JP6179159B2 - Appearance inspection system - Google Patents

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Description

本発明は、カメラにより対象を撮影した画像に基づいて、対象の外観検査を行うシステムに関する。   The present invention relates to a system for inspecting the appearance of an object based on an image obtained by photographing the object with a camera.

従来、この種のシステムとして、検査対象となるワークをCCDカメラで撮影し、検査対象部分の輝度データを標準データと比較して外観の良否を判定するものがある(特許文献1参照)。   Conventionally, as this type of system, there is a system in which a workpiece to be inspected is photographed with a CCD camera, and the luminance data of the portion to be inspected is compared with standard data to determine the quality of the appearance (see Patent Document 1).

実開平7−23274号公報Japanese Utility Model Publication No. 7-23274

ところで、照明装置によりワークに光を当ててカメラで撮影する場合に、ワークからの反射光が強くなり過ぎることがある。その場合、特に反射光の強い部分では、外観を正確に検査することができなくなる。このため、作業者は、ワークからの反射光が適切となる撮影位置を探しながら、ワークの撮影を何度も繰り返し行っている。したがって、撮影位置の調整等に手間がかかり、検査の効率が低下することとなる。   By the way, when light is applied to a work by a lighting device and shooting is performed with a camera, reflected light from the work may become too strong. In that case, the appearance cannot be accurately inspected particularly in a portion where the reflected light is strong. For this reason, the worker repeatedly shoots the workpiece many times while searching for a shooting position where the reflected light from the workpiece is appropriate. Therefore, it takes time and effort to adjust the photographing position, and the inspection efficiency is reduced.

本発明は、こうした課題を解決するためになされたものであり、その主たる目的は、検査の効率を向上させることのできる外観検査システムを提供することにある。   The present invention has been made to solve these problems, and a main object of the present invention is to provide an appearance inspection system capable of improving the efficiency of inspection.

本発明は、上記課題を解決するために、以下の手段を採用した。   The present invention employs the following means in order to solve the above problems.

第1の手段は、対象に光を当てる照明装置と、前記対象を撮影するカメラと、前記カメラにより撮影される前記対象の画像に基づいて前記対象の外観の良否を判定する判定部と、を備える外観検査システムであって、前記照明装置は、光源と、前記光源からの光を透過させる方向及び量を調節する調節部と、を備え、前記判定部は、前記カメラにより撮影される前記対象の画像に基づいて、前記対象のうち反射光の強度が所定値よりも強い特定部分へ向かう光の量を減少させるように、前記調節部を制御することを特徴とする。   The first means includes an illumination device that shines light on a target, a camera that captures the target, and a determination unit that determines the quality of the appearance of the target based on an image of the target captured by the camera. The illumination device includes a light source, and an adjustment unit that adjusts a direction and an amount of light transmitted through the light source, and the determination unit is the target imaged by the camera. On the basis of the image, the adjusting unit is controlled so as to reduce the amount of light directed to a specific portion of the target where the intensity of reflected light is higher than a predetermined value.

上記構成によれば、照明装置により対象に光が当てられ、カメラにより対象が撮影される。そして、判定部によって、カメラにより撮影された対象の画像に基づいて、対象の外観の良否が判定される。   According to the said structure, light is irradiated to object with an illuminating device and object is image | photographed with a camera. Then, the quality of the appearance of the target is determined by the determination unit based on the target image captured by the camera.

ここで、照明装置は、光源と、光源からの光を透過させる方向及び量を調節する調節部と、を備えている。そして、判定部によって、カメラにより撮影された対象の画像に基づいて、対象のうち反射光の強度が所定値よりも強い特定部分へ向かう光の量を減少させるように、調節部が制御される。このため、特定部分からの反射光が弱くなり、特定部分の検査精度を向上させることができる。その結果、作業者が撮影位置の調整等を行う必要がなくなり、検査の効率を向上させることができる。   Here, the illumination device includes a light source and an adjusting unit that adjusts the direction and amount of light transmitted from the light source. Then, the adjustment unit is controlled by the determination unit so as to reduce the amount of light directed to a specific portion of the target in which the intensity of the reflected light is higher than a predetermined value, based on the target image captured by the camera. . For this reason, the reflected light from a specific part becomes weak and the inspection precision of a specific part can be improved. As a result, it is not necessary for the operator to adjust the photographing position and the inspection efficiency can be improved.

第2の手段では、前記判定部は、前記カメラにより前記対象を撮影させ、前記カメラにより撮影される前記対象の画像に基づいて、前記特定部分へ向かう光の量を所定量だけ減少させるように前記調節部を制御することを、繰り返し実行する。   In the second means, the determination unit causes the camera to shoot the target, and reduces the amount of light directed to the specific portion by a predetermined amount based on the image of the target captured by the camera. The control of the adjusting unit is repeatedly executed.

上記構成によれば、カメラにより対象を撮影し、撮影された画像に基づき特定部へ向かう光の量を所定量だけ減少させることが繰り返される。したがって、特定部分へ向かう光の量を徐々に減少させることができ、特定部へ向かう光の量を適切に調節し易くなる。   According to the above configuration, the object is photographed by the camera, and the amount of light traveling toward the specific unit based on the photographed image is reduced by a predetermined amount. Therefore, the amount of light traveling toward the specific portion can be gradually decreased, and the amount of light traveling toward the specific portion can be easily adjusted appropriately.

第3の手段では、前記判定部は、前記光源により発光を開始させてから停止させるまでに、前記特定部分からの反射光の強度が判定値よりも弱くなるように、前記調節部を制御する。   In the third means, the determination unit controls the adjustment unit so that the intensity of the reflected light from the specific portion becomes weaker than the determination value from the start of light emission by the light source to the stop thereof. .

上記構成によれば、光源により発光が開始されてから停止されるまでに、前記特定部分からの反射光の強度が判定値よりも弱くなるように、調節部が制御される。このため、作業者の意図とは異なる複数回の発光を避けることができ、作業者が違和感を覚えることを抑制することができる。   According to the above configuration, the adjustment unit is controlled so that the intensity of the reflected light from the specific portion becomes weaker than the determination value from when light emission is started by the light source to when it is stopped. For this reason, it is possible to avoid a plurality of times of light emission different from the operator's intention, and to suppress the operator from feeling uncomfortable.

第4の手段では、前記判定部は、前記カメラにより前記対象を撮影させ、前記カメラにより撮影される前記対象の画像に基づいて、前記特定部分へ向かう光の量を所定量だけ減少させるように前記調節部を制御することを、前記光源により発光を開始させてから停止させるまでに繰り返し実行して、前記特定部分からの反射光の強度が判定値よりも弱くなるようにする。   In the fourth means, the determination unit causes the camera to photograph the object, and reduces the amount of light directed to the specific portion by a predetermined amount based on the image of the object photographed by the camera. Control of the adjusting unit is repeatedly performed from the start of light emission by the light source to the stop thereof, so that the intensity of reflected light from the specific portion becomes weaker than a determination value.

上記構成によれば、第2の手段及び第3の手段の双方の構成を備えるため、光源により発光が開始されてから停止されるまでに、カメラにより対象を撮影し、撮影された画像に基づき特定部へ向かう光の量を所定量だけ減少させることが繰り返される。そして、光源により発光が開始されてから停止されるまでに、特定部分からの反射光の強度が判定値よりも弱くされる。したがって、作業者が違和感を覚えることを抑制しつつ、特定部へ向かう光の量を適切に調節し易くなる。   According to the above configuration, since both the second means and the third means are provided, the object is imaged by the camera from when the light emission is started to when it is stopped, and based on the captured image. It is repeated to reduce the amount of light directed to the specific part by a predetermined amount. Then, the intensity of the reflected light from the specific portion is made weaker than the determination value after the light emission is started and stopped by the light source. Therefore, it becomes easy to appropriately adjust the amount of light directed to the specific portion while suppressing the operator from feeling uncomfortable.

第5の手段では、前記判定部は、前記特定部分からの反射光の強度が判定値よりも弱くなるように前記調節部を制御した所定状態で前記カメラにより撮影させた前記対象の良品の画像をモデル画像とし、前記調節部を前記所定状態に制御して前記カメラにより撮影させた前記対象の画像と前記モデル画像とを比較して、前記対象の外観の良否を判定する。   In the fifth means, the determination unit is a non-defective image of the target photographed by the camera in a predetermined state in which the adjustment unit is controlled such that the intensity of the reflected light from the specific part is weaker than a determination value. Is used as a model image, and the control unit is controlled to the predetermined state and the target image captured by the camera is compared with the model image to determine the quality of the target appearance.

同一形状の複数の対象を外観検査する場合には、複数の対象で反射光の強度が所定値よりも強い特定部分が略一致することとなる。   When visual inspection is performed on a plurality of objects having the same shape, specific portions whose reflected light intensity is higher than a predetermined value in the plurality of objects substantially coincide with each other.

この点、上記構成によれば、前記特定部分からの反射光の強度が判定値よりも弱くなるように調節部を制御した所定状態において、カメラにより撮影された対象の良品の画像がモデル画像とされる。そして、調節部を前記所定状態に制御してカメラにより撮影させた対象の画像とモデル画像とが比較されて、対象の外観の良否が判定される。このため、同一形状の複数の対象において調節部を共通の所定状態とし、所定状態でカメラにより撮影された対象の良品の画像を共通のモデル画像とすることができる。したがって、調節部の制御を毎回行う必要がなくなり、検査の効率を更に向上させることができる。   In this regard, according to the above configuration, in a predetermined state in which the adjustment unit is controlled so that the intensity of the reflected light from the specific portion is weaker than the determination value, the target non-defective image captured by the camera is a model image. Is done. Then, the control unit is controlled to the predetermined state, and the target image captured by the camera is compared with the model image, and the quality of the target appearance is determined. For this reason, an adjustment part can be made into the common predetermined state in the some object of the same shape, and the image of the quality goods of the object image | photographed with the camera in the predetermined state can be made into a common model image. Therefore, it is not necessary to control the adjusting unit every time, and the inspection efficiency can be further improved.

第6の手段では、前記判定部は、データを記憶する不揮発性の記憶部を有し、前記所定状態及び前記モデル画像を前記記憶部に記憶させる。   In a sixth means, the determination unit includes a nonvolatile storage unit that stores data, and stores the predetermined state and the model image in the storage unit.

上記構成によれば、前記特定部分からの反射光の強度が判定値よりも弱くなるように調節部を制御した所定状態、及びその所定状態で対象の良品を撮影したモデル画像が、不揮発性の記憶部に記憶される。したがって、以前に検査した対象と同一形状の対象を検査する場合に、記憶部から所定状態及びモデル画像を読み出して利用することができる。   According to the above configuration, the predetermined state in which the adjustment unit is controlled so that the intensity of the reflected light from the specific portion is weaker than the determination value, and the model image obtained by photographing the target non-defective product in the predetermined state are nonvolatile. Stored in the storage unit. Therefore, when inspecting an object having the same shape as the object inspected before, the predetermined state and the model image can be read from the storage unit and used.

第7の手段では、前記調節部は、液晶パネルにより構成されている。   In the seventh means, the adjusting section is constituted by a liquid crystal panel.

上記構成によれば、調節部は液晶パネルにより構成されているため、容易且つ正確に光の透過方向及び透過量を調節することができる。   According to the above configuration, since the adjustment unit is configured by the liquid crystal panel, the light transmission direction and the light transmission amount can be adjusted easily and accurately.

外観検査システムの概要を示す模式図。The schematic diagram which shows the outline | summary of an external appearance inspection system. 液晶マスクパターン及びモデル画像作成の処理手順を示すフローチャート。The flowchart which shows the process sequence of liquid crystal mask pattern and model image creation. 液晶マスクパターン、グレースケール画像、及び階調を示す図。The figure which shows a liquid crystal mask pattern, a gray scale image, and a gradation. ワークの良否判定の処理手順を示すフローチャート。The flowchart which shows the process sequence of the quality determination of a workpiece | work. 階調を示す図。The figure which shows a gradation.

以下、ワークの外観検査システムを具体化した一実施形態について、図面を参照しつつ説明する。本実施形態の外観検査システムは、例えば機械組立工場の組立ラインに設置される。   Hereinafter, an embodiment embodying a work appearance inspection system will be described with reference to the drawings. The appearance inspection system of this embodiment is installed in an assembly line of a machine assembly factory, for example.

図1は、外観検査システム10の概要を示す模式図である。この外観検査システム10は、ストロボ20、カメラ30、及び制御装置40を備えている。   FIG. 1 is a schematic diagram showing an outline of the appearance inspection system 10. The appearance inspection system 10 includes a strobe 20, a camera 30, and a control device 40.

ストロボ20(照明装置)は、カメラ30に取り付けられており、本体21、ランプ22、液晶パネル23、レンズ部24、カバー25等を備えている。本体21は、中空の直方体状に形成されている。本体21の内部には、ランプ22、液晶パネル23、及びレンズ部24が収容されている。本体21の正面には、ランプ22の光を透過させる透明のカバー25が取り付けられている。   The strobe 20 (lighting device) is attached to a camera 30 and includes a main body 21, a lamp 22, a liquid crystal panel 23, a lens unit 24, a cover 25, and the like. The main body 21 is formed in a hollow rectangular parallelepiped shape. Inside the main body 21, a lamp 22, a liquid crystal panel 23, and a lens unit 24 are accommodated. A transparent cover 25 that transmits the light of the lamp 22 is attached to the front surface of the main body 21.

ランプ22(光源)は、周知の発光素子により構成されており、ワークW(対象)に当てる光を発する。ランプ22の点灯及び消灯は、制御装置40によって制御される。液晶パネル23(調節部)は、板状に形成されており、偏光板や配向膜、液晶層等を備えている。液晶パネル23は、液晶層の状態を制御することにより、ランプ22からの光を透過させる方向(透過位置)、及び透過する光の量(透過率)を調節する。液晶パネル23による光の調節状態は、制御装置40によって制御される。レンズ部24は、液晶パネル23を透過した光を拡散させて、カバー25の方向へ照射させる。レンズ部24の焦点は、ワークWの所定位置に光が照射されるように自動調節される。   The lamp 22 (light source) is composed of a known light emitting element, and emits light that strikes the workpiece W (target). Lighting and extinguishing of the lamp 22 is controlled by the control device 40. The liquid crystal panel 23 (adjustment unit) is formed in a plate shape and includes a polarizing plate, an alignment film, a liquid crystal layer, and the like. The liquid crystal panel 23 adjusts the direction (transmission position) in which light from the lamp 22 is transmitted and the amount of light transmitted (transmittance) by controlling the state of the liquid crystal layer. The adjustment state of light by the liquid crystal panel 23 is controlled by the control device 40. The lens unit 24 diffuses the light transmitted through the liquid crystal panel 23 and irradiates the light toward the cover 25. The focal point of the lens unit 24 is automatically adjusted so that light is irradiated to a predetermined position of the workpiece W.

カメラ30は、カラー撮影可能なCCDカメラ等であり、ワークWを撮影して画像を取得する。カメラ30は、図示しないロボットのアームのハンド部(先端部)に取り付けられている。ロボットのアームは、その各関節の駆動により、位置及び方向が変更される。そして、アームの位置及び方向が変更されることにより、カメラ30の位置及び方向が変更される。これにより、ベルトコンベア等により検査位置に搬送されるワークWを、カメラ30により任意の視点から撮影することができる。カメラ30の撮影動作は、制御装置40によって制御される。   The camera 30 is a CCD camera or the like capable of color photography, and photographs the workpiece W to acquire an image. The camera 30 is attached to a hand portion (tip portion) of a robot arm (not shown). The position and direction of the arm of the robot is changed by driving each joint. Then, the position and direction of the camera 30 are changed by changing the position and direction of the arm. Thereby, the workpiece | work W conveyed to a test | inspection position by a belt conveyor etc. can be image | photographed from arbitrary viewpoints with the camera 30. FIG. The photographing operation of the camera 30 is controlled by the control device 40.

制御装置40(判定部)は、CPU、ROM、RAM、記憶部40a、駆動回路、位置検出回路等を備えている。ROMは、ロボットのシステムプログラムや動作プログラム等を記憶している。RAMは、これらのプログラムを実行する際にパラメータの値等を一時的に記憶する。記憶部40aは、データを記憶する不揮発性のメモリである。位置検出回路は、アームの各関節に設けられたエンコーダの検出信号に基づいて、各関節に設けられたモータの回転角度を検出する。CPUは、予め設定された動作プログラムを実行することにより、位置検出回路から入力される位置情報に基づいて、アームの各関節の回転角度を目標回転角度にフィードバック制御する。   The control device 40 (determination unit) includes a CPU, a ROM, a RAM, a storage unit 40a, a drive circuit, a position detection circuit, and the like. The ROM stores a robot system program, an operation program, and the like. The RAM temporarily stores parameter values and the like when executing these programs. The storage unit 40a is a nonvolatile memory that stores data. The position detection circuit detects a rotation angle of a motor provided at each joint based on a detection signal of an encoder provided at each joint of the arm. The CPU performs feedback control of the rotation angle of each joint of the arm to the target rotation angle based on the position information input from the position detection circuit by executing a preset operation program.

本実施形態では、制御装置40は、ワークWの外観検査において、アームの目標の位置及び方向として、検査位置に搬送されるワークWをカメラ30により撮像する際のアームの位置及び方向(撮影位置)を設定する。アームが撮影位置まで駆動されることにより、カメラ30の視野内にワークWが検査に適した状態で捉えられる。その状態において、カメラ30によりワークWを撮影することにより、ワークWの画像が取得される。さらに、制御装置40は、ストロボ20及びカメラ30の動作を制御して、以下に示すようなマスクパターン及びモデル画像の作成を行う。   In the present embodiment, the control device 40 determines the position and direction of the arm when the workpiece W transported to the inspection position is imaged by the camera 30 as the target position and direction of the arm in the appearance inspection of the workpiece W (shooting position). ) Is set. By driving the arm to the photographing position, the workpiece W is captured in a state suitable for inspection within the field of view of the camera 30. In this state, an image of the workpiece W is acquired by photographing the workpiece W with the camera 30. Further, the control device 40 controls the operations of the strobe 20 and the camera 30 to create a mask pattern and a model image as shown below.

図2は、液晶マスクパターン及びモデル画像作成の処理手順を示すフローチャートである。この一連の処理は、外観検査開始前のロボットのティーチング(初期設定)時に、制御装置40によって実行される。この一連の処理では、作業者が予め良品と判定したワークWを使用する。   FIG. 2 is a flowchart showing a processing procedure for creating a liquid crystal mask pattern and a model image. This series of processing is executed by the control device 40 during teaching (initial setting) of the robot before the appearance inspection is started. In this series of processes, the workpiece W that has been determined as a non-defective product by the operator in advance is used.

まず、液晶パネル23により形成されている液晶マスクパターンを消去させる(S11)。詳しくは、液晶パネル23によりマスクパターンを作成するのに先立って、ランプ22からの光が液晶パネル23により制限されないように、液晶パネル23の状態を制御する。   First, the liquid crystal mask pattern formed by the liquid crystal panel 23 is erased (S11). Specifically, prior to creating a mask pattern with the liquid crystal panel 23, the state of the liquid crystal panel 23 is controlled so that the light from the lamp 22 is not restricted by the liquid crystal panel 23.

続いて、ストロボ20のランプ22を点灯させて、カメラ30によりワークWをカラー撮影させる(S12)。そして、撮影されたワークWのカラー画像をカメラ30から入力して、そのカラー画像をグレースケール画像に変換する(S13)。詳しくは、単純平均法や、中間値法、Gチャンネル法等の周知の方法により、カラー画像をグレースケール画像に変換する。ここで、ストロボ20のランプ22を、続くS13〜S21の処理が終了するまで継続して点灯させる。   Subsequently, the lamp 22 of the strobe 20 is turned on, and the work W is photographed in color by the camera 30 (S12). Then, a color image of the photographed work W is input from the camera 30, and the color image is converted into a gray scale image (S13). Specifically, a color image is converted into a grayscale image by a known method such as a simple average method, an intermediate value method, or a G channel method. Here, the lamp 22 of the strobe 20 is lit continuously until the subsequent processes of S13 to S21 are completed.

続いて、グレースケール画像の画素を指定する画素番号iを初期値0に設定する(S14)。詳しくは、画像の画素は0〜n番まであり、最初の画素の番号が0番である。そして、現在の画素番号iがnよりも小さいか否か判定する(S15)。   Subsequently, a pixel number i that designates a pixel of the grayscale image is set to an initial value 0 (S14). Specifically, there are 0 to n pixels in the image, and the first pixel number is 0. Then, it is determined whether or not the current pixel number i is smaller than n (S15).

上記判定において、現在の画素番号iがnよりも小さいと判定した場合(S15:YES)、画素番号iの階調T(i)が閾値R1よりも大きいか否か判定する(S16)。詳しくは、階調Tは、0(黒)〜255(白)までの値をとる。閾値R1(所定値、判定値)は、255から検査時の許容誤差Mを引いた値に設定されている。   In the above determination, when it is determined that the current pixel number i is smaller than n (S15: YES), it is determined whether or not the gradation T (i) of the pixel number i is larger than the threshold value R1 (S16). Specifically, the gradation T takes a value from 0 (black) to 255 (white). The threshold value R1 (predetermined value, determination value) is set to a value obtained by subtracting the allowable error M at the time of inspection from 255.

上記判定において、画素番号iの階調T(i)が閾値R1よりも大きいと判定した場合(S16:YES)、現在の画素番号iをRAMの所定領域に記憶させる(S17)。そして、画素番号iに1を加算して、それを新たな画素番号iとする(S18)。その後、再度S15の処理から実行する。一方、上記判定において、画素番号iの階調T(i)が閾値R1よりも大きくないと判定した場合(S16:NO)、S18の処理を実行する。   In the above determination, when it is determined that the gradation T (i) of the pixel number i is larger than the threshold value R1 (S16: YES), the current pixel number i is stored in a predetermined area of the RAM (S17). Then, 1 is added to the pixel number i to make it a new pixel number i (S18). Thereafter, the process is executed again from the process of S15. On the other hand, when it is determined in the above determination that the gradation T (i) of the pixel number i is not greater than the threshold value R1 (S16: NO), the process of S18 is executed.

また、S15の判定において、現在の画素番号iがnよりも小さくないと判定した場合(S15:NO)、RAMの所定領域に記憶されている画素番号iがあるか否か判定する(S19)。すなわち、階調T(i)が閾値R1よりも大きくなった画素番号iが存在しているか否か判定する。   If it is determined in S15 that the current pixel number i is not smaller than n (S15: NO), it is determined whether there is a pixel number i stored in a predetermined area of the RAM (S19). . That is, it is determined whether or not there is a pixel number i whose gradation T (i) is larger than the threshold value R1.

上記判定において、RAMの所定領域に記憶されている画素番号iがあると判定した場合(S19:YES)、液晶パネル23において画素番号iに対応する箇所の光の透過量を所定量だけ減少させる(S20)。詳しくは、画素番号iとして撮影される部分(特定部分)へ向かう光の量を10%減少させるように、液晶パネル23の状態を変更する。そして、その液晶パネル23の状態を液晶マスクパターンとして、RAMの所定領域に記憶させる(S21)。なお、S20の処理では、液晶パネル23において画素番号iに対応する箇所の状態のみを変更し、その他の箇所についてはRAMに記憶されている状態を維持する。その後、変更された液晶パネル23を液晶マスクパターンとして、再度S12の処理から実行する。   In the above determination, when it is determined that there is a pixel number i stored in a predetermined area of the RAM (S19: YES), the light transmission amount at the location corresponding to the pixel number i in the liquid crystal panel 23 is decreased by a predetermined amount. (S20). Specifically, the state of the liquid crystal panel 23 is changed so as to reduce the amount of light directed to the portion (specific portion) photographed as the pixel number i by 10%. Then, the state of the liquid crystal panel 23 is stored in a predetermined area of the RAM as a liquid crystal mask pattern (S21). In the process of S20, only the state of the part corresponding to the pixel number i in the liquid crystal panel 23 is changed, and the other part is maintained in the state stored in the RAM. Thereafter, the changed liquid crystal panel 23 is used as the liquid crystal mask pattern, and the process from S12 is executed again.

一方、上記判定において、RAMの所定領域に記憶されている画素番号iがないと判定した場合(S19:NO)、RAMの所定領域に記憶されている画素番号iを全て消去する(S22)。また、ストロボ20のランプ22を消灯させる。続いて、RAMの所定領域に記憶されている液晶マスクパターンを、不揮発性の記憶部40aに記憶させる(S23)。詳しくは、S20の処理により繰り返し変更された後、S21の処理によりRAMに記憶された最終的な液晶マスクパターンを、不揮発性の記憶部40aに記憶させる。   On the other hand, if it is determined in the above determination that there is no pixel number i stored in the predetermined area of the RAM (S19: NO), all the pixel numbers i stored in the predetermined area of the RAM are erased (S22). Further, the lamp 22 of the strobe 20 is turned off. Subsequently, the liquid crystal mask pattern stored in the predetermined area of the RAM is stored in the nonvolatile storage unit 40a (S23). Specifically, after being repeatedly changed by the process of S20, the final liquid crystal mask pattern stored in the RAM by the process of S21 is stored in the nonvolatile storage unit 40a.

続いて、S12の処理が最後に実行された際のグレースケール画像を、不揮発性の記憶部40aに記憶させる(S24)。すなわち、最終的な液晶マスクパターンを用いてワークWを撮影して変換したグレースケール画像を、モデル画像として不揮発性の記憶部40aに記憶させる。そして、この一連の処理を終了する(END)。   Subsequently, the gray scale image when the process of S12 is executed last is stored in the nonvolatile storage unit 40a (S24). That is, the gray scale image obtained by photographing and converting the workpiece W using the final liquid crystal mask pattern is stored as a model image in the nonvolatile storage unit 40a. Then, this series of processing ends (END).

次に、上述したマスクパターン及びモデル画像作成の具体的態様について説明する。図3は、液晶マスクパターン、グレースケール画像、及び階調を示す図である。ここでは、作業者が予め良品と判定したワークWが使用されている。   Next, specific modes of creating the mask pattern and model image described above will be described. FIG. 3 is a diagram illustrating a liquid crystal mask pattern, a gray scale image, and gradation. Here, a work W that has been previously determined as a non-defective product by the operator is used.

同図に示すように、1回目の撮影では、液晶パネル23により形成されている液晶マスクパターンが消去された状態、すなわち液晶パネル23により透過光を制限しない状態で、ワークWが撮影されている。撮影されたカラー画像から変換されたグレースケール画像では、中央付近からの反射光が強くなっている。このため、直線C1上の画素の階調は、領域A1内で最大値である255階調となっている。したがって、ワークWの領域A1内に傷等あったとしても、正確に検査することができない。   As shown in the figure, in the first shooting, the workpiece W is shot in a state where the liquid crystal mask pattern formed by the liquid crystal panel 23 is erased, that is, in a state where transmitted light is not limited by the liquid crystal panel 23. . In the grayscale image converted from the photographed color image, the reflected light from the vicinity of the center is strong. For this reason, the gradation of the pixel on the straight line C1 is 255 gradation which is the maximum value in the area A1. Therefore, even if there is a scratch or the like in the area A1 of the workpiece W, it cannot be accurately inspected.

そこで、2回目の撮影では、階調T(i)が閾値R1よりも大きいと判定された画素番号iに対応する箇所の光の透過量を10%減少させるように、液晶パネル23の状態が変更されている。このため、この液晶マスクパターンを用いたグレースケール画像では、1回目の撮影によるグレースケール画像よりも、中央付近からの反射光が弱くなっている。そして、直線C2上の画素の階調は、領域A2内で255階調よりも若干小さくなっている。このようにして、階調T(i)が閾値R1よりも大きいと判定される画素番号iがなくなるまで、画素番号iに対応する箇所の光の透過量が、液晶パネル23により毎回10%ずつ(段階的に)減少されている。   Therefore, in the second shooting, the state of the liquid crystal panel 23 is set so as to reduce the light transmission amount of the portion corresponding to the pixel number i determined that the gradation T (i) is larger than the threshold value R1 by 10%. has been changed. For this reason, in the grayscale image using this liquid crystal mask pattern, the reflected light from near the center is weaker than the grayscale image obtained by the first shooting. The gradation of the pixel on the straight line C2 is slightly smaller than the 255 gradation in the area A2. In this way, until the pixel number i for which the gradation T (i) is determined to be larger than the threshold value R1 disappears, the light transmission amount at the location corresponding to the pixel number i is 10% each time by the liquid crystal panel 23. It is being reduced (in steps).

このとき、画素番号iに対応する箇所の光の透過量を一度に大きく減少させると、閾値R1の周辺で階調のグラフが階段状になり易い。その場合、階調は閾値R1を大きく下回る可能性があり、閾値R1よりも階調を小さくできるものの、ワークWの外観の評価を正しくできなくなる可能性がある。これに対して、光透過量を段階的に(少しずつ)減少させることにより、階調が閾値R1を大きく下回る可能性を低くすることができ、階調の調整後におけるワークWの外観の評価を概ね正しく行うことができる。   At this time, if the amount of light transmitted through the portion corresponding to the pixel number i is greatly reduced at once, the gradation graph tends to be stepped around the threshold value R1. In this case, the gradation may be significantly lower than the threshold value R1, and although the gradation can be made smaller than the threshold value R1, the appearance evaluation of the workpiece W may not be correctly performed. On the other hand, by decreasing the light transmission amount step by step (a little by little), it is possible to reduce the possibility that the gradation is significantly lower than the threshold value R1, and the appearance of the workpiece W after the gradation adjustment is evaluated. Can be performed almost correctly.

そして、n回目の撮影では、液晶マスクパターンは、中央付近で最も光の透過量を減少させ(透過率を最も低下させ)、周辺に広がるにつれて透過量を減少させる度合いを小さくしている(透過率を増加させている)。この液晶マスクパターンを用いたグレースケール画像では、中央付近において反射光が略均等に弱くなっている。そして、直線Cn上の画素の階調は、領域An内でも閾値R1よりも若干小さくなっている。その結果、グレースケール画像において、階調T(i)が閾値R1よりも大きいと判定された画素番号iは存在しなくなっている。   In the n-th shooting, the liquid crystal mask pattern reduces the amount of light transmitted most near the center (lowest transmittance), and decreases the degree to which the amount of transmitted light decreases as it spreads to the periphery (transmission). Rate). In a grayscale image using this liquid crystal mask pattern, the reflected light is weakened substantially uniformly near the center. The gradation of the pixels on the straight line Cn is slightly smaller than the threshold value R1 even in the area An. As a result, in the grayscale image, the pixel number i determined that the gradation T (i) is larger than the threshold value R1 does not exist.

したがって、この時の液晶パネル23の状態(所定状態)を、最終的な液晶マスクパターンとして不揮発性の記憶部40aに記憶させている。また、この時のグレースケール画像を、モデル画像として不揮発性の記憶部40aに記憶させている。   Accordingly, the state (predetermined state) of the liquid crystal panel 23 at this time is stored in the nonvolatile storage unit 40a as a final liquid crystal mask pattern. Further, the grayscale image at this time is stored in the nonvolatile storage unit 40a as a model image.

図4は、ワークWの良否判定の処理手順を示すフローチャートである。この一連の処理は、外観検査中においてロボットの連続動作時に、制御装置40によって実行される。この一連の処理では、マスクパターン及びモデル画像作成で使用したワークWと同一形状のワークWの外観を検査する。なお、図2と同一の処理については、同一のステップ番号を付すことにより詳細な説明を省略する。   FIG. 4 is a flowchart showing a processing procedure for determining whether the workpiece W is acceptable. This series of processing is executed by the control device 40 during continuous operation of the robot during visual inspection. In this series of processes, the appearance of the work W having the same shape as the work W used in creating the mask pattern and the model image is inspected. In addition, about the process same as FIG. 2, detailed description is abbreviate | omitted by attaching | subjecting the same step number.

まず、不揮発性の記憶部40aに記憶されている液晶マスクパターン及びモデル画像を読み込む(S31,S32)。そして、読み込んだ液晶マスクパターンとなるように、液晶パネル23の状態を制御する(S33)。   First, the liquid crystal mask pattern and model image stored in the nonvolatile storage unit 40a are read (S31, S32). Then, the state of the liquid crystal panel 23 is controlled so as to become the read liquid crystal mask pattern (S33).

続いて、ストロボ20のランプ22を点灯させて、カメラ30によりワークWをカラー撮影させる(S12)。そして、撮影されたワークWのカラー画像をカメラ30から入力して、そのカラー画像をグレースケール画像に変換する(S13)。   Subsequently, the lamp 22 of the strobe 20 is turned on, and the work W is photographed in color by the camera 30 (S12). Then, a color image of the photographed work W is input from the camera 30, and the color image is converted into a gray scale image (S13).

続いて、グレースケール画像の画素を指定する画素番号iを初期値0に設定する(S14)。そして、現在の画素番号iがnよりも小さいか否か判定する(S15)。   Subsequently, a pixel number i that designates a pixel of the grayscale image is set to an initial value 0 (S14). Then, it is determined whether or not the current pixel number i is smaller than n (S15).

上記判定において、現在の画素番号iがnよりも小さいと判定した場合(S15:YES)、上記グレースケール画像における画素番号iの階調T(i)とモデル画像における画素番号iの階調Tm(i)との偏差が、閾値R2よりも大きいか否か判定する(S36)。閾値R2は、検査時の許容誤差Mに設定されている。   In the above determination, when it is determined that the current pixel number i is smaller than n (S15: YES), the gradation T (i) of the pixel number i in the grayscale image and the gradation Tm of the pixel number i in the model image It is determined whether or not the deviation from (i) is larger than the threshold value R2 (S36). The threshold value R2 is set to an allowable error M at the time of inspection.

上記判定において、階調T(i)と階調Tm(i)との偏差が、閾値R2よりも大きいと判定した場合(S36:YES)、現在の画素番号iをRAMの所定領域に記憶させる(S17)。そして、画素番号iに1を加算して、それを新たな画素番号iとする(S18)。その後、再度S15の処理から実行する。一方、上記判定において、階調T(i)と階調Tm(i)との偏差が、閾値R2よりも大きくないと判定した場合(S36:NO)、S18の処理を実行する。   In the above determination, when it is determined that the deviation between the gradation T (i) and the gradation Tm (i) is larger than the threshold value R2 (S36: YES), the current pixel number i is stored in a predetermined area of the RAM. (S17). Then, 1 is added to the pixel number i to make it a new pixel number i (S18). Thereafter, the process is executed again from the process of S15. On the other hand, in the above determination, when it is determined that the deviation between the gradation T (i) and the gradation Tm (i) is not larger than the threshold value R2 (S36: NO), the process of S18 is executed.

また、S15の判定において、現在の画素番号iがnよりも小さくないと判定した場合(S15:NO)、RAMの所定領域に記憶されている画素番号iがあるか否か判定する(S19)。すなわち、階調T(i)と階調Tm(i)との偏差が閾値R2よりも大きくなった画素番号iが存在しているか否か判定する。   If it is determined in S15 that the current pixel number i is not smaller than n (S15: NO), it is determined whether there is a pixel number i stored in a predetermined area of the RAM (S19). . That is, it is determined whether or not there is a pixel number i whose deviation between the gradation T (i) and the gradation Tm (i) is larger than the threshold value R2.

上記判定において、RAMの所定領域に記憶されている画素番号iがあると判定した場合(S19:YES)、現在検査しているワークWが不良品であると判定する(S37)。一方、上記判定において、RAMの所定領域に記憶されている画素番号iがないと判定した場合(S19:NO)、現在検査しているワークWが良品であると判定する(S38)。そして、この一連の処理を終了する(END)。なお、同一形状の複数のワークWについて続けて外観検査を行う場合には、再度S12の処理から実行する。   If it is determined in the above determination that there is a pixel number i stored in a predetermined area of the RAM (S19: YES), it is determined that the work W currently being inspected is a defective product (S37). On the other hand, if it is determined in the above determination that there is no pixel number i stored in the predetermined area of the RAM (S19: NO), it is determined that the work W currently being inspected is a non-defective product (S38). Then, this series of processing ends (END). In addition, when performing a visual inspection continuously about the several workpiece | work W of the same shape, it performs again from the process of S12.

以上詳述した本実施形態は、以下の利点を有する。   The embodiment described in detail above has the following advantages.

・ストロボ20は、ランプ22と、ランプ22からの光を透過させる方向及び量を調節する液晶パネル23と、を備えている。そして、制御装置40によって、カメラ30により撮影されたワークWの画像に基づいて、ワークWのうち反射光の強度が閾値R1よりも強い特定部分へ向かう光の量を減少させるように、液晶パネル23が制御される。このため、特定部分からの反射光が弱くなり、特定部分の検査精度を向上させることができる。その結果、作業者が撮影位置の調整等を行う必要がなくなり、検査の効率を向上させることができる。   The strobe 20 includes a lamp 22 and a liquid crystal panel 23 that adjusts the direction and amount of light transmitted from the lamp 22. Then, on the basis of the image of the workpiece W taken by the camera 30 by the control device 40, the liquid crystal panel is configured so as to reduce the amount of light directed to the specific portion of the workpiece W where the intensity of the reflected light is higher than the threshold value R1. 23 is controlled. For this reason, the reflected light from a specific part becomes weak and the inspection precision of a specific part can be improved. As a result, it is not necessary for the operator to adjust the photographing position and the inspection efficiency can be improved.

・カメラ30によりワークWを撮影し、撮影された画像に基づき上記特定部へ向かう光の量を10%だけ減少させることが繰り返される。したがって、特定部分へ向かう光の量を徐々に減少させることができ、特定部へ向かう光の量を適切に調節し易くなる。   -The work 30 is imaged by the camera 30 and the amount of light traveling toward the specific portion is repeatedly reduced by 10% based on the captured image. Therefore, the amount of light traveling toward the specific portion can be gradually decreased, and the amount of light traveling toward the specific portion can be easily adjusted appropriately.

・ランプ22により発光が開始されてから停止されるまでに、上記特定部分からの反射光の強度が閾値R1よりも弱くなるように、液晶パネル23が制御される。このため、作業者の意図とは異なる複数回の発光を避けることができ、作業者が違和感を覚えることを抑制することができる。   The liquid crystal panel 23 is controlled so that the intensity of the reflected light from the specific portion becomes weaker than the threshold value R1 before the light emission is started and stopped by the lamp 22. For this reason, it is possible to avoid a plurality of times of light emission different from the operator's intention, and to suppress the operator from feeling uncomfortable.

・上記特定部分からの反射光の強度が閾値R1よりも弱くなるように液晶パネル23を制御した所定状態(液晶マスクパターン)において、カメラ30により撮影されたワークWの良品の画像がモデル画像とされる。そして、液晶パネル23を所定状態に制御してカメラ30により撮影させたワークWの画像とモデル画像とが比較されて、ワークWの外観の良否が判定される。このため、同一形状の複数のワークWにおいて液晶パネル23を共通の所定状態とし、所定状態でカメラ30により撮影されたワークWの良品の画像を共通のモデル画像とすることができる。したがって、液晶パネル23の制御を毎回行う必要がなくなり、検査の効率を更に向上させることができる。   In a predetermined state (liquid crystal mask pattern) in which the liquid crystal panel 23 is controlled so that the intensity of the reflected light from the specific portion is weaker than the threshold value R1, a good image of the work W photographed by the camera 30 is a model image. Is done. Then, the image of the workpiece W photographed by the camera 30 by controlling the liquid crystal panel 23 to a predetermined state is compared with the model image, and the quality of the appearance of the workpiece W is determined. For this reason, the liquid crystal panel 23 can be set to a common predetermined state in a plurality of workpieces W having the same shape, and a non-defective image of the workpiece W photographed by the camera 30 in a predetermined state can be used as a common model image. Therefore, it is not necessary to control the liquid crystal panel 23 every time, and the inspection efficiency can be further improved.

・上記特定部分からの反射光の強度が閾値R1よりも弱くなるように液晶パネル23を制御した所定状態(液晶マスクパターン)、及びその所定状態でワークWの良品を撮影したモデル画像が、不揮発性の記憶部40aに記憶される。したがって、以前に検査したワークWと同一形状のワークWを検査する場合に、記憶部40aから液晶マスクパターン及びモデル画像を読み出して利用することができる。   A predetermined state (liquid crystal mask pattern) in which the liquid crystal panel 23 is controlled so that the intensity of reflected light from the specific portion is weaker than the threshold value R1, and a model image obtained by photographing a non-defective product of the workpiece W in the predetermined state are nonvolatile. Stored in the sex storage unit 40a. Therefore, when inspecting a workpiece W having the same shape as the workpiece W previously inspected, the liquid crystal mask pattern and the model image can be read from the storage unit 40a and used.

・ランプ22からの光を透過させる方向及び量を調節する調節部として、液晶パネル23が採用されている。このため、マスクパターンを容易且つ正確に形成することができる。   A liquid crystal panel 23 is employed as an adjustment unit that adjusts the direction and amount of light transmitted from the lamp 22. For this reason, a mask pattern can be formed easily and accurately.

なお、上記実施形態を、以下のように変更して実施することもできる。上記実施形態と同一の部材については、同一の符号を付すことにより説明を省略する。   In addition, the said embodiment can also be changed and implemented as follows. About the same member as the said embodiment, description is abbreviate | omitted by attaching | subjecting the same code | symbol.

・上記実施形態では、液晶パネル23の所定状態(液晶マスクパターン)及びモデル画像を不揮発性の記憶部40aに記憶させたが、液晶マスクパターン及びモデル画像の作成に引き続いてワークWの外観検査を行う場合には、液晶マスクパターン及びモデル画像をRAM(揮発性メモリ)に記憶させてもよい。   In the above embodiment, the predetermined state (liquid crystal mask pattern) and the model image of the liquid crystal panel 23 and the model image are stored in the nonvolatile storage unit 40a, but the appearance inspection of the work W is performed following the creation of the liquid crystal mask pattern and the model image. When performing, a liquid crystal mask pattern and a model image may be stored in a RAM (volatile memory).

・形状の異なるワークWについて外観検査を行う場合には、その都度図2のS11〜S24の処理を実行すればよい。   When the appearance inspection is performed on the workpiece W having a different shape, the processes of S11 to S24 in FIG. 2 may be executed each time.

・上記実施形態では、ランプ22により発光が開始されてから停止されるまでに、上記特定部分からの反射光の強度が閾値R1よりも弱くなるように液晶パネル23を制御したが、液晶パネル23の制御を完了するまでにランプ22を複数回発光させてもよい。   In the above embodiment, the liquid crystal panel 23 is controlled so that the intensity of the reflected light from the specific portion becomes weaker than the threshold value R1 before the light emission is started by the lamp 22 and stopped. The lamp 22 may emit light a plurality of times until the above control is completed.

・上記実施形態では、カメラ30によりワークWを撮影し、撮影された画像に基づき上記特定部へ向かう光の量を10%だけ減少させることを繰り返したが、光の量を一度に10%以上減少させることもできる。その結果、一度の調節により、上記特定部分からの反射光の強度が閾値R1よりも弱くなってもよい。   In the above embodiment, the work 30 is photographed by the camera 30 and the amount of light traveling toward the specific portion is repeatedly reduced by 10% based on the photographed image. However, the amount of light is 10% or more at a time. It can also be reduced. As a result, the intensity of the reflected light from the specific portion may be weaker than the threshold value R1 by a single adjustment.

また、図5に示すように、3回の撮影で液晶マスクパターンによる光の透過量の調節を終了することもできる。まず、1回目の撮影では、上記実施形態と同様に、液晶パネル23により形成されている液晶マスクパターンが消去された状態、すなわち液晶パネル23により透過光を制限しない状態で、ワークWが撮影されている。なお、出力される画素の階調は、最大値の255階調よりも大きくはならないが、同図に破線で示すように実際の階調は中央付近ほど大きくなっていると予想される。   Further, as shown in FIG. 5, the adjustment of the amount of transmitted light by the liquid crystal mask pattern can be completed after three photographings. First, in the first shooting, as in the above embodiment, the workpiece W is shot in a state where the liquid crystal mask pattern formed by the liquid crystal panel 23 is erased, that is, in a state where transmitted light is not limited by the liquid crystal panel 23. ing. Note that the gradation of the output pixel does not become larger than the maximum value of 255 gradations, but the actual gradation is expected to increase toward the center as shown by the broken line in FIG.

そこで、2回目の撮影では、全体の光の透過量を例えば70%(所定量)減少させるように、液晶パネル23の状態が変更されている。このため、画素の階調は、全体に小さくなっており、最大値でも255階調よりも小さくなっている。ここで、二点鎖線で示すように、2回目の撮影で得られた階調に基づいて、全体の光の透過量を70%減少させる前の実際の階調を推定する。   Therefore, in the second shooting, the state of the liquid crystal panel 23 is changed so as to reduce the total light transmission amount by, for example, 70% (predetermined amount). For this reason, the gradation of the pixels is small as a whole, and even the maximum value is smaller than 255 gradations. Here, as indicated by a two-dot chain line, an actual gradation before reducing the entire light transmission amount by 70% is estimated based on the gradation obtained by the second photographing.

そして、3回目の撮影では、液晶マスクパターンは、上記のように推定された階調に基づいて、各画素の階調が閾値R1よりも小さくなるように、各箇所の光の透過量を調節している。その結果、上記実施形態と同様に、中央付近で最も光の透過量を減少させ(透過率を最も低下させ)、周辺に広がるにつれて透過量を減少させる度合いを小さくしている(透過率を増加させている)。こうした工程によれば、基本的に3回の撮影で液晶マスクパターンの調整を終了することができ、工程数を減少させつつ適切に液晶マスクパターンを調節することができる。   In the third shooting, the liquid crystal mask pattern adjusts the amount of light transmission at each location so that the gray level of each pixel is smaller than the threshold value R1 based on the gray level estimated as described above. doing. As a result, similar to the above embodiment, the amount of transmitted light is reduced most in the vicinity of the center (the transmittance is reduced most), and the degree of decrease in the amount of transmitted light is reduced as it spreads to the periphery (the transmittance is increased). ) According to such a process, the adjustment of the liquid crystal mask pattern can be basically completed by photographing three times, and the liquid crystal mask pattern can be appropriately adjusted while reducing the number of processes.

・カメラ30として、白黒画像を撮影するカメラを採用することもできる。その場合は、グレースケール画像への変換が不要であり、白黒画像における画素番号iの輝度とモデル画像における画素番号iの輝度とを比較して良否判定すればよい。   A camera that captures black and white images can be used as the camera 30. In that case, conversion to a grayscale image is not necessary, and it is only necessary to compare the luminance of the pixel number i in the black and white image with the luminance of the pixel number i in the model image to make a pass / fail determination.

・液晶パネル23により透過量を調節することのできる光を発する光源であれば、ストロボ20のランプ22として任意の光源を採用することができる。   Any light source can be used as the lamp 22 of the strobe 20 as long as the light source emits light whose amount of transmission can be adjusted by the liquid crystal panel 23.

・上記実施形態では、ランプ22からの光を透過させる方向及び量を調節する調節部として、液晶パネル23を採用したが、温度により光学特性が変化するサーモクロミックパネル等、他の方式の調節部を採用することもできる。   In the above embodiment, the liquid crystal panel 23 is used as the adjusting unit that adjusts the direction and amount of light transmitted from the lamp 22, but other types of adjusting units such as a thermochromic panel whose optical characteristics change depending on the temperature. Can also be adopted.

10…外観検査システム、20…ストロボ(照明装置)、22…ランプ(光源)、23…液晶パネル(調節部)、30…カメラ、40…制御装置(判定部)、40a…記憶部。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Appearance inspection system, 20 ... Strobe (illuminating device), 22 ... Lamp (light source), 23 ... Liquid crystal panel (adjustment part), 30 ... Camera, 40 ... Control apparatus (determination part), 40a ... Memory | storage part.

Claims (4)

対象に光を当てる照明装置と、前記対象を撮影するカメラと、前記カメラにより撮影される前記対象の画像に基づいて前記対象の外観の良否を判定する判定部と、を備える外観検査システムであって、
前記照明装置は、光源と、前記光源からの光を透過させる方向及び量を調節する調節部と、を備え、
前記判定部は、前記カメラにより撮影される前記対象の画像に基づいて、前記対象のうち反射光の強度が所定値よりも強い特定部分へ向かう光の量のみを少しずつ減少させるように前記調節部を制御することにより前記特定部分からの反射光の強度が前記所定値を大きく下回る可能性を低くしつつ、前記特定部分からの反射光の強度が前記所定値よりも弱くなるように前記調節部を制御した所定状態で前記カメラにより撮影させた前記対象の良品の画像をモデル画像として作成し、前記調節部を前記所定状態に制御して前記カメラにより撮影させた前記対象の画像と前記モデル画像とを比較して、前記対象の外観の良否を判定することを特徴とする外観検査システム。
An appearance inspection system comprising: an illumination device that shines light on a target; a camera that captures the target; and a determination unit that determines the quality of the appearance of the target based on an image of the target captured by the camera. And
The lighting device includes a light source, and an adjustment unit that adjusts a direction and an amount of light transmitted from the light source.
The determination unit is configured based on the subject image captured by the camera, pre-SL as the intensity of the reflected light decreases only slightly the amount of light directed to the strong specific parts than the predetermined value of the object by controlling the regulating unit, while the intensity of the reflected light from the specific portion is less likely to significantly below the predetermined value, so that the intensity of the reflected light from the specific portion is weaker than the predetermined value A non-defective image of the target photographed by the camera in a predetermined state in which the adjustment unit is controlled is created as a model image, and the target image photographed by the camera by controlling the adjustment unit in the predetermined state; An appearance inspection system that compares the model image and determines whether the appearance of the object is good or bad .
前記判定部は、前記光源により発光を開始させてから停止させるまでに、前記特定部分からの反射光の強度が前記所定値よりも弱くなるように、前記調節部を制御する請求項1に記載の外観検査システム。 The determination unit, until stopped from to initiate the emission by the light source such that said intensity of the reflected light from the specific part weaker than the predetermined value, according to claim 1 for controlling the adjusting portion Visual inspection system. 前記判定部は、データを記憶する不揮発性の記憶部を有し、前記所定状態及び前記モデル画像を前記記憶部に記憶させる請求項1又は2に記載の外観検査システム。 The determination unit includes a non-volatile storage unit for storing data, visual inspection system according to claim 1 or 2 and stores the predetermined condition and the model image in the storage unit. 前記調節部は、液晶パネルにより構成されている請求項1〜のいずれか1項に記載の外観検査システム。 The controller may control the appearance inspection system according to any one of claims 1 to 3 which is constructed by a liquid crystal panel.
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