JP6262418B2 - 電源診断装置、電源診断システム、電源診断方法、及び、電源診断プログラム - Google Patents

Description

本願発明は、電子装置へ給電する電源装置を、電子装置から遮断した状態で診断するための電源診断装置、電源診断システム、電源診断方法、及び、電源診断プログラムに関する。

電子装置へ給電する電源装置においては、経年劣化しやすい部品が使用されていることもあり、電源装置の障害を事前に検知するためには、電源装置を定期的に検査する必要がある。工場出荷時には、検査設備が整った環境の下で、電源装置の単体試験が行えるため、十分な検査を行うことが可能である。しかしながら、製品出荷後は、電源装置が電子装置に接続された状態であり、検査設備が整っていない顧客のサイトで電源装置の単体試験を行うことは容易ではなく、十分な検査を実施することは困難である。

製品出荷後に、電源装置の単体試験を行うことができないと、電源装置に内在する障害の検知に漏れが生じる可能性がある。また、たとえ障害の存在を検知できたとしても、その障害が、電源装置側に存在するのか、それとも電子装置側の給電回路に存在するのかの切り分けが困難であり、障害箇所の特定に時間を要することも多い。障害への対応が遅れた場合、最悪、電源障害によるシステムダウンにつながりかねない。したがって、電源装置の十分な検査を、製品出荷後に顧客のサイトでも容易に実施できるように、電源装置を給電対象の電子装置から遮断して、電源装置の単体試験ができるような検査システムが求められている。

このような電源装置の検査システムに関する関連技術として、特許文献１には、非設置式給電系統において、非接地式給電系統から電気負荷への給電配線を開閉する遮断機を備え、診断対象電気負荷以外の電気負荷の影響を遮断して、診断対象電気負荷の対アース絶縁の異常の有無を検出するための給電装置が公開されている。

また、特許文献２には、熱定着器に誘導過熱電源を用いた画像形成装置において、温度検出系の異常による過昇温発生時などに、リレーの交換等を行わせることで、誘導過熱電源への電力供給を遮断して停止させるための装置が公開されている。

特開２００１−２８６０５３号公報 特開２００３−２９５６７９号公報

前述の特許文献１の技術は、診断対象以外の電気負荷を遮断して診断することで、診断対象の電気負荷の異常の診断を効率的に行うことを目的としたものであり、電源装置自体の検査を効率的に行うことを目的としたものではない。また、特許文献２の技術は、異常発生時に装置を保護するために給電を遮断するためのものであり、電源装置の検査に関するものではない。したがって、特許文献１、及び、特許文献２は、製品出荷後に、電源装置を給電対象の電子装置から遮断して、電源装置の単体試験を行うという課題を解決するためのものではない。

本願発明の目的は、上述の課題を解決した電源診断装置、電源診断システム、電源診断方法、及び、電源診断プログラムを提供することである。

本願発明の一実施形態の電源診断装置は、電源装置の診断を行う診断手段と、前記診断手段の指示により、前記電源装置から電子装置への給電パスの接続と遮断を切り替える切替手段と、を備える。

本願発明の一実施形態の電源診断方法は、電源装置の診断を行う診断手段が、前記電源装置から電子装置への給電パスの接続と遮断を切り替える切替手段に、前記給電パスを遮断することを指示した後、前記診断を行う。

本願発明の一実施形態の電源診断プログラムは、電源装置の診断を行う診断処理と、前記電源装置を診断する時に、前記電源装置から電子装置への給電パスの接続と遮断を切り替える切替手段に、前記給電パスを遮断することを指示する切替処理と、をコンピュータに実行させる。

本願発明は、電源装置から電子装置への給電パスを容易に遮断し、電源装置の単体試験を容易に行うことができるようにする。

本願発明の第１の実施形態の電源診断システムの構成を示すブロック図である。 本願発明の第１の実施形態における電源診断装置の回路図である。 本願発明の第１の実施形態の動作を示すフローチャートである。 本願発明の第１の実施形態における電源装置の診断動作を示すフローチャートである。 本願発明の第２の実施形態の電源診断装置の構成を示すブロック図である。

本願発明の第一の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。

図１は本実施形態の電源診断システムの構成を示すブロック図である。

本実施形態の電源診断システム１は、電源装置１０と、電源診断装置２０と、電子装置３０とを包含している。

電子装置３０は、電子装置給電部３１と、ＣＰＵ／メモリ／ディスク３２と、ＭＣＵ（Ｍｉｃｒｏ Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ Ｕｎｉｔ）３００とを包含している。電子装置給電部３１は、電源装置１０から給電されるＤＣ電圧であるメインＤＣを、電源診断装置２１を介して受電し、ＣＰＵ／メモリ／ディスク３２が包含する各モジュールに所定の電圧で給電する。ＣＰＵ／メモリ／ディスク３２は、電子装置給電部３１から給電され、計算処理を行う。

ＭＣＵ３００は、電子装置給電部３１の動作を制御するＩＣ回路であり、電子装置のＯＮ／ＯＦＦ指示を受けてアナログ回路をファームウェアでデジタル制御したり、入出力電力値、所定の部位の温度、ＦＡＮ回転数等のステータス情報を監視したりする。ＭＣＵ３００は、また、入手したステータス情報をＩ２Ｃ（Ｉｎｔｅｒ−Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ）通信バス１１３を介して、ＭＣＵ１１０に送信するとともに、電子装置の使用者が電子装置のＤＣ ＯＮスイッチを入れた後に、ＤＣ ＯＮ信号バス１１４を介して、ＤＣ ＯＮ信号を、ＭＣＵ１１０に送信する。

電源装置１０は、外部からＡＣ電圧を受電してＤＣ電圧に変換し、電源診断装置２０を介して、電子装置給電部３１へメインＤＣを給電する。電源装置１０は、ＥＭＩ（Ｅｌｅｃｔｒｏ Ｍａｇｎｅｔｉｃ Ｉｎｔｅｒｆｅｒｅｎｃｅ） ｆｉｌｔｅｒ１００と、Ｂｒｉｄｇｅ ｄｉｏｄｅ１０１と、ＰＦＣ（Ｐｏｗｅｒ Ｆａｃｔｏｒ Ｃｏｒｒｅｃｔｉｏｎ）１０２と、Ｃｏｎｖｅｒｔｅｒ１０３と、Ｒｅｃｔｉｆｉｅｒ１０４と、ＭＣＵ１１０とを包含している。

ＥＭＩ ｆｉｌｔｅｒ１００は、ＥＭＩノイズ制御回路であり、外部から受電したＡＣ電圧におけるＥＭＩノイズを除去して、Ｂｒｉｄｇｅ ｄｉｏｄｅ１０１へ出力する。Ｂｒｉｄｇｅ ｄｉｏｄｅ１０１は、交流電圧整流回路であり、入力したＡＣ電圧の整流を行ってＰＦＣ１０２へ出力する。ＰＦＣ１０２は、高調波抑制および昇圧回路であり、入力したＡＣ電圧の高調波抑制および昇圧制御を行い、Ｃｏｎｖｅｒｔｅｒ１０３に出力する。

Ｃｏｎｖｅｒｔｅｒ１０３は、入力したＡＣ電圧をＡＣ／ＤＣ変換して、変換後のＤＣ電圧をＲｅｃｔｉｆｉｅｒ１０４へ出力する。電源供給装置１０がＡＣ電圧を受電した時点でＣｏｎｖｅｒｔｅｒ１０３が出力するのは、スタンバイＤＣのＤＣ電圧であり、ＣＰＵ／メモリ／ディスク２の起動に必要な大出力のメインＤＣのＤＣ電圧はまだ出力していない。電子装置の使用者が、電子装置のＤＣ ＯＮスイッチを入れると、Ｃｏｎｖｅｒｔｅｒ１０３は、ＭＣＵ１１０からＤＣ ＯＮ信号を受信し、内蔵する大出力向きのフルブリッジまたはダブルフォワード回路等を起動させ、メインＤＣの出力を開始する。

Ｒｅｃｔｉｆｉｅｒ１０４は、直流電圧整流回路であり、入力したＤＣ電圧の整流を行って、電源診断装置２０に出力する。

ＭＣＵ１１０は、電源装置１０の動作を制御するＩＣ回路であり、ＭＣＵ３００と同様の機能を備えている。ＭＣＵ１１０は、Ｉ２Ｃ通信バス１１３を介して、ＭＣＵ３００と、電源装置１０、及び、電子装置給電部３１に関するステータス情報の通信を行う。ＭＣＵ１１０は、また、ＤＣ ＯＮ信号バス１１４を介して、ＭＣＵ３００から電子装置のＤＣ ＯＮ信号を受信し、Ｃｏｎｖｅｒｔｅｒ１０３にＤＣ ＯＮ信号を送信する。

電源診断装置２０は、切替部２１と、診断部２２と、電流測定回路２３とを包含している。電源診断装置２０の回路図を図２に示す。

切替部２１は、スイッチＳＷ１乃至ＳＷ５を包含している。スイッチＳＷ１乃至ＳＷ５は電源装置１０から電子装置３０への給電パスの途中に設置され、診断部２２の指示により、給電パスのクローズとオープンの切り替えを行う。スイッチＳＷ２とＳＷ３がクローズすることで、給電パスがクローズされる。

診断部２２は、電源装置１０、及び、電子装置３０における電子装置給電部３１に対して所定の電源試験を実行し、障害の有無を診断する。診断部２２は、電流計２３０と定抵抗Ｒを包含する電流測定回路２３が電源試験の中で測定した電流値を受け取る。

診断部２２は、Ｉ２Ｃ通信バス１１３へアクセスし、ＭＣＵ１１０とＭＣＵ３００との間で行われるＩ２Ｃ通信から、電源装置１０、及び、電子装置給電部３１のステータス情報を収集する。診断部２２は、Ｃｏｎｖｅｒｔｅｒ１０３がスタンバイＤＣを出力すると、ＤＣ ＯＮ信号バス１１４にアクセスし、ＭＣＵ１１０がＭＣＵ３００からの電子装置のＤＣ ＯＮ信号を受け付けないように、ＤＣ ＯＮ信号をホールドする。診断部２２は、電源装置１０、及び、電子装置給電部３１の診断を完了すると、ホールドしたＤＣ ＯＮ信号のホールド解除を行う。

診断部２２は、また、ＭＣＵ書込バス１１１を介して、ＭＣＵ１１０におけるファームウェアの修正データの書き込みを行うとともに、ＭＣＵリセットバス１１２を介して、ＭＣＵ１１０のリセットを行う。

診断部２２は、電源装置１０の出力電気抵抗Ｚ１の診断、電源装置１０のステータス情報の診断、電源装置１０の電源保護動作の診断、電子装置給電部３１の入力電気抵抗Ｚ２の診断を行う。以下、各診断動作の詳細を説明する。

電源装置１０の出力電気抵抗Ｚ１の診断では、切替部２１が、スイッチＳＷ１とＳＷ５をクローズ、その他のスイッチをオープンの状態にして、電流測定回路２３が電流値を測定する。このとき、定抵抗Ｒの一端には、スタンバイＤＣから変換される一定電圧Ｖｓが印加されており、電流測定回路２３に流れる電流Ｉｏｎは、

Ｉｏｎ＝Ｖｓ／Ｒ

となる。

切替部２１は、次に、スイッチＳＷ２とＳＷ５をクローズ、その他のスイッチをオープンの状態にして、電流測定回路２３が電流値を測定する。このとき、電流測定回路２３に流れる電流Ｉｏｆｆは、

Ｉｏｆｆ＝Ｖｓ／（Ｒ＋Ｚ１）

となる。上述の２つの数式から、

Ｚ１＝Ｒ（Ｉｏｎ／Ｉｏｆｆ−１）

となり、電源装置１０の出力電気抵抗Ｚ１が求められる。上述の算出手順は、一般的な電気抵抗値算出方法であるテスタ法を用いている。例えば、電源装置１０内にショート箇所が存在するような場合、出力電気抵抗Ｚ１の値は小さな値となる。診断部２２は、算出したＺ１の値を基準値と比較して、Ｚ１の値が基準値を満たさない場合は、ＬＥＤを点灯させて電源異常を表示する。尚、基準値は、電源試験の担当者により、診断部２２に事前に入力されている。

電源装置１０のステータス情報の診断では、切替部２１は、スイッチＳＷ２とＳＷ４をクローズ、その他のスイッチをオープンの状態にする。診断部２２は、ＭＣＵ１１０を介してＣｏｎｖｅｒｔｅｒ１０３にメインＤＣの直流電圧の供給を指示する。このとき、スイッチＳＷ３がオープンの状態であるため、メインＤＣは、電子装置３０へは印加されず、クローズの状態のスイッチＳＷ２とＳＷ４を介して可変抵抗ＶＲに印加される。可変抵抗ＶＲは、電源試験の担当者により、電子装置給電部３１の入力電気抵抗Ｚ２の値と同等の値に設定され、電源装置１０は、電子装置３０にメインＤＣを擬似的に供給している状態となる。

診断部２２は、Ｉ２Ｃ通信バス１１３を介して、ＭＣＵ１１０から、電源装置１０のステータス情報を収集し、収集した値を基準値と比較する。

収集した値が基準値を満たさない場合、診断部２２は、まず、ＭＣＵ１１０の動作プログラムのストール要因を排除するため、ＭＣＵリセットバス１１２を介してＭＣＵ１１０をリセットする。ＭＣＵ１１０がリセットされた後、診断部２２は、再度、ＭＣＵ１１０から電源装置１０のステータス情報を収集して、収集した値を基準値と比較する。

ＭＣＵ１１０のリセット後も収集した値が基準値を満たさない場合、診断部２２は、ＭＣＵ書込バス１１１を介して、工場出荷時のＭＣＵ１１０の動作プログラム、及び、修正データを、ＭＣＵ１１０に書き込む。

ＭＣＵ１１０の動作プログラムが修正された後、診断部２２は、再度、ＭＣＵ１１０から電源装置１０のステータス情報を収集して、収集した値を基準値と比較する。それでも収集した値が基準値を満たさない場合、診断部２２は、ＬＥＤを点灯させて電源異常を表示する。

電源装置１０の電源保護動作の診断では、Ｃｏｎｖｅｒｔｅｒ１０３からメインＤＣが供給された状態で、切替部２１は、スイッチＳＷ１とＳＷ２をクローズ、その他のスイッチをオープンの状態にする。このとき、メインＤＣがスイッチＳＷ１とＳＷ２を介してグランドに短絡され電源短絡事故が発生した状態となるため、電源装置１０は電源保護動作を実行し、メインＤＣの供給を停止する。診断部２２は、ＭＣＵ１１０にアクセスし、電源ステータス異常の検知状況を収集する。電源ステータス異常が正しく検知されていない場合は、診断部２２は、ＬＥＤを点灯させて電源異常を表示する。

切替部２１は、次に、スイッチＳＷ１のみをクローズ、その他のスイッチをオープンの状態にして電源短絡事故が解除された状態とする。診断部２２は、ＭＣＵ１１０を介してＣｏｎｖｅｒｔｅｒ１０３にメインＤＣの供給の再開を指示する。メインＤＣの供給が再開された後、診断部２２は、ＭＣＵ１１０にアクセスし、電源装置１０のステータス情報を収集して、収集した値を基準値と比較する。収集したステータス情報が基準値を満たさない場合は、診断部２２は、ＬＥＤを点灯させて電源異常を表示する。

電子装置給電部３１の入力電気抵抗Ｚ２の診断では、切替部２１が、スイッチＳＷ１とＳＷ５をクローズ、その他のスイッチをオープンの状態にして、電流測定回路２３が電流値を測定する。切替部２１は、次に、スイッチＳＷ３とＳＷ５をクローズ、その他のスイッチをオープンの状態にして、電流測定回路２３が電流値を測定する。診断部２２は、上述の２つの電流測定値から、電源装置１０の出力電気抵抗Ｚ１の診断のときと同様に、テスタ法を用いて、電子装置給電部３１の入力電気抵抗Ｚ２を算出する。診断部２２は、算出したＺ２の値を基準値と比較して、Ｚ２の値が基準値を満たさない場合は、ＬＥＤを点灯させて電源異常を表示する。

次に図３、図４のフローチャートを参照して、本実施形態の動作について詳細に説明する。

電源装置１０へのＡＣ入力が開始されると、Ｃｏｎｖｅｒｔｅｒ１０３は、電源装置１０、及び、電源診断装置２０内に、スタンバイＤＣの直流電圧の供給を開始する（Ｓ１０１）。診断部２２は、スタンバイＤＣの直流電圧の供給を受けて、ＤＣ ＯＮ信号バス１１４を介して、ＭＣＵ１１０がＭＣＵ３００からのＤＣ ＯＮ信号を受け付けないように、ＤＣ ＯＮ信号をホールドする（Ｓ１０２）。

診断部２２は、電源装置１０、及び、電子装置給電部３１の診断を開始する（Ｓ１０３）。

切替部２１が、スイッチＳＷ１とＳＷ５をクローズ、他のスイッチをオープンの状態にした後、電流測定回路２３は、電流値を測定する（Ｓ２０１）。切替部２１が、スイッチＳＷ２とＳＷ５をクローズ、他のスイッチをオープンの状態にした後、電流測定回路２３は、電流値を測定する（Ｓ２０２）。診断部２２は、Ｓ２０１とＳ２０２での電流測定値を基に、出力電気抵抗Ｚ１の値を算出し、基準値と比較する（Ｓ２０３）。Ｚ１が基準値を満たす場合（Ｓ２０４でＹｅｓ）、処理はＳ２０５へ進み、Ｚ１が基準値を満たさない場合（Ｓ２０４でＮｏ）、診断部２２は、電源異常を示すＬＥＤを点灯させ（Ｓ２１９）、全体の処理は終了する。

切替部２１が、スイッチＳＷ２とＳＷ４をクローズ、他のスイッチをオープンの状態にした後、診断部２２は、ＭＣＵ１１０を介して、Ｃｏｎｖｅｒｔｅｒ１０３にメインＤＣの直流電圧の供給を指示する（Ｓ２０５）。Ｃｏｎｖｅｒｔｅｒ１０３がメインＤＣの供給を開始後、診断部２２は、ＭＣＵ１１０から電源装置１０のステータス情報を読み取る（Ｓ２０６）。診断部２２は、読み取ったステータス情報を、基準値と比較する（Ｓ２０７）。ステータス情報が基準値を満たす場合（Ｓ２０８でＹｅｓ）、処理はＳ２１１へ進み、ステータス情報が基準値を満たさない場合（Ｓ２０８でＮｏ）、処理はＳ２０９へ進む。

診断部２２は、ＭＣＵ１１０をリセットし、再度電源装置１０のステータス情報を診断し、それでも基準値を満たさない場合は、ＭＣＵ１１０の動作プログラムを修正した後、再度電源装置１０のステータス情報を診断する（Ｓ２０９）。ステータス情報が基準値を満たす場合（Ｓ２１０でＹｅｓ）、処理はＳ２１１へ進み、ステータス情報が基準値を満たさない場合（Ｓ２１０でＮｏ）、診断部２２は、電源異常を示すＬＥＤを点灯させ（Ｓ２１９）、全体の処理は終了する。

切替部２１が、スイッチＳＷ１とＳＷ２をクローズ、他のスイッチをオープンの状態にした後、診断部２２は、ＭＣＵ１１０から電源ステータス異常の検知状況を読み取る（Ｓ２１１）。ステータス異常を正しく検知している場合（Ｓ２１２でＹｅｓ）、処理はＳ２１３へ進み、ステータス異常を正しく検知していない場合（Ｓ２１２でＮｏ）、診断部２２は、電源異常を示すＬＥＤを点灯させ（Ｓ２１９）、全体の処理は終了する。

切替部２１が、スイッチＳＷ１のみをクローズ、他のスイッチをオープンの状態にした後、診断部２２は、Ｃｏｎｖｅｒｔｅｒ１０３にメインＤＣの供給の再開を指示し、メインＤＣの供給が再開後、診断部２２は、ＭＣＵ１１０のステータス情報を読み取る（Ｓ２１３）。ステータス情報が基準値を満たす場合（Ｓ２１４でＹｅｓ）、処理はＳ２１５へ進み、ステータス情報が基準値を満たさない場合（Ｓ２１４でＮｏ）、診断部２２は、電源異常を示すＬＥＤを点灯させ（Ｓ２１９）、全体の処理は終了する。

切替部２１が、スイッチＳＷ１とＳＷ５をクローズ、他のスイッチをオープンの状態にした後、電流測定回路２３は、電流値を測定する（Ｓ２１５）。切替部２１が、スイッチＳＷ３とＳＷ５をクローズ、他のスイッチをオープンの状態にした後、電流測定回路２３は、電流値を測定する（Ｓ２１６）。診断部２２は、Ｓ２１５とＳ２１６での電流測定値を基に、入力電気抵抗Ｚ２の値を算出し、基準値と比較する（Ｓ２１７）。Ｚ２が基準値を満たす場合（Ｓ２１８でＹｅｓ）、処理はＳ１０３へ戻り、Ｚ２が基準値を満たさない場合（Ｓ２１８でＮｏ）、診断部２２は、電源異常を示すＬＥＤを点灯させ（Ｓ２１９）、全体の処理は終了する。

診断部２２は、ＤＣ ＯＮ信号バス１１４を介して、ＭＣＵ１１０が、ＭＣＵ３００からのＤＣ ＯＮ信号を受け付けられるように、ＤＣ ＯＮ信号のホールドを解除する（Ｓ１０４）。切替部２１は、スイッチＳＷ１乃至ＳＷ５の全てをオープンの状態にする（Ｓ１０５）。ＭＣＵ１１０が、ＭＣＵ３００からＤＣ ＯＮ信号を受信すると、切替部２１は、ＳＷ２乃至ＳＷ３をクローズの状態にし、電源装置１０は、電子装置給電部３１を介して、ＣＰＵ／メモリ／ディスク３２への給電を開始する（Ｓ１０６）。

診断部２２は、ＭＣＵ１１０とＭＣＵ３００との間のＩ２Ｃ通信の監視を開始し、Ｉ２Ｃ通信における電源装置１０、及び、電子装置３０のステータス情報を収集する（Ｓ１０７）。

診断部２２は、収集したステータス情報を、基準値と比較する（Ｓ１０８）。ステータス情報が基準値を満たす場合（Ｓ１０９でＹｅｓ）、処理はＳ１０７へ戻り、ステータス情報が基準値を満たさない場合（Ｓ１０９でＮｏ）、診断部２２は、電源異常を示すＬＥＤを点灯させ（Ｓ１１０）、全体の処理は終了する。

本実施形態には、電源装置が給電対象の電子装置に接続された状態であっても、電源の単体試験を容易に実施して、電源装置や電子装置内給電回路の障害を効率的に検出する効果がある。その理由は、切替部２１が診断部２２の指示により電子装置３０への給電パスを遮断した状態で、診断部２２が、電源装置１０、及び、電子装置３０における電子装置給電部３１に対して電源単体試験を実施して、障害の有無を診断するからである。

通常、製品出荷後は、電源装置が給電対象の電子装置に接続された状態であり、工場出荷時に実施するような電源の単体試験を、検査のための専用設備が無い顧客のサイトで実施するのは困難である。

電源装置が給電対象の電子装置に接続された状態で不具合が生じた場合、その障害箇所を特定するためには、電源の単体試験の実施が必要となる。例えば、給電系回路の障害の一例として、ＡＣ入力後に出力されるスタンバイＤＣが、電子装置給電部３１で故障した低インピーダンス部位を伝達して、メインＤＣ出力側に流れて電源回路が誤動作し、メインＤＣのＤＣ ＯＮができないような場合、外見では電源装置１０が誤動作して起動できないように見える。しかしながら、実際は、電源装置１０ではなく、電子装置給電部３１に障害が存在することになり、電源の単体試験を行わずに障害箇所を特定するのは困難である。

本実施形態では、切替部２１が、包含するスイッチにより電子装置への給電パスを遮断した状態にするとともに、複数のスイッチのオープン／クローズの状態を変えることで、工場出荷時に実施する電源の単体試験を、電源装置１０や電子装置給電部３１に対して、顧客のサイトで容易に実行することができる。したがって、電源装置に内在する障害の検出漏れを回避し、かつ、障害箇所を容易に特定することで、電源障害によるシステムダウンの発生を防止することが可能となる。

また、Ｉ２Ｃ通信障害のケースでは、通常、ＭＣＵ１１０とＭＣＵ３００の何れに障害が存在するのかの切り分けが困難である。Ｉ２Ｃ通信でＭＣＵが送信する情報が本当に正しいかどうかの診断は、電源単体での分析設備を持つ工場での出荷検査時等を除いて検出が困難であり、出荷後、誤ったデータでＩ２Ｃ通信が行われている可能性もある。

本実施形態では、切替部２１が、包含するスイッチにより給電パスを遮断した状態で、診断部２２が、ＭＣＵへアクセスすることで、障害が内在するＭＣＵを特定することが可能となる。また、障害がＭＣＵのファームウェアに関するものであれば、診断部２２が、ＭＣＵのファームウェアに修正データを書き込むことで、障害を解消することも可能となる。

さらに、電子装置の通常動作時に、診断部２２がＩ２Ｃ通信を監視して診断することで、電源装置の障害を迅速に検出することが可能となる。
＜第二の実施形態＞
次に、本願発明の第二の実施形態について図面を参照して詳細に説明する。

図５は本願発明の第二の実施形態の電源診断装置の構成を示すブロック図である。

電源装置１０は、電源診断装置２０を介して、電子装置３０へ給電する。電源診断装置２０は、電源装置１０の診断を行い、切替部２１と、診断部２２とを包含している。

切替部２１は、診断部２１の指示により、電源装置１０から電子装置３０への給電パスの接続と遮断を切り替える。診断部２２は、電源装置１０から電子装置３０への給電パスを遮断した状態で、電源装置１０の診断を行う。

本実施形態には、第一の実施形態と同様に、電源装置が給電対象の電子装置に接続された状態であっても、電源の単体試験を容易に実施して、電源装置の障害を効率的に検出する効果がある。その理由は、切替部２１が電子装置３０への給電パスを遮断した状態で、診断部２２が電源装置１０の診断を行うからである。

本実施形態の切替部２１は、第一の実施形態の切替部２１と同様に、複数のスイッチを備え、各スイッチのオープン／クローズの状態を変えることで、診断部２２が各種電源試験を実施して診断できるようにする場合もあれば、電子装置３０への給電パスを遮断するために最低限必要なスイッチのみを備えた簡素な構成をとり、診断部２２が必要最低限の診断を行うようにする場合もある。

以上、実施形態を参照して本願発明を説明したが、本願発明は上記実施形態に限定されたものではない。本願発明の構成や詳細には、本願発明のスコープ内で当業者が理解し得る様々な変更をすることができる。

１ 電源診断システム
１０ 電源装置
１００ ＥＭＩ ｆｉｌｔｅｒ
１０１ Ｂｒｉｄｇｅ ｄｉｏｄｅ
１０２ ＰＦＣ
１０３ Ｃｏｎｖｅｒｔｅｒ
１０４ Ｒｅｃｔｉｆｉｅｒ
１１０ ＭＣＵ
１１１ ＭＣＵ書込バス
１１２ ＭＣＵリセットバス
１１３ Ｉ２Ｃ通信バス
１１４ ＤＣ ＯＮ信号バス
２０ 電源診断装置
２１ 切替部
２２ 診断部
２３ 電流測定回路
２３０ 電流計
３０ 電子装置
３１ 電子装置給電部
３２ ＣＰＵ／メモリ／ディスク
３００ ＭＣＵ

Claims (5)

1. 電源装置の診断を行う診断手段と、
   前記診断手段の指示により、前記電源装置から電子装置への給電パスが接続された状態と、前記給電パスが遮断され、前記診断手段が前記電源装置を診断するための経路と前記電源装置とが接続された状態と、を切り替える切替手段と、
   を備え、
   前記電源装置は、前記電源装置の動作状態を示す値を出力する電源制御回路を備え、
   前記切替手段は、導線で接地された第一の端子と、前記電源装置の給電出力口に導線で接続された第二の端子と、前記電子装置の受電入力口に導線で接続された第三の端子と、一端が導線で接地された第一の電気抵抗体の他端に導線で接続された第四の端子を備え、
   前記電源装置から前記電子装置への給電時には、前記第二の端子と前記第三の端子を電気的に接続し、
   前記診断手段は、
   前記第二の端子と前記第四の端子を電気的に接続した状態とさせて、前記電源制御回路から前記電源装置の動作状態を示す値を読み出し、読み出した前記電源装置の動作状態を示す値が第一の基準値を満たさない場合は、前記電源装置の障害と判断し、
   前記第一の端子と前記第二の端子を電気的に接続した状態とさせて、前記電源装置からの給電が停止したことを、前記電源制御回路から読み出して確認した後、前記第一の端子と前記第二の端子の接続を遮断してから前記電源装置に給電を再開させて、読み出した前記電源装置の動作状態を示す値が第二の基準値を満たさない場合は、前記電源装置の障害と判断する
   電源診断装置。
2. 前記電子装置は、計算処理を実行する電子部品に、前記電源装置から受電した電圧を所定の電圧で分配する給電回路を備え、
   前記電源診断装置は、電流計と一端に所定の電圧が印加された第二の電気抵抗体が直列に接続された電流測定回路をさらに備え、
   前記切替手段は、前記電流測定回路に導線で接続された第五の端子をさらに備え、
   前記診断手段は、
   前記第一の端子と前記第五の端子を電気的に接続した状態とさせて前記電流測定回路が測定した電流値と、前記第二の端子と前記第五の端子を電気的に接続させた状態とさせて前記電流測定回路が測定した電流値を基に、前記電源装置の出力電気抵抗値を算出し、算出した前記出力電気抵抗値が第三の基準値を満たさない場合は、前記電源装置の障害と診断し、
   前記第一の端子と前記第五の端子を電気的に接続した状態とさせて前記電流測定回路が測定した電流値と、前記第三の端子と前記第五の端子を電気的に接続させた状態とさせて前記電流測定回路が測定した電流値を基に、前記電子装置の前記給電回路の入力電気抵抗値を算出し、算出した前記入力電気抵抗値が第四の基準値を満たさない場合は、前記給電回路の障害と診断する
   請求項１の電源診断装置。
3. 前記第一の電気抵抗体は可変の電気抵抗体であり、前記電子装置の前記給電回路の前記入力電気抵抗値と同等の電気抵抗値に設定される
   請求項２の電源診断装置。
4. 前記動作状態は、前記電源装置の入出力電力値、前記電源装置内の所定の部位の温度、前記電源装置内の冷却ファンの回転数を包含する
   請求項１の電源診断装置。
5. 請求項１から４のいずれか一項の電源診断装置と、前記電源装置と、前記電子装置とを包含する電源診断システム。

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