JP6323047B2 - Resin multilayer substrate and manufacturing method thereof - Google Patents

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本発明は、樹脂多層基板およびその製造方法に関するものである。   The present invention relates to a resin multilayer substrate and a method for manufacturing the same.

樹脂多層基板において、配線の高密度化が進んでいる。たとえば樹脂多層基板の内部では、導体パターン同士を厚み方向に離隔しつつ対向させることによってキャパシタを形成する場合がある。   In the resin multilayer substrate, the density of wiring is increasing. For example, in a resin multilayer substrate, a capacitor may be formed by making conductor patterns face each other while being separated in the thickness direction.

樹脂多層基板において積層体の内部に導体パターンが配置された構成の一例は、国際公開第2012/124421号パンフレット(特許文献1)に記載されている。   An example of a configuration in which a conductor pattern is arranged inside a laminate in a resin multilayer substrate is described in International Publication No. 2012/124421 (Patent Document 1).

国際公開第2012/124421号パンフレットInternational Publication No. 2012/124421 Pamphlet

積層体の内部で導体パターン同士を対向させることによって形成されるキャパシタの容量を大きく確保するためには、第1の方法としては、導体パターン同士が対向する領域の面積を大きくすることが考えられる。   In order to ensure a large capacitance of the capacitor formed by making the conductor patterns face each other inside the multilayer body, as a first method, it is conceivable to increase the area of the region where the conductor patterns face each other. .

第2の方法としては、厚み方向に関する導体パターン同士の間隙を小さくすることが考えられる。導体パターン同士の間隙を小さくするためには、積層体を作製する際に、キャパシタの2つの導体パターンに挟まれる部分に薄い樹脂シートを用いることが考えられる。しかし、用いられる樹脂シートの厚みは予め決まっており、積層体の中で所望の箇所だけに限って薄い樹脂シートを用いることは困難であった。   As a second method, it is conceivable to reduce the gap between the conductor patterns in the thickness direction. In order to reduce the gap between the conductor patterns, it is conceivable to use a thin resin sheet at the portion sandwiched between the two conductor patterns of the capacitor when producing the laminate. However, the thickness of the resin sheet to be used is determined in advance, and it is difficult to use a thin resin sheet only in a desired portion in the laminate.

このような問題は、キャパシタに限らず、他の構造体においてもあてはまることである。これらの構造体においては、平面的に見たときの構造体の面積を拡大することなく、導体パターン同士の間隙をより短くすることが望まれる場合がある。   Such a problem is applicable not only to capacitors but also to other structures. In these structures, it may be desired to shorten the gap between the conductor patterns without enlarging the area of the structure when viewed in plan.

そこで、本発明は、積層体の内部において導体パターン同士の間隙を短くすることが望まれる構造体の、当該間隙を短くした樹脂多層基板およびその製造方法を提供することを目的とする。   In view of the above, an object of the present invention is to provide a resin multilayer substrate in which the gap between conductor patterns is desired to be shortened in the multilayer body, and the manufacturing method thereof.

上記目的を達成するため、本発明に基づく樹脂多層基板は、熱可塑性樹脂を主材料とする複数の樹脂層を積み重ねて積層方向に加圧されてなる積層体と、上記積層体の内部に配置された複数の導体パターンとを備え、上記複数の導体パターンのうち2つは、上記複数の樹脂層のうちの少なくとも1つを挟んで上下方向に重なる位置関係にある導体パターン対をなしており、上記積層体の内部で、上記導体パターン対の上側、下側、または、上側および下側に近接するように、ダミー構造が配置されており、上記導体パターン対の間に部分的に挟まれた上記樹脂層は、上記導体パターン対の間に挟まれた部位における厚みが上記導体パターン対の間に挟まれていない部位における厚みより小さくなっている。   In order to achieve the above object, a resin multilayer substrate according to the present invention includes a laminated body in which a plurality of resin layers mainly composed of a thermoplastic resin are stacked and pressed in the laminating direction, and disposed inside the laminated body. A plurality of conductor patterns, and two of the plurality of conductor patterns form a conductor pattern pair in a positional relationship overlapping in the vertical direction across at least one of the plurality of resin layers. A dummy structure is arranged inside the laminated body so as to be close to the upper side, the lower side, or the upper side and the lower side of the conductor pattern pair, and is partially sandwiched between the conductor pattern pairs. The thickness of the resin layer at the portion sandwiched between the conductor pattern pairs is smaller than the thickness at the portion not sandwiched between the conductor pattern pairs.

本発明によれば、構造体の導体パターン同士の間隙を短くした構成を容易に実現することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the structure which shortened the clearance gap between the conductor patterns of a structure can be implement | achieved easily.

本発明に基づく実施の形態1における樹脂多層基板の断面図である。It is sectional drawing of the resin multilayer substrate in Embodiment 1 based on this invention. 本発明に基づく実施の形態1における樹脂多層基板の変形例の断面図である。It is sectional drawing of the modification of the resin multilayer substrate in Embodiment 1 based on this invention. 本発明に基づく実施の形態2における樹脂多層基板の断面図である。It is sectional drawing of the resin multilayer substrate in Embodiment 2 based on this invention. 本発明に基づく実施の形態2における樹脂多層基板に含まれるダミー構造の斜視図である。It is a perspective view of the dummy structure contained in the resin multilayer substrate in Embodiment 2 based on this invention. 本発明に基づく実施の形態2における樹脂多層基板に含まれるダミー構造の第1の変形例の側面図である。It is a side view of the 1st modification of the dummy structure contained in the resin multilayer substrate in Embodiment 2 based on this invention. 本発明に基づく実施の形態2における樹脂多層基板に含まれるダミー構造の第2の変形例の側面図である。It is a side view of the 2nd modification of the dummy structure contained in the resin multilayer substrate in Embodiment 2 based on this invention. 本発明に基づく実施の形態2における樹脂多層基板に含まれるダミー構造の第2の変形例の斜視図である。It is a perspective view of the 2nd modification of the dummy structure contained in the resin multilayer substrate in Embodiment 2 based on this invention. 本発明に基づく実施の形態2における樹脂多層基板に含まれるダミー構造の第3の変形例の側面図である。It is a side view of the 3rd modification of the dummy structure contained in the resin multilayer substrate in Embodiment 2 based on this invention. 本発明に基づく実施の形態2における樹脂多層基板に含まれるダミー構造の第4の変形例の側面図である。It is a side view of the 4th modification of the dummy structure contained in the resin multilayer substrate in Embodiment 2 based on this invention. 本発明に基づく実施の形態2における樹脂多層基板に含まれるダミー構造の第5の変形例の側面図である。It is a side view of the 5th modification of the dummy structure contained in the resin multilayer substrate in Embodiment 2 based on this invention. 本発明に基づく実施の形態3における樹脂多層基板の断面図である。It is sectional drawing of the resin multilayer substrate in Embodiment 3 based on this invention. 本発明に基づく実施の形態3における樹脂多層基板の第1の変形例の断面図である。It is sectional drawing of the 1st modification of the resin multilayer substrate in Embodiment 3 based on this invention. 本発明に基づく実施の形態3における樹脂多層基板の第2の変形例の断面図である。It is sectional drawing of the 2nd modification of the resin multilayer substrate in Embodiment 3 based on this invention. ダミー構造と導体パターン対との位置関係の第1の例の平面図である。It is a top view of the 1st example of the positional relationship of a dummy structure and a conductor pattern pair. ダミー構造と導体パターン対との位置関係の第2の例の平面図である。It is a top view of the 2nd example of the positional relationship of a dummy structure and a conductor pattern pair. 本発明に基づく実施の形態4における樹脂多層基板の断面図である。It is sectional drawing of the resin multilayer substrate in Embodiment 4 based on this invention. 本発明に基づく実施の形態4における樹脂多層基板の変形例の断面図である。It is sectional drawing of the modification of the resin multilayer substrate in Embodiment 4 based on this invention. 導体パターン対8を構成する導体パターンの大きさに差がある場合の、ダミー構造の好ましい配置に関する第1の説明図である。FIG. 11 is a first explanatory diagram relating to a preferred arrangement of dummy structures when there is a difference in the size of conductor patterns constituting conductor pattern pair 8. 導体パターン対8を構成する導体パターンの大きさに差がある場合の、ダミー構造の好ましい配置に関する第2の説明図である。It is the 2nd explanatory view about desirable arrangement of a dummy structure when there is a difference in the size of the conductor pattern which constitutes conductor pattern pair. 本発明に基づく実施の形態5における樹脂多層基板の断面図である。It is sectional drawing of the resin multilayer substrate in Embodiment 5 based on this invention. 本発明に基づく実施の形態5における樹脂多層基板の透視平面図である。It is a perspective top view of the resin multilayer substrate in Embodiment 5 based on this invention. 本発明に基づく実施の形態5における樹脂多層基板の透視斜視図である。It is a see-through | perspective perspective view of the resin multilayer substrate in Embodiment 5 based on this invention. 本発明に基づく実施の形態6における樹脂多層基板の製造方法のフローチャートである。It is a flowchart of the manufacturing method of the resin multilayer substrate in Embodiment 6 based on this invention. 本発明に基づく実施の形態6における樹脂多層基板の製造方法積層体を得る工程を行なう直前の状態の概念的説明図である。It is a conceptual explanatory drawing of the state just before performing the process of obtaining the manufacturing method laminated body of the resin multilayer substrate in Embodiment 6 based on this invention. 本発明に基づく実施の形態6における樹脂多層基板の製造方法積層体を得る工程を行なった直後の状態の断面図である。It is sectional drawing of the state immediately after performing the process of obtaining the manufacturing method laminated body of the resin multilayer substrate in Embodiment 6 based on this invention.

