JP6101350B2 - Method for manufacturing at least one component and open-loop control and / or closed-loop control device - Google Patents
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Description
本発明は、独立請求項の前文に記載した、少なくとも1つの構成部分を製造するための方法、および開ループ制御および/または閉ループ制御装置に関する。 The invention relates to a method for manufacturing at least one component and to an open-loop control and / or a closed-loop control device as described in the preamble of the independent claim.
特許文献1には、浸炭窒化法について記載されており、この浸炭窒化法において、窒素の拡散浸透は、全プロセス中に行われるか、または元素的窒素がドナーガスとして使用される場合、好適には最後のプロセス段階においてのみ行われる。窒素ドナーとしては、特に分子的窒素、アンモニアおよびその他の窒素含有化合物が挙げられる。炭素ドナーは特に記載されていない。 Patent Document 1 describes a carbonitriding method. In this carbonitriding method, diffusion penetration of nitrogen is performed during the entire process, or preferably when elemental nitrogen is used as a donor gas. It takes place only in the last process step. Nitrogen donors include molecular nitrogen, ammonia and other nitrogen-containing compounds, among others. Carbon donors are not specifically described.
特許文献2には、低圧浸炭窒化法について記載されており、この低圧浸炭窒化法においては、鋼部分がまず浸炭処理され、次いで窒素ドナーガスによって窒化処理される。炭素ドナーとして、アセチレン、プロパンおよびエチレンが記載されている。窒素ドナーとして、アンモニアを含有するドナーガスが挙げられている。窒素ドナーに関するその他の記載はない。
特許文献3には、鋼部分を浸炭処理するための方法について記載されており、この方法においては、加熱段階中にも、また拡散段階中にも、窒素を発生するガスが供給される。窒素ドナーとして、アンモニアおよび笑気が挙げられ、炭素ドナーとして、アセチレン、プロパンおよびエチレンが挙げられている。 Patent Document 3 describes a method for carburizing a steel part. In this method, a gas that generates nitrogen is supplied both during the heating stage and during the diffusion stage. Nitrogen donors include ammonia and laughter, and carbon donors include acetylene, propane and ethylene.
前記特許文献2および特許文献3には、パルスモードでの低圧浸炭窒化法について記載されており、この場合、窒素化合物、例えばアンモニアまたは笑気が窒素ドナーガスとして使用され、この窒素化合物が、浸炭処理間の供給段階中に、および/または装入物の加熱時におよび/または続いて行われる炭素拡散段階時に、窒素を構成部分表面内に浸透させるために、処理室内に供給される。
方法により制約されて交互に行われる炭素供給段階および窒素供給段階によって、連続的な炭素および窒素の浸透を保証することはできない。従ってプロセス時間が延長される。何故ならば、炭素供給段階と窒素供給段階との間で、次の供給段階において炭素若しくは窒素の浸透を加速させるために、拡散段階を考慮しなければならないからである。 Continuous carbon and nitrogen permeation cannot be ensured by alternating carbon and nitrogen feed stages constrained by the process. Therefore, the process time is extended. This is because, between the carbon supply stage and the nitrogen supply stage, the diffusion stage must be considered in order to accelerate the penetration of carbon or nitrogen in the next supply stage.
特許文献4には、金属の構成部分を浸炭窒化するための方法について記載されており、この場合、炭素と窒素を同時に構成部分表面に浸透させるために、アミン化合物、例えばメチルアミン、ジメチルアミンおよびジブチルアミンが、炭素ドナーおよび窒素ドナーとして使用される。この方法においては、炭素および窒素の増加した雰囲気を生成するために、アミンが高温(T=1100℃〜1200℃)で処理室内に供給される。このプロセスは雰囲気圧下で実行される。 Patent Document 4 describes a method for carbonitriding a metal component, in which case an amine compound such as methylamine, dimethylamine, and the like is used to simultaneously penetrate carbon and nitrogen into the component surface. Dibutylamine is used as a carbon donor and a nitrogen donor. In this method, the amine is fed into the process chamber at a high temperature (T = 1100 ° C. to 1200 ° C.) to produce an atmosphere of increased carbon and nitrogen. This process is performed under atmospheric pressure.
このような浸炭窒化法においては、1100℃〜1200℃の高い処理温度および雰囲気圧が問題である。このような高い温度においては、気相内および構成部分表面でのアミン化合物の反応率は、内側に位置する表面を有する複雑な構造、例えば孔または密に詰め込まれた構成部分装入物が、不均一に浸炭窒化される程度に高い。さらに、1barのプロセス圧力は、装入物内および/または内側に位置する構造部例えば盲孔内でのドナーガスの拡散を著しく困難にする。装置技術的に見て、このような温度範囲は、高いプロセス圧力と相俟って、非常に多くの整備を必要とすると評価され得る。さらに、このような温度においては、安価な金属材料は粗粒化しやすくなり、構成部分の耐疲労性に不都合な影響を及ぼし、従って、より高価な材料を使用する必要があり、および/または細粒化するための追加的な熱処理段階を実施する必要がある。 In such a carbonitriding method, a high processing temperature and atmospheric pressure of 1100 ° C. to 1200 ° C. are problematic. At such high temperatures, the reaction rate of the amine compound in the gas phase and on the surface of the component is such that complex structures having an inner surface, such as pores or closely packed component charges, High enough to be carbonitrided unevenly. Furthermore, a process pressure of 1 bar makes the diffusion of donor gas significantly difficult in structures located in and / or inside the charge, for example in blind holes. From the standpoint of equipment technology, such a temperature range, combined with high process pressure, can be assessed as requiring very much maintenance. In addition, at such temperatures, inexpensive metal materials are prone to coarsening, which adversely affects the fatigue resistance of the components, and therefore, more expensive materials need to be used and / or finer. It is necessary to carry out an additional heat treatment step to granulate.
さらに重要な観点は、以上のすべての低圧浸炭窒化法においては、炭素浸透および窒素浸透をコントロールするための閉ループ制御手段が設けられていないということである。しかしながら、表層内に浸透した炭素と窒素の比率は、結果として得られる材料特性および構成部分特性にとって決定的に重要である。 A further important aspect is that all of the above low pressure carbonitriding processes are not provided with closed loop control means for controlling carbon and nitrogen permeation. However, the ratio of carbon and nitrogen that has penetrated into the surface layer is critical to the resulting material and component properties.
