JP6557999B2 - LIGHT EMITTING ELEMENT, ELECTRO-OPTICAL DEVICE, ELECTRONIC DEVICE, AND LIGHT EMITTING ELEMENT MANUFACTURING METHOD - Google Patents
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Description
本発明は、発光素子、当該発光素子を備えた電気光学装置、当該電気光学装置を備えた電子機器、並びに当該発光素子の製造方法に関するものである。 The present invention relates to a light-emitting element, an electro-optical device including the light-emitting element, an electronic apparatus including the electro-optical device, and a method for manufacturing the light-emitting element.
電気光学装置の一例として、例えばトランジスターや有機エレクトロルミネッセンス(以降、有機ELと称す)素子を有する画素がマトリックス状に配列された有機EL装置が提案されている(特許文献1)。 As an example of an electro-optical device, for example, an organic EL device in which pixels having transistors and organic electroluminescence (hereinafter referred to as organic EL) elements are arranged in a matrix has been proposed (Patent Document 1).
特許文献1に記載の有機EL装置では、有機EL素子が発光する発光部と、トランジスターからの信号を有機EL素子の陽極(画素電極)に供給するコンタクト部とが、各画素に設けられている。コンタクト部では、トランジスターのソースまたはドレインに電気的に接続された中継電極と、絶縁膜と、遮光層(コンタクト電極)と、光学調整層と、画素電極とが順に積層されている。遮光層(コンタクト電極)は、絶縁膜を貫く第1コンタクトホールを介して中継電極に電気的に接続されている。画素電極は、光学調整層を貫く第2コンタクトホールを介して遮光層(コンタクト電極)に電気的に接続されている。第1コンタクトホールは第2コンタクトホールの内側に配置され、第2コンタクトホールが第1コンタクトホールよりも大きくなっている。
In the organic EL device described in
第2コンタクトホールを覆うように遮光層(コンタクト電極)を形成することで、有機EL素子で発せられた光がトランジスターに入射しにくくなり、遮光性が高められている。 By forming a light shielding layer (contact electrode) so as to cover the second contact hole, light emitted from the organic EL element is less likely to enter the transistor, and the light shielding property is improved.
一方、画素の微細化や高輝度化に伴い、表示に寄与しないコンタクト部(非発光部)を小さくし、発光部を大きくすることが要求されている。
ところが、第1コンタクトホールを第2コンタクトホールの内側に配置する構成では、第2コンタクトホールが大きくなり、コンタクト部を小さくすることが難しい。このため、表示に寄与しないコンタクト部(非発光部)を小さくし、発光部を大きくすることが難しいという課題があった。
On the other hand, with miniaturization of pixels and increase in luminance, it is required to reduce the contact portion (non-light emitting portion) that does not contribute to display and to increase the light emitting portion.
However, in the configuration in which the first contact hole is disposed inside the second contact hole, the second contact hole becomes large and it is difficult to reduce the contact portion. For this reason, there is a problem that it is difficult to reduce a contact portion (non-light emitting portion) that does not contribute to display and to enlarge a light emitting portion.
本発明は、上述の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の形態または適用例として実現することが可能である。 SUMMARY An advantage of some aspects of the invention is to solve at least a part of the problems described above, and the invention can be implemented as the following forms or application examples.
[適用例1]本適用例に係る発光素子は、反射電極と、絶縁層と、光学調整層と、第1の電極と、発光層と、第2の電極と、が順に積層され、前記反射電極と前記第1の電極とを電気的に接続するコンタクト電極と、前記絶縁層を貫く第1のコンタクトホールと、前記光学調整層を貫く第2のコンタクトホールと、を含み、前記コンタクト電極は、前記第1のコンタクトホール内及び前記第1のコンタクトホールの周囲の前記絶縁層上の少なくとも一部に位置し、前記第1のコンタクトホール内に凹部を有し、前記第2のコンタクトホールは、前記コンタクト電極上であって、前記凹部と平面視で重ならない場所に位置することを特徴とする。 Application Example 1 A light-emitting element according to this application example includes a reflective electrode, an insulating layer, an optical adjustment layer, a first electrode, a light-emitting layer, and a second electrode, which are sequentially stacked. A contact electrode that electrically connects the electrode and the first electrode; a first contact hole that penetrates the insulating layer; and a second contact hole that penetrates the optical adjustment layer. , Located in at least a portion of the first contact hole and on the insulating layer around the first contact hole, and having a recess in the first contact hole, the second contact hole being The method is characterized in that it is located on the contact electrode so as not to overlap the concave portion in plan view.
第2のコンタクトホールは、凹部(第1のコンタクトホール)と平面視で重ならない場所に位置するので、第1のコンタクトホール及び第2のコンタクトホールの両方を小さくすることができる。 Since the second contact hole is located in a place where it does not overlap with the recess (first contact hole) in plan view, both the first contact hole and the second contact hole can be made small.
例えば、凹部(第1のコンタクトホール)及び第2のコンタクトホールの両方が小さく、凹部と第2のコンタクトホールとが平面視で重なる構成では、凹部と第2のコンタクトホールとが平面視で重なった部分に大きな段差が形成される。さらに、第1の電極を、当該大きな段差を覆うように形成し、コンタクト電極に電気的に接続させる必要がある。ところが、第1の電極が覆う必要がある段差が大きくなると、当該段差において、第1の電極の付き回りが悪くなり、第1の電極に段切れ(断線)等の不具合が生じるおそれがある。 For example, in a configuration in which both the recess (first contact hole) and the second contact hole are small and the recess and the second contact hole overlap in plan view, the recess and the second contact hole overlap in plan view. A large step is formed in the part. Furthermore, it is necessary to form the first electrode so as to cover the large step and to be electrically connected to the contact electrode. However, when the level difference that needs to be covered by the first electrode becomes large, the contact of the first electrode is deteriorated at the level difference, and there is a possibility that the first electrode has a problem such as step disconnection (disconnection).
本適用例では、第2のコンタクトホールは、凹部(第1のコンタクトホール)と平面視で重ならない場所に位置するので、第1の電極が覆う必要がある段差が小さくなり、当該段差において第1の電極に段切れ(断線)が生じにくくなる。従って、第1の電極に段切れによってコンタクト電極から第1の電極に信号が供給されず、発光素子が発光しないという不具合(発光素子の不点灯)を抑制することができる。 In this application example, since the second contact hole is located at a position where it does not overlap with the concave portion (first contact hole) in plan view, the step that needs to be covered by the first electrode is reduced. Step breakage (disconnection) hardly occurs in one electrode. Accordingly, it is possible to suppress a problem that a signal is not supplied from the contact electrode to the first electrode due to disconnection of the first electrode and the light emitting element does not emit light (non-lighting of the light emitting element).
[適用例2]上記適用例に記載の発光素子において、前記第1の電極は、第1の辺と、前記第1の辺よりも長い第2の辺と、を有し、前記第1のコンタクトホール及び前記第2のコンタクトホールは、前記第1の辺に沿った方向に配置されていることが好ましい。 Application Example 2 In the light-emitting element described in the application example, the first electrode has a first side and a second side longer than the first side, and the first electrode The contact hole and the second contact hole are preferably arranged in a direction along the first side.
第1の電極は、第1の辺と、第1の辺よりも長い第2の辺とを有する長方形状を有している。さらに、第1の電極は、コンタクト電極から信号が供給されるコンタクト部と、発光層を発光させる発光部とを有する。
発光部の輝度を高めるためには、発光部を第2の辺に沿った方向に長くなった長方形状とし、発光部の面積が大きくなるように第1のコンタクトホール及び第2のコンタクトホールを配置することが好ましい。
The first electrode has a rectangular shape having a first side and a second side longer than the first side. Furthermore, the first electrode includes a contact portion to which a signal is supplied from the contact electrode and a light emitting portion that causes the light emitting layer to emit light.
In order to increase the luminance of the light emitting portion, the light emitting portion is formed in a rectangular shape that is elongated in the direction along the second side, and the first contact hole and the second contact hole are formed so that the area of the light emitting portion is increased. It is preferable to arrange.
発光部の面積は、発光部の第1の辺に沿った長さと、発光部の第2の辺に沿った長さとの積で決まる。第1のコンタクトホール及び第2のコンタクトホールを第1の辺に沿った方向に配置する場合、第1のコンタクトホール及び第2のコンタクトホールを第2の辺に沿った方向に配置する場合と比べて、コンタクト部の第2の辺に沿った方向の長さが小さくなるので、発光部の第2の辺に沿った方向の長さを大きくし、発光部の面積を大きくすることができる。 The area of the light emitting unit is determined by the product of the length along the first side of the light emitting unit and the length along the second side of the light emitting unit. A case where the first contact hole and the second contact hole are arranged in a direction along the first side, a case where the first contact hole and the second contact hole are arranged in a direction along the second side, and In comparison, since the length in the direction along the second side of the contact portion is reduced, the length in the direction along the second side of the light emitting portion can be increased, and the area of the light emitting portion can be increased. .
さらに、第1のコンタクトホール及び第2のコンタクトホールを第1の辺に沿った方向に配置し、第1のコンタクトホール及び第2のコンタクトホールが共に小さい場合、第1コンタクトホールを第2コンタクトホールの内側に配置し、第2コンタクトホールが第1コンタクトホールよりも大きい場合と比べて、コンタクト部の第2の辺に沿った方向の長さが小さくなるので、発光部の第2の辺に沿った方向の長さを大きくし、発光部の面積を大きくすることができる。
従って、発光部の面積を大きくし、発光部の輝度(発光素子の輝度)を高めるためには、第1のコンタクトホール及び第2のコンタクトホールを第1の辺に沿った方向に配置することが好ましい。
Further, when the first contact hole and the second contact hole are arranged in the direction along the first side, and both the first contact hole and the second contact hole are small, the first contact hole is used as the second contact hole. Compared to the case where the second contact hole is larger than the first contact hole, the length in the direction along the second side of the contact portion is reduced, so that the second side of the light emitting unit is arranged. It is possible to increase the length of the light emitting section by increasing the length in the direction along the line.
Therefore, in order to increase the area of the light emitting portion and increase the luminance of the light emitting portion (the luminance of the light emitting element), the first contact hole and the second contact hole are arranged in the direction along the first side. Is preferred.
[適用例3]本適用例に係る電気光学装置は、上記適用例に記載の発光素子を備えていることを特徴とする。 Application Example 3 An electro-optical device according to this application example includes the light-emitting element described in the application example.
本適用例に係る電気光学装置は、発光素子の不点灯が抑制されているので、ドット欠陥の発生が抑制された高品位の表示を提供することができる。さらに、本適用例に係る電気光学装置は、発光素子の輝度が高められているのでて、高輝度の表示を提供することができる。 Since the electro-optical device according to this application example suppresses the non-lighting of the light emitting element, it can provide a high-quality display in which the occurrence of dot defects is suppressed. Furthermore, the electro-optical device according to this application example can provide a high-luminance display because the luminance of the light-emitting element is increased.
[適用例4]本適用例に係る電子機器は、上記適用例に記載の電気光学装置を備えていることを特徴とする。 Application Example 4 An electronic apparatus according to this application example includes the electro-optical device described in the application example.
本適用例に係る電子機器の表示部に、上記適用例に記載の電気光学装置を適用することで、高品位で高輝度の表示を提供することができる。 By applying the electro-optical device described in the above application example to the display unit of the electronic apparatus according to this application example, a high-quality and high-luminance display can be provided.
[適用例5]本適用例に係る発光素子の製造方法は、反射電極と、絶縁層と、光学調整層と、第1の電極と、発光層と、第2の電極と、が積層され、前記反射電極と前記第1の電極とを電気的に接続するコンタクト電極を含む発光素子の製造方法であって、前記反射電極上に前記絶縁層を形成する工程と、前記絶縁層を貫く第1のコンタクトホールを形成する工程と、前記第1のコンタクトホール内及び前記第1のコンタクトホールの周囲の前記絶縁層上の少なくとも一部に、コンタクト電極を形成する工程と、前記絶縁層及び前記コンタクト電極上に光学調整層を形成する工程と、前記光学調整層を貫く第2のコンタクトホールを形成する工程と、を含み、前記コンタクト電極を形成する工程では、前記第1のコンタクトホール内に前記コンタクト電極の凹部を形成し、前記第2のコンタクトホールを形成する工程では、前記第2のコンタクトホールが前記コンタクト電極上であって、前記凹部と平面視で重ならない位置に形成することを特徴とする。 Application Example 5 A manufacturing method of a light emitting element according to this application example includes a reflective electrode, an insulating layer, an optical adjustment layer, a first electrode, a light emitting layer, and a second electrode, A method of manufacturing a light emitting device including a contact electrode for electrically connecting the reflective electrode and the first electrode, the step of forming the insulating layer on the reflective electrode, and a first through the insulating layer Forming a contact hole, forming a contact electrode in at least a part of the first contact hole and on the insulating layer around the first contact hole, and the insulating layer and the contact A step of forming an optical adjustment layer on the electrode; and a step of forming a second contact hole penetrating the optical adjustment layer. In the step of forming the contact electrode, the step of forming the contact electrode in the first contact hole Co In the step of forming a recess of a tact electrode and forming the second contact hole, the second contact hole is formed on the contact electrode at a position that does not overlap the recess in plan view. And
第2のコンタクトホールを、凹部(第1のコンタクトホール)と平面視で重ならない位置に形成するので、第1のコンタクトホール及び第2のコンタクトホールの両方を小さくすることができる。さらに、第2のコンタクトホールが凹部と平面視で重なる場合と比べて、第1の電極が覆う必要がある段差が小さくなり、当該段差において第1の電極に段切れ(断線)が生じにくくなる。 Since the second contact hole is formed at a position that does not overlap the concave portion (first contact hole) in plan view, both the first contact hole and the second contact hole can be reduced. Furthermore, compared with the case where the second contact hole overlaps the concave portion in plan view, the step that needs to be covered by the first electrode is reduced, and the first electrode is less likely to be disconnected (disconnected) at the step. .
以下、図面を参照して、本発明の実施形態について説明する。かかる実施形態は、本発明の一態様を示すものであり、この発明を限定するものではなく、本発明の技術的思想の範囲内で任意に変更可能である。また、以下の各図においては、各層や各部位を図面上で認識可能な程度の大きさとするため、各層や各部位の縮尺を実際とは異ならせしめてある。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. Such an embodiment shows one aspect of the present invention and does not limit the present invention, and can be arbitrarily changed within the scope of the technical idea of the present invention. In each of the following drawings, the scale of each layer or each part is made different from the actual scale so that each layer or each part can be recognized on the drawing.
(実施形態1)
「有機エレクトロルミネッセンス装置の概要」
図1は、実施形態1に係る有機EL装置の概要を示す概略平面図である。図2は、本実施形態に係る有機EL装置の電気的な構成を示す図である。図3は、画素回路の電気的な構成を示す図である。
まず、図1乃至図3を参照して、本実施形態に係る有機EL装置100の概要について説明する。
(Embodiment 1)
"Outline of organic electroluminescence equipment"
FIG. 1 is a schematic plan view showing an outline of the organic EL device according to the first embodiment. FIG. 2 is a diagram showing an electrical configuration of the organic EL device according to the present embodiment. FIG. 3 is a diagram illustrating an electrical configuration of the pixel circuit.
First, an outline of the
図1に示すように、有機EL装置100は、素子基板10と、保護基板70とを有している。素子基板10と保護基板70とは、互いに対向した状態で、図示を省略する接着剤によって接合されている。なお、接着剤には、例えばエポキシ樹脂やアクリル樹脂などを使用することができる。
なお、有機EL装置100は、「電気光学装置」の一例である。
As shown in FIG. 1, the
The
素子基板10は、赤色(R)の光を発する有機EL素子30Rが配置された画素20Rと、緑色(G)の光を発する有機EL素子30Gが配置された画素20Gと、青色(B)光を発する有機EL素子30Bが配置された画素20Bとがマトリックス状に配列された表示領域Eを有している。
なお、有機EL素子30R及び有機EL素子30Gは、「発光素子」の一例である。
The
The
有機EL装置100では、画素20Rと画素20Gと画素20Bとが表示単位となってフルカラーの表示が提供される。
以降の説明では、画素20Rと画素20Gと画素20Bとをまとめて画素20として扱う場合があり、有機EL素子30Rと有機EL素子30Gと有機EL素子30Bとをまとめて有機EL素子30として扱う場合がある。
In the
In the following description, the
表示領域Eには、カラーフィルター層50が設けられている。カラーフィルター層50のうち、画素20Rの有機EL素子30Rの上には赤色のカラーフィルター層50Rが配置され、画素20Gの有機EL素子30Gの上には緑色のカラーフィルター層50Gが配置され、画素20Bの有機EL素子30Bの上には青色のカラーフィルター層50Bが配置されている。
In the display area E, a
本実施形態では、同色の発光が得られる画素20が一方向に配列し、異なる色の発光が得られる画素20が当該一方向に対して交差(直交)する方向に配列している。従って、画素20の配置(配列)は、所謂ストライプ方式となっている。この画素の配置(配列)に応じて、画素20R(有機EL素子30R)、画素20G(有機EL素子30G)、及び画素20B(有機EL素子30B)はそれぞれストライプ状に配置されており、赤色のカラーフィルター層50R、緑色のカラーフィルター層50G、青色のカラーフィルター層50Bもまたストライプ状に配置されている。なお、画素20の配置は、ストライプ方式に限定されず、モザイク方式やデルタ方式などであってもよい。
In the present embodiment, the
以降の説明では、同色の発光が得られる画素20が配列された方向をY方向とし、Y方向に交差する方向(異なる色の発光が得られる画素20が配列された方向)をX方向とし、素子基板10から保護基板70に向かう方向をZ方向とする。
さらに、図中で各方向を示す矢印の先端側を(+)とし、基端側を(−)とする。また、Z方向から見ることを平面視と称す。すなわち、本願における平面視とは、Z方向から見た状態をさす。
In the following description, the direction in which the
Further, in the drawing, the tip side of the arrow indicating each direction is (+), and the base end side is (−). Further, viewing from the Z direction is referred to as planar view. That is, the planar view in the present application refers to a state viewed from the Z direction.
有機EL素子30で発せられた光は、素子基板10のカラーフィルター層50を透過して保護基板70の側から表示光として射出される。すなわち、有機EL装置100は、トップエミッション構造を有している。
The light emitted from the
有機EL装置100がトップエミッション構造であることから、素子基板10の基材には、透明な石英基板やガラス基板などに加えて、セラミック材料や半導体材料などで構成される不透明基板を用いることができる。なお、本実施形態では、素子基板10の基材はシリコンで構成されている。
Since the
表示領域Eの外側には、素子基板10の長辺側の一辺に沿って、複数の外部接続用端子103が配列されている。複数の外部接続用端子103と表示領域Eとの間には、データ線駆動回路101が設けられている。素子基板10の短辺側の二辺と表示領域Eとの間には、走査線駆動回路102が設けられている。
Outside the display area E, a plurality of
保護基板70は、素子基板10よりも小さく、外部接続用端子103が露出されるように素子基板10と対向して配置されている。外部接続用端子103は、フレキシブル配線基板(図示省略)と接続されている。これにより、有機EL装置100は、フレキシブル配線基板を介して外部回路(図示省略)と電気的に接続することが可能となっている。
The
保護基板70は、透光性の基板であり、石英基板やガラス基板などを使用することができる。保護基板70は、表示領域Eに配置された有機EL素子30が傷つかないように保護する役割を有し、表示領域Eよりも広く設けられている。
The
図2に示すように、素子基板10には、m行の走査線12がX方向に延在して設けられ、n列のデータ線14がY方向に延在して設けられている。また、素子基板10には、データ線14に沿って列毎に電源線19がY方向に延在して設けられている。
As shown in FIG. 2, the
素子基板10には、m行の走査線12とn列のデータ線14との交差部に対応して、画素回路110が設けられている。画素回路110は、画素20の一部をなす。すなわち、表示領域Eには、m行×n列の画素回路110が、マトリックス状に配列されている。
The
電源線19には、初期化用のリセット電位Vorstが供給(給電)されている。さらに、図示を省略するが、制御信号Gcmp,Gel,Gorstを供給する3つの制御線が、走査線12に並行して設けられている。
A reset potential Vorst for initialization is supplied (powered) to the
走査線12は、走査線駆動回路102に電気的に接続されている。データ線14は、データ線駆動回路101に電気的に接続されている。走査線駆動回路102には、走査線駆動回路102を制御するための制御信号Ctr1が供給されている。データ線駆動回路101には、データ線駆動回路101を制御するための制御信号Ctr2が供給されている。
The
走査線駆動回路102は、フレームの期間にわたって走査線12を1行毎に走査するための走査信号Gwr(1)、Gwr(2)、Gwr(3)、…、Gwr(m− 1)、Gwr(m)を、制御信号Ctr1に従って生成する。さらに、走査線駆動回路102は、走査信号Gwrの他に、制御信号Gcmp,Gel,Gorstを制御線に供給する。なお、フレームの期間とは、有機EL装置100で1カット(コマ)分の画像が表示される期間であり、例えば同期信号に含まれる垂直同期信号の周波数が120Hzであれば、1フレームの期間は約8.3ミリ秒となる。
The scanning
データ線駆動回路101は、走査線駆動回路102によって選択された行に位置する画素回路110に対し、当該画素回路110の階調データに応じた電位のデータ信号Vd(1)、Vd(2)、…、Vd(n)を、1、2、…、n列目のデータ線14に供給する。
The data
図3に示すように、画素回路110は、PチャネルMOS型のトランジスター121,122,123,124,125と、有機EL素子30と、容量21とを有している。画素回路110には、上述した走査信号Gwrや制御信号Gcmp,Gel,Gorstなどが供給される。
なお、画素20Rの画素回路110におけるトランジスター124,125、及び画素20Gの画素回路110におけるトランジスター124,125は、「トランジスター」の一例である。
As illustrated in FIG. 3, the
The
有機EL素子30は、互いに対向する画素電極31と対向電極33とで発光機能層32を挟持した構造を有している。つまり、有機EL素子30は、画素電極31の上に発光機能層32と対向電極33とが順に積層された構造を有している。
なお、画素電極31は「第1の電極」の一例であり、発光機能層32は「発光層」の一例であり、対向電極33は「第2の電極」の一例である。
The
The
画素電極31は、発光機能層32に正孔を供給するアノードであり、光透過性有する導電材料、例えばITO(Indium Tin Oxide)膜で構成されている。画素電極31の膜厚は、例えば膜厚20nmと薄くなっている。画素電極31は、トランジスター124のドレイン及びトランジスター125のソース又はドレインの一方に電気的に接続されている。
The
対向電極33は、発光機能層32に電子を供給するカソードであり、例えばマグネシウム(Mg)と銀(Ag)との合金などの光透過性と光反射性とを有する導電材料により形成されている。対向電極33は、複数の画素20に跨って設けられた共通電極であり、電源線8に電気的に接続されている。電源線8には、画素回路110において電源の低位側となる電位Vctが供給されている。
The
発光機能層32は、画素電極31の側から順に積層された正孔注入層、正孔輸送層、有機発光層、及び電子輸送層などを有している。有機EL素子30では、画素電極31から供給される正孔と、対向電極33から供給される電子とが、発光機能層32の中で結合することによって、発光機能層32が発光する。
The light emitting
また、素子基板10には、各電源線19に交差して電源線6がX方向に延在して設けられている。なお、電源線19はY方向に延在して設けられてもよいし、X方向及びY方向の両方に延在するように設けられてもよい。トランジスター121は、ソースが電源線6に電気的に接続され、ドレインがトランジスター123のソース又はドレインの他方と、トランジスター124のソースとにそれぞれ電気的に接続されている。また、電源線6には、画素回路110において電源の高位側となる電位Velが供給されている。また、電源線6には、容量21の一端が電気的に接続されている。トランジスター121は、トランジスター121のゲート及びソース間の電圧に応じた電流を流す駆動トランジスターとして機能する。
The
トランジスター122は、ゲートが走査線12に電気的に接続され、ソース又はドレインの一方がデータ線14に電気的に接続されている。また、トランジスター122は、ソース又はドレインの他方が、トランジスター121のゲートと、容量21の他端と、トランジスター123のソース又はドレインの一方とに、それぞれ電気的に接続されている。トランジスター122は、トランジスター121のゲートとデータ線14との間に電気的に接続され、トランジスター121のゲートとデータ線14との間の電気的な接続を制御する書込トランジスターとして機能する。
The
トランジスター123は、ゲートが制御線に電気的に接続され、制御信号Gcmpが供給される。トランジスター123は、トランジスター121のゲート及びドレインの間の電気的な接続を制御する、閾値補償トランジスターとして機能する。
The
トランジスター124は、ゲートが制御線に電気的に接続され、制御信号Gelが供給される。トランジスター124は、ドレインがトランジスター125のソース又はドレインの一方と有機EL素子30の画素電極31とにそれぞれ電気的に接続されている。トランジスター124は、トランジスター121のドレインと、有機EL素子30の画素電極31との間の電気的な接続を制御する、発光制御トランジスターとして機能する。
The gate of the
なお、有機EL素子30の画素電極31は、第1の中継電極28を介して、トランジスター124のドレイン及びトランジスター125のソース又はドレインの一方に電気的に接続されている。
Note that the
トランジスター125は、ゲートが制御線に電気的に接続され、制御信号Gorstが供給される。また、トランジスター125のソース又はドレインの他方は、電源線19に電気的に接続され、リセット電位Vorstが供給されている。トランジスター125は、電源線19と、有機EL素子30の画素電極31との間の電気的な接続を制御する初期化トランジスターとして機能する。
The gate of the
「有機EL素子の概要」
次に、有機EL素子の概要について説明する。
図4は、有機EL素子の主要な構成要素の状態を示す概略平面図である。図5(a)は、本実施形態に係る赤色の光を発する有機EL素子の概略平面図である。図5(b)は、比較例1に係る赤色の光を発する有機EL素子の概略平面図である。
なお、図5(b)において、実施形態1と同一の構成部位には同一の符号が附されている。
"Outline of organic EL elements"
Next, an outline of the organic EL element will be described.
FIG. 4 is a schematic plan view showing a state of main components of the organic EL element. FIG. 5A is a schematic plan view of an organic EL element that emits red light according to the present embodiment. FIG. 5B is a schematic plan view of an organic EL element that emits red light according to Comparative Example 1.
In FIG. 5B, the same components as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals.
図4及び図5では、反射電極35が網掛けで示され、画素電極31が太い破線で示され、第2の中継電極41が太い一点鎖線で示され、コンタクトホール72,73,75が細い破線で示され、開口71が細い実線で示されている。さらに、図5(a)では、画素20の輪郭が二点鎖線で示されている。
4 and 5, the
図4及び図5(a)に示すように、画素20(画素20R,20G,20B)は、平面視で長方形状をなし、画素20の短手方向がX方向と平行となるように配置され、画素20の長手方向がY方向と平行となるように配置されている。
As shown in FIGS. 4 and 5A, the pixel 20 (
画素20(画素20R,20G,20B)のそれぞれに、有機EL素子30(有機EL素子30R,30G,30B)が設けられている。有機EL素子30は、反射電極35、第2の中継電極41、画素電極31、発光機能層32(図3参照)、対向電極33(図3参照)などを含む。
なお、有機EL素子30Rにおける第2の中継電極41、及び有機EL素子30Gにおける第2の中継電極41は、「コンタクト電極」の一例である。
Each of the pixels 20 (
The
反射電極35は、画素20のそれぞれに島状に配置されている。反射電極35は、平面視で長方形状をなし、Y方向に長くなっている。反射電極35は、光反射性を有する導電材料で構成され、光反射性を有している。詳しくは、反射電極35は、アルミニウム(Al)を主成分とする合金、例えばAlとチタン(Ti)との合金で構成される。反射電極35の膜厚は、概略130nmである。
画素20の反射電極35と、隣り合う画素20の隣り合う反射電極35との間には、第1の溝74が形成されている。
The
A
第2の中継電極41は、平面視で反射電極35及び画素電極31と重なり、画素20のY(+)方向側に配置されている。第2の中継電極41は、画素電極31と反射電極35とを電気的に接続するための電極である。第2の中継電極41は、平面視で長方形状をなし、X方向に長くなっている。第2の中継電極41は、例えば窒化チタン(TiN)で構成され、第2の中継電極41の厚みは概略50nmである。
The
反射電極35と第2の中継電極41との間には、絶縁膜61,62,63,64(図7参照)が配置されている。そして、絶縁膜61,62,63,64を貫くコンタクトホール75が形成されている。さらに、コンタクトホール75の内側には、後述する凹部81(図7参照)が形成されている。
なお、有機EL素子30Rにおけるコンタクトホール75、及び有機EL素子30Gにおけるコンタクトホール75は、「第1のコンタクトホール」の一例である。
Insulating
The
画素電極31は、画素20のそれぞれに島状に配置され、平面視で反射電極35に重なり、反射電極35よりも一回り小さい。画素電極31は、平面視で長方形状をなし、Y方向に長くなっている。画素電極31は、X方向に沿った辺31Xと、Y方向に沿った辺31Yとを有している。
なお、有機EL素子30Rにおける画素電極31の辺31X、及び有機EL素子30Gにおける画素電極31の辺31Xは、「第1の辺」の一例である。有機EL素子30Rにおける画素電極31の辺31Y、及び有機EL素子30Gにおける画素電極31の辺31Yは、「第2の辺」の一例である。
The
The
有機EL素子30Rにおいて、第2の中継電極41と画素電極31との間には、絶縁膜65,66(図7参照)が配置されている。そして、絶縁膜65,66を貫くコンタクトホール72が形成されている。
なお、有機EL素子30Rにおけるコンタクトホール72は、「第2のコンタクトホール」の一例である。
In the
The
有機EL素子30Gにおいて、第2の中継電極41と画素電極31との間には、絶縁膜66(第6絶縁膜66)が配置されている。そして、絶縁膜66を貫くコンタクトホール73が形成されている。
なお、有機EL素子30Gにおけるコンタクトホール73は、「第2のコンタクトホール」の一例である。
In the
The
つまり、有機EL素子30Rはコンタクトホール72とコンタクトホール75と有し、有機EL素子30Gはコンタクトホール73とコンタクトホール75とを有し、有機EL素子30Bはコンタクトホール75だけを有している。
なお、コンタクトホール72、コンタクトホール73、及びコンタクトホール75は、成膜工程、フォトリソ工程、及びエッチング工程などを経て形成されており、これら工程で形成可能な最小寸法(工程限界に相当する小さな寸法)W1で形成されている。つまり、コンタクトホール72、コンタクトホール73、及びコンタクトホール75は、正方形状をなし、一辺の長さは工程限界に相当する小さな寸法W1である。
That is, the
Note that the
有機EL素子30のそれぞれでは、第2の中継電極41が、コンタクトホール75を介して反射電極35に電気的に接続されている。さらに、反射電極35が、第1の中継電極28(図3参照)を介して、トランジスター124のドレイン及びトランジスター125のソース又はドレインの一方に電気的に接続され、画素回路110の信号が供給される。
このように、第2の中継電極41が形成された部分は、画素回路110の信号が供給される画素コンタクトを形成し、以降コンタクト部と称す。
In each of the
As described above, the portion where the
画素電極31の外縁は、保護絶縁膜29(図6参照)で覆われている。保護絶縁膜29には、画素電極31を露出させる開口71が形成されている。開口71は、平面視で長方形状をなし、Y方向に長くなっている。
The outer edge of the
開口71によって露出された画素電極31の上に、発光機能層32(図3参照)と、対向電極33(図3参照)とが順に積層される。そして、画素電極31から供給される正孔と、対向電極33から供給される電子とが、発光機能層32の中で結合することによって、発光機能層32が発光する。つまり、開口71で露出された画素電極31に接する部分の発光機能層32が発光し、開口71が有機EL素子30の発光する部分の面積を規定する。
On the
よって、開口71の面積が大きくなると、有機EL素子30の発光面積が広くなり、有機EL素子30の発光輝度が高くなり、明るい表示が得られる。より明るい表示を得るためには、開口71の面積を大きくすることが好ましい。
以降、開口71が形成された部分を、発光部と称す。
Therefore, when the area of the
Hereinafter, the portion where the
上述したように、コンタクトホール72、コンタクトホール73、及びコンタクトホール75を、工程限界に相当する小さな寸法W1で形成することによって、コンタクト部の面積を小さくし、発光部の面積を大きくし、より明るい表示を得ることができる。
As described above, by forming the
図4及び図5(a)に示すように、本実施形態に係る有機EL素子30Rは、コンタクトホール72及びコンタクトホール75がX方向に沿って配置されている。つまり、コンタクトホール72及びコンタクトホール75は、画素電極31の辺31Xに沿った方向に配置されている。
As shown in FIGS. 4 and 5A, in the
「比較例1」
図5(b)に示すように、比較例1に係る有機EL素子30Rは、コンタクトホール72及びコンタクトホール75がY方向に沿って配置されている。つまり、コンタクトホール72及びコンタクトホール75は、画素電極31の辺31Yに沿った方向に配置されている。コンタクトホール72及びコンタクトホール75をY方向に沿って配置すると、コンタクト部のY方向寸法が大きくなり、発光部(開口71)のY方向寸法が小さくなるため、発光部の面積が小さくなる。
"Comparative Example 1"
As shown in FIG. 5B, in the
よって、コンタクトホール72及びコンタクトホール75がX方向に沿って配置された本実施形態に係る有機EL素子30R(図5(a))は、コンタクトホール72及びコンタクトホール75がY方向に沿って配置された比較例1に係る有機EL素子30R(図5(b))と比べて、開口71のY方向の寸法が大きくなり、開口71の面積(発光部の面積)が大きくなり、より明るい表示を得ることができる。
Therefore, in the
従って、有機EL素子30Rにおいて、コンタクトホール72及びコンタクトホール75をX方向に沿って配置すると、コンタクトホール72及びコンタクトホール75をY方向に沿って配置する場合と比べて、有機EL素子30Rで発せられる赤色の光の輝度を高めることができる。
Therefore, in the
換言すれば、有機EL素子30Rにおいて、画素電極31が長方形状を有し、画素電極31に二つのコンタクトホール72,75が配置される場合、当該二つのコンタクトホール72,75を画素電極31の短辺(辺31X)に沿った方向に配置すると、当該二つのコンタクトホール72,75を画素電極31の長辺(辺31Y)に沿った方向に配置する場合と比べて、有機EL素子30Rで発せられる赤色の光の輝度を高めることができる。
In other words, in the
有機EL素子30Gにおいても、有機EL素子30Rと同様に、コンタクトホール73及びコンタクトホール75がX方向に沿って配置され、コンタクトホール73及びコンタクトホール75がY方向に沿って配置される場合と比べて、有機EL素子30Gで発せられる緑色の光の輝度を高めることができる。
In the
換言すれば、有機EL素子30Gにおいて、画素電極31が長方形状を有し、画素電極31に二つのコンタクトホール73,75が配置される場合、当該二つのコンタクトホール73,75を画素電極31の短辺(辺31X)に沿った方向に配置すると、当該二つのコンタクトホール73,75を画素電極31の長辺(辺31Y)に沿った方向に配置する場合と比べて、有機EL素子30Gで発せられる緑色の光の輝度を高めることができる。
In other words, in the
「有機EL素子の構造」
図6は、図4の線分A−A’に沿った有機EL素子の発光部の概略断面図である。図7は、図4の線分B−B’に沿った有機EL素子のコンタクト部の概略断面図である。なお、図6及び図7では、上述した発光機能層32及び対向電極33の図示が省略されている。
"Structure of organic EL elements"
FIG. 6 is a schematic cross-sectional view of the light emitting portion of the organic EL element along the line AA ′ in FIG. FIG. 7 is a schematic cross-sectional view of the contact portion of the organic EL element taken along line BB ′ in FIG. 6 and 7, the light emitting
また、図6及び図7において、基板11は、シリコンで構成された基材に、電源線6,8,19、走査線12、データ線14、制御線、第1の中継電極28、容量21、トランジスター121,122,123,124,125、データ線駆動回路101、走査線駆動回路102(図2、図3参照)などが形成された半導体基板である。
6 and 7, the
最初に、図6を参照し、有機EL素子30の発光部の構造について説明する。
図6に示すように、基板11の上には、反射電極35が有機EL素子30のそれぞれに島状に形成されている。反射電極35は、光反射性を有し、発光機能層32で発せられた光をZ(+)方向に反射する。
First, the structure of the light emitting portion of the
As shown in FIG. 6, the
反射電極35の表面を覆うように、第1絶縁膜61が形成されている。第1絶縁膜61は、反射電極35による反射特性を高める役割を有し、光透過性を有する絶縁材料で構成される。第1絶縁膜61は、例えば膜厚40nmの酸化シリコン(SiO2)膜で構成される。
A first insulating
詳細は後述するが、反射電極35及び第1絶縁膜61は、同じ形状にパターニングされている。その結果、画素20の反射電極35及び第1絶縁膜61と、隣り合う画素20の反射電極35及び第1絶縁膜61との間に、第1の溝74が形成されている。
Although details will be described later, the
第2絶縁膜62は、第1絶縁膜61の表面及び第1の溝74を覆い、複数の画素20に跨って配置される。第2絶縁膜62は、光透過性を有する絶縁材料、例えば膜厚40nmの窒化シリコン(SiN)膜で構成される。第2絶縁膜62は、第1絶縁膜61が侵されないように、第1絶縁膜61を保護する役割を有している。
The second insulating
第1の溝74は第2絶縁膜62で覆われ、第1の溝74の形状が反映された第2の溝77が、第1の溝74の内側に形成される。第2の溝77には、埋め込み絶縁膜40が充填されている(埋め込まれている)。埋め込み絶縁膜40は、光透過性を有する絶縁材料、例えば酸化シリコン膜で構成されている。そして、埋め込み絶縁膜40と第2絶縁膜62とによって、平坦な面が形成される。
The
埋め込み絶縁膜40と第2絶縁膜62とによって形成された平坦な面は、第3絶縁膜63で覆われている。第3絶縁膜63は、光透過性を有する絶縁材料、例えば窒化シリコン膜で構成され、埋め込み絶縁膜40が侵されないように、埋め込み絶縁膜40を保護する役割を有している。
A flat surface formed by the buried insulating
有機EL素子30Rの発光部において、反射電極35の上に、第1絶縁膜61と、第2絶縁膜62と、第3絶縁膜63と、第5絶縁膜65と、第6絶縁膜66と、画素電極31とが順に積層されている。第3絶縁膜63、第5絶縁膜65、及び第6絶縁膜66は、有機EL素子30Rにおける調整層68を構成する。
In the light emitting portion of the
第5絶縁膜65は、光透過性を有する絶縁材料、例えば酸化シリコン膜で構成されている。表示領域Eにおいて、第5絶縁膜65は、画素20Rに配置され、ストライプ形状をなしている。つまり、第5絶縁膜65は、Y方向に配列された複数の有機EL素子30Rに跨って配置されている。
The fifth insulating
第6絶縁膜66は、光透過性を有する絶縁材料、例えば酸化シリコン膜で構成されている。表示領域Eにおいて、第6絶縁膜66は、画素20R及び20Gに配置され、ストライプ形状をなしている。つまり、第6絶縁膜66は、Y方向に配列された複数の有機EL素子30R及びY方向に配列された複数の有機EL素子30Gに跨って配置されている。
The sixth insulating
有機EL素子30Gの発光部において、反射電極35の上に、第1絶縁膜61と、第2絶縁膜62と、第3絶縁膜63と、第6絶縁膜66と、画素電極31とが順に積層されている。第3絶縁膜63及び第6絶縁膜66は、有機EL素子30Gにおける調整層68を構成する。
In the light emitting portion of the
有機EL素子30Bの発光部において、反射電極35の上に、第1絶縁膜61と、第2絶縁膜62と、第3絶縁膜63と、画素電極31とが順に積層されている。第3絶縁膜63は、有機EL素子30Bにおける調整層68を構成する。
In the light emitting portion of the
画素電極31の外縁は保護絶縁膜29で覆われ、保護絶縁膜29には画素電極31を露出させる開口71が形成されている。図示を省略するが、開口71によって露出された画素電極31の上に、発光機能層32(図3参照)と対向電極33(図3参照)とが順に積層され、発光機能層32が発光する。
The outer edge of the
よって、有機EL素子30Rの発光部は、反射電極35と、第1絶縁膜61と、第2絶縁膜62と、第3絶縁膜63と、第5絶縁膜65と、第6絶縁膜66と、画素電極31と、発光機能層32と、対向電極33とが順に積層された構造を有している。
有機EL素子30Gの発光部は、反射電極35と、第1絶縁膜61と、第2絶縁膜62と、第3絶縁膜63と、第6絶縁膜66と、画素電極31と、発光機能層32と、対向電極33とが順に積層された構造を有している。
有機EL素子30Bの発光部は、反射電極35と、第1絶縁膜61と、第2絶縁膜62と、第3絶縁膜63と、画素電極31と、発光機能層32と、対向電極33とが順に積層された構造を有している。
Therefore, the light emitting portion of the
The light emitting portion of the
The light emitting portion of the
このため、反射電極35と対向電極33との間の距離(光学的距離)は、有機EL素子30Rの発光部、有機EL素子30Gの発光部、有機EL素子30Bの発光部の順に小さくなっている。
For this reason, the distance (optical distance) between the
上述したように、対向電極33は、光透過性と光反射性とを有し、発光機能層32で発せられた光を反射する一方の反射層となる。反射電極35は、光反射性を有し、発光機能層32で発せられた光を反射する他方の反射層となる。
発光機能層32で発せられた光は、対向電極33と反射電極35との間で繰り返し反射され、対向電極33と反射電極35との間の光学的距離に対応する特定波長(共振波長)の光が増幅される。さらに、対向電極33と反射電極35との間で共振波長に増幅された光は、対向電極33からZ(+)方向に射出され、カラーフィルター層50を通過し、表示光となる。
As described above, the
The light emitted from the light emitting
有機EL素子30Rの発光部では、共振波長(輝度が最大となるピーク波長)が610nmとなるように、反射電極35と対向電極33との間の光学的距離が設定されている。つまり、共振波長が610nmとなるように、調整層68(第3絶縁膜63、第5絶縁膜65、第6絶縁膜66)の厚さが調整されている。その結果、有機EL素子30Rの発光部から、610nmをピーク波長とする赤色の光がZ(+)方向に射出される。さらに、610nmをピーク波長とする赤色の光は、赤色のカラーフィルター層50Rを通過し、赤色の光の色純度が高められている。
In the light emitting portion of the
有機EL素子30Gの発光部では、共振波長が540nmとなるように、反射電極35と対向電極33との間の光学的距離が設定されている。つまり、共振波長が540nmとなるように、調整層68(第3絶縁膜63、第6絶縁膜66)の厚さが調整されている。その結果、有機EL素子30Gの発光部から、540nmをピーク波長とする緑色の光がZ(+)方向に射出される。さらに、540nmをピーク波長とする緑色の光は、緑色のカラーフィルター層50Gを通過し、緑色の光の色純度が高められている。
In the light emitting portion of the
有機EL素子30Bの発光部では、共振波長が470nmとなるように、反射電極35と対向電極33との間の光学的距離が設定されている。つまり、共振波長が470nmとなるように、調整層68(第3絶縁膜63)の厚さが調整されている。その結果、有機EL素子30Bの発光部から、470nmをピーク波長とする青色の光がZ(+)方向に射出される。さらに、470nmをピーク波長とする青色の光は、青色のカラーフィルター層50Bを通過し、青色の光の色純度が高められている。
In the light emitting portion of the
次に、図7を参照し、有機EL素子30のコンタクト部の構造について説明する。
図7に示すように、基板11の上には、反射電極35が、画素20毎に島状に配置されている。有機EL素子30のコンタクト部において、反射電極35の上に、第1絶縁膜61と、第2絶縁膜62と、第3絶縁膜63と、第4絶縁膜64と、第2の中継電極41とが順に積層されている。
なお、第1絶縁膜61、第2絶縁膜62、第3絶縁膜63、及び、第4絶縁膜64は、「絶縁層」の一例である。
Next, the structure of the contact portion of the
As shown in FIG. 7, the
The first insulating
第4絶縁膜64は、例えば膜厚65nmの酸化シリコン膜で構成される。詳細は後述するが、第2の中継電極41からはみ出した第4絶縁膜64がエッチング除去され、第4絶縁膜64は、第3絶縁膜63と第2の中継電極41との間に配置されている。このため、第4絶縁膜64は、有機EL素子30のコンタクト部に配置され、有機EL素子30の発光部に配置されていない。
なお、有機EL素子30のコンタクト部は、第4絶縁膜64を含まない構成であってもよい。
The fourth insulating
Note that the contact portion of the
反射電極35の上には、第1絶縁膜61と第2絶縁膜62と第3絶縁膜63と第4絶縁膜64とを貫くコンタクトホール75が形成されている。
A
コンタクトホール75内(コンタクトホール75の内側)、及びコンタクトホール75の周囲の第4絶縁膜64の上の少なくとも一部には、第2の中継電極41が形成されている。
第2の中継電極41は、コンタクトホール75を覆うように形成され、コンタクトホール75内に凹部81を有している。つまり、コンタクトホール75の形状が反映された凹部81が、コンタクトホール75の内側に形成されている。
A
The
第2の中継電極41において、凹部81の底面(反射電極35に接する部分)が第1のコンタクト部41aであり、コンタクトホール75の周囲の第4絶縁膜64の上の少なくとも一部に形成された部分が第2のコンタクト部41bである。
第2の中継電極41では、第1のコンタクト部41aが反射電極35に接し、反射電極35に電気的に接続されている。
In the
In the
有機EL素子30Rのコンタクト部において、第2の中継電極41の上には、第5絶縁膜65と、第6絶縁膜66と、画素電極31とが順に積層されている。
なお、第5絶縁膜65及び第6絶縁膜66は、有機EL素子30Rにおける「光学調整層」の一例である。
In the contact portion of the
The fifth insulating
第2の中継電極41の第2のコンタクト部41bの上には、第5絶縁膜65及び第6絶縁膜66を貫くコンタクトホール72が形成されている。コンタクトホール72は、第2の中継電極41上であって(第2のコンタクト部41b上に形成され)、凹部81と平面視で重ならない場所に位置する。
A
さらに、コンタクトホール72を覆うように、画素電極31が形成されている。画素電極31は、コンタクトホール72を介して第2のコンタクト部41bに接し、第2の中継電極41に電気的に接続されている。
Further, the
よって、有機EL素子30Rのコンタクト部では、画素電極31が、コンタクトホール72と、第2の中継電極41(第2のコンタクト部41b、第1のコンタクト部41a)と、コンタクトホール75とを介して、反射電極35に電気的に接続されている。つまり、第2の中継電極41は、画素電極31と反射電極35とを電気的に接続するための電極である。
Therefore, in the contact portion of the
有機EL素子30Gのコンタクト部において、第2の中継電極41の上には、第6絶縁膜66と、画素電極31とが順に積層されている。
なお、第6絶縁膜66は、有機EL素子30Gにおける「光学調整層」の一例である。
In the contact portion of the
The sixth insulating
第2の中継電極41の第2のコンタクト部41bの上には、第6絶縁膜66を貫くコンタクトホール73が形成されている。コンタクトホール73は、第2の中継電極41上であって(第2のコンタクト部41b上に形成され)、凹部81と平面視で重ならない場所に位置する。
A
さらに、コンタクトホール73を覆うように、画素電極31が形成されている。画素電極31は、コンタクトホール73を介して第2のコンタクト部41bに接し、第2の中継電極41に電気的に接続されている。
Further, the
よって、有機EL素子30Gのコンタクト部では、画素電極31が、コンタクトホール73と、第2の中継電極41(第2のコンタクト部41b、第1のコンタクト部41a)と、コンタクトホール75とを介して、反射電極35に電気的に接続されている。つまり、第2の中継電極41は、画素電極31と反射電極35とを電気的に接続するための電極である。
Therefore, in the contact portion of the
有機EL素子30Bのコンタクト部において、画素電極31は、第2の中継電極41を覆うように形成されている。つまり、画素電極31は、第2の中継電極41に直接接し、第2の中継電極41に電気的に接続されている。
In the contact portion of the
上述したように、反射電極35は、第1の中継電極28(図3参照)を介して、トランジスター124のドレイン及びトランジスター125のソース又はドレインの一方に電気的に接続され、画素回路110の信号が供給される。従って、有機EL素子30のコンタクト部において、画素電極31は、第2の中継電極41と反射電極35と第1の中継電極28とを介して、トランジスター124のドレイン及びトランジスター125のソース又はドレインの一方に電気的に接続され、画素回路110の信号が供給される。
As described above, the
「比較例2」
図8は、図4に対応する図であり、比較例2に係る有機EL素子の主要な構成要素の状態を示す概略平面図である。図9は、図7に対応する図であり、図8の線分C−C’に沿った有機EL素子のコンタクト部の概略断面図である。
比較例2では、コンタクトホール72及びコンタクトホール73の形成位置が、実施形態1と異なる。他の構成は、比較例2と本実施形態とで同じである。
なお、図8及び図9において、実施形態1と同一の構成部位には同一の符号が附されている。
"Comparative Example 2"
FIG. 8 is a diagram corresponding to FIG. 4, and is a schematic plan view showing a state of main components of the organic EL element according to Comparative Example 2. FIG. 9 corresponds to FIG. 7 and is a schematic cross-sectional view of the contact portion of the organic EL element taken along line CC ′ in FIG.
In Comparative Example 2, the formation positions of the
8 and 9, the same components as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals.
図8に示すように、画素20Rの有機EL素子30Rでは、コンタクトホール72が、凹部81と平面視で重なるように形成されている。画素20Gの有機EL素子30Gでは、コンタクトホール73が、凹部81と平面視で重なるように形成されている。
As shown in FIG. 8, in the
本実施形態では、有機EL素子30Rのコンタクト部において、画素電極31は、コンタクトホール72で形成された段差(第5絶縁膜65と第6絶縁膜66との総厚さに相当する段差)を覆い、第2のコンタクト部41bに接し、第2の中継電極41に電気的に接続されている(図7参照)。
In this embodiment, in the contact portion of the
比較例2では、図9に示すように、有機EL素子30Rのコンタクト部において、画素電極31は、コンタクトホール72で形成される段差(第5絶縁膜65及び第6絶縁膜66の総厚さに相当する段差)と、凹部81で形成される段差(第1絶縁膜61と第2絶縁膜62と第3絶縁膜63との総厚さに相当する段差)とを合計した段差H1を覆い、第1のコンタクト部41aに接し、第2の中継電極41に電気的に接続される。
よって、有機EL素子30Rのコンタクト部において、画素電極31が覆う必要がある段差は、本実施形態と比べて、比較例2の方が大きい。
In Comparative Example 2, as shown in FIG. 9, in the contact portion of the
Therefore, in the contact portion of the
本実施形態では、有機EL素子30Gのコンタクト部において、画素電極31は、コンタクトホール73で形成された段差(第6絶縁膜66の厚さに相当する段差)を覆い、第2のコンタクト部41bに接し、第2の中継電極41に電気的に接続されている(図7参照)。
In the present embodiment, in the contact portion of the
比較例2では、有機EL素子30Gのコンタクト部において、画素電極31は、コンタクトホール73で形成される段差(第6絶縁膜66の厚さに相当する段差)と、コンタクトホール75で形成された段差(第1絶縁膜61と第2絶縁膜62と第3絶縁膜63との総厚さに相当する段差)とを合計した段差H2を覆い、第2の中継電極41の第1のコンタクト部41aに接し、第2の中継電極41に電気的に接続される。
よって、有機EL素子30Gのコンタクト部において、画素電極31が覆う必要がある段差は、本実施形態と比べて、比較例2の方が大きい。
In Comparative Example 2, in the contact portion of the
Therefore, in the contact portion of the
画素電極31を構成するITO膜は、例えばスパッタ法などの真空成膜法で形成される。スパッタ法などの真空成膜法は、例えばメッキやゾルゲル法などの液相法と比べて、段差部分に膜が形成されにくい。このため、画素電極31(ITO膜)が覆う必要がある段差が大きくなると、段差部分でITO膜の付き回りが悪くなり、例えばITO膜の断線(段切れ)やITO膜の抵抗増などの不具合が生じやすくなる。
The ITO film constituting the
例えば、段差部分でITO膜の断線(画素電極31の断線)が生じると、画素回路110から画素電極31に信号が供給されず、有機EL素子30が非発光(不点灯)となり、有機EL装置100においてドット欠陥が発生する。
For example, if a break in the ITO film (disconnection of the pixel electrode 31) occurs in the step portion, no signal is supplied from the
例えば、段差部分でITO膜の抵抗増が生じると、画素回路110から画素電極31に供給される信号がなまり、有機EL素子30から発せられる光の輝度が変化し、有機EL装置100においてドットムラ(ドット単位の輝度ムラ)が発生する。
For example, when the resistance of the ITO film increases at the step portion, the signal supplied from the
本実施形態は、比較例2と比べて、画素電極31が覆う必要がある段差が小さく、段差部分でのITO膜の断線やITO膜の抵抗増などの不具合が生じにくい。従って、本実施形態の構成、すなわち第2の中継電極41は、コンタクトホール75内及びコンタクトホール75の周囲の第4絶縁膜64上の少なくとも一部に位置し、コンタクトホール75内に凹部81を有し、コンタクトホール72,73は、第2の中継電極41上であって、凹部81と平面視で重ならない場所に位置する構成が好ましい。
In the present embodiment, compared with the second comparative example, the level difference that the
「比較例3」
図10は、図4に対応する図であり、比較例3に係る有機EL素子の主要な構成要素の状態を示す概略平面図である。図11は、図7に対応する図であり、図10の線分D−D’に沿った有機EL素子のコンタクト部の概略断面図である。
比較例3では、コンタクトホール72及びコンタクトホール73の形成位置が、実施形態1と異なる。他の構成は、比較例3と本実施形態とで同じである。
なお、図10及び図11において、実施形態1と同一の構成部位には同一の符号が附されている。
“Comparative Example 3”
FIG. 10 is a diagram corresponding to FIG. 4 and is a schematic plan view showing a state of main components of the organic EL element according to Comparative Example 3. FIG. 11 is a diagram corresponding to FIG. 7 and is a schematic cross-sectional view of the contact portion of the organic EL element along the line DD ′ in FIG.
In Comparative Example 3, the formation positions of the
10 and 11, the same reference numerals are given to the same components as those in the first embodiment.
図10に示すように、有機EL素子30Rのコンタクト部において、コンタクトホール75を囲むように、コンタクトホール72が形成されている。つまり、コンタクトホール72の内側に、コンタクトホール75が形成されている。コンタクトホール72の寸法はW2であり、コンタクトホール75の寸法W1よりも大きい。
As shown in FIG. 10, a
有機EL素子30Gのコンタクト部において、コンタクトホール75を囲むように、コンタクトホール73が形成されている。つまり、コンタクトホール73の内側に、コンタクトホール75が形成されている。コンタクトホール73の寸法はW2であり、コンタクトホール75の寸法W1よりも大きい。
A
図11に示すように、有機EL素子30Rのコンタクト部において、コンタクトホール72は、第1のコンタクト部41a及び第2のコンタクト部41bの両方を露出させるように形成されている。画素電極31は、第1のコンタクト部41a及び第2のコンタクト部41bの両方に接し、第2の中継電極41に電気的に接続される。
As shown in FIG. 11, in the contact portion of the
有機EL素子30Gのコンタクト部において、コンタクトホール73は、第1のコンタクト部41a及び第2のコンタクト部41bの両方を露出させるように形成されている。画素電極31は、第1のコンタクト部41a及び第2のコンタクト部41bの両方に接し、第2の中継電極41に電気的に接続される。
In the contact portion of the
比較例3は、本実施形態と同様に、画素電極31が第2のコンタクト部41bに接する構成を有しているので、画素電極31と第2の中継電極41とを良好に電気的に接続させることができる。
Since the comparative example 3 has a configuration in which the
ところが、比較例3のコンタクトホール72の寸法及びコンタクトホール73の寸法はW2であり、本実施形態のコンタクトホール72の寸法及びコンタクトホール73の寸法はW1であり、比較例3は、本実施形態と比べて、コンタクトホール72の寸法及びコンタクトホール73の寸法が大きい。従って、比較例3は、本実施形態と比べて、コンタクト部の面積が大きくなり、発光部(開口71)の面積が小さくなるため、暗い表示になる。
However, the dimension of the
従って、本実施形態の構成、すなわちコンタクトホール72,73,75が工程限界に相当する小さな寸法W1で形成され、第2の中継電極41は、コンタクトホール75内及びコンタクトホール75の周囲の第4絶縁膜64上の少なくとも一部に位置し、コンタクトホール75内に凹部81を有し、コンタクトホール72,73は、第2の中継電極41上であって、凹部81と平面視で重ならない場所に位置するという構成が好ましい。
Therefore, the configuration of this embodiment, that is, the contact holes 72, 73, 75 are formed with a small dimension W1 corresponding to the process limit, and the
「有機EL素子の製造方法」
図12は、本実施形態に係る有機EL素子の製造方法を示す工程フローである。図13乃至図15は、図7に対応する図であり、図12に示す工程フローの主要な工程を経た後の有機EL素子の状態を示す概略断面図である。
以下、図12乃至図15を参照し、本実施形態に係る有機EL素子30の製造方法を説明する。
"Method for manufacturing organic EL elements"
FIG. 12 is a process flow showing the method for manufacturing the organic EL element according to this embodiment. FIGS. 13 to 15 are diagrams corresponding to FIG. 7 and are schematic cross-sectional views showing the state of the organic EL element after the main steps of the process flow shown in FIG.
Hereinafter, a method for manufacturing the
図12に示すように、本実施形態に係る有機EL素子30の製造方法は、反射電極35及び第1絶縁膜61を形成する工程(ステップS1)と、第2絶縁膜62を形成する工程(ステップS2)と、埋め込み絶縁膜40を形成する工程(ステップS3)と、第3絶縁膜63を形成する工程(ステップS4)と、第4絶縁膜64を形成する工程(ステップS5)と、コンタクトホール75を形成する工程(ステップS6)と、第2の中継電極41を形成する工程(ステップS7)と、第5絶縁膜65を形成する工程(ステップS8)と、コンタクトホール72を形成する工程(ステップS9)と、第6絶縁膜66を形成する工程(ステップS10)と、コンタクトホール72,73を形成する工程(ステップS11)と、画素電極31を形成する工程(ステップS12)と、を含む。
As shown in FIG. 12, in the method for manufacturing the
なお、ステップS1,S2,S4,S5は、「反射電極上に絶縁層を形成する工程」の一例である。ステップS6は、「第1のコンタクトホールを形成する工程」の一例である。ステップS7は、「コンタクト電極を形成する工程」の一例である。ステップS8、S10は、有機EL素子30Rにおける「光学調整層を形成する工程」の一例である。ステップS10は、有機EL素子30Gにおける「光学調整層を形成する工程」の一例である。ステップS9,S11は、有機EL素子30Rにおける「第2のコンタクトホールを形成する工程」の一例である。ステップS11は、有機EL素子30Gにおける「第2のコンタクトホールを形成する工程」の一例である。
Steps S1, S2, S4, and S5 are examples of the “step of forming an insulating layer on the reflective electrode”. Step S6 is an example of a “step of forming a first contact hole”. Step S7 is an example of a “step of forming a contact electrode”. Steps S8 and S10 are an example of a “process for forming an optical adjustment layer” in the
ステップS1では、図13(a)に示すように、例えばスパッタ法を用いてAlとTiとからなるAl合金を基板11の上に堆積した後、例えばプラズマCVD法を用いて酸化シリコン膜を堆積する。続いて、例えばドライエッチング法を用いて、酸化シリコン膜とAl合金とを連続的にエッチングし、基板11の上にAl合金からなる反射電極35と、酸化シリコン膜からなる第1絶縁膜61とを順に形成する。
In step S1, as shown in FIG. 13A, an Al alloy made of Al and Ti is deposited on the
反射電極35及び第1絶縁膜61は、同じ形状にパターニングされ、画素20R(有機EL素子30R)、画素20G(有機EL素子30G)、及び画素20B(有機EL素子30B)のそれぞれに島状に形成される。さらに、画素20の反射電極35及び第1絶縁膜61と、隣り合う画素20の反射電極35及び第1絶縁膜61との間に、第1の溝74が形成される。
The
ステップS2では、図13(b)に示すように、例えばプラズマCVD法を用いて窒化シリコン膜を堆積し、窒化シリコン膜からなる第2絶縁膜62を形成する。第2絶縁膜62は、第1絶縁膜61の表面、及び第1の溝74を覆うように形成される。第1の溝74を覆う第2絶縁膜62によって、第1の溝74の形状が反映された第2の溝77が、第1の溝74の内側に形成される。
In step S2, as shown in FIG. 13B, a silicon nitride film is deposited by using, for example, a plasma CVD method to form a second insulating
ステップS3では、図13(c)に示すように、例えばプラズマCVD法を用いて酸化シリコン膜を堆積する。第2の溝77の中に酸化シリコン膜が充填される(埋め込まれる)ように、第2の溝77の深さよりよりも厚い酸化シリコン膜を堆積する。酸化シリコン膜は、第2絶縁膜62の表面及び第2の溝77を覆うように形成される。続いて、酸化シリコン膜に、例えばCMP(Chemical Mechanical Polishing)による平坦化処理を施し、第2の溝77の中に埋め込み絶縁膜40を形成する(埋め込む)。さらに、埋め込み絶縁膜40と第2絶縁膜62とによって、平坦な面が形成される。
In step S3, as shown in FIG. 13C, a silicon oxide film is deposited using, for example, a plasma CVD method. A silicon oxide film thicker than the depth of the
なお、例えばドライエッチング法を用いて、酸化シリコン膜にZ(−)方向の異方性エッチングを施し、第2の溝77の中に埋め込み絶縁膜40を形成し、埋め込み絶縁膜40と第2絶縁膜62とによる平坦な面を形成してもよい。つまり、ドライエッチング法によって平坦化処理を施してもよい。
Note that the silicon oxide film is anisotropically etched in the Z (−) direction by using, for example, a dry etching method to form the buried insulating
ステップS4では、図13(d)に示すように、例えばプラズマCVD法を用いて窒化シリコン膜を堆積し、第2絶縁膜62の表面及び埋め込み絶縁膜40の表面を覆う第3絶縁膜63を形成する。
In step S4, as shown in FIG. 13D, a silicon nitride film is deposited by using, for example, a plasma CVD method, and a third insulating
ステップS5では、図14(a)に示すように、例えばプラズマCVD法を用いて酸化シリコン膜を堆積し、第3絶縁膜63の表面を覆う第4絶縁膜64を形成する。
In step S5, as shown in FIG. 14A, a silicon oxide film is deposited by using, for example, a plasma CVD method, and a fourth insulating
ステップS6では、図14(b)に示すように、例えばドライエッチング法を用いて第1絶縁膜61と第2絶縁膜62と第3絶縁膜63と第4絶縁膜64とをエッチングし、第1絶縁膜61と第2絶縁膜62と第3絶縁膜63と第4絶縁膜64とを貫き、反射電極35に至るコンタクトホール75を、画素20R(有機EL素子30R)、画素20G(有機EL素子30G)、及び画素20B(有機EL素子30B)のそれぞれに形成する。
In step S6, as shown in FIG. 14B, the first insulating
ステップS7では、例えばスパッタ法を用いてTiN膜を堆積し、続いて例えばドライエッチング法を用いてTiN膜をパターニングし、画素20R(有機EL素子30R)、画素20G(有機EL素子30G)、及び画素20B(有機EL素子30B)のそれぞれに第2の中継電極41を形成する。
In step S7, a TiN film is deposited using, for example, a sputtering method, and then the TiN film is patterned using, for example, a dry etching method, so that the
第4絶縁膜64は、TiN膜をパターニングする際に第3絶縁膜63が侵されないように、第3絶縁膜63を保護する。さらに、第2の中継電極41と第3絶縁膜63との間に第4絶縁膜64が配置されるように、例えばドライエッチング法を用いて、第2の中継電極41から張り出した第4絶縁膜64をエッチング除去する。
The fourth insulating
その結果、図14(c)に示すように、コンタクトホール75及びコンタクトホール75の周囲の第4絶縁膜64上の少なくとも一部を覆う第2の中継電極41が形成される。さらに、コンタクトホール75を覆う第2の中継電極41によって、コンタクトホール75の形状が反映された凹部81が、コンタクトホール75の内側に形成される。
換言すれば、ステップS7は、コンタクトホール75内に第2の中継電極41の凹部81を形成する工程である。
As a result, as shown in FIG. 14C, the
In other words, step S <b> 7 is a step of forming the
ステップS8では、図14(d)に示すように、例えばプラズマCVD法を用いて酸化シリコン膜を堆積し、第3絶縁膜63の表面及び第2の中継電極41の表面を覆う第5絶縁膜65を形成する。
In step S8, as shown in FIG. 14D, for example, a silicon oxide film is deposited using, for example, a plasma CVD method, and the fifth insulating film covering the surface of the third insulating
ステップS9では、図15(a)に示すように、例えばドライエッチング法を用いて第5絶縁膜65をパターニングし、Y方向に配列された有機EL素子30Rに跨る第5絶縁膜65を形成する。同時に、有機EL素子30Rの第2の中継電極41を露出するコンタクトホール72を形成する。つまり、ステップS9では、有機EL素子30Rのそれぞれに、第5絶縁膜65を貫き第2の中継電極41に至るコンタクトホール72を形成する。
In step S9, as shown in FIG. 15A, the fifth insulating
ステップS10では、図15(b)に示すように、例えばプラズマCVD法を用いて酸化シリコン膜を堆積し、第5絶縁膜65の表面と第3絶縁膜63の表面と第2の中継電極41の表面とを覆う第6絶縁膜66を形成する。
In step S10, as shown in FIG. 15B, a silicon oxide film is deposited by using, for example, a plasma CVD method, the surface of the fifth insulating
ステップS11では、図15(c)に示すように、例えばドライエッチング法を用いてY方向に配列された有機EL素子30Bの第6絶縁膜66をエッチング除去し、Y方向に配列された有機EL素子30R及びY方向に配列された有機EL素子30Gに跨る第6絶縁膜66を形成する。
同時に、有機EL素子30Rの第2の中継電極41を露出するコンタクトホール72と、有機EL素子30Gの第2の中継電極41を露出するコンタクトホール73とを形成する。
In step S11, as shown in FIG. 15C, the sixth insulating
At the same time, a
ステップS11では、有機EL素子30Rにおいて、ステップS9で形成された第5絶縁膜65を貫くコンタクトホール72と同じ位置に、第6絶縁膜66を貫くコンタクトホール72を形成する。すなわち、ステップS9及びステップS11によって、有機EL素子30Rにおいて、第5絶縁膜65及び第6絶縁膜66を貫き、第2の中継電極41を露出するコンタクトホール72を、第2の中継電極41上であって、凹部81と平面視で重ならない位置に形成する。
よって、ステップS9及びステップS11は、凹部81と平面視で重ならない位置に、コンタクトホール72を有機EL素子30Rに形成する工程である。
In step S11, in the
Therefore, step S9 and step S11 are steps for forming the
さらに、ステップS11では、有機EL素子30Gにおいて、コンタクトホール75の周囲の少なくとも一部に配置される第2の中継電極41を露出するコンタクトホール73を、第2の中継電極41上であって、凹部81と平面視で重ならない位置に形成する。
よって、ステップS11は、凹部81と平面視で重ならない位置に、コンタクトホール73を有機EL素子30Gに形成する工程である。
Furthermore, in step S11, in the
Therefore, step S11 is a process of forming the
ステップS12では、図15(d)に示すように、例えばスパッタ法を用いてITO膜を堆積し、続いて例えばドライエッチング法を用いてITO膜をパターニングし、画素20R(有機EL素子30R)、画素20G(有機EL素子30G)、及び画素20B(有機EL素子30B)のそれぞれに画素電極31を形成する。
In step S12, as shown in FIG. 15D, an ITO film is deposited by using, for example, a sputtering method, and then the ITO film is patterned by using, for example, a dry etching method to obtain a
有機EL素子30Rでは、画素電極31は、コンタクトホール72を介して第2の中継電極41に電気的に接続される。コンタクトホール72は第2の中継電極41上であって、凹部81と平面視で重ならない場所に位置するので、コンタクトホール72が凹部81と平面視で重なる場合と比べて、画素電極31が覆う必要がある段差が小さくなり、段差部分における画素電極31の断線や抵抗増などの不具合が生じにくく、画素電極31と第2の中継電極41とを安定して電気的に接続させることができる。
In the
有機EL素子30Gでは、画素電極31は、コンタクトホール73を介して第2の中継電極41に電気的に接続される。コンタクトホール73は第2の中継電極41上であって、凹部81と平面視で重ならない場所に位置するので、コンタクトホール73が凹部81と平面視で重なる場合と比べて、画素電極31が覆う必要がある段差が小さくなり、段差部分における画素電極31の断線や抵抗増などの不具合が生じにくく、画素電極31と第2の中継電極41とを安定して電気的に接続させることができる。
In the
有機EL素子30Bでは、画素電極31は、第2の中継電極41を覆うように形成されている。つまり、画素電極31は、第2の中継電極41に直接接し、第2の中継電極41に安定して電気的に接続される。
In the
以上述べたように、有機EL装置100は、段差部分における画素電極31の断線や抵抗増などの不具合が生じにくく、有機EL素子30の点欠陥やドットムラ(ドット単位の輝度ムラ)が生じにくく、高品位の表示を提供することができる。さらに、有機EL装置100は、有機EL素子30の発光部の面積が大きくなり、有機EL素子30で発せられる光の輝度が高くなり、高輝度の表示を提供することができる。
As described above, the
(実施形態2)
図16は、実施形態2に係るヘッドマウントディスプレイの構成を示す概略図である。
図16に示すように、ヘッドマウントディスプレイ1000は、「電子機器」の一例であり、左右の目に対応して設けられた2つの表示部1001を有している。観察者Mはヘッドマウントディスプレイ1000を眼鏡のように頭部に装着することにより、表示部1001に表示された文字や画像などを見ることができる。例えば、左右の表示部1001に視差を考慮した画像を表示すれば、立体的な映像を見て楽しむこともできる。
(Embodiment 2)
FIG. 16 is a schematic diagram illustrating a configuration of a head mounted display according to the second embodiment.
As illustrated in FIG. 16, the head mounted
表示部1001には、上述した有機EL装置100が用いられている。有機EL装置100では、高品位で高輝度の表示を提供することができる。従って、表示部1001に有機EL装置100を搭載することで、高品位で高輝度の表示のヘッドマウントディスプレイ1000を提供することができる。
The
なお、本発明は、上記実施形態のものに必ずしも限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。
具体的には、本発明を適用した電気光学装置としては、上述した発光素子としての有機EL素子30を備えた有機EL装置100に限定されず、例えば無機EL素子やLEDなどの自発光型の発光素子備えた電気光学装置に対して本発明を幅広く適用することが可能である。
In addition, this invention is not necessarily limited to the thing of the said embodiment, A various change can be added in the range which does not deviate from the meaning of this invention.
Specifically, the electro-optical device to which the present invention is applied is not limited to the
また、本発明を適用した電子機器としては、上述したヘッドマウントディスプレイ1000に限らず、例えば、ヘッドアップディスプレイや、デジタルカメラの電子ビューファインダー、携帯型情報端末、ナビゲーターなどの表示部に、本発明を適用した電気光学装置を用いた電子機器を挙げることができる。
In addition, the electronic device to which the present invention is applied is not limited to the above-described head mounted
10…素子基板、11…基板、12…走査線、14…データ線、6,8,19…電源線、20,20B,20G,20R…画素、21…容量、28…第1の中継電極、29…保護絶縁膜、30,30B,30G,30R…有機EL素子、31…画素電極、32…発光機能層、33…対向電極、35…反射電極、40…埋め込み絶縁膜、41…第2の中継電極、41a…第1のコンタクト部、41b…第2のコンタクト部、50,50B,50G,50R…カラーフィルター層、61…第1絶縁膜、62…第2絶縁膜、63…第3絶縁膜、64…第4絶縁膜、65…第5絶縁膜、66…第6絶縁膜、68…調整層、70…保護基板、71…開口、72…コンタクトホール、73…コンタクトホール、74…第1の溝、75…コンタクトホール、77…第2の溝、81…凹部、100…有機EL装置、101…データ線駆動回路、102…走査線駆動回路、103…外部接続用端子、110…画素回路。
DESCRIPTION OF
Claims (5)
前記反射電極と前記第1の電極とを電気的に接続するコンタクト電極と、
前記絶縁層を貫く第1のコンタクトホールと、
前記光学調整層を貫く第2のコンタクトホールと、
を含み、
前記コンタクト電極は、前記第1のコンタクトホール内及び前記第1のコンタクトホールの周囲の前記絶縁層上の少なくとも一部に位置し、前記第1のコンタクトホール内に凹部を有し、
前記第2のコンタクトホールは、前記コンタクト電極上であって、前記凹部と平面視で重ならない場所に位置することを特徴とする発光素子。 The reflective electrode, the insulating layer, the optical adjustment layer, the first electrode, the light emitting layer, and the second electrode are sequentially stacked.
A contact electrode that electrically connects the reflective electrode and the first electrode;
A first contact hole penetrating the insulating layer;
A second contact hole penetrating the optical adjustment layer;
Including
The contact electrode is located in at least a portion of the first contact hole and on the insulating layer around the first contact hole, and has a recess in the first contact hole;
The light emitting element, wherein the second contact hole is located on the contact electrode and at a location that does not overlap the concave portion in plan view.
前記第1のコンタクトホール及び前記第2のコンタクトホールは、前記第1の辺に沿った方向に配置されていることを特徴とする請求項1に記載の発光素子。 The first electrode has a first side and a second side longer than the first side,
2. The light emitting device according to claim 1, wherein the first contact hole and the second contact hole are arranged in a direction along the first side.
前記反射電極上に前記絶縁層を形成する工程と、
前記絶縁層を貫く第1のコンタクトホールを形成する工程と、
前記第1のコンタクトホール内及び前記第1のコンタクトホールの周囲の前記絶縁層上の少なくとも一部に、コンタクト電極を形成する工程と、
前記絶縁層及び前記コンタクト電極上に光学調整層を形成する工程と、
前記光学調整層を貫く第2のコンタクトホールを形成する工程と、
を含み、
前記コンタクト電極を形成する工程では、前記第1のコンタクトホール内に前記コンタクト電極の凹部を形成し、
前記第2のコンタクトホールを形成する工程では、前記第2のコンタクトホールが前記コンタクト電極上であって前記凹部と平面視で重ならない位置に形成することを特徴とする発光素子の製造方法。 A reflection electrode, an insulating layer, an optical adjustment layer, a first electrode, a light emitting layer, and a second electrode are stacked, and the contact electrically connects the reflection electrode and the first electrode. A method of manufacturing a light emitting device including an electrode,
Forming the insulating layer on the reflective electrode;
Forming a first contact hole through the insulating layer;
Forming a contact electrode on at least a part of the insulating layer in the first contact hole and around the first contact hole;
Forming an optical adjustment layer on the insulating layer and the contact electrode;
Forming a second contact hole penetrating the optical adjustment layer;
Including
In the step of forming the contact electrode, a recess of the contact electrode is formed in the first contact hole,
In the step of forming the second contact hole, the second contact hole is formed on the contact electrode at a position that does not overlap the concave portion in plan view.
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