JP6261764B2 - 信号測定装置 - Google Patents

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Description

この発明は、原子力プラントなどプラントにおける複数の連続して変化するプロセス信号を、安定的に測定でき、かつ、装置が小型化できる信号測定装置に関するものである。
従来の信号測定装置は、1個のプロセス信号に対して、1個の入力回路部を必要とした。このような信号測定装置の構成では、信号測定対象部としてのプラントのプロセス信号の数に比例して大型になる。
この対策として、信号測定装置に、複数の信号の伝送回路を順次切り替えしてスキャニングするスキャニングスイッチを設ける。そして、信号測定装置は、複数の信号を1つの入力回路部にて対応している(例えば、特許文献1参照)。
特開2007−156847号公報
従来の信号測定装置は、スキャニングする信号は接点の状態がON信号またはOFF信号に限られている。よって、例えば、プラントなどにて検出される連続的に変化するプロセス信号(例えば、測温抵抗体、熱電対、伝送器などから検出される信号)に対しては、この従来の信号測定装置を利用することができないという問題点があった。
この発明は上記のような課題を解決するためになされたものであり、複数の連続して変化するプロセス信号を、安定的に測定でき、かつ、装置が小型化できる信号測定装置を提供することを目的とする。
この発明の信号測定装置は、
検出部は、連続的に変化するプロセス信号を検出するものであって、
信号測定対象部は、前記検出部を複数個有するものであり、
前記信号測定対象部の前記プロセス信号を測定する信号測定装置において、
各前記検出部からの各前記プロセス信号を入力する1個の入力回路部と、
各前記検出部と前記入力回路部との開閉切替を行う信号切替部と、
前記入力回路部に接続され前記プロセス信号を処理する信号処理部と、
各前記検出部のいずれか1つが前記入力回路部に接続されるように設定された開閉時間に応じた切替命令信号を前記信号切替部に出力し、かつ、各前記検出部から前記入力回路部に入力される前記プロセス信号が安定的に測定可能となる前記検出部毎に設定された安定測定時間に応じて測定命令信号を前記信号処理部に出力する切替命令部とを備えた信号測定装置であって、
前記信号切替部には、電源を必要とする前記検出部に対して、第四入力端子、第四出力端子、電源部および負荷抵抗部を備え、
電源を必要とする前記検出部と前記電源部と前記負荷抵抗部とは、直列に接続され、
前記負荷抵抗部と前記入力回路部とは、並列に接続されるとともに、前記第四入力端子および前記第四出力端子を介して接続され、
前記切替命令部は、前記第四入力端子および前記第四出力端子に前記切替命令信号を出力するものである
この発明の信号測定装置によれば、
複数の連続して変化するプロセス信号を、安定的に測定でき、かつ、装置が小型化できる。
この発明の実施の形態1の信号測定装置の構成を示す図である。 図1に示した信号測定装置の信号測定方法を説明するための図である。 この発明の実施の形態2の信号測定装置の構成を示す図である。 図3に示した検出部と、入力回路部との関係を説明するための回路図である。 この発明の実施の形態3の信号測定装置の構成を示す図である。 図5に示した検出部と、入力回路部との関係を説明するための回路図である。
実施の形態1.