これに対して、独立請求項の特徴を有する、少なくとも1つの構成部分を製造するための本発明による方法、および本発明による開ループ制御および/または閉ループ制御装置は、少なくとも1つの処理段階で、炭素を発生するガスおよび窒素を発生するガスが同時に処理室内に供給され、少なくとも1つの構成部分の表層内に浸透させようとする炭素濃度と窒素濃度の所定の比率に基づいて、処理室内に調節しようとする温度および/または圧力のための目標値が算出され、この目標値が所定の時間だけ処理室内で調整される、という利点を有している。このような形式で、連続的な炭素浸透および窒素浸透を保証することができる。炭素および窒素は同時に、およびひいては、交互の炭素供給段階および窒素供給段階の間でプロセスガス交換若しくは拡散段階を実施することなしに、供給される。これによって、プロセス時間が短縮される。さらに、低圧浸炭窒化は、密に詰め込まれた装入物または複雑な構成部分構造、例えば孔構造においても、均一な浸炭および窒化を可能にする。温度および/または圧力を閉ループ制御することによって、表層内に浸透された炭素濃度と窒素濃度の所定の比率を調節することができ、それによって、結果として得られる材料特性および構成部分特性に影響を及ぼすことができる。 In contrast, the method according to the invention for producing at least one component, and the open-loop control and / or closed-loop control device according to the invention, having the features of the independent claims, in at least one processing stage, A gas for generating carbon and a gas for generating nitrogen are simultaneously supplied into the processing chamber and adjusted in the processing chamber based on a predetermined ratio of the carbon concentration and the nitrogen concentration to be penetrated into the surface layer of at least one component. It has the advantage that a target value for the temperature and / or pressure to be calculated is calculated and this target value is adjusted in the processing chamber for a predetermined time. In this manner, continuous carbon and nitrogen penetration can be ensured. Carbon and nitrogen are supplied at the same time, and thus without performing a process gas exchange or diffusion stage between alternating carbon and nitrogen supply stages. This reduces process time. In addition, low pressure carbonitriding allows for uniform carburizing and nitriding even in densely packed charges or complex component structures such as pore structures. By controlling the temperature and / or pressure in a closed loop, it is possible to adjust the predetermined ratio of carbon concentration and nitrogen concentration permeated into the surface layer, thereby affecting the resulting material and component properties. Can affect.
従属請求項に記載した手段によって、独立請求項に記載した方法の好適な実施態様および改良が可能である。 By means of the dependent claims, preferred embodiments and improvements of the methods described in the independent claims are possible.
特に好適には、炭素を発生するガスとして、および窒素を発生するガスとして、同じガスが処理室内に供給される。これによって、方法が著しく簡略化される。何故ならば、1種類のガスだけを処理室内に供給すればよいからである。 Particularly preferably, the same gas is supplied into the processing chamber as the gas generating carbon and the gas generating nitrogen. This greatly simplifies the method. This is because only one kind of gas needs to be supplied into the processing chamber.
好適な形式で、ガスとして、アミン化合物、好適には脂肪族モノアミンが、第1級化合物、第2級化合物として、また第3級化合物としても選択されるか、または脂肪族ジアミンまたはこれら2つから成る混合物が選択される。 In a preferred form, as the gas, an amine compound, preferably an aliphatic monoamine, is selected as the primary compound, secondary compound and also as the tertiary compound, or an aliphatic diamine or these two A mixture consisting of is selected.
この場合、炭素および窒素を発生するガスとして、炭素と窒素の比率が3より小さいか3と同じである、炭素および窒素を発生するガスが選択される。このような形式で、炭素プロフィールおよび窒素プロフィールにおける所望の比率が調節されると共に、炉装置内でのカーボン形成が減少される。 In this case, as the gas for generating carbon and nitrogen, a gas for generating carbon and nitrogen having a ratio of carbon to nitrogen smaller than 3 or the same as 3 is selected. In this manner, the desired ratio in carbon and nitrogen profiles is adjusted and carbon formation in the furnace apparatus is reduced.
処理室内で炭素および窒素を発生させるための様々なガスを使用する場合、処理室に供給された、炭素を発生するガスの特に容積流の量、および処理室に供給された窒素を発生するガスの特に容積流の量が、前記処理室内に発生される炭素と窒素の比率が3よりも小さくなるように選択されても、同じ利点が得られる。 When various gases for generating carbon and nitrogen are used in the processing chamber, the volume of the carbon generating gas supplied to the processing chamber, particularly the volumetric flow rate, and the nitrogen generating gas supplied to the processing chamber The same advantages are obtained even if the volumetric flow rate is selected such that the ratio of carbon to nitrogen generated in the processing chamber is less than 3.
処理室内の圧力および/または温度が測定され、実際値として、算出された目標値に更新されるようになっていれば、閉ループ制御のために好適である。これによって、少なくとも1つの構成部分の表層内に浸透された炭素濃度と窒素濃度の所定の比率を、特に簡単かつ確実に閉ループ制御することができる。 If the pressure and / or temperature in the processing chamber is measured and updated to the calculated target value as an actual value, it is suitable for closed-loop control. As a result, the predetermined ratio of the carbon concentration and the nitrogen concentration permeated into the surface layer of at least one constituent part can be controlled in a closed loop particularly easily and reliably.
温度のための実際値が、処理室内の加熱装置の制御を介して温度のための目標値に更新され、この際に、温度のための実際値が温度のための目標値よりも小さいときに、加熱装置の温度が上昇され、温度のための実際値が温度のための目標値よりも大きいときに、加熱装置の温度が低下されることによっても、閉ループ制御は、特に簡単かつ楽に構成される。 The actual value for temperature is updated to the target value for temperature via the control of the heating device in the process chamber, when the actual value for temperature is smaller than the target value for temperature Closed loop control is also particularly simple and easy to configure, by reducing the temperature of the heating device when the temperature of the heating device is raised and the actual value for the temperature is greater than the target value for the temperature The
また、圧力のための実際値が、処理室から導出されたガス量、特に容積流の調節を介して、圧力のための目標値に更新され、この際に、圧力のための実際値が圧力のための目標値よりも小さいときに、導出されるガス量が減少され、また圧力ための実際値が圧力のための目標値よりも大きいときに、導出されるガス量が増加されることによって、閉ループ制御は簡単かつ楽に構成される。 In addition, the actual value for pressure is updated to the target value for pressure via adjustment of the amount of gas derived from the processing chamber, in particular the volumetric flow. By reducing the amount of gas derived when it is less than the target value for, and by increasing the amount of gas derived when the actual value for pressure is greater than the target value for pressure Closed loop control is simple and easy to configure.
処理室内の温度ための目標値が、少なくとも1回変更されるようになっていれば、好適である。これによって、表層内の様々な深さ領域内に浸透された炭素濃度と窒素濃度の様々な比率を調節することができる。 It is preferable if the target value for the temperature in the processing chamber is changed at least once. This makes it possible to adjust various ratios of carbon concentration and nitrogen concentration penetrated in various depth regions in the surface layer.
処理室内における少なくとも1回の加熱段階または少なくとも1回の冷却段階の後に続いて温度安定化段階が設けられていれば、別の利点が得られる。このような形式で、温度のための目標値を、1回の装入内ですべての構成部分のためにできるだけ精確に調整することができる。 Another advantage is obtained if a temperature stabilization step is provided following at least one heating step or at least one cooling step in the process chamber. In this way, the target value for temperature can be adjusted as accurately as possible for all components within a single charge.
処理室内における圧力のための目標値が、少なくとも1回変更されるようになっていれば、好適である。これによって、表層内の様々な深さ領域内に浸透された炭素濃度と窒素濃度の様々な比率を調節することができる。 It is preferable if the target value for the pressure in the processing chamber is changed at least once. This makes it possible to adjust various ratios of carbon concentration and nitrogen concentration penetrated in various depth regions in the surface layer.
処理室内における目標圧力が、100mbarと同じかまたはそれよりも小さく、好適には2〜30mbarであれば、別の利点が得られる。このような形式で、1回の装入内での、または内側に位置する構造部例えば袋孔内への、相応のガスの拡散過程が著しく軽減される。 Another advantage is obtained if the target pressure in the process chamber is equal to or less than 100 mbar, preferably 2 to 30 mbar. In this way, the corresponding gas diffusion process in a single charge or in the inner structure, for example in the bag hole, is significantly reduced.
さらに好適には、温度のための目標値は、650℃〜1050℃の範囲内、好適には650℃〜960℃の範囲内にある。このような形式で、密に詰め込まれた構成部分装入物の均一な浸炭窒化、または内側に位置する表面例えば孔構造を有する複雑な構造の均一な浸炭窒化が確実に得られる。 More preferably, the target value for temperature is in the range of 650 ° C. to 1050 ° C., preferably in the range of 650 ° C. to 960 ° C. In this way, a uniform carbonitriding of closely packed component charges or a uniform carbonitriding of complex structures with an inner surface, for example a pore structure, is ensured.
連続的なプロセス実施において、温度並びに発生した炭素浸透プロフィールおよび窒素浸透プロフィールに基づいて、少なくとも1つの構成部分の表層内に、カーバイド、窒化物および炭窒化物等の不都合かつ制御不能な析出が形成され得る。従って、本発明の方法において、複数の処理段階が設けられており、これらの処理段階がそれぞれ1つの拡散段階によって互いに分離されるようになっていれば、特に有利である。このような形式で、少なくとも1つの構成部分の表層内に、カーバイド、窒化物および炭窒化物等の不都合な析出が形成されることは避けられ、しかも、所望の若しくは所定の炭素浸透プロフィールおよび窒素浸透プロフィールが少なくとも1つの構成部分の表層内に調節される。 In continuous process runs, inconvenient and uncontrollable precipitates such as carbides, nitrides and carbonitrides form in the surface of at least one component based on temperature and the generated carbon and nitrogen penetration profiles Can be done. It is therefore particularly advantageous if the process according to the invention is provided with a plurality of processing stages, each of which is separated from one another by one diffusion stage. In this manner, the formation of undesired precipitates such as carbides, nitrides and carbonitrides in the surface of at least one component is avoided, and the desired or predetermined carbon penetration profile and nitrogen are avoided. The penetration profile is adjusted within the surface of at least one component.
このような炭素浸透プロフィールおよび窒素浸透プロフィールは、少なくとも1つの構成部分の表層内に浸透させようとする炭素濃度と窒素濃度の所定の比率が、少なくとも1つの構成部分の表層内の所定の炭素浸透プロフィールおよび窒素浸透プロフィールに基づいて、少なくとも2つの処理段階で別々に選定されることによって、特に簡単に製造される。 Such a carbon permeation profile and a nitrogen permeation profile are such that a predetermined ratio of carbon concentration and nitrogen concentration to be infiltrated into the surface layer of at least one component is a predetermined carbon permeation in the surface layer of at least one component. It is particularly easy to manufacture by selecting separately in at least two processing steps based on the profile and the nitrogen penetration profile.
本発明の実施例が図面に示されていて、以下に詳しく説明されている。 Embodiments of the invention are illustrated in the drawings and are described in detail below.
図1は、単数または複数の構成部分2を低圧浸炭窒化するための装置1の概略図を示す。図1には例えば5つの構成部分2が示されている。これらの構成部分2は、処理室4内で載設部3上に配置されている。構成部分2は、図面の下側に示された加熱装置5によって加熱される。所属の流量制御弁7を備えた取り入れ口6により、炭素および窒素ドナーガス8の供給が可能である。温度センサ9および圧力センサ10は、図面で処理室4の上部領域に配置されている。その上に配置された開ループ制御および/または閉ループ制御装置11は、温度センサ9および圧力センサ10からから送られる信号を受信する。処理室4の取り出し口12は、ポンプ13の入口に通じており、このポンプ13は、例えば真空ポンプとして構成されていてよい。ポンプ13の上流に、特に圧力調整のためのスロットルバルブ14が配置されている。
FIG. 1 shows a schematic view of an apparatus 1 for low-pressure carbonitriding of one or
装置1の運転中、様々なプロセス段階で流量制御弁7により、炭素および窒素ドナーガス8が同時に、処理室4内に供給される。開ループ制御および/または閉ループ制御装置11は、特に温度センサ9および圧力センサ10によって、プロセス若しくは個別のプロセス段階を監視し、かつ開ループ制御または閉ループ制御する。特に、温度センサ9によって検出された、以下では処理温度とも称呼される温度が重要である。処理温度は、以下に図2および図3を用いてさらに説明されているように、処理室4の雰囲気内で得られる。ポンプ13は、スロットルバルブ14と協働して取り出し口12において弁のように作用する。処理室4内に必要な処理圧力を調節し、処理室4を部分的に排気させ、または処理室4内に存在するガスを排出または交換するために、スロットルバルブ14の開放角度が、開ループ制御および/または閉ループ制御装置11によって、プロセスに基づいて、特に圧力センサ10によって検出された、以下では処理圧力とも称呼される圧力に基づいて、閉ループ制御される。加熱装置5は、開ループ制御および/または閉ループ制御装置11によって、特に温度センサ9によって検出された処理温度に基づいて閉ループ制御される。流量制御弁7は、プロセスに基づいてプロセスガスの流量を閉ループ制御するために、開ループ制御および/または閉ループ制御装置11によって制御される。
During operation of the apparatus 1, carbon and nitrogen donor gas 8 are simultaneously supplied into the processing chamber 4 by the flow control valve 7 at various process stages. The open-loop control and / or closed-
炭素を発生するガスとも称呼される炭素ドナーガスと、窒素を発生するガスとも称呼される窒素ドナーガスとは、互いに異なっていてよい。この場合、異なるガスは、流量制御弁7の上流で図示されていない混合室内において、またはそれぞれ個別の流量制御弁によって、所望の混合比で処理室4に供給される。この場合、公知のガスが選択されてよい。炭素ドナーガスとしては、例えばアセチレン、プロパンまたはエチレンが挙げられる。窒素ドナーガスとしては、例えばアンモニアまたは笑気が挙げられる。処理室4のためのプロセスガス組成は、炭素を発生するガスおよび窒素を発生するガスのガス量を介して調節される。 The carbon donor gas, also referred to as carbon generating gas, and the nitrogen donor gas, also referred to as nitrogen generating gas, may be different from each other. In this case, different gases are supplied to the processing chamber 4 at a desired mixing ratio in a mixing chamber (not shown) upstream of the flow control valve 7 or by individual flow control valves. In this case, a known gas may be selected. Examples of the carbon donor gas include acetylene, propane, and ethylene. Examples of the nitrogen donor gas include ammonia and laughing gas. The process gas composition for the processing chamber 4 is adjusted via the gas amounts of the gas generating carbon and the gas generating nitrogen.
炭素ドナーガスおよび窒素ドナーガスのために、同じガス、例えばアミン化合物、好適には脂肪族モノアミンが、第1級化合物としても、第2級化合物としても、また第3級化合物としても選択されるか、または脂肪族ジアミンまたはこれら2つから成る混合物が選択されていれば、特に好適であることが分かった。これによってプロセスガイドが著しく軽減される。この場合、流量制御弁7の上流の混合室、または追加的な流量制御弁は必要ない。 For the carbon donor gas and the nitrogen donor gas, the same gas, for example an amine compound, preferably an aliphatic monoamine, is selected as the primary compound, as the secondary compound or as the tertiary compound, Alternatively, it has been found to be particularly suitable if an aliphatic diamine or a mixture of these two is selected. This significantly reduces the process guide. In this case, no mixing chamber upstream of the flow control valve 7 or an additional flow control valve is required.
閉ループ制御若しくは開ループ制御は、以上記載したように、温度および圧力に基づいて行う代わりに、選択的に、温度だけまたは圧力だけに基づいて行ってもよいので、2つのセンサのうちの1つが必要なだけである。温度の閉ループ制御においては、温度センサだけが必要であり、また、圧力の閉ループ制御においては圧力センサだけが必要である。 Instead of being based on temperature and pressure, as described above, closed loop control or open loop control may optionally be based on temperature alone or pressure alone, so that one of the two sensors It is only necessary. In temperature closed loop control, only a temperature sensor is required, and in pressure closed loop control, only a pressure sensor is required.
図2は、ドナーガスとしてのジメチルアミン(C2H6NH)の調節された処理圧力10mbarで20分間だけ浸炭窒化処理した後での、構成部分表面から50μmの間隔を保つ、構成部分2の表層領域における、供給された炭素および窒素に関する処理温度の影響を示す。この場合、図2には、2つの温度800℃および850℃のための、構成部分2の表層領域に調節された炭素濃度と窒素濃度の比率に関する実験的に算出された処理温度の影響が1例を挙げて示されている。2つの温度は、浸透された炭素量と窒素量の比率の変化を明らかにするために、選択されている。800℃では、浸透された窒素量が上回っており、これに対して、同じプロセス時間および850℃の温度では、より多くの炭素が浸透する。一般的に、処理温度が上昇すると、浸透された炭素量と窒素量の比率が、より増加した炭素浸透量に移行する。浸透された炭素量と窒素量の比率に関する温度の影響を知ることによって、閉ループ制御式の温度管理を行うことができる。この閉ループ制御式の温度管理は、構成部分2の表層内に浸透させようとする炭素濃度および窒素濃度間の所定の比率に応じて、一定に閉ループ制御された温度および/または処理温度の低下若しくは上昇を必要とする。
FIG. 2 shows the surface of
さらに、処理圧力を高めることによって、炭素と窒素の比率は、炭素が優勢となるように変えられることが、実験的に証明された。 Furthermore, it has been experimentally proven that by increasing the processing pressure, the ratio of carbon to nitrogen can be changed so that the carbon predominates.
図3には、低圧浸炭窒化時における、処理温度および、プロセスガス圧力とも称呼される処理圧力の実験的な時間経過が示されている。具体的に説明するために、例えば図1に示された装置1において用いられる、閉ループ制御された温度を有する低圧浸炭窒化のプロセスガイドが概略的に示されている。線図の横座標にプロセス継続時間tが示されていて、左側の縦座標に温度T、右側の縦座標に処理室4内の雰囲気の圧力pが示されている。低圧浸炭窒化は、加熱段階A、2つの温度安定化段階B1,B2、2つの浸炭窒化段階C1,C2、2つの拡散段階D1,D2、温度切り替え段階Eおよび冷却段階Fを有している。横座標の中断は、図示のプロセス段階がそれぞれ示された継続時間を有していなくてもよく、図3の表示とは異なっていてよい、ということを示している。 FIG. 3 shows an experimental time course of processing temperature and processing pressure, also called process gas pressure, during low-pressure carbonitriding. For illustration purposes, a process guide for low-pressure carbonitriding with a closed-loop controlled temperature, for example used in the apparatus 1 shown in FIG. 1, is schematically shown. The abscissa of the diagram shows the process duration t, the left ordinate shows the temperature T, and the right ordinate shows the pressure p of the atmosphere in the processing chamber 4. Low pressure carbonitriding has a heating stage A, two temperature stabilization stages B1, B2, two carbonitriding stages C1, C2, two diffusion stages D1, D2, a temperature switching stage E and a cooling stage F. The interruption of the abscissa indicates that each of the illustrated process steps may not have the indicated duration and may differ from the display of FIG.
図3は、加熱段階Aの間に、温度がほぼ一定の加熱率で連続的に約950℃の処理温度まで、加熱装置5によって上昇されることを示している。このために、加熱装置5は開ループ制御および/または閉ループ制御装置11によって相応に制御され、加熱率ΔT/Δtが調節される。
FIG. 3 shows that during the heating phase A, the temperature is raised by the heating device 5 continuously to a processing temperature of about 950 ° C. with a substantially constant heating rate. For this purpose, the heating device 5 is correspondingly controlled by the open-loop control and / or the closed-
加熱段階Aに続く温度安定化段階B1において、処理温度は、開ループ制御および/または閉ループ制御装置11によって、温度センサ9で測定された温度を950℃の温度である第1の目標値と比較し、加熱装置5を相応に制御することによって、約950℃の温度である第1の目標値に一定に調整される。加熱段階Aおよび第1の温度安定化段階Bの間中、炭素または窒素を発生するガスは処理室4に供給されない。
In the temperature stabilization stage B1 following the heating stage A, the processing temperature is compared with a first target value which is a temperature of 950 ° C. by the open loop control and / or the closed
第1の温度安定化段階B1に続く、第1の浸炭窒化段階C1とも称呼される第1の処理段階において、処理温度はさらにその第1の目標値に調整される。さらに、炭素および窒素ドナーガスとも称呼される、炭素および窒素を発生するガス、例えばメチルアミンは、流量制御弁7を介して処理室4に供給される。この場合、プロセス圧力またはドナーガス圧力またはドナーガスの分圧とも称呼される処理圧力は、開ループ制御および/または閉ループ制御装置11によって、圧力センサ10で測定された圧力を15mbarの圧力である第1の目標値と比較して、スロットルバルブ14の開度を相応に制御することによって、約15mbarの圧力である第1の目標値に一定に調整される。
In a first processing stage, also referred to as a first carbonitriding stage C1, following the first temperature stabilization stage B1, the processing temperature is further adjusted to its first target value. Further, a gas that generates carbon and nitrogen, for example, methylamine, also called carbon and nitrogen donor gas, is supplied to the processing chamber 4 via the flow control valve 7. In this case, the processing pressure, also referred to as process pressure or donor gas pressure or donor gas partial pressure, is the first measured by the open loop control and / or closed
構成部分2の表層領域内に浸透された炭素量と窒素量の第1の所定の比率を維持するために、処理温度のための第1の目標値および処理圧力のための第1の目標値が、開ループ制御および/または閉ループ制御装置11で、以上記載した実験的に算出された関係に応じて、相応にメモリーされた特性マップによって算出される。第1の浸炭窒化段階C1の選択された第1の処理継続時間Δt1によって、構成部分2内に供給された炭素および窒素の量若しくは浸透深さは、第1の所定の比率に従って決定される。これに関連して、第1の処理継続時間特性マップが開ループ制御および/または閉ループ制御装置11に記憶され、この第1の処理継続時間特性マップは、処理温度の選択された目標値、および処理圧力のための選択された目標値、並びに構成部分2の材料組成のための、処理継続時間と、構成部分2内に浸透した炭素量および/または窒素量若しくは表層内への炭素および窒素の浸入深さとの間の、実験的または計算により算出された関係を記述する。この場合、処理室内で処理されたすべての構成部分2は、同じ材料組成を有しているべきであり、それによって、供給しようとする炭素濃度および窒素濃度に関する所望の結果が得られる。
In order to maintain a first predetermined ratio of the amount of carbon and nitrogen permeated into the surface region of
図示の実施例では、第1の浸炭窒化段階C1に続いて、追加的に第1の拡散段階D1が行われ、この第1の拡散段階D1において、開ループ制御および/または閉ループ制御装置11によりスロットルバルブ14および流量制御弁7を相応に制御することによって、処理室4が流量制御弁7の閉鎖時にポンプ13を介して排気されるか、または不活性ガス、例えば窒素またはアルゴンによって洗浄され、次いでこの不活性ガスは炭素および窒素ドナーガスの代わりに流量制御弁7を介して処理室4に供給され、ポンプ13によって再び排出される。
In the illustrated embodiment, a first diffusion stage D1 is additionally performed following the first carbonitriding stage C1, in which the open-loop control and / or the closed-
次いで、構成部分2の表層内に閉じ込められた、この実施例では炭素と窒素の比率を調節するために、加熱装置5を相応に制御して処理温度を約850℃の第2の目標値に切り替えるための温度切り替え段階Eが行われる。
Then, in order to adjust the carbon to nitrogen ratio, which is confined in the surface of
温度切り替え段階Eに続く第2の温度安定化段階B2において、処理温度は、開ループ制御および/または閉ループ制御装置11によって、温度センサ9で測定された温度を850℃である第2の目標値と比較して、加熱装置5を相応に制御することによって、約850℃の温度である第2の目標値に一定に調整される。温度切り替え段階Eおよび第2の温度安定化段階B2の間中、炭素または窒素を発生するガスは処理室4に供給されない。
In the second temperature stabilization stage B2 following the temperature switching stage E, the processing temperature is a second target value that is 850 ° C., the temperature measured by the temperature sensor 9 by the open loop control and / or the closed
第2の温度安定化段階B2に続く、第2の浸炭窒化段階C2とも称呼される第2の処理段階において、処理温度はさらにその第2の目標値に調整される。追加的に、炭素および窒素を発生するガス、例えばメチルアミンが、流量制御弁7を介して処理室4に供給される。この場合、処理圧力は、開ループ制御および/または閉ループ制御装置11によって、圧力センサ10で測定された圧力を10mbarの圧力である第2の目標値と比較して、流量制御弁7を相応に制御することで、約10mbarの圧力である第2の目標値に一定に調整される。
In a second processing stage, also referred to as a second carbonitriding stage C2, following the second temperature stabilization stage B2, the processing temperature is further adjusted to its second target value. In addition, a gas that generates carbon and nitrogen, for example, methylamine, is supplied to the processing chamber 4 via the flow control valve 7. In this case, the processing pressure is determined by comparing the pressure measured by the
表層領域内の、構成部分2のための炭素量と窒素量の第2の所定の比率を得るために、処理温度のための第2の目標値および処理圧力のための第2の目標値が、開ループ制御および/または閉ループ制御装置11内で、前記実験的に算出された関係に基づいて、記憶された相応の特性マップを用いて算出される。第2の浸炭窒化段階C2の選択された第2の処理継続時間Δt2によって、構成部分2内に浸透された炭素および窒素の量若しくは浸透深さが、第2の所定の比率に従って決定される。これに関連して、開ループ制御および/または閉ループ制御装置11内に記憶された第2の処理継続時間特性マップが使用され、この第2の処理継続時間特性マップは、処理温度の選択された目標値および処理圧力並びに構成部分2の材料組成のための選択された目標値に基づいて、実験的または計算により算出された、構成部分2内に追加的に供給された炭素量および/または窒素量と処理継続時間との関係、若しくは第1の浸炭窒化段階C1において得られた浸透深さを前提として実現可能な、表層内への炭素および窒素の浸透深さを記述する。第2の浸炭窒化段階の処理圧力および処理温度が、第1の浸炭窒化段階に応じて選択されている場合、第2の処理継続時間特性マップの代わりに、第1の処理継続時間特性マップを使用してもよい。
To obtain a second predetermined ratio of carbon to nitrogen for
図示の実施例では、第1の浸炭窒化段階C1と比較して低下された、第2の浸炭窒化段階C2における処理温度のための第2の目標値によって、処理室は、構成部分2内に浸透された窒素比率がより大きく、構成部分2内に浸透された炭素比率がより小さい温度に調整される。
In the illustrated embodiment, the process chamber is placed in the
図示の実施例において、第1の浸炭窒化段階C1と比較して第2の浸炭窒化段階C2における処理圧力がより低いことによって、低下された処理温度によるのと同様に、構成部分2内に浸透された炭素量と窒素量の比率は、窒素量が優勢となるように変えられる。
In the embodiment shown, the process pressure in the second carbonitriding stage C2 is lower compared to the first carbonitriding stage C1, so that it penetrates into the
第2の浸炭窒化段階C2は、選択的に、第2の温度安定化段階B2なしに、温度切り替え段階Eに直接続いていてもよい。 The second carbonitriding stage C2 may optionally follow directly the temperature switching stage E without the second temperature stabilization stage B2.
第1の浸炭窒化段階C1で浸透された炭素量および窒素量は、第2の浸炭窒化段階C2中に浸透された炭素量および窒素量の位置よりも、さらに構成部分2の表面からの距離が大きい、表層125の第2の領域110内に位置しており、第2の浸炭窒化段階C2中に浸透された炭素量および窒素量は、図4に示されているように、一方側が第2の領域110に隣接し、かつ他方側が各構成部分2の表面100によって閉鎖されている、表層125の第1の領域105内に位置している。
The amount of carbon and nitrogen permeated in the first carbonitriding stage C1 is further away from the surface of the
これによって、構成部分2の表層125内に浸透された炭素濃度および窒素濃度の相応の浸透プロフィールが生じる。この実施例では、第2の処理継続時間Δt2は、第1の処理継続時間Δt1よりも短く選択されている。従って、構成部分2の表層125内の第2の領域110は、第1の領域105よりも厚く構成されている。この場合、第1の領域105は、第2の領域110の第2の厚さd2よりも小さい第1の厚さd1を有している。次いで第1の領域105とは反対側で、第2の領域110に、各構成部分のコア115が続いており、このコア115内には、処理によって炭素または窒素は浸透されていない。この場合、2つの領域105、110間の移行は、図4に理想的な形式で飛躍的な形で記載されているが、実際には、隣接し合う領域間の対応する炭素濃度および窒素濃度の比率の移行は、滑らかな形に調節される。
This produces a corresponding permeation profile of carbon and nitrogen concentrations that have penetrated into the
続いて別の拡散段階D2が行われ、この拡散段階において、処理室4は排気されるか、または不活性ガス、例えば窒素またはアルゴンにより洗浄される。次いで、冷却段階Fが行われる。 Subsequently, another diffusion stage D2 is performed, in which the process chamber 4 is evacuated or cleaned with an inert gas, for example nitrogen or argon. A cooling stage F is then performed.
このような形式で浸炭窒化を行うための多くの方法が可能であり、本発明は、2つの温度安定化段階B1,B2、2つの浸炭窒化段階C1,C2、2つの拡散段階D1,D2、1つの温度切り替え段階E並びに冷却段階Fの前記連続および数に限定されないことは、明らかである。 Many methods for carbonitriding in this manner are possible, and the present invention provides two temperature stabilization stages B1, B2, two carbonitriding stages C1, C2, two diffusion stages D1, D2, It is clear that the temperature switching stage E and the cooling stage F are not limited to the above sequence and number.
所望の材料および構成部分特性、例えば耐摩耗性および耐熱性、および構成部分2のための使用された鉄材料に応じて、炭素および窒素の最大表層濃度は、合計1.5質量パーセントに維持されるべきである。望ましい形式で、表層窒素濃度が0.2〜0.7質量パーセントである場合に、表層炭素濃度は0.5〜0.8質量パーセントである。
Depending on the desired material and component properties, such as wear and heat resistance, and the iron material used for
カーバイド、窒化物および炭窒化物の不都合な析出を避けるために、および/または前述のように構成部分2の表層内に所定の炭素浸透プロフィールおよび窒素浸透プロフィールを生ぜしめるために、個別の浸炭窒化段階の間に、追加的に単数または複数の拡散段階が挿入されてよい。この場合、所定の炭素浸透プロフィールおよび窒素浸透プロフィールは、構成部分の表層内に浸透させようとする炭素濃度および窒素濃度をどの位の比率で、構成部分の表層内で構成部分の表面からどの位の距離を保って配置させるべきかを定める。次いで、炭素濃度および窒素濃度の個別に与えられた比率を有する、表層のこれらの各領域のために、相応の浸炭窒化段階が前述のように行われる。
Individual carbonitriding to avoid undesired precipitation of carbides, nitrides and carbonitrides and / or to produce a predetermined carbon and nitrogen penetration profile in the surface of
構成部分2の表層内の所望の炭素濃度分布および窒素濃度分布は、低圧浸炭窒化中において閉ループ制御された温度管理および/またはドナーガス圧力の閉ループ制御によって、および浸炭窒化段階の処理継続時間および時点を適当に選択することによって、調節される。このために、処理室4に炭素ドナーガスおよび窒素ドナーガスが供給される浸炭窒化段階において、構成部分の処理温度は、好適には+/−15℃の最大偏差内で、望ましくは+/−8℃の最大偏差内で閉ループ制御される。
The desired carbon and nitrogen concentration distribution in the surface of
さらに、本発明による方法の利点は、このプロセスが、100mbarと同じかまたはこれよりも小さい、好適には2mbar〜30mbarの低い圧力で実施され、従って、炭素および窒素を受容するための細孔構造のアクセス可能性が増大する、という点にある。このために、炭素ドナーガスおよび窒素ドナーガスのプロセスガス圧力は、好適には+/−8mbarの偏差内、さらに好適には+/−3mbarの偏差内で閉ループ制御される。1050℃より小さいかまたはこれと同じ、好適には960℃より小さいかまたはこれと同じであり、また650℃より大きいかまたはこれと同じである低い温度によって、密な構成部分装入物の均一な浸炭窒化、または複雑な構造例えば細孔構造を有する構成部分の均一な浸炭窒化を実施することができる。 Furthermore, the advantage of the method according to the invention is that the process is carried out at a pressure as low as 2 mbar to 30 mbar, preferably less than or equal to 100 mbar, and thus a pore structure for receiving carbon and nitrogen The accessibility is increased. For this purpose, the process gas pressures of the carbon and nitrogen donor gases are preferably closed-loop controlled within a deviation of +/− 8 mbar, more preferably within a deviation of +/− 3 mbar. Uniformity of a dense component charge due to a low temperature less than or equal to 1050 ° C., preferably less than or equal to 960 ° C. and greater than or equal to 650 ° C. Carbonitriding, or uniform carbonitriding of components having complex structures such as pore structures can be performed.
以上記載した特性マップは、時間、温度、圧力および材料組成に依存して窒素および炭素の拡散を演算するシミュレーションモデルから開発されている。 The characteristic map described above has been developed from a simulation model that calculates the diffusion of nitrogen and carbon depending on time, temperature, pressure and material composition.
図5は、流量制御弁7の制御、スロットルバルブ14の開度の制御および浸炭窒化段階を調節するための加熱装置5の制御のために設けられた構成要素を有する開ループ制御および/または閉ループ制御装置11のブロック制御回路図を示す。この場合、浸炭窒化段階中に、真空ポンプ13の作動時におけるスロットルバルブ14の開度が、開ループ制御および/または閉ループ制御装置11によって調節されるので、処理室4内の処理圧力はその都度の目標値に調整される。処理圧力の調整は、スロットルバルブ14の開度を相応に調節することによって、ポンプ13の上流で処理室4からのガス出口において行われる。圧力センサ10によって測定された処理圧力の実際値が、処理圧力のための所定の目標値を上回ると、スロットルバルブ14は、開ループ制御および/または閉ループ制御装置11の側から相応に制御することによってさらに開放され、それによってポンプ13は、処理室4からより多量の容積流を取り出すことができ、処理圧力のための実際値は低下される。圧力センサ10によって測定された処理圧力の実際値が、処理圧力のための所定の目標値を下回ると、スロットルバルブ14は、開ループ制御および/または閉ループ制御装置11の側から相応に制御することによってさらに閉鎖され、それによって、ポンプ13が処理室4から取り出す容積流が減少され、処理室4内の処理圧力のための実際値の上昇が得られる。
FIG. 5 shows an open loop control and / or a closed loop with components provided for the control of the flow control valve 7, the opening of the
開ループ制御および/または閉ループ制御装置11のその他の構成要素、例えば加熱段階Aまたは拡散段階D1,D2を調節するために必要とされる構成要素は、図面を見易くするために図示されていないが、当業者に公知の形式で構成され得る。
Other components of the open loop control and / or closed
使用者は、処理室4内において構成部分2を所望に処理するための複数のパラメータを、開ループ制御および/または閉ループ制御装置11の入力ユニット200に入力することができる。従って使用者は、構成部分2の表層125内に浸透させようとする炭素濃度と窒素濃度との間の単数または複数の比率を相応の入力によって設定することができる。このような形式で設定された第1の比率は、図5に第1の比率データレコード205として示されており、n個の設定された比率において、nは1よりも大きいかまたは1と同じに選定されていてよく、n個の設定された比率は、n個の比率データレコード215として示されている。n=1であれば、これは、第1の比率データレコード205に相当する所定の比率のための1つの比率データレコードだけを提供する。1つの比率よりも多い比率が設定されると、相応する数の比率データレコードが提供される。設定されたすべての比率データレコードの全体は符号220で示されている。この場合、表層125内の所定の比率を実行するには、各比率データレコードのために、それぞれ1つの割り当てられた浸炭窒化段階が調節されなければならない。1つの比率データレコードだけを設定する場合、表層125の1つの領域にだけ、相応に設定された比率が与えられ、複数の比率データレコードにおいては、各比率データレコードのためにそれぞれ1つの浸炭窒化段階の入力若しくは番号設定の時間的な連続が調節される。この場合、各比率データレコードのために、およびひいては各浸炭窒化段階のために、表層125内の炭素濃度と窒素濃度の相応の比率を有する領域が形成され、その際に、複数の領域が、割り当てられた所定の比率の入力の時間的な連続に従って、およびひいては番号設定の連続で、各構成部分2の表面100に向かって形成される。この場合、第1の比率データレコードは、各構成部分2の表面100に対して最大の距離を保って炭素濃度および窒素濃度を調節し、最後に使用されたデータレコードは表面に最も近い炭素濃度および窒素濃度を調節する。2つのこのような領域、およびひいてはこのように設定された2つの比率を有する実施例が、図4を用いて記載されている。この場合、厚さd2を有する第2の領域110が、第1の比率データレコードによって構成部分2の表層に調節され、厚さd1を有する第1の領域105が第2の比率データレコードによって調節される。
The user can input a plurality of parameters for processing the
所定の各比率のために、所望の量または浸透深さ、言い換えれば割り当てられた領域の所属の厚さも、選択可能でなければならない。これに対応して、図5には、第1の所定の厚さデータレコードが符号225で示され、n個の所定の厚さデータレコードが符号235で示されている。厚さデータレコードの全体は符号240で示されている。時間的な入力の連続に従って、それぞれ必要な浸炭窒化段階のために、相応の比率データレコードが温度圧力特性マップ250に入力値として供給され、所属の厚さデータレコードが処理継続時間特性マップ255に入力値として供給される。この場合、温度圧力特性マップは、実験的に算出され、それぞれその入力部において設定された、構成部分2の表層125内に浸透させようとする炭素濃度と窒素濃度の比率のために、所属の処理温度の目標値STおよび所属の処理圧力の目標値SDを、その出力部において提供する。図2により、例えば、処理温度および処理圧力のための、このような実験的な評価の結果が示されている。処理温度のための目標値ST、および処理圧力のための目標値SDが、入力値として、同様に処理継続時間特性マップ255に供給される。さらに、処理温度のための目標値STは、入力値として第1の比較器265に供給される。さらに、処理圧力のための目標値SDは、入力値として第2の比較器260に供給される。
For each given ratio, the desired amount or penetration depth, in other words the thickness of the assigned region, must also be selectable. Correspondingly, in FIG. 5, the first predetermined thickness data record is indicated by
入力ユニット200においてさらに、構成部分2の材料組成の特性を成す、提案された量より成る材料組成、例えば肌焼鋼20MnCr5が選択される。この場合、材料組成データレコード245が生成され、この材料組成データレコード245はやはり、入力値として処理継続時間特性マップ255に供給される。この場合、処理継続時間特性マップ255は、やはり実験的に算出されており、処理温度のための所定の目標値STおよび処理圧力のための所定の目標値SDで選択された材料組成の構成部分において、それぞれの構成部分2の表層125内に、炭素濃度と窒素濃度の所定の比率に従って浸透された炭素および窒素を有する所定の厚さの領域を形成するために、どの程度の継続時間が必要であるかを選択する。このように算出された処理継続時間が処理継続時間特性マップ255の出力部において、相応の開放信号が流量制御弁7に送信され、それによって流量制御弁7は、所属の浸炭窒化段階のための算出された処理継続時間中、開放されている。算出された処理継続時間外では流量制御弁7は閉鎖されているか、若しくは不活性ガス例えば窒素またはアルゴンによる洗浄のために、場合によっては設けられている拡散段階の間だけ、当業者に公知の形式で開放される。
In addition, in the
その他の入力値として、第1の比較器265に、温度センサ9によって算出された、処理温度のための実際値ITが供給される。調整差を最小にし、処理温度の実際値ITを処理温度の目標値STに更新するために、第1の比較器265は、処理温度の目標値STを処理温度の実際値ITと比較し、処理温度の目標値STと処理温度の実際値ITとの間の差に基づいて制御信号を加熱装置5に供給する。
As other input values, the actual value IT for the processing temperature calculated by the temperature sensor 9 is supplied to the
別の入力値として、圧力センサ10によって算出される、処理圧力のための実際値IDが第2の比較器260に供給される。調整差を最小にし、処理圧力の実際値IDを処理圧力の目標値SDに更新するために、第2の比較器260は、処理圧力の目標値SDを処理圧力の実際値IDと比較し、処理圧力の目標値SDと処理圧力の実際値IDとの間の差に基づいて制御信号をスロットルバルブ14に提供する。
As another input value, the actual value ID for the processing pressure calculated by the
このような形式で、算出された処理継続時間のために、対応する領域内での所望の厚さ内における、それぞれの構成部分2の表層125内の炭素濃度と窒素濃度のそれぞれ所定の比率が調節される。複数のこのような比率を設定する際に、割り当てられ、かつ追加的にそれぞれの拡散段階によって互いに分離された複数の浸炭窒化段階によって、比率データレコード205,…,215および厚さデータレコード225,…,235によって設定された、表層125内の所定の窒素浸透プロフィールおよび炭素浸透プロフィールが調節される。
In such a format, the predetermined ratio of the carbon concentration and the nitrogen concentration in the
1 低圧浸炭窒化するための装置
2 構成部分
3 載設部
4 処理室
5 加熱装置
6 取り入れ口
7 流量制御弁
8 炭素および窒素ドナーガス
9 温度センサ
10 圧力センサ
11 開ループ制御および/または閉ループ制御装置
12 取り出し口
13 ポンプ
14 スロットルバルブ
100 表面
105 第1の領域
110 第2の領域
115 コア
125 表層
200 入力ユニット
205 第1の比率データレコード
215 n個の比率データレコード
220 すべての比率データレコード
225 第1の所定の厚さデータレコード
235 n個の所定の厚さデータレコード
240 厚さデータレコードの全体
245 材料組成データレコード
250 温度圧力特性マップ
255 処理継続時間特性マップ
260 第2の比較器
265 第1の比較器
A 加熱段階
B1,B2 温度安定化段階
C1,C2 浸炭窒化段階
d1 第1の厚さ
d2 第2の厚さ
D1,D2 拡散段階
E 温度切り替え段階
F 冷却段階
SD 処理圧力の目標値
ST 処理温度の目標値
T 温度
t プロセス継続時間
Δt1 第1の処理継続時間
Δt2 第2の処理継続時間
p 雰囲気の圧力
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Apparatus for low-
Claims (22)
複数の処理段階を設け、これらの処理段階をそれぞれ1つの拡散段階によって互いに分離し、
少なくとも1つの処理段階で、炭素を発生するガスおよび窒素を発生するガス(8)を同時に前記処理室(4)内に供給し、少なくとも1つの前記構成部分(2)の表層内に浸透させようとする炭素濃度と窒素濃度の所定の比率に基づいて、前記処理室内に調節しようとする温度および/または圧力のための目標値を算出し、この目標値を所定の時間だけ前記処理室内で調整することを特徴とする、少なくとも1つの構成部分を製造するための方法。 In a method for producing at least one component (2) in at least one processing chamber (4) by low pressure carbonitriding,
Providing a plurality of processing stages, each of which is separated from one another by one diffusion stage;
In at least one processing stage, a gas for generating carbon and a gas (8) for generating nitrogen are simultaneously supplied into the processing chamber (4) so as to penetrate into the surface layer of at least one of the component parts (2). A target value for the temperature and / or pressure to be adjusted in the processing chamber is calculated based on a predetermined ratio between the carbon concentration and the nitrogen concentration, and the target value is adjusted in the processing chamber for a predetermined time. A method for manufacturing at least one component.
それぞれ一つの拡散段階で互いに分離された複数の処理段階を実行するための制御手段が設けられており、
少なくとも1つの処理段階で、前記処理室(4)内に同時に供給された炭素を発生するガスおよび窒素を発生するガス(8)の、少なくとも1つの前記構成部分(2)の表層内に浸透させようとする炭素濃度と窒素濃度の所定の比率に基づいて、前記処理室内(4)の温度および/または圧力のための目標値を算出するための手段(250)が設けられており、少なくとも1つの処理段階で前記処理室(4)内に調節しようとする、温度および/または圧力のための目標値を、所定の時間だけ前記処理室(4)内で調整する、閉ループ制御するための手段(255,260,265)が設けられていることを特徴とする、少なくとも1つの構成部分を製造するための開ループ制御および/または閉ループ制御を行う装置。 In an apparatus for performing open-loop control and / or closed-loop control for producing at least one component (2) in at least one processing chamber (4) by low-pressure carbonitriding,
A control means is provided for executing a plurality of processing stages separated from each other in one diffusion stage,
In at least one processing step, a gas generating carbon and a gas generating nitrogen (8) supplied simultaneously into the processing chamber (4) are permeated into the surface layer of at least one component (2). Means (250) are provided for calculating a target value for the temperature and / or pressure of the processing chamber (4) based on a predetermined ratio between the carbon concentration and the nitrogen concentration to be obtained, and at least 1 Means for closed-loop control, wherein target values for temperature and / or pressure to be adjusted in the processing chamber (4) in one processing stage are adjusted in the processing chamber (4) for a predetermined time (255, 260, 265) characterized in that an apparatus for performing open-loop control and / or closed-loop control for producing at least one component is provided.
Device for performing open-loop control and / or closed-loop control according to claim 20 or 21 , characterized in that at least one of the process chambers (4) is an exhaustable process chamber.
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