２を校正するには膨大な時間が必要であった。

また従来の校正方法では、作業者が検査ラック２００のそばまで赴き、校正作業を行う必要がある。したがって校正作業が行われている検査ラック２００の近傍でスタッカクレーン４を稼動させると危険であることから、校正中の温度センサユニット４００が設けられるスロット２０２のみでなく、その近傍のスロット２０２も使用不能となり、充放電検査のスループットが低下するという問題もある。

本発明は係る課題に鑑みてなされたものであり、そのある態様の例示的な目的のひとつは、温度センサユニットの校正時間を短縮し、および／または、充放電検査のスループットの低下を抑制可能な温度校正装置の提供にある。

本発明のある態様は、蓄電デバイスの検査装置に使用される温度センサの校正装置に関する。検査装置は、蓄電デバイスをスロット内に収容する検査台と、検査台に設けられて蓄電デバイスの温度を測定する温度センサと、を備える。校正装置は、温度センサが計測した基準温度体の温度に関する値と、基準温度体の基準温度に関する値とを比較して、温度センサを校正する。

この態様によると、校正装置が温度センサを自動で校正することができ、校正時間を短縮できる。

校正装置は、基準温度体と温度センサとを近づける搬送手段を有してもよい。
校正装置を自動搬送できるため、校正時間を短縮できる。

搬送手段は、蓄電デバイスを搬送する搬送手段であってもよい。
すなわち蓄電デバイスの搬送手段が、校正装置の搬送手段を兼ねることとなり、校正装置専用の搬送手段が不要となる。

基準温度体は、搬送手段によりスロット内に搬入可能に構成されていてもよい。

基準温度体は、スロット内に設けられたガイド部にガイドされる被ガイド部を有する校正用筐体を備えてもよい。
スロットには、蓄電デバイスを収容するトレーをガイドするためのガイド部を有する。校正用筐体に、スロット内のガイド部に適合した被ガイド部を設けることで、トレーに代えて、校正用筐体を挿入することが可能となる。

基準温度体は、校正用筐体の内部に温度センサを複数同時に収容する収納部を備えてもよい。

収納部は、複数の温度センサを区画して収容する複数の収納部を有してもよい。

区画された収納部ごとに、基準温度体が設けられていてもよい。

搬送手段は、温度センサを基準温度体に向けて搬送してもよい。

基準温度体の基準温度に関する値は、収納部に設けられた基準温度センサが検出した収納部の温度に関する値に基づいて決定されてもよい。

本発明の別の態様は、蓄電デバイスの検査装置に使用される温度校正装置に関する。検査装置は、蓄電デバイスを収容し、搬送手段により搬送されるトレーと、蓄電デバイスの温度を測定する温度計測器と、を備える。温度校正装置は、搬送手段により搬送可能であり、トレーに代えてスロットに挿入可能であり、校正時に温度計測器が挿入されるトレー型筐体（校正用筐体）を備える。

温度校正装置が、蓄電デバイスを収容するトレーと互換なトレー型筐体を有することで、共通の搬送手段によって温度校正装置をスロット内に自動でセットすることができる。また温度校正装置が挿入されたスロット以外では検査が可能となるため、スループットの低下を抑制できる。また手作業での校正が不要となるため校正時間を短縮できる。

蓄電デバイスを収容可能な充放電検査装置のトレーは、温度計測器を挿入して蓄電デバイスに近接させるための開口（穴）を備えてもよい。温度計測器は開口が配置されるべき位置に対向配置されており、温度校正装置のトレー型筐体は、温度計測器に対向する位置に温度計測器を挿入可能な開口を備えてもよい。

充放電検査装置は、トレーを収容するスロットを備えてもよい。温度計測器はスロットの下側におけるトレーの底面側に対向する位置に配置され、トレーにおける開口は、トレーの底面を構成する板に形成され、トレー型筐体における開口は、トレー型筐体の底面を構成する底板に形成されていてもよい。

本発明のある態様は、蓄電デバイスの充放電検査装置に使用される温度校正装置に関する。充放電検査装置は、トレーおよび温度センサユニットを備える。トレーは、複数の蓄電デバイスを収容し、スタッカクレーンにより搬送される。温度センサユニットは、トレーが挿入されるスロット内に設けられ、スロット内のトレーに対して高さ方向に相対的に可動である。温度センサユニットは、複数の蓄電デバイスに対応する複数の温度計測器を備え、各温度計測器は、対応する蓄電デバイスを検査中に、蓄電デバイスと接触可能な位置に配置されている。温度校正装置は、スタッカクレーンにより搬送可能であり、トレーに代えてスロットに挿入可能であり、校正時にその底面から複数の温度計測器が挿入されるトレー型筐体と、トレー型筐体に設けられ、複数の温度計測器に対応する複数の校正器と、を備える。各校正器は、校正時において対応する温度計測器と近接する箇所に配置されている。

校正器は、校正時に温度計測器を覆う恒温ブロックと、恒温ブロックと密着して設けられた校正用温度センサと、を備えてもよい。
恒温ブロックによって温度計測器を覆うことで、恒温ブロックと温度計測器の温度を実質的に同一とみなすことができる。そして校正用温度センサと温度計測器それぞれの測定値を読み出すことで、温度計測器を校正できる。

恒温ブロックは温調されなくてもよい。この場合、恒温ブロックの温度を所定温度に設定するための時間が不要となり、さらに校正時間を短縮できる。

恒温ブロックは、金属であってもよい。金属のように熱容量の大きい部材で温度計測器を覆うことで、温度計測器を外部と熱的に遮断することができ、校正の精度を高めることができる。

複数の校正器に含まれるいくつかの恒温ブロックは一体に構成されてもよい。
これにより、恒温ブロックを校正器ごとに独立させた場合よりも熱容量を増やして温度変化を抑制できるため、校正の精度をより高めることができる。

また恒温ブロックはトレー型筐体と一体に構成されてもよい。トレー型筐体と一体とすることで熱容量をさらに大きくできるため、校正の精度をより高めることができる。

なお、以上の構成要素の任意の組み合わせや本発明の構成要素や表現を、方法、装置、システムなどの間で相互に置換したものもまた、本発明の態様として有効である。

本発明のある態様の温度校正装置によれば、温度センサユニットの校正時間を短縮し、および／または、充放電検査のスループットの低下を抑制できる。

本発明者が検討した充放電検査装置を示す図である。 図２（ａ）、（ｂ）は、温度センサユニットを示す図である。 従来の温度センサユニットの校正を説明する図である。 実施の形態に係る温度校正装置の斜視図である。 校正器の断面図である。 校正時の温度校正装置を示す断面図である。 第１変形例に係る温度校正装置の斜視図である。 第６変形例に係る温度校正装置の斜視図である。 温度計測器が非接触で基準温度を測定する様子を示す図である。 第７変形例に係る温度校正装置の斜視図である。 第８変形例に係る温度校正装置の斜視図である。 温度校正装置を備える温度校正システムのブロック図である。 自動校正処理の一例を示すフローチャートである。

以下、本発明を好適な実施の形態をもとに図面を参照しながら説明する。各図面に示される同一または同等の構成要素、部材、処理には、同一の符号を付するものとし、適宜重複した説明は省略する。また、実施の形態は、発明を限定するものではなく例示であって、実施の形態に記述されるすべての特徴やその組み合わせは、必ずしも発明の本質的なものであるとは限らない。

実施の形態に係る温度校正装置６００について説明する前に、温度校正装置６００が検査対象とする充放電検査装置１００の温度センサユニット４００について改めて説明する。

図２（ａ）に示したように、トレー２には、複数の蓄電デバイス１０が収容され、トレー２は図１のスタッカクレーン４により搬送される。また温度校正装置６００が校正の対象とする温度センサユニット４００は、トレー２が挿入されるスロット内に設けられる。温度センサユニット４００は、スロット内のトレー２に対して高さ方向に相対的に可動である。温度センサユニット４００は、複数の蓄電デバイス１０に対応する複数の温度計測器４０２を備え、各温度計測器４０２は、対応する蓄電デバイス１０を検査中に、蓄電デバイス１０と接触可能な位置に配置されている。

続いて、温度校正装置６００の構成を説明する。図４は、実施の形態に係る温度校正装置６００の斜視図である。温度校正装置６００は、トレー型筐体（校正用筐体ともいう）６０２および複数の校正器６１０を備える。トレー型筐体６０２は、（i）図１に示すトレー２を搬送するスタッカクレーン４によって搬送可能であり、また（ii）トレー２に代えてスロットに挿入可能であり、（iii）校正時にその底面６０４から複数の温度計測器４０２が挿入可能な形状、構造を有している。トレー型筐体６０２はたとえば樹脂成型により作製される。

トレー型筐体６０２は、スロット２０２内に設けられたガイド部にガイドされる被ガイド部を有する。スロット２０２に挿入されるトレー２にも、トレー型筐体６０２と同様の被ガイド部が設けられる。

複数の校正器６１０は、温度センサユニット４００の複数の温度計測器４０２に対応しており、トレー型筐体６０２に設けられる。各校正器６１０は、校正時において対応する温度計測器４０２を校正可能な箇所に配置されている。つまり校正器６１０は、トレー２上の蓄電デバイス１０に対応する位置に設けられる。

温度校正装置６００はそのほか、図示しない電池や、マイコンやＣＰＵ（Central Processing Unit）などのプロセッサ、メモリ、通信手段など（図１２の校正コントローラ７０２）を備えてもよい。

図５は、校正器６１０の断面図である。校正器６１０は、校正時に温度計測器４０２を覆う恒温ブロック６１２と、恒温ブロック６１２と密着して設けられ、その温度を測定する校正用温度センサ６１４と、を備える。恒温ブロック６１２は、基準温度Ｔ_ＲＥＦを提供する基準温度体と把握することができる。

たとえば恒温ブロック６１２は、円筒型の凹部（内部空間、収納部ともいう）６１６を有する。凹部６１６には校正対象の温度計測器４０２が挿入される。凹部６１６の径は、温度計測器４０２と実質的に同一かそれよりわずかに大きいことが望ましい。校正用温度センサ６１４は、凹部６１６の底面から露出している。校正用温度センサ６１４の先端は丸みを帯びている。

本実施の形態において恒温ブロック６１２には、ヒータなどは設けられず、温調されない。温調手段を設けない場合には、恒温ブロック６１２およびその内部空間６１６の温度変化を抑制するために、恒温ブロック６１２の熱容量を大きくすることが好ましい。この観点から、恒温ブロック６１２は、金属、より具体的には銅やアルミニウム、鉄などで校正することが望ましい。

以上が温度校正装置６００の構成である。続いてそれを用いた校正を説明する。この校正は、充放電検査装置１００の出荷前に行われる。また出荷後にユーザの工場においても定期的に行われる。

校正装置６００は、温度計測器４０２が計測した基準温度体の温度に関する値と、基準温度体の基準温度に関する値とを比較して、温度計測器４０２を校正する。

図６は、校正時の温度校正装置６００を示す断面図である。校正時に、トレー型筐体６０２の底面６０４から、温度センサユニット４００の温度計測器４０２が挿入される。この校正状態において、温度計測器４０２の先端部４０６、恒温ブロック６１２および校正用温度センサ６１４は１カ所に集中している。また温度計測器４０２が挿入されたことにより凹部６１６内のエアボリウムは非常に小さくなる。この状態では、温度計測器４０２の先端部４０６、恒温ブロック６１２および校正用温度センサ６１４の温度は、実質的に同じ温度とみなすことができる。また、恒温ブロック６１２を熱容量の大きな材料、形状とすることで、恒温ブロック６１２を温調せずとも、それらの温度の経時変化も小さくなる。

ここで温度計測器４０２の測定値Ｔ_ＭＥＡＳは、真の温度Ｔ_ＴＲＵＥに対してオフセット誤差Ｔ_ＯＦＳのみを有し、ゲイン誤差は有しないものと仮定する。多くの温度センサにおいてこの仮定は正しい。
Ｔ_ＭＥＡＳ＝Ｔ_ＴＲＵＥ＋Ｔ_ＯＦＳ

図６の状態で、校正用温度センサ６１４の測定値Ｔ_ＲＥＦは、恒温ブロック６１２の真の温度Ｔ_ＴＲＵＥを示すものと考えられる。したがって温度計測器４０２の測定値Ｔ_ＭＥＡＳと校正用温度センサ６１４の測定値Ｔ_ＭＥＡＳの差分を計算することで、オフセット誤差Ｔ_ＯＦＳを取得できる。このオフセット誤差Ｔ_ＯＦＳは、メモリに格納される。通常の充放電検査時においては、温度計測器４０２の測定値Ｔ_ＭＥＡＳから、オフセット誤差Ｔ_ＯＦＳを減算することで、真の温度Ｔ_ＴＲＵＥを求めることができる。

以上が温度校正装置６００による校正処理である。続いてその利点を説明する。

本実施の形態では、温度校正装置６００をトレー２と互換性を有するトレー型で校正することとした。これにより温度校正装置６００をスロット内に挿入し、温度センサユニット４００と温度校正装置６００を所定位置にセットすることで、校正器６１０によって対応する温度計測器４０２を校正可能となる。その結果、温度校正装置６００の搬送や、手作業での校正が不要となるため校正時間を短縮できる。

また温度校正装置６００が挿入されたスロット以外では、並行して充放電検査が可能となるため、スループットの低下を抑制できる。

また恒温ブロック６１２によって温度計測器４０２を覆うことで、恒温ブロック６１２と温度計測器４０２および校正用温度センサ６１４の温度を実質的に同一とみなすことができる。この状態で、校正用温度センサ６１４と温度計測器４０２それぞれの測定値を読み出すことで、温度計測器４０２を校正できる。

また恒温ブロック６１２を温調する必要がないため、恒温ブロック６１２の温度を所定温度に設定するための安定化時間が不要となり、もしくは短縮され、さらに校正時間を短縮できる。

また、校正用温度センサ６１４の先端を丸くして、凹部６１６の底部から露出させた。これにより、温度計測器４０２が垂直に挿入されない状態でも、校正用温度センサ６１４の丸い先端と、温度計測器４０２の先端部４０６とを確実に接触させることができる。

以上、本発明について、実施の形態をもとに説明した。この実施の形態は例示であり、それらの各構成要素や各処理プロセスの組み合わせにいろいろな変形例が可能なこと、またそうした変形例も本発明の範囲にあることは当業者に理解されるところである。以下、こうした変形例について説明する。

（第１変形例）
図７は、第１変形例に係る温度校正装置６００ａの斜視図である。この変形例において、複数の校正器６１０に含まれるいくつかの恒温ブロック６１２は一体に構成される。図７では、同じ列の複数の恒温ブロック６１２が一体の大きな恒温ブロック６２０となっており、この大きな恒温ブロック６２０には、温度計測器４０２ごとの凹部６１６が形成される。言い換えれば、図７の恒温ブロック６１２は、温度センサを区画して収納する複数の収納部を備える。これにより、恒温ブロックを校正器ごとに独立させた場合よりも熱容量を増やして温度変化を抑制できるため、校正の精度をより高めることができる。さらなる変形例では、２列の恒温ブロック６２０を一体に構成してもよい。

（第２変形例）
図７の恒温ブロック６２０は、トレー型筐体６０２と一体に校正してもよい。この場合、恒温ブロック６２０の熱容量をさらに大きくすることができ、校正の精度を高めることができる。

（第３変形例）
校正用温度センサ６１４の取り付け位置は、実施の形態のそれには限定されない。校正用温度センサ６１４は、恒温ブロック６１２の内部に埋め込まれてもよいし、恒温ブロック６１２の外側に設けてもよい。

（第４変形例）
実施の形態では、恒温ブロック６１２を温調しない場合を説明したが本発明はそれには限定されない。恒温ブロック６１２にヒータや冷却素子を取り付けて、温度を管理することで、より正確な温度校正が可能となる。

（第５変形例）
また充放電検査装置１００自体が、スロット内を所定温度に安定化する温調設備を備える場合、恒温ブロック６１２を省略してもよい。

（第６変形例）
図８は、第６変形例に係る温度校正装置の斜視図である。この変形例では、図７の恒温ブロック６１２に設けられる複数の凹部６１６が一体に形成され、一つの収納部を形成している。収納部は、複数の温度センサを同時に収納する。図９に示すように、温度計測器４０２は、凹部６１２の底面と接触して基準温度Ｔ_ＲＥＦを測定しても良い。

（第７変形例）
図１０は、第７変形例に係る温度校正装置の斜視図である。この変形例では、恒温ブロック６１２の恒温ブロック（収納部）６１２が省略されており、恒温ブロック６１２の底部に、温度計測器４０２が接触する。

（第８変形例）
図１１は、第８変形例に係る温度校正装置の斜視図である。ここに示すように、温度計測器４０２は、恒温ブロック６１２と非接触で基準温度Ｔ_ＲＥＦを測定しても良い。図７や図１０の恒温ブロック６１２との組み合わせにおいても、温度計測器４０２は恒温ブロック６１２と非接触で基準温度Ｔ_ＲＥＦを測定しても良い。

図１２は、温度校正装置６００を備える温度校正システム７００のブロック図である。温度校正装置６００は、トレー２を搬送するためのスタッカクレーン４によって搬送され、トレー２に代えてスロット２０２に挿入可能である。温度校正装置６００は、校正コントローラ７０２を備える。校正コントローラ７０２は、有線あるいは無線でコンピュータ７０４と接続される。コンピュータ７０４は、温度校正システム７００を統括的に制御する。コンピュータ７０４は、充放電検査装置１００を制御し、検査データを生成するコンピュータであってもよいし、別のコンピュータであってもよい。

たとえば校正コントローラ７０２は、温度計測器４０２の校正に必要なデータ、たとえば校正器６１０において使用された基準温度Ｔ_ＲＥＦに関する情報などを、有線あるいは無線で、外部のコンピュータ７０４に送信する。あるいは、コンピュータ７０４からの指示に応じて、校正器６１０の温度を、コンピュータ７０４によって指示された基準温度Ｔ_ＲＥＦに安定化させる。

コンピュータ７０４は、基準温度Ｔ_ＲＥＦに関する情報と、校正器６１０が装着された状態で得られた複数の温度計測器４０２の測定値を格納する。そして校正プログラムを実行し、複数の温度計測器４０２を自動校正する。

図１３は、自動校正処理の一例を示すフローチャートである。校正プロセスが開始すると、複数の温度計測器４０２の周囲を基準温度Ｔ_ＲＥＦに安定化させる（Ｓ１００）。そして複数の温度計測器４０２の測定値を取得する（Ｓ１０２）。そして各温度計測器４０２について、基準温度Ｔ_ＲＥＦおよび測定値にもとづいて、基準温度Ｔ_ＲＥＦが真値であるとして、温度計測器４０２の温度−測定値特性を演算により自動校正する（Ｓ１０４）。

従来の手作業による校正では、１点での校正が精一杯であった。本実施の形態によれば、自動化されているために基準温度Ｔ_ＲＥＦを、２点以上に変化させて校正を行うことも可能となる。この場合、さらに精度を高めることができる。

以上、本発明を実施例にもとづいて説明した。本発明は上記実施形態に限定されず、種々の設計変更が可能であり、様々な変形例が可能であること、またそうした変形例も本発明の範囲にあることは、当業者に理解されるところである。

２…トレー、４…スタッカクレーン、１０…蓄電デバイス、１２…電極、１４…底面、１００…充放電検査装置、１０２…電源ユニット、１０４…コンバータ、２００…検査ラック、２０２…スロット、４００…温度センサユニット、４０２…温度計測器、４０４…ブラケット、４０６…先端部、５００…プローブユニット、５０２…プローブ、６００…温度校正装置、６０２…トレー型筐体、６１０…校正器、６１２…恒温ブロック、６１４…校正用温度センサ、６１６…凹部、６２０…恒温ブロック。

Claims (10)

1. 蓄電デバイスの検査装置に使用される温度センサの校正システムであって、
   前記検査装置は、
   前記蓄電デバイスをスロット内に収容する検査台と、
   前記検査台に設けられて前記蓄電デバイスの温度を測定する温度センサと、
   を備え、
   前記校正システムは、
   前記温度センサに近づくように前記スロット内に搬入可能に構成される基準温度体と、
   前記温度センサが計測した前記基準温度体の温度に関する値と、前記基準温度体の基準温度に関する値とを比較して、前記温度センサを校正する校正部と、を備えることを特徴とする、校正システム。
2. 前記校正システムは、
   前記基準温度体と前記温度センサとを近づける搬送手段を有することを特徴とする請求項１に記載の校正システム。
3. 前記搬送手段は、前記蓄電デバイスを搬送する搬送手段であることを特徴とする請求項２に記載の校正システム。
4. 前記基準温度体は、前記スロット内に設けられたガイド部にガイドされる被ガイド部を有する校正用筐体を備えることを特徴とする請求項１から３のいずれかに記載の校正システム。
5. 前記校正用筐体は、前記被ガイド部と重複しない位置に前記基準温度体を有し、前記基準温度体の位置は、前記校正用筐体が前記スロット内で位置決めされたときに、前記温度センサと対向する位置に設けられていることを特徴とする請求項４に記載の校正システム。
6. 前記校正用筐体に穴が開いており、
   前記基準温度体は、前記穴と対応する位置に設けられ、前記温度センサを収容する収容部を有することを特徴とする請求項５に記載の校正システム。
7. 前記基準温度体は、前記校正用筐体の内部に前記温度センサを複数同時に収容する収納部を備えることを特徴とする請求項４から６のいずれかに記載の校正システム。
8. 前記収納部は、複数の温度センサを区画して収容する複数の収納部を有することを特徴とする請求項７に記載の校正システム。
9. 請求項１から８のいずれかに記載の校正システムを備えることを特徴とする蓄電デバイスの検査装置。
10. 前記蓄電デバイスの検査中に検査を行っていないスロットにおいて前記温度センサの校正が実施されることを特徴とする請求項９に記載の検査装置。

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