JP6608726B2 - Positioning measurement system - Google Patents

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本発明は、加工対象物であるワークの位置決めの基準となる面の位置を測定し、その面の位置が目的の位置に到達したかどうかを検出する位置決め測定システムに関する。   The present invention relates to a positioning measurement system that measures the position of a surface that serves as a reference for positioning a workpiece that is a workpiece, and detects whether the position of the surface has reached a target position.

従来、被測定物の形状や寸法等の測定を行う測定機として3次元座標測定機等の測定機が知られている。このような測定機には、座標検出や位置検出を行うために、特許文献1に記載のような被測定物との接触を検出するタッチプローブが備えられている。   Conventionally, measuring machines such as a three-dimensional coordinate measuring machine are known as measuring machines for measuring the shape and dimensions of an object to be measured. Such a measuring machine is provided with a touch probe for detecting contact with an object to be measured as described in Patent Document 1 in order to perform coordinate detection and position detection.

また、マシニングセンタ(工作機械)において、機械加工の終了後にタッチセンサを主軸に装着し、ワーク及びタッチセンサ(タッチプローブ)を相対移動させ、ワークの表面にタッチセンサを接触させることによって、ワークの表面形状を測定することが行われ、例えば、特許文献2に記載されている。   In a machining center (machine tool), a touch sensor is mounted on the spindle after machining, the work and the touch sensor (touch probe) are moved relative to each other, and the touch sensor is brought into contact with the work surface. Measuring the shape is described in, for example, Patent Document 2.

このような工作機械では、タッチセンサがワークに接触した位置(及び/又はワークから離れた位置)を検出することによってワークの表面形状を測定する。さらに、工具を移動させてテーブルに設けられたタッチセンサに接触させ、工具がタッチセンサに接触した位置に応じて、工具に折損が生じているか否かを検知することも知られている。   In such a machine tool, the surface shape of the workpiece is measured by detecting a position where the touch sensor is in contact with the workpiece (and / or a position away from the workpiece). Furthermore, it is also known to detect whether or not the tool is broken according to the position at which the tool contacts the touch sensor by moving the tool and touching the touch sensor.

また、従来タッチプローブによってワークの測定を行う場合は、プローブの被測定物への接触を電気的導通により検知する方法や、被測定物に対するプローブの接触によって接点が離れる構造として検知するトリガー方式である接点センサ式、あるいは接触によるプローブの変位量を用いる変位センサ式が用いられていた。   In addition, when measuring a workpiece with a conventional touch probe, it is possible to detect the contact of the probe with the object to be measured by electrical continuity, or the trigger method to detect the structure in which the contact is separated by the probe's contact with the object to be measured. A certain contact sensor type or a displacement sensor type using a displacement amount of the probe due to contact has been used.

特開2015−127713号公報JP-A-2015-127713 特開2013−6257号公報JP 2013-6257 A

上記従来技術において、接点センサ式は機械的な接点スイッチを用いるので、チャタリングが発生し、接点の劣化が発生し、接点には寿命がある。また、チャタリング対策やフィルタ処理等の高度の処理が難しく、外部からの電気的ストレス(サージやスパークノイズなど)に対して、保護することが難しい。さらに、工作機械において、工具に折損が生じているか否かを検知するには、X、Y方向のみならず、X、Y、Zの全方向に対して高い感度を有することが必要とされる。   In the above prior art, since the contact sensor type uses a mechanical contact switch, chattering occurs, contact deterioration occurs, and the contact has a lifetime. Further, advanced processing such as chattering countermeasures and filter processing is difficult, and it is difficult to protect against external electrical stress (such as surge and spark noise). Further, in a machine tool, in order to detect whether or not a tool is broken, it is necessary to have high sensitivity not only in the X and Y directions but also in all the X, Y, and Z directions. .

一方、変位センサ式は、機械的な接点スイッチを用いないので、チャタリングや接点劣化、接点寿命の問題が発生せず、連続的な位置検出ができるので、フィルタ処理等の高度の処理により、高精度化が可能である。ただし、センサから出力される信号を、工作機械で有効に使える形式の情報へ置き換える必要があり、必ずその処理を行う電気回路等が必要となり、コストアップやサイズが大きくなる要因となる。   On the other hand, since the displacement sensor type does not use a mechanical contact switch, chattering, contact deterioration, and contact life problems do not occur, and continuous position detection is possible. Accuracy can be achieved. However, it is necessary to replace the signal output from the sensor with information in a format that can be effectively used by the machine tool, and an electric circuit or the like for performing the processing is necessarily required, which causes an increase in cost and size.

本発明の目的は、上記従来技術の課題を解決し、機械的な接点スイッチに起因するチャタリングや接点の劣化、接点寿命、外部からの電気的なストレスに影響されず、ワークの高速移動に十分対応し、演算処理が極めてシンプルで信頼性の高い位置決め測定システムとすることにある。   The object of the present invention is to solve the above-mentioned problems of the prior art and is sufficient for high-speed movement of a workpiece without being affected by chattering, contact deterioration, contact life, and external electrical stress caused by a mechanical contact switch. Correspondingly, the calculation processing is extremely simple and the positioning measurement system is highly reliable.