(実施の形態1)
(構成)
図1を参照して、本発明に基づく実施の形態1における樹脂多層基板について説明する。本実施の形態における樹脂多層基板101の断面図を図1に示す。
(Embodiment 1)
(Constitution)
With reference to FIG. 1, the resin multilayer substrate in Embodiment 1 based on this invention is demonstrated. A cross-sectional view of the resin multilayer substrate 101 in the present embodiment is shown in FIG.

本実施の形態における樹脂多層基板101は、熱可塑性樹脂を主材料とする複数の樹脂層2を積み重ねて積層方向に加圧されてなる積層体と、前記積層体の内部に配置された複数の導体パターンとを備える。前記複数の導体パターンのうちの2つである導体パターン8a,8bは、複数の樹脂層2のうちの少なくとも1つを挟んで上下方向に重なる位置関係にある導体パターン対8をなしている。この導体パターン対8はキャパシタを構成している。前記積層体の内部で、導体パターン対8の上側、下側、または、上側および下側に近接するように、ダミー構造3が配置されている。導体パターン対8の間に部分的に挟まれた前記樹脂層は、前記導体パターン対の間に挟まれた部位における厚みが前記導体パターン対の間に挟まれていない部位における厚みより小さくなっている。   The resin multilayer substrate 101 according to the present embodiment includes a laminated body in which a plurality of resin layers 2 mainly made of a thermoplastic resin are stacked and pressed in the laminating direction, and a plurality of layers arranged inside the laminated body. A conductor pattern. The conductor patterns 8a and 8b, which are two of the plurality of conductor patterns, form a conductor pattern pair 8 in a positional relationship that overlaps in the vertical direction with at least one of the plurality of resin layers 2 interposed therebetween. The conductor pattern pair 8 constitutes a capacitor. The dummy structure 3 is disposed so as to be close to the upper side, the lower side, or the upper side and the lower side of the conductor pattern pair 8 inside the laminated body. The resin layer partially sandwiched between the conductor pattern pairs 8 is smaller in thickness at a portion sandwiched between the conductor pattern pairs than at a portion not sandwiched between the conductor pattern pairs. Yes.

図1に示した例では、ダミー構造3は導体パターン対8の上側にある。図1に示した例では、ダミー構造3は、第1ダミー導体パターン31を含み、第1ダミー導体パターン31の上側に接続するように複数のダミー導体ビア36が配置された構造となっている。これらの構成はあくまで一例である。   In the example shown in FIG. 1, the dummy structure 3 is above the conductor pattern pair 8. In the example shown in FIG. 1, the dummy structure 3 includes a first dummy conductor pattern 31 and a plurality of dummy conductor vias 36 are arranged so as to be connected to the upper side of the first dummy conductor pattern 31. . These configurations are merely examples.

なお、本明細書において、ダミー構造、ダミー導体パターンおよびダミー導体ビアの「ダミー」とは、それ自身が回路の一部として機能せず、また他の回路要素と実質的に電気的な接続がなされていないことを意味する。   In the present specification, the “dummy” of the dummy structure, the dummy conductor pattern, and the dummy conductor via does not function as a part of the circuit itself, and is substantially electrically connected to other circuit elements. Means not done.

樹脂多層基板101は、導体パターン対8となる2つの導体パターン8a,8bの他に、導体パターン7を備えていてもよい。また、ダミー構造3とは別の箇所に導体ビア6を備えていてもよい。図1では、説明の便宜のために、単純化した構成を示しているが、これはあくまで一例であって、具体的構造は、図1に示したものに限られない。   The resin multilayer substrate 101 may include a conductor pattern 7 in addition to the two conductor patterns 8 a and 8 b that form the conductor pattern pair 8. Further, the conductor via 6 may be provided at a location different from the dummy structure 3. In FIG. 1, for the convenience of explanation, a simplified configuration is shown, but this is only an example, and the specific structure is not limited to that shown in FIG.

このような樹脂多層基板101は、たとえば以下のようにして得ることができる。
(1)片面または両面に銅箔などの金属箔が設けられた複数の熱可塑性樹脂からなる樹脂層(樹脂シート)、あるいは金属箔が設けられていない熱可塑性樹脂からなる樹脂層(樹脂シート)を用意する。
Such a resin multilayer substrate 101 can be obtained, for example, as follows.
(1) A resin layer (resin sheet) made of a plurality of thermoplastic resins provided with a metal foil such as copper foil on one side or both sides, or a resin layer (resin sheet) made of a thermoplastic resin not provided with a metal foil Prepare.

(2)樹脂層のうち特定の樹脂層の所定の位置に、レーザ加工などによって、導体箔は貫通しないが樹脂層を貫通する孔を設ける。   (2) A hole that does not penetrate the conductor foil but penetrates the resin layer is provided at a predetermined position of the specific resin layer in the resin layer by laser processing or the like.

(3)貫通孔に導電性ペーストからなるビア材料を充填し、乾燥させる。
(4)樹脂層のうち特定の樹脂層の導体箔に対してエッチングなどを施すことにより、所定の導体パターンを形成する。
(3) Fill the through hole with a via material made of a conductive paste and dry it.
(4) A predetermined conductor pattern is formed by performing etching or the like on the conductor foil of a specific resin layer in the resin layer.

(5)複数の樹脂層を積層し、熱可塑性樹脂の軟化点以上の温度(たとえば300℃)で加熱しながら加圧することにより積層体を得るとともに、貫通孔に充填されたビア材料を硬化させ導体ビアを得る。   (5) Laminating a plurality of resin layers, and applying pressure while heating at a temperature equal to or higher than the softening point of the thermoplastic resin (for example, 300 ° C.), obtains a laminate, and cures the via material filled in the through holes. Get conductor vias.

(作用・効果)
本実施の形態では、導体パターン対8の間に部分的に挟まれた前記樹脂層は、前記導体パターン対の間に挟まれた部位における厚みが前記導体パターン対の間に挟まれていない部位における厚みより小さくなっている。導体パターン対8は、積層体の内部において導体パターン同士の間隙を短くすることが望まれる構造体である。すなわち、本実施の形態においては、導体パターン対8はキャパシタであり、本実施の形態によれば導体パターン同士の間隙を短くすることができるので、導体パターン対の面積を拡げることなくキャパシタとしての容量値を大きくすることができる。本実施の形態では、このような構造体の導体パターン同士の間隙を短くした構成を容易に実現することができる。
(Action / Effect)
In the present embodiment, the resin layer partially sandwiched between the conductor pattern pairs 8 is a portion where the thickness of the resin layer sandwiched between the conductor pattern pairs is not sandwiched between the conductor pattern pairs. It is smaller than the thickness. The conductor pattern pair 8 is a structure in which it is desired to shorten the gap between the conductor patterns inside the multilayer body. That is, in the present embodiment, the conductor pattern pair 8 is a capacitor, and according to the present embodiment, the gap between the conductor patterns can be shortened, so that the capacitor pattern pair 8 can be used without increasing the area of the conductor pattern pair. The capacity value can be increased. In the present embodiment, a configuration in which the gap between the conductor patterns of such a structure is shortened can be easily realized.

複数の樹脂層を積み重ねて積層体とする際に、その中にダミー構造3を入れたことによって、ダミー構造3が占める部分の厚み方向の剛性が高まっている。本実施の形態における樹脂多層基板の場合、複数の樹脂層を積み重ねたものを一体的な積層体へと熱圧着する際には、ダミー構造3の上下方向の投影領域内においては、他の部分よりも圧力が相対的に高まる。導体パターン対8は、ダミー構造3の上下方向の投影領域内にあるので、ダミー構造3の存在により相対的に高まった圧力の影響を受ける。その結果、樹脂層2のうち導体パターン対8の間に位置する部分は圧縮されて薄くなり、導体パターン対8の導体パターン8a,8b同士の距離は小さくなる。   When a plurality of resin layers are stacked to form a laminated body, the rigidity in the thickness direction of the portion occupied by the dummy structure 3 is increased by inserting the dummy structure 3 therein. In the case of the resin multilayer substrate in the present embodiment, when thermocompression bonding a stack of a plurality of resin layers into an integrated laminate, other parts are provided within the vertical projection area of the dummy structure 3. The pressure is relatively higher than. Since the conductor pattern pair 8 is in the projection region in the vertical direction of the dummy structure 3, the conductor pattern pair 8 is affected by a relatively increased pressure due to the presence of the dummy structure 3. As a result, the portion of the resin layer 2 located between the conductor pattern pair 8 is compressed and thinned, and the distance between the conductor patterns 8a and 8b of the conductor pattern pair 8 is reduced.

