JP6278842B2 - 検査装置、検査方法およびプログラム - Google Patents
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 197
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 55
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 73
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 56
- 239000013598 vector Substances 0.000 claims description 41
- 230000009467 reduction Effects 0.000 claims description 27
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 26
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 16
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 16
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 claims description 16
- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims description 14
- 230000000116 mitigating effect Effects 0.000 claims description 13
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims description 11
- 238000011946 reduction process Methods 0.000 claims description 9
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 5
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 52
- 230000006870 function Effects 0.000 description 15
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 13
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 12
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 12
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 6
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 5
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 4
- 238000003708 edge detection Methods 0.000 description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 2
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000001172 regenerating effect Effects 0.000 description 1
- 238000001308 synthesis method Methods 0.000 description 1
Description
検査対象物をフォトメトリックステレオ法により撮像して複数の輝度画像を生成する輝度画像生成手段と、
前記複数の輝度画像においてそれぞれ座標が一致している複数の画素の画素値を用いて前記検査対象物の表面の法線ベクトルと反射率とを算出し、前記検査対象物の表面の法線ベクトルに基づき、当該表面の形状に応じた複数の画素値を有する形状画像を生成するとともに、前記検査対象物の表面の反射率に応じた複数の画素値を有する反射率画像を生成する生成手段と、
前記反射率画像に基づき前記形状画像に含まれているテクスチャの映り込みまたは鏡面反射光を示すテクスチャ情報を抽出する抽出手段と、
前記抽出手段により抽出された前記テクスチャ情報に基づき、テクスチャの映り込みまたは鏡面反射光に起因した偽形状の軽減処理を実行する軽減処理手段と、
前記軽減処理を施された形状画像を用いて前記検査対象物の良否を判定する判定手段と
を有することを特徴とする検査装置が提供される。
一般的なフォトメトリックステレオ法では、図2に示すように、ワーク2に対して4方向から照明光L1〜L4を順番に切り替えながら照射し、4枚の輝度画像を生成する。各輝度画像を撮影する際に使用される照明光の方向は一方向だけである。なお、輝度画像は複数の画素により構成されており、4枚の輝度画像において座標が一致する4つの画素は同一のワーク表面に対応している。4つの画素の画素値(輝度値)I1、I2、I3、I4と、法線ベクトルnとの間には図2示した式1が成り立つ。ここでρは反射率である。Lは各方向からの照明光の光量であり、既知である。ここでは4方向とも光量は同一である。Sは照明方向行列であり、既知である。この数式を解くことで各座標(ワーク表面)ごとの反射率ρと法線ベクトルnが求められる。その結果、反射率画像と傾き画像とが得られる。
テクスチャ情報とはワーク2の表面の反射率ρに基づく情報である。式1によって反射率ρが求められる、つまり4枚の輝度画像から1枚の反射率画像が得られる。反射率画像はワーク表面の反射率ρに比例した画素値を有する画像である。図7に示すように、4枚の輝度画像701〜704から法線ベクトルを算出し、算出された法線ベクトルと複数の輝度画像の各々対応する画素の輝度値に基づいて各画素の反射率に比例した画素値を算出することで反射率画像であるテクスチャ画像711、712が求められる。この合成方法としては4枚の輝度画像の画素平均によってテクスチャ画像を求める方法や、4枚の輝度画像からハレーションを除去してから画素平均によってテクスチャ画像を求める方法などがある。テクスチャ画像711は画像平均によって求められたものであり、テクスチャ画像712はハレーション除去によって求められたものの一例である。4枚の輝度画像において座標が一致する画素が4つ存在する。4つの画素のうち画素値が1番大きい画素を除外したり、画素値の大きい順に1番目からN番目(Nは3以下の自然数)までの画素を除外したりすることでハレーションを除去することが可能である。ハレーションは高い輝度として画像に表れるからである。テクスチャ画像711、712はともに反射率に基づく画素により構成されているため、反射率画像の一種である。
図8は検査装置のブロック図である。この例では照明装置3、カメラ4および画像処理装置5がそれぞれ個別の筐体に収容されているが、これは一例に過ぎず、適宜に一体化されてもよい。照明装置3は、フォトメトリックステレオ法にしたがって検査対象物を照明する照明手段の一例であり、光源群801とこれを制御する照明コントローラ802を備えている。複数の発光素子で1つのセグメントが構成され、さらに複数のセグメントによって光源群801が構成されていてもよい。セグメントの数は一般的には4つであるが、3つ以上であればよい。これは3方向以上の照明方向からワーク2を照明できれば、フォトメトリックステレオ法により検査画像を生成できるからである。図1に示したように照明装置3の外形はリング状をしていてもよい。また、照明装置3は、それぞれ分離した複数の照明ユニットにより構成されていてもよい。たとえば、市場にはワーク2を撮影するために使用される照明ユニットが存在しているが、これらはフォトメトリックステレオ用に開発されたものではない。ただし、このような照明ユニットを複数個用意するとともに、これらを制御する照明コントローラを接続することで、照明装置3を構成してもよい。照明コントローラ802は、画像処理装置5からの制御コマンドに応じて光源群801の点灯タイミングや照明パターン(点灯パターン)を制御する。照明コントローラ802は照明装置3に内蔵されているものとして説明するが、カメラ4に内蔵されていてもよいし、画像処理装置5に内蔵されていてもよいし、これらからは独立した筐体に収容されていてもよい。
検査システムには検査ツールを設定する設定モードと、設定された検査ツールにしたがってワーク2の外観検査を実行する検査モード(運転モード)とを有しいている。ここでは設定モードの一例について説明する。
図20は検査モードを示すフローチャートである。入力部6を通じて検査モードの開始が指示されると、プロセッサ810が動作モードを検査モードに移行させる。
図21は検査フローを設定するUI2100の一例を示している。UI管理部814はUI2100を表示部7に表示させ、検査フローのスタートからエンドまでの間に実行される複数の工程を入力部6から入力される指示にしたがって設定して行く。この例では、撮像工程、パターンサーチ工程、位置補正工程および傷検査工程が検査フローに追加されている。たとえば、入力部6を通じて検査フローのエンドが指定されると、UI管理部814はエンドにおいて検査履歴を蓄積するように設定してもよい。検査履歴とは、検査結果や検査に使用された画像などである。
図27はテクスチャの映り込みによって発生した形状誤差(偽形状)の一例を示す図である。上述したようにワークの表面に印刷された文字や模様などのテクスチャが形状画像に形状となって表れてしまうことがある。形状画像2703は8つの輝度画像2700から生成された形状画像である。8つの輝度画像2700にはそれぞれ短冊状のワーク2701とその表面に印刷された文字2702が写っている。このように印刷された文字2702は平面的であり、本来は3次元形状を構成しない。しかしながら、形状画像2703には文字2702が凹凸形状として表れてしまっている。また、形状画像2713は8つの輝度画像2710から生成された形状画像である。8つの輝度画像2710には円形の平面的なワーク2711とその表面に印刷された格子模様2712が写っている。このように印刷された格子模様2712は平面的であり、本来は凹凸形状を構成しない。しかしながら、形状画像2713には格子模様2712が凹凸形状として表れてしまっている。図27が示すように模様の縁部など反射率が大きく変化する場所がエッジとなって形状画像に表れやすい。
図28では重みを計算する際に、エッジの方向に着目して、X方向のエッジとY方向のエッジとのそれぞれに分離してエッジの検出と重みの算出とを実行している。その理由について図29(A)ないし図29(C)を用いて説明する。
図28では傾き画像やテクスチャ画像から縮小画像を生成するものとして説明したが、これらは本発明にとって必須ではない。ただし、縮小画像を用いることで処理時間を大幅に削減できる。
たとえば、x方向においてi番目の画素についてエッジを求めることを考える。単純な方法では、注目画素であるi番目の画素のエッジ強度は、注目画素の左隣に位置するi−1番目の画素値と注目画素の右隣に位置するi+1番目の画素値との差分である。つまり、X方向形状重み演算部2823は、注目画素の右隣りに位置する画素の画素値と左隣りに位置する画素の画素値との差分を当該注目画素のエッジ強度として算出するエッジ強度算出手段を有している。なお、Y方向形状重み演算部2824は、それぞれ注目画素の上隣りに位置する画素の画素値と下隣りに位置する画素の画素値との差分を当該注目画素のエッジ強度として算出するエッジ強度算出手段を有している。
軽減処理の効果についてはユーザが調整できるようにしてもよい。たとえば、UI管理部814は、軽減処理の効果を複数のレベルからユーザに選択させるためのUIを表示部7に表示させ、入力部6を通じてレベルの選択を受け付けてもよい。たとえば、スライダーバーによって効果のレベルを変更できるようにしてもよいし、テキストボックスにレベルを入力できるようにしてもよい。フォトメトリック処理部811は、ユーザにより指定されたレベルに応じて重みを調整する。たとえば、重みにレベルを乗算することが一例として考えられる。重みづけ合成部2804は、レベル調整された重みを用いて合成処理を実行することで、選択されたレベルにしたがって軽減処理の効果を制御できるようになる。このよう重みを調整することでユーザは軽減処理の効果を確認しつつ、形状誤差を削減できるようになろう。フォトメトリック処理部811は、調整された重みを用いて生成された形状画像を表示部7にプレビュー表示してもよい。
本実施例によれば、カメラ4は輝度画像生成手段として機能し、検査対象物をフォトメトリックステレオ法により撮像して複数の輝度画像を生成する。フォトメトリック処理部811が複数の輝度画像においてそれぞれ座標が一致している複数の画素の画素値を用いて検査対象物の表面の法線ベクトルと反射率とを算出する算出手段として機能する。また、フォトメトリック処理部811が検査対象物の表面の法線ベクトルに基づき当該表面の形状に応じた複数の画素値を有する形状画像を生成する形状画像生成手段として機能するとともに、検査対象物の表面の反射率に応じた複数の画素値を有する反射率画像を生成する反射率画像生成手段として機能する。図28などを用いて説明したように、X方向形状重み演算部2823やY方向形状重み演算部2824は、形状画像に含まれているテクスチャの映り込みまたは鏡面反射光を示すテクスチャ情報を反射率画像から抽出する。たとえば、反射率画像からエッジを検出してそのエッジ強度が求められる。重みづけ合成部2804は抽出されたテクスチャ情報に基づき、テクスチャの映り込みまたは鏡面反射光に起因した偽形状の軽減処理を実行する。判定部840は軽減処理を施された形状画像を用いて検査対象物の良否を判定する。このようにテクスチャの映り込みまたは鏡面反射光に起因した偽形状が形状画像から軽減されるため、形状誤差が小さくなる。
Claims (12)
- 検査対象物をフォトメトリックステレオ法により撮像して複数の輝度画像を生成する輝度画像生成手段と、
前記複数の輝度画像においてそれぞれ座標が一致している複数の画素の画素値を用いて前記検査対象物の表面の法線ベクトルと反射率とを算出し、前記検査対象物の表面の法線ベクトルに基づき、当該表面の形状に応じた複数の画素値を有する形状画像を生成するとともに、前記検査対象物の表面の反射率に応じた複数の画素値を有する反射率画像を生成する生成手段と、
前記反射率画像に基づき前記形状画像に含まれているテクスチャの映り込みまたは鏡面反射光を示すテクスチャ情報を抽出する抽出手段と、
前記抽出手段により抽出された前記テクスチャ情報に基づき、テクスチャの映り込みまたは鏡面反射光に起因した偽形状の軽減処理を実行する軽減処理手段と、
前記軽減処理を施された形状画像を用いて前記検査対象物の良否を判定する判定手段と
を有することを特徴とする検査装置。 - 前記軽減処理手段は、前記テクスチャ情報に基づき前記反射率画像において注目領域内のテクスチャのエッジ強度が高くなるに応じて、前記形状画像の当該注目領域内のコントラストを低下させることでテクスチャの映り込みを軽減することを特徴とする請求項1に記載の検査装置。
- 前記生成手段は、前記法線ベクトルのX方向の傾き成分を画素値としたX方向傾き画像と前記法線ベクトルのY方向の傾き成分を画素値としたY方向傾き画像とを生成し、
前記抽出手段は、前記テクスチャ情報として、前記反射率画像から前記X方向におけるテクスチャのエッジ強度と、前記反射率画像からY方向におけるテクスチャのエッジ強度を求め、
前記軽減処理手段は、前記X方向におけるテクスチャのエッジ強度に応じて前記X方向傾き画像のコントラストを低下させるとともに、前記Y方向におけるテクスチャのエッジ強度に応じて前記Y方向傾き画像のコントラストを低下させ、
前記生成手段は、前記軽減処理を施された前記X方向傾き画像と前記Y方向傾き画像とを合成して前記形状画像を生成することを特徴とする請求項2に記載の検査装置。 - 前記抽出手段は、前記X方向傾き画像の各画素に対する重みを前記X方向におけるテクスチャのエッジ強度に応じて決定するとともに、前記Y方向傾き画像の各画素に対する重みを前記Y方向におけるテクスチャのエッジ強度に応じて決定し、
前記軽減処理手段は、前記テクスチャ情報として前記抽出手段から重みを取得し、前記X方向傾き画像の各画素にそれぞれ対応する重みを乗算するとともに前記Y方向傾き画像の各画素にそれぞれ対応する重みを乗算して合成することで検査用の形状画像を生成することを特徴とする請求項3に記載の検査装置。 - 前記生成手段は、前記X方向傾き画像と前記Y方向傾き画像とについて複数レベルの縮小画像を生成し、前記複数レベルの縮小画像のそれぞれについて前記軽減処理を適用し、さらに積み上げ計算を実行することで前記検査用の形状画像を生成することを請求項4に記載の検査装置。
- 前記抽出手段は、注目画素の近傍に位置する少なくとも2つの画素の階調値の差分または重み付き和を、当該注目画素のエッジ強度として算出するエッジ強度算出手段を有することを特徴とする請求項2ないし5のいずれか1項に記載の検査装置。
- 前記抽出手段は、注目画素の近傍に位置する少なくとも2つの画素の階調値を除積算した値を、当該注目画素のエッジ強度として算出するエッジ強度算出手段を有することを特徴とする請求項2ないし5のいずれか1項に記載の検査装置。
- 前記抽出手段は、注目画素の近傍に位置する少なくとも2つの画素の階調値の対数変換後の値の差分または重み付き和を、当該注目画素のエッジ強度として算出するエッジ強度算出手段を有することを特徴とする請求項2ないし5のいずれか1項に記載の検査装置。
- 前記軽減処理の効果を複数のレベルからユーザに選択させる選択手段をさらに有し、
前記軽減処理手段は選択されたレベルにしたがって前記軽減処理の効果を制御することを特徴とする請求項1ないし8のいずれか1項に記載の検査装置。 - 前記生成手段は特徴サイズの異なる複数の形状画像を生成し、
前記軽減処理手段は前記特徴サイズの異なる複数の形状画像のそれぞれに前記軽減処理を実行することを特徴とする請求項1ないし9のいずれか1項に記載の検査装置。 - 検査対象物をフォトメトリックステレオ法により撮像して複数の輝度画像を生成する輝度画像生成工程と、
前記複数の輝度画像においてそれぞれ座標が一致している複数の画素の画素値を用いて前記検査対象物の表面の法線ベクトルと反射率とを算出し、前記検査対象物の表面の法線ベクトルに基づき、当該表面の形状に応じた複数の画素値を有する形状画像を生成するとともに、前記検査対象物の表面の反射率に応じた複数の画素値を有する反射率画像を生成する生成工程と、
前記反射率画像に基づき前記形状画像に含まれているテクスチャの映り込みまたは鏡面反射光を示すテクスチャ情報を抽出する抽出工程と、
前記抽出工程により抽出された前記テクスチャ情報に基づき、テクスチャの映り込みまたは鏡面反射光に起因した偽形状の軽減処理を実行する軽減処理工程と、
前記軽減処理を施された形状画像を用いて前記検査対象物の良否を判定する判定工程と
を有することを特徴とする検査方法。 - 検査対象物をフォトメトリックステレオ法により撮像して複数の輝度画像を生成する輝度画像生成手段と、
前記複数の輝度画像においてそれぞれ座標が一致している複数の画素の画素値を用いて前記検査対象物の表面の法線ベクトルと反射率とを算出し、前記検査対象物の表面の法線ベクトルに基づき、当該表面の形状に応じた複数の画素値を有する形状画像を生成するとともに、前記検査対象物の表面の反射率に応じた複数の画素値を有する反射率画像を生成する生成手段と、
前記反射率画像に基づき前記形状画像に含まれているテクスチャの映り込みまたは鏡面反射光を示すテクスチャ情報を抽出する抽出手段と、
前記抽出手段により抽出された前記テクスチャ情報に基づき、テクスチャの映り込みまたは鏡面反射光に起因した偽形状の軽減処理を実行する軽減処理手段と、
