JP6119620B2 - Solder discrimination method and printed circuit board - Google Patents
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Description
本発明は、プリント配線板に用いられた半田が鉛フリー半田および鉛半田のいずれであるかを判別する半田判別方法、および鉛フリー半田で実装されている電子部品を備えたプリント回路板に関する。 The present invention relates to a solder discrimination method for discriminating whether a solder used for a printed wiring board is a lead-free solder or a lead solder, and a printed circuit board including an electronic component mounted with the lead-free solder.
近年では、鉛を含有する半田(鉛半田)に替えて、鉛を含有しない鉛フリー半田を用いる要求が高くなってきている。そして、鉛半田を用いた製品と鉛フリー半田を用いた製品とを、1つの生産設備で切り替えて生産する場合がある。この場合には、鉛半田を用いる予定の製品に誤って鉛フリー半田を用いるおそれや、鉛フリー半田を用いる予定の製品に誤って鉛半田を用いるおそれが生じる。 In recent years, there has been an increasing demand for using lead-free solder that does not contain lead in place of solder containing lead (lead solder). In some cases, a product that uses lead solder and a product that uses lead-free solder are switched by a single production facility. In this case, there is a fear that lead-free solder is erroneously used for a product scheduled to use lead solder, or that lead solder is erroneously used for a product scheduled to use lead-free solder.
この問題に対し特許文献1には、鉛フリー半田と鉛半田を判別する方法が以下のように開示されている。すなわち、電子部品が実装される本来のランドとは別に、ダミーの判別用ランドをプリント配線板に形成しておき、判別用ランドの中央部分にペースト状の半田を塗布しておく。すると、その後のリフロー工程により半田が溶融して判別用ランド上で拡がる際に、その拡がり面積は、濡れ性の高い半田であるほど大きくなる。つまり、濡れ性の高い鉛半田の場合には、濡れ性の低い鉛フリー半田の場合に比べて拡がり面積が大きくなる。そこで特許文献1では、判別用ランドにおける半田の拡がり面積を計測し、その計測値が閾値よりも小さい場合に鉛フリー半田、閾値よりも大きい場合に鉛半田であると判別している。
With respect to this problem,
しかしながら、上述した拡がり面積を精度良く計測することは困難であり、計測誤差が大きい。よって、特許文献1の判別方法では、鉛フリー半田と鉛半田の判別を誤るおそれがある。
However, it is difficult to accurately measure the above-described spread area, and the measurement error is large. Therefore, in the discrimination method of
本発明は、上記問題を鑑みてなされたもので、その目的は、鉛フリー半田および鉛半田のいずれであるかを高精度で判別できるようにした半田判別方法を提供することにある。また、他の目的は、鉛フリー半田が用いられたプリント回路板であって、正常に鉛フリー半田が用いられていることを確認可能にしたプリント回路板を提供することにある。 The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a solder discrimination method that can discriminate between lead-free solder and lead solder with high accuracy. Another object of the present invention is to provide a printed circuit board using lead-free solder, which can confirm that lead-free solder is normally used.
ここに開示される発明は上記目的を達成するために以下の技術的手段を採用する。なお、特許請求の範囲およびこの項に記載した括弧内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示すものであって、発明の技術的範囲を限定するものではない。 The invention disclosed herein employs the following technical means to achieve the above object. Note that the reference numerals in parentheses described in the claims and in this section indicate the correspondence with the specific means described in the embodiments described later, and do not limit the technical scope of the invention. .
開示される発明のひとつは半田判別方法である。この半田判別方法は、プリント配線板(12、120)に塗布された半田が鉛フリー半田(Sf)および鉛半田(Sp)のいずれであるかを判別する半田判別方法であり、以下の特徴を有する。 One of the disclosed inventions is a solder discrimination method. This solder discrimination method is a solder discrimination method for discriminating whether the solder applied to the printed wiring boards (12, 120) is lead-free solder (Sf) or lead solder (Sp). Have.
すなわち、絶縁基板にランドを形成してプリント配線板(12)を製造するにあたり、電子部品(13、14、15)が実装されるランド(R1、R2、R3)とは別に、ダミーの判別用ランド(R)を形成するランド形成工程(P1)と、ランドおよび判別用ランドに、ペースト状の半田(S、Sf、Sp)を塗布する塗布工程(P2)と、ペースト状の半田を加熱して溶融させるリフロー工程(P4)と、溶融後に固化した半田の外観を検査する外観検査工程(P5)と、を備える。そして、塗布工程では、判別用ランドにペースト状の半田を塗布するにあたり、該半田の第1部分(Sp1、Sf1)と第2部分(Sp2、Sf2)の間に所定の隙間(SL、SLa)が形成されるように塗布し、外観検査工程では、リフロー後の半田に隙間が存在するか否かを外観検査し、隙間が存在するとの検査結果である場合には鉛フリー半田であると判別し、隙間が存在しないとの検査結果である場合には鉛半田であると判別することを特徴とする。 That is, when manufacturing a printed wiring board (12) by forming a land on an insulating substrate, a dummy discrimination is performed separately from the lands (R1, R2, R3) on which the electronic components (13, 14, 15) are mounted. A land forming step (P1) for forming a land (R), a coating step (P2) for applying paste-like solder (S, Sf, Sp) to the land and the discrimination land, and heating the paste-like solder. And a reflow step (P4) for melting and an appearance inspection step (P5) for inspecting the appearance of the solidified solder after melting. In the application step, when applying the paste-like solder to the discrimination land, a predetermined gap (SL, SLa) is provided between the first part (Sp1, Sf1) and the second part (Sp2, Sf2) of the solder. In the appearance inspection process, the appearance inspection is performed to determine whether or not there is a gap in the reflowed solder. If the inspection result indicates that there is a gap, it is determined that the solder is lead-free solder. However, if the inspection result indicates that there is no gap, it is determined that the solder is lead solder.
この発明は、鉛半田の方が鉛フリー半田に比べて濡れ性が高く、リフロー工程において、溶融してランド上で拡がる範囲が広いことを利用している。すなわち、塗布工程において鉛半田を用いた場合には、リフロー工程を実施すると、鉛フリー半田を用いた場合に比べて広範囲に拡がる。よって、鉛半田を用いた場合には、溶融して拡がった半田が隙間を埋め、鉛フリー半田を用いた場合には、溶融して拡がっても隙間が埋まらないように、上記隙間の大きさを設定することができる。 The present invention utilizes the fact that lead solder has higher wettability than lead-free solder and has a wide range of melting and spreading on the land in the reflow process. That is, in the case where lead solder is used in the coating process, if the reflow process is performed, the range is expanded over a wider range than in the case where lead-free solder is used. Therefore, when using lead solder, the melted and expanded solder fills the gap, and when using lead-free solder, the size of the gap is such that the gap is not filled even when melted and expanded. Can be set.
この点を鑑みた本発明では、判別用ランドにペースト状の半田を塗布するにあたり、該半田の第1部分と第2部分の間に所定の隙間を形成しておく。そして、リフロー後の半田に隙間が存在するか否かを外観検査し、隙間が存在する場合には鉛フリー半田、隙間が存在しない場合には鉛半田であると判別する。そのため、従来の如く半田の拡がり面積を計測することを不要にして、隙間の有無を外観検査することで半田の判別が可能になるので、鉛フリー半田および鉛半田のいずれであるかを高精度で判別できるようになる。 In view of this point, in the present invention, when applying the paste-like solder to the discrimination land, a predetermined gap is formed between the first portion and the second portion of the solder. Then, an appearance inspection is performed to determine whether or not there is a gap in the solder after reflow. If there is a gap, it is determined that the solder is lead-free solder, and if there is no gap, the solder is determined to be lead solder. Therefore, it is not necessary to measure the spread area of solder as in the past, and it is possible to discriminate solder by visual inspection for the presence or absence of gaps, so it is highly accurate whether it is lead-free solder or lead solder Can be discriminated.
開示される発明のひとつはプリント回路板である。このプリント回路板は、プリント配線板(12)と、プリント配線板のランド(R1、R2、R3)に実装される電子部品(13、14、15)と、を備えることを前提とし、以下の特徴を有する。 One of the disclosed inventions is a printed circuit board. This printed circuit board is based on the premise that it includes a printed wiring board (12) and electronic components (13, 14, 15) mounted on lands (R1, R2, R3) of the printed wiring board. Has characteristics.
すなわち、プリント配線板は、ランドとは別に、電子部品が実装されていないダミーの判別用ランド(R)を有し、ランドおよび判別用ランドには、リフロー方式により鉛フリー半田(S、Sf)が接続されており、判別用ランドに接続された鉛フリー半田は、該鉛フリー半田の第1部分(Sf1)と第2部分(Sf2)の間に所定の隙間(SL、SLa)を有する形状であることを特徴とする。 That is, the printed wiring board has a dummy discrimination land (R) on which an electronic component is not mounted separately from the land, and the land and the discrimination land have lead-free solder (S, Sf) by a reflow method. The lead-free solder connected to the discrimination land has a shape having a predetermined gap (SL, SLa) between the first part (Sf1) and the second part (Sf2) of the lead-free solder. It is characterized by being.
この発明によれば、リフロー後に隙間が存在することを確認することで、正常に鉛フリー半田が用いられていることを確認できる。その理由を以下に説明する。先ず、鉛半田の方が鉛フリー半田に比べて濡れ性が高く、リフロー時にランド上を拡がる範囲が広い。したがって、鉛半田を用いた場合には溶融した半田により隙間が埋められ、鉛フリー半田を用いた場合には隙間が埋まらないように上記隙間の大きさを設定することができる。このように設定しておけば、正常に鉛フリー半田が用いられた場合にはリフロー後であっても隙間が存在し、誤って鉛半田が用いられた場合にはリフロー後には隙間が存在しなくなる。よって、隙間の存在を確認することで鉛フリー半田が用いられていることを確認できる。 According to the present invention, it can be confirmed that lead-free solder is normally used by confirming that a gap exists after reflow. The reason will be described below. First, lead solder has higher wettability than lead-free solder, and has a wider range of expansion on the land during reflow. Therefore, the size of the gap can be set so that the gap is filled with molten solder when lead solder is used, and the gap is not filled when lead-free solder is used. With this setting, there is a gap even after reflow when lead-free solder is used normally, and there is a gap after reflow when lead solder is used by mistake. Disappear. Therefore, it can be confirmed that lead-free solder is used by confirming the existence of the gap.
以下、本発明にかかる半田判別方法およびプリント回路板を、車両に搭載されたメータ装置に適用した各実施形態について、図面を参照しつつ説明する。以下、各形態において、先行する形態で説明した事項に対応する部分には同一の参照符号を付して重複する説明を省略する場合がある。各形態において、構成の一部のみを説明している場合は、構成の他の部分については先行して説明した他の形態を参照し適用することができる。 Embodiments in which a solder discrimination method and a printed circuit board according to the present invention are applied to a meter device mounted on a vehicle will be described below with reference to the drawings. Hereinafter, in each embodiment, the same reference numerals are given to portions corresponding to the matters described in the preceding embodiment, and redundant description may be omitted. In each embodiment, when only a part of the configuration is described, the other configurations described above can be applied to other portions of the configuration.
(第1実施形態)
図1に示すメータ装置10は、ケース11内にプリント配線板12を収容して構成されている。プリント配線板12には、マイクロコンピュータ(マイコン13)、モータ14およびコネクタ15等の電子部品が実装されている。コネクタ15を通じて外部から取得した車両情報に基づき、マイコン13がモータ14の作動を制御する。モータ14には図示しない指針が接続されており、車両情報に応じた車速等の物理量を示す目盛りを、指針が回転して指示するように構成されている。
(First embodiment)
A
これらの電子部品は、プリント配線板12のランドR1、R2、R3に実装されている。例えば、マイコン13の端子13aはランドR1に表面実装されている。さらにプリント配線板12は、電子部品が実装される本来のランドR1、R2、R3とは別に、ダミーの判別用ランドRを有する。
These electronic components are mounted on the lands R1, R2, and R3 of the printed
ランドR1、R2、R3および判別用ランドRには、リフロー方式により鉛フリー半田S、Sfが接続されている。判別用ランドRに接続された鉛フリー半田Sfは、該鉛フリー半田の第1部分Sf1と第2部分Sf2の間に所定の隙間(スリットSL)を有する形状である。スリットSLは判別用ランドRを横断するスリット形状であるため、第1部分Sf1と第2部分Sf2は互いに接することなく、判別用ランドR上で分離している。 Lead-free solders S and Sf are connected to the lands R1, R2, and R3 and the discrimination land R by a reflow method. The lead-free solder Sf connected to the discrimination land R has a shape having a predetermined gap (slit SL) between the first portion Sf1 and the second portion Sf2 of the lead-free solder. Since the slit SL has a slit shape that crosses the discrimination land R, the first portion Sf1 and the second portion Sf2 are separated from each other on the discrimination land R without contacting each other.
図2中の符号B6は、鉛フリー半田が用いられたプリント回路板を示しており、図1に示すプリント配線板12に電子部品が実装されたものである。このプリント回路板B6は、鉛フリー半田用の製造ラインLBにより、符号B1、B2、B3、B4、B5に示す状態を経て製造される。一方、符号A6は、鉛半田が用いられたプリント回路板を示す。このプリント回路板A6は、鉛半田用の製造ラインLAにより、符号A1、A2、A3、A4、A5に示す状態を経て製造される。
Reference sign B6 in FIG. 2 indicates a printed circuit board using lead-free solder, and an electronic component is mounted on the printed
半田の材質が異なる点以外については、各々の製造ラインLA、LBで製造されたプリント回路板A6、B6は同一の構成である。これらの製造ラインLA、LBには、共通する製造装置が設置されており、製造手順も同一である。したがって、鉛半田用の製造ラインLAを鉛フリー半田用に切り替えたり、鉛フリー半田用の製造ラインLBを鉛半田用に切り替えたりすることが可能である。 The printed circuit boards A6 and B6 manufactured in the respective manufacturing lines LA and LB have the same configuration except that the solder material is different. In these production lines LA and LB, a common production apparatus is installed, and the production procedure is the same. Therefore, the lead solder production line LA can be switched to lead-free solder, or the lead-free solder production line LB can be switched to lead solder.
以下、鉛フリー半田用の製造ラインLBの設備について説明する。先ず、鉛フリー半田用の製造ラインLBには、プリント配線板B1が搬入される。このプリント配線板B1は、図示しないプリント配線、図1に示すランドR1、R2、R3および判別用ランドRが絶縁基板に形成されたものである。搬入されたプリント配線板B1は、印刷機20へ送り込まれる。
Hereinafter, the equipment of the production line LB for lead-free solder will be described. First, the printed wiring board B1 is carried into the production line LB for lead-free solder. This printed wiring board B1 has printed wiring (not shown), lands R1, R2, R3 and a discrimination land R shown in FIG. 1 formed on an insulating substrate. The loaded printed wiring board B1 is sent to the
印刷機20は、プリント配線板B1のランドR1、R2、R3および判別用ランドRに、ペースト状の半田を印刷する。この半田には鉛フリー半田が用いられている。作業員HBは、鉛フリー半田が入ったカートリッジCを印刷機20に投入する。この投入作業において、誤って鉛半田が入ったカートリッジCPbを投入すると、鉛フリー半田が用いられる予定のプリント回路板A6に、誤って鉛半田が用いられることとなる。ペースト状の半田が印刷されたプリント配線板B2は、部品載置機30へ送り込まれる。
The
部品載置機30は、マイコン13、モータ14およびコネクタ15等の電子部品を、プリント配線板B2の所定位置に載せる。例えば、ランドR1に印刷された半田上にマイコン13の端子13aが位置するように、プリント配線板B2上にマイコン13を載せる。各種電子部品が載置された状態のプリント配線板B3は、リフロー機40へ送り込まれる。
The
リフロー機40は、ペースト状の半田を加熱して溶融させる。例えば、赤外線や熱風等を生じさせる加熱手段を用いてプリント配線板B3の全体を加熱してもよいし、レーザー等の加熱手段を用いて半田の部分を局部的に加熱してもよい。加熱されて溶融した半田は、その後徐々に冷却されて固化する。これにより、電子部品は、ランドR1、R2、R3に半田を介して電気接続され、半田付けによりプリント配線板B3に実装されることとなる。電子部品が実装された状態のプリント配線板B4、つまりプリント回路板は、半田付け外観検査機50へ送り込まれる。
The
外観検査機50は、半田付けの状態を検査して良否判定する。具体的には、溶融後に固化した半田の外観を検査することで、半田量の過不足や、半田ブリッジによる短絡の有無を判定する。さらに外観検査機50は、判別用ランドRに在る半田の外観を検査することで、その半田が鉛フリー半田および鉛半田のいずれであるかを判別する。つまり、鉛フリー半田用の製造ラインLBに設置された外観検査機50は、鉛半田であると判別した場合、半田種別異常であると判定する。一方、鉛半田用の製造ラインLAに設置された外観検査機50は、鉛フリー半田であると判別した場合、半田種別異常であると判定する。外観検査機50による半田種類の判別方法については、図4〜図22を用いて後に詳述する。
The
外観検査機50による検査に合格したプリント回路板B5は、電気検査装置60へ送り込まれる。電気検査装置60は、プリント回路板B5の所定箇所に通電して、回路が正常に作動するか否かを検査する。電気検査装置60による検査に合格したプリント回路板B6は、製造ラインLBの外部へ搬出される。
The printed circuit board B <b> 5 that has passed the inspection by the
外観検査機50による検査結果の情報は、統合管理装置70へ送信される。統合管理装置70は、送信されてきた検査結果を記録するとともに、半田接続不良または半田種別異常との検査結果が送信されてきた場合にはその旨を作業員Hに報知する。これにより、作業員Hは、報知内容に応じて製造ラインLA、LBを操作することができる。例えば、半田種別異常と報知された場合には、該当する製造ラインを直ちに停止させるように操作して、半田種別異常のプリント回路板(不良品)の製造個数を最小限に止めることができる。
Information on the inspection result by the
図3は、以上に説明したプリント回路板A6、B6の製造手順を示すフローチャートである。先ず、第1手順P1(ランド形成工程)において、ランドR1、R2、R3および判別用ランドRを絶縁基板に形成してプリント配線板A1、B1を製造する。この第1手順P1は、製造ラインLA、LBの前手順で実施される。 FIG. 3 is a flowchart showing a manufacturing procedure of the printed circuit boards A6 and B6 described above. First, in the first procedure P1 (land formation step), the lands R1, R2, and R3 and the discrimination land R are formed on an insulating substrate to manufacture printed wiring boards A1 and B1. The first procedure P1 is performed in the pre-procedure of the production lines LA and LB.
続く第2手順P2(塗布工程)では、印刷機20を用いて、ランドR1、R2、R3および判別用ランドRにペースト状の半田を印刷する。この印刷時には、判別用ランドRのうち先述したスリットSLが設けられる位置にはマスキングが施されており、これにより、判別用ランドRに印刷された半田Sp、Sf(図4参照)にはスリットSLが形成される。
In the subsequent second procedure P2 (application process), paste-like solder is printed on the lands R1, R2, R3 and the discrimination land R using the
続く第3手順P3では、部品載置機30を用いて、プリント配線板A2、B2の所定位置に電子部品を載せる。続く第4手順P4(リフロー工程)では、リフロー機40を用いて、ランドR1、R2、R3および判別用ランドRに印刷されたペースト状の半田を溶融させる。そして、溶融した半田を徐々に冷却して固化させることで、ランドR1、R2、R3に電子部品が半田で電気接続される。この時、判別用ランドRに印刷されたペースト状の半田も溶融し、その後固化する。
In the following third procedure P3, electronic components are placed at predetermined positions on the printed wiring boards A2 and B2 using the
続く第5手順P5(外観検査工程)では、外観検査機50のカメラ51(図9参照)を用いて、半田部分の画像データを取得する。この画像データについては図19〜図21を用いて後に詳述する。続く第6手順P6では、外観検査機50の解析装置52(図9参照)を用いて、取得した画像データに基づき、半田付けの状態を良否判定するとともに、半田種別異常であるか否かを判定する。
In a subsequent fifth procedure P5 (appearance inspection step), image data of the solder portion is acquired using the camera 51 (see FIG. 9) of the
解析装置52により正常と判定された場合には、続く第7手順P7において、電気検査装置60を用いて回路が正常に作動するか否かを検査する。続く第8手順P8では、電気検査装置60の検査に合格したプリント回路板A6、B6を、製造ラインLA、LBから正常品として作業員が搬出する。一方、解析装置52により異常と判定された場合には、第9手順P9において、異常判定された製造ラインを作業員Hが緊急停止させる。
If the
次に、外観検査機50による半田種類の判別方法について説明する。
Next, a method for determining the solder type by the
図4は、リフロー前の状態において、判別用ランドRにペースト状の鉛半田Spが印刷された状態を示す正面図である。鉛半田Spの中央には、所定の隙間(スリットSL)が形成されている。換言すれば、スリットSLにより、ペースト状の鉛半田Spは、互いに接することのないように第1部分Sp1と第2部分Sp2に分離されている。 FIG. 4 is a front view showing a state in which the paste-like lead solder Sp is printed on the discrimination land R before the reflow. A predetermined gap (slit SL) is formed in the center of the lead solder Sp. In other words, the paste lead solder Sp is separated into the first portion Sp1 and the second portion Sp2 by the slit SL so as not to contact each other.
リフロー前の状態では、鉛フリー半田および鉛半田のいずれを用いた場合であっても、同一の外観である。つまり、鉛フリー半田Sfにおいても、図4と同様にして、鉛フリー半田Sfの中央にスリットSLが形成されている。換言すれば、スリットSLにより、鉛フリー半田Sfは、互いに接することのないように第1部分Sf1と第2部分Sf2に分離されている。 In the state before reflow, the appearance is the same regardless of whether lead-free solder or lead solder is used. That is, also in the lead-free solder Sf, the slit SL is formed in the center of the lead-free solder Sf as in FIG. In other words, the lead-free solder Sf is separated into the first part Sf1 and the second part Sf2 by the slit SL so as not to contact each other.
このように印刷された半田Sp、Sfは、リフロー工程にて溶融すると、濡れ性が発揮されて判別用ランドR上で拡がる。但し、鉛フリー半田Sfは、鉛半田Spに比べて濡れ性が低いため溶融時に拡がる面積が小さい。そのため、鉛半田Spの場合には、図5に示すようにスリットSLが鉛半田Spで埋め尽くされ、スリットSLが無くなる。つまり、分離していた第1部分Sp1と第2部分Sp2が繋がる。 When the solders Sp and Sf printed in this way are melted in the reflow process, the wettability is exhibited and the solder Sp and Sf spread on the discrimination land R. However, since the lead-free solder Sf has lower wettability than the lead solder Sp, the area that expands when melted is small. Therefore, in the case of the lead solder Sp, as shown in FIG. 5, the slit SL is filled with the lead solder Sp, and the slit SL disappears. That is, the separated first portion Sp1 and second portion Sp2 are connected.
一方、鉛フリー半田Sfの場合には、図6に示すようにスリットSLが鉛フリー半田Sfで埋め尽くされることはなく、スリットSLは残ったままとなる。つまり、分離していた第1部分Sf1と第2部分Sf2は、少なくとも一部において分離した状態が維持される。図6の例では、第1部分Sf1と第2部分Sf2の全体が分離したままであるが、スリットSLの中央部分以外の部分においては、第1部分Sf1と第2部分Sf2が部分的に繋がる場合も有り得る。 On the other hand, in the case of the lead-free solder Sf, the slit SL is not filled with the lead-free solder Sf as shown in FIG. 6, and the slit SL remains. That is, the separated first portion Sf1 and second portion Sf2 are maintained at least partially separated. In the example of FIG. 6, the entire first portion Sf1 and second portion Sf2 remain separated, but the first portion Sf1 and the second portion Sf2 are partially connected in a portion other than the central portion of the slit SL. There may be cases.
なお、表面張力の作用により、リフロー時に判別用ランドRから半田Sp、Sfがはみ出ることはなく、図7および図8に示すように判別用ランドR上にて半田Sp、Sfが隆起する。但し、鉛半田Spの場合には、第1部分Sp1と第2部分Sp2の全体が繋がった状態で隆起する(図7参照)。一方、鉛フリー半田Sfの場合には、第1部分Sf1と第2部分Sf2が分離した状態で、第1部分Sf1と第2部分Sf2の各々が隆起する(図8参照)。 Note that the solder Sp and Sf do not protrude from the discrimination land R during the reflow due to the surface tension, and the solder Sp and Sf rise on the discrimination land R as shown in FIGS. However, in the case of the lead solder Sp, the first part Sp1 and the second part Sp2 are raised together (see FIG. 7). On the other hand, in the case of the lead-free solder Sf, each of the first portion Sf1 and the second portion Sf2 is raised with the first portion Sf1 and the second portion Sf2 separated (see FIG. 8).
次に、図9〜図16を用いて、電子部品130の半田Sの状態を外観検査する手法について説明する。この外観検査は外観検査機50により実施され、半田接合の良否や半田ブリッジによる短絡の有無が検査される。図9に示すように、外観検査機50は、照明装置、カメラ51および解析装置52を備える。照明装置は、異なる色の光を照射する複数の光源50R、50G、50Bを備える。これらの光源50R、50G、50Bはリング状の発光面を有しており、赤色、緑色、青色で各々が発光する。光源50R、50G、50Bからプリント配線板12に向けて射出された光は、半田Sの部分で反射し、リング状発光面の中央に位置するカメラ51へ入射する。
Next, a method for inspecting the appearance of the solder S of the
光源50R、50G、50Bからの射出角度は、各々の光源50R、50G、50Bで異ならせてある。そのため、例えば、光源50R、50G、50Bからの射出光が半田Sで反射する角度(反射角θ)が所定範囲である場合に、反射光がカメラ51に入射して撮影され、画像データとして検出されることとなる。例えば、赤色光の場合には5°〜15°(図10参照)、緑色光の場合には15°〜25°(図11参照)、青色光の場合には25°〜38°(図12参照)が上記所定範囲に該当する。
The emission angles from the
したがって、半田Sのフィレット部分のうち図13中の符号S1に示す部分は主に青色の反射光が、符号S2に示す部分は主に緑色の反射光が、符号S3に示す部分は主に赤色の反射光がカメラ51へ入射する。そのため、図14に示すように、カメラ51で撮影された画像Iには、半田Sの形状に応じた色の分布が現れる。例えば、画像Iには、青色領域I1、緑色領域I2および赤色領域I3が含まれており、図13中の符号S1、S2、S3に示す部分に相当する。
Therefore, of the fillet portion of the solder S, the portion indicated by reference numeral S1 in FIG. 13 is mainly blue reflected light, the portion indicated by reference numeral S2 is mainly green reflected light, and the portion indicated by reference numeral S3 is mainly red. Reflected light enters the
図15中の縦軸は明度を示し、符号R、G、Bの各々は、赤色光、緑色光、青色光についての明度を示す。図15中の横軸(X軸)は、図13および図14中のX軸方向における位置を示す。要するに、図15は、図13および図14中のY軸方向における所定位置における赤色光、緑色光、青色光の、X軸方向における明度の分布を示す。 The vertical axis in FIG. 15 indicates the brightness, and each of the symbols R, G, and B indicates the brightness for red light, green light, and blue light. The horizontal axis (X-axis) in FIG. 15 indicates the position in the X-axis direction in FIGS. 13 and 14. In short, FIG. 15 shows the brightness distribution in the X-axis direction of red light, green light, and blue light at predetermined positions in the Y-axis direction in FIGS.
解析装置52は、カメラ51から出力された映像信号に基づき、図15に示す色分布の画像データを生成する。さらに解析装置52は、明度が閾値TH以上となっている色が、赤、緑、青のいずれであるかを解析(2値化処理)する。例えば、図15中の一点鎖線に示すように、X軸方向のうち矢印Bで示す領域については青、矢印Gで示す領域については緑、矢印Rで示す領域については赤であると解析される。
Based on the video signal output from the
図14は、正常な形状の半田Sの色分布を示すのに対し、図16は、半田Sが部品と接合していない場合の形状を示す色分布である。解析装置52は、色分布に基づき正常な形状であるか否かを判定する。例えば、図15の如く青色領域B、緑色領域G、赤色領域Rが交互に現れるといった色分布が、半田SのY軸方向の全域に亘って現れている場合に、正常な形状であると判定する。
FIG. 14 shows the color distribution of the solder S having a normal shape, while FIG. 16 shows the color distribution showing the shape when the solder S is not joined to the component. The
一方、図16に示す形状の場合には、交互に現れるといった色分布がY軸方向の中央部分で現れるものの、Y軸方向の両端部分では青色領域I1が現れなくなる。この場合には、異常な形状であると判定する。このように、外観検査機50は、色分布に基づき半田付けの状態を良否判定する。
On the other hand, in the case of the shape shown in FIG. 16, although the color distribution that appears alternately appears at the center portion in the Y-axis direction, the blue region I1 does not appear at both end portions in the Y-axis direction. In this case, it is determined that the shape is abnormal. As described above, the
さらに外観検査機50は、判別用ランドRに設けられた半田Sp、Sfについても色分布を検出し、その検出結果に基づき、半田種別異常であるか否かを次のように判定する。カメラ51による撮影範囲は、判別用ランドRのうち、リフロー前におけるスリットSLが存在する位置に設定されている。具体的には、図5〜図8中の一点鎖線に示す判別用ランドRの中央部分が撮影範囲Wiである。
Further, the
判別用ランドRに設けられた半田が鉛半田Spの場合、リフロー後にはスリットSLが無くなることは、図7を用いて先述した通りである。図7に示す鉛半田Spに対して光源50R、50G、50Bからの光を照射すると、プリント配線板12に対して垂直な方向に反射する光は、図17に示す分布となる。すなわち、鉛半田Spのうち符号Srに示す領域が主に赤色、符号Sgに示す領域が主に緑色である。
As described above with reference to FIG. 7, when the solder provided on the discrimination land R is lead solder Sp, the slit SL disappears after reflow. When the lead solder Sp shown in FIG. 7 is irradiated with light from the
判別用ランドRに設けられた半田が鉛フリー半田Sfの場合、リフロー後においてもスリットSLが存在することは、図8を用いて先述した通りである。図8に示す鉛フリー半田Sfに対して光源50R、50G、50Bからの光を照射すると、プリント配線板12に対して垂直な方向に反射する光は、図18に示す分布となる。すなわち、鉛フリー半田Sfのうち符号Srに示す領域が主に赤色、符号Sgに示す領域が主に緑色、符号Sbに示す領域が主に青色である。
When the solder provided on the discrimination land R is lead-free solder Sf, the slit SL exists even after reflow as described above with reference to FIG. When the lead-free solder Sf shown in FIG. 8 is irradiated with light from the
鉛半田Spの場合には、判別用ランドRの中央部分(撮影範囲Wi)における色分布は、図17および図19に示すように赤色のみとなる。これに対し、鉛フリー半田Sfの場合には、判別用ランドRの中央部分における色分布は、図18および図20に示すようにX軸方向において赤、緑、青、赤、青、緑、赤の順に異なる色の領域が交互に現れる。図19および図20の縦軸は明度を示し、符号R、G、Bの各々は、赤色光、緑色光、青色光についての明度を示す。図19および図20中の横軸(X軸)は、図17および図18中のX軸方向における位置を示す。要するに、図19および図20は、図17および図18中の撮影範囲Wiの位置における赤色光、緑色光、青色光の、X軸方向における明度の分布を示す。 In the case of the lead solder Sp, the color distribution in the central portion (shooting range Wi) of the discrimination land R is only red as shown in FIGS. On the other hand, in the case of the lead-free solder Sf, the color distribution in the central portion of the discrimination land R is red, green, blue, red, blue, green, in the X-axis direction as shown in FIGS. Different color regions appear alternately in the order of red. 19 and FIG. 20, the vertical axis indicates the lightness, and each of the symbols R, G, and B indicates the lightness for red light, green light, and blue light. The horizontal axis (X axis) in FIGS. 19 and 20 indicates the position in the X axis direction in FIGS. 17 and 18. In short, FIGS. 19 and 20 show the lightness distribution in the X-axis direction of red light, green light, and blue light at the position of the imaging range Wi in FIGS. 17 and 18.
解析装置52は、カメラ51から出力された映像信号に基づき、図19および図20に示す色分布の画像データを生成する。さらに解析装置52は、明度が閾値TH以上となっている色が、赤、緑、青のいずれであるかを解析(2値化処理)する。例えば、図17に示す鉛半田Spの色分布の場合、撮影範囲Wiの全体が赤色領域となっており、赤色に2値化処理されている。
Based on the video signal output from the
一方、図18に示す鉛フリー半田Sfの色分布の場合、図21に示すように、撮影範囲WiのX軸方向には、赤、緑、青、赤、青、緑、赤の領域が交互に現れる。したがって、このように異なる色の領域が交互に現れた場合には、半田の種類が鉛フリー半田Sfであると判別できる。一方、同一色の領域が連続して現れた場合には、半田の種類が鉛半田Spであると判別できる。 On the other hand, in the case of the color distribution of the lead-free solder Sf shown in FIG. 18, as shown in FIG. 21, red, green, blue, red, blue, green, and red regions are alternately arranged in the X-axis direction of the imaging range Wi. Appears in Therefore, when regions of different colors appear alternately, it can be determined that the type of solder is lead-free solder Sf. On the other hand, when the same color region appears continuously, it can be determined that the solder type is lead solder Sp.
このような判別の処理は、解析装置52が備えるマイクロコンピュータ(マイコン52a)により実施される。すなわち、マイコン52aは先ず図22中のステップS51において、カメラ51で撮影された判別用ランドRの映像に基づき、図19および図20に例示される画像データを読み込む。続くステップS22では、読み込んだ画像データのうち、X軸方向の各位置において、明度が閾値TH以上となっている色が、赤、緑、青のいずれであるかを解析(2値化処理)する。
Such determination processing is performed by a microcomputer (
続くステップS53では、解析した色の分布に連続性が有るか否かを判定する。すなわち、同じ色がX軸方向に連続して分布している場合には連続性が有ると判定する。連続性が有ると判定した場合には、続くステップS54において、鉛半田Spが使用されていると判別する。一方、連続性が無いと判定した場合には、続くステップS55において、鉛フリー半田Sfが使用されていると判別する。 In a succeeding step S53, it is determined whether or not the analyzed color distribution has continuity. That is, when the same color is continuously distributed in the X-axis direction, it is determined that there is continuity. If it is determined that there is continuity, it is determined in step S54 that the lead solder Sp is used. On the other hand, if it is determined that there is no continuity, it is determined in step S55 that the lead-free solder Sf is used.
続くステップS56では、ステップS54、S55で判別した半田の種類が正規であるか否かを判定する。例えば、鉛フリー半田用の製造ラインLBに設置された外観検査機50のマイコン52aは、鉛フリー半田Sfと判別された場合には正規であると判定し、鉛半田Spと判別された場合には正規の半田が使用されていないと判定する。正規の半田が使用されていないと判定された場合、続くステップS57において、異常信号を統合管理装置70へ出力する。
In subsequent step S56, it is determined whether or not the solder type determined in steps S54 and S55 is normal. For example, the
これにより、正規の半田が使用されていない場合には、その旨を統合管理装置70が作業員Hに報知することができ、ひいては、該当する製造ラインを緊急停止させる等の対処を実施できる。
Thereby, when the regular solder is not used, the
以上により、本実施形態に係る半田判別方法によれば、判別用ランドRに塗布したペースト状の半田Sf、SpにスリットSLを設けておき、リフロー後におけるスリットSLの有無に基づき半田の種類を判別する。具体的には、スリットSLが存在していれば鉛フリー半田Sfであると判別し、スリットSLが存在していなければ鉛半田Spであると判別する。 As described above, according to the solder discrimination method according to the present embodiment, the slits SL are provided in the paste-like solders Sf and Sp applied to the discrimination land R, and the type of solder is determined based on the presence or absence of the slit SL after reflow. Determine. Specifically, if the slit SL is present, the lead-free solder Sf is determined, and if the slit SL is not present, the lead solder Sp is determined.
そのため、従来の如く半田の拡がり面積を計測することを不要にして、スリットSLの有無を外観検査することで半田の種類判別が可能になるので、該判別を高精度で実現できる。また、外観検査工程の時点で上記判別が為されるので、製造ラインLA、LBの各工程における早い段階で半田種別異常を検知できるようになる。よって、第2手順P2(塗布工程)により誤った種類の半田でプリント回路板が次々と製造されていくことを、早期に停止できるようになる。 For this reason, it is not necessary to measure the solder spreading area as in the prior art, and it is possible to discriminate the solder type by inspecting the appearance of the presence of the slit SL, so that the discrimination can be realized with high accuracy. Further, since the above determination is made at the time of the appearance inspection process, the solder type abnormality can be detected at an early stage in each process of the production lines LA and LB. Therefore, it is possible to stop early that the printed circuit boards are successively manufactured with the wrong type of solder in the second procedure P2 (application process).
さらに本実施形態によれば、図3に示す第2手順P2(塗布工程)において、第1部分Sp1、Sf1と第2部分Sp2、Sf2が互いに接することなく分離するように、スリットSLを設けている。 Furthermore, according to the present embodiment, in the second procedure P2 (coating process) shown in FIG. 3, the slits SL are provided so that the first portions Sp1, Sf1 and the second portions Sp2, Sf2 are separated without contacting each other. Yes.
ここで、本実施形態に反して、鉛フリー半田Sfの第1部分Sf1と第2部分Sf2が部分的に接する形状(図25参照)である場合には、次の不具合が生じる。すなわち、実際にはリフロー後にスリットSLが存在する場合であっても、第1部分Sf1と第2部分Sf2がリフロー前から部分的に接している箇所をリフロー後に外観検査した場合には、スリットSLが存在しないとの検査結果になる。すると、実際には鉛フリー半田Sfが用いられているにも拘わらず、鉛半田Spが用いられていると誤って判別されるおそれが生じる。これに対し本実施形態では、第1部分Sp1、Sf1と第2部分Sp2、Sf2が互いに接することなく分離した形状であるため、上述した誤判別のおそれを低減できる。 Here, contrary to the present embodiment, when the first part Sf1 and the second part Sf2 of the lead-free solder Sf are in a shape of partial contact (see FIG. 25), the following problem occurs. That is, even if the slit SL actually exists after the reflow, when the appearance inspection is performed after the reflow at the portion where the first portion Sf1 and the second portion Sf2 are partially in contact before the reflow, the slit SL The result is that there is no data. Then, in spite of the fact that lead-free solder Sf is actually used, there is a possibility that it is erroneously determined that lead solder Sp is used. On the other hand, in the present embodiment, since the first portions Sp1 and Sf1 and the second portions Sp2 and Sf2 are separated from each other without being in contact with each other, the risk of erroneous determination described above can be reduced.
さらに、本実施形態に係る、鉛フリー半田Sfを用いたプリント回路板によれば、判別用ランドRに接続された鉛フリー半田Sfは、該鉛フリー半田Sfの第1部分Sf1と第2部分Sf2の間にスリットSLを有する形状である。そのため、スリットSLが存在することを確認することで、正常に鉛フリー半田Sfが用いられていることを確認できる。よって、鉛フリー半田用の製造ラインLBからプリント回路板が搬出された後において、そのプリント回路板に、鉛フリー半田Sfが正常に用いられているか否かを容易に確認できる。 Furthermore, according to the printed circuit board using the lead-free solder Sf according to the present embodiment, the lead-free solder Sf connected to the discrimination land R is the first part Sf1 and the second part of the lead-free solder Sf. It is a shape having a slit SL between Sf2. Therefore, it can be confirmed that the lead-free solder Sf is normally used by confirming that the slit SL exists. Therefore, after the printed circuit board is carried out from the production line LB for lead-free solder, it can be easily confirmed whether or not the lead-free solder Sf is normally used on the printed circuit board.
さらに本実施形態によれば、判別用ランドRに接続された鉛フリー半田Sfは、第1部分Sf1と第2部分Sf2が互いに接することなく分離するように、スリットSLが設けられた形状である。換言すれば、リフロー後においても第1部分Sf1と第2部分Sf2が互いに接することなく分離するように、スリットSLの幅が設定されている。 Furthermore, according to the present embodiment, the lead-free solder Sf connected to the discrimination land R has a shape in which a slit SL is provided so that the first portion Sf1 and the second portion Sf2 are separated without contacting each other. . In other words, the width of the slit SL is set so that the first portion Sf1 and the second portion Sf2 are separated without contacting each other even after reflow.
ここで、本実施形態に反して、リフロー後において第1部分Sf1と第2部分Sf2が部分的に接する形状(図25参照)である場合には、次の不具合が生じる。すなわち、実際にはリフロー後にスリットSLが存在する場合であっても、第1部分Sf1と第2部分Sf2が部分的に接している箇所を外観検査した場合には、スリットSLが存在しないとの検査結果になる。すると、実際には鉛フリー半田Sfが用いられているにも拘わらず、鉛半田Spが用いられていると誤って判別されるおそれが生じる。これに対し本実施形態では、リフロー後において第1部分Sp1、Sf1と第2部分Sp2、Sf2が互いに接することなく分離した形状であるため、上述した誤判別のおそれを低減できる。 Here, contrary to the present embodiment, when the first portion Sf1 and the second portion Sf2 have a shape that partially contacts after reflow (see FIG. 25), the following problem occurs. That is, even if the slit SL actually exists after reflow, when the appearance inspection is performed on the portion where the first portion Sf1 and the second portion Sf2 are partially in contact, the slit SL is not present. It becomes a test result. Then, in spite of the fact that lead-free solder Sf is actually used, there is a possibility that it is erroneously determined that lead solder Sp is used. On the other hand, in the present embodiment, since the first parts Sp1, Sf1 and the second parts Sp2, Sf2 are separated from each other without being in contact with each other after the reflow, the above-described possibility of erroneous determination can be reduced.
(第2実施形態)
上記第1実施形態では、図5および図6に示すように、判別用ランドRの中央部分の1箇所を撮影範囲Wiに設定している。これに対し本実施形態では、図23および図24中の一点鎖線に示すように、判別用ランドRの複数個所を撮影範囲Wiとして設定している。複数の撮影範囲Wiは、スリットSLが延びる方向に並べて配置されている。
(Second Embodiment)
In the first embodiment, as shown in FIGS. 5 and 6, one central portion of the discrimination land R is set as the imaging range Wi. On the other hand, in the present embodiment, as shown by the one-dot chain line in FIGS. The plurality of shooting ranges Wi are arranged side by side in the direction in which the slit SL extends.
外観検査機50は、複数の撮影範囲Wiの各々について、上記第1実施形態と同様にして異なる色の領域が交互に現れているか否かを判定する。そして、各々の判定結果に基づき、半田の種類を判別する。例えば、複数の撮影範囲Wiの全てで異なる色の領域が交互に現れた場合に、スリットSLが存在していると判定して鉛フリー半田Sfであると判別する。或いは、複数の撮影範囲Wiの少なくとも1つで異なる色の領域が交互に現れた場合に、スリットSLが存在していると判定して鉛フリー半田Sfであると判別する。このように、本実施形態によれば、複数箇所の撮影範囲Wiの結果に基づき半田の種類を判別するので、その判別の精度が向上される。
The
(第3実施形態)
上記第1実施形態では、図4に示すように、第1部分Sf1、Sp1と第2部分Sf2、Sp2が互いに接することなく分離するようにスリットSL(隙間)を設けている。これに対し本実施形態では、第1部分Sf1、Sp1と第2部分Sf2、Sp2の間に隙間SLaを設けつつも、図25に示すように、第1部分Sf1、Sp1の一部が第2部分Sf2、Sp2の一部に繋がった状態になっている。
(Third embodiment)
In the first embodiment, as shown in FIG. 4, the slits SL (gap) are provided so that the first portions Sf1 and Sp1 and the second portions Sf2 and Sp2 are separated without contacting each other. On the other hand, in the present embodiment, while the gap SLa is provided between the first portions Sf1 and Sp1 and the second portions Sf2 and Sp2, as shown in FIG. 25, some of the first portions Sf1 and Sp1 are second It is in a state connected to part of the portions Sf2 and Sp2.
このような形状の隙間SLaであっても、リフロー後においては、鉛半田Spを用いた場合には図26に示すように隙間SLaが無くなり、鉛フリー半田Sfを用いた場合には図27に示すように隙間SLaが残ったままとなる。よって、本実施形態によっても上記第1実施形態と同様にして、リフロー後の隙間SLaの有無を検査することで半田種類を判別できる。 Even if the gap SLa has such a shape, the gap SLa disappears as shown in FIG. 26 when the lead solder Sp is used after reflow, and FIG. 27 shows the case when the lead-free solder Sf is used. As shown, the gap SLa remains. Therefore, also in the present embodiment, similar to the first embodiment, the type of solder can be determined by inspecting the presence or absence of the gap SLa after reflow.
(第4実施形態)
図1に示す実施形態では、最終製品であるメータ装置10に搭載されるプリント配線板12に、判別用ランドRが設けられている。これに対し本実施形態では、製造工程におけるプリント配線板120のうち、以下に説明する非製品領域122に判別用ランドRが設けられている(図28参照)。
(Fourth embodiment)
In the embodiment shown in FIG. 1, a discrimination land R is provided on a printed
図28に示すプリント配線板120は、製造工程におけるものであり、最終製品に搭載される部分である製品領域121と、プリント配線板120から切断除去される非製品領域122とが含まれている。長方形のプリント配線板120から、搭載される最終製品の形状に合わせた形状の製品領域121が切り取られる。具体的には、プリント配線板120に含まれる製品領域121および非製品領域122は、複数の連結部120aで接続されており、これらの連結部120aを切断することで、製品領域121がプリント配線板120から切り取られる。つまり、製品領域121の周囲に位置する非製品領域122が切断除去される。
A printed
また、図2に示す実施形態では、非製品領域が除去された製品領域のプリント配線板12が製造ラインLA、LBに搬入される。つまり、非製品領域を除去する切断除去工程の後に、リフロー工程を実施している。これに対し本実施形態では、切断除去工程の前に、リフロー工程および外観検査工程を実施している。そして、非製品領域122に判別用ランドRが設けられており、判別用ランドRには、図4と同様にして鉛フリー半田Sfまたは鉛半田Spが、スリットSLを有した状態で設けられている。なお、非製品領域122には電子部品が実装されていない。
In the embodiment shown in FIG. 2, the printed
以上により、本実施形態によっても上記第1実施形態と同様にして、リフロー後のスリットSLの有無を検査することで半田種類を判別できる。しかも、本実施形態では判別用ランドRを非製品領域122に設けているので、製品領域121に判別用ランドRを設けることを不要にできる。よって、製品領域121に実装される電子部品の配置レイアウトの自由度が判別用ランドRにより低減することを回避できる。
As described above, according to the present embodiment, the type of solder can be determined by inspecting the presence or absence of the slit SL after reflowing in the same manner as in the first embodiment. In addition, since the discrimination land R is provided in the
(他の実施形態)
以上、発明の好ましい実施形態について説明したが、発明は上述した実施形態に何ら制限されることなく、以下に例示するように種々変形して実施することが可能である。各実施形態で具体的に組合せが可能であることを明示している部分同士の組合せばかりではなく、特に組合せに支障が生じなければ、明示してなくとも実施形態同士を部分的に組み合せることも可能である。
(Other embodiments)
The preferred embodiments of the present invention have been described above, but the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications can be made as illustrated below. Not only combinations of parts that clearly show that combinations are possible in each embodiment, but also combinations of the embodiments even if they are not explicitly stated unless there is a problem with the combination. Is also possible.
図2に示す実施形態では、半田種別異常と報知された場合には、該当する製造ラインを直ちに停止させるように、作業員Hが手動操作するように製造ラインLA、LBは構成されている。これに対し、半田種別異常と報知された場合に、製造ラインLA、LBを自動停止させるように構成してもよい。このような自動停止の制御は、例えば外観検査機50または統合管理装置70が実施すればよい。
In the embodiment shown in FIG. 2, the production lines LA and LB are configured so that the worker H is manually operated so as to immediately stop the corresponding production line when notified of the solder type abnormality. On the other hand, the production lines LA and LB may be automatically stopped when the solder type abnormality is notified. Such automatic stop control may be performed by, for example, the
上記各実施形態では、スリットSLの有無を、外観検査機50を用いて外観検査している。これに対し、スリットSLの有無を作業員が目視で外観検査してもよい。
In each of the above-described embodiments, the appearance of the slit SL is inspected using the
12、120…プリント配線板、13…マイコン(電子部品)、14…モータ(電子部品)、15…コネクタ(電子部品)、P1…第1手順(ランド形成工程)、P2…第2手順(塗布工程)、P4…第4手順(リフロー工程)、P5…第5手順(外観検査工程)、Sf…鉛フリー半田、Sp…鉛半田、Sp1、Sf1…半田の第1部分、Sp2、Sf2…半田の第2部分、SL…スリット(隙間)、SLa…隙間、R…判別用ランド、R1、R2、R3…ランド。
DESCRIPTION OF
Claims (5)
絶縁基板にランドを形成してプリント配線板(12)を製造するにあたり、電子部品(13、14、15)が実装されるランド(R1、R2、R3)とは別に、ダミーの判別用ランド(R)を形成するランド形成工程(P1)と、
前記ランドおよび前記判別用ランドに、ペースト状の半田(S、Sf、Sp)を塗布する塗布工程(P2)と、
前記ペースト状の半田を加熱して溶融させるリフロー工程(P4)と、
溶融後に固化した半田の外観を検査する外観検査工程(P5)と、
を備え、
前記塗布工程では、前記判別用ランドに前記ペースト状の半田を塗布するにあたり、該半田の第1部分(Sp1、Sf1)と第2部分(Sp2、Sf2)の間に所定の隙間(SL、SLa)が形成されるように塗布し、
前記外観検査工程では、リフロー後の半田に前記隙間が存在するか否かを外観検査し、前記隙間が存在するとの検査結果である場合には鉛フリー半田であると判別し、前記隙間が存在しないとの検査結果である場合には鉛半田であると判別することを特徴とする半田判別方法。 A solder discrimination method for discriminating whether a solder applied to a printed wiring board (12, 120) is a lead-free solder (Sf) or a lead solder (Sp),
In manufacturing a printed wiring board (12) by forming a land on an insulating substrate, a dummy discrimination land ( A land forming step (P1) for forming R);
An application step (P2) of applying paste solder (S, Sf, Sp) to the land and the discrimination land;
A reflow step (P4) of heating and melting the paste-like solder;
An appearance inspection step (P5) for inspecting the appearance of the solder solidified after melting;
With
In the applying step, when applying the paste-like solder to the discrimination land, a predetermined gap (SL, SLa) is provided between the first portion (Sp1, Sf1) and the second portion (Sp2, Sf2) of the solder. ) To form,
In the appearance inspection step, an appearance inspection is performed to determine whether or not the gap exists in the solder after reflow. When the inspection result indicates that the gap exists, it is determined that the solder is lead-free solder, and the gap exists. A solder discriminating method characterized by discriminating that it is lead solder when it is an inspection result indicating that it is not.
前記リフロー工程の後、前記プリント配線板から前記非製品領域を切断して除去する切断除去工程を備え、
前記ランド形成工程では、前記判別用ランドを前記非製品領域に形成することを特徴とする請求項1または2に記載の半田判別方法。 The printed wiring board (120) in the reflow process has a product area (121) on which electronic components are mounted and a non-product area (122) around the product area where the electronic components are not mounted. ) Exists,
After the reflow step, the cutting and removing step of cutting and removing the non-product area from the printed wiring board,
The solder discrimination method according to claim 1 or 2, wherein, in the land formation step, the discrimination land is formed in the non-product area.
前記プリント配線板は、前記ランドとは別に、前記電子部品が実装されていないダミーの判別用ランド(R)を有し、
前記ランドおよび前記判別用ランドには、リフロー方式により鉛フリー半田(S、Sf)が接続されており、
前記判別用ランドに接続された鉛フリー半田は、該鉛フリー半田の第1部分(Sf1)と第2部分(Sf2)の間に所定の隙間(SL、SLa)を有する形状であることを特徴とするプリント回路板。 A printed circuit board comprising a printed wiring board (12) and electronic components (13, 14, 15) mounted on lands (R1, R2, R3) of the printed wiring board,
The printed wiring board has a dummy discrimination land (R) on which the electronic component is not mounted separately from the land.
Lead-free solder (S, Sf) is connected to the land and the discrimination land by a reflow method,
The lead-free solder connected to the discrimination land has a shape having a predetermined gap (SL, SLa) between the first part (Sf1) and the second part (Sf2) of the lead-free solder. Printed circuit board.
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