JP6567703B2 - 検査機器およびコンテナを検査する方法 - Google Patents
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Description
Claims (13)
- コンテナを検査する方法であって、
被検査コンテナに対してX線走査を行って走査画像を取得するステップと、
走査画像を処理して関心領域を取得するステップと、
前記関心領域に含まれているテクスチャエレメントの特徴を計算するステップと、
テクスチャエレメントの特徴に基づいて、テクスチャエレメントの局所描写を形成するステップと、
各テクスチャエレメントの局所描写から各局所点の顕著度を計算して、関心領域の局所顕著図を取得するステップと、
該局所顕著図を利用して、被検体に巻き込み物が含まれているか否かを確定するステップとを含み、
各テクスチャエレメントの局所描写から各局所点の顕著度を計算するステップは、
積分図の方法を採用して、局所描写の複雑度を低減させることと、
固定のステップ幅のスライディングウインドウで、該局所描写の顕著度を計算することとを含む、方法。 - 該局所顕著図を利用して、被検体に巻き込み物が含まれているか否かを確定するステップは、
巻き込み物の候補領域を確定することと、
候補領域の顕著度値および隣接候補点の数に基づいて、該候補領域に巻き込み物が含まれているか否かを確定することとを含む、請求項1に記載の方法。 - 候補領域の顕著度と第1の閾値とを比較するとともに、隣接候補点のデータと第2の閾値とを比較することによって、該候補領域に巻き込み物が含まれているか否かを確定する、請求項2に記載の方法。
- 前記テクスチャエレメントの特徴を多次元ベクトルで示し、
前記方法は、辞書描写の方式を採用して前記多次元ベクトルの次元を1次元までに下げるステップをさらに含む、請求項1に記載の方法。 - いずれの局所描写と、それに隣接するが重ならない局所描写との間の類似度を計算して、その中の最大値を局所描写中心の顕著度とする、請求項1に記載の方法。
- いずれの局所描写と、それに隣接する局所描写との間のユークリッド距離を計算して、その中の最小のユークリッド距離を局所描写中心の顕著度とする、請求項1に記載の方法。
- 異なるスケールでの局所顕著図を計算するとともに、異なるスケールでの局所顕著図を重畳して、重畳した局所顕著図によって被検体に巻き込み物が含まれているか否かを確定する、請求項1に記載の方法。
- 射線源および検知器を含んでおり、被検査コンテナに対して透過走査を行って走査画像を取得する走査機器と、
走査画像を処理して関心領域を取得し、
前記関心領域に含まれているテクスチャエレメントの特徴を計算し、
テクスチャエレメントの特徴に基づいて、テクスチャエレメントの局所描写を形成し、
各テクスチャエレメントの局所描写から各局所点の顕著度を計算して、関心領域の局所顕著図を取得し、
該局所顕著図を利用して、被検体に巻き込み物が含まれているか否かを確定するように配置されるデータ処理機器とを備え、
前記データ処理機器は、
積分図の方法を採用して、局所描写の複雑度を低減させ、固定のステップ幅のスライディングウインドウで、該局所描写の顕著度を計算するように配置される、検査機器。 - 前記データ処理機器は、
巻き込み物の候補領域を確定し、候補領域の顕著度値および隣接候補点の数に基づいて、該候補領域に巻き込み物が含まれているか否かを確定するように配置される、請求項8に記載の検査機器。 - 前記データ処理機器は、
候補領域の顕著度と第1の閾値とを比較するとともに、隣接候補点のデータと第2の閾値とを比較することによって、該候補領域に巻き込み物が含まれているか否かを確定するように配置される、請求項9に記載の検査機器。 - 前記データ処理機器は、
いずれの局所描写と、それに隣接するが重ならない局所描写との間の類似度を計算して、その中の最大値を局所描写中心の顕著度とするように配置される、請求項8に記載の検査機器。 - 前記データ処理機器は、
いずれの局所描写と、それに隣接する局所描写との間のユークリッド距離を計算して、その中の最小のユークリッド距離を局所描写中心の顕著度とするように配置される、請求項8に記載の検査機器。 - 前記データ処理機器は、
異なるスケールでの局所顕著図を計算するとともに、異なるスケールでの局所顕著図を重畳して、重畳した局所顕著図によって被検体に巻き込み物が含まれているか否かを確定するように配置される、請求項8に記載の検査機器。
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