JP6596300B2 - 分析用システム及び方法 - Google Patents
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Description
試験測定装置と、
該試験測定装置上のメモリと、
正規表現及びビット・ストリームを受けるよう動作する上記試験測定装置上の受信部と、
上記正規表現からステート・マシーンを発生するステート・マシーン発生部と、
上記ステート・マシーンを用いて上記ビット・ストリームを分析するよう動作する分析部と、
上記ステート・マシーン中のある1つの状態に入るたびに、パンくずリストを発生して上記メモリ中に保存するパンくずリスト発生部と
を具えている。
試験測定装置で正規表現を受ける処理と、
上記正規表現からステート・マシーンを生成する処理と、
上記ステート・マシーンをビット・ストリームに適用する処理と、
上記ステート・マシーン中の少なくとも1つの状態に関して、少なくとも1つの上記状態に入るときに、上記試験測定装置のメモリにパンくずリストを保存する処理と
を具える。
方法を含む。
410 メモリ
415 ステート・マシーン
420 受信部
435 ビット・ストリーム
440 正規表現
465 パンくずリスト
470 分析部
475 パンくずリスト発生部
480 再現部
605 形式
610 ID
615 時間
Claims (4)
- 試験測定装置と、
該試験測定装置上のメモリと、
正規表現及びビット・ストリームを受けるよう動作する上記試験測定装置上の受信部と、
上記正規表現からステート・マシーンを発生するステート・マシーン発生部と、
上記ステート・マシーンを用いて上記ビット・ストリームを分析するよう動作する分析部と、
上記ステート・マシーン中のある1つの状態に入るたびに、パンくずリストを発生して上記メモリ中に保存するパンくずリスト発生部と
を具える分析用システム。 - 上記パンくずリスト発生部は、予期せぬ入力についてエラー状態に入ったときに、形式、ID及び時間の中の少なくとも1つを含むパンくずリストを生成し、上記メモリに保存するよう動作する請求項1による分析用システム。
- 試験測定装置で正規表現を受ける処理と、
上記正規表現からステート・マシーンを生成する処理と、
上記ステート・マシーンをビット・ストリームに適用する処理と、
上記ステート・マシーン中の少なくとも1つの状態に関して、少なくとも1つの上記状態に入るときに、上記試験測定装置のメモリにパンくずリストを保存する処理と
を具える分析用方法。 - 少なくとも1つの上記状態に入るときに、上記試験測定装置のメモリにパンくずリストを保存する処理が、予期せぬ入力についてエラー状態に入ったときに、エラーのパンくずリストを保存する処理を含み、上記パンくずリストが、形式、ID及び時間の中の少なくとも1つを含む請求項3による分析用方法。
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201462068384P | 2014-10-24 | 2014-10-24 | |
US62/068384 | 2014-10-24 | ||
US14/574,137 US9338076B1 (en) | 2014-10-24 | 2014-12-17 | Deriving hardware acceleration of decoding from a declarative protocol description |
US14/574137 | 2014-12-17 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016085745A JP2016085745A (ja) | 2016-05-19 |
JP6596300B2 true JP6596300B2 (ja) | 2019-10-23 |
Family
ID=54364104
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015209141A Active JP6596300B2 (ja) | 2014-10-24 | 2015-10-23 | 分析用システム及び方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9338076B1 (ja) |
EP (1) | EP3012648B1 (ja) |
JP (1) | JP6596300B2 (ja) |
CN (1) | CN105553606B (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20190113542A1 (en) * | 2014-12-17 | 2019-04-18 | Tektronix, Inc. | Hardware trigger generation from a declarative protocol description |
JP6741417B2 (ja) * | 2015-12-04 | 2020-08-19 | テクトロニクス・インコーポレイテッドTektronix,Inc. | 試験測定装置及びトリガ方法 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5121342A (en) * | 1989-08-28 | 1992-06-09 | Network Communications Corporation | Apparatus for analyzing communication networks |
US6681354B2 (en) * | 2001-01-31 | 2004-01-20 | Stmicroelectronics, Inc. | Embedded field programmable gate array for performing built-in self test functions in a system on a chip and method of operation |
JP2006242638A (ja) * | 2005-03-01 | 2006-09-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体検査装置 |
US7512634B2 (en) * | 2006-06-05 | 2009-03-31 | Tarari, Inc. | Systems and methods for processing regular expressions |
GB2443277B (en) | 2006-10-24 | 2011-05-18 | Advanced Risc Mach Ltd | Performing diagnostics operations upon an asymmetric multiprocessor apparatus |
US8127113B1 (en) | 2006-12-01 | 2012-02-28 | Synopsys, Inc. | Generating hardware accelerators and processor offloads |
US8990651B2 (en) | 2007-09-19 | 2015-03-24 | Tabula, Inc. | Integrated circuit (IC) with primary and secondary networks and device containing such an IC |
US8525548B2 (en) | 2008-08-04 | 2013-09-03 | Tabula, Inc. | Trigger circuits and event counters for an IC |
US8838406B2 (en) * | 2008-11-11 | 2014-09-16 | Advantest (Singapore) Pte Ltd | Re-configurable test circuit, method for operating an automated test equipment, apparatus, method and computer program for setting up an automated test equipment |
US8281395B2 (en) * | 2009-01-07 | 2012-10-02 | Micron Technology, Inc. | Pattern-recognition processor with matching-data reporting module |
US9069017B2 (en) | 2009-12-04 | 2015-06-30 | Tektronix, Inc. | Serial bit stream regular expression engine |
-
2014
- 2014-12-17 US US14/574,137 patent/US9338076B1/en active Active
-
2015
- 2015-10-23 JP JP2015209141A patent/JP6596300B2/ja active Active
- 2015-10-23 EP EP15191296.1A patent/EP3012648B1/en active Active
- 2015-10-23 CN CN201510695380.XA patent/CN105553606B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP3012648B1 (en) | 2018-12-19 |
EP3012648A1 (en) | 2016-04-27 |
CN105553606B (zh) | 2021-02-05 |
JP2016085745A (ja) | 2016-05-19 |
US9338076B1 (en) | 2016-05-10 |
US20160119218A1 (en) | 2016-04-28 |
CN105553606A (zh) | 2016-05-04 |
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