本実施の形態における樹脂多層基板では、このように容易に作製することができる。
なお、導体パターン対8に含まれる導体パターン8a,8bは、他の導体パターン7と同じ材料で同じ厚みで形成されたものであってもよい。ダミー構造3に含まれるダミー導体パターンについても同様である。これらの導体パターンは、いずれも、たとえば導体箔付き樹脂シートの導体箔をエッチングなどの方法によってパターニングすることによって形成することができる。ここでいう導体箔は、たとえば銅箔であってもよい。これらの導体パターンは、銅であれば導電率が良好であるので好ましいが、他の材料であってもよい。
The resin multilayer substrate in the present embodiment can be easily manufactured as described above.
The conductor patterns 8a and 8b included in the conductor pattern pair 8 may be formed of the same material as the other conductor patterns 7 with the same thickness. The same applies to the dummy conductor pattern included in the dummy structure 3. Any of these conductor patterns can be formed, for example, by patterning a conductor foil of a resin sheet with a conductor foil by a method such as etching. The conductor foil here may be a copper foil, for example. These conductor patterns are preferably copper, since they have good conductivity, but may be other materials.

ダミー構造3に含まれるダミー導体ビア36は、導電性ペーストを充填することによって形成したものであってよい。すなわち、ダミー導体ビア36は、従来から層間の電気的接続に用いられる導体ビアと同じ方法で形成したものであってよい。ここでいう導電性ペーストは、たとえばスズ、銅、銀のうち少なくとも1つを含む導電性ペーストであってもよく、他の材料によるペーストであってもよい。ダミー構造3に含まれるダミー導体ビア36は、ここでは名称に「導体ビア」という語が含まれているが、実際には導体でない材料によって形成されたビアであってもよい。ただし、従来から層間の電気的接続に用いられる導体ビアと同じ方法で形成することとした方が余分な工程を増やすことなく実施できて好都合であるので、ダミー構造3に含まれるビアは、通常は導体で形成されたビアであると考えられる。   The dummy conductor via 36 included in the dummy structure 3 may be formed by filling a conductive paste. That is, the dummy conductor via 36 may be formed by the same method as a conductor via conventionally used for electrical connection between layers. The conductive paste here may be, for example, a conductive paste containing at least one of tin, copper, and silver, or may be a paste made of other materials. The dummy conductor via 36 included in the dummy structure 3 includes the word “conductor via” in its name here, but may be a via formed of a material that is not actually a conductor. However, since it is convenient to form the conductive vias in the same manner as the conventional conductive vias used for the electrical connection between the layers without increasing extra steps, the vias included in the dummy structure 3 are usually used. Is considered to be a via formed of a conductor.

本実施の形態で示したように、ダミー構造3は、第1ダミー導体パターン31と第1ダミー導体パターン31に接続されたダミー導体ビア36との組合せであることが好ましい。この構成を採用することにより、ダミー構造3の形状を立体的にし、ダミー構造3自体の剛性を高めることができるからである。   As shown in the present embodiment, the dummy structure 3 is preferably a combination of the first dummy conductor pattern 31 and the dummy conductor via 36 connected to the first dummy conductor pattern 31. By adopting this configuration, the shape of the dummy structure 3 can be made three-dimensional, and the rigidity of the dummy structure 3 itself can be increased.

なお、図1に示した樹脂多層基板101の例では、ダミー構造3が導体パターン対8の上側にあり、かつ、ダミー構造3は第1ダミー導体パターン31の上側にダミー導体ビア36が接続された構成となっていた。すなわち、ダミー構造3の全体のうち導体パターン対8に最も近い側には、ダミー導体ビア36ではなく第1ダミー導体パターン31が存在していた。   In the example of the resin multilayer substrate 101 shown in FIG. 1, the dummy structure 3 is above the conductor pattern pair 8, and the dummy structure 3 is connected to the dummy conductor via 36 above the first dummy conductor pattern 31. It was a composition. That is, the first dummy conductor pattern 31 is present instead of the dummy conductor via 36 on the side closest to the conductor pattern pair 8 in the entire dummy structure 3.

なお、図2に示す樹脂多層基板102のような構成であってもよい。樹脂多層基板102においては、ダミー構造3が導体パターン対8の上側にあり、かつ、ダミー構造3は第1ダミー導体パターン31の下側にダミー導体ビア36が接続された構成となっている。すなわち、ダミー構造3の全体のうち導体パターン対8に最も近い側には第1ダミー導体パターン31ではなくダミー導体ビア36が存在している。このような構成であっても、ダミー構造3の存在により相対的に圧力を高めることができるので、同様の効果を得ることができる。   A configuration like the resin multilayer substrate 102 shown in FIG. 2 may be used. In the resin multilayer substrate 102, the dummy structure 3 is on the upper side of the conductor pattern pair 8, and the dummy structure 3 is configured such that the dummy conductor via 36 is connected to the lower side of the first dummy conductor pattern 31. That is, the dummy conductor via 36 is present instead of the first dummy conductor pattern 31 on the side closest to the conductor pattern pair 8 in the entire dummy structure 3. Even in such a configuration, the pressure can be relatively increased due to the presence of the dummy structure 3, so that the same effect can be obtained.

ただし、図1に示した樹脂多層基板101と図2に示した樹脂多層基板102とを比較すると、樹脂多層基板101のように、ダミー構造3のうち導体パターン対8に最も近い側には、ダミー構造3に含まれるいずれかのダミー導体パターンが配置されている構成の方が優れた効果を期待できる。なぜなら、図1に示したようにダミー構造3が平坦なダミー導体パターンを以て導体パターン対8に対向していれば、ダミー構造3は導体パターン対8に対して圧力を伝えやすいからである。   However, when the resin multilayer substrate 101 shown in FIG. 1 is compared with the resin multilayer substrate 102 shown in FIG. 2, as in the resin multilayer substrate 101, on the side closest to the conductor pattern pair 8 in the dummy structure 3, A superior effect can be expected when the dummy conductor pattern included in the dummy structure 3 is arranged. This is because, as shown in FIG. 1, if the dummy structure 3 faces the conductor pattern pair 8 with a flat dummy conductor pattern, the dummy structure 3 can easily transmit pressure to the conductor pattern pair 8.

言い換えれば、ダミー構造3に含まれるダミー導体ビア36は、ダミー構造3に含まれる第1ダミー導体パターン31の、導体パターン対8とは逆の側の面に接続されていることが好ましい。この構成を採用することにより、導体パターン対8に対して圧力を伝えやすくなるからである。   In other words, the dummy conductor via 36 included in the dummy structure 3 is preferably connected to the surface of the first dummy conductor pattern 31 included in the dummy structure 3 on the side opposite to the conductor pattern pair 8. This is because the adoption of this configuration makes it easier to transmit the pressure to the conductor pattern pair 8.

また、ダミー構造3は、それ自身が回路の一部として機能するものではなく、また、他の回路要素と実質的に電気的な接続がなされていない。したがって、ダミー構造3と他の回路要素との間で不要な容量結合などによる特性変動が発生するおそれが抑制される。   Further, the dummy structure 3 does not function as a part of the circuit itself, and is not substantially electrically connected to other circuit elements. Therefore, it is possible to suppress the possibility of characteristic fluctuations due to unnecessary capacitive coupling between the dummy structure 3 and other circuit elements.

(実施の形態2)
(構成)
図3〜図4を参照して、本発明に基づく実施の形態2における樹脂多層基板について説明する。本実施の形態における樹脂多層基板103の断面図を図3に示す。樹脂多層基板103の基本的な構成は実施の形態1で説明したものと同様であるが、以下の点で異なる。
(Embodiment 2)
(Constitution)
With reference to FIGS. 3 to 4, a resin multilayer substrate in accordance with the second embodiment of the present invention will be described. A cross-sectional view of the resin multilayer substrate 103 in the present embodiment is shown in FIG. The basic configuration of the resin multilayer substrate 103 is the same as that described in the first embodiment, but differs in the following points.

樹脂多層基板103においては、ダミー構造3は、第1ダミー導体パターン31とは別物であって第1ダミー導体パターン31と少なくとも部分的に重なり合う位置関係の第2ダミー導体パターン32を含み、ダミー導体ビア36は、第1ダミー導体パターン31と第2ダミー導体パターン32とを接続している。   In the resin multilayer substrate 103, the dummy structure 3 includes a second dummy conductor pattern 32 that is different from the first dummy conductor pattern 31 and has a positional relationship that at least partially overlaps the first dummy conductor pattern 31. The via 36 connects the first dummy conductor pattern 31 and the second dummy conductor pattern 32.

すなわち、樹脂多層基板103においては、ダミー構造3は2つの導体パターンを含んでいる。ダミー構造3は、第1ダミー導体パターン31と、第2ダミー導体パターン32と、これらを互いに接続するダミー導体ビア36とを含んでいる。   That is, in the resin multilayer substrate 103, the dummy structure 3 includes two conductor patterns. The dummy structure 3 includes a first dummy conductor pattern 31, a second dummy conductor pattern 32, and a dummy conductor via 36 that connects them to each other.

樹脂多層基板103に含まれるダミー構造3だけを取り出したところの斜視図を図4に示す。   FIG. 4 is a perspective view showing only the dummy structure 3 included in the resin multilayer substrate 103 taken out.

(作用・効果)
本実施の形態では、ダミー構造3が2つのダミー導体パターンを含み、これら2つのダミー導体パターンを導体ビアによって互いにつなぎ合わせた構造となっているので、ダミー構造3の剛性をさらに高めることができる。このことは、導体パターン対8に与える圧力を高めることに貢献するので、導体パターン対8の導体パターン8a,8b同士の距離を小さくする上で好ましい。
(Action / Effect)
In the present embodiment, since the dummy structure 3 includes two dummy conductor patterns, and the two dummy conductor patterns are connected to each other by the conductor vias, the rigidity of the dummy structure 3 can be further increased. . This contributes to increasing the pressure applied to the conductor pattern pair 8 and is preferable in reducing the distance between the conductor patterns 8a and 8b of the conductor pattern pair 8.

なお、図3では、ダミー導体ビア36は、導体パターン対8に近い側が細くなっているテーパ形状となっているが、ダミー導体ビア36は、逆向きのテーパ形状であってもよく、ストレート形状であってもよい。以下の説明に登場する導体ビアに関しても特筆ない限り同様のことがいえる。   In FIG. 3, the dummy conductor via 36 has a tapered shape in which the side close to the conductor pattern pair 8 is thin. However, the dummy conductor via 36 may have a reverse tapered shape or a straight shape. It may be. The same applies to the conductor vias that appear in the following description unless otherwise noted.

図3および図4では、説明の便宜のために、第1ダミー導体パターン31と第2ダミー導体パターン32とがほぼ同じサイズとして示したが、両者はほぼ同じサイズとは限らない。図4では、説明の便宜のために、第1ダミー導体パターン31および第2ダミー導体パターン32はいずれも正方形として示したが、これはあくまで一例であって、正方形とは限らず、他の任意の形状であってもよい。   In FIG. 3 and FIG. 4, for convenience of explanation, the first dummy conductor pattern 31 and the second dummy conductor pattern 32 are shown as substantially the same size, but both are not necessarily the same size. In FIG. 4, for the convenience of explanation, both the first dummy conductor pattern 31 and the second dummy conductor pattern 32 are shown as squares. However, this is only an example, and is not limited to a square. The shape may also be

図4では、説明の便宜のために、第1ダミー導体パターン31と第2ダミー導体パターン32との間にダミー導体ビア36がマトリックス状に規則正しく配列されている構成を示したが、これはあくまで一例であって、ダミー導体ビア36の配列はマトリックス状とは限らない。   For convenience of explanation, FIG. 4 shows a configuration in which the dummy conductor vias 36 are regularly arranged in a matrix between the first dummy conductor pattern 31 and the second dummy conductor pattern 32. For example, the arrangement of the dummy conductor vias 36 is not limited to a matrix.

図4では、ダミー構造3が、厚み方向に並ぶ2つのダミー導体パターンを含んでいる例を示したが、ダミー構造3に含まれる厚み方向に並ぶダミー導体パターンの数は2に限らず、3以上であってもよい。ダミー構造3が、厚み方向に並ぶ3つのダミー導体パターンを含む例を図5に示す。図5に示した例では、ダミー構造3は、厚み方向に並ぶ第1ダミー導体パターン31と第2ダミー導体パターン32と第3ダミー導体パターン33とを含む。第1ダミー導体パターン31と第2ダミー導体パターン32と第3ダミー導体パターン33とは、ダミー導体ビア36によって積層方向にひとつながりになるよう接続されている。   FIG. 4 shows an example in which the dummy structure 3 includes two dummy conductor patterns arranged in the thickness direction, but the number of dummy conductor patterns arranged in the thickness direction included in the dummy structure 3 is not limited to two. It may be the above. FIG. 5 shows an example in which the dummy structure 3 includes three dummy conductor patterns arranged in the thickness direction. In the example shown in FIG. 5, the dummy structure 3 includes a first dummy conductor pattern 31, a second dummy conductor pattern 32, and a third dummy conductor pattern 33 arranged in the thickness direction. The first dummy conductor pattern 31, the second dummy conductor pattern 32, and the third dummy conductor pattern 33 are connected by a dummy conductor via 36 so as to be connected together in the stacking direction.

図1〜図5では、ダミー構造3にダミー導体ビア36が比較的密に配列されていたが、ダミー導体ビア36の配列はもっと少なくてもある程度の効果を得ることができる。たとえば図6に示すように、厚み方向に並ぶ第1ダミー導体パターン31と第2ダミー導体パターン32との間のうち両端にのみダミー導体ビア36を配置した構成であってもよい。この場合、ダミー構造3の斜視図は図7に示すようなものになる。このように平面的に見た角の部分にダミー導体ビア36を配置した構造とすれば、少ない数のダミー導体ビア36であっても強度を高めることができる。   1 to 5, the dummy conductor vias 36 are arranged relatively densely in the dummy structure 3, but a certain degree of effect can be obtained even if the arrangement of the dummy conductor vias 36 is smaller. For example, as shown in FIG. 6, a configuration may be adopted in which dummy conductor vias 36 are arranged only at both ends between the first dummy conductor pattern 31 and the second dummy conductor pattern 32 arranged in the thickness direction. In this case, the perspective view of the dummy structure 3 is as shown in FIG. If the dummy conductor vias 36 are arranged in the corner portions as viewed in a plane as described above, the strength can be increased even with a small number of dummy conductor vias 36.

図7では、説明の便宜のために、第1ダミー導体パターン31および第2ダミー導体パターン32はいずれも正方形として示したが、これはあくまで一例であって、正方形とは限らず、他の任意の形状であってもよい。また、図7に示した構造から厚み方向に並ぶダミー導体パターンの数を3以上に増やすこととしてもよい。厚み方向に並ぶダミー導体パターンの数を3つにした例を図8に示す。ダミー構造3は、このような構成であってもよい。   In FIG. 7, for the convenience of explanation, both the first dummy conductor pattern 31 and the second dummy conductor pattern 32 are shown as squares. However, this is merely an example, and is not limited to a square. The shape may also be Further, the number of dummy conductor patterns arranged in the thickness direction from the structure shown in FIG. 7 may be increased to 3 or more. FIG. 8 shows an example in which the number of dummy conductor patterns arranged in the thickness direction is three. The dummy structure 3 may have such a configuration.

さらに、ダミー構造3のきわめて単純な例としては、図9に示すものであってもよい。図9に示した例では、ダミー構造3は第1ダミー導体パターン31と1つのダミー導体ビア36とを単純に接続した構造となっている。この構成の変形例として、図10に示すものも考えられる。図10に示した例では、ダミー構造3は第1ダミー導体パターン31と第2ダミー導体パターン32とを1つのダミー導体ビア36によって接続した構造となっている。このような単純な構成であっても、ある程度の効果を得ることはできる。   Furthermore, a very simple example of the dummy structure 3 may be as shown in FIG. In the example shown in FIG. 9, the dummy structure 3 has a structure in which the first dummy conductor pattern 31 and one dummy conductor via 36 are simply connected. As a modification of this configuration, the one shown in FIG. 10 is also conceivable. In the example shown in FIG. 10, the dummy structure 3 has a structure in which the first dummy conductor pattern 31 and the second dummy conductor pattern 32 are connected by one dummy conductor via 36. Even with such a simple configuration, a certain degree of effect can be obtained.

(実施の形態3)
(構成)
これまでの実施の形態では、1つのダミー構造3の内部においては、1つの層として配置されるダミー導体パターンは一体的なものであったが、一体的なものとは限らず、同一層内で複数に分割されたものであってもよい。
(Embodiment 3)
(Constitution)
In the embodiments so far, the dummy conductor pattern arranged as one layer is integrated in one dummy structure 3, but it is not necessarily integrated, And may be divided into a plurality of parts.

図11を参照して、本発明に基づく実施の形態3における樹脂多層基板について説明する。図11は、本実施の形態における樹脂多層基板111の断面図である。樹脂多層基板111の基本的な構成は実施の形態1で説明したものと同様であるが、以下の点で異なる。   With reference to FIG. 11, the resin multilayer substrate in Embodiment 3 based on this invention is demonstrated. FIG. 11 is a cross-sectional view of resin multilayer substrate 111 in the present embodiment. The basic configuration of the resin multilayer substrate 111 is the same as that described in the first embodiment, but differs in the following points.

図11に示されるように、樹脂多層基板111においては、第1ダミー導体パターン31が複数の小片に分割されている。第1ダミー導体パターン31の分割された各小片に対してダミー導体ビア36が1つずつ接続されている。第1ダミー導体パターン31の分割された各小片は、同一層内において互いに近接して配列されている。図11に示した例では、第1ダミー導体パターン31の1つの小片には1つのダミー導体ビア36のみが接続されているが、1つの小片に接続されるダミー導体ビア36の数は1とは限らず、2以上であってもよい。   As shown in FIG. 11, in the resin multilayer substrate 111, the first dummy conductor pattern 31 is divided into a plurality of small pieces. One dummy conductor via 36 is connected to each of the divided pieces of the first dummy conductor pattern 31. The divided pieces of the first dummy conductor pattern 31 are arranged close to each other in the same layer. In the example shown in FIG. 11, only one dummy conductor via 36 is connected to one piece of the first dummy conductor pattern 31, but the number of dummy conductor vias 36 connected to one piece is one. The number is not limited, and may be two or more.

(作用・効果)
本実施の形態においても、実施の形態1と同様の効果を得ることができる。ただし、実施の形態1と比較して効果の程度が同じとは限らない。
(Action / Effect)
Also in the present embodiment, the same effect as in the first embodiment can be obtained. However, the degree of effect is not necessarily the same as in the first embodiment.

なお、図12に示す樹脂多層基板112のような構成であってもよい。樹脂多層基板112においては、ダミー構造3は導体パターン対8の上側および下側の両方にある。このように2つのダミー構造3で導体パターン対8を上下から挟みこむ構成は、導体パターン8に対して圧力を伝えやすいので好ましい。   In addition, a structure like the resin multilayer substrate 112 shown in FIG. 12 may be sufficient. In the resin multilayer substrate 112, the dummy structure 3 is on both the upper side and the lower side of the conductor pattern pair 8. The configuration in which the conductor pattern pair 8 is sandwiched from above and below by the two dummy structures 3 is preferable because pressure can be easily transmitted to the conductor pattern 8.

図12では、導体パターン対8の上側および下側のダミー構造3がいずれも、第1ダミー導体パターン31が下側を向いた向きで配置されていたが、このような構成に限らない。たとえば図13に示す樹脂多層基板113のような構成であればさらに好ましい。樹脂多層基板113においては、導体パターン対8の上側のダミー構造3は、第1ダミー導体パターン31が下側を向いた向きのものであり、導体パターン対8の下側のダミー構造3は、第1ダミー導体パターン31が上側を向いた向きのものである。このように2つのダミー構造3を以てダミー導体パターンの側を互いに対向させるようにして導体パターン対8を上下から挟みこむ構成は、導体パターン8に対してさらに圧力を伝えやすいので好ましい。   In FIG. 12, the upper and lower dummy structures 3 of the conductor pattern pair 8 are both arranged in the orientation in which the first dummy conductor pattern 31 faces downward, but the present invention is not limited to this configuration. For example, a configuration like a resin multilayer substrate 113 shown in FIG. 13 is more preferable. In the resin multilayer substrate 113, the upper dummy structure 3 of the conductor pattern pair 8 is oriented so that the first dummy conductor pattern 31 faces downward, and the lower dummy structure 3 of the conductor pattern pair 8 is The first dummy conductor pattern 31 is directed upward. The configuration in which the conductor pattern pair 8 is sandwiched from above and below so that the dummy conductor pattern sides are opposed to each other with the two dummy structures 3 is preferable because pressure is more easily transmitted to the conductor pattern 8.

なお、これまでの実施の形態の全てにもあてはまることであるが、ダミー構造3は、平面的に見て、導体パターン対8の投影領域を被覆するように位置することが好ましい。すなわち、両者の占める領域のみを平面的に見たところを表示すると、図14に示すように、ダミー構造3が導体パターン対8を被覆する関係にあることが好ましい。ここでは、ダミー構造3、導体パターン対8とも正方形として示しているが、形状は正方形に限らず任意の形状であってもよい。このようにダミー構造3が導体パターン対8を被覆する関係にあれば、ダミー構造3は導体パターン対8に対してより確実に圧力を加えることができる。特に、この場合、平面的に見たときのダミー構造3と導体パターン対8との間の相対的な位置ずれによる影響を少なくすることができる。   Note that the dummy structure 3 is preferably positioned so as to cover the projection region of the conductor pattern pair 8 in a plan view, as it applies to all of the above embodiments. That is, when only the area occupied by both is viewed in plan, the dummy structure 3 preferably covers the conductor pattern pair 8 as shown in FIG. Here, the dummy structure 3 and the conductor pattern pair 8 are both shown as a square, but the shape is not limited to a square and may be an arbitrary shape. In this way, if the dummy structure 3 is in the relationship of covering the conductor pattern pair 8, the dummy structure 3 can more reliably apply pressure to the conductor pattern pair 8. In particular, in this case, it is possible to reduce the influence due to the relative positional deviation between the dummy structure 3 and the conductor pattern pair 8 when viewed in plan.

さらに、ダミー構造3に含まれるダミー導体パターンが一体的なものではなく複数に分割されたものである場合であっても、図15に示すように、これらの分割されたダミー導体パターンを互いに近接させて配列し、その配列の全体によって導体パターン対8を被覆する関係にあることが好ましい。すなわち、ダミー導体パターンの複数片の配列の全体の外形線が導体パターン対8の外形線より外側にあることが好ましい。   Further, even when the dummy conductor patterns included in the dummy structure 3 are not integrated but divided into a plurality of pieces, as shown in FIG. 15, these divided dummy conductor patterns are close to each other. It is preferable that the conductor pattern pair 8 is covered by the entire arrangement. That is, it is preferable that the entire outline of the arrangement of the plurality of pieces of dummy conductor patterns is outside the outline of the conductor pattern pair 8.

(実施の形態4)
(構成)
図16を参照して、本発明に基づく実施の形態4における樹脂多層基板について説明する。図16は、本実施の形態における樹脂多層基板121の断面図である。樹脂多層基板121の基本的な構成は実施の形態1で説明したものと同様であるが、以下の点で異なる。
(Embodiment 4)
(Constitution)
With reference to FIG. 16, the resin multilayer substrate in Embodiment 4 based on this invention is demonstrated. FIG. 16 is a cross-sectional view of resin multilayer substrate 121 in the present embodiment. The basic configuration of the resin multilayer substrate 121 is the same as that described in the first embodiment, but differs in the following points.

前記ダミー構造3は、上下方向に離隔して上下方向に重なるように配置された2以上のダミー導体パターン34a,34bの組合せである。ダミー導体パターン34a,34bは互いに離隔している。ダミー導体パターン34a,34bの相互間はダミー導体ビアによって接続されているわけではない。   The dummy structure 3 is a combination of two or more dummy conductor patterns 34a and 34b arranged so as to be separated in the vertical direction and overlapped in the vertical direction. The dummy conductor patterns 34a and 34b are separated from each other. The dummy conductor patterns 34a and 34b are not connected to each other by dummy conductor vias.

(作用・効果)
本実施の形態においても、上下方向に離隔して上下方向に重なるように配置された2以上のダミー導体パターンがもたらす剛性によって、導体パターン8に対して圧力を伝えることができるので、実施の形態1と同様の効果を得ることができる。ただし、実施の形態1と比較して効果の程度が同じとは限らない。
(Action / Effect)
Also in the present embodiment, the pressure can be transmitted to the conductor pattern 8 by the rigidity provided by the two or more dummy conductor patterns arranged so as to be separated in the vertical direction and overlapped in the vertical direction. 1 can be obtained. However, the degree of effect is not necessarily the same as in the first embodiment.

本実施の形態では、ダミー導体ビアを全く含まなくてもダミー構造3を作製することができるので、ダミー構造3のためにダミー導体ビアを形成するための工程が不要となる。   In the present embodiment, since the dummy structure 3 can be produced without including any dummy conductor vias, a process for forming a dummy conductor via for the dummy structure 3 is not required.

なお、図16に示した例では、ダミー構造3に含まれるダミー導体パターンは2つであったが、2つには限らず、3以上であってもよい。例として図17に示す樹脂多層基板122においては、ダミー構造3が厚み方向に並ぶ3つのダミー導体パターン34a,34b,34cを含んでいる。ダミー導体パターン34a,34b,34cは互いに離隔した状態で厚み方向に並んでいる。このようにダミー構造3に含まれるダミー導体パターンの数が増えると、ダミー構造3が占める厚み方向の寸法が増えてしまうというデメリットはあるが、ダミー構造3自体の剛性は高めることができるので、導体パターン対8に与える圧力を高めることが期待できる。   In the example illustrated in FIG. 16, the dummy structure 3 includes two dummy conductor patterns, but is not limited to two and may be three or more. For example, in the resin multilayer substrate 122 shown in FIG. 17, the dummy structure 3 includes three dummy conductor patterns 34a, 34b, and 34c arranged in the thickness direction. The dummy conductor patterns 34a, 34b, 34c are arranged in the thickness direction in a state of being separated from each other. Thus, when the number of dummy conductor patterns included in the dummy structure 3 increases, there is a demerit that the dimension in the thickness direction occupied by the dummy structure 3 increases, but the rigidity of the dummy structure 3 itself can be increased. It can be expected that the pressure applied to the conductor pattern pair 8 is increased.

なお、これまでの実施の形態の全てにあてはまることであるが、導体パターン対8を構成する導体パターン8a,8bの大きさに差がある場合、導体パターン8a,8bのうち小さなサイズのものが存在する側に、ダミー構造3が配置されていることが好ましい。たとえば、図18に示すように、導体パターン対8は、下側に導体パターン8a、上側に導体パターン8bを含んでいるとして、下側にある導体パターン8aの方が上側にある導体パターン8bより小さい場合には、ダミー構造3は導体パターン対8の下側に配置されていることが好ましい。   In addition, although it applies to all the embodiments so far, when there is a difference in the size of the conductor patterns 8a and 8b constituting the conductor pattern pair 8, the conductor pattern 8a and 8b having a smaller size is used. It is preferable that the dummy structure 3 is arranged on the existing side. For example, as shown in FIG. 18, the conductor pattern pair 8 includes a conductor pattern 8a on the lower side and a conductor pattern 8b on the upper side. The conductor pattern 8a on the lower side is more than the conductor pattern 8b on the upper side. In the case of being small, the dummy structure 3 is preferably arranged below the conductor pattern pair 8.

逆に、図19に示すように、上側にある導体パターン8bの方が下側にある導体パターン8aより小さい場合には、ダミー構造3は導体パターン対8の上側に配置されていることが好ましい。   On the contrary, as shown in FIG. 19, when the conductor pattern 8b on the upper side is smaller than the conductor pattern 8a on the lower side, the dummy structure 3 is preferably arranged on the upper side of the conductor pattern pair 8. .

このような構成であれば、ダミー構造3による圧力の高まりによって導体パターン対8の間の距離を縮める上で有利だからである。   This is because such a configuration is advantageous in reducing the distance between the conductor pattern pair 8 due to an increase in pressure by the dummy structure 3.

なお、図18および図19では、説明の便宜のため、樹脂層2間の境界線のほとんどを図示省略している。   18 and 19, most of the boundary lines between the resin layers 2 are omitted for convenience of explanation.

なお、導体パターン対8は、キャパシタを形成するためのものであることが好ましい。この構成を採用することにより、キャパシタを形成する導体パターン同士の距離を短くすることによってキャパシタの容量を増加させることができるからである。   The conductor pattern pair 8 is preferably for forming a capacitor. This is because, by adopting this configuration, the capacitance of the capacitor can be increased by shortening the distance between the conductor patterns forming the capacitor.

(実施の形態5)
(構成)
図20〜図22を参照して、本発明に基づく実施の形態5における樹脂多層基板について説明する。本実施の形態における樹脂多層基板の断面図を図20に示す。
(Embodiment 5)
(Constitution)
With reference to FIGS. 20-22, the resin multilayer substrate in Embodiment 5 based on this invention is demonstrated. A cross-sectional view of the resin multilayer substrate in the present embodiment is shown in FIG.

本実施の形態における樹脂多層基板は、導体パターン対8を含む。導体パターン対8は、配線8cと配線8cに平行に配置されたシールド導体8dとの組合せを含む。導体パターン対8の下側にダミー構造3が配置されている。本実施の形態における樹脂多層基板が備えるダミー構造3は、長手状の第1ダミー導体パターン31とその下面に接続している複数のダミー導体ビア36とを含む。   The resin multilayer substrate in the present embodiment includes a conductor pattern pair 8. The conductor pattern pair 8 includes a combination of a wiring 8c and a shield conductor 8d arranged in parallel to the wiring 8c. The dummy structure 3 is arranged below the conductor pattern pair 8. The dummy structure 3 provided in the resin multilayer substrate in the present embodiment includes a first dummy conductor pattern 31 having a long shape and a plurality of dummy conductor vias 36 connected to the lower surface thereof.

本実施の形態における樹脂多層基板を図20における上側から見て、配線8cおよびシールド導体8dを透視したところを図21に示す。本実施の形態における樹脂多層基板の透視斜視図を図22に示す。配線8cおよびシールド導体8dはいずれも長手形状である。配線8cの幅よりもシールド導体8dの幅の方が大きい。   FIG. 21 shows a perspective view of the wiring 8c and the shield conductor 8d when the resin multilayer substrate in the present embodiment is viewed from the upper side in FIG. A perspective view of the resin multilayer substrate in the present embodiment is shown in FIG. Each of the wiring 8c and the shield conductor 8d has a longitudinal shape. The width of the shield conductor 8d is larger than the width of the wiring 8c.

なお、シールド導体8dはグランド導体であってもよい。その場合、配線8cとシールド導体8dとによってマイクロストリップラインが構成される。   The shield conductor 8d may be a ground conductor. In that case, a microstrip line is constituted by the wiring 8c and the shield conductor 8d.

(作用・効果)
本実施の形態では、ダミー構造3が設けられていることにより、積層体の圧着時に導体パターン対8が押圧され、その結果、導体パターン対8を構成する導体パターンである配線8cとシールド導体8dとの間の距離が縮まる。本実施の形態では、配線8cがシールド導体8dに近接して配置されるようになるので、シールド効果を高めることができる。
(Action / Effect)
In the present embodiment, since the dummy structure 3 is provided, the conductor pattern pair 8 is pressed when the laminated body is crimped. As a result, the wiring 8c and the shield conductor 8d which are conductor patterns constituting the conductor pattern pair 8 are pressed. The distance between is reduced. In the present embodiment, since the wiring 8c is arranged close to the shield conductor 8d, the shielding effect can be enhanced.

また、シールド導体8dがグランド導体である場合、特性インピーダンスを低くしたマイクロストリップラインを得ることができる。   Further, when the shield conductor 8d is a ground conductor, a microstrip line having a low characteristic impedance can be obtained.

なお、本実施の形態では、第1ダミー導体パターン31は一体物であるものとして説明したが、第1ダミー導体パターン31が複数片に分割されたものであってもよい。   In the present embodiment, the first dummy conductor pattern 31 has been described as an integral object, but the first dummy conductor pattern 31 may be divided into a plurality of pieces.

(実施の形態6)
(構成)
図23〜図25を参照して、本発明に基づく実施の形態6における樹脂多層基板の製造方法について説明する。本実施の形態における樹脂多層基板の製造方法のフローチャートを図23に示す。このフローチャートは、主要な工程のみを示したものであって、実際にはこの前後に他の工程が行なわれうる。
(Embodiment 6)
(Constitution)
With reference to FIGS. 23-25, the manufacturing method of the resin multilayer substrate in Embodiment 6 based on this invention is demonstrated. FIG. 23 shows a flowchart of the method for manufacturing the resin multilayer substrate in the present embodiment. This flowchart shows only the main steps, and in fact, other steps can be performed before and after this.

以下に、本実施の形態における樹脂多層基板の製造方法について、より詳しく説明する。ここでは、導体パターンが銅箔によって形成されることを前提に説明するが、銅箔以外によって導体パターンを形成してもよい。ここで説明する製造方法はあくまで一例である。ここでは、図1に示した樹脂多層基板101の左側半分を作製する場合を想定して説明する。   Below, the manufacturing method of the resin multilayer substrate in this Embodiment is demonstrated in detail. Here, although it demonstrates on the assumption that a conductor pattern is formed with copper foil, you may form a conductor pattern other than copper foil. The manufacturing method described here is merely an example. Here, the case where the left half of the resin multilayer substrate 101 shown in FIG.

まず、銅箔付き樹脂シートを用意する。樹脂シートは熱可塑性樹脂からなる。ここでいう熱可塑性樹脂としては、たとえば、液晶ポリマー、熱可塑性ポリイミドなどを用いることができる。この銅箔付き樹脂シートに対して、印刷によりレジストパターンを形成する。酸などによるエッチングにより、銅箔の不要な部分を除去する。こうして銅箔による導体パターンが形成される。ダミー構造3に含まれる予定のダミー導体パターンも、導体パターン対8に含まれる予定の導体パターンも、それ以外の役割の導体パターンも、同様の方法で作製することができる。   First, a resin sheet with copper foil is prepared. The resin sheet is made of a thermoplastic resin. As a thermoplastic resin here, a liquid crystal polymer, thermoplastic polyimide, etc. can be used, for example. A resist pattern is formed on the resin sheet with copper foil by printing. Unnecessary portions of the copper foil are removed by etching with acid or the like. Thus, a conductor pattern made of copper foil is formed. The dummy conductor pattern to be included in the dummy structure 3, the conductor pattern to be included in the conductor pattern pair 8, and the conductor patterns of other roles can be produced by the same method.

レジストパターンをアルカリ溶液により剥離させ、その後、中和処理を行なう。ここでいうアルカリ溶液としては、たとえばNaOHを用いることができる。ここまでの処理を行なった樹脂シートに対して、銅箔が付着していない側の面からレーザ光を照射することによって、導体ビアとして用いる孔をあける。この孔は銅箔を貫通せず、樹脂部分だけを貫通するようにあけられる。ビアホールに対して、導電性ペーストを充填する。ここまでの処理を終えたものを積み重ねる。積み重ねる直前の様子を図24に概念的に示す。ここでは全部で7層を積み重ねようとしているが、これはあくまで一例であり、積み重ねる層数はこれに限らない。図24に示した例においては、上から2番目の樹脂層2には、第1ダミー導体パターン31とダミー導体ビア36とが形成されている。この樹脂層2に形成された第1ダミー導体パターン31とダミー導体ビア36とは、ダミー構造3を構成している。上から3番目の樹脂層2の下面には導体パターン8bが形成されており、上から4番目の樹脂層2の下面には導体パターン8aが形成されている。ここで示す各要素の配置はあくまで一例である。   The resist pattern is stripped with an alkaline solution, and then neutralized. As the alkaline solution here, for example, NaOH can be used. A hole used as a conductor via is formed by irradiating the resin sheet subjected to the processing so far with laser light from the surface on which the copper foil is not attached. This hole does not penetrate through the copper foil, and is formed so as to penetrate only the resin portion. Fill the via hole with a conductive paste. Stack what has been processed so far. FIG. 24 conceptually shows the state immediately before stacking. Here, a total of 7 layers are to be stacked, but this is only an example, and the number of layers to be stacked is not limited to this. In the example shown in FIG. 24, a first dummy conductor pattern 31 and a dummy conductor via 36 are formed in the second resin layer 2 from the top. The first dummy conductor pattern 31 and the dummy conductor via 36 formed in the resin layer 2 constitute the dummy structure 3. A conductor pattern 8b is formed on the lower surface of the third resin layer 2 from the top, and a conductor pattern 8a is formed on the lower surface of the fourth resin layer 2 from the top. The arrangement of each element shown here is merely an example.

本実施の形態における樹脂多層基板の製造方法は、導体パターンが形成された2以上の樹脂層を含む複数の樹脂層を積み重ねる工程であり、かつ、少なくとも2つの導体パターンが前記複数の樹脂層のうちの少なくとも1つを挟んで上下方向に重なる位置関係にある導体パターン対を含み、かつ、ダミー構造が前記導体パターン対の上側、下側、または、上側および下側に近接するように、前記複数の樹脂層を積み重ねる工程S1と、前記複数の樹脂層を積層方向に加圧することによって、積層体を得るとともに、前記導体パターン対の間の距離を短縮する工程S2とを含む。工程S1においては、工程S2で行なう本加圧に先立つ仮加圧がなされていてもよい。工程S1を行なうことによって、図24に示したように別々に用意されていた樹脂層2が重なり合って、図25に示すようになる。ただし、この時点での積層体は、まだ一体化していない。図25に示した例では、積み重ねた樹脂層2の間にはいくつかの導体パターンが挟まれることとなる。導体パターンが挟まれている部分では、導体パターンの厚みの影響で周辺の樹脂層2が変形している。特に最上面においては、導体パターン対8およびダミー構造3に対応する領域が盛り上がっている。ここで、積み重ねた複数の樹脂層2を加熱しながら積層方向に加圧することによって、積層体を得るとともに、導体パターン対8の間の距離を短縮する工程S2を行なう。この加圧の結果、積み重ねられた樹脂層2のうち、導体パターン対8およびダミー構造3の投影領域内に位置する部分は、他の領域に比べて大きく圧縮される。さらに詳しく言えば、ダミー構造が有する剛性により、加熱しながら加圧される際に導体パターン対8およびダミー構造3の投影領域内に位置する部分の軟化した熱可塑性樹脂が周囲に押しのけられ、上記投影領域内に位置する部分は、他の領域に位置する部分に比べて大きく圧縮される。こうして、導体パターン対8の間の距離も短縮される。その結果、図1に示した樹脂多層基板101の左側半分のような状態が得られる。   The method for producing a resin multilayer substrate in the present embodiment is a step of stacking a plurality of resin layers including two or more resin layers on which conductor patterns are formed, and at least two conductor patterns are formed of the plurality of resin layers. Including a conductor pattern pair in a positional relationship overlapping in the vertical direction across at least one of them, and the dummy structure close to the upper side, the lower side, or the upper side and the lower side of the conductor pattern pair A step S1 of stacking a plurality of resin layers and a step S2 of obtaining a laminate by pressing the plurality of resin layers in the stacking direction and reducing the distance between the conductor pattern pairs. In step S1, provisional pressurization prior to the main pressurization performed in step S2 may be performed. By performing step S1, the resin layers 2 prepared separately as shown in FIG. 24 are overlapped to be as shown in FIG. However, the laminated body at this time is not yet integrated. In the example shown in FIG. 25, several conductor patterns are sandwiched between the stacked resin layers 2. In the portion where the conductor pattern is sandwiched, the peripheral resin layer 2 is deformed due to the thickness of the conductor pattern. In particular, on the uppermost surface, regions corresponding to the conductor pattern pair 8 and the dummy structure 3 are raised. Here, by pressing the plurality of stacked resin layers 2 in the stacking direction while heating, a stacked body is obtained, and step S <b> 2 for shortening the distance between the conductor pattern pair 8 is performed. As a result of this pressurization, a portion of the stacked resin layer 2 located within the projection region of the conductor pattern pair 8 and the dummy structure 3 is greatly compressed as compared with other regions. More specifically, due to the rigidity of the dummy structure, when the pressure is applied while heating, the portion of the conductor pattern 8 and the portion of the dummy structure 3 that are located within the projection region of the dummy structure 3 is pushed away to the surroundings, The portion located in the projection area is greatly compressed compared to the portion located in the other area. Thus, the distance between the conductor pattern pair 8 is also shortened. As a result, a state like the left half of the resin multilayer substrate 101 shown in FIG. 1 is obtained.

(作用・効果)
本実施の形態における樹脂多層基板の製造方法によれば、積層体の内部において導体パターン同士の間隙を短くすることが望まれる構造体の、当該間隙を短くした樹脂多層基板を容易に得ることができる。
(Action / Effect)
According to the method for manufacturing a resin multilayer substrate in the present embodiment, it is possible to easily obtain a resin multilayer substrate in which the gap between conductor patterns is desired to be shortened in the multilayer body, and the gap is shortened. it can.

なお、本実施の形態における樹脂多層基板の製造方法において、前記ダミー構造3は、第1ダミー導体パターン31と第1ダミー導体パターン31に接続されたダミー導体ビア36との組合せであることが好ましい。この方法を採用することにより、ダミー構造3の形状を立体的にし、ダミー構造3自体の剛性を高めることができる。   In the method for manufacturing a resin multilayer substrate in the present embodiment, the dummy structure 3 is preferably a combination of a first dummy conductor pattern 31 and a dummy conductor via 36 connected to the first dummy conductor pattern 31. . By adopting this method, the shape of the dummy structure 3 can be made three-dimensional and the rigidity of the dummy structure 3 itself can be increased.

本実施の形態における樹脂多層基板の製造方法において、ダミー構造3は、図3に示したように、第1ダミー導体パターン31とは別物であって第1ダミー導体パターン31と少なくとも部分的に重なり合う位置関係の第2ダミー導体パターン32を含み、ダミー導体ビア36は、第1ダミー導体パターン31と第2ダミー導体パターン32とを接続していることが好ましい。この方法を採用することにより、ダミー構造3自体の剛性をさらに高めることができる。   In the method for manufacturing the resin multilayer substrate in the present embodiment, the dummy structure 3 is different from the first dummy conductor pattern 31 and at least partially overlaps the first dummy conductor pattern 31 as shown in FIG. It is preferable that the dummy conductor via 36 includes the second dummy conductor pattern 32 in a positional relationship and connects the first dummy conductor pattern 31 and the second dummy conductor pattern 32. By adopting this method, the rigidity of the dummy structure 3 itself can be further increased.

本実施の形態における樹脂多層基板の製造方法において、ダミー構造3は、図16に示したように、上下方向に離隔して上下方向に重なるように配置された2枚以上のダミー導体パターン34a,34bの組合せであってもよい。この方法を採用することにより、ダミー構造3のために導体ビアを形成するための工程が不要となるので、ダミー構造3を簡単に作製することができる。   In the method for manufacturing the resin multilayer substrate in the present embodiment, as shown in FIG. 16, the dummy structure 3 includes two or more dummy conductor patterns 34a, which are arranged so as to be separated in the vertical direction and overlapped in the vertical direction. The combination of 34b may be sufficient. By adopting this method, a process for forming a conductor via for the dummy structure 3 is not required, so that the dummy structure 3 can be easily manufactured.

本実施の形態における樹脂多層基板の製造方法において、ダミー構造3は、図14または図15に示したように、平面的に見て、導体パターン対8の投影領域を被覆するように位置することが好ましい。この方法を採用することにより、ダミー構造3は導体パターン対8に対してより確実に圧力を加えることができる。   In the method for manufacturing a resin multilayer substrate in the present embodiment, the dummy structure 3 is positioned so as to cover the projection region of the conductor pattern pair 8 as viewed in plan, as shown in FIG. Is preferred. By adopting this method, the dummy structure 3 can more reliably apply pressure to the conductor pattern pair 8.

なお、上記各実施の形態では、内蔵部品や表面実装部品を示していないが、樹脂多層基板は、内蔵部品や表面実装部品を適宜含んでいてもよい。   In the above embodiments, built-in components and surface-mounted components are not shown, but the resin multilayer substrate may appropriately include built-in components and surface-mounted components.

上記各実施の形態では、導体パターン対8は1つのみを示してきたが、1つの樹脂多層基板の中に複数の導体パターン対が配置されていてもよい。その場合、1つの導体パターン対の厚み方向の投影領域内に他の導体パターン対が配置されていてもよい。   In each of the above embodiments, only one conductor pattern pair 8 has been shown, but a plurality of conductor pattern pairs may be arranged in one resin multilayer substrate. In that case, another conductor pattern pair may be arranged in the projection region in the thickness direction of one conductor pattern pair.

上記各実施の形態では、1つのダミー構造3に対して1つの導体パターン対のみが存在する例を示してきたが、1:1対応であるとは限らない。1つのダミー構造に対して複数の導体パターン対が配置されていてもよい。1つの導体パターン対に対して複数のダミー構造が配置されていてもよい。   In each of the above-described embodiments, an example in which only one conductor pattern pair exists for one dummy structure 3 has been shown, but it is not necessarily 1: 1 correspondence. A plurality of conductor pattern pairs may be arranged for one dummy structure. A plurality of dummy structures may be arranged for one conductor pattern pair.

なお、今回開示した上記実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではない。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更を含むものである。   In addition, the said embodiment disclosed this time is an illustration in all the points, Comprising: It is not restrictive. The scope of the present invention is defined by the terms of the claims, rather than the description above, and includes all modifications within the scope and meaning equivalent to the terms of the claims.

2 樹脂層、3 ダミー構造、6 導体ビア、7 導体パターン、8 導体パターン対、8a,8b 導体パターン、8c 配線、8d シールド導体、31 第1ダミー導体パターン、32 第2ダミー導体パターン、33 第3ダミー導体パターン、34a,34b,34c ダミー導体パターン、36 ダミー導体ビア、101,102,103,111,112,113,121,122 樹脂多層基板。   2 resin layer, 3 dummy structure, 6 conductor via, 7 conductor pattern, 8 conductor pattern pair, 8a, 8b conductor pattern, 8c wiring, 8d shield conductor, 31 1st dummy conductor pattern, 32 2nd dummy conductor pattern, 33 1st 3 dummy conductor patterns, 34a, 34b, 34c dummy conductor patterns, 36 dummy conductor vias, 101, 102, 103, 111, 112, 113, 121, 122 resin multilayer substrate.

Claims (13)

熱可塑性樹脂を主材料とする複数の樹脂層を積み重ねて積層方向に加圧されてなる積層体と、
前記積層体の内部に配置された複数の導体パターンとを備え、
前記複数の導体パターンのうち2つは、前記複数の樹脂層のうちの少なくとも1つを挟んで上下方向に重なる位置関係にある第一の導体パターン対をなしており、
前記複数の導体パターンのうち、前記第一の導体パターン対をなす導体パターンとは異なる2つの導体パターンであって、前記第一の導体パターン対とは上下方向において互いに重ならない位置に設けられた2つの導体パターンは、前記複数の樹脂層のうちの少なくとも1つを挟んで上下方向に重なる位置関係にある第二の導体パターン対をなしており、
前記第一の導体パターン対と前記第二の導体パターン対とは、同一の樹脂層を挟んで配置されており、
前記積層体の内部で、前記第一の導体パターン対の上側、下側、または、上側および下側に近接するように、金属を含むダミー構造が配置されており、
前記第一の導体パターン対の間に部分的に挟まれた部位における前記同一の樹脂層の厚みは、前記第二の導体パターン対の間に部分的に挟まれた部位における前記同一の樹脂層の厚みより小さくなっている、樹脂多層基板。
A laminate formed by stacking a plurality of resin layers mainly composed of a thermoplastic resin and being pressed in the laminating direction;
A plurality of conductor patterns arranged inside the laminate,
Two of the plurality of conductor patterns form a first conductor pattern pair in a positional relationship overlapping in the vertical direction across at least one of the plurality of resin layers,
Among the plurality of conductor patterns, two conductor patterns different from the conductor pattern forming the first conductor pattern pair are provided at positions that do not overlap with each other in the vertical direction. The two conductor patterns form a second conductor pattern pair in a positional relationship overlapping in the vertical direction across at least one of the plurality of resin layers,
The first conductor pattern pair and the second conductor pattern pair are arranged across the same resin layer,
Inside the laminate, a dummy structure including a metal is disposed so as to be close to the upper side, the lower side, or the upper side and the lower side of the first conductor pattern pair,
The first of the same resin layer thickness at a site flanked by partially between the conductor pattern pairs, the same resin layer at a site flanked by partially between said second conductor pattern pairs Resin multilayer substrate that is smaller than the thickness of
前記ダミー構造は、第1ダミー導体パターンと前記第1ダミー導体パターンに接続されたダミー導体ビアとの組合せである、請求項1に記載の樹脂多層基板。   The resin multilayer substrate according to claim 1, wherein the dummy structure is a combination of a first dummy conductor pattern and a dummy conductor via connected to the first dummy conductor pattern. 前記ダミー導体ビアは、前記第1ダミー導体パターンの、前記第一の導体パターン対とは逆の側の面に接続されている、請求項2に記載の樹脂多層基板。   The resin multilayer substrate according to claim 2, wherein the dummy conductor via is connected to a surface of the first dummy conductor pattern opposite to the first conductor pattern pair. 前記ダミー構造は、前記第1ダミー導体パターンとは別物であって前記第1ダミー導体パターンと少なくとも部分的に重なり合う位置関係の第2ダミー導体パターンを含み、前記ダミー導体ビアは、前記第1ダミー導体パターンと前記第2ダミー導体パターンとを接続している、請求項2または3に記載の樹脂多層基板。   The dummy structure includes a second dummy conductor pattern that is different from the first dummy conductor pattern and has a positional relationship that at least partially overlaps the first dummy conductor pattern. The resin multilayer substrate according to claim 2 or 3, wherein a conductor pattern and the second dummy conductor pattern are connected. 前記ダミー構造は、上下方向に離隔して上下方向に重なるように配置された2以上のダミー導体パターンの組合せである、請求項1に記載の樹脂多層基板。   2. The resin multilayer substrate according to claim 1, wherein the dummy structure is a combination of two or more dummy conductor patterns arranged so as to be separated in the vertical direction and overlapped in the vertical direction. 前記ダミー構造は、平面的に見て、前記第一の導体パターン対の投影領域を被覆するように位置する、請求項1から5のいずれかに記載の樹脂多層基板。   6. The resin multilayer substrate according to claim 1, wherein the dummy structure is positioned so as to cover a projection region of the first conductor pattern pair in a plan view. 前記第一の導体パターン対は、キャパシタを形成するためのものである、請求項1から6のいずれかに記載の樹脂多層基板。   The resin multilayer substrate according to claim 1, wherein the first conductor pattern pair is for forming a capacitor. 前記第一の導体パターン対は、配線と前記配線に平行に配置されたシールド導体との組合せを含む、請求項1から6のいずれかに記載の樹脂多層基板。   The resin multilayer substrate according to claim 1, wherein the first conductor pattern pair includes a combination of a wiring and a shield conductor arranged in parallel to the wiring. 導体パターンが形成された2以上の樹脂層を含む複数の樹脂層を積み重ねる工程であり、かつ、少なくとも2つの導体パターンが前記複数の樹脂層のうちの少なくとも1つを挟んで上下方向に重なる位置関係にある第一の導体パターン対と、少なくとも2つの導体パターンであって、前記第一の導体パターン対とは上下方向において互いに重ならない位置に設けられる2つの導体パターンが前記複数の樹脂層のうちの少なくとも1つを挟んで上下方向に重なる位置関係にある第二の導体パターン対とを、同一の樹脂層を挟むように形成する工程を含み、かつ、金属を含むダミー構造が前記第一の導体パターン対の上側、下側、または、上側および下側に近接するように、前記複数の樹脂層を積み重ねる工程と、
前記複数の樹脂層を積層方向に加圧することによって、積層体を得るとともに、前記第一の導体パターン対の間の距離を前記第二の導体パターン対の間の距離よりも短縮する工程とを含む、樹脂多層基板の製造方法。
A position in which a plurality of resin layers including two or more resin layers on which a conductor pattern is formed are stacked, and at least two conductor patterns overlap in the vertical direction across at least one of the plurality of resin layers The first conductor pattern pair in the relationship and at least two conductor patterns , the two conductor patterns provided at positions where the first conductor pattern pair does not overlap with each other in the vertical direction are formed of the plurality of resin layers. A dummy conductor structure including a step of forming a second conductive pattern pair having a positional relationship overlapping vertically with at least one of them sandwiched between the same resin layers, Stacking the plurality of resin layers so as to be close to the upper side, the lower side, or the upper side and the lower side of the conductor pattern pair of
A step of pressing the plurality of resin layers in the stacking direction to obtain a stacked body, and shortening the distance between the first conductor pattern pair than the distance between the second conductor pattern pair; A method for producing a resin multilayer substrate.
前記ダミー構造は、第1ダミー導体パターンと前記第1ダミー導体パターンに接続されたダミー導体ビアとの組合せである、請求項9に記載の樹脂多層基板の製造方法。   The method for manufacturing a resin multilayer substrate according to claim 9, wherein the dummy structure is a combination of a first dummy conductor pattern and a dummy conductor via connected to the first dummy conductor pattern. 前記ダミー構造は、前記第1ダミー導体パターンとは別物であって前記第1ダミー導体パターンと少なくとも部分的に重なり合う位置関係の第2ダミー導体パターンを含み、前記ダミー導体ビアは、前記第1ダミー導体パターンと前記第2ダミー導体パターンとを接続している、請求項10に記載の樹脂多層基板の製造方法。   The dummy structure includes a second dummy conductor pattern that is different from the first dummy conductor pattern and has a positional relationship that at least partially overlaps the first dummy conductor pattern, and the dummy conductor vias are the first dummy conductor patterns. The manufacturing method of the resin multilayer substrate of Claim 10 which has connected the conductor pattern and the said 2nd dummy conductor pattern. 前記ダミー構造は、上下方向に離隔して上下方向に重なるように配置された2枚以上のダミー導体パターンの組合せである、請求項9に記載の樹脂多層基板の製造方法。   The method for manufacturing a resin multilayer substrate according to claim 9, wherein the dummy structure is a combination of two or more dummy conductor patterns arranged so as to be separated in the vertical direction and overlapped in the vertical direction. 前記ダミー構造は、平面的に見て、前記第一の導体パターン対の投影領域を被覆するように位置する、請求項9から12のいずれかに記載の樹脂多層基板の製造方法。   The method for manufacturing a resin multilayer substrate according to claim 9, wherein the dummy structure is positioned so as to cover a projection region of the first conductor pattern pair in a plan view.
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