JP6079368B2 - Sn alloy plating method, Sn alloy plating solution recycling method, and apparatuses thereof - Google Patents

Sn alloy plating method, Sn alloy plating solution recycling method, and apparatuses thereof Download PDF

Info

Publication number
JP6079368B2
JP6079368B2 JP2013068552A JP2013068552A JP6079368B2 JP 6079368 B2 JP6079368 B2 JP 6079368B2 JP 2013068552 A JP2013068552 A JP 2013068552A JP 2013068552 A JP2013068552 A JP 2013068552A JP 6079368 B2 JP6079368 B2 JP 6079368B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
plating solution
plating
anode
chamber
alloy
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2013068552A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2014189873A (en
Inventor
健志 八田
健志 八田
裕顕 山下
裕顕 山下
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Materials Corp
Original Assignee
Mitsubishi Materials Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Materials Corp filed Critical Mitsubishi Materials Corp
Priority to JP2013068552A priority Critical patent/JP6079368B2/en
Publication of JP2014189873A publication Critical patent/JP2014189873A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6079368B2 publication Critical patent/JP6079368B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Electroplating Methods And Accessories (AREA)

Description

本発明は、Sn合金めっき処理に使用しためっき液をSnイオン補給液として再生することができるSn合金めっき方法及びSn合金めっき液のリサイクル方法、並びにこれらの装置に関する。   The present invention relates to a Sn alloy plating method, a Sn alloy plating solution recycling method, and an apparatus thereof that can regenerate a plating solution used for a Sn alloy plating treatment as a Sn ion replenishment solution.

電解めっきに用いられるめっき液は、めっき処理により所定の電解量に到達するまで使用され、その使用後のめっき液は、廃液として処理される。この廃液の処理コストは高いうえに、大量の廃液を処理することにより環境への負荷が大きくなる。また、めっき装置にとっても、液交換によるコストが大きかった。   The plating solution used for the electrolytic plating is used until a predetermined electrolytic amount is reached by the plating treatment, and the plating solution after use is treated as a waste solution. The treatment cost of this waste liquid is high, and the burden on the environment is increased by treating a large amount of waste liquid. Moreover, the cost for the liquid exchange was also large for the plating apparatus.

また、特許文献1又は特許文献2に開示されるように、めっきにより消費した金属成分を補充するシステムとともに、被めっき体(めっき素材)に付着してめっき槽外に持ち出されためっき液を回収して再利用する機能を備えためっき装置も考えられており、従来から、めっき液のリサイクルが検討されている。   In addition, as disclosed in Patent Document 1 or Patent Document 2, together with a system for replenishing metal components consumed by plating, the plating solution attached to the object to be plated (plating material) and taken out of the plating tank is collected. Therefore, a plating apparatus having a function of reusing it has been considered, and conventionally, recycling of the plating solution has been studied.

特開2004−131767号公報JP 2004-131767 A 特開平11−100699号公報Japanese Patent Application Laid-Open No. 11-1000069

使用後のめっき液は、電解によるめっき処理を経て、有機不純物の混入(レジストの溶解等)及び遊離酸濃度が高くなっている。その点、特許文献1又は特許文献2においても、洗浄槽を設けることで、めっき液中に含まれる有機不純物等を除去することが行われている。しかし、電解によるめっき処理により遊離酸濃度が高くなっていることから、そのままの状態では再利用することができない。したがって、大量の溶媒で希釈するなどして液中の遊離酸濃度を低下させた後に、めっき液中から消費された金属成分や添加物等のめっき液成分の添加を行う必要があり、液処理量が膨大となることから、取扱性が悪いものとなっていた。   The plating solution after use is subjected to electroplating treatment, and organic impurities are mixed (resist dissolution, etc.) and free acid concentration is high. In that respect, Patent Document 1 or Patent Document 2 also removes organic impurities and the like contained in the plating solution by providing a cleaning tank. However, since the free acid concentration is increased by electroplating, it cannot be reused as it is. Therefore, after reducing the free acid concentration in the solution by diluting with a large amount of solvent, it is necessary to add plating solution components such as metal components and additives consumed from the plating solution. Since the amount is enormous, handling was poor.

本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、取り扱いを容易にして使用後のめっき液中に含まれる不純物等を除去することができ、効率的にめっき液を再生することができるSn合金めっき方法及びSn合金めっき液のリサイクル方法、並びにこれらの装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of such circumstances, can easily handle, remove impurities contained in the plating solution after use, and efficiently regenerate the plating solution. An object of the present invention is to provide an Sn alloy plating method, a Sn alloy plating solution recycling method, and an apparatus for these.

本発明のSn合金めっき方法は、陰イオン交換膜により区画されためっき槽のカソード室内に設置した被めっき物に電解めっきによりSn合金めっきを施すSn合金めっき方法であって、前記めっき槽のアノード室内には、Sn製アノードを配置するとともに、前記カソード室内で使用されたSn合金めっき処理後の使用後めっき液に含まれる有機物を活性炭により除去しためっき液を前記アノード室のめっき液として用い、前記カソード室内の被めっき物と前記Sn製アノードとの間で通電して行うSn合金めっきと同時に、前記アノード室のめっき液にSnイオンを補給することを特徴とする。   The Sn alloy plating method of the present invention is a Sn alloy plating method in which Sn alloy plating is performed by electrolytic plating on an object to be plated installed in a cathode chamber of a plating tank partitioned by an anion exchange membrane. In the chamber, an anode made of Sn is disposed, and a plating solution obtained by removing organic substances contained in the plating solution after use after the Sn alloy plating process used in the cathode chamber with activated carbon is used as a plating solution in the anode chamber. Simultaneously with Sn alloy plating performed by energizing between an object to be plated in the cathode chamber and the Sn anode, Sn ions are supplied to the plating solution in the anode chamber.