前記軽減処理を施された形状画像を用いて前記検査対象物の良否を判定する判定手段としてコンピュータを機能させることを特徴とするプログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014119104A JP6278842B2 (ja) | 2014-06-09 | 2014-06-09 | 検査装置、検査方法およびプログラム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014119104A JP6278842B2 (ja) | 2014-06-09 | 2014-06-09 | 検査装置、検査方法およびプログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015232481A JP2015232481A (ja) | 2015-12-24 |
JP6278842B2 true JP6278842B2 (ja) | 2018-02-14 |
Family
ID=54934012
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014119104A Active JP6278842B2 (ja) | 2014-06-09 | 2014-06-09 | 検査装置、検査方法およびプログラム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6278842B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109767234B (zh) * | 2017-11-01 | 2024-03-29 | 杭州沃朴物联科技有限公司 | 一种基于纹理图像特征和随机金葱粉的防伪系统 |
JP7222796B2 (ja) | 2019-04-05 | 2023-02-15 | 株式会社キーエンス | 画像検査システム及び画像検査方法 |
JP7231461B2 (ja) * | 2019-04-05 | 2023-03-01 | 株式会社キーエンス | 画像検査システム及び画像検査方法 |
JP7231462B2 (ja) * | 2019-04-05 | 2023-03-01 | 株式会社キーエンス | 画像検査システム及び画像検査方法 |
JP7306858B2 (ja) * | 2019-04-05 | 2023-07-11 | 株式会社キーエンス | 画像検査システム及び画像検査方法 |
JP7222795B2 (ja) * | 2019-04-05 | 2023-02-15 | 株式会社キーエンス | 画像検査システム及び画像検査方法 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000315257A (ja) * | 1999-04-30 | 2000-11-14 | Shiseido Co Ltd | 皮膚状態の三次元画像生成方法 |
JP2002213931A (ja) * | 2001-01-17 | 2002-07-31 | Fuji Xerox Co Ltd | 3次元形状計測装置および3次元形状計測方法 |
JP2004279187A (ja) * | 2003-03-14 | 2004-10-07 | Mitsubishi Electric Corp | 形状計測方法 |
JP2006133055A (ja) * | 2004-11-05 | 2006-05-25 | Seiko Epson Corp | ムラ欠陥検出方法及び装置、空間フィルタ、ムラ欠陥検査システム並びにムラ欠陥検出方法のプログラム |
JP2007206797A (ja) * | 2006-01-31 | 2007-08-16 | Omron Corp | 画像処理方法および画像処理装置 |
TW201017578A (en) * | 2008-10-29 | 2010-05-01 | Chunghwa Picture Tubes Ltd | Method for rebuilding 3D surface model |
-
2014
- 2014-06-09 JP JP2014119104A patent/JP6278842B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2015232481A (ja) | 2015-12-24 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20170301 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
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|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20180116 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |