JP6264470B2 - 原子吸光光度計及び原子吸光測定方法 - Google Patents

Description

本発明は、試料を原子化させることにより原子蒸気を発生させ、その原子蒸気中に測定光を照射することにより原子吸光を測定するための原子吸光光度計及び原子吸光測定方法に関するものである。

原子吸光光度計には、試料を原子化するための原子化部が備えられている。原子化部では、試料が原子化されることにより原子蒸気が発生し、この原子蒸気中に光源から測定光が照射される。上記光源としては、例えばホロカソードランプ（ＨＣＬ）などのように、輝線スペクトルを照射する光源が用いられる。このような光源から原子蒸気中に測定光を照射した場合には、原子蒸気中で特定波長の光が吸収されるため、その吸光度を測定することにより、試料の分析を行うことができる。

原子吸光光度計を用いた試料の分析の際には、例えば試料中に多量の塩類などの混合物が混合している場合に、それらの混合物が高温でも完全に解離せず、光源からの測定光に対して吸収を生じることがある。このように、目的とする元素による吸収以外の要因で吸収が生じる場合があり、このような吸収はバックグラウンド吸収と呼ばれている（例えば、下記特許文献１参照）。

バックグラウンド吸収が生じた場合には、目的とする元素の原子吸光による吸光度に、バックグラウンド吸収による吸光度が加算されてしまうため、正確な吸光度を求めることが難しくなる。そこで、バックグラウンド吸収による影響を除去するために、Ｄ２ランプ法、ゼーマン法及び自己反転法（ＳＲ法）などを用いたバックグラウンド補正が行われている。

Ｄ２ランプ法では、原子化部において発生した原子蒸気中に、例えばＤ２ランプ（重水素ランプ）を用いてバックグラウンド測定用の測定光を照射することにより、バックグラウンド補正が行われる。すなわち、Ｄ２ランプ法を用いてバックグラウンド補正を行う場合には、例えば輝線スペクトルを照射する光源とは別に、連続スペクトルを照射する光源が用いられ、それぞれの光源から原子蒸気中に測定光を照射することにより得られるスペクトルを用いて演算を行うことにより、バックグラウンド補正が行われる。

ゼーマン法では、例えば電磁石などの磁場発生部から原子化部に磁場を発生させることにより、バックグラウンド補正が行われる。すなわち、ゼーマン法を用いてバックグラウンド補正を行う場合には、例えば輝線スペクトルを照射する光源から原子蒸気中に測定光を照射する際に、磁場発生部の動作を切り替え、そのとき得られたスペクトルを用いて演算を行うことにより、バックグラウンド補正が行われる。

自己反転法では、原子化部において発生した原子蒸気中に、例えば過電流で測定光を照射させることにより、バックグラウンド補正が行われる。すなわち、自己反転法を用いてバックグラウンド補正を行う場合には、例えば輝線スペクトルを照射する光源から原子蒸気中に測定光を照射する際に、一定の短時間だけ過電流で測定光を照射し、そのとき得られたスペクトルを用いて演算を行うことにより、バックグラウンド補正が行われる。

特開２００２−１９５９４６号公報

上記のようなバックグラウンド補正の各方法には、それぞれに特有の長所や短所があるため、同じ試料に対する分析を行う場合であっても、各方法によって異なる測定結果が得られたり、異なる測定条件となったりする場合がある。

例えば、Ｄ２ランプ法を用いてバックグラウンド補正を行った場合には、目的とする元素と非常に近い波長に他の元素の吸収線がある場合に、その吸収線がバックグラウンドと判断されずにバックグラウンド補正が不正確となるおそれがある。そのような観点では、ゼーマン法や自己反転法の方が、バックグラウンド補正を正確に行うことが可能であるが、補正の感度（Ｓ／Ｎ比）や精度を考慮すると、Ｄ２ランプ法の方が好ましい場合もある。一方、ゼーマン法は、測定可能な波長範囲が広いという長所がある。また、消費電力を低減したい場合には、自己反転法を用いてバックグラウンド補正を行うことが好ましい。

このように、いずれの方法でバックグラウンド補正を行うかによって、測定結果や測定条件、その他の動作態様が異なるため、最適な方法を選択して試料の分析を行う必要がある。そのため、従来は、作業者が上記のような各種方法でバックグラウンド補正を行い、測定結果などを比較検討することにより最適な方法を選択していた。しかしながら、複数種類の方法でバックグラウンド補正を繰り返し行う作業は煩雑であり、時間がかかるとともに、試料の消費量も多くなるという問題があった。

本発明は、上記実情に鑑みてなされたものであり、試料の消費量を抑制しつつ、複数種類の方法を用いたバックグラウンド補正を短時間で容易に行うことができる原子吸光光度計及び原子吸光測定方法を提供することを目的とする。

本発明に係る原子吸光光度計は、原子化部と、第１光源と、第２光源と、磁場発生部と、検出器と、測定データ取得処理部と、第１バックグラウンド補正処理部と、第２バックグラウンド補正処理部と、第３バックグラウンド補正処理部とを備える。前記原子化部は、試料を原子化させることにより原子蒸気を発生させる。前記第１光源は、前記原子化部において発生した原子蒸気中に原子吸収測定用の測定光を照射する。前記第２光源は、前記原子化部において発生した原子蒸気中にバックグラウンド測定用の測定光を照射する。前記磁場発生部は、前記原子化部に磁場を発生させる。前記検出器は、前記原子化部を通過した光を検出することにより測定データを取得する。

前記測定データ取得処理部は、原子吸収測定期間、第１バックグラウンド測定期間、第２バックグラウンド測定期間、及び、第３バックグラウンド測定期間を含むデータ取得サイクルで、各測定期間における測定データを取得する。前記原子吸収測定期間においては、前記磁場発生部から磁場を発生させていない状態で前記第１光源から測定光を照射させる。前記第１バックグラウンド測定期間においては、前記磁場発生部から磁場を発生させていない状態で前記第２光源から測定光を照射させる。前記第２バックグラウンド測定期間においては、前記磁場発生部から磁場を発生させた状態で前記第１光源から測定光を照射させる。前記第３バックグラウンド測定期間においては、前記磁場発生部から磁場を発生させていない状態で前記第１光源から過電流で測定光を照射させる。

前記第１バックグラウンド補正処理部は、前記第１バックグラウンド測定期間に得られた測定データに基づいて、前記原子吸収測定期間に得られた測定データをＤ２ランプ法により補正する。前記第２バックグラウンド補正処理部は、前記第２バックグラウンド測定期間に得られた測定データに基づいて、前記原子吸収測定期間に得られた測定データをゼーマン法により補正する。前記第３バックグラウンド補正処理部は、前記第３バックグラウンド測定期間に得られた測定データに基づいて、前記原子吸光測定期間に得られた測定データを自己反転法により補正する。

このような構成によれば、１つのデータ取得サイクルで得られた各測定期間における測定データに基づいて、Ｄ２ランプ法、ゼーマン法及び自己反転法の各方法でバックグラウンド補正が行われる。すなわち、原子吸収測定期間に得られた共通の測定データ（原子吸収データ）に対して、第１〜第３バックグラウンド測定期間に得られた各測定データ（バックグラウンドデータ）を用いてバックグラウンド補正が行われる。したがって、複数種類の方法ごとに原子吸収データ及びバックグラウンドデータを取得するような構成と比較して、試料の消費量を抑制しつつ、複数種類の方法を用いたバックグラウンド補正を短時間で容易に行うことができる。

前記測定データ取得処理部は、原子吸収測定期間、第１バックグラウンド測定期間、及び、第２バックグラウンド測定期間のみを含むデータ取得サイクルで、各測定期間における測定データを取得してもよい。この場合、前記原子吸光光度計は、前記第３バックグラウンド補正処理部を備えていなくてもよい。

このような構成によれば、１つのデータ取得サイクルで得られた各測定期間における測定データに基づいて、Ｄ２ランプ法及びゼーマン法の各方法でバックグラウンド補正が行われる。すなわち、原子吸収測定期間に得られた共通の測定データ（原子吸収データ）に対して、第１及び第２バックグラウンド測定期間に得られた各測定データ（バックグラウンドデータ）を用いてバックグラウンド補正が行われる。したがって、複数種類の方法ごとに原子吸収データ及びバックグラウンドデータを取得するような構成と比較して、試料の消費量を抑制しつつ、複数種類の方法を用いたバックグラウンド補正を短時間で容易に行うことができる。

前記測定データ取得処理部は、原子吸収測定期間、第２バックグラウンド測定期間、及び、第３バックグラウンド測定期間のみを含むデータ取得サイクルで、各測定期間における測定データを取得してもよい。この場合、前記原子吸光光度計は、前記第１バックグラウンド補正処理部を備えていなくてもよい。

このような構成によれば、１つのデータ取得サイクルで得られた各測定期間における測定データに基づいて、ゼーマン法及び自己反転法の各方法でバックグラウンド補正が行われる。すなわち、原子吸収測定期間に得られた共通の測定データ（原子吸収データ）に対して、第２及び第３バックグラウンド測定期間に得られた各測定データ（バックグラウンドデータ）を用いてバックグラウンド補正が行われる。したがって、複数種類の方法ごとに原子吸収データ及びバックグラウンドデータを取得するような構成と比較して、試料の消費量を抑制しつつ、複数種類の方法を用いたバックグラウンド補正を短時間で容易に行うことができる。

前記測定データ取得処理部は、原子吸収測定期間、第１バックグラウンド測定期間、及び、第３バックグラウンド測定期間のみを含むデータ取得サイクルで、各測定期間における測定データを取得してもよい。この場合、前記原子吸光光度計は、前記第２バックグラウンド補正処理部を備えていなくてもよい。

このような構成によれば、１つのデータ取得サイクルで得られた各測定期間における測定データに基づいて、Ｄ２ランプ法及び自己反転法の各方法でバックグラウンド補正が行われる。すなわち、原子吸収測定期間に得られた共通の測定データ（原子吸収データ）に対して、第１及び第３バックグラウンド測定期間に得られた各測定データ（バックグラウンドデータ）を用いてバックグラウンド補正が行われる。したがって、複数種類の方法ごとに原子吸収データ及びバックグラウンドデータを取得するような構成と比較して、試料の消費量を抑制しつつ、複数種類の方法を用いたバックグラウンド補正を短時間で容易に行うことができる。

本発明に係る原子吸光測定方法は、試料を原子化させることにより原子蒸気を発生させる原子化部と、前記原子化部において発生した原子蒸気中に原子吸収測定用の測定光を照射する第１光源と、前記原子化部において発生した原子蒸気中にバックグラウンド測定用の測定光を照射する第２光源と、前記原子化部に磁場を発生させる磁場発生部と、前記原子化部を通過した光を検出することにより測定データを取得する検出器とを備えた原子吸光光度計を用いて、原子吸光を測定するための原子吸光測定方法であって、測定データ取得ステップと、第１バックグラウンド補正ステップと、第２バックグラウンド補正ステップと、第３バックグラウンド補正ステップとを含む。

前記測定データ取得ステップでは、原子吸収測定期間、第１バックグラウンド測定期間、第２バックグラウンド測定期間、及び、第３バックグラウンド測定期間を含むデータ取得サイクルで、各測定期間における測定データを取得する。前記原子吸収測定期間においては、前記磁場発生部から磁場を発生させていない状態で前記第１光源から測定光を照射させる。前記第１バックグラウンド測定期間においては、前記磁場発生部から磁場を発生させていない状態で前記第２光源から測定光を照射させる。前記第２バックグラウンド測定期間においては、前記磁場発生部から磁場を発生させた状態で前記第１光源から測定光を照射させる。前記第３バックグラウンド測定期間においては、前記磁場発生部から磁場を発生させていない状態で前記第１光源から過電流で測定光を照射させる。

前記第１バックグラウンド補正ステップでは、前記第１バックグラウンド測定期間に得られた測定データに基づいて、前記原子吸収測定期間に得られた測定データをＤ２ランプ法により補正する。前記第２バックグラウンド補正ステップでは、前記第２バックグラウンド測定期間に得られた測定データに基づいて、前記原子吸収測定期間に得られた測定データをゼーマン法により補正する。前記第３バックグラウンド補正ステップでは、前記第３バックグラウンド測定期間に得られた測定データに基づいて、前記原子吸光測定期間に得られた測定データを自己反転法により補正する。

前記測定データ取得ステップでは、原子吸収測定期間、第１バックグラウンド測定期間、及び、第２バックグラウンド測定期間のみを含むデータ取得サイクルで、各測定期間における測定データを取得してもよい。この場合、前記原子吸光測定方法は、前記第３バックグラウンド補正ステップを含んでいなくてもよい。

前記測定データ取得ステップでは、原子吸収測定期間、第２バックグラウンド測定期間、及び、第３バックグラウンド測定期間のみを含むデータ取得サイクルで、各測定期間における測定データを取得してもよい。この場合、前記原子吸光測定方法は、前記第１バックグラウンド補正ステップを含んでいなくてもよい。

前記測定データ取得ステップでは、原子吸収測定期間、第１バックグラウンド測定期間、及び、第３バックグラウンド測定期間のみを含むデータ取得サイクルで、各測定期間における測定データを取得してもよい。この場合、前記原子吸光測定方法は、前記第２バックグラウンド補正ステップを含んでいなくてもよい。

本発明によれば、複数種類の方法ごとに原子吸収データ及びバックグラウンドデータを取得するような構成と比較して、試料の消費量を抑制しつつ、複数種類の方法を用いたバックグラウンド補正を短時間で容易に行うことができる。

本発明の第１実施形態に係る原子吸光光度計の構成例を示した図である。 Ｄ２ランプ法によりバックグラウンド補正を行う際の態様について説明するためのタイミングチャートである。 ゼーマン法によりバックグラウンド補正を行う際の態様について説明するためのタイミングチャートである。 自己反転法によりバックグラウンド補正を行う際の態様について説明するためのタイミングチャートである。 Ｄ２ランプ法、ゼーマン法及び自己反転法によるバックグラウンド補正を一度に行う際の態様について説明するためのタイミングチャートである。 本発明の第２実施形態に係る原子吸光光度計の構成例を示した図である。 第２実施形態におけるバックグラウンド補正の態様について説明するためのタイミングチャートである。 本発明の第３実施形態に係る原子吸光光度計の構成例を示した図である。 第３実施形態におけるバックグラウンド補正の態様について説明するためのタイミングチャートである。 本発明の第４実施形態に係る原子吸光光度計の構成例を示した図である。 第４実施形態におけるバックグラウンド補正の態様について説明するためのタイミングチャートである。

＜第１実施形態＞
図１は、本発明の第１実施形態に係る原子吸光光度計の構成例を示した図である。この原子吸光光度計は、いわゆるファーネス式の原子吸光光度計であり、グラファイトチューブ２ａ内で試料を加熱して原子化することにより、原子蒸気を発生させ、その原子蒸気中に測定光を通過させて試料の吸光度を測定するものである。

この原子吸光光度計には、光源部１、原子化部２、磁場発生部３、分光器４、光電子増倍管５、増幅器６、ローパスフィルタ（ＬＰＦ）７、同期回路８、Ａ／Ｄ変換器９、制御部１０、光源駆動部１１、操作部１２、表示部１３及びメモリ１４などが備えられている。

光源部１には、ホロカソードランプ（ＨＣＬ）１ａ、重水素ランプ（Ｄ２Ｌ）１ｂ及びハーフミラー１ｃが備えられている。ホロカソードランプ１ａは、輝線スペクトルを含む測定光を照射する第１光源である。一方、重水素ランプ１ｂは、連続スペクトルを含む測定光を照射する第２光源である。ホロカソードランプ１ａ及び重水素ランプ１ｂからそれぞれ照射される測定光は、ハーフミラー１ｃを介して原子化部２のグラファイトチューブ２ａ内に入射する。

グラファイトチューブ２ａ内には、試料注入口（図示せず）から試料溶液が注入され、大電流が流れるグラファイトチューブ２ａによって試料溶液が加熱される。これにより、試料が原子化され、グラファイトチューブ２ａ内に原子蒸気が発生する。ホロカソードランプ１ａ及び重水素ランプ１ｂからの測定光は、グラファイトチューブ２ａ内に発生した原子蒸気中に照射される。このとき、ホロカソードランプ１ａからの測定光は、グラファイトチューブ２ａ内の原子蒸気中を通過する過程で、試料に含まれる元素特有の波長の光が強く吸収される。

原子化部２を通過した光は、分光器４に入射する。分光器４には、例えば回折格子が備えられており、当該回折格子において分光された光が光電子増倍管５に入射する。光電子増倍管５は、原子化部２を通過した光を検出することにより測定データを取得するための検出器の一例であり、受光強度に応じた信号を測定データとして出力する。

ホロカソードランプ１ａ及び重水素ランプ１ｂは、光源駆動部１１を介した制御部１０の制御により、パルス点灯するようになっている。ホロカソードランプ１ａ及び重水素ランプ１ｂからの測定光は、原子化部２及び分光器４を介して光電子増倍管５により検出され、光電子増倍管５から時分割多重（ＴＤＭ）された信号が出力されるようになっている。

光電子増倍管５からの出力信号は、増幅器６により増幅された後、ローパスフィルタ７において高周波ノイズが除去され、同期回路８に入力される。同期回路８では、ホロカソードランプ１ａからの測定光に基づく光電子増倍管５の出力信号と、重水素ランプ１ｂからの測定光に基づく光電子増倍管５の出力信号とが分離され、それらの出力信号がＡ／Ｄ変換器９においてデジタル信号に変換されて制御部１０に入力される。

ホロカソードランプ１ａからの測定光は、原子吸収測定用の測定光である。すなわち、ホロカソードランプ１ａからの測定光に基づく光電子増倍管５の出力信号は、目的とする元素による吸収（原子吸収）、及び、原子吸収以外の吸収（バックグラウンド吸収）の影響を受けた測定データとなる。一方、重水素ランプ１ｂからの測定光は、バックグラウンド測定用の測定光であり、重水素ランプ１ｂからの測定光に基づく光電子増倍管５の出力信号は、原子吸光の影響が無視できる程度に小さくなるため、バックグラウンド吸収の影響のみを受けた測定データと同一視できる。

したがって、重水素ランプ１ｂから測定光を照射させることにより得られた測定データ（第１バックグラウンドデータ）に基づいて、ホロカソードランプ１ａから測定光を照射させることにより得られた測定データ（原子吸収データ）を補正することによって、目的とする元素の原子吸収による吸光度を求めることができる。このようなバックグラウンド補正の方法は、Ｄ２ランプ法と呼ばれている。

本実施形態では、上記のようなＤ２ランプ法以外に、ゼーマン法や自己反転法といった他の方法でもバックグラウンド補正を行うことができる。磁場発生部３は、原子化部２に磁場を発生させるためのものであり、ゼーマン法でバックグラウンド補正を行う際に用いられる。この例では、測定光の光軸に沿ってグラファイトチューブ２ａを挟むように配置された１対のコイルにより、磁場発生部３が構成されている。これらのコイルに電流を流すことにより、測定光の光軸に対して平行方向に磁場を発生させることができる。

磁場発生部３から磁場を発生させていない状態でホロカソードランプ１ａから測定光を照射させた場合には、上述の通り、原子吸収及びバックグラウンド吸収の影響を受けた測定データが得られる。一方、磁場発生部３から磁場を発生させた状態でホロカソードランプ１ａから測定光を照射させた場合に得られる測定データは、原子吸光の影響が無視できる程度に小さくなるため、バックグラウンド吸収の影響のみを受けた測定データと同一視できる。

したがって、ゼーマン法では、磁場発生部３から磁場を発生させた状態でホロカソードランプ１ａから測定光を照射させることにより得られた測定データ（第２バックグラウンドデータ）に基づいて、磁場発生部３から磁場を発生させていない状態でホロカソードランプ１ａから測定光を照射させることにより得られた測定データ（原子吸収データ）を補正することによって、目的とする元素の原子吸収による吸光度を求めることができる。

自己反転法（自己吸収法）では、磁場発生部３から磁場を発生させていない状態でホロカソードランプ１ａから過電流で測定光を照射させることによって、バックグラウンド測定による測定データを取得する。例えば、１００〜６００ｍＡ程度の過電流で短時間だけホロカソードランプ１ａから測定光を照射させることにより得られる測定データは、原子吸光の影響が無視できる程度に小さくなるため、バックグラウンド吸収の影響のみを受けた測定データと同一視できる。

したがって、自己反転法では、ホロカソードランプ１ａから過電流で測定光を照射させることにより得られた測定データ（第３バックグラウンドデータ）に基づいて、ホロカソードランプ１ａから通常電流（例えば３０ｍＡ未満）で測定光を照射させることにより得られた測定データ（原子吸収データ）を補正することによって、目的とする元素の原子吸収による吸光度を求めることができる。

制御部１０は、例えばＣＰＵ（Central Processing Unit）を含む構成であり、当該原子吸光光度計に備えられた各部の動作を制御する。原子化部２、磁場発生部３、増幅器６、ローパスフィルタ７、同期回路８、Ａ／Ｄ変換器９、光源駆動部１１、操作部１２、表示部１３及びメモリ１４などは、制御部１０に対して電気的に接続されている。

操作部１２は、例えばキーボード又はマウスを含む構成であり、作業者が操作部１２を操作することにより入力作業を行うことができる。表示部１３は、例えば液晶表示器などにより構成されており、制御部１０による処理の結果などを表示画面に表示させることができる。メモリ１４は、例えばＲＡＭ（Random Access Memory）又はハードディスクなどにより構成されている。

制御部１０は、ＣＰＵがプログラムを実行することにより、測定データ取得処理部１００、第１バックグラウンド補正処理部１０１、第２バックグラウンド補正処理部１０２及び第３バックグラウンド補正処理部１０３などとして機能する。測定データ取得処理部１００は、上述の原子吸収データ、第１バックグラウンドデータ、第２バックグラウンドデータ及び第３バックグラウンドデータを測定データとして取得し、メモリ１４に記憶させる処理を行う。

第１バックグラウンド補正処理部１０１は、原子吸収データ及び第１バックグラウンドデータに基づいて、Ｄ２ランプ法によりバックグラウンド補正を行う。第２バックグラウンド補正処理部１０２は、原子吸収データ及び第２バックグラウンドデータに基づいて、ゼーマン法によりバックグラウンド補正を行う。第３バックグラウンド補正処理部１０３は、原子吸収データ及び第３バックグラウンドデータに基づいて、自己反転法によりバックグラウンド補正を行う。

図２は、Ｄ２ランプ法によりバックグラウンド補正を行う際の態様について説明するためのタイミングチャートである。Ｄ２ランプ法によりバックグラウンド補正を行う場合には、予め定められた態様でホロカソードランプ１ａ及び重水素ランプ１ｂの動作が制御されることにより、測定データ取得処理部１００が、一定のデータ取得サイクルで光電子増倍管５の出力信号を測定データとして取得する。

Ｄ２ランプ法によりバックグラウンド補正を行う際の上記データ取得サイクルには、磁場発生部３から磁場を発生させていない状態でホロカソードランプ１ａから測定光を照射させる原子吸収測定期間Ｔ１１と、磁場発生部３から磁場を発生させていない状態で重水素ランプ１ｂから測定光を照射させる第１バックグラウンド測定期間Ｔ１３と、それらの間に設けられたダーク期間Ｔ１２とが含まれる。ダーク期間Ｔ１２においては、ホロカソードランプ１ａ及び重水素ランプ１ｂが無点灯状態又は低出力での点灯状態とされる。これらの各期間Ｔ１１〜Ｔ１３に得られた測定データに基づいて演算を行うことにより、Ｄ２ランプ法によるバックグラウンド補正を行うことができる。

ここで、原子吸収測定期間Ｔ１１に得られる測定データは、原子吸収（ＡＡ）及びバックグラウンド吸収（ＢＧ（Ｄ））の影響を受けた測定データＨである。一方、第１バックグラウンド測定期間Ｔ１３に得られる測定データは、バックグラウンド吸収（ＢＧ（Ｄ））の影響のみを受けた測定データＤと同一視できる。これらの測定データＨ，Ｄと、ダーク期間Ｔ１２に得られる測定データΔとに基づいて、下記式（１）により吸光度を求めることができる。ただし、Ｆ（Ｘ）は測定データＸに対する吸光度算出の計算式を表す関数である。
吸光度＝Ｆ（Ｈ−Δ）−Ｆ（Ｄ−Δ） ・・・（１）

図３は、ゼーマン法によりバックグラウンド補正を行う際の態様について説明するためのタイミングチャートである。ゼーマン法によりバックグラウンド補正を行う場合には、予め定められた態様でホロカソードランプ１ａ及び磁場発生部３の動作が制御されることにより、測定データ取得処理部１００が、一定のデータ取得サイクルで光電子増倍管５の出力信号を測定データとして取得する。

ゼーマン法によりバックグラウンド補正を行う際の上記データ取得サイクルには、磁場発生部３から磁場を発生させていない状態でホロカソードランプ１ａから測定光を照射させる原子吸収測定期間Ｔ２１と、磁場発生部３から磁場を発生させた状態でホロカソードランプ１ａから測定光を照射させる第２バックグラウンド測定期間Ｔ２３と、それらの間に設けられたダーク期間Ｔ２２とが含まれる。ダーク期間Ｔ２２においては、ホロカソードランプ１ａが無点灯状態又は低出力での点灯状態とされる。これらの各期間Ｔ２１〜Ｔ２３に得られた測定データに基づいて演算を行うことにより、ゼーマン法によるバックグラウンド補正を行うことができる。

ここで、原子吸収測定期間Ｔ２１に得られる測定データは、原子吸収（ＡＡ）及びバックグラウンド吸収（ＢＧ（Ｚ））の影響を受けた測定データＨである。一方、第２バックグラウンド測定期間Ｔ２３に得られる測定データは、バックグラウンド吸収（ＢＧ（Ｚ））の影響のみを受けた測定データＺと同一視できる。これらの測定データＨ，Ｚと、ダーク期間Ｔ２２に得られる測定データΔとに基づいて、下記式（２）により吸光度を求めることができる。ただし、Ｆ（Ｘ）は測定データＸに対する吸光度算出の計算式を表す関数である。
吸光度＝Ｆ（Ｈ−Δ）−Ｆ（Ｚ−Δ） ・・・（２）

図４は、自己反転法によりバックグラウンド補正を行う際の態様について説明するためのタイミングチャートである。自己反転法によりバックグラウンド補正を行う場合には、予め定められた態様でホロカソードランプ１ａの動作が制御されることにより、測定データ取得処理部１００が、一定のデータ取得サイクルで光電子増倍管５の出力信号を測定データとして取得する。

自己反転法によりバックグラウンド補正を行う際の上記データ取得サイクルには、磁場発生部３から磁場を発生させていない状態でホロカソードランプ１ａから測定光を照射させる原子吸収測定期間Ｔ３１と、磁場発生部３から磁場を発生させていない状態でホロカソードランプ１ａから過電流で測定光を照射させる第３バックグラウンド測定期間Ｔ３２と、その後に設けられたダーク期間Ｔ３３とが含まれる。ダーク期間Ｔ３３においては、ホロカソードランプ１ａが無点灯状態又は低出力での点灯状態とされる。これらの各期間Ｔ３１〜Ｔ３３に得られた測定データに基づいて演算を行うことにより、自己反転法によるバックグラウンド補正を行うことができる。

ここで、原子吸収測定期間Ｔ３１に得られる測定データは、原子吸収（ＡＡ）及びバックグラウンド吸収（ＢＧ（Ｓ））の影響を受けた測定データＨである。一方、第３バックグラウンド測定期間Ｔ３２に得られる測定データは、バックグラウンド吸収（ＢＧ（Ｓ））の影響のみを受けた測定データＳと同一視できる。これらの測定データＨ，Ｓと、ダーク期間Ｔ３３に得られる測定データΔとに基づいて、下記式（３）により吸光度を求めることができる。ただし、Ｆ（Ｘ）は測定データＸに対する吸光度算出の計算式を表す関数である。
吸光度＝Ｆ（Ｈ−Δ）−Ｆ（Ｓ−Δ） ・・・（３）

図５は、Ｄ２ランプ法、ゼーマン法及び自己反転法によるバックグラウンド補正を一度に行う際の態様について説明するためのタイミングチャートである。本実施形態では、予め定められた態様でホロカソードランプ１ａ、重水素ランプ１ｂ及び磁場発生部３の動作を制御することにより、Ｄ２ランプ法、ゼーマン法及び自己反転法によるバックグラウンド補正を一度に行うことができる。このとき、測定データ取得処理部１００は、一定のデータ取得サイクルで光電子増倍管５の出力信号を測定データとして取得する（測定データ取得ステップ）。当該測定データ取得ステップは、作業者が操作部１２を用いて特定のモードを選択した場合にのみ行われるものであってもよいし、試料の測定時に毎回行われるものであってもよい。

Ｄ２ランプ法、ゼーマン法及び自己反転法によるバックグラウンド補正を一度に行う際の上記データ取得サイクルには、磁場発生部３から磁場を発生させていない状態でホロカソードランプ１ａから測定光を照射させる原子吸収測定期間Ｔ４１と、磁場発生部３から磁場を発生させていない状態で重水素ランプ１ｂから測定光を照射させる第１バックグラウンド測定期間Ｔ４４と、磁場発生部３から磁場を発生させた状態でホロカソードランプ１ａから測定光を照射させる第２バックグラウンド測定期間Ｔ４６と、磁場発生部３から磁場を発生させていない状態でホロカソードランプ１ａから過電流で測定光を照射させる第３バックグラウンド測定期間Ｔ４２と、それらの間に適宜設けられたダーク期間Ｔ４３，Ｔ４５とが含まれる。ダーク期間Ｔ４３，Ｔ４５においては、ホロカソードランプ１ａ及び重水素ランプ１ｂが無点灯状態又は低出力での点灯状態とされる。これらの各期間Ｔ４１〜Ｔ４６に得られた測定データに基づいて演算を行うことにより、Ｄ２ランプ法、ゼーマン法及び自己反転法によるバックグラウンド補正を行うことができる。

ここで、原子吸収測定期間Ｔ４１に得られる測定データは、原子吸収（ＡＡ）及びバックグラウンド吸収（ＢＧ）の影響を受けた測定データＨである。第１バックグラウンド測定期間Ｔ４４に得られる測定データは、バックグラウンド吸収（ＢＧ（Ｄ））の影響のみを受けた測定データＤと同一視できる。第２バックグラウンド測定期間Ｔ４６に得られる測定データは、バックグラウンド吸収（ＢＧ（Ｚ））の影響のみを受けた測定データＺと同一視できる。第３バックグラウンド測定期間Ｔ４２に得られる測定データは、バックグラウンド吸収（ＢＧ（Ｓ））の影響のみを受けた測定データＳと同一視できる。これらの測定データＨ，Ｄ，Ｚ，Ｓと、ダーク期間Ｔ４３又はＴ４５に得られる測定データΔとに基づいて、各方法によるバックグラウンド補正を用いた吸光度の演算を行うことができる。

Ｄ２ランプ法によるバックグラウンド補正は、原子吸収測定期間Ｔ４１に得られた測定データＨと、第１バックグラウンド測定期間Ｔ４４に得られた測定データＤとに基づいて、第１バックグラウンド補正処理部１０１の演算により行われる（第１バックグラウンド補正ステップ）。すなわち、第１バックグラウンド補正処理部１０１は、第１バックグラウンド測定期間Ｔ４４に得られた測定データＤに基づいて、原子吸収測定期間Ｔ４１に得られた測定データＨを上記式（１）により補正して、吸光度を算出する。

ゼーマン法によるバックグラウンド補正は、原子吸収測定期間Ｔ４１に得られた測定データＨと、第２バックグラウンド測定期間Ｔ４６に得られた測定データＺとに基づいて、第２バックグラウンド補正処理部１０２の演算により行われる（第２バックグラウンド補正ステップ）。すなわち、第２バックグラウンド補正処理部１０２は、第２バックグラウンド測定期間Ｔ４６に得られた測定データＺに基づいて、原子吸収測定期間Ｔ４１に得られた測定データＨを上記式（２）により補正して、吸光度を算出する。

自己反転法によるバックグラウンド補正は、原子吸収測定期間Ｔ４１に得られた測定データＨと、第３バックグラウンド測定期間Ｔ４２に得られた測定データＳとに基づいて、第３バックグラウンド補正処理部１０３の演算により行われる（第３バックグラウンド補正ステップ）。すなわち、第３バックグラウンド補正処理部１０３は、第３バックグラウンド測定期間Ｔ４２に得られた測定データＳに基づいて、原子吸収測定期間Ｔ４１に得られた測定データＨを上記式（３）により補正して、吸光度を算出する。

このように、本実施形態では、１つのデータ取得サイクルで得られた各測定期間Ｔ４１〜Ｔ４６における測定データに基づいて、Ｄ２ランプ法、ゼーマン法及び自己反転法の各方法でバックグラウンド補正が行われる。すなわち、原子吸収測定期間Ｔ４１に得られた共通の測定データＨ（原子吸収データ）に対して、第１〜第３バックグラウンド測定期間Ｔ４４，Ｔ４６，Ｔ４２に得られた各測定データＤ，Ｚ，Ｓ（バックグラウンドデータ）を用いてバックグラウンド補正が行われる。

これにより、図２〜図４のように、複数種類の方法ごとに原子吸収データ及びバックグラウンドデータを取得するような構成と比較して、試料の消費量を抑制しつつ、複数種類の方法を用いたバックグラウンド補正を短時間で容易に行うことができる。このようにして各方法でバックグラウンド補正が行われた測定結果は、例えば表示部１３に表示される。したがって、作業者は、表示部１３に表示された各測定結果を比較検討することによって最適な方法を測定後でも容易に選択することが可能になる。

＜第２実施形態＞
図６は、本発明の第２実施形態に係る原子吸光光度計の構成例を示した図である。また、図７は、第２実施形態におけるバックグラウンド補正の態様について説明するためのタイミングチャートである。本実施形態では、自己反転法によるバックグラウンド補正は行わず、Ｄ２ランプ法及びゼーマン法によるバックグラウンド補正のみを行うようになっている点が第１実施形態とは異なっている。そのため、制御部１０は、測定データ取得処理部１００、第１バックグラウンド補正処理部１０１及び第２バックグラウンド補正処理部１０２としては機能するが、第３バックグラウンド補正処理部１０３としては機能しないようになっている。

すなわち、本実施形態では、予め定められた態様でホロカソードランプ１ａ、重水素ランプ１ｂ及び磁場発生部３の動作を制御することにより、Ｄ２ランプ法及びゼーマン法によるバックグラウンド補正を一度に行うことができる。このとき、測定データ取得処理部１００は、一定のデータ取得サイクルで光電子増倍管５の出力信号を測定データとして取得する（測定データ取得ステップ）。当該測定データ取得ステップは、作業者が操作部１２を用いて特定のモードを選択した場合にのみ行われるものであってもよいし、試料の測定時に毎回行われるものであってもよい。

Ｄ２ランプ法及びゼーマン法によるバックグラウンド補正を一度に行う際の上記データ取得サイクルには、磁場発生部３から磁場を発生させていない状態でホロカソードランプ１ａから測定光を照射させる原子吸収測定期間Ｔ５１と、磁場発生部３から磁場を発生させていない状態で重水素ランプ１ｂから測定光を照射させる第１バックグラウンド測定期間Ｔ５３と、磁場発生部３から磁場を発生させた状態でホロカソードランプ１ａから測定光を照射させる第２バックグラウンド測定期間Ｔ５５と、それらの間に適宜設けられたダーク期間Ｔ５２，Ｔ５４とが含まれる。ダーク期間Ｔ５２，Ｔ５４においては、ホロカソードランプ１ａ及び重水素ランプ１ｂが無点灯状態又は低出力での点灯状態とされる。これらの各期間Ｔ５１〜Ｔ５５に得られた測定データに基づいて演算を行うことにより、Ｄ２ランプ法及びゼーマン法によるバックグラウンド補正を行うことができる。

ここで、原子吸収測定期間Ｔ５１に得られる測定データは、原子吸収（ＡＡ）及びバックグラウンド吸収（ＢＧ）の影響を受けた測定データＨである。第１バックグラウンド測定期間Ｔ５３に得られる測定データは、バックグラウンド吸収（ＢＧ（Ｄ））の影響のみを受けた測定データＤと同一視できる。第２バックグラウンド測定期間Ｔ５５に得られる測定データは、バックグラウンド吸収（ＢＧ（Ｚ））の影響のみを受けた測定データＺと同一視できる。これらの測定データＨ，Ｄ，Ｚと、ダーク期間Ｔ５２又はＴ５４に得られる測定データΔとに基づいて、各方法によるバックグラウンド補正を用いた吸光度の演算を行うことができる。

Ｄ２ランプ法によるバックグラウンド補正は、原子吸収測定期間Ｔ５１に得られた測定データＨと、第１バックグラウンド測定期間Ｔ５３に得られた測定データＤとに基づいて、第１バックグラウンド補正処理部１０１の演算により行われる（第１バックグラウンド補正ステップ）。すなわち、第１バックグラウンド補正処理部１０１は、第１バックグラウンド測定期間Ｔ５３に得られた測定データＤに基づいて、原子吸収測定期間Ｔ５１に得られた測定データＨを上記式（１）により補正して、吸光度を算出する。

ゼーマン法によるバックグラウンド補正は、原子吸収測定期間Ｔ５１に得られた測定データＨと、第２バックグラウンド測定期間Ｔ５５に得られた測定データＺとに基づいて、第２バックグラウンド補正処理部１０２の演算により行われる（第２バックグラウンド補正ステップ）。すなわち、第２バックグラウンド補正処理部１０２は、第２バックグラウンド測定期間Ｔ５５に得られた測定データＺに基づいて、原子吸収測定期間Ｔ５１に得られた測定データＨを上記式（２）により補正して、吸光度を算出する。

このように、本実施形態では、１つのデータ取得サイクルで得られた各測定期間Ｔ５１〜Ｔ５５における測定データに基づいて、Ｄ２ランプ法及びゼーマン法の各方法でバックグラウンド補正が行われる。すなわち、原子吸収測定期間Ｔ５１に得られた共通の測定データＨ（原子吸収データ）に対して、第１及び第２バックグラウンド測定期間Ｔ５３，Ｔ５５に得られた各測定データＤ，Ｚ（バックグラウンドデータ）を用いてバックグラウンド補正が行われる。

これにより、図２及び図３のように、複数種類の方法ごとに原子吸収データ及びバックグラウンドデータを取得するような構成と比較して、試料の消費量を抑制しつつ、複数種類の方法を用いたバックグラウンド補正を短時間で容易に行うことができる。したがって、作業者は、表示部１３に表示された各測定結果を比較検討することによって最適な方法を測定後でも容易に選択することが可能になる。

＜第３実施形態＞
図８は、本発明の第３実施形態に係る原子吸光光度計の構成例を示した図である。また、図９は、第３実施形態におけるバックグラウンド補正の態様について説明するためのタイミングチャートである。本実施形態では、Ｄ２ランプ法によるバックグラウンド補正は行わず、ゼーマン法及び自己反転法によるバックグラウンド補正のみを行うようになっている点が第１実施形態とは異なっている。そのため、本実施形態に係る原子吸光光度計には、重水素ランプ１ｂが備えられていない。また、制御部１０は、測定データ取得処理部１００、第２バックグラウンド補正処理部１０２及び第３バックグラウンド補正処理部１０３としては機能するが、第１バックグラウンド補正処理部１０１としては機能しないようになっている。

すなわち、本実施形態では、予め定められた態様でホロカソードランプ１ａ及び磁場発生部３の動作を制御することにより、ゼーマン法及び自己反転法によるバックグラウンド補正を一度に行うことができる。このとき、測定データ取得処理部１００は、一定のデータ取得サイクルで光電子増倍管５の出力信号を測定データとして取得する（測定データ取得ステップ）。当該測定データ取得ステップは、作業者が操作部１２を用いて特定のモードを選択した場合にのみ行われるものであってもよいし、試料の測定時に毎回行われるものであってもよい。

ゼーマン法及び自己反転法によるバックグラウンド補正を一度に行う際の上記データ取得サイクルには、磁場発生部３から磁場を発生させていない状態でホロカソードランプ１ａから測定光を照射させる原子吸収測定期間Ｔ６１と、磁場発生部３から磁場を発生させた状態でホロカソードランプ１ａから測定光を照射させる第２バックグラウンド測定期間Ｔ６４と、磁場発生部３から磁場を発生させていない状態でホロカソードランプ１ａから過電流で測定光を照射させる第３バックグラウンド測定期間Ｔ６２と、それらの間に適宜設けられたダーク期間Ｔ６３とが含まれる。ダーク期間Ｔ６３においては、ホロカソードランプ１ａが無点灯状態又は低出力での点灯状態とされる。これらの各期間Ｔ６１〜Ｔ６４に得られた測定データに基づいて演算を行うことにより、ゼーマン法及び自己反転法によるバックグラウンド補正を行うことができる。

ここで、原子吸収測定期間Ｔ６１に得られる測定データは、原子吸収（ＡＡ）及びバックグラウンド吸収（ＢＧ）の影響を受けた測定データＨである。第２バックグラウンド測定期間Ｔ６４に得られる測定データは、バックグラウンド吸収（ＢＧ（Ｚ））の影響のみを受けた測定データＺと同一視できる。第３バックグラウンド測定期間Ｔ６２に得られる測定データは、バックグラウンド吸収（ＢＧ（Ｓ））の影響のみを受けた測定データＳと同一視できる。これらの測定データＨ，Ｚ，Ｓと、ダーク期間Ｔ６３に得られる測定データΔとに基づいて、各方法によるバックグラウンド補正を用いた吸光度の演算を行うことができる。

ゼーマン法によるバックグラウンド補正は、原子吸収測定期間Ｔ６１に得られた測定データＨと、第２バックグラウンド測定期間Ｔ６４に得られた測定データＺとに基づいて、第２バックグラウンド補正処理部１０２の演算により行われる（第２バックグラウンド補正ステップ）。すなわち、第２バックグラウンド補正処理部１０２は、第２バックグラウンド測定期間Ｔ６４に得られた測定データＺに基づいて、原子吸収測定期間Ｔ６１に得られた測定データＨを上記式（２）により補正して、吸光度を算出する。

自己反転法によるバックグラウンド補正は、原子吸収測定期間Ｔ６１に得られた測定データＨと、第３バックグラウンド測定期間Ｔ６２に得られた測定データＳとに基づいて、第３バックグラウンド補正処理部１０３の演算により行われる（第３バックグラウンド補正ステップ）。すなわち、第３バックグラウンド補正処理部１０３は、第３バックグラウンド測定期間Ｔ６２に得られた測定データＳに基づいて、原子吸収測定期間Ｔ６１に得られた測定データＨを上記式（３）により補正して、吸光度を算出する。

このように、本実施形態では、１つのデータ取得サイクルで得られた各測定期間Ｔ６１〜Ｔ６４における測定データに基づいて、ゼーマン法及び自己反転法の各方法でバックグラウンド補正が行われる。すなわち、原子吸収測定期間Ｔ６１に得られた共通の測定データＨ（原子吸収データ）に対して、第２及び第３バックグラウンド測定期間Ｔ６４，Ｔ６２に得られた各測定データＺ，Ｓ（バックグラウンドデータ）を用いてバックグラウンド補正が行われる。

これにより、図３及び図４のように、複数種類の方法ごとに原子吸収データ及びバックグラウンドデータを取得するような構成と比較して、試料の消費量を抑制しつつ、複数種類の方法を用いたバックグラウンド補正を短時間で容易に行うことができる。したがって、作業者は、表示部１３に表示された各測定結果を比較検討することによって最適な方法を測定後でも容易に選択することが可能になる。

＜第４実施形態＞
図１０は、本発明の第４実施形態に係る原子吸光光度計の構成例を示した図である。また、図１１は、第４実施形態におけるバックグラウンド補正の態様について説明するためのタイミングチャートである。本実施形態では、ゼーマン法によるバックグラウンド補正は行わず、Ｄ２ランプ法及び自己反転法によるバックグラウンド補正のみを行うようになっている点が第１実施形態とは異なっている。そのため、本実施形態に係る原子吸光光度計には、磁場発生部３が備えられていない。また、制御部１０は、測定データ取得処理部１００、第１バックグラウンド補正処理部１０１及び第３バックグラウンド補正処理部１０３としては機能するが、第２バックグラウンド補正処理部１０２としては機能しないようになっている。

すなわち、本実施形態では、予め定められた態様でホロカソードランプ１ａ及び重水素ランプ１ｂの動作を制御することにより、Ｄ２ランプ法及び自己反転法によるバックグラウンド補正を一度に行うことができる。このとき、測定データ取得処理部１００は、一定のデータ取得サイクルで光電子増倍管５の出力信号を測定データとして取得する（測定データ取得ステップ）。当該測定データ取得ステップは、作業者が操作部１２を用いて特定のモードを選択した場合にのみ行われるものであってもよいし、試料の測定時に毎回行われるものであってもよい。

Ｄ２ランプ法及び自己反転法によるバックグラウンド補正を一度に行う際の上記データ取得サイクルには、ホロカソードランプ１ａから測定光を照射させる原子吸収測定期間Ｔ７１と、重水素ランプ１ｂから測定光を照射させる第１バックグラウンド測定期間Ｔ７４と、ホロカソードランプ１ａから過電流で測定光を照射させる第３バックグラウンド測定期間Ｔ７２と、それらの間に適宜設けられたダーク期間Ｔ７３とが含まれる。ダーク期間Ｔ７３においては、ホロカソードランプ１ａ及び重水素ランプ１ｂが無点灯状態又は低出力での点灯状態とされる。これらの各期間Ｔ７１〜Ｔ７４に得られた測定データに基づいて演算を行うことにより、Ｄ２ランプ法及び自己反転法によるバックグラウンド補正を行うことができる。

ここで、原子吸収測定期間Ｔ７１に得られる測定データは、原子吸収（ＡＡ）及びバックグラウンド吸収（ＢＧ）の影響を受けた測定データＨである。第１バックグラウンド測定期間Ｔ７４に得られる測定データは、バックグラウンド吸収（ＢＧ（Ｄ））の影響のみを受けた測定データＤと同一視できる。第３バックグラウンド測定期間Ｔ７２に得られる測定データは、バックグラウンド吸収（ＢＧ（Ｓ））の影響のみを受けた測定データＳと同一視できる。これらの測定データＨ，Ｄ，Ｓと、ダーク期間Ｔ７３に得られる測定データΔとに基づいて、各方法によるバックグラウンド補正を用いた吸光度の演算を行うことができる。

Ｄ２ランプ法によるバックグラウンド補正は、原子吸収測定期間Ｔ７１に得られた測定データＨと、第１バックグラウンド測定期間Ｔ７４に得られた測定データＤとに基づいて、第１バックグラウンド補正処理部１０１の演算により行われる（第１バックグラウンド補正ステップ）。すなわち、第１バックグラウンド補正処理部１０１は、第１バックグラウンド測定期間Ｔ７４に得られた測定データＤに基づいて、原子吸収測定期間Ｔ７１に得られた測定データＨを上記式（１）により補正して、吸光度を算出する。

自己反転法によるバックグラウンド補正は、原子吸収測定期間Ｔ７１に得られた測定データＨと、第３バックグラウンド測定期間Ｔ７２に得られた測定データＳとに基づいて、第３バックグラウンド補正処理部１０３の演算により行われる（第３バックグラウンド補正ステップ）。すなわち、第３バックグラウンド補正処理部１０３は、第３バックグラウンド測定期間Ｔ７２に得られた測定データＳに基づいて、原子吸収測定期間Ｔ７１に得られた測定データＨを上記式（３）により補正して、吸光度を算出する。

このように、本実施形態では、１つのデータ取得サイクルで得られた各測定期間Ｔ７１〜Ｔ７４における測定データに基づいて、Ｄ２ランプ法及び自己反転法の各方法でバックグラウンド補正が行われる。すなわち、原子吸収測定期間Ｔ７１に得られた共通の測定データＨ（原子吸収データ）に対して、第１及び第３バックグラウンド測定期間Ｔ７４，Ｔ７２に得られた各測定データＤ，Ｓ（バックグラウンドデータ）を用いてバックグラウンド補正が行われる。

これにより、図２及び図４のように、複数種類の方法ごとに原子吸収データ及びバックグラウンドデータを取得するような構成と比較して、試料の消費量を抑制しつつ、複数種類の方法を用いたバックグラウンド補正を短時間で容易に行うことができる。したがって、作業者は、表示部１３に表示された各測定結果を比較検討することによって最適な方法を測定後でも容易に選択することが可能になる。

以上の実施形態では、原子吸収測定期間及びバックグラウンド測定期間に得られた測定データだけでなく、ダーク期間に得られる測定データも用いてバックグラウンド補正を行うような構成について説明した。しかし、このような構成に限らず、ダーク期間に得られる測定データを用いることなくバックグラウンド補正を行うような構成であってもよい。

原子吸収測定用の測定光を照射する第１光源は、ホロカソードランプ１ａに限らず、輝線スペクトルを含む測定光を照射する他の光源であってもよい。また、上記第１光源として、例えばキセノンフラッシュランプなどのように、連続スペクトルを含む測定光を照射する光源を用いることもできる。

以上の実施形態では、ファーネス式の原子吸光光度計に本発明が適用された構成について説明した。しかし、本発明は、ファーネス式の原子吸光光度計に限らず、例えば可燃性ガスに試料を噴霧して、その混合気体を燃焼することにより試料を加熱して原子化し、発生した原子蒸気中に測定光を通過させて試料の吸光度を測定するフレーム式の原子吸光光度計などにも適用可能である。

１ 光源部
１ａ ホロカソードランプ
１ｂ 重水素ランプ
１ｃ ハーフミラー
２ 原子化部
２ａ グラファイトチューブ
３ 磁場発生部
４ 分光器
５ 光電子増倍管
６ 増幅器
７ ローパスフィルタ（ＬＰＦ）
８ 同期回路
９ Ａ／Ｄ変換器
１０ 制御部
１１ 光源駆動部
１２ 操作部
１３ 表示部
１４ メモリ
１００ 測定データ取得処理部
１０１ 第１バックグラウンド補正処理部
１０２ 第２バックグラウンド補正処理部
１０３ 第３バックグラウンド補正処理部

Claims (8)

