JP6201233B2 - Test equipment - Google Patents
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本発明は、試験装置に関し、例えば複数の被試験部と複数の測定部とがスイッチ部で接続された試験装置に関する。 The present invention relates to a test apparatus, for example, a test apparatus in which a plurality of units to be tested and a plurality of measurement units are connected by a switch unit.
半導体レーザ等の被試験物の特性を測定する試験装置として、被試験物を備える複数の被試験部と複数の測定部とをスイッチ部によって接続したネットワーク型試験装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。 As a test apparatus for measuring characteristics of a test object such as a semiconductor laser, a network type test apparatus in which a plurality of test parts including a test object and a plurality of measurement parts are connected by a switch unit is known (for example, Patent Document 1).
ネットワーク型試験装置では、被試験部を複数の測定部のうちの稼動していない測定部に接続させることが可能となるため、測定部の稼動効率を向上させることができる。しかしながら、測定効率の点で未だ改善の余地が残されている。 In the network type test apparatus, since the part under test can be connected to a measurement part that is not in operation among a plurality of measurement parts, the operation efficiency of the measurement part can be improved. However, there is still room for improvement in terms of measurement efficiency.
本発明は、上記課題に鑑みなされたものであり、測定効率を向上させることが可能な試験装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above problems, and an object thereof is to provide a test apparatus capable of improving measurement efficiency.
本発明は、複数の被試験部と、同じ測定項目が測定可能な複数の測定部と、前記複数の測定部を1回の試験に許容される占有時間の範囲でグループ分けした情報を記憶する記憶手段と、前記複数の被試験部と前記複数の測定部との間の接続の切替を行うスイッチ部と、を備え、前記スイッチ部は、前記記憶手段に記憶された前記グループ分けした情報に基づき、前記被試験部において実施される試験にかかる時間に対応したグループの前記測定部を選択し、該当する前記被試験部と接続させることを特徴とする試験装置である。本発明によれば、測定効率を向上させることができる。 The present invention stores a plurality of parts under test, a plurality of measurement parts capable of measuring the same measurement item, and information obtained by grouping the plurality of measurement parts within a range of occupation time allowed for one test. A storage unit; and a switch unit that switches connection between the plurality of units to be tested and the plurality of measurement units, and the switch unit stores the grouped information stored in the storage unit. The test apparatus is characterized in that the measurement unit in a group corresponding to the time taken for the test performed in the unit under test is selected and connected to the corresponding unit under test. According to the present invention, measurement efficiency can be improved.
上記構成において、前記複数の被試験部それぞれで実施される試験にかかる時間に該当しない前記グループに所属する前記測定部は、他のグループに所属する前記測定部が測定を実施している期間も測定が停止される構成とすることができる。 In the above-described configuration, the measurement unit belonging to the group that does not correspond to the time taken for the test performed in each of the plurality of test units may be a period in which the measurement unit belonging to another group is performing measurement. The measurement can be stopped.
上記構成において、前記グループに所属する前記測定部の稼動履歴を参照し、前記測定部の前記測定が停止される期間が前記稼動履歴から求まる停止期間よりも短くなるように、前記グループに所属する前記測定部の台数および前記グループを定める前記占有時間の範囲の少なくとも一方を変更する変更手段を備える構成とすることができる。 In the above configuration, the operation history of the measurement unit belonging to the group is referred to, and the period during which the measurement of the measurement unit is stopped is shorter than the stop period obtained from the operation history. A change means for changing at least one of the number of the measurement units and the range of the occupation time defining the group can be provided.
本発明によれば、測定効率を向上させることができる。 According to the present invention, measurement efficiency can be improved.
以下、図面を参照して、本発明の実施例について説明する。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
図1は、実施例1に係る試験装置の全体構成を示すブロック図である。図1のように、実施例1の試験装置は、複数の被試験部10、複数の測定部30、及びスイッチ部50を備える。測定部30は測定可能な測定項目毎に複数の測定部群40〜44に分けられ、各測定部群には複数の測定部30が含まれる。例えば、測定部群40に含まれる4つの測定部30は、波長測定が可能である。測定部群42に含まれる2つの測定部30は、光パワー測定が可能である。測定部群44に含まれる2つの測定部30は、光波形測定が可能である。
FIG. 1 is a block diagram illustrating the overall configuration of the test apparatus according to the first embodiment. As shown in FIG. 1, the test apparatus according to the first embodiment includes a plurality of units under
スイッチ部50は、マトリクススイッチ52、コントローラ54、及び記憶手段56を含む。コントローラ54は、CPU(中央演算処理装置)、ROM(リードオンリメモリ)、及びRAM(ランダムアクセスメモリ)等から構成され、マトリクススイッチ52を制御する。マトリクススイッチ52は、コントローラ54の指示に従って、複数の被試験部10と複数の測定部30との間の接続の切替を行い、接続組合せを変更する。記憶手段56は、例えばハードディスクドライブ等である。記憶手段56には、測定項目の測定に要する占有時間を所定の時間範囲で分けた複数のグループと接続先の測定部30との関係が記憶されている。言い換えると、記憶手段56には、複数の測定部30を1回の試験に許容される占有時間の範囲でグループ分けした情報が記憶されている。例えば、記憶手段56には、複数のグループそれぞれに対して接続先の測定部30が規定された時間割当テーブルが記憶されている。時間割当テーブルには、複数のグループそれぞれにおける前記測定項目の測定回数及び合計測定時間が書き込まれるようになっていてもよい。例えば、複数の測定部群40〜44それぞれに対して1つの時間割当テーブルが記憶されている。時間割当テーブルの詳細については後述する。
The
図2(a)は、被試験部10の詳細を示すブロック図、図2(b)は、測定部30の詳細を示すブロック図である。図2(a)のように、被試験部10は、被試験物12、ドライバ14、及びコントローラ16を備える。被試験物12は、例えば半導体レーザである。コントローラ16は、CPU、ROM、及びRAM等から構成され、ドライバ14の動作等を制御する。ドライバ14は、コントローラ16の指示に従って、被試験物12を駆動する。
FIG. 2A is a block diagram showing details of the part under
図2(b)のように、測定部30は、測定器32とコントローラ34とを備える。コントローラ34は、CPU、ROM、及びRAM等から構成され、測定器32の動作を制御する。測定器32は、マトリクススイッチ52を介して接続された被試験部10に備わる被試験物12の特性を、コントローラ34の指示に従って測定する。図1で説明したように、測定部30は複数の測定部群40〜44に分けられ、測定部群40に含まれる4つの測定部30は波長測定が可能であることから、これらに備わる測定器32は波長測定器である。同様に、測定部群42に含まれる2つ測定部30は光パワー測定が可能であることから、これらに備わる測定器32は光パワー測定器である。測定部群44に含まれる2つの測定部30は光波形測定が可能であることから、これらに備わる測定器32は光波形測定器である。
As shown in FIG. 2B, the
図1から図2(b)のように、被試験部10に備わるコントローラ16と、測定部30に備わるコントローラ34と、スイッチ部50に備わるコントローラ54とは、ネットワークを介して互いに接続している。
As shown in FIGS. 1 to 2B, the
次に、実施例1の試験装置の制御方法について説明する。図3は、実施例1に係る試験装置の制御方法の一例を示すフローチャートである。図3のように、被試験部10のコントローラ16は、スイッチ部50のコントローラ54に対して、測定部群の特定を含む測定項目(例えば、測定部群40を特定した波長測定)と測定に要する予想占有時間とを通知する(ステップS10)。スイッチ部50のコントローラ54は、記憶手段56に記憶された測定部群40についての時間割当テーブルを参照し、通知された予想占有時間に対応する測定部30に被試験部10を接続させる(ステップS12)。
Next, a method for controlling the test apparatus of Example 1 will be described. FIG. 3 is a flowchart illustrating an example of a control method of the test apparatus according to the first embodiment. As shown in FIG. 3, the
ここで、時間割当テーブルについて説明する。図4は、時間割当テーブルの一例を示す図である。図4のように、時間割当テーブル70は、占有時間、接続先の測定部、測定回数、及び合計測定時間の項目を有する。占有時間は、測定項目(例えば波長測定)の測定に要する占有時間のことである。占有時間の項目は、所定の占有時間の時間範囲で複数のグループに分けられている。例えば、占有時間Tが1秒未満(T<1)のグループ1、占有時間Tが1秒以上且つ5秒未満(1≦T<5)のグループ2、占有時間Tが5秒以上(5≦T)のグループ3に分けられている。接続先の測定部の項目には、複数のグループ1〜3それぞれに割当てられた測定部30が記載されており、占有時間に応じて接続先の測定部30が規定されている。図4では、グループ1に測定部30a、30bが割当てられ、グループ2に測定部30cが割当てられ、グループ3に測定部30dが割当てられた場合を例に示している。測定回数の項目は、複数のグループ1〜3それぞれにおける測定の回数が記載される。合計測定時間は、複数のグループ1〜3それぞれにおける測定の総和時間が記載される。このように、記憶手段56は、占有時間を所定の時間範囲で複数のグループに分け、複数のグループそれぞれに対して接続先の測定部、測定回数、及び合計測定時間の情報を時間割当テーブル70に記憶する。
Here, the time allocation table will be described. FIG. 4 is a diagram illustrating an example of a time allocation table. As shown in FIG. 4, the time allocation table 70 includes items of occupation time, connection destination measurement unit, number of measurements, and total measurement time. The occupation time is an occupation time required for measurement of a measurement item (for example, wavelength measurement). The occupation time item is divided into a plurality of groups within a predetermined occupation time range. For example, group 1 with an occupation time T of less than 1 second (T <1),
したがって、図3のステップS12においては、スイッチ部50のコントローラ54は、時間割当テーブル70を参照して、被試験部10のコントローラ16から通知された予想占有時間が複数のグループ1〜3のどのグループに属するかを判断し、属するグループに対して規定された接続先の測定部30に被試験部10を接続させる。例えば、被試験部10のコントローラ16から通知された予想占有時間が2秒である場合、スイッチ部50のコントローラ54は、時間割当テーブル70を参照して、測定部30cに被試験部10を接続させる。このように、スイッチ部50は、複数の被試験部10と複数の測定部30との間の接続の切替を、時間割当テーブル70の複数のグループ1〜3と接続先の測定部30との関係に従って行う。
Therefore, in step S12 of FIG. 3, the
スイッチ部50のコントローラ54は、被試験部10のコントローラ16に、接続先の測定部30を示す測定部情報と接続が完了したことを通知する(ステップS14)。測定部情報とは、例えば測定部30のユニット番号等、測定部30を特定することが可能な情報である。被試験部10のコントローラ16は、ドライブ14に指示を与えて、被試験物12を所定の条件で駆動させると共に、接続先の測定部30のコントローラ34に対して、測定条件と測定開始を通知する(ステップS16)。測定部30のコントローラ34は、被試験部10のコントローラ16から通知された測定条件に従って測定器32を制御して測定を行う。測定部30のコントローラ34は、測定が終了した後、被試験部10のコントローラ16に対して、測定結果と測定の完了を通知する(ステップS18)。被試験部10のコントローラ16は、測定結果と測定完了の通知を受けて、スイッチ部50のコントローラ54に対して、測定の完了を通知する。スイッチ部50のコントローラ54は、測定完了の通知を受けて、マトリクススイッチ52を制御して、被試験部10と測定部30との接続状態を解除する(ステップS20)。
The
スイッチ部50のコントローラ54は、ステップS10〜ステップS20で行われた測定の実績を時間割当テーブル70に反映させる(ステップS22)。これにより、測定の実績が測定回数及び合計測定時間に反映されることになる。なお、この測定回数及び合計測定時間は、測定部30の稼動履歴として、占有時間のグループ分けを実行するための情報となる。例えば、実際にかかった測定時間(例えばステップS14の接続完了の通知からステップS20の接続状態の解除までの時間)が2秒であった場合、スイッチ部50のコントローラ54は、時間割当テーブル70に対して、グループ2の測定回数に1を加え、合計測定時間に2秒を加える。
The
スイッチ部50のコントローラ54は、予め定められた所定の測定回数の測定が終了したかを判断する(ステップS24)。例えば、所定の測定回数が1000回であった場合、スイッチ部50のコントローラ54は、複数のグループ1〜3それぞれの測定回数の合計が1000回となったかを判断する。所定の測定回数の測定が終了していない場合(Noの場合)、ステップS10に戻る。所定の測定回数の測定が終了した場合(Yesの場合)、スイッチ部50のコントローラ54は、時間割当テーブル70の複数のグループ1〜3それぞれの接続先の測定部30の1台当りの合計測定時間が平準化するように、複数のグループ1〜3の接続先の測定部30の台数を変更する(ステップS26)。接続先の測定部30の台数を変更した後、ステップS10に戻り、接続先の測定部30の台数を変更した後の時間割当テーブルを用いて、被試験部10と測定部30との接続及び測定を行う。
The
ここで、複数のグループ1〜3の接続先の測定部の台数を変更することについて説明する。図5(a)及び図5(b)は、接続先の測定部の台数の変更について説明するための時間割当テーブルを示す図である。例えば、図3のステップS24において、所定の測定回数の測定が終了した際の時間割当テーブル70が、図5(a)のようであった場合を想定する。この場合、グループ1における合計測定時間は500秒で、グループ2における合計測定時間は1000秒で、グループ3における合計測定時間は500秒であったとする。ここで、グループ1の接続先の測定部は、測定部30a、30bと2台あるため、1台当りの合計測定時間は250秒である。一方、グループ2、3の接続先の測定部はそれぞれ測定部30c、測定部30dと1台であるため、1台当りの合計測定時間は1000秒と500秒である。このように、複数のグループ1〜3において、接続先の測定部の1台当りの合計測定時間が大きく異なることは、測定効率の点で好ましくない。そこで、図3のステップS26において、図5(b)のように、複数のグループ1〜3それぞれの接続先の測定部の1台当りの合計測定時間が平準化するように、複数のグループ1〜3の接続先の測定部の台数を変更する。例えば、グループ1の接続先の測定部を1台とし、グループ2の接続先の測定部を2台とし、グループ3の接続先の測定部を1台とする。これにより、複数のグループ1〜3において、1台当りの測定部の合計測定時間を同程度にすることができ、測定効率を向上させることができる。
Here, changing the number of measurement units connected to the plurality of groups 1 to 3 will be described. FIG. 5A and FIG. 5B are diagrams showing a time allocation table for explaining the change in the number of connection measuring units. For example, it is assumed that the time allocation table 70 at the time when the predetermined number of measurements is completed in step S24 in FIG. 3 is as shown in FIG. In this case, the total measurement time in group 1 is 500 seconds, the total measurement time in
実施例1によれば、複数の測定部30を1回の試験に許容される占有時間の範囲でグループ分けした情報(時間割当テーブル70)を記憶する記憶手段56を有する。そして、スイッチ部50は、記憶手段56に記憶されたグループ分けした情報(時間割当テーブル70)に基づき、被試験部10において実施される試験にかかる時間に対応してグループの測定部30を選択し、該当する被試験部10と接続させる。このような仕組みを用いることで、測定時間に長短のばらつきが大きい場合でも、測定効率を向上させることができる。
According to the first embodiment, the
なお、複数の被試験部10それぞれで実施される試験にかかる時間が、時間割当テーブル70の複数のグループ1〜3のうちのいずれかに偏る場合等がある。このような場合、複数の被試験部10それぞれで実施される試験にかかる時間に該当しないグループに所属する測定部30は、他のグループに所属する測定部30が測定を実施している期間も測定が停止されることになる。このため、図5(a)のように、複数のグループ1〜3それぞれの合計測定時間に差が生じるようになる。つまり、複数のグループ1〜3それぞれに所属する測定部30の1台当りの合計測定時間のグループ間の差が、測定部30の測定が停止されていた期間に相当する。例えば図5(a)において、グループ1に所属する測定部30a、30bの1台当りの合計測定時間は250秒で、グループ2に所属する測定部30cの合計測定時間は1000秒であるため、測定部30a、30bは、測定部30cに対して、測定が750秒間停止していたことになる。
Note that the time taken for the tests performed in each of the plurality of parts under
そこで、図5(a)及び図5(b)で説明したように、複数のグループ1〜3それぞれにおける合計測定時間が、複数のグループ1〜3それぞれの接続先の測定部30の1台当たりに対して平準化するように、複数のグループ1〜3それぞれに所属する測定部30の台数を変更することが好ましい。つまり、複数のグループ1〜3に所属する測定部30の稼動履歴(合計測定時間)を参照し、測定部30の測定が停止される期間が稼動履歴から求まる停止期間よりも短くなるように、複数のグループ1〜3それぞれに所属する測定部30の台数を変更することが好ましい。これにより、測定効率をより向上させることができる。
Therefore, as described in FIG. 5A and FIG. 5B, the total measurement time in each of the plurality of groups 1 to 3 is per one of the
実施例1では、測定項目の測定と測定の実績を時間割当テーブル70に反映させることを所定回数行う。そして、所定回数の測定実績が反映された後の合計測定時間が、複数のグループ1〜3それぞれの接続先の測定部30の1台当たりに対して平準化するように、複数のグループ1〜3それぞれに対する接続先の測定部30の個数を変更している。測定項目の測定と測定の実績を時間割当テーブル70に反映されることとを行う所定回数は、複数のグループ1〜3における合計測定時間の傾向が分かる程度の複数回数であることが好ましい。また、複数のグループ1〜3それぞれの接続先の測定部30の1台当りの合計測定時間を平準化させるとは、複数のグループ1〜3それぞれの接続先の測定部30の1台当りの合計測定時間が同程度になるようにすることである。
In the first embodiment, the measurement items and the measurement results are reflected in the time allocation table 70 a predetermined number of times. Then, the total measurement time after the predetermined number of measurement results are reflected is equalized with respect to each of the measuring
なお、複数のグループ1〜3それぞれの接続先の測定部30の1台当りの合計測定時間を同程度にしたとしても、あるタイミングでは、複数の測定部30のうち、測定している測定部と測定していない(測定を停止している)測定部とが存在してしまう。これは、例えば、あるタイミングにおいては、グループ1〜3にグループ分けした情報と異なる占有時間であった場合には、測定していない(測定を停止している)測定部が存在するためである。また、グループ1〜3の平準化はされているが、グループ全体における測定が少なければ、測定していない(測定が停止されている)測定部が存在してしまう。
In addition, even if the total measurement time per unit of the
実施例1では、時間割当テーブル70の複数のグループ1〜3に対して接続先の測定部30が予め割当てられている場合を例に示したがこれに限られない。例えば、測定開始当初は割当てられてなく、複数のグループ1〜3それぞれに対して最初に行った測定に用いた測定部30を時間割当テーブル70に書き込んで割当ててもよい。
In the first embodiment, the connection
次に、実施例1の変形例1に係る試験装置について説明する。実施例1の変形例1に係る試験装置の全体構成、被試験部、及び測定部については、実施例1の図1から図2(b)と同じであるため説明を省略する。図6は、実施例1の変形例1に係る試験装置の制御方法の一例を示すフローチャートである。図6のように、測定項目(例えば波長測定)の測定が行われる前に、スイッチ部50のコントローラ54に、これから行われる測定項目(例えば波長測定)の複数回の測定の測定情報が外部から入力される。測定情報とは、例えば複数回の測定それぞれの予想占有時間や複数回の測定を複数のグループ1〜3の占有範囲の時間範囲で分けた場合での各グループにおける合計測定時間であり、何秒の測定を何回行うかという情報が含まれていればよい。例えば、検査するロット毎にユニークなスペックマスタに測定時間が予め登録されており、そのロット内の検査は同一の測定時間で行われることになるため、このスペックマスタによって測定情報を得ることができる。スイッチ部50のコントローラ54は、外部から入力された測定情報を、記憶手段56に記憶された時間割当テーブル70に取り込む(ステップS30)。これにより、測定情報が合計測定時間に反映されることになる。スイッチ部50のコントローラ54は、測定情報が取り込まれた後の時間割当テーブル70に対して、複数のグループ1〜3それぞれの接続先の測定部30の1台当りの合計測定時間が平準化するように、複数のグループ1〜3の接続先の測定部30の台数を変更する(ステップS32)。
Next, a test apparatus according to Modification 1 of Embodiment 1 will be described. Since the entire configuration of the test apparatus, the part under test, and the measurement unit according to the first modification of the first embodiment are the same as those in FIGS. 1 to 2B of the first embodiment, description thereof is omitted. FIG. 6 is a flowchart illustrating an example of a control method of the test apparatus according to the first modification of the first embodiment. As shown in FIG. 6, before measurement of a measurement item (for example, wavelength measurement) is performed, measurement information of a plurality of measurements of a measurement item (for example, wavelength measurement) to be performed from the outside is sent to the
ここで、図5(a)及び図5(b)を再度参照して、複数のグループ1〜3の接続先の測定部の台数の変更について説明する。例えば、図6のステップS30において、外部から入力された測定情報を取り込んだ後の時間割当テーブル70が、図5(a)のようであった場合を想定する。この場合、上述したように、測定効率の点で、複数のグループ1〜3それぞれの接続先の測定部30の1台当りの合計測定時間が同程度になることが好ましい。そこで、図6のステップS32において、図5(b)のように、複数のグループ1〜3それぞれの接続先の測定部30の1台当りの合計測定時間が平準化するように、複数のグループ1〜3の接続先の測定部30の台数を変更する。これにより、複数のグループ1〜3において、1台当りの測定部30の合計測定時間を同程度にすることができ、測定効率を向上させることができる。
Here, referring to FIG. 5A and FIG. 5B again, a change in the number of measurement units connected to the plurality of groups 1 to 3 will be described. For example, it is assumed that the time allocation table 70 after taking in the measurement information input from the outside in step S30 in FIG. 6 is as shown in FIG. In this case, as described above, in terms of measurement efficiency, it is preferable that the total measurement time per unit of the
図6に戻り、被試験部10のコントローラ16は、スイッチ部50のコントローラ54に対して、測定項目と測定に要する予想占有時間とを通知する(ステップS34)。スイッチ部50のコントローラ54は、複数のグループ1〜3の接続先の測定部30の台数を変更した後の時間割当テーブル70を参照し、通知された予想占有時間に対応する測定部30に被試験部10を接続させる(ステップS36)。
Returning to FIG. 6, the
スイッチ部50のコントローラ54は、被試験部10のコントローラ16に、接続先の測定部30を示す測定部情報と接続が完了したことを通知する(ステップS38)。被試験部10のコントローラ16は、ドライブ14に指示を与えて、被試験物12を所定の条件で駆動させると共に、接続先の測定部30のコントローラ34に対して、測定条件と測定開始を通知する(ステップS40)。測定部30のコントローラ34は、被試験部10のコントローラ16から通知された測定条件に従って測定器32を制御して測定を行う。測定部30のコントローラ34は、測定が終了した後、被試験部10のコントローラ16に対して、測定結果と測定の完了を通知する(ステップS42)。被試験部10のコントローラ16は、測定結果と測定完了の通知を受けて、スイッチ部50のコントローラ54に対して、測定の完了を通知する。スイッチ部50のコントローラ54は、測定完了の通知を受けて、マトリクススイッチ52を制御して、被試験部10と測定部30との接続状態を解除する(ステップS44)。その後、ステップS34に戻る。
The
実施例1の変形例1では、測定項目の測定前に外部から入力された複数回の測定の測定情報を時間割当テーブル70に取り込み、合計測定時間に反映させる。そして、測定情報が反映された後の合計測定時間が、複数のグループ1〜3それぞれの接続先の測定部30の1台当たりに対して平準化するように、複数のグループ1〜3それぞれに対する接続先の測定部30の台数を変更している。
In the first modification of the first embodiment, measurement information of a plurality of measurements input from the outside before measurement of the measurement item is taken into the time allocation table 70 and reflected in the total measurement time. And the total measurement time after the measurement information is reflected is equalized for each of the plurality of groups 1 to 3 so as to be leveled with respect to each measuring
実施例1のように、測定の実績から複数のグループ1〜3の接続先の測定部30の台数を変更することで、複数のグループ1〜3それぞれの接続先の測定部30の1台当りの合計測定時間を平準化させることをタイムリーに行うことができる。実施例1の変形例1のように、これから行う測定の測定情報から複数のグループ1〜3の接続先の測定部30の台数を変更することで、複数のグループ1〜3それぞれの接続先の測定部30の1台当りの合計測定時間を平準化させた時間割当テーブル70を測定当初から用いることができる。また、測定の実績とこれから行う測定の測定情報との両方を用いて、複数のグループ1〜3の接続先の測定部30の台数を変更してもよい。実施例1の変形例1のように、これから行う測定の測定情報だけを用いる場合、この測定情報と実際に行われた測定との間で差が生じてしまうことがある。これから行う測定の測定情報と測定の実績との両方を用いることで、このような差を補正することが可能となる。これから行う測定の測定情報と測定の実績とを併用する場合、測定情報を時間割当テーブル70に取り込んで接続先の測定部30の台数を変更した後、測定回数及び合計測定時間を消去し、測定の実績を時間割当テーブル70に反映させる運用を用いることができる。
As in the first embodiment, by changing the number of
実施例2に係る試験装置の全体構成、被試験部、及び測定部については、実施例1の図1から図2(b)と同じであるため説明を省略する。図7は、実施例2に係る試験装置の制御方法の一例を示すフローチャートである。図7のように、被試験部10のコントローラ16は、スイッチ部50のコントローラ54に対して、測定項目と測定に要する予想占有時間とを通知する(ステップS50)。スイッチ部50のコントローラ54は、記憶手段56に記憶された時間割当テーブル70を参照し、通知された予想占有時間に対応する測定部30に被試験部10を接続させる(ステップS52)。
The overall configuration of the test apparatus according to the second embodiment, the part under test, and the measurement unit are the same as those of the first embodiment shown in FIGS. FIG. 7 is a flowchart illustrating an example of a control method of the test apparatus according to the second embodiment. As shown in FIG. 7, the
スイッチ部50のコントローラ54は、被試験部10のコントローラ16に、接続先の測定部30を示す測定部情報と接続が完了したことを通知する(ステップS54)。被試験部10のコントローラ16は、ドライブ14に指示を与えて、被試験物12を所定の条件で駆動させると共に、接続先の測定部30のコントローラ34に対して、測定条件と測定開始を通知する(ステップS56)。測定部30のコントローラ34は、被試験部10のコントローラ16から通知された測定条件に従って測定器32を制御して測定を行う。測定部30のコントローラ34は、測定が終了した後、被試験部10のコントローラ16に対して、測定結果と測定の完了を通知する(ステップS58)。被試験部10のコントローラ16は、測定完了の通知を受けて、スイッチ部50のコントローラ54に対して、測定の完了を通知する。スイッチ部50のコントローラ54は、測定完了の通知を受けて、マトリクススイッチ52を制御して、被試験部10と測定部30との接続状態を解除する(ステップS60)。
The
スイッチ部50のコントローラ54は、ステップS50〜ステップS60で行われた測定の実績を時間割当テーブル70に反映させる(ステップS62)。これにより、測定の実績が測定回数及び合計測定時間に反映されることになる。スイッチ部50のコントローラ54は、予め定められた所定の測定回数の測定が終了したかを判断する(ステップS64)。所定の測定回数の測定が終了していない場合(Noの場合)、ステップS50に戻る。所定の測定回数の測定が終了した場合(Yesの場合)、スイッチ部50のコントローラ54は、時間割当テーブル70の複数のグループ1〜3それぞれの接続先の測定部30の1台当りの合計測定時間が平準化するように、複数のグループ1〜3を定める占有時間の範囲を変更する(ステップS66)。占有時間の範囲を変更した後、ステップS50に戻る。
The
ここで、複数のグループ1〜3を定める占有時間の範囲を変更することについて説明する。図8(a)及び図8(b)は、複数のグループを定める占有時間の範囲の変更について説明するための時間割当テーブルを示す図である。例えば、図7のステップS64において、所定の測定回数の測定が終了した際の時間割当テーブル70が、図8(a)のようであった場合を想定する。この場合、グループ1における合計測定時間は500秒で、グループ2における合計測定時間は1000秒で、グループ3における合計測定時間は500秒であったとする。ここで、複数のグループ1〜3それぞれの接続先の測定部30の個数は1台である。このため、グループ1の接続先の測定部30aの1台当りの合計測定時間は500秒である。グループ2の接続先の測定部30bの1台当りの合計測定時間は1000秒である。グループ3の接続先の測定部30cの1台当りの合計測定時間は500秒である。このように、複数のグループ1〜3では、接続先の測定部30の1台当りの合計測定時間が大きく異なるため、測定効率の点で好ましくない。そこで、図7のステップS66において、図8(b)のように、複数のグループ1〜3それぞれの接続先の測定部30の1台当りの合計測定時間が平準化するように、複数のグループ1〜3を定める占有時間の範囲を変更する。例えば、グループ1の時間範囲を2秒未満(T<2)とし、グループ2の時間範囲を2秒以上且つ4秒未満(2≦T<4)とし、グループ3の時間範囲を4秒以上(4≦T)とする。これにより、複数のグループ1〜3それぞれの接続先の測定部30の1台当りの合計測定時間を同程度にすることができ、測定効率を向上させることができる。
Here, changing the range of the occupation time defining the plurality of groups 1 to 3 will be described. FIG. 8A and FIG. 8B are diagrams showing a time allocation table for explaining the change of the occupation time range for defining a plurality of groups. For example, assume that the time allocation table 70 at the time when the predetermined number of measurements has been completed in step S64 in FIG. 7 is as shown in FIG. In this case, the total measurement time in group 1 is 500 seconds, the total measurement time in
実施例2では、図8(a)及び図8(b)で説明したように、複数のグループ1〜3それぞれにおける合計測定時間が、複数のグループ1〜3それぞれの接続先の測定部30の1台当たりに対して平準化するように、複数のグループ1〜3を定める占有時間の範囲を変更している。つまり、複数のグループ1〜3に所属する測定部30の稼動履歴(合計測定時間)を参照し、測定部30の測定が停止される期間が稼動履歴から求まる停止期間よりも短くなるように、複数のグループ1〜3を定める占有時間の範囲を変更している。これによっても、測定効率を向上させることができる。
In Example 2, as described in FIGS. 8A and 8B, the total measurement time in each of the plurality of groups 1 to 3 is the same as that of the
実施例2では、測定項目の測定と測定の実績を時間割当テーブル70に反映させることを所定回数行う。そして、所定回数の測定実績が反映された後の合計測定時間が、複数のグループ1〜3それぞれの接続先の測定部30の1台当たりに対して平準化するように、複数のグループ1〜3を定める占有時間の範囲を変更している。実施例2においても、実施例1の変形例1のように、測定項目の測定前に外部から入力された複数回の測定の測定情報を時間割当テーブル70に取り込み、測定情報を合計測定時間に反映させる。そして、測定情報が反映された後の合計測定時間が、複数のグループ1〜3それぞれの接続先の測定部30の1台当たりに対して平準化するように、複数のグループ1〜3を定める占有時間の範囲を変更してもよい。また、測定の実績と測定前に入力された測定情報とを併用して、複数のグループ1〜3それぞれの接続先の測定部30の1台当りの合計測定時間が平準化するように、複数のグループ1〜3を定める占有時間の範囲を変更してもよい。
In the second embodiment, measurement of measurement items and measurement results are reflected in the time allocation table 70 a predetermined number of times. Then, the total measurement time after the predetermined number of measurement results are reflected is equalized with respect to each of the measuring
実施例2では、図8(a)及び図8(b)のように、複数のグループ1〜3それぞれの接続先の測定部30が1台である場合を例に示したが、実施例1の図5(a)及び図5(b)のように、複数台である場合でもよい。複数台ある場合、複数のグループ1〜3それぞれの接続先の測定部30の1台当りの合計測定時間が平準化するように、複数のグループ1〜3を定める占有時間の範囲を変更することに加え、複数のグループ1〜3の接続先の測定部30の台数を変更してもよい。
In the second embodiment, as shown in FIG. 8A and FIG. 8B, the case where there is one measuring
実施例1及び実施例2では、被試験部10に備わる被試験物12が、半導体レーザである場合を例に示した。しかしながら、この場合に限らず、被試験物12は、例えば受光素子等、半導体レーザ以外の場合であってもよい。測定部30に備わる測定器32は、波長測定器、光パワー測定器、及び光波形測定器の場合に限らず、その他の測定器の場合であってもよい。また、実施例1及び実施例2の説明から分かるように、スイッチ部50のコントローラ54は、複数のグループ1〜3における合計測定時間が、複数のグループ1〜3それぞれの接続先の測定部30の1台当りに対して平準化するように、複数のグループ1〜3を定める占有時間の範囲及び複数のグループ1〜3それぞれに対する接続先の測定部30の台数の少なくとも一方を変更する変更手段として機能する。
In Example 1 and Example 2, the case where the device under
以上、本発明の実施例について詳述したが、本発明はかかる特定の実施例に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形・変更が可能である。 Although the embodiments of the present invention have been described in detail above, the present invention is not limited to such specific embodiments, and various modifications and changes can be made within the scope of the gist of the present invention described in the claims. It can be changed.
10 被試験部
12 被試験物
14 ドライバ
16 コントローラ
30 測定部
32 測定器
34 コントローラ
40〜44 測定部群
50 スイッチ部
52 マトリクススイッチ
54 コントローラ
56 記憶手段
70 時間割当テーブル
DESCRIPTION OF
Claims (2)
同じ測定項目が測定可能な複数の測定部と、
前記複数の測定部を1回の試験に許容される占有時間の範囲でグループ分けした情報を記憶する記憶手段と、
前記複数の被試験部と前記複数の測定部との間の接続の切替えを行うスイッチと、
前記スイッチの前記切替えの制御をなす際、前記複数の測定部のうち稼働していない測定部を選択する制御をなすコントローラと、を備え、
前記コントローラは、前記記憶手段に記憶された前記グループ分けした情報に基づき、前記被試験部において実施される試験にかかる時間に対応したグループの前記測定部を選択し、前記スイッチに対して該当する前記被試験部と接続させる制御をなす、試験装置。 Multiple parts under test;
Multiple measurement units that can measure the same measurement item,
Storage means for storing information obtained by grouping the plurality of measurement units in a range of occupation time allowed for one test;
A switch for switching example of the connection between said plurality of tested portion of the plurality of measuring portions,
A controller that performs control to select a measurement unit that is not operating among the plurality of measurement units when performing the switching control of the switch ,
The controller selects the measurement unit of the group corresponding to the time taken for the test performed in the unit under test based on the grouped information stored in the storage unit, and corresponds to the switch A test apparatus for controlling connection with the part under test.
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