JP6209848B2

JP6209848B2 - Vehicle lighting

Info

Publication number: JP6209848B2
Application number: JP2013090962A
Authority: JP
Inventors: 岡本　智博; 智博岡本
Original assignee: Ichikoh Industries Ltd
Current assignee: Ichikoh Industries Ltd
Priority date: 2013-04-24
Filing date: 2013-04-24
Publication date: 2017-10-11
Anticipated expiration: 2033-04-24
Also published as: JP2014213663A

Description

この発明は、半導体型光源を使用する車両用灯具に関するものである。 The present invention relates to a vehicular lamp that uses a semiconductor-type light source.

この種の車両用灯具は、従来からある（たとえば、特許文献１）。以下、従来の車両用灯具について説明する。特許文献１の車両用灯具は、複数の半導体光源のいずれかに異常が生じたことを電圧の変化を基に検出する異常検出手段を備えるものである。特許文献２の車両用灯具は、複数の半導体光源の点灯消灯を制御する電流駆動手段と、電流駆動手段で発生する異常を検出し異常検出結果を送出する制御手段と、を備えるものである。特許文献３の車両用灯具は、複数のＬＥＤまたはＬＥＤ点灯装置の異常を検出する異常検出回路と、異常検出回路によって異常が検出された際に異常信号を外部に出力する外部報知回路と、を備えるものである。特許文献４の車両用灯具は、複数のＬＥＤのうち一部のＬＥＤの端子間を、短絡するときに点灯しているＬＥＤへの過剰な電流を抑制し、また、開放するときに電流低下を軽減する点灯装置を備えるものである。特許文献５の車両用灯具は、複数個のＬＥＤ全部を点灯させた状態から一部を点灯させる状態に切り替えるときに過電流によるＬＥＤの破損を防止する点灯回路を備えるものである。 This type of vehicular lamp is conventionally known (for example, Patent Document 1). Hereinafter, a conventional vehicle lamp will be described. The vehicular lamp of Patent Document 1 includes abnormality detection means for detecting that an abnormality has occurred in any of a plurality of semiconductor light sources based on a change in voltage. The vehicular lamp of Patent Document 2 includes a current driving unit that controls turning on / off of a plurality of semiconductor light sources, and a control unit that detects an abnormality occurring in the current driving unit and sends out an abnormality detection result. The vehicular lamp of Patent Document 3 includes an abnormality detection circuit that detects an abnormality of a plurality of LEDs or LED lighting devices, and an external notification circuit that outputs an abnormality signal to the outside when an abnormality is detected by the abnormality detection circuit. It is to be prepared. The vehicular lamp of Patent Document 4 suppresses excessive current to the LEDs that are lit when short-circuiting between the terminals of some of the plurality of LEDs, and reduces current when opening. It is equipped with a lighting device to reduce. The vehicular lamp of Patent Document 5 includes a lighting circuit that prevents breakage of LEDs due to overcurrent when switching from a state in which all of a plurality of LEDs are lit to a state in which some of the LEDs are lit.

特開２００６−２１０２１９号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2006-210219 特開２００９−１８４５９２号公報JP 2009-184592 A 特開２０１０−１３７７０８号公報JP 2010-137708 A 特開２０１２−２８１８４号公報JP 2012-28184 A 特開２０１３−４７０４７号公報JP 2013-47047 A

ところが、特許文献４、特許文献５の車両用灯具は、ＬＥＤの点灯・消灯の個数を切り替える際に、電圧・電流が変化する。このために、特許文献４、特許文献５の車両用灯具に、特許文献１、特許文献２、特許文献３の車両用灯具の異常検出装置を使用した場合においては、異常検出を確実に行うことができない場合がある。 However, in the vehicular lamps of Patent Document 4 and Patent Document 5, the voltage and current change when the number of LEDs to be turned on / off is switched. For this reason, in the case where the abnormality detection device for vehicle lamps of Patent Document 1, Patent Document 2, and Patent Document 3 is used for the vehicle lamps of Patent Document 4 and Patent Document 5, abnormality detection is performed reliably. May not be possible.

この発明が解決しようとする課題は、従来の車両用灯具では、異常検出を確実に行うことができない場合がある、という点にある。 The problem to be solved by the present invention is that the conventional vehicle lamp may not be able to reliably detect abnormality.

この発明（請求項１にかかる発明）は、直列に接続されている２個以上の半導体型光源（半導体光源）と、２個以上の半導体型光源のうち１個以上の半導体型光源と並列に接続されている電流バイパス手段と、電流バイパス手段に流す電流を制御するバイパス制御手段と、半導体型光源に電力を供給する点灯回路と、点灯回路の出力異常を診断する出力診断手段と、を備え、電流バイパス手段に流す電流の状態を変化させることで半導体型光源を点灯状態から消灯状態に切り替えている間の出力診断手段の内容は、電流バイパス手段に流す電流の状態を変化させていない間の出力診断手段の内容に対して、変更され、電流バイパス手段に流す電流の状態変化が所定時間以上経過する場合は、電流バイパス手段に流す電流の状態変化を制限する、ことを特徴とする。 According to the present invention (the invention according to claim 1), two or more semiconductor light sources (semiconductor light sources) connected in series and one or more semiconductor light sources among the two or more semiconductor light sources are connected in parallel. A connected current bypass means, a bypass control means for controlling a current flowing through the current bypass means, a lighting circuit for supplying power to the semiconductor light source, and an output diagnostic means for diagnosing an output abnormality of the lighting circuit. , the contents of the output diagnostic tool while switching the semiconductor-type light source Rukoto change the state of the current flowing through the current bypass means from the lighting state to the oFF state, no change state of the current flowing through the current bypass means the contents of the output diagnostic means between, is changed, if the state change of the current flowing through the current bypass means is older than a predetermined time, limits the state change of the current flowing through the current bypass means It is characterized in.

この発明（請求項２にかかる発明）は、出力診断手段の変更される内容が、点灯回路の出力異常の診断を停止させる内容である、ことを特徴とする。 The present invention (the invention according to claim 2) is characterized in that the contents to be changed by the output diagnosis means are contents for stopping the diagnosis of the output abnormality of the lighting circuit.

この発明（請求項３にかかる発明）は、出力診断手段の変更される内容が、点灯回路の出力異常を診断するための時間的閾値を変更させる内容である、ことを特徴とする。 This invention (the invention according to claim 3) is characterized in that the contents to be changed by the output diagnosis means are contents for changing a temporal threshold value for diagnosing an output abnormality of the lighting circuit.

この発明の車両用灯具は、電流バイパス手段に流す電流の状態を変化させている間（すなわち、点灯回路からの出力電圧・出力電流が変動している間）の出力診断手段の出力診断内容を、電流バイパス手段に流す電流の状態を変化させていない間（すなわち、点灯回路からの出力電圧・出力電流が変動していない間）の出力診断手段の出力診断内容に対して、変更させるものである。このために、電流バイパス手段に流す電流の状態を変化させている間において、電流バイパス手段に流す電流の状態を変化させていない間の出力診断手段の出力診断内容による、誤診断を確実に防ぐことができる。すなわち、出力診断手段による点灯回路の出力異常診断を確実に行うことができる。 The vehicular lamp according to the present invention provides the output diagnosis contents of the output diagnosis means while changing the state of the current flowing through the current bypass means (that is, while the output voltage and output current from the lighting circuit are fluctuating). The output diagnosis contents of the output diagnosis means are changed while the state of the current flowing through the current bypass means is not changed (that is, while the output voltage and output current from the lighting circuit are not changed). is there. For this reason, while changing the state of the current flowing through the current bypass means, it is possible to reliably prevent erroneous diagnosis due to the output diagnosis contents of the output diagnostic means while not changing the state of the current flowing through the current bypass means. be able to. That is, it is possible to reliably perform the output abnormality diagnosis of the lighting circuit by the output diagnosis means.

図１は、この発明にかかる車両用灯具の実施形態を示す構成部品のブロック図（システムブロック図）である。FIG. 1 is a block diagram (system block diagram) of components showing an embodiment of a vehicular lamp according to the present invention. 図２は、作用（作動）の概略（概要）を示す説明図（フローチャート）である。FIG. 2 is an explanatory diagram (flow chart) showing an outline (outline) of the action (operation). 図３は、すれ違い配光パターン（ロービーム配光パターン）から走行配光パターン（ハイビーム配光パターン）に切り替える状態を示す電流波形の説明図（タイミングチャート）である。FIG. 3 is an explanatory diagram (timing chart) of a current waveform showing a state of switching from the passing light distribution pattern (low beam light distribution pattern) to the traveling light distribution pattern (high beam light distribution pattern). 図４は、走行配光パターン（ハイビーム配光パターン）からすれ違い配光パターン（ロービーム配光パターン）に切り替える状態を示す電流波形の説明図（タイミングチャート）である。FIG. 4 is an explanatory diagram (timing chart) of a current waveform showing a state where the traveling light distribution pattern (high beam light distribution pattern) is switched to the passing light distribution pattern (low beam light distribution pattern). 図５は、ランプスイッチを走行配光パターンの状態とすれ違い配光パターンの状態とに反復操作した場合における作用を示すランプスイッチ波形および電流波形の説明図（タイミングチャート）である。FIG. 5 is an explanatory diagram (timing chart) of a lamp switch waveform and a current waveform showing an operation when the lamp switch is repeatedly operated to a traveling light distribution pattern state and a passing light distribution pattern state. 図６は、スイッチ、制御装置、点灯回路を示すブロック図である。FIG. 6 is a block diagram illustrating a switch, a control device, and a lighting circuit.

以下、この発明にかかる車両用灯具の実施形態（実施例）の１例を図面に基づいて詳細に説明する。なお、この実施形態によりこの発明が限定されるものではない。図３、図４において、縦軸は、第１半導体型光源の消灯・点灯状態および第２半導体型光源の消灯・点灯状態および出力診断手段の診断内容を示し、横軸は、時間を示す。図５において、縦軸は、ランプスイッチの操作状態および第１半導体型光源の消灯・点灯状態および第２半導体型光源の消灯・点灯状態および出力診断手段の診断内容を示し、横軸は、時間を示す。 Hereinafter, an example of an embodiment (example) of a vehicular lamp according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In addition, this invention is not limited by this embodiment. 3 and 4, the vertical axis indicates the light extinction / lighting state of the first semiconductor light source, the light extinction / lighting state of the second semiconductor light source, and the diagnosis contents of the output diagnostic means, and the horizontal axis indicates time. In FIG. 5, the vertical axis indicates the lamp switch operation state, the first semiconductor light source extinguishing / lighting state, the second semiconductor light source extinguishing / lighting state, and the diagnostic contents of the output diagnostic means, and the horizontal axis indicates time Indicates.

（実施形態の構成の説明）
以下、この実施形態にかかる車両用灯具（車両用前照灯システム）の構成について説明する。前記車両用灯具は、この例では、車両用前照灯（ヘッドランプ）などであって、ヘッドランプユニットが車両の前部の左右両端部に搭載されている。前記車両用灯具は、第１半導体型光源１および第２半導体型光源２と、電流バイパス手段３と、バイパス制御手段４と、点灯回路５と、出力診断手段６と、ランプスイッチＳと、制御装置７と、を備える。 (Description of Configuration of Embodiment)
Hereinafter, the configuration of the vehicle lamp (vehicle headlamp system) according to this embodiment will be described. In this example, the vehicular lamp is a vehicular headlamp (headlamp) or the like, and a headlamp unit is mounted on both left and right ends of the front portion of the vehicle. The vehicular lamp includes a first semiconductor light source 1 and a second semiconductor light source 2, a current bypass means 3, a bypass control means 4, a lighting circuit 5, an output diagnosis means 6, a lamp switch S, and a control. And a device 7.

（第１半導体型光源１および第２半導体型光源２の説明）
前記第１半導体型光源１および前記第２半導体型光源２は、外部からの電力供給により発光して、車両用灯具の光源として機能する。この例では、前記第１半導体型光源１は、車両用前照灯のすれ違い配光パターンの光源として機能する。また、前記第１半導体型光源１および前記第２半導体型光源２は、車両用前照灯の走行配光パターンの光源として機能する。 (Description of the first semiconductor-type light source 1 and the second semiconductor-type light source 2)
The first semiconductor-type light source 1 and the second semiconductor-type light source 2 emit light by supplying power from the outside and function as a light source for a vehicle lamp. In this example, the first semiconductor light source 1 functions as a light source for a passing light distribution pattern of a vehicle headlamp. The first semiconductor type light source 1 and the second semiconductor type light source 2 function as a light source of a traveling light distribution pattern of a vehicle headlamp.

前記第１半導体型光源１および前記第２半導体型光源２は、電気的に直列に接続されている。前記第１半導体型光源１および前記第２半導体型光源２は、それぞれ、１個でも複数個でも良い。前記第１半導体型光源１および前記第２半導体型光源２は、この例では、たとえば、ＬＥＤ、ＯＥＬまたはＯＬＥＤ（有機ＥＬ）、レーザーダイオードなどの自発光半導体型光源である。 The first semiconductor light source 1 and the second semiconductor light source 2 are electrically connected in series. Each of the first semiconductor type light source 1 and the second semiconductor type light source 2 may be one or plural. In this example, the first semiconductor light source 1 and the second semiconductor light source 2 are self-luminous semiconductor light sources such as LEDs, OELs or OLEDs (organic ELs), and laser diodes.

（電流バイパス手段３の説明）
前記電流バイパス手段３は、１個もしくは複数個の前記第２半導体型光源２と電気的に並列に接続されている。前記電流バイパス手段３は、１個もしくは複数個の前記第１半導体型光源１と電気的に直列に接続されている。前記電流バイパス手段３は、前記第２半導体型光源２に流れる電流を分流するものである。 (Description of current bypass means 3)
The current bypass means 3 is electrically connected in parallel with one or a plurality of the second semiconductor light sources 2. The current bypass means 3 is electrically connected in series with one or a plurality of the first semiconductor light sources 1. The current bypass means 3 divides the current flowing through the second semiconductor light source 2.

前記電流バイパス手段３は、メカニカルリレーのような物理接点を使用した場合においては、前記第２半導体型光源２に、電流を流す（接点開放状態）、または、電流を流さない（接点接続状態）の２つの動作の選択となる。また、前記電流バイパス手段３は、トランジスタなどの半導体接点を使用した場合においては、前記の２つの動作に加えて分流状態（前記第２半導体型光源３と前記電流バイパス手段３との双方に電流を流す）の動作を実現することができる。 In the case where a physical contact such as a mechanical relay is used, the current bypass means 3 allows a current to flow through the second semiconductor light source 2 (contact open state) or does not flow a current (contact connection state). These two operations are selected. In addition, in the case where a semiconductor contact such as a transistor is used, the current bypass means 3 is in a shunted state (current is supplied to both the second semiconductor light source 3 and the current bypass means 3 in addition to the above two operations). Can be realized.

（バイパス制御手段４の説明）
前記バイパス制御手段４は、点灯信号・消灯信号、故障検出ステータスなどの外部状況または内部状況に応じて、電流の分流状態を適宜に変化させるように、前記電流バイパス手段３を制御する。前記バイパス制御手段４は、前記の状況から適切な分流状態を決める判断部（図示せず）と、前記判断部の判断結果に応じて実際に前記電流バイパス手段３を動かす駆動部（図示せず）と、を備える。 (Description of bypass control means 4)
The bypass control unit 4 controls the current bypass unit 3 so as to appropriately change the current shunting state in accordance with an external situation or an internal situation such as a lighting signal / extinguishing signal and a failure detection status. The bypass control unit 4 includes a determination unit (not shown) that determines an appropriate diversion state from the above situation, and a drive unit (not shown) that actually moves the current bypass unit 3 according to the determination result of the determination unit. And).

（点灯回路５の説明）
前記点灯回路５は、前記第１半導体型光源１および前記第２半導体型光源２から所望の光出力が得られるように、印加電圧・供給電流を適宜に調整する。前記点灯回路５、すなわち、車両用灯具における半導体型光源（半導体光源）の前記点灯回路５としては、ＤＣ−ＤＣコンバータを用いた定電流回路、あるいは、抵抗などを用いた電流制限回路などを一般的に使用する。 (Description of lighting circuit 5)
The lighting circuit 5 appropriately adjusts the applied voltage and supply current so that a desired light output can be obtained from the first semiconductor light source 1 and the second semiconductor light source 2. As the lighting circuit 5, that is, the lighting circuit 5 of a semiconductor light source (semiconductor light source) in a vehicular lamp, a constant current circuit using a DC-DC converter or a current limiting circuit using a resistor or the like is generally used. Use it.

（出力診断手段６の説明）
前記出力診断手段６は、前記点灯回路５からの出力電圧・出力電流を監視し、その出力電圧・出力電流が所定の範囲から外れた場合には異常が発生したと判断して、予め定められたフェイルセーフ処理を行う。フェイルセーフ処理としては、前記点灯回路５からの出力を停止する、あるいは、前記バイパス制御手段４を介して前記電流バイパス手段３の分流状態を変化させる。前記出力診断手段６は、フェイルセーフ処理と同時に、運転者に対して異常の発生を報知すべく、テルテールの点灯を指示する場合もある。 (Description of output diagnosis means 6)
The output diagnostic means 6 monitors the output voltage / output current from the lighting circuit 5 and determines that an abnormality has occurred when the output voltage / output current is out of a predetermined range. Perform fail-safe processing. As the fail-safe process, the output from the lighting circuit 5 is stopped, or the current shunting state of the current bypass unit 3 is changed via the bypass control unit 4. At the same time as the fail-safe process, the output diagnosis means 6 may instruct the driver to turn on the telltale to notify the driver of the occurrence of an abnormality.

前記出力診断手段６の内容は、図３、図４、図５に示すように、停止状態Ｊ１と、通常状態Ｊ２と、切替中状態Ｊ３と、からなる。前記停止状態Ｊ１は、前記第１半導体型光源１および前記第２半導体型光源２がＯＦＦ状態（消灯状態）のときであって、前記出力診断手段６が診断を停止している状態にある。前記通常状態Ｊ２は、前記第１半導体型光源１がＯＮ状態（点灯状態）、あるいは、前記第１半導体型光源１および前記第２半導体型光源２がＯＮ状態（点灯状態）のときであって、前記出力診断手段６が通常の内容の診断をしている状態にある。前記切替中状態Ｊ３は、前記第２半導体型光源２がＯＦＦ状態（消灯状態）からＯＮ状態（点灯状態）に切り替わるまでの途中の状態、あるいは、前記第２半導体型光源２がＯＮ状態（点灯状態）からＯＦＦ状態（消灯状態）に切り替わるまでの途中の状態のときであって、前記出力診断手段６が通常の内容と異なる内容の診断をしている状態にある。 As shown in FIGS. 3, 4, and 5, the contents of the output diagnosis means 6 include a stopped state J1, a normal state J2, and a switching state J3. The stop state J1 is when the first semiconductor-type light source 1 and the second semiconductor-type light source 2 are in an OFF state (light-off state), and the output diagnosis means 6 is in a state where the diagnosis is stopped. The normal state J2 is when the first semiconductor light source 1 is in an ON state (lighting state), or when the first semiconductor light source 1 and the second semiconductor light source 2 are in an ON state (lighting state). The output diagnosis means 6 is in a state of diagnosing normal contents. The switching state J3 is a state in the middle of the second semiconductor light source 2 switching from the OFF state (light-off state) to the ON state (lighting state), or the second semiconductor light source 2 is in the ON state (lights on). The state is in the middle of switching from the state) to the OFF state (light-off state), and the output diagnostic means 6 is in a state of diagnosing content different from the normal content.

すなわち、前記電流バイパス手段３に流す電流の状態を変化させている間（前記切替状態Ｊ３）の前記出力診断手段６の内容は、前記電流バイパス手段３に流す電流の状態を変化させていない間（通常状態Ｊ２）の前記出力診断手段６の内容（通常の内容）に対して、変更されている。 That is, the contents of the output diagnostic means 6 while the state of the current flowing through the current bypass means 3 is changed (the switching state J3) is the same as when the state of the current flowing through the current bypass means 3 is not changed. The contents (normal contents) of the output diagnostic means 6 in (normal state J2) are changed.

前記出力診断手段６の変更される内容は、前記点灯回路５の出力異常の診断を停止させる内容である。すなわち、前記出力診断手段６は、前記切替中状態Ｊ３においては、前記停止状態Ｊ１と同様に、診断を停止している状態にある。また、前記出力診断手段６の変更される内容は、前記点灯回路５の出力異常を診断するための時間的閾値を変更させる内容である。すなわち、前記出力診断手段６は、前記通常状態Ｊ２における前記点灯回路５の出力異常診断時間（たとえば、約０．１秒）に対して、前記切替中状態Ｊ３における前記点灯回路５の出力異常診断時間（たとえば、約１秒）を長くする。時間を長くするには、サンプリング回数を増やす、あるいは、サンプリング周期を長くする。 The changed contents of the output diagnosis means 6 are contents for stopping the diagnosis of the output abnormality of the lighting circuit 5. That is, the output diagnosis means 6 is in a state where the diagnosis is stopped in the switching state J3 as in the stop state J1. Further, the contents to be changed by the output diagnosis means 6 are contents to change the temporal threshold for diagnosing the output abnormality of the lighting circuit 5. That is, the output diagnosis unit 6 diagnoses the output abnormality of the lighting circuit 5 in the switching state J3 with respect to the output abnormality diagnosis time (for example, about 0.1 second) of the lighting circuit 5 in the normal state J2. Increase the time (for example, about 1 second). In order to lengthen the time, the number of samplings is increased or the sampling cycle is lengthened.

前記出力診断手段６は、前記電流バイパス手段３に流す電流の状態変化が所定時間以上経過する場合において、前記電流バイパス手段３に流す電流の状態変化を制限する。すなわち、前記出力診断手段６は、図５に示すように、出力異常診断が完了（終了）する前に、前記ランプスイッチＳを走行配光パターンの状態ＨＩとすれ違い配光パターンの状態ＬＯとに反復操作した場合において、出力異常診断ができなくなる場合がある。このために、前記出力診断手段６は、前記電流バイパス手段３に流す電流の状態変化が所定時間（たとえば、約数秒）以上経過する場合において、前記第２半導体型光源２を強制的にＯＦＦ状態（消灯状態）にする。 The output diagnosis unit 6 limits the state change of the current flowing through the current bypass unit 3 when the state change of the current flowing through the current bypass unit 3 elapses over a predetermined time. That is, as shown in FIG. 5, the output diagnosis means 6 sets the lamp switch S to the traveling light distribution pattern state HI and the passing light distribution pattern state LO before the output abnormality diagnosis is completed (terminated). When repeated operations are performed, output abnormality diagnosis may not be possible. For this reason, the output diagnostic means 6 forcibly turns off the second semiconductor light source 2 when the state change of the current flowing through the current bypass means 3 elapses over a predetermined time (for example, about several seconds). Set to (off).

（ランプスイッチＳの説明）
前記ランプスイッチＳは、ＯＦＦ位置、ＬＯ位置、ＨＩ位置、の３位置切替スイッチである。前記ランプスイッチＳは、運転者の手動により切り替わるスイッチであり、かつ、車両の走行状況に応じて自動的に切り替わるスイッチである。 (Description of lamp switch S)
The lamp switch S is a three-position changeover switch of an OFF position, an LO position, and an HI position. The lamp switch S is a switch that is manually switched by the driver, and that is automatically switched according to the traveling state of the vehicle.

（制御装置７の説明）
図６に示すように、前記制御装置（制御回路部やＥＣＵ・電子制御ユニット）７には、前記点灯回路５、前記ランプスイッチＳが接続されている。前記制御装置７は、前記ランプスイッチＳの位置状況に応じて前記バイパス制御手段４および前記点灯回路５および前記出力診断手段６の作用を前記の通り制御する。すなわち、前記制御装置７は、図２に示すフローチャートの工程を順次処理する。 (Description of the control device 7)
As shown in FIG. 6, the lighting circuit 5 and the lamp switch S are connected to the control device (control circuit unit and ECU / electronic control unit) 7. The control device 7 controls the operation of the bypass control means 4, the lighting circuit 5, and the output diagnosis means 6 as described above according to the position of the lamp switch S. That is, the control device 7 sequentially processes the steps of the flowchart shown in FIG.

（実施形態の作用の説明）
この実施形態にかかる車両用灯具は、以上のごとき構成からなり、以下、その作用について説明する。 (Description of the operation of the embodiment)
The vehicular lamp according to this embodiment is configured as described above, and the operation thereof will be described below.

（図３の作用の説明）
まず、図３について説明する。時点Ｔ１までは、ランプスイッチＳがＯＦＦ位置に位置するので、第１半導体型光源１および第２半導体型光源２がＯＦＦ状態にある。このとき、出力診断手段６は、停止状態Ｊ１にある。 (Description of the action of FIG. 3)
First, FIG. 3 will be described. Until time T1, since the lamp switch S is in the OFF position, the first semiconductor-type light source 1 and the second semiconductor-type light source 2 are in the OFF state. At this time, the output diagnosis means 6 is in the stop state J1.

時点Ｔ１において、所定の点灯条件たとえばすれ違い配光パターン照射条件が成立する。すると、ランプスイッチＳがＬＯ位置に位置するので、点灯回路５が第１半導体型光源１に電流を流す。一方、バイパス制御手段４が電流バイパス手段３に第１半導体型光源１からの全部の電流を流して、第２半導体型光源２に電流を流さない。 At time T1, a predetermined lighting condition, for example, a passing light distribution pattern irradiation condition is satisfied. Then, since the lamp switch S is located at the LO position, the lighting circuit 5 supplies a current to the first semiconductor type light source 1. On the other hand, the bypass control unit 4 allows the entire current from the first semiconductor type light source 1 to flow through the current bypass unit 3 and does not flow the current through the second semiconductor type light source 2.

時点Ｔ１から時点Ｔ２までの間は、第１半導体型光源１がＯＮ状態にあり、第２半導体型光源２がＯＦＦ状態にある。この結果、すれ違い配光パターンが照射される。このとき、出力診断手段６は、通常状態Ｊ２にあるので、点灯回路５の出力異常を通常の内容で診断する。 Between time T1 and time T2, the first semiconductor light source 1 is in the ON state and the second semiconductor light source 2 is in the OFF state. As a result, a passing light distribution pattern is irradiated. At this time, since the output diagnosis means 6 is in the normal state J2, the output abnormality of the lighting circuit 5 is diagnosed with normal contents.

時点Ｔ２において、所定の点灯条件たとえば走行配光パターン照射条件が成立する。すると、ランプスイッチＳがＨＩ位置に位置するので、バイパス制御手段４が電流バイパス手段３に流れる電流を時間的傾きを持って遮断する。このために、第２半導体型光源２には電流が時間的傾きを持って流れる。これにより、第２半導体型光源２は、時点Ｔ２におけるＯＦＦ状態（０％点灯状態）から時点Ｔ３におけるＯＮ状態（１００％点灯状態）まで時間的傾きを持って点灯（徐増点灯）する。 At time T2, a predetermined lighting condition, for example, a traveling light distribution pattern irradiation condition is satisfied. Then, since the lamp switch S is located at the HI position, the bypass control unit 4 blocks the current flowing through the current bypass unit 3 with a time gradient. For this reason, a current flows through the second semiconductor light source 2 with a time gradient. Thereby, the second semiconductor light source 2 is lit (gradual increase lighting) with a time gradient from the OFF state (0% lighting state) at time T2 to the ON state (100% lighting state) at time T3.

時点Ｔ２から時点Ｔ３までの間は、第１半導体型光源１がＯＮ状態にあり、第２半導体型光源２がＯＦＦ状態からＯＮ状態に変化している状態にある。この結果、すれ違い配光パターンから走行配光パターンに切り替わる状態にある。このとき、出力診断手段６は、切替中状態Ｊ３にあるので、点灯回路５の出力異常の診断内容を通常の診断内容に対して変更する。 Between time T2 and time T3, the first semiconductor light source 1 is in the ON state, and the second semiconductor light source 2 is in the state of changing from the OFF state to the ON state. As a result, the passing light distribution pattern is switched to the traveling light distribution pattern. At this time, since the output diagnosis means 6 is in the switching state J3, the diagnosis content of the output abnormality of the lighting circuit 5 is changed from the normal diagnosis content.

すなわち、時点Ｔ２から時点Ｔ３までの間は、ＯＦＦ状態からＯＮ状態に変化している状態にある第２半導体型光源２に流れる電流は、徐々に増加変化していて、また、ＯＮ状態にある第１半導体型光源１に流れる電流は、変動している。このために、出力診断手段６が通常の診断内容で点灯回路５の出力異常を診断した場合には、異常ではないのに異常であると誤診断する場合がある。 That is, during the period from the time T2 to the time T3, the current flowing through the second semiconductor light source 2 that is changing from the OFF state to the ON state is gradually increasing and is in the ON state. The current flowing through the first semiconductor-type light source 1 varies. For this reason, when the output diagnosis means 6 diagnoses the output abnormality of the lighting circuit 5 with the normal diagnosis contents, it may be erroneously diagnosed as being abnormal although it is not abnormal.

すなわち、走行配光パターンからすれ違い配光パターンに切り替わるのに伴って、点灯回路５からの出力電圧・出力電流が変動するが、この変動幅が部品公差や温度特性などにより必ずしも一意に定められるものではない。このために、出力診断手段６の診断の基準設定によっては、「実際には正常である」にもかかわらずに「異常である」と誤診断する場合がある。 That is, as the traveling light distribution pattern is switched to the passing light distribution pattern, the output voltage and output current from the lighting circuit 5 fluctuate. This fluctuation range is not necessarily uniquely determined by component tolerances, temperature characteristics, and the like. is not. For this reason, depending on the reference setting of the diagnosis of the output diagnostic means 6, there is a case where “abnormal” is erroneously diagnosed despite “actually normal”.

そこで、出力診断手段６は、点灯回路５の出力異常の診断内容を通常の診断内容に対して変更して、前記の誤診断を防止する。診断内容の変更は、点灯回路５の出力異常の診断を停止させる、あるいは、点灯回路５の出力異常を診断するための時間的閾値を変更させるである。 Therefore, the output diagnostic means 6 changes the diagnostic content of the output abnormality of the lighting circuit 5 from the normal diagnostic content to prevent the above-mentioned erroneous diagnosis. The change of the diagnostic content is to stop the diagnosis of the output abnormality of the lighting circuit 5 or to change the temporal threshold for diagnosing the output abnormality of the lighting circuit 5.

時点Ｔ３以降は、第１半導体型光源１および第２半導体型光源２がＯＮ状態にある。この結果、走行配光パターンが照射される。このとき、出力診断手段６は、通常状態Ｊ２にあるので、点灯回路５の出力異常を通常の内容で診断する。 After time T3, the first semiconductor-type light source 1 and the second semiconductor-type light source 2 are in the ON state. As a result, the traveling light distribution pattern is irradiated. At this time, since the output diagnosis means 6 is in the normal state J2, the output abnormality of the lighting circuit 5 is diagnosed with normal contents.

（図４の作用の説明）
つぎは、図４について説明する。時点Ｔ４までは、第１半導体型光源１および第２半導体型光源２がＯＮ状態にある。この結果、走行配光パターンが照射される。このとき、出力診断手段６は、通常状態Ｊ２にあるので、点灯回路５の出力異常を通常の内容で診断する。 (Description of the action of FIG. 4)
Next, FIG. 4 will be described. Until the time T4, the first semiconductor-type light source 1 and the second semiconductor-type light source 2 are in the ON state. As a result, the traveling light distribution pattern is irradiated. At this time, since the output diagnosis means 6 is in the normal state J2, the output abnormality of the lighting circuit 5 is diagnosed with normal contents.

時点Ｔ４において、所定の点灯条件たとえばすれ違い配光パターン照射条件が成立する。すると、ランプスイッチＳがＬＯ位置に位置するので、バイパス制御手段４が電流バイパス手段３に電流を時間的傾きを持って流す。このために、第２半導体型光源２に流れる電流が時間的傾きを持って遮断される。これにより、第２半導体型光源２は、時点Ｔ４におけるＯＮ状態（１００％点灯状態）から時点Ｔ５におけるＯＦＦ状態（０％点灯状態）まで時間的傾きを持って消灯（徐減消灯）する。 At time T4, a predetermined lighting condition, for example, a passing light distribution pattern irradiation condition is satisfied. Then, since the lamp switch S is located at the LO position, the bypass control unit 4 causes the current to flow through the current bypass unit 3 with a time gradient. For this reason, the electric current which flows into the 2nd semiconductor type light source 2 is interrupted | blocked with a time inclination. As a result, the second semiconductor light source 2 is turned off (gradually turned off) with a time gradient from the ON state (100% lighting state) at time T4 to the OFF state (0% lighting state) at time T5.

時点Ｔ４から時点Ｔ５までの間は、第１半導体型光源１がＯＮ状態にあり、第２半導体型光源２がＯＮ状態からＯＦＦ状態に変化している状態にある。この結果、走行配光パターンからすれ違い配光パターンに切り替わる。このとき、出力診断手段６は、切替中状態Ｊ３にあるので、点灯回路５の出力異常の診断内容を通常の診断内容に対して変更する。 From time T4 to time T5, the first semiconductor light source 1 is in the ON state, and the second semiconductor light source 2 is in the state changed from the ON state to the OFF state. As a result, the traveling light distribution pattern is switched to the passing light distribution pattern. At this time, since the output diagnosis means 6 is in the switching state J3, the diagnosis content of the output abnormality of the lighting circuit 5 is changed from the normal diagnosis content.

すなわち、時点Ｔ４から時点Ｔ５までの間は、ＯＮ状態からＯＦＦ状態に変化している状態にある第２半導体型光源２に流れる電流は、徐々に減少変化していて、また、ＯＮ状態にある第１半導体型光源１に流れる電流は、変動している。このために、出力診断手段６が通常の診断内容で点灯回路５の出力異常を診断した場合には、異常ではないのに異常であると誤診断する場合がある。 That is, from time T4 to time T5, the current flowing through the second semiconductor light source 2 that is changing from the ON state to the OFF state is gradually decreasing and is in the ON state. The current flowing through the first semiconductor-type light source 1 varies. For this reason, when the output diagnosis means 6 diagnoses the output abnormality of the lighting circuit 5 with the normal diagnosis contents, it may be erroneously diagnosed as being abnormal although it is not abnormal.

ここで、走行配光パターンからすれ違い配光パターンへの切替を瞬間的（時点Ｔ４から時点Ｔ５までの間の時間が短い）に行うと、第１半導体型光源１の両端には瞬間的に約２倍の電圧（第１半導体型光源１および第２半導体型光源２の両端電圧）が印加されて、第１半導体型光源１が破損する可能性がある。このために、走行配光パターンからすれ違い配光パターンに切り替える場合には、時間的傾き（フィードバック制御の応答時間＜電流バイパス回路のインピーダンス低下時間）を持って、第１半導体型光源１に過大な負荷がかからないように制御されている。なお、時間的傾きの制御の他に、切替の直前において、点灯回路５側で出力電圧を十分に低下させる制御がある。 Here, when switching from the traveling light distribution pattern to the passing light distribution pattern is performed instantaneously (the time between the time T4 and the time T5 is short), the both ends of the first semiconductor-type light source 1 are instantaneously approximately connected. There is a possibility that the first semiconductor light source 1 may be damaged by applying twice the voltage (the voltage across the first semiconductor light source 1 and the second semiconductor light source 2). For this reason, when switching from the traveling light distribution pattern to the passing light distribution pattern, the first semiconductor light source 1 has an excessive time gradient (response time of feedback control <impedance reduction time of current bypass circuit). Controlled so that no load is applied. In addition to the control of the time gradient, there is a control for sufficiently reducing the output voltage on the lighting circuit 5 side immediately before switching.

時点Ｔ５から時点Ｔ６までの間は、第１半導体型光源１がＯＮ状態にあり、第２半導体型光源２がＯＦＦ状態にある。この結果、すれ違い配光パターンが照射される。このとき、出力診断手段６は、通常状態Ｊ２にあるので、点灯回路５の出力異常を通常の内容で診断する。 Between time T5 and time T6, the first semiconductor light source 1 is in the ON state and the second semiconductor light source 2 is in the OFF state. As a result, a passing light distribution pattern is irradiated. At this time, since the output diagnosis means 6 is in the normal state J2, the output abnormality of the lighting circuit 5 is diagnosed with normal contents.

時点Ｔ６において、所定の点灯条件たとえばＯＦＦ条件が成立する。すると、ランプスイッチＳがＯＦＦ位置に位置するので、点灯回路５が第１半導体型光源１および第２半導体型光源２に出力する電流を遮断する。このために、第１半導体型光源１および第２半導体型光源２がＯＦＦ状態にある。このとき、出力診断手段６は、停止状態Ｊ１にある。 At time T6, a predetermined lighting condition, for example, an OFF condition is satisfied. Then, since the lamp switch S is located at the OFF position, the lighting circuit 5 blocks the current output to the first semiconductor light source 1 and the second semiconductor light source 2. For this reason, the first semiconductor type light source 1 and the second semiconductor type light source 2 are in the OFF state. At this time, the output diagnosis means 6 is in the stop state J1.

（図５の作用の説明）
さらに、図５について説明する。時点Ｔ７までは、ランプスイッチＳがＯＦＦ位置に位置するので、第１半導体型光源１および第２半導体型光源２がＯＦＦ状態にある。このとき、出力診断手段６は、停止状態Ｊ１にある。 (Description of the action of FIG. 5)
Further, FIG. 5 will be described. Until time T7, since the lamp switch S is in the OFF position, the first semiconductor-type light source 1 and the second semiconductor-type light source 2 are in the OFF state. At this time, the output diagnosis means 6 is in the stop state J1.

時点Ｔ７において、所定の点灯条件たとえばすれ違い配光パターン照射条件が成立する。すると、ランプスイッチＳがＬＯ位置に位置するので、点灯回路５が第１半導体型光源１に電流を流す。一方、バイパス制御手段４が電流バイパス手段３に第１半導体型光源１からの全部の電流を流して、第２半導体型光源２に電流を流さない。 At time T7, a predetermined lighting condition such as a passing light distribution pattern irradiation condition is satisfied. Then, since the lamp switch S is located at the LO position, the lighting circuit 5 supplies a current to the first semiconductor type light source 1. On the other hand, the bypass control unit 4 allows the entire current from the first semiconductor type light source 1 to flow through the current bypass unit 3 and does not flow the current through the second semiconductor type light source 2.

時点Ｔ７から時点Ｔ８までの間は、第１半導体型光源１がＯＮ状態にあり、第２半導体型光源２がＯＦＦ状態にある。この結果、すれ違い配光パターンが照射される。このとき、出力診断手段６は、通常状態Ｊ２にあるので、点灯回路５の出力異常を通常の内容で診断する。 Between time T7 and time T8, the first semiconductor light source 1 is in the ON state and the second semiconductor light source 2 is in the OFF state. As a result, a passing light distribution pattern is irradiated. At this time, since the output diagnosis means 6 is in the normal state J2, the output abnormality of the lighting circuit 5 is diagnosed with normal contents.

時点Ｔ８以降において、運転者が意図的にランプスイッチＳをＬＯ位置とＨＩ位置と反復操作する（パッシング操作する）。すると、出力診断手段６は、切替中状態Ｊ３にあるので、点灯回路５の出力異常の診断内容を通常の診断内容に対して変更して診断する。ところが、出力異常診断が完了する前に、ランプスイッチＳが切り替わると、出力診断手段６が診断途中の出力異常診断を中断してリセットし、新たに出力異常診断を開始する。このために、出力異常診断ができなくなる場合がある。 After the time point T8, the driver intentionally operates the lamp switch S repeatedly between the LO position and the HI position (passing operation). Then, since the output diagnosis means 6 is in the switching state J3, the diagnosis content of the output abnormality of the lighting circuit 5 is changed from the normal diagnosis content and diagnosed. However, when the lamp switch S is switched before the output abnormality diagnosis is completed, the output diagnosis means 6 interrupts and resets the output abnormality diagnosis in the middle of diagnosis, and newly starts the output abnormality diagnosis. For this reason, output abnormality diagnosis may not be possible.

そこで、制御装置７は、点灯回路５を介して、電流バイパス手段３に流す電流の状態変化が所定時間（たとえば、約数秒間、時点Ｔ８から時点Ｔ９までの間の時間）以上経過する場合において、すなわち、時点Ｔ９において、第２半導体型光源２を強制的にＯＦＦ状態にする。 Therefore, when the control device 7 changes the state of the current flowing through the current bypass means 3 through the lighting circuit 5 for a predetermined time (for example, about several seconds, the time from the time T8 to the time T9) or more. That is, at the time T9, the second semiconductor light source 2 is forcibly turned off.

このために、時点Ｔ９以降においては、第１半導体型光源１のみがＯＮ状態にあり、すれ違い配光パターンが照射されることとなる。このとき、出力診断手段６は、通常状態Ｊ２にあるので、点灯回路５の出力異常を通常の内容で診断する。 For this reason, after time T9, only the first semiconductor-type light source 1 is in the ON state, and the passing light distribution pattern is irradiated. At this time, since the output diagnosis means 6 is in the normal state J2, the output abnormality of the lighting circuit 5 is diagnosed with normal contents.

（図２のフローチャートの説明）
以下、図２に示すフローチャートの工程の処理手順（作用）について説明する。まず、初期設定されて処理手順がスタートする（初期設定Ｓ１）。ここで、前提条件として、ランプスイッチＳがＬＯ位置に位置していてすれ違い配光パターンが照射されているとする。 (Description of flowchart in FIG. 2)
Hereinafter, the processing procedure (action) of the process of the flowchart shown in FIG. 2 will be described. First, initialization is performed and the processing procedure starts (initial setting S1). Here, as a precondition, it is assumed that the lamp switch S is positioned at the LO position and the passing light distribution pattern is irradiated.

制御装置７は、点灯条件を判断する（点灯条件判断Ｓ２）。すなわち、ランプスイッチＳの位置が同一であるか否かを判断する（同一？Ｓ３）。 The control device 7 determines lighting conditions (lighting condition determination S2). That is, it is determined whether or not the positions of the lamp switches S are the same (same? S3).

ここで、ランプスイッチＳの位置がＬＯ位置の場合、すなわち、スイッチＳの位置が同一の場合、制御装置７は、配光パターンの切替状態を判断する（切り替わり判断Ｓ４）。すなわち、走行配光パターンからすれ違い配光パターンへの切替が完了したか否かを判断する（完了？Ｓ５）。 Here, when the position of the lamp switch S is the LO position, that is, when the position of the switch S is the same, the control device 7 determines the switching state of the light distribution pattern (switching determination S4). That is, it is determined whether or not switching from the traveling light distribution pattern to the passing light distribution pattern has been completed (complete? S5).

ここで、走行配光パターンからすれ違い配光パターンへの切替が完了している場合（図４中の時点Ｔ５を参照）、制御装置７を介して出力診断手段６は、点灯回路５の出力異常を通常状態Ｊ２における内容で診断する（出力異常判断（通常）Ｓ６）。すなわち、出力診断手段６は、点灯回路５の出力が正常であるか否か診断（判断）する（正常？Ｓ７）。 Here, when the switching from the traveling light distribution pattern to the passing light distribution pattern has been completed (see time point T5 in FIG. 4), the output diagnosis unit 6 outputs an abnormality in the output of the lighting circuit 5 via the control device 7. Is diagnosed with the contents in the normal state J2 (output abnormality judgment (normal) S6). That is, the output diagnosis means 6 diagnoses (determines) whether the output of the lighting circuit 5 is normal (normal? S7).

ここで、点灯回路５の出力が正常である場合、制御装置７は、点灯回路５の出力を継続させ（出力継続Ｓ８）、その後（Ｓ２）に戻る。前記の（Ｓ７）において、点灯回路５の出力が異常である場合、制御装置７は、点灯回路５の出力を停止させ（出力停止Ｓ９）、その後（Ｓ２）に戻る。 Here, when the output of the lighting circuit 5 is normal, the control device 7 continues the output of the lighting circuit 5 (output continuation S8), and then returns to (S2). When the output of the lighting circuit 5 is abnormal in the above (S7), the control device 7 stops the output of the lighting circuit 5 (output stop S9), and then returns to (S2).

ここで、ランプスイッチＳがＬＯ位置からＨＩ位置に切り替えられる（図３中の時点Ｔ２を参照）。すると、スイッチの位置が同一ではない。この場合、制御装置７は、配光パターンをすれ違い配光パターンから走行配光パターンに切り替えるために、点灯回路５およびバイパス制御手段４を介して、電流バイパス手段３の接点を開放状態とする（バイパスＯＦＦ（略開放）Ｓ１０）。これにより、第２半導体型光源２に電流が時間的傾きを持って流れて、配光パターンが時間的傾きを持ってすれ違い配光パターンから走行配光パターンに切り替わる（図３中の時点Ｔ２から時点Ｔ３までの間を参照）。 Here, the lamp switch S is switched from the LO position to the HI position (see time point T2 in FIG. 3). Then, the positions of the switches are not the same. In this case, the control device 7 opens the contact of the current bypass means 3 via the lighting circuit 5 and the bypass control means 4 in order to switch the light distribution pattern from the passing light distribution pattern to the traveling light distribution pattern ( Bypass OFF (substantially open) S10). As a result, a current flows through the second semiconductor light source 2 with a temporal inclination, and the light distribution pattern switches from the passing light distribution pattern to the traveling light distribution pattern with a temporal inclination (from time T2 in FIG. 3). (Refer to time T3).

そして、制御装置７を介して出力診断手段６は、点灯回路５の出力異常を切替中状態Ｊ３における内容で診断する（出力異常判断（切り替わり中）Ｓ１１）。すなわち、出力診断手段６は、点灯回路５の出力が正常であるか否か診断（判断）する（正常？Ｓ７）。 Then, the output diagnosis means 6 diagnoses the output abnormality of the lighting circuit 5 through the content in the switching state J3 via the control device 7 (output abnormality judgment (switching) S11). That is, the output diagnosis means 6 diagnoses (determines) whether the output of the lighting circuit 5 is normal (normal? S7).

ここで、ランプスイッチＳがＨＩ位置からＬＯ位置に切り替えられる（図４中の時点Ｔ４を参照）。すると、スイッチの位置が同一ではない。この場合、制御装置７は、配光パターンを走行配光パターンからすれ違い配光パターンに切り替えるために、点灯回路５およびバイパス制御手段４を介して、電流バイパス手段３の接点を接続状態とする（バイパスＯＮ（略短絡）Ｓ１２）。これにより、第２半導体型光源２への電流が時間的傾きを持って遮断されて、配光パターンが時間的傾きを持って走行配光パターンからすれ違い配光パターンに切り替わる（図３中の時点Ｔ２から時点Ｔ３までの間を参照）。 Here, the lamp switch S is switched from the HI position to the LO position (see time point T4 in FIG. 4). Then, the positions of the switches are not the same. In this case, in order to switch the light distribution pattern from the traveling light distribution pattern to the passing light distribution pattern, the control device 7 sets the contact point of the current bypass means 3 to the connected state via the lighting circuit 5 and the bypass control means 4 ( Bypass ON (substantially short circuit) S12). As a result, the current to the second semiconductor-type light source 2 is interrupted with a temporal inclination, and the light distribution pattern is switched from the traveling light distribution pattern to the passing light distribution pattern with a temporal inclination (time in FIG. 3). (See between T2 and time T3).

そして、制御装置７を介して出力診断手段６は、点灯回路５の出力異常を切替中状態Ｊ３における内容で診断する（出力異常判断（切り替わり中）Ｓ１１）。すなわち、出力診断手段６は、点灯回路５の出力が正常であるか否か診断（判断）する（正常Ｓ７）。 Then, the output diagnosis means 6 diagnoses the output abnormality of the lighting circuit 5 through the content in the switching state J3 via the control device 7 (output abnormality judgment (switching) S11). That is, the output diagnosis means 6 diagnoses (determines) whether the output of the lighting circuit 5 is normal (normal S7).

ここで、ランプスイッチＳがＬＯ位置からＯＦＦに切り替えられる（図４中の時点Ｔ６を参照）。すると、スイッチの位置が同一ではない。この場合、制御装置７は、すれ違い配光パターンを消すために、点灯回路５の出力を停止させ（出力停止Ｓ９）、その後（Ｓ２）に戻る。 Here, the lamp switch S is switched from the LO position to OFF (see time point T6 in FIG. 4). Then, the positions of the switches are not the same. In this case, the control device 7 stops the output of the lighting circuit 5 to turn off the passing light distribution pattern (output stop S9), and then returns to (S2).

ここで、前記の（Ｓ５）において、走行配光パターンからすれ違い配光パターンへの切替が完了していない場合（図４中の時点Ｔ４から時点Ｔ５までの間を参照）、または、すれ違い配光パターンから走行配光パターンへの切替が完了していない場合（図３中の時点Ｔ２から時点Ｔ３までの間を参照）は、前記の（Ｓ１１）に進む。 Here, in the above (S5), when the switching from the traveling light distribution pattern to the passing light distribution pattern is not completed (refer to the period from time T4 to time T5 in FIG. 4), or the passing light distribution When the switching from the pattern to the traveling light distribution pattern is not completed (refer to the period from time T2 to time T3 in FIG. 3), the process proceeds to (S11).

ここで、運転者が意図的にランプスイッチＳをＬＯ位置とＨＩ位置と反復操作する（パッシング操作する）。すると、出力診断手段６は、切替中状態Ｊ３にあるので、点灯回路５の出力異常の診断内容を通常の診断内容に対して変更して診断する（Ｓ１１）。ところが、出力異常診断が完了する前に、ランプスイッチＳが切り替わると、出力診断手段６が診断途中の出力異常診断を中断してリセットし、新たに出力異常診断を開始する。このために、出力異常診断ができなくなる場合がある。すなわち、前記の（Ｓ７）の工程が終了しない。 Here, the driver intentionally operates the lamp switch S repeatedly between the LO position and the HI position (passing operation). Then, since the output diagnosis means 6 is in the switching state J3, the diagnosis content of the output abnormality of the lighting circuit 5 is changed from the normal diagnosis content and diagnosed (S11). However, when the lamp switch S is switched before the output abnormality diagnosis is completed, the output diagnosis means 6 interrupts and resets the output abnormality diagnosis in the middle of diagnosis, and newly starts the output abnormality diagnosis. For this reason, output abnormality diagnosis may not be possible. That is, the step (S7) is not completed.

このときは、制御装置７は、電流バイパス手段３に流す電流の状態変化が所定時間（たとえば、約数秒間、時点Ｔ８から時点Ｔ９までの間の時間）以上経過する場合において、すなわち、時点Ｔ９において、第２半導体型光源２を強制的にＯＦＦ状態にする。このために、すれ違い配光パターンが照射され、出力診断手段６による点灯回路５の出力異常診断を継続して行われる。 At this time, the control device 7 determines that the state change of the current flowing through the current bypass means 3 has elapsed for a predetermined time (for example, about several seconds, the time between the time T8 and the time T9), that is, the time T9. Then, the second semiconductor light source 2 is forcibly turned off. For this reason, the passing light distribution pattern is irradiated, and the output abnormality diagnosis of the lighting circuit 5 by the output diagnosis means 6 is continuously performed.

（実施形態の効果の説明）
この実施形態にかかる車両用灯具は、以上のごとき構成および作用からなり、以下、その効果について説明する。 (Explanation of effect of embodiment)
The vehicular lamp according to this embodiment is configured and operated as described above, and the effects thereof will be described below.

この実施形態にかかる車両用灯具は、電流バイパス手段３に流す電流の状態を変化させている間（すなわち、点灯回路５からの出力電圧・出力電流が変動している間）の出力診断手段６の出力診断内容を、電流バイパス手段３に流す電流の状態を変化させていない間（すなわち、点灯回路５からの出力電圧・出力電流が変動していない間）の出力診断手段６の出力診断内容に対して、変更させるものである。このために、電流バイパス手段３に流す電流の状態を変化させている間において、電流バイパス手段３に流す電流の状態を変化させていない間の出力診断手段６の出力診断内容による、誤診断を確実に防ぐことができる。すなわち、出力診断手段６による点灯回路５の出力異常診断を確実に行うことができる。 In the vehicle lamp according to this embodiment, the output diagnostic means 6 while the state of the current flowing through the current bypass means 3 is changed (that is, while the output voltage / output current from the lighting circuit 5 is changing). The output diagnosis contents of the output diagnosis means 6 while the state of the current flowing through the current bypass means 3 is not changed (that is, while the output voltage and output current from the lighting circuit 5 are not changing). Is to be changed. For this reason, while changing the state of the current flowing through the current bypass unit 3, misdiagnosis is performed based on the output diagnosis contents of the output diagnosis unit 6 while the state of the current flowing through the current bypass unit 3 is not changed. It can be surely prevented. That is, the output abnormality diagnosis of the lighting circuit 5 by the output diagnosis means 6 can be performed reliably.

この実施形態にかかる車両用灯具は、出力診断手段６の変更される内容が、点灯回路５の出力異常の診断を停止させる内容である。このために、出力診断手段６による点灯回路５の出力異常診断をさらに確実に行うことができる。 In the vehicular lamp according to this embodiment, the changed contents of the output diagnostic means 6 are contents that stop the diagnosis of the output abnormality of the lighting circuit 5. For this reason, the output abnormality diagnosis of the lighting circuit 5 by the output diagnosis means 6 can be performed more reliably.

この実施形態にかかる車両用灯具は、出力診断手段６の変更される内容が、点灯回路５の出力異常を診断するための時間的閾値を変更させる内容である。このために、出力診断手段６による点灯回路５の出力異常診断をさらに確実に行うことができる。しかも、出力診断手段６による点灯回路５の出力異常診断を継続して行われる。 In the vehicular lamp according to this embodiment, the contents to be changed by the output diagnosis means 6 are contents to change the temporal threshold for diagnosing the output abnormality of the lighting circuit 5. For this reason, the output abnormality diagnosis of the lighting circuit 5 by the output diagnosis means 6 can be performed more reliably. In addition, the output abnormality diagnosis of the lighting circuit 5 by the output diagnosis means 6 is continued.

この実施形態にかかる車両用灯具は、電流バイパス手段３に流す電流の状態変化が所定時間以上経過する場合においては、電流バイパス手段３に流す電流の状態変化を制限する。このために、強制的に安定点灯状態に固定して、出力診断手段６による点灯回路５の出力異常診断を継続して行われるようにするものである。すなわち、この例では、ランプスイッチＳのＬＯ位置ＨＩ位置の切り替わり動作を制限して、ランプスイッチＳをＬＯ位置に固定することにより、点灯回路５の出力異常診断を正常に行われるようにするものである。 The vehicular lamp according to this embodiment limits the change in the state of the current flowing through the current bypass unit 3 when the change in the state of the current flowing through the current bypass unit 3 elapses over a predetermined time. For this reason, it is fixed to a stable lighting state forcibly, and the output abnormality diagnosis of the lighting circuit 5 by the output diagnosis means 6 is continuously performed. In other words, in this example, the switching operation of the LO switch HI position of the lamp switch S is limited and the lamp switch S is fixed at the LO position so that the output abnormality diagnosis of the lighting circuit 5 can be performed normally. It is.

（実施形態以外の例の説明）
この実施形態においては、すれ違い配光パターンを照射する場合、電流バイパス手段３の接点を接続状態として、第１半導体型光源１からの全電流を、電流バイパス手段３に流して、第２半導体型光源２に流れないようにしている。すなわち、第２半導体型光源２は、完全消灯の状態にある。ところが、この発明においては、第１半導体型光源１からの電流の一部を電流バイパス手段３に流して、第１半導体型光源１からの残りの電流を第２半導体型光源２に流すようにして、第２半導体型光源２を第１半導体型光源１よりも少ない電流で点灯させるようにしても良い。 (Description of example other than embodiment)
In this embodiment, when irradiating a passing light distribution pattern, the contact of the current bypass means 3 is set to the connected state, and the entire current from the first semiconductor-type light source 1 is caused to flow to the current bypass means 3, so that the second semiconductor type The light source 2 is prevented from flowing. That is, the second semiconductor light source 2 is in a completely extinguished state. However, in the present invention, a part of the current from the first semiconductor type light source 1 is allowed to flow to the current bypass means 3 and the remaining current from the first semiconductor type light source 1 is allowed to flow to the second semiconductor type light source 2. Thus, the second semiconductor light source 2 may be lit with a smaller current than the first semiconductor light source 1.

１第１半導体型光源
２第２半導体型光源
３電流バイパス手段
４バイパス制御手段
５点灯回路
６出力診断手段
７制御装置
Ｊ１停止状態
Ｊ２通常状態
Ｊ３切替中状態
Ｓランプスイッチ
Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３、Ｔ４、Ｔ５、Ｔ６、Ｔ７、Ｔ８、Ｔ９時点 1 First semiconductor light source
2 Second semiconductor type light source 3 Current bypass means 4 Bypass control means 5 Lighting circuit 6 Output diagnostic means 7 Controller J1 Stopped state J2 Normal state J3 Switching state S Lamp switch T1, T2, T3, T4, T5, T6, T7 , T8, T9

Claims

Two or more semiconductor-type light sources connected in series;
Current bypass means connected in parallel with one or more of the semiconductor-type light sources out of two or more of the semiconductor-type light sources;
Bypass control means for controlling the current flowing through the current bypass means;
A lighting circuit for supplying power to the semiconductor light source;
Output diagnosis means for diagnosing an output abnormality of the lighting circuit;
With
The contents of the output diagnostic tool while switched to OFF state the semiconductor-type light source Rukoto change the state of the current flowing through the current bypass means from the lighting state, changes the state of the current flowing through the current bypass means The contents of the output diagnostic means are not changed while being changed ,
When the state change of the current flowing through the current bypass means elapses over a predetermined time, the state change of the current flowing through the current bypass means is limited,
A vehicular lamp characterized by the above.

The contents to be changed by the output diagnosis means are contents for stopping diagnosis of output abnormality of the lighting circuit.
The vehicular lamp according to claim 1.

The content to be changed by the output diagnostic means is content for changing a temporal threshold for diagnosing an output abnormality of the lighting circuit.
The vehicular lamp according to claim 1.