JP6383700B2 - Thin plate workpiece manufacturing method and double-head surface grinding apparatus - Google Patents
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- 238000000227 grinding Methods 0.000 title claims description 131
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 20
- 230000003068 static effect Effects 0.000 claims description 102
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 20
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 12
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- 230000002706 hydrostatic effect Effects 0.000 description 9
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 8
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 238000010298 pulverizing process Methods 0.000 description 1
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B41/00—Component parts such as frames, beds, carriages, headstocks
- B24B41/06—Work supports, e.g. adjustable steadies
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/302—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
- H01L21/304—Mechanical treatment, e.g. grinding, polishing, cutting
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B37/00—Lapping machines or devices; Accessories
- B24B37/04—Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces
- B24B37/042—Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces operating processes therefor
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B37/00—Lapping machines or devices; Accessories
- B24B37/04—Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces
- B24B37/07—Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces characterised by the movement of the work or lapping tool
- B24B37/08—Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces characterised by the movement of the work or lapping tool for double side lapping
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B41/00—Component parts such as frames, beds, carriages, headstocks
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B49/00—Measuring or gauging equipment for controlling the feed movement of the grinding tool or work; Arrangements of indicating or measuring equipment, e.g. for indicating the start of the grinding operation
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B7/00—Machines or devices designed for grinding plane surfaces on work, including polishing plane glass surfaces; Accessories therefor
- B24B7/10—Single-purpose machines or devices
- B24B7/16—Single-purpose machines or devices for grinding end-faces, e.g. of gauges, rollers, nuts, piston rings
- B24B7/17—Single-purpose machines or devices for grinding end-faces, e.g. of gauges, rollers, nuts, piston rings for simultaneously grinding opposite and parallel end faces, e.g. double disc grinders
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/302—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
- H01L21/306—Chemical or electrical treatment, e.g. electrolytic etching
- H01L21/30625—With simultaneous mechanical treatment, e.g. mechanico-chemical polishing
-
- H—ELECTRICITY
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/34—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies not provided for in groups H01L21/0405, H01L21/0445, H01L21/06, H01L21/16 and H01L21/18 with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/46—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/428
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Description
本発明は、薄板状ワークの製造方法及び両頭平面研削装置に関するものである。 The present invention relates to a method for manufacturing a thin plate workpiece and a double-head surface grinding apparatus.
例えば横型の両頭平面研削装置は、左右一対の静圧パッドと左右一対の研削砥石とを備えており、シリコンウェーハ等の薄板状ワークを、その両面側から静圧パッドにより静圧支持しつつ中心軸廻りに回転させ、回転する一対の研削砥石によりそのワークを両面側から挟み込んで研削するようになっている(例えば特許文献1参照)。 For example, a horizontal double-sided surface grinding apparatus includes a pair of left and right hydrostatic pads and a pair of left and right grinding wheels, and a thin plate-like workpiece such as a silicon wafer is supported by the hydrostatic pads from both sides. The workpiece is sandwiched from both sides by a pair of grinding wheels rotated around an axis and rotated (for example, see Patent Document 1).
この種の両頭平面研削装置では、研削中のワークは、2つの支持手段、即ち静圧パッドと研削砥石とにより、互いに異なる2箇所で支持されているため、例えばそれら2つの支持手段による支持位置が軸方向、即ちワークの板厚方向にずれていると、ワークに曲げ応力が発生し、高精度の研削を行うことができない。 In this type of double-sided surface grinding apparatus, the workpiece being ground is supported by two support means, that is, a hydrostatic pad and a grinding wheel, at two different positions. For example, a support position by these two support means Is shifted in the axial direction, that is, in the plate thickness direction of the workpiece, bending stress is generated in the workpiece, and high-precision grinding cannot be performed.
これに対し、特許文献1に記載の両頭平面研削装置は、左右の静圧パッドを軸方向に同調して移動させる移動機構を備え、ワークの装填基準位置を中心として、ワークの研削時に両静圧パッドを同調して同一速度で同一量移動させるように構成されており、これによって静圧パッドをワーク装填基準位置に対して正確に位置決めでき、高精度な研削が可能になるとしている。
On the other hand, the double-head surface grinding apparatus described in
特許文献1に記載の両頭平面研削装置では、上述のようにワークの装填基準位置を中心としてワークの研削時に両静圧パッドを同調して同一速度で同一量移動させているが、ワークが両静圧パッド間の中央で静圧支持されるとは限らず、また静圧支持位置と両研削砥石間の中央位置とが一致するとも限らないため、ワークに曲げ応力が発生しないという保証はない。
In the double-head surface grinding apparatus described in
また、研削中のワークに曲げ応力を発生させないための他の方法としては、例えば予め試研削を行い、その試研削中の各種データ(砥石軸の電流値変化データ、ワーク挙動データ等)、研削後のワークの目視確認結果(表面粗さ、歪み等)、研削後のワークの測定データ等を総合的に分析して調整を行うという一連の作業を、所定精度が得られるまで繰り返し行う方法が考えられる。 As another method for preventing bending stress from being generated on the workpiece being ground, for example, trial grinding is performed in advance, and various data during the trial grinding (current value change data of the grinding wheel axis, workpiece behavior data, etc.), grinding A method of repeatedly performing a series of operations of comprehensively analyzing and adjusting the visual confirmation results (surface roughness, strain, etc.) of the subsequent workpiece and the measurement data of the workpiece after grinding until a predetermined accuracy is obtained. Conceivable.
しかしながら、このような試研削の繰り返しによる事前調整作業は、適切に行えば確実に高い精度を得られる一方、試研削の結果に基づいて適切な調整を行うためには作業者の十分な経験が必要であり、経験の浅い作業者には難しいという問題があった。 However, such pre-adjustment work by repeated trial grinding can ensure high accuracy if performed properly, while operators have sufficient experience to make appropriate adjustments based on the results of trial grinding. It was necessary and difficult for inexperienced workers.
本発明はこのような問題点に鑑み、薄板状ワークの研削を高精度で行うための事前調整を作業者の熟練度合いに拘わらず容易且つ確実に行うことが可能な薄板状ワークの製造方法及び両頭平面研削装置を提供することを目的とする。 In view of such problems, the present invention provides a method for manufacturing a thin plate workpiece capable of easily and reliably performing pre-adjustment for performing grinding of the thin plate workpiece with high accuracy regardless of the level of skill of the operator, and An object is to provide a double-head surface grinding apparatus.
本発明は、一対の静圧パッドと一対の研削砥石とを有する両頭平面研削装置を用いて、前記一対の静圧パッドの間で静圧支持された薄板状のワークを回転させながら、前記一対の研削砥石により前記ワークの両面を研削する研削工程と、前記研削工程の前に前記両頭平面研削装置を調整する事前調整工程とを備えた薄板状ワークの製造方法において、前記事前調整工程では、調整用ワークを前記一対の静圧パッドの間で静圧支持しつつ前記一対の研削砥石により挟持する第1状態と、前記調整用ワークを前記静圧パッドにより静圧支持することなく前記一対の研削砥石により挟持する第2状態とで前記調整用ワークの姿勢に関する所定値を取得し、それら両状態における前記所定値の変化に基づいて前記両頭平面研削装置を調整するものである。 The present invention uses a double-sided surface grinding apparatus having a pair of static pressure pads and a pair of grinding wheels, while rotating the thin plate-like workpiece supported statically between the pair of static pressure pads. In the manufacturing method of a thin plate-like workpiece comprising a grinding step of grinding both surfaces of the workpiece with a grinding wheel, and a pre-adjustment step of adjusting the double-sided surface grinding device before the grinding step, A first state in which the adjustment work is held between the pair of static pressure pads while being supported by the pair of grinding wheels, and the adjustment work is not supported by the static pressure pad. A predetermined value related to the posture of the adjustment work is acquired in the second state sandwiched between the two grinding wheels, and the double-sided surface grinding apparatus is adjusted based on changes in the predetermined value in both states. .
また、前記一対の静圧パッドと前記調整用ワークとの距離を検出する距離検出センサの出力値を前記所定値とすることが望ましい。この場合、前記第1状態と前記第2状態とにおける前記距離検出センサの出力値の変化量が所定判定値以下となることを条件に前記事前調整工程を終了することが望ましい。 In addition, it is preferable that an output value of a distance detection sensor that detects a distance between the pair of static pressure pads and the adjustment work is the predetermined value. In this case, it is desirable that the pre-adjustment step is terminated on condition that the amount of change in the output value of the distance detection sensor in the first state and the second state is equal to or less than a predetermined determination value.
また、前記事前調整工程は、前記調整用ワークを前記一対の静圧パッドの間で静圧支持する静圧支持工程と、前記静圧支持工程で静圧支持された前記調整用ワークを前記一対の研削砥石により挟持する砥石支持工程と、前記砥石支持工程の後に前記一対の静圧パッドによる静圧支持を停止する静圧支持停止工程と、前記静圧支持停止工程の前後における前記距離検出センサの出力値の変化量が前記所定判定値以下であるか否かを判定する姿勢変化判定工程とを備え、前記姿勢変化判定工程で前記変化量が前記所定判定値以下であると判定されるまで、前記変化量を小さくする方向に前記両頭平面研削装置を調整しつつ前記静圧支持工程以降の工程を繰り返すことが望ましい。 The pre-adjustment step includes a static pressure support step of statically supporting the adjustment workpiece between the pair of static pressure pads, and the adjustment workpiece supported statically in the static pressure support step. Grinding wheel support step sandwiched between a pair of grinding wheels, a static pressure support stop step for stopping static pressure support by the pair of static pressure pads after the grinding wheel support step, and the distance detection before and after the static pressure support stop step A posture change determination step for determining whether or not a change amount of the output value of the sensor is equal to or less than the predetermined determination value, and the change amount is determined to be equal to or less than the predetermined determination value in the posture change determination step. It is desirable to repeat the steps after the static pressure support step while adjusting the double-sided surface grinding device in the direction of decreasing the amount of change.
また、前記砥石支持工程では、前記距離検出センサの出力値が前記静圧支持工程のときと略同一となる位置で前記一対の研削砥石により前記調整用ワークを挟持することが望ましい。 In the grindstone support step, it is preferable that the adjustment work is sandwiched between the pair of grinding wheels at a position where the output value of the distance detection sensor is substantially the same as that in the static pressure support step.
また本発明は、一対の静圧パッドの間で静圧支持された薄板状のワークを回転させながら、一対の研削砥石により前記ワークの両面を研削する両頭平面研削装置において、調整用ワークを前記一対の静圧パッドの間で静圧支持しつつ前記一対の研削砥石により挟持する第1状態と、前記調整用ワークを前記静圧パッドにより静圧支持することなく前記一対の研削砥石により挟持する第2状態とで前記調整用ワークの姿勢に関する所定値を夫々取得し、それら両状態における前記所定値の変化に基づいて、前記ワークの研削前に所定の調整を行う事前調整手段を備えたものである。 Further, the present invention provides a dual-head surface grinding apparatus for grinding both surfaces of a workpiece with a pair of grinding wheels while rotating a thin plate-like workpiece supported statically between a pair of static pressure pads. A first state where the pair of static pressure pads are supported by the pair of grinding wheels while being supported by the pair of static pressure pads, and the adjustment work is sandwiched by the pair of grinding wheels without being supported by the static pressure pads. Preliminary adjustment means for obtaining predetermined values relating to the posture of the workpiece for adjustment in the second state and performing predetermined adjustment before grinding of the workpiece based on changes in the predetermined values in both states It is.
本発明によれば、薄板状ワークの研削を高精度で行うための事前調整を作業者の熟練度合いに拘わらず容易且つ確実に行うことが可能である。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, it is possible to perform easily and reliably prior adjustment for grind | pulverizing a thin-plate shaped workpiece | work with high precision irrespective of a worker's skill level.
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて詳述する。図1〜図9は本発明を横型両頭平面研削装置及びそれを用いた薄板状ワークの製造方法に採用した第1の実施形態を例示している。本実施形態の横型両頭平面研削装置は、図1,図2に示すように、シリコンウェーハ等の薄板状のワークWを静圧支持する左右一対の静圧パッド1,2と、それら静圧パッド1,2により静圧支持されたワークWを、キャリア3を介してその略中心廻りに回転駆動する駆動手段(図示省略)と、左右方向の軸心廻りに回転自在に配置され且つワークWをその両面側から挟み込んで研削する左右一対の研削砥石4,5とを備えている。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. 1 to 9 illustrate a first embodiment in which the present invention is employed in a horizontal double-head surface grinding apparatus and a method for manufacturing a thin plate workpiece using the same. As shown in FIGS. 1 and 2, the horizontal double-head surface grinding apparatus of this embodiment includes a pair of left and right
静圧パッド1,2は軸方向視略円形で、外周側から中心側に向けて凹入する凹部1a,2aを例えば下部側に備え、その凹部1a,2aに対応して研削砥石4,5が配置されている。静圧パッド1,2は、ワークWの近傍の前進位置と、その前進位置よりもワークWから離間した退避位置との間で左右方向に移動可能であり、前進位置において、ワークWに対向するワーク支持面1b,2bに供給される静圧流体(ここでは静圧水)を介してワークWを静圧支持するようになっている。
The
静圧パッド1,2のワーク支持面1b,2b側には、所定のノズルを介して静圧水が供給される複数個のポケット(図示省略)、各ポケットからの静圧水を外側へと排出する排出溝(図示省略)の他、凹部1a,2aの近傍に所定間隔をおいて複数個(例えば周方向に3個)のエアセンサ6a〜6c,7a〜7cが配置されている。
On the
エアセンサ(距離検出センサ)6a〜6c,7a〜7cは、エアノズルからワークW側にエアを噴出して、そのときの背圧の変化によりワークWと静圧パッド1,2のワーク支持面1b,2bとの隙間の大きさ(距離)に応じた出力を行うようになっており、凹部1a,2aの前側(図1における下側)にエアセンサ6a,7aが、後側(図1における上側)にエアセンサ6c,7cが、上側にエアセンサ6b,7bが、夫々左右方向に対応するように配置されている。なお、エアセンサ6a〜6c,7a〜7cは距離検出センサの一例に過ぎず、ワークWとの距離を検出し得るものであれば他のセンサ、例えばレーザ式センサ、接触式センサ等を用いてもよい。
The air sensors (distance detection sensors) 6a to 6c and 7a to 7c eject air from the air nozzle to the work W side, and the
研削砥石4,5はカップ型等であって、軸受ケース8,9により回転自在に支持される左右方向の砥石軸10,11の先端側に設けられており、砥石駆動モータ12,13の駆動により砥石軸10,11を介してその砥石軸10,11廻りに回転するようになっている。また研削砥石4,5は、例えば軸受ケース8,9等を介して切り込み駆動モータ(図示省略)の駆動により左右方向(軸方向)に移動可能であり、また例えば軸受ケース8,9等を介して軸方向に対する傾きを調整可能となっている。
The
キャリア3は、ワークWを挿入可能なワーク装着孔14を備えた略円環状で、その板厚はワークWよりも薄く、外周に沿って配置された複数個の支持ローラ15により略中心廻りに回転自在に支持され、駆動手段(図示省略)により回転駆動可能となっている。キャリア3には、ワーク装着孔14内に突出してワークWのノッチ部16に係合する係合部17が一体に設けられている。
The
図3は本実施形態の横型両頭平面研削装置の制御係の概略構成を示している。この制御系は、静圧パッド1,2の移動(前進・後退)、静圧水の供給・停止等を制御する静圧パッド制御手段21と、研削砥石4,5の移動(前進・後退)、回転・停止等を制御する砥石制御手段22と、それら静圧パッド制御手段21、砥石制御手段22等に対する各種設定、その他の操作を行うための操作手段23等を備えている。
FIG. 3 shows a schematic configuration of the controller in the horizontal double-sided surface grinding apparatus of the present embodiment. This control system includes a static pressure pad control means 21 for controlling the movement (advance / retreat) of the
操作手段23には、例えば静圧パッド制御手段21に対して静圧水の流量を設定するための流量設定手段24、砥石制御手段22に対して研削砥石4,5の軸方向位置を設定するための位置設定手段25、砥石制御手段22に対して研削砥石4,5の傾きを設定するための傾き設定手段26等の他、エアセンサ6a〜6c,7a〜7cからの出力値を表示するセンサ出力値表示手段27等を備えている。なお、例えば研削砥石4,5の傾きについては、砥石制御手段22を介することなく、別途設けた傾き調整手段により調整するようにしてもよい。
In the operation means 23, for example, the flow rate setting means 24 for setting the flow rate of the static pressure water with respect to the static pressure pad control means 21, and the axial position of the grinding
続いて、図4に示すフローチャートを参照しつつ、本実施形態の横型両頭平面研削装置を用いた薄板状ワークの製造方法(調整方法及び研削方法)について説明する。横型両頭平面研削装置を用いて薄板状ワークを製造する際には、図4に示すように、まず横型両頭平面研削装置を調整する事前調整工程(S1〜S10)を行い、その事前調整後の横型両頭平面研削装置を用いて、ワークWの両面を研削する研削工程(S11)を行うようになっている。 Next, a manufacturing method (adjustment method and grinding method) of a thin plate workpiece using the horizontal double-head surface grinding apparatus of the present embodiment will be described with reference to a flowchart shown in FIG. When a thin plate workpiece is manufactured using a horizontal double-sided surface grinding apparatus, as shown in FIG. 4, first, a pre-adjustment step (S1 to S10) for adjusting the horizontal double-sided surface grinding apparatus is performed, A grinding step (S11) for grinding both surfaces of the workpiece W is performed using a horizontal double-sided surface grinding apparatus.
事前調整工程では、まず事前準備として、作業者が砥石軸10,11の平行・同軸の調整、静圧パッド1,2の砥石軸10,11に対する角度(直角)の調整、エアセンサ6a〜6c,7a〜7cのキャリブレーション、研削砥石4,5のドレッシング等を行う(S1)。エアセンサ6a〜6c,7a〜7cのキャリブレーションでは、ワークWと静圧パッド1,2のワーク支持面1b,2bとの間の距離の変化量と、それに対応するセンサ出力値の変化量とが1:1となるように調整することが望ましいが、少なくとも両変化量の間に相関があればよい。また本実施形態のエアセンサ6a〜6c,7a〜7cの出力値は、基準値を0としてワークWとの距離が小さくなる方向が+、大きくなる方向が−となるように設定されている。
In the pre-adjustment step, first as an advance preparation, the operator adjusts the parallel and coaxial of the
事前準備(S1)に続いては、例えばキャリア3を一対の静圧パッド1,2の間に装着し、そのキャリア3に調整用ワークWaを装着する(S2)。この調整用ワークWaの装着は作業者が手作業で行ってもよいし、ワーク搬入出装置により自動的に行ってもよい。また、調整用ワークWaには研削済みのワークWを用いることが望ましいが、研削前のワークWを用いてもよい。また、この事前調整工程ではワークの研削は行わないため、調整用ワークWaには、実際の研削対象とは異なる金属板や樹脂板等を用いてもよい。
Subsequent to the preliminary preparation (S1), for example, the
調整用ワークWaの装着(S2)が完了すると、続いて作業者が操作手段23を操作することにより、静圧パッド制御手段21の制御により左右の静圧パッド1,2に静圧水1c,2cを供給し、図5に示すように調整用ワークWaを静圧パッド1,2間で静圧支持する(S3:静圧支持工程)。なおこのとき、調整用ワークWaは回転させない。続いて、作業者が操作手段23を操作することにより、砥石制御手段22の制御により左右の研削砥石4,5を回転停止状態のまま前進させて、図6に示すようにそれら研削砥石4,5により調整用ワークWaを両面側から挟持する(S4:砥石支持工程)。そしてその状態で、作業者はエアセンサ6a〜6c,7a〜7cによるセンサ出力値を例えばセンサ出力値表示手段27から取得する(S5)。
When the mounting of the adjustment work Wa (S2) is completed, the operator subsequently operates the operation means 23, whereby the
ここで、S4の砥石支持工程では、エアセンサ6a〜6c,7a〜7cによるセンサ出力値がその前後(研削砥石4,5による挟持前と挟持後)で略同じ値となるように研削砥石4,5の軸方向位置を調整することが望ましい。なお、このS4後の状態が、調整用ワークWaを一対の静圧パッド1,2の間で静圧支持しつつ一対の研削砥石4,5により挟持する第1状態の一例である。この第1状態は、ワークWの研削時(S11)と同様に、調整用ワークWaを静圧パッド1,2と研削砥石4,5との両方で支持している状態であるが、S5で取得した第1状態のセンサ出力値のみでは、調整用ワークWaに曲げ応力が発生しているか否かは判別できない。
Here, in the grindstone support step of S4, the
続いて、研削砥石4,5により調整用ワークWaを挟持した状態のまま、作業者が操作手段23を操作することにより、静圧パッド制御手段21の制御により図7に示すように静圧パッド1,2への静圧水1c,2cの供給を停止し、静圧パッド1,2による静圧支持を停止する(S6:静圧支持停止工程)。そしてその状態で、作業者はエアセンサ6a〜6c,7a〜7cによるセンサ出力値を例えばセンサ出力値表示手段27から取得する(S7)。なお、このS6後の状態が、調整用ワークWaを静圧パッド1,2により静圧支持することなく一対の研削砥石4,5により挟持する第2状態の一例である。この第2状態は、第1状態から静圧パッド1,2による静圧支持をやめて研削砥石4,5による支持のみとした状態であるから、調整用ワークWaに曲げ応力が発生していないことは明らかである。
Subsequently, the operator operates the operating means 23 while holding the adjustment work Wa between the grinding
そして、S5で取得した第1状態(静圧支持停止前)におけるセンサ出力値と、S7で取得した第2状態(静圧支持停止後)におけるセンサ出力値との間の変化量を求め、その変化量が所定判定値(例えば5μm)以下であるか否かを判定する(S8:姿勢変化判定工程)。 Then, the amount of change between the sensor output value in the first state (before static pressure support stop) acquired in S5 and the sensor output value in the second state (after static pressure support stop) acquired in S7 is obtained, It is determined whether or not the change amount is a predetermined determination value (for example, 5 μm) or less (S8: posture change determination step).
そのセンサ出力値の変化量が十分に小さければ(所定判定値以下であれば)、S5時点(第1状態)とS7時点(第2状態)とで調整用ワークWaの姿勢に殆ど変化がないということであるから、ワークWの研削時と同じ条件の第1状態において調整用ワークWaに発生する曲げ応力は許容範囲内であると判断できる。一方、センサ出力値の変化量が所定判定値よりも大であれば、S5時点(第1状態)とS7時点(第2状態)とで調整用ワークWaの姿勢が大きく変化したということであるから、ワークWの研削時と同じ条件の第1状態において調整用ワークWaに無視できない曲げ応力が発生していると判断できる。 If the change amount of the sensor output value is sufficiently small (if it is equal to or less than the predetermined determination value), there is almost no change in the posture of the adjustment work Wa between time S5 (first state) and time S7 (second state). Therefore, it can be determined that the bending stress generated in the adjustment workpiece Wa in the first state under the same conditions as when grinding the workpiece W is within an allowable range. On the other hand, if the change amount of the sensor output value is larger than the predetermined determination value, it means that the posture of the adjustment work Wa has changed greatly between the time S5 (first state) and the time S7 (second state). From this, it can be determined that a bending stress that cannot be ignored is generated in the adjustment workpiece Wa in the first state under the same conditions as during grinding of the workpiece W.
そこで、センサ出力値の変化量が所定判定値以下でなければ(S8:No)、作業者はそのセンサ出力値の変化方向及び変化量に基づいて、変化量を小さくする方向に所定の調整を行う(S9)。この調整は、例えば研削砥石4,5の軸方向位置や傾きを対象として行うのが望ましいが、それ以外の例えば静圧水1c,2cの流量、ノズル径等を調整の対象としてもよいし、それらのうちの複数を同時に調整してもよい。
Therefore, if the change amount of the sensor output value is not less than or equal to the predetermined determination value (S8: No), the operator makes a predetermined adjustment in the direction of decreasing the change amount based on the change direction and the change amount of the sensor output value. Perform (S9). For example, this adjustment is desirably performed on the position and inclination of the grinding
例えば図8に示すように、左側のエアセンサ6a〜6cの出力値の変化量が全て−10であり、右側のエアセンサ7a〜7cの出力値の変化量が全て+10である場合、静圧パッド1,2による支持位置よりも研削砥石4,5による支持位置の方が右側にあると考えられる。従って作業者は、操作手段23の位置設定手段25を操作して、例えば研削砥石4,5の軸方向位置を左側にシフトするように調整すればよい。この場合、研削砥石4,5の軸方向位置を左側にシフトする代わりに、例えば右側の静圧パッド2側の静圧水2cの流量を左側の静圧パッド1側の静圧水1cの流量に対して相対的に小さくするように調整してもよいし、例えば右側の静圧パッド2側の静圧水2cのノズル径を左側の静圧パッド1側の静圧水1cのノズル径に対して相対的に小さくするように調整してもよい。
For example, as shown in FIG. 8, when the change amounts of the output values of the
S9の調整が終了すると、S3以降の処理を再び実行する。即ち、S8でセンサ出力値の変化量が所定判定値以下であると判定されるまで、S3〜S9の処理を繰り返し行う。そして、図9に示す例のように、S8でセンサ出力値の変化量が所定判定値以下であると判定された場合には(S8:Yes)、研削中のワークに曲げ応力が発生しないように調整されたものと判断できるため、ここで事前調整工程を完了し(S10)、その調整後の横型両頭平面研削装置によりワークWの研削を行う(S11:研削工程)。 When the adjustment of S9 is completed, the processes after S3 are executed again. That is, the processes of S3 to S9 are repeated until it is determined in S8 that the change amount of the sensor output value is equal to or smaller than the predetermined determination value. Then, as in the example shown in FIG. 9, when it is determined in S8 that the change amount of the sensor output value is equal to or less than the predetermined determination value (S8: Yes), no bending stress is generated in the workpiece being ground. Therefore, the pre-adjustment process is completed here (S10), and the workpiece W is ground by the horizontal double-sided surface grinding apparatus after the adjustment (S11: grinding process).
以上説明したように、本実施形態に係る薄板状ワークの製造方法は、研削工程の前の事前調整工程において、調整用ワークWaを一対の静圧パッド1,2の間で静圧支持しつつ一対の研削砥石4,5により挟持する第1状態と、調整用ワークWaを静圧パッド1,2により静圧支持することなく一対の研削砥石4,5により挟持する第2状態とで、調整用ワークWaと静圧パッド1,2との距離を検出するエアセンサ(距離検出センサ)6a〜6c,7a〜7cの出力値を取得し、それら両状態におけるセンサ出力値の変化に基づいて、その変化を小さくする方向に調整を行うものであるため、薄板状ワークの研削を高精度で行うための事前調整を、作業者の熟練度合いに拘わらず容易且つ確実に行うことが可能である。
As described above, the thin plate workpiece manufacturing method according to the present embodiment supports the adjustment workpiece Wa statically between the pair of
また、本実施形態に係る薄板状ワークの製造方法は、ワークの端面位置を監視するために従来から両頭平面研削装置に搭載されているエアセンサ6a〜6c,7a〜7cをそのまま用いることができるため、低コストで実現可能である。
Moreover, since the manufacturing method of the thin plate-shaped workpiece | work which concerns on this embodiment can use the
図10は本発明の第2の実施形態を例示し、第1の実施形態を一部変更して、横型両頭平面研削装置に、事前調整工程の少なくとも一部を自動的に行う事前調整手段31を設けた例を示している。
FIG. 10 illustrates the second embodiment of the present invention. A part of the first embodiment is modified, and a
本実施形態の横型両頭平面研削装置の制御系は、図10に示すように、静圧パッド制御手段21、砥石制御手段22等の他、事前調整手段31を備えている。この事前調整手段31は、図4に示す事前調整工程の少なくとも一部、例えばS3〜S9の繰り返し処理を自動的に行うもので、第1状態制御手段32、第1出力値取得手段33、第2状態制御手段34、第2出力値取得手段35、判定手段36、調整実行手段37等を備えている。 As shown in FIG. 10, the control system of the horizontal double-sided surface grinding apparatus of this embodiment includes a pre-adjustment means 31 in addition to the static pressure pad control means 21, the grindstone control means 22, and the like. This pre-adjustment means 31 automatically performs at least a part of the pre-adjustment step shown in FIG. 4, for example, the repetitive processing of S3 to S9. The first state control means 32, the first output value acquisition means 33, the first A two-state control unit 34, a second output value acquisition unit 35, a determination unit 36, an adjustment execution unit 37, and the like are provided.
第1状態制御手段32は、調整用ワークWaを一対の静圧パッド1,2の間で静圧支持しつつ一対の研削砥石4,5により挟持する第1状態を実現すべく、静圧パッド制御手段21及び砥石制御手段22を介して図4のS3,S4の処理を自動的に実行させるように構成されている。また第1出力値取得手段33は、その第1状態におけるエアセンサ6a〜6c,7a〜7cの出力値を取得する(図4のS5)。
The first state control means 32 is a static pressure pad for realizing a first state in which the adjustment work Wa is held between the pair of grinding
第2状態制御手段34は、調整用ワークWaを静圧パッド1,2により静圧支持することなく一対の研削砥石4,5により挟持する第2状態を実現すべく、静圧パッド制御手段21を介して図4のS6の処理を自動的に実行させるように構成されている。また第2出力値取得手段35は、その第2状態におけるエアセンサ6a〜6c,7a〜7cの出力値を取得する(図4のS7)。
The second state control means 34 is a static pressure pad control means 21 in order to realize a second state in which the adjustment work Wa is held between the pair of grinding
そして判定手段36は、第1出力値取得手段33により取得した第1状態(静圧支持停止前)におけるセンサ出力値と、第2出力値取得手段35により取得した第2状態(静圧支持停止後)におけるセンサ出力値との間の変化量を求め、その変化量が所定判定値(例えば5μm)以下であるか否かを判定する(図4のS8)。
Then, the determination unit 36 detects the sensor output value in the first state (before static pressure support stop) acquired by the first output
また、調整実行手段37は、静圧水1c,2cの流量を調整する流量調整手段37a、研削砥石4,5の軸方向位置を調整する位置調整手段37b、研削砥石4,5の傾きを調整する傾き調整手段37c等を備えており、判定手段36によりセンサ出力値の変化量が所定判定値以下でないと判定された場合に(図4のS8:No)、そのセンサ出力値の変化方向及び変化量に基づいて、流量調整手段37a、位置調整手段37b、調整手段37c等により、変化量を小さくする方向に自動的に調整を行う(図4のS9)。
Further, the adjustment executing means 37 adjusts the inclination of the grinding
そして事前調整手段31は、判定手段36によりセンサ出力値の変化量が所定判定値以下であると判定されるまで、図4のS3〜S9を繰り返し実行する。
Then, the
以上説明したように、本発明では第1状態と第2状態とにおけるセンサ出力値の変化方向及び変化量が数値化できるため、本実施形態のように事前調整工程の少なくとも一部を自動化することも可能である。 As described above, in the present invention, since the change direction and the change amount of the sensor output value in the first state and the second state can be quantified, at least a part of the pre-adjustment step is automated as in this embodiment. Is also possible.
以上、本発明の実施形態について詳述したが、本発明はこの実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。例えば、実施形態の事前調整工程は、第1状態でセンサ出力値を取得した後に第2状態に移行してセンサ出力値を取得するように構成したが、先に第2状態でセンサ出力値を取得した後に第1状態に移行してセンサ出力値を取得するように構成してもよい。 As mentioned above, although embodiment of this invention was explained in full detail, this invention is not limited to this embodiment, A various change is possible in the range which does not deviate from the meaning of this invention. For example, the pre-adjustment step of the embodiment is configured to acquire the sensor output value in the second state after acquiring the sensor output value in the first state, but to acquire the sensor output value in the second state first. After the acquisition, the sensor output value may be acquired by moving to the first state.
また、実施形態の事前調整工程は、静圧支持工程(図4のS3)を実行した後に静圧支持停止工程(図4のS4)を実行することにより第1状態に移行するように構成したが、先に研削砥石4,5により調整用ワークWaを挟持した後に静圧パッド1,2による静圧支持を行うことにより第1状態に移行するように構成してもよい。
In addition, the pre-adjustment step of the embodiment is configured to shift to the first state by executing the static pressure support stop step (S4 of FIG. 4) after executing the static pressure support step (S3 of FIG. 4). However, you may comprise so that it may transfer to a 1st state by performing the static pressure support by the
実施形態では、砥石支持工程(図4のS4)において、エアセンサ6a〜6c,7a〜7cの出力値が静圧支持工程(図4のS3)のときと略同一となる位置で研削砥石4,5により調整用ワークWaを挟持するように構成したが、エアセンサ6a〜6c,7a〜7cの出力値に拘わらず、予め設定された位置で研削砥石4,5により調整用ワークWaを挟持するように構成してもよい。但しこの場合には、その後の調整に時間がかかる可能性がある。
In the embodiment, in the grinding wheel support step (S4 in FIG. 4), the
また、本発明の両頭平面研削装置は一対の静圧パッド1,2、一対の研削砥石4,5を上下に配置した縦型両頭平面研削装置においても同様に実施することが可能である。
The double-sided surface grinding apparatus of the present invention can be similarly implemented in a vertical double-sided surface grinding apparatus in which a pair of
1,2 静圧パッド
4,5 研削砥石
6a〜6c,
7a〜7c エアセンサ(距離検出センサ)
W ワーク
Wa 調整用ワーク
1, 2
7a-7c Air sensor (distance detection sensor)
W Work Wa Adjustment work
Claims (6)
前記事前調整工程では、調整用ワークを前記一対の静圧パッドの間で静圧支持しつつ前記一対の研削砥石により挟持する第1状態と、前記調整用ワークを前記静圧パッドにより静圧支持することなく前記一対の研削砥石により挟持する第2状態とで前記調整用ワークの姿勢に関する所定値を取得し、それら両状態における前記所定値の変化に基づいて前記両頭平面研削装置を調整する
ことを特徴とする薄板状ワークの製造方法。 Using a double-sided surface grinding machine having a pair of static pressure pads and a pair of grinding wheels, while rotating a thin plate-like workpiece supported statically between the pair of static pressure pads, the pair of grinding wheels In a manufacturing method of a thin plate work comprising a grinding step of grinding both surfaces of the workpiece, and a pre-adjustment step of adjusting the double-sided surface grinding apparatus before the grinding step,
In the pre-adjustment step, a first state in which the adjustment work is held between the pair of static pressure pads while being statically supported by the pair of grinding wheels, and the adjustment work is statically applied by the static pressure pad. A predetermined value related to the posture of the adjustment workpiece is acquired in the second state sandwiched between the pair of grinding wheels without being supported, and the double-head surface grinding apparatus is adjusted based on the change in the predetermined value in both states. A method for manufacturing a thin plate-like workpiece.
ことを特徴とする請求項1に記載の薄板状ワークの製造方法。 The method for manufacturing a thin plate workpiece according to claim 1, wherein an output value of a distance detection sensor that detects a distance between the pair of static pressure pads and the adjustment workpiece is the predetermined value.
ことを特徴とする請求項2に記載の薄板状ワークの製造方法。 The pre-adjustment step is terminated on condition that the amount of change in the output value of the distance detection sensor in the first state and the second state is equal to or less than a predetermined determination value. Method for manufacturing a thin plate workpiece.
前記調整用ワークを前記一対の静圧パッドの間で静圧支持する静圧支持工程と、
前記静圧支持工程で静圧支持された前記調整用ワークを前記一対の研削砥石により挟持する砥石支持工程と、
前記砥石支持工程の後に前記一対の静圧パッドによる静圧支持を停止する静圧支持停止工程と、
前記静圧支持停止工程の前後における前記距離検出センサの出力値の変化量が前記所定判定値以下であるか否かを判定する姿勢変化判定工程とを備え、
前記姿勢変化判定工程で前記変化量が前記所定判定値以下であると判定されるまで、前記変化量を小さくする方向に前記両頭平面研削装置を調整しつつ前記静圧支持工程以降の工程を繰り返す
ことを特徴とする請求項3に記載の薄板状ワークの製造方法。 The preconditioning step includes
A static pressure support step of statically supporting the work for adjustment between the pair of static pressure pads;
A grindstone support step of sandwiching the adjustment work supported by the static pressure in the static pressure support step between the pair of grinding wheels;
A static pressure support stop step of stopping static pressure support by the pair of static pressure pads after the grindstone support step;
A posture change determination step of determining whether or not a change amount of the output value of the distance detection sensor before and after the static pressure support stop step is equal to or less than the predetermined determination value;
Until the change amount is determined to be less than or equal to the predetermined determination value in the posture change determination step, the steps after the static pressure support step are repeated while adjusting the double-sided surface grinding device in a direction to reduce the change amount. The method for manufacturing a thin plate workpiece according to claim 3.
ことを特徴とする請求項4に記載の薄板状ワークの製造方法。 5. The adjustment workpiece is clamped by the pair of grinding wheels at a position where the output value of the distance detection sensor is substantially the same as that in the static pressure support step in the grinding wheel support step. The manufacturing method of the thin plate-shaped workpiece of description.
調整用ワークを前記一対の静圧パッドの間で静圧支持しつつ前記一対の研削砥石により挟持する第1状態と、前記調整用ワークを前記静圧パッドにより静圧支持することなく前記一対の研削砥石により挟持する第2状態とで前記調整用ワークの姿勢に関する所定値を夫々取得し、それら両状態における前記所定値の変化に基づいて、前記ワークの研削前に所定の調整を行う事前調整手段を備えた
ことを特徴とする両頭平面研削装置。 In a double-head surface grinding apparatus that grinds both surfaces of a workpiece with a pair of grinding wheels while rotating a thin plate-like workpiece supported statically between a pair of static pressure pads,
A first state in which the adjustment work is held between the pair of static pressure pads while being statically supported by the pair of grinding stones, and the adjustment work is not statically supported by the static pressure pad. A pre-adjustment for obtaining a predetermined value related to the posture of the workpiece for adjustment in the second state sandwiched between the grinding wheels and performing a predetermined adjustment before grinding the workpiece based on a change in the predetermined value in both states A double-head surface grinding apparatus characterized by comprising means.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015078531A JP6383700B2 (en) | 2015-04-07 | 2015-04-07 | Thin plate workpiece manufacturing method and double-head surface grinding apparatus |
CN201610182159.9A CN106041728B (en) | 2015-04-07 | 2016-03-28 | Method for manufacturing thin plate-like workpiece and double-ended flat grinding device |
TW105110045A TWI678262B (en) | 2015-04-07 | 2016-03-30 | Manufacturing method of thin plate-shaped workpiece and double-headed surface grinding device |
KR1020160042115A KR102499588B1 (en) | 2015-04-07 | 2016-04-06 | Thin plate-shaped workpiece manufacturing method and double-end surface grinding apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015078531A JP6383700B2 (en) | 2015-04-07 | 2015-04-07 | Thin plate workpiece manufacturing method and double-head surface grinding apparatus |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016198826A JP2016198826A (en) | 2016-12-01 |
JP6383700B2 true JP6383700B2 (en) | 2018-08-29 |
Family
ID=57250367
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015078531A Active JP6383700B2 (en) | 2015-04-07 | 2015-04-07 | Thin plate workpiece manufacturing method and double-head surface grinding apparatus |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6383700B2 (en) |
KR (1) | KR102499588B1 (en) |
CN (1) | CN106041728B (en) |
TW (1) | TWI678262B (en) |
Families Citing this family (5)
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---|---|---|---|---|
US11400563B2 (en) * | 2018-12-07 | 2022-08-02 | Disco Corporation | Processing method for disk-shaped workpiece |
CN115723035B (en) * | 2022-09-08 | 2024-05-28 | 西安奕斯伟材料科技股份有限公司 | System, method and double-sided grinding device for monitoring processing state of grinding device |
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CN116117682B (en) * | 2023-03-31 | 2024-04-12 | 西安奕斯伟材料科技股份有限公司 | Static pressure pad, grinding equipment and silicon wafer |
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2016
- 2016-03-28 CN CN201610182159.9A patent/CN106041728B/en active Active
- 2016-03-30 TW TW105110045A patent/TWI678262B/en active
- 2016-04-06 KR KR1020160042115A patent/KR102499588B1/en active IP Right Grant
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2016198826A (en) | 2016-12-01 |
KR20160120237A (en) | 2016-10-17 |
KR102499588B1 (en) | 2023-02-15 |
CN106041728B (en) | 2020-02-07 |
TWI678262B (en) | 2019-12-01 |
CN106041728A (en) | 2016-10-26 |
TW201642999A (en) | 2016-12-16 |
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A621 | Written request for application examination |
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A977 | Report on retrieval |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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R250 | Receipt of annual fees |
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S533 | Written request for registration of change of name |
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R350 | Written notification of registration of transfer |
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