JP6607446B2 - 誤差測定装置 - Google Patents
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Description
m∝{(V2ref+Δ)・cosφ−V2ref} 、n∝(V2ref+Δ)sinφ
前記補正手段は、前記第4の信号と前記第2の信号との差分信号から測定した前記同相成分をM、前記直角相成分をNとしたとき、次式により
図1は、本発明に係る誤差測定装置の一実施形態のブロック図を示す。同図において、誤差測定装置10は、2台の信号発生器11及び12と、それら2台の信号発生器11及び12の各アナログ出力信号を位相同期させるための参照信号を出力する信号発生器13と、評価対象機器14と、微小信号測定器15とを備え、評価対象機器14のアナログ入力信号に応じたアナログ出力信号の公称値に対する誤差を測定する。
図2において、誤差測定装置20は、2台の信号発生器21及び22と、それら2台の信号発生器21及び22の各出力信号を位相同期させるための参照信号を出力する信号発生器23と、評価対象機器24と、微小信号測定器25とを備え、各機器の間の信号線はすべて同軸ケーブル26が使用され、周波数による影響を抑えている。
M+j・N=V2・ej(φ+γ)−V2ref・ej・0 (2)
(m+j・n)∝{(V2ref+Δ)・ej・φ−V2ref・ej・0} (5)
m∝{(V2ref+Δ)・cosφ−V2ref} (6a)
n∝(V2ref+Δ)sinφ (6b)
11、12、13、21、22、23、41 信号発生器
14、24 評価対象機器
15、25 微小信号測定器
26、27 同軸ケーブル
30 位相差測定回路
31、32 インピーダンス整合器
33 位相計
40 微小信号測定器の入出力比を算出する算出回路
Claims (7)
- 入出力比が既知の評価対象機器の入出力評価のために、前記評価対象機器に既知の信号が入力されたときに出力される出力信号の公称値に対する誤差を測定する誤差測定装置で
あって、
第1の信号を発生して前記評価対象機器に入力信号として供給する第1の信号発生器と、
前記評価対象機器に前記第1の信号が入力されたときに、前記評価対象機器から本来出力される出力信号の公称値に相当する第2の信号を発生する第2の信号発生器と、
前記第1の信号発生器から出力される前記第1の信号と、前記第2の信号発生器から出力される前記第2の信号とを位相同期させるための参照信号を発生して、前記第1及び第2の信号発生器に供給する第3の信号発生器と、
前記評価対象機器が前記第1の信号が入力されたときに実際に出力する第3の信号と、前記第2の信号発生器から出力される前記第2の信号とが供給され、前記第3の信号と前記第2の信号との差分信号である微小信号の同相成分及び直角相成分を測定する微小信号測定器と、
前記微小信号測定器で測定された前記微小信号の同相成分及び直角相成分に基づいて、前記評価対象機器の入出力比の誤差を算出する算出手段と
を有することを特徴とする誤差測定装置。 - 前記参照信号は、前記第1の信号と前記第2の信号との間の位相差を小さくするための、同一周波数で互いに異なる位相を有する第1及び第2の参照信号を含み、
前記第3の信号発生器は、前記第1の信号発生器に前記第1の参照信号を供給すると共に前記第2の信号発生器に前記第2の参照信号を供給することを特徴とする請求項1記載の誤差測定装置。 - 前記第1の信号発生器から出力される前記第1の信号と、前記第2の信号発生器から出力される前記第2の信号との位相差を検出する位相差検出手段を更に有し、
前記算出手段は、前記位相差検出手段により検出された前記位相差を用いて前記入出力比の誤差を算出することを特徴とする請求項1又は2記載の誤差測定装置。 - 前記位相差検出手段は、前記第1の信号発生器から第1のインピーダンス整合器を介して第1の同軸ケーブルへ出力された前記第1の信号が入力される第1の入力端子と、前記第2の信号発生器から第2のインピーダンス整合器を介して第2の同軸ケーブルへ出力された前記第2の信号が入力される第2の入力端子とを有し、入力された前記第1の信号と前記第2の信号との位相差を検出する位相計を備え、
前記第1のインピーダンス整合器のインピーダンス値は前記第1の信号発生器の出力インピーダンス値との合計値が前記第1の同軸ケーブルの特性インピーダンスと等しく、前記第2のインピーダンス整合器のインピーダンス値は前記第2の信号発生器の出力インピーダンス値との合計値が前記第2の同軸ケーブルの特性インピーダンスと等しく設定されていることを特徴とする請求項3記載の誤差測定装置。 - 前記第1の参照信号に応じて、振幅が前記第2の参照信号が供給される前記第2の信号発生器から出力される前記第2の信号の振幅に比し一定値大なる値の第4の信号を出力する信号発生手段をさらに備え、
前記微小信号測定器は、前記第4の信号と前記第2の信号とが供給されて、前記第4の信号と前記第2の信号との差分信号の同相成分及び直角相成分を補正用同相成分及び補正用直角相成分として測定し、当該補正用同相成分及び補正用直角相成分を用いて、前記第3の信号と前記第2の信号との差分信号から測定した同相成分及び直角相成分を補正する補正手段を備えることを特徴とする請求項2記載の誤差測定装置。 - 前記微小信号測定器は、前記第4の信号を(V2ref+Δ)ej(ωt+φ)、前記第2の信号をV2ref・ejωtとしたとき(ただし、V2refは電圧の振幅、Δは前記一定値、jは虚数単位、ωは角周波数、tは時間、φは前記第4の信号と第2の信号との位相差)、次式で表される補正用同相成分m及び補正用直角相成分nを測定し、
m∝{(V2ref+Δ)・cosφ−V2ref} 、n∝(V2ref+Δ)sinφ
前記補正手段は、前記第3の信号と前記第2の信号との差分信号から測定した前記同相成分をM、前記直角相成分をNとしたとき、次式により
- 前記微小信号測定器は、予め前記第1の信号及び第2の信号が同一振幅で供給されたときのオフセットキャンセル用測定値を取得しておき、前記補正用同相成分m及び補正用直角相成分nから前記オフセットキャンセル用測定値を差し引くことによりオフセットキャンセルを行うことを特徴とする請求項6記載の誤差測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2016047935A JP6607446B2 (ja) | 2016-03-11 | 2016-03-11 | 誤差測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2016047935A JP6607446B2 (ja) | 2016-03-11 | 2016-03-11 | 誤差測定装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017161440A JP2017161440A (ja) | 2017-09-14 |
JP2017161440A5 JP2017161440A5 (ja) | 2018-12-13 |
JP6607446B2 true JP6607446B2 (ja) | 2019-11-20 |
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ID=59853783
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2016047935A Active JP6607446B2 (ja) | 2016-03-11 | 2016-03-11 | 誤差測定装置 |
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Country | Link |
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JP (1) | JP6607446B2 (ja) |
-
2016
- 2016-03-11 JP JP2016047935A patent/JP6607446B2/ja active Active
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Publication number | Publication date |
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JP2017161440A (ja) | 2017-09-14 |
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