JP6460520B2 - 特徴記述装置、方法及びプログラム - Google Patents
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Description
射影変換行列作成部11は、次のバイナリテストパターン射影部12で設定されるバイナリテストパターンの周囲に滞りなく配置される対象としての、仮想的な視点(以下、仮想視点)の配置を設定する情報を所与のものとして受け取り、視野角等の透視投影パラメータの所定設定のもとで各仮想視点に対応する射影変換行列を算出し、バイナリテストパターン射影部12へと渡す。
バイナリテストパターン射影部12は、ユーザ指定等で与えられる所与のバイナリテストパターンにおける点群の座標を、射影変換行列作成部11で作成された射影変換行列を用いて射影変換し、特徴記述子蓄積部25に出力する。この際、射影変換された点群の座標としてのバイナリテストパターンを、対応する仮想視点Pi(θ,φ,r)(i=0,1,2,…,n)及び射影変換行列Hiに紐付けたうえで、特徴記述子蓄積部25に出力する。
特徴記述子蓄積部25は、バイナリテストパターン射影部12が出力した仮想視点Pi(θ,φ,r)及び射影変換行列Hiが紐付いた射影されたバイナリテストパターンの情報(設定されたバイナリテストパターンの種類が何であるかの情報を含む)を記憶し、当該情報の全部又は一部を必要に応じてオリエンテーション算出部23及びバイナリ特徴量記述部24での参照に供する。
特徴点検出部21は、画像の入力を受けて、当該入力画像から特徴点検出器を用いて特徴点を検出し、平滑化部22へと出力する。特徴点検出器には、一般的に知られているSIFTやSURF,FAST等といったアルゴリズムを利用することができる。
平滑化部22は、特徴点検出部21にて検出された特徴点周辺の画素値の入力を受けて、当該周辺領域の入力画素の輝度値を平滑化し、オリエンテーション算出部23に出力する。平滑化には、一般的に知られているガウシアンフィルタ等を利用することができる。
オリエンテーション算出部23は,平滑化部22で平滑化された特徴点周辺の画素値と特徴記述子蓄積部25に保存されている仮想視点Pi(θ,φ,r)とを入力として受けて、仮想視点Pi(θ,φ,r)に対応するオリエンテーションα(Pi(θ,φ,r))を算出して、バイナリ特徴量記述部24に出力する。
例えばBRISKでは、バイナリテストパターン(射影を施さない通常のパターン)における点と点の距離が遠いペアの集合Lに対して、平均勾配ベクトルgを算出し、gの成す角をオリエンテーションとしている。従って当該A方式では、射影を施さない通常のバイナリテストパターンを,仮想視点Pi(θ,φ,r)に対応する射影されたバイナリテストパターンに置き換えたうえで、射影を施さない通常のパターンにおける算出手法と全く同様の算出手法を適用することにより、仮想視点Pi(θ,φ,r)に対応するオリエンテーションα(Pi(θ,φ,r))を算出することができる。(この際、同様の算出手法の適用対象となる画素は平滑化部22で平滑化された特徴点周辺の画素であり、射影変換は受けていないことに注意されたい。また、当該オリエンテーションα(Pi(θ,φ,r))の角度としての値を測るための基準となる方向は、射影を施さない通常のバイナリテストパターンの場合と全く同様に、画像のピクセル座標上の所定方向(例えば垂直上方向など)である。)
例えばORBでは、特徴点を中心とした一辺31[pixel]のパッチを作成し、特徴点からパッチの輝度重心への方向をオリエンテーションとしている。従って当該B方式では、初めにこのような方法(バイナリテストパターンを用いない所定方法)でオリエンテーションを算出した後、仮想視点Pi(θ,φ,r)に対応する射影変換行列Hiを用いてオリエンテーションを射影することにより、仮想視点Piに対応するオリエンテーションα(Pi(θ,φ,r))を算出することができる。
バイナリ特徴量記述部24は、平滑化部22で平滑化された特徴点周辺の画素値と、仮想視点Pi(θ,φ,r)に対応するものとしてオリエンテーション算出部23で算出されたオリエンテーションα(Pi(θ,φ,r))と、を入力として受けて、当該仮想視点Pi(θ,φ,r)に対応するバイナリ特徴量を記述して、特徴記述装置20からの出力となす。
Claims (9)
- 一連の仮想視点に対応する射影変換行列を算出することと、
バイナリテストパターンにおける点群を、前記算出された射影変換行列のそれぞれで射影変換して、前記一連の仮想視点に対応する射影されたバイナリテストパターンを作成することと、によって作成された一連の仮想視点に対応する射影されたバイナリテストパターンを用いてバイナリ特徴量を記述する特徴記述装置であって、
入力される画像より特徴点を検出する特徴点検出部と、
前記特徴点の周辺画素を平滑化する平滑化部と、
前記平滑化された周辺画素を用いて前記一連の仮想視点の各々に対応するオリエンテーションを算出するオリエンテーション算出部と、
前記算出したオリエンテーションと、当該オリエンテーションに対応する仮想視点にて前記射影されたバイナリテストパターンと、を用いて、前記特徴点における当該仮想視点に対応するバイナリ特徴量を記述するバイナリ特徴記述部と、を備えることを特徴とする特徴記述装置。 - 前記一連の仮想視点が、空間的にサンプリングされた所定の座標で指定されていることを特徴とする請求項1に記載の特徴記述装置。
- 前記オリエンテーション算出部は、前記一連の仮想視点の各々に対応するバイナリテストパターンを用いて、前記一連の仮想視点の各々に対応するオリエンテーションを算出することを特徴とする請求項1または2に記載の特徴記述装置。
- 前記オリエンテーション算出部は、前記平滑化された周辺画素より第一のオリエンテーションを算出し、当該第一のオリエンテーションを前記一連の仮想視点の各々に対応する射影変換行列で射影した第二のオリエンテーションとして、前記一連の仮想視点の各々に対応するオリエンテーションを算出することを特徴とする請求項1または2に記載の特徴記述装置。
- 前記バイナリ特徴記述部は、前記算出したオリエンテーションによって、当該オリエンテーションに対応する仮想視点にて前記射影されたバイナリテストパターンを回転させ、当該回転されたバイナリテストパターンを用いて、前記特徴点における当該仮想視点に対応するバイナリ特徴量を記述することを特徴とする請求項1ないし4のいずれかに記載の特徴記述装置。
- 前記バイナリ特徴記述部は、前記記述したバイナリ特徴量を対応する仮想視点と紐付けることを特徴とする請求項1ないし5のいずれかに記載の特徴記述装置。
- 入力される一連の仮想視点に対応する射影変換行列を算出する射影変換行列作成部と、
入力されるバイナリテストパターンにおける点群を、前記算出された射影変換行列のそれぞれで射影変換して、前記一連の仮想視点に対応する射影されたバイナリテストパターンを作成するバイナリテストパターン射影部と、
入力される画像より特徴点を検出する特徴点検出部と、
前記特徴点の周辺画素を平滑化する平滑化部と、
前記平滑化された周辺画素を用いて前記一連の仮想視点の各々に対応するオリエンテーションを算出するオリエンテーション算出部と、
前記算出したオリエンテーションと、当該オリエンテーションに対応する仮想視点にて前記射影されたバイナリテストパターンと、を用いて、前記特徴点における当該仮想視点に対応するバイナリ特徴量を記述するバイナリ特徴記述部と、を備えることを特徴とする特徴記述装置。 - 一連の仮想視点に対応する射影変換行列を算出することと、
バイナリテストパターンにおける点群を、前記算出された射影変換行列のそれぞれで射影変換して、前記一連の仮想視点に対応する射影されたバイナリテストパターンを作成することと、によって作成された一連の仮想視点に対応する射影されたバイナリテストパターンを用いてバイナリ特徴量を記述する特徴記述方法であって、
入力される画像より特徴点を検出する特徴点検出段階と、
前記特徴点の周辺画素を平滑化する平滑化段階と、
前記平滑化された周辺画素を用いて前記一連の仮想視点の各々に対応するオリエンテーションを算出するオリエンテーション算出段階と、
前記算出したオリエンテーションと、当該オリエンテーションに対応する仮想視点にて前記射影されたバイナリテストパターンと、を用いて、前記特徴点における当該仮想視点に対応するバイナリ特徴量を記述するバイナリ特徴記述段階と、を備えることを特徴とする特徴記述方法。 - コンピュータを請求項1ないし7のいずれかに記載の特徴記述装置として機能させることを特徴とするプログラム。
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JP2014258014A JP6460520B2 (ja) | 2014-12-19 | 2014-12-19 | 特徴記述装置、方法及びプログラム |
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JP2016118924A JP2016118924A (ja) | 2016-06-30 |
JP2016118924A5 JP2016118924A5 (ja) | 2018-06-14 |
JP6460520B2 true JP6460520B2 (ja) | 2019-01-30 |
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JP2014258014A Active JP6460520B2 (ja) | 2014-12-19 | 2014-12-19 | 特徴記述装置、方法及びプログラム |
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