使用後めっき液中の有機物を活性炭によって除去することで、めっき液中に含まれる不純物を低減し、そのめっき液をアノード室のめっき液として用いるとともに、被めっき物とSn製アノードとの間で通電することにより、Sn製アノードから溶出するSnイオンがアノード室のめっき液に含有される。前述したように、カソード室の使用後めっき液は、めっき処理によって遊離酸濃度が高くなっているが、これはSnイオンの消費に応じて高くなっているのであり、これをアノード室のめっき液に用いることによって、電解めっき処理時とは逆に、Sn製アノードからのSnイオンの溶出量に応じて遊離酸濃度が低下する。このため、Sn合金めっき後のアノード室のめっき液は、Snイオンを適切な量となるまで電解処理することにより、そのSnイオンの量に合わせて適切な遊離酸濃度とすることができ、カソード室に用いるための液調整が不要なSnイオン補給液として再生することができる。
このめっき方法によれば、カソード室内でSn合金の電解めっきを施しながら、アノード室では使用後めっき液をSnイオン補給液として再生することができて効率的である。
なお、本明細書において、Sn合金めっきとは、例えば、Sn−Ag又はSn−CuなどのようにSnにSnより貴な金属を少なくとも1種以上含有するめっき膜を形成するためのめっきとして記載する。
After use, the organic matter in the plating solution is removed by activated carbon to reduce impurities contained in the plating solution, and the plating solution is used as a plating solution in the anode chamber, and between the object to be plated and the Sn anode. When energized, Sn ions eluted from the Sn anode are contained in the plating solution in the anode chamber. As described above, the plating solution after use in the cathode chamber has a high free acid concentration due to the plating treatment, and this increases with the consumption of Sn ions. Contrary to the electrolytic plating treatment, the free acid concentration decreases according to the elution amount of Sn ions from the Sn anode. For this reason, the plating solution in the anode chamber after Sn alloy plating can be adjusted to an appropriate free acid concentration according to the amount of Sn ions by electrolytic treatment until Sn ions become an appropriate amount. It can be regenerated as a Sn ion replenisher that does not require liquid adjustment for use in the chamber.
According to this plating method, the electroplating of the Sn alloy is performed in the cathode chamber, and the plating solution after use can be regenerated as the Sn ion replenisher in the anode chamber, which is efficient.
In this specification, Sn alloy plating is described as plating for forming a plating film containing at least one kind of metal nobler than Sn, such as Sn—Ag or Sn—Cu. To do.

本発明のSn合金めっき装置は、陰イオン交換膜により区画されたアノード室内にSn製アノードを有し、カソード室に被めっき物が配置されるめっき槽と、前記カソード室内の使用後めっき液を前記アノード室に供給するめっき液移送手段が備えられ、該めっき液移送手段には、前記使用後めっき液を通過させて活性炭により有機物を除去する有機物除去手段が設けられていることを特徴とする。   The Sn alloy plating apparatus of the present invention has a plating tank in which an anode made of Sn is provided in an anode chamber partitioned by an anion exchange membrane, and an object to be plated is disposed in a cathode chamber, and a plating solution after use in the cathode chamber. A plating solution transfer means for supplying to the anode chamber is provided, and the plating solution transfer means is provided with an organic matter removing means for passing the post-use plating solution and removing organic matter by activated carbon. .

本発明のSn合金めっき液のリサイクル方法は、Sn合金の電解めっき処理に使用された使用後めっき液を再生するSn合金めっき液のリサイクル方法であって、前記使用後めっき液中に含まれる有機物を活性炭により除去した後、陰イオン交換膜によってカソードが設置されたカソード室とSn製アノードが設置されたアノード室とに区画された電解槽内の前記アノード室に供給して、前記カソードと前記Sn製アノードとの間で通電することにより、前記アノード室内のめっき液をSnイオン補給液として再生することを特徴とする。
The recycling method of the Sn alloy plating solution of the present invention is a recycling method of the Sn alloy plating solution that regenerates the used plating solution used in the electrolytic plating treatment of the Sn alloy, and is an organic substance contained in the used plating solution. Is removed by activated carbon, and then supplied to the anode chamber in an electrolytic cell partitioned into a cathode chamber in which a cathode is installed by an anion exchange membrane and an anode chamber in which an anode made of Sn is installed. The plating solution in the anode chamber is regenerated as a Sn ion replenishing solution by energizing with the Sn anode.

本発明のSn合金めっき液のリサイクル装置は、Sn合金の電解めっき処理に使用された使用後めっき液を再生するSn合金めっき液のリサイクル装置であって、陰イオン交換膜でカソード室とアノード室に区画された電解槽と、使用後めっき液を貯留する回収槽と、前記回収槽から前記電解槽に使用後めっき液を移送するめっき液移送手段と、前記めっき液移送手段の途中で前記使用後めっき液から有機物を除去する有機物除去手段とを有し、前記カソード室にはカソードが設置され、前記アノード室にはSn製アノードが設置されていることを特徴とする。 Recycling apparatus of Sn alloy plating solution of the present invention, there is provided a recycling apparatus of Sn alloy plating solution for reproducing a plating solution after use, which is used in the electroplating process Sn alloy, a cathode compartment and an anode compartment by an anion exchange membrane An electrolytic cell partitioned into a plating tank, a recovery tank for storing the used plating solution, a plating solution transfer means for transferring the used plating solution from the recovery tank to the electrolytic bath, and the use in the middle of the plating solution transfer means And an organic substance removing means for removing organic substances from the post-plating solution, wherein the cathode chamber is provided with a cathode, and the anode chamber is provided with an Sn anode.

本発明によれば、使用後めっき液の遊離酸濃度を溶媒により希釈することなくSnイオンの含有量に応じて低減することができ、その取り扱いを容易にして、使用後めっき液をSnイオン補給液として効率的に再生することができる。   According to the present invention, the free acid concentration of the plating solution after use can be reduced according to the content of Sn ions without diluting with a solvent, the handling is facilitated, and the plating solution is replenished with Sn ions after use. It can be efficiently regenerated as a liquid.

本発明のSn合金めっき装置の一実施形態を示す全体構成図である。It is a whole lineblock diagram showing one embodiment of the Sn alloy plating device of the present invention. 発明のSn合金めっき液のリサイクル装置の一実施形態を示す全体構成図である。It is a whole block diagram which shows one Embodiment of the recycling apparatus of Sn alloy plating solution of invention.

以下、本発明の実施形態を、図面を参照しながら説明する。
図1は、本発明の一実施形態のSn合金めっき装置の全体構成を示している。このSn合金めっき装置は、めっき槽1の上下方向の中間位置に水平に陰イオン交換膜2が設けられていることにより、めっき槽1内が上下に区画されており、陰イオン交換膜2の下方の空間がアノード室3、上方の空間がカソード室4として構成されている。
アノード室3は、別に設けられたタンク5に接続され、アノード室3内のめっき液をポンプ6によって循環することができるように構成されている。カソード室4は、アノード室3と同様に別に設けたタンク7に接続され、カソード室4内のめっき液をポンプ8によって循環することができるように構成されている。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
FIG. 1 shows the overall configuration of an Sn alloy plating apparatus according to an embodiment of the present invention. In this Sn alloy plating apparatus, since the anion exchange membrane 2 is horizontally provided at an intermediate position in the vertical direction of the plating tank 1, the inside of the plating tank 1 is vertically divided. The lower space is configured as the anode chamber 3, and the upper space is configured as the cathode chamber 4.
The anode chamber 3 is connected to a separately provided tank 5 so that the plating solution in the anode chamber 3 can be circulated by a pump 6. Similarly to the anode chamber 3, the cathode chamber 4 is connected to a tank 7 provided separately, and is configured such that the plating solution in the cathode chamber 4 can be circulated by a pump 8.

また、アノード室3の底部には例えば円板状のSn製アノード11が水平に配置され、カソード室4の上部にはウエハ(被めっき物)12を水平に載置状態に支持するワーク支持部13が設けられており、このワーク支持部13に、ウエハ12を支持したときにこのウエハ12に接触する電極が設けられている。そして、このワーク支持部13の電極とアノード11との間に電源14が接続されることにより、ウエハ12をカソードとして電解めっきする構成である。   Also, for example, a disk-shaped Sn anode 11 is horizontally disposed at the bottom of the anode chamber 3, and a workpiece support portion that supports a wafer (to-be-plated object) 12 horizontally placed on the top of the cathode chamber 4. 13 is provided, and the workpiece support portion 13 is provided with an electrode that comes into contact with the wafer 12 when the wafer 12 is supported. The power supply 14 is connected between the electrode of the workpiece support 13 and the anode 11 to perform electrolytic plating using the wafer 12 as a cathode.

この場合、ウエハ12はめっき液の液面付近に水平に配置され、タンク7からカソード室4の下方に供給されるめっき液の噴流が破線で示すようにウエハ12の下面に供給されるようになっており、めっき槽1の上方を覆う蓋体15がウエハ12に上方から錘として作用している。ウエハ12の下面に供給されためっき液はめっき槽1からオーバーフロー流路16に導かれ、タンク7に戻される。
なお、陰イオン交換膜2としては、例えば、耐酸性に優れる旭硝子株式会社製「セレシオン」を用いることができる。
In this case, the wafer 12 is horizontally disposed near the surface of the plating solution so that the jet of the plating solution supplied from the tank 7 to the lower side of the cathode chamber 4 is supplied to the lower surface of the wafer 12 as indicated by a broken line. The lid 15 covering the upper part of the plating tank 1 acts on the wafer 12 as a weight from above. The plating solution supplied to the lower surface of the wafer 12 is guided from the plating tank 1 to the overflow channel 16 and returned to the tank 7.
As the anion exchange membrane 2, for example, “Cerecyon” manufactured by Asahi Glass Co., Ltd., which has excellent acid resistance, can be used.

また、アノード室3に連設されたタンク5と、カソード室4に連設されたタンク7との間には、カソード室4のタンク7からアノード室3のタンク5に向けて使用後めっき液を移送するめっき液移送手段21が設けられている。このめっき液移送手段21には、使用後めっき液を圧送するポンプ22と、移送途中のめっき液を通過させる有機物除去手段23とが設けられている。有機物除去手段23は、活性炭を充填したカラムにより構成され、使用後めっき液と活性炭とを接触させることにより、使用後めっき液中の有機物成分を活性炭により吸着除去するものである。有機物成分を吸着する活性炭としては、木炭を原料とするものが好ましく、例えば味の素社製のBA‐50を用いることができる。   Between the tank 5 connected to the anode chamber 3 and the tank 7 connected to the cathode chamber 4, the plating solution after use is directed from the tank 7 of the cathode chamber 4 toward the tank 5 of the anode chamber 3. A plating solution transfer means 21 for transferring the liquid is provided. The plating solution transfer means 21 is provided with a pump 22 that pumps the plating solution after use and an organic substance removal means 23 that passes the plating solution being transferred. The organic substance removing means 23 is constituted by a column filled with activated carbon, and adsorbs and removes organic components in the used plating solution by activated carbon by bringing the used plating solution into contact with activated carbon. As the activated carbon that adsorbs organic components, those using charcoal as a raw material are preferable, and for example, BA-50 manufactured by Ajinomoto Co., Inc. can be used.

このように構成されるめっき装置によりウエハ12にSn−Ag合金めっきを施す方法について説明する。
このSn−Ag合金のめっき液としては、メタンスルホン酸、エタンスルホン酸といったアルキルスルホン酸等の酸と、めっき金属イオン(Sn2+,Ag)の他、酸化防止剤や界面活性剤等の添加剤、錯化剤等が配合される。本実施形態で使用されるSn−Ag合金のめっき液は、例えば以下の配合で構成される。
アルキルスルホン酸;100〜150g/L
Sn2+;40〜90g/L
Ag;0.1〜3.0g/L
錯化剤;180〜220g/L
添加剤;40〜60ml/L
一方、アノード室3には、既にめっき処理に使用した使用後めっき液から含有有機物を除去した後のめっき液が貯留される。
A method of performing Sn—Ag alloy plating on the wafer 12 by the plating apparatus configured as described above will be described.
As the plating solution of this Sn-Ag alloy, addition of an acid such as alkyl sulfonic acid such as methane sulfonic acid or ethane sulfonic acid, plating metal ions (Sn 2+ , Ag + ), an antioxidant, a surfactant, etc An agent, a complexing agent and the like are blended. The plating solution of the Sn—Ag alloy used in the present embodiment is configured with the following composition, for example.
Alkyl sulfonic acid; 100 to 150 g / L
Sn 2+ ; 40-90 g / L
Ag + ; 0.1-3.0 g / L
Complexing agent: 180-220 g / L
Additive; 40-60ml / L
On the other hand, the anode chamber 3 stores the plating solution after the contained organic substances are removed from the post-use plating solution that has already been used for the plating treatment.

そして、ウエハ12をカソード室4のワーク支持部13に支持して通電することにより、カソード室4内の被めっき物12にSn合金めっきを施す。その際、カソード室4のめっき液及びアノード室3のめっき液をタンク5,7との間で個々に循環しながらめっき処理し、カソード室4のめっき液に対して必要に応じてめっき液の金属成分の補給液を供給する。
この電解めっきによりカソード室4ではめっき液に接触しているウエハ12の下面にSn−Ag合金が析出し、アノード室3ではSn製アノード11からSnイオン(Sn2+)がめっき液に供給される。電解が進むにつれて、カソード室4では、めっき液中のSnイオン及びAgイオンがSn−Ag合金としてウエハ12表面に析出されるので、めっき液中のSnイオン濃度はSnイオンの消費により下降し、そのSnイオン濃度の下降に応じて遊離酸濃度が上昇する。一方、アノード室3ではSn製アノード11からSnイオンが供給されるので、液中のSnイオン濃度が上昇し、遊離酸濃度は下降する。カソード室4とアノード室3とは陰イオン交換膜2により区画されているので、この陰イオン交換膜2を通って遊離酸は移動できるが、陽イオンであるSnイオンは通過できない。この状態でめっきを進行させ、カソード室4のめっき液及びアノード室3のめっき液をタンク5,7との間で循環しながら、カソード室4内のめっき液に対して必要に応じてめっき液の金属成分の補給液を供給する。
Then, Sn alloy plating is performed on the object to be plated 12 in the cathode chamber 4 by energizing the wafer 12 while supporting the wafer 12 on the work support portion 13 of the cathode chamber 4. At that time, the plating solution in the cathode chamber 4 and the plating solution in the anode chamber 3 are separately circulated between the tanks 5 and 7, and the plating solution is added to the plating solution in the cathode chamber 4 as necessary. Supply metal component replenisher.
By this electrolytic plating, Sn—Ag alloy is deposited on the lower surface of the wafer 12 in contact with the plating solution in the cathode chamber 4, and Sn ions (Sn 2+ ) are supplied to the plating solution from the anode 11 made of Sn in the anode chamber 3. . As the electrolysis proceeds, in the cathode chamber 4, Sn ions and Ag ions in the plating solution are deposited on the surface of the wafer 12 as an Sn-Ag alloy, so the Sn ion concentration in the plating solution decreases due to the consumption of Sn ions, As the Sn ion concentration decreases, the free acid concentration increases. On the other hand, since Sn ions are supplied from the anode 11 made of Sn in the anode chamber 3, the Sn ion concentration in the liquid increases and the free acid concentration decreases. Since the cathode chamber 4 and the anode chamber 3 are partitioned by the anion exchange membrane 2, free acid can move through the anion exchange membrane 2, but Sn ions that are cations cannot pass through. In this state, the plating is performed, and the plating solution in the cathode chamber 4 and the plating solution in the anode chamber 3 are circulated between the tanks 5 and 7 while the plating solution in the cathode chamber 4 is added as necessary. Supply a replenisher of metal components.

電解が進み、カソード室4内の遊離酸濃度が所定値(例えば350g/L)以上に上昇したら、めっき処理を終了する。
めっき処理が進むと、カソード室4内のめっき液には、電解やレジストの溶解等によるコンタミ等の有機不純物が含まれる可能性があり、また、遊離酸濃度が高濃度になっていることから、未使用のめっき液(新液)と比較してめっき性が低下し、めっき膜の品質を損なう。このため、めっき液中の遊離酸濃度が所定値以上に上昇したところでめっき処理を終了する。
このめっき処理の終了時点で、アノード室3内では、めっき液がSnイオンを高濃度で含有しており、例えば200g/L程度の濃度となっている。このめっき液は、前述したように、使用後めっき液から有機物が除去されためっき液が電解されてSnイオンを含有しているものであり、これをカソード室4内で用いられるめっき液のSnイオン補給液として使用することができる。
When electrolysis progresses and the free acid concentration in the cathode chamber 4 rises to a predetermined value (for example, 350 g / L) or more, the plating process is terminated.
As the plating process proceeds, the plating solution in the cathode chamber 4 may contain organic impurities such as contamination due to electrolysis or resist dissolution, and the free acid concentration is high. Compared with an unused plating solution (new solution), the plating property is lowered and the quality of the plating film is impaired. For this reason, a plating process is complete | finished when the free acid density | concentration in a plating solution rises more than predetermined value.
At the end of the plating process, in the anode chamber 3, the plating solution contains Sn ions at a high concentration, for example, a concentration of about 200 g / L. As described above, this plating solution contains Sn ions as a result of electrolysis of the plating solution from which organic substances have been removed from the plating solution after use, and this is used as Sn in the plating solution used in the cathode chamber 4. It can be used as an ion replenisher.