以下、本願発明の実施の形態について説明する。
図1はこの発明の実施の形態1における信号測定装置の構成を示す図である。
図2は図1に示した信号測定装置の信号測定方法を説明するための図である。
図1について説明する。
信号測定装置1は、信号測定対象部としてのプラント100の、連続的に変化するプロセス信号を測定するためのものである。
ここで言う、連続的に変化するプロセス信号とは、ローレベルおよびハイレベルのような二値の信号ではなく、二値以外の値も取り得る信号を指す。
プラント100とは、例えば、原子力プラントなどが考えられる。
プラント100には、プロセス信号が複数存在する。
プラント100には、これら複数のプロセス信号を検出する検出部が複数個存在する。
本実施の形態1における検出部は、第一検出部101、第二検出部102、第三検出部103、および第M検出部1Mの複数個が存在する。
尚、本実施の形態1においては、検出部が4個形成されている例を示している。しかし、これに限られることはなく、検出部が2個以上であれば同様に対応することができる。
また、このことは以下の実施の形態においても同様であるため、この説明は適宜省略する。
信号測定装置1は、信号切替部10と、入力回路部21と、信号処理部23と、切替命令部22とを備えている。
入力回路部21は、第一検出部101、第二検出部102、第三検出部103、および第M検出部1Mからの各プロセス信号をそれぞれ入力する。
また、入力回路部21は、1個の回路部にて構成されており、複数の検出部の内の、1つの検出部からのみプロセス信号を入力することができる。
信号切替部10は、第一検出部101、第二検出部102、第三検出部103、および第M検出部1Mと、入力回路部21との開閉切替を行うものである。
信号切替部10は、第一検出部101と、入力回路部21とを接続する、第一切替端子部10Aを備えている。
信号切替部10は、第二検出部102と、入力回路部21とを接続する、第二切替端子部10Bを備えている。
信号切替部10は、第三検出部103と、入力回路部21とを接続する、第三切替端子部10Cを備えている。
信号切替部10は、第M検出部1Mと、入力回路部21とを接続する、第M切替端子部10Mを備えている。
また、本実施の形態1においては、第一検出部101、第二検出部102、第三検出部103、および第M検出部1Mは、熱電対にて構成されている場合について説明する。
このように熱電対にて構成されている検出部は、熱起電力が生じる現象を利用したプロセス信号を検出する。
この場合、信号切替部10には、第一検出部101の第一切替端子部10Aとして、第一入力端子11Aおよび第一出力端子12Aを有する。
また、第二検出部102の第二切替端子部10Bとして、第一入力端子11Bおよび第一出力端子12Bを有する。
また、第三検出部103の第三切替端子部10Cとして、第一入力端子11Cおよび第一出力端子12Cを有する。
また、第M検出部1Mの第M切替端子部10Mとして、第一入力端子11Mおよび第一出力端子12Mを有する。
そして、第一検出部101と、入力回路部21とは、第一入力端子11Aおよび第一出力端子12Aを介して接続される。
また、第二検出部102と、入力回路部21とは、第一入力端子11Bおよび第一出力端子12Bを介して接続される。
また、第三検出部103と、入力回路部21とは、第一入力端子11Cおよび第一出力端子12Cを介して接続される。
また、第M検出部1Mと、入力回路部21とは、第一入力端子11Mおよび第一出力端子12Mを介して接続される。
これら、第一入力端子11A、11B、11C、11Mおよび第一出力端子12A、12B、12C、12Mは、開閉を行うスイッチ機構で構成されている。
信号処理部23は、入力回路部21に接続されプロセス信号を処理するものである。
そして、切替命令部22は、開閉時間に応じた切替命令信号Tを信号切替部10に出力するものである。
具体的には、切替命令部22から信号切替部10の第一切替端子部10A、第二切替端子部10B、第三切替端子部10C、および第M切替端子部10Mに、開閉時間に応じた切替命令信号Tがそれぞれ送信される。
すなわち、第一入力端子11A、11B、11C、11Mおよび第一出力端子12A、12B、12C、12Mに切替命令信号T1、T2、T3、TMがそれぞれ入力される。
これら切替命令信号T1、T2、T3、TMによる開閉時間は、第一検出部101、第二検出部102、第三検出部103、および第M検出部1Mのいずれか1つが、入力回路部21に接続されるように設定されている。
この開閉時間は、第一検出部101、第二検出部102、第三検出部103、および第M検出部1Mがそれぞれどの程度の間隔にてプロセス信号を測定する必要があるかに応じて適宜設定されるものである。
さらに、切替命令部22は、第一検出部101、第二検出部102、第三検出部103、および第M検出部1M毎に設定された安定測定時間Δtに応じて測定命令信号tを信号処理部23に出力するものである。
安定測定時間Δtとは、第一検出部101、第二検出部102、第三検出部103、および第M検出部1Mから信号切替部10を介して入力回路部21に入力されるまでの回路によって、あらかじめ決定されるものである。
そして、安定測定時間Δtとは、これら回路が閉状態になってから、入力回路部21に入力されるプロセス信号が安定的に測定可能となるまでの時間である。
これは、回路が閉状態となった直後では、ノイズの発生、回路が不安定な状態であるなどによりプロセス信号を正確に測定することができないため設定される時間である。
よって、回路が閉状態となってから、この安定測定時間Δtが経過した後に、プロセス信号を測定すれば、精度に優れた測定を行うことができる。
この安定測定時間Δtは、回路に特有の時間であり、第一検出部101であれば、第一検出部101から、第一入力端子11A、入力回路部21、第一出力端子12A、第一検出部101に至る回路における特有の安定測定時間Δt1が決定される。
そして、第二検出部102であれば、第二検出部102から、第一入力端子11B、入力回路部21、第一出力端子12B、第二検出部102に至る回路における特有の安定測定時間Δt2が決定される。
そして、第三検出部103であれば、第三検出部103から、第一入力端子11C、入力回路部21、第一出力端子12C、第三検出部103に至る回路における特有の安定測定時間Δt3が決定される。そして、第M検出部1Mであれば、第M検出部1M、第一入力端子11M、入力回路部21、第一出力端子12M、第M検出部1Mに至る回路における特有の安定測定時間ΔtMが決定される。
次に、上記のように構成された実施の形態1の信号測定装置1の信号測定方法について図2を交えて説明する。
図2は、切替命令部22が信号切替部10に送信する切替命令信号Tと、切替命令部22が信号処理部23に送信する測定命令信号tとのタイミングチャートを示したものである。さらに、測定命令信号tを送信するための安定測定時間Δtを示したものである。
また、第一検出部101、第二検出部102、第三検出部103、および第M検出部1Mのプロセス信号の測定命令信号tにより測定されたプロセス信号の測定値の時間変化を示したものである。
図2の切替命令信号Tは、ハイレベルの状態の時は「閉」、ローレベルの状態の時は「開」を示している。すなわち、ハイレベルの状態の時は測定している状態を、ローレベルの状態の時は測定していない状態をそれぞれ示している。
そして、切替命令信号T1は、第一切替端子部10Aに送信される。
また、切替命令信号T2は、第二切替端子部10Bに送信される。
また、切替命令信号T3は、第三切替端子部10Cに送信される。
また、切替命令信号TMは、第M切替端子部10Mに送信される。
図2に示すとおり、第一切替端子部10A、第二切替端子部10B、第三切替端子部10C、および第M切替端子部10Mは、切替命令信号Tにより順次開閉状態が切り替わっていく。
よって、第一切替端子部10A、第二切替端子部10B、第三切替端子部10C、および第M切替端子部10Mのうち、ある時間に閉状態となるのは1個だけである。
そして、第一切替端子部10A、第二切替端子部10B、第三切替端子部10C、および第M切替端子部10Mが閉状態となる時間、すなわち切替命令信号Tのハイレベルの状態の時間は、第一検出部101、第二検出部102、第三検出部103、および第M検出部1M毎に切替命令部22で設定可能である。
そして、第一検出部101、第二検出部102、第三検出部103、および第M検出部1Mのいずれか1個が、入力回路部21に接続されることになる。
次に、これら切替命令信号T1、T2、T3、TMの始点から安定測定時間Δt1、Δt2、Δt3、ΔtM後のプロセス信号を測定処理するように測定命令信号tを信号処理部23に送信する。
よって、第一検出部101では、切替命令信号T1の始点から安定測定時間Δt1後に信号処理部23に送信された測定命令信号tにより、時間t1ではプロセス信号A1が、また、時間t5ではプロセス信号A2がそれぞれ測定され、連続したプロセス信号の測定を行うことができる。
同様に、第二検出部102では、切替命令信号T2の始点から安定測定時間Δt2後に信号処理部23に送信された測定命令信号tにより、時間t2ではプロセス信号B1が、また、時間t6ではプロセス信号B2がそれぞれ測定され、連続したプロセス信号の測定を行うことができる。
同様に、第三検出部103では、切替命令信号T3の始点から安定測定時間Δt3後に信号処理部23に送信された測定命令信号tにより、時間t3ではプロセス信号C1が、また、時間t7ではプロセス信号C2がそれぞれ測定され、連続したプロセス信号の測定を行うことができる。
同様に、第M検出部1Mでは、切替命令信号TMの始点から安定測定時間ΔtM後に信号処理部23に送信された測定命令信号tにより、時間t4ではプロセス信号M1が、また、時間t8ではプロセス信号M2の値がそれぞれ測定され、連続したプロセス信号の測定を行うことができる。
上記のように構成された実施の形態1の信号測定装置によれば、
信号測定対象部の複数のプロセス信号を検出する複数の検出部に対して1個の入力回路部により測定することができるため、信号測定装置が小型化できる。よって、信号測定装置の設備コストが削減でき、省エネルギー化が達成できる。
また、安定測定時間に応じた測定命令信号によりプロセス信号を測定しているため、精度に優れた測定を行うことができる。
また、検出部が熱電対など、起電力によりプロセス信号を発生するような場合には、検出部と入力回路部とを、第一入力端子および第一出力端子を介して接続することにより、検出部のプロセス信号を簡便に測定することができる。
実施の形態2.
図3はこの発明の実施の形態2の信号測定装置の構成を示す図である。
図4は図3に示した検出部と、入力回路部と、定電流回路部との関係を説明するための回路図である。本実施の形態2の上記実施の形態1と異なる部分は、検出部が定電流を必要とする点である。
そして、定電流を必要とする検出部は、例えば、測温抵抗体が考えられる。そして、本実施の形態2の信号測定装置の信号測定方法は、上記実施の形態1の図2において示した場合と同様に行うことができる。このため、本実施の形態2の信号測定方法は、その説明を適宜省略する。
図において、上記実施の形態1と同様の部分は同一符号を付して説明を省略する。
信号測定装置1は、定電流を発生させる定電流回路部26を備える。
第一検出部104は、定電流を必要とする、例えば、測温抵抗体にて形成されている。
第一検出部104の信号切替を行う、信号切替部10の第一切替端子部10Aは、第二入力端子13A、第二出力端子14A、第三入力端子15Aおよび第三出力端子16Aを備えている。
これら、第二入力端子13A、第二出力端子14A、第三入力端子15Aおよび第三出力端子16Aは、開閉を行うスイッチ機構で構成されている。
第一検出部104と入力回路部21とは、第二入力端子13Aおよび第二出力端子14Aを介して接続されている。
また、第一検出部104と定電流回路部26とは、第三入力端子15Aおよび第三出力端子16Aを介して接続されている。
そして、切替命令部22は、第一切替端子部10Aである、第二入力端子13A、第二出力端子14A、第三入力端子15Aおよび第三出力端子16Aに切替命令信号を出力する。
尚、図3においては、便宜上、定電流を必要とする検出部として、第一検出部104のみを示しているが、同様の検出部が複数個存在するものである。
次に、上記のように構成された実施の形態2の信号測定装置1の動作について説明する。図4の回路図に示すように、第一検出部104に定電流回路部26および入力回路部21が並列に接続されている。尚、第二入力端子13A、第二出力端子14A、第三入力端子15Aおよび第三出力端子16Aは、この回路中に存在するものであるが図4では省略している。本実施の形態2においては、第一検出部104から入力回路部21に入力されるプロセス信号が、安定的に測定可能となる安定測定時間は、この回路によってあらかじめ決定されるものである。
そして、第一検出部104の切替は、第二入力端子13A、第二出力端子14A、第三入力端子15Aおよび第三出力端子16Aに切替命令信号Tが送信されて行われる。そして、第一検出部104の信号を測定する場合には、第二入力端子13A、第二出力端子14A、第三入力端子15Aおよび第三出力端子16Aが閉状態となっている。そして、第一検出部104には、定電流回路部26から定電流が供給される。よって、上記実施の形態1と同様に、第一検出部104の信号を測定することができる。
上記のように構成された実施の形態2の信号測定装置によれば、上記実施の形態1と同様の効果を奏するのはもちろんのこと、定電流を必要とする検出部には、検出部の信号を測定する時に、定電流回路部が検出部に接続されている。よって、検出部には定電流が供給されているため、上記実施の形態1と同様に、検出部のプロセス信号を簡便に測定することができる。
実施の形態3.
図5はこの発明の実施の形態3の信号測定装置の構成を示す図である。
図6は図5に示した検出部と、入力回路部と、電源部と、負荷抵抗部との関係を説明するための回路図である。図において、上記各実施の形態と同様の部分は同一符号を付して説明を省略する。
本実施の形態3の上記実施の形態1と異なる部分は、検出部が電源を必要とする点である。そして、電源を必要とする検出部としては、例えば、伝送器が考えられる。よって、本実施の形態3の信号測定装置の信号測定方法は、上記実施の形態1の図2において示した場合と同様に行うことができる。このため、本実施の形態3の信号測定方法は、その説明を適宜省略する。
図において、上記実施の形態1と同様の部分は同一符号を付して説明を省略する。
第一検出部105、第二検出部106、第三検出部107、第N検出部1Nは、電源を必要とする、例えば、伝送器にて形成されている。
そして、第一検出部105の信号切替を行う、信号切替部10の第一切替端子部10Aは、第四入力端子17A、第四出力端子18A、電源部19Aおよび負荷抵抗部20Aを備えている。
第一検出部105と電源部19Aと負荷抵抗部20Aとは、直列に接続されている。
負荷抵抗部20Aと入力回路部21とは、並列に接続されるとともに、第四入力端子17Aおよび第四出力端子18Aを介して接続されている。
切替命令部22は、第一切替端子部10A、すなわち、第四入力端子17Aおよび第四出力端子18Aに切替命令信号Tを出力する。
同様に、第二検出部106の信号切替を行う、信号切替部10の第二切替端子部10Bは、第四入力端子17B、第四出力端子18B、電源部19Bおよび負荷抵抗部20Bを備えている。
第二検出部106と電源部19Bと負荷抵抗部20Bとは、直列に接続されている。
負荷抵抗部20Bと入力回路部21とは、並列に接続されるとともに、第四入力端子17Bおよび第四出力端子18Bを介して接続されている。
切替命令部22は、第二切替端子部10B、すなわち、第四入力端子17Bおよび第四出力端子18Bに切替命令信号Tを出力する。
同様に、第三検出部107の信号切替を行う、信号切替部10の第三切替端子部10Cは、第四入力端子17C、第四出力端子18C、電源部19Cおよび負荷抵抗部20Cを備えている。
第三検出部107と電源部19Cと負荷抵抗部20Cとは、直列に接続されている。
負荷抵抗部20Cと入力回路部21とは、並列に接続されるとともに、第四入力端子17Cおよび第四出力端子18Cを介して接続されている。
切替命令部22は、第三切替端子部10C、すなわち、第四入力端子17Cおよび第四出力端子18Cに切替命令信号Tを出力する。
同様に、第N検出部1Nの信号切替を行う、信号切替部10の第N切替端子部10Nは、第四入力端子17N、第四出力端子18N、電源部19Nおよび負荷抵抗部20Nを備えている。
第N検出部1Nと電源部19Nと負荷抵抗部20Nとは、直列に接続されている。
負荷抵抗部20Nと入力回路部21とは、並列に接続されるとともに、第四入力端子17Nおよび第四出力端子18Nを介して接続されている。
切替命令部22は、第N切替端子部10N、すなわち、第四入力端子17Nおよび第四出力端子18Nに切替命令信号Tを出力する。
そしてこれら、第四入力端子17A、17B、17C、17Nおよび、第四出力端子18A、18B、18C、18Nは、開閉を行うスイッチ機構で構成されている。
次に、上記のように構成された実施の形態3の信号測定装置1の動作について説明する。図6の回路図に示すように、第一検出部105と、電源部19Aと、負荷抵抗部20Aとは直列に接続されている。このため、第一検出部105には、電源部19Aから常に電源が供給されている。尚、第四入力端子17Aおよび第四出力端子18Aは、この回路中に存在するものであるが、図6では省略している。
そして、負荷抵抗部20Aと入力回路部21とは、並列に接続され、第四入力端子17Aおよび第四出力端子18Aを介して接続され切替が行われている。よって、本実施の形態3においては、第一検出部105から入力回路部21に入力されるプロセス信号が、安定的に測定可能となる安定測定時間は、この回路によってあらかじめ決定されるものである。
第一検出部105の切替は、第四入力端子17A、および第四出力端子18Aに切替命令信号Tが送信されて行われる。そして、第一検出部105の信号を測定する場合には、第四入力端子17A、および、第四出力端子18Aが閉状態となり、負荷抵抗部20Aを介して第一検出部105のプロセス信号が入力回路部21に入力される。よって、上記実施の形態1と同様に、第一検出部105の信号を測定することができる。また、このことは、他の第二検出部106、第三検出部107および第N検出部1Nでも同様に行うことができるため、その説明は省略する。
上記のよう構成された実施の形態3の信号測定装置によれば、上記実施の形態1と同様の効果を奏するのはもちろんのこと、電源を必要とする検出部には、検出部に常に電源を接続し、検出部の信号を測定する時に、負荷抵抗部を介する信号を測定しているため、上記実施の形態1と同様に、検出部のプロセス信号を簡便に測定することができる。
尚、上記各実施の形態においては、便宜上、検出部の種類が1種類、上記実施の形態1においては起電力による検出部、上記実施の形態2においては定電流を必要とする検出部、上記実施の形態3においては電源を必要とする検出部の例を示したが、これに限られることはなく、2種類以上の検出部が混在していても、それぞれに必要となる回路を備えていれば、上記各実施の形態と同様に、各検出部のプロセス信号を測定することができる。
尚、本発明は、その発明の範囲内において、各実施の形態を自由に組み合わせたり、各実施の形態を適宜、変形、省略することが可能である。

Claims (3)

  1. 検出部は、連続的に変化するプロセス信号を検出するものであって、
    信号測定対象部は、前記検出部を複数個有するものであり、
    前記信号測定対象部の前記プロセス信号を測定する信号測定装置において、
    各前記検出部からの各前記プロセス信号を入力する1個の入力回路部と、
    各前記検出部と前記入力回路部との開閉切替を行う信号切替部と、
    前記入力回路部に接続され前記プロセス信号を処理する信号処理部と、
    各前記検出部のいずれか1つが前記入力回路部に接続されるように設定された開閉時間に応じた切替命令信号を前記信号切替部に出力し、かつ、各前記検出部から前記入力回路部に入力される前記プロセス信号が安定的に測定可能となる前記検出部毎に設定された安定測定時間に応じた測定命令信号を前記信号処理部に出力する切替命令部とを備えた信号測定装置であって、
    前記信号切替部には、電源を必要とする前記検出部に対して、第四入力端子、第四出力端子、電源部および負荷抵抗部を備え、
    電源を必要とする前記検出部と前記電源部と前記負荷抵抗部とは、直列に接続され、
    前記負荷抵抗部と前記入力回路部とは、並列に接続されるとともに、前記第四入力端子および前記第四出力端子を介して接続され、
    前記切替命令部は、前記第四入力端子および前記第四出力端子に前記切替命令信号を出力する信号測定装置。
  2. 前記信号切替部には、前記プロセス信号が起電力によるものである前記検出部に対して、第一入力端子および第一出力端子を形成し、
    前記プロセス信号が起電力信号の前記検出部と前記入力回路部とは、前記第一入力端子および前記第一出力端子を介して接続され、
    前記切替命令部は、前記第一入力端子および前記第一出力端子に前記切替命令信号を出力する請求項1に記載の信号測定装置。
  3. 定電流回路部を備え、
    前記信号切替部には、定電流を必要とする前記検出部に対して、第二入力端子、第二出力端子、第三入力端子および第三出力端子を備え、
    定電流を必要とする前記検出部と前記入力回路部とは、前記第二入力端子および前記第二出力端子を介して接続され、
    定電流を必要とする前記検出部と前記定電流回路部とは、前記第三入力端子および前記第三出力端子を介して接続され、
    前記切替命令部は、前記第二入力端子、前記第二出力端子、前記第三入力端子および前記第三出力端子に前記切替命令信号を出力する請求項1または請求項2に記載の信号測定装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3229276A (en) * 1960-12-08 1966-01-11 Leeds & Northrup Co High speed measuring system
DE2516344C3 (de) * 1975-04-15 1978-10-12 Keller Spezialtechnik-Pyro Werk Gmbh, 4530 Ibbenbueren Einrichtung zum Auswerten von mehreren Meßsignalen
JPS5466188A (en) * 1977-11-05 1979-05-28 Keiji Nishimoto Multispot temperature measuring system employing temperature measuring resistor
JPS5582005A (en) * 1978-12-15 1980-06-20 Kyowa Dengiyou:Kk Strain measuring unit of multi-point digital type
JPS5725100A (en) * 1980-07-23 1982-02-09 Yamatake Honeywell Co Ltd Temperature measuring resistor circuit
JPS59212997A (ja) * 1983-05-18 1984-12-01 株式会社チノー 多点入力切換装置
JPS6341722U (ja) * 1986-09-03 1988-03-18
JPS63109327A (ja) * 1986-10-27 1988-05-14 Yokogawa Electric Corp 多点デ−タ収録装置
JP2732585B2 (ja) 1988-06-17 1998-03-30 株式会社東芝 プロセス入力装置
JP3246833B2 (ja) * 1994-07-08 2002-01-15 株式会社日立製作所 自動車制御装置及び自動車制御方法
JP2004048658A (ja) * 2002-05-17 2004-02-12 Yazaki Corp 光通信システム、信号中継装置、光通信用コネクタ
JP2007156847A (ja) * 2005-12-06 2007-06-21 Mitsubishi Electric Corp プロセス情報入力機構及びプロセス情報入力機構を用いた監視制御装置
EP2333568A1 (en) * 2009-12-10 2011-06-15 Johnson Controls Saft Advanced Power Solutions LLC Determination of insulation resistance of an electric DC circuit

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