JP6585797B2 - Surface treatment equipment - Google Patents

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Description

この発明は、薄板などのワークにめっき等の表面処理を行う技術に関するものである。   The present invention relates to a technique for performing surface treatment such as plating on a workpiece such as a thin plate.

基板などにめっき等の表面処理を行う際には、めっき液を充填しためっき槽に基板を浸漬させる方法が一般的であった。この方法では、基板を上下させるための昇降機構が必要であり、装置が複雑化大型化するという問題があった。また、めっき槽にめっき液を充填しなければならず、多くのめっき液が必要であるという問題もあった。このような問題は、めっきだけでなく、表面処理一般についていえることであった。   When performing surface treatment such as plating on a substrate or the like, a method of immersing the substrate in a plating tank filled with a plating solution has been common. This method requires a lifting mechanism for moving the substrate up and down, and there is a problem that the apparatus becomes complicated and large. Moreover, the plating bath must be filled with a plating solution, and there is a problem that a large amount of plating solution is required. Such a problem was not only for plating but also for general surface treatment.

このような問題を解決するため、発明者らは、上部を保持した基板に対して、処理液を放出し、基板から落ちた処理液を回収して再び放出するという装置を発明している(特許文献1、2)。   In order to solve such a problem, the inventors have invented an apparatus that discharges the processing liquid to the substrate holding the upper portion, collects the processing liquid dropped from the substrate, and discharges it again ( Patent Documents 1 and 2).

図23に、特許文献1に記載された表面処理装置の横断面を示す。保持部材であるハンガー6によって基板2の上部が挟まれている。槽4の外側には、ローラ受部材40、42が設けられている。ハンガー6を保持している移動体14をローラ16で保持し、紙面に垂直な方向に移動させる。   In FIG. 23, the cross section of the surface treatment apparatus described in patent document 1 is shown. The upper part of the board | substrate 2 is pinched | interposed by the hanger 6 which is a holding member. Roller receiving members 40 and 42 are provided outside the tank 4. The moving body 14 holding the hanger 6 is held by a roller 16 and moved in a direction perpendicular to the paper surface.

基板2は、槽4の中に導入される。槽4の中には、処理液噴出口10を持つ処理液放出部8が、基板2の両側に設けられている。処理液噴出口10からは、基板2に対して、処理液が噴出される。基板2に到達した処理液は、基板2の表面を伝って流れ落ちる。このようにして、基板2の表面が処理液によって処理される。   The substrate 2 is introduced into the tank 4. In the tank 4, a treatment liquid discharge portion 8 having a treatment liquid ejection port 10 is provided on both sides of the substrate 2. A processing liquid is ejected from the processing liquid ejection port 10 toward the substrate 2. The processing liquid that has reached the substrate 2 flows down along the surface of the substrate 2. In this way, the surface of the substrate 2 is treated with the treatment liquid.

流れ落ちた処理液は、槽4の下部に回収され、ポンプ12によって、再び処理液放出部8から放出される。   The treatment liquid that has flowed down is collected in the lower part of the tank 4, and is again discharged from the treatment liquid discharge unit 8 by the pump 12.

図24に、平面図を示す。ハンガー6によって保持された基板2は、ロード部22から、第1水洗部24、デスミア部26、第2水洗部28、前処理部30、第3水洗部32、無電解銅めっき部34、第4水洗部36の順に移送され、アンロード部38にてハンガー6から取り外される。   FIG. 24 shows a plan view. The substrate 2 held by the hanger 6 is loaded from the load section 22 to the first water washing section 24, the desmear section 26, the second water washing section 28, the pretreatment section 30, the third water washing section 32, the electroless copper plating section 34, the first 4 The water washing part 36 is transferred in this order, and is removed from the hanger 6 by the unloading part 38.

各槽における横断面は図23と同様であるが、各槽により処理液噴出口10から噴出される処理液が異なっている。なお、図24に示すように、各槽の上部は開放された状態となっている。   Although the cross section in each tank is the same as that of FIG. 23, the process liquid ejected from the process liquid ejection port 10 is different depending on each tank. In addition, as shown in FIG. 24, the upper part of each tank is in the open state.

このようにして、装置を大型化複雑化することなく、処理液の使用量を低減することを実現している。   In this way, it is possible to reduce the amount of processing liquid used without increasing the size and complexity of the apparatus.

特開2014−88600JP2014-88600 特開2014−43613JP2014-43613 特開2012−41590JP2012-41590

上記従来技術では、槽4の外側にローラ受部材40、42が設けられており、このため装置が大型化するという問題があった。かといって、ローラ受部材40、42を槽4の内側に設けると、ローラ16やローラ16を駆動するためのギア(図示せず)などの可動部分によって生じた塵埃が、槽4内に落下することになる。メッキによって極めて微細なパターン(数μm幅のパターンなど)を基板上に形成する場合には、数μm程度の粉塵であっても基板の表面に付着すれば不良の原因となる可能性がある。したがって、ローラ受部材40を、槽4の内側に設けることは難しかった。   In the prior art described above, the roller receiving members 40 and 42 are provided on the outside of the tank 4, and there is a problem that the apparatus is increased in size. However, when the roller receiving members 40 and 42 are provided inside the tank 4, dust generated by movable parts such as the roller 16 and a gear (not shown) for driving the roller 16 falls into the tank 4. Will do. When an extremely fine pattern (such as a pattern having a width of several μm) is formed on a substrate by plating, even if dust of about several μm adheres to the surface of the substrate, it may cause a defect. Therefore, it was difficult to provide the roller receiving member 40 inside the tank 4.

また、従来のように、槽4の外側にローラ受部材40、42を設けていたとしても、発生した粉塵が浮遊して槽4の中に進入するおそれもあった。   Moreover, even if the roller receiving members 40 and 42 are provided outside the tank 4 as in the prior art, the generated dust may float and enter the tank 4.

さらに、特許文献3には、処理液に混入した微細な異物を除去するシステムが開示されている。しかし、処理液に微細な異物が混入するのを防止するという根本的な解決を提示するものではなかった。   Furthermore, Patent Document 3 discloses a system that removes fine foreign matters mixed in the processing liquid. However, it did not present a fundamental solution to prevent the minute foreign matter from being mixed into the processing liquid.

上記のような問題は、図23に示すような構造の処理槽だけでなく、基板を処理液に浸漬して表面処理を行うような処理槽においても同様に生じていた。   The problem as described above has occurred not only in a processing tank having a structure as shown in FIG. 23 but also in a processing tank in which a surface treatment is performed by immersing a substrate in a processing solution.

この発明は、上記のいずれかの問題を解決して、粉塵による不良発生を低減することのできる表面処理装置を提供することを目的とする。   An object of the present invention is to provide a surface treatment apparatus that can solve any of the above problems and reduce the occurrence of defects due to dust.

この発明に係る表面処理装置の独立して適用可能ないくつかの特徴を、以下に列挙する。   Some features that can be independently applied to the surface treatment apparatus according to the present invention are listed below.

(1)この発明に係る表面処理装置は、処理対象の上部を保持する保持部材と、前記保持部材または前記処理対象に対して処理液を放出し、前記保持部材に保持された前記処理対象の表面に処理液を流す処理液放出部と、前記保持部材を上方から支える上方支持部材と、前記上方支持部材を移動させる搬送機構と、少なくとも前記搬送機構の下側に設けられた防護部材とを備えた表面処理装置であって、前記上方支持部材は、防護部材の設けられていない部分を介して、前記保持部材を支持することを特徴としている。 (1) A surface treatment apparatus according to the present invention includes a holding member that holds an upper portion of a processing target, and a processing liquid that is discharged to the holding member or the processing target and is held by the holding member. A treatment liquid discharge portion for flowing a treatment liquid to the surface; an upper support member for supporting the holding member from above; a transport mechanism for moving the upper support member; and a protection member provided at least on the lower side of the transport mechanism In the surface treatment apparatus provided, the upper support member supports the holding member through a portion where no protective member is provided.

したがって、防護壁部材により粉塵が処理対象に移動するのを規制することができ、粉塵による表面処理の不良を減少させることができる。   Therefore, it is possible to regulate the movement of the dust to the treatment target by the protective wall member, and it is possible to reduce the surface treatment failure caused by the dust.

(2)この発明に係る表面処理装置は、防護部材が、前記搬送機構の側面にも設けられていることを特徴としている。 (2) The surface treatment apparatus according to the present invention is characterized in that a protective member is also provided on a side surface of the transport mechanism.

したがって、側面に設けられた防護部材により、さらに、粉塵が処理対象に移動するのを規制することができる。   Therefore, it is possible to further restrict the movement of the dust to the processing target by the protective member provided on the side surface.

(3)この発明に係る表面処理装置は、防護部材によって囲われた部分において、前記搬送機構の下側または前記搬送機構の少なくとも一部を浸すように液体を張ったことを特徴としている。 (3) The surface treatment apparatus according to the present invention is characterized in that a liquid is stretched so as to immerse at least a part of the lower side of the transport mechanism or the transport mechanism in a portion surrounded by the protective member.

したがって、粉塵が液体に捕捉され、粉塵が処理対象に移動するのを規制することができる。   Therefore, it is possible to restrict the dust from being captured by the liquid and moving to the processing target.

(4)この発明に係る表面処理装置は、防護部材によって囲われた部分には、給水口と排水口が設けられ、液体が入れ替えられることを特徴としている。 (4) The surface treatment apparatus according to the present invention is characterized in that a water supply port and a drain port are provided in a portion surrounded by the protective member, and the liquid is replaced.

したがって、粉塵を含んだ液体を常に交換することができ、粉塵の捕捉効果を維持することができる。   Therefore, the liquid containing dust can always be replaced, and the dust capturing effect can be maintained.

(5)この発明に係る表面処理装置は、搬送機構が、ステンレス、チタン、炭素鋼、黄銅またはプラスチックによって形成されていることを特徴としている。 (5) The surface treatment apparatus according to the present invention is characterized in that the transport mechanism is formed of stainless steel, titanium, carbon steel, brass or plastic.

したがって、液体によって搬送機構が腐食するおそれを低減することができる。   Therefore, the possibility that the transport mechanism is corroded by the liquid can be reduced.

(6)この発明に係る表面処理装置は、処理対象の上部を保持する保持部材と、前記保持部材によって保持された処理対象を処理液に浸漬するための処理槽と、前記保持部材を上方から支える上方支持部材と、前記上方支持部材を移動させる搬送機構と、少なくとも前記搬送機構の下側に設けられた防護壁とを備えた表面処理装置であって、前記上方支持部材は、防護部材の設けられていない部分を介して、前記保持部材を支持することを特徴としている。 (6) A surface treatment apparatus according to the present invention includes a holding member that holds an upper portion of a processing target, a treatment tank for immersing the processing target held by the holding member in a processing liquid, and the holding member from above. A surface treatment apparatus comprising a supporting upper support member, a transport mechanism for moving the upper support member, and a protective wall provided at least on the lower side of the transport mechanism, wherein the upper support member The holding member is supported through a portion that is not provided.

したがって、防護壁部材により粉塵が処理対象に移動するのを規制することができ、粉塵による表面処理の不良を減少させることができる。   Therefore, it is possible to regulate the movement of the dust to the treatment target by the protective wall member, and it is possible to reduce the surface treatment failure caused by the dust.

この発明において、「保持部材」とは、少なくとも処理対象の上部を保持する機能を有するものをいい、実施形態においては、処理液受部材82がこれに該当する。   In the present invention, the “holding member” means a member having a function of holding at least the upper part of the processing target, and in the embodiment, the processing liquid receiving member 82 corresponds to this.

「処理液放出部」とは、処理対象に対して直接または間接的に処理液を放出する機能を有するものをいい、実施形態では、パイプ56や傾斜板53がこれに該当する。   The “processing liquid discharge part” refers to a part having a function of discharging a processing liquid directly or indirectly to a processing target. In the embodiment, the pipe 56 and the inclined plate 53 correspond to this.

「上方支持部材」とは、少なくとも保持部材を上部から保持する機能を有するものをいい、実施形態では、天板62、垂下板64、クリップ保持部材74、クリップ52がこれに該当する。   The “upper support member” means a member having a function of holding at least the holding member from above. In the embodiment, the top plate 62, the hanging plate 64, the clip holding member 74, and the clip 52 correspond to this.

「搬送機構」とは、少なくとも上方支持部材移動させる機能を有するものをいい、実施形態では、ローラ40とローラガイド66、ピニオン70、ラック68がこれに該当する。   The “conveying mechanism” means at least a function of moving the upper support member. In the embodiment, the roller 40, the roller guide 66, the pinion 70, and the rack 68 correspond to this.

「防護部材」とは、少なくとも搬送機構にて発生し、または舞い上がった粉塵が、処理対象に到達するのを防ぐ機能を有するものをいい、実施形態では、下防護壁47や横防護壁49がこれに該当する。   The “protective member” refers to a member having a function of preventing at least dust that has been generated or soared by the transport mechanism from reaching the object to be treated. In the embodiment, the lower protective wall 47 and the lateral protective wall 49 are provided. This is the case.

この発明の一実施形態による表面処理システムの全体構成図である。1 is an overall configuration diagram of a surface treatment system according to an embodiment of the present invention. 図1の表面処理システムの側面図である。It is a side view of the surface treatment system of FIG. 表面処理装置の横断面図である。It is a cross-sectional view of a surface treatment apparatus. ハンガー50近傍の詳細図である。It is detail drawing of the hanger 50 vicinity. 天板62のローラガイド66、ラック68を示す図である。It is a figure which shows the roller guide 66 and the rack 68 of the top plate 62. FIG. ハンガー50を示す図である。It is a figure which shows the hanger 50. FIG. クリップ52を示す図である。It is a figure which shows the clip 52. FIG. パイプ56からの処理液放出の状態を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing a state in which processing liquid is discharged from a pipe. 処理液受部材82における処理液の流れを示す図である。FIG. 6 is a diagram illustrating a flow of processing liquid in a processing liquid receiving member. 処理液受部材82の他の形状を示す図である。FIG. 10 is a diagram showing another shape of the treatment liquid receiving member 82. 処理液受部材82の他の形状を示す図である。FIG. 10 is a diagram showing another shape of the treatment liquid receiving member 82. 処理液受部材82の内側の構造を示す図である。FIG. 6 is a view showing a structure inside a processing liquid receiving member 82. 他の例による処理液放出部の構造を示す図である。It is a figure which shows the structure of the process liquid discharge | release part by another example. 連続するハンガー50と保持された基板54を示す図である。It is a figure which shows the continuous hanger 50 and the board | substrate 54 hold | maintained. 図13における液の流れを示す図である。It is a figure which shows the flow of the liquid in FIG. ハンガー50を突出させた時の処理液の流れを示す図である。It is a figure which shows the flow of the process liquid when the hanger 50 is made to protrude. ガイド79を設けた状態を示す図である。It is a figure which shows the state which provided the guide 79. FIG. ガイド79の詳細を示す図である。It is a figure which shows the detail of the guide. ガイド79の機能を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the function of the guide. 他の例による処理液受部材82の構造を示す図である。It is a figure which shows the structure of the process liquid receiving member 82 by another example. 他の例による処理液受部材82の構造を示す図である。It is a figure which shows the structure of the process liquid receiving member 82 by another example. 他の例による処理液受部材82の構造を示す図である。It is a figure which shows the structure of the process liquid receiving member 82 by another example. 排出口の構造を示す図である。It is a figure which shows the structure of a discharge port. 従来の表面処理装置の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the conventional surface treatment apparatus. 従来の表面処理装置の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the conventional surface treatment apparatus.

1.第1の実施形態
図1に、この発明の一実施形態による表面処理システム20の平面図を示す。この表面処理システム20は、複数の表面処理部を備えている。すなわち、第1水洗部24、デスミア部26、第2水洗部28、前処理部30、第3水洗部32、無電解銅めっき部34、第4水洗部36を備えている。各処理部には、入口44と出口46が設けられており、この開口を通って、基板がX方向に移動させられる。
1. First Embodiment FIG. 1 is a plan view of a surface treatment system 20 according to an embodiment of the present invention. The surface treatment system 20 includes a plurality of surface treatment units. That is, the first water-washing part 24, the desmear part 26, the second water-washing part 28, the pretreatment part 30, the third water-washing part 32, the electroless copper plating part 34, and the fourth water-washing part 36 are provided. Each processing unit is provided with an inlet 44 and an outlet 46, through which the substrate is moved in the X direction.

図2に、図1のα方向から見た図を示す。ハンガー50のクリップ52に保持された基板54について、第1水洗部24、デスミア部26、第2水洗部28、前処理部30、第3水洗部32、無電解銅めっき部34、第4水洗部36の順に表面処理が行われる。   FIG. 2 shows a view from the α direction of FIG. About the board | substrate 54 hold | maintained at the clip 52 of the hanger 50, the 1st water washing part 24, the desmear part 26, the 2nd water washing part 28, the pretreatment part 30, the 3rd water washing part 32, the electroless copper plating part 34, the 4th water washing Surface treatment is performed in the order of the part 36.

図3に、図1のβ−β断面図を示す。ハンガー50のクリップ52によって、基板54の上端部が挟まれて保持されている。ハンガー50によって保持された基板54の両側には、処理液放出部であるパイプ56が設けられている。このパイプ56には、斜め上方に向けて処理液を放出するように穴58が設けられている。放出された処理液は、基板54の表面を流れて下部に到達し、ポンプ60によって循環されて、再びパイプ56から放出される。   FIG. 3 shows a β-β cross-sectional view of FIG. The upper end portion of the substrate 54 is sandwiched and held by the clip 52 of the hanger 50. On both sides of the substrate 54 held by the hanger 50, pipes 56 that are processing liquid discharge portions are provided. The pipe 56 is provided with a hole 58 so as to discharge the processing liquid obliquely upward. The discharged processing liquid flows on the surface of the substrate 54 and reaches the lower part, is circulated by the pump 60, and is discharged from the pipe 56 again.

図4に、ハンガー50近傍の詳細を示す。ハンガー50は、天板62と、この天板62から下方向に伸びる垂下板64、垂下板64に固定されたクリップ保持部材74を備えている。クリップ保持部材74には、クリップ52が設けられている。この実施形態では、天板62、垂下板64、クリップ保持部材74、クリップ52によって上方支持部材が構成されている。   FIG. 4 shows details of the vicinity of the hanger 50. The hanger 50 includes a top plate 62, a hanging plate 64 extending downward from the top plate 62, and a clip holding member 74 fixed to the hanging plate 64. The clip holding member 74 is provided with a clip 52. In this embodiment, the top support member is constituted by the top plate 62, the hanging plate 64, the clip holding member 74, and the clip 52.

図5に示すように、天板62の裏面下側には、両端部にローラガイド66が設けられている。さらに、一方側にはラック68が設けられている。ローラガイド66の凹部には、ローラ40が回転可能にはまり込んでいる。ローラ40と同じ回転軸72にピニオン70が設けられ、ラック68と歯合している。ピニオン70は、モータ(図示せず)によって回転駆動させられ、天板50を矢印Xの方向に移動させる。これにより、ハンガー50に保持された基板54は、各処理部を順次移動させられることになる。なお、ローラ40、ピニオン68は所定間隔で複数設けられている。   As shown in FIG. 5, roller guides 66 are provided at both ends on the lower side of the back surface of the top plate 62. Further, a rack 68 is provided on one side. The roller 40 is rotatably fitted in the recess of the roller guide 66. A pinion 70 is provided on the same rotating shaft 72 as the roller 40 and meshes with the rack 68. The pinion 70 is rotationally driven by a motor (not shown), and moves the top board 50 in the direction of arrow X. As a result, the substrate 54 held on the hanger 50 is sequentially moved through the processing units. A plurality of rollers 40 and pinions 68 are provided at predetermined intervals.

図4に示すように、ローラ40、ピニオン70は、横防護壁49(防護部材)から突出して設けられた回転軸72に固定され、回転軸72の回転に伴って回転するようになっている。横防護壁49は、外壁39に固定された下防護壁47(防護部材)に垂直に固定されている。ハンガー50の垂下板64は、両側の下防護壁47の間の空間43を通って、クリップ52を支持している。   As shown in FIG. 4, the roller 40 and the pinion 70 are fixed to a rotation shaft 72 provided so as to protrude from the lateral protection wall 49 (protection member), and rotate with the rotation of the rotation shaft 72. . The lateral protective wall 49 is fixed vertically to a lower protective wall 47 (protective member) fixed to the outer wall 39. The hanging plate 64 of the hanger 50 supports the clip 52 through the space 43 between the lower protective walls 47 on both sides.

この実施形態では、ローラ40とローラガイド66、ピニオン70とラック68によって構成される搬送機構(2以上の部品がすり合う部分)の下に下防護壁47が設けられ、横に横防護壁49が設けられている。したがって、搬送機構によって生じた粉塵がクリップ52によって保持された基板54に向かうことを阻止することができる。   In this embodiment, a lower protective wall 47 is provided under a conveyance mechanism (a portion where two or more parts meet) composed of a roller 40 and a roller guide 66, and a pinion 70 and a rack 68, and a lateral protective wall 49 is located sideways. Is provided. Therefore, it is possible to prevent the dust generated by the transport mechanism from moving toward the substrate 54 held by the clip 52.

さらに、この実施形態では、横防護壁49、下防護壁47、外壁39によって形成された空間に水などの液体41が張られている。液体41は、回転軸72を半分程度覆うように張られている。したがって、液体41により、搬送機構によって発生した微細な粉塵が捕捉され、空気中を漂って空間43から基板54に向かうのを防止することができる。   Further, in this embodiment, a liquid 41 such as water is stretched in a space formed by the lateral protective wall 49, the lower protective wall 47, and the outer wall 39. The liquid 41 is stretched so as to cover the rotating shaft 72 about half. Therefore, the fine dust generated by the transport mechanism can be captured by the liquid 41 and can be prevented from drifting from the space 43 toward the substrate 54 in the air.

なお、この実施形態では、液体41(水)による腐食を防止するため、摩耗による寸法変動の影響の少ないローラ40にはプラスチックを用い、摩耗による寸法変動の影響を小さくする必要のあるピニオン70にはステンレス材を用いている。なお、ステンレスに代えてあるいは併用して、チタン、炭素鋼、黄銅などの金属を用いるようにしてもよい。   In this embodiment, in order to prevent corrosion due to the liquid 41 (water), plastic is used for the roller 40 that is less affected by dimensional variation due to wear, and the pinion 70 that needs to reduce the effect of dimensional variation due to wear is used. Uses stainless steel. Note that a metal such as titanium, carbon steel, or brass may be used instead of or in combination with stainless steel.

この実施形態では、液体41は、第1水洗部24から第4水洗部36(図1参照)にわたって張られている。第1水洗部24の入口側に給水口(図示せず)が設けられ、第4水洗部36の出口側に排水口(図示せず)が設けられている。排水口の構成を図22に示す。基体パイプ112が下防護壁47に固定され、排水パイプ114に接続されている。基体パイプ112には、上下に移動してその高さを調節可能な調節パイプ110が挿入されている。この調節パイプ110の高さを変えることにより、液体41の水面を上下させることができる。   In this embodiment, the liquid 41 is stretched from the first water washing section 24 to the fourth water washing section 36 (see FIG. 1). A water supply port (not shown) is provided on the inlet side of the first flush unit 24, and a drain port (not shown) is provided on the outlet side of the fourth flush unit 36. The configuration of the drain outlet is shown in FIG. The base pipe 112 is fixed to the lower protective wall 47 and connected to the drain pipe 114. An adjustment pipe 110 that can move up and down and adjust its height is inserted into the base pipe 112. By changing the height of the adjustment pipe 110, the water surface of the liquid 41 can be raised or lowered.

また、この実施形態では、古い液体41(粉塵を含む液体41)が速やかに排出されるように、給水口付近の下防護壁47を、排水口付近の下防護壁47よりも高くなるようにしている。   In this embodiment, the lower protective wall 47 in the vicinity of the water supply port is made higher than the lower protective wall 47 in the vicinity of the water outlet so that the old liquid 41 (liquid 41 containing dust) is quickly discharged. ing.

図6に、ハンガー50の斜視図を示す。天板62から、垂下板64が下方向に伸びている。この垂下板64に対し、横方向にクリップ保持部材74が固定されている。このクリップ保持部材74の両端部と中央部にクリップ52が設けられている。   FIG. 6 shows a perspective view of the hanger 50. A hanging plate 64 extends downward from the top plate 62. A clip holding member 74 is fixed to the hanging plate 64 in the lateral direction. Clips 52 are provided at both ends and the center of the clip holding member 74.

クリップ52の詳細を、図7に示す。クリップ52は、バネ76によって先端部が閉じる方向に付勢されている。図7は、このバネ76に抗って、バネ76を押圧し、先端部を開いた状態を示している。クリップ52の先端部には、図6に示すように、ハンガー50の幅全体にわたる処理液受部材82(保持部材)が設けられている。図7に示すように、処理液受部材82の根元部分は平板80であり、先端部分は外側に向けて半円形状(20mm〜40mmの半径であることが好ましい)の凸部78となっている。凸部78の内側下端には、基板54を挟み込んで把持するための把持突起75が設けられている。   Details of the clip 52 are shown in FIG. The clip 52 is urged by a spring 76 in a direction in which the tip end is closed. FIG. 7 shows a state in which the spring 76 is pressed against the spring 76 to open the tip. As shown in FIG. 6, a treatment liquid receiving member 82 (holding member) is provided at the tip of the clip 52 over the entire width of the hanger 50. As shown in FIG. 7, the base portion of the treatment liquid receiving member 82 is a flat plate 80, and the tip portion is a convex portion 78 having a semicircular shape (preferably a radius of 20 mm to 40 mm) toward the outside. Yes. A gripping protrusion 75 for sandwiching and gripping the substrate 54 is provided on the inner lower end of the convex portion 78.

処理液受部材82を内側から見た図を図11Aに示す。この実施形態では、把持突起75を、左右端および中央の3箇所に設けている。また、把持突起75の間に、密着防止突起77を設けている。図11Bは、図11Aの底面図である。この図から明らかなように、把持突起75よりも、密着防止突起77の方が低く形成されている。したがって、基板54は、把持突起75によってその上端部が挟み込まれて保持される。   A view of the treatment liquid receiving member 82 as seen from the inside is shown in FIG. 11A. In this embodiment, the gripping protrusions 75 are provided at three locations, the left and right ends and the center. Further, an adhesion preventing projection 77 is provided between the gripping projections 75. FIG. 11B is a bottom view of FIG. 11A. As is clear from this figure, the adhesion preventing projection 77 is formed lower than the gripping projection 75. Therefore, the upper end of the substrate 54 is held by the gripping protrusion 75 and held.

なお、密着防止突起77は、把持突起75のない部分において、基板54が曲がって(薄い基板の場合容易に曲がる)、処理液受部材82に密着しないようにするためのものである。基板54が処理液受部材82に密着し、その密着面積が大きいと、処理液が流れてきても、基板54が密着したままとなって、密着部分においては表面処理ができなくなるためである。   The adhesion prevention protrusion 77 is for preventing the substrate 54 from being bent (easily bent in the case of a thin substrate) and not coming into close contact with the processing liquid receiving member 82 in a portion where the grip protrusion 75 is not provided. This is because if the substrate 54 is in close contact with the processing liquid receiving member 82 and the contact area is large, the substrate 54 remains in close contact even when the processing liquid flows, and surface treatment cannot be performed at the close contact portion.

図4に戻って、パイプ56には、図3のポンプ60によって処理液が供給される。この処理液は、各処理部によって異なっている。この実施形態では、第1水洗部24、第2水洗部28、第3水洗部32、第4水洗部36においては洗浄液を用いている。デスミア部26においてはデスミア液を用いている。前処理部30においては前処理液を用いている。無電解銅めっき部34においてはめっき液を用いている。   Returning to FIG. 4, the processing liquid is supplied to the pipe 56 by the pump 60 of FIG. 3. This processing liquid differs depending on each processing unit. In this embodiment, the first water washing unit 24, the second water washing unit 28, the third water washing unit 32, and the fourth water washing unit 36 use a cleaning liquid. In the desmear portion 26, desmear liquid is used. In the pretreatment unit 30, a pretreatment liquid is used. In the electroless copper plating part 34, a plating solution is used.

パイプ56の穴58は、所定角度(たとえば45度)上方を向いて設けられている。したがって、処理液は、パイプ56から斜め上方に向けて放出され、クリップ52に到達することになる。なお、穴58は、水平方向に対して5度〜85度の範囲の向きに設けることが好ましい。パイプ56の穴58は、所定間隔(たとえば10cm間隔)で、紙面に垂直な方向に設けられている。   The hole 58 of the pipe 56 is provided facing upward by a predetermined angle (for example, 45 degrees). Therefore, the processing liquid is discharged obliquely upward from the pipe 56 and reaches the clip 52. In addition, it is preferable to provide the hole 58 in the direction in the range of 5 to 85 degrees with respect to the horizontal direction. The holes 58 of the pipe 56 are provided in a direction perpendicular to the paper surface at a predetermined interval (for example, an interval of 10 cm).

図8aに示すように、パイプ56の穴58から噴出された処理液は、処理液受部材82の平板80に当接し下方向に流れる。この時の水の流れを、図8bに示す。平板80に当接した処理液は、左右に広がりながら、平板80の表面を矢印Aの方向(下方向)に流れていく。上述のように、パイプ56からは、所定間隔にて処理液が放出されているが、平板80に当接した処理液は左右に広がるので、平板80の幅方向全面にわたって処理液が下方向に流れることになる。   As shown in FIG. 8 a, the processing liquid ejected from the hole 58 of the pipe 56 contacts the flat plate 80 of the processing liquid receiving member 82 and flows downward. The water flow at this time is shown in FIG. 8b. The processing liquid in contact with the flat plate 80 flows in the direction of arrow A (downward) on the surface of the flat plate 80 while spreading left and right. As described above, the processing liquid is discharged from the pipe 56 at a predetermined interval, but the processing liquid in contact with the flat plate 80 spreads left and right, so that the processing liquid is downward in the entire width direction of the flat plate 80. Will flow.

平板80の表面を流れ落ちた処理液は、矢印Bに示すように、断面形状が半円の凸部78の表面を伝って流れる。凸部78の下端に到達した処理液は、基板54を伝って流れ落ちる。したがって、基板54の表面全体を伝って処理液が流れ、表面処理が行われることになる。   As shown by the arrow B, the treatment liquid that has flowed down the surface of the flat plate 80 flows along the surface of the convex part 78 having a semicircular cross-sectional shape. The processing liquid that has reached the lower end of the convex portion 78 flows down along the substrate 54. Accordingly, the treatment liquid flows along the entire surface of the substrate 54, and the surface treatment is performed.

なお、処理液受部材82から基板54へ処理液が流れる際には、図8bに示すように、表面に対して垂直に近い角度で流入することが好ましい。これを、図9Aに示すように、表面に対して水平に近い角度で流入させると、基板54の表面に塗布されている薬剤(たとえば、めっきの際のバナジウム)を流し落としてしまって、適切な表面処理ができなくなるからである。   When the processing liquid flows from the processing liquid receiving member 82 to the substrate 54, it is preferable that the processing liquid flows at an angle close to perpendicular to the surface as shown in FIG. 8b. As shown in FIG. 9A, when it is made to flow at an angle close to the horizontal with respect to the surface, the agent (for example, vanadium at the time of plating) applied to the surface of the substrate 54 is washed away, This is because the surface treatment becomes impossible.

したがって、図9Bに示すように、凸部78を設けて、処理液が基板54の表面に対して垂直に近い角度で流入させることが好ましい。ただ、図9Bのような構造の場合、基板54の上部において、処理液が十分に回り込まず、ムラが生じる可能性がある。そこで、上記実施形態では、凸部78の形状をR形状(曲面形状)として、処理液の回り込みを確保しつつ、垂直に近い角度で流入させることを実現している。   Therefore, as shown in FIG. 9B, it is preferable to provide a convex portion 78 and allow the processing liquid to flow at an angle close to perpendicular to the surface of the substrate 54. However, in the case of the structure as shown in FIG. 9B, the processing liquid does not sufficiently wrap around the upper portion of the substrate 54, and unevenness may occur. Therefore, in the above-described embodiment, the shape of the convex portion 78 is an R shape (curved surface shape), and the flow of the processing liquid is ensured and the flow is made to flow at an angle close to the vertical.

たとえば、図9Bの凸部78の下端部外側にRを設けることで、同様の効果を得るようにしてもよい。また、図10Aに示すように、平板80を厚く形成し(20mm〜40mmとすることが好ましい)、先端部外側にR(R=10mm以上であることが好ましい)を設けてもよい。   For example, the same effect may be obtained by providing R outside the lower end of the convex portion 78 in FIG. 9B. Further, as shown in FIG. 10A, the flat plate 80 may be formed thick (preferably 20 mm to 40 mm), and R (R is preferably 10 mm or more) may be provided outside the tip.

さらに、図10Bに示すように、流れガイド81を設けてもよい。この流れガイド81により、処理液は確実に基板54の方に向かうことになる。流れガイド81を用いれば、図9Bのような構造であっても、確実に処理液を基板54に向かわせることができる。   Furthermore, a flow guide 81 may be provided as shown in FIG. 10B. The flow guide 81 ensures that the processing liquid is directed toward the substrate 54. If the flow guide 81 is used, the processing liquid can be reliably directed toward the substrate 54 even in the structure as shown in FIG. 9B.

また、凸部78の下端付近では、流れ込んできた処理液が、僅かに上方向にも移動するので、基板54の上端部まで処理液が行き渡ることになる。この際、図11Bに示すように、密着防止突起77が設けられているので、基板54が曲がっても、処理液受部材82に密着せず、密着防止突起77のみで接することになる。したがって、流れ込んできた処理液が、基板54を密着防止突起77から浮かび上がらせ、基板54の上端まで、表面処理をムラなく行うことができる。   Further, in the vicinity of the lower end of the convex portion 78, the processing liquid that has flowed in moves slightly upward, so that the processing liquid reaches the upper end of the substrate 54. At this time, as shown in FIG. 11B, since the adhesion prevention protrusion 77 is provided, even if the substrate 54 is bent, it does not adhere to the treatment liquid receiving member 82 but comes into contact only with the adhesion prevention protrusion 77. Therefore, the processing liquid that has flowed up causes the substrate 54 to float from the adhesion prevention protrusion 77, and the surface treatment can be performed evenly to the upper end of the substrate 54.

なお、図11に示す密着防止構造は、ハンガー50に処理液を当接させて基板54に処理液を流す方式だけでなく、基板54の上端部近傍に処理液を当接させて処理液を流す方式にも適用することができる。   Note that the adhesion prevention structure shown in FIG. 11 is not limited to a method in which the treatment liquid is brought into contact with the hanger 50 and the treatment liquid is caused to flow through the substrate 54, but the treatment liquid is brought into contact with the vicinity of the upper end of the substrate 54. It can also be applied to the flow method.

なお、図1に示すように、デスミア処理、前処理、無電解銅めっき処理の前(後)には、水洗い処理が行われる。水洗い処理においても、上記と同じように、処理液である洗浄水を流して、基板54の表面を洗浄する。ただし、水洗い処理においては、パイプ56から放出した処理液を当接させる位置を、デスミア処理、前処理、無電解銅めっき処理における当接位置よりも、上に(高く)するようにしている。このようにすることにより、水洗い処理によって、平板80に付着したデスミア処理液、前処理液、無電解銅めっき処理液をより適切に洗浄できるからである。   In addition, as shown in FIG. 1, a water washing process is performed before (after) a desmear process, a pre-process, and an electroless copper plating process. Also in the water washing process, the surface of the substrate 54 is washed by flowing the washing water as the treatment liquid in the same manner as described above. However, in the water washing process, the position where the treatment liquid discharged from the pipe 56 is brought into contact is made higher (higher) than the contact position in the desmear treatment, pretreatment, and electroless copper plating treatment. By doing in this way, it is because the desmear process liquid, the pre-processing liquid, and the electroless copper plating process liquid which adhered to the flat plate 80 can be wash | cleaned more appropriately by the water washing process.

また、上記実施形態では、パイプ56から斜め上方に処理液を放出したが、図12に示すように、傾斜板53から処理液を斜め下方に放出するようにしてもよい。貯留槽55には、ポンプ60によってくみ上げられた処理液が溜められる。その液面が、傾斜板53の端部より高くなると、処理液が傾斜板53にあふれ出す。傾斜板53にあふれた処理液は、処理液受部材82に当接し、基板54に流れ落ちる。この場合、傾斜板53が処理液放出部に該当する。   Further, in the above embodiment, the processing liquid is discharged obliquely upward from the pipe 56, but the processing liquid may be discharged diagonally downward from the inclined plate 53 as shown in FIG. The storage tank 55 stores the processing liquid pumped up by the pump 60. When the liquid level becomes higher than the end of the inclined plate 53, the processing liquid overflows the inclined plate 53. The processing liquid overflowing the inclined plate 53 comes into contact with the processing liquid receiving member 82 and flows down to the substrate 54. In this case, the inclined plate 53 corresponds to the processing liquid discharge portion.

また、上記実施形態では、基板54に対して処理液を放出する方式の処理槽に適用した場合を説明した。しかし、基板54を処理液に浸漬する方式の処理槽にも適用することができる。この場合も、処理液中に粉塵が混入して不良の原因となることを防止することができる。   Further, in the above-described embodiment, the case where the present invention is applied to a processing tank that discharges the processing liquid to the substrate 54 has been described. However, the present invention can also be applied to a processing tank in which the substrate 54 is immersed in a processing solution. In this case as well, it is possible to prevent dust from being mixed into the processing liquid and causing defects.

上記実施形態では、パイプ56や貯留槽55に対して、ハンガー50が移動する構成としている。しかし、ハンガー50を固定し、パイプ56や貯留槽55を移動させるようにしてもよい。   In the above embodiment, the hanger 50 moves with respect to the pipe 56 and the storage tank 55. However, the hanger 50 may be fixed and the pipe 56 and the storage tank 55 may be moved.

上記実施形態では、液体41を回転軸72が半分浸される程度まで入れている。しかし、少なくともローラ40に触れる程度の液体41が入っていれば十分な効果を得ることができる。また、可能であれば、搬送機構全体が液体41に浸されるまで入れるようにしてもよい。さらに、ローラ40に触れない程度の液体41を入れるだけでも、搬送機構から出て下に落ちた粉塵を補足することができ、効果を期待できる。   In the above-described embodiment, the liquid 41 is poured to such an extent that the rotating shaft 72 is half immersed. However, a sufficient effect can be obtained as long as at least the liquid 41 that touches the roller 40 is contained. Further, if possible, the entire transport mechanism may be inserted until it is immersed in the liquid 41. Furthermore, even if only the liquid 41 that does not touch the roller 40 is added, dust that has come out of the transport mechanism and dropped down can be supplemented, and an effect can be expected.

上記実施形態では、液体41を入れるようにしている。しかし、液体41を入れないようにしてもよい。液体41を入れなければ、粉塵の防止効果は減少するが、それでも、横防護壁49、下防護壁47によって、搬送機構で生じた(舞い上がった)粉塵が、基板54の方に移動することを防ぐことができる。さらに、横防護壁49をなくし、下防護壁47のみとしてもよい。この場合であっても、一定の防塵効果を期待できる。   In the above embodiment, the liquid 41 is put. However, the liquid 41 may not be added. If the liquid 41 is not added, the dust prevention effect is reduced. However, the dust generated by the transport mechanism (swelled) by the lateral protective wall 49 and the lower protective wall 47 still moves toward the substrate 54. Can be prevented. Further, the lateral protective wall 49 may be eliminated and only the lower protective wall 47 may be provided. Even in this case, a certain dustproof effect can be expected.

上記実施形態では、ローラ40、ピニオン70を、横防護壁49によって支えるようにしている。しかし、下防護壁47、外壁39によって支えるようにしてもよい。   In the above embodiment, the roller 40 and the pinion 70 are supported by the lateral protection wall 49. However, it may be supported by the lower protective wall 47 and the outer wall 39.

上記実施形態では、ハンガー50において、天板62の側に、ローラガイド66を設け、横防護壁49の側にローラ40を設けている。しかし、天板62の側にローラ40を設け、横防護壁49の側にローラガイド66を設けるようにしてもよい。   In the above embodiment, in the hanger 50, the roller guide 66 is provided on the top plate 62 side, and the roller 40 is provided on the side protection wall 49 side. However, the roller 40 may be provided on the top plate 62 side, and the roller guide 66 may be provided on the side protection wall 49 side.

上記実施形態では、ハンガー50において、天板62の側に、ラック68を設け、横防護壁49の側にピニオン70を設けている。しかし、天板62の側に、ピニオン70を設け、横防護壁49の側にラック68を設けるようにしてもよい。   In the above embodiment, in the hanger 50, the rack 68 is provided on the top plate 62 side, and the pinion 70 is provided on the side protection wall 49 side. However, the pinion 70 may be provided on the top plate 62 side, and the rack 68 may be provided on the side protection wall 49 side.

上記実施形態では、液体として水を用いたが、潤滑油などを用いるようにしてもよい。   In the above embodiment, water is used as the liquid, but lubricating oil or the like may be used.

上記実施形態では、防護部材として防護壁を用い、物理的に粉塵の移動を阻止するようにしている。しかし、イオンなどを発生させて、電気的・磁気的に粉塵を吸着するようにして粉塵の移動を阻止するようにしてもよい。また、粉塵を反発させて、粉塵を基板54の方に移動しないようにしてもよい。さらに、粉塵を吸引する機構を設けるようにしてもよい。
In the above embodiment, a protective wall is used as the protective member to physically prevent the movement of dust. However, the movement of the dust may be prevented by generating ions and the like so as to adsorb the dust electrically and magnetically. Further, the dust may be repelled so that the dust does not move toward the substrate 54. Furthermore, a mechanism for sucking dust may be provided.

2.第2の実施形態
第1の実施形態では、一つのハンガー50について、処理液を基板54に適切に流す構造を示した。これから説明する、第2の実施形態は、複数のハンガー50に基板54を保持し、これらを一連にして処理液を流す場合に関するものである。
2. Second Embodiment In the first embodiment, the structure in which the treatment liquid is appropriately flowed to the substrate 54 for one hanger 50 is shown. The second embodiment to be described below relates to a case in which the substrate 54 is held on a plurality of hangers 50 and the processing liquid is flowed in a series of these.

以下、説明を容易にするため、第1の実施形態の表面処理装置に対して適用した場合について説明するが、基板54の表面に処理液を流す方式の表面処理装置であれば適用可能である。   Hereinafter, for ease of explanation, a case where the present invention is applied to the surface treatment apparatus according to the first embodiment will be described. .

図13に、ハンガー50に保持された基板54を複数並べた状態を示す。ハンガー50の幅にわたって、基板54が保持されている。隣接する基板54の間は、できるだけ狭くした方が処理能力が高くなる。この実施形態では、5mm〜15mmの間を開けるようにしている。しかし、この基板54の間隔を0mmにすることは難しい。各ハンガー50の搬送速度に誤差が生じた時に、隣接する基板54が重なって密着してしまい、ねじれて破れたりするからである。   FIG. 13 shows a state in which a plurality of substrates 54 held on the hanger 50 are arranged. A substrate 54 is held across the width of the hanger 50. The processing capability increases when the space between adjacent substrates 54 is as narrow as possible. In this embodiment, a gap between 5 mm and 15 mm is opened. However, it is difficult to set the distance between the substrates 54 to 0 mm. This is because, when an error occurs in the transport speed of each hanger 50, the adjacent substrates 54 overlap and come into close contact with each other, and are twisted and torn.

また、ハンガー50とハンガー50の間も、5mm〜15mm空けるようにしている。各ハンガー50の送り速度が完全に一致しない場合、ハンガー50同士が接触し、ハンガー50が斜めになって、隣接する基板54が接触するおそれがあるからである。もちろん、各ハンガー50の送り速度を精密に一定にすれば、この間隔を小さくすることはできるが、複雑で高価な機構が必要となってしまう。   In addition, the hanger 50 and the hanger 50 are spaced 5 to 15 mm apart. This is because, when the feeding speeds of the hangers 50 do not completely match, the hangers 50 come into contact with each other, the hangers 50 are inclined, and the adjacent substrates 54 may come into contact with each other. Of course, if the feeding speed of each hanger 50 is kept constant precisely, this interval can be reduced, but a complicated and expensive mechanism is required.

このように、隣接するハンガー50および基板54は所定の間隔を空ける必要がある。本来、基板54と基板54の間では、処理液を流す必要はない。その部分に、基板54はなく、処理液による表面処理は不要だからである。   Thus, the adjacent hanger 50 and the board | substrate 54 need to leave a predetermined space | interval. Originally, it is not necessary to flow the processing liquid between the substrate 54 and the substrate 54. This is because there is no substrate 54 in that portion, and surface treatment with a treatment liquid is unnecessary.

しかし、図14に模式的に示すように、ハンガー50とハンガー50の間の空間51に処理液が流れないため、表面張力によって、基板54の下部Lでは端部に流れる処理液が少なくなってしまう。このため、基板54に対する表面処理にムラができてしまうという問題があった。   However, as schematically shown in FIG. 14, since the processing liquid does not flow into the space 51 between the hangers 50, the processing liquid flowing to the end portion of the lower portion L of the substrate 54 is reduced due to surface tension. End up. For this reason, there has been a problem that the surface treatment on the substrate 54 is uneven.

そこで、第2の実施形態では、基板54の左右端の外の空間においても処理液が流れるような構造を採用した。図15にその例を示す。この例においては、基板54よりも、ハンガー50の処理液受部材82の幅を広くしている。したがって、図中の矢印に示すように、基板54の外側においても処理液が流れることになる。この処理液の層は、下に行くほど基板54の端部に近づき、ついには基板54内の流れに吸収されてしまう。しかし、処理液受部材82の突出度合いFを十分に大きくとることで、基板54の下端部にわたるまで、左右端部の外に処理液の層を作ることができる(破線参照)。   Therefore, in the second embodiment, a structure in which the processing liquid flows also in the space outside the left and right ends of the substrate 54 is adopted. An example is shown in FIG. In this example, the treatment liquid receiving member 82 of the hanger 50 is wider than the substrate 54. Therefore, as shown by the arrows in the figure, the processing liquid flows also outside the substrate 54. The layer of the processing solution approaches the end of the substrate 54 as it goes down, and is finally absorbed by the flow in the substrate 54. However, by sufficiently increasing the degree of protrusion F of the processing liquid receiving member 82, a layer of processing liquid can be formed outside the left and right ends until the lower end of the substrate 54 is reached (see broken line).

ただし、図15に示す構造では、基板54と基板54の間が大きく開いてしまい、単位時間当たりに処理できる基板54の枚数が少なくなってしまう。このように、処理の歩留まりが問題となる場合には、処理液受部材82を図16に示すような構造にするとよい。   However, in the structure shown in FIG. 15, the gap between the substrates 54 is widened, and the number of substrates 54 that can be processed per unit time is reduced. In this way, when the processing yield becomes a problem, the processing liquid receiving member 82 may be structured as shown in FIG.

図16では、処理液受部材82の凸部78の一方側に、ガイド部材79を設けている。図17Aにその正面図、図17Bに底面図、図17Cに側面図を示す。   In FIG. 16, a guide member 79 is provided on one side of the convex portion 78 of the treatment liquid receiving member 82. FIG. 17A shows the front view, FIG. 17B shows the bottom view, and FIG. 17C shows the side view.

ガイド部材79は、凸部78の外形に沿うように、その外側に設けられている。この実施形態では、凸部78の下半分のR部分に沿うように設けられている。ガイド部材79は、凸部78の下側を完全に覆うものではなく、下端部において空間89が生じるように設けられている。また、ガイド部材79は、凸部78の幅よりもWだけ突出して設けられている。   The guide member 79 is provided on the outer side so as to follow the outer shape of the convex portion 78. In this embodiment, it is provided along the R portion of the lower half of the convex portion 78. The guide member 79 does not completely cover the lower side of the convex part 78 but is provided so that a space 89 is formed at the lower end part. Further, the guide member 79 is provided so as to protrude by W from the width of the convex portion 78.

図18に、複数のハンガー50が搬送された時の、隣接する処理液受部材82の状態を示す。前方(左側)の処理液受部材82の後端に設けられたガイド部材79に、後方(右側)の処理液受部材82の前端が入り込んでいる。さらに、前方(左側)のガイド部材79の空間81(図17C参照)に、後方(右側)の基板54の前端が入り込んでいる。これにより、後方(右側)の基板54の前端は、隣接する前方(左側)のガイド部材79の一部とオーバーラップする。この際、ハンガー50の処理液受部材82および基板54は、所定の間隔D(この実施形態では5mm〜15mm)を空けて搬送される。この時、パイプ56から放出された処理液は、ガイド部材79によって受け取られ、空間81(図17C参照)から間隔Dに向けて、落下させられる。したがって、間隔Dの部分においても、処理液の膜ができ、図14に示すような問題を抑えて、ムラの少ない表面処理を実現することができる。   FIG. 18 shows a state of the adjacent processing liquid receiving member 82 when a plurality of hangers 50 are conveyed. The front end of the rear (right side) processing liquid receiving member 82 enters the guide member 79 provided at the rear end of the front (left side) processing liquid receiving member 82. Further, the front end of the rear (right side) substrate 54 enters the space 81 (see FIG. 17C) of the front (left side) guide member 79. As a result, the front end of the rear (right) substrate 54 overlaps a part of the adjacent front (left) guide member 79. At this time, the treatment liquid receiving member 82 and the substrate 54 of the hanger 50 are transported with a predetermined distance D (in this embodiment, 5 mm to 15 mm). At this time, the processing liquid discharged from the pipe 56 is received by the guide member 79 and dropped from the space 81 (see FIG. 17C) toward the interval D. Accordingly, a film of the treatment liquid can be formed even at the interval D, and the surface treatment with less unevenness can be realized while suppressing the problem as shown in FIG.

以上のように、図18に示す実施形態であれば、基板54の間隔を広げることなく、ムラの少ない表面処理を行うことができる。なお、上記では、処理液受部材82の片側にのみガイド部材79を設けたが、両側にガイド部材79を設けたハンガー50と、ガイド部材79を設けていないハンガー50を交互に並べて用いるようにしてもよい。   As described above, in the embodiment shown in FIG. 18, surface treatment with less unevenness can be performed without increasing the interval between the substrates 54. In the above description, the guide member 79 is provided only on one side of the treatment liquid receiving member 82. However, the hanger 50 provided with the guide member 79 on both sides and the hanger 50 not provided with the guide member 79 are used alternately. May be.

また、図19に示すように、処理液受部材82(凸部78)の片側を先細りに尖らせた凸部78aとし、反対側をこれに対応する凹部78bとしてもよい。図19Aにその正面図、図19Bに底面図、図19Cに側面図を示す。この場合、図19Bの長さLにわたって基板54を装着するとよい。ハンガー50の凸部78aは、隣接するハンガー50の凹部78bに入り込む(ただし、当接しないように5mm〜15mmの間隔は開ける)。したがって、基板54と基板54の間にも、処理液の流れの層を形成することができる。   Moreover, as shown in FIG. 19, it is good also considering the convex part 78a which sharpened the one side of the process liquid receiving member 82 (convex part 78) as the taper, and the recessed part 78b corresponding to this. FIG. 19A shows the front view, FIG. 19B shows the bottom view, and FIG. 19C shows the side view. In this case, the substrate 54 may be mounted over the length L in FIG. 19B. The convex part 78a of the hanger 50 enters into the concave part 78b of the adjacent hanger 50 (however, an interval of 5 mm to 15 mm is opened so as not to contact). Therefore, a layer of the treatment liquid flow can be formed also between the substrate 54 and the substrate 54.

なお、図19では、先細りにとがらせた凸部78aと、これに対応する形状の凹部78bを設けている。しかし、一方が他方に入り込むような形状の凸部と凹部であれば、どのような形状であってもよい。たとえば、円柱状の凸部78aと、これに対応する形状の凹部78bなどを用いることができる。   In FIG. 19, a convex portion 78a that is tapered and a concave portion 78b having a shape corresponding thereto are provided. However, any shape may be used as long as the convex portion and the concave portion are shaped so that one enters the other. For example, a cylindrical convex portion 78a and a concave portion 78b having a corresponding shape can be used.

また、図20に示すように、処理液受部材82(凸部78)の両端を斜めに形成してもよい。図20Aにその正面図、図20Bに底面図、図20Cに側面図を示す。   Further, as shown in FIG. 20, both ends of the treatment liquid receiving member 82 (convex portion 78) may be formed obliquely. FIG. 20A shows the front view, FIG. 20B shows the bottom view, and FIG. 20C shows the side view.

さらに、図21に示すように、処理液受部材82(凸部78)の両端に、偏流のための突起78dを設けるようにしてもよい。図21Aにその正面図、図21Bに底面図、図21Cに側面図を示す。これにより、両端部において、処理液が外側に偏流され、基板54と基板54の間の空間にも処理液を流すことができる。   Furthermore, as shown in FIG. 21, protrusions 78d for drift may be provided at both ends of the treatment liquid receiving member 82 (convex portion 78). FIG. 21A shows the front view, FIG. 21B shows the bottom view, and FIG. 21C shows the side view. As a result, the processing liquid is drifted outward at both ends, and the processing liquid can also flow into the space between the substrate 54 and the substrate 54.

上記実施形態では、処理対象として、自然状態で自立できないような薄板の基板(数十μmの厚さ)について説明した。しかし、厚板を処理対象とすることもできる。   In the above-described embodiment, a thin substrate (thickness of several tens of μm) that cannot be self-supported in a natural state has been described as a processing target. However, thick plates can also be processed.

第2の実施形態は、第1の実施形態と組み合わせて実施することも可能であるが、第1の実施形態を離れてそれ単独で実施することも可能である。



The second embodiment can be implemented in combination with the first embodiment, but can also be implemented independently from the first embodiment.



Claims (4)

処理対象の上部を保持する保持部材と、
前記保持部材によって保持された処理対象を処理液に浸漬するための処理槽と、
前記保持部材を上方から支える上方支持部材と、
前記上方支持部材を移動させる搬送機構と、
少なくとも前記搬送機構の下側に設けられた防護部材と、
を備えた表面処理装置であって、
前記上方支持部材は、防護部材の設けられていない部分を介して、前記保持部材を支持することを特徴とする表面処理装置において、
前記防護部材によって囲われた部分において、前記搬送機構の下側または前記搬送機構の少なくとも一部を浸すように液体を張ったことを特徴とする表面処理装置。
A holding member for holding the upper part of the processing target;
A treatment tank for immersing the treatment object held by the holding member in a treatment liquid;
An upper support member for supporting the holding member from above;
A transport mechanism for moving the upper support member;
A protective member provided at least on the lower side of the transport mechanism;
A surface treatment apparatus comprising:
In the surface treatment apparatus, the upper support member supports the holding member through a portion where no protective member is provided.
A surface treatment apparatus characterized in that in a portion surrounded by the protective member, a liquid is stretched so as to immerse at least a part of the lower side of the transport mechanism or the transport mechanism.
請求項1の表面処理装置において、
前記防護部材は、前記搬送機構の側面にも設けられていることを特徴とする表面処理装置。
In the surface treatment apparatus of Claim 1,
The surface treatment apparatus, wherein the protection member is also provided on a side surface of the transport mechanism.
請求項2の表面処理装置において、
前記防護部材によって囲われた部分には、給水口と排水口が設けられ、液体が入れ替えられることを特徴とする表面処理装置。
In the surface treatment apparatus of Claim 2,
A surface treatment apparatus characterized in that a water supply port and a drain port are provided in a portion surrounded by the protective member, and the liquid is exchanged.
請求項2または3の表面処理装置において、
前記搬送機構は、ステンレス、チタン、炭素鋼、黄銅またはプラスチックによって形成されていることを特徴とする表面処理装置。

In the surface treatment apparatus of Claim 2 or 3,
The surface treatment apparatus, wherein the transport mechanism is made of stainless steel, titanium, carbon steel, brass or plastic.

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