1. 試料を原子化させることにより原子蒸気を発生させる原子化部と、
   前記原子化部において発生した原子蒸気中に原子吸収測定用の測定光を照射する第１光源と、
   前記原子化部において発生した原子蒸気中にバックグラウンド測定用の測定光を照射する第２光源と、
   前記原子化部に磁場を発生させる磁場発生部と、
   前記原子化部を通過した光を検出することにより測定データを取得する検出器と、
   前記磁場発生部から磁場を発生させていない状態で前記第１光源から測定光を照射させる原子吸収測定期間、前記磁場発生部から磁場を発生させていない状態で前記第２光源から測定光を照射させる第１バックグラウンド測定期間、前記磁場発生部から磁場を発生させた状態で前記第１光源から測定光を照射させる第２バックグラウンド測定期間、及び、前記磁場発生部から磁場を発生させていない状態で前記第１光源から過電流で測定光を照射させる第３バックグラウンド測定期間を含むデータ取得サイクルで、各測定期間における測定データを取得する測定データ取得処理部と、
   前記第１バックグラウンド測定期間に得られた測定データに基づいて、前記原子吸収測定期間に得られた測定データをＤ２ランプ法により補正する第１バックグラウンド補正処理部と、
   前記第２バックグラウンド測定期間に得られた測定データに基づいて、前記原子吸収測定期間に得られた測定データをゼーマン法により補正する第２バックグラウンド補正処理部と、
   前記第３バックグラウンド測定期間に得られた測定データに基づいて、前記原子吸光測定期間に得られた測定データを自己反転法により補正する第３バックグラウンド補正処理部とを備えたことを特徴とする原子吸光光度計。
2. 試料を原子化させることにより原子蒸気を発生させる原子化部と、
   前記原子化部において発生した原子蒸気中に原子吸収測定用の測定光を照射する第１光源と、
   前記原子化部において発生した原子蒸気中にバックグラウンド測定用の測定光を照射する第２光源と、
   前記原子化部に磁場を発生させる磁場発生部と、
   前記原子化部を通過した光を検出することにより測定データを取得する検出器と、
   前記磁場発生部から磁場を発生させていない状態で前記第１光源から測定光を照射させる原子吸収測定期間、前記磁場発生部から磁場を発生させていない状態で前記第２光源から測定光を照射させる第１バックグラウンド測定期間、及び、前記磁場発生部から磁場を発生させた状態で前記第１光源から測定光を照射させる第２バックグラウンド測定期間を含むデータ取得サイクルで、各測定期間における測定データを取得する測定データ取得処理部と、
   前記第１バックグラウンド測定期間に得られた測定データに基づいて、前記原子吸収測定期間に得られた測定データをＤ２ランプ法により補正する第１バックグラウンド補正処理部と、
   前記第２バックグラウンド測定期間に得られた測定データに基づいて、前記原子吸収測定期間に得られた測定データをゼーマン法により補正する第２バックグラウンド補正処理部とを含むことを特徴とする原子吸光光度計。
3. 試料を原子化させることにより原子蒸気を発生させる原子化部と、
   前記原子化部において発生した原子蒸気中に原子吸収測定用の測定光を照射する第１光源と、
   前記原子化部に磁場を発生させる磁場発生部と、
   前記原子化部を通過した光を検出することにより測定データを取得する検出器と、
   前記磁場発生部から磁場を発生させていない状態で前記第１光源から測定光を照射させる原子吸収測定期間、前記磁場発生部から磁場を発生させた状態で前記第１光源から測定光を照射させる第２バックグラウンド測定期間、及び、前記磁場発生部から磁場を発生させていない状態で前記第１光源から過電流で測定光を照射させる第３バックグラウンド測定期間を含むデータ取得サイクルで、各測定期間における測定データを取得する測定データ取得処理部と、
   前記第２バックグラウンド測定期間に得られた測定データに基づいて、前記原子吸収測定期間に得られた測定データをゼーマン法により補正する第２バックグラウンド補正処理部と、
   前記第３バックグラウンド測定期間に得られた測定データに基づいて、前記原子吸光測定期間に得られた測定データを自己反転法により補正する第３バックグラウンド補正処理部とを含むことを特徴とする原子吸光光度計。
4. 試料を原子化させることにより原子蒸気を発生させる原子化部と、
   前記原子化部において発生した原子蒸気中に原子吸収測定用の測定光を照射する第１光源と、
   前記原子化部において発生した原子蒸気中にバックグラウンド測定用の測定光を照射する第２光源と、
   前記原子化部を通過した光を検出することにより測定データを取得する検出器と、
   前記第１光源から測定光を照射させる原子吸収測定期間、前記第２光源から測定光を照射させる第１バックグラウンド測定期間、及び、前記第１光源から過電流で測定光を照射させる第３バックグラウンド測定期間を含むデータ取得サイクルで、各測定期間における測定データを取得する測定データ取得処理部と、
   前記第１バックグラウンド測定期間に得られた測定データに基づいて、前記原子吸収測定期間に得られた測定データをＤ２ランプ法により補正する第１バックグラウンド補正処理部と、
   前記第３バックグラウンド測定期間に得られた測定データに基づいて、前記原子吸光測定期間に得られた測定データを自己反転法により補正する第３バックグラウンド補正処理部とを含むことを特徴とする原子吸光光度計。
5. 試料を原子化させることにより原子蒸気を発生させる原子化部と、前記原子化部において発生した原子蒸気中に原子吸収測定用の測定光を照射する第１光源と、前記原子化部において発生した原子蒸気中にバックグラウンド測定用の測定光を照射する第２光源と、前記原子化部に磁場を発生させる磁場発生部と、前記原子化部を通過した光を検出することにより測定データを取得する検出器とを備えた原子吸光光度計を用いて、原子吸光を測定するための原子吸光測定方法であって、
   前記磁場発生部から磁場を発生させていない状態で前記第１光源から測定光を照射させる原子吸収測定期間、前記磁場発生部から磁場を発生させていない状態で前記第２光源から測定光を照射させる第１バックグラウンド測定期間、前記磁場発生部から磁場を発生させた状態で前記第１光源から測定光を照射させる第２バックグラウンド測定期間、及び、前記磁場発生部から磁場を発生させていない状態で前記第１光源から過電流で測定光を照射させる第３バックグラウンド測定期間を含むデータ取得サイクルで、各測定期間における測定データを取得する測定データ取得ステップと、
   前記第１バックグラウンド測定期間に得られた測定データに基づいて、前記原子吸収測定期間に得られた測定データをＤ２ランプ法により補正する第１バックグラウンド補正ステップと、
   前記第２バックグラウンド測定期間に得られた測定データに基づいて、前記原子吸収測定期間に得られた測定データをゼーマン法により補正する第２バックグラウンド補正ステップと、
   前記第３バックグラウンド測定期間に得られた測定データに基づいて、前記原子吸光測定期間に得られた測定データを自己反転法により補正する第３バックグラウンド補正ステップとを含むことを特徴とする原子吸光測定方法。
6. 試料を原子化させることにより原子蒸気を発生させる原子化部と、前記原子化部において発生した原子蒸気中に原子吸収測定用の測定光を照射する第１光源と、前記原子化部において発生した原子蒸気中にバックグラウンド測定用の測定光を照射する第２光源と、前記原子化部に磁場を発生させる磁場発生部と、前記原子化部を通過した光を検出することにより測定データを取得する検出器とを備えた原子吸光光度計を用いて、原子吸光を測定するための原子吸光測定方法であって、
   前記磁場発生部から磁場を発生させていない状態で前記第１光源から測定光を照射させる原子吸収測定期間、前記磁場発生部から磁場を発生させていない状態で前記第２光源から測定光を照射させる第１バックグラウンド測定期間、及び、前記磁場発生部から磁場を発生させた状態で前記第１光源から測定光を照射させる第２バックグラウンド測定期間を含むデータ取得サイクルで、各測定期間における測定データを取得する測定データ取得ステップと、
   前記第１バックグラウンド測定期間に得られた測定データに基づいて、前記原子吸収測定期間に得られた測定データをＤ２ランプ法により補正する第１バックグラウンド補正ステップと、
   前記第２バックグラウンド測定期間に得られた測定データに基づいて、前記原子吸収測定期間に得られた測定データをゼーマン法により補正する第２バックグラウンド補正ステップとを含むことを特徴とする原子吸光測定方法。
7. 試料を原子化させることにより原子蒸気を発生させる原子化部と、前記原子化部において発生した原子蒸気中に原子吸収測定用の測定光を照射する第１光源と、前記原子化部に磁場を発生させる磁場発生部と、前記原子化部を通過した光を検出することにより測定データを取得する検出器とを備えた原子吸光光度計を用いて、原子吸光を測定するための原子吸光測定方法であって、
   前記磁場発生部から磁場を発生させていない状態で前記第１光源から測定光を照射させる原子吸収測定期間、前記磁場発生部から磁場を発生させた状態で前記第１光源から測定光を照射させる第２バックグラウンド測定期間、及び、前記磁場発生部から磁場を発生させていない状態で前記第１光源から過電流で測定光を照射させる第３バックグラウンド測定期間を含むデータ取得サイクルで、各測定期間における測定データを取得する測定データ取得ステップと、
   前記第２バックグラウンド測定期間に得られた測定データに基づいて、前記原子吸収測定期間に得られた測定データをゼーマン法により補正する第２バックグラウンド補正ステップと、
   前記第３バックグラウンド測定期間に得られた測定データに基づいて、前記原子吸光測定期間に得られた測定データを自己反転法により補正する第３バックグラウンド補正ステップとを含むことを特徴とする原子吸光測定方法。
8. 試料を原子化させることにより原子蒸気を発生させる原子化部と、前記原子化部において発生した原子蒸気中に原子吸収測定用の測定光を照射する第１光源と、前記原子化部において発生した原子蒸気中にバックグラウンド測定用の測定光を照射する第２光源と、前記原子化部を通過した光を検出することにより測定データを取得する検出器とを備えた原子吸光光度計を用いて、原子吸光を測定するための原子吸光測定方法であって、
   前記第１光源から測定光を照射させる原子吸収測定期間、前記第２光源から測定光を照射させる第１バックグラウンド測定期間、及び、前記第１光源から過電流で測定光を照射させる第３バックグラウンド測定期間を含むデータ取得サイクルで、各測定期間における測定データを取得する測定データ取得ステップと、
   前記第１バックグラウンド測定期間に得られた測定データに基づいて、前記原子吸収測定期間に得られた測定データをＤ２ランプ法により補正する第１バックグラウンド補正ステップと、
   前記第３バックグラウンド測定期間に得られた測定データに基づいて、前記原子吸光測定期間に得られた測定データを自己反転法により補正する第３バックグラウンド補正ステップとを含むことを特徴とする原子吸光測定方法。

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