JP6187190B2 - Microscope image calibration slide glass - Google Patents
Microscope image calibration slide glass Download PDFInfo
- Publication number
- JP6187190B2 JP6187190B2 JP2013243577A JP2013243577A JP6187190B2 JP 6187190 B2 JP6187190 B2 JP 6187190B2 JP 2013243577 A JP2013243577 A JP 2013243577A JP 2013243577 A JP2013243577 A JP 2013243577A JP 6187190 B2 JP6187190 B2 JP 6187190B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- calibration
- base material
- slide glass
- protective base
- protective
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Landscapes
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Description
本発明は、顕微鏡による観察画像の再現性評価のために使用する顕微鏡画像校正用スライドガラスに関する。 The present invention relates to a microscope image calibration slide glass used for evaluating the reproducibility of an observation image by a microscope.
近年、顕微鏡による試料の観察は、顕微鏡に取り付けられた撮像装置を用いて行われ、この撮像装置付き顕微鏡によって、観察結果を記録することができることや、ＴＶカメラ、デジタルカメラ等の撮像装置を介して、顕微鏡から入力された情報がディスプレイやプリンタに出力されて、試料を速やかに評価することができる利点があり、医療関係等広い分野において採用されている。
このような撮像装置付き顕微鏡においては、撮像装置自体の画像の再現性評価は行われているが、顕微鏡の対物レンズを介して撮像装置により撮像された画像の再現性については各装置固有の方法によって評価されており、評価方法の標準化が望まれている。
特許文献１は、顕微鏡を使用して撮像された測定試料の画像の色評価及び色補正に使用可能な比較基準となる色情報を提供するためのスライドガラス等に関するものである。このスライドガラスの上面には、顕微鏡の倍率が異なる対物レンズの各視野にそれぞれ対応するように色基準用マイクロカラーフィルタが形成されている。
しかしながら、特許文献１においては、ガラス板の面上に色基準用マイクロカラーフィルタを並置して形成することが開示されているが、再現性評価用として微小サイズでの色や濃度のムラの問題のない基準色を備えたスライドガラスについては開示されていない。
In recent years, observation of a sample with a microscope is performed using an imaging device attached to the microscope, and the observation result can be recorded by the microscope with the imaging device, or via an imaging device such as a TV camera or a digital camera. Thus, there is an advantage that information inputted from a microscope is outputted to a display or a printer and a sample can be evaluated quickly, and it is used in a wide range of fields such as medical care.
In such a microscope with an imaging apparatus, the reproducibility evaluation of the image of the imaging apparatus itself is performed, but the reproducibility of the image captured by the imaging apparatus via the objective lens of the microscope is a method unique to each apparatus. The standardization of the evaluation method is desired.
Patent Document 1 relates to a slide glass or the like for providing color information serving as a comparison reference that can be used for color evaluation and color correction of an image of a measurement sample imaged using a microscope. On the upper surface of the slide glass, a color reference micro color filter is formed so as to correspond to each field of view of an objective lens having a different magnification of the microscope.
However, Patent Document 1 discloses that the color reference micro color filter is formed side by side on the surface of the glass plate, but the problem of unevenness of color and density in a minute size is used for evaluation of reproducibility. There is no disclosure of a glass slide having a reference color without any color.
顕微鏡による観察画像の再現性評価のために使用する顕微鏡画像校正用スライドガラスであって、校正用パターンとして色純度がよいカラーチャートや階調性に優れたグレイスケール等を有し、異なる倍率の対物レンズ毎に行う再現性評価の作業性がよい顕微鏡画像校正用スライドガラスが求められている。 This is a slide glass for microscope image calibration used to evaluate the reproducibility of observation images with a microscope, and has a color chart with good color purity as a calibration pattern, a gray scale with excellent gradation, etc. There is a demand for a slide glass for proofreading a microscope image, which has good workability for reproducibility evaluation performed for each objective lens.
上記の問題を解決する第１の発明の要旨は、少なくとも透光部を有する第１の保護基材、顕微鏡の透過光により観察可能な複数の校正用パターン、スペーサー及び透光部を有する第２の保護基材により構成されてなる顕微鏡画像校正用スライドガラスであって、前記第1の保護基材および前記第２の保護基材は、薄板状で平面視矩形の形状を有し、前記校正用パターンの各々は、前記顕微鏡の倍率の異なる対物レンズに対応して設けられ、前記顕微鏡の前記対物レンズ毎の視野内に収め得るサイズの薄板状のものであり、前記第1の保護基材と前記第２の保護基材の間に挟持され重ならないように配置されてなり、前記スペーサーは、前記第1の保護基材と前記第２の保護基材の間にあって、前記第1の保護基材と前記第２の保護基材との間隙を保持するように配置されてなり、且つ、少なくとも前記校正用パターンが設けられた平面視領域を除いた領域にあって複数の前記校正用パターンを固定するように配置されてなることを特徴とするものである。
上記の問題を解決する第２の発明の要旨は、上記の第1の発明に記載の顕微鏡画像校正用スライドガラスにおいて、前記校正用パターンは、複数の独立した薄板状の校正用パターンチップにより構成されてなり、前記スペーサーは、少なくとも前記校正用パターンチップが設けられた平面視領域を除いた領域にあって複数の前記校正用パターンチップを固定するように配置されてなることを特徴とするものである。
上記の問題を解決する第３の発明の要旨は、上記の第1〜２の発明のいずれかに記載の顕微鏡画像校正用スライドガラスにおいて、前記第1の保護基材および前記第２の保護基材は、平面視上対応する同一位置にパターン状の前記透光部を有し、前記透光部は、前記第1の保護基材と前記第２の保護基材の間に挟み込まれた前記校正用パターンの観察領域に対応するように設けられてなり、前記第1の保護基材および前記第２の保護基材において前記透光部を除く部分に遮光部が設けられてなることを特徴とするものである。
上記の問題を解決する第４の発明の要旨は、上記の第1〜３の発明のいずれかに記載の顕微鏡画像校正用スライドガラスにおいて、接着層が、前記第1の保護基材と前記スペーサーとの間および前記第２の保護基材との前記スペーサーとの間の少なくとも一方に設けられてなることを特徴とするものである。
上記の問題を解決する第５の発明の要旨は、上記の第４の発明に記載の顕微鏡画像校正用スライドガラスにおいて、前記接着層が、前記第１の保護基材と前記校正用パターンの少なくとも一部分との間および前記第２の保護基材と前記校正用パターンの少なくとも一部分との間の少なくとも一方にも設けられてなることを特徴とするものである。
上記の問題を解決する第６の発明の要旨は、上記の第1〜５の発明のいずれかに記載の顕微鏡画像校正用スライドガラスにおいて、請求項１〜５のいずれか1項に記載の顕微鏡画像校正用スライドガラスにおいて、前記校正用パターンが、カラーチャートを含むことを特徴とするものである。
上記の問題を解決する第７の発明の要旨は、上記の第1〜６の発明のいずれかに記載の顕微鏡画像校正用スライドガラスにおいて、前記校正用パターンが、グレイスケールを含むことを特徴とするものである。
The gist of the first invention for solving the above problems is a first protective substrate having at least a light transmitting part, a plurality of calibration patterns observable by light transmitted through a microscope, a spacer, and a second having a light transmitting part A glass slide for proofreading a microscope image comprising the protective base material, wherein the first protective base material and the second protective base material have a thin plate shape and a rectangular shape in plan view. Each of the patterns for use is provided corresponding to an objective lens having a different magnification of the microscope, and is a thin plate having a size that can be accommodated in a field of view for each objective lens of the microscope. Between the first protective substrate and the second protective substrate, and the spacer is disposed between the first protective substrate and the second protective substrate so as not to overlap. Maintaining a gap between the base material and the second protective base material It is arranged so as to be held, and is arranged so as to fix at least a plurality of the calibration patterns in an area excluding a planar view area where the calibration patterns are provided. Is.
The gist of the second invention that solves the above problem is that, in the microscope image calibration slide glass according to the first invention, the calibration pattern is composed of a plurality of independent thin plate-shaped calibration pattern chips. The spacer is arranged at least in a region excluding a region in plan view where the calibration pattern chip is provided so as to fix a plurality of the calibration pattern chips. It is.
The gist of the third invention for solving the above-described problem is that, in the slide glass for microscope image calibration according to any one of the first to second inventions, the first protective substrate and the second protective group. The material has the pattern-like light-transmitting portion at the same position corresponding in plan view, and the light-transmitting portion is sandwiched between the first protective base material and the second protective base material. It is provided so as to correspond to the observation area of the calibration pattern, and a light shielding part is provided in a portion excluding the light transmitting part in the first protective base material and the second protective base material. It is what.
The gist of the fourth invention for solving the above problem is that the slide glass for microscopic image calibration according to any one of the first to third inventions, wherein the adhesive layer includes the first protective base material and the spacer. And at least one of the second protective base material and the spacer.
The gist of a fifth invention that solves the above problem is that, in the slide glass for microscope image calibration according to the fourth invention, the adhesive layer includes at least the first protective base material and the calibration pattern. It is also provided between at least one part and between at least one part between the second protective substrate and the calibration pattern.
The gist of the sixth invention for solving the above problem is that the microscope image calibration slide glass according to any one of the first to fifth inventions, wherein the microscope according to any one of claims 1 to 5 is used. In the slide glass for image calibration, the calibration pattern includes a color chart.
The gist of the seventh invention for solving the above-mentioned problem is that, in the microscope image calibration slide glass according to any one of the first to sixth inventions, the calibration pattern includes a gray scale. To do.
本発明によれば、上記のように顕微鏡画像校正用スライドガラスが構成されていることによって、校正用パターンが、顕微鏡画像校正用スライドガラスの平面視上の特定の位置に精度良く配置されていること、倍率の異なる対物レンズに対応したサイズのパターンが同一の顕微鏡画像校正用スライドガラスに並置されていることにより、顕微鏡、及び撮像装置付き顕微鏡の色再現性の評価が、高精度で作業性良く行える効果を有する。
また、校正用パターンを構成する校正用パターンチップが各々の最適条件で作成されたものを所定の小サイズに切断して組込まれたものであるので、校正用パターンチップに色ムラや濃淡ムラがなく色純度のよいカラーチャートや階調性に優れたグレイスケール等を確保できる効果を有し、印刷法やインクジェット法、フォトリソグラフィ法などにより作成されたものに比べて、ムラ等が生じない効果を有する。
According to the present invention, since the microscope image calibration slide glass is configured as described above, the calibration pattern is accurately arranged at a specific position in plan view of the microscope image calibration slide glass. In addition, because the pattern of the size corresponding to the objective lens with different magnification is juxtaposed on the same microscope image calibration glass slide, the color reproducibility of the microscope and the microscope with the imaging device can be evaluated with high accuracy and workability. It has an effect that can be done well.
In addition, since the calibration pattern chip that constitutes the calibration pattern is prepared by cutting each of the optimum chip conditions into a predetermined small size, color unevenness and shading unevenness are present in the calibration pattern chip. It has the effect of ensuring a color chart with excellent color purity and a gray scale with excellent gradation, etc., and an effect that does not cause unevenness compared to those created by the printing method, inkjet method, photolithography method, etc. Have
以下に本発明の顕微鏡画像校正用スライドガラスを実施するための形態について、図１〜６に基づいて説明する。 Below, the form for implementing the slide glass for microscope image calibration of this invention is demonstrated based on FIGS.
（第１実施形態）
第１実施形態は、少なくとも透光部を有する第１の保護基材、顕微鏡の透過光により観察可能な複数の校正用パターン、スペーサー及び透光部を有する第２の保護基材により構成されてなる顕微鏡画像校正用スライドガラスであって、第1の保護基材および第２の保護基材は、薄板状で平面視矩形の形状を有し、校正用パターンの各々は、顕微鏡の倍率の異なる対物レンズに対応して設けられ、顕微鏡の対物レンズ毎の視野内に収め得るサイズの薄板状のものであり、第1の保護基材と第２の保護基材の間に挟持され重ならないように配置されてなり、スペーサーは第1の保護基材と第２の保護基材の間にあって、第1の保護基材と第２の保護基材との間隙を保持するように配置されてなり、且つ、少なくとも校正用パターンが設けられた平面視領域を除いた領域にあって複数の校正用パターンを固定するように配置されてなるものである。
図１は、顕微鏡画像校正用スライドガラスの第１実施形態の一例を示し、図１（ａ）は平面図、図１（ｂ）はその部分断面図である。
図１（ａ）に示すように、顕微鏡画像校正用スライドガラス１０には、校正用パターン３が複数の箇所ここでは７箇所に配置されている。この顕微鏡画像校正用スライドガラス１０を用いて顕微鏡測定する際には、対物レンズを変える毎に、同じ顕微画像校正用スライドガラス１０上の校正用パターン３を各対物レンズに対応したものに変えることによって、即ち顕微画像校正用スライドガラス１０を取り替えることなく、測定を行うことができるものである。
図１（ａ）において、校正用パターン３は7箇所にあるが、校正用パターン３の数は顕微鏡の対物レンズの数に対応した数である。したがって、7箇所に限定されるものではない。
また、図１（ａ）において校正用パターン３は、図中の左側から右側に向けてサイズが段階的に小さくなっており、パターンは相似的になるように設けられている。
校正用パターン３のサイズとしては、図１（ａ）に示されるような長方形の校正用パターン３の場合、顕微鏡の対物レンズ7種の各倍率を、例えば、２．５倍、５倍、１０倍、２０倍、４０倍、６０倍及び１００倍とした場合、各対物レンズによる顕微鏡測定の視野内に収め得るサイズに設計されており、倍率２．５倍の対物レンズに対しては、長辺が５．７ｍｍの長方形の校正用パターン３となり、倍率１００倍の対物レンズに対しては、長辺が０．１４ｍｍの長方形の校正用パターン３となる。
校正用パターン３の形状は限定されないので、上記のような長方形の外に、正方形、多角形、円形などの形状の場合にも顕微鏡視野内に収め得るように校正用パターン３のサイズが適宜定められる。
図１（ｂ）は、図１（ａ）の顕微鏡画像校正用スライドガラス１０において校正用パターン３を２箇所に有する部分についての断面を示すものである。
図１（ｂ）に示すように、校正用パターン３は、少なくとも可視光を透過する第1の保護基材１と第２の保護基材２の間に挟持され重ならないように配置されている。これら校正用パターン３は、第２の保護基材２の図中の下方に配置されており、下方からの顕微鏡光源からの光を透過させて観察を可能とするものである。
また、図１（ｂ）において、スペーサー５は、第1の保護基材１と第２の保護基材２との間隙を保持するように配置されてなり、且つ、少なくとも校正用パターン３が設けられた領域を除いた領域にあって複数の校正用パターン３を固定するように、校正用パターン３の外周を連続的又は非連続的に囲むように設けられている。
(First embodiment)
The first embodiment includes at least a first protective base material having a translucent part, a plurality of calibration patterns observable by light transmitted through a microscope, a spacer, and a second protective base material having a translucent part. The first protective substrate and the second protective substrate have a thin plate shape and a rectangular shape in plan view, and each of the calibration patterns has a different microscope magnification. A thin plate that is provided in correspondence with the objective lens and can fit within the field of view of each objective lens of the microscope, and is sandwiched between the first protective base and the second protective base so as not to overlap. The spacer is disposed between the first protective substrate and the second protective substrate, and is disposed so as to maintain a gap between the first protective substrate and the second protective substrate. And at least a plan view provided with a calibration pattern In a region excluding the region, a plurality of calibration patterns are arranged so as to be fixed.
FIG. 1 shows an example of a first embodiment of a slide glass for microscope image calibration, FIG. 1 (a) is a plan view, and FIG. 1 (b) is a partial sectional view thereof.
As shown in FIG. 1 (a), the microscope image calibration slide glass 10 has calibration patterns 3 arranged at a plurality of locations, here seven locations. When microscopic measurement is performed using the microscope image calibration slide glass 10, the calibration pattern 3 on the same microscope image calibration slide glass 10 is changed to one corresponding to each objective lens every time the objective lens is changed. That is, measurement can be performed without replacing the slide glass 10 for microscopic image calibration.
In FIG. 1A, there are seven calibration patterns 3, but the number of calibration patterns 3 corresponds to the number of objective lenses of the microscope. Therefore, it is not limited to seven places.
Further, in FIG. 1A, the calibration pattern 3 is gradually reduced in size from the left side to the right side in the drawing, and the patterns are provided to be similar.
As for the size of the calibration pattern 3, in the case of the rectangular calibration pattern 3 as shown in FIG. 1A, the magnifications of the seven objective lenses of the microscope are set to 2.5 times, 5 times, 10 times, for example. When the magnification is set to 20 times, 40 times, 60 times, and 100 times, it is designed to have a size that can be accommodated in the field of view of the microscope measurement by each objective lens. A rectangular calibration pattern 3 having a side of 5.7 mm is formed, and for an objective lens having a magnification of 100 times, a rectangular calibration pattern 3 having a long side of 0.14 mm is formed.
Since the shape of the calibration pattern 3 is not limited, the size of the calibration pattern 3 is appropriately determined so that it can be accommodated in the microscope field even in the case of shapes such as a square, a polygon, and a circle in addition to the rectangle as described above. It is done.
FIG. 1B shows a cross section of a portion having the calibration pattern 3 in two places in the microscope image calibration slide glass 10 of FIG.
As shown in FIG. 1B, the calibration pattern 3 is disposed between the first protective base material 1 and the second protective base material 2 that transmit at least visible light so as not to overlap each other. . These calibration patterns 3 are arranged below the second protective substrate 2 in the drawing, and allow light from a microscope light source from below to be transmitted for observation.
Further, in FIG. 1B, the spacer 5 is arranged so as to hold the gap between the first protective base material 1 and the second protective base material 2, and at least the calibration pattern 3 is provided. The outer periphery of the calibration pattern 3 is provided continuously or discontinuously so as to fix the plurality of calibration patterns 3 in a region excluding the defined region.
本発明の校正用パターン３としては、撮像装置付き顕微鏡による測定画像の再現性評価のために使用するもので、カラーチャート、グレイスケール、解像度チャート、インメガチャート、クロスハッチチャート等を挙げることができる。 The calibration pattern 3 of the present invention is used for evaluating the reproducibility of a measurement image by a microscope with an imaging device, and includes a color chart, a gray scale, a resolution chart, an inmega chart, a cross hatch chart, and the like. it can.
本発明の第１の保護基材１及び第２の保護基材２は、少なくとも可視光を透過する透光部を有し、薄板状で平面視矩形の形状を有するものであって、校正用パターン３の材料としては、傷や塵から保護するもので、ガラスやプラスチックが使える。好ましくは顕微鏡用スライドガラスとして通常使用されるものと同様の材料であるガラスが用いられる。またプラスチックの場合には顕微鏡測定の際に障害となる材料中にフィラーなどが含まれないものが好ましい。
また、第１の保護基材１及び第２の保護基材２の各々サイズとしては、限定されるものではないが、短辺が２６±０．１ｍｍ、長辺が７６±０．１ｍｍ、厚みが０．２〜０．４ ｍｍであることが好ましい。
これは、汎用の顕微鏡用スライドガラスのサイズが短辺２６ｍｍ、長辺７６ｍｍ、厚み１．２ｍｍであるため、同様のサイズであることが顕微鏡観察の操作上好ましいためである。
The first protective base material 1 and the second protective base material 2 of the present invention have a translucent part that transmits at least visible light, have a thin plate shape and a rectangular shape in plan view, and are used for calibration. The material for pattern 3 is to protect from scratches and dust, and glass or plastic can be used. Preferably, glass which is the same material as that usually used as a microscope slide glass is used. In the case of plastic, a material that does not contain a filler or the like in a material that becomes an obstacle during microscopic measurement is preferable.
Moreover, as each size of the 1st protective base material 1 and the 2nd protective base material 2, although it is not limited, a short side is 26 +/- 0.1mm, a long side is 76 +/- 0.1mm, thickness Is preferably 0.2 to 0.4 mm.
This is because the general-purpose microscope slide glass has a short side of 26 mm, a long side of 76 mm, and a thickness of 1.2 mm.
本発明のスペーサー５は、第1の保護基材１と第２の保護基材２の間にあって、第1の保護基材１と第２の保護基材２との間隙を保持するように配置されてなり、且つ、少なくとも校正用パターン３が設けられた平面視領域を除いた領域にあって複数の校正用パターン３を固定するように、校正用パターン３の外周を連続的又は非連続的に囲むように設けられている。
スペーサー５の形状は、必ずしも校正用パターン３の平面視領域を除いた領域全体を占めるものである必要がなく、第1の保護基材１と第２の保護基材２との間隙を保持し、校正用パターン３の外周を連続的又は非連続的に囲むようなものであればよい。したがって、スペーサー５は、図１（ｂ）に示すような第１、第２の保護基材の外周と同じサイズで設けられてもよく、その外に、第１、第２の保護基材の外周より小さいサイズで設けられてもよい。
スペーサー５の厚みは、総厚で０．０２〜０．４ｍｍであることが好ましい。 スペーサー５は、一枚板で構成されたものの外に、総厚より薄いものを複数枚を重ね合わせられたものを使用することができる。校正用パターン３の厚みが異なる場合に、薄いものを重ねてその枚数によって総厚を調整することが可能となる。
スペーサー５の材料としては、金属、ガラス、プラスチックなどを用いることができ、薄板状で剛性があり、パターン状に貫通孔を設ける際に加工し易いものが好ましい。金属材料の場合には、ステンレス、鉄ニッケル合金（４２合金）、銅などを用いることが好ましい。
スペーサー５の形成方法としては、金属板の打抜き加工やエッチング加工、プラスチック板の打抜き加工等による貫通孔加工や、プラスチック成型や印刷加工等など成形加工等の方法を用いることができる。
The spacer 5 of the present invention is disposed between the first protective substrate 1 and the second protective substrate 2 so as to maintain a gap between the first protective substrate 1 and the second protective substrate 2. And the outer periphery of the calibration pattern 3 is continuous or non-continuous so that a plurality of the calibration patterns 3 are fixed in an area excluding a planar view area where at least the calibration pattern 3 is provided. It is provided so as to surround.
The shape of the spacer 5 does not necessarily occupy the entire area excluding the planar view area of the calibration pattern 3, and maintains the gap between the first protective base material 1 and the second protective base material 2. As long as it surrounds the outer periphery of the calibration pattern 3 continuously or discontinuously. Therefore, the spacer 5 may be provided in the same size as the outer periphery of the first and second protective bases as shown in FIG. 1B, and in addition to that, the first and second protective bases The size may be smaller than the outer periphery.
The spacer 5 preferably has a total thickness of 0.02 to 0.4 mm. As the spacer 5, in addition to a single plate, a plurality of spacers thinner than the total thickness can be used. When the thickness of the calibration pattern 3 is different, the total thickness can be adjusted depending on the number of thin layers stacked.
As the material of the spacer 5, metal, glass, plastic, or the like can be used, and a thin plate-like and rigid material that can be easily processed when providing through holes in a pattern shape is preferable. In the case of a metal material, it is preferable to use stainless steel, iron-nickel alloy (42 alloy), copper, or the like.
As a method of forming the spacer 5, a method such as a punching process or etching process of a metal plate, a through hole process by punching process of a plastic plate, or a molding process such as plastic molding or printing process can be used.
上記のような各部材が構成された顕微鏡画像校正用スライドガラス１０を形成するために、全ての部材が積層された後に顕微鏡画像校正用スライドガラス１０の外周の厚み方向の部分をシール接着する方法や、予め第１の保護基材１及び第２の保護基材に嵌合部を設けておき嵌め合わせて合体する方法や、スペーサー５自体が接着力を有するものを使用して貼り合せる方法等を用いることができる。
また、各部材を積層する際には、第１の保護基材１、第２の保護基材２及びスペーサー５の各部材に見当マークやピン孔を設けておくことにより位置合わせを正確に行うことができる。
In order to form the microscope image calibration slide glass 10 in which each member as described above is formed, a method of sealing and bonding the portions in the thickness direction of the outer periphery of the microscope image calibration slide glass 10 after all the members are laminated Or a method in which the first protective base material 1 and the second protective base material are provided with fitting portions in advance and fitted together, and a method in which the spacer 5 itself is bonded using an adhesive force. Can be used.
Moreover, when laminating each member, the registration is performed accurately by providing a register mark and a pin hole in each member of the first protective base material 1, the second protective base material 2, and the spacer 5. be able to.
（第２実施形態）
第２実施形態は、上記の第１実施形態の顕微鏡画像校正用スライドガラスにおいて、
校正用パターンは、複数の独立した薄板状の校正用パターンチップにより構成されてなり、スペーサーは、少なくとも校正用パターンチップが設けられた平面視領域を除いた領域にあって複数の校正用パターンチップを固定するように配置されてなるものである。
図２は、顕微鏡画像校正用スライドガラスの第２実施態様の一例を示すものである。
図２（ａ）は、顕微鏡画像校正用スライドガラス１０において校正用パターン３を２箇所に有する部分についての断面を示すものである。
図２（ｂ）は、図２（ａ）の断面図において顕微鏡画像校正用スライドガラス１０の積層構成を説明するために、第１の保護基材１、校正用パターン３、校正用パターンチップ４、スペーサー５及び第２の保護基材を分離して示したものである。
図２（ａ）に示すように、校正用パターン３は、第1の保護基材１と第２の保護基材２の間に挟持され重ならないように配置されている。
校正用パターン３は、図２（ｂ）に示すように、複数の、ここでは６つの校正用パターンチップ４から構成されている。
図２（ａ）において、スペーサー５は、第1の保護基材１と第２の保護基材２との間隙を保持するように配置されてなり、且つ、少なくとも校正用パターンチップ４が設けられた領域を除いた領域にあって複数の校正用パターンチップ４を固定するように、校正用パターンチップ４の外周を連続的又は非連続的に囲むように設けられている。
(Second Embodiment)
The second embodiment is the microscope image calibration slide glass of the first embodiment,
The calibration pattern is composed of a plurality of independent thin plate-shaped calibration pattern chips, and the spacer is at least in a region excluding a planar view region where the calibration pattern chip is provided, and a plurality of calibration pattern chips. Are arranged so as to be fixed.
FIG. 2 shows an example of the second embodiment of the slide glass for microscope image calibration.
FIG. 2A shows a cross section of a portion having the calibration pattern 3 in two places in the microscope image calibration slide glass 10.
FIG. 2B shows a first protective substrate 1, a calibration pattern 3, and a calibration pattern chip 4 in order to explain the laminated configuration of the microscope image calibration slide glass 10 in the cross-sectional view of FIG. The spacer 5 and the second protective substrate are shown separately.
As shown in FIG. 2A, the calibration pattern 3 is disposed so as not to be sandwiched and overlapped between the first protective substrate 1 and the second protective substrate 2.
As shown in FIG. 2B, the calibration pattern 3 is composed of a plurality of, here, six calibration pattern chips 4.
In FIG. 2A, the spacer 5 is arranged so as to hold a gap between the first protective substrate 1 and the second protective substrate 2, and at least a calibration pattern chip 4 is provided. The outer periphery of the calibration pattern chip 4 is provided so as to surround the outer periphery of the calibration pattern chip 4 continuously or discontinuously so that the plurality of calibration pattern chips 4 are fixed.
図３は、図２におけるスペーサー５と校正用パターンチップ４との平面視上の位置関係を示す平面図である。
頭３（ａ）は、図２に示す顕微鏡画像校正用スライドガラス１０のスペーサー５のみを示したもので、スペーサー５の校正用パターンチップ４が配置され得る部分が、スペーサー５の表裏を貫通する空洞となっている。
図３（ｂ）は、スペーサー５の空洞に校正用パターンチップ４を嵌めこんだ状態を示すものである。
スペーサー５は、校正用パターンチップ４の外周を連続的又は非連続的に囲むように設けられている。このスペーサー５によって、校正用パターンチップ４を顕微鏡画像校正用スライドガラス１０内の所定の位置に精度よく配置することができる。
FIG. 3 is a plan view showing the positional relationship between the spacer 5 and the calibration pattern chip 4 in FIG. 2 in plan view.
The head 3 (a) shows only the spacer 5 of the microscope image calibration slide glass 10 shown in FIG. 2, and a portion where the calibration pattern chip 4 of the spacer 5 can be arranged penetrates the front and back of the spacer 5. It is hollow.
FIG. 3B shows a state in which the calibration pattern chip 4 is fitted in the cavity of the spacer 5.
The spacer 5 is provided so as to surround the outer periphery of the calibration pattern chip 4 continuously or discontinuously. With this spacer 5, the calibration pattern chip 4 can be accurately arranged at a predetermined position in the microscope image calibration slide glass 10.
ここで、校正用パターン３の一例としてのカラーチャートについて説明する。
カラーチャートは、色評価用の色として、例えば、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、 青（Ｂ）、イエロー（Ｙ）、シアン（Ｃ）、マゼンタ（Ｍ）から構成されているものである。
したがって校正用パターン３であるカラーチャートは、校正用パターンチップ４として色評価用の各色を配列したものであり、校正用パターンチップ４は、色評価用の各色を校正用パターンチップ４より大きいサイズで作成したものを切断して形成されたものである。
ここで色評価用の各色を校正用パターンチップ４より大きいサイズで作成したカラーチャートとしては、例えば、図１０に示すような撮像装置用カラーチャートを基準色（大日本印刷（株）製：「スタンダードカラーバーチャート」）を用いることができる。
上記の「スタンダードカラーバーチャート」は、予め設計された赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、 青（Ｂ）、イエロー（Ｙ）、シアン（Ｃ）、マゼンタ（Ｍ）からなるものである。有効サイズは１７５ｍｍ×２４５ｍｍで６色のカラーバーにより構成されている。
上記の「スタンダードカラーバーチャート」の製造方法としては、ガラス板上に臭化カリウムを硝酸銀の溶液をゼラチンに加えて作製された銀塩乳剤を塗布し乾燥された銀塩写真乾板から脱銀されたものを基板として、その基板を各色に応じた染料により染色して形成する方法を用いることができる。
Here, a color chart as an example of the calibration pattern 3 will be described.
The color chart includes, for example, red (R), green (G), blue (B), yellow (Y), cyan (C), and magenta (M) as colors for color evaluation. .
Therefore, the color chart which is the calibration pattern 3 is obtained by arranging each color for color evaluation as the calibration pattern chip 4, and the calibration pattern chip 4 is larger in size than the calibration pattern chip 4 for each color for color evaluation. It was formed by cutting what was created in (1).
Here, as a color chart in which each color for color evaluation is created with a size larger than the calibration pattern chip 4, for example, a color chart for an imaging device as shown in FIG. 10 is used as a reference color (Dai Nippon Printing Co., Ltd .: “ Standard color bar chart ") can be used.
The “standard color bar chart” is composed of red (R), green (G), blue (B), yellow (Y), cyan (C), and magenta (M) designed in advance. The effective size is 175 mm × 245 mm, and is composed of six color bars.
The above-mentioned “standard color bar chart” is manufactured by applying a silver salt emulsion prepared by adding a solution of potassium bromide and silver nitrate to gelatin on a glass plate and desilvering it from a dried silver salt photographic plate. It is possible to use a method in which the substrate is used as a substrate and the substrate is dyed with a dye corresponding to each color.
上記の「スタンダードカラーバーチャート」を校正用パターンチップ４としてのサイズに切断して、用いる場合には、校正用パターンチップ４に色ムラや濃淡ムラがなく安定した特性を確保できる効果を有する。校正用パターンチップ４が高倍率の対物レンズに対応した微小のサイズになっても再現性評価用の基準色として純度が保たれている。耐える例えば、「スタンダードカラーバーチャート」と同様の基準色の校正用パターンチップ４を、ガラス上に印刷法、インクジェット法、フォトリソグラフィ法などにより形成することを試みた場合に比べれば、印刷インキや塗布液の調整による色の純度の低下や、形成された膜の膜厚ムラなどによる色の純度の低下の問題がない効果を有する。 When the above-mentioned “standard color bar chart” is cut into a size as the calibration pattern chip 4 and used, the calibration pattern chip 4 has an effect of ensuring stable characteristics without color unevenness and shading unevenness. Even if the calibration pattern chip 4 has a minute size corresponding to a high-magnification objective lens, the purity is maintained as a reference color for reproducibility evaluation. Withstand, for example, compared to the case where a pattern chip 4 for proofreading with the same reference color as the “standard color bar chart” is formed on a glass by a printing method, an inkjet method, a photolithography method, etc. There is an effect that there is no problem of a decrease in color purity due to the adjustment of the coating liquid, or a decrease in color purity due to film thickness unevenness of the formed film.
また、基準色としては、上記の赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、 青（Ｂ）、イエロー（Ｙ）、シアン（Ｃ）、マゼンタ（Ｍ）の６色に限定されない。
観察対象に応じた色を基準色とする方法を採用することができる。例えば、生物組織や細胞を染色して観察する場合には、生物組織を標準の染色法、例えば、ヘマトキシリン・エオシン染色法やその他の染色法により染色された赤系色、緑系色、青系色、シアン系色、マゼンタ系色、イエロー系色、他の系統色などから選択されたものを基準色とすることができる。
Further, the reference colors are not limited to the above six colors of red (R), green (G), blue (B), yellow (Y), cyan (C), and magenta (M).
It is possible to adopt a method in which a color corresponding to an observation target is used as a reference color. For example, when a biological tissue or cell is stained and observed, the biological tissue is stained by a standard staining method, for example, a hematoxylin / eosin staining method or other staining method. A color selected from a color, a cyan color, a magenta color, a yellow color, another color, and the like can be used as a reference color.
各校正用パターン３の中での校正用パターンチップ４の配列としては、図３（ｂ）のように一列に配置されている場合の外に、格子状や円形状に配置されていてもよい。
図４は、上記のカラーチャートの校正用パターンチップ４が、２×３の格子状に配置されている例を示すものである。
図４に示すように、校正用パターン３において、校正用パターンチップ４は、例えば図中の上段右から左方向にの赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、 青（Ｂ）の順に配置され、図中の下段左から右方向にシアン（Ｃ）、マゼンタ（Ｍ）、イエロー（Ｙ）が順に配置されている。また上段と下段の間に無色透光性のブランクの領域を有している。
The arrangement of the calibration pattern chips 4 in each calibration pattern 3 may be arranged in a lattice shape or a circular shape in addition to the case where they are arranged in a line as shown in FIG. .
FIG. 4 shows an example in which the calibration pattern chips 4 of the color chart are arranged in a 2 × 3 lattice pattern.
As shown in FIG. 4, in the calibration pattern 3, the calibration pattern chip 4 is arranged in the order of red (R), green (G), blue (B), for example, from the upper right to the left in the figure. Cyan (C), magenta (M), and yellow (Y) are arranged in this order from left to right in the lower row of the figure. Moreover, it has the area | region of the colorless and translucent blank between an upper stage and a lower stage.
また、本発明の校正用パターン３の一例として、グレイスケールの場合について説明する。
グレイスケールは、反射型では、白から黒までその中間の灰色の範囲を段階的に反射濃度を変化させて諧調を表現したスケールであり、透過型では、透過率を段階的に変化させて諧調を表現したスケールである。ここでは、透過型のグレイスケールを使用する。
校正用パターン３であるグレイスケールは、透過率の異なる諧調毎の校正用パターンチップ４が配列して構成されている。配列の例としては、図３（ｂ）のように一列に図中の左側から右側方向に透過率が段階的に小さくなるものの他に格子状のもの等がある。
図５は、上記グレイスケールの校正用パターンチップ４が２列に構成された例を示すものである。
図５に示すように、校正用パターン３において、校正用パターンチップ４は、例えば図中の下段右から左方向へ、透過率が１．８６％から７７．１４％まで６諧調となり、上段右から左方向へ、透過率５１．４３％から８３．５７％まで６諧調となるように配列されている。
したがって校正用パターン３であるグレイスケールは、校正用パターンチップ４として透過率が小さいものから大きいものまで各諧調のチップを配列したものであり、校正用パターンチップ４は、校正用パターンチップ４より大きいサイズで作成したものを切断して形成されたものである。
グレイスケールとしては、例えばＮＤフィルター（減光フィルター）と同様の形成方法で、クロムニッケル合金をスパッタ法により形成することができる。
上記のＮＤフィルターを校正用パターンチップ４としてのサイズに切断して、用いる場合には、校正用パターンチップ４に濃淡ムラがなく安定した特性を確保できる効果を有する。校正用パターンチップ４が高倍率の対物レンズに対応した微小のサイズになっても再現性評価用の基準色として純度が保たれている。例えば、グレイスケールを上記のようにして得た校正用パターンチップ４を、ガラス上に直接、印刷法、インクジェット法、フォトリソグラフィ法などにより校正用パターンチップ４のサイズで形成することを試みた場合に比べれば、印刷インキや塗布液の配合や、形成された膜の膜厚ムラなどによる諧調性の低下の問題がない効果を有する。
As an example of the calibration pattern 3 of the present invention, a case of gray scale will be described.
The gray scale is a scale that expresses the gradation by changing the reflection density stepwise in the middle gray range from white to black in the reflection type, and the gradation that changes the transmittance stepwise in the transmission type. Is a scale that expresses Here, a transmissive gray scale is used.
The gray scale which is the calibration pattern 3 is configured by arranging calibration pattern chips 4 for each gradation having different transmittances. As an example of the arrangement, there is a lattice-like one in addition to the transmittance decreasing stepwise from the left side to the right side in the drawing as shown in FIG. 3B.
FIG. 5 shows an example in which the grayscale calibration pattern chips 4 are arranged in two rows.
As shown in FIG. 5, in the calibration pattern 3, the calibration pattern chip 4 has a transmittance of 6 gradations from 1.86% to 77.14%, for example, from the lower right to the left in the figure, and the upper right From left to right, the transmittance is arranged so as to be 6 tone from 51.43% to 83.57%.
Therefore, the gray scale which is the calibration pattern 3 is a calibration pattern chip 4 in which tones having different gradations are arranged from a low transmittance to a large one. The calibration pattern chip 4 is more than the calibration pattern chip 4. It is formed by cutting a large size.
As the gray scale, for example, a chromium nickel alloy can be formed by a sputtering method by the same formation method as that of an ND filter (a neutral density filter).
When the ND filter is cut into a size as the calibration pattern chip 4 and used, the calibration pattern chip 4 has an effect of ensuring stable characteristics without unevenness in density. Even if the calibration pattern chip 4 has a minute size corresponding to a high-magnification objective lens, the purity is maintained as a reference color for reproducibility evaluation. For example, when trying to form the calibration pattern chip 4 having the gray scale obtained as described above on the glass directly with the size of the calibration pattern chip 4 by a printing method, an ink jet method, a photolithography method, or the like. In comparison with the above, there is an effect that there is no problem of deterioration of gradation due to blending of printing ink and coating liquid, film thickness unevenness of the formed film, and the like.
以上のように顕微鏡画像校正用スライドガラス１０が構成されていることによって、校正用パターン３が、顕微鏡画像校正用スライドガラス１０の平面視上の特定の位置に精度良く、倍率の異なる対物レンズの視野に収まるサイズの複数の校正用パターンが配置されることにより、顕微鏡、及び撮像装置付き顕微鏡の色再現性の評価が、高精度で作業性良く行える効果を有する。
また、校正用パターン３がカラーチャートである場合、校正用パターチップ４としては、各色毎に校正用パターンチップ４のサイズより大きいサイズで作成されたものを切断して使用されるので、校正用パターンチップ４に色ムラや濃淡ムラがなく安定した特性を確保できる効果を有する。比較として顕微鏡画像校正用スライドガラス１０上に、印刷法やインクジェット法、フォトリソグラフィ法などで、校正用パターンチップ４を作成する場合に生じ易い微小サイズでの色や濃度のムラの問題などがない効果を有する。
Since the microscope image calibration slide glass 10 is configured as described above, the calibration pattern 3 is accurately placed at a specific position in plan view of the microscope image calibration slide glass 10 with objective lenses having different magnifications. By arranging a plurality of calibration patterns that fit within the field of view, the color reproducibility of the microscope and the microscope with the imaging device can be evaluated with high accuracy and good workability.
Further, when the calibration pattern 3 is a color chart, the calibration pattern chip 4 is cut and used for each color having a size larger than the size of the calibration pattern chip 4. The pattern chip 4 has the effect of ensuring stable characteristics without color unevenness and shading unevenness. As a comparison, there is no problem of unevenness in color or density in a minute size that is likely to occur when the calibration pattern chip 4 is formed on the microscope image calibration slide glass 10 by a printing method, an inkjet method, a photolithography method, or the like. Has an effect.
（第３実施形態）
第３実施形態は、上記の第１〜第２実施形態における顕微鏡画像校正用スライドガラスにおいて、第1の保護基材および第２の保護基材は、平面視上対応する同一位置にパターン状の前記透光部を有し、透光部は、第1の保護基材と第２の保護基材の間に挟み込まれた校正用パターンの観察領域に対応するように設けられてなり、第1の保護基材および第２の保護基材において透光部を除く部分に遮光部が設けられてなるものである。
図６は、顕微鏡画像校正用スライドガラスの第３実施形態の一例を示す断面図と部分図である。
図６（ａ）は、顕微鏡画像校正用スライドガラス１０において校正用パターン３を２箇所に有する部分についての断面を示すものである。
図６（ｂ）は、図６（ａ）の断面図において顕微鏡画像校正用スライドガラス１０の積層構成を説明するために、透光部６と遮光部７を有する第１の保護基材１、校正用パターン３、校正用パターンチップ４、スペーサー５及び透光部６と遮光部７を有する第２の保護基材を分離して示すものである。
図６（ｃ）は、透光部６と遮光部７を有する第２の保護基材と校正用パターチップ４との構成上の関係を示す部分図である。
(Third embodiment)
In the third embodiment, in the slide glass for microscope image calibration in the first to second embodiments described above, the first protective base material and the second protective base material are patterned in the same positions corresponding in plan view. The translucent part has the translucent part, and the translucent part is provided so as to correspond to the observation region of the calibration pattern sandwiched between the first protective base material and the second protective base material. In the protective base material and the second protective base material, a light shielding portion is provided in a portion excluding the light transmitting portion.
FIG. 6 is a cross-sectional view and a partial view showing an example of the third embodiment of the slide glass for microscope image calibration.
FIG. 6A shows a cross section of a portion having the calibration pattern 3 in two places in the microscope image calibration slide glass 10.
FIG. 6B shows a first protective base material 1 having a light-transmitting part 6 and a light-shielding part 7 in order to explain the laminated structure of the microscope image calibration slide glass 10 in the cross-sectional view of FIG. The calibration pattern 3, the calibration pattern chip 4, the spacer 5, and the second protective substrate having the light transmitting portion 6 and the light shielding portion 7 are shown separately.
FIG. 6C is a partial view showing a structural relationship between the second protective base material having the translucent part 6 and the light shielding part 7 and the calibration putter chip 4.
図６（ａ）に示すように、校正用パターン３は、第1の保護基材１と第２の保護基材２の間に挟持され重ならないように配置されている。
校正用パターン３は、図６（ｂ）に示すように、複数の、ここでは６つの校正用パターンチップ４から構成されている。
図６（ａ）において、スペーサー５は、第1の保護基材１と第２の保護基材２との間隙を保持するように配置されてなり、且つ、少なくとも校正用パターンチップ４が設けられた領域を除いた領域にあって複数の校正用パターンチップ４を固定するように、校正用パターンチップ４の外周を連続的又は非連続的に囲むように設けられている。
図６（ａ）に示すように、顕微鏡画像校正用スライドガラス１０において、第1の保護基材１および第２の保護基材２の両方が、平面視上対応する同一位置にパターン状の透光部６と遮光部７（以下「遮光パターン」と称する。）とを有している。
図６（ａ）において、透光部６は、第1の保護基材１と第２の保護基材２の間に挟み込まれた校正用パターン３又は校正用パターンチップ４の観察領域に対応するように設けられており、顕微鏡画像校正用スライドガラス１０を顕微鏡に設置した際に、校正用パターン３又は校正用パターンチップ４を顕微鏡に設けられた光源からの光が透過するように設けられている。
遮光部７は、第1の保護基材１および前記第２の保護基材２において透光部６を除く部分に設けられている。
図６（ｃ）は、図６（ａ）において遮光パターンを有する第２の保護基材２と校正用パターンチップ４の積層された状態を、校正用パターンチップ４側から見た図である。
図６（ｃ）に示すように、図６（ａ）に示す第２の保護基材２に形成された遮光パターンと校正用パターンチップ４との関係の一例を示している。
図６（ｃ）に示すように校正用パターンチップ４と対応する遮光パターンの透光部６との関係において、校正用パターンチップ４は対応する透光部６よりサイズが大きく、校正用パターンチップ４は対応する透光部６を全て覆いさらに外周部を超えることが好ましい。
以上の実施形態は、第２実施形態において第１の保護基材及び第２の保護基材に遮光パターンを有する場合について記載したが、第１実施形態においても同様に行うことが可能である。その場合には、校正用パターン３を一体として取扱い、校正用パターン３と対応する遮光パターンの透光部６との関係において、校正用パターン３は対応する透光部６よりサイズが大きく、校正用パターン３は対応する透光部６を全て覆いさらに外周部を超えることが好ましい。
As shown in FIG. 6A, the calibration pattern 3 is disposed so as not to be sandwiched and overlapped between the first protective substrate 1 and the second protective substrate 2.
As shown in FIG. 6B, the calibration pattern 3 is composed of a plurality of, here six, calibration pattern chips 4.
In FIG. 6A, the spacer 5 is arranged so as to hold the gap between the first protective substrate 1 and the second protective substrate 2, and at least the calibration pattern chip 4 is provided. The outer periphery of the calibration pattern chip 4 is provided so as to surround the outer periphery of the calibration pattern chip 4 continuously or discontinuously so that the plurality of calibration pattern chips 4 are fixed.
As shown in FIG. 6A, in the microscope image calibration slide glass 10, both the first protective base material 1 and the second protective base material 2 are patterned in the same position corresponding in plan view. It has a light portion 6 and a light shielding portion 7 (hereinafter referred to as “light shielding pattern”).
In FIG. 6A, the light transmitting portion 6 corresponds to the observation region of the calibration pattern 3 or the calibration pattern chip 4 sandwiched between the first protective base material 1 and the second protective base material 2. When the microscope image calibration slide glass 10 is set in a microscope, the calibration pattern 3 or the calibration pattern chip 4 is provided so that light from a light source provided in the microscope can be transmitted. Yes.
The light shielding portion 7 is provided in a portion of the first protective base 1 and the second protective base 2 excluding the light transmitting portion 6.
FIG. 6C is a view of the stacked state of the second protective substrate 2 having the light shielding pattern and the calibration pattern chip 4 in FIG. 6A as viewed from the calibration pattern chip 4 side.
As shown in FIG. 6C, an example of the relationship between the light shielding pattern formed on the second protective substrate 2 shown in FIG. 6A and the calibration pattern chip 4 is shown.
As shown in FIG. 6C, in the relationship between the calibration pattern chip 4 and the corresponding light-transmitting portion 6 of the light shielding pattern, the calibration pattern chip 4 is larger in size than the corresponding light-transmitting portion 6, and the calibration pattern chip. It is preferable that 4 covers all the corresponding translucent parts 6 and exceeds an outer peripheral part.
Although the above embodiment described the case where the first protective base material and the second protective base material have the light shielding pattern in the second embodiment, it can be similarly performed in the first embodiment. In that case, the calibration pattern 3 is handled as a single unit, and the calibration pattern 3 is larger in size than the corresponding translucent part 6 in the relationship between the calibration pattern 3 and the corresponding light-shielding pattern translucent part 6, so It is preferable that the pattern 3 covers all the corresponding translucent parts 6, and exceeds an outer peripheral part.
本発明の遮光パターンを有する第１の保護基材１及び第２の保護基材２は、銀塩写真法、印刷法、フォトリソ法などによって形成することができる。
銀塩写真法によれば、透明基材上の銀塩乳剤層面をレーザー描画法やフォトマスクを介した方法により露光し現像することによって、パターン状の透光部６と遮光部７とを有する第１の保護基材１および第の保護基材２を作成することができる。
また、印刷法によれば、透明基材上に黒色インキでグラビア印刷により黒色パターンを印刷することによって、パターン状の透光部６と遮光部７とを有している第１の保護基材１および第の保護基材２を作成することができる。
また、インクジェット法によれば、透明基材上に黒色インキでインクを吐出することによって、パターン状の透光部６と遮光部７とを有している第１の保護基材１および第の保護基材２を作成することができる。
The first protective substrate 1 and the second protective substrate 2 having the light shielding pattern of the present invention can be formed by a silver salt photographic method, a printing method, a photolithography method, or the like.
According to the silver salt photography method, the surface of the silver salt emulsion layer on the transparent substrate is exposed and developed by a laser drawing method or a method through a photomask, thereby having a pattern-like light transmitting portion 6 and a light shielding portion 7. The 1st protective base material 1 and the 1st protective base material 2 can be created.
Moreover, according to the printing method, the 1st protection base material which has the pattern-shaped translucent part 6 and the light-shielding part 7 by printing a black pattern by gravure printing with black ink on a transparent base material 1 and the 2nd protective base material 2 can be created.
In addition, according to the ink jet method, the first protective base material 1 and the first protective base material 1 having the pattern-like light-transmitting portion 6 and the light-shielding portion 7 are ejected with black ink onto the transparent base material. The protective base material 2 can be created.
以上のように顕微鏡画像校正用スライドガラス１０が構成されていることによって、校正用パターン３又は校正用パターンチップ４が、顕微鏡画像校正用スライドガラス１０の平面視上の特定の位置に精度良く配置されていること、第1の保護基材１および第２の保護基材２は、平面視上対応する同一位置にパターン状の透光部６と遮光部７とを有し、透光部６は、顕微鏡画像校正用スライドガラス１０を前記顕微鏡に設置した際に、前記校正用パターン３又は校正用パターンチップ４を光が透過するように設けられていることにより、校正用パターン３又は校正用パターンチップ４の部分以外の顕微鏡の光が眼や撮像装置に間接的に眼や撮像装置に入り難くなるので、顕微鏡、及び撮像装置付き顕微鏡の色再現性の評価を高精度で作業効率良く行える効果を有する。 Since the microscope image calibration slide glass 10 is configured as described above, the calibration pattern 3 or the calibration pattern chip 4 is accurately arranged at a specific position in plan view of the microscope image calibration slide glass 10. The first protective base material 1 and the second protective base material 2 have a pattern-like light-transmitting part 6 and a light-shielding part 7 at the same position corresponding to each other in plan view. Is provided so that light can pass through the calibration pattern 3 or the calibration pattern chip 4 when the microscope image calibration slide glass 10 is installed in the microscope. Since the light from the microscope other than the pattern chip 4 is difficult to enter the eye or the imaging device indirectly to the eye or the imaging device, the color reproducibility of the microscope and the microscope with the imaging device is evaluated with high accuracy and good work efficiency It has an effect that can be performed.
（第４実施形態）
第４実施形態は、上記の第１〜第３実施形態の顕微鏡画像校正用スライドガラスにおいて、接着層８が、第1の保護基材１とスペーサー５との間、及び第２の保護基材とスペーサー５との間の少なくとも一方に設けられているものである。
図７は、顕微鏡画像校正用スライドガラスの第４実施形態の一例を示す断面図である。
図７（ａ）は断面図であり、図７（ｂ）は、積層構成を判り易くするために、第１の保護基材１、校正用パターン３、スペーサー５、接着層８及び第２の保護基材２を分離して示したものである。
図７（ａ）及び（ｂ）に示すように、顕微鏡画像校正用スライドガラス１０において、接着層８が、第1の保護基材１とスペーサー５との間、及び第２の保護基材２とスペーサー５との間の両方に設けられている。
(Fourth embodiment)
In the fourth embodiment, in the slide glass for microscope image calibration according to the first to third embodiments, the adhesive layer 8 is provided between the first protective base material 1 and the spacer 5 and the second protective base material. And at least one between the spacer 5 and the spacer 5.
FIG. 7 is a cross-sectional view showing an example of the fourth embodiment of the slide glass for microscope image calibration.
FIG. 7A is a cross-sectional view, and FIG. 7B shows the first protective substrate 1, the calibration pattern 3, the spacer 5, the adhesive layer 8, and the second layer for easy understanding of the laminated structure. The protective substrate 2 is shown separately.
As shown in FIGS. 7A and 7B, in the microscope image calibration slide glass 10, the adhesive layer 8 is provided between the first protective substrate 1 and the spacer 5 and the second protective substrate 2. And the spacer 5.
接着層８は、第1の保護基材１とスペーサー５との間、及び第２の保護基材２とスペーサー５との間のいずれか一方又は両方にあって、各部材間を接着するものである。
接着層８は、接着された状態の顕微鏡画像校正用スライドガラス１０に外観上の歪みがなく、顕微鏡台に載置されて観察される際に全体に焦点のズレがないように形成されている。
接着層８の材料としては、接着剤や粘着剤を、液状またはテープ状にしたものを用いることができる。なかでもテープ状のものが好ましく、校正用パターン３に接着剤が浸透する等により汚染することがない利点がある。
The adhesive layer 8 is located between one or both of the first protective base material 1 and the spacer 5 and between the second protective base material 2 and the spacer 5, and adheres between the members. It is.
The adhesive layer 8 is formed so that there is no distortion on the appearance of the microscope image calibration slide glass 10 in an adhered state, and there is no focus shift when it is placed on the microscope stage and observed. .
As a material for the adhesive layer 8, a liquid or tape-like adhesive or pressure-sensitive adhesive can be used. Of these, tape-shaped ones are preferable, and there is an advantage that the adhesive is not contaminated by the penetration of the adhesive into the calibration pattern 3.
以上のように顕微鏡画像校正用スライドガラス１０が構成されていることによって、校正用パターン３が、顕微鏡画像校正用スライドガラス１０の平面視上の特定の位置に精度良く配置されていること、接着層８を有する部分が、第1の保護基材１とスペーサー５との間、及び第２の保護基材２とスペーサー５との間のいずれか一方又は両方にあることにより、各部材間の固定を安定して行え、スペーサー５への校正用パターン３の嵌め込み等の高精度の加工がなくても容易に固定できる効果を有する。 Since the microscope image calibration slide glass 10 is configured as described above, the calibration pattern 3 is accurately placed at a specific position in plan view of the microscope image calibration slide glass 10 and bonded. By having the part which has the layer 8 between the 1st protective base material 1 and the spacer 5, and any one or both between the 2nd protective base material 2 and the spacer 5, between each member Fixing can be performed stably, and there is an effect that the fixing can be easily performed without high-precision processing such as fitting of the calibration pattern 3 into the spacer 5.
（第５実施形態）
第５実施形態は、上記の第４実施形態の顕微鏡画像校正用スライドガラスにおいて、接着層が、第１の保護基材と校正用パターンの一部分との間および第２の保護基材と校正用パターンの一部分との間の少なくとも一方にも設けられているものである。
図８は、顕微鏡画像校正用スライドガラスの第５実施形態の一例を示す断面図である。
図８（ａ）は断面図であり、図８（ｂ）は、積層構成を判り易くするために、第１の保護基材１、校正用パターン３、スペーサー５、接着層８及び第２の保護基材２を分離して示したものである。
図８（ａ）及び（ｂ）に示すように、顕微鏡画像校正用スライドガラス１０において、接着層８を有する部分が、第１の保護基材１と校正用パターン３の一部分との間、及び第２の保護基材２と校正用パターン３の一部分との間の両方にある。
接着層８は、校正用パターン３の一部分にも重なるように形成されており、校正用パターン３とスペーサー５との間に平面視上間隙がある場合でも各部材間を固定することができるものである。
接着層８の校正用パターン３の一部分に重なる部分は、顕微鏡観察の際に影響のない領域に設けられており、第1の保護基材１および第２の保護基材２の遮光部７に対応する領域に覆われて設けられていることが好ましい。
接着層８は、接着された顕微鏡画像校正用スライドガラス１０の外観上の歪みがないように厚みを調整して設けられていることが好ましい。
(Fifth embodiment)
In the fifth embodiment, in the slide glass for microscope image calibration according to the fourth embodiment, the adhesive layer is provided between the first protective substrate and a part of the calibration pattern, and between the second protective substrate and the calibration glass. It is also provided on at least one of the parts between the patterns.
FIG. 8 is a sectional view showing an example of the fifth embodiment of the slide glass for microscope image calibration.
FIG. 8A is a cross-sectional view, and FIG. 8B shows the first protective substrate 1, the calibration pattern 3, the spacer 5, the adhesive layer 8, and the second layer for easy understanding of the laminated structure. The protective substrate 2 is shown separately.
As shown in FIGS. 8A and 8B, in the slide glass 10 for microscope image calibration, the portion having the adhesive layer 8 is between the first protective substrate 1 and a part of the calibration pattern 3, and It is both between the second protective substrate 2 and a part of the calibration pattern 3.
The adhesive layer 8 is formed so as to overlap with a part of the calibration pattern 3 and can fix each member even when there is a gap in plan view between the calibration pattern 3 and the spacer 5. It is.
A portion of the adhesive layer 8 that overlaps a part of the calibration pattern 3 is provided in a region that does not affect the microscopic observation, and the light shielding portion 7 of the first protective base material 1 and the second protective base material 2 is provided. It is preferable to be provided so as to be covered with a corresponding region.
The adhesive layer 8 is preferably provided with a thickness adjusted so that there is no distortion in the appearance of the adhered slide glass 10 for microscope image calibration.
（第６実施形態）
第６実施形態は、上記の第４〜第５実施形態の顕微鏡画像校正用スライドガラスにおいて、接着層が、第１の保護基材と校正用パターンとの間および第２の保護基材と校正用パターンとの間の少なくとも一方にも設けられているものである。
図９は、顕微鏡画像校正用スライドガラスの第６実施形態の一例を示す断面図である。
図９（ａ）は断面図であり、図９（ｂ）は、積層構成を判り易くするために、第１の保護基材１、校正用パターン３、スペーサー５、接着層８及び第２の保護基材２を分離して示したものである。
図９（ａ）及び（ｂ）に示すように、顕微鏡画像校正用スライドガラス１０において、接着層８が、第１の保護基材１と校正用パターン３との間、第１の保護基材とスペーサー５との間、第２の保護基材２と校正用パターン３との間、第２の保護基材とスペーサー５との間に設けられている。
接着層８は校正用パターン３上に形成されているので、顕微鏡観察の際には接着剤を通して測定される。したがって、接着剤８は、測定に影響のない材料からなり、光透過性に優れ、フィラー等が含まれないものが好ましい。
以上のような接着層８の構成によれば、顕微鏡画像校正用スライドガラス１０の製造方法として、接着層８を第1の保護基材１の全面に形成しておき、その接着層側にスペーサー５を積層して、校正用パターン３を上記スペーサー５の所定位置に配置した後に、接着層が形成された第２の保護基材を積層する方法を用いることができる。
(Sixth embodiment)
In the sixth embodiment, in the slide glass for microscope image calibration according to the above fourth to fifth embodiments, the adhesive layer is between the first protective base material and the calibration pattern, and the second protective base material and the calibration glass. It is also provided in at least one of the patterns.
FIG. 9 is a sectional view showing an example of the sixth embodiment of the slide glass for microscope image calibration.
FIG. 9A is a cross-sectional view, and FIG. 9B shows the first protective substrate 1, the calibration pattern 3, the spacer 5, the adhesive layer 8, and the second layer for easy understanding of the laminated structure. The protective substrate 2 is shown separately.
As shown in FIGS. 9A and 9B, in the slide glass 10 for microscope image calibration, the adhesive layer 8 is between the first protective substrate 1 and the calibration pattern 3, and the first protective substrate. And the spacer 5, between the second protective substrate 2 and the calibration pattern 3, and between the second protective substrate and the spacer 5.
Since the adhesive layer 8 is formed on the calibration pattern 3, the adhesive layer 8 is measured through an adhesive during microscopic observation. Therefore, the adhesive 8 is preferably made of a material that does not affect the measurement, is excellent in light transmittance, and does not contain a filler or the like.
According to the configuration of the adhesive layer 8 as described above, as a method of manufacturing the slide glass 10 for proofreading a microscope image, the adhesive layer 8 is formed on the entire surface of the first protective substrate 1, and a spacer is provided on the adhesive layer side. 5 is laminated, and after the calibration pattern 3 is arranged at a predetermined position of the spacer 5, a method of laminating a second protective substrate on which an adhesive layer is formed can be used.
以上のように顕微鏡画像校正用スライドガラス１０が構成されていることによって、校正用パターン３が、顕微鏡画像校正用スライドガラス１０の平面視上の特定の位置に精度良く配置されていること、接着層８を有する部分が、第1の保護基材１とスペーサー５との間、及び第２の保護基材２とスペーサー５との間のいずれか一方又は両方にあり、第１の保護基材１と校正用パターン３の一部分との間、及び第２の保護基材２と校正用パターン３の一部分との間のいずれか一方又は両方にあることによって、スペーサー５への校正用パターン３の嵌め込み等の高精度の加工がなくても容易に固定できる効果を有する。 Since the microscope image calibration slide glass 10 is configured as described above, the calibration pattern 3 is accurately placed at a specific position in plan view of the microscope image calibration slide glass 10 and bonded. The portion having the layer 8 is located between one or both of the first protective base material 1 and the spacer 5 and between the second protective base material 2 and the spacer 5, and the first protective base material 1 and a part of the calibration pattern 3 and / or between the second protective substrate 2 and a part of the calibration pattern 3, the calibration pattern 3 on the spacer 5 It has the effect that it can be easily fixed without high precision processing such as fitting.
１ 第１の保護基材
２ 第２の保護基材
３ 校正用パターン
４ 校正用パターンチップ
５ スペーサー
６ 透光部
７ 遮光部
８ 接着層
１０ 顕微鏡画像校正用スライドガラス
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 1st protection base material 2 2nd protection base material 3 Pattern for calibration 4 Pattern chip for calibration 5 Spacer 6 Light transmission part 7 Light-shielding part 8 Adhesion layer 10 Slide glass for microscope image calibration
Claims (8)
前記第1の保護基材および前記第２の保護基材は、薄板状であり、
前記校正用パターンの各々は、前記顕微鏡の倍率の異なる対物レンズに対応して設けられ、前記顕微鏡の前記対物レンズ毎の視野内に収め得るサイズの薄板状のものであり、前記第1の保護基材と前記第２の保護基材との間に挟持され重ならないように配置されてなり、
前記スペーサーは、前記第1の保護基材と前記第２の保護基材との間にあって、前記第1の保護基材と前記第２の保護基材との間隙を保持するように配置されてなり、且つ、複数の前記校正用パターンを固定するように配置されてなり、
前記校正用パターンは、複数の独立した薄板状の校正用パターンチップにより構成されてなり、
前記校正用パターンチップは、前記校正用パターンチップよりも大きいサイズで作成されたものの一部を用いたものである
ことを特徴とする顕微鏡画像校正用スライドガラス。 At least a first protective base material having a light-transmitting part, a plurality of calibration patterns that can be observed by light transmitted through a microscope, a spacer, and a second protective base material having a light-transmitting part. A slide glass for microscope image calibration,
The first protective substrate and the second protective substrate are in the form of a thin plate,
Each of the calibration patterns is provided corresponding to an objective lens having a different magnification of the microscope, and is a thin plate having a size that can be accommodated in a field of view for each objective lens of the microscope, and the first protection It is arranged so as not to be sandwiched and overlapped between the base material and the second protective base material,
The spacer is disposed between the first protective base material and the second protective base material so as to maintain a gap between the first protective base material and the second protective base material. And a plurality of calibration patterns are arranged to be fixed,
The calibration pattern is composed of a plurality of independent thin plate-shaped calibration pattern chips,
The calibration pattern chip microscopic image calibration slide, characterized in that is obtained using a portion of what was created with a size larger than the calibration pattern chip.
前記第1の保護基材および前記第２の保護基材は、薄板状であり、
前記校正用パターンの各々は、前記顕微鏡の倍率の異なる対物レンズに対応して設けられ、前記顕微鏡の前記対物レンズ毎の視野内に収め得るサイズの薄板状のものであり、前記第1の保護基材と前記第２の保護基材との間に挟持され重ならないように配置されてなり、
前記スペーサーは、前記第1の保護基材と前記第２の保護基材との間にあって、前記第1の保護基材と前記第２の保護基材との間隙を保持するように配置されてなり、且つ、複数の前記校正用パターンを固定するように配置されてなり、
前記第1の保護基材および前記第２の保護基材は、平面視上対応する同一位置にパターン状の前記透光部を有し、
前記透光部は、前記第1の保護基材と前記第２の保護基材との間に挟み込まれた前記校正用パターンの観察領域に対応するように設けられてなり、前記第1の保護基材および前記第２の保護基材において前記透光部を除く部分に遮光部が設けられてなる
ことを特徴とする顕微鏡画像校正用スライドガラス。 At least a first protective base material having a light-transmitting part, a plurality of calibration patterns that can be observed by light transmitted through a microscope, a spacer, and a second protective base material having a light-transmitting part. A slide glass for microscope image calibration,
The first protective substrate and the second protective substrate are in the form of a thin plate,
Each of the calibration patterns is provided corresponding to an objective lens having a different magnification of the microscope, and is a thin plate having a size that can be accommodated in a field of view for each objective lens of the microscope, and the first protection It is arranged so as not to be sandwiched and overlapped between the base material and the second protective base material,
The spacer is disposed between the first protective base material and the second protective base material so as to maintain a gap between the first protective base material and the second protective base material. And a plurality of calibration patterns are arranged to be fixed,
The first protective base and the second protective base have the light-transmitting portions in a pattern at the same positions corresponding in plan view,
The translucent part is provided so as to correspond to an observation region of the calibration pattern sandwiched between the first protective base and the second protective base, and the first protection A slide glass for proofreading a microscope image, characterized in that a light shielding portion is provided in a portion excluding the light transmitting portion in the base material and the second protective base material.
前記校正用パターンは、複数の独立した薄板状の校正用パターンチップにより構成されている
ことを特徴とする顕微鏡画像校正用スライドガラス。 In the slide glass for microscope image calibration according to claim 2,
2. The microscope image calibration slide glass according to claim 1, wherein the calibration pattern includes a plurality of independent thin plate-shaped calibration pattern chips.
前記校正用パターンチップは、対応する前記透光部を覆うことが可能な大きさを有する
ことを特徴とする顕微鏡画像校正用スライドガラス。 In the slide glass for microscope image calibration according to claim 3,
The slide glass for microscopic image calibration, wherein the calibration pattern chip has a size capable of covering the corresponding translucent part.
接着層が、前記第1の保護基材と前記スペーサーとの間および前記第２の保護基材と前記スペーサーとの間の少なくとも一方に設けられてなる
ことを特徴とする顕微鏡画像校正用スライドガラス。 In the slide glass for microscope image calibration according to any one of claims 1 to 4,
An adhesive layer is provided between at least one of the first protective base material and the spacer and between the second protective base material and the spacer. .
前記接着層が、前記第１の保護基材と前記校正用パターンの少なくとも一部分との間および前記第２の保護基材と前記校正用パターンの少なくとも一部分との間の少なくとも一方にも設けられてなる
ことを特徴とする顕微鏡画像校正用スライドガラス。 In the slide glass for microscope image calibration according to claim 5,
The adhesive layer is also provided on at least one of the first protective substrate and at least a portion of the calibration pattern and between the second protective substrate and at least a portion of the calibration pattern. A slide glass for microscopic image calibration characterized by
前記校正用パターンが、カラーチャートを含む
ことを特徴とする顕微鏡画像校正用スライドガラス。 In the slide glass for microscope image calibration according to any one of claims 1 to 6,
The slide pattern for microscope image calibration, wherein the calibration pattern includes a color chart.
前記校正用パターンが、グレイスケールを含む
ことを特徴とする顕微鏡画像校正用スライドガラス。 In the slide glass for microscope image calibration according to any one of claims 1 to 7,
The slide glass for microscopic image calibration, wherein the calibration pattern includes a gray scale.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2013243577A JP6187190B2 (en) | 2013-11-26 | 2013-11-26 | Microscope image calibration slide glass |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2013243577A JP6187190B2 (en) | 2013-11-26 | 2013-11-26 | Microscope image calibration slide glass |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2017150717A Division JP6583361B2 (en) | 2017-08-03 | 2017-08-03 | Microscope image calibration slide glass |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2015102708A JP2015102708A (en) | 2015-06-04 |
| JP6187190B2 true JP6187190B2 (en) | 2017-08-30 |
Family
ID=53378438
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2013243577A Active JP6187190B2 (en) | 2013-11-26 | 2013-11-26 | Microscope image calibration slide glass |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP6187190B2 (en) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2017109175A1 (en) * | 2015-12-23 | 2017-06-29 | Koninklijke Philips N.V. | Calibration slide for digital pathology |
| WO2017109057A1 (en) * | 2015-12-23 | 2017-06-29 | Koninklijke Philips N.V. | Fluorescence calibration slide |
| EP3739311A1 (en) * | 2016-03-31 | 2020-11-18 | Dai Nippon Printing Co., Ltd. | Transmission-type color calibration chart and calibration slide glass |
| JP6852485B2 (en) * | 2016-03-31 | 2021-03-31 | 大日本印刷株式会社 | Calibration slide glass |
| JP6390737B2 (en) * | 2016-03-31 | 2018-09-19 | 大日本印刷株式会社 | Transparent color calibration chart |
| JP2018120184A (en) * | 2017-01-27 | 2018-08-02 | 凸版印刷株式会社 | Color sample plate for image calibration and manufacturing method therefor |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5954805U (en) * | 1981-12-28 | 1984-04-10 | 武田薬品工業株式会社 | Marker plate for particle measurement using a microscope |
| EP1500963B1 (en) * | 2002-10-18 | 2008-05-21 | Hamamatsu Photonics K. K. | Slide glass, cover glass, and pathologic diagnosis system |
-
2013
- 2013-11-26 JP JP2013243577A patent/JP6187190B2/en active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2015102708A (en) | 2015-06-04 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP6187190B2 (en) | Microscope image calibration slide glass | |
| US11371886B2 (en) | Transmission type color calibration chart and calibration slide glass | |
| CN102004296B (en) | Optical element module and manufacturing method thereof, electronic element module and manufacturing method thereof, and electronic information device | |
| TWI444943B (en) | Color display apparatus | |
| JP6312241B2 (en) | Transparent substrate | |
| JP6583361B2 (en) | Microscope image calibration slide glass | |
| JP7120363B2 (en) | Calibration slide glass | |
| JP6769534B2 (en) | Slide glass for microscope image calibration | |
| JP7088250B2 (en) | Microscope image calibration slide glass | |
| JP2013092650A (en) | Lens sheet, printing method, and printed matter | |
| JP5021998B2 (en) | Viewfinder device | |
| CN210428036U (en) | Color electronic ink display screen structure | |
| US12130182B2 (en) | Transmission type color gradation chart, transmission type color gradation chart device and gray gradation chart | |
| JP4984371B2 (en) | Manufacturing method for multi-sided color filter substrate | |
| US20220390283A1 (en) | Transmission type color gradation chart, transmission type color gradation chart device and gray gradation chart | |
| JP6907750B2 (en) | Transparent print | |
| CN110568691A (en) | Color electronic ink display screen structure and manufacturing method thereof | |
| JP2006074556A (en) | Inspection sheet of imaging apparatus and inspection method of imaging apparatus | |
| JP2006071401A (en) | Spectral transmittance measuring method and spectral transmittance measuring device |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20160602 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20170315 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20170329 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170524 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20170524 |
|
| RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20170524 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20170613 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170619 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20170704 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20170717 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6187190 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |