JP6441032B2 - 対応点探索装置と対応点探索プログラム並びに対応点探索方法 - Google Patents
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Description
図1は、本装置の実施の形態を示す機能ブロック図である。本装置10は、サンプリング点決定部11、特徴量算出部12、類似度算出部13、対応点決定部14、記憶部15、を有してなる。
図4は、本方法の実施の形態を示すフローチャートである。
先ず、本装置10は、対比する2つの3次元モデルごとに、それぞれを構成する点群の位置情報と接続情報とを記憶部15から読み出して、点群の中からサンプリング点を決定する(S1)。
先ず、本装置10は、対比する2つの3次元モデルごとに、構成する点群の位置情報と接続情報とを記憶部15から読み出す(S21)。
ADDの勾配方向=(V1+V2+・・・+Vn)/n
また、V1,V2,・・・,Vnは、ADDの勾配方向の算出対象のサンプリング点と、このサンプリング点に接続する他の頂点それぞれを結ぶ辺の勾配ベクトルであり、下記の式で算出される。
V1=(a1−a0)e1
V2=(a2−a0)e2
・・・
Vn=(an−a0)en
また、e0,・・・,enは、ADDの勾配方向の算出対象のサンプリング点と他の頂点とを結ぶ各辺の単位方向(ベクトル)の値であり、x0,・・・,xnを各点の3次元座標(3次元位置)とすると、下記の式で算出される。
e1=(x1−x0)/|x1−x0|
e2=(x2−x0)/|x2−x0|
・・・
en=(xn−x0)/|xn−x0|
本装置10は、サンプリング点ごとに、局所深度画像を構築する(S24)。
図8は、3次元モデルと、局所深度画像が透視投影される投影面と、仮想カメラの座標系のカメラ中心、との位置関係を示す模式図である。
本装置10は、サンプリング点ごとに、特徴量を算出する(S25)。サンプリング点ごとの特徴量は、サンプリング点ごとに構築された局所深度画像に含まれる各ピクセルの値の集合(50×50の画像行列をベクトルとして表す)である。
本装置10は、対比する2つの3次元モデルのそれぞれのサンプリング点のすべての組み合わせごとに、サンプリング点間の類似度(ユークリッドノルム)を算出する(S3)。すなわち、図3に示した例においては、同図(a)のサンプリング点1と同図(b)の各サンプリング点a,b,c,d,e,fとの類似度、同図(a)のサンプリング点2と同図(b)の各サンプリング点a,b,c,d,e,fとの類似度、・・・、同図(a)のサンプリング点と同図(b)の各サンプリング点a,b,c,d,e,fとの類似度を算出する。
以上説明した実施の形態によれば、3次元モデルの大域的な情報から算出されるADDの勾配方向を用いた座標系において局所深度画像を構築し、この局所深度画像から算出された特徴量を用いて対応点を探索するため、3次元モデルの局所的な情報のみを用いて行う従来の探索に比べて、局所的な変形に頑健な探索が可能となり、探索精度を向上させることができる。
点群から構成される第1の3次元モデルと第2の3次元モデルとの各点の位置情報と接続情報とが記憶される記憶部と、
前記3次元モデルのそれぞれについて、前記点群の中から複数のサンプリング点を決定するサンプリング点決定部と、
前記記憶部に記憶されている前記サンプリング点ごとの位置情報と接続情報とを用いて、前記サンプリング点ごとの特徴量を算出する特徴量算出部と、
前記特徴量に基づいて、前記第1の3次元モデルのサンプリング点と前記第2の3次元モデルのサンプリング点同士の類似度を算出する類似度算出部と、
前記類似度に基づいて、前記第1の3次元モデルの各サンプリング点に対応する点を前記第2の3次元モデルのサンプリング点の中から決定する対応点決定部と、
を有してなり、
前記特徴量算出部は、サンプリング点ごとに、
3次元モデルの曲面上での法線方向をZ方向、前記曲面上での平均拡散距離の勾配方向をY方向とする仮想カメラの座標系において局所深度画像を構築し、
前記局所深度画像に含まれる各画素の深度を用いて特徴量を算出する、
ことを特徴とする対応点探索装置。
前記特徴量算出部は、前記3次元モデルごとに、
サンプリング点ごとの他のサンプリング点までの拡散距離を算出し、
前記サンプリグ点ごとの前記拡散距離の平均値を前記サンプリング点の前記平均拡散距離として算出する、
特徴1記載の対応点探索装置。
前記特徴量算出部は、前記サンプリング点ごとに、前記平均拡散距離を用いて、前記平均拡散距離の勾配方向を算出する、
特徴2記載の対応点探索装置。
前記特徴量算出部は、前記仮想カメラの座標系のカメラ中心と前記3次元モデルの曲面上との間の投影面に透視投影された画像を、前記局所深度画像として構築する、
特徴1乃至3のいずれかに記載の対応点探索装置。
前記類似度算出部は、
前記第1の3次元モデルのサンプリング点の特徴量と前記第2の3次元モデルのサンプリング点同士のユークリッド距離を、
前記第1の3次元モデルのサンプリング点と前記第2の3次元モデルのサンプリング点同士の類似度として算出する、
特徴1乃至4のいずれかに記載の対応点探索装置。
11 サンプリング点決定部
12 特徴量算出部
13 類似度算出部
14 対応点決定部
15 記憶部
Claims (7)
- 点群から構成される第1の3次元モデルと第2の3次元モデルとの各点の位置情報と接続情報とが記憶される記憶部と、
前記3次元モデルのそれぞれについて、前記点群の中から複数のサンプリング点を決定するサンプリング点決定部と、
前記記憶部に記憶されている前記サンプリング点ごとの位置情報と接続情報とを用いて、前記サンプリング点ごとの特徴量を算出する特徴量算出部と、
前記特徴量に基づいて、前記第1の3次元モデルのサンプリング点と前記第2の3次元モデルのサンプリング点同士の類似度を算出する類似度算出部と、
前記類似度に基づいて、前記第1の3次元モデルの各サンプリング点に対応する点を前記第2の3次元モデルのサンプリング点の中から決定する対応点決定部と、
を有してなり、
前記特徴量算出部は、サンプリング点ごとに、
3次元モデルの曲面上での法線方向をZ方向、前記曲面上での平均拡散距離の勾配方向をY方向とする仮想カメラの座標系において局所深度画像を構築し、
前記局所深度画像に含まれる各画素の深度を用いて特徴量を算出する、
ことを特徴とする対応点探索装置。 - 前記特徴量算出部は、前記3次元モデルごとに、
サンプリング点ごとの他のサンプリング点までの拡散距離を算出し、
前記サンプリグ点ごとの前記拡散距離の平均値を前記サンプリング点の前記平均拡散距離として算出する、
請求項1記載の対応点探索装置。 - 前記特徴量算出部は、前記サンプリング点ごとに、前記平均拡散距離を用いて、前記平均拡散距離の勾配方向を算出する、
請求項2記載の対応点探索装置。 - 前記特徴量算出部は、前記仮想カメラの座標系のカメラ中心と前記3次元モデルの曲面上との間の投影面に透視投影された画像を、前記局所深度画像として構築する、
請求項1乃至3のいずれかに記載の対応点探索装置。 - 前記類似度算出部は、
前記第1の3次元モデルのサンプリング点の特徴量と前記第2の3次元モデルのサンプリング点同士のユークリッド距離を、
前記第1の3次元モデルのサンプリング点と前記第2の3次元モデルのサンプリング点同士の類似度として算出する、
請求項1乃至4のいずれかに記載の対応点探索装置。 - コンピュータを、請求項1乃至5のいずれかに記載の対応点探索装置として機能させることを特徴とする対応点探索プログラム。
- 点群から構成される第1の3次元モデルと第2の3次元モデルとの各点の位置情報と接続情報とが記憶される記憶部を備えた装置により実行される対応点探索方法であって、
前記装置が、
前記3次元モデルごとに、前記点群の中から複数のサンプリング点を決定するステップと、
前記記憶部に記憶されている前記サンプリング点ごとの位置情報と接続情報とを用いて、前記サンプリング点ごとの特徴量を算出するステップと、
前記特徴量に基づいて、前記第1の3次元モデルのサンプリング点と前記第2の3次元モデルのサンプリング点同士の類似度を算出するステップと、
前記類似度に基づいて、前記第1の3次元モデルの各サンプリング点に対応する点を前記第2の3次元モデルのサンプリング点の中から決定するステップと、
を有してなり、
前記装置は、サンプリング点ごとに、
3次元モデルの曲面上での法線方向をZ方向、前記曲面上での平均拡散距離の勾配方向をY方向とする仮想カメラの座標系において局所深度画像を構築し、
前記局所深度画像に含まれる画素の値を用いて特徴量を算出する、
ことを特徴とする対応点探索方法。
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