JP6284266B2

JP6284266B2 - Inspection device

Info

Publication number: JP6284266B2
Application number: JP2014024965A
Authority: JP
Inventors: 博和北嶋
Original assignee: 日本電設工業株式会社
Priority date: 2014-02-13
Filing date: 2014-02-13
Publication date: 2018-02-28
Anticipated expiration: 2034-02-13
Also published as: JP2015152369A

Description

本発明は、検査対象部が導通しているか否かをブザーにより確認し、配線が確実に行われていることを検査する検査装置に関する。 The present invention relates to an inspection apparatus that confirms whether or not an inspection target portion is conductive by a buzzer and inspects that wiring is reliably performed.

配線工程などの後に、正しく当該配線工程が行われ断線などないかを確認するために、導通試験などを行うことは一般的である。 It is common to perform a continuity test or the like in order to confirm whether the wiring process is correctly performed and there is no disconnection after the wiring process.

例えば、特許文献１（特開平６−１８８５７９号公報）には、試験端子Ｔと上記グランド端子４間に電圧を印加することにより、渡り配線Ｊを介して流れる電流で表示素子Ｌを点灯可能とし、この点灯で渡り配線Ｊの断線を確認可能とする技術が開示されている。
特開平６−１８８５７９号公報 For example, in Patent Document 1 (Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-188579), a voltage is applied between the test terminal T and the ground terminal 4 so that the display element L can be turned on by a current flowing through the crossover wiring J. A technique is disclosed that makes it possible to confirm the disconnection of the crossover wiring J by this lighting.
Japanese Patent Laid-Open No. 6-188579

出願人らは、信号配線の配線接続作業や切り離し作業を行っている。そこで、配線接続作業や切り離し作業の後に、作業の誤りを防ぐためにブザーが内蔵された検査装置を用いて導通確認を行い、配線が確実に行われていることを確認している。 The applicants are performing wiring connection work and disconnection work of signal wiring. Therefore, after wiring connection work and disconnection work, in order to prevent errors in work, continuity confirmation is performed using an inspection device with a built-in buzzer to confirm that wiring is performed securely.

図７は、従来の検査装置の問題点を説明する図である。検査装置は端子Ｔ１と端子Ｔ２との間が、導通しているか、導通していないかを検査することが想定されている。このような従来の検査装置としては、ブザーと電池とが直列接続されたものの両端に、第１プローブＰ１と第２プローブＰ２とを設けたものである。これらの第１プローブＰ１と第２プローブＰ２とを、検査対象部の両端で接触させることで、前記検査対象部が導通しているか否かに係る検査を行う。仮に、前記検査対象部が導通していなければ、ブザーは鳴らず、導通していればブザーがなるようになっている。検査対象部の線路は、図示するような電圧が印加された状態の活線である。 FIG. 7 is a diagram for explaining the problems of the conventional inspection apparatus. The inspection device is assumed to inspect whether the terminal T1 and the terminal T2 are conductive or not. As such a conventional inspection apparatus, a first probe P1 and a second probe P2 are provided at both ends of a buzzer and a battery connected in series. The first probe P1 and the second probe P2 are brought into contact with each other at both ends of the inspection target portion, thereby inspecting whether or not the inspection target portion is conductive. If the inspection target part is not conductive, the buzzer does not sound, and if it is conductive, the buzzer is turned on. The line of the inspection target part is a live line in a state where a voltage as illustrated is applied.

ところで、信号配線の中には、図に示すようにリレーが設けられているが、検査対象部が導通していない場合、第１プローブＰ１と第２プローブＰ２とを検査対象部の両端で接触させると、図中の点線で示されるような異常電流が流れてしまい、リレーを誤動作させてしまう可能性がある、という問題があった。 By the way, although the relay is provided in the signal wiring as shown in the figure, when the inspection target part is not conductive, the first probe P1 and the second probe P2 are contacted at both ends of the inspection target part. Then, there is a problem that an abnormal current as indicated by a dotted line in the figure flows, which may cause the relay to malfunction.

また、リレーの誤動作に加え、ブザーにも電流が流れてしまい、検査対象部が導通していないにも関わらず、ブザーが鳴動してしまう可能性がある、という問題もあった。 Further, in addition to the malfunction of the relay, there is a problem that a current flows through the buzzer and the buzzer may sound even though the inspection target part is not conductive.

さらに、Ｖｏがブザーの定格電圧を超えているような場合、ブザーの破損などの危険性もある、といった問題もあった。 Furthermore, when Vo exceeds the rated voltage of the buzzer, there is also a problem that there is a danger such as breakage of the buzzer.

上記のような課題を解決するために、請求項１に係る発明は、所定電圧が印加されている検査対象部の両端に、第１プローブと第２プローブとを接触させることで、前記検査対象部が導通しているか否かをブザーにより確認し、配線が確実に行われていることを検査する検査装置において、
前記第１プローブと接続される第１導線路と、
前記第２プローブと接続される第２導線路と、
前記第１導線路が接続される第１入力部と、前記第２導線路が接続される第２入力部と、前記第１入力部と前記第２入力部との電圧の差分を増幅して出力する出力部とを有する増幅器と、前記増幅器の出力部が接続され、前記出力部の電圧が、所定の閾値以内であるか、所定の閾値を超えるか否かを判定する電圧判定部と、前記電圧判定部の判定結果に基づいて、前記ブザーを鳴動するブザー駆動部と、を有し、前記第１導線路は所定電圧のバイアスが印加されると共に、前記第２導線路は接地され、前記第１導線路中には、前記所定電圧のバイアスが印加される点と前記増幅器との間に抵抗が設けられ、前記第１導線路に、所定電圧を印加する電圧印加部が設けられており、前記所定電圧のバイアスが印加される点より検査対象部側に配され、前記第１プローブと前記増幅器の前記第１入力部とを切り離し、前記電圧印加部側との接続を行う切り替え部と、前記電圧印加部により、前記第１導線路が印加された際に流れる電流を測定する電流測定部と、前記電流測定部で測定された電流が所定値以上であると異常灯を点灯させる電流値判定部と、をさらに有することを特徴とする。
In order to solve the above-described problem, the invention according to claim 1 is configured such that the first probe and the second probe are brought into contact with both ends of the inspection target portion to which a predetermined voltage is applied, thereby the inspection target. In the inspection device that checks whether or not the part is conducting with a buzzer and inspects that the wiring is performed securely,
A first conductive line connected to the first probe;
A second conductive line connected to the second probe;
Amplifying a voltage difference between a first input unit to which the first conductive line is connected, a second input unit to which the second conductive line is connected, and the first input unit and the second input unit; An amplifier having an output unit for outputting, a voltage determination unit for determining whether the output unit of the amplifier is connected, and the voltage of the output unit is within a predetermined threshold or exceeds a predetermined threshold; A buzzer driving unit that sounds the buzzer based on a determination result of the voltage determination unit, and a bias of a predetermined voltage is applied to the first conductive line, and the second conductive line is grounded, In the first conductive line , a resistor is provided between the point where the bias of the predetermined voltage is applied and the amplifier, and a voltage applying unit for applying the predetermined voltage is provided in the first conductive line. It is arranged on the inspection object side from the point where the bias of the predetermined voltage is applied. The first probe and the first input unit of the amplifier are disconnected, and a switching unit that connects to the voltage application unit side, and the voltage application unit flows when the first conductive line is applied It further includes a current measurement unit that measures current, and a current value determination unit that lights the abnormal lamp when the current measured by the current measurement unit is equal to or greater than a predetermined value .

また、請求項２に係る発明は、前記第１導線路と第２導線路との間には、第１のツェナーダイオード対が設けられ、前記第１導線路と前記第１のツェナーダイオード対との接続点が前記抵抗と前記増幅器の間であることを特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, a first Zener diode pair is provided between the first conductor line and the second conductor line, and the first conductor line and the first Zener diode pair are provided . the connection point is characterized in der Rukoto between the resistor and the amplifier.

また、請求項３に係る発明は、請求項２に記載の検査装置において、前記第１のツェナーダイオード対は、互いに同極が接続されていることを特徴とする。 According to a third aspect of the present invention, in the inspection apparatus according to the second aspect, the first zener diode pair is connected to the same polarity.

本発明の検査装置は、入力抵抗が高い増幅器が用いられていると共に、増幅器の第１入力部に接続されている第１導線路中には抵抗が設けられているので、本発明に係る検査装置によれば、検査対象部の近くに接続されているリレーに電流が流れたとしても、ごく小さな電流であり、リレーを誤動作させてしまうようなことはない。 In the inspection apparatus of the present invention, an amplifier having a high input resistance is used, and a resistor is provided in the first conductive line connected to the first input portion of the amplifier. According to the apparatus, even if a current flows through a relay connected in the vicinity of the inspection target portion, the current is very small and does not cause the relay to malfunction.

また、本発明に係る検査装置によれば、検査対象部が導通していない場合には、ブザーが鳴動してしまうようなこともないし、ブザーの部品が破損するようなこともない。 Further, according to the inspection apparatus according to the present invention, when the inspection target portion is not conductive, the buzzer does not sound and the buzzer parts are not damaged.

本発明の実施形態に係る検査装置１００の概要を説明する図である。It is a figure explaining the outline | summary of the test | inspection apparatus 100 which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る検査装置１００が、第１プローブＰ１と第２プローブＰ２との双方が、検査対象部を含め、何とも接触していない場合の動作を説明する図である。It is a figure explaining the operation | movement in case the test | inspection apparatus 100 which concerns on embodiment of this invention has both the 1st probe P1 and the 2nd probe P2 including the test object part, and nothing is contacting. 本発明の実施形態に係る検査装置１００によって、端子Ｔ１と端子Ｔ２との間が導通している場合の動作を説明する図である。It is a figure explaining operation | movement in case the terminal T1 and the terminal T2 have conduct | electrically_connected by the test | inspection apparatus 100 which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る検査装置１００によって、第２プローブＰ２を検査対象部の高圧側に接触させ、第１プローブＰ１を検査対象部の低圧側に接触させて検査を行う場合を説明する。A case will be described in which the inspection apparatus 100 according to the embodiment of the present invention performs an inspection by bringing the second probe P2 into contact with the high pressure side of the inspection target portion and bringing the first probe P1 into contact with the low pressure side of the inspection target portion. 本発明の実施形態に係る検査装置１００の第１プローブＰ１と第２プローブＰ２とにＡＣ１００［Ｖ］を印加した場合を説明する図である。It is a figure explaining the case where AC100 [V] is applied to the 1st probe P1 and the 2nd probe P2 of inspection device 100 concerning the embodiment of the present invention. 本発明に係る検査装置１００における使用開始前のチェック機能を説明する図である。It is a figure explaining the check function before the use start in the test | inspection apparatus 100 which concerns on this invention. 従来の検査装置の問題点を説明する図である。It is a figure explaining the problem of the conventional inspection apparatus.

以下、本発明の実施の形態を図面を参照しつつ説明する。図１は本発明の実施形態に係る検査装置１００の概要を説明する図である。以下、本発明に係る検査装置１００を、信号配線の配線接続作業や切り離し作業の作業工程の後に、検査対象部が導通しているか否かを検査する例に基づいて、説明を行うが、本発明に係る検査装置１００は、この例に限らず、他の状況においても用いることが可能なものである。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a diagram for explaining an overview of an inspection apparatus 100 according to an embodiment of the present invention. Hereinafter, the inspection apparatus 100 according to the present invention will be described based on an example of inspecting whether or not the inspection target portion is conductive after the work process of the signal line wiring connection work and the disconnection work. The inspection apparatus 100 according to the invention is not limited to this example, and can be used in other situations.

本発明に係る検査装置１００についても、従来のもの同様、所定電圧が印加されている検査対象部である端子Ｔ１と端子Ｔ２との間が、導通しているか、導通していないかを検査するものである。 Also about the inspection apparatus 100 which concerns on this invention, it test | inspects whether between the terminal T1 and the terminal T2 which are the test object parts to which the predetermined voltage is applied is conduction | electrical_connection like the conventional thing. Is.

また、本発明に係る検査装置１００が、図示するように、線路にＶｏ［Ｖ］、−Ｖｏ［Ｖ］が印加されている活線であることが想定されている。なお、本例では、Ｖｏ［Ｖ］＝２４［Ｖ］である。 Moreover, it is assumed that the inspection apparatus 100 according to the present invention is a live line in which Vo [V] and -Vo [V] are applied to the line as illustrated. In this example, Vo [V] = 24 [V].

第１プローブＰ１は導電性の先端部を持ち、検査装置１００本体部の第１導線路１５に電気接続されている。一方、第２プローブＰ２は導電性の先端部を持ち、検査装置１００本体部の第２導線路２５に電気接続されている。本発明に係る検査装置１００においても、従来同様、第１プローブＰ１と第２プローブＰ２とを、検査対象部の両端で接触させることで、前記検査対象部が導通しているか否かに係る検査を行う。ここで、「接触」とは、第１プローブＰ１や第２プローブＰ２の導電性の部分を、検査対象部の両端の導電性の部分に当接させることをいう。 The first probe P1 has a conductive tip and is electrically connected to the first conductor 15 of the main body of the inspection apparatus 100. On the other hand, the second probe P2 has a conductive tip and is electrically connected to the second conductive line 25 of the main body of the inspection apparatus 100. Also in the inspection apparatus 100 according to the present invention, as in the prior art, the first probe P1 and the second probe P2 are brought into contact at both ends of the inspection target portion, thereby inspecting whether or not the inspection target portion is conductive. I do. Here, “contact” refers to bringing the conductive portions of the first probe P1 and the second probe P2 into contact with the conductive portions at both ends of the inspection target portion.

第１導線路１５は、第１プローブＰ１からの入力を増幅器Ｕ４の第１入力部に導く線路であり、第２導線路２５は、第２プローブＰ２からの入力を増幅器Ｕ４の第２入力部に導く線路である。 The first conductive line 15 is a line that guides the input from the first probe P1 to the first input part of the amplifier U4, and the second conductive line 25 is the second input part of the amplifier U4 that receives the input from the second probe P2. It is a track that leads to

増幅器Ｕ４は、第１入力部電圧Ｖ１と第２入力部電圧Ｖ２との電圧の差分を増幅して、出力部電圧Ｖ３として出力するものである。このような増幅器Ｕ４としては、入力抵抗が高い汎用のオペアンプなどを用いることができる。 The amplifier U4 amplifies the voltage difference between the first input voltage V1 and the second input voltage V2 and outputs the amplified voltage as the output voltage V3. As such an amplifier U4, a general-purpose operational amplifier having a high input resistance can be used.

第１導線路１５中には、増幅器Ｕ４の第１入力部までの間に、切り替え部３０、抵抗Ｒ１４が設けられている。なお、本例では、Ｒ１４としては、４７［ｋΩ］のものを用いている。また、増幅器Ｕ４は不図示の電源によって、５［Ｖ］で駆動されている。 In the first conducting line 15, a switching unit 30 and a resistor R14 are provided between the first input unit of the amplifier U4. In this example, R14 is 47 [kΩ]. The amplifier U4 is driven at 5 [V] by a power source (not shown).

第１導線路１５中に設けられる抵抗Ｒ１４は、検査対象部の近くに接続されているリレーに流れる電流を制限する。 The resistor R14 provided in the first conductive line 15 limits the current flowing through the relay connected near the inspection target part.

切り替え部３０は、不図示のスイッチの押下などにより、第１プローブＰ１と増幅器Ｕ４の第１入力部とを導通させるＡ端子側と、第１プローブＰ１と増幅器Ｕ４の第１入力部とを切り離し、増幅器Ｕ４の第１入力部と電流測定回路５２とを導通させるＢ端子側と、切り替えることができるようになっている。 The switching unit 30 separates the A terminal side that conducts the first probe P1 and the first input unit of the amplifier U4 from the first probe P1 and the first input unit of the amplifier U4 by pressing a switch (not shown). The B terminal side for conducting the first input portion of the amplifier U4 and the current measuring circuit 52 can be switched.

また、第１導線路１５は、ダイオードＤ２、抵抗Ｒ１３を介して、バイアス電源３３によって、Ｖｏ［Ｖ］が印加されている状態となっている。なお、本例では、Ｒ１３としては、２４［ｋΩ］のものを用いている。 In addition, the first conducting line 15 is in a state where Vo [V] is applied by the bias power source 33 via the diode D2 and the resistor R13. In this example, 24 [kΩ] is used as R13.

また、第１導線路１５と、第２導線路２５との間は、互いに同極が接続されている第１のツェナーダイオード対（Ｄ５、Ｄ７）が設けられている。このようなツェナーダイオード対は、保護回路の一部として機能する。なお、本例では、ツェナーダイオードＤ５、Ｄ７としては、ツェナー電圧が４．７［Ｖ］のものを用いている。 In addition, a first Zener diode pair (D5, D7) having the same polarity is provided between the first conductive line 15 and the second conductive line 25. Such a zener diode pair functions as a part of the protection circuit. In this example, Zener diodes D5 and D7 having a Zener voltage of 4.7 [V] are used.

また、抵抗Ｒ１３とダイオードＤ２の間の点と、第２導線路２５との間は、互いに同極が接続されている第２のツェナーダイオード対（Ｄ４、Ｄ６）が設けられている。このようなツェナーダイオード対は、バイアス電源３３の保護回路の一部として機能する。なお、本例では、ツェナーダイオードＤ４、Ｄ６としては、ツェナー電圧が３０［Ｖ］のものを用いている。 Further, a second Zener diode pair (D4, D6) having the same polarity is provided between the point between the resistor R13 and the diode D2 and the second conductive line 25. Such a zener diode pair functions as a part of the protection circuit of the bias power supply 33. In this example, Zener diodes D4 and D6 having a Zener voltage of 30 [V] are used.

電圧判定回路４２は、増幅器Ｕ４の出力部が接続され、出力部電圧Ｖ３が、所定の閾値以内であるか、所定の閾値を超えるか否かを判定する回路である。本例では、電圧判定回路４２は、（ａ） −０．５［Ｖ］≦Ｖ３≦＋０．５［Ｖ］であるか、或いは（ｂ）Ｖ３＜−０．５［Ｖ］又は＋０．５［Ｖ］＜Ｖ３であるかを判定する構成となっている。 The voltage determination circuit 42 is a circuit that is connected to the output unit of the amplifier U4 and determines whether the output unit voltage V3 is within a predetermined threshold value or exceeds a predetermined threshold value. In this example, the voltage determination circuit 42 is (a) −0.5 [V] ≦ V3 ≦ + 0.5 [V], or (b) V3 <−0.5 [V] or +0.5. It is configured to determine whether [V] <V3.

ブザー駆動回路４３は、電圧判定回路４２の判定結果に基づいて、ブザー４５を鳴動する。ここで、本例では、ブザー駆動回路４３は、電圧判定回路４２の判定が（ａ）の場合、ブザー４５を鳴動し、電圧判定回路４２の判定が（ｂ）の場合、ブザー４５を鳴動しない。 The buzzer drive circuit 43 sounds the buzzer 45 based on the determination result of the voltage determination circuit 42. Here, in this example, the buzzer drive circuit 43 rings the buzzer 45 when the determination of the voltage determination circuit 42 is (a), and does not sound the buzzer 45 when the determination of the voltage determination circuit 42 is (b). .

切り替え部３０によって、Ｂ端子が選択され、増幅器Ｕ４の第１入力部と電流測定回路５２とが導通している際には、電圧印加回路５１が発生する電圧も、増幅器Ｕ４の第１入力部に印加される。電流測定回路５２は、このときに流れる電流を測定するものである。電流値判定回路５３は、電流測定回路５２で測定された電流を判定し、異常灯５５又は正常灯５６を点灯させる。 When the switching unit 30 selects the B terminal and the first input unit of the amplifier U4 and the current measurement circuit 52 are in conduction, the voltage generated by the voltage application circuit 51 is also the first input unit of the amplifier U4. To be applied. The current measurement circuit 52 measures the current flowing at this time. The current value determination circuit 53 determines the current measured by the current measurement circuit 52 and turns on the abnormal lamp 55 or the normal lamp 56.

より具体的には、電流値判定回路５３は、電流測定回路５２で所定値以上の電流が測定された場合には、増幅器Ｕ４や保護回路などに、何らかの異常があるものと判定し、異常灯５５を点灯する。一方、電流値判定回路５３は、電流測定回路５２で所定値未満の電流が測定された場合には、増幅器Ｕ４や保護回路などは正常であるものと判定し、正常灯５６を点灯する。なお、本例では、前記の所定値の電流としては、２．５［ｍＡ］としている。 More specifically, the current value determination circuit 53 determines that there is some abnormality in the amplifier U4, the protection circuit, or the like when the current measurement circuit 52 measures a current of a predetermined value or more, and the abnormal lamp 55 is turned on. On the other hand, when the current measurement circuit 52 measures a current less than a predetermined value, the current value determination circuit 53 determines that the amplifier U4, the protection circuit, and the like are normal, and turns on the normal lamp 56. In this example, the current of the predetermined value is 2.5 [mA].

上記のように切り替え部３０によって、Ｂ端子が選択されると、上記のように、増幅器Ｕ４や保護回路などに異常がないかをチェックすることが可能となる。 When the B terminal is selected by the switching unit 30 as described above, it is possible to check whether there is any abnormality in the amplifier U4, the protection circuit, or the like as described above.

次に、以上のように構成される本発明に係る検査装置１００の動作について説明する。図１は本発明の実施形態に係る検査装置１００によって、端子Ｔ１と端子Ｔ２との間が、導通していないことを検出する場合を示している。 Next, the operation of the inspection apparatus 100 according to the present invention configured as described above will be described. FIG. 1 shows a case where the inspection apparatus 100 according to the embodiment of the present invention detects that the terminal T1 and the terminal T2 are not conducting.

増幅器Ｕ４は、第１入力部電圧Ｖ１と第２入力部電圧Ｖ２との電圧の差分を増幅して、出力部電圧Ｖ３として出力するものであり、その増幅度をαとすると、
Ｖ３＝α×（Ｖ１−Ｖ２）
の関係を有するようになっている。ここで、増幅器Ｕ４の第２入力部は、Ｖ２はグランドに接続されているので、
Ｖ３＝α×Ｖ１
の関係となる。なお、本例では、α＝２．５で設計を行っている。 The amplifier U4 amplifies the voltage difference between the first input voltage V1 and the second input voltage V2 and outputs it as an output voltage V3. When the amplification factor is α,
V3 = α × (V1-V2)
Have a relationship. Here, since the second input of the amplifier U4 is connected to the ground V2,
V3 = α × V1
It becomes the relationship. In this example, the design is performed with α = 2.5.

電圧判定回路４２は、増幅器Ｕ４からの出力部電圧Ｖ３の値を判定してブザー４５の鳴動、非鳴動を決定している。本例では、Ｖ３の値が−０．５［Ｖ］≦Ｖ３≦＋０．５［Ｖ］の範囲でブザー４５がブザー駆動回路４３によって鳴動されるように設計してある。すなわち、増幅器Ｕ４の出力部電圧Ｖ３が＋０．５Ｖを超えた場合又は−０．５Ｖを下回った場合、ブザー４５は鳴動しない。 The voltage determination circuit 42 determines the value of the output voltage V3 from the amplifier U4 to determine whether the buzzer 45 is sounding or not. In this example, the buzzer 45 is designed to be sounded by the buzzer driving circuit 43 when the value of V3 is in the range of −0.5 [V] ≦ V3 ≦ + 0.5 [V]. That is, when the output voltage V3 of the amplifier U4 exceeds + 0.5V or falls below -0.5V, the buzzer 45 does not sound.

このように、本発明に係る検査装置１００においては、ブザー４５が鳴動しないことで、検査者は端子Ｔ１と端子Ｔ２との間が、導通していないことを確認することが可能となる。 Thus, in the inspection apparatus 100 according to the present invention, the buzzer 45 does not ring, so that the inspector can confirm that the terminal T1 and the terminal T2 are not electrically connected.

ここで、検査対象部の近傍に設けられているリレーに流れる電流の大きさについて説明
する。 Here, the magnitude | size of the electric current which flows into the relay provided in the vicinity of the test object part is demonstrated.

図１に示すように、端子Ｔ１と端子Ｔ２との間が、導通していないので、Ｖｏ［Ｖ］により点線の矢印のルートで電流が流れる。Ｄ５、Ｄ７はツェナー電圧が４．７Ｖのツェナーダイオードを使用しており、Ｄ４、Ｄ６はツェナー電圧が３０Ｖのツェナーダイオードを使用しているので、電流の経路はＤ５、Ｄ７を流れるルートのみである。 As shown in FIG. 1, since there is no conduction between the terminal T1 and the terminal T2, a current flows in the route of the dotted arrow by Vo [V]. Since D5 and D7 use Zener diodes with a Zener voltage of 4.7V, and D4 and D6 use Zener diodes with a Zener voltage of 30V, the current path is only the route through D5 and D7. .

Ｖｏ［Ｖ］の電圧を２４［Ｖ］とすると電流値は、
（２４［Ｖ］−４．７［Ｖ］）／４７［ｋΩ］＝０．４１［ｍＡ］
となる。 If the voltage of Vo [V] is 24 [V], the current value is
(24 [V] -4.7 [V]) / 47 [kΩ] = 0.41 [mA]
It becomes.

図１では０．４１ｍＡがリレーに流れるが、この電流値はリレーを励磁するには至らない程度の小さい値である。したがって、本発明に係る検査装置１００を接続しても、励磁していないリレーが誤動作することはない。例えば、高感度線条リレーＭ−２４００でも、７．５ｍＡ以上流れないと励磁しない。 In FIG. 1, 0.41 mA flows through the relay, but this current value is small enough not to excite the relay. Therefore, even if the inspection apparatus 100 according to the present invention is connected, a relay that is not excited does not malfunction. For example, even the high-sensitivity filament relay M-2400 is not excited unless it flows 7.5 mA or more.

このように、本発明の検査装置１００は、入力抵抗が高い増幅器Ｕ４が用いられていると共に、増幅器Ｕ４の第１入力部に接続されている第１導線路１５中には抵抗（Ｒ１４）が設けられているので、本発明に係る検査装置１００によれば、検査対象部の近くに接続されているリレーに電流が流れたとしても、ごく小さな電流であり、リレーを誤動作させてしまうようなことはない。 Thus, in the inspection apparatus 100 of the present invention, the amplifier U4 having a high input resistance is used, and the resistor (R14) is included in the first conductive line 15 connected to the first input portion of the amplifier U4. Since it is provided, according to the inspection apparatus 100 according to the present invention, even if a current flows through a relay connected in the vicinity of the inspection target portion, it is a very small current and may cause the relay to malfunction. There is nothing.

また、本発明に係る検査装置１００によれば、検査対象部が導通していない場合には、ブザー４５が鳴動してしまうようなこともないし、ブザー４５の部品が破損するようなこともない。 In addition, according to the inspection apparatus 100 according to the present invention, when the inspection target portion is not conductive, the buzzer 45 does not ring and the components of the buzzer 45 are not damaged. .

ここで、図２を参照して、本発明に係る検査装置１００が、第１プローブＰ１と第２プローブＰ２との双方が、検査対象部を含め、何とも接触していない場合における動作を説明する。 Here, with reference to FIG. 2, the inspection apparatus 100 according to the present invention will be described in the case where both the first probe P1 and the second probe P2 are not in contact with each other including the inspection target part. .

第１プローブＰ１と第２プローブＰ２が何とも接触していない状態では、増幅器Ｕ４の出力部電圧Ｖ３と第１入力部電圧Ｖ１と第２入力部電圧Ｖ２との関係は、
Ｖ３＝α×（Ｖ１−Ｖ２）＝α×Ｖ１
となる。 In a state where the first probe P1 and the second probe P2 are not in contact with each other, the relationship among the output voltage V3, the first input voltage V1, and the second input voltage V2 of the amplifier U4 is
V3 = α × (V1−V2) = α × V1
It becomes.

第１プローブＰ１と第２プローブＰ２が何とも接触していない状態は、バイアス電源３３の＋２４［Ｖ］が抵抗Ｒ１３を通して増幅器Ｕ４の第１入力部に印加されるので増幅器Ｕ４の出力部電圧Ｖ３は
Ｖ３＝２．５×Ｖｏ＝２．５×２４＝６０Ｖ
となる。 When the first probe P1 and the second probe P2 are not in contact with each other, +24 [V] of the bias power supply 33 is applied to the first input portion of the amplifier U4 through the resistor R13, so that the output voltage V3 of the amplifier U4 is V3 = 2.5 × Vo = 2.5 × 24 = 60V
It becomes.

