JP6542165B2 - 計算装置及びサンプリング方法 - Google Patents
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Description
なお、図面は模式的または概念的なものであり、各部分の厚みと幅との関係、部分間の大きさの比率などは、必ずしも現実のものと同一とは限らない。また、同じ部分を表す場合であっても、図面により互いの寸法や比率が異なって表される場合もある。
なお、本願明細書と各図において、既出の図に関して前述したものと同様の要素には同一の符号を付して詳細な説明は適宜省略する。
図1に示すように、実施形態に係る計算装置100は、制御部60と、発振器ネットワーク70と、を含む。計算装置100は、例えば、指定された確率分布に対応するサンプルを出力する量子ギブスサンプラー(量子力学を利用したギブスサンプラー)である。
図2に示すように、ステップS101において、制御部60は、統計パラメータと、サンプル数Nsとを取得する。パラメータ入力部61に、統計パラメータ({Ji、j}、{hi}及びβ)と、サンプル数(Ns)と、が入力される。統計パラメータは、サンプリング対象の確率分布(第1確率分布)を指定するパラメータである。統計パラメータの詳細については後述する。サンプル数(Ns)は、後述するサンプリング処理を実施する回数に対応する。
一方、発振器10の損失による緩和の速度に対して、発振器10が発振する時間が短すぎると、発振器10は非平衡定常状態に至ることが難しい。
図4は、複数回のサンプリング動作における、1つの発振器10の発振を例示する概念図である。横軸は時間T1であり、縦軸は振幅A1である。
ビット(0、1)の代わりに±1を取る変数(イジングスピン){si}を用い、イジングモデルと同じ形を用いた。
{hi}は、イジングスピンのそれぞれにおける外場を表す定数である。
{Ji,j}は、イジングスピン同士の相互作用を表す定数である。{Ji,j}は、次式を満たす。
ボルツマン分布とは、各スピン配位の確率を次式で与えるものである。
βは、(ボルツマン定数を1として)温度の逆数であり、逆温度と呼ばれる。
本数値シミュレーションでは、{Ji,j}と{hi}を、−1以上+1以下の一様乱数として、次のように選んだ。
{Ji,j}の値及び{hi}の値を上記以外の値とした場合でも、以下と同様のシミュレーション結果が得られる。
第1項は、発振器10のそれぞれに関する。「K」は、カー効果という非線形効果(上記の非線形性の例)のカー係数である。p(t)は、パラメトリック励起のポンプ振幅である。Δは、パラメトリック励起周波数の半値に対する発振器の共振角周波数の離調である(離調は、発振器10の共振角周波数をω、パラメトリック励起のポンプ周波数をωpとして、Δ=ω−(ωp/2))。第2項には、与えられたボルツマン分布の情報が含まれている。ξ0は、周波数の次元を持つ定数である。
第2項は、損失による緩和を表し、κは、その緩和速度である。
マスター方程式を数値的に解くために、量子トラジェクトリーシミュレーションの手法を用いる。100回のトラジェクトリーの平均によって、各スピン配位の確率を計算する。パラメータの値を次のようにする。「K」の単位を周波数の単位とし、K=1とする。Δ=1、ξ0=0.2、κ=0.01、p(t)=3tanh(−t/500)とする。t=0〜500の範囲において計算を行う。図5は、最終時刻t=500における確率分布を表す。
図8及び図9は、実施形態に係る計算装置の一部を例示する模式図である。
図8は、複数の発振器10のうちの1つ及びその周辺を回路図により模式的に表す。
図8に示すように、発振器10は、第1電磁波印加部11と、第1共振器21と、第1導電部31と、を含む。計算装置100は、第2電磁波印加部12と、第2共振器22と、第2導電部32と、を含む。
例えば、制御部60は、第1電磁波印加部11を流れる外部電流を制御する。これにより、制御部60は、第1共振器21のdc SQUID内の磁束のDC成分を制御して、発振器10の離調Δを制御する。制御部60は、第1共振器21のdc SQUID内の磁束の高周波変調(共振器の共振周波数の約2倍の周波数)によって、パラメトリック励起のポンプ振幅pを制御する。
図9に示すように、計算装置100は、結合共振器150を含む。2つの発振器10は、結合共振器150を介して結合している。
第3共振器23及び第4共振器24は、それぞれ、dc SQUID構造を有する。第3共振器23は、2つのジョセフソン接合J5、J6を有するループ23aを含む超伝導回路である。第4共振器24は、2つのジョセフソン接合J7、J8を有するループ24aを含む超伝導回路である。回路上において、配線部52の一端と接地電位との間に第3共振器23が設けられ、配線部52の他端と接地電位との間に第4共振器24が設けられている。
(構成1)
互いに結合された複数の発振器を含む発振器ネットワークと、
前記発振器ネットワークを制御する制御部と、
を備え、
前記複数の発振器のそれぞれは、非線形エネルギーシフトを有し、
前記制御部は、
前記複数の発振器の発振を停止させる信号を出力する第1動作と、
前記複数の発振器を第1確率分布に関するパラメータに基づいて発振させる信号を出力する第2動作と、
前記複数の発振器において、発振により生じる電磁波の位相を測定する信号を出力する第3動作と、
を含むサンプリング動作を複数回行う計算装置。
(構成2)
前記複数の発振器のそれぞれは、ジョセフソン接合を有する共振器である構成1記載の計算装置。
(構成3)
前記複数の発振器のそれぞれは、前記発振器のパラメータを変調して発振させるパラメータ変調部を含む構成1または2に記載の計算装置。
(構成4)
1回の前記サンプリング動作の時間をTs、前記複数の発振器の1つのうちの平均光子数の前記サンプリング動作の前記時間内における最大値をnmax、前記複数の発振器の前記1つの緩和速度をκ、前記複数の発振器の数をNspinとすると、前記κ、前記Ts、前記nmax及び前記Nspinは、κ>1/(Ts×nmax×Nspin)を満たす構成1〜3のいずれか1つに記載の計算装置。
(構成5)
前記複数の発振器の1つの緩和速度をκとすると、前記κは、前記複数の発振器の前記1つにおける非線形エネルギーシフトをプランク定数で割った値よりも小さい構成1〜4のいずれか1つに記載の計算装置。
(構成6)
前記複数の発振器の1つは、
ジョセフソン接合を有する第1共振器と、
前記第1共振器に電磁波を印加する第1電磁波印加部と、
を含み、
前記制御部は、前記第1電磁波印加部を制御して前記第1共振器の発振を制御する構成1〜5のいずれか1つに記載の計算装置。
(構成7)
前記第1電磁波印加部は、前記第1共振器に含まれるループ内の磁束を変調する構成6記載の計算装置。
(構成8)
前記第1発振器は、前記第1共振器と容量性結合した第1導電部を含み、
前記制御部は、前記第1導電部を伝わる電磁波を制御して前記第1共振器の前記発振を制御する構成6または7に記載の計算装置。
(構成9)
第2導電部と、
ジョセフソン接合を有する第2共振器と、
をさらに備え、
前記第2導電部の一部は、前記第1共振器と結合し、
前記第2共振器は、前記第2導電部の別の一部と電気的に接続された構成6〜8のいずれか1つに記載の計算装置。
(構成10)
前記第2共振器に電磁波を印加する第2電磁波印加部をさらに備え、
前記制御部は、前記第2電磁波印加部を制御して前記複数の発振器の前記1つの緩和速度を制御する構成9記載の計算装置。
(構成11)
配線部を含む結合共振器をさらに備え、
前記複数の発振器の1つと、前記複数の発振器の別の1つとは、前記配線部を介して結合された構成1〜10のいずれか1つに記載の計算装置。
(構成12)
前記結合共振器は、前記配線部の一端と接地電位との間に設けられたジョセフソン接合を有する構成11記載の計算装置。
(構成13)
前記結合共振器は、前記結合共振器に含まれるループ内の磁束を変調する第3電磁波印加部をさらに含み、
前記制御部は、前記第3電磁波印加部を制御して、前記複数の発振器の前記1つと、前記複数の発振器の前記別の1つと、の結合を制御する構成12記載の計算装置。
(構成14)
互いに結合された複数の発振器を含む発振器ネットワークを用いてサンプリング処理を複数回実施するサンプリング方法であって、
前記複数の発振器のそれぞれは、非線形エネルギーシフトを有し、
前記サンプリング処理は、
前記複数の発振器の発振を停止させる初期化処理と、
前記複数の発振器を第1確率分布に関するパラメータに基づいて発振させる発振処理と、
前記複数の発振器において、発振により生じる電磁波の位相を測定する測定処理と、
を含むサンプリング方法。
(構成15)
1回の前記サンプリング処理の時間をTs、前記複数の発振器の1つのうちの平均光子数の前記サンプリング処理の前記時間内における最大値をnmax、前記複数の発振器の前記1つの緩和速度をκ、前記複数の発振器の数をNspinとすると、前記κ、前記Ts、前記nmax及び前記Nspinは、κ>1/(Ts×nmax×Nspin)を満たす構成14記載のサンプリング方法。
(構成16)
前記複数の発振器の1つの緩和速度をκとすると、前記κは、前記複数の発振器の前記1つにおけるカー係数よりも小さい構成14または15に記載のサンプリング方法。
(構成17)
前記複数の発振器の1つは、
ジョセフソン接合を有する第1共振器と、
前記第1共振器に電磁波を印加する第1電磁波印加部と、
を含み、
前記第1電磁波印加部を制御して前記第1共振器の発振を制御する構成14〜16のいずれか1つに記載のサンプリング方法。
(構成18)
第2導電部と、
ジョセフソン接合を有する第2共振器と、
をさらに備え、
前記第2導電部の一部は、前記第1共振器と結合し、
前記第2共振器は、前記第2導電部の別の一部と電気的に接続された構成17記載のサンプリング方法。
(構成19)
前記第2共振器に電磁波を印加する第2電磁波印加部をさらに備え、
前記第2電磁波印加部を制御して前記複数の発振器の前記1つの緩和速度を制御する構成18記載のサンプリング方法。
(構成20)
前記第1確率分布に関する前記パラメータと、前記サンプリング処理を実施する回数と、を取得する処理をさらに備えた構成14〜19のいずれか1つに記載のサンプリング方法。
(構成21)
前記第1確率分布に関する前記パラメータに基づいて、前記複数の発振器の発振に関するパラメータを設定する処理をさらに備え、
前記発振処理は、前記複数の発振器の発振に関する前記パラメータに基づく構成14〜20のいずれか1つに記載のサンプリング方法。
(構成22)
複数回の前記測定処理の測定結果に基づくデータを出力する処理をさらに備えた構成14〜21のいずれか1つに記載のサンプリング方法。
また、各具体例のいずれか2つ以上の要素を技術的に可能な範囲で組み合わせたものも、本発明の要旨を包含する限り本発明の範囲に含まれる。
Claims (12)
- 互いに結合された複数の発振器を含む発振器ネットワークと、
前記発振器ネットワークを制御する制御部と、
を備え、
前記複数の発振器のそれぞれは、非線形エネルギーシフトを有し、
前記制御部は、
前記複数の発振器の発振を停止させる信号を出力する第1動作と、
前記複数の発振器を第1確率分布に関するパラメータに基づいて発振させる信号を出力する第2動作と、
前記複数の発振器において、発振により生じる電磁波の位相を測定する信号を出力する第3動作と、
を含むサンプリング動作を複数回行う計算装置。 - 前記複数の発振器のそれぞれは、ジョセフソン接合を有する共振器である請求項1記載の計算装置。
- 前記複数の発振器のそれぞれは、前記発振器のパラメータを変調して発振させるパラメータ変調部を含む請求項1または2に記載の計算装置。
- 1回の前記サンプリング動作の時間をTs、前記複数の発振器の1つの発振器の平均光子数の前記サンプリング動作の前記時間内における最大値をnmax、前記複数の発振器の前記1つの発振器の緩和速度をκ、前記複数の発振器の数をNspinとすると、前記κ、前記Ts、前記nmax及び前記Nspinは、κ>1/(Ts×nmax×Nspin)を満たす請求項1〜3のいずれか1つに記載の計算装置。
- 前記複数の発振器の1つの発振器の緩和速度をκとすると、前記κは、前記複数の発振器の前記1つの発振器における非線形エネルギーシフトをプランク定数で割った値よりも小さい請求項1〜3のいずれか1つに記載の計算装置。
- 前記複数の発振器の1つの発振器は、
ジョセフソン接合を有する第1共振器と、
前記第1共振器に電磁波を印加する第1電磁波印加部と、
を含み、
前記制御部は、前記第1電磁波印加部を制御して前記第1共振器の発振を制御する請求項1〜3のいずれか1つに記載の計算装置。 - 前記第1電磁波印加部は、前記第1共振器に含まれるループ内の磁束を変調する請求項6記載の計算装置。
- 前記複数の発振器の前記1つの発振器は、前記第1共振器と容量性結合した第1導電部を含み、
前記制御部は、前記第1導電部を伝わる電磁波を制御して前記第1共振器の前記発振を制御する請求項6または7に記載の計算装置。 - 第2導電部と、
ジョセフソン接合を有する第2共振器と、
をさらに備え、
前記第2導電部の一部は、前記第1共振器と結合し、
前記第2共振器は、前記第2導電部の別の一部と電気的に接続された請求項6〜8のいずれか1つに記載の計算装置。 - 前記第2共振器に電磁波を印加する第2電磁波印加部をさらに備え、
前記制御部は、前記第2電磁波印加部を制御して前記複数の発振器の前記1つの発振器の緩和速度を制御する請求項9記載の計算装置。 - 配線部を含む結合共振器をさらに備え、
前記複数の発振器の1つの発振器と、前記複数の発振器の別の1つの発振器と、は、前記配線部を介して結合された請求項1〜3のいずれか1つに記載の計算装置。 - 互いに結合された複数の発振器を含む発振器ネットワークを用いてサンプリング処理を複数回実施するサンプリング方法であって、
前記複数の発振器のそれぞれは、非線形エネルギーシフトを有し、
前記サンプリング処理は、
前記複数の発振器の発振を停止させる初期化処理と、
前記複数の発振器を第1確率分布に関するパラメータに基づいて発振させる発振処理と、
前記複数の発振器において、発振により生じる電磁波の位相を測定する測定処理と、
を含むサンプリング方法。
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