上記目的を達成するため、本発明は、ワークの基準面の位置を測定し、前記基準面の位置が目的の位置に到達したかどうかを検出する位置決め測定システムにおいて、前記基準面と接触するスタイラスと前記位置を数値データとして検出する変位式センサとを有したタッチプローブと、前記タッチプローブを用いて過去の位置情報としてN点の前記数値データをサンプリングして検出し、前記数値データより最小自乗法による直線近似により次のサンプリングタイミングの位置を予測値として演算処理して求める直線近似計算回路と、前記直線近似計算回路により求められた予測値が前記目的の位置に到達したかどうかの情報を出力する比較回路と、を備えたものである。   To achieve the above object, the present invention provides a stylus that contacts a reference surface in a positioning measurement system that measures the position of a reference surface of a workpiece and detects whether the position of the reference surface has reached the target position. And a touch probe having a displacement sensor for detecting the position as numerical data, and sampling and detecting the numerical data at N points as past position information using the touch probe, A linear approximation calculation circuit obtained by calculating a position of the next sampling timing as a predicted value by linear approximation by multiplication, and information on whether the predicted value obtained by the linear approximation calculation circuit has reached the target position And a comparison circuit for outputting.

また、上記において、前記N点の前記数値データを検出するサンプリング間隔は等間隔であり、時刻を予測しようとする時点を基準(t=0)として前記演算処理を行うことが望ましい。   In the above, it is desirable that the sampling intervals for detecting the numerical data at the N points are equal intervals, and that the calculation process is performed with a time point at which the time is to be predicted as a reference (t = 0).

さらに、前記直線近似計算回路及び前記比較回路は、遅延素子、加算器、定数倍の乗算器を構成要素としたデジタル回路で演算処理されることが望ましい。   Further, it is preferable that the linear approximation calculation circuit and the comparison circuit are processed by a digital circuit having a delay element, an adder, and a multiplier of a constant multiple as components.

さらに、前記目的の位置で前記数値データが0となるように調整されることが望ましい。   Furthermore, it is desirable that the numerical data is adjusted to be 0 at the target position.

さらに、前記直線近似計算回路で絶対値が省略されて演算処理されることが望ましい。   Further, it is desirable that the straight line approximation calculation circuit performs the arithmetic processing with the absolute value omitted.

さらに、前記直線近似計算回路及び前記比較回路は、一つにまとめられたデジタル回路で演算処理されることが望ましい。   Further, it is preferable that the linear approximation calculation circuit and the comparison circuit are processed by a digital circuit integrated into one.

さらに、前記直線近似計算回路及び前記比較回路において、最初のサンプリングが行われる前に構成要素の出力値を0に初期化する構成とされたことが望ましい。   Furthermore, it is desirable that the linear approximation calculation circuit and the comparison circuit are configured to initialize the output value of the component to 0 before the first sampling is performed.

前記Nは2のべき乗、N=2λ(λは自然数)であり、乗算の演算処理をビットシフトに置き換えたことが望ましい。   The N is a power of 2 and N = 2λ (λ is a natural number), and it is preferable that the multiplication processing is replaced with a bit shift.

前記タッチプローブは、カバーの中にLVDTセンサを格納した変位式センサであり、スタイラスの上端でありカバーに軸支された半球形状の半球部と、前記カバー内で鉛直方向にスライド可能とされた可動リングと、前記可動リングに固定され、前記半球部の傾き及び鉛直方向の移動によって鉛直方向に移動する磁気コアと、前記カバーに固定され前記磁気コアとの相対位置に応じて変位信号を出力するコイル部と、を備えたことが望ましい。   The touch probe is a displacement-type sensor in which an LVDT sensor is housed in a cover. The touch probe is a hemispherical hemispherical portion that is the upper end of a stylus and is pivotally supported by the cover, and is slidable vertically in the cover. A displacement signal is output according to the relative position of the movable ring, the magnetic core fixed to the movable ring and moving in the vertical direction by the inclination and vertical movement of the hemisphere, and the magnetic core fixed to the cover. It is desirable to have a coil portion that performs.

前記直線近似計算回路及び前記比較回路は、CPUによるプログラムで演算処理されることが望ましい。   The linear approximation calculation circuit and the comparison circuit are preferably processed by a program by a CPU.

本発明によれば、過去の位置情報としてN点の数値データをサンプリングして検出し、数値データより最小自乗法による直線近似に基づき、次のサンプリングタイミングの位置でワークが目的の位置に到達したかどうかの情報を出力するので、ワークの高速移動に十分対応し、演算処理が極めてシンプルで信頼性の高い位置決め測定システムを得ることができる。   According to the present invention, the numerical data of N points are sampled and detected as past position information, and the workpiece has reached the target position at the next sampling timing position based on the linear approximation by the least square method from the numerical data. Therefore, it is possible to obtain a positioning measurement system that can sufficiently cope with high-speed movement of a workpiece, has an extremely simple arithmetic process, and has high reliability.

本発明の一実施形態に係わる目的位置までの時間対変位情報の関係を示すグラフThe graph which shows the relationship of the time vs. displacement information to the target position concerning one Embodiment of this invention 本発明による一実施形態に係わる演算処理を示す概略ブロック図1 is a schematic block diagram showing arithmetic processing according to an embodiment of the present invention. 本発明による一実施形態に係わるデジタル回路を示すブロック図1 is a block diagram showing a digital circuit according to an embodiment of the present invention. 本発明による他の実施形態に係わるデジタル回路を示すブロック図The block diagram which shows the digital circuit concerning other embodiment by this invention. さらに、他の実施形態に係わるデジタル回路を示すブロック図Furthermore, a block diagram showing a digital circuit according to another embodiment さらに、他の実施形態に係わるデジタル回路を示すブロック図Furthermore, a block diagram showing a digital circuit according to another embodiment さらに、他の実施形態に係わるデジタル回路を示すブロック図Furthermore, a block diagram showing a digital circuit according to another embodiment さらに、他の実施形態に係わるデジタル回路を示すブロック図Furthermore, a block diagram showing a digital circuit according to another embodiment さらに、他の実施形態に係わるデジタル回路を示すブロック図Furthermore, a block diagram showing a digital circuit according to another embodiment さらに、他の実施形態に係わるデジタル回路を示すブロック図Furthermore, a block diagram showing a digital circuit according to another embodiment さらに、他の実施形態に係わるデジタル回路を示すブロック図Furthermore, a block diagram showing a digital circuit according to another embodiment さらに、他の実施形態に係わるデジタル回路を示すブロック図Furthermore, a block diagram showing a digital circuit according to another embodiment さらに、他の実施形態に係わるデジタル回路を示すブロック図Furthermore, a block diagram showing a digital circuit according to another embodiment さらに、他の実施形態に係わるデジタル回路を示すブロック図Furthermore, a block diagram showing a digital circuit according to another embodiment さらに、他の実施形態に係わるデジタル回路を示すブロック図Furthermore, a block diagram showing a digital circuit according to another embodiment さらに、他の実施形態に係わるデジタル回路を示すブロック図Furthermore, a block diagram showing a digital circuit according to another embodiment さらに、他の実施形態に係わるデジタル回路を示すブロック図Furthermore, a block diagram showing a digital circuit according to another embodiment 本発明による他の実施形態に係わるフローチャートThe flowchart concerning other embodiment by this invention. 本発明の一実施形態に係わるタッチプローブを示す断面図Sectional drawing which shows the touch probe concerning one Embodiment of this invention.

以下に、本発明の実施形態について図面を参照して詳細に説明する。
位置決め測定は、ワークがある特定の位置に来たかどうかのみを検出する。つまり、ワークを移動させ、その基準面をタッチプローブのスタイラスで検出し、その位置が目的の位置に到達前であるか、到達後であるかの測定を行う。タッチセンサの方式としては、通常、接点センサ式と変位センサ式が用いられている。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.
The positioning measurement only detects whether the workpiece has come to a certain position. That is, the work is moved, the reference surface is detected by the stylus of the touch probe, and whether the position is before or after reaching the target position is measured. As a touch sensor system, a contact sensor type and a displacement sensor type are usually used.

接点センサ式は、タッチプローブの内部に接点スイッチが1つ組み込まれ、ワークが到達前の場合にはその接点スイッチがOFF(ON)し、ワークが到達した時点でON(OFF)するようにし、例えば、その信号を利用してワークの移動を停止する。   In the contact sensor type, one contact switch is built in the touch probe, and when the work has not reached, the contact switch is turned off (ON), and when the work arrives, it is turned on (OFF). For example, the movement of the workpiece is stopped using the signal.

変位センサ式は、タッチプローブ内部に、位置を連続的に検出するセンサを組み込み、ワークが目的の位置に到達する前にワークの位置を測定し、測定した位置が目的の位置に到達したかどうかを数値で判断する。そして、到達したことを信号として利用してワークの移動を停止する。
ワークは移動しているので、位置決め測定による応答が遅いと、その応答時間だけ遅延となり、正確な位置を求めることができない。また、変位センサ式では、所定のサンプリング間隔で数値を求めていくので、サンプリング間隔がワークの移動時間に対して大きいと、実際はワークが目的の位置に到達しているのに、到達したことの信号が遅延してワークを移動させる、例えば工作機械へ伝達されることになる。
The displacement sensor type incorporates a sensor that continuously detects the position inside the touch probe, measures the position of the workpiece before the workpiece reaches the target position, and whether the measured position has reached the target position. Is determined numerically. Then, the movement of the workpiece is stopped using the arrival as a signal.
Since the workpiece is moving, if the response due to positioning measurement is slow, the response time is delayed, and an accurate position cannot be obtained. In addition, the displacement sensor type calculates the numerical value at a predetermined sampling interval, so if the sampling interval is larger than the workpiece movement time, the fact that the workpiece has reached the target position is actually reached. The signal is transmitted to the machine tool, for example, to move the workpiece with a delay.

位置決め測定システムには、機械的な接点スイッチに起因するチャタリングや接点の劣化、接点寿命、外部からの電気的なストレスに影響されないこと、ワークの高速の移動に耐えて応答可能なこと、が必要とされ、変位センサ式を用いて高速にサンプリングを行うことが良い。   The positioning measurement system requires chattering and contact deterioration due to mechanical contact switches, contact life, being unaffected by external electrical stress, and being able to withstand and respond to high-speed workpiece movement. Therefore, it is preferable to perform sampling at high speed using a displacement sensor type.

また、センサが有する固有の誤差(特にホワイトノイズ的なバラツキ)を低減するため、ワークの位置とスタイラスの検出位置に誤差が生じないような無遅延なフィルタを設け、等速直線運動するワークの位置決め測定に適したものとする。   Also, in order to reduce the inherent error of the sensor (particularly white noise variation), a non-delayed filter is provided so that no error occurs between the workpiece position and the stylus detection position. It shall be suitable for positioning measurement.

さらに、規模の小さいデジタル回路、もしくは、演算能力の低い小型のマイコンを使用し、変位センサからの位置情報の取得から工作機械への出力を行う。したがって、デジタルフィルタ処理としては、サンプリング間隔以上の遅延が発生しないこと、等速直線運動するワークの位置決めに適し、演算処理が極めてシンプルなこと、が要求される。そのためには、過去のサンプリングデータを用いて最小自乗法近似によりもっともらしい直線を求め、その直線から現在の位置を予測する方法を用いる。   Furthermore, using a small-scale digital circuit or a small microcomputer with a low calculation capability, the position information is acquired from the displacement sensor and output to the machine tool. Therefore, the digital filter processing is required not to cause a delay longer than the sampling interval, to be suitable for positioning a workpiece that moves linearly at a constant speed, and to be extremely simple in arithmetic processing. For this purpose, a plausible straight line is obtained by least square method approximation using past sampling data, and the current position is predicted from the straight line.

図1は、ワークの移動に伴う目的位置までの時間対変位情報の関係を示したもので、ワークは等速直線運動する。ワークの位置は、所定のサンプリング間隔で検出され、過去のN点のデータv1、v2、・・・、vN(添え字が大きい方が古い測定データとする)の変位情報として得られる。そして、一定の時間間隔ごとに時系列に得られた変位情報であるN個のデータをメモリに記憶し、この変位情報を用いてv1のサンプリングタイミングで次のサンプリングタイミングの変位情報データvを現在の値の予測値として求め、目的の位置に到達しているかを判断する。あるいは、次のサンプリングタイミングのデータvを求めなくても目的の位置に到達したか、まだ到達しないかの情報のみが得られれば良い。   FIG. 1 shows the relationship of time-displacement information to a target position accompanying the movement of a workpiece, and the workpiece moves linearly at a constant speed. The position of the workpiece is detected at a predetermined sampling interval, and is obtained as displacement information of past N-point data v1, v2,..., VN (the larger subscript is the older measurement data). Then, N pieces of data, which are displacement information obtained in time series at regular time intervals, are stored in the memory, and the displacement information data v at the next sampling timing is currently obtained at the sampling timing of v1 using this displacement information. Is obtained as a predicted value, and it is determined whether or not the target position has been reached. Alternatively, it is only necessary to obtain information on whether the target position has been reached or not yet reached without obtaining the data v of the next sampling timing.

変位式センサとしては、コイルを用いたトランス方式であり、コイルに電流を通すことで生じる磁界でのコイルの動きを、検出可能な電気信号に変換するLVDTセンサを使用することが良い。   The displacement sensor is a transformer system using a coil, and it is preferable to use an LVDT sensor that converts a coil movement in a magnetic field generated by passing a current through the coil into a detectable electrical signal.

LVDTセンサは、一次側と二次側コイル内をスタイラスに設けられた磁気コアが移動することにより相互インダクタンス変化を電圧として出力する。磁気コアは、円筒状のコイルの空洞内部を移動する構造となり、一次コイルが交流の励磁電源に接続され、二次コイルに電圧を発生し、磁気コアの位置によって電圧差が起こることを利用する。   The LVDT sensor outputs a mutual inductance change as a voltage when a magnetic core provided on the stylus moves in the primary side and secondary side coils. The magnetic core has a structure that moves inside the hollow of the cylindrical coil, and the primary coil is connected to an AC excitation power source, generates a voltage in the secondary coil, and utilizes the fact that a voltage difference occurs depending on the position of the magnetic core. .

現在の値の予測値vは、時刻t1、t2、・・・、tNにおけるサンプリングされた測定データv1、v2、・・・、vNである場合に、これを最小自乗法によりv(t)=a(t)+bとして直線近似して求める。測定データとの差の二乗誤差を最小とするような係数aおよびbを決定する。差の二乗和をIとすると、
であり、Iを最小値にする条件は、
となる変数aおよびbでそれぞれ偏微分して得られる(式2)の正規方程式を解くことにより、求めることができる。行列を用いて表すと、
となり、a、bが求められ、その結果、時刻t1,t2,・・・,tN においてサンプリングされた測定データがv1,v2,・・・,vN である場合、そのデータ群に対する最小自乗直線は、下式で表される。
If the predicted value v of the current value is sampled measurement data v1, v2,..., VN at times t1, t2,..., TN, this is expressed by v (t) = It is obtained by linear approximation as a (t) + b. The coefficients a and b that minimize the square error of the difference from the measurement data are determined. If the sum of squared differences is I,
The condition for minimizing I is
Can be obtained by solving the normal equation of (Equation 2) obtained by partial differentiation with variables a and b. When expressed using a matrix,
And a and b are obtained, and as a result, when the measurement data sampled at times t1, t2,..., TN are v1, v2,. Is expressed by the following formula.

ここで、サンプリングを等間隔Tとして、時刻を予測しようとする時点を基準(t=0)とすれば、
となる。また、サンプリング間隔はt1=−T、t2=−2T、・・・、tN=−NTとすると、
として、現在の値の予測値vを求めることができる。
Here, if sampling is set at an equal interval T and the time point at which the time is to be predicted is a reference (t = 0),
It becomes. The sampling intervals are t1 = -T, t2 = -2T,..., TN = -NT.
As a result, the predicted value v of the current value can be obtained.

演算量あるいはデジタル回路を簡単にするため、Nは2以上、サンプリングは、常に等間隔で、目的の位置における変位センサの出力値が0となるようにする、目的の位置に到達したか、まだ到達しないかの情報のみが得られれば良い、とする。   In order to simplify the calculation amount or the digital circuit, N is 2 or more, sampling is always performed at regular intervals, the output value of the displacement sensor at the target position is 0, or the target position has been reached or is still Suppose that it is only necessary to obtain information on whether or not it has reached.

図2は、概要を示すブロック図である。符号12で示されるものはスタイラスであり、符号2はワークを示している。変位センサ1からの出力は、センサが有する固有の誤差を低減する無遅延なフィルタとしての検波回路3を介してAD変換器4で数値データに変換され、処理回路5で演算されて、目的の位置に到達したか、まだ到達しないかの情報を出力する。処理回路5は、現在の値の予測値vを求める直線近似計算回路5-1、目的値と比較するゼロとの比較回路5-2で構成される。ただし、処理回路5は、現在の値の予測値vを直接的に求めることなく、目的の位置に到達したか、まだ到達しないかの情報のみが得られるようにすれば良く、その方が演算量の大幅な低減を図ることができる。   FIG. 2 is a block diagram showing an outline. What is indicated by reference numeral 12 is a stylus, and reference numeral 2 indicates a workpiece. The output from the displacement sensor 1 is converted into numerical data by the AD converter 4 through the detection circuit 3 as a non-delayed filter that reduces the inherent error of the sensor, and is calculated by the processing circuit 5 to obtain the target Outputs information on whether the position has been reached or not yet reached. The processing circuit 5 includes a linear approximation calculation circuit 5-1 that obtains a predicted value v of a current value, and a comparison circuit 5-2 that compares zero with a target value. However, the processing circuit 5 only needs to obtain information about whether the target position has been reached or not yet reached without directly obtaining the predicted value v of the current value. The amount can be significantly reduced.

以下、処理回路の例を実施例として示し、直線近似計算回路5-1は、CPUにより計算するのみならず、デジタル回路(デジタルフィルタまたはDSP(Digital Signal Processer))により実現しても良い。
<実施例1>
図3は、(式6)をそのままデジタル回路に置き換えたもので、同じ結果を出力する。図中Z−1は、1クロックの遅延素子を示し、現時点である値vNが出力されている場合、この値は、1サンプリング前に入力されたvN-1を出力する。○は加算器、三角は添え字分の定数倍を示す演算処理を示している。
Hereinafter, an example of the processing circuit will be shown as an embodiment, and the linear approximation calculation circuit 5-1 may be realized not only by the CPU but also by a digital circuit (digital filter or DSP (Digital Signal Processor)).
<Example 1>
FIG. 3 is obtained by replacing (Equation 6) with a digital circuit as it is, and outputs the same result. In the figure, Z −1 indicates a delay element of one clock. When the current value vN is output, this value outputs vN−1 input before one sampling. ◯ indicates an adder, and a triangle indicates a calculation process indicating a constant multiple of the subscript.

図3に対して掛け算回路の係数を調整しても、目的の位置に到達したか、到達しないかの情報は変わりがなく、図3と同じ結果を出力する回路が構成できる。   Even if the coefficient of the multiplication circuit is adjusted with respect to FIG. 3, the information on whether or not the target position has been reached does not change, and a circuit that outputs the same result as in FIG. 3 can be configured.

<実施例2>
図3における『直線近似計算回路』の後段回路となる『ゼロとの比較回路』は、『直線近似計算回路』の出力値がゼロと等しいか、ゼロより大きいか、ゼロより小さいかの判別のみを行えば、目的の位置に到達したか到達しないかの情報となる。すなわち、『直線近似計算回路』の出力値は符号関係(正の数か、負の数か、0か)のみが意味を持ち、その絶対値は意味を持たない。したがって、図3における最後の掛け算係数は省略でき、図4の回路を用いても、結果として図3と同様の作用を実現することができる。
<Example 2>
The “comparison circuit with zero” that is the subsequent circuit of “linear approximation calculation circuit” in FIG. 3 only determines whether the output value of “linear approximation calculation circuit” is equal to zero, greater than zero, or less than zero. If it performs, it will become information on whether the target position has been reached or not. In other words, only the sign relationship (positive number, negative number, or 0) is meaningful for the output value of the “linear approximation calculation circuit”, and its absolute value has no meaning. Therefore, the last multiplication coefficient in FIG. 3 can be omitted, and the same operation as in FIG. 3 can be realized as a result even if the circuit of FIG. 4 is used.

<実施例3>
デジタル回路の任意の位置に、絶対値が等しく符号が逆となる値を出力する回路を挿入し、それぞれの結果を足したものを、任意の位置の数値に加算しても同じ結果を出力する。したがって、図4において、任意の位置に、絶対値が等しく符号が逆となる値を出力する回路を挿入し、それぞれの結果を加算した図5の回路により構成しても良い。
<Example 3>
Inserting a circuit that outputs a value with the same absolute value and opposite sign at an arbitrary position in the digital circuit, and adding the results of each to the numerical value at the arbitrary position outputs the same result . Therefore, in FIG. 4, it may be configured by the circuit of FIG. 5 in which a circuit for outputting a value having the same absolute value and the opposite sign is inserted at an arbitrary position and the respective results are added.

<実施例4>
加減算の順番は結果に影響を与えないので、図5において、その中の、加減算の順番を変更し、図6のようにしても良い。また、分配法則により全く同じ結果を得られる別の回路を用いて、構成しても良い。
<Example 4>
Since the order of addition / subtraction does not affect the result, the order of addition / subtraction in FIG. 5 may be changed as shown in FIG. Further, another circuit that can obtain exactly the same result by the distribution law may be used.

ある回路部位から複数に分岐が行われる場合、全く同じ回路を冗長的に構成しても同じ結果を出力する。したがって図6と同じ結果を出力する回路が構成できる。   When a plurality of branches are made from a certain circuit portion, the same result is output even if the completely same circuit is configured redundantly. Therefore, a circuit that outputs the same result as in FIG. 6 can be configured.

1サンプリング遅延させる回路をN個直列につなげた回路と、Nサンプリング遅延させる回路は同じ結果を出力する。したがって、1サンプリング遅延させる回路をN個直列につなげている部分を、Nサンプリング遅延させる回路に置き換えて図6と同じ結果を出力する回路が構成できる。   A circuit in which N sampling delay circuits are connected in series and an N sampling delay circuit output the same result. Therefore, a circuit that outputs the same result as that of FIG. 6 can be configured by replacing a portion in which N circuits for delaying one sampling are connected in series with a circuit for delaying N sampling.

<実施例5>
1サンプリング遅延させる回路と、任意の回路は、順番を入れ替えても同じ結果を出力する。したがって、1サンプリング遅延させる回路と、その直前もしくは直後に直列に接続される任意の回路を入れ替えて図7のように構成しても良い。
<Example 5>
A circuit that delays one sampling and an arbitrary circuit output the same result even if the order is changed. Therefore, the circuit for delaying one sampling and the arbitrary circuit connected in series immediately before or after may be replaced as shown in FIG.

同じ回路を冗長的に構成しても同じ結果を出力するので、図7と同じ結果を出力する回路が構成できる。さらに、N-1段と1サンプリング遅延させる回路と、順番を入れ替えて構成しても良い。   Since the same result is output even if the same circuit is configured redundantly, a circuit that outputs the same result as in FIG. 7 can be configured. Further, the circuit may be configured by changing the order of the N-1 stage and the circuit for delaying one sampling.

<実施例6>
また、複数の回路の出力がそれぞれ1サンプリング遅延された後に、足しあわされたものは、足し合わせた後に1サンプリング遅延されたものに変えても、同じ結果を出力する。したがって、図8のように構成しても良い。
<Example 6>
Further, even if the outputs of a plurality of circuits are added after being delayed by one sampling, the same result is output even if they are added to those delayed by one sampling after being added. Therefore, it may be configured as shown in FIG.

<実施例7>
図8にSW-Aを付加した図9において、起動時からずっとSW-Aを上側に倒しておけば、図8と同じ結果を出力する。また、図9においてSW-Aが下側であったとしても、それまでの状態に関わらず、ある時点でQがQ'と一致すれば、その後はずっとQとQ'は一致する。したがって、図9において、起動時はSW-Aを上側にしておき、回路の全ての要素の値が確定した後、次のサンプリングが行われる前までにSW-Aを下側に切り替えるように動作させるように構成しても良い。
<Example 7>
In FIG. 9 with SW-A added to FIG. 8, if SW-A is tilted upward from the start, the same result as FIG. 8 is output. Further, even if SW-A is on the lower side in FIG. 9, if Q coincides with Q ′ at a certain time regardless of the state up to that point, then Q and Q ′ coincide with each other all the time thereafter. Therefore, in FIG. 9, when starting, SW-A is set to the upper side, and after all the element values of the circuit are determined, SW-A is switched to the lower side before the next sampling is performed. You may comprise so that it may be made.

また、図9において、起動時よりSW-Aを下側にしておき、回路の全ての要素の値が確定した後、次のサンプリングが行われる前までに全ての要素の出力値を0に初期化すれば、当然QとQ'は同じ値(ゼロ)となる。したがって、図9において、起動時はSW-Aを下側にしておき、回路の全ての要素の値が確定した後、次のサンプリングが行われる前までに全ての要素の出力値を0に初期化するように構成しても良い。この出力値の初期化は、最初のサンプリングが行われる前に行っても良い。   In FIG. 9, SW-A is set to the lower side from the time of startup, and after the values of all elements of the circuit are determined, the output values of all elements are initialized to 0 before the next sampling is performed. Naturally, Q and Q ′ have the same value (zero). Therefore, in FIG. 9, SW-A is set to the lower side at the time of start-up, and after the values of all elements of the circuit are determined, the output values of all elements are initialized to 0 before the next sampling is performed. You may comprise so that it may become. The output value may be initialized before the first sampling is performed.

<実施例8>
図10は、図9において、起動時はSW-Aを下側にしておき、回路構成要素の出力値を0に初期化した場合を示す。以下の実施例では、起動時(最初のサンプリングが行われる前)には必ず全ての回路構成要素の出力値を0に初期化するものとする。また、加減算の順番を入れ替えて構成しても良く、冗長的に構成しても良い。
<Example 8>
FIG. 10 shows a case where the output value of the circuit component is initialized to 0 in FIG. In the following embodiments, the output values of all circuit components are always initialized to 0 at the time of start-up (before the first sampling is performed). Moreover, the order of addition / subtraction may be changed, and you may comprise redundantly.

<実施例9>
1サンプリング遅延させる回路をN個直列につなげた回路と、Nサンプリング遅延させる回路は同じ結果を出力するので、図11のように構成しても良い。
<Example 9>
A circuit in which N sampling delay circuits are connected in series and an N sampling delay circuit output the same result, and may be configured as shown in FIG.

<実施例10>
図12は、図11の加減算の順番を入れ替えたもので、図11と同じ結果を出力するので、図12のように構成しても良い。また、図9の説明と同様に、起動時には必ず全ての回路構成要素が0を出力するように構成しても良い。
<Example 10>
12 changes the order of addition and subtraction of FIG. 11 and outputs the same result as FIG. 11, so it may be configured as shown in FIG. Similarly to the description of FIG. 9, all circuit components may be configured to always output 0 at the time of startup.

<実施例11>
起動時に全ての回路構成要素の出力値を0に初期化されるのであるから図13にように構成しても良い。同じ結果を出力する二つの構成要素Z-Nが存在するので、それを1つに集約しても回路全体として同じ結果を出力するので、図14のようにしても良い。また、定数倍は、分けても同じなので、図15のように構成しても良い。
<Example 11>
Since the output values of all the circuit components are initialized to 0 at the time of startup, the configuration as shown in FIG. 13 may be used. Since there are two component elements Z 1 -N that output the same result, the same result is output as the entire circuit even if they are combined into one, and the configuration shown in FIG. 14 may be used. Moreover, since the constant multiplication is the same even if divided, it may be configured as shown in FIG.

<実施例12>
Nを2のべき乗、すなわちN=2λ(λは自然数)に限定すれば、図15は図16のように構成できる。また、2k(kは自然数)倍することと、左へkビットシフトをすることは同じ結果となるので、図16は図17のように構成でき、乗算の演算処理は、ビットシフトに置き換えられ、より簡単で、高速の処理が実現できる。
<Example 12>
If N is limited to a power of 2, that is, N = 2λ (λ is a natural number), FIG. 15 can be configured as shown in FIG. Also, since multiplying by 2k (k is a natural number) and shifting k bits to the left have the same result, FIG. 16 can be configured as shown in FIG. 17, and the arithmetic operation of multiplication is replaced with bit shift. Simpler and faster processing can be realized.

<実施例13>
図18は、図17と同じ結果を出力するプログラムのフローチャートであり、図17のデジタル回路をプログラムしてCPUにより実行しても良い。なお、図18で使用している変数の値と同じ値となる部分を符号v、w、P,Qとして図17にも記している。また、プログラム式における、v、w、≪の記号は、vが直近(すなわち1つ前)にサンプリングされた測定値、wが2λ(=N)回前にサンプリングされた測定値、≪が左ビットシフト演算記号である。
<Example 13>
FIG. 18 is a flowchart of a program that outputs the same result as FIG. 17, and the digital circuit of FIG. 17 may be programmed and executed by the CPU. In addition, the part which becomes the same value as the value of the variable used in FIG. 18 is also described in FIG. Also, in the program expression, the symbols v, w, and << are the measured values that v is sampled most recently (that is, the previous one), w is the measured value sampled 2λ (= N) times ago, and << is the left Bit shift operation symbol.

図19は、位置決め測定システムに用いられるタッチプローブの構造を示す断面図であり、カバー10の中に、LVDTセンサを格納した変位式センサである。図19において、LVDTセンサは、一次側と二次側コイルが設けられたコイル部11内をスタイラス12によって磁気コア15が鉛直方向移動することにより相互インダクタンス変化を電圧として出力する。スタイラス12の下端はワークと接触する。   FIG. 19 is a cross-sectional view showing the structure of a touch probe used in the positioning measurement system, which is a displacement sensor in which an LVDT sensor is stored in a cover 10. In FIG. 19, the LVDT sensor outputs a change in mutual inductance as a voltage when the magnetic core 15 moves in the vertical direction by the stylus 12 in the coil portion 11 provided with the primary side and secondary side coils. The lower end of the stylus 12 is in contact with the workpiece.

スタイラス12の上端は、半球形状の半球部13がカバー10に軸支され、カバー10内で鉛直方向にスライド可能とされた可動リング16からバネ14で下方へ押圧されている。磁気コア15は可動リング16に固定され、紙面に垂直となるX及びY方向に傾くと、半球部13が傾く。したがって、磁気コア15は、傾いた半球部13の鉛直成分だけ移動する。一方、コイル部11はカバー10に固定されているので、磁気コア15との相対位置に応じた電圧差が起きて変位信号に変換される。   At the upper end of the stylus 12, a hemispherical hemispherical portion 13 is pivotally supported by the cover 10, and is pressed downward by a spring 14 from a movable ring 16 that is slidable in the vertical direction within the cover 10. The magnetic core 15 is fixed to the movable ring 16, and the hemispherical portion 13 tilts when tilted in the X and Y directions perpendicular to the paper surface. Therefore, the magnetic core 15 moves by the vertical component of the inclined hemispherical part 13. On the other hand, since the coil portion 11 is fixed to the cover 10, a voltage difference corresponding to the relative position with the magnetic core 15 occurs and is converted into a displacement signal.

また、スタイラス12が鉛直方向であるZ方向に動くと、同様に可動リング16が鉛直方向に移動し、つまり、磁気コア15が移動して変位信号が得られる。したがって、図19に示したタッチプローブはスタイラス12のX、Y、Z方向変位を鉛直方向の変位信号に変換することができる。   Further, when the stylus 12 moves in the Z direction which is the vertical direction, the movable ring 16 similarly moves in the vertical direction, that is, the magnetic core 15 moves to obtain a displacement signal. Accordingly, the touch probe shown in FIG. 19 can convert the displacement of the stylus 12 in the X, Y, and Z directions into a displacement signal in the vertical direction.

本タッチプローブは、LVDTセンサによる連続的に検出する変位センサであり、X、Y、Zの全方向に対して高い感度を有している。また、接点センサ式と異なり、変位信号を速度に変換して検出することができ、異常接近なども検出可能である。したがって、このタッチプローブと上記で説明した位置決めシステムの信号処理とを組み合わせれば、より精度が高く、安定したものとすることができる。さらに、LVDTセンサの出力信号をデジタル化し、高速に数値演算することも可能で、温度変化による各デバイスの誤差、電気特性における各デバイスの誤差など累積誤差成分も無くすことができる。   This touch probe is a displacement sensor continuously detected by an LVDT sensor, and has high sensitivity in all directions of X, Y, and Z. Further, unlike the contact sensor type, the displacement signal can be detected by converting it into a speed, and an abnormal approach or the like can also be detected. Therefore, if this touch probe is combined with the signal processing of the positioning system described above, it can be made more accurate and stable. Further, the output signal of the LVDT sensor can be digitized and numerically calculated at high speed, and accumulated error components such as errors of each device due to temperature changes and errors of each device in electrical characteristics can be eliminated.

また、X、Y、Zの全方向に対して高い感度を有し、目的位置に到達することを予測し、サンプリングによる遅れも発生しない。したがって、マシニングセンタ(工作機械)等において、工具がワークに接触する前に、工具に折損が生じているか否かを検知するにも適している。   Moreover, it has high sensitivity in all directions of X, Y, and Z, predicts that it will reach the target position, and does not cause a delay due to sampling. Therefore, in a machining center (machine tool) or the like, it is also suitable for detecting whether or not the tool is broken before the tool contacts the workpiece.