一方、カソード室4内の使用後めっき液は、めっき液移送手段21によりタンク5からタンク7に移送し、その途中に設けられている有機物除去手段23によって使用後めっき液に含まれている有機物を除去した後、アノード室3に供給される。そして、使用後めっき液を排出した後のカソード室4では、以上のようにして得られたSnイオンの補給液を使用して前述した配合でめっき液を作製して供給し、新たなめっき処理を行う。このめっき処理と同時に、前述したように、アノード室3では使用後めっき液にSnイオンが補給される。
なお、有機物除去手段23は活性炭を用いたものであるので、使用後めっき液に含まれる有機物だけでなく、Agイオン(Ag)や添加剤も除去される。このため、アノード室3ではAgイオンを含まないSnイオン補給液が生成される。
On the other hand, the plating solution after use in the cathode chamber 4 is transferred from the tank 5 to the tank 7 by the plating solution transfer means 21, and the organic matter contained in the plating solution after use by the organic substance removing means 23 provided in the middle thereof. Is removed and supplied to the anode chamber 3. Then, in the cathode chamber 4 after discharging the plating solution after use, the plating solution is prepared and supplied with the above-described composition using the Sn ion replenisher obtained as described above, and a new plating process is performed. I do. Simultaneously with this plating process, as described above, Sn ions are supplied to the plating solution after use in the anode chamber 3.
Since the organic substance removing means 23 uses activated carbon, not only the organic substance contained in the plating solution after use but also Ag ions (Ag + ) and additives are removed. For this reason, Sn ion replenishment liquid not containing Ag ions is generated in the anode chamber 3.

このように、このめっき方法では、カソード室4内の使用後めっき液に含まれる有機物を活性炭により除去しためっき液をアノード室3のめっき液として用い、カソード室4内のウエハ12とSn製アノード11との間で通電して行うSn合金めっきと同時に、アノード室3のめっき液にSnイオンを補給することができ、カソード室4でウエハ12にSn−Ag合金めっきを施しながら、アノード室3においてSnイオンを含有するめっき液の補給液を製造することができる。
この場合、有機物除去手段23により有機物とともにAgイオンも除去され、めっき処理中は、アノード室3をカソード室4に対して陰イオン交換膜2で区画したので、カソード室4内のめっき液中に含まれるAgイオンがカソード室4からアノード室3に移動することもなく、Sn製アノード11へのAgの置換析出は発生しない。
Thus, in this plating method, the plating solution obtained by removing the organic substances contained in the plating solution after use in the cathode chamber 4 with activated carbon is used as the plating solution for the anode chamber 3, and the wafer 12 in the cathode chamber 4 and the Sn anode At the same time as Sn alloy plating performed by energizing with the anode 11, Sn ions can be replenished to the plating solution in the anode chamber 3, and while the cathode chamber 4 performs Sn—Ag alloy plating on the wafer 12, the anode chamber 3 A plating solution replenisher containing Sn ions can be produced.
In this case, Ag ions are also removed together with the organic matter by the organic matter removing means 23. During the plating process, the anode chamber 3 is partitioned from the cathode chamber 4 by the anion exchange membrane 2, so that the plating solution in the cathode chamber 4 is in the plating solution. The contained Ag ions do not move from the cathode chamber 4 to the anode chamber 3, and Ag substitution deposition on the Sn anode 11 does not occur.

以上の実施形態では、一つのめっき槽1により、めっき処理と、その使用後めっき液によるSnイオン補給液の製造とを同時に進行するように構成したが、使用後めっき液を単独でリサイクル処理することも可能である。
図2は、そのようなリサイクル装置の一実施形態を示しており、使用後めっき液を貯留する回収槽31と、使用後めっき液を電解処理する電解槽32と、回収槽31から電解槽32に使用後めっき液を移送するめっき液移送手段21とを備えており、このめっき液移送手段33の途中に、使用後めっき液中に含まれる有機物を活性炭により除去する有機物除去手段23が設けられている。
In the above embodiment, the plating treatment and the production of the Sn ion replenishment solution using the plating solution after the use are simultaneously performed by one plating tank 1, but the plating solution after use is recycled alone. It is also possible.
FIG. 2 shows an embodiment of such a recycling apparatus. A recovery tank 31 for storing a post-use plating solution, an electrolytic tank 32 for electrolyzing the post-use plating solution, and an electrolytic tank 32 from the recovery tank 31. And a plating solution transfer means 21 for transferring the plating solution after use, and an organic substance removing means 23 for removing the organic matter contained in the plating solution after use with activated carbon is provided in the middle of the plating solution transfer means 33. ing.

回収槽31は使用後めっき液を貯留する機能を有していればよく、タンクにより構成される。
有機物除去手段23は、前述しためっき装置の実施形態と同様の構成のものが適用できる。
電解槽32は、内部が陰イオン交換膜34によりアノード室35とカソード室36とに区画されており、アノード室35内にSn製アノード37が配置されるとともに、カソード室36にカソード38が配置され、電源39に接続されている。
符号22は使用後めっき液を圧送するポンプを示す。
The collection tank 31 only needs to have a function of storing the plating solution after use, and is constituted by a tank.
As the organic substance removing means 23, one having the same configuration as that of the above-described embodiment of the plating apparatus can be applied.
The inside of the electrolytic cell 32 is partitioned into an anode chamber 35 and a cathode chamber 36 by an anion exchange membrane 34, a Sn anode 37 is disposed in the anode chamber 35, and a cathode 38 is disposed in the cathode chamber 36. And connected to a power source 39.
The code | symbol 22 shows the pump which pumps a plating solution after use.

このように構成したリサイクル装置において、Sn合金めっき処理に供された使用後めっき液をリサイクルするには、使用後めっき液を回収槽31内に貯留しておき、ポンプ22で圧送しながら有機物除去手段23に通過させ、この有機物除去手段23の活性炭により有機物を除去した後、電解槽32のアノード室35に供給する。カソード室36内には未使用である新規のめっき液を貯留しておく。
そして、電解処理することにより、アノード室35ではSn製アノード37からSnイオン(Sn2+)が液(有機物を除去した後の使用後めっき液)内に供給され、このSnイオンの溶出に伴い、液の酸濃度は低下する。カソード室36内ではカソード電極38にSn合金めっきの電解が行われる。
In the recycling apparatus configured as described above, in order to recycle the plating solution used for Sn alloy plating, the plating solution after use is stored in the collection tank 31, and organic substances are removed while being pumped by the pump 22. The organic matter is removed by the activated carbon of the organic matter removing means 23 and then supplied to the anode chamber 35 of the electrolytic cell 32. An unused new plating solution is stored in the cathode chamber 36.
Then, by electrolytic treatment, Sn ions (Sn 2+ ) are supplied from the anode 37 made of Sn into the liquid (post-use plating solution after removing organic substances) in the anode chamber 35, and with the elution of the Sn ions, The acid concentration of the liquid decreases. In the cathode chamber 36, electrolysis of Sn alloy plating is performed on the cathode electrode 38.

このようにして得られる電解処理後のめっき液(電解処理後めっき液)は、Snイオンを高濃度で含有しており、この電解処理後めっき液をSn合金めっき処理に用いられるめっき液のSnイオン補給液として使用することができる。   Thus obtained plating solution after electrolytic treatment (plating solution after electrolytic treatment) contains Sn ions at a high concentration, and this electrolytic solution after plating treatment is Sn of a plating solution used for Sn alloy plating treatment. It can be used as an ion replenisher.

めっき処理に使用した使用後めっき液を用いて、本発明の効果を検証した。
検証は、新液、使用後めっき液、有機物を除去した後のめっき液、再生されためっき液について、それぞれ1Lずつ容器に取り出し、そのめっき液成分を確認することにより行った。
表1の「新液」は、めっき処理前のめっき液の組成を示している。なお、錯化剤には三菱マテリアル製のTS‐SLG、添加剤には三菱マテリアル製のTS‐202ADを用いた。「使用後」は使用後めっき液、「有機物除去後」は有機物を除去した後のめっき液、「再生後」は再生されためっき液を示す。
The effect of the present invention was verified using the post-use plating solution used for the plating treatment.
The verification was performed by taking out 1 L each of the new solution, the plating solution after use, the plating solution after removing the organic substances, and the regenerated plating solution, and checking the components of the plating solution.
“New solution” in Table 1 indicates the composition of the plating solution before the plating treatment. Note that TS-SLG manufactured by Mitsubishi Materials was used as the complexing agent, and TS-202AD manufactured by Mitsubishi Materials was used as the additive. “After use” indicates a plating solution after use, “After removal of organic matter” indicates a plating solution after removal of organic matter, and “After regeneration” indicates a regenerated plating solution.

めっき槽は、アノード室の容積を20L、カソード室の容積を40Lとして、高分子系化合物からなる陰イオン交換膜で区画した。めっき処理としては、レジストによりパターニングされたSiウエハに、めっき槽の浴温は25℃に設定し、12A/dmの電流密度(ASD)で、電解量として約100AH/Lのめっきを施した。陰イオン交換膜で区画されたアノード室にはSn製アノードを設置した。
また、有機物除去手段としては活性炭を充填したカラムを用い、使用後めっき液を流通させてろ過した。
The plating tank was partitioned with an anion exchange membrane made of a polymer compound, with the anode chamber having a volume of 20 L and the cathode chamber having a volume of 40 L. As a plating process, a bath temperature of a plating bath was set to 25 ° C. on a resist-patterned Si wafer, and a current density (ASD) of 12 A / dm 2 was applied and an electrolysis amount of about 100 AH / L was applied. . An anode made of Sn was installed in the anode chamber partitioned by the anion exchange membrane.
Moreover, as the organic substance removing means, a column filled with activated carbon was used, and after use, the plating solution was circulated and filtered.

そして、めっき液中の各成分の濃度分析は次の通り実施した。
Sn2+については、塩酸及び酒石酸を加えてSnの加水分解を防止した後、炭酸水素ナトリウムの添加による炭酸ガス発生雰囲気中で、デンプン溶液を指示薬として速やかにヨウ素標準溶液で滴定する方法を用いた。
Agについては、ICPを用いて波長328.068nmで吸光度を測定し、検量線によりAgの定量を行った。
遊離酸濃度は1mol/L水酸化ナトリウム溶液による中和滴定法で測定した。錯化剤及び添加剤に関しては、HPLC法を用いて特定のピークを測定することで定量を行った。
また、有機不純物については、HPLC法において新液と異なるピークの有無によって不純物の有無を判断した。
表1に結果を示す。
And the density | concentration analysis of each component in a plating solution was implemented as follows.
For Sn 2+ , after adding hydrochloric acid and tartaric acid to prevent hydrolysis of Sn, a method of quickly titrating with an iodine standard solution using a starch solution as an indicator in a carbon dioxide generating atmosphere by adding sodium hydrogen carbonate was used. .
For Ag + , absorbance was measured at a wavelength of 328.068 nm using ICP, and Ag was quantified using a calibration curve.
The free acid concentration was measured by neutralization titration with 1 mol / L sodium hydroxide solution. The complexing agent and additive were quantified by measuring a specific peak using the HPLC method.
Moreover, about the organic impurity, the presence or absence of the impurity was judged by the presence or absence of the peak different from a new liquid in HPLC method.
Table 1 shows the results.

Figure 0006079368
Figure 0006079368

表1に示されるように、めっき処理に伴いめっき液中のSn成分濃度(Sn2+)が減少するとともに遊離酸濃度が増加する。この使用後めっき液を活性炭により有機物除去すると、使用後めっき液中から添加剤とともに、有機物成分である不純物(有機不純物)が除去される。また、金属成分も一部除去され、Agイオンはすべてが除去される。この金属成分の除去に伴い、遊離酸濃度は上昇した。
次いで、電解処理することにより、Snイオンが高濃度に含有しためっき液を得ることができた。この場合、アノード表面にSn以外の金属分は検出できなかった。
この結果から、可溶性のSn製アノードを用いながら置換析出の発生がなく、しかも、Snイオンの補給液として十分使用できる溶液をめっき処理に並行して作製することができることがわかる。
As shown in Table 1, along with the plating treatment, the Sn component concentration (Sn 2+ ) in the plating solution decreases and the free acid concentration increases. When the organic matter is removed from the post-use plating solution with activated carbon, impurities (organic impurities) as organic components are removed from the post-use plating solution together with additives. Moreover, some metal components are also removed, and all Ag ions are removed. With the removal of this metal component, the free acid concentration increased.
Next, a plating solution containing Sn ions at a high concentration could be obtained by electrolytic treatment. In this case, no metal other than Sn could be detected on the anode surface.
From this result, it can be seen that a solution that can be used sufficiently as a replenisher solution of Sn ions can be produced in parallel with the plating treatment while using a soluble Sn anode.

なお、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。
例えば、前述したSn−Ag系合金のめっき液以外のSn−Cu系合金などのめっき液にも本発明を適用することができる。
In addition, this invention is not limited to the said embodiment, A various change can be added in the range which does not deviate from the meaning of this invention.
For example, the present invention can also be applied to plating solutions such as Sn—Cu alloys other than the Sn—Ag alloy plating solutions described above.

1 めっき槽
2 陰イオン交換膜
3 アノード室
4 カソード室
5,7 タンク
6,8 ポンプ
11 Sn製アノード
12 ウエハ(被めっき物)
13 ワーク支持部
14 電源
15 蓋体
16 オーバーフロー流路
21 めっき液移送手段
22 ポンプ
23 有機物除去手段
31 回収槽
32 電解槽
34 陰イオン交換膜
35 アノード室
36 カソード室
37 Sn製アノード
38 カソード電極
39 電源
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Plating tank 2 Anion exchange membrane 3 Anode chamber 4 Cathode chamber 5, 7 Tank 6, 8 Pump 11 Sn anode 12 Wafer (to-be-plated object)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 13 Work support part 14 Power supply 15 Cover body 16 Overflow flow path 21 Plating solution transfer means 22 Pump 23 Organic substance removal means 31 Recovery tank 32 Electrolysis tank 34 Anion exchange membrane 35 Anode chamber 36 Cathode chamber 37 Sn anode 38 Cathode electrode 39 Power supply

Claims (4)

