JP6535823B1

JP6535823B1 - マークが本物であるかどうかを判断するための方法およびコンピューティング装置

Info

Publication number: JP6535823B1
Application number: JP2018544333A
Authority: JP
Inventors: フォークト，マティアス; ソボルスキー，マイケル，エル．; アユーブ，ラフィク
Original assignee: シス−テックソリューションズ，インコーポレイテッド
Priority date: 2016-03-14
Filing date: 2017-03-13
Publication date: 2019-06-26
Anticipated expiration: 2037-03-13
Also published as: WO2017160715A1; EP4057206A1; IL261523B; IL261523A; CA3016131A1; BR112018068471A2; CN109074371A; EP3414684A1; CA3016131C; AU2017234124B2; KR20180115339A; EP3414684A4; ZA201805798B; JP2019519823A; RU2682407C1; AU2017234124A1; US10061958B2; KR101978109B1; MX2018011200A; CN109074371B

Abstract

マークが本物であるかどうかを判断するための方法を説明する。様々な実施態様によれば、コンピューティング装置（またはその論理回路）は、候補マーク（例えば、１次元または２次元のバーコード）の画像を（例えば、カメラ、または通信ネットワークを経由して）受信し、その画像を使用して候補マークの特徴の特性の測定を行い、その特徴に対するプロファイルをもたらす。コンピューティング装置は、特徴プロファイルから、シブリング周波数成分であると示されている全ての空間周波数成分を除去する。いくつかの実施形態では、コンピューティング装置は、逆の手順を実行して、シブリング周波数成分であると示されたもの除いて、全ての空間周波数成分を除去する。【選択図】図１

Description

関連出願の相互参照
［0001］本出願は、２０１６年３月１４日に出願された、米国仮特許出願第６２／３０７，９０１号の優先権利益を主張し、参照により本明細書に組み込まれる。

［0002］本開示は、一般に、偽造防止技術に関し、より詳細には、マークが本物であるかどうかを判断するための方法およびコンピューティング装置に関する。

［0003］偽造品は、残念ながら、いろいろな場所で入手可能であり、しばしば見分けることが困難である。偽造者が偽造品を製造する場合、彼らは、典型的には、実際の製品に加えて、ラベルおよびバーコードも複製する。表面的なレベルで、ラベルおよびバーコードは、本物に見え得、スキャンした（例えば、適切な統一商品コードに復号された）場合、有効なデータさえもたらし得る。かかる複製に対抗するために現在、利用可能な多くの技術があるが、これらの解決策の多くは、偽造を阻止するのに役立つ様々なタイプのコード、パターン、マイクロファイバ、マイクロコード、および他の証印の挿入を伴う。かかる技術は、製造業者が追加の機器および材料を使用することを必要とし、製造工程に複雑性な工程を追加する。

［0004］添付の請求項は、本技術の特徴を詳細に記述するが、これらの技術は、それらの目的および利点と共に、付随する図面を併用して、以下の詳細な説明から最も良く理解され得る。

［0005］本開示の様々な実施形態が実装され得るシステムの一例である。［0006］本開示の様々な実施形態が実装され得るシステムの別の例である。［0007］一実施形態によるコンピューティング装置のアーキテクチャを示す。［0008］一実施形態によるマークの一例を示す。［0009］一実施形態による、１つまたは複数のコンピューティング装置によって実行されるプロセスのフローチャートでよる。［0010］別の実施形態による、１つまたは複数のコンピューティング装置によって実行されるプロセスのフローチャートである。［0011］一実施形態による、コンピューティング装置が投影平均ピクセル値をどのように計算するかの一例を示す。［0012］別の実施形態によるマークの一例を示す。［0013］一実施形態による、コンピューティング装置が投影平均ピクセル値をどのように計算するかの別の例を示す。［0014］一実施形態によるエッジのプロファイルのプロットの一例を示す。［0015］一実施形態による、コンピューティング装置が帯域通過フィルタを適用した後の図１０のエッジプロファイルの一例を示す。［0016］一実施形態による、真正、真正の４つのシブリング（ｓｉｂｌｉｎｇ）、および多数の偽造品を含む、マークの典型的なセットの間で測定されたそれぞれの類似度を示す。［0017］本開示の様々な実施形態が実装され得るシステムの一例である。［0018］一実施形態による、１つまたは複数のコンピューティング装置によって実行されるプロセスのフローチャートである。［0019］本開示の様々な実施形態が実装され得るシステムの別の例である。［0020］一実施形態に従い、１つまたは複数のコンピューティング装置によって実行されるプロセスのフローチャートである。［0021］一実施形態によるコンピューティング装置のアーキテクチャを示す。［0022］一実施形態によるマークの一例を示す。［0023］別の実施形態によるマークの一例を示す。［0024］一実施形態による、コンピューティング装置がどのように測定基準のセットをソートして、測定基準のサブセットの位置識別子を選択するかの一例を示す。［0025］一実施形態による、コンピューティング装置が測定基準の複数のサブセットに対応する位置識別子からハッシュ識別子ブロックをどのように形成するかの一例を示す。［0026］一実施形態において、コンピューティング装置がどのように２つのハッシュ識別子ブロックを比較して、比較の結果に得点を付けるかの一例を示す。［0027］一実施形態において、コンピューティング装置がどのように複数のハッシュ識別子ブロックを全体的なハッシュ識別子に統合するかの一例を示す。［0028］一実施形態において、コンピューティング装置が所与の特性（または特性に対する測定基準の所与のセット）に対する自己相関値の２つのセットの間の相関の程度を、その特性または測定基準のセットに対する一致スコアに変換するために実行するプロセスを示す。［0029］一実施形態において、コンピューティング装置によって生成されるべき級数（ｐｏｗｅｒｓｅｒｉｅｓ）の例を示す。［0030］一実施形態において、コンピューティング装置がマークに対して電子シグネチャをどのように生成するかの一例を示す。［0031］一実施形態による、候補の類似度一致対真正シグネチャを示す。［0032］一実施形態による、シブリングシグネチャ（ｓｉｂｌｉｎｇｓｉｇｎａｔｕｒｅ）を示す。［0033］一実施形態による、シブリングマークが相互にどのように相関するかを示す。［0034］一実施形態による、非シブリングで、関係のないシグネチャの相関を示す。［0035］一実施形態による、反シブリングシグネチャの相関を示す。［0036］一実施形態において、データベースを（例えば、二分木を介して）探索するためのシブリングおよび／または反シブリングシグネチャの使用を示す。［0037］一実施形態による、類似度スコアを示す。［0038］５つのさらに小さいクラスタに処理された図３６の単一のクラスタデータを示す。［0039］一実施形態による、一致スコアの別の例を示す。［0040］様々な実施形態に従った、空間周波数スペクトル相関プロファイルの例を示す。

［0041］本開示は、一般に、マークが本物であるかどうかを判断するための方法およびコンピューティング装置を対象にする。様々な実施形態によれば、コンピューティング装置（またはその論理回路）は、候補マーク（例えば、１次元または２次元のバーコード）の画像を（例えば、カメラで、または通信ネットワークを経由して）受信し、その画像を使用して候補マークの特徴（エッジ、セル、バー、サブエリア、空白エリア、またはアーチファクト）の特性の測定（例えば、直線性、色、または最良適合グリッドからの逸脱）を行い、その特徴に対するプロファイルをもたらす。コンピューティング装置は、特徴プロファイルから、シブリング周波数成分であると示されている全ての空間周波数成分を除去する。いくつかの実施形態では、コンピューティング装置は、逆の手順を実行して、シブリング周波数成分であると示されたもの除いて、全ての空間周波数成分を除去する。

［0042］一実施形態では、コンピューティング装置が測定する特徴は、マークのエッジであり、コンピューティング装置が測定するエッジの特性は、その投影平均ピクセル値である。例えば、コンピューティング装置は、投影平均ピクセル値がエッジ（例えば、バーコードの１つまたは複数のエッジに沿って）を含む候補マークの一部内であると判断することができ、エッジに対するプロファイルをもたらす。コンピューティング装置は、様々なフィルタリング技術を使用し得る。

［0043］例えば、コンピューティング装置は、エッジプロファイルから、（例えば、帯域通過フィルタを適用することにより）空間周波数成分の第１の帯域を除いて全ての空間周波数成分を除去することができ、そのエッジに対する第１のフィルタ処理プロファイルをもたらす。コンピューティング装置は、次いで、（例えば、第２の帯域通過フィルタを元のエッジプロファイルに適用することにより）空間周波数成分の第２の帯域に対してこのフィルタリングプロセスを繰り返すことができ、そのエッジに対する第２のフィルタ処理プロファイルをもたらし、このフィルタリングプロセスをさらなる空間周波数帯域に対して繰り返すことができる。コンピューティング装置は、候補マークの第１のフィルタ処理プロファイルを、真正マークのものに相当する第１のフィルタ処理プロファイル（例えば、コンピューティング装置が、同じ帯域通過フィルタを真正マークの同じエッジの第１のプロファイルに適用して取得したフィルタ処理プロファイル）と比較する。コンピューティング装置は、候補マークの第２のフィルタ処理プロファイルも、真正マークの相当する第２のフィルタ処理プロファイルと比較する。コンピューティング装置は、これらの比較に基づいて候補マークが本物であるかどうかを判断する。

［0044］一実施形態では、コンピューティング装置が、候補マークのフィルタ処理プロファイルと真正マークのフィルタ処理プロファイルとの間で行う各比較に対して、コンピューティング装置は、相関スコアを割り当てる。（候補マークおよび真正マークの）特徴プロファイルに適用された帯域通過フィルタを相関スコアにマッピングする（例えば、比較されているフィルタ処理プロファイルを作成するために適用された帯域通過フィルタに対する各相関スコアをプロットする）ことにより、コンピューティング装置は、空間周波数スペクトル相関プロファイルを作成する。コンピューティング装置は、空間周波数スペクトル相関プロファイルのその分析に基づいて候補マークが本物であるかどうかを判断する。

［0045］様々な実施形態によれば、コンピューティング装置は、候補マークのオリジンを識別するために、空間周波数スペクトル相関プロファイルの下位部分だけを分析する。例えば、コンピューティング装置は、候補マークが真正マークの写真複写であるかどうかを判断するために、空間周波数スペクトル相関プロファイルの低位側（例えば、下位の４）帯域に重点を置くことができる。

［0046］様々な実施形態によれば、コンピューティング装置（またはその論理回路）は、真正マーク内の非意図的に生成されたアーチファクトを使用して識別可能な電子シグネチャ（以下、単に「シグネチャ」ともいう）を定義し、多数の真正シグネチャを探索して候補マークのシグネチャと比較できる容易さおよび速度を向上させるために、シグネチャのある特徴を抽出する。

［0047］一実施形態によれば、コンピューティング装置は、候補マークを捉えた画像を受信し、当該捉えた画像を使用して、候補マークの複数の位置における候補マークの特性を測定し、その特性に対する測定基準のセット（いくつかの場合には、測定基準の複数のセット）をもたらす。コンピューティング装置は、測定基準のセットに基づいて、候補マークに対するシグネチャを生成する。コンピューティング装置は、特性を測定した位置のサブセットに対応する位置識別子（例えば、最も高い測定値を生じた位置のラスター索引番号）を使用して、ハッシュ識別子（「ＨＩＤ」）を導出する。コンピューティング装置は、候補マークのＨＩＤの、真正マークの以前に導出されて格納されたＨＩＤに対する比較に基づいて、それぞれのＨＩＤが相互にぴったりと一致するかどうかを判断する。コンピューティング装置が、（所定の閾値に従って）候補マークのＨＩＤが真正マークのＨＩＤとぴったりと一致すると判断すると、コンピューティング装置は、真正マークのシグネチャをメディア記憶装置（真正マークのシグネチャは、真正マークのアーチファクトに関するデータを含む）から取得して、候補マークのシグネチャを取得した真正マークのシグネチャと比較する。

［0048］別の実施形態では、コンピューティング装置（またはその論理回路）は、真正マークをとらえた画像を受信し、当該とらえた画像を使用して候補マークの特性を測定し、その特性に対する測定基準のセット（いくつかの場合には、測定基準の複数のセット）をもたらす。コンピューティング装置は、測定基準のセットに基づいて、真正マークに対するシグネチャを生成する。コンピューティング装置は、特性を測定した位置のサブセットに対応する位置識別子（例えば、最も高い測定値を生じた位置のラスター索引番号）を使用して、シグネチャからＨＩＤを導出し、そのＨＩＤをシグネチャと関連づけてメディア記憶装置内に格納する。一実施形態では、コンピューティング装置は、ＨＩＤおよびシグネチャを、コンピューティング装置が後でＨＩＤを使用して（または真正マークのシグネチャのＨＩＤとぴったりと一致し得る未知のＨＩＤを使用して）データベースに問い合わせを行うことができるような方法で、データベース内に格納する。

［0049］様々な実施形態によれば、候補マークのＨＩＤは、複数の真正マークのＨＩＤとぴったりと一致し得る。しかし、候補マークのＨＩＤを真正マークのＨＩＤと比較することは、あまり計算集約的でなく、実際のシグネチャを比較することよりもあまりメモリを使用しない。従って、ＨＩＤを使用して真正マークの既知のシグネチャのセットを最初に通過させることにより、コンピューティング装置または論理回路は、比較する必要のある実際のシグネチャの数を著しく削減できる。

［0050］本開示は、しばしば「マーク」に言及する。本明細書では、「マーク」は、物理的対象に意図的に付けられる可視インジケータである。マークは、ブランドを識別するもの（例えば、ロゴ）、バーコード（例えば、国際標準化機構（「ＩＳＯ」）および国際電気標準会議（「ＩＥＣ」）標準ＩＳＯ／ＩＥＣ１６０２２で指定されたような２次元（「２Ｄ」）バーコード）、満了日、もしくはシリアル番号などの、追跡情報）などの、情報を有するもの、または装飾であってもよい。マークは、必ずしも肉眼で可視ではないが、電磁スペクトルのある部分で可視である。マークの「特徴」は、（補助されたか、または補助なしの目のいずれかに対して）可視であるマークに関するものである。特徴の「特性」は、その直線性、色、または最良適合グリッドからの偏差などの、特徴の何らかの測定可能な態様である。

［0051］「プロファイル」は、特徴の１つまたは複数の特性の測定値のセットである。様々な実施形態では、本明細書で説明する１つまたは複数のコンピューティング装置は、マークが本物であるか否かを判断するために、１つまたは複数のプロファイルを使用し得る。次に、エッジプロファイル、セルプロファイル、サブエリアプロファイル、およびアーチファクトプロファイル、というようなプロファイルのタイプの包括的でないリストを示す。

［0052］用語「アーチファクト」は本明細書では、マシンによって作製されたマークまたはそのマークを作成したプロセスの特徴であるが、設計または意図によるものではない（すなわち、ばらつき）。アーチファクトは、測定可能な特性を有し得る。マークのアーチファクトは、マークの意図する境界の外側で生じ得る。アーチファクトおよびそれらの測定可能な特性の例は：（ａ）サブエリア（例えば、２Ｄバーコードのセル）の平均的な色におけるマーク内から導出された平均（同じ公称色の隣接するセルに対する平均であってもよい）からの偏差、（ｂ）隣接したサブエリアの最良適合グリッドに対するサブエリアの位置におけるバイアス、（ｃ）セルの公称色からの少なくとも２つの色が異なるエリア、（ｄ）マーク内の連続したエッジの公称形状からの偏差、および（ｅ）無関係なマークまたは白抜け（ｖｏｉｄ）などの、印刷されているマークに起因する不完全性または他の変形、を含む。いくつかの実施形態では、アーチファクトは、制御可能に再現可能ではない。

［0053］用語「論理回路」は本明細書では、数理論理学に関して定義された複素関数を実行するように設計された回路（電子ハードウェアの一種）を意味する。論理回路の例は、マイクロプロセッサ、コントローラ、または特定用途向け集積回路を含む。本開示が動作を実行しているコンピューティング装置に言及する場合、これは、コンピューティング装置と統合された論理回路が、実際に、動作を実行していることも意味できることが理解される。

［0054］用語「モバイル通信装置」は本明細書では、セルラーネットワークまたはＷｉＦｉネットワークなどの無線ネットワークを通して情報を送受信可能な通信装置である。モバイル通信装置の例は、携帯電話（例えば、スマートフォン）、タブレットコンピュータ、および無線通信機能を有する携帯型スキャナを含む。

［0055］用語「空間周波数」は本明細書では、ピクセル色（例えば、グレースケール色）におけるある距離にわたる変動の周期性を指す。空間周波数の単位は、直線距離の単位あたりのピクセルである。便宜的な参照のために、空間周波数は、本明細書では、波長を単位（例えば、ピクセルグレースケール変動における隣接するピーク間の距離）としても表現され得る。例えば、波長が０．３ミリメートル〜３ミリメートルの間である成分だけを許可するために帯域通過フィルタを適用することは、空間周波数が３．３３ピクセル／ミリメートル〜０．３３ピクセル／ミリメートルである成分だけを許可するために帯域通過フィルタを適用することに等しい。従って、用語「空間周波数帯域」が本明細書で使用される場合、空間波長の範囲を含み得る。

［0056］用語「ぴったりと一致する（ｃｌｏｓｅｌｙｍａｔｃｈ）」、「ぴったりと一致している（ｃｌｏｓｅｌｙｍａｔｃｈｉｎｇ）」および「ぴったりと一致した（ｃｌｏｓｅｌｙｍａｔｃｈｅｄ）」は、本明細書では、所定の閾値に達するか、または上回る値の間で類似性をもたらす値（例えば、２つのハッシュ識別子）の間の比較に基づいて行われた判断の結果を指す。例えば、所定の閾値が２０パーセントの場合、１つのハッシュ識別子の構成部分の２０パーセント以上（例えば、構成するハッシュ識別子ブロックの２０パーセント以上）が、値において、他のハッシュ識別子の構成部分の２０パーセント以上に等しいければ、２つのハッシュ識別子は、「ぴったりと一致する」、「ぴったりと一致している」または「ぴったりと一致した」と言われ得る。

［0057］用語「位置識別子」は本明細書では、マーク内の位置にマッピングする数値を指す。位置識別子とマーク内の位置との間のマッピング関係は、１対１であり得る。マーク内の位置と１対１のマッピング関係を有する位置識別子の一例はラスター索引番号である。

［0058］用語「クラスタ化」は本明細書では、コンピューティング装置が、同じグループ（「クラスタ」）内のシグネチャが他のクラスタ内のものよりも相互に（何らかの少なくとも１つの基準により）類似するような方法で、シグネチャのセット（またはかかるシグネチャから導出されたデータ−例えば、シグネチャのＨＩＤ）をグループ分けするタスクを実行していることを指す。コンピューティング装置は、「スーパークラスタ」を作成するためにクラスタのセットについてクラスタ化操作を実行し得る。シグネチャのクラスタおよびスーパークラスタは、１つまたは複数のメディア記憶装置内に格納されて、データベースプログラムを介してアクセスされ得る。

［0059］図１を参照すると、マーク付け装置１００は、真正マーク１０２（「マーク１０２」）を正規の物理的対象１０４（「対象１０４」）に付ける。いくつかの実施形態では、対象１０４は、衣類、ハンドバッグ、またはファッションアクセサリなどの、製品である。他の実施形態では、対象１０４は、バーコードラベルなどの、ラベルまたは他の物理的対象のための包装である。マーク１０２は、ブランドを識別する何か（例えば、ロゴ）、情報を有するもの（例えば、バーコード）、または装飾であり得る。マーク付け装置１００の考えられる実施形態は、プリンタ（例えば、レーザーまたは感熱式プリンタ）、エッチング装置、彫刻（ｅｎｇｒａｖｉｎｇ）装置、型付け（ｍｏｌｄ−ａｐｐｌｙｉｎｇ）装置、焼印装置、縫付け装置、および熱転写装置を含む。マーク付け装置１００は、例えば、マーク１０２を対象１０４に印刷する、エッチングする、彫刻する、形作る、焼印を押す、縫い付ける、または熱転写することによって、マーク１０２を付ける。マーク１０２は１つまたは複数のアーチファクトを含む。いくつかの実施形態では、マーク１０２は、微細パターンなどの、意図的に生成された偽造防止特徴も含む。

［0060］マーク１０２が付けられた後、第１の画像捕捉装置１０６（例えば、カメラ、機械視覚装置、またはスキャナ）が、マーク１０２の画像を捕捉する。第１の画像捕捉装置１０６がマーク１０２の画像を捕捉する状況は、その画像が、実際に、真正マーク１０２のものであることの合理的保証があるように、制御される。例えば、マーク付け装置１００のマーク１０２付けと、第１の画像捕捉装置１０６のマーク１０２の画像取得との間の時間間隔は短くてもよく、第１の画像捕捉装置１０６は、包装ラインに沿ってマーク付け装置１００の次に物理的に配置されてもよい。従って、用語「真正マーク」が使用される場合、それは、正規の供給源においてマーク付け装置によって付けられた（すなわち、違法にまたはこっそりと複製されていない）マークを指す。

［0061］第１の画像捕捉装置１０６は捕捉した画像を第１のコンピューティング装置１０８に送信する。第１のコンピューティング装置１０８の考えられる実施形態は、デスクトップコンピュータ、ラックマウント式サーバー、ラップトップコンピュータ、タブレットコンピュータ、およびモバイル通信装置を含む。いくつかの実施形態では、第１の画像捕捉装置１０６は、第１のコンピューティング装置１０８と統合され、その場合、第１の画像捕捉装置１０６は、捕捉した画像を第１のコンピューティング装置１０８の論理回路に送信する。第１のコンピューティング装置１０８またはその中の論理回路は、捕捉画像を受信して、その捕捉画像を第２のコンピューティング装置１１０に送信する。第２のコンピューティング装置１１０の考えられる実施形態は、第１のコンピューティング装置１０８に対してリストした装置の全てを含む。

［0062］捕捉画像を受信すると、第２のコンピューティング装置１１０は、真正マーク１０２の１つまたは複数の特徴の１つまたは複数のフィルタ処理プロファイルを生成する。第２のコンピューティング装置が一実施形態においてこのタスクを実行する際に実行し得る動作は、以下でさらに詳細に説明する、図５に示すものである。第２のコンピューティング装置１１０は、フィルタ処理プロファイルをメディア記憶装置１１２内に格納する。

［0063］一実施形態によれば、真正マークの捕捉画像は、フィルタ処理プロファイルを生成するために使用される前に、融合画像の一部になる。例えば、第１の画像捕捉装置１０６が真正マークの複数（２または３）の画像を捕捉し、捕捉画像を第１のコンピューティング装置１０８に送信すると仮定する。第１のコンピューティング装置１０８は、その画像を（例えば、それらを一緒に平均化することにより）単一の画像（「融合画像」）に融合し、その融合画像を第２のコンピューティング装置１１０に送信する。第２のコンピューティング装置１１０は次いで、融合画像を使用し、本明細書で説明する技術の１つまたは複数を採用することにより、真正マーク１０２の１つまたは複数の特徴の１つまたは複数のフィルタ処理プロファイルを生成する。代替として、第１のコンピューティング装置１０８は、複数の捕捉画像を第２のコンピューティング装置１１０に送信でき、次いで第２のコンピューティング装置は画像を融合でき（結果として生じた融合画像に基づき１つまたは複数のフィルタ処理プロファイルを生成でき）る。

［0064］引き続き図１を参照すると、正規の物理的対象１０４のこともあれば、そうでないこともある、未検証の物理的対象１１４（以下、単に「未検証の対象１１４」ともいう）は、それが偽物でも、違法でもないことを確実にするために検査する必要がある。未検証の対象１１４の考えられる実施形態は、正規の物理的対象１０４のものと同じである。未検証の対象１１４上にあるのが候補マーク１１６である。候補マーク１１６の考えられる実施形態は、真正マーク１０２のものと同じである。第２の画像捕捉装置１１８（例えば、カメラ、機械視覚装置、またはスキャナ）が、候補マーク１１６の画像を捕捉し、その画像を第３のコンピューティング装置１２０に送信する。第１の画像捕捉装置１０６および第１のコンピューティング装置１０８と同様に、第２の画像捕捉装置１１８は第３のコンピューティング装置１２０の一部であってもよく、候補マーク１１６の捕捉画像の送信は内部（すなわち、第２の画像捕捉装置１１８から第３のコンピューティング装置１２０の論理回路へ）であってもよい。第３のコンピューティング装置１２０（またはその中の論理回路）は捕捉画像を受信し、捕捉画像を第２のコンピューティング装置１１０に送信する。

［0065］一実施形態によれば、候補マークの捕捉画像は、フィルタ処理プロファイルを生成するために使用される前に、融合画像の一部になる。これは、真正マーク１０２の捕捉画像に関して前述したのと同じ方法で達成され得る。

［0066］捕捉画像を受信すると、第２のコンピューティング装置１１０は、候補マーク１１６の１つまたは複数の特徴の１つまたは複数のフィルタ処理プロファイルを生成する。第２のコンピューティング装置が一実施形態においてこのタスクを実行する際に実行し得る動作は、以下でさらに詳細に説明する、図６に示すものである。

［0067］図２を参照して、別の実施形態において使用され得るシステムの一例が説明される。梱包施設２００に配置されているのは、ラベルプリンタ２０２、ラベル付け装置２０４、包装ライン２０６、画像捕捉装置２０８、および第１のコンピューティング装置２１０である。ラベルプリンタ２０２は、真正マーク２１２（「マーク２１２」）を含む、真正マークを、ラベル巻取紙（ｌａｂｅｌｗｅｂ）２１４上で運ばれるいくつかのラベルに付ける。真正マークの考えられる実施形態は、１次元（「１Ｄ」）バーコードおよび２Ｄバーコードを含む。ラベル付け装置２０４は、ラベル（図２の個別に示すラベル２１６および２１８を含む）を正規の物理的対象に付け、そのうちの２つが符号２２０および２２２（「第１の対象２２０」および「第２の対象２２２」）で図２に示されている。図２は、物理的対象を箱（例えば、製品を含んでいる箱）であるとして示しているが、対象は箱または容器である必要はない。正規の物理的対象の考えられる実施形態は、図１の対象１０４に対して以前にリストしたものを含む。

［0068］画像捕捉装置２０８は、マーク２１２の画像を捕捉し、捕捉した画像を第１のコンピューティング装置２１０に送信する。第１のコンピューティング装置２１０は、捕捉画像を受信し、通信ネットワーク２２６（以下、単に「ネットワーク２２６」ともいう）を介してその捕捉画像を第２のコンピューティング装置２２４に送信する。ネットワーク２２６の考えられる実施形態は、ローカルエリアネットワーク、ワイドエリアネットワーク、公衆ネットワーク、プライベートネットワーク、およびインターネットを含む。ネットワーク２２６は有線、無線、またはそれらの組合せであり得る。

［0069］捕捉画像を受信すると、第２のコンピューティング装置２２４は、真正マーク２１２の１つまたは複数の特徴の１つまたは複数のフィルタ処理プロファイルを生成する。第２のコンピューティング装置２２４が一実施形態においてこのタスクを実行する際に実行し得る動作は、以下でさらに詳細に説明する、図５に示すものである。第２のコンピューティング装置２２４は、フィルタ処理プロファイルをメディア記憶装置２２８内に格納する。

［0070］引き続き図２を参照すると、梱包施設２００から流通ポイント（例えば、店頭）までの流通チェーン内のあるポイントにおいて、ユーザー２３０（例えば、販売員または法執行者（ｌａｗｅｎｆｏｒｃｅｍｅｎｔｗｏｒｋｅｒ））は、候補マーク２３６を持つ未検証のラベル２３４を有する未検証の物理的対象２３２（以下、単に「未検証の対象２３２」ともいう）を扱う。未検証の対象２３２上の証印または候補マーク２３６内にコード化された情報は、未検証の対象２３２が、梱包施設２００（または梱包施設２００が包装ライン２０６上でオリジナルの対象を扱っている会社）などの、正規の供給源に由来すると示唆し得る。このシナリオでは、ユーザー２３０は、未検証の対象２３２が、偽物または違法であるかどうかを判断したいと考えているものとする。

［0071］ユーザー２３０は、図２では、スマートフォンとして示されている、第３のコンピューティング装置２３８上でアプリケーションを開始する。第３のコンピューティング装置２３８は、アプリケーションの制御下で（および、多分、ユーザー２３０からの追加の入力に応答して）、候補マーク２３６の画像を（例えば、図３に示す、カメラ３１４を使用して）捕捉する。第３のコンピューティング装置２３８は、候補マーク２３６内の明示的なデータ（例えば、バーコードが付けられている製品の識別を示す、バーコード内のデータ）を復号し、ネットワーク２２６を介して捕捉画像を第２のコンピューティング装置２２４に送信する。

［0072］捕捉画像を受信すると、第２のコンピューティング装置２２４は、候補マーク２３６の１つまたは複数の特徴の１つまたは複数のフィルタ処理プロファイルを生成する。第２のコンピューティング装置２２４が一実施形態においてこのタスクを実行する際に実行し得る動作は、以下でさらに詳細に説明する、図６に示すものである。

［0073］一実施形態では、図１のコンピューティング装置１０８、１１０、および１２０の１つまたは複数ならびに図２のコンピューティング装置２１０、２２４、および２３８の１つまたは複数は、図３に示す一般的なアーキテクチャを有する。図３に示す装置は、論理回路３０２、一次メモリ３０４（例えば、揮発性メモリ、ランダムアクセスメモリ）、二次メモリ３０６（例えば、不揮発性メモリ）、ユーザー入力装置３０８（例えば、キーボード、マウス、またはタッチスクリーン）、ディスプレイ３１０（例えば、有機、発光ダイオードディスプレイ）、およびネットワークインタフェース３１２（有線または無線であり得る）を含む。メモリ３０４および３０６は、命令およびデータを格納する。論理回路３０２は、命令を実行し、データを使用して、いくつかの実施形態における、本明細書で説明する方法（例えば、コンピューティング装置によって実行されると言われる手順を含む）を含む、様々な手順を実行する。コンピューティング装置の一部は、カメラ３１４（例えば、第３のコンピューティング装置２３８、特に、モバイル通信装置として実装される場合）も含み得る。

［0074］一実施形態では、真正マーク（図２の真正マーク２１２など）は、本明細書で「サブエリア」と呼ばれるいくつかの特徴で構成されている。サブエリアは、ＩＳＯ／ＩＥＣ１５４１５に従って「セル（ｃｅｌｌ）」に対応してもよく、均一なサイズであってもよい。本明細書で説明する概念の一部の説明を助けるために、図４に注目すると、第１のサブエリア４５０、第２のサブエリア４５２、第３のサブエリア４５４、および第４のサブエリア４５６を有するマーク４００が例示されている。第１のサブエリア４５０の特性はその平均着色であり、それをコンピューティング装置が測定して、他のサブエリアのそれから著しく（例えば、所定の閾値を上回る程度まで）逸脱していると判断することができる。第２のサブエリア４５２の特性は、その最良適合グリッド４５８からのそのオフセットである。コンピューティング装置は、この逸脱を測定して、逸脱の量が他のサブエリアのそれよりも著しく高いと判断することができる。第３のサブエリア４５４の特性は、白抜けの発生である。コンピューティング装置は、白抜けの発生率を測定して、第３のサブエリア４５４が他のサブエリアよりも著しく高い白抜けの発生率を含むと判断することができる。最後に、第４のサブエリア４５６で見られる特徴は、エッジ４６０である。エッジ４６０の特性は、その直線性である。コンピューティング装置は、この直線性を測定して、直線性が他のサブエリアのエッジよりも著しく少ないと判断することができる。

［0075］図５を参照すると、第２のコンピューティング装置１１０または第２のコンピューティング装置２２４が一実施形態において実行する手順の一例が説明されている。ブロック５０２で、コンピューティング装置は、真正マークの画像を受信する。ブロック５０４で、コンピューティング装置は、受信した画像を使用して真正マークの特徴の測定を行い、測定値のセットをもたらす。その特性が測定されている特徴がアーチファクトである場合、測定値のセットはその結果として、アーチファクトに関するデータを含む。測定値のセットは、コンピューティング装置が真正マークに関して生成する測定値のいくつかのセットのうちの１つであってもよい。コンピューティング装置は、真正マーク上の異なる位置で測定を実行してもよい。それを行う際に、コンピューティング装置は、マークを複数のサブエリアに（例えば、業界標準に従って）分割することができる。一実施形態では、マークが２Ｄバーコードである場合、コンピューティング装置は、マークのサブエリアの総数の全部またはサブセット（例えば、セルの総数の全部またはサブセット）に関して測定を実行する。

［0076］コンピューティング装置が測定し得る真正マークの特徴の例は、エッジ、バー、バーの間のエリア、無関係なマーク、領域、セル、およびサブエリアを含む。コンピューティング装置が測定し得る特徴の特性の例は、形状、アスペクト比、位置、サイズ、コントラスト、不連続の広がり（ｐｒｅｖａｌｅｎｃｅｏｆｄｉｓｃｏｎｔｉｎｕｉｔｉｅｓ）、色（例えば、明度、色相、または両方）、着色、およびコントラスト変化を含む。いくつかの実施形態では、コンピューティング装置は、マークごとに同じ特徴に関して同じ特性の測定を行うが、異なる特性に対しては異なる特徴に関して測定を行う。例えば、コンピューティング装置は、マークのサブエリアの第１のセットに関して、および次のマークに対してサブエリアのその同じ第１のセットに関して平均着色を測定し得るが、そのマークおよび次のマークに関してサブエリアの第２のセットに関してはエッジ直線性を測定してもよい。（異なる特徴に対する）サブエリアの２つのセットは、両方のセットに共通していない少なくとも１つのサブエリアがある場合、「異なる」と言うことができる。例えば、コンピューティング装置は（マークのサブエリアの全部またはサブセットに対して）、（１）マークのサブエリアの一部または全部（例えば、セルの全部または一部）の平均着色、（２）サブエリアの位置における最良適合グリッドからの偏差、（３）ストレイマークまたは白抜けの広がり、および（４）サブエリアの１つまたは複数のエッジの直線性、を測定してもよい。

［0077］ブロック５０６で、コンピューティング装置は、特徴に対するプロファイルを測定値に基づいて作成する。ブロック５０８で、コンピューティング装置は、特徴に対する第１のフィルタ処理プロファイルを作成する。例えば、コンピューティング装置は、第１の帯域通過フィルタをプロファイルに適用する。ブロック５１０で、コンピューティング装置は、特徴に対する第２のフィルタ処理プロファイルを作成する。例えば、コンピューティング装置は、第２の帯域通過フィルタをプロファイルに適用する。ブロック５１２で、コンピューティング装置は、第１および第２のフィルタ処理プロファイルを（例えば、メディア記憶装置１１２またはメディア記憶装置２２８に）格納する。

［0078］一実施形態では、コンピューティング装置（第２のコンピューティング装置１１０または第２のコンピューティング装置２２４など）は、各ピクセルのピクセル値（例えば、グレースケール値）を、マークの一部の内側から始まり、マークのエッジを越えて延出している線に沿って測定し、測定したピクセルの全部の平均（「投影平均ピクセル値」と呼ぶ）を計算する。

［0079］図６を参照すると、第２のコンピューティング装置１１０または第２のコンピューティング装置２２４が一実施形態において実行する手順の一例が説明されている。ブロック６０２で、コンピューティング装置は、候補マークの画像を受信する。ブロック６０４で、コンピューティング装置は、受信した画像を使用して候補マークの特徴の測定を行う。ブロック６０６で、コンピューティング装置は、特徴に対するプロファイルを測定値に基づいて作成する。ブロック６０８で、コンピューティング装置は、特徴に対する第１のフィルタ処理プロファイルを作成する。ブロック６１０で、コンピューティング装置は、特徴に対する第２のフィルタ処理プロファイルを作成する。コンピューティング装置は、真正マークに関して前述した（例えば、ブロック５０６、５０８、および５１０）のと同じ方法で、候補マークの画像を使用して、ブロック６０６、６０８、および６１０を実行し得る。ブロック６１２で、コンピューティング装置は、第１および第２のフィルタ処理プロファイルを真正マークの相当する第１および第２のプロファイル（例えば、真正マークの第１および第２のプロファイルをメディア記憶装置から取得する）と比較する。当該比較に基づいて、コンピューティング装置は、ブロック６１４で、候補マークが本物であるかどうかを判断する。候補マークは本物ではないとコンピューティング装置が判断すると、（ブロック６１６で）コンピューティング装置は、候補マークが検証できないことを示す（例えば、メッセージを第３のコンピューティング装置１１０に送信することによって、第３のコンピューティング装置１１０はそれをユーザーに表示する）。候補マークは本物であるとコンピューティング装置が判断すると、（ブロック６１８で）候補マークが検証されていることをコンピューティング装置は示す（例えば、メッセージを第３のコンピューティング装置１１０に送信することによって、第３のコンピューティング装置１１０はそれをユーザーに表示する）。

［0080］前述のように、コンピューティング装置が（一実施形態において）特性の測定を行うことができる（例えば、ブロック５０４またはブロック６０４）１つの考えられる特徴は、エッジである。図７Ａを参照すると、例えば、バーコードの部分７００は、内部領域７０２（典型的には黒で印刷されている）およびエッジ７０４を有する。図７Ａは、第１の基準軸７０６、およびエッジ７０４を越えて延出している第２の基準軸７０８も示す。第１の基準軸７０６と第２の基準軸７０８との間の距離に対して多くの可能な値がある。例えば、当該距離は、次の印刷領域までの距離（空白の間隙）またはコンピューティング装置が現在、動作して測定を行っている印刷領域（内部領域７０２）の幅の半分であってもよい。当該距離は、内部領域７０２の幅のより大きな分画またはより小さな分画であってもよい。他の実施形態では、第１の基準軸７０６および第２の基準軸７０８の両方が内部領域７０２内にある。他の実施形態では、両方の軸は、内部領域７０２の外部にある（例えば、空白内にだけ）。コンピューティング装置は、この実施形態では、ピクセルの各々のグレースケール値を（例えば、０〜２５５のスケールで）第１の線７１０に沿って、第２の線７１２に沿って、第３の線７１４に沿って、および第４の線７１６に沿って測定する。第１の線７１０、第２の線７１２、第３の線７１４、および第４の線７１６の各々は、第１の軸７０６から始まり、エッジ７０４に向かって延出し、エッジ７０４を越えて、第２の軸７０８で終わる。

［0081］図７Ａでは、線７１０、７１２、７１４、および７１６は、第１の基準軸７０６および第２の基準軸７０８に垂直であると図７Ａに示されているが、垂直である必要はない。図７Ａでは相互に間隔を空けて示されているが、線７１０、７１２、７１４、および７１６は、相互の間にスペースがなくてもよい。さらに、４本の線が示されているが、もっと少ない（１本だけさえ）か、またはもっと多くてもよい。追加として、線７１０、７１２、７１４、および７１６は、真っ直ぐであってもよいが、真っすぐである必要はない。例えば、（部分７００がその一部である）バーコードが曲面上である場合、線７１０、７１２、７１４、および７１６は、ｘ−ｙ平面においては真っ直ぐで、ｚ軸（例えば、ページから外側に突き出ている）に関しては湾曲してもよい。

［0082］エッジ７０４は、ｙ方向に関して概ね直線として示されているが、その必要はない。例えば、エッジは、オフセット曲線（例えば、波線に似ている）であってもよい。さらに、第１の基準軸７０６および第２の基準軸７０８は、エッジ７０６に対して概ね平行であると示されているが、その必要はない。

［0083］一実施形態では、特徴がエッジである場合、マークの所与のエッジに対して、コンピューティング装置は、そのエッジに対してプロファイルを生じる（ブロック５０６および６０６）。エッジプロファイルは、一実施形態では、そのエッジを含むマークの部分に対して計算された投影平均ピクセル値のデータ系列を含む。コンピューティング装置は、第１の線７１０、第２の線７１２、第３の線７１４、および第４の線７１６の各々に沿って、ピクセルの投影平均ピクセル値を計算する。コンピューティング装置は、この投影平均ピクセル値操作をマークの複数のエッジに関して実行してもよく、エッジの全長またはエッジの全長未満に関してそれを行う。例えば、図４に示すものなど、２Ｄバーコードに関して、コンピューティング装置は、その操作を、１つまたは複数のセルの上部エッジ、１つまたは複数のセルの下部エッジ、１つまたは複数のセルの左エッジ、および１つまたは複数のセルの右エッジ、の任意の組み合わせに関して実行してもよい。別の例では、図８に示すものなど、１Ｄバーコードに関して、コンピューティング装置は、バーコードのバーの部分のバーの各々に関して投影平均ピクセル値操作を実行してもよい。例えば、コンピューティング装置は、そのバーの前側エッジを含む、図８のバーコードの１３番目のバーの部分８０２（明確にするために影が付けられている）に関して操作を実行してもよく、また、後側エッジを含む、部分８０４に関して操作を実行してもよい。コンピューティング装置は、この操作を、バーの各々の前側および後側エッジに関して実行してもよい。

［0084］図７Ｂを参照すると、第１の線７１０のピクセルが４つの個々のピクセルによって表されている。当然ながら、もっと多くのピクセルがあり得るが、説明を簡単にするために、４つだけが示されている。ピクセル１および２は各々、２５５の値を有し、ピクセル３は８４の値を有し、ピクセル４および５は各々、０の値を有している。それらの値の平均（投影平均ピクセル値）は１０６である。

［0085］投影線に沿って平均をとると、コンピューティング装置が、エッジ７０４に沿ったアーチファクトに加えて、バーコード部分７００の内部領域７０２内にあるアーチファクトを説明できるようになる。例えば、図９Ａは、無関係な白抜け９０４がある内部領域９０２を有するバーコードの部分９００、およびエッジ９０６を示しており、エッジ９０６を越えて、無関係なマーク９０８がある。コンピューティング装置は、この実施形態では、ピクセルの各々のグレースケール値を、第１の線９１０に沿って、第２の線９１２に沿って、第３の線９１４に沿って、および第４の線９１６に沿って測定する。図９Ｂは、第１の線９１０に沿った投影平均ピクセル値（１３０）が一部、無関係な白抜け９１８、９２０、および９２２、ならびに無関係なマーク９２４の結果であることを例示する。これらの無関係なマークおよび白抜けは、ピクセルの個々の値に影響し、そのためピクセル２は２２０の値を有し、ピクセル３は１００の値を有し、ピクセル４は２５の値を有し、ピクセル５は５３の値を有する。

［0086］図１０は、エッジプロファイルの一例のプロットを示す。縦軸は、マークのエッジの領域内の線（例えば、図７Ａおよび図９Ａと共に説明したような）に沿ってとられた投影平均ピクセル値（例えば、グレー値）を表す。横軸は、第１の基準軸７０６に沿った位置（例えば、ピクセル索引値の単位、または基準軸に沿ったピクセルの連続した線におけるピクセルの順序で）を表す。

［0087］一実施形態によれば、ブロック５０８、５１０、６０８、および６１０を実行するために、コンピューティング装置は、一連の帯域通過フィルタを、一度に１つずつ、マークのエッジのプロファイルに適用し、それを複数のエッジプロファイルに対して（例えば、コンピューティング装置が、平均値プロファイルを作成している各エッジに対して）行ってもよい。帯域通過フィルタは、帯域通過フィルタの範囲に含まれる周波数成分を除いて、全ての空間周波数成分を除去する。図１０は、コンピューティング装置が帯域通過フィルタを適用する前のエッジプロファイルの一例を示す。図１１は、コンピューティング装置が帯域通過フィルタを適用した後の図１０のエッジ投影を表すプロットを示す。

［0088］様々な実施形態で使用され得る多くの可能なタイプのフィルタおよびフィルタリング技術がある。例えば、前述したようなシグネチャ分析を受ける場合、同じマーク付け装置によって印刷された異なるマーク間に検出可能な関係が存在することが分かっている。真正アイテムとその一致するシグネチャとの間で測定された類似度ほど強くもなく、真の偽造品の類似度スコアほど弱くもない場合、測定された類似度はその２つの極端の間のどこかに位置する。この特性は、本明細書では、時々、「シブリング現象（ｓｉｂｌｉｎｇｐｈｅｎｏｍｅｎｏｎ）」と呼ばれる。同様に、それを示しているマークは、時々、比較で使用された真正シグネチャが導出されたマークの「シブリング」と呼ばれる。「シブリングシグネチャ」は、（１）シブリングマークの特性（例えば、アーチファクトに起因する）の測定から導出されて、（２）シブリングマークを識別するために使用可能である、データを指す。用語「個々のシグネチャ」は、説明においてその「シブリングシグネチャ」と区別しマークのシグネチャ全体を指すために使用される。

［0089］図１２は、真正マーク、真正マークの４つのシブリング、および多数の偽造品を含む、マークの典型的なセットの間で測定されたそれぞれの類似度を示す。

ＨＩＤ実施形態
［0090］図１３を参照すると、本開示の様々な実施形態が実装され得るシステムの一例が示されている。このシステム内で実行される手順は、図１４Ａ、図１４Ｂ、および図１４Ｃのフローチャートに示されている。本明細書では、図１が、図１４Ａ、図１４Ｂ、および図１４Ｃと同時に説明される。

［0091］マーク付け装置１００は、真正マーク１０２（「マーク１０２」）を正規の物理的対象１０４（「対象１０４」）に付ける（図１４Ａのブロック２０２）。いくつかの実施形態では、対象１０４は、衣類、ハンドバッグ、またはファッションアクセサリなどの、製品である。他の実施形態では、対象１０４は、バーコードラベルなどのラベル、または何らかの他の物理的対象のための包装である。マーク１０２は、ブランドを識別する何か（例えば、ロゴ）、情報を有する何か（例えば、バーコード）、または装飾であってもよい。マーク付け装置１００の考えられる実施形態は、プリンタ（例えば、レーザーまたは感熱式プリンタ）、エッチング装置、彫刻装置、型付け装置、焼印装置、縫付け装置、および熱転写装置を含む。マーク付け装置１００は、例えば、マーク１０２を対象１０４に印刷する、エッチングする、彫刻する、型付ける、焼印を押す、縫い付ける、または熱転写することによって、マーク１０２を付ける。マーク１０２は１つまたは複数のアーチファクトを含む。いくつかの実施形態では、マーク１０２は、微細パターンなどの、意図的に生成された偽造防止特徴も含む。

［0092］マーク１０２が付けられた後、第１の画像捕捉装置１０６（例えば、カメラ、機械視覚装置、またはスキャナ）が、マーク１０２の画像を捕捉する（ブロック２０４）。第１の画像捕捉装置１０６がマーク１０２の画像を捕捉する状況は、その画像が、実際に、真正マーク１０２のものであることの合理的保証があるように、制御される。例えば、マーク付け装置１００のマーク１０２付けと、第１の画像捕捉装置１０６のマーク１０２の画像取得との間の時間間隔は小さくてもよく、第１の画像捕捉装置１０６は、包装ラインに沿ってマーク付け装置１００の次に物理的に配置されてもよい。従って、用語「真正マーク」が使用される場合、それは、正規の供給源においてマーク付け装置によって付けられた（すなわち、違法にまたはこっそりと複製されていない）マークを指す。

［0093］第１の画像捕捉装置１０６は捕捉した画像を第１のコンピューティング装置１０８に送信する。第１のコンピューティング装置１０８の考えられる実施形態は、デスクトップコンピュータ、ラックマウント式サーバー、ラップトップコンピュータ、タブレットコンピュータ、および携帯電話を含む。いくつかの実施形態では、第１の画像捕捉装置１０６は、第１のコンピューティング装置１０８と統合され、その場合、第１の画像捕捉装置１０６は、捕捉した画像を第１のコンピューティング装置１０８の論理回路に送信する。第１のコンピューティング装置１０８またはその中の論理回路は、捕捉画像を受信して、その捕捉画像を第２のコンピューティング装置１１０に送信する。第２のコンピューティング装置１１０の考えられる実施形態は、第１のコンピューティング装置１０８に対してリストした装置の全てを含む。

［0094］第２のコンピューティング装置１１０は、捕捉画像を受信し、捕捉画像を使用してマーク１０２の様々な特性を測定して、マーク１０２のアーチファクトに関するデータを含む測定基準のセットをもたらす（ブロック２０６）。さらに説明するように、測定基準のセットは、第２のコンピューティング装置１１０がマーク１０２に関して生成する測定基準のいくつかのセットのうちの１つであってもよい。第２のコンピューティング装置１１０は、マーク１０２上の異なる位置で測定を実行してもよい。それを行う際に、第２のコンピューティング装置１１０は、マーク１０２を複数のサブエリアに（例えば、業界標準に従って）分割することができる。一実施形態では、マーク１０２が２Ｄバーコードである場合、第２のコンピューティング装置１１０は、マーク１０２のサブエリアの総数の全部またはサブセット（例えば、セルの総数の全部またはサブセット）に関して測定を実行する。第２のコンピューティング装置１１０が測定し得るマーク１０２の特性の例は、（ａ）特徴の形状、（ｂ）特徴のアスペクト比、（ｃ）特徴の位置、（ｄ）特徴のサイズ、（ｅ）特徴のコントラスト、（ｆ）エッジの直線性、（ｇ）領域の不連続、（ｈ）無関係なマーク、（ｉ）印刷欠陥、（ｊ）色（例えば、明度、色相、または両方）、（ｋ）着色、および（ｌ）コントラスト変化、を含む。いくつかの実施形態では、第２のコンピューティング装置１１０は、各特性に対してマークごとに同じ位置で測定を行うが、異なる特性に対しては異なる位置で測定を行う。例えば、第１第２のコンピューティング装置１１０は、マークの位置の第１のセットに関して、および次のマークに対して位置のその同じ第１のセットに関して平均着色を測定してもよく、そのマークおよび次のマークについて位置の第２のセットに関してはエッジ直線性を測定してもよい。（異なる特性に対する）位置の２つのセットは、両方のセットに共通していない少なくとも１つの位置がある場合、「異なる」と言ってもよい。

［0095］一実施形態では、第２のコンピューティング装置１１０によって測定している特性の結果は、測定基準のセットを含む。測定される特性の各々に対して測定基準の１つまたは複数のセットがあってもよい。第２のコンピューティング装置１１０は、測定基準のセットを分析し、分析に基づいて、測定基準のセットに基づくシグネチャを生成する（ブロック２０８）。測定基準のセットは、マーク１０２のアーチファクト（または複数のアーチファクト）に関するデータを含むので、シグネチャは間接的にアーチファクトに基づくであろう。マーク１０２がデータを保持する場合（２Ｄバーコードの場合におけるように）、第２のコンピューティング装置１１０は、かかるデータもシグネチャの一部として含んでもよい。言い換えれば、いくつかの実施形態では、シグネチャは、マーク１０２のアーチファクトおよびマーク１０２によって保持されるデータの両方に基づいてもよい。

［0096］一実施形態では、シグネチャを生成するために、マーク１０２の各測定された特性に対して、第２のコンピューティング装置１１０は、特性と関連付けられた測定基準を大きさによってランク付けし、所定の閾値に達する測定基準だけをシグネチャの一部として使用する。例えば、第２のコンピューティング装置１１０は、所定の閾値を下回っている測定基準をランク付けするのを避けてもよい。一実施形態では、測定されている各特性に対して異なる所定の閾値がある。１つまたは複数の所定の閾値は、ノイズ閾値および第１の画像捕捉装置１０６の解像度に基づいてもよい。

［0097］一実施形態では、第２のコンピューティング装置１１０は、各特性に対して１００のデータ点を取得して、６つのグループの測定値として、着色に対する測定値の１セット、最良適合グリッドからの偏差に対する測定値の１セット、無関係なマークまたは白抜けに対する測定値の１セット、およびエッジの直線性に対する測定値の３つの別個のセット、を収集する。

［0098］ランク付けプロセスの一部として、第２のコンピューティング装置１１０は、所定の閾値を下回る測定基準を、それらのそれぞれの位置を問わず（例えば、マーク１０２上のそれらの位置に関係なく）、グループ化してもよい。また、第２のコンピューティング装置１１０は、ランク付けプロセスの一部として、各特性カテゴリ内の測定基準を（例えば、大きさによって）順序付け得る。同様に、第２のコンピューティング装置１１０は、所定の閾値を下回る測定基準を単に無視する（ｄｉｓｃｏｕｎｔ）。また、ランク付けのプロセスは単に、閾値を上回る測定基準を、閾値を下回るものと区別することを構成してもよい。

［0099］一実施形態では、第２のコンピューティング装置１１０は、測定された特性を、その特性が画像解像度問題に対してどのくらい影響を受けるかに従って順序付ける。例えば、第１の画像捕捉装置１０６が画像を高解像度で捕捉する機能を有していない場合、第２のコンピューティング装置１１０がエッジの非直線性を識別することは困難であろう。しかし、第２のコンピューティング装置１１０は、着色における逸脱を識別するのに問題はない可能性がある。従って、第２のコンピューティング装置１１０は、これに基づいて、エッジの非直線性よりも着色を優先してもよい。一実施形態によれば、第２のコンピューティング装置１１０は、測定された特性を、解像度依存の逆の順序で次のように順序付けする、サブエリアの着色、サブエリアの位置バイアス、白抜けまたは無関係なマークの位置、およびエッジの非直線性。

［0100］一実施形態によれば、第２のコンピューティング装置１１０は、第１の画像捕捉装置１０６の解像度およびマーク１０２の捕捉画像の解像度の１つまたは複数に基づいて、マーク１０２の測定された特性に重みを付ける。例えば、第１の画像捕捉装置１０６の解像度が低い場合、第２のコンピューティング装置１１０は、マーク１０２の様々なサブエリアの平均着色にさらに重みを与えてもよい。第１の画像捕捉装置１０６の解像度が高い場合、第２のコンピューティング装置１１０は、様々なサブエリアのエッジ不規則性の測定値に他の特性よりも高い重みを与えてもよい。

［0101］マーク１０２が、ＩＳＯ／ＩＥＣ１６０２２によって規定されるものなど、誤り訂正情報を含む場合、第２のコンピューティング装置１１０は、誤り訂正情報を使用して測定された特性に重みを付けてもよい。例えば、第２のコンピューティング装置１１０は、誤り訂正情報を読み取り、誤り訂正情報を使用して、マーク１０２のどのサブエリアに誤りがあるかを判断し、かかるサブエリアの測定された特性の重みを減らす。

［0102］一実施形態によれば、シグネチャの生成に際して、第２のコンピューティング装置１１０は、マーク付け装置１００に基づいてマーク１０２の特性の１つまたは複数に対する測定値に重みを付ける。例えば、マーク付け装置１００が、熱転写プリンタであると仮定する。さらに、マーク付け装置１００によって付けられたマークに対して、基板材料の動きの方向に平行なエッジ投影は、エッジ直線性特性に対する最小閾値に達するのに十分な大きさのエッジ直線性測定値をもたらす可能性が低いことが分かっていると仮定する。第２のコンピューティング装置１１０は、マーク付け装置１００のこの既知の特質に基づき、マーク１０２に対するエッジ直線性特性測定値の重みを減らしてもよい。

［0103］引き続き図１３を参照すると、第２のコンピューティング装置１１０は、シグネチャの測定基準のサブセットに対応する位置識別子を使用してＨＩＤを導出する（ブロック２１０）。一実施形態では、第２のコンピューティング装置１１０は、シグネチャの最も高い測定基準のサブセットに対応する索引番号を使用してＨＩＤを導出する。「最も高い（ｈｉｇｈｅｓｔ−ｍａｇｎｉｔｕｄｅ）」測定基準は、補助なしで目に見えるか、または本明細書で説明する以外の技術によって直接測定可能でさえあるマークの特徴を必ずしも含まないことに留意されたい。以下でさらに詳細に説明するように、第２のコンピューティング装置１１０は、ＨＩＤを導出する際に、測定基準の各セットのサブセットに対応する索引番号をＨＩＤ全体内のブロックとして使用する。第２のコンピューティング装置１１０は、ＨＩＤがシグネチャと関連付けられるように、シグネチャおよびＨＩＤを（例えば、データベースプログラムを使用して）メディア記憶装置１１２（例えば、独立ディスクの冗長アレイ）内に格納する（ブロック２１２）。いくつかの実施形態では、ＨＩＤはシグネチャを検索するためにも使用できる（例えば、第２のコンピューティング装置１１０は、データベースプログラムを使用してＨＩＤをシグネチャに対する索引キーとして設定する）。いくつかの実施形態では、メディア記憶装置１１２は、クラウドストレージサービスによくあるように、地理的および時間的に分散されている複数の装置で構成されている。いくつかの実施形態では、１つまたは複数の特性測定、測定基準の様々なセットの分析、シグネチャの生成、ＨＩＤの導出、ならびにシグネチャおよびＨＩＤの格納は、第１のコンピューティング装置１０８によって実行される。他の実施形態では、それらのステップの全ては、第１のコンピューティング装置１０８によって実行され、メディア記憶装置１１２は、第１のコンピューティング装置１０８によって直接アクセスされる。後者の実施形態では、第２のコンピューティング装置１１０は使用されない。さらに他の実施形態では、第２のコンピューティング装置１１０は、シグネチャおよびＨＩＤを別個のデータベースサーバー（すなわち、別のコンピューティング装置）に送信し、当該データベースサーバーは、シグネチャおよびＨＩＤをメディア記憶装置１１２内に格納する。メディア記憶装置１１２は必ずしも単一のオンサイト記憶装置ではなく、むしろ、１つまたは複数の記憶装置であってもよく、クラウドベースサービスを介してリモートに配置されてアクセスされてもよいことが理解される。

［0104］引き続き図１３を参照すると、正規の物理的対象１０４のこともあれば、そうでないこともある、未検証の物理的対象１１４（以下、「未検証の対象１１４」という）は、それが偽物でも、違法でもないことを確実にするために検査する必要がある。未検証の対象１１４の考えられる実施形態は、正規の物理的対象１０４のものと同じである。未検証の対象１１４上にあるのが候補マーク１１６である。候補マーク１１６の考えられる実施形態は、真正マーク１０２のものと同じである。第２の画像捕捉装置１１８（例えば、カメラ、機械視覚装置、またはスキャナ）が、候補マーク１１６の画像を捕捉し（図１４Ｂのブロック２５０）、その画像を第３のコンピューティング装置１２０に送信する。第１の画像捕捉装置１０６および第１のコンピューティング装置１０８と同様に、第２の画像捕捉装置１１８は第３のコンピューティング装置１２０の一部であってもよく、候補マーク１１６の捕捉画像の送信は内部（すなわち、第２の画像捕捉装置１１８から第３のコンピューティング装置１２０の論理回路へ）であってもよい。第３のコンピューティング装置１２０（またはその中の論理回路）は捕捉画像を受信し、捕捉画像を第２のコンピューティング装置１１０に送信する。第２のコンピューティング装置１１０は、捕捉画像を使用して、第２のコンピューティング装置１１０が真正マーク１０２に関して測定したのと同じ特性を含む、候補マーク１１６の様々な特性を測定する。この測定の結果は、その特性に対する測定基準のセットである（ブロック２５２）。連続する測定にわたって、結果は、測定された特性の各々に対する測定基準の１つまたは複数のセットを含んでもよい。第２のコンピューティング装置１１０は、次いで、測定基準のセット（または複数のセット）に基づくシグネチャを生成し（ブロック２５４）、それを、真正マーク１０２に対してシグネチャを生成するために使用したのと同じ技術を使用して行う。候補マーク１１６が、実際には、真正マーク１０２である（または真正マーク１０２と同じプロセスによって生成された）場合、第２のコンピューティング装置１１０が作成するシグネチャは、真正マーク１０２の捕捉画像から生成されたシグネチャと同様に、真正マーク１０２のアーチファクトに基づくであろう。他方、候補マーク１１６が真正マーク１０２でない（例えば、偽物である）場合、この最新画像によって生成されたシグネチャは、候補マーク１１６が示す他の特性であれば何でも、偽造プロセスのアーチファクト、マーク付け装置１００からのアーチファクトの欠如、など、に基づくであろう。第２のコンピューティング装置１１０は、候補マーク１１６のシグネチャの測定基準のサブセットに対応する位置識別子（例えば、最も高い測定基準のサブセットの索引番号）を使用して、候補マーク１１６に対するＨＩＤを導出し（ブロック２５６）（ブロック２１０に関して前述した同じ方法で）、（例えば、データベースの問合わせを通して）候補マーク１１６のＨＩＤを、メディア記憶装置１１２内に格納された真正マークのＨＩＤと比較する（ブロック２５８）。比較の結果として、第２のコンピューティング装置１１０は、ぴったりと一致している結果を受信しない（例えば、所定の閾値をパスした結果がない）か、または１つまたは複数のぴったりと一致しているＨＩＤをメディア記憶装置１１４から受信する（ブロック２６０）。第２のコンピューティング装置１１０がぴったりと一致している結果を受信しない場合、第２のコンピューティング装置１１０は、（例えば、メッセージを送信することにより）第３のコンピューティング装置１２０に対して候補マーク１１６が検証できないことを示す（例えば、候補マーク１１６が本物でないことを示すメッセージを送信する）（ブロック２６２）。第３のコンピューティング装置１２０は、メッセージを受信して、ユーザーインタフェース上に、候補マーク１１６が検証できないこと（または候補マーク１１６が偽物であること）を示す。いくつかの実施形態では、第３のコンピューティング装置１１８は、測定、生成、および導出ステップの１つまたは複数を実行して、シグネチャ（またはＨＩＤ、第３のコンピューティング装置１１８がＨＩＤを導出する場合）を第２のコンピューティング装置１１０に送信する。

［0105］他方、第２のコンピューティング装置１１０が、候補マーク１１６のＨＩＤとぴったり一致する１つまたは複数のＨＩＤを見つける場合、第２のコンピューティング装置１１０は、メディア記憶装置１１２から、ぴったりと一致しているＨＩＤと関連付けられているシグネチャを取得することによって、応答する（ブロック２６４）。第２のコンピューティング装置１１０は、次いで、候補マーク１１６に対して生成した実際のシグネチャを、取得した真正シグネチャと比較する（図１４Ｃのブロック２６６）。第２のコンピューティング装置１１０は、ぴったりと一致しているＨＩＤが関連している各シグネチャに対して、このプロセスを繰り返す。第２のコンピューティング装置１１０が、候補マーク１１６のシグネチャを取得したシグネチャのいずれともぴったりと一致させることができない場合（ブロック２６８）、第２のコンピューティング装置１１０は、（例えば、メッセージを送信することにより）第３のコンピューティング装置１２０に対して候補マーク１１６が検証できないことを示す（ブロック２７０）。第３のコンピューティング装置１２０は、メッセージを受信して、ユーザーインタフェース上に、候補マーク１１６が検証できないことを示す。他方、第２のコンピューティング装置１１０が、候補マーク１１６のシグネチャを取得したシグネチャとぴったりと一致させることができる場合、第２のコンピューティング装置１１０は、（例えば、メッセージを送信することにより）第３のコンピューティング装置１２０に対して候補マーク１１６が本物であることを示す（ブロック２７２）。

［0106］図１５を参照すると、別の実施形態で使用され得るシステムの一例が説明されている。本システム内で実行され得る手順が、図１６Ａ、図１６Ｂ、および図１６Ｃのフローチャートに示されている。図１５、図１６Ａ、図１６Ｂ、および図１６Ｃは、本明細書では並行して説明される。

［0107］梱包施設３００に配置されているのは、ラベルプリンタ３０２、ラベル付け装置３０４、包装ライン３０６、画像捕捉装置３０８、および第１のコンピューティング装置３１０である。ラベルプリンタ３０２は、真正マーク３１２（以下、単に「マーク３１２」ともいう）を含む、真正マークを、ラベル巻取紙３１４上で運ばれるいくつかのラベルに付ける（図１６Ａのブロック４０２）。真正マークの考えられる実施形態は、１次元（「１Ｄ」）バーコードおよび２Ｄバーコードを含む。ラベル付け装置３０４は、ラベル（図１５の個別に示すラベル３１６および３１８を含む）を正規の物理的対象に付け（ブロック４０４）、そのうちの２つが参照番号３２０および３２２（以下、「第１の対象３２０」および「第２の対象３２２」ともいう）で図１５に示されている。図１５は、物理的対象を箱（例えば、製品を含んでいる箱）として示しているが、対象は箱または容器である必要はない。正規の物理的対象の考えられる実施形態は、図１３の対象１０４に対して以前にリストしたものを含む。

［0108］画像捕捉装置３０８は、マーク３１２の画像（または複数の画像）を捕捉し（ブロック４０６）、捕捉した画像（または複数の画像）を第１のコンピューティング装置３１０に送信する。第１のコンピューティング装置３１０は、捕捉画像（または複数の画像）を受信し、通信ネットワーク３２６（「ネットワーク３２６」）を介して、その捕捉画像を第２のコンピューティング装置３２４に送信する（または（ｉ）前述のように、複数の捕捉に基づいて融合画像を作成する、もしくは（ｉｉ）複数の捕捉画像を送信する）。ネットワーク３２６の考えられる実施形態は、ローカルエリアネットワーク、ワイドエリアネットワーク、公衆ネットワーク、プライベートネットワーク、およびインターネットを含む。ネットワーク３２６は有線、無線、またはそれらの組合せであり得る。

［0109］第２のコンピューティング装置３２４がマーク４０６の複数の画像を受信する場合、複数の画像を（例えば、平均化することにより）融合して、融合画像を作成してもよい。第２のコンピューティング装置３２４は捕捉画像を（例えば、融合画像の一部として）受信し、その画像を使用して（例えば、融合画像を使用して）、マーク３１２に関して品質測定（例えば、ＩＳＯ１５４１５に規定されているものなど）を実行し得る（ブロック４０８）。例えば、第２のコンピューティング装置３２４は、マーク３１２において未使用の誤り訂正および固定パターンのダメージがあるかどうかを判断してもよい。第２のコンピューティング装置３２４は次いで、捕捉画像を使用し、マーク３１２の特性を測定して、マーク３１２のアーチファクトに関するデータを含む測定基準の１つまたは複数のセットをもたらす（ブロック４１０）。例えば、第２のコンピューティング装置３２４は（真正マーク３１２のサブエリアの全部またはサブセットに対して）：（１）真正マーク３１２のサブエリアの一部または全部（例えば、セルの全部または一部）の平均着色、（２）サブエリアの位置における最良適合グリッドからの偏差、（３）ストレイマークまたは白抜けの広がり、および（４）サブエリアの１つまたは複数のエッジの直線性、を測定してもよい。測定基準の各セットは、測定された特性に対応するが、単一の特性に対して測定基準の複数のセットがあってもよい。例えば、測定されている各サブエリア、例えば、マーク３１２の１０００の総サブエリアからの１００のサブエリアに対して、平均着色に対する測定基準、最良適合からの偏差に対する測定基準、ストレイマークの広がりに対する測定基準、およびエッジの直線性に対する３つの測定基準があってもよい。従って、結果として生じる測定基準のセットは、着色に対する１００の測定基準、最良適合に対する偏差に対する１００、ストレイマークまたは白抜けに対する１００の測定基準、およびエッジの直線性に対する３００の測定基準（各１００の測定基準の３セット）であろう。一実施形態では、測定基準の各セットは、リストの形であり、リストの各エントリは、第２のコンピューティング装置３２４が基礎となる測定を行ったマーク３１２における位置を識別する情報（例えば、ラスターベースの索引番号）および測定自体から導出されたデータ値（例えば、大きさ）を含む。

［0110］第２のコンピューティング装置３２４は次いで、測定基準を分析して、マーク３１２に対して電子シグネチャを生成するために使用される測定基準を識別し（ブロック４１２）、分析に基づいてシグネチャを生成する（ブロック４１４）。第２のコンピューティング装置３２４は、シグネチャの最も高い測定基準のサブセットを識別し（ブロック４１６）、識別されたサブセットに対応する位置識別子を使用してＨＩＤブロックを導出し（ブロック４１８）、ＨＩＤブロックに基づいてＨＩＤを作成して（図１６Ａのブロック４２０）、シグネチャと関連付けられたＨＩＤをメディア記憶装置３２８（その考えられる実施形態は、図１３のメディア記憶装置１１２に対して記述したものと同じである）内に格納する（ブロック４２２）。いくつかの実施形態では、第２のコンピューティング装置３２４は、ブロック４１６および４１８を、シグネチャの測定基準の各セットに対して繰り返す（例えば、着色に対する測定値のセットに対して１回、最良適合グリッドからの偏差に対する測定値のセットに対して１回、無関係なマークまたは白抜けに対する測定値のセットに対して１回、およびエッジ直線性に対する測定値の３つの別個のセットの各々に対して１回）。いくつかの実施形態では、第１のコンピューティング装置３１０は、ブロック４０２〜４２０の１つまたは複数を実行して、シグネチャまたはＨＩＤを第２のコンピューティング装置３２４に送信する。

［0111］引き続き図１５を参照すると、梱包施設３００から流通ポイント（例えば、店頭）までの流通チェーン内のあるポイントにおいて、ユーザー３３０（例えば、販売員または法執行者）は、候補マーク３３６を持つ未検証のラベル３３４を有する未検証の物理的対象３３２（「未検証の対象３３２」）を扱う。未検証の対象３３２上の証印または候補マーク３３６内にコード化された情報は、未検証の対象３３２が、梱包施設３００（または梱包施設３００が包装ライン３０６上でオリジナルの対象を扱っている会社）などの、正規の供給源に由来すると示唆し得る。このシナリオでは、ユーザー３３０は、未検証の対象３３２が、偽物または違法であるかどうかを判断したいと考えているものとする。

［0112］ユーザー３３０は、図１５では、スマートフォンとして示されている、第３のコンピューティング装置３３８上でアプリケーションを開始する。第３のコンピューティング装置３３８は、アプリケーションの制御下で（および、多分、ユーザー３３０からの追加の入力に応答して）、候補マーク３３６の画像を（例えば、図１７に示す、カメラ５１４を使用して）捕捉する（図１６Ｂのブロック４５０）。第３のコンピューティング装置３３８は、候補マーク３３６内の明示的なデータ（例えば、バーコードが付けられている製品の識別を示す、バーコード内のデータ）を復号し（ブロック４５２）、ネットワーク３２６を介して捕捉画像を第２のコンピューティング装置３２４に送信する。第２のコンピューティング装置３２４は次いで、捕捉画像を使用し、候補マーク３３６の特性を測定して、測定された特性の各々に対する測定基準の１つまたは複数のセットとなる、測定基準の１つまたは複数のセットをもたらす（ブロック４５４）。第２のコンピューティング装置３２４は次いで、測定基準を分析して、マーク３３６に対する電子シグネチャを生成するために使用される測定基準を識別し（ブロック４５６）、分析に基づいてシグネチャを生成する（ブロック４５８）。第２のコンピューティング装置３２４は、マークに対して測定される各特性についてブロック４５４および４５６を繰り返してもよく、これらのブロックを単一の特性に対して複数回さえ繰り返してもよい（各繰返しで測定基準の「シグネチャに値する（ｓｉｇｎａｔｕｒｅ−ｗｏｒｔｈｙ）」セットを生じる）。第２のコンピューティング装置３２４は、シグネチャの最も高い測定基準のサブセットを識別し（ブロック４６０）、識別されたサブセットと関連付けられた位置識別子を使用してＨＩＤブロック（シグネチャの）測定基準のセットを導出する（ブロック４６２）。第２のコンピューティング装置３２４は、ブロック４５４および４５６を、シグネチャの測定基準の各セットに対して繰り返して、複数のＨＩＤブロック（本質的には、測定基準の各セットに対して１つのＨＩＤブロック）をもたらし得る。いくつかの実施形態では、第３のコンピューティング装置３３８は、ブロック４５４〜４６２を実行して、シグネチャまたはＨＩＤを第２のコンピューティング装置３２４に送信する。第２のコンピューティング装置３２４は次いで、図１６Ｂおよび図１６Ｃで再現される、図１４Ｂおよび図１４Ｃに関連して前述した手順を実行する。言い換えれば、第２のコンピューティング装置３２４は、図１６Ｂおよび図１６Ｃのブロック４６４、４６６，４６８、４７０、４７２、４７４、４７６、および４７８を、図１３の第２のコンピューティング装置１１０が図１４Ｂおよび図１４Ｃのブロック２５８、２６０、２６２、２６４、２６６、２６８、２７０、および２７２を実行したのと同じ方法で、実行する。

［0113］一実施態様では、図１３のコンピューティング装置１０８、１１０、および１２０の１つまたは複数ならびに図１５のコンピューティング装置３１０、３２４、および３３８の１つまたは複数は、図１７に示す一般的なアーキテクチャを有する。図１７に示す装置は、論理回路５０２、一次メモリ５０４（例えば、揮発性メモリ、ランダムアクセスメモリ）、二次メモリ５０６（例えば、不揮発性メモリ）、ユーザー入力装置５０８（例えば、キーボード、マウス、またはタッチスクリーン）、ディスプレイ５１０（例えば、有機、発光ダイオードディスプレイ）、およびネットワークインタフェース５１２（有線または無線であってもよい）を含む。メモリ５０４および５０６は、命令およびデータを格納する。論理回路５０２は、命令を実行し、データを使用して、いくつかの実施形態における、本明細書で説明する方法（例えば、コンピューティング装置によって実行されると言われる手順を含む）を含む、様々な手順を実行する。コンピューティング装置の一部は、カメラ５１４（例えば、第３のコンピューティング装置３３８、特に、モバイル装置として実装される場合）も含み得る。

［0114］一実施形態では、真正マーク（図１５の真正マーク３１２など）は、本明細書で「サブエリア」と呼ばれるいくつかの位置で構成されている。サブエリアは、ＩＳＯ／ＩＥＣ１５４１５に従って「セル」に対応してもよく、均一なサイズであってもよい。本明細書で説明する概念の一部を説明するのを助けるために、図１８に注目すると、第１のサブエリア６５０、第２のサブエリア６５２、第３のサブエリア６５４、および第４のサブエリア６５６を有するマーク６００が例示されている。第１のサブエリア６５０の特性は、その平均着色が他のサブエリアから著しく（例えば、所定の閾値を上回る程度まで）逸脱していることである。第２のサブエリア６５２の特性は、その最良適合グリッド６５８からのそのオフセットが他のサブエリアのそれよりも著しく高いことである。第３のサブエリア６５４の特性は、それが他のサブエリアよりも著しく高い白抜けの発生を含むことである。最後に、第４のサブエリア６５６の特徴は、その直線性が他のサブエリアのエッジよりも著しく少ないエッジ６６０を含むことである。

［0115］一実施形態では、マークの特性の測定から取得した測定基準の分析プロセスを実行する（図１６Ａのブロック４１２および図１６Ｂのブロック４５６などにおける）ために、コンピューティング装置（第２のコンピューティング装置３２４など）は次のタスクを実行する。コンピューティング装置は、最良適合グリッド６５８を生成する。それを行う際に、コンピューティング装置は、マークの様々なサブエリア間の境界に対して理想的な位置を識別する。コンピューティング装置は、その特性測定値がマークに対するシグネチャを生成するために使用されるサブエリアを選択する。一実施形態では、コンピューティング装置は、どのサブエリアが、そのサブエリアに対して予期される正常または最適な測定値から最も（例えば、所定の閾値を上回って）逸脱している特性を有するかに基づいてこの選択を実行する。コンピューティング装置がこのシナリオで選択し得るサブエリアの種類の例は次の（１）〜（４）を含む。

［0116］（１）平均の色、着色、または明度が、２Ｄバーコード標準によって定義されるように暗いセルを明るいセルと区別するグローバル平均閾値に最も近い、すなわち、「最も明るい」暗いセルと「最も暗い」明るいセルのサブエリア。第１のサブエリア６５０は、このカテゴリに含まれる。一実施形態では、コンピューティング装置が所与のサブエリアを逸脱した平均着色濃度を有するとして識別する場合、コンピューティング装置は、識別されたサブエリアが最近傍であったサブエリアを再評価する必要があり得る。コンピューティング装置がかかる再評価を実行する場合、コンピューティング装置は識別されたサブエリアを参照として無視してもよい。

［0117］（２）位置が、最良適合グリッド６５８によって定義されているような理想的な位置から最も（例えば、所定の閾値を上回って）逸脱しているサブエリア。いくつかの実施形態では、コンピューティング装置は、サブエリアのエッジを識別し、エッジの位置を判断して、エッジの位置を、最良適合グリッド６５８によって定義される、それらの予期される位置と比較することにより、所与のサブエリアがこのカテゴリに含まれるかどうかを判断する。他の実施形態では、コンピューティング装置は、反対極性（例えば、暗い／明るいまたは明るい／暗い）の２つの隣接するサブエリア間の境界領域のヒストグラムを生成し、サンプル領域を最良適合グリッド６５８に対して各サブエリアの同じ割合だけ重ね合わせて、ヒストグラムの５０／５０のバイモーダル分布からの逸脱を評価する。第２のサブエリア６５２はこのカテゴリに含まれる。

［0118］（３）明るいか、もしくは暗い、無関係なマークまたは白抜けを含むサブエリア。一実施形態では、コンピューティング装置は、サブエリアに対する輝度ヒストグラムを生成し、ヒストグラムの最も外側の主モード間の距離が十分に（例えば、所定の閾値を上回って）大きいかどうかを判断することによって、サブエリアがこのカテゴリに含まれるかどうかを判断する。第３のサブエリア６５４はこのカテゴリに含まれる。

［0119］（４）（ａ）所定の閾値を上回る長さ、（ｂ）所定の閾値を上回る（または下回る）長さに対する連続性、および（ｃ）所定の閾値を上回る（または下回る）直線性、の１つまたは複数を有する１つまたは複数のエッジを有するサブエリア。一実施形態では、コンピューティング装置は、１つのサブエリアの長さにわたり、最良適合グリッド６５８からサブエリアの半分の長さだけオフセットされ、最良適合グリッド６５８内でそのエッジと堺を接しているグリッド線に垂直に走る、ピクセル全体の輝度値を計算することによって、サブエリアがこのカテゴリに含まれるかどうかを判断する。第４のサブエリア６５６はこのカテゴリに含まれる。

［0120］コンピューティング装置がマーク（真正または候補）の特性を測定した後、コンピューティング装置は、マークの測定された特性を、索引配列関連リスト（マーク内のサブエリア（例えば、セル）位置によって関連付け可能）として利用可能にする。

［0121］図１９を参照して、別の例では、分析されているマークが１Ｄ線形バーコード７００であると仮定する。コンピューティング装置（第２のコンピューティング装置３２４など）が電子シグネチャを形成するために使用し得る特徴は、バーの幅またはバーの間の間隔における変化７０２、平均の色、着色または明度における変化７０４、黒いバー内の白抜け７０６（または白いストライプ内の黒い点）、およびバーのエッジの形状における不規則性７０８、を含む。

［0122］図２０および図２１を参照して、コンピューティング装置（第２のコンピューティング装置３２４など）が、図１６Ａのブロック４１６および図１６Ｂのブロック４６０で、マークに対する電子シグネチャの最も高い測定基準のサブセットを識別する（および、サブセットと関連付けられた位置識別子からＨＩＤを導出する）ために実行するプロセスをここで説明する。各測定された特性に対して（および特性が複数回、測定される場合に、特性に対する測定基準の各セットに対して）、コンピューティング装置は、電子シグネチャの一部を構成する測定基準のセットをとり、値によってセットをソートする。図２０では、例えば、（リストとして示された）測定基準の第１のセット８０２は、各セルが関連した索引番号を有する、２Ｄバーコードの様々なセルに対する着色を表す。各セルに対するデータは、この時点で単位なしであるが、コンピューティング装置が元々着色測定を行った時には、それを、グレー値を単位として行っている。第１のセット８０２は、２Ｄバーコードに対する電子シグネチャを構成する測定基準の複数のセットの１つにすぎない。コンピューティング装置は、第１のセット８０２をデータ値の大きさによってソートして、最も高いデータ値のサブセット８０６に対応する索引番号のサブセット８０４を抽出する。コンピューティング装置は次いで、索引値のサブセット８０４を測定基準の第１のセット８０２に対するＨＩＤブロックにする。

［0123］別の例では、図２１において、測定基準の第１のセット９０２は、マーク（例えば、真正マーク３１２または候補マーク３３６）の第１の特性に対応し、測定基準の第２のセット９０４は、マークの第２の特性に対応し、測定基準の第３のセット９０６（「ｎ番目のセット」または最後のセット）は、マークの第３の特性に対応する。しかし、測定基準の任意の数のセットがあり得る。この例における測定基準の各セットの各メンバは、（１）特性の測定値が取得されたマークのサブエリアのラスター位置と相関する、索引値、および（２）測定値自体であるか、または（例えば、何らかの統計的処理および正規化後）測定値から導出される大きさである、データ値、を含む。コンピューティング装置は、測定基準の各セットをデータ値によってソートする。測定基準の各セットに対して、コンピューティング装置は、データ値の最も高いサブセットに対応する索引値を抽出する。この例では、各最も高いサブセットは、測定基準のセットの上位２５のデータ値である。コンピューティング装置は、測定基準の第１のセット９０２の最も高いサブセットに対応する索引値から第１のＨＩＤブロック９０８を導出する。コンピューティング装置は同様に、測定基準の第２のセット９０４の最も高いサブセットに対応する索引値から第２のＨＩＤブロック９１０を導出する。コンピューティング装置は、測定基準のセットの各々に対して（すなわち、第３の、または「ｎ番目」のＨＩＤブロック９１２を導出するために測定基準のｎ番目のセット９０６まで）このプロセスを実行するまで、このプロセスを継続し、ＨＩＤブロックのセットをもたらす。コンピューティング装置は、ＨＩＤブロックを集約することによってＨＩＤを形成する。この例では、ＨＩＤブロックは、抽出された索引値自体を含む。

［0124］図２２を参照すると、コンピューティング装置（例えば、第２のコンピューティング装置３２４）が、一実施形態に従って、候補マークに対して生成されたＨＩＤを真正マークのＨＩＤとどのように比較するか（例えば、図１６Ｂのブロック４６４および４６６と関連して説明したように）の例が示されている。コンピューティング装置は、候補マークおよび真正マークのそれぞれのＨＩＤブロックを構成する索引値を、「同一条件での」比較に対して相互に一致している索引値の同様のセットと一致させようとする（例えば、候補マークの着色に対する索引値の抽出されたサブセットが、真正マークの着色に対する索引値の抽出されたサブセットと比較される）。コンピューティング装置は、各一致をカウントして一致スコアに加算する。従って、例えば、真正マークのブロック１００２および候補マークのブロック１００４は、２１の一致スコアを有するが、他方、候補マークのブロック１００６および真正マークのブロック１００８は４の一致スコアを有する。

［0125］図２３を参照すると、コンピューティング装置（例えば、第２のコンピューティング装置３２４）が、一実施形態に従って、真正マークのＨＩＤ全体を候補マークのそれとどのように比較するかの例が示されている。コンピューティング装置は、真正シグネチャのＨＩＤ値１１００の各個々のＨＩＤブロックをとり、それを候補シグネチャのＨＩＤ値１１０２の対応するブロックと比較して、一致スコアを割り当てる（例えば、図２２に関して前述したように）。コンピューティング装置は次いで、スコアの各々を総合的な一致スコアに統合する。総合的な一致スコアが所定の閾値スコアを満足するか、または上回る場合、コンピューティング装置はＨＩＤがぴったりと一致していると考える。例えば、コンピューティング装置は、１２０の所定の閾値スコアを使用し、スコアが１２０以上である場合、コンピューティング装置は、２つのＨＩＤがぴったりと一致していると考えることを意味する。この閾値は、ゼロまで低くできる。いくつかの実施形態では、コンピューティング装置は、最小値を無視して、単に「上位＜ｎ＞」のＨＩＤスコア（例えば、上位１０）をとる。かかる場合、コンピューティング装置は、上位１０の最良ＨＩＤ一致について一貫して検査を実行するであろう。これは、不正確なＨＩＤをカットオフして、それによりフィルタリングステップを通して偽陰性を生じる（実際に本物ではない候補に関する不必要な計算を犠牲にして）可能性に対処する。コンピューティング装置は次いで、真正ＨＩＤ値１１００と関連付けられたシグネチャを取得する。コンピューティング装置は、候補ＨＩＤ値１１０２を真正マークシグネチャのデータベース内に格納されたいくつか（おそらくは全部）のＨＩＤ値と比較するまで、このプロセスを繰り返す。このプロセスの結果は、真正マークシグネチャの全体セットのサブセットであり、その各々をコンピューティング装置は次いで候補マークのシグネチャと（より「強引な（ｂｒｕｔｅｆｏｒｃｅ）」方法で）比較できる。

［0126］本明細書で説明するコンピューティング装置の１つまたは複数が（例えば、候補マークおよび真正マークの）電子シグネチャを相互に比較し得る様々な方法がある。一実施形態では、コンピューティング装置は、直接数値的相関を使用して、（例えば、候補マークの）１つの電子シグネチャを（例えば、真正マークの）別の電子シグネチャと比較する（例えば、ブロック２６６および４７２において）。例えば、コンピューティング装置（例えば、第２のコンピューティング装置３２４）は、各特性に対する２つのマークの測定基準の生の（ｒａｗ）セットを配列索引（ａｒｒａｙ−ｉｎｄｅｘ）一致させる。コンピューティング装置はまた、真正マークの各生のセットを、候補マークから同様の順序で抽出された測定基準セットに正規化相関させる。コンピューティング装置は次いで、相関結果を使用して、一致／一致なし判断（本物対偽物）に達する。

［0127］別の例では、コンピューティング装置は、候補マークのソート済み測定基準の自己相関系列を、（格納された）ソート済み真正シグネチャの自己相関系列と比較することによるなど、自己相関の使用を通して、候補シグネチャを真正シグネチャと比較する。明確にするために、周知の統計的演算を、次式（１）に示す。

上記統計的演算は、一般的な正規化相関式であり、式中ｒは相関結果、ｎは測定基準データリストの長さ、ならびにｘおよびｙは、それぞれ真正マークおよび候補マークに対する測定基準データセットである。コンピューティング装置が自己相関関数を実行する場合、データセットｘおよびｙは同じである。

［0128］一実施形態に従って自己相関系列を生成するために、コンピューティング装置は、正規化相関式に規定された操作を複数回実行し、毎回、系列ｘを、系列ｙ（ｙはｘのコピーであることを覚えておく）に対して１つの追加的なインデックス位置だけオフセットする。オフセットが進むにつれて、データセットは、ｘインデックスのオフセットに起因して、ｙデータ系列における最後のインデックスを超えるので、始まりに「ラップ（ｗｒａｐ）」バックする。一実施形態によれば、コンピューティング装置は、ｙデータを倍にして、ｘデータをオフセット０からオフセットｎまで「スライド」させることにより、これを達成して、自己相関系列を生成する。

［0129］いくつかの実施形態では、図１４Ａのブロック２１２および図１６Ａのブロック４２２で、シグネチャ全体をメディア記憶装置内に格納する代わりに、第２のコンピューティング装置は代わりに自己相関結果の形状に一致する最良適合曲線を（所定の順序および精度で）記述する多項式係数のセットを格納する。第２のコンピューティング装置は、ソート済み測定基準データに関してシグネチャを生成するプロセスを実行し、結果として、特性データに対する自己相関系列（すなわち、真正マーク内のアーチファクトを表すのに役立つ測定基準）は典型的には単純な多項式曲線であるので、これは、実現可能である。

［0130］一実施形態では、コンピューティング装置（例えば、第２のコンピューティング装置１１０または第２のコンピューティング装置３２４）は、ｒ_ｘｙを計算し、式中、各項ｘ_ｉは、その大きさおよび位置によって表されるアーチファクトで、各項ｙ_ｉ＝ｘ_{（ｉ＋ｉ）}で、ｊは、ｊ＝０〜（ｎ−１）に対して、２つのデータセットのオフセットである。ｘ_ｉは、大きさによってソートされて、大きさはｘ_ｉの最大有効数字であるので、ｊ＝０で、またはｊ＝０の近くで、非常に強い相関関係があり、急速にｊ＝ｎ／２に向かって減少する。ｙはｘのコピーであり、ｊとｎ−ｊは交換可能であるので、自己相関系列はＵ字型曲線を形成し、その一例が図２４に示されており、それは、必然的にｊ＝０およびｊ＝ｎ／２に関して対称である。従って、コンピューティング装置は、この実施形態では、曲線の半分だけを計算する必要があるが、図２４には、ｊ＝０〜ｊ＝ｎまでの曲線全体が明確にするために示されている。

［0131］一実施態様では、コンピューティング装置（第２のコンピューティング装置１１０または第２のコンピューティング装置３２４など）は、実際の自己相関数を使用して、図１４Ｃのブロック２６６または図１６Ｃのブロック４７２を実行し、次いで、多項式モデル化曲線を使用して候補マークに関してそのプロセスを繰り返す。実際には、係数に対して６バイト浮動小数点値を使用する６次式は、真正シグネチャデータを１パーセントの曲線適合誤差または「認識忠実度」内で一致させる傾向があることが分かっている。コンピューティング装置が取得する結果の一致スコアは、互いの１パーセント以内であり得る。これは、高一致スコア（候補マークが本物だった場合に予期されるような）および低一致スコア（候補マークが本物でなかった場合に予期されるような）の両方に当てはまり得る。

［0132］一実施態様では、電子シグネチャの生成を目的としてマークの測定基準を分析する（例えば、図１６Ａのブロック４１２、および図１６Ｂのブロック４５６に記述のように）コンピューティング装置は、シグネチャを生成するために使用する測定基準を制限して（ｂｏｕｎｄ）正規化する。例えば、コンピューティング装置は、多項式係数を一定の精度で表現して、自己相関データ自体を−１〜＋１の間の値として表現し、ソート順リストとして、分析されたマーク（真正または候補）内の配列索引位置を使用してもよい。分析されているマークが２Ｄデータ行列である場合、配列索引は、使用されている記号論に対する従来型の基準点から順序付けされた、マーク内のセル位置のラスター順序付け索引であってもよい。１つの一般的なタイプの２Ｄデータ行列では、原点はグリッドの左および下部の境界を付ける２本の実線が合う点である。

［0133］一実施態様によれば、コンピューティング装置は、真正シグネチャを候補シグネチャと（図１４Ｃのブロック２６６または図１６Ｃのブロック４７２に記載のように）次のように比較（一致させようと）する。コンピューティング装置は、格納された多項式係数を使用してシグネチャを再構成し、各リスト内の測定基準を（すなわち、測定された各特性に対して）自己相関させて多項式係数を生成して、多項式係数の２つのセットを比較する（２つの自己相関系列を比較する）。コンピューティング装置は、この比較をいくつかの方法で実行し得る。例えば、コンピューティング装置は、候補マークの自己相関系列を、真正マークのシグネチャの（再構成された）自己相関曲線に対して相関させようとし得る。代替として、コンピューティング装置は、自己相関系列の各々（候補および真正）に対して曲線を構築し得、一対の曲線について曲線適合誤差を実行する。図２４または図２５は、このプロセスを例示する。所与の特性に対する自己相関値の２つのセット（または特性に対する測定基準の所与のセット）の間の相関の程度が、その特性または測定基準のセットに対する一致スコアになる。コンピューティング装置は次いで、候補マークが本物であるか否かを、様々な特性に対する一致スコアの全部に基づいて判断する。

［0134］一実施態様では、電子シグネチャの生成を目的としてマークの測定基準を分析する（例えば、図１６Ａのブロック４１２、および図１６Ｂのブロック４５６に記述のように）コンピューティング装置は、冪級数（ｐｏｗｅｒｓｅｒｉｅｓ）分析を候補マークに対する自己相関データおよび真正マークに対する自己相関データに適用する。コンピューティング装置は、かかる冪級数分析を、離散フーリエ変換（以下、単に「ＤＦＴ」という）を使用して適用してもよい。ＤＦＴを次式（２）に示す。

上記ＤＦＴの式（２）中、Ｘ_ｋはｋ番目の周波数成分であり、Ｎは測定基準のリストの長さであり、ｘは測定基準データセットである。コンピューティング装置は、ＤＦＴの冪級数を計算し、振幅について各周波数成分（ＤＦＴ系列において複素数によって表される）を分析して、位相成分を廃棄する。結果として生じるデータは、測定基準データスペクトルエネルギーの分布を、低周波から高周波へ、記述し、それは、さらなる分析のための基礎となる。これらの冪級数の例を、図２６、図２７、および図２８にグラフを使って示す。

［0135］一実施形態では、電子シグネチャの生成を目的としてマークの測定基準を分析する（例えば、図１６Ａのブロック４１２、および図１６Ｂのブロック４５６に記述のように）コンピューティング装置は、２つの周波数領域分析として、尖度（Ｋｕｒｔｏｓｉｓ）および分布バイアス（ＤｉｓｔｒｉｂｕｔｉｏｎＢｉａｓ）を採用する。このコンテキストでは、分布バイアスは、全スペクトルの中心帯域周辺のエネルギー分布の測定を指す。尖度を実行するために、コンピューティング装置は、次式（３）を使用し得る。

上記の式（３）中、次式（４）は冪級数振幅データの平均である。

また、ｓは振幅の標準偏差であり、Ｎは分析された離散スペクトル周波数の数である。

［0136］一実施形態で分布バイアスを計算するために、第２のコンピューティング装置は次式（５）を使用する。

上記の式（５）中、Ｎは分析された離散スペクトル周波数の数である。

［0137］一実施形態で周波数領域分析を使用する（例えば、ＤＦＴを使用する）場合、コンピューティング装置は次の基準を考える、真正マークのシグネチャの滑らかな多項式曲線（大きさによるソートから生じる）は、周波数領域で分析される場合、分光シグネチャにおける認識可能な特性を生じる。候補マークは、測定基準データが真正マークから抽出されたものと同じ順序で抽出されるとき、シンボルが本物である場合、類似したスペクトルエネルギー分布を示す。言い換えれば、真正のソート順は、候補の測定基準の大きさと「一致」する。ソート済みの大きさにおける不一致、または他の重畳信号（写真複写アーチファクトなど）は、そうでなければ真正シンボルスペクトルにはない高周波成分として現れる傾向があり、従って、マーク真偽の追加の測定を提供する。これは、偽の自己相関系列がまだ真正マークの最小の統計的一致閾値を満足する可能性に対処する。かかる信号のＤＦＴ冪級数の分散特性は、候補系列の小振幅一致誤差内に存在する高周波数によって一致の低品質を明らかにする。かかる状態は真正マークの写真複写を示し得る。具体的には、コンピューティング装置は、高尖度および高分布比は真正マークのスペクトル内に存在すると考える。いくつかの実施形態では、コンピューティング装置は、この冪級数分布情報を一致スコアと共に、候補マークの検証における信頼の尺度として使用する。

［0138］図２９を参照すると、一実施形態では、コンピューティング装置は、マークに対する電子シグネチャを、バイト列としてシグネチャをコード化することにより、生成し（例えば、図１４Ａのブロック２０８、図１４Ｂに対するブロック２５４、図１６Ａのブロック４１４、および図１６Ｂのブロック４５９に記述のように）、バイト列は、数的な大きさのデータではなく、米国情報交換標準コード（「ＡＳＣＩＩ」）文字として表され得る。この代替形式は、コンピューティング装置が、マークをメディア記憶装置内で探すための索引として、シグネチャデータを直接使用できるようにする。この実施形態では、真正マークに対する各シグネチャ測定基準の位置および大きさをソートするのではなく、コンピューティング装置は、真正マーク内での著しいシグネチャ特徴の存在（または欠如）および評価された位置の各々を格納する。例えば、一意の識別子または連番を保持もコード化もしていない２Ｄデータ行列シンボルの場合、コンピューティング装置は、マークのシグネチャデータを文字の列として格納し、各々は、サブエリア内の各特性に対する最小の大きさ閾値を上回っている特徴の有無をコード化しているが、任意の１つの特性内の特徴の大きさまたは数に関するさらなるデータはコード化していない。この例では、図２９のマーク１７００内の各サブエリアは、測定基準のセットの各々に対して１ビットの、４ビットのデータを有し、ここで「１」は、特定の測定基準がそのサブエリアにおいて著しい特徴を有することを示す。例えば、００００（１６進数の０）は、４つの検査した特性のいずれも、その特定のサブエリアにおける閾値大きさを超える程度まで存在しないことを意味し得る。１１１１（１６進数のＦ）の値は、検査した特性の４つ全部が、その特定のサブエリアにおける最小値を超える程度まで存在することを意味し得る。

［0139］マーク１７００の例では、最初の６つのサブエリアが次のようにコード化される。（１）第１のサブエリア１７０２には平均輝度に対するアーチファクトがなく、十分に黒い。グリッドバイアスがない。大きな白抜けがある。エッジ形状アーチファクトがなく、そのエッジは真っ直ぐで滑らかである。コンピューティング装置は従って、それを００１０としてコード化する。（２）第２のサブエリア１７０４には、白抜けおよびエッジ形状アーチファクトがある。コンピューティング装置は従って、それを００１１としてコード化する。（３）第３のサブエリア１７０６は、黒よりはむしろ、目に見えてグレーであるが、他のアーチファクトはない。コンピューティング装置は従って、それを１０００としてコード化する。（４）第４のサブエリア１７０８にはアーチファクトがない。コンピューティング装置は従って、それを００００としてコード化する。（５）第５のサブエリア１７１０にはグリッドバイアスがあるが、他のアーチファクトはない。コンピューティング装置は従って、それを０１００としてコード化する。（６）第６のモジュール１７１２にはアーチファクトがない。コンピューティング装置は従って、それを００００としてコード化する。従って、最初の６つのモジュールは、２進数で００１０００１１１００００００００１００００００、１６進数で２３８０４０、１０進数で３５−１２８−６４、またはＡＳＣＩＩで＃?＠としてコード化される。２２×２２サブエリアの典型的なシンボルサイズの、２Ｄデータ行列コードを例として使用すると、一意のシグネチャデータを含むＡＳＣＩＩ文字列部分は、データが１文字（バイト）あたりパック化２モジュールであると仮定して、２４２文字の長さであろう。コンピューティング装置は、真正マークのシグネチャ文字列をデータベース、フラットファイル、テキスト文書または個々の文字列の集団の格納に適した任意の他の構造内に格納する。

［0140］一実施形態によれば、コンピューティング装置（例えば、第２のコンピューティング装置３２４）が候補マークを検査して、そのマークがＡＳＣＩＩ実装された実施形態において本物であるかどうかを判断するプロセスは次のとおりである。

［0141］（１）コンピューティング装置が候補マークを分析して、そのＡＳＣＩＩ文字列を抽出する。

［0142］（２）コンピューティング装置は、ＡＳＣＩＩ文字列を使用してデータベースプログラムによって探索クエリーを実行する。

［0143］（３）コンピューティング装置は（データベースプログラムの制御下で）、メディア記憶装置内に格納されたシグネチャを、完全な候補探索文字列の完全一致に対して検査する。コンピューティング装置が完全な文字列一致を見つけなかった場合、コンピューティング装置は、部分文字列の探索、または文字列全体についての「ファジーマッチ」探索のいずれかによって、近似マッチを探索しようと試みてもよい。

［0144］（４）探索が、少なくとも第１の最小信頼一致閾値の１つの基準文字列との一致を返す場合、コンピューティング装置は、真正マークと候補マークが同じであると考える。言い換えれば、コンピューティング装置は、候補マークが本物であると識別する。他方、探索が、第２の、より低い閾値を上回るパーセントマッチの文字列を返さない場合、コンピューティング装置は、候補マークを偽物または無効として拒絶する。

［0145］（５）探索が、第１の閾値と第２の閾値との間のパーセントマッチの１つの基準文字列を返す場合、コンピューティング装置は、その結果が不確定であると考えてもよい。探索が、第２の閾値を上回るパーセントマッチの２つ以上の基準文字列を返す場合、コンピューティング装置は、その結果が不確定であると考えてもよい。代替として、コンピューティング装置は、候補マークの文字列を、他の格納された基準文字列の１つと一致させるために、さらなる分析を実施し得る。

［0146］（６）結果が不確定である場合、コンピューティング装置は（例えば、ユーザーインタフェース上に、またはメッセージを第３のコンピューティング装置２４０に送信することにより）結果が不確定であることを示してもよい。コンピューティング装置は、検査のために候補マークの別の画像を提出するようにユーザーを促してもよい。代わりに、または追加として、コンピューティング装置は、候補マークの捕捉画像内の個々の特徴をコード化するための再試行方法を採用してもよい。コンピューティング装置は、候補マーク内のシグネチャデータがその測定基準に対する大きさの最小閾値に近い任意のサブエリアに、再試行方法を適用してもよい。検査されているマークが誤り訂正機構を使用する場合、再試行方法は、誤り訂正機構がおそらく損傷しているか、または変更されていると示す、候補マークの任意のサブエリアまたは部分に適用されてもよい。代わりに、または追加として、コンピューティング装置は、その最小の大きさ閾値に近い大きさの任意のシグネチャデータを、例えば、その存在ビットをアサートして（１に設定する）探索し、次いで、そのビットをアサートせずに（０に設定する）再度探索することにより、または「ワイルドカード」文字で置換することにより、重視しない可能性がある。代替として、コンピューティング装置は、閾値に近い特徴を表しているそれらのビットの重みを減らすか、または無視することにより、パーセントマッチクエリーを再計算してもよい。

相互対固有のシグネチャ情報
［0147］組成に関して、マークのシグネチャは、３つの信号、一意に識別する情報（ＵＩ）、共有または相互情報（ＭＩ）、およびノイズ（Ｎ）、の総和として考えることができる。一意に識別する情報は、マークの固有の「指紋」成分として考えることができるものであり、他方、相互情報は、共通の特徴が複数のマークにわたって共有されるシブリングシグネチャの搬送波である。ノイズ成分は、系統的（例えば、検証装置のアーチファクト）またはランダムのいずれかであり得、いずれの場合にも、シグネチャ識別プロセスに積極的に寄与しない。

［0148］前述の説明を拡大すると、真正アイテムの場合、ＵＩおよびＭＩの両方が良く相関して、Ｎの相対振幅によってマイナスの影響を受けることが見られる。シブリングの場合、ＵＩ成分は一般に、無相関であるが、ここで、ＭＩは２つのシブリングシグネチャ間に明白な類似性を示す。偽造マークに対して、３つ全ての信号成分は、無相関である。図３０は、グラフを使ってこの概念を例示する。

シブリング製造
［0149］一般に、シブリングは、リソグラフまたはフレキソ印刷などの、版ベース印刷プロセスの一部として生じる。製造の実行中、特定の版によって行われる全ての刷りは、シグネチャデータが幾分相関するシブリング関係を共有し得る。同じ版下の複数の刷りがある版に対して、刷りごとにシブリングが作製される。版シリンダに取り付けられる場合、シリンダの１回転で（同じ）版下パターンの複数の刷りを作製するように、配置された、印刷すべきパターンの複数のインスタンスを有するのは、フレキソ印刷版の典型である。例えば、６刷版は、シリンダの回転ごとに６つの印刷されたマークを生じ得る。この場合、すべての６番目のマークは、それ自身の「シブリングセット」の一部である。言い換えれば、このプロセスが実行すると、製造バッチは、関連シブリングの６つの別個のセット（版刷ごとに１つ）を有する。ある特徴のある特性に対して、シブリングマーク間に検出可能な相関関係はない可能性がある。すなわち、ある特徴のある特性によれば、それらは、シグネチャ分析の観点から相互に関して「偽物」のように見える。例えば、図３１を参照する。一実施形態では、しかし、ある他の特性を使用して、コンピューティング装置は、相関を識別して、マークがシブリングであると判断してもよい。この態様は、以下でさらに詳細に説明する。

［0150］シブリング製造は、意図的または積極的に管理されたプロセスではないことに留意されたい。それは、前述の印刷方法によって作製されたマークの自然の特質であり、そのため、使用できる「出現した」印刷特性を構成する。

シブリング認識
［0151］図１２に例示するように、シブリングシグネチャは、それらのデータが統計的相関分析を受ける場合、高い類似度を示す。

信号分離
［0152］様々な実施形態によれば、コンピューティング装置はシブリングシグネチャ情報が存在する場合を認識し、マーク分析中に、例えば、無関係に作製された偽物と正規のマーク付け機器で作られたマークの違法コピーとを区別することによって、この情報を使用する。一実施形態でこのプロセスを実行するために、コンピューティング装置は、ノイズの影響を最小限にしながら、固有の情報から相互情報を分離する。

［0153］一実施形態では、コンピューティング装置は、全てのシグネチャの平均をとることにより、シブリングシグネチャのセット内の相互情報成分を識別する。ＵＩ成分は定義により無相関であるため、それらの個々の寄与は（ランダムノイズ成分と共に）平均して、共有シブリングＭＩだけが残る。

［0154］一旦、コンピューティング装置がＭＩを分離すると、ＭＩを元の個々のシグネチャから差し引くことができ、それにより、ＭＩが除去されたシグネチャを作成する。シグネチャ分析の観点から、一旦、共有情報が除去されると無相関信号だけが残っているので、これは、シブリングを非シブリングに効果的に変換する。これがどのように有用であるか、以下でさらに説明する。

反シブリング（Ａｎｔｉ−ｓｉｂｌｉｎｇ）
［0155］共有情報の一形式は、マークのインスタンスとそのシブリングとの間に反相関が存在する状態を含む。ここで、コンピューティング装置がマークをその反シブリングと比較する場合、結果はマイナスに高い相関結果である。すなわち、シブリング関係は一般に、２つのマークの間に０．１〜０．４の間の相互相関を生じるが、反シブリングは−０．１〜−０．４の間のシグネチャ相関を生じるであろう。本当に無関係なマーク（非シブリングまたは偽物）は、ゼロに近いスコアで無相関であることを思い出すと、反相関現象は、プロセスが作動中で複数のマークから導出されたシグネチャ間の測定可能な関係を作成していることを示す。従って、たとえ測定された関係が反対の１つであっても、その中にはやはり同様のマーク起源を示している情報が存在し、それをコンピューティング装置は使用できる。

［0156］図３２〜図３４に示すプロットは、前述した３つの関係に対するシグネチャデータ例を示す。

シブリング現象の適用
［0157］一実施形態では、コンピューティング装置は、シブリング情報の有用な適用を作成するために、少なくとも３つの主要な分析操作を実行し得る。
・個々のシグネチャについて相互相関操作を実行し、それにより、シブリング関係がシグネチャの集団間に存在することを立証する。
・シブリングのセットに対してシブリングシグネチャを構成する共通のシグネチャ情報（すなわち、共有情報）を計算する。
・それらの共有シブリングシグネチャ情報のシブリングを「取り除き（ｃｌｅａｎ）」、その後、それらを後続の探索およびシグネチャデータ処理操作で非シブリングマークとして扱う。

［0158］データベース内のシグネチャ間にシブリング関係が存在することを識別して、それらのシブリングシグネチャを抽出していると、コンピューティング装置は、データベースおよび構成するシグネチャデータに関して有用な操作を実行することができる。

［0159］例えば、コンピューティング装置は、候補マークについて検証操作を実行しているとき、元の正しい真正シグネチャをリポジトリ内で見つけるために探索空間を狭め得る。データベース内に保持されたマークデータのシブリングシグネチャを用いて、コンピューティング装置は、２ステップ探索を実行でき、効果的にデータブロックのサイズを削減し、それに対して徹底的な低周波波形探索操作を適用する。高レベルにおいて、一実施形態に従いコンピューティング装置によって実行される手順は、次のとおりである。
・データベース内の全てのシグネチャを分析して、ＭＩに基づきシグネチャについてクラスタ化操作を実行する。
・各クラスタに対して、次のとおり実行する。
ｏシブリングシグネチャを抽出する
ｏシブリングシグネチャを対応するクラスタに関連してデータベース内に格納する。
・候補マークを受信すると、クラスタシグネチャを着信候補シグネチャと比較することにより、正しいクラスタを選択する。
・最良一致クラスタを全体としてマッチング手順に回す。
真正マークのクラスタシグネチャのセットを最初に通過する際に探索を絞ることにより、コンピューティング装置または論理回路は、比較する必要があるシグネチャの数を著しく削減できる。

［0160］ＨＩＤのコンテキストにおけるシブリング処理技術の使用
一実施形態では、コンピューティング装置は、シブリング識別および処理を使用して、ＨＩＤ実施形態に関して前述した技術をさらに最適化し得る。

［0161］前述したものは、着信候補を各クラスタのシブリングシグネチャと比較することにより探索できるクラスタ化された元の真正指紋データのセットであり、最も高い類似度を生じるものが正しいクラスタで、それに対して徹底的な二次探索を実行する。そこからの指紋処理は、前述のとおり進む。

［0162］多くの実施形態では、シブリングの一次グループ化は、印刷版上のそれらの印刷位置であろう。極めて大規模な製造ロットに対して、シブリングシグネチャを使用して探索ブロックのサイズを単一のグループに削減しても、リアルタイム検証要件によって課される制限を超える探索レイテンシを生じ得る。クラスタのサイズを（例えば、シブリングデータによって示されるように、特定の識別されたプリンタに対応するＨＩＤに対する探索を絞ることにより）削減することは、探索空間を削減するために使用され得（すなわち、コンピューティング装置は、最も計算コストが高い比較プロセスをシグネチャのサブセットについてだけ実行する必要がある）、それにより、処理を促進する。

［0163］例えば、図３５を参照すると、コンピューティング装置は、シグネチャについてクラスタ化手順（例えば、ｋ平均法などの周知のクラスタ化手順）を実行することにより、探索木を構築する。この手順は、クラスタの最下層を生じるであろう。各クラスタに対して、コンピューティング装置は、そのクラスタのメンバの全部を表す単一のシブリングシグネチャを抽出する。コンピューティング装置は次いで、結果として生じたクラスタに同じクラスタ化手順を実行し、それによりスーパークラスタを識別する。コンピューティング装置は次いで、ｎレベルに対して継続し、それにより、探索木を構築する。コンピューティング装置が候補マークを受信する場合、それは、シブリングシグネチャを含む、マークから（特定の測定など−前述した技術の１つまたは複数を使用して）シグネチャを抽出し、探索木に上から入って、候補シブリングシグネチャを比較して、最良一致を見つける、など。コンピューティング装置は、最終的に木の最下層に達するまで、候補を、さらに小さいサブセットに分解する、もっと詳細なシブリングシグネチャに対して連続的に比較し、木の最下層で、全部の個々のシグネチャについてさらに徹底的な比較を最終的に行うという結果となる。コンピューティング装置は次いで、前節で前述したように、１つまたは複数の通知を行う。シブリングシグネチャの代わりに、各連続するスーパークラスタまたはクラスタがＨＩＤによって表され得、（類似に対する）比較がＨＩＤを使用して（最下層上の最終クラスタまで）行われ得ることに留意されたい。

［0164］引き続き図３５を参照して、コンピューティング装置が候補マーク（以下、「着信マーク」ともいう）を前述した方法で受信すると仮定する。さらに、コンピュータ装置は、図３５に示すように、各シブリング（例えば、各個々の識別されたプリンタ）がそれと関連付けられて、データベース内に適切に索引付けされた、それ自身のスーパークラスタおよび／またはクラスタを有するというさらなる特徴をもつ、ＨＩＤ実施形態と併せて説明したように、索引付けされているマークのデータベースにアクセスできると仮定する。コンピューティング装置は、（ａ）本明細書で説明する技術の１つまたは複数を使用してマークを分析すること、（ｂ）候補マーク内のシブリングシグネチャを識別すること（例えば、どのプリンタが候補マークを作成したかを識別すること［例えば、どの版がマークを印刷したか、またはどの刷版グループにマークが属しているかを識別する］）、（ｃ）識別されたシブリングシグネチャを使用して、どのスーパークラスタを探索すべきかを選択すること、（ｄ）さらなるシブリングシグネチャデータ（または他の非シブリング特性）を使用して、選択されたスーパークラスタ内のどのクラスタを探索すべきかを決定すること、（ｅ）探索空間を絞るこのプロセスを必要に応じて、データベースの構造に基づいて繰り返すこと、および（ｆ）総当たり法または前述したＨＩＤ技術の１つまたは複数のいずれかを使用して、探索空間の最終探索を実施すること、を行ってもよい。

シグネチャ減衰（ＳｉｇｎａｔｕｒｅＤｅｃａｙ）
［0165］研究において、シブリングシグネチャは時々、減衰特性を示す。すなわち、それらは定量化可能な時定数と共に徐々に変化することが認められている。図３６のプロットに、この概念を示す。

［0166］図３６のプロットの作成において、コンピューティング装置は、系列内の第１のアイテムを基準シグネチャとして使用し、それに対して全ての他のシグネチャが比較される。さらに、ピークの典型的な周期系列が明白であり、検査セットは本当にシブリングマークを含むことを示している。しかし、シブリング類似度の減衰がデータ内で観察されて、シブリング類似度の強度がマークの製造シーケンスに関して局所的態様を有することを意味する。要するに、２つのマークが製造系列内で相互に近接して存在すれば、それらの共有類似度測定がそれだけ強くなる。

［0167］十分に長く実行されると、すなわち、上の図をずっと右まで延ばすと、シブリング類似度ピークは最終的に完全に消滅することが観察される。それが物理的に意味するものは、同じ刷版によって製造されたマークがあるが、シブリングのように「動作する」ために必要な共有相互情報を欠いていることである。同じクラスタ内にこれら全部のマークを含めると、結果として生じるシブリングシグネチャが多くの弱相関シグネチャの平均であることに起因して、クラスタ探索中に不十分な成果しか生み出さない。任意のかかる導出されたシグネチャは、たとえ候補マークが比較されるクラスタ／刷版グループに「属していた」としても、候補に対して同様の弱さで一致するであろう。

［0168］これらの例では、コンピューティング装置は、それがマーク系列に沿って移動するのに従って新しいクラスタを周期的に作成する方法を採用する。これは、（潜在的に莫大な）シブリングマークの単一のセットをもっと小さくて、もっと管理可能なセットに「分割する（ｃｕｔｕｐ）」効果を有する。特に有用なことに、新しいクラスタを確立する頻度が、必要に応じて制御でき、従って、高速な二次探索に適しているか、または完全なマークシグネチャ比較法を使用した徹底的な処理に対してさえ適したサイズのクラスタを生じる。

［0169］図３７のプロットは、５つのもっと小さいクラスタに処理された図３６の単一のクラスタデータを例示する。各新しいクラスタ内の共有類似度測定がどのように大幅に改善されたかに留意すると、各クラスタに対して導出されたシブリングシグネチャは、着信候補シグネチャを選択して正しいクラスタに入れる方法として使用され得ることを意味する。

シグネチャデータの統計的分析
［0170］一実施形態では、コンピューティング装置は、複数の空間周波数帯域にわたる真正マークに対して複数のフィルタ処理プロファイルを作成し、それらのフィルタ処理プロファイルをメディア記憶装置内に格納する。その後、コンピューティング装置が真性について検査される候補マークの画像を受信すると、コンピューティング装置は、（ａ）候補マークに対してフィルタ処理プロファイルを作成し（例えば、ブロック５０８、５１０、６０８、および６１０）、（ｂ）特定の空間周波数帯域における候補マークに対するフィルタ処理プロファイルを同じ空間周波数帯域における真正マークのフィルタ処理プロファイルと（例えば、真正マークのフィルタ処理プロファイルおよび候補マークのフィルタ処理プロファイルのデータ系列について統計的相関関数を実行することにより）比較して（例えば、ブロック６１２）、（ｃ）統計的相関に基づいて相関スコアを割り当て、（ｄ）（ｂ）および（ｃ）を複数の周波数帯域に対して繰り返し、（ｅ）相関スコアの集合に基づいて空間周波数スペクトル相関プロファイルを作成する。例えば、相関スコアは、特定の周波数帯域で帯域フィルタ処理された真正および候補測定基準データに対する数的系列相関であり得る。

シブリング系列パターン
［0171］図３８は、単一の基準マーク（プロット系列における第１）と、同じ印刷装置上で同じ製造バッチで作成されたマークのグループの特性間の類似度を示すプロットを示す。図に示すように、一連のシブリングピーク（おそらくはシブリングシグネチャにマッピングするデータ点）があり、それは、この例では、７の周期（すなわち、この一連のマークを作成するために使用された版が印刷シリンダの周辺に７つの刻印（ｉｍｐｒｅｓｓｉｏｎ）を有していた）を有する。コンピューティング装置がこのプロットに反映されたデータを取得して分析を実施する場合、コンピューティング装置は、シブリングピーク間のデータはおおよそ繰返し形状に一致するという結論に達するであろう。各シブリングピーク間に６つのマークを表している、このデータは、印刷生産順に評価される場合、基準マークに対する非シブリングの類似度を特性化するためにコンピューティング装置によって使用されてもよい。実際には、コンピューティング装置が行い得ることは、異なるシブリングセット間の特性である「不変の相違点（ｓｔａｂｌｅｄｉｓｓｉｍｉｌａｒｉｔｙ）」をプロットして識別することである。従って、コンピューティング装置は、一実施形態では、この一連のマークを作成した印刷プロセスのシグネチャを（マークが作成されるフロントエンドにおいて）確立するか、または（候補マークの検証中に）識別し得る。コンピューティング装置は、この原理を様々な方法で適用してもよい。例えば、コンピューティング装置が偽造データのセットをある期間にわたって収集し、それに続く法的処置強制捜索で偽造マークまたは製造機器の押収となる場合、コンピューティング装置は、収集された偽造シブリングシグネチャデータを、押収したマークまたは押収した機器によって作製したマークを（本明細書で説明する１つまたは複数の技術に従って）分析するコンピューティング装置から取得したシグネチャデータに対して一致させることができる。これは次いで、偽造者の起訴における証拠として使用され得、確信をもって押収した機器が流通で見つかった偽造品を実際に製造したことを立証する。

［0172］一実施形態では、空間周波数スペクトル相関プロファイルは、所定の方法で順序付けられた相関スコアを含むデータ系列で構成されている。図３９は、プロットとして示された、空間周波数スペクトル相関プロファイルの一例を示す。横軸は、帯域通過フィルタの各々に割り当てられた数値で構成されている。例えば、帯域通過フィルタ＃１は、３ミリメートル〜６ミリメートルの波長からのスペクトル成分を許可してもよく、帯域通過フィルタ＃２は、６ミリメートル〜１２ミリメートルの波長からのスペクトル成分を許可してもよい、など。縦軸は、コンピューティング装置によって候補マークおよび真正マークのそれぞれのフィルタ処理プロファイルについて実行された相関操作の相関スコアで構成されている。

［0173］一実施形態では、コンピューティング装置は、候補マークの空間周波数スペクトル相関プロファイルと真正マークのそれを比較し、その比較に基づいて、候補マークが真正マークであるかどうかを判断する。追加または代替として、コンピューティング装置は、（例えば、候補マークが本物でないことを決定した後）候補マークが真正マークと同じ印刷板を使用して印刷されたかどうかを判断する。空間周波数スペクトル相関プロファイルの形状は結果を示し、コンピューティング装置は、この形状をブロック６１４の実行の一部として解釈してもよい。例えば、図３９は、真正マーク（線２１０２）の典型的な「こぶ（ｈｕｍｐ）」形状および偽造マーク（線２１０４）の低くて平坦な線を示す。図４０は、真正（線２２０２）対同じ真正マークの写真複写（線２２０４）を示す。

［0174］本明細書で説明する実施形態例は、制限のためではなく、説明的な意味においてのみ考えられるべきであることを理解すべきである。各実施形態内の特徴または態様の説明は、典型的には、他の実施形態における他の同様の特徴または態様に対して利用可能であると考えられるべきである。形式および詳細における様々な変更がそれらの精神および範囲から逸脱することなくその中で行われ得ることが当業者によって理解されよう。例えば、様々なフローチャートのステップは、当業者にとって明らかな方法で再順序付けできる。さらに、これらのフローチャートのステップおよび本明細書で説明する方法は全て、単一のコンピューティング装置上で実行され得る。

Claims

コンピューティング装置上で、候補マークが本物であるかどうかを判断するための方法であって、
真正マークの捕捉画像を受信することと、
前記真正マークの前記捕捉画像を使用して、前記真正マークの特性を前記真正マーク内の複数の位置で測定して、前記真正マークに対する前記特性に対して測定基準のセットをもたらすことと、
測定基準の前記セットに基づいて、前記真正マークに対する電子シグネチャを生成することと、
複数の真正マークの各々に対して前記受信、測定、および生成するステップを繰り返して、複数の真正シグネチャをもたらすことと、
前記複数の真正シグネチャの統計的相関分析を実行することと、
前記複数の真正シグネチャの前記統計的相関分析に基づいて、どの真正シグネチャが、それらが表す前記マークが同じプリンタ上で印刷されたことを示すほど十分に相関しているかを判断することと、
前記相関判断に基づいて、前記複数の前記真正シグネチャを複数のクラスタにクラスタ化することと、
前記複数のクラスタの各々に対してシブリングシグネチャを生成することと、
候補マークの捕捉画像を受信することと、
前記候補マークの前記捕捉画像を使用して、前記候補マークの特性を前記真正マーク内の複数の位置で測定して、前記候補マークに対する前記特性に対して測定基準のセットをもたらすことと、
測定基準の前記セットに基づいて、前記候補マークに対する電子シグネチャを生成することと、
前記候補マークの前記電子シグネチャを前記複数のクラスタの各々の前記シブリングシグネチャと比較して、どのクラスタが前記候補マークに対して最良一致であるかを識別することと、
前記候補マークの前記電子シグネチャを前記最良一致であると識別された前記クラスタの前記電子シグネチャの各々と比較することと、
前記候補マークが本物であるかどうかを、その電子シグネチャの、前記最良一致であると識別された前記クラスタの前記電子シグネチャの各々との前記比較に基づいて、判断することと、
前記真偽判断に基づいて、ユーザーに対するメッセージを生成することと
を含む、方法。
前記統計的相関分析は、
前記複数の真正シグネチャの平均を計算することと、
前記計算された平均に基づいて、前記複数の真正シグネチャの相互情報を識別することと、を含み、前記相互情報は、同じプリンタから印刷された真正シグネチャによって共有される特徴を含む、請求項１に記載の方法。
前記候補マークの前記電子シグネチャを、前記最良一致として識別された前記クラスタの前記電子シグネチャの各々と比較する前に、前記相互情報を前記複数のクラスタの１クラスタ内の前記複数のシグネチャの各々から除去することをさらに含む、請求項２に記載の方法。
クラスタに対してシブリングシグネチャを生成することは、前記クラスタの前記電子シグネチャの各々にわたって共有される共通の特徴を識別することを含む、請求項１に記載の方法。
前記候補マークの前記電子シグネチャを前記複数のクラスタの各々の前記シブリングシグネチャと比較することは、前記候補マークの前記測定基準の自己相関系列を、前記シブリングシグネチャの前記格納された測定基準の自己相関系列と比較することを含む、請求項１に記載の方法。
前記候補マークの前記電子シグネチャを前記最良一致であると判断された前記クラスタの前記複数の電子シグネチャの各々の前記電子シグネチャと比較することは、前記候補マークの前記測定基準の自己相関系列を、前記クラスタの前記複数の電子シグネチャの各々の前記測定基準の自己相関系列と比較することを含む、請求項１に記載の方法。
前記複数の位置の各々が、前記真正マークのサブエリアであり、前記特性が前記サブエリアの平均着色である、請求項１に記載の方法。
前記複数の位置の各々が、前記真正マークのサブエリアであり、前記特性が、前記サブエリアの前記位置における最良適合グリッドからの偏差である、請求項１に記載の方法。
前記複数の位置の各々が、前記真正マークのサブエリアであり、前記特性が、前記サブエリア内でのストレイマークまたは白抜けの発生である、請求項１に記載の方法。
前記特性が、前記真正マークのエッジの前記投影平均ピクセル値である、請求項１に記載の方法。
前記真正マークが印刷されたバーコードである、請求項１に記載の方法。
前記真正マークの１つまたは複数の追加の捕捉画像を受信すること
をさらに含み、
前記真正マークの前記捕捉画像を使用して、前記真正マークの特性を測定することは、
前記真正マークの前記捕捉画像を、前記１つまたは複数の追加の捕捉画像と融合して、融合画像を作成することと、
前記融合画像を使用して、前記真正マークの特性を前記真正マーク内の複数の位置で測定して、前記特性に対して測定基準のセットをもたらすことと、
を含む、
請求項１に記載の方法。
コンピューティング装置上で、候補マークが本物であるかどうかを判断するための方法であって、
真正マークの捕捉画像を受信することと、
前記真正マークの前記捕捉画像を使用して、前記真正マークの特性を前記真正マーク内の複数の位置で測定して、前記真正マークに対する前記特性に対して測定基準のセットをもたらすことであって、
前記複数の位置が複数の位置識別子に対応することと、
測定基準の前記セットに基づいて、前記真正マークに対する電子シグネチャを生成することと、
複数の真正マークの各々に対して前記受信、測定、および生成するステップを繰り返して、複数の真正シグネチャをもたらすことと、
前記複数の真正シグネチャの統計的相関分析に基づいて、どの真正シグネチャが、それらが表す前記マークが同じプリンタ上で印刷されたことを示すほど十分に相関しているかを判断することと、
前記統計的相関分析に基づいて、前記複数の前記真正シグネチャを複数のクラスタにクラスタ化することと、
前記複数のクラスタの各々に対してシブリングシグネチャを生成することと、
前記複数の位置識別子のサブセットを使用して、前記シブリングシグネチャに対するハッシュ識別子を導出することと、
候補マークの捕捉画像を受信することと、
前記候補マークの前記捕捉画像を使用して、前記候補マークの特性を前記候補マーク内の複数の位置で測定して、前記候補マークに対する前記特性に対して測定基準のセットをもたらすことと、
測定基準の前記セットに基づいて、前記候補マークに対する電子シグネチャを生成することと、
前記複数の位置識別子のサブセットを使用して、前記候補マークの前記電子シグネチャに対するハッシュ識別子を導出することと、
前記候補マークの前記ハッシュ識別子を前記複数のクラスタの各々の前記ハッシュ識別子と比較して、どのクラスタが最良一致であるかを識別することと、
前記候補マークの前記電子シグネチャを前記最良一致であると識別された前記クラスタの前記電子シグネチャの各々と比較することと、
前記候補マークが本物であるかどうかを、その電子シグネチャの、前記最良一致であると識別された前記クラスタの前記電子シグネチャの各々との前記比較に基づいて、判断することと、
前記判断に基づいて、ユーザーに対するメッセージを生成することと
を含む、方法。
前記複数の位置が複数の位置識別子と関連付けられ、前記方法は、
前記複数の位置識別子のサブセットを使用して前記候補マークに対するハッシュ識別子を導出することをさらに含み、前記複数の位置の前記サブセットはシブリング固有であり、
前記候補マークの前記電子シグネチャを前記複数のクラスタの各々の前記シブリングシグネチャと比較することは、
前記候補マークの前記ハッシュ識別子の、前記複数のクラスタの前記シブリングシグネチャの各々のハッシュ識別子との比較に基づき、前記候補マークの前記ハッシュ識別子が前記シブリングシグネチャのいずれかのハッシュ識別子とぴったりと一致するかどうかを判断することと、
前記候補マークの前記ハッシュ識別子がシブリングシグネチャのハッシュ識別子とぴったりと一致すると判断される場合、さらなる電子シグネチャ一致に対して前記クラスタのみを探索することと
を含む、
請求項１３に記載の方法。
前記候補マークの測定基準の前記セットの最も高い測定基準と関連付けられた前記複数の位置の前記サブセットに対応する索引値を使用して、前記候補マークに対するハッシュ識別子を導出することをさらに含み、
前記候補マークの前記電子シグネチャを前記複数のクラスタの各々の前記シブリングシグネチャと比較することは、
前記候補マークの前記ハッシュ識別子の、前記複数のクラスタの１クラスタのシブリングシグネチャのハッシュ識別子との比較に基づき、前記候補マークの前記ハッシュ識別子が前記シブリングシグネチャの前記ハッシュ識別子とぴったりと一致するかどうかを判断することと、
前記候補マークの前記ハッシュ識別子が前記シブリングシグネチャの前記ハッシュ識別子とぴったりと一致すると判断される場合、メディア記憶装置から、前記真正マークの電子シグネチャを取得することと、
を含む、
請求項１３に記載の方法。
前記複数の位置識別子が複数の索引値を含む、請求項１３に記載の方法。
前記複数の位置の各々が、測定されている前記マークのサブエリアであり、前記特性が前記サブエリアの平均着色である、請求項１３に記載の方法。
前記複数の位置の各々が、測定されている前記マークのサブエリアであり、前記特性が、前記サブエリアの前記位置における最良適合グリッドからの偏差である、請求項１３に記載の方法。
前記複数の位置の各々が、測定されている前記マークのサブエリアであり、前記特性が、前記サブエリア内でのストレイマークまたは白抜けの発生である、請求項１３に記載の方法。
前記特性が、前記真正マークのエッジの前記投影平均ピクセル値である、請求項１３に記載の方法。
前記真正マークの１つまたは複数の追加の捕捉画像を受信すること
をさらに含み、
前記真正マークの前記捕捉画像を使用して、前記真正マークの特性を測定することは、
前記真正マークの前記捕捉画像を、前記１つまたは複数の追加の捕捉画像と融合して、融合画像を作成することと、
前記融合画像を使用して、前記真正マークの特性を前記真正マーク内の複数の位置で測定して、前記特性に対して測定基準のセットをもたらすことと、
を含む、
請求項１３に記載の方法。
真正マークの捕捉画像を受信することと、
前記真正マークの前記捕捉画像を使用して、前記真正マークの特性を前記真正マーク内の複数の位置で測定して、前記真正マークに対する前記特性に対して測定基準のセットをもたらすことと、
前記真正マークに対する測定基準の前記セットに基づいて、前記真正マークに対する電子シグネチャを生成することと、
複数の真正マークの各々に対して前記受信、測定、および生成するステップを繰り返して、複数の真正シグネチャをもたらすことと、
前記複数の真正シグネチャの統計的相関分析を実行することと、
前記複数の真正シグネチャの前記統計的相関分析に基づいて、どの真正シグネチャが、それらが表す前記マークが同じプリンタ上で印刷されたことを示すほど十分に相関しているかを判断することと、
前記相関判断に基づいて、前記複数の前記真正シグネチャを複数のクラスタにクラスタ化することと、
前記複数のクラスタの各々に対してシブリングシグネチャを生成することと、
候補マークの捕捉画像を受信することと、
前記候補マークの前記捕捉画像を使用して、前記特性を前記候補マーク内の複数の位置で測定して、前記候補マークに対する前記特性に対して測定基準のセットをもたらすことと、
前記候補マークに対する測定基準の前記セットに基づいて、前記候補マークに対する電子シグネチャを生成することと、
前記候補マークの前記電子シグネチャを前記複数のクラスタの各々の前記シブリングシグネチャと比較して、どのクラスタが前記候補マークに対して最良一致であるかを識別することと、
前記候補マークの前記電子シグネチャを、前記最良一致であると識別された前記クラスタの前記電子シグネチャの各々と比較することと、
前記候補マークが本物であるかどうかを、その電子シグネチャの、前記最良一致であると識別された前記クラスタの前記電子シグネチャの各々との前記比較に基づいて、判断することと、
前記真偽判断に基づいて、ユーザーに対するメッセージを生成することと
を含む、動作を実行するコンピューティング装置。
前記複数の位置の各々が、測定されている前記マークのサブエリアであり、前記特性が前記サブエリアの平均着色である、請求項２２に記載のコンピューティング装置。
前記複数の位置の各々が、測定されている前記マークのサブエリアであり、前記特性が、前記サブエリアの前記位置における最良適合グリッドからの偏差である、請求項２２に記載のコンピューティング装置。
前記特性が、測定されている前記マークのエッジの前記投影平均ピクセル値である、請求項２２に記載のコンピューティング装置。
前記真正マークの１つまたは複数の追加の捕捉画像を受信すること、
をさらに含み、
前記捕捉画像を使用して、前記真正マークの前記特性を測定することは、
前記真正マークの前記捕捉画像を、前記１つまたは複数の追加の捕捉画像と融合して、融合画像を作成することと、
前記融合画像を使用して、前記真正マークの特性を前記真正マーク内の複数の位置で測定して、前記真正マークに対する前記特性に対して測定基準のセットをもたらすことと、
を含む、
請求項２２に記載のコンピューティング装置。