1 変位センサ
2 ワーク
3 検波回路
4 AD変換器
5 処理回路
5-1 直線近似計算回路
5-2 比較回路
10 カバー
11 コイル部
12 スタイラス
13 半球部
14 バネ
15 磁気コア
16 可動リング
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Displacement sensor 2 Workpiece 3 Detection circuit 4 AD converter 5 Processing circuit 5-1 Linear approximation calculation circuit 5-2 Comparison circuit 10 Cover 11 Coil part 12 Stylus 13 Hemisphere part 14 Spring 15 Magnetic core 16 Movable ring

Claims (10)

ワークの基準面の位置を測定し、前記基準面の位置が目的の位置に到達したかどうかを検出する位置決め測定システムにおいて、
前記基準面と接触するスタイラスと前記位置を数値データとして検出する変位式センサとを有したタッチプローブと、
前記タッチプローブを用いて過去の位置情報としてN点の前記数値データをサンプリングして検出し、前記数値データより最小自乗法による直線近似により次のサンプリングタイミングの位置を予測値として演算処理して求める直線近似計算回路と、
前記直線近似計算回路により求められた予測値が前記目的の位置に到達したかどうかの情報を出力する比較回路と、
を備えたことを特徴とする位置決め測定システム。
In a positioning measurement system that measures the position of a reference plane of a workpiece and detects whether the position of the reference plane has reached a target position,
A touch probe having a stylus that contacts the reference surface and a displacement sensor that detects the position as numerical data;
The numerical data of N points is sampled and detected as past position information using the touch probe, and the position of the next sampling timing is calculated as a predicted value by linear approximation by the least square method from the numerical data. A linear approximation calculation circuit;
A comparison circuit that outputs information on whether the predicted value obtained by the linear approximation calculation circuit has reached the target position;
A positioning measurement system comprising:
前記N点の前記数値データを検出するサンプリング間隔は等間隔であり、時刻を予測しようとする時点を基準(t=0)として前記演算処理を行うことを特徴とする請求項1に記載の位置決め測定システム。   2. The positioning according to claim 1, wherein the sampling intervals for detecting the numerical data at the N points are equal intervals, and the calculation processing is performed with a time point at which the time is to be predicted as a reference (t = 0). Measuring system. 前記直線近似計算回路及び前記比較回路は、遅延素子、加算器、定数倍の乗算器を構成要素としたデジタル回路で演算処理されることを特徴とする請求項1又は2に記載の位置決め測定システム。   3. The positioning measurement system according to claim 1, wherein the linear approximation calculation circuit and the comparison circuit are arithmetically processed by a digital circuit including a delay element, an adder, and a multiplier of a constant multiple. . 前記目的の位置で前記数値データが0となるように調整されることを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の位置決め測定システム。   The positioning measurement system according to any one of claims 1 to 3, wherein the numerical data is adjusted to be 0 at the target position. 前記直線近似計算回路で絶対値が省略されて演算処理されることを特徴とする請求項1から4のいずれか1項に記載の位置決め測定システム。   The positioning measurement system according to any one of claims 1 to 4, wherein an absolute value is omitted in the linear approximation calculation circuit and an arithmetic process is performed. 前記直線近似計算回路及び前記比較回路は、一つにまとめられたデジタル回路で演算処理されることを特徴とする請求項1から5のいずれか1項に記載の位置決め測定システム。   6. The positioning measurement system according to claim 1, wherein the linear approximation calculation circuit and the comparison circuit are arithmetically processed by a digital circuit integrated into one. 前記直線近似計算回路及び前記比較回路において、最初のサンプリングが行われる前に構成要素の出力値を0に初期化する構成とされたことを特徴とする請求項1から6のいずれか1項に記載の位置決め測定システム。   7. The linear approximation calculation circuit and the comparison circuit are configured to initialize output values of components to 0 before the first sampling is performed. The positioning measurement system described. 前記Nは2のべき乗、N=2λ(λは自然数)であり、乗算の演算処理をビットシフトに置き換えたことを特徴とする請求項1から7のいずれか1項に記載の位置決め測定システム。   8. The positioning measurement system according to claim 1, wherein N is a power of 2 and N = 2λ (λ is a natural number), and a multiplication operation process is replaced with a bit shift. 9. 前記タッチプローブは、カバーの中にLVDTセンサを格納した変位式センサであり、
スタイラスの上端でありカバーに軸支された半球形状の半球部と、
前記カバー内で鉛直方向にスライド可能とされた可動リングと、
前記可動リングに固定され、前記半球部の傾き及び鉛直方向の移動によって鉛直方向に移動する磁気コアと、
前記カバーに固定され前記磁気コアとの相対位置に応じて変位信号を出力するコイル部と、
を備えたことを特徴とする請求項1から8のいずれか1項に記載の位置決め測定システム。
The touch probe is a displacement sensor in which an LVDT sensor is stored in a cover,
A hemispherical hemisphere that is the upper end of the stylus and is pivotally supported by the cover;
A movable ring capable of sliding in the vertical direction within the cover;
A magnetic core fixed to the movable ring and moving in the vertical direction by the inclination of the hemisphere and movement in the vertical direction;
A coil portion that is fixed to the cover and outputs a displacement signal according to a relative position with the magnetic core;
The positioning measurement system according to any one of claims 1 to 8, further comprising:
前記直線近似計算回路及び前記比較回路は、CPUによるプログラムで演算処理されることを特徴とする請求項1から9のいずれか1項に記載の位置決め測定システム。   The positioning measurement system according to any one of claims 1 to 9, wherein the straight line approximation calculation circuit and the comparison circuit are processed by a program by a CPU.
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