陰イオン交換膜により区画されためっき槽のカソード室内に設置した被めっき物に電解めっきによりSn合金めっきを施すSn合金めっき方法であって、前記めっき槽のアノード室内には、Sn製アノードを配置するとともに、前記カソード室内で使用されたSn合金めっき処理後の使用後めっき液に含まれる有機物を活性炭により除去しためっき液を前記アノード室のめっき液として用い、前記カソード室内の被めっき物と前記Sn製アノードとの間で通電して行うSn合金めっきと同時に、前記アノード室のめっき液にSnイオンを補給することを特徴とするSn合金めっき方法。   An Sn alloy plating method in which Sn alloy plating is performed by electrolytic plating on an object to be plated placed in a cathode chamber of a plating tank partitioned by an anion exchange membrane, and an anode made of Sn is disposed in the anode chamber of the plating tank In addition, a plating solution obtained by removing the organic substances contained in the post-use plating solution after the Sn alloy plating treatment used in the cathode chamber with activated carbon is used as the plating solution in the anode chamber, and the object to be plated in the cathode chamber and the A Sn alloy plating method comprising replenishing Sn ions to a plating solution in the anode chamber simultaneously with Sn alloy plating performed by energizing a Sn anode. 陰イオン交換膜により区画されたアノード室内にSn製アノードを有し、カソード室に被めっき物が配置されるめっき槽と、前記カソード室内の使用後めっき液を前記アノード室に供給するめっき液移送手段が備えられ、該めっき液移送手段には、前記使用後めっき液を通過させて活性炭により有機物を除去する有機物除去手段が設けられていることを特徴とするSn合金めっき装置。   A plating tank having an Sn-made anode in an anode chamber partitioned by an anion exchange membrane, and an object to be plated placed in the cathode chamber, and a plating solution transfer for supplying a plating solution after use in the cathode chamber to the anode chamber An Sn alloy plating apparatus characterized in that the plating solution transfer means is provided with an organic matter removing means for passing the post-use plating solution and removing the organic matter with activated carbon. Sn合金の電解めっき処理に使用された使用後めっき液を再生するSn合金めっき液のリサイクル方法であって、前記使用後めっき液中に含まれる有機物を活性炭により除去した後、陰イオン交換膜によってカソードが設置されたカソード室とSn製アノードが設置されたアノード室とに区画された電解槽内の前記アノード室に供給して、前記カソードと前記Sn製アノードとの間で通電処理することにより前記アノード室内のめっき液をSnイオン補給液として再生することを特徴とするSn合金めっき液のリサイクル方法。 A method of recycling Sn alloy plating solution for reproducing a plating solution after use, which is used in the electroplating process Sn alloy, after the organic matter contained in the plating solution after the use is removed by the activated carbon, by anion-exchange membrane By supplying the anode chamber in the electrolytic cell divided into a cathode chamber in which the cathode is installed and an anode chamber in which the Sn anode is installed, and conducting an energization treatment between the cathode and the Sn anode. A method for recycling an Sn alloy plating solution, wherein the plating solution in the anode chamber is regenerated as an Sn ion replenishment solution. Sn合金の電解めっき処理に使用された使用後めっき液を再生するSn合金めっき液のリサイクル装置であって、陰イオン交換膜でカソード室とアノード室に区画された電解槽と、使用後めっき液を貯留する回収槽と、前記回収槽から前記電解槽に使用後めっき液を移送するめっき液移送手段と、前記めっき液移送手段の途中で前記使用後めっき液から有機物を除去する有機物除去手段とを有し、前記カソード室にはカソードが設置され、前記アノード室にはSn製アノードが設置されていることを特徴とするSn合金めっき液のリサイクル装置。
An apparatus for recycling an Sn alloy plating solution for regenerating a plating solution after use used for electrolytic plating of Sn alloy , an electrolytic cell partitioned into a cathode chamber and an anode chamber by an anion exchange membrane, and a plating solution after use A collecting tank for storing the plating solution, a plating solution transferring means for transferring the used plating solution from the collecting vessel to the electrolytic cell, and an organic matter removing means for removing organic substances from the used plating solution in the middle of the plating solution transferring means, A Sn alloy plating solution recycling apparatus, wherein a cathode is installed in the cathode chamber, and an anode made of Sn is installed in the anode chamber.
JP2013068552A 2013-03-28 2013-03-28 Sn alloy plating method, Sn alloy plating solution recycling method, and apparatuses thereof Expired - Fee Related JP6079368B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013068552A JP6079368B2 (en) 2013-03-28 2013-03-28 Sn alloy plating method, Sn alloy plating solution recycling method, and apparatuses thereof

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013068552A JP6079368B2 (en) 2013-03-28 2013-03-28 Sn alloy plating method, Sn alloy plating solution recycling method, and apparatuses thereof

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014189873A JP2014189873A (en) 2014-10-06
JP6079368B2 true JP6079368B2 (en) 2017-02-15

Family

ID=51836439

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013068552A Expired - Fee Related JP6079368B2 (en) 2013-03-28 2013-03-28 Sn alloy plating method, Sn alloy plating solution recycling method, and apparatuses thereof

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6079368B2 (en)

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05125598A (en) * 1991-10-31 1993-05-21 Kawasaki Steel Corp Continuous electrolytic tin plating equipment
JPH062198A (en) * 1992-06-22 1994-01-11 Kawasaki Steel Corp Method for regenerating sn plating liquid
JPH07188999A (en) * 1993-12-28 1995-07-25 Nippon Steel Corp Preparation of plating solution
DE19539865A1 (en) * 1995-10-26 1997-04-30 Lea Ronal Gmbh Continuous electroplating system
JP3776566B2 (en) * 1997-07-01 2006-05-17 株式会社大和化成研究所 Plating method
JP4441725B2 (en) * 2003-11-04 2010-03-31 石原薬品株式会社 Electric tin alloy plating method

Also Published As

Publication number Publication date
JP2014189873A (en) 2014-10-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102303998B1 (en) Apparatuses and methods for maintaining ph in nickel electroplating baths
JP6033234B2 (en) Plating solution regeneration method, plating method, and plating apparatus
US20060108228A1 (en) Method of stabilizing additive concentrations in an electroplating bath for interconnect formation
TWI553168B (en) Method and regeneration apparatus for regenerating a plating composition
KR102134929B1 (en) Method and apparatus for electroplating semiconductor wafer when controlling cations in electrolyte
TW201604333A (en) Methods and apparatuses for electroplating nickel using sulfur-free nickel anodes
KR20180073657A (en) An inert anode electroplating processor having anionic films and a replenisher
US9506163B2 (en) Method of electroplating with Sn-alloy and apparatus of electroplating with Sn-alloy
TWI638910B (en) The measurement method and processing device for liquid containing iron and metal, electrodeposition method and device for Co and Fe, and method for removing pollution of radioactive waste ion exchange resin and device for
US11053604B2 (en) System for treating solution for use in electroplating application and method for treating solution for use in electroplating application
KR101267201B1 (en) Method for recovering precious-metal ions from plating wastewater
JP6079368B2 (en) Sn alloy plating method, Sn alloy plating solution recycling method, and apparatuses thereof
KR20150120865A (en) Nickel Electroplating Systems Having a Grain Refiner Releasing Device
Mahmoud et al. Experimental tests and modelling of an electrodeionization cell for the treatment of dilute copper solutions
JP6485029B2 (en) Electrolytic plating method and electrolytic plating apparatus
JP2023507479A (en) Method and system for depositing zinc-nickel alloys on substrates
JP2014034691A (en) Recycling method and apparatus of plating solution
KR20200140407A (en) Systems and methods for removing contamination in electroplating systems
JP2014031533A (en) Plating method

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20150929

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20160816

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20161004

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20161124

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20161220

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20170102

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6079368

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees