JP6150014B2 - Strain measuring method and strain measuring system - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 12
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 180
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 63
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 12
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 12
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 5
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims description 5
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 claims description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000010248 power generation Methods 0.000 description 2
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
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Description
この発明は、ひずみ測定方法、及びひずみ測定システムに関する。 The present invention relates to a strain measuring method and a strain measuring system.
特許文献1には、火力発電プラント用高温配管の長手溶接部の亀裂を検出する方法として、長手溶接部近傍および当該個所と同一円周上の管母材に管内圧力にともない変化するひずみ変動量をひずみゲージで測定し、これら2箇所のひずみ変動量の差を求め、検査すべき高温配管と同じ形状のサンプル管を複数個用意し、これらサンプル管毎に長手溶接部近傍に深さの異なる亀裂を形成し、検査すべき高温配管と同様に長手溶接部近傍および当該個所と同一円周上の管母材における各ひずみ変動量の差を測定し、数値解析により亀裂の有無と亀裂の深さを算出し、高温配管におけるひずみ変動量を数値解析によって求めた亀裂の深さとひずみ変動量の差との関係と比較することにより高温配管の長手溶接部の亀裂の有無と深さを測定することが記載されている。
In
特許文献2には、測定対象物に取り付けられ、光を反射可能であり且つ記測定対象物のひずみ変形に伴って角度が変化する複数の反射面を備える光学ひずみゲージと、複数の反射面に光を照射し、複数の反射面から反射された反射光を検出し、測定対象物のひずみ変形前後において複数の反射面から反射された反射光を比較することにより、複数の反射面の角度変化を測定する角度測定部と、角度測定部により測定された角度変化から、測定対象物のひずみを算出するひずみ算出部とを備えた光学的ひずみ測定装置が開示されている。
In
特許文献1に開示されているように、火力発電プラント用配管の亀裂の測定は、金属や半導体のひずみ量に応じた電気抵抗値の変化を利用したひずみゲージを用いて行われている。しかし火力発電プラントにおけるボイラ配管等の配管は600℃以上の高温となるため、とくに実機運転中はひずみケージの出力が安定せず、十分な測定精度が得られないという課題があった。
As disclosed in
本発明は上記課題に鑑みてなされたもので、被測定物の表面に生じたひずみを簡素な構成にて精度よく測定することが可能な、ひずみ測定方法、及びひずみ測定システムを提供することを目的としている。 The present invention has been made in view of the above problems, and provides a strain measuring method and a strain measuring system capable of accurately measuring the strain generated on the surface of the object to be measured with a simple configuration. It is aimed.
上記目的を達成するための本発明の一つは、被測定物の表面に生じるひずみの測定方法であって、被測定物の表面から所定距離離れた前記被測定物とは異なる構造物に第1レーザ変位計と第2レーザ変位計とを固定し、被測定物の表面の測定対象部位の近傍に、第1反射体と第2反射体とを、いずれもその反射面を前記構造物の方向に向けて隣接して配置し、前記第1反射体の反射面は、前記被測定物の表面に生じたひずみに因る前記第1反射体の変位量に応じて前記第1レーザ変位計との間の距離が変化する形状を呈し、前記第2反射体の反射面は、前記被測定物の表面に生じたひずみに因り前記第1反射体が変位しても前記第2レーザ変位計との間の距離が変化しない形状を呈し、前記第1レーザ変位計の発光部から前記第1反射体に向けて出射した第1レーザ光を前記第1反射体の反射面で反射させて前記第1レーザ変位計の受光部に入射させた場合における前記第1レーザ光の行路である第1行路の変化量を前記第1レーザ変位計により測定し、前記第2レーザ変位計の発光部から前記第2反射体に向けて出射した第2レーザ光を前記第2反射体の反射面で反射させて前記第2レーザ変位計の受光部に入射させた場合における前記第2レーザ光の行路である第2行路の変化量を前記第2レーザ変位計により測定し、前記第1行路の変化量及び前記第2行路の変化量との差に基づき、前記測定対象部位に生じるひずみを求める
こととする。
One aspect of the present invention for achieving the above object is a method for measuring strain generated on the surface of the object to be measured, wherein the structure is different from the object to be measured that is separated from the surface of the object to be measured by a predetermined distance. The first laser displacement meter and the second laser displacement meter are fixed , and the first reflector and the second reflector are arranged in the vicinity of the measurement target portion on the surface of the object to be measured, and the reflection surfaces of both of the structures are the same. The first laser displacement meter is arranged adjacent to the direction, and the reflection surface of the first reflector is in accordance with the amount of displacement of the first reflector due to the strain generated on the surface of the object to be measured. The second laser displacement meter has a shape in which the distance between the second reflector and the second reflector is changed even if the first reflector is displaced due to the distortion generated on the surface of the object to be measured. The distance between and the first laser displacement meter is directed from the light emitting portion toward the first reflector. The amount of change in the first path that is the path of the first laser light when the first laser light emitted in this way is reflected by the reflecting surface of the first reflector and is incident on the light receiving portion of the first laser displacement meter. Is measured by the first laser displacement meter, and the second laser light emitted from the light emitting portion of the second laser displacement meter toward the second reflector is reflected by the reflecting surface of the second reflector, and the first laser displacement meter reflects the second laser beam. The amount of change in the second path, which is the path of the second laser light, when incident on the light receiving portion of the two-laser displacement meter is measured by the second laser displacement meter, and the amount of change in the first path and the second Based on the difference from the amount of change in the path, the strain generated in the measurement target part is obtained.
本発明によれば、レーザ変位計と反射体とを用いた簡素な構成により、被測定物の表面に生じるひずみを精度よく測定することができる。またレーザ変位計(発光部及び受光部を含む)は被測定物から離れた場所に設けているので、被測定物が高温になる場合でも熱の影響を受けることがなく、常温下でレーザ変位計により精度よくひずみを測定することができる。また斜面形状の反射面を有する反射体で反射させたレーザ光に基づき測定した変位量と平面形状の反射面を有する反射体で反射させたレーザ光に基づき測定した変位量とを用いて、構造物と被測定物との間の距離が変化することに因り生じる誤差を補正するので、精度よくひずみを測定することができる。またレーザ変位計(発光部及び受光部を含む)は建屋内の任意の構造物に設置することができるので、設置場所の自由度が高く、本発明は様々な環境に適用することができる。 According to the present invention, the distortion generated on the surface of the object to be measured can be accurately measured with a simple configuration using a laser displacement meter and a reflector. In addition, since the laser displacement meter (including the light emitting unit and the light receiving unit) is provided at a location away from the object to be measured, it is not affected by heat even when the object to be measured becomes high temperature, and laser displacement is performed at room temperature. The strain can be measured with high accuracy. In addition, a structure using a displacement measured based on a laser beam reflected by a reflector having a slope-shaped reflecting surface and a displacement measured based on a laser beam reflected by a reflector having a planar reflecting surface is used. Since the error caused by the change in the distance between the object and the object to be measured is corrected, the strain can be measured with high accuracy. In addition, since the laser displacement meter (including the light emitting unit and the light receiving unit) can be installed in any structure in the building, the installation location is highly flexible, and the present invention can be applied to various environments.
本発明の他の一つは、上記測定方法であって、前記被測定物の表面から所定距離離れた前記被測定物とは異なる構造物に第3レーザ変位計と第4レーザ変位計とを固定し、前記被測定物の表面の測定対象部位の近傍に、第3反射体と第4反射体とを、いずれもその反射面を前記構造物の方向に向けて隣接して配置し、前記第1反射体及び第2反射体の組と前記第3反射体及び第4反射体の組とを、前記測定対象部位を夫々の間に挟むように配置し、前記第3反射体の反射面は、前記被測定物の表面に生じたひずみに因る前記第3反射体の変位量に応じて前記第3レーザ変位計との間の距離が変化する形状を呈し、前記第4反射体の反射面は、前記被測定物の表面に生じたひずみに因り前記第4反射体が変位しても前記第4レーザ変位計との間の距離が変化しない形状を呈し、前記第3レーザ変位計の発光部から前記第3反射体に向けて出射した第3レーザ光を前記第3反射体の反射面で反射させて前記第3レーザ変位計の受光部に入射させた場合における前記第3レーザ光の行路である第3行路の変化量を前記第3レーザ変位計により測定し、前記第4レーザ変位計の発光部から前記第4反射体に向けて出射した第4レーザ光を前記第4反射体の反射面で反射させて前記第4レーザ変位計の受光部に入射させた場合における前記第4レーザ光の行路である第4行路の変化量を前記第4レーザ変位計により測定し、前記第1行路の変化量から前記第2行路の変化量を差し引いた値と、前記第3行路の変化量から前記第4行路の変化量を差し引いた値との和を求めることにより、前記測定対象部位に生じるひずみを求めることとする。
Another aspect of the present invention is the measurement method described above, wherein a third laser displacement meter and a fourth laser displacement meter are attached to a structure different from the measurement object that is separated from the surface of the measurement object by a predetermined distance. Fixing, in the vicinity of the measurement target part of the surface of the object to be measured, the third reflector and the fourth reflector are both arranged adjacent to each other with the reflecting surface facing the direction of the structure, The set of the first reflector and the second reflector and the set of the third reflector and the fourth reflector are arranged so as to sandwich the measurement target portion therebetween, and the reflection surface of the third reflector Exhibits a shape in which the distance from the third laser displacement meter changes according to the amount of displacement of the third reflector due to the strain generated on the surface of the object to be measured. Even if the fourth reflector is displaced due to the strain generated on the surface of the object to be measured, the reflecting surface is not in contact with the fourth laser displacement meter. The third laser displacement has a shape in which the distance does not change, and the third laser light emitted from the light emitting portion of the third laser displacement meter toward the third reflector is reflected by the reflecting surface of the third reflector. The amount of change in the third path, which is the path of the third laser light when entering the light receiving part of the meter, is measured by the third laser displacement meter, and the fourth reflection from the light emitting part of the fourth laser displacement meter. A fourth laser beam that is a path of the fourth laser beam when the fourth laser beam emitted toward the body is reflected by the reflecting surface of the fourth reflector and is incident on the light receiving portion of the fourth laser displacement meter. Is measured by the fourth laser displacement meter, and the value obtained by subtracting the amount of change of the second route from the amount of change of the first route, and the amount of change of the fourth route from the amount of change of the third route. By subtracting And determining the distortion caused to the target site.
本発明によれば、測定対象部位を間に挟んで配置した、第1反射体及び第2反射体の組により測定した変位量と、第3反射体及び第4反射体の組により測定した変位量とに基づき、被測定物の表面に生じたひずみの絶対量を精度よく求めることができる。 According to the present invention, the displacement measured by the pair of the first reflector and the second reflector, and the displacement measured by the pair of the third reflector and the fourth reflector, which are arranged with the measurement target part interposed therebetween. Based on the amount, the absolute amount of strain generated on the surface of the object to be measured can be obtained with high accuracy.
本発明の他の一つは、上記測定方法であって、前記第1反射体の反射面は、前記ひずみが生じる方向に沿って前記第2レーザ変位計との間の距離が直線的に変化するように傾斜する斜面形状であり、前記第2反射体の反射面は、前記ひずみが生じる方向に平行な平面形状であり、前記第3反射体の反射面は、前記ひずみが生じる方向に沿って前記第3レーザ変位計との間の距離が直線的に変化する斜面形状であり、前記第4反射体の反射面は、前記ひずみが生じる方向に平行な平面形状であることとする。 Another aspect of the present invention is the measurement method described above, wherein the distance between the reflection surface of the first reflector and the second laser displacement meter changes linearly along the direction in which the distortion occurs. The reflecting surface of the second reflector is a planar shape parallel to the direction in which the distortion occurs, and the reflecting surface of the third reflector is along the direction in which the distortion occurs. The distance between the third laser displacement meter and the third laser displacement meter has a slope shape that changes linearly, and the reflection surface of the fourth reflector has a planar shape parallel to the direction in which the distortion occurs.
尚、前記第1反射体の反射面及び前記第2反射体の反射面は、例えば、金属板又はセラミックス板で構成されている。 The reflecting surface of the first reflector and the reflecting surface of the second reflector are made of, for example, a metal plate or a ceramic plate.
また前記第1反射体の反射面及び前記第2反射体の反射面は、例えば、鏡面加工が施された金属膜の表面にサファイアガラスをコーティングした構造を有する。 The reflecting surface of the first reflector and the reflecting surface of the second reflector have, for example, a structure in which sapphire glass is coated on the surface of a metal film that has been mirror-finished.
また前記第1反射体乃至前記第4反射体の反射面は、例えば、金属板又はセラミックス板で構成されている。 Moreover, the reflective surface of the said 1st reflector thru | or a 4th reflector is comprised by the metal plate or the ceramic plate, for example.
また前記第1反射体乃至前記第4反射体の反射面は、鏡面加工が施された金属膜の表面にサファイアガラスをコーティングした構造を有する。 The reflective surfaces of the first to fourth reflectors have a structure in which sapphire glass is coated on the surface of a mirror-finished metal film.
また前記被測定物は、例えば、火力発電プラントの高温配管であり、前記構造物は、前記火力発電プラントが収容されている建屋の一部である。 The object to be measured is, for example, a high-temperature pipe of a thermal power plant, and the structure is a part of a building in which the thermal power plant is accommodated.
その他、本願が開示する課題、及びその解決方法は、発明を実施するための形態の欄、及び図面により明らかにされる。 In addition, the subject which this application discloses, and its solution method are clarified by the column of the form for inventing, and drawing.
本発明によれば、被測定物の表面に生じたひずみを簡素な構成にて精度よく測定することができる。 According to the present invention, distortion generated on the surface of the object to be measured can be accurately measured with a simple configuration.
以下、本発明の一実施形態について図面とともに説明する。 Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
図1に一実施形態として説明するひずみ測定システム1の概略的な構成を示している。ひずみ測定システム1は、火力発電プラントの鋼製ボイラ再燃蒸気管等(以下、高温配管とも称する。)の、測定時に高温となる被測定物2の表面に生じるひずみを測定する。尚、火力発電プラントにおいては、発電設備の寿命延伸等を目的として、クリープ損傷等に起因して配管表面に生じるひずみの測定が発電設備の運転中に随時行われる。
FIG. 1 shows a schematic configuration of a
同図に示すように、被測定物2は、過去に生じた亀裂3並びに当該亀裂3の補修時に形成された溶接部4を有する。被測定物2の表面は保温材5によって被覆されているが、ひずみの測定対象部位である溶接部4の近傍の一部領域においては保温材5を除去して被測定物2の表面を露出させている。
As shown in the figure, the
溶接部4の近傍の被測定物2の表面には、溶接部4を挟むように、溶接部4の一方の側に第1反射体12及び第2反射体22の組(以下、第1反射体組とも称する。)が、溶接部4の他方の側に第3反射体32及び第4反射体42の組(以下、第2反射体組とも称する。)が、夫々配置されている。第1反射体12乃至第4反射体42は、いずれも、例えば、火力発電プラントが収容されている建屋の構造物6(屋根、梁、壁等)の方向を向く反射面を有している。
A set of a
被測定物2の表面の、第1反射体組から+z方向に所定距離だけ離れた位置には、第1レーザ変位計10の発光部11及び受光部13、並びに第2レーザ変位計20の発光部21及び受光部23を設けている。また被測定物2の表面の、第2反射体組から+z方向に所定距離だけ離れた位置には、第3レーザ変位計30の発光部31及び受光部33、並びに第4レーザ変位計40の発光部41及び受光部43を設けている。第1乃至第4レーザ変位計10,20,30,40は、いずれも構造物6の所定位置に固定されている。
The
第1反射体12の反射面12aは、被測定物2の表面に生じたひずみに因る第1反射体12の変位量に応じて第1レーザ変位計10との間の距離が変化する形状を呈し、一方、第2反射体22の反射面22aは、被測定物2の表面に生じたひずみに因り第2反射体22が変位しても第2レーザ変位計20との間の距離が変化しない形状を呈している。
The
図2は、被測定部2の表面に設けられる第1反射体12及び第2反射体22を、夫々の配置の状態を維持しつつ拡大して描いた斜視図である。同図に示すように、第1反射体12の上面(反射面12a)は、被測定物2の表面のひずみが生じる方向(y軸に沿った方向)に沿って所定の角度で直線的に傾斜する斜面形状であり、第2反射体22の上面(反射面22a)は、被測定物2の表面のひずみが生じる方向に平行な平面形状である。同図に示すように、この例では、第1反射体12は三角柱状であり、第2反射体22は直方体状である。また本例では、第1反射体12の上面(反射面12a)と第2反射体22の上面(反射面22a)とがなす角はαであるものとする。
FIG. 2 is an enlarged perspective view of the
尚、この例では、第1反射体12を被測定物2とは別体のブロックとして構成しているが、被測定物2の表面を斜面形状として反射面を形成することにより、第1反射体12を被測定物2の一部として構成してもよい。同様に、この例では、第2反射体22を被測定物2とは別体のブロックとして構成しているが、被測定物2の表面を反射面とすることにより、第2反射体22を被測定物2の一部として構成してもよい。
In this example, the
第3反射体32の反射面32aは、被測定物2の表面に生じたひずみに因る第3反射体32の変位量に応じて第3レーザ変位計30との間の距離が変化する形状を呈し、一方、第4反射体42の反射面42aは、被測定物2の表面に生じたひずみに因り第4反射体42が変位しても第4レーザ変位計40との間の距離が変化しない形状を呈している。
The reflection surface 32 a of the
図3は、被測定部2の表面に設けられる第3反射体32及び第4反射体42を、夫々の配置の状態を維持しつつ拡大して描いた斜視図である。同図に示すように、第3反射体32の上面(反射面32a)は、被測定物2の表面のひずみが生じる方向(y軸に沿った方向)に沿って所定の角度で直線的に傾斜する斜面形状であり、第4反射体42の上面(反射面42a)は、被測定物2の表面のひずみが生じる方向に平行な平面形状である。同図に示すように、この例では、第3反射体32は三角柱状であり、第4反射体42は直方体状である。また本例では、第3反射体32の上面(反射面32a)と第4反射体42の上面(反射面42a)とがなす角はαであるものとする。
FIG. 3 is an enlarged perspective view of the
尚、この例では、第3反射体32を被測定物2とは別体のブロックとして構成しているが、被測定物2の表面を斜面形状として反射面を形成することにより、第3反射体32を被測定物2の一部として構成してもよい。同様に、この例では、第4反射体42を被測定物2とは別体のブロックとして構成しているが、被測定物2の表面を反射面とすることにより、第4反射体42を被測定物2の一部として構成してもよい。
In this example, the
第1レーザ変位計10及び第1反射体12は、第1測定系を構成している。第1測定系において、第1レーザ変位計10は、当該第1レーザ変位計10の発光部11から第1反射体12に向けて出射したレーザ光(以下、第1レーザ光と称する。)を第1反射体12の上面(反射面12a)で反射させて第1レーザ変位計10の受光部13に入射させた場合における第1レーザ光の行路(以下、第1行路と称する。)の変化量を測定する。尚、第1レーザ変位計10は、第1レーザ光が第1反射体12の上面(反射面12a)で反射されることにより生じる拡散反射成分を利用して第1行路の変化量を測定する。
The first laser displacement meter 10 and the
第2レーザ変位計20及び第2反射体22は、第2測定系を構成している。第2測定系において、第2レーザ変位計20は、当該第2レーザ変位計20の発光部21から第2反射体22に向けて出射したレーザ光(以下、第2レーザ光と称する。)を第2反射体22の上面(反射面22a)で反射させて第2レーザ変位計20の受光部23に入射させた場合における第2レーザ光の行路(以下、第2行路と称する。)の変化量を測定する。尚、第2レーザ変位計20は、第2レーザ光が第2反射体22の上面(反射面22a)で反射されることにより生じる正反射成分又は拡散反射成分を利用して第1行路の変化量を測定する。
The second laser displacement meter 20 and the
第3レーザ変位計30及び第3反射体32は、第3測定系を構成している。第3測定系において、第3レーザ変位計30は、当該第3レーザ変位計30の発光部31から第3反射体32に向けて出射したレーザ光(以下、第3レーザ光と称する。)を第3反射体32の上面(反射面32a)で反射させて第3レーザ変位計30の受光部33に入射させた場合における第3レーザ光の行路(以下、第3行路と称する。)の変化量を測定する。尚、第3レーザ変位計30は、第3レーザ光が第3反射体32の上面(反射面32a)で反射されることにより生じる拡散反射成分を利用して第3行路の変化量を測定する。
The third laser displacement meter 30 and the
第4レーザ変位計40及び第4反射体42は、第4測定系を構成している。第4測定系において、第4レーザ変位計40は、当該第4レーザ変位計40の発光部41から第4反射体42に向けて出射したレーザ光(以下、第4レーザ光と称する。)を第4反射体42の上面(反射面42a)で反射させて第4レーザ変位計40の受光部43に入射させた場合における第4レーザ光の行路(以下、第4行路と称する。)の変化量を測定する。尚、第4レーザ変位計40は、第4レーザ光が第4反射体42の上面(反射面42a)で反射されることにより生じる正反射成分又は拡散反射成分を利用して第1行路の変化量を測定する。
The fourth laser displacement meter 40 and the
第1乃至第4反射体12,22,32,42は、いずれも被測定物2に面する側が、高温下(600℃程度)でも性状が安定している(変形や溶融等しない)性質の素材を用いて構成されている。また、第1反射体12、第2反射体22、第3反射体32、及び第4反射体42の反射面12a,22a,32a,42aは、いずれも水滴等が付着しにくい性質の素材を用いて構成されている。またこれらの反射面12a,22a,32a,42aは、例えば、金属板(SUS板、白金板等)やセラミックス板等で構成されている。尚、レーザ変位計(第1乃至第4レーザ変位計10,20,30,40)として、例えば、時間差方式のレーザ変位計や一部の高精度な三角測量方式のレーザ変位計を用いる場合、第1反射体12、第2反射体22、第3反射体32、及び第4反射体42の反射面12a,22a,32a,42aについては、鏡面加工が施された金属膜(白金膜等)で構成され、金属膜の表面に腐食や汚れ防止のためにサファイアガラス等でコーティング処理されていてもよい。
Each of the first to
図4に、レーザ変位計(第1乃至第4レーザ変位計10,20,30,40)の一例(以下、レーザ変位計100と称する。)を示している。同図に示すように、レーザ変位計100は、プロセッサ111、入力装置112、出力装置113、レーザ駆動回路114、発光素子115、受光素子116、変位検出回路117、及び光学素子118を備える。
FIG. 4 shows an example of a laser displacement meter (first to fourth laser displacement meters 10, 20, 30, 40) (hereinafter referred to as a laser displacement meter 100). As shown in the figure, the
プロセッサ111は、例えば、マイクロコンピュータ、MPU(Micro Processing Unit)、CPU(Central Processing Unit)等を用いて構成され、レーザ変位計の統括的な制御や、変位検出回路117により検出される情報を入力とした各種演算処理等を行う。入力装置112は、レーザ変位計100に対する各種入力操作を受け付けるユーザインタフェース(操作ボタンやタッチパネル等)である。出力装置113は、各種測定結果を出力するユーザインタフェース(液晶パネル等)である。
The
レーザ駆動回路114は、発光素子115の駆動電流を生成する回路(ACC(Automatic Current Control)回路、APC(Automatic Power Control)回路等)を備える。
The
発光素子115は、前述した発光部11,21,31,41の構成要素であり、例えば、半導体レーザ素子(レーザダイオード等)を用いて構成されている。受光素子116は、前述した受光部13,23,33,43の構成要素であり、PSD(Position Sensitive Detector)やCMOS(Complementary metal Oxide Semi-conductor)等を用いて構成されている。
The
変位検出回路117は、受光装置116が出力する信号の増幅回路を含み、被測定物2の変位を示す情報を出力する。光学素子118は、例えば、発光素子115から出射したレーザ光を集光する投光レンズや受光素子116に入射するレーザ光を集光する受光レンズを含む。
The
続いて、図5とともにレーザ変位計100の測定原理(三角測距方式)について説明する。同図において、発光素子115から出射したレーザ光は、投光レンズ118で集光されて被測定物2に照射される。被測定物2から反射されたレーザ光(正反射成分又は拡散反射成分)は、受光レンズ118で集光されて受光素子116の受光面にスポットを結ぶ。そして被測定物2が移動すると上記スポットも移動するので、上記スポットの位置を検出することで被測定物2の変位を示す情報を得ることができる。尚、以上の測定原理は一例に過ぎず、レーザ変位計100として他の測定原理によるものを採用してもよい。
Next, the measurement principle (triangular distance measuring method) of the
続いて、図6とともに、以上の構成からなるひずみ測定システム1によって行われる、測定対象部位に生じるひずみの具体的な測定方法について説明する。
Next, with reference to FIG. 6, a specific method for measuring strain generated in the measurement target portion, which is performed by the
被測定物2の表面に生じるひずみの測定は、第1乃至第4測定系による測定を随時実行し、それらの測定結果に基づき以下に説明する演算を実施することにより行われる。
The measurement of the strain generated on the surface of the
まず前述した第1行路は、第1レーザ変位計10の発光部11から出射して第1反射体12に入射し、第1反射体12で反射して第1レーザ変位計10の受光部13に入射する第1レーザ光の行路(=d1)である。
First, the first path described above is emitted from the
また前述した第2行路は、第2レーザ変位計20の発光部21から出射して第2反射体22に入射し、第2反射体22で反射して第2レーザ変位計20の受光部23に入射する第2レーザ光の行路(=d2)である。
The second path described above is emitted from the light emitting unit 21 of the second laser displacement meter 20, enters the
また前述した第3行路は、第3レーザ変位計30の発光部31から出射して第3反射体32に入射し、第3反射体32で反射して第3レーザ変位計30の受光部33に入射する第3レーザ光の行路(=d3)である。
The third path described above is emitted from the light emitting unit 31 of the third laser displacement meter 30, enters the
また前述した第4行路は、第4レーザ変位計40の発光部41から出射して第4反射体42に入射し、第4反射体42で反射して第4レーザ変位計40の受光部43に入射する第4レーザ光の行路(=d4)である。
Further, the above-described fourth path is emitted from the light emitting portion 41 of the fourth laser displacement meter 40, enters the
ここで被測定物2にひずみが生じると、第1反射体組及び第2反射体組はy軸方向に沿って変位する。この場合、第1反射体12の上面(反射面12a)は、被測定物2の表面のひずみが生じる方向(y軸に沿った方向)に沿って当該方向に対して所定の角度αで直線的に傾斜する斜面形状であるので、第1反射体組がy軸方向に変位すると第1レーザ光の行路(=d1)が変化する。一方、第2反射体22の上面(反射面22a)は、被測定物2の表面のひずみが生じる方向に平行な平面形状であるので、第1反射体組がy軸方向に変位しても第2レーザ光の行路(=d2)は変化しない。従って、第1反射体組のy軸方向の変位量は次式から求めることができる。
Here, when distortion occurs in the
第1反射体組のy軸方向の変位量×tanα
=((第1レーザ光の行路の変位量(=Δd1)
−第2レーザ光の行路の変位量(=Δd2))
・・・式1Amount of displacement of the first reflector set in the y-axis direction × tan α
= ((Displacement amount of first laser beam path (= Δd1)
-Amount of displacement of the path of the second laser beam (= Δd2))
...
尚、式1において第1レーザ光の行路の変位量(=Δd1)から第2レーザ光の行路の変位量(=Δd2)を差し引いているが、これにより構造物6と被測定物2の間の距離が気温の変化等の何らかの理由で変化した場合でも、精度よく第1反射体組のy軸方向の変位量を求めることができる。
In
一方、第3反射体32の上面(反射面32a)は、被測定物2の表面のひずみが生じる方向(y軸に沿った方向)に沿って当該方向に対して所定の角度αで直線的に傾斜する斜面形状であるので、第2反射体組のy軸方向の変位に伴い、第3レーザ光の行路(=d3)は変化する。一方、第4反射体42の上面(反射面42a)は、被測定物2の表面のひずみが生じる方向に平行な平面形状であるので、第2反射体組がy軸方向に変位しても第4レーザ光の行路(=d4)は変化しない。従って、第2反射体組のy軸方向の変位量を次式から求めることができる。
On the other hand, the upper surface (reflecting
第2反射体組のy軸方向の変位量×tanα
=(第3レーザ光の行路の変位量(=Δd3)
−第4レーザ光の行路の変位量(=Δd4))
・・・式2Amount of displacement of the second reflector set in the y-axis direction × tan α
= (Displacement amount of path of third laser beam (= Δd3)
-Amount of displacement of the path of the fourth laser beam (= Δd4))
...
尚、式2において第3レーザ光の行路の変位量(=Δd3)から第4レーザ光の行路の変位量(=Δd4)を差し引いているが、これにより構造物6と被測定物2の間の距離が気温の変化等の何らかの理由で変化した場合でも、精度よく第2反射体組のy軸方向の変位量を求めることができる。
In
そして被測定物2の表面に生じたひずみの絶対量は、第1反射体組のy軸方向の変位量と第2反射体組のy軸方向の変位量との和であり、式1及び式2を用いて次式から求めることができる。
The absolute amount of strain generated on the surface of the
ひずみの絶対量×tanα
=(第1レーザ光の行路の変位量(=Δd1)
−第2レーザ光の行路の変位量(=Δd2))
+(第3レーザ光の行路の変位量(=Δd3)
−第4レーザ光の行路の変位量(=Δd4))
・・・式3Absolute amount of strain x tan α
= (Displacement amount of first laser beam path (= Δd1))
-Amount of displacement of the path of the second laser beam (= Δd2))
+ (Path displacement of the third laser beam (= Δd3)
-Amount of displacement of the path of the fourth laser beam (= Δd4))
...
以上に説明したように、本実施形態のひずみ測定システム1によれば、レーザ変位計と反射体とを用いた簡素な構成により、被測定物の表面に生じるひずみを精度よく測定することができる。またレーザ変位計(発光部及び受光部を含む)を被測定物から離れた場所に設けているので、被測定物が高温になる場合でも熱の影響を受けることがなく、常温下でレーザ変位計により精度よくひずみを測定することができる。また斜面形状の反射面を有する反射体で反射させたレーザ光に基づき測定した変位量と平面形状の反射面を有する反射体で反射させたレーザ光に基づき測定した変位量とを用いて、構造物と被測定物との間の距離が変化することに因り生じる誤差を補正するので、精度よくひずみを測定することができる。またレーザ変位計(発光部及び受光部を含む)は建屋内の任意の構造物に設置することができるので、設置場所の自由度が高く、本実施形態のひずみ測定システム1は、様々な環境に適用することができる。
As described above, according to the
ところで、以上の説明は、本発明の理解を容易にするためのものであり、本発明を限定するものではない。本発明は、その趣旨を逸脱することなく、変更、改良され得ると共に、本発明にはその等価物が含まれる。例えば、以上に説明したひずみ測定システム1では、行路の変化量の測定にレーザ変位計を用いているが、レーザ距離計を用いて行路の変化量を測定するようにしてもよい。
By the way, the above description is for facilitating the understanding of the present invention, and does not limit the present invention. The present invention can be changed and improved without departing from the spirit thereof, and the present invention includes equivalents thereof. For example, in the
1 ひずみ測定システム、2 被測定物、3 亀裂、4 溶接部、5 保温材、6 構造物、10 第1レーザ変位計、11 発光部、12 第1反射体、13 受光部、20 第2レーザ変位計、21 発光部、22 第2反射体、23 受光部、30 第3レーザ変位計、31 発光部、32 第3反射体、33 受光部、40 第4レーザ変位計、41 発光部、42 第4反射体、43 受光部、100 レーザ変位計
DESCRIPTION OF
Claims (11)
被測定物の表面から所定距離離れた前記被測定物とは異なる構造物に第1レーザ変位計と第2レーザ変位計とを固定し、
被測定物の表面の測定対象部位の近傍に、第1反射体と第2反射体とを、いずれもその反射面を前記構造物の方向に向けて隣接して配置し、
前記第1反射体の反射面は、前記被測定物の表面に生じたひずみに因る前記第1反射体の変位量に応じて前記第1レーザ変位計との間の距離が変化する形状を呈し、
前記第2反射体の反射面は、前記被測定物の表面に生じたひずみに因り前記第1反射体が変位しても前記第2レーザ変位計との間の距離が変化しない形状を呈し、
前記第1レーザ変位計の発光部から前記第1反射体に向けて出射した第1レーザ光を前記第1反射体の反射面で反射させて前記第1レーザ変位計の受光部に入射させた場合における前記第1レーザ光の行路である第1行路の変化量を前記第1レーザ変位計により測定し、
前記第2レーザ変位計の発光部から前記第2反射体に向けて出射した第2レーザ光を前記第2反射体の反射面で反射させて前記第2レーザ変位計の受光部に入射させた場合における前記第2レーザ光の行路である第2行路の変化量を前記第2レーザ変位計により測定し、
前記第1行路の変化量及び前記第2行路の変化量との差に基づき、前記測定対象部位に生じるひずみを求める
ひずみ測定方法。 A method for measuring strain generated on the surface of an object to be measured,
Fixing the first laser displacement meter and the second laser displacement meter to a structure different from the object to be measured that is separated from the surface of the object to be measured by a predetermined distance;
In the vicinity of the measurement target site on the surface of the object to be measured, both the first reflector and the second reflector are arranged adjacent to each other with the reflecting surface facing the direction of the structure,
The reflecting surface of the first reflector has a shape in which the distance from the first laser displacement meter changes according to the amount of displacement of the first reflector due to the strain generated on the surface of the object to be measured. Present,
The reflective surface of the second reflector exhibits a shape in which the distance from the second laser displacement meter does not change even when the first reflector is displaced due to strain generated on the surface of the object to be measured.
The first laser light emitted from the light emitting portion of the first laser displacement meter toward the first reflector is reflected by the reflecting surface of the first reflector and is incident on the light receiving portion of the first laser displacement meter. A change amount of the first path which is a path of the first laser light in a case is measured by the first laser displacement meter,
The second laser light emitted from the light emitting portion of the second laser displacement meter toward the second reflector is reflected by the reflecting surface of the second reflector and is incident on the light receiving portion of the second laser displacement meter. A change amount of a second path which is a path of the second laser light in a case is measured by the second laser displacement meter,
A strain measurement method for obtaining strain generated in the measurement target part based on a difference between the change amount of the first route and the change amount of the second route.
前記被測定物の表面から所定距離離れた前記被測定物とは異なる構造物に第3レーザ変位計と第4レーザ変位計とを固定し、
前記被測定物の表面の測定対象部位の近傍に、第3反射体と第4反射体とを、いずれもその反射面を前記構造物の方向に向けて隣接して配置し、
前記第1反射体及び第2反射体の組と前記第3反射体及び第4反射体の組とを、前記測定対象部位を夫々の間に挟むように配置し、
前記第3反射体の反射面は、前記被測定物の表面に生じたひずみに因る前記第3反射体の変位量に応じて前記第3レーザ変位計との間の距離が変化する形状を呈し、
前記第4反射体の反射面は、前記被測定物の表面に生じたひずみに因り前記第4反射体が変位しても前記第4レーザ変位計との間の距離が変化しない形状を呈し、
前記第3レーザ変位計の発光部から前記第3反射体に向けて出射した第3レーザ光を前記第3反射体の反射面で反射させて前記第3レーザ変位計の受光部に入射させた場合における前記第3レーザ光の行路である第3行路の変化量を前記第3レーザ変位計により測定し、
前記第4レーザ変位計の発光部から前記第4反射体に向けて出射した第4レーザ光を前記第4反射体の反射面で反射させて前記第4レーザ変位計の受光部に入射させた場合における前記第4レーザ光の行路である第4行路の変化量を前記第4レーザ変位計により測定し、
前記第1行路の変化量から前記第2行路の変化量を差し引いた値と、前記第3行路の変化量から前記第4行路の変化量を差し引いた値との和を求めることにより、前記測定対象部位に生じるひずみを求める
ひずみ測定方法。 The strain measurement method according to claim 1,
Fixing the third laser displacement meter and the fourth laser displacement meter to a structure different from the object to be measured that is separated from the surface of the object to be measured by a predetermined distance;
In the vicinity of the measurement target site on the surface of the object to be measured, the third reflector and the fourth reflector are both arranged adjacent to each other with the reflecting surface directed toward the structure,
The set of the first reflector and the second reflector and the set of the third reflector and the fourth reflector are arranged so that the measurement target part is sandwiched therebetween,
The reflective surface of the third reflector has a shape in which the distance from the third laser displacement meter changes according to the amount of displacement of the third reflector due to the strain generated on the surface of the object to be measured. Present,
The reflective surface of the fourth reflector exhibits a shape in which the distance from the fourth laser displacement meter does not change even when the fourth reflector is displaced due to distortion generated on the surface of the object to be measured,
The third laser light emitted from the light emitting portion of the third laser displacement meter toward the third reflector is reflected by the reflecting surface of the third reflector and is incident on the light receiving portion of the third laser displacement meter. A change amount of a third path which is a path of the third laser light in a case is measured by the third laser displacement meter,
The fourth laser light emitted from the light emitting portion of the fourth laser displacement meter toward the fourth reflector is reflected by the reflecting surface of the fourth reflector and is incident on the light receiving portion of the fourth laser displacement meter. The amount of change in the fourth path, which is the path of the fourth laser light in the case, is measured by the fourth laser displacement meter,
By calculating the sum of the value obtained by subtracting the change amount of the second route from the change amount of the first route and the value obtained by subtracting the change amount of the fourth route from the change amount of the third route. Strain measurement method to obtain the strain generated in the target part.
前記第1反射体の反射面は、前記ひずみが生じる方向に沿って前記第2レーザ変位計との間の距離が直線的に変化するように傾斜する斜面形状であり、
前記第2反射体の反射面は、前記ひずみが生じる方向に平行な平面形状であり、
前記第3反射体の反射面は、前記ひずみが生じる方向に沿って前記第3レーザ変位計との間の距離が直線的に変化する斜面形状であり、
前記第4反射体の反射面は、前記ひずみが生じる方向に平行な平面形状である
ひずみ測定方法。 The strain measuring method according to claim 2,
The reflection surface of the first reflector has a slope shape that is inclined so that a distance between the second laser displacement meter and the second laser displacement meter changes linearly along a direction in which the distortion occurs.
The reflection surface of the second reflector has a planar shape parallel to the direction in which the distortion occurs,
The reflective surface of the third reflector has a slope shape in which the distance between the third laser displacement meter and the third laser displacement meter changes linearly along the direction in which the distortion occurs.
The reflection surface of the fourth reflector has a planar shape parallel to the direction in which the distortion occurs.
被測定物の表面から所定距離離れた前記被測定物とは異なる構造物に固定される、第1レーザ変位計及び第2レーザ変位計と、
被測定物の表面の測定対象部位の近傍に、いずれもその反射面を前記構造物の方向に向けて隣接して配置される、第1反射体と第2反射体と、
を備え、
前記第1反射体の反射面は、前記被測定物の表面に生じたひずみに因る前記第1反射体の変位量に応じて前記第1レーザ変位計との間の距離が変化する形状を呈し、
前記第2反射体の反射面は、前記被測定物の表面に生じたひずみに因り前記第1反射体が変位しても前記第2レーザ変位計との間の距離が変化しない形状を呈し、
前記第1レーザ変位計は、前記第1レーザ変位計の発光部から前記第1反射体に向けて出射した第1レーザ光を前記第1反射体の反射面で反射させて前記第1レーザ変位計の受光部に入射させた場合における前記第1レーザ光の行路である第1行路の変化量を測定し、
前記第2レーザ変位計は、前記第2レーザ変位計の発光部から前記第2反射体に向けて出射した第2レーザ光を前記第2反射体の反射面で反射させて前記第2レーザ変位計の受光部に入射させた場合における前記第2レーザ光の行路である第2行路の変化量を測定する
ひずみ測定システム。 A measurement system for strain generated on the surface of an object to be measured,
The device under test a predetermined distance away from the surface of the object Ru fixed to different structures, a first laser displacement gauge and a second laser displacement gauge,
A first reflector and a second reflector, both of which are arranged adjacent to the measurement target portion of the surface of the object to be measured, with the reflecting surfaces thereof facing toward the structure,
With
The reflecting surface of the first reflector has a shape in which the distance from the first laser displacement meter changes according to the amount of displacement of the first reflector due to the strain generated on the surface of the object to be measured. Present,
The reflective surface of the second reflector exhibits a shape in which the distance from the second laser displacement meter does not change even when the first reflector is displaced due to strain generated on the surface of the object to be measured.
The first laser displacement meter reflects the first laser light emitted from the light emitting portion of the first laser displacement meter toward the first reflector by the reflection surface of the first reflector, thereby causing the first laser displacement meter to Measuring the amount of change of the first path, which is the path of the first laser light, when entering the light receiving portion of the meter,
The second laser displacement meter reflects the second laser light emitted from the light emitting portion of the second laser displacement meter toward the second reflector by the reflection surface of the second reflector, thereby causing the second laser displacement meter. A strain measurement system for measuring a change amount of a second path, which is a path of the second laser light, when being incident on a light receiving portion of a meter.
前記被測定物の表面から所定距離離れた前記被測定物とは異なる構造物に固定される、第3レーザ変位計と第4レーザ変位計と、
前記被測定物の表面の測定対象部位の近傍に、いずれもその反射面を前記構造物の方向に向けて隣接して配置される、第3反射体と第4反射体と、
を更に備え、
前記第1反射体及び第2反射体の組と前記第3反射体及び第4反射体の組とは、前記測定対象部位を夫々の間に挟むように配置され、
前記第3反射体の反射面は、前記被測定物の表面に生じたひずみに因る前記第3反射体の変位量に応じて前記第3レーザ変位計との間の距離が変化する形状を呈し、
前記第4反射体の反射面は、前記被測定物の表面に生じたひずみに因り前記第4反射体が変位しても前記第4レーザ変位計との間の距離が変化しない形状を呈し、
前記第3レーザ変位計は、前記第3レーザ変位計の発光部から前記第3反射体に向けて出射した第3レーザ光を前記第3反射体の反射面で反射させて前記第3レーザ変位計の受光部に入射させた場合における前記第3レーザ光の行路である第3行路の変化量を測定し、
前記第4レーザ変位計は、前記第4レーザ変位計の発光部から前記第4反射体に向けて出射した第4レーザ光を前記第4反射体の反射面で反射させて前記第4レーザ変位計の受光部に入射させた場合における前記第4レーザ光の行路である第4行路の変化量を測定し、
ひずみ測定システム。 The strain measurement system according to claim 4,
Wherein Ru is secured to a different structure from that of the object to be measured a predetermined distance away from the surface of the object to be measured, and a third laser displacement meter and fourth laser displacement meter,
A third reflector and a fourth reflector, which are arranged adjacent to each other on the surface of the object to be measured, with their reflecting surfaces facing the direction of the structure,
Further comprising
The set of the first reflector and the second reflector and the set of the third reflector and the fourth reflector are arranged so as to sandwich the measurement target portion therebetween,
The reflective surface of the third reflector has a shape in which the distance from the third laser displacement meter changes according to the amount of displacement of the third reflector due to the strain generated on the surface of the object to be measured. Present,
The reflective surface of the fourth reflector exhibits a shape in which the distance from the fourth laser displacement meter does not change even when the fourth reflector is displaced due to distortion generated on the surface of the object to be measured,
The third laser displacement meter reflects the third laser light emitted from the light emitting portion of the third laser displacement meter toward the third reflector by the reflecting surface of the third reflector, thereby causing the third laser displacement meter to Measuring the amount of change of the third path, which is the path of the third laser light, when entering the light receiving portion of the meter,
The fourth laser displacement meter reflects the fourth laser light emitted from the light emitting portion of the fourth laser displacement meter toward the fourth reflector by the reflection surface of the fourth reflector, thereby causing the fourth laser displacement meter. Measure the amount of change of the fourth path, which is the path of the fourth laser light when entering the light receiving portion of the meter,
Strain measurement system.
前記第1反射体の反射面は、前記ひずみが生じる方向に沿って前記第2レーザ変位計との間の距離が直線的に変化するように傾斜する斜面形状であり、
前記第2反射体の反射面は、前記ひずみが生じる方向に平行な平面形状であり、
前記第3反射体の反射面は、前記ひずみが生じる方向に沿って前記第3レーザ変位計との間の距離が直線的に変化する斜面形状であり、
前記第4反射体の反射面は、前記ひずみが生じる方向に平行な平面形状である
ひずみ測定システム。 The strain measurement system according to claim 5,
The reflection surface of the first reflector has a slope shape that is inclined so that a distance between the second laser displacement meter and the second laser displacement meter changes linearly along a direction in which the distortion occurs.
The reflection surface of the second reflector has a planar shape parallel to the direction in which the distortion occurs,
The reflective surface of the third reflector has a slope shape in which the distance between the third laser displacement meter and the third laser displacement meter changes linearly along the direction in which the distortion occurs.
The reflection surface of the fourth reflector has a planar shape parallel to the direction in which the distortion occurs.
前記第1反射体の反射面及び前記第2反射体の反射面は、金属板又はセラミックス板で構成されている、
ひずみ測定システム。 The strain measurement system according to claim 4,
The reflective surface of the first reflector and the reflective surface of the second reflector are made of a metal plate or a ceramic plate.
Strain measurement system.
前記第1反射体の反射面及び前記第2反射体の反射面は、鏡面加工が施された金属膜の表面にサファイアガラスをコーティングした構造を有する、
ひずみ測定システム。 The strain measurement system according to claim 4,
The reflective surface of the first reflector and the reflective surface of the second reflector have a structure in which a sapphire glass is coated on the surface of a mirror-finished metal film,
Strain measurement system.
前記第1反射体乃至前記第4反射体の反射面は、金属板又はセラミックス板で構成されている、
ひずみ測定システム。 The strain measurement system according to claim 5,
The reflection surface of the first reflector to the fourth reflector is composed of a metal plate or a ceramic plate.
Strain measurement system.
前記第1反射体乃至前記第4反射体の反射面は、鏡面加工が施された金属膜の表面にサファイアガラスをコーティングした構造を有する、
ひずみ測定システム。 The strain measurement system according to claim 5,
The reflective surfaces of the first reflector to the fourth reflector have a structure in which sapphire glass is coated on the surface of a mirror-finished metal film,
Strain measurement system.
前記被測定物は、火力発電プラントの高温配管であり、前記構造物は、前記火力発電プラントが収容されている建屋の一部である
ひずみ測定システム。 The strain measurement system according to any one of claims 4 to 10,
The measurement object is a high-temperature pipe of a thermal power plant, and the structure is a part of a building in which the thermal power plant is accommodated.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2015/053616 WO2016129051A1 (en) | 2015-02-10 | 2015-02-10 | Strain measurement method and strain measurement system |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2016129051A1 JPWO2016129051A1 (en) | 2017-04-27 |
JP6150014B2 true JP6150014B2 (en) | 2017-06-21 |
Family
ID=56614460
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016538123A Expired - Fee Related JP6150014B2 (en) | 2015-02-10 | 2015-02-10 | Strain measuring method and strain measuring system |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6150014B2 (en) |
WO (1) | WO2016129051A1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101987892B1 (en) * | 2017-12-27 | 2019-06-12 | 한국전력공사 | Device for Measuring Eccentricity of GIS Tank |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113167572A (en) * | 2018-12-04 | 2021-07-23 | 优尼冲压株式会社 | Method for determining necking of press-formed product, device for determining necking of press-formed product, and program |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11344395A (en) * | 1998-06-02 | 1999-12-14 | Systemseiko Co Ltd | Method and device for detecting deformation of rotary shaft |
JP4549548B2 (en) * | 2000-09-18 | 2010-09-22 | 三菱電機株式会社 | Rotation position detector |
JP2002214097A (en) * | 2001-01-17 | 2002-07-31 | Sumitomo Chem Co Ltd | Tensile testing method for rubber/plastic |
JP2005129155A (en) * | 2003-10-23 | 2005-05-19 | Hitachi Ltd | Optical pickup and optical disk device |
JP2013217851A (en) * | 2012-04-11 | 2013-10-24 | Toshiba Corp | Moisture detecting device for gas insulation apparatus, and moisture detecting method for gas insulation apparatus |
EP2950041B1 (en) * | 2013-01-25 | 2018-06-20 | The Chugoku Electric Power Co., Inc. | System and method for distance measurement |
-
2015
- 2015-02-10 JP JP2016538123A patent/JP6150014B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2015-02-10 WO PCT/JP2015/053616 patent/WO2016129051A1/en active Application Filing
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101987892B1 (en) * | 2017-12-27 | 2019-06-12 | 한국전력공사 | Device for Measuring Eccentricity of GIS Tank |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPWO2016129051A1 (en) | 2017-04-27 |
WO2016129051A1 (en) | 2016-08-18 |
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A521 | Request for written amendment filed |
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