JP6557999B2 - LIGHT EMITTING ELEMENT, ELECTRO-OPTICAL DEVICE, ELECTRONIC DEVICE, AND LIGHT EMITTING ELEMENT MANUFACTURING METHOD - Google Patents

LIGHT EMITTING ELEMENT, ELECTRO-OPTICAL DEVICE, ELECTRONIC DEVICE, AND LIGHT EMITTING ELEMENT MANUFACTURING METHOD Download PDF

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  • Electroluminescent Light Sources (AREA)

Description

本発明は、発光素子、当該発光素子を備えた電気光学装置、当該電気光学装置を備えた電子機器、並びに当該発光素子の製造方法に関するものである。   The present invention relates to a light-emitting element, an electro-optical device including the light-emitting element, an electronic apparatus including the electro-optical device, and a method for manufacturing the light-emitting element.

電気光学装置の一例として、例えばトランジスターや有機エレクトロルミネッセンス(以降、有機ELと称す)素子を有する画素がマトリックス状に配列された有機EL装置が提案されている(特許文献1)。   As an example of an electro-optical device, for example, an organic EL device in which pixels having transistors and organic electroluminescence (hereinafter referred to as organic EL) elements are arranged in a matrix has been proposed (Patent Document 1).

特許文献1に記載の有機EL装置では、有機EL素子が発光する発光部と、トランジスターからの信号を有機EL素子の陽極(画素電極)に供給するコンタクト部とが、各画素に設けられている。コンタクト部では、トランジスターのソースまたはドレインに電気的に接続された中継電極と、絶縁膜と、遮光層(コンタクト電極)と、光学調整層と、画素電極とが順に積層されている。遮光層(コンタクト電極)は、絶縁膜を貫く第1コンタクトホールを介して中継電極に電気的に接続されている。画素電極は、光学調整層を貫く第2コンタクトホールを介して遮光層(コンタクト電極)に電気的に接続されている。第1コンタクトホールは第2コンタクトホールの内側に配置され、第2コンタクトホールが第1コンタクトホールよりも大きくなっている。   In the organic EL device described in Patent Document 1, each pixel includes a light emitting unit that emits light from an organic EL element and a contact unit that supplies a signal from a transistor to an anode (pixel electrode) of the organic EL element. . In the contact portion, a relay electrode electrically connected to the source or drain of the transistor, an insulating film, a light shielding layer (contact electrode), an optical adjustment layer, and a pixel electrode are sequentially stacked. The light shielding layer (contact electrode) is electrically connected to the relay electrode through a first contact hole that penetrates the insulating film. The pixel electrode is electrically connected to the light shielding layer (contact electrode) through a second contact hole that penetrates the optical adjustment layer. The first contact hole is disposed inside the second contact hole, and the second contact hole is larger than the first contact hole.

第2コンタクトホールを覆うように遮光層(コンタクト電極)を形成することで、有機EL素子で発せられた光がトランジスターに入射しにくくなり、遮光性が高められている。   By forming a light shielding layer (contact electrode) so as to cover the second contact hole, light emitted from the organic EL element is less likely to enter the transistor, and the light shielding property is improved.

特開2013−238725号公報JP2013-238725A

一方、画素の微細化や高輝度化に伴い、表示に寄与しないコンタクト部(非発光部)を小さくし、発光部を大きくすることが要求されている。
ところが、第1コンタクトホールを第2コンタクトホールの内側に配置する構成では、第2コンタクトホールが大きくなり、コンタクト部を小さくすることが難しい。このため、表示に寄与しないコンタクト部(非発光部)を小さくし、発光部を大きくすることが難しいという課題があった。
On the other hand, with miniaturization of pixels and increase in luminance, it is required to reduce the contact portion (non-light emitting portion) that does not contribute to display and to increase the light emitting portion.
However, in the configuration in which the first contact hole is disposed inside the second contact hole, the second contact hole becomes large and it is difficult to reduce the contact portion. For this reason, there is a problem that it is difficult to reduce a contact portion (non-light emitting portion) that does not contribute to display and to enlarge a light emitting portion.

本発明は、上述の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の形態または適用例として実現することが可能である。   SUMMARY An advantage of some aspects of the invention is to solve at least a part of the problems described above, and the invention can be implemented as the following forms or application examples.

[適用例1]本適用例に係る発光素子は、反射電極と、絶縁層と、光学調整層と、第1の電極と、発光層と、第2の電極と、が順に積層され、前記反射電極と前記第1の電極とを電気的に接続するコンタクト電極と、前記絶縁層を貫く第1のコンタクトホールと、前記光学調整層を貫く第2のコンタクトホールと、を含み、前記コンタクト電極は、前記第1のコンタクトホール内及び前記第1のコンタクトホールの周囲の前記絶縁層上の少なくとも一部に位置し、前記第1のコンタクトホール内に凹部を有し、前記第2のコンタクトホールは、前記コンタクト電極上であって、前記凹部と平面視で重ならない場所に位置することを特徴とする。 Application Example 1 A light-emitting element according to this application example includes a reflective electrode, an insulating layer, an optical adjustment layer, a first electrode, a light-emitting layer, and a second electrode, which are sequentially stacked. A contact electrode that electrically connects the electrode and the first electrode; a first contact hole that penetrates the insulating layer; and a second contact hole that penetrates the optical adjustment layer. , Located in at least a portion of the first contact hole and on the insulating layer around the first contact hole, and having a recess in the first contact hole, the second contact hole being The method is characterized in that it is located on the contact electrode so as not to overlap the concave portion in plan view.

第2のコンタクトホールは、凹部(第1のコンタクトホール)と平面視で重ならない場所に位置するので、第1のコンタクトホール及び第2のコンタクトホールの両方を小さくすることができる。   Since the second contact hole is located in a place where it does not overlap with the recess (first contact hole) in plan view, both the first contact hole and the second contact hole can be made small.

例えば、凹部(第1のコンタクトホール)及び第2のコンタクトホールの両方が小さく、凹部と第2のコンタクトホールとが平面視で重なる構成では、凹部と第2のコンタクトホールとが平面視で重なった部分に大きな段差が形成される。さらに、第1の電極を、当該大きな段差を覆うように形成し、コンタクト電極に電気的に接続させる必要がある。ところが、第1の電極が覆う必要がある段差が大きくなると、当該段差において、第1の電極の付き回りが悪くなり、第1の電極に段切れ(断線)等の不具合が生じるおそれがある。   For example, in a configuration in which both the recess (first contact hole) and the second contact hole are small and the recess and the second contact hole overlap in plan view, the recess and the second contact hole overlap in plan view. A large step is formed in the part. Furthermore, it is necessary to form the first electrode so as to cover the large step and to be electrically connected to the contact electrode. However, when the level difference that needs to be covered by the first electrode becomes large, the contact of the first electrode is deteriorated at the level difference, and there is a possibility that the first electrode has a problem such as step disconnection (disconnection).

本適用例では、第2のコンタクトホールは、凹部(第1のコンタクトホール)と平面視で重ならない場所に位置するので、第1の電極が覆う必要がある段差が小さくなり、当該段差において第1の電極に段切れ(断線)が生じにくくなる。従って、第1の電極に段切れによってコンタクト電極から第1の電極に信号が供給されず、発光素子が発光しないという不具合(発光素子の不点灯)を抑制することができる。   In this application example, since the second contact hole is located at a position where it does not overlap with the concave portion (first contact hole) in plan view, the step that needs to be covered by the first electrode is reduced. Step breakage (disconnection) hardly occurs in one electrode. Accordingly, it is possible to suppress a problem that a signal is not supplied from the contact electrode to the first electrode due to disconnection of the first electrode and the light emitting element does not emit light (non-lighting of the light emitting element).

[適用例2]上記適用例に記載の発光素子において、前記第1の電極は、第1の辺と、前記第1の辺よりも長い第2の辺と、を有し、前記第1のコンタクトホール及び前記第2のコンタクトホールは、前記第1の辺に沿った方向に配置されていることが好ましい。   Application Example 2 In the light-emitting element described in the application example, the first electrode has a first side and a second side longer than the first side, and the first electrode The contact hole and the second contact hole are preferably arranged in a direction along the first side.

第1の電極は、第1の辺と、第1の辺よりも長い第2の辺とを有する長方形状を有している。さらに、第1の電極は、コンタクト電極から信号が供給されるコンタクト部と、発光層を発光させる発光部とを有する。
発光部の輝度を高めるためには、発光部を第2の辺に沿った方向に長くなった長方形状とし、発光部の面積が大きくなるように第1のコンタクトホール及び第2のコンタクトホールを配置することが好ましい。
The first electrode has a rectangular shape having a first side and a second side longer than the first side. Furthermore, the first electrode includes a contact portion to which a signal is supplied from the contact electrode and a light emitting portion that causes the light emitting layer to emit light.
In order to increase the luminance of the light emitting portion, the light emitting portion is formed in a rectangular shape that is elongated in the direction along the second side, and the first contact hole and the second contact hole are formed so that the area of the light emitting portion is increased. It is preferable to arrange.

発光部の面積は、発光部の第1の辺に沿った長さと、発光部の第2の辺に沿った長さとの積で決まる。第1のコンタクトホール及び第2のコンタクトホールを第1の辺に沿った方向に配置する場合、第1のコンタクトホール及び第2のコンタクトホールを第2の辺に沿った方向に配置する場合と比べて、コンタクト部の第2の辺に沿った方向の長さが小さくなるので、発光部の第2の辺に沿った方向の長さを大きくし、発光部の面積を大きくすることができる。   The area of the light emitting unit is determined by the product of the length along the first side of the light emitting unit and the length along the second side of the light emitting unit. A case where the first contact hole and the second contact hole are arranged in a direction along the first side, a case where the first contact hole and the second contact hole are arranged in a direction along the second side, and In comparison, since the length in the direction along the second side of the contact portion is reduced, the length in the direction along the second side of the light emitting portion can be increased, and the area of the light emitting portion can be increased. .

さらに、第1のコンタクトホール及び第2のコンタクトホールを第1の辺に沿った方向に配置し、第1のコンタクトホール及び第2のコンタクトホールが共に小さい場合、第1コンタクトホールを第2コンタクトホールの内側に配置し、第2コンタクトホールが第1コンタクトホールよりも大きい場合と比べて、コンタクト部の第2の辺に沿った方向の長さが小さくなるので、発光部の第2の辺に沿った方向の長さを大きくし、発光部の面積を大きくすることができる。
従って、発光部の面積を大きくし、発光部の輝度(発光素子の輝度)を高めるためには、第1のコンタクトホール及び第2のコンタクトホールを第1の辺に沿った方向に配置することが好ましい。
Further, when the first contact hole and the second contact hole are arranged in the direction along the first side, and both the first contact hole and the second contact hole are small, the first contact hole is used as the second contact hole. Compared to the case where the second contact hole is larger than the first contact hole, the length in the direction along the second side of the contact portion is reduced, so that the second side of the light emitting unit is arranged. It is possible to increase the length of the light emitting section by increasing the length in the direction along the line.
Therefore, in order to increase the area of the light emitting portion and increase the luminance of the light emitting portion (the luminance of the light emitting element), the first contact hole and the second contact hole are arranged in the direction along the first side. Is preferred.

[適用例3]本適用例に係る電気光学装置は、上記適用例に記載の発光素子を備えていることを特徴とする。   Application Example 3 An electro-optical device according to this application example includes the light-emitting element described in the application example.

本適用例に係る電気光学装置は、発光素子の不点灯が抑制されているので、ドット欠陥の発生が抑制された高品位の表示を提供することができる。さらに、本適用例に係る電気光学装置は、発光素子の輝度が高められているのでて、高輝度の表示を提供することができる。   Since the electro-optical device according to this application example suppresses the non-lighting of the light emitting element, it can provide a high-quality display in which the occurrence of dot defects is suppressed. Furthermore, the electro-optical device according to this application example can provide a high-luminance display because the luminance of the light-emitting element is increased.

[適用例4]本適用例に係る電子機器は、上記適用例に記載の電気光学装置を備えていることを特徴とする。   Application Example 4 An electronic apparatus according to this application example includes the electro-optical device described in the application example.

本適用例に係る電子機器の表示部に、上記適用例に記載の電気光学装置を適用することで、高品位で高輝度の表示を提供することができる。   By applying the electro-optical device described in the above application example to the display unit of the electronic apparatus according to this application example, a high-quality and high-luminance display can be provided.

[適用例5]本適用例に係る発光素子の製造方法は、反射電極と、絶縁層と、光学調整層と、第1の電極と、発光層と、第2の電極と、が積層され、前記反射電極と前記第1の電極とを電気的に接続するコンタクト電極を含む発光素子の製造方法であって、前記反射電極上に前記絶縁層を形成する工程と、前記絶縁層を貫く第1のコンタクトホールを形成する工程と、前記第1のコンタクトホール内及び前記第1のコンタクトホールの周囲の前記絶縁層上の少なくとも一部に、コンタクト電極を形成する工程と、前記絶縁層及び前記コンタクト電極上に光学調整層を形成する工程と、前記光学調整層を貫く第2のコンタクトホールを形成する工程と、を含み、前記コンタクト電極を形成する工程では、前記第1のコンタクトホール内に前記コンタクト電極の凹部を形成し、前記第2のコンタクトホールを形成する工程では、前記第2のコンタクトホールが前記コンタクト電極上であって、前記凹部と平面視で重ならない位置に形成することを特徴とする。   Application Example 5 A manufacturing method of a light emitting element according to this application example includes a reflective electrode, an insulating layer, an optical adjustment layer, a first electrode, a light emitting layer, and a second electrode, A method of manufacturing a light emitting device including a contact electrode for electrically connecting the reflective electrode and the first electrode, the step of forming the insulating layer on the reflective electrode, and a first through the insulating layer Forming a contact hole, forming a contact electrode in at least a part of the first contact hole and on the insulating layer around the first contact hole, and the insulating layer and the contact A step of forming an optical adjustment layer on the electrode; and a step of forming a second contact hole penetrating the optical adjustment layer. In the step of forming the contact electrode, the step of forming the contact electrode in the first contact hole Co In the step of forming a recess of a tact electrode and forming the second contact hole, the second contact hole is formed on the contact electrode at a position that does not overlap the recess in plan view. And

第2のコンタクトホールを、凹部(第1のコンタクトホール)と平面視で重ならない位置に形成するので、第1のコンタクトホール及び第2のコンタクトホールの両方を小さくすることができる。さらに、第2のコンタクトホールが凹部と平面視で重なる場合と比べて、第1の電極が覆う必要がある段差が小さくなり、当該段差において第1の電極に段切れ(断線)が生じにくくなる。   Since the second contact hole is formed at a position that does not overlap the concave portion (first contact hole) in plan view, both the first contact hole and the second contact hole can be reduced. Furthermore, compared with the case where the second contact hole overlaps the concave portion in plan view, the step that needs to be covered by the first electrode is reduced, and the first electrode is less likely to be disconnected (disconnected) at the step. .

実施形態1に係る有機EL装置の概要を示す概略平面図。1 is a schematic plan view showing an outline of an organic EL device according to Embodiment 1. FIG. 実施形態1に係る有機EL装置の電気的な構成を示す図。1 is a diagram illustrating an electrical configuration of an organic EL device according to Embodiment 1. FIG. 画素回路の電気的な構成を示す図。FIG. 3 is a diagram illustrating an electrical configuration of a pixel circuit. 有機EL素子の主要な構成要素の状態を示す概略平面図。The schematic plan view which shows the state of the main components of an organic EL element. (a)は、実施形態1に係る赤色の光を発する有機EL素子の概略平面図、(b)は、比較例1に係る赤色の光を発する有機EL素子の概略平面図。FIG. 2A is a schematic plan view of an organic EL element that emits red light according to Embodiment 1, and FIG. 2B is a schematic plan view of an organic EL element that emits red light according to Comparative Example 1; 図4の線分A−A’に沿った有機EL素子の発光部の概略断面図。FIG. 5 is a schematic cross-sectional view of a light emitting portion of an organic EL element along a line segment A-A ′ in FIG. 4. 図4の線分B−B’に沿った有機EL素子のコンタクト部の概略断面図。FIG. 5 is a schematic cross-sectional view of a contact portion of an organic EL element along a line segment B-B ′ in FIG. 4. 比較例2に係る有機EL素子の主要な構成要素の状態を示す概略平面図。FIG. 6 is a schematic plan view showing a state of main components of an organic EL element according to Comparative Example 2. 図8の線分C−C’に沿った有機EL素子のコンタクト部の概略断面図。FIG. 9 is a schematic cross-sectional view of a contact portion of an organic EL element along a line C-C ′ in FIG. 8. 比較例3に係る有機EL素子の主要な構成要素の状態を示す概略平面図。FIG. 10 is a schematic plan view showing a state of main components of an organic EL element according to Comparative Example 3. 図10の線分D−D’に沿った有機EL素子のコンタクト部の概略断面図。FIG. 11 is a schematic cross-sectional view of a contact portion of an organic EL element along a line D-D ′ in FIG. 実施形態に係る有機EL素子の製造方法を示す工程フロー。The process flow which shows the manufacturing method of the organic EL element which concerns on embodiment. 図12に示す主要な工程を経た後の有機EL素子の状態を示す概略断面図。The schematic sectional drawing which shows the state of the organic EL element after passing through the main processes shown in FIG. 図12に示す主要な工程を経た後の有機EL素子の状態を示す概略断面図。The schematic sectional drawing which shows the state of the organic EL element after passing through the main processes shown in FIG. 図12に示す主要な工程を経た後の有機EL素子の状態を示す概略断面図。The schematic sectional drawing which shows the state of the organic EL element after passing through the main processes shown in FIG. 実施形態2に係るヘッドマウントディスプレイの構成を示す概略図。FIG. 4 is a schematic diagram illustrating a configuration of a head mounted display according to a second embodiment.

以下、図面を参照して、本発明の実施形態について説明する。かかる実施形態は、本発明の一態様を示すものであり、この発明を限定するものではなく、本発明の技術的思想の範囲内で任意に変更可能である。また、以下の各図においては、各層や各部位を図面上で認識可能な程度の大きさとするため、各層や各部位の縮尺を実際とは異ならせしめてある。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. Such an embodiment shows one aspect of the present invention and does not limit the present invention, and can be arbitrarily changed within the scope of the technical idea of the present invention. In each of the following drawings, the scale of each layer or each part is made different from the actual scale so that each layer or each part can be recognized on the drawing.

(実施形態1)
「有機エレクトロルミネッセンス装置の概要」
図1は、実施形態1に係る有機EL装置の概要を示す概略平面図である。図2は、本実施形態に係る有機EL装置の電気的な構成を示す図である。図3は、画素回路の電気的な構成を示す図である。
まず、図1乃至図3を参照して、本実施形態に係る有機EL装置100の概要について説明する。
(Embodiment 1)
"Outline of organic electroluminescence equipment"
FIG. 1 is a schematic plan view showing an outline of the organic EL device according to the first embodiment. FIG. 2 is a diagram showing an electrical configuration of the organic EL device according to the present embodiment. FIG. 3 is a diagram illustrating an electrical configuration of the pixel circuit.
First, an outline of the organic EL device 100 according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 1 to 3.

図1に示すように、有機EL装置100は、素子基板10と、保護基板70とを有している。素子基板10と保護基板70とは、互いに対向した状態で、図示を省略する接着剤によって接合されている。なお、接着剤には、例えばエポキシ樹脂やアクリル樹脂などを使用することができる。
なお、有機EL装置100は、「電気光学装置」の一例である。
As shown in FIG. 1, the organic EL device 100 includes an element substrate 10 and a protective substrate 70. The element substrate 10 and the protective substrate 70 are bonded to each other by an adhesive (not shown) while facing each other. For example, an epoxy resin or an acrylic resin can be used as the adhesive.
The organic EL device 100 is an example of an “electro-optical device”.

素子基板10は、赤色(R)の光を発する有機EL素子30Rが配置された画素20Rと、緑色(G)の光を発する有機EL素子30Gが配置された画素20Gと、青色(B)光を発する有機EL素子30Bが配置された画素20Bとがマトリックス状に配列された表示領域Eを有している。
なお、有機EL素子30R及び有機EL素子30Gは、「発光素子」の一例である。
The element substrate 10 includes a pixel 20R in which an organic EL element 30R that emits red (R) light is disposed, a pixel 20G in which an organic EL element 30G that emits green (G) light is disposed, and blue (B) light. The display area E has pixels 20B on which organic EL elements 30B that emit light are arranged in a matrix.
The organic EL element 30R and the organic EL element 30G are examples of “light emitting element”.

有機EL装置100では、画素20Rと画素20Gと画素20Bとが表示単位となってフルカラーの表示が提供される。
以降の説明では、画素20Rと画素20Gと画素20Bとをまとめて画素20として扱う場合があり、有機EL素子30Rと有機EL素子30Gと有機EL素子30Bとをまとめて有機EL素子30として扱う場合がある。
In the organic EL device 100, the pixel 20R, the pixel 20G, and the pixel 20B are used as a display unit to provide a full color display.
In the following description, the pixel 20R, the pixel 20G, and the pixel 20B may be collectively handled as the pixel 20, and the organic EL element 30R, the organic EL element 30G, and the organic EL element 30B are collectively handled as the organic EL element 30. There is.

表示領域Eには、カラーフィルター層50が設けられている。カラーフィルター層50のうち、画素20Rの有機EL素子30Rの上には赤色のカラーフィルター層50Rが配置され、画素20Gの有機EL素子30Gの上には緑色のカラーフィルター層50Gが配置され、画素20Bの有機EL素子30Bの上には青色のカラーフィルター層50Bが配置されている。   In the display area E, a color filter layer 50 is provided. In the color filter layer 50, a red color filter layer 50R is disposed on the organic EL element 30R of the pixel 20R, and a green color filter layer 50G is disposed on the organic EL element 30G of the pixel 20G. A blue color filter layer 50B is disposed on the 20B organic EL element 30B.

本実施形態では、同色の発光が得られる画素20が一方向に配列し、異なる色の発光が得られる画素20が当該一方向に対して交差(直交)する方向に配列している。従って、画素20の配置(配列)は、所謂ストライプ方式となっている。この画素の配置(配列)に応じて、画素20R(有機EL素子30R)、画素20G(有機EL素子30G)、及び画素20B(有機EL素子30B)はそれぞれストライプ状に配置されており、赤色のカラーフィルター層50R、緑色のカラーフィルター層50G、青色のカラーフィルター層50Bもまたストライプ状に配置されている。なお、画素20の配置は、ストライプ方式に限定されず、モザイク方式やデルタ方式などであってもよい。   In the present embodiment, the pixels 20 that can emit light of the same color are arranged in one direction, and the pixels 20 that can emit light of different colors are arranged in a direction intersecting (orthogonal) with respect to the one direction. Therefore, the arrangement (arrangement) of the pixels 20 is a so-called stripe method. In accordance with the arrangement (arrangement) of the pixels, the pixel 20R (organic EL element 30R), the pixel 20G (organic EL element 30G), and the pixel 20B (organic EL element 30B) are arranged in stripes, and the red color The color filter layer 50R, the green color filter layer 50G, and the blue color filter layer 50B are also arranged in stripes. The arrangement of the pixels 20 is not limited to the stripe method, and may be a mosaic method or a delta method.

以降の説明では、同色の発光が得られる画素20が配列された方向をY方向とし、Y方向に交差する方向(異なる色の発光が得られる画素20が配列された方向)をX方向とし、素子基板10から保護基板70に向かう方向をZ方向とする。
さらに、図中で各方向を示す矢印の先端側を(+)とし、基端側を(−)とする。また、Z方向から見ることを平面視と称す。すなわち、本願における平面視とは、Z方向から見た状態をさす。
In the following description, the direction in which the pixels 20 that can emit light of the same color are arranged is the Y direction, and the direction that intersects the Y direction (the direction in which the pixels 20 that emit light of different colors is arranged) is the X direction. A direction from the element substrate 10 toward the protective substrate 70 is defined as a Z direction.
Further, in the drawing, the tip side of the arrow indicating each direction is (+), and the base end side is (−). Further, viewing from the Z direction is referred to as planar view. That is, the planar view in the present application refers to a state viewed from the Z direction.

有機EL素子30で発せられた光は、素子基板10のカラーフィルター層50を透過して保護基板70の側から表示光として射出される。すなわち、有機EL装置100は、トップエミッション構造を有している。   The light emitted from the organic EL element 30 passes through the color filter layer 50 of the element substrate 10 and is emitted as display light from the protective substrate 70 side. That is, the organic EL device 100 has a top emission structure.

有機EL装置100がトップエミッション構造であることから、素子基板10の基材には、透明な石英基板やガラス基板などに加えて、セラミック材料や半導体材料などで構成される不透明基板を用いることができる。なお、本実施形態では、素子基板10の基材はシリコンで構成されている。   Since the organic EL device 100 has a top emission structure, an opaque substrate made of a ceramic material or a semiconductor material is used as a base material of the element substrate 10 in addition to a transparent quartz substrate or a glass substrate. it can. In the present embodiment, the base material of the element substrate 10 is made of silicon.

表示領域Eの外側には、素子基板10の長辺側の一辺に沿って、複数の外部接続用端子103が配列されている。複数の外部接続用端子103と表示領域Eとの間には、データ線駆動回路101が設けられている。素子基板10の短辺側の二辺と表示領域Eとの間には、走査線駆動回路102が設けられている。   Outside the display area E, a plurality of external connection terminals 103 are arranged along one side of the long side of the element substrate 10. A data line drive circuit 101 is provided between the plurality of external connection terminals 103 and the display area E. A scanning line driving circuit 102 is provided between the two sides on the short side of the element substrate 10 and the display area E.

保護基板70は、素子基板10よりも小さく、外部接続用端子103が露出されるように素子基板10と対向して配置されている。外部接続用端子103は、フレキシブル配線基板(図示省略)と接続されている。これにより、有機EL装置100は、フレキシブル配線基板を介して外部回路(図示省略)と電気的に接続することが可能となっている。   The protective substrate 70 is smaller than the element substrate 10 and is disposed to face the element substrate 10 so that the external connection terminals 103 are exposed. The external connection terminal 103 is connected to a flexible wiring board (not shown). Thereby, the organic EL device 100 can be electrically connected to an external circuit (not shown) through the flexible wiring board.

保護基板70は、透光性の基板であり、石英基板やガラス基板などを使用することができる。保護基板70は、表示領域Eに配置された有機EL素子30が傷つかないように保護する役割を有し、表示領域Eよりも広く設けられている。   The protective substrate 70 is a translucent substrate, and a quartz substrate, a glass substrate, or the like can be used. The protective substrate 70 has a role of protecting the organic EL elements 30 arranged in the display area E so as not to be damaged, and is provided wider than the display area E.

図2に示すように、素子基板10には、m行の走査線12がX方向に延在して設けられ、n列のデータ線14がY方向に延在して設けられている。また、素子基板10には、データ線14に沿って列毎に電源線19がY方向に延在して設けられている。   As shown in FIG. 2, the element substrate 10 is provided with m rows of scanning lines 12 extending in the X direction and n columns of data lines 14 extending in the Y direction. The element substrate 10 is provided with a power supply line 19 extending in the Y direction for each column along the data line 14.

素子基板10には、m行の走査線12とn列のデータ線14との交差部に対応して、画素回路110が設けられている。画素回路110は、画素20の一部をなす。すなわち、表示領域Eには、m行×n列の画素回路110が、マトリックス状に配列されている。   The element substrate 10 is provided with a pixel circuit 110 corresponding to the intersection of the m rows of scanning lines 12 and the n columns of data lines 14. The pixel circuit 110 forms part of the pixel 20. That is, in the display area E, m rows × n columns of pixel circuits 110 are arranged in a matrix.

電源線19には、初期化用のリセット電位Vorstが供給(給電)されている。さらに、図示を省略するが、制御信号Gcmp,Gel,Gorstを供給する3つの制御線が、走査線12に並行して設けられている。   A reset potential Vorst for initialization is supplied (powered) to the power line 19. Further, although not shown, three control lines for supplying control signals Gcmp, Gel, and Gorst are provided in parallel with the scanning lines 12.

走査線12は、走査線駆動回路102に電気的に接続されている。データ線14は、データ線駆動回路101に電気的に接続されている。走査線駆動回路102には、走査線駆動回路102を制御するための制御信号Ctr1が供給されている。データ線駆動回路101には、データ線駆動回路101を制御するための制御信号Ctr2が供給されている。   The scanning line 12 is electrically connected to the scanning line driving circuit 102. The data line 14 is electrically connected to the data line driving circuit 101. The scanning line driving circuit 102 is supplied with a control signal Ctr1 for controlling the scanning line driving circuit 102. The data line driving circuit 101 is supplied with a control signal Ctr2 for controlling the data line driving circuit 101.

走査線駆動回路102は、フレームの期間にわたって走査線12を1行毎に走査するための走査信号Gwr(1)、Gwr(2)、Gwr(3)、…、Gwr(m− 1)、Gwr(m)を、制御信号Ctr1に従って生成する。さらに、走査線駆動回路102は、走査信号Gwrの他に、制御信号Gcmp,Gel,Gorstを制御線に供給する。なお、フレームの期間とは、有機EL装置100で1カット(コマ)分の画像が表示される期間であり、例えば同期信号に含まれる垂直同期信号の周波数が120Hzであれば、1フレームの期間は約8.3ミリ秒となる。   The scanning line driving circuit 102 scans the scanning lines 12 for each row over a frame period, scanning signals Gwr (1), Gwr (2), Gwr (3),..., Gwr (m−1), Gwr. (M) is generated according to the control signal Ctr1. Further, the scanning line driving circuit 102 supplies control signals Gcmp, Gel, and Gorst to the control lines in addition to the scanning signal Gwr. The frame period is a period in which an image for one cut (frame) is displayed on the organic EL device 100. For example, if the frequency of the vertical synchronization signal included in the synchronization signal is 120 Hz, the period of one frame Is about 8.3 milliseconds.

データ線駆動回路101は、走査線駆動回路102によって選択された行に位置する画素回路110に対し、当該画素回路110の階調データに応じた電位のデータ信号Vd(1)、Vd(2)、…、Vd(n)を、1、2、…、n列目のデータ線14に供給する。   The data line driver circuit 101 applies data signals Vd (1) and Vd (2) having potentials corresponding to the gradation data of the pixel circuit 110 to the pixel circuit 110 located in the row selected by the scanning line driver circuit 102. ,..., Vd (n) are supplied to the data lines 14 in the 1, 2,.

図3に示すように、画素回路110は、PチャネルMOS型のトランジスター121,122,123,124,125と、有機EL素子30と、容量21とを有している。画素回路110には、上述した走査信号Gwrや制御信号Gcmp,Gel,Gorstなどが供給される。
なお、画素20Rの画素回路110におけるトランジスター124,125、及び画素20Gの画素回路110におけるトランジスター124,125は、「トランジスター」の一例である。
As illustrated in FIG. 3, the pixel circuit 110 includes P-channel MOS transistors 121, 122, 123, 124, 125, an organic EL element 30, and a capacitor 21. The pixel circuit 110 is supplied with the above-described scanning signal Gwr, control signals Gcmp, Gel, Gorst, and the like.
The transistors 124 and 125 in the pixel circuit 110 of the pixel 20R and the transistors 124 and 125 in the pixel circuit 110 of the pixel 20G are examples of “transistors”.

有機EL素子30は、互いに対向する画素電極31と対向電極33とで発光機能層32を挟持した構造を有している。つまり、有機EL素子30は、画素電極31の上に発光機能層32と対向電極33とが順に積層された構造を有している。
なお、画素電極31は「第1の電極」の一例であり、発光機能層32は「発光層」の一例であり、対向電極33は「第2の電極」の一例である。
The organic EL element 30 has a structure in which a light emitting functional layer 32 is sandwiched between a pixel electrode 31 and a counter electrode 33 facing each other. That is, the organic EL element 30 has a structure in which the light emitting functional layer 32 and the counter electrode 33 are sequentially stacked on the pixel electrode 31.
The pixel electrode 31 is an example of a “first electrode”, the light emitting functional layer 32 is an example of a “light emitting layer”, and the counter electrode 33 is an example of a “second electrode”.

画素電極31は、発光機能層32に正孔を供給するアノードであり、光透過性有する導電材料、例えばITO(Indium Tin Oxide)膜で構成されている。画素電極31の膜厚は、例えば膜厚20nmと薄くなっている。画素電極31は、トランジスター124のドレイン及びトランジスター125のソース又はドレインの一方に電気的に接続されている。   The pixel electrode 31 is an anode that supplies holes to the light emitting functional layer 32, and is composed of a light-transmitting conductive material, for example, an ITO (Indium Tin Oxide) film. The film thickness of the pixel electrode 31 is as thin as 20 nm, for example. The pixel electrode 31 is electrically connected to one of the drain of the transistor 124 and the source or drain of the transistor 125.

対向電極33は、発光機能層32に電子を供給するカソードであり、例えばマグネシウム(Mg)と銀(Ag)との合金などの光透過性と光反射性とを有する導電材料により形成されている。対向電極33は、複数の画素20に跨って設けられた共通電極であり、電源線8に電気的に接続されている。電源線8には、画素回路110において電源の低位側となる電位Vctが供給されている。   The counter electrode 33 is a cathode that supplies electrons to the light emitting functional layer 32, and is formed of a conductive material having light transmissivity and light reflectivity, such as an alloy of magnesium (Mg) and silver (Ag). . The counter electrode 33 is a common electrode provided across the plurality of pixels 20, and is electrically connected to the power supply line 8. The power supply line 8 is supplied with a potential Vct which is the lower side of the power supply in the pixel circuit 110.

発光機能層32は、画素電極31の側から順に積層された正孔注入層、正孔輸送層、有機発光層、及び電子輸送層などを有している。有機EL素子30では、画素電極31から供給される正孔と、対向電極33から供給される電子とが、発光機能層32の中で結合することによって、発光機能層32が発光する。   The light emitting functional layer 32 includes a hole injection layer, a hole transport layer, an organic light emitting layer, an electron transport layer, and the like, which are sequentially stacked from the pixel electrode 31 side. In the organic EL element 30, the light-emitting functional layer 32 emits light by combining holes supplied from the pixel electrode 31 and electrons supplied from the counter electrode 33 in the light-emitting functional layer 32.

また、素子基板10には、各電源線19に交差して電源線6がX方向に延在して設けられている。なお、電源線19はY方向に延在して設けられてもよいし、X方向及びY方向の両方に延在するように設けられてもよい。トランジスター121は、ソースが電源線6に電気的に接続され、ドレインがトランジスター123のソース又はドレインの他方と、トランジスター124のソースとにそれぞれ電気的に接続されている。また、電源線6には、画素回路110において電源の高位側となる電位Velが供給されている。また、電源線6には、容量21の一端が電気的に接続されている。トランジスター121は、トランジスター121のゲート及びソース間の電圧に応じた電流を流す駆動トランジスターとして機能する。   The element substrate 10 is provided with power supply lines 6 extending in the X direction so as to intersect the power supply lines 19. The power supply line 19 may be provided so as to extend in the Y direction, or may be provided so as to extend in both the X direction and the Y direction. The source of the transistor 121 is electrically connected to the power supply line 6, and the drain is electrically connected to the source of the transistor 123 or the other of the drain and the source of the transistor 124. The power supply line 6 is supplied with a potential Vel which is the higher power supply side in the pixel circuit 110. Further, one end of a capacitor 21 is electrically connected to the power supply line 6. The transistor 121 functions as a driving transistor that passes a current according to the voltage between the gate and the source of the transistor 121.

トランジスター122は、ゲートが走査線12に電気的に接続され、ソース又はドレインの一方がデータ線14に電気的に接続されている。また、トランジスター122は、ソース又はドレインの他方が、トランジスター121のゲートと、容量21の他端と、トランジスター123のソース又はドレインの一方とに、それぞれ電気的に接続されている。トランジスター122は、トランジスター121のゲートとデータ線14との間に電気的に接続され、トランジスター121のゲートとデータ線14との間の電気的な接続を制御する書込トランジスターとして機能する。   The transistor 122 has a gate electrically connected to the scanning line 12 and one of a source and a drain electrically connected to the data line 14. In the transistor 122, the other of the source and the drain is electrically connected to the gate of the transistor 121, the other end of the capacitor 21, and one of the source and the drain of the transistor 123. The transistor 122 is electrically connected between the gate of the transistor 121 and the data line 14, and functions as a writing transistor that controls the electrical connection between the gate of the transistor 121 and the data line 14.

トランジスター123は、ゲートが制御線に電気的に接続され、制御信号Gcmpが供給される。トランジスター123は、トランジスター121のゲート及びドレインの間の電気的な接続を制御する、閾値補償トランジスターとして機能する。   The transistor 123 has a gate electrically connected to a control line and is supplied with a control signal Gcmp. The transistor 123 functions as a threshold compensation transistor that controls electrical connection between the gate and drain of the transistor 121.

トランジスター124は、ゲートが制御線に電気的に接続され、制御信号Gelが供給される。トランジスター124は、ドレインがトランジスター125のソース又はドレインの一方と有機EL素子30の画素電極31とにそれぞれ電気的に接続されている。トランジスター124は、トランジスター121のドレインと、有機EL素子30の画素電極31との間の電気的な接続を制御する、発光制御トランジスターとして機能する。   The gate of the transistor 124 is electrically connected to the control line, and the control signal Gel is supplied. The drain of the transistor 124 is electrically connected to one of the source and drain of the transistor 125 and the pixel electrode 31 of the organic EL element 30. The transistor 124 functions as a light emission control transistor that controls electrical connection between the drain of the transistor 121 and the pixel electrode 31 of the organic EL element 30.

なお、有機EL素子30の画素電極31は、第1の中継電極28を介して、トランジスター124のドレイン及びトランジスター125のソース又はドレインの一方に電気的に接続されている。   Note that the pixel electrode 31 of the organic EL element 30 is electrically connected to one of the drain of the transistor 124 and the source or drain of the transistor 125 via the first relay electrode 28.

トランジスター125は、ゲートが制御線に電気的に接続され、制御信号Gorstが供給される。また、トランジスター125のソース又はドレインの他方は、電源線19に電気的に接続され、リセット電位Vorstが供給されている。トランジスター125は、電源線19と、有機EL素子30の画素電極31との間の電気的な接続を制御する初期化トランジスターとして機能する。   The gate of the transistor 125 is electrically connected to the control line, and the control signal Gorst is supplied. The other of the source and the drain of the transistor 125 is electrically connected to the power line 19 and is supplied with a reset potential Vorst. The transistor 125 functions as an initialization transistor that controls electrical connection between the power supply line 19 and the pixel electrode 31 of the organic EL element 30.

「有機EL素子の概要」
次に、有機EL素子の概要について説明する。
図4は、有機EL素子の主要な構成要素の状態を示す概略平面図である。図5(a)は、本実施形態に係る赤色の光を発する有機EL素子の概略平面図である。図5(b)は、比較例1に係る赤色の光を発する有機EL素子の概略平面図である。
なお、図5(b)において、実施形態1と同一の構成部位には同一の符号が附されている。
"Outline of organic EL elements"
Next, an outline of the organic EL element will be described.
FIG. 4 is a schematic plan view showing a state of main components of the organic EL element. FIG. 5A is a schematic plan view of an organic EL element that emits red light according to the present embodiment. FIG. 5B is a schematic plan view of an organic EL element that emits red light according to Comparative Example 1.
In FIG. 5B, the same components as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals.

図4及び図5では、反射電極35が網掛けで示され、画素電極31が太い破線で示され、第2の中継電極41が太い一点鎖線で示され、コンタクトホール72,73,75が細い破線で示され、開口71が細い実線で示されている。さらに、図5(a)では、画素20の輪郭が二点鎖線で示されている。   4 and 5, the reflective electrode 35 is indicated by shading, the pixel electrode 31 is indicated by a thick broken line, the second relay electrode 41 is indicated by a thick alternate long and short dash line, and the contact holes 72, 73, and 75 are thin. It is indicated by a broken line, and the opening 71 is indicated by a thin solid line. Further, in FIG. 5A, the outline of the pixel 20 is indicated by a two-dot chain line.

図4及び図5(a)に示すように、画素20(画素20R,20G,20B)は、平面視で長方形状をなし、画素20の短手方向がX方向と平行となるように配置され、画素20の長手方向がY方向と平行となるように配置されている。   As shown in FIGS. 4 and 5A, the pixel 20 (pixels 20R, 20G, and 20B) has a rectangular shape in plan view, and is arranged so that the lateral direction of the pixel 20 is parallel to the X direction. The pixels 20 are arranged so that the longitudinal direction thereof is parallel to the Y direction.

画素20(画素20R,20G,20B)のそれぞれに、有機EL素子30(有機EL素子30R,30G,30B)が設けられている。有機EL素子30は、反射電極35、第2の中継電極41、画素電極31、発光機能層32(図3参照)、対向電極33(図3参照)などを含む。
なお、有機EL素子30Rにおける第2の中継電極41、及び有機EL素子30Gにおける第2の中継電極41は、「コンタクト電極」の一例である。
Each of the pixels 20 (pixels 20R, 20G, and 20B) is provided with an organic EL element 30 (organic EL elements 30R, 30G, and 30B). The organic EL element 30 includes a reflective electrode 35, a second relay electrode 41, a pixel electrode 31, a light emitting functional layer 32 (see FIG. 3), a counter electrode 33 (see FIG. 3), and the like.
The second relay electrode 41 in the organic EL element 30R and the second relay electrode 41 in the organic EL element 30G are examples of “contact electrodes”.

反射電極35は、画素20のそれぞれに島状に配置されている。反射電極35は、平面視で長方形状をなし、Y方向に長くなっている。反射電極35は、光反射性を有する導電材料で構成され、光反射性を有している。詳しくは、反射電極35は、アルミニウム(Al)を主成分とする合金、例えばAlとチタン(Ti)との合金で構成される。反射電極35の膜厚は、概略130nmである。
画素20の反射電極35と、隣り合う画素20の隣り合う反射電極35との間には、第1の溝74が形成されている。
The reflective electrode 35 is arranged in an island shape on each of the pixels 20. The reflective electrode 35 has a rectangular shape in plan view and is long in the Y direction. The reflective electrode 35 is made of a conductive material having light reflectivity, and has light reflectivity. Specifically, the reflective electrode 35 is made of an alloy containing aluminum (Al) as a main component, for example, an alloy of Al and titanium (Ti). The film thickness of the reflective electrode 35 is approximately 130 nm.
A first groove 74 is formed between the reflective electrode 35 of the pixel 20 and the adjacent reflective electrode 35 of the adjacent pixel 20.

第2の中継電極41は、平面視で反射電極35及び画素電極31と重なり、画素20のY(+)方向側に配置されている。第2の中継電極41は、画素電極31と反射電極35とを電気的に接続するための電極である。第2の中継電極41は、平面視で長方形状をなし、X方向に長くなっている。第2の中継電極41は、例えば窒化チタン(TiN)で構成され、第2の中継電極41の厚みは概略50nmである。   The second relay electrode 41 overlaps with the reflective electrode 35 and the pixel electrode 31 in a plan view, and is disposed on the Y (+) direction side of the pixel 20. The second relay electrode 41 is an electrode for electrically connecting the pixel electrode 31 and the reflective electrode 35. The second relay electrode 41 has a rectangular shape in plan view and is long in the X direction. The second relay electrode 41 is made of, for example, titanium nitride (TiN), and the thickness of the second relay electrode 41 is approximately 50 nm.

反射電極35と第2の中継電極41との間には、絶縁膜61,62,63,64(図7参照)が配置されている。そして、絶縁膜61,62,63,64を貫くコンタクトホール75が形成されている。さらに、コンタクトホール75の内側には、後述する凹部81(図7参照)が形成されている。
なお、有機EL素子30Rにおけるコンタクトホール75、及び有機EL素子30Gにおけるコンタクトホール75は、「第1のコンタクトホール」の一例である。
Insulating films 61, 62, 63, 64 (see FIG. 7) are disposed between the reflective electrode 35 and the second relay electrode 41. A contact hole 75 penetrating the insulating films 61, 62, 63, 64 is formed. Furthermore, a concave portion 81 (see FIG. 7) described later is formed inside the contact hole 75.
The contact hole 75 in the organic EL element 30R and the contact hole 75 in the organic EL element 30G are examples of “first contact holes”.

画素電極31は、画素20のそれぞれに島状に配置され、平面視で反射電極35に重なり、反射電極35よりも一回り小さい。画素電極31は、平面視で長方形状をなし、Y方向に長くなっている。画素電極31は、X方向に沿った辺31Xと、Y方向に沿った辺31Yとを有している。
なお、有機EL素子30Rにおける画素電極31の辺31X、及び有機EL素子30Gにおける画素電極31の辺31Xは、「第1の辺」の一例である。有機EL素子30Rにおける画素電極31の辺31Y、及び有機EL素子30Gにおける画素電極31の辺31Yは、「第2の辺」の一例である。
The pixel electrode 31 is arranged in an island shape on each of the pixels 20, overlaps with the reflective electrode 35 in plan view, and is slightly smaller than the reflective electrode 35. The pixel electrode 31 has a rectangular shape in plan view and is long in the Y direction. The pixel electrode 31 has a side 31X along the X direction and a side 31Y along the Y direction.
The side 31X of the pixel electrode 31 in the organic EL element 30R and the side 31X of the pixel electrode 31 in the organic EL element 30G are examples of the “first side”. The side 31Y of the pixel electrode 31 in the organic EL element 30R and the side 31Y of the pixel electrode 31 in the organic EL element 30G are examples of the “second side”.

有機EL素子30Rにおいて、第2の中継電極41と画素電極31との間には、絶縁膜65,66(図7参照)が配置されている。そして、絶縁膜65,66を貫くコンタクトホール72が形成されている。
なお、有機EL素子30Rにおけるコンタクトホール72は、「第2のコンタクトホール」の一例である。
In the organic EL element 30 </ b> R, insulating films 65 and 66 (see FIG. 7) are disposed between the second relay electrode 41 and the pixel electrode 31. A contact hole 72 is formed through the insulating films 65 and 66.
The contact hole 72 in the organic EL element 30R is an example of a “second contact hole”.

有機EL素子30Gにおいて、第2の中継電極41と画素電極31との間には、絶縁膜66(第6絶縁膜66)が配置されている。そして、絶縁膜66を貫くコンタクトホール73が形成されている。
なお、有機EL素子30Gにおけるコンタクトホール73は、「第2のコンタクトホール」の一例である。
In the organic EL element 30G, an insulating film 66 (sixth insulating film 66) is disposed between the second relay electrode 41 and the pixel electrode 31. A contact hole 73 that penetrates the insulating film 66 is formed.
The contact hole 73 in the organic EL element 30G is an example of a “second contact hole”.

つまり、有機EL素子30Rはコンタクトホール72とコンタクトホール75と有し、有機EL素子30Gはコンタクトホール73とコンタクトホール75とを有し、有機EL素子30Bはコンタクトホール75だけを有している。
なお、コンタクトホール72、コンタクトホール73、及びコンタクトホール75は、成膜工程、フォトリソ工程、及びエッチング工程などを経て形成されており、これら工程で形成可能な最小寸法(工程限界に相当する小さな寸法)W1で形成されている。つまり、コンタクトホール72、コンタクトホール73、及びコンタクトホール75は、正方形状をなし、一辺の長さは工程限界に相当する小さな寸法W1である。
That is, the organic EL element 30R has the contact hole 72 and the contact hole 75, the organic EL element 30G has the contact hole 73 and the contact hole 75, and the organic EL element 30B has only the contact hole 75.
Note that the contact hole 72, the contact hole 73, and the contact hole 75 are formed through a film formation process, a photolithography process, an etching process, and the like, and the minimum dimensions that can be formed in these processes (small dimensions corresponding to process limits). ) W1. That is, the contact hole 72, the contact hole 73, and the contact hole 75 have a square shape, and the length of one side is a small dimension W1 corresponding to the process limit.

有機EL素子30のそれぞれでは、第2の中継電極41が、コンタクトホール75を介して反射電極35に電気的に接続されている。さらに、反射電極35が、第1の中継電極28(図3参照)を介して、トランジスター124のドレイン及びトランジスター125のソース又はドレインの一方に電気的に接続され、画素回路110の信号が供給される。
このように、第2の中継電極41が形成された部分は、画素回路110の信号が供給される画素コンタクトを形成し、以降コンタクト部と称す。
In each of the organic EL elements 30, the second relay electrode 41 is electrically connected to the reflective electrode 35 through the contact hole 75. Further, the reflective electrode 35 is electrically connected to one of the drain of the transistor 124 and the source or drain of the transistor 125 via the first relay electrode 28 (see FIG. 3), and the signal of the pixel circuit 110 is supplied. The
As described above, the portion where the second relay electrode 41 is formed forms a pixel contact to which a signal of the pixel circuit 110 is supplied, and is hereinafter referred to as a contact portion.

画素電極31の外縁は、保護絶縁膜29(図6参照)で覆われている。保護絶縁膜29には、画素電極31を露出させる開口71が形成されている。開口71は、平面視で長方形状をなし、Y方向に長くなっている。   The outer edge of the pixel electrode 31 is covered with a protective insulating film 29 (see FIG. 6). An opening 71 for exposing the pixel electrode 31 is formed in the protective insulating film 29. The opening 71 has a rectangular shape in plan view and is long in the Y direction.

開口71によって露出された画素電極31の上に、発光機能層32(図3参照)と、対向電極33(図3参照)とが順に積層される。そして、画素電極31から供給される正孔と、対向電極33から供給される電子とが、発光機能層32の中で結合することによって、発光機能層32が発光する。つまり、開口71で露出された画素電極31に接する部分の発光機能層32が発光し、開口71が有機EL素子30の発光する部分の面積を規定する。   On the pixel electrode 31 exposed through the opening 71, a light emitting functional layer 32 (see FIG. 3) and a counter electrode 33 (see FIG. 3) are sequentially stacked. Then, the holes supplied from the pixel electrode 31 and the electrons supplied from the counter electrode 33 are combined in the light emitting functional layer 32, whereby the light emitting functional layer 32 emits light. That is, the portion of the light emitting functional layer 32 in contact with the pixel electrode 31 exposed at the opening 71 emits light, and the opening 71 defines the area of the portion of the organic EL element 30 that emits light.

よって、開口71の面積が大きくなると、有機EL素子30の発光面積が広くなり、有機EL素子30の発光輝度が高くなり、明るい表示が得られる。より明るい表示を得るためには、開口71の面積を大きくすることが好ましい。
以降、開口71が形成された部分を、発光部と称す。
Therefore, when the area of the opening 71 is increased, the light emitting area of the organic EL element 30 is increased, the light emission luminance of the organic EL element 30 is increased, and a bright display is obtained. In order to obtain a brighter display, it is preferable to increase the area of the opening 71.
Hereinafter, the portion where the opening 71 is formed is referred to as a light emitting portion.

上述したように、コンタクトホール72、コンタクトホール73、及びコンタクトホール75を、工程限界に相当する小さな寸法W1で形成することによって、コンタクト部の面積を小さくし、発光部の面積を大きくし、より明るい表示を得ることができる。   As described above, by forming the contact hole 72, the contact hole 73, and the contact hole 75 with a small dimension W1 corresponding to the process limit, the area of the contact portion is reduced, the area of the light emitting portion is increased, and more A bright display can be obtained.

図4及び図5(a)に示すように、本実施形態に係る有機EL素子30Rは、コンタクトホール72及びコンタクトホール75がX方向に沿って配置されている。つまり、コンタクトホール72及びコンタクトホール75は、画素電極31の辺31Xに沿った方向に配置されている。   As shown in FIGS. 4 and 5A, in the organic EL element 30R according to this embodiment, the contact hole 72 and the contact hole 75 are arranged along the X direction. That is, the contact hole 72 and the contact hole 75 are arranged in a direction along the side 31 </ b> X of the pixel electrode 31.

「比較例1」
図5(b)に示すように、比較例1に係る有機EL素子30Rは、コンタクトホール72及びコンタクトホール75がY方向に沿って配置されている。つまり、コンタクトホール72及びコンタクトホール75は、画素電極31の辺31Yに沿った方向に配置されている。コンタクトホール72及びコンタクトホール75をY方向に沿って配置すると、コンタクト部のY方向寸法が大きくなり、発光部(開口71)のY方向寸法が小さくなるため、発光部の面積が小さくなる。
"Comparative Example 1"
As shown in FIG. 5B, in the organic EL element 30R according to Comparative Example 1, the contact hole 72 and the contact hole 75 are arranged along the Y direction. That is, the contact hole 72 and the contact hole 75 are arranged in a direction along the side 31 </ b> Y of the pixel electrode 31. When the contact hole 72 and the contact hole 75 are arranged along the Y direction, the dimension in the Y direction of the contact part is increased, and the dimension in the Y direction of the light emitting part (opening 71) is reduced, so that the area of the light emitting part is reduced.

よって、コンタクトホール72及びコンタクトホール75がX方向に沿って配置された本実施形態に係る有機EL素子30R(図5(a))は、コンタクトホール72及びコンタクトホール75がY方向に沿って配置された比較例1に係る有機EL素子30R(図5(b))と比べて、開口71のY方向の寸法が大きくなり、開口71の面積(発光部の面積)が大きくなり、より明るい表示を得ることができる。   Therefore, in the organic EL element 30R according to the present embodiment in which the contact hole 72 and the contact hole 75 are arranged along the X direction (FIG. 5A), the contact hole 72 and the contact hole 75 are arranged along the Y direction. Compared to the organic EL element 30R according to Comparative Example 1 (FIG. 5B), the dimension of the opening 71 in the Y direction is increased, the area of the opening 71 (the area of the light emitting portion) is increased, and the display is brighter. Can be obtained.

従って、有機EL素子30Rにおいて、コンタクトホール72及びコンタクトホール75をX方向に沿って配置すると、コンタクトホール72及びコンタクトホール75をY方向に沿って配置する場合と比べて、有機EL素子30Rで発せられる赤色の光の輝度を高めることができる。   Therefore, in the organic EL element 30R, when the contact hole 72 and the contact hole 75 are arranged along the X direction, the organic EL element 30R emits light compared to the case where the contact hole 72 and the contact hole 75 are arranged along the Y direction. The brightness of the red light produced can be increased.

換言すれば、有機EL素子30Rにおいて、画素電極31が長方形状を有し、画素電極31に二つのコンタクトホール72,75が配置される場合、当該二つのコンタクトホール72,75を画素電極31の短辺(辺31X)に沿った方向に配置すると、当該二つのコンタクトホール72,75を画素電極31の長辺(辺31Y)に沿った方向に配置する場合と比べて、有機EL素子30Rで発せられる赤色の光の輝度を高めることができる。   In other words, in the organic EL element 30 </ b> R, when the pixel electrode 31 has a rectangular shape and the two contact holes 72 and 75 are arranged in the pixel electrode 31, the two contact holes 72 and 75 are connected to the pixel electrode 31. When the organic EL element 30R is arranged in the direction along the short side (side 31X), the two contact holes 72 and 75 are arranged in the direction along the long side (side 31Y) of the pixel electrode 31. The brightness of the emitted red light can be increased.

有機EL素子30Gにおいても、有機EL素子30Rと同様に、コンタクトホール73及びコンタクトホール75がX方向に沿って配置され、コンタクトホール73及びコンタクトホール75がY方向に沿って配置される場合と比べて、有機EL素子30Gで発せられる緑色の光の輝度を高めることができる。   In the organic EL element 30G, as in the organic EL element 30R, the contact hole 73 and the contact hole 75 are arranged along the X direction, and the contact hole 73 and the contact hole 75 are arranged along the Y direction. Thus, the luminance of green light emitted from the organic EL element 30G can be increased.

換言すれば、有機EL素子30Gにおいて、画素電極31が長方形状を有し、画素電極31に二つのコンタクトホール73,75が配置される場合、当該二つのコンタクトホール73,75を画素電極31の短辺(辺31X)に沿った方向に配置すると、当該二つのコンタクトホール73,75を画素電極31の長辺(辺31Y)に沿った方向に配置する場合と比べて、有機EL素子30Gで発せられる緑色の光の輝度を高めることができる。   In other words, in the organic EL element 30 </ b> G, when the pixel electrode 31 has a rectangular shape and the two contact holes 73 and 75 are arranged in the pixel electrode 31, the two contact holes 73 and 75 are connected to the pixel electrode 31. When the organic EL element 30G is arranged in the direction along the short side (side 31X), the two contact holes 73 and 75 are arranged in the direction along the long side (side 31Y) of the pixel electrode 31. The brightness of the emitted green light can be increased.

「有機EL素子の構造」
図6は、図4の線分A−A’に沿った有機EL素子の発光部の概略断面図である。図7は、図4の線分B−B’に沿った有機EL素子のコンタクト部の概略断面図である。なお、図6及び図7では、上述した発光機能層32及び対向電極33の図示が省略されている。
"Structure of organic EL elements"
FIG. 6 is a schematic cross-sectional view of the light emitting portion of the organic EL element along the line AA ′ in FIG. FIG. 7 is a schematic cross-sectional view of the contact portion of the organic EL element taken along line BB ′ in FIG. 6 and 7, the light emitting functional layer 32 and the counter electrode 33 described above are not shown.

また、図6及び図7において、基板11は、シリコンで構成された基材に、電源線6,8,19、走査線12、データ線14、制御線、第1の中継電極28、容量21、トランジスター121,122,123,124,125、データ線駆動回路101、走査線駆動回路102(図2、図3参照)などが形成された半導体基板である。   6 and 7, the substrate 11 has a power source line 6, 8, 19, a scanning line 12, a data line 14, a control line, a first relay electrode 28, and a capacitor 21 on a base material made of silicon. , Transistors 121, 122, 123, 124, 125, a data line driving circuit 101, a scanning line driving circuit 102 (see FIGS. 2 and 3), and the like.

最初に、図6を参照し、有機EL素子30の発光部の構造について説明する。
図6に示すように、基板11の上には、反射電極35が有機EL素子30のそれぞれに島状に形成されている。反射電極35は、光反射性を有し、発光機能層32で発せられた光をZ(+)方向に反射する。
First, the structure of the light emitting portion of the organic EL element 30 will be described with reference to FIG.
As shown in FIG. 6, the reflective electrode 35 is formed in an island shape on each of the organic EL elements 30 on the substrate 11. The reflective electrode 35 has light reflectivity and reflects light emitted from the light emitting functional layer 32 in the Z (+) direction.

反射電極35の表面を覆うように、第1絶縁膜61が形成されている。第1絶縁膜61は、反射電極35による反射特性を高める役割を有し、光透過性を有する絶縁材料で構成される。第1絶縁膜61は、例えば膜厚40nmの酸化シリコン(SiO2)膜で構成される。 A first insulating film 61 is formed so as to cover the surface of the reflective electrode 35. The first insulating film 61 has a role of improving the reflection characteristics of the reflective electrode 35 and is made of an insulating material having light transmittance. The first insulating film 61 is made of, for example, a silicon oxide (SiO 2 ) film having a thickness of 40 nm.

詳細は後述するが、反射電極35及び第1絶縁膜61は、同じ形状にパターニングされている。その結果、画素20の反射電極35及び第1絶縁膜61と、隣り合う画素20の反射電極35及び第1絶縁膜61との間に、第1の溝74が形成されている。   Although details will be described later, the reflective electrode 35 and the first insulating film 61 are patterned in the same shape. As a result, a first groove 74 is formed between the reflective electrode 35 and the first insulating film 61 of the pixel 20 and the reflective electrode 35 and the first insulating film 61 of the adjacent pixel 20.

第2絶縁膜62は、第1絶縁膜61の表面及び第1の溝74を覆い、複数の画素20に跨って配置される。第2絶縁膜62は、光透過性を有する絶縁材料、例えば膜厚40nmの窒化シリコン(SiN)膜で構成される。第2絶縁膜62は、第1絶縁膜61が侵されないように、第1絶縁膜61を保護する役割を有している。   The second insulating film 62 covers the surface of the first insulating film 61 and the first groove 74 and is disposed across the plurality of pixels 20. The second insulating film 62 is composed of an insulating material having optical transparency, for example, a silicon nitride (SiN) film having a thickness of 40 nm. The second insulating film 62 has a role of protecting the first insulating film 61 so that the first insulating film 61 is not attacked.

第1の溝74は第2絶縁膜62で覆われ、第1の溝74の形状が反映された第2の溝77が、第1の溝74の内側に形成される。第2の溝77には、埋め込み絶縁膜40が充填されている(埋め込まれている)。埋め込み絶縁膜40は、光透過性を有する絶縁材料、例えば酸化シリコン膜で構成されている。そして、埋め込み絶縁膜40と第2絶縁膜62とによって、平坦な面が形成される。   The first groove 74 is covered with the second insulating film 62, and a second groove 77 reflecting the shape of the first groove 74 is formed inside the first groove 74. The second trench 77 is filled (embedded) with a buried insulating film 40. The buried insulating film 40 is made of a light-transmitting insulating material such as a silicon oxide film. The buried insulating film 40 and the second insulating film 62 form a flat surface.

埋め込み絶縁膜40と第2絶縁膜62とによって形成された平坦な面は、第3絶縁膜63で覆われている。第3絶縁膜63は、光透過性を有する絶縁材料、例えば窒化シリコン膜で構成され、埋め込み絶縁膜40が侵されないように、埋め込み絶縁膜40を保護する役割を有している。   A flat surface formed by the buried insulating film 40 and the second insulating film 62 is covered with a third insulating film 63. The third insulating film 63 is made of a light-transmitting insulating material, such as a silicon nitride film, and has a role of protecting the buried insulating film 40 so that the buried insulating film 40 is not attacked.

有機EL素子30Rの発光部において、反射電極35の上に、第1絶縁膜61と、第2絶縁膜62と、第3絶縁膜63と、第5絶縁膜65と、第6絶縁膜66と、画素電極31とが順に積層されている。第3絶縁膜63、第5絶縁膜65、及び第6絶縁膜66は、有機EL素子30Rにおける調整層68を構成する。   In the light emitting portion of the organic EL element 30R, the first insulating film 61, the second insulating film 62, the third insulating film 63, the fifth insulating film 65, and the sixth insulating film 66 are formed on the reflective electrode 35. The pixel electrode 31 is sequentially stacked. The third insulating film 63, the fifth insulating film 65, and the sixth insulating film 66 constitute an adjustment layer 68 in the organic EL element 30R.

第5絶縁膜65は、光透過性を有する絶縁材料、例えば酸化シリコン膜で構成されている。表示領域Eにおいて、第5絶縁膜65は、画素20Rに配置され、ストライプ形状をなしている。つまり、第5絶縁膜65は、Y方向に配列された複数の有機EL素子30Rに跨って配置されている。   The fifth insulating film 65 is made of an insulating material having optical transparency, for example, a silicon oxide film. In the display region E, the fifth insulating film 65 is disposed in the pixel 20R and has a stripe shape. That is, the fifth insulating film 65 is disposed across the plurality of organic EL elements 30R arranged in the Y direction.

第6絶縁膜66は、光透過性を有する絶縁材料、例えば酸化シリコン膜で構成されている。表示領域Eにおいて、第6絶縁膜66は、画素20R及び20Gに配置され、ストライプ形状をなしている。つまり、第6絶縁膜66は、Y方向に配列された複数の有機EL素子30R及びY方向に配列された複数の有機EL素子30Gに跨って配置されている。   The sixth insulating film 66 is made of a light-transmitting insulating material such as a silicon oxide film. In the display region E, the sixth insulating film 66 is disposed in the pixels 20R and 20G and has a stripe shape. That is, the sixth insulating film 66 is disposed across the plurality of organic EL elements 30R arranged in the Y direction and the plurality of organic EL elements 30G arranged in the Y direction.

有機EL素子30Gの発光部において、反射電極35の上に、第1絶縁膜61と、第2絶縁膜62と、第3絶縁膜63と、第6絶縁膜66と、画素電極31とが順に積層されている。第3絶縁膜63及び第6絶縁膜66は、有機EL素子30Gにおける調整層68を構成する。   In the light emitting portion of the organic EL element 30G, the first insulating film 61, the second insulating film 62, the third insulating film 63, the sixth insulating film 66, and the pixel electrode 31 are sequentially formed on the reflective electrode 35. Are stacked. The third insulating film 63 and the sixth insulating film 66 constitute an adjustment layer 68 in the organic EL element 30G.

有機EL素子30Bの発光部において、反射電極35の上に、第1絶縁膜61と、第2絶縁膜62と、第3絶縁膜63と、画素電極31とが順に積層されている。第3絶縁膜63は、有機EL素子30Bにおける調整層68を構成する。   In the light emitting portion of the organic EL element 30 </ b> B, the first insulating film 61, the second insulating film 62, the third insulating film 63, and the pixel electrode 31 are sequentially stacked on the reflective electrode 35. The third insulating film 63 constitutes the adjustment layer 68 in the organic EL element 30B.

画素電極31の外縁は保護絶縁膜29で覆われ、保護絶縁膜29には画素電極31を露出させる開口71が形成されている。図示を省略するが、開口71によって露出された画素電極31の上に、発光機能層32(図3参照)と対向電極33(図3参照)とが順に積層され、発光機能層32が発光する。   The outer edge of the pixel electrode 31 is covered with a protective insulating film 29, and an opening 71 for exposing the pixel electrode 31 is formed in the protective insulating film 29. Although not shown, the light emitting functional layer 32 (see FIG. 3) and the counter electrode 33 (see FIG. 3) are sequentially stacked on the pixel electrode 31 exposed by the opening 71, and the light emitting functional layer 32 emits light. .

よって、有機EL素子30Rの発光部は、反射電極35と、第1絶縁膜61と、第2絶縁膜62と、第3絶縁膜63と、第5絶縁膜65と、第6絶縁膜66と、画素電極31と、発光機能層32と、対向電極33とが順に積層された構造を有している。
有機EL素子30Gの発光部は、反射電極35と、第1絶縁膜61と、第2絶縁膜62と、第3絶縁膜63と、第6絶縁膜66と、画素電極31と、発光機能層32と、対向電極33とが順に積層された構造を有している。
有機EL素子30Bの発光部は、反射電極35と、第1絶縁膜61と、第2絶縁膜62と、第3絶縁膜63と、画素電極31と、発光機能層32と、対向電極33とが順に積層された構造を有している。
Therefore, the light emitting portion of the organic EL element 30R includes the reflective electrode 35, the first insulating film 61, the second insulating film 62, the third insulating film 63, the fifth insulating film 65, and the sixth insulating film 66. The pixel electrode 31, the light emitting functional layer 32, and the counter electrode 33 are sequentially stacked.
The light emitting portion of the organic EL element 30G includes a reflective electrode 35, a first insulating film 61, a second insulating film 62, a third insulating film 63, a sixth insulating film 66, a pixel electrode 31, and a light emitting functional layer. 32 and the counter electrode 33 are sequentially stacked.
The light emitting portion of the organic EL element 30B includes a reflective electrode 35, a first insulating film 61, a second insulating film 62, a third insulating film 63, a pixel electrode 31, a light emitting functional layer 32, and a counter electrode 33. Are stacked in order.

このため、反射電極35と対向電極33との間の距離(光学的距離)は、有機EL素子30Rの発光部、有機EL素子30Gの発光部、有機EL素子30Bの発光部の順に小さくなっている。   For this reason, the distance (optical distance) between the reflective electrode 35 and the counter electrode 33 becomes smaller in the order of the light emitting part of the organic EL element 30R, the light emitting part of the organic EL element 30G, and the light emitting part of the organic EL element 30B. Yes.

上述したように、対向電極33は、光透過性と光反射性とを有し、発光機能層32で発せられた光を反射する一方の反射層となる。反射電極35は、光反射性を有し、発光機能層32で発せられた光を反射する他方の反射層となる。
発光機能層32で発せられた光は、対向電極33と反射電極35との間で繰り返し反射され、対向電極33と反射電極35との間の光学的距離に対応する特定波長(共振波長)の光が増幅される。さらに、対向電極33と反射電極35との間で共振波長に増幅された光は、対向電極33からZ(+)方向に射出され、カラーフィルター層50を通過し、表示光となる。
As described above, the counter electrode 33 has a light transmitting property and a light reflecting property, and serves as one reflecting layer that reflects the light emitted from the light emitting functional layer 32. The reflective electrode 35 has light reflectivity and serves as the other reflective layer that reflects the light emitted from the light emitting functional layer 32.
The light emitted from the light emitting functional layer 32 is repeatedly reflected between the counter electrode 33 and the reflective electrode 35, and has a specific wavelength (resonance wavelength) corresponding to the optical distance between the counter electrode 33 and the reflective electrode 35. Light is amplified. Further, the light amplified to the resonance wavelength between the counter electrode 33 and the reflective electrode 35 is emitted from the counter electrode 33 in the Z (+) direction, passes through the color filter layer 50, and becomes display light.

有機EL素子30Rの発光部では、共振波長(輝度が最大となるピーク波長)が610nmとなるように、反射電極35と対向電極33との間の光学的距離が設定されている。つまり、共振波長が610nmとなるように、調整層68(第3絶縁膜63、第5絶縁膜65、第6絶縁膜66)の厚さが調整されている。その結果、有機EL素子30Rの発光部から、610nmをピーク波長とする赤色の光がZ(+)方向に射出される。さらに、610nmをピーク波長とする赤色の光は、赤色のカラーフィルター層50Rを通過し、赤色の光の色純度が高められている。   In the light emitting portion of the organic EL element 30R, the optical distance between the reflective electrode 35 and the counter electrode 33 is set so that the resonance wavelength (the peak wavelength at which the luminance is maximum) is 610 nm. That is, the thickness of the adjustment layer 68 (the third insulating film 63, the fifth insulating film 65, and the sixth insulating film 66) is adjusted so that the resonance wavelength is 610 nm. As a result, red light having a peak wavelength of 610 nm is emitted from the light emitting portion of the organic EL element 30R in the Z (+) direction. Furthermore, red light having a peak wavelength of 610 nm passes through the red color filter layer 50R, and the color purity of the red light is enhanced.

有機EL素子30Gの発光部では、共振波長が540nmとなるように、反射電極35と対向電極33との間の光学的距離が設定されている。つまり、共振波長が540nmとなるように、調整層68(第3絶縁膜63、第6絶縁膜66)の厚さが調整されている。その結果、有機EL素子30Gの発光部から、540nmをピーク波長とする緑色の光がZ(+)方向に射出される。さらに、540nmをピーク波長とする緑色の光は、緑色のカラーフィルター層50Gを通過し、緑色の光の色純度が高められている。   In the light emitting portion of the organic EL element 30G, the optical distance between the reflective electrode 35 and the counter electrode 33 is set so that the resonance wavelength is 540 nm. That is, the thickness of the adjustment layer 68 (the third insulating film 63 and the sixth insulating film 66) is adjusted so that the resonance wavelength is 540 nm. As a result, green light having a peak wavelength of 540 nm is emitted from the light emitting portion of the organic EL element 30G in the Z (+) direction. Further, green light having a peak wavelength of 540 nm passes through the green color filter layer 50G, and the color purity of the green light is enhanced.

有機EL素子30Bの発光部では、共振波長が470nmとなるように、反射電極35と対向電極33との間の光学的距離が設定されている。つまり、共振波長が470nmとなるように、調整層68(第3絶縁膜63)の厚さが調整されている。その結果、有機EL素子30Bの発光部から、470nmをピーク波長とする青色の光がZ(+)方向に射出される。さらに、470nmをピーク波長とする青色の光は、青色のカラーフィルター層50Bを通過し、青色の光の色純度が高められている。   In the light emitting portion of the organic EL element 30B, the optical distance between the reflective electrode 35 and the counter electrode 33 is set so that the resonance wavelength is 470 nm. That is, the thickness of the adjustment layer 68 (third insulating film 63) is adjusted so that the resonance wavelength is 470 nm. As a result, blue light having a peak wavelength of 470 nm is emitted from the light emitting portion of the organic EL element 30B in the Z (+) direction. Further, blue light having a peak wavelength of 470 nm passes through the blue color filter layer 50B, and the color purity of the blue light is enhanced.

次に、図7を参照し、有機EL素子30のコンタクト部の構造について説明する。
図7に示すように、基板11の上には、反射電極35が、画素20毎に島状に配置されている。有機EL素子30のコンタクト部において、反射電極35の上に、第1絶縁膜61と、第2絶縁膜62と、第3絶縁膜63と、第4絶縁膜64と、第2の中継電極41とが順に積層されている。
なお、第1絶縁膜61、第2絶縁膜62、第3絶縁膜63、及び、第4絶縁膜64は、「絶縁層」の一例である。
Next, the structure of the contact portion of the organic EL element 30 will be described with reference to FIG.
As shown in FIG. 7, the reflective electrode 35 is arranged in an island shape for each pixel 20 on the substrate 11. In the contact portion of the organic EL element 30, the first insulating film 61, the second insulating film 62, the third insulating film 63, the fourth insulating film 64, and the second relay electrode 41 are formed on the reflective electrode 35. Are stacked in order.
The first insulating film 61, the second insulating film 62, the third insulating film 63, and the fourth insulating film 64 are examples of “insulating layers”.

第4絶縁膜64は、例えば膜厚65nmの酸化シリコン膜で構成される。詳細は後述するが、第2の中継電極41からはみ出した第4絶縁膜64がエッチング除去され、第4絶縁膜64は、第3絶縁膜63と第2の中継電極41との間に配置されている。このため、第4絶縁膜64は、有機EL素子30のコンタクト部に配置され、有機EL素子30の発光部に配置されていない。
なお、有機EL素子30のコンタクト部は、第4絶縁膜64を含まない構成であってもよい。
The fourth insulating film 64 is made of, for example, a silicon oxide film having a thickness of 65 nm. Although details will be described later, the fourth insulating film 64 protruding from the second relay electrode 41 is removed by etching, and the fourth insulating film 64 is disposed between the third insulating film 63 and the second relay electrode 41. ing. For this reason, the fourth insulating film 64 is disposed in the contact portion of the organic EL element 30 and is not disposed in the light emitting portion of the organic EL element 30.
Note that the contact portion of the organic EL element 30 may not include the fourth insulating film 64.

反射電極35の上には、第1絶縁膜61と第2絶縁膜62と第3絶縁膜63と第4絶縁膜64とを貫くコンタクトホール75が形成されている。   A contact hole 75 penetrating the first insulating film 61, the second insulating film 62, the third insulating film 63, and the fourth insulating film 64 is formed on the reflective electrode 35.

コンタクトホール75内(コンタクトホール75の内側)、及びコンタクトホール75の周囲の第4絶縁膜64の上の少なくとも一部には、第2の中継電極41が形成されている。
第2の中継電極41は、コンタクトホール75を覆うように形成され、コンタクトホール75内に凹部81を有している。つまり、コンタクトホール75の形状が反映された凹部81が、コンタクトホール75の内側に形成されている。
A second relay electrode 41 is formed in at least a part of the contact hole 75 (inside the contact hole 75) and on the fourth insulating film 64 around the contact hole 75.
The second relay electrode 41 is formed so as to cover the contact hole 75, and has a recess 81 in the contact hole 75. That is, the recess 81 reflecting the shape of the contact hole 75 is formed inside the contact hole 75.

第2の中継電極41において、凹部81の底面(反射電極35に接する部分)が第1のコンタクト部41aであり、コンタクトホール75の周囲の第4絶縁膜64の上の少なくとも一部に形成された部分が第2のコンタクト部41bである。
第2の中継電極41では、第1のコンタクト部41aが反射電極35に接し、反射電極35に電気的に接続されている。
In the second relay electrode 41, the bottom surface of the recess 81 (the portion in contact with the reflective electrode 35) is the first contact portion 41 a and is formed on at least a part of the fourth insulating film 64 around the contact hole 75. This portion is the second contact portion 41b.
In the second relay electrode 41, the first contact portion 41 a contacts the reflective electrode 35 and is electrically connected to the reflective electrode 35.

有機EL素子30Rのコンタクト部において、第2の中継電極41の上には、第5絶縁膜65と、第6絶縁膜66と、画素電極31とが順に積層されている。
なお、第5絶縁膜65及び第6絶縁膜66は、有機EL素子30Rにおける「光学調整層」の一例である。
In the contact portion of the organic EL element 30R, the fifth insulating film 65, the sixth insulating film 66, and the pixel electrode 31 are sequentially stacked on the second relay electrode 41.
The fifth insulating film 65 and the sixth insulating film 66 are examples of the “optical adjustment layer” in the organic EL element 30R.

第2の中継電極41の第2のコンタクト部41bの上には、第5絶縁膜65及び第6絶縁膜66を貫くコンタクトホール72が形成されている。コンタクトホール72は、第2の中継電極41上であって(第2のコンタクト部41b上に形成され)、凹部81と平面視で重ならない場所に位置する。   A contact hole 72 that penetrates the fifth insulating film 65 and the sixth insulating film 66 is formed on the second contact portion 41 b of the second relay electrode 41. The contact hole 72 is located on the second relay electrode 41 (formed on the second contact portion 41b) and at a location that does not overlap the concave portion 81 in plan view.

さらに、コンタクトホール72を覆うように、画素電極31が形成されている。画素電極31は、コンタクトホール72を介して第2のコンタクト部41bに接し、第2の中継電極41に電気的に接続されている。   Further, the pixel electrode 31 is formed so as to cover the contact hole 72. The pixel electrode 31 is in contact with the second contact portion 41 b through the contact hole 72 and is electrically connected to the second relay electrode 41.

よって、有機EL素子30Rのコンタクト部では、画素電極31が、コンタクトホール72と、第2の中継電極41(第2のコンタクト部41b、第1のコンタクト部41a)と、コンタクトホール75とを介して、反射電極35に電気的に接続されている。つまり、第2の中継電極41は、画素電極31と反射電極35とを電気的に接続するための電極である。   Therefore, in the contact portion of the organic EL element 30R, the pixel electrode 31 is connected via the contact hole 72, the second relay electrode 41 (second contact portion 41b, first contact portion 41a), and the contact hole 75. And electrically connected to the reflective electrode 35. That is, the second relay electrode 41 is an electrode for electrically connecting the pixel electrode 31 and the reflective electrode 35.

有機EL素子30Gのコンタクト部において、第2の中継電極41の上には、第6絶縁膜66と、画素電極31とが順に積層されている。
なお、第6絶縁膜66は、有機EL素子30Gにおける「光学調整層」の一例である。
In the contact portion of the organic EL element 30G, the sixth insulating film 66 and the pixel electrode 31 are sequentially stacked on the second relay electrode 41.
The sixth insulating film 66 is an example of an “optical adjustment layer” in the organic EL element 30G.

第2の中継電極41の第2のコンタクト部41bの上には、第6絶縁膜66を貫くコンタクトホール73が形成されている。コンタクトホール73は、第2の中継電極41上であって(第2のコンタクト部41b上に形成され)、凹部81と平面視で重ならない場所に位置する。   A contact hole 73 that penetrates the sixth insulating film 66 is formed on the second contact portion 41 b of the second relay electrode 41. The contact hole 73 is located on the second relay electrode 41 (formed on the second contact portion 41b) and at a location that does not overlap the concave portion 81 in plan view.

さらに、コンタクトホール73を覆うように、画素電極31が形成されている。画素電極31は、コンタクトホール73を介して第2のコンタクト部41bに接し、第2の中継電極41に電気的に接続されている。   Further, the pixel electrode 31 is formed so as to cover the contact hole 73. The pixel electrode 31 is in contact with the second contact portion 41 b through the contact hole 73 and is electrically connected to the second relay electrode 41.

よって、有機EL素子30Gのコンタクト部では、画素電極31が、コンタクトホール73と、第2の中継電極41(第2のコンタクト部41b、第1のコンタクト部41a)と、コンタクトホール75とを介して、反射電極35に電気的に接続されている。つまり、第2の中継電極41は、画素電極31と反射電極35とを電気的に接続するための電極である。   Therefore, in the contact portion of the organic EL element 30G, the pixel electrode 31 is connected via the contact hole 73, the second relay electrode 41 (second contact portion 41b, first contact portion 41a), and the contact hole 75. And electrically connected to the reflective electrode 35. That is, the second relay electrode 41 is an electrode for electrically connecting the pixel electrode 31 and the reflective electrode 35.

有機EL素子30Bのコンタクト部において、画素電極31は、第2の中継電極41を覆うように形成されている。つまり、画素電極31は、第2の中継電極41に直接接し、第2の中継電極41に電気的に接続されている。   In the contact portion of the organic EL element 30 </ b> B, the pixel electrode 31 is formed so as to cover the second relay electrode 41. That is, the pixel electrode 31 is in direct contact with the second relay electrode 41 and is electrically connected to the second relay electrode 41.

上述したように、反射電極35は、第1の中継電極28(図3参照)を介して、トランジスター124のドレイン及びトランジスター125のソース又はドレインの一方に電気的に接続され、画素回路110の信号が供給される。従って、有機EL素子30のコンタクト部において、画素電極31は、第2の中継電極41と反射電極35と第1の中継電極28とを介して、トランジスター124のドレイン及びトランジスター125のソース又はドレインの一方に電気的に接続され、画素回路110の信号が供給される。   As described above, the reflective electrode 35 is electrically connected to the drain of the transistor 124 and one of the source and the drain of the transistor 125 via the first relay electrode 28 (see FIG. 3), and the signal of the pixel circuit 110. Is supplied. Therefore, in the contact portion of the organic EL element 30, the pixel electrode 31 is connected to the drain of the transistor 124 and the source or drain of the transistor 125 via the second relay electrode 41, the reflective electrode 35, and the first relay electrode 28. The signal of the pixel circuit 110 is supplied by being electrically connected to one side.

「比較例2」
図8は、図4に対応する図であり、比較例2に係る有機EL素子の主要な構成要素の状態を示す概略平面図である。図9は、図7に対応する図であり、図8の線分C−C’に沿った有機EL素子のコンタクト部の概略断面図である。
比較例2では、コンタクトホール72及びコンタクトホール73の形成位置が、実施形態1と異なる。他の構成は、比較例2と本実施形態とで同じである。
なお、図8及び図9において、実施形態1と同一の構成部位には同一の符号が附されている。
"Comparative Example 2"
FIG. 8 is a diagram corresponding to FIG. 4, and is a schematic plan view showing a state of main components of the organic EL element according to Comparative Example 2. FIG. 9 corresponds to FIG. 7 and is a schematic cross-sectional view of the contact portion of the organic EL element taken along line CC ′ in FIG.
In Comparative Example 2, the formation positions of the contact hole 72 and the contact hole 73 are different from those in the first embodiment. Other configurations are the same in Comparative Example 2 and the present embodiment.
8 and 9, the same components as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals.

図8に示すように、画素20Rの有機EL素子30Rでは、コンタクトホール72が、凹部81と平面視で重なるように形成されている。画素20Gの有機EL素子30Gでは、コンタクトホール73が、凹部81と平面視で重なるように形成されている。   As shown in FIG. 8, in the organic EL element 30 </ b> R of the pixel 20 </ b> R, the contact hole 72 is formed so as to overlap the recess 81 in plan view. In the organic EL element 30G of the pixel 20G, the contact hole 73 is formed so as to overlap the recess 81 in plan view.

本実施形態では、有機EL素子30Rのコンタクト部において、画素電極31は、コンタクトホール72で形成された段差(第5絶縁膜65と第6絶縁膜66との総厚さに相当する段差)を覆い、第2のコンタクト部41bに接し、第2の中継電極41に電気的に接続されている(図7参照)。   In this embodiment, in the contact portion of the organic EL element 30R, the pixel electrode 31 has a step formed by the contact hole 72 (a step corresponding to the total thickness of the fifth insulating film 65 and the sixth insulating film 66). The cover is in contact with the second contact portion 41b and is electrically connected to the second relay electrode 41 (see FIG. 7).

比較例2では、図9に示すように、有機EL素子30Rのコンタクト部において、画素電極31は、コンタクトホール72で形成される段差(第5絶縁膜65及び第6絶縁膜66の総厚さに相当する段差)と、凹部81で形成される段差(第1絶縁膜61と第2絶縁膜62と第3絶縁膜63との総厚さに相当する段差)とを合計した段差H1を覆い、第1のコンタクト部41aに接し、第2の中継電極41に電気的に接続される。
よって、有機EL素子30Rのコンタクト部において、画素電極31が覆う必要がある段差は、本実施形態と比べて、比較例2の方が大きい。
In Comparative Example 2, as shown in FIG. 9, in the contact portion of the organic EL element 30R, the pixel electrode 31 has a step formed by the contact hole 72 (total thickness of the fifth insulating film 65 and the sixth insulating film 66). And a step H1 that is the sum of the step formed by the recess 81 (the step corresponding to the total thickness of the first insulating film 61, the second insulating film 62, and the third insulating film 63). The first contact portion 41a is in contact with and electrically connected to the second relay electrode 41.
Therefore, in the contact portion of the organic EL element 30R, the step that the pixel electrode 31 needs to cover is larger in the comparative example 2 than in the present embodiment.

本実施形態では、有機EL素子30Gのコンタクト部において、画素電極31は、コンタクトホール73で形成された段差(第6絶縁膜66の厚さに相当する段差)を覆い、第2のコンタクト部41bに接し、第2の中継電極41に電気的に接続されている(図7参照)。   In the present embodiment, in the contact portion of the organic EL element 30G, the pixel electrode 31 covers the step formed by the contact hole 73 (step corresponding to the thickness of the sixth insulating film 66), and the second contact portion 41b. And is electrically connected to the second relay electrode 41 (see FIG. 7).

比較例2では、有機EL素子30Gのコンタクト部において、画素電極31は、コンタクトホール73で形成される段差(第6絶縁膜66の厚さに相当する段差)と、コンタクトホール75で形成された段差(第1絶縁膜61と第2絶縁膜62と第3絶縁膜63との総厚さに相当する段差)とを合計した段差H2を覆い、第2の中継電極41の第1のコンタクト部41aに接し、第2の中継電極41に電気的に接続される。
よって、有機EL素子30Gのコンタクト部において、画素電極31が覆う必要がある段差は、本実施形態と比べて、比較例2の方が大きい。
In Comparative Example 2, in the contact portion of the organic EL element 30G, the pixel electrode 31 is formed by a step formed by the contact hole 73 (a step corresponding to the thickness of the sixth insulating film 66) and the contact hole 75. The first contact portion of the second relay electrode 41 covers the step H2 that is the sum of the steps (the step corresponding to the total thickness of the first insulating film 61, the second insulating film 62, and the third insulating film 63). It is in contact with 41 a and is electrically connected to the second relay electrode 41.
Therefore, in the contact portion of the organic EL element 30G, the step that the pixel electrode 31 needs to cover is larger in the comparative example 2 than in the present embodiment.

画素電極31を構成するITO膜は、例えばスパッタ法などの真空成膜法で形成される。スパッタ法などの真空成膜法は、例えばメッキやゾルゲル法などの液相法と比べて、段差部分に膜が形成されにくい。このため、画素電極31(ITO膜)が覆う必要がある段差が大きくなると、段差部分でITO膜の付き回りが悪くなり、例えばITO膜の断線(段切れ)やITO膜の抵抗増などの不具合が生じやすくなる。   The ITO film constituting the pixel electrode 31 is formed by a vacuum film forming method such as a sputtering method. A vacuum film-forming method such as a sputtering method is less likely to form a film at a step portion than a liquid phase method such as plating or a sol-gel method. For this reason, when the level difference that needs to be covered by the pixel electrode 31 (ITO film) becomes large, the ITO film becomes poorly attached at the level difference portion. For example, the ITO film is disconnected or the resistance of the ITO film is increased. Is likely to occur.

例えば、段差部分でITO膜の断線(画素電極31の断線)が生じると、画素回路110から画素電極31に信号が供給されず、有機EL素子30が非発光(不点灯)となり、有機EL装置100においてドット欠陥が発生する。   For example, if a break in the ITO film (disconnection of the pixel electrode 31) occurs in the step portion, no signal is supplied from the pixel circuit 110 to the pixel electrode 31, and the organic EL element 30 does not emit light (non-lighting), and the organic EL device At 100, a dot defect occurs.

例えば、段差部分でITO膜の抵抗増が生じると、画素回路110から画素電極31に供給される信号がなまり、有機EL素子30から発せられる光の輝度が変化し、有機EL装置100においてドットムラ(ドット単位の輝度ムラ)が発生する。   For example, when the resistance of the ITO film increases at the step portion, the signal supplied from the pixel circuit 110 to the pixel electrode 31 is reduced, the luminance of the light emitted from the organic EL element 30 is changed, and the dot unevenness ( Uneven brightness in dots) occurs.

本実施形態は、比較例2と比べて、画素電極31が覆う必要がある段差が小さく、段差部分でのITO膜の断線やITO膜の抵抗増などの不具合が生じにくい。従って、本実施形態の構成、すなわち第2の中継電極41は、コンタクトホール75内及びコンタクトホール75の周囲の第4絶縁膜64上の少なくとも一部に位置し、コンタクトホール75内に凹部81を有し、コンタクトホール72,73は、第2の中継電極41上であって、凹部81と平面視で重ならない場所に位置する構成が好ましい。   In the present embodiment, compared with the second comparative example, the level difference that the pixel electrode 31 needs to cover is small, and problems such as disconnection of the ITO film and increase in resistance of the ITO film are unlikely to occur. Therefore, the configuration of this embodiment, that is, the second relay electrode 41 is located in at least a part of the contact hole 75 and on the fourth insulating film 64 around the contact hole 75, and the recess 81 is formed in the contact hole 75. It is preferable that the contact holes 72 and 73 are located on the second relay electrode 41 and at positions where the contact holes 72 and 73 do not overlap with the concave portion 81 in plan view.

「比較例3」
図10は、図4に対応する図であり、比較例3に係る有機EL素子の主要な構成要素の状態を示す概略平面図である。図11は、図7に対応する図であり、図10の線分D−D’に沿った有機EL素子のコンタクト部の概略断面図である。
比較例3では、コンタクトホール72及びコンタクトホール73の形成位置が、実施形態1と異なる。他の構成は、比較例3と本実施形態とで同じである。
なお、図10及び図11において、実施形態1と同一の構成部位には同一の符号が附されている。
“Comparative Example 3”
FIG. 10 is a diagram corresponding to FIG. 4 and is a schematic plan view showing a state of main components of the organic EL element according to Comparative Example 3. FIG. 11 is a diagram corresponding to FIG. 7 and is a schematic cross-sectional view of the contact portion of the organic EL element along the line DD ′ in FIG.
In Comparative Example 3, the formation positions of the contact hole 72 and the contact hole 73 are different from those in the first embodiment. Other configurations are the same in Comparative Example 3 and the present embodiment.
10 and 11, the same reference numerals are given to the same components as those in the first embodiment.

図10に示すように、有機EL素子30Rのコンタクト部において、コンタクトホール75を囲むように、コンタクトホール72が形成されている。つまり、コンタクトホール72の内側に、コンタクトホール75が形成されている。コンタクトホール72の寸法はW2であり、コンタクトホール75の寸法W1よりも大きい。   As shown in FIG. 10, a contact hole 72 is formed so as to surround the contact hole 75 in the contact portion of the organic EL element 30R. That is, the contact hole 75 is formed inside the contact hole 72. The dimension of the contact hole 72 is W2, which is larger than the dimension W1 of the contact hole 75.

有機EL素子30Gのコンタクト部において、コンタクトホール75を囲むように、コンタクトホール73が形成されている。つまり、コンタクトホール73の内側に、コンタクトホール75が形成されている。コンタクトホール73の寸法はW2であり、コンタクトホール75の寸法W1よりも大きい。   A contact hole 73 is formed so as to surround the contact hole 75 in the contact portion of the organic EL element 30G. That is, the contact hole 75 is formed inside the contact hole 73. The dimension of the contact hole 73 is W2, which is larger than the dimension W1 of the contact hole 75.

図11に示すように、有機EL素子30Rのコンタクト部において、コンタクトホール72は、第1のコンタクト部41a及び第2のコンタクト部41bの両方を露出させるように形成されている。画素電極31は、第1のコンタクト部41a及び第2のコンタクト部41bの両方に接し、第2の中継電極41に電気的に接続される。   As shown in FIG. 11, in the contact portion of the organic EL element 30R, the contact hole 72 is formed so as to expose both the first contact portion 41a and the second contact portion 41b. The pixel electrode 31 is in contact with both the first contact portion 41 a and the second contact portion 41 b and is electrically connected to the second relay electrode 41.

有機EL素子30Gのコンタクト部において、コンタクトホール73は、第1のコンタクト部41a及び第2のコンタクト部41bの両方を露出させるように形成されている。画素電極31は、第1のコンタクト部41a及び第2のコンタクト部41bの両方に接し、第2の中継電極41に電気的に接続される。   In the contact portion of the organic EL element 30G, the contact hole 73 is formed so as to expose both the first contact portion 41a and the second contact portion 41b. The pixel electrode 31 is in contact with both the first contact portion 41 a and the second contact portion 41 b and is electrically connected to the second relay electrode 41.

比較例3は、本実施形態と同様に、画素電極31が第2のコンタクト部41bに接する構成を有しているので、画素電極31と第2の中継電極41とを良好に電気的に接続させることができる。   Since the comparative example 3 has a configuration in which the pixel electrode 31 is in contact with the second contact portion 41b as in the present embodiment, the pixel electrode 31 and the second relay electrode 41 are electrically connected satisfactorily. Can be made.

ところが、比較例3のコンタクトホール72の寸法及びコンタクトホール73の寸法はW2であり、本実施形態のコンタクトホール72の寸法及びコンタクトホール73の寸法はW1であり、比較例3は、本実施形態と比べて、コンタクトホール72の寸法及びコンタクトホール73の寸法が大きい。従って、比較例3は、本実施形態と比べて、コンタクト部の面積が大きくなり、発光部(開口71)の面積が小さくなるため、暗い表示になる。   However, the dimension of the contact hole 72 and the dimension of the contact hole 73 in the comparative example 3 are W2, the dimension of the contact hole 72 and the dimension of the contact hole 73 in the present embodiment are W1, and the comparative example 3 is the present embodiment. Compared with the contact hole 72, the contact hole 72 and the contact hole 73 are larger. Therefore, in Comparative Example 3, the area of the contact portion is increased and the area of the light emitting portion (opening 71) is reduced as compared with the present embodiment, so that the display becomes dark.

従って、本実施形態の構成、すなわちコンタクトホール72,73,75が工程限界に相当する小さな寸法W1で形成され、第2の中継電極41は、コンタクトホール75内及びコンタクトホール75の周囲の第4絶縁膜64上の少なくとも一部に位置し、コンタクトホール75内に凹部81を有し、コンタクトホール72,73は、第2の中継電極41上であって、凹部81と平面視で重ならない場所に位置するという構成が好ましい。   Therefore, the configuration of this embodiment, that is, the contact holes 72, 73, 75 are formed with a small dimension W1 corresponding to the process limit, and the second relay electrode 41 is the fourth in the contact hole 75 and around the contact hole 75. The contact hole 75 is located on at least a part of the insulating film 64, and the contact holes 72 and 73 are on the second relay electrode 41 and do not overlap with the recess 81 in plan view. The structure of being located in is preferable.

「有機EL素子の製造方法」
図12は、本実施形態に係る有機EL素子の製造方法を示す工程フローである。図13乃至図15は、図7に対応する図であり、図12に示す工程フローの主要な工程を経た後の有機EL素子の状態を示す概略断面図である。
以下、図12乃至図15を参照し、本実施形態に係る有機EL素子30の製造方法を説明する。
"Method for manufacturing organic EL elements"
FIG. 12 is a process flow showing the method for manufacturing the organic EL element according to this embodiment. FIGS. 13 to 15 are diagrams corresponding to FIG. 7 and are schematic cross-sectional views showing the state of the organic EL element after the main steps of the process flow shown in FIG.
Hereinafter, a method for manufacturing the organic EL element 30 according to the present embodiment will be described with reference to FIGS.

図12に示すように、本実施形態に係る有機EL素子30の製造方法は、反射電極35及び第1絶縁膜61を形成する工程(ステップS1)と、第2絶縁膜62を形成する工程(ステップS2)と、埋め込み絶縁膜40を形成する工程(ステップS3)と、第3絶縁膜63を形成する工程(ステップS4)と、第4絶縁膜64を形成する工程(ステップS5)と、コンタクトホール75を形成する工程(ステップS6)と、第2の中継電極41を形成する工程(ステップS7)と、第5絶縁膜65を形成する工程(ステップS8)と、コンタクトホール72を形成する工程(ステップS9)と、第6絶縁膜66を形成する工程(ステップS10)と、コンタクトホール72,73を形成する工程(ステップS11)と、画素電極31を形成する工程(ステップS12)と、を含む。   As shown in FIG. 12, in the method for manufacturing the organic EL element 30 according to this embodiment, the step of forming the reflective electrode 35 and the first insulating film 61 (Step S1) and the step of forming the second insulating film 62 ( Step S2), step of forming buried insulating film 40 (Step S3), step of forming third insulating film 63 (Step S4), step of forming fourth insulating film 64 (Step S5), contact The step of forming the hole 75 (Step S6), the step of forming the second relay electrode 41 (Step S7), the step of forming the fifth insulating film 65 (Step S8), and the step of forming the contact hole 72 (Step S9), a step of forming the sixth insulating film 66 (Step S10), a step of forming the contact holes 72 and 73 (Step S11), and a step of forming the pixel electrode 31 (Step S10). Tsu includes a flop S12), the.

なお、ステップS1,S2,S4,S5は、「反射電極上に絶縁層を形成する工程」の一例である。ステップS6は、「第1のコンタクトホールを形成する工程」の一例である。ステップS7は、「コンタクト電極を形成する工程」の一例である。ステップS8、S10は、有機EL素子30Rにおける「光学調整層を形成する工程」の一例である。ステップS10は、有機EL素子30Gにおける「光学調整層を形成する工程」の一例である。ステップS9,S11は、有機EL素子30Rにおける「第2のコンタクトホールを形成する工程」の一例である。ステップS11は、有機EL素子30Gにおける「第2のコンタクトホールを形成する工程」の一例である。   Steps S1, S2, S4, and S5 are examples of the “step of forming an insulating layer on the reflective electrode”. Step S6 is an example of a “step of forming a first contact hole”. Step S7 is an example of a “step of forming a contact electrode”. Steps S8 and S10 are an example of a “process for forming an optical adjustment layer” in the organic EL element 30R. Step S10 is an example of a “process for forming an optical adjustment layer” in the organic EL element 30G. Steps S9 and S11 are an example of a “step of forming a second contact hole” in the organic EL element 30R. Step S11 is an example of a “step of forming a second contact hole” in the organic EL element 30G.

ステップS1では、図13(a)に示すように、例えばスパッタ法を用いてAlとTiとからなるAl合金を基板11の上に堆積した後、例えばプラズマCVD法を用いて酸化シリコン膜を堆積する。続いて、例えばドライエッチング法を用いて、酸化シリコン膜とAl合金とを連続的にエッチングし、基板11の上にAl合金からなる反射電極35と、酸化シリコン膜からなる第1絶縁膜61とを順に形成する。   In step S1, as shown in FIG. 13A, an Al alloy made of Al and Ti is deposited on the substrate 11 by using, for example, a sputtering method, and then a silicon oxide film is deposited by using, for example, a plasma CVD method. To do. Subsequently, the silicon oxide film and the Al alloy are continuously etched using, for example, a dry etching method, and a reflective electrode 35 made of an Al alloy and a first insulating film 61 made of a silicon oxide film are formed on the substrate 11. Are formed in order.

反射電極35及び第1絶縁膜61は、同じ形状にパターニングされ、画素20R(有機EL素子30R)、画素20G(有機EL素子30G)、及び画素20B(有機EL素子30B)のそれぞれに島状に形成される。さらに、画素20の反射電極35及び第1絶縁膜61と、隣り合う画素20の反射電極35及び第1絶縁膜61との間に、第1の溝74が形成される。   The reflective electrode 35 and the first insulating film 61 are patterned in the same shape, and are island-shaped in each of the pixel 20R (organic EL element 30R), the pixel 20G (organic EL element 30G), and the pixel 20B (organic EL element 30B). It is formed. Further, a first groove 74 is formed between the reflective electrode 35 and the first insulating film 61 of the pixel 20 and the reflective electrode 35 and the first insulating film 61 of the adjacent pixel 20.

ステップS2では、図13(b)に示すように、例えばプラズマCVD法を用いて窒化シリコン膜を堆積し、窒化シリコン膜からなる第2絶縁膜62を形成する。第2絶縁膜62は、第1絶縁膜61の表面、及び第1の溝74を覆うように形成される。第1の溝74を覆う第2絶縁膜62によって、第1の溝74の形状が反映された第2の溝77が、第1の溝74の内側に形成される。   In step S2, as shown in FIG. 13B, a silicon nitride film is deposited by using, for example, a plasma CVD method to form a second insulating film 62 made of a silicon nitride film. The second insulating film 62 is formed so as to cover the surface of the first insulating film 61 and the first groove 74. A second groove 77 reflecting the shape of the first groove 74 is formed inside the first groove 74 by the second insulating film 62 covering the first groove 74.

ステップS3では、図13(c)に示すように、例えばプラズマCVD法を用いて酸化シリコン膜を堆積する。第2の溝77の中に酸化シリコン膜が充填される(埋め込まれる)ように、第2の溝77の深さよりよりも厚い酸化シリコン膜を堆積する。酸化シリコン膜は、第2絶縁膜62の表面及び第2の溝77を覆うように形成される。続いて、酸化シリコン膜に、例えばCMP(Chemical Mechanical Polishing)による平坦化処理を施し、第2の溝77の中に埋め込み絶縁膜40を形成する(埋め込む)。さらに、埋め込み絶縁膜40と第2絶縁膜62とによって、平坦な面が形成される。   In step S3, as shown in FIG. 13C, a silicon oxide film is deposited using, for example, a plasma CVD method. A silicon oxide film thicker than the depth of the second groove 77 is deposited so that the silicon oxide film is filled (embedded) in the second groove 77. The silicon oxide film is formed so as to cover the surface of the second insulating film 62 and the second groove 77. Subsequently, a planarization process is performed on the silicon oxide film by, for example, CMP (Chemical Mechanical Polishing), and the embedded insulating film 40 is formed (embedded) in the second trench 77. Further, the buried insulating film 40 and the second insulating film 62 form a flat surface.

なお、例えばドライエッチング法を用いて、酸化シリコン膜にZ(−)方向の異方性エッチングを施し、第2の溝77の中に埋め込み絶縁膜40を形成し、埋め込み絶縁膜40と第2絶縁膜62とによる平坦な面を形成してもよい。つまり、ドライエッチング法によって平坦化処理を施してもよい。   Note that the silicon oxide film is anisotropically etched in the Z (−) direction by using, for example, a dry etching method to form the buried insulating film 40 in the second trench 77, and the buried insulating film 40 and the second A flat surface with the insulating film 62 may be formed. That is, the planarization process may be performed by a dry etching method.

ステップS4では、図13(d)に示すように、例えばプラズマCVD法を用いて窒化シリコン膜を堆積し、第2絶縁膜62の表面及び埋め込み絶縁膜40の表面を覆う第3絶縁膜63を形成する。   In step S4, as shown in FIG. 13D, a silicon nitride film is deposited by using, for example, a plasma CVD method, and a third insulating film 63 covering the surface of the second insulating film 62 and the surface of the buried insulating film 40 is formed. Form.

ステップS5では、図14(a)に示すように、例えばプラズマCVD法を用いて酸化シリコン膜を堆積し、第3絶縁膜63の表面を覆う第4絶縁膜64を形成する。   In step S5, as shown in FIG. 14A, a silicon oxide film is deposited by using, for example, a plasma CVD method, and a fourth insulating film 64 covering the surface of the third insulating film 63 is formed.

ステップS6では、図14(b)に示すように、例えばドライエッチング法を用いて第1絶縁膜61と第2絶縁膜62と第3絶縁膜63と第4絶縁膜64とをエッチングし、第1絶縁膜61と第2絶縁膜62と第3絶縁膜63と第4絶縁膜64とを貫き、反射電極35に至るコンタクトホール75を、画素20R(有機EL素子30R)、画素20G(有機EL素子30G)、及び画素20B(有機EL素子30B)のそれぞれに形成する。   In step S6, as shown in FIG. 14B, the first insulating film 61, the second insulating film 62, the third insulating film 63, and the fourth insulating film 64 are etched using, for example, a dry etching method. The contact holes 75 that penetrate through the first insulating film 61, the second insulating film 62, the third insulating film 63, and the fourth insulating film 64 and reach the reflective electrode 35 are formed in the pixel 20R (organic EL element 30R) and the pixel 20G (organic EL). It is formed in each of the element 30G) and the pixel 20B (organic EL element 30B).

ステップS7では、例えばスパッタ法を用いてTiN膜を堆積し、続いて例えばドライエッチング法を用いてTiN膜をパターニングし、画素20R(有機EL素子30R)、画素20G(有機EL素子30G)、及び画素20B(有機EL素子30B)のそれぞれに第2の中継電極41を形成する。   In step S7, a TiN film is deposited using, for example, a sputtering method, and then the TiN film is patterned using, for example, a dry etching method, so that the pixel 20R (organic EL element 30R), the pixel 20G (organic EL element 30G), and A second relay electrode 41 is formed on each pixel 20B (organic EL element 30B).

第4絶縁膜64は、TiN膜をパターニングする際に第3絶縁膜63が侵されないように、第3絶縁膜63を保護する。さらに、第2の中継電極41と第3絶縁膜63との間に第4絶縁膜64が配置されるように、例えばドライエッチング法を用いて、第2の中継電極41から張り出した第4絶縁膜64をエッチング除去する。   The fourth insulating film 64 protects the third insulating film 63 so that the third insulating film 63 is not attacked when the TiN film is patterned. Further, the fourth insulation projecting from the second relay electrode 41 by using, for example, a dry etching method so that the fourth insulation film 64 is disposed between the second relay electrode 41 and the third insulation film 63. The film 64 is removed by etching.

その結果、図14(c)に示すように、コンタクトホール75及びコンタクトホール75の周囲の第4絶縁膜64上の少なくとも一部を覆う第2の中継電極41が形成される。さらに、コンタクトホール75を覆う第2の中継電極41によって、コンタクトホール75の形状が反映された凹部81が、コンタクトホール75の内側に形成される。
換言すれば、ステップS7は、コンタクトホール75内に第2の中継電極41の凹部81を形成する工程である。
As a result, as shown in FIG. 14C, the second relay electrode 41 covering the contact hole 75 and at least a part of the fourth insulating film 64 around the contact hole 75 is formed. Further, a recess 81 reflecting the shape of the contact hole 75 is formed inside the contact hole 75 by the second relay electrode 41 covering the contact hole 75.
In other words, step S <b> 7 is a step of forming the recess 81 of the second relay electrode 41 in the contact hole 75.

ステップS8では、図14(d)に示すように、例えばプラズマCVD法を用いて酸化シリコン膜を堆積し、第3絶縁膜63の表面及び第2の中継電極41の表面を覆う第5絶縁膜65を形成する。   In step S8, as shown in FIG. 14D, for example, a silicon oxide film is deposited using, for example, a plasma CVD method, and the fifth insulating film covering the surface of the third insulating film 63 and the surface of the second relay electrode 41 is formed. 65 is formed.

ステップS9では、図15(a)に示すように、例えばドライエッチング法を用いて第5絶縁膜65をパターニングし、Y方向に配列された有機EL素子30Rに跨る第5絶縁膜65を形成する。同時に、有機EL素子30Rの第2の中継電極41を露出するコンタクトホール72を形成する。つまり、ステップS9では、有機EL素子30Rのそれぞれに、第5絶縁膜65を貫き第2の中継電極41に至るコンタクトホール72を形成する。   In step S9, as shown in FIG. 15A, the fifth insulating film 65 is patterned using, for example, a dry etching method to form the fifth insulating film 65 straddling the organic EL elements 30R arranged in the Y direction. . At the same time, a contact hole 72 exposing the second relay electrode 41 of the organic EL element 30R is formed. That is, in step S9, a contact hole 72 that penetrates the fifth insulating film 65 and reaches the second relay electrode 41 is formed in each of the organic EL elements 30R.

ステップS10では、図15(b)に示すように、例えばプラズマCVD法を用いて酸化シリコン膜を堆積し、第5絶縁膜65の表面と第3絶縁膜63の表面と第2の中継電極41の表面とを覆う第6絶縁膜66を形成する。   In step S10, as shown in FIG. 15B, a silicon oxide film is deposited by using, for example, a plasma CVD method, the surface of the fifth insulating film 65, the surface of the third insulating film 63, and the second relay electrode 41. A sixth insulating film 66 is formed to cover the surface.

ステップS11では、図15(c)に示すように、例えばドライエッチング法を用いてY方向に配列された有機EL素子30Bの第6絶縁膜66をエッチング除去し、Y方向に配列された有機EL素子30R及びY方向に配列された有機EL素子30Gに跨る第6絶縁膜66を形成する。
同時に、有機EL素子30Rの第2の中継電極41を露出するコンタクトホール72と、有機EL素子30Gの第2の中継電極41を露出するコンタクトホール73とを形成する。
In step S11, as shown in FIG. 15C, the sixth insulating films 66 of the organic EL elements 30B arranged in the Y direction are removed by etching using, for example, a dry etching method, and the organic EL arranged in the Y direction. A sixth insulating film 66 straddling the element 30R and the organic EL element 30G arranged in the Y direction is formed.
At the same time, a contact hole 72 that exposes the second relay electrode 41 of the organic EL element 30R and a contact hole 73 that exposes the second relay electrode 41 of the organic EL element 30G are formed.

ステップS11では、有機EL素子30Rにおいて、ステップS9で形成された第5絶縁膜65を貫くコンタクトホール72と同じ位置に、第6絶縁膜66を貫くコンタクトホール72を形成する。すなわち、ステップS9及びステップS11によって、有機EL素子30Rにおいて、第5絶縁膜65及び第6絶縁膜66を貫き、第2の中継電極41を露出するコンタクトホール72を、第2の中継電極41上であって、凹部81と平面視で重ならない位置に形成する。
よって、ステップS9及びステップS11は、凹部81と平面視で重ならない位置に、コンタクトホール72を有機EL素子30Rに形成する工程である。
In step S11, in the organic EL element 30R, a contact hole 72 that penetrates the sixth insulating film 66 is formed at the same position as the contact hole 72 that penetrates the fifth insulating film 65 formed in step S9. That is, in step S9 and step S11, in the organic EL element 30R, the contact hole 72 that penetrates the fifth insulating film 65 and the sixth insulating film 66 and exposes the second relay electrode 41 is formed on the second relay electrode 41. And it forms in the position which does not overlap with the recessed part 81 by planar view.
Therefore, step S9 and step S11 are steps for forming the contact hole 72 in the organic EL element 30R at a position that does not overlap the recess 81 in plan view.

さらに、ステップS11では、有機EL素子30Gにおいて、コンタクトホール75の周囲の少なくとも一部に配置される第2の中継電極41を露出するコンタクトホール73を、第2の中継電極41上であって、凹部81と平面視で重ならない位置に形成する。
よって、ステップS11は、凹部81と平面視で重ならない位置に、コンタクトホール73を有機EL素子30Gに形成する工程である。
Furthermore, in step S11, in the organic EL element 30G, the contact hole 73 exposing the second relay electrode 41 disposed at least in part around the contact hole 75 is formed on the second relay electrode 41, It is formed at a position that does not overlap with the recess 81 in plan view.
Therefore, step S11 is a process of forming the contact hole 73 in the organic EL element 30G at a position that does not overlap the recess 81 in plan view.

ステップS12では、図15(d)に示すように、例えばスパッタ法を用いてITO膜を堆積し、続いて例えばドライエッチング法を用いてITO膜をパターニングし、画素20R(有機EL素子30R)、画素20G(有機EL素子30G)、及び画素20B(有機EL素子30B)のそれぞれに画素電極31を形成する。   In step S12, as shown in FIG. 15D, an ITO film is deposited by using, for example, a sputtering method, and then the ITO film is patterned by using, for example, a dry etching method to obtain a pixel 20R (organic EL element 30R), A pixel electrode 31 is formed on each of the pixel 20G (organic EL element 30G) and the pixel 20B (organic EL element 30B).

有機EL素子30Rでは、画素電極31は、コンタクトホール72を介して第2の中継電極41に電気的に接続される。コンタクトホール72は第2の中継電極41上であって、凹部81と平面視で重ならない場所に位置するので、コンタクトホール72が凹部81と平面視で重なる場合と比べて、画素電極31が覆う必要がある段差が小さくなり、段差部分における画素電極31の断線や抵抗増などの不具合が生じにくく、画素電極31と第2の中継電極41とを安定して電気的に接続させることができる。   In the organic EL element 30 </ b> R, the pixel electrode 31 is electrically connected to the second relay electrode 41 through the contact hole 72. Since the contact hole 72 is located on the second relay electrode 41 so as not to overlap the recess 81 in plan view, the pixel electrode 31 covers the contact hole 72 compared to the case where the contact hole 72 overlaps the recess 81 in plan view. The necessary step becomes smaller, and problems such as disconnection of the pixel electrode 31 and increased resistance at the step portion are less likely to occur, and the pixel electrode 31 and the second relay electrode 41 can be stably electrically connected.

有機EL素子30Gでは、画素電極31は、コンタクトホール73を介して第2の中継電極41に電気的に接続される。コンタクトホール73は第2の中継電極41上であって、凹部81と平面視で重ならない場所に位置するので、コンタクトホール73が凹部81と平面視で重なる場合と比べて、画素電極31が覆う必要がある段差が小さくなり、段差部分における画素電極31の断線や抵抗増などの不具合が生じにくく、画素電極31と第2の中継電極41とを安定して電気的に接続させることができる。   In the organic EL element 30G, the pixel electrode 31 is electrically connected to the second relay electrode 41 through the contact hole 73. Since the contact hole 73 is located on the second relay electrode 41 and does not overlap with the recess 81 in plan view, the pixel electrode 31 covers the contact hole 73 compared to the case where the contact hole 73 overlaps with the recess 81 in plan view. The necessary step becomes smaller, and problems such as disconnection of the pixel electrode 31 and increased resistance at the step portion are less likely to occur, and the pixel electrode 31 and the second relay electrode 41 can be stably electrically connected.

有機EL素子30Bでは、画素電極31は、第2の中継電極41を覆うように形成されている。つまり、画素電極31は、第2の中継電極41に直接接し、第2の中継電極41に安定して電気的に接続される。   In the organic EL element 30 </ b> B, the pixel electrode 31 is formed so as to cover the second relay electrode 41. That is, the pixel electrode 31 is in direct contact with the second relay electrode 41 and is stably electrically connected to the second relay electrode 41.

以上述べたように、有機EL装置100は、段差部分における画素電極31の断線や抵抗増などの不具合が生じにくく、有機EL素子30の点欠陥やドットムラ(ドット単位の輝度ムラ)が生じにくく、高品位の表示を提供することができる。さらに、有機EL装置100は、有機EL素子30の発光部の面積が大きくなり、有機EL素子30で発せられる光の輝度が高くなり、高輝度の表示を提供することができる。   As described above, the organic EL device 100 is less prone to problems such as disconnection of the pixel electrode 31 and increased resistance in the stepped portion, less likely to have point defects or dot unevenness (brightness unevenness in dot units) of the organic EL element 30, A high-quality display can be provided. Furthermore, the organic EL device 100 can provide a high-luminance display because the area of the light emitting portion of the organic EL element 30 is increased, the luminance of light emitted from the organic EL element 30 is increased.

(実施形態2)
図16は、実施形態2に係るヘッドマウントディスプレイの構成を示す概略図である。
図16に示すように、ヘッドマウントディスプレイ1000は、「電子機器」の一例であり、左右の目に対応して設けられた2つの表示部1001を有している。観察者Mはヘッドマウントディスプレイ1000を眼鏡のように頭部に装着することにより、表示部1001に表示された文字や画像などを見ることができる。例えば、左右の表示部1001に視差を考慮した画像を表示すれば、立体的な映像を見て楽しむこともできる。
(Embodiment 2)
FIG. 16 is a schematic diagram illustrating a configuration of a head mounted display according to the second embodiment.
As illustrated in FIG. 16, the head mounted display 1000 is an example of an “electronic device” and includes two display units 1001 provided corresponding to the left and right eyes. The observer M can see characters and images displayed on the display unit 1001 by wearing the head mounted display 1000 on the head like glasses. For example, if an image in consideration of parallax is displayed on the left and right display units 1001, a stereoscopic video can be viewed and enjoyed.

表示部1001には、上述した有機EL装置100が用いられている。有機EL装置100では、高品位で高輝度の表示を提供することができる。従って、表示部1001に有機EL装置100を搭載することで、高品位で高輝度の表示のヘッドマウントディスプレイ1000を提供することができる。   The display unit 1001 uses the organic EL device 100 described above. The organic EL device 100 can provide a high-quality and high-luminance display. Therefore, by mounting the organic EL device 100 on the display unit 1001, a head-mounted display 1000 with a high-quality and high-luminance display can be provided.

なお、本発明は、上記実施形態のものに必ずしも限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。
具体的には、本発明を適用した電気光学装置としては、上述した発光素子としての有機EL素子30を備えた有機EL装置100に限定されず、例えば無機EL素子やLEDなどの自発光型の発光素子備えた電気光学装置に対して本発明を幅広く適用することが可能である。
In addition, this invention is not necessarily limited to the thing of the said embodiment, A various change can be added in the range which does not deviate from the meaning of this invention.
Specifically, the electro-optical device to which the present invention is applied is not limited to the organic EL device 100 including the organic EL element 30 as the light-emitting element described above, and is, for example, a self-luminous type such as an inorganic EL element or an LED. The present invention can be widely applied to an electro-optical device including a light emitting element.

また、本発明を適用した電子機器としては、上述したヘッドマウントディスプレイ1000に限らず、例えば、ヘッドアップディスプレイや、デジタルカメラの電子ビューファインダー、携帯型情報端末、ナビゲーターなどの表示部に、本発明を適用した電気光学装置を用いた電子機器を挙げることができる。   In addition, the electronic device to which the present invention is applied is not limited to the above-described head mounted display 1000, and the present invention may be applied, for example, to a display unit such as a head-up display, an electronic viewfinder of a digital camera, a portable information terminal, or a navigator. An electronic apparatus using an electro-optical device to which is applied can be given.

10…素子基板、11…基板、12…走査線、14…データ線、6,8,19…電源線、20,20B,20G,20R…画素、21…容量、28…第1の中継電極、29…保護絶縁膜、30,30B,30G,30R…有機EL素子、31…画素電極、32…発光機能層、33…対向電極、35…反射電極、40…埋め込み絶縁膜、41…第2の中継電極、41a…第1のコンタクト部、41b…第2のコンタクト部、50,50B,50G,50R…カラーフィルター層、61…第1絶縁膜、62…第2絶縁膜、63…第3絶縁膜、64…第4絶縁膜、65…第5絶縁膜、66…第6絶縁膜、68…調整層、70…保護基板、71…開口、72…コンタクトホール、73…コンタクトホール、74…第1の溝、75…コンタクトホール、77…第2の溝、81…凹部、100…有機EL装置、101…データ線駆動回路、102…走査線駆動回路、103…外部接続用端子、110…画素回路。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Element substrate, 11 ... Substrate, 12 ... Scanning line, 14 ... Data line, 6, 8, 19 ... Power supply line, 20, 20B, 20G, 20R ... Pixel, 21 ... Capacitor, 28 ... First relay electrode, DESCRIPTION OF SYMBOLS 29 ... Protective insulating film 30, 30B, 30G, 30R ... Organic EL element, 31 ... Pixel electrode, 32 ... Light emitting functional layer, 33 ... Counter electrode, 35 ... Reflective electrode, 40 ... Embedded insulating film, 41 ... Second Relay electrode, 41a ... first contact portion, 41b ... second contact portion, 50, 50B, 50G, 50R ... color filter layer, 61 ... first insulating film, 62 ... second insulating film, 63 ... third insulation Membrane, 64 ... fourth insulating film, 65 ... fifth insulating film, 66 ... sixth insulating film, 68 ... adjustment layer, 70 ... protective substrate, 71 ... opening, 72 ... contact hole, 73 ... contact hole, 74 ... first 1 groove, 75 ... contact hole, 7 ... second groove, 81 ... concave portion, 100 ... organic EL device, 101 ... data line driving circuit, 102 ... scan line driver circuit, 103 ... external connection terminal, 110 ... pixel circuits.

Claims (5)

反射電極と、絶縁層と、光学調整層と、第1の電極と、発光層と、第2の電極と、が順に積層され、
前記反射電極と前記第1の電極とを電気的に接続するコンタクト電極と、
前記絶縁層を貫く第1のコンタクトホールと、
前記光学調整層を貫く第2のコンタクトホールと、
を含み、
前記コンタクト電極は、前記第1のコンタクトホール内及び前記第1のコンタクトホールの周囲の前記絶縁層上の少なくとも一部に位置し、前記第1のコンタクトホール内に凹部を有し、
前記第2のコンタクトホールは、前記コンタクト電極上であって、前記凹部と平面視で重ならない場所に位置することを特徴とする発光素子。
The reflective electrode, the insulating layer, the optical adjustment layer, the first electrode, the light emitting layer, and the second electrode are sequentially stacked.
A contact electrode that electrically connects the reflective electrode and the first electrode;
A first contact hole penetrating the insulating layer;
A second contact hole penetrating the optical adjustment layer;
Including
The contact electrode is located in at least a portion of the first contact hole and on the insulating layer around the first contact hole, and has a recess in the first contact hole;
The light emitting element, wherein the second contact hole is located on the contact electrode and at a location that does not overlap the concave portion in plan view.
前記第1の電極は、第1の辺と、前記第1の辺よりも長い第2の辺と、を有し、
前記第1のコンタクトホール及び前記第2のコンタクトホールは、前記第1の辺に沿った方向に配置されていることを特徴とする請求項1に記載の発光素子。
The first electrode has a first side and a second side longer than the first side,
2. The light emitting device according to claim 1, wherein the first contact hole and the second contact hole are arranged in a direction along the first side.
請求項1または2に記載の発光素子を備えていることを特徴とする電気光学装置。   An electro-optical device comprising the light-emitting element according to claim 1. 請求項3に記載の電気光学装置を備えていることを特徴とする電子機器。   An electronic apparatus comprising the electro-optical device according to claim 3. 反射電極と、絶縁層と、光学調整層と、第1の電極と、発光層と、第2の電極と、が積層され、前記反射電極と前記第1の電極とを電気的に接続するコンタクト電極を含む発光素子の製造方法であって、
前記反射電極上に前記絶縁層を形成する工程と、
前記絶縁層を貫く第1のコンタクトホールを形成する工程と、
前記第1のコンタクトホール内及び前記第1のコンタクトホールの周囲の前記絶縁層上の少なくとも一部に、コンタクト電極を形成する工程と、
前記絶縁層及び前記コンタクト電極上に光学調整層を形成する工程と、
前記光学調整層を貫く第2のコンタクトホールを形成する工程と、
を含み、
前記コンタクト電極を形成する工程では、前記第1のコンタクトホール内に前記コンタクト電極の凹部を形成し、
前記第2のコンタクトホールを形成する工程では、前記第2のコンタクトホールが前記コンタクト電極上であって前記凹部と平面視で重ならない位置に形成することを特徴とする発光素子の製造方法。
A reflection electrode, an insulating layer, an optical adjustment layer, a first electrode, a light emitting layer, and a second electrode are stacked, and the contact electrically connects the reflection electrode and the first electrode. A method of manufacturing a light emitting device including an electrode,
Forming the insulating layer on the reflective electrode;
Forming a first contact hole through the insulating layer;
Forming a contact electrode on at least a part of the insulating layer in the first contact hole and around the first contact hole;
Forming an optical adjustment layer on the insulating layer and the contact electrode;
Forming a second contact hole penetrating the optical adjustment layer;
Including
In the step of forming the contact electrode, a recess of the contact electrode is formed in the first contact hole,
In the step of forming the second contact hole, the second contact hole is formed on the contact electrode at a position that does not overlap the concave portion in plan view.
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