JP6295474B2 - 分光学的探索アプリケーションにおいて対象の標準物質をタグ付けする方法 - Google Patents
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Description
Claims (33)
- 物質のスペクトルデータを含む物質の参照リストと、試料中の物質に関連する複数の未知のスペクトルを含む前記試料の分光分析とを取得する工程と、
1つ又は複数の関心対象の物質の監視リストを提供する工程と、
十分な強さの分光学的特徴の強度を有する未知のスペクトルに対応しないか、又は、前記監視リスト上の関心対象の物質に対応しない、1つ又は複数のスペクトルデータを前記参照リストから消去する選択手順であって、この選択手順が、前記監視リスト上の前記関心対象の物質に対応する少なくとも1つのスペクトルデータを含む修正された参照リストを生成する、前記選択手順を行う工程と、
未知のスペクトルと、前記監視リスト上の前記関心対象の物質に対応する、前記修正された参照リスト上のスペクトルデータの1つとの間の一致を識別する工程と、を含むコンピュータ上で実施される方法。 - 前記監視リストは、物質の前記参照リスト上に含まれない1つ又は複数の関心対象の物質を含む、請求項1に記載の方法。
- 前記関心対象の物質は、前記監視リスト上の所定数の前記関心対象の物質のみが前記選択手順で考察されるように重み付けられる、請求項1に記載の方法。
- 前記未知のスペクトルと前記修正された参照リスト上のスペクトルデータとの間の一致の識別は、前記監視リスト上の少量の関心対象の物質ですら検知する確率が最大化されるように、前記監視リスト上の前記関心対象の物質の所定の報告閾値を利用する、請求項1に記載の方法。
- 前記識別する工程が確率ベースの方法を使用する場合には、前記監視リスト上の関心対象の物質の好ましい事前確率が提供される、請求項1に記載の方法。
- 前記識別する工程が許容可能な解を生成しない場合には、前記試料物質に対するスクリーニング試験が行われる、請求項1に記載の方法。
- 試料が監視リスト上の関心対象の物質と一致する物質を含むという指標を含む識別結果をユーザに提供する工程をさらに含む、請求項1に記載の方法。
- 前記監視リストは、複数の監視リストから選択される、請求項1に記載の方法。
- 監視リストは外部装置からインポートされ得、又は前記監視リストは外部装置にエクスポートされ得る、請求項1に記載の方法。
- 前記試料の分光分析を取得するための走査設定は、前記監視リスト上の関心対象の物質の既知のスペクトル特性に基づき得る、請求項1に記載の方法。
- 試料の未知のスペクトルが前記修正された参照リスト上の少なくとも1つのスペクトルデータに一致しない場合には、前記方法は、同じ又は異なる走査設定で追加走査を行って前記試料の分光分析を取得する工程を更に備える、請求項1に記載の方法。
- 分光学的探索アプリケーションにおいて関心対象の標準物質をタグ付けするためのコンピュータ可読コードを有する非一時的コンピュータ可読記憶媒体であって、コンピュータシステムが、
物質のスペクトルデータを含む物質の参照リストと、試料中の物質に関連する複数の未知のスペクトルを含む前記試料の分光分析とを取得する工程と、
1つ又は複数の関心対象の物質の監視リストを提供する工程と、
十分な強さの分光学的特徴の強度を有する未知のスペクトルに対応しないか、又は、前記監視リスト上の関心対象の物質に対応しない、1つ又は複数のスペクトルデータを前記参照リストから消去する選択手順であって、この選択手順が、前記監視リスト上の前記関心対象の物質に対応する少なくとも1つのスペクトルデータを含む修正された参照リストを生成する、前記選択手順を行う工程と、
未知のスペクトルと、前記監視リスト上の前記関心対象の物質に対応する、前記修正された参照リスト上のスペクトルデータの1つとの間の一致を識別する工程と、を含む動作を行う命令を含む非一時的コンピュータ可読記憶媒体。 - 前記監視リストは、物質の前記参照リスト上に含まれない1つ又は複数の関心対象の物質を含む、請求項12に記載の非一時的コンピュータ可読記憶媒体。
- 前記関心対象の物質は、前記監視リスト上の所定数の前記関心対象の物質のみが前記選択手順で考察されるように重み付けられる、請求項12に記載の非一時的コンピュータ可読記憶媒体。
- 前記未知のスペクトルと前記修正された参照リスト上のスペクトルデータとの間の一致の識別は、前記監視リスト上の少量の関心対象の物質ですら検知する確率が最大化されるように、前記監視リスト上の前記関心対象の物質の所定の報告閾値を利用する、請求項12に記載の非一時的コンピュータ可読記憶媒体。
- 前記識別する工程が確率ベースの方法を使用する場合には、前記監視リスト上の関心対象の物質の好ましい事前確率が提供される、請求項12に記載の非一時的コンピュータ可読記憶媒体。
- 前記識別する工程が許容可能な解を生成しない場合には、前記試料物質に対するスクリーニング試験が行われる、請求項12に記載の非一時的コンピュータ可読記憶媒体。
- 試料が監視リスト上の関心対象の物質と一致する物質を含むという指標を含む識別結果をユーザに提供する工程をさらに含む、請求項12に記載の非一時的コンピュータ可読記憶媒体。
- 前記監視リストは、複数の監視リストから選択される、請求項12に記載の非一時的コンピュータ可読記憶媒体。
- 監視リストは外部装置からインポートされ得、又は前記監視リストは外部装置にエクスポートされ得る、請求項12に記載の非一時的コンピュータ可読記憶媒体。
- 前記試料の分光分析を取得するための走査設定は、前記監視リスト上の関心対象の物質の既知のスペクトル特性に基づき得る、請求項12に記載の非一時的コンピュータ可読記憶媒体。
- 試料の未知のスペクトルが前記修正された参照リスト上の少なくとも1つのスペクトルデータに一致しない場合には、同じ又は異なる走査設定で追加走査を行って前記試料の分光分析を取得する工程を更に備える、請求項12に記載の非一時的コンピュータ可読記憶媒体。
- メモリと、
プロセッサと、
通信インターフェースと、
前記メモリ、前記プロセッサ、及び前記通信インターフェースを結合する相互接続機構と、を含む分光計であって、
前記メモリは、分光学的探索アプリケーションにおいて関心対象の標準物質をタグ付けするアプリケーションにより符号化され、前記プロセッサ上で実行されると、情報を処理するためのプロセスであって、前記コンピュータシステムに、
物質のスペクトルデータを含む物質の参照リストと、試料中の物質に関連する複数の未知のスペクトルを含む前記試料の分光分析とを取得する工程と、
1つ又は複数の関心対象の物質の監視リストを提供する工程と、
十分な強さの分光学的特徴の強度を有する未知のスペクトルに対応しないか、又は、前記監視リスト上の関心対象の物質に対応しない、1つ又は複数のスペクトルデータを前記参照リストから消去する選択手順であって、この選択手順が、前記監視リスト上の前記関心対象の物質に対応する少なくとも1つのスペクトルデータを含む修正された参照リストを生成する、前記選択手順を行う工程と、
未知のスペクトルと、前記監視リスト上の前記関心対象の物質に対応する、前記修正された参照リスト上のスペクトルデータの1つとの間の一致を識別する工程と、を行わせるプロセスを提供する、分光計。 - 前記関心対象の物質は、所定数の前記関心対象の物質のみが前記選択手順で考察されるように重み付けられ、前記未知のスペクトルと前記修正された参照リスト上のスペクトルデータとの間の一致の識別は、前記監視リスト上の少量の関心対象の物質ですら検知が報告されるように、前記監視リスト上の前記関心対象の物質の所定の閾値を利用する、請求項23に記載の分光計。
- 物質の前記参照リスト上のスペクトルデータは、圧縮形式のデータを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記試料の物質の未知のスペクトルは、1つ又は複数の純粋な基準スペクトル又は基準スペクトルの組み合わせを有するスペクトルデータに一致する、請求項1に記載の方法。
- 前記監視リストは、ユーザにより提供されるものである、請求項1に記載の方法。
- 前記修正された参照リスト上のスペクトルデータと一致する未知のスペクトルは、前記選択手順により保持されるには不十分な強さの分光学的特徴の強度を有し、前記選択手順は、前記未知のスペクトルと前記監視リスト上の前記関心対象の物質との一致により、前記修正された参照リスト上の未知のスペクトルを保持する、請求項1に記載の方法。
- 物質の前記参照リスト上のスペクトルデータは、圧縮形式のデータを含む、請求項12に記載の非一時的コンピュータ可読記憶媒体。
- 前記試料の物質の未知のスペクトルは、1つ又は複数の純粋な基準スペクトル又は基準スペクトルの組み合わせを有するスペクトルデータに一致する、請求項12に記載の非一時的コンピュータ可読記憶媒体。
- 前記監視リストは、ユーザにより提供されるものである、請求項12に記載の非一時的コンピュータ可読記憶媒体。
- 前記修正された参照リスト上のスペクトルデータと一致する未知のスペクトルは、前記選択手順により保持されるには不十分な強さの分光学的特徴の強度を有し、前記選択手順は、前記未知のスペクトルと前記監視リスト上の前記関心対象の物質との一致により、前記修正された参照リスト上の未知のスペクトルを保持する、請求項12に記載の非一時的コンピュータ可読記憶媒体。
- 前記修正された参照リスト上のスペクトルデータと一致する未知のスペクトルは、前記選択手順により保持されるには不十分な強さの分光学的特徴の強度を有し、前記選択手順は、前記未知のスペクトルと前記監視リスト上の前記関心対象の物質との一致により、前記修正された参照リスト上の未知のスペクトルを保持する、請求項23に記載の分光計。
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