JP6434136B2 - 電子デバイスのためのデュアル磁力計を使用する仮想ジャイロスコープ - Google Patents
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Description
Claims (21)
- 電子デバイスのための仮想ジャイロスコープであって、
磁力計ユニットであり、
第1の磁気センサからの第1の磁気応答データ、および、前記第1の磁気センサから変位させられた第2の磁気センサからの第2の磁気応答データを受信し、
前記第1の磁気応答データから第1の補正された応答表面、および、前記第2の磁気応答データから第2の補正された応答表面を生成し、
前記第1の補正された応答表面および前記第2の補正された応答表面から、計算された配向の誤差を最小限に抑えるか、または、少なくとも低減する複合応答表面の表現を生成する、
ための論理を備える、磁力計ユニットと、
加速度計ユニットであり、
前記電子デバイスの配向データを生成する、
ための、少なくとも部分的にハードウェア論理を含む、論理を備える、加速度計ユニットと、
コンバイナユニットであり、
前記第1の磁気応答データおよび前記第2の磁気応答データそれぞれを使用して生成された応答表面と、前記複合応答表面とを比較して、前記第1の磁気センサと前記第2の磁気センサのうち正確な方位を生成している可能性が高い方の磁気センサを選択し、
前記第1の磁気応答データまたは前記第2の磁気応答データのうちの選択された1つを前記加速度計ユニットからの前記配向データと合成する、
ための論理を備える、コンバイナユニットと、
を含む、仮想ジャイロスコープ。 - 前記磁力計ユニットは、さらに、
前記複合応答表面を生成するために、前記第1の磁気応答データと前記第2の磁気応答データの限界値を使用する、
ための論理を備える、
請求項1に記載の仮想ジャイロスコープ。 - 前記磁力計ユニットは、さらに、
前記磁力計ユニットの出力として、前記第1の磁気応答データまたは前記第2の磁気応答データのうちの1つを選択する、
ための論理を備える、
請求項1に記載の仮想ジャイロスコープ。 - 前記磁力計ユニットは、さらに、
前記第1の補正された応答表面および前記第2の補正された応答表面を、前記複合応答表面と比較する、
ための論理を備える、
請求項3に記載の仮想ジャイロスコープ。 - 前記磁力計ユニットは、さらに、
前記第1の磁気応答データまたは前記第2の磁気応答データのうちの1つを出力する、
ための論理を備える、
請求項4に記載の仮想ジャイロスコープ。 - 電子デバイスであって、
少なくとも1つの電子的構成要素と、
磁力計ユニットであり、
第1の磁気センサからの第1の磁気応答データ、および、前記第1の磁気センサから変位させられた第2の磁気センサからの第2の磁気応答データを受信し、
前記第1の磁気応答データから第1の補正された応答表面、および、前記第2の磁気応答データから第2の補正された応答表面を生成し、
前記第1の補正された応答表面および前記第2の補正された応答表面から、計算された配向の誤差を最小限に抑えるか、または、少なくとも低減する複合応答表面の表現を生成する、
ための論理を備える、磁力計ユニットと、
加速度計ユニットであり、
前記電子デバイスの配向データを生成する、
ための、少なくとも部分的にハードウェア論理を含む、論理を備える、加速度計ユニットと、
コンバイナユニットであり、
前記第1の磁気応答データおよび前記第2の磁気応答データそれぞれを使用して生成された応答表面と、前記複合応答表面とを比較して、前記第1の磁気センサと前記第2の磁気センサのうち正確な方位を生成している可能性が高い方の磁気センサを選択し、
前記第1の磁気応答データまたは前記第2の磁気応答データのうち選択された1つを前記加速度計ユニットからの前記配向データと合成する、
ための論理を備える、コンバイナユニットと、
を含む、電子デバイス。 - 前記磁力計ユニットは、さらに、
前記複合応答表面を生成するために、前記第1の磁気応答データと前記第2の磁気応答データの限界値を使用する、
ための論理を備える、
請求項6に記載の電子デバイス。 - 前記磁力計ユニットは、さらに、
前記磁力計ユニットの出力として、前記第1の磁気応答データまたは前記第2の磁気応答データのうちの1つを選択する、
ための論理を備える、
請求項6に記載の電子デバイス。 - 前記磁力計ユニットは、さらに、
前記第1の補正された応答表面および前記第2の補正された応答表面を、前記複合応答表面と比較する、
ための論理を備える、
請求項8に記載の電子デバイス。 - 前記磁力計ユニットは、さらに、
前記第1の磁気応答データまたは前記第2の磁気応答データのうちの1つを出力する、
ための論理を備える、
請求項9に記載の電子デバイス。 - 論理命令を備えるコンピュータプログラムであって、前記論理命令がコントローラによって実行されると、前記コントローラは、
磁力計ユニットを、
第1の磁気センサからの第1の磁気応答データ、および、前記第1の磁気センサから変位させられた第2の磁気センサからの第2の磁気応答データを受信し、
前記第1の磁気応答データから第1の補正された応答表面、および、前記第2の磁気応答データから第2の補正された応答表面を生成し、
前記第1の補正された応答表面および前記第2の補正された応答表面から、計算された配向の誤差を最小限に抑えるか、または、少なくとも低減する複合応答表面の表現を生成する、
ようにさせ、
加速度計ユニットを、
電子デバイスの配向データを生成する、
ようにさせ、
コンバイナユニットを、
前記第1の磁気応答データおよび前記第2の磁気応答データそれぞれを使用して生成された応答表面と、前記複合応答表面とを比較して、前記第1の磁気センサと前記第2の磁気センサのうち正確な方位を生成している可能性が高い方の磁気センサを選択し、
前記第1の磁気応答データまたは前記第2の磁気応答データのうち選択された1つを前記加速度計ユニットからの前記配向データと合成する、
ようにさせる、
コンピュータプログラム。 - 前記コントローラは、さらに、前記磁力計ユニットを、
前記複合応答表面を生成するために、前記第1の磁気応答データと前記第2の磁気応答データの限界値を使用する、
ようにさせる、請求項11に記載のコンピュータプログラム。 - 前記コントローラは、さらに、前記磁力計ユニットを、
前記磁力計ユニットの出力として、前記第1の磁気応答データまたは前記第2の磁気応答データのうちの1つを選択する、
ようにさせる、請求項11に記載のコンピュータプログラム。 - 前記コントローラは、さらに、前記磁力計ユニットを、
前記第1の補正された応答表面および前記第2の補正された応答表面を、前記複合応答表面と比較する、
ようにさせる、請求項13に記載のコンピュータプログラム。 - 前記コントローラは、さらに、前記磁力計ユニットを、
前記第1の磁気応答データまたは前記第2の磁気応答データのうちの1つを出力する、
ようにさせる、請求項14に記載のコンピュータプログラム。 - 電子デバイスの位置を判定するための方法であって、
第1の磁気センサから第1の磁気応答データ、および、前記第1の磁気センサから変位させられた第2の磁気センサから第2の磁気応答データを受信するステップと、
前記第1の磁気応答データから第1の補正された応答表面、および、前記第2の磁気応答データから第2の補正された応答表面を生成するステップと、
前記第1の補正された応答表面および前記第2の補正された応答表面から、計算された配向の誤差を最小限に抑えるか、または、少なくとも低減する複合応答表面の表現を生成するステップと、
前記電子デバイスの配向データを生成するステップと、
前記第1の磁気応答データおよび前記第2の磁気応答データそれぞれを使用して生成された応答表面と、前記複合応答表面とを比較して、前記第1の磁気センサと前記第2の磁気センサのうち正確な方位を生成している可能性が高い方の磁気センサを選択するステップと、 前記第1の磁気応答データまたは前記第2の磁気応答データのうち選択された1つを加速度計ユニットからの前記配向データと合成するステップと、
を含む、方法。 - 前記方法は、さらに、
前記複合応答表面を生成するために、前記第1の磁気応答データと前記第2の磁気応答データとの限界値を使用するステップ、を含む、
請求項16に記載の方法。 - 前記方法は、さらに、
磁力計ユニットの出力として、前記第1の磁気応答データまたは前記第2の磁気応答データのうちの1つを選択するステップ、を含む、
請求項16に記載の方法。 - 前記方法は、さらに、
前記第1の補正された応答表面および前記第2の補正された応答表面を、前記複合応答表面と比較するステップ、を含む、
請求項18に記載の方法。 - 前記方法は、さらに、
前記第1の磁気応答データまたは前記第2の磁気応答データのうちの1つを出力するステップ、を含む、
請求項19に記載の方法。 - 請求項11乃至15のいずれか一項に記載のコンピュータプログラムを記憶した、
コンピュータ読取り可能な記憶媒体。
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