ただし、増幅器Ｕ４の電源電圧は５Ｖなので６０Ｖは出力できず、出力部電圧Ｖ３は約５Ｖで飽和する。 However, since the power supply voltage of the amplifier U4 is 5V, 60V cannot be output, and the output voltage V3 is saturated at about 5V.

増幅器Ｕ４の出力部電圧Ｖ３は次段の電圧判定回路４２に接続されている。電圧判定回路４２は入力電圧の値を判定する。入力電圧＋０．５Ｖ〜−０．５Ｖの範囲でブザーが鳴動するように設計されている。 The output voltage V3 of the amplifier U4 is connected to the voltage determination circuit 42 in the next stage. The voltage determination circuit 42 determines the value of the input voltage. The buzzer is designed to sound in the range of input voltage + 0.5V to -0.5V.

第１プローブＰ１と第２プローブＰ２に何も接続されていない状態では、この入力電圧は約５Ｖなので、＋０．５Ｖ〜−０．５Ｖの範囲外となり、ブザーは鳴動しない。 When nothing is connected to the first probe P1 and the second probe P2, this input voltage is about 5V, so it is outside the range of + 0.5V to -0.5V, and the buzzer does not sound.

このように、本発明に係る検査装置１００においては、第１プローブＰ１と第２プローブＰ２が何とも接触されていない状態では、ブザー４５が鳴動しない設定となっている。 As described above, in the inspection apparatus 100 according to the present invention, the buzzer 45 does not sound when the first probe P1 and the second probe P2 are not in contact with each other.

次に、端子Ｔ１と端子Ｔ２との間が、短絡している場合について説明する。図３は本発明の実施形態に係る検査装置１００によって、端子Ｔ１と端子Ｔ２との間が導通している場合の動作を説明する図である。 Next, the case where the terminal T1 and the terminal T2 are short-circuited will be described. FIG. 3 is a diagram illustrating an operation when the terminal T1 and the terminal T2 are electrically connected by the inspection apparatus 100 according to the embodiment of the present invention.

端子Ｔ１と端子Ｔ２との間が導通している場合には、第１プローブＰ１と第２プローブＰ２との間が短絡状態となるので、Ｖ１＝Ｖ２となり、増幅器Ｕ４の出力部電圧Ｖ３は
Ｖ３＝２．５×（Ｖ１−Ｖ２）＝２．５×（０−０）＝０Ｖ
になる。この値は、＋０．５Ｖ〜−０．５Ｖの範囲内なので電圧判定回路４２、ブザー駆動回路４３によって、ブザー４５は鳴動する。 When the terminal T1 and the terminal T2 are conducting, the first probe P1 and the second probe P2 are short-circuited, so that V1 = V2 and the output voltage V3 of the amplifier U4 is V3. = 2.5 × (V1-V2) = 2.5 × (0-0) = 0V
become. Since this value is in the range of +0.5 V to -0.5 V, the buzzer 45 sounds by the voltage determination circuit 42 and the buzzer drive circuit 43.

このように、本発明に係る検査装置１００においては、ブザー４５が鳴動することで、検査者は端子Ｔ１と端子Ｔ２との間が、導通していることを確認可能となる。 As described above, in the inspection apparatus 100 according to the present invention, the buzzer 45 sounds, so that the inspector can confirm that the terminals T1 and T2 are electrically connected.

次に、図４を参照して、本発明の実施形態に係る検査装置１００によって、第２プローブＰ２を検査対象部の高圧側に接触させ、第１プローブＰ１を検査対象部の高圧側に接触させて検査を行う場合を説明する。この場合、図１において点線で示した電流と反対方向に流れる電流以外に、バイアス電源３３によって、図４において示す一点鎖線の矢印に示す電流が流れる。 Next, referring to FIG. 4, the inspection apparatus 100 according to the embodiment of the present invention causes the second probe P <b> 2 to come into contact with the high pressure side of the inspection target portion, and the first probe P <b> 1 comes into contact with the high pressure side of the inspection target portion. A case where the inspection is performed will be described. In this case, in addition to the current that flows in the direction opposite to the current indicated by the dotted line in FIG. 1, the current indicated by the one-dot chain line arrow shown in FIG.

一点鎖線の矢印に示す電流−１は、−Ｖｏ［Ｖ］の２４［Ｖ］及び、バイアス電源３３の２４［Ｖ］が直列になってＲ１３（２４［ｋΩ］）を通過する。したがって、一点鎖線の矢印に示す電流−１の値は
（２４［Ｖ］＋２４［Ｖ］）／２４［ｋΩ］＝２［ｍＡ］
となる。 The current -1 shown by the one-dot chain line arrow passes through R13 (24 [kΩ]) in series with 24 [V] of −Vo [V] and 24 [V] of the bias power source 33. Therefore, the value of the current −1 shown by the one-dot chain line arrow is (24 [V] +24 [V]) / 24 [kΩ] = 2 [mA].
It becomes.

また、図４において点線で示した電流−２の値はツェナーダイオードＤ７、Ｄ５及びＲ１４（４７［ｋΩ］）を通過する。したがって、点線で示した電流−２の値は、
（２４［Ｖ］−４．７［Ｖ］）／４７［ｋΩ］＝０．４１［ｍＡ］
となる。 Further, the value of the current −2 indicated by the dotted line in FIG. 4 passes through the Zener diodes D7, D5, and R14 (47 [kΩ]). Therefore, the value of current-2 shown by the dotted line is
(24 [V] -4.7 [V]) / 47 [kΩ] = 0.41 [mA]
It becomes.

上記の２つの電流を重ね合わせると、２．４１［ｍＡ］を得ることとなる。 When the above two currents are superimposed, 2.41 [mA] is obtained.

この２．４１［ｍＡ］がリレーに流れるが、この電流値はリレーを励磁するには至らない程度の小さい値である。したがって、検査装置１００を接続しても、励磁していないリレーが誤動作することはない。例えば、高感度線条リレーＭ−２４００でも７．５ｍＡ以上流れないと励磁しない。 The 2.41 [mA] flows to the relay, but this current value is small enough not to excite the relay. Therefore, even if the inspection apparatus 100 is connected, a relay that is not excited does not malfunction. For example, even the high sensitivity linear relay M-2400 is not excited unless it flows 7.5 mA or more.

以上のように、検査装置１００は、検査者は、第１プローブＰ１、第２プローブＰ２の極性について意識をすることなく使用することができる。 As described above, the inspection apparatus 100 can be used by the inspector without being aware of the polarities of the first probe P1 and the second probe P2.

次に図５を参照して、本発明の実施形態に係る検査装置１００の第１プローブＰ１と第２プローブＰ２とにＡＣ１００［Ｖ］を印加した場合の、検査装置１００における保護部品について説明する図である。 Next, with reference to FIG. 5, protection components in the inspection apparatus 100 when AC100 [V] is applied to the first probe P1 and the second probe P2 of the inspection apparatus 100 according to the embodiment of the present invention will be described. FIG.

増幅器Ｕ４は入力に電源電圧以上の電圧が印加されると過大入力となって破損する。本実施形態の検査装置１００で使用する増幅器Ｕ４は電源電圧が±５Ｖなので、ＡＣ１００
Ｖを印加すると保護部品がないと破損する。そこで、本発明に係る検査装置１００においては、保護部品が設けられている。 The amplifier U4 becomes an excessive input and is damaged when a voltage higher than the power supply voltage is applied to the input. Since the amplifier U4 used in the inspection apparatus 100 of the present embodiment has a power supply voltage of ± 5 V, AC100
If V is applied, it will be damaged if there are no protective parts. Therefore, in the inspection apparatus 100 according to the present invention, a protective component is provided.

本発明に係る検査装置１００においては、図５のＲ１３、ツェナーダイオードＤ４、Ｄ６及びＲ１４、ツェナーダイオードＤ５、Ｄ７が保護部品となる。 In the inspection apparatus 100 according to the present invention, R13, Zener diodes D4, D6 and R14, and Zener diodes D5, D7 in FIG. 5 are protective components.

誤って第１プローブＰ１と第２プローブＰ２とにＡＣ１００［Ｖ］を接触させた場合、第１導線路１５と第２導線路２５との間にＡＣ１００Ｖが印加されることとなる。 When AC100 [V] is accidentally brought into contact with the first probe P1 and the second probe P2, AC100V is applied between the first conductive line 15 and the second conductive line 25.

仮に保護部品が存在しないとすると、増幅器Ｕ４の入力に直接ＡＣ１００［Ｖ］の高電圧がかかってしまうが、図５のようにツェナーダイオードＤ５、Ｄ７によって電圧１は、±４．７Ｖまでクランプされ、増幅器Ｕ４は保護される。 If there is no protective component, a high voltage of AC 100 [V] is applied directly to the input of the amplifier U4, but the voltage 1 is clamped to ± 4.7V by the zener diodes D5 and D7 as shown in FIG. The amplifier U4 is protected.

同様に仮に保護部品が存在しないとすると、バイアス電源３３もＡＣ１００［Ｖ］の高電圧が印加されるが、こちらは図５に示すように保護部品であるツェナーダイオードＤ４、Ｄ６によって±３０Ｖにクランプする。バイアス電源３３は３０Ｖまで耐えられるように設計してあるので、バイアス電源３３が破損することはない。 Similarly, if there is no protective component, a high voltage of AC 100 [V] is applied to the bias power supply 33 as well, but this is clamped to ± 30 V by zener diodes D4 and D6 as protective components as shown in FIG. To do. Since the bias power supply 33 is designed to withstand up to 30V, the bias power supply 33 is not damaged.

次に、本発明に係る検査装置１００における、増幅器Ｕ４や保護回路部品などに異常がないかをチェックする機能について説明する。図６は本発明に係る検査装置１００におけるチェック機能を説明する図である。 Next, the function of checking whether there is any abnormality in the amplifier U4, the protection circuit component, or the like in the inspection apparatus 100 according to the present invention will be described. FIG. 6 is a diagram for explaining a check function in the inspection apparatus 100 according to the present invention.

図６に示すように、切り替え部３０によって、Ｂ端子が選択されると、上記のように、増幅器Ｕ４や保護回路などに異常がないかをチェックすることが可能となる。 As shown in FIG. 6, when the B terminal is selected by the switching unit 30, as described above, it is possible to check whether there is any abnormality in the amplifier U4, the protection circuit, or the like.

何らかの原因により検査装置１００の増幅器Ｕ４や保護回路などが破損していると、図６において示す一点鎖線の矢印に示す所定値以上の電流が流れる。本例では、この所定値以上の電流値が２．５ｍA以上であれば破損していると判定し、異常灯を点灯させる。 If the amplifier U4, the protection circuit, or the like of the inspection apparatus 100 is damaged for some reason, a current of a predetermined value or more as indicated by the one-dot chain line arrow shown in FIG. 6 flows. In this example, if the current value equal to or greater than the predetermined value is 2.5 mA or more, it is determined that the lamp is damaged and the abnormal lamp is turned on.

チェック用のスイッチを押下すると、不図示のリレーが励磁されて、切り替え部３０において、図に示すようにＢ端子が選択される。 When the check switch is pressed, a relay (not shown) is excited, and the switching unit 30 selects the B terminal as shown in the figure.

本例は、閾値である電流値を２．５［ｍＡ］としたが、これはＶｏ（２４［Ｖ］）で換算するとプローブからみた抵抗値が約１０ｋΩ以上ということになる。（２４［Ｖ］）／２．５［ｍＡ］＝約１０［ｋΩ］）
増幅器Ｕ４や保護回路などが破損してプローブからみた抵抗値が１０［ｋΩ］以下になると、２．５［ｍＡ］以上電流が流入して、Ｖｏ（２４［Ｖ］）に接続してあるリレーが誤動作する危険がある。 In this example, the current value which is a threshold value is 2.5 [mA], but when converted to Vo (24 [V]), the resistance value seen from the probe is about 10 kΩ or more. (24 [V]) / 2.5 [mA] = about 10 [kΩ])
When the amplifier U4, the protection circuit, etc. are damaged and the resistance value seen from the probe becomes 10 [kΩ] or less, current flows in at least 2.5 [mA] and is connected to Vo (24 [V]) There is a risk of malfunction.

電流値判定回路５３は、電流測定回路５２で２．５［ｍＡ］以上の電流が測定された場合には、増幅器Ｕ４や保護回路などに、何らかの異常があるものと判定し、異常灯５５を点灯する。一方、電流値判定回路５３は、電流測定回路５２で２．５［ｍＡ］未満の電流が測定された場合には、増幅器Ｕ４や保護回路などは正常であるものと判定し、正常灯５６を点灯する。 When the current measurement circuit 52 measures a current of 2.5 [mA] or more, the current value determination circuit 53 determines that there is some abnormality in the amplifier U4, the protection circuit, etc. Light. On the other hand, when the current measurement circuit 52 measures a current of less than 2.5 [mA], the current value determination circuit 53 determines that the amplifier U4, the protection circuit, and the like are normal, and turns the normal lamp 56 on. Light.

このように、本発明に係る検査装置１００においては、切り替え部３０によって、Ｂ端子が選択されると、上記のように、増幅器Ｕ４や保護回路などに異常がないかをチェックすることが可能となる。 As described above, in the inspection apparatus 100 according to the present invention, when the B terminal is selected by the switching unit 30, it is possible to check whether there is any abnormality in the amplifier U4, the protection circuit, or the like as described above. Become.

以上、本発明の検査装置は、入力抵抗が高い増幅器が用いられていると共に、増幅器の
第１入力部に接続されている第１導線路中には抵抗が設けられているので、本発明に係る検査装置によれば、検査対象部の近くに接続されているリレーに電流が流れたとしても、ごく小さな電流であり、リレーを誤動作させてしまうようなことはない。 As described above, the inspection apparatus of the present invention uses an amplifier having a high input resistance, and a resistor is provided in the first conductive line connected to the first input portion of the amplifier. According to such an inspection apparatus, even if a current flows through a relay connected in the vicinity of the inspection target portion, the current is very small and does not cause the relay to malfunction.

１５・・・第１導線路
２５・・・第２導線路
３０・・・切り替え部
３３・・・バイアス電源
４２・・・電圧判定回路
４３・・・ブザー駆動回路
４５・・・ブザー
５１・・・電圧印加回路
５２・・・電流測定回路
５３・・・電流値判定回路
５５・・・異常灯
５６・・・正常灯
Ｐ１・・・第１プローブ
Ｐ２・・・第２プローブ
Ｕ４・・・増幅器
Ｖ１・・・第１入力部電圧
Ｖ２・・・第２入力部電圧
Ｖ３・・・出力部電圧
Ｒ１３、Ｒ１４・・・抵抗
Ｄ２・・・ダイオード
Ｄ４、Ｄ５、Ｄ６、Ｄ７・・・ツェナーダイオード DESCRIPTION OF SYMBOLS 15 ... 1st conducting line 25 ... 2nd conducting line 30 ... Switching part 33 ... Bias power supply 42 ... Voltage determination circuit 43 ... Buzzer drive circuit 45 ... Buzzer 51 ... Voltage application circuit 52 ... Current measurement circuit 53 ... Current value determination circuit 55 ... Abnormal lamp 56 ... Normal lamp P1 ... First probe P2 ... Second probe U4 ... Amplifier V1 ... first input voltage V2 ... second input voltage V3 ... output voltage R13, R14 ... resistor D2 ... diodes D4, D5, D6, D7 ... zener diode

Claims

The first probe and the second probe are brought into contact with both ends of the inspection target portion to which a predetermined voltage is applied, thereby confirming whether or not the inspection target portion is conductive with a buzzer, and wiring is performed reliably. In the inspection device that inspects
A first conductive line connected to the first probe;
A second conductive line connected to the second probe;
Amplifying a voltage difference between a first input unit to which the first conductive line is connected, a second input unit to which the second conductive line is connected, and the first input unit and the second input unit; An amplifier having an output section for outputting;
An output unit of the amplifier is connected, and a voltage determination unit that determines whether the voltage of the output unit is within a predetermined threshold value or exceeds a predetermined threshold value;
A buzzer driving unit that sounds the buzzer based on the determination result of the voltage determination unit;
The first conductive line is biased with a predetermined voltage, and the second conductive line is grounded.
In the first conductive line , a resistor is provided between a point where the bias of the predetermined voltage is applied and the amplifier ,
A voltage application unit for applying a predetermined voltage is provided on the first conductive line,
A switching unit arranged on the inspection target unit side from the point where the bias of the predetermined voltage is applied, disconnecting the first probe and the first input unit of the amplifier, and performing connection with the voltage application unit side;
A current measuring unit for measuring a current flowing when the first conductive line is applied by the voltage applying unit;
An inspection apparatus further comprising: a current value determination unit that turns on the abnormal lamp when the current measured by the current measurement unit is equal to or greater than a predetermined value .

A first Zener diode pair is provided between the first conductor line and the second conductor line ,
Inspection apparatus according to claim 1, the connection point between the first conductor path said first zener diode pair is characterized der Rukoto between the resistor and the amplifier.

The inspection apparatus according to claim 2, wherein the first zener diode pair has the same polarity connected to each other.