JP6051921B2

JP6051921B2 - Connector inspection device

Info

Publication number: JP6051921B2
Application number: JP2013030885A
Authority: JP
Inventors: 信一朗岩田; 彰西野
Original assignee: Sumitomo Wiring Systems Ltd
Current assignee: Sumitomo Wiring Systems Ltd
Priority date: 2013-02-20
Filing date: 2013-02-20
Publication date: 2016-12-27
Anticipated expiration: 2033-02-20
Also published as: JP2014160598A

Description

本発明は、コネクタを検査する技術に関する。 The present invention relates to a technique for inspecting a connector.

例えば、自動車における電装品の配線に用いられるワイヤーハーネスにおいて、ワイヤーハーネス相互間の接続、ワイヤーハーネスと電装品との接続などには、コネクタが用いられる。コネクタは、一般に、合成樹脂材料などを用いて構成されるコネクタハウジングと、このコネクタハウジングに形成された端子収容室（所謂、キャビティ）に収容される端子（雌端子、または、雄端子）とを有している。この構成において、雌端子が収容されたコネクタ（雌コネクタ）と、雄端子が収容されたコネクタ（雄コネクタ）とのハウジング同士を嵌合させることによって、雄端子と雌端子とが位置合わせされ、電気的に接続された状態となる。 For example, in a wire harness used for wiring an electrical component in an automobile, a connector is used for connection between the wire harnesses, connection between the wire harness and the electrical component, and the like. A connector generally includes a connector housing formed using a synthetic resin material and the like, and terminals (female terminals or male terminals) housed in terminal housing chambers (so-called cavities) formed in the connector housing. Have. In this configuration, the male terminal and the female terminal are aligned by fitting the housings of the connector (female connector) in which the female terminal is accommodated and the connector (male connector) in which the male terminal is accommodated, It is in an electrically connected state.

コネクタにおいては、例えば、そのハウジング内に、撓み変形できるランスが形成され、このランスが、正規位置で復元変形して、端子側に形成された孔に引っ掛かることにより、端子がコネクタハウジングから抜けないように抜け止めされる（所謂、ハウジングランス方式）。 In the connector, for example, a lance that can be flexibly deformed is formed in the housing, and the lance is restored and deformed at a normal position and is caught in a hole formed on the terminal side, so that the terminal does not come off from the connector housing. (So-called housing lance system).

ところで、コネクタにおいて、端子が半挿入状態にある場合（すなわち、端子とランスとが嵌合不良を来している場合）には、端子がハウジングから抜け出てしまう恐れがある。したがって、この嵌合不良の有無を厳格に検査する必要がある。 By the way, in the connector, when the terminal is in a half-inserted state (that is, when the terminal and the lance are poorly fitted), the terminal may come out of the housing. Therefore, it is necessary to strictly inspect the presence or absence of this fitting failure.

ランスの嵌合不良を検出する技術は、各種提案されている。例えば、特許文献１に開示のコネクタ検査装置は、検査対象となるコネクタに対して近接離間する方向に移動可能に設けられた検査部を備えている。この検査部は、検査対象となるコネクタのキャビティに入り込んで端子と電気的に接続可能な導通検査ピン（所謂、プローブピン）と、これと一体的に配設されたランス検査用部材とを備えている。このランス検査用部材は、樹脂により形成され、ランスの撓み空間に入り込んで、端子と嵌合不良を来しているランスと当接可能な形状となっている。この構成において、ランスが端子に適切に引っ掛かっている場合、ランスは撓み空間から待避した状態となっており、ランス検査用部材はランスの撓み空間に深く差し込まれる。その結果、プローブピンが端子と当接可能な位置まで差し込まれた状態となって電気的な導通が取られる。一方、ランスが嵌合不良を来している場合、ランスは撓み空間に突出した状態となっており、ランス検査用部材はランスに突き当たって撓み空間に深く進入することができない。その結果、プローブピンが端子と当接可能な位置まで届かず、電気的な導通が取られない。 Various techniques for detecting a lance fitting failure have been proposed. For example, the connector inspection apparatus disclosed in Patent Document 1 includes an inspection unit that is provided so as to be movable in the direction of approaching and separating from a connector to be inspected. The inspection section includes a continuity inspection pin (so-called probe pin) that enters the cavity of the connector to be inspected and can be electrically connected to the terminal, and a lance inspection member disposed integrally therewith. ing. This lance inspection member is made of resin and has a shape capable of entering into the bending space of the lance so as to come into contact with the lance that is in poor fitting with the terminal. In this configuration, when the lance is properly hooked on the terminal, the lance is retracted from the bending space, and the lance inspection member is inserted deeply into the bending space of the lance. As a result, the probe pin is inserted to a position where it can come into contact with the terminal, and electrical conduction is obtained. On the other hand, when the lance is poorly fitted, the lance protrudes into the bending space, and the lance inspection member cannot hit the lance and enter deeply into the bending space. As a result, the probe pin does not reach a position where it can come into contact with the terminal, and electrical conduction is not achieved.

上記に例示される類のコネクタ検査装置においては、プローブピンによって電気的な導通が取られた場合に、コネクタが良品であると判定される。端子が半挿入状態となっている場合、上述したとおり、ランス検査用部材がランスに突き当たってプローブピンが端子と当接可能な位置まで届かないために、プローブピンの電気的な導通が取られない。したがって、端子が半挿入状態にあるコネクタが良品でないとして正しく判定されることになる。 In the connector inspection apparatus of the kind illustrated above, when electrical continuity is taken by the probe pin, it is determined that the connector is non-defective. When the terminal is in the half-inserted state, as described above, since the lance inspection member hits the lance and does not reach the position where the probe pin can come into contact with the terminal, the probe pin is electrically connected. Absent. Therefore, it is correctly determined that the connector in which the terminal is half inserted is not a good product.

特開平１０−２８４２０７号公報Japanese Patent Laid-Open No. 10-284207

従来のコネクタ検査装置では、上述したとおり、プローブピンにおいて電気的な導通が取られるか否かによって、コネクタが良品であるか否かを判定する。ところが、この態様では、思わぬ誤判定を招く可能性がゼロではなかった。例えば、コネクタにおいてランスが端子に適切に引っ掛かっておらず、ランス検査用部材がランスの撓み空間に深く差し込まれないために、プローブピンが端子と当接可能な位置まで差し込まれていない状態となっている状況、すなわち、本来であればプローブピンの導通が確認され得ないこの状況において、例えば、プローブピンと端子との間に金属片などが混入しているために導通が取られてしまった場合、端子が半挿入状態にあるコネクタが、良品として誤判定されるおそれがある。 In the conventional connector inspection apparatus, as described above, it is determined whether or not the connector is a good product depending on whether or not electrical continuity is taken in the probe pin. However, in this aspect, the possibility of causing an unexpected erroneous determination was not zero. For example, in the connector, the lance is not properly hooked to the terminal, and the lance inspection member is not inserted deeply into the bending space of the lance, so that the probe pin is not inserted to a position where it can contact the terminal. In this situation where probe pin continuity cannot be confirmed, for example, if a piece of metal is mixed between the probe pin and the terminal, the continuity is taken. There is a possibility that a connector in which the terminal is in a half-inserted state is erroneously determined as a good product.

この発明は上記の課題に鑑みてなされたものであり、コネクタの検査において、信頼できる判定結果を得ることができる技術の提供を目的としている。 The present invention has been made in view of the above problems, and an object thereof is to provide a technique capable of obtaining a reliable determination result in the inspection of a connector.

第１の態様は、ハウジング内に端子が収容されており、前記ハウジング内に設けられた撓み変形できるランスが、正規位置で復元変形して前記端子に引っ掛かることにより、前記端子の抜け止めがなされるコネクタを、検査するコネクタ検査装置であって、前記コネクタに対して近接離間する方向に進退可能に配置されたピンユニットと、前記ピンユニットを、前記コネクタに接近させる方向に弾性的に付勢する付勢部と、前記ピンユニットの進退方向に沿う位置を検知する位置検知部と、前記コネクタを保持可能なホルダと、前記ホルダに前記コネクタが保持されているか否かを検知し、前記位置検知部と直列に接続されている有無検知スイッチと、を備え、前記ピンユニットが、前記端子との間の電気的導通の有無に基づいて前記端子の導通検査を行なう導通検査ピンと、前記ランスの撓み空間に進入する挿入検査ピンと、を備える。第２の態様は、第１の態様に係るコネクタ検査装置であって、前記導通検査ピンによる導通検査の良否を判定する制御部を備え、前記位置検知部は、前記ピンユニットの位置状態を判定する判定部を備え、前記制御部及び前記判定部が共に肯定的な判定結果を出力した場合に、検査対象となる前記コネクタが良品であると判定する。
In the first aspect, the terminal is accommodated in the housing, and the lance that is deformed and deformed provided in the housing is restored and deformed at a normal position and is caught on the terminal, thereby preventing the terminal from coming off. A connector inspection device for inspecting a connector, wherein the pin unit is disposed so as to be able to advance and retreat in a direction approaching and separating from the connector, and the pin unit is elastically biased in a direction to approach the connector. An urging portion for detecting, a position detecting portion for detecting a position along the advancing / retreating direction of the pin unit, a holder capable of holding the connector, and detecting whether the connector is held by the holder, and a presence detecting switch connected to the detection unit in series, wherein the pin unit, the terminal on the basis of the presence or absence of electrical conduction between the terminal Comprising a continuity test pin to perform through inspection, and inserting test pin entering the bending space of the lance, the. A 2nd aspect is a connector inspection apparatus which concerns on a 1st aspect, Comprising: The control part which determines the quality of the continuity inspection by the said continuity inspection pin is provided, The said position detection part determines the position state of the said pin unit And determining that the connector to be inspected is a non-defective product when both the control unit and the determination unit output a positive determination result.

第３の態様は、第１又は第２の態様に係るコネクタ検査装置であって、前記挿入検査ピンが、金属により形成されている。 A 3rd aspect is a connector test | inspection apparatus which concerns on a 1st or 2nd aspect, Comprising: The said insertion test | inspection pin is formed with the metal.

第４の態様は、第３の態様に係るコネクタ検査装置であって、前記ピンユニットが、前記導通検査ピンを複数備えるとともに、前記挿入検査ピンを複数備え、前記複数の挿入検査ピンが連結ブロックを介して一体的に形成されることにより１個の挿入検査ピンユニットを形成しており、前記ピンユニットが、前記複数の導通検査ピンと前記挿入検査ピンユニットとの間に配置され、前記複数の導通検査ピンと前記挿入検査ピンユニットとを電気的に絶縁する絶縁部材、をさらに備える。 A 4th aspect is a connector test | inspection apparatus which concerns on a 3rd aspect, Comprising: While the said pin unit is provided with two or more said conduction | electrical_connection test pins, it is provided with two or more said insertion test | inspection pins, and these insertion test | inspection pins are connection blocks. Are formed integrally with each other to form one insertion inspection pin unit, and the pin unit is disposed between the plurality of continuity inspection pins and the insertion inspection pin unit. An insulating member that electrically insulates the continuity inspection pin and the insertion inspection pin unit is further provided.

第５の態様は、第１又は第２の態様に係るコネクタ検査装置であって、前記挿入検査ピンが、樹脂により形成されている。 A 5th aspect is a connector inspection apparatus which concerns on the 1st or 2nd aspect, Comprising: The said insertion test | inspection pin is formed with resin.

第６の態様は、第１から第５のいずれかの態様に係るコネクタ検査装置であって、前記ピンユニットを支持し、前記ピンユニットの進退方向に進退可能に配置された支持部材、を備え、前記付勢部が、前記支持部材に当接してこれを前記コネクタに接近させる方向に付勢することによって、前記支持部材に支持されている前記ピンユニットを、前記コネクタに接近させる方向に付勢し、前記位置検知部が、前記支持部材の前記進退方向に沿う位置を検知することによって、前記ピンユニットの前記進退方向に沿う位置を検知する。 A sixth aspect is a connector inspection apparatus according to any one of the first to fifth aspects, comprising a support member that supports the pin unit and is arranged to be able to advance and retreat in the advancing and retreating direction of the pin unit. The biasing unit abuts the support member and biases the pin unit in a direction to approach the connector, thereby biasing the pin unit supported by the support member in a direction to approach the connector. The position detector detects the position along the forward / backward direction of the pin unit by detecting the position along the forward / backward direction of the support member.

第７の態様は、第６の態様に係るコネクタ検査装置であって、前記ピンユニットを複数備え、前記複数のピンユニットが、共通の前記支持部材に支持される。 A 7th aspect is a connector inspection apparatus which concerns on a 6th aspect, Comprising: The said pin unit is provided with two or more, The said several pin unit is supported by the said common support member.

第１〜第７の態様によると、コネクタに対して進退可能に配置されたピンユニットの進退方向に沿う位置を検知する位置検知部を備える。この構成によると、導通検査ピンと端子との間に電気的な導通が取られるか否かの情報に加え、さらに、ピンユニットの位置が適切であるか否かの情報を加味して、コネクタを良否判定することができる。したがって、誤判定の可能性が低減され、信頼できる判定結果を得ることができる。 According to the 1st- 7th aspect, the position detection part which detects the position along the advancing / retreating direction of the pin unit arrange | positioned so that advancing / retreating with respect to a connector is provided. According to this configuration, in addition to information on whether electrical continuity is established between the continuity test pin and the terminal, in addition to information on whether the position of the pin unit is appropriate, the connector is A pass / fail judgment can be made. Therefore, the possibility of erroneous determination is reduced, and a reliable determination result can be obtained.

特に、第３の態様によると、挿入検査ピンが、金属により形成されている。この構成によると、例えば、ランスの撓み空間が狭い小型のコネクタに対応するべく、挿入検査ピンの形状を細くした場合であっても、挿入検査ピンに十分な強度をもたせることが可能となり、挿入検査ピンの変形や折れを十分に抑制できる。 In particular, according to the third aspect, the insertion inspection pin is made of metal. According to this configuration, for example, even when the shape of the insertion inspection pin is narrowed to accommodate a small connector with a narrow lance bending space, it is possible to give the insertion inspection pin sufficient strength, The deformation and breakage of the inspection pin can be sufficiently suppressed.

特に、第４の態様によると、複数の導通検査ピンが、挿入検査ピンユニットを介して互いに導通することが回避され、これによって、導通検査の信頼性を担保できる。 In particular, according to the 4th aspect, it is avoided that a some continuity inspection pin mutually conduct | electrically_connects via an insertion test | inspection pin unit, and can thereby ensure the reliability of a continuity inspection.

特に、第７の態様によると、複数のピンユニットが共通の支持部材に支持される。この構成によると、複数のピンユニットの少なくとも１つに位置ずれが生じている場合に、これが支持部材の位置ずれとして検知される。したがって、例えば、複数のピンユニットの各々の位置を個別に検知する態様に比べて、効率的に、ピンユニットの位置ずれを検知することができる。 In particular, according to the seventh aspect, the plurality of pin units are supported by the common support member. According to this configuration, when a positional deviation occurs in at least one of the plurality of pin units, this is detected as a positional deviation of the support member. Therefore, for example, it is possible to detect the positional deviation of the pin unit more efficiently than in the case of individually detecting the position of each of the plurality of pin units.

コネクタの概略断面図である。It is a schematic sectional drawing of a connector. コネクタ検査装置の分解図である。It is an exploded view of a connector inspection apparatus. コネクタ検査装置の縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view of a connector inspection apparatus. コネクタ検査装置の横断面図である。It is a cross-sectional view of a connector inspection apparatus. ピンユニットの分解図である。It is an exploded view of a pin unit. ピンユニットの平面図である。It is a top view of a pin unit. 回路部の構成を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the structure of a circuit part. 検査対象となるコネクタが良品である場合の検査態様を説明する図であり、コネクタ検査装置の一部を拡大して示した横断面図である。It is a figure explaining the test | inspection aspect in case the connector used as a test | inspection object is a quality product, and is the cross-sectional view which expanded and showed a part of connector inspection apparatus. 検査対象となるコネクタが良品である場合の検査態様を説明する図であり、コネクタ検査装置の一部を拡大して示した縦断面図である。It is a figure explaining the test | inspection aspect in case the connector used as test | inspection is a quality product, and is the longitudinal cross-sectional view which expanded and showed a part of connector inspection apparatus. 検査対象となるコネクタが良品でない場合の検査態様を説明する図であり、コネクタ検査装置の一部を拡大して示した横断面図である。It is a figure explaining the test | inspection aspect when the connector used as test | inspection object is not non-defective, and is the cross-sectional view which expanded and showed a part of connector inspection apparatus. 検査対象となるコネクタが良品でない場合の検査態様を説明する図であり、コネクタ検査装置の一部を拡大して示した縦断面図である。It is a figure explaining the test | inspection aspect when the connector used as test | inspection object is not a non-defective product, and is the longitudinal cross-sectional view which expanded and showed a part of connector inspection apparatus. 挿入検査ピンに変形がある状況を説明する図であり、コネクタ検査装置の一部を拡大して示した横断面図である。It is a figure explaining the situation where there is a deformation in an insertion inspection pin, and is a cross-sectional view showing an enlarged part of a connector inspection device. 挿入検査ピンに変形がある状況を説明する図であり、コネクタ検査装置の一部を拡大して示した縦断面図である。It is a figure explaining the situation where there is a deformation in an insertion inspection pin, and is a longitudinal section showing an enlarged part of a connector inspection device.

以下、添付の図面を参照しながら、本発明の実施形態について説明する。以下の実施形態は、本発明を具体化した一例であって、本発明の技術的範囲を限定するものではない。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. The following embodiment is an example embodying the present invention, and does not limit the technical scope of the present invention.

＜１．コネクタ９＞
はじめに、コネクタ検査装置１００が検査対象とするコネクタ９について、図１を参照しながら説明する。図１は、コネクタ９の概略断面図である。 <1. Connector 9>
First, the connector 9 to be inspected by the connector inspection apparatus 100 will be described with reference to FIG. FIG. 1 is a schematic cross-sectional view of the connector 9.

コネクタ９は、例えば、ワイヤーハーネスの端末電線に接続された端子９１と、この端子９１を収容するハウジング９２とを備えている。 The connector 9 includes, for example, a terminal 91 connected to a terminal wire of a wire harness and a housing 92 that accommodates the terminal 91.

図示の例において、端子９１は、雄端子であり、相手側の雌端子（図示省略）と接続されるためのタブ９１１を有している。このタブ９１１は、雌端子の軸方向に平行に延びて相手側の雌端子と接続可能になっている。もっとも、コネクタ９が備える端子９１は、雌端子であってもよい。 In the example shown in the figure, the terminal 91 is a male terminal and has a tab 911 for connection to a mating female terminal (not shown). The tab 911 extends parallel to the axial direction of the female terminal and can be connected to the mating female terminal. But the terminal 91 with which the connector 9 is provided may be a female terminal.

ハウジング９２には、端子９１を収容する端子収容室（所謂、キャビティ）９２１と、撓み変形できるランス９２２と、このランス９２２の撓み空間９２３とが形成されている。 The housing 92 is formed with a terminal accommodating chamber (so-called cavity) 921 that accommodates the terminals 91, a lance 922 that can be bent and deformed, and a bending space 923 of the lance 922.

ランス９２２は、端子収容室９２１に収容された端子９１が抜けないようにロックするための部材である。すなわち、コネクタ９が良品である場合（すなわち、コネクタ９が、設計時に設定された寸法規格、組付規格、さらには形状規格を維持している場合）には、図１に示されるように、端子９１が端子収容室９２１内に入り込むとともに、ランス９２２が正規位置で復元変形して当該端子９１に引っ掛かった（係止した）状態となり、これによって、端子９１の抜け止めがなされる。この状態において、ランス９２２は、撓み空間９２３から退避した状態となる。 The lance 922 is a member for locking the terminal 91 accommodated in the terminal accommodating chamber 921 so as not to come off. That is, when the connector 9 is a non-defective product (that is, when the connector 9 maintains the dimensional standard, assembly standard, and shape standard set at the time of design), as shown in FIG. As the terminal 91 enters the terminal accommodating chamber 921, the lance 922 is restored and deformed at the normal position and is hooked (locked) to the terminal 91, thereby preventing the terminal 91 from coming off. In this state, the lance 922 is retracted from the bending space 923.

＜２．コネクタ検査装置の構成＞
コネクタ検査装置１００の構成について、図２〜図４を参照しながら説明する。図２は、コネクタ検査装置１００の分解図である。図３は、コネクタ検査装置１００の縦断面図である。図４は、コネクタ検査装置１００の横断面図である。以下において、コネクタ検査装置１００において、ホルダ１２が配設されている側を前側ともいい、レバー１４が配置されている側を後側ともいう。 <2. Configuration of Connector Inspection Device>
The configuration of the connector inspection apparatus 100 will be described with reference to FIGS. FIG. 2 is an exploded view of the connector inspection device 100. FIG. 3 is a longitudinal sectional view of the connector inspection device 100. FIG. 4 is a cross-sectional view of the connector inspection apparatus 100. In the following, in the connector inspection apparatus 100, the side on which the holder 12 is disposed is also referred to as the front side, and the side on which the lever 14 is disposed is also referred to as the rear side.

コネクタ検査装置１００は、平面視略長方形に形成されたベース１１と、ベース１１の一端部（前端部）に固定されたホルダ１２と、ホルダ１２の後側においてホルダ１２に対して変位可能に設けられた検査部１３と、ベース１１の後端部に設けられたレバー１４とを備える。ベース１１は、コネクタ９に対する検査工程の作業場（作業台等）に対してネジ止め等により固定可能に構成されていることが好ましい。 The connector inspection device 100 is provided with a base 11 formed in a substantially rectangular shape in plan view, a holder 12 fixed to one end (front end) of the base 11, and displaceable with respect to the holder 12 on the rear side of the holder 12. And the lever 14 provided at the rear end of the base 11. The base 11 is preferably configured to be fixable by screwing or the like to a work place (work bench or the like) in the inspection process for the connector 9.

＜２−１．ホルダ１２＞
ホルダ１２は、検査対象となるコネクタ９を保持して位置決めする。ホルダ１２は、具体的には、コネクタ９のハウジング９２を上下に挿抜可能な凹部１２１を備えており、この凹部１２１内に、検査対象となるコネクタ９のハウジング９２を収容することによって、これを保持できるように構成されている。 <2-1. Holder 12>
The holder 12 holds and positions the connector 9 to be inspected. Specifically, the holder 12 includes a recess 121 in which the housing 92 of the connector 9 can be inserted and removed vertically. By housing the housing 92 of the connector 9 to be inspected in the recess 121, It is configured so that it can be held.

＜２−２．レバー１４＞
レバー１４は、ベース１１の後端部に、片持ち状態で、回動自在に設けられている。レバー１４は、検査部１３（具体的には、後述するブロック体１３１）の後方側の面に当接可能なカム面１４１を備える。レバー１４が、ベース１１に対する支持軸１４２の周りに回転操作されると、カム面１４１がブロック体１３１に当接し、ブロック体１３１をホルダ１２側（前方側）に押動する。 <2-2. Lever 14>
The lever 14 is rotatably provided at the rear end portion of the base 11 in a cantilever state. The lever 14 includes a cam surface 141 that can come into contact with the rear surface of the inspection unit 13 (specifically, a block body 131 described later). When the lever 14 is rotated around the support shaft 142 with respect to the base 11, the cam surface 141 comes into contact with the block body 131 and pushes the block body 131 toward the holder 12 (front side).

後に詳細に説明する検査部１３（具体的には、後述するブロック体１３１）は、ベース１１に設けられたレール１１１によってベース１１の長手方向（前後方向）に移動可能に案内されているとともに、ホルダ１２との間に配設されたコイルばね（図示省略）によって、レバー１４の方（後方）に付勢されている。つまり、検査部１３は、レバー１４が操作されない状態ではレバー１４の方（後方）に付勢されており、レバー１４が操作されると、これに押動されてホルダ１２に接近する方向（前方）に移動する。レバー１４が操作されない状態の検査部１３の位置（すなわち、ホルダ１２に保持されたコネクタ９から離間した検査部１３の位置）を、以下「セット位置」ともいい、レバー１４が操作された状態の検査部１３の位置（すなわち、図３、図４に示される位置であり、ホルダ１２に保持されたコネクタ９に接近した検査部１３の位置）を、以下「検査位置」ともいう。 An inspection unit 13 (specifically, a block body 131 described later), which will be described in detail later, is guided by a rail 111 provided on the base 11 so as to be movable in the longitudinal direction (front-rear direction) of the base 11, The lever 14 is biased (rearward) by a coil spring (not shown) disposed between the holder 12 and the holder 12. That is, when the lever 14 is not operated, the inspection unit 13 is urged toward the lever 14 (rearward). When the lever 14 is operated, the inspection unit 13 is pushed by this to approach the holder 12 (frontward). ) The position of the inspection unit 13 in a state where the lever 14 is not operated (that is, the position of the inspection unit 13 separated from the connector 9 held by the holder 12) is hereinafter referred to as a “set position”. The position of the inspection unit 13 (that is, the position shown in FIGS. 3 and 4 and the position of the inspection unit 13 approaching the connector 9 held by the holder 12) is also referred to as “inspection position” hereinafter.

＜２−３．検査部１３＞
検査部１３は、検査対象となるコネクタ９の端子収容室９２１の段数に対応した個数（図示の例では、３個）のピンユニット２０と、これら一群のピンユニット２０を支持する支持部材２００と、一群のピンユニット２０をコネクタ９に接近させる方向に弾性的に付勢する付勢部３０と、一群のピンユニット２０の位置を検知する位置検知部４０とを備える。 <2-3. Inspection unit 13>
The inspection unit 13 includes a number (three in the illustrated example) of pin units 20 corresponding to the number of stages of the terminal accommodating chamber 921 of the connector 9 to be inspected, and a support member 200 that supports the group of pin units 20. The urging unit 30 is configured to elastically urge the group of pin units 20 in the direction in which the group of pin units 20 approaches the connector 9, and the position detection unit 40 detects the position of the group of pin units 20.

また、検査部１３は、これら各部２０，２００，３０，４０を支持するブロック体１３１を備える。ブロック体１３１は、概ね箱形に形成された樹脂成形品であり、その前端面には、各部２０，２００，３０，４０を収容する略矩形の収容凹部１３０が形成されている。ブロック体１３１の前端面には、ビスなどで固定される矩形の枠状のカバー部材１３２が取り付けられるようになっている。また、ブロック体１３１の後端面には、略直方体状の後方部材１３３が取り付けられるようになっている。カバー部材１３２と後方部材１３３とがそれぞれ取り付けられることによって、収容凹部１３０に収容された各部２０，２００，３０，４０が収容凹部１３０から離脱することが阻止される。 In addition, the inspection unit 13 includes a block body 131 that supports these units 20, 200, 30, and 40. The block body 131 is a resin molded product formed in a substantially box shape, and a substantially rectangular accommodating recess 130 for accommodating the respective parts 20, 200, 30, 40 is formed on the front end surface thereof. A rectangular frame-shaped cover member 132 fixed with screws or the like is attached to the front end surface of the block body 131. Further, a substantially rectangular parallelepiped rear member 133 is attached to the rear end surface of the block body 131. By attaching the cover member 132 and the rear member 133, the respective parts 20, 200, 30, 40 housed in the housing recess 130 are prevented from being detached from the housing recess 130.

ブロック体１３１は、上述したとおり、ベース１１に設けられたレール１１１によってベース１１の長手方向に移動可能に案内されており、レバー１４の状態に応じて、ホルダ１２に保持されたコネクタ９から離間したセット位置と、当該コネクタ９に近接した検査位置との間を移動できるようになっている。つまり、検査部１３は、検査対象となるコネクタ９に対して近接離間する方向に進退可能に構成されている。 As described above, the block body 131 is guided by the rail 111 provided on the base 11 so as to be movable in the longitudinal direction of the base 11, and is separated from the connector 9 held by the holder 12 according to the state of the lever 14. It is possible to move between the set position and the inspection position close to the connector 9. That is, the inspection unit 13 is configured to be able to advance and retreat in the direction of approaching and separating from the connector 9 to be inspected.

＜i．ピンユニット２０＞
ピンユニット２０の構成について、図２〜図４に加え、図５、図６を参照しながら説明する。図５は、ピンユニット２０の分解図である。図６は、ピンユニット２０の平面図である。 <I. Pin unit 20>
The configuration of the pin unit 20 will be described with reference to FIGS. 5 and 6 in addition to FIGS. FIG. 5 is an exploded view of the pin unit 20. FIG. 6 is a plan view of the pin unit 20.

＜ａ．各部の構成＞
ピンユニット２０は、検査対象となるコネクタ９における各段の端子収容室９２１の個数に対応した個数（図示の例では、３個）の導通検査ピン（プローブピン）２１と、これら一群の導通検査ピン２１を一体的に担持する連結部２２と、連結部２２と連結された挿入検査ピンユニット２３と、一群の導通検査ピン２１と挿入検査ピンユニット２３とを電気的に絶縁する絶縁部材２４とを備える。 <A. Configuration of each part>
The pin unit 20 has a number (three in the illustrated example) of continuity test pins (probe pins) 21 corresponding to the number of terminal accommodating chambers 921 of each stage in the connector 9 to be inspected, and a group of these continuity tests. A connecting portion 22 that integrally carries the pin 21; an insertion inspection pin unit 23 connected to the connection portion 22; and an insulating member 24 that electrically insulates the group of continuity inspection pins 21 and the insertion inspection pin unit 23; Is provided.

＜導通検査ピン２１＞
各導通検査ピン２１は、端子９１との間の電気的導通の有無に基づいて端子９１の導通検査を行なう。各導通検査ピン２１は、具体的には、例えば、長尺棒状のロッド部２１１と、ロッド部２１１の一方の端部（コネクタ９に対向する側の端部）に配設された接触部２１２とを備え、接触部２１２が端子９１に接触した状態で、電気的に閉状態となるように構成された導通プローブである。ロッド部２１１の他方の端部からは、例えば、電線（図示省略）が延出しており、この電線の他端は、導通検査の良否（すなわち、当該端子９１の電気的な導通状態）を判定する制御部（図示省略）と接続されている。 <Continuity test pin 21>
Each continuity test pin 21 performs a continuity test on the terminal 91 based on the presence or absence of electrical continuity with the terminal 91. Specifically, each continuity test pin 21 is, for example, a long rod-shaped rod portion 211 and a contact portion 212 disposed at one end portion of the rod portion 211 (the end portion on the side facing the connector 9). And a contact probe that is configured to be electrically closed when the contact portion 212 is in contact with the terminal 91. For example, an electric wire (not shown) extends from the other end of the rod portion 211, and the other end of the electric wire determines whether the continuity test is good (that is, the electrical continuity state of the terminal 91). Connected to a control unit (not shown).

＜連結部２２＞
連結部２２は、一群の導通検査ピン２１を、互いの延在方向が平行となるような姿勢で、一体に保持する部材であり、樹脂などの絶縁材料により形成される。連結部２２は例えば長尺の板状部材であり、各導通検査ピン２１のロッド部２１１が、連結部２２の長尺方向と直交する方向に沿って圧入される。ただし、導通検査ピン２１のロッド部２１１には、フランジ２１１１が形成されており、これが連結部２２の前端面に当接することによって、導通検査ピン２１が連結部２２に対して後方に位置ずれを起こす、といった事態が生じないようになっている。 <Connecting part 22>
The connecting portion 22 is a member that integrally holds the group of continuity test pins 21 in such a posture that their extending directions are parallel to each other, and is formed of an insulating material such as a resin. The connecting portion 22 is, for example, a long plate-like member, and the rod portion 211 of each continuity test pin 21 is press-fitted along a direction orthogonal to the long direction of the connecting portion 22. However, a flange 2111 is formed on the rod portion 211 of the continuity test pin 21, and this makes contact with the front end surface of the connecting portion 22, so that the continuity testing pin 21 is displaced backward with respect to the connecting portion 22. The situation of waking up does not occur.

＜挿入検査ピンユニット２３＞
挿入検査ピンユニット２３は、ランス９２２の状態を検査する部材である。挿入検査ピンユニット２３は、ピンユニット２０が備える導通検査ピン２１の個数と同数個の挿入検査ピン部２３１と、当該一群の挿入検査ピン部２３１を一体的に保持する連結ブロック部２３２とを備える。すなわち、複数の挿入検査ピン部２３１が連結ブロック部２３２を介して一体的に形成されることにより、１個の挿入検査ピンユニット２３が形成されている。ここでは、挿入検査ピンユニット２３は、金属材料（具体的には、例えば、アルミニウムなど）により形成される。 <Insertion inspection pin unit 23>
The insertion inspection pin unit 23 is a member that inspects the state of the lance 922. The insertion inspection pin unit 23 includes the same number of insertion inspection pin portions 231 as the number of continuity inspection pins 21 included in the pin unit 20 and a connecting block portion 232 that integrally holds the group of insertion inspection pin portions 231. . That is, a plurality of insertion inspection pin portions 231 are integrally formed via the connection block portion 232, so that one insertion inspection pin unit 23 is formed. Here, the insertion inspection pin unit 23 is formed of a metal material (specifically, for example, aluminum).

一群の挿入検査ピン部２３１は、連結ブロック部２３２の前端面から、互いの延在方向が平行となるような姿勢で、間隔をあけて延出している。各挿入検査ピン部２３１は、コネクタ９のハウジング９２内において、ランス９２２の撓み空間９２３に進入して、ランス９２２の状態を検査する（具体的には、ランス９２２の係止不良を検出する）ためのプローブである。具体的には、各挿入検査ピン部２３１は、ハウジング９２内の撓み空間９２３内に入り込み、ランス９２２が係止不良となっている場合にのみ、当該ランス９２２に当接可能な外形および寸法に設定されている。つまり、挿入検査ピン部２３１は、嵌合不良を来しているランス９２２と当接可能に突出するように設けられる。ただし、挿入検査ピン部２３１は、導通検査ピン２１と一対一で対応付けられており、対応する導通検査ピン２１が当接される端子９１に係止されるランス９２２の撓み空間９２３に、進入するようになっている。 The group of insertion inspection pin portions 231 extend from the front end face of the connecting block portion 232 with an interval so that the extending directions thereof are parallel to each other. Each insertion inspection pin portion 231 enters the bending space 923 of the lance 922 in the housing 92 of the connector 9 and inspects the state of the lance 922 (specifically, detects a locking failure of the lance 922). It is a probe for. Specifically, each insertion inspection pin portion 231 enters the bending space 923 in the housing 92 and has an outer shape and a dimension that can contact the lance 922 only when the lance 922 is poorly locked. Is set. That is, the insertion inspection pin portion 231 is provided so as to protrude so as to come into contact with the lance 922 that is poorly fitted. However, the insertion inspection pin portion 231 is associated with the continuity inspection pin 21 on a one-to-one basis, and enters the bending space 923 of the lance 922 that is locked to the terminal 91 against which the corresponding continuity inspection pin 21 abuts. It is supposed to be.

連結ブロック部２３２は、扁平な略直方体状に形成されており、内部に収容空間２３２０が形成される。収容空間２３２０は、連結ブロック部２３２の後端面に開口している。この収容空間２３２０には、一群の導通検査ピン２１のロッド部２１１に配設された絶縁部材２４が収容される。また、連結ブロック部２３２の前端面からは、上述したとおり、一群の挿入検査ピン部２３１が延出しており、この前端面には、各挿入検査ピン部２３１の基端部の隣に、収容空間２３２０と連通する貫通孔２３２１が形成される。各貫通孔２３２１は、各挿入検査ピン部２３１と対応して設けられ、当該挿入検査ピン部２３１と対応する導通検査ピン２１の接触部２１２が、当該貫通孔２３２１を介して、連結ブロック部２３２の前側に突き出た状態とされる。 The connection block part 232 is formed in a flat and substantially rectangular parallelepiped shape, and an accommodation space 2320 is formed inside. The accommodation space 2320 opens at the rear end surface of the connection block portion 232. In this accommodating space 2320, the insulating member 24 disposed in the rod portion 211 of the group of continuity inspection pins 21 is accommodated. In addition, as described above, a group of insertion inspection pin portions 231 extends from the front end surface of the connection block portion 232, and the front end surface accommodates next to the base end portion of each insertion inspection pin portion 231. A through hole 2321 communicating with the space 2320 is formed. Each through hole 2321 is provided corresponding to each insertion inspection pin portion 231, and the contact portion 212 of the conduction inspection pin 21 corresponding to the insertion inspection pin portion 231 is connected to the connecting block portion 232 via the through hole 2321. It is in a state of protruding to the front side.

上述したとおり、挿入検査ピンユニット２３は、金属により形成されており、各挿入検査ピン部２３１も、金属により形成されることになる。したがって、挿入検査ピン部２３１は、例えばこれが樹脂で形成される場合に比べて、強度が高い。このため、例えば、ランス９２２の撓み空間９２３が狭い小型のコネクタ９に対応するべく、挿入検査ピン部２３１の形状を細くした場合であっても、挿入検査ピン部２３１に十分な強度をもたせることが可能となり、挿入検査ピン部２３１の変形や折れを十分に抑制できる。また、挿入検査ピンユニット２３は、一群の挿入検査ピン部２３１の基端部に、これらよりも外形が大きい連結ブロック部２３２が設けられた形状となっており、この連結ブロック部２３２が設けられることによって、挿入検査ピンユニット２３全体としても十分な強度が担保されている。 As described above, the insertion inspection pin unit 23 is made of metal, and each insertion inspection pin portion 231 is also made of metal. Accordingly, the insertion inspection pin portion 231 has higher strength than, for example, a case where the insertion inspection pin portion 231 is formed of resin. For this reason, for example, even when the shape of the insertion inspection pin portion 231 is narrowed so as to correspond to the small connector 9 in which the bending space 923 of the lance 922 is narrow, the insertion inspection pin portion 231 should have sufficient strength. Therefore, deformation and breakage of the insertion inspection pin portion 231 can be sufficiently suppressed. Further, the insertion inspection pin unit 23 has a shape in which a connection block portion 232 having a larger outer shape than that of the group of insertion inspection pin portions 231 is provided, and the connection block portion 232 is provided. Thus, sufficient strength is secured even for the entire insertion inspection pin unit 23.

＜絶縁部材２４＞
絶縁部材２４は、絶縁材料（具体的には、例えば、樹脂など）により形成される部材であり、ピンユニット２０が備える一群の導通検査ピン２１と挿入検査ピンユニット２３との間に配置されて、一群の導通検査ピン２１と挿入検査ピンユニット２３とを電気的に絶縁する。絶縁部材２４の外形は、収容空間２３２０と略同一形状とされ、その外周は、収容空間２３２０に収容可能なように、収容空間２３２０よりも一回り小さい寸法に形成される。また、絶縁部材２４の前後に沿う長さは、収容空間２３２０の前後に沿う長さよりも僅かに短い（具体的には、導通検査ピン２１のフランジ２１１１の厚み分だけ短い）寸法とされる。 <Insulating member 24>
The insulating member 24 is a member formed of an insulating material (specifically, for example, resin), and is disposed between a group of continuity inspection pins 21 and the insertion inspection pin unit 23 provided in the pin unit 20. The group of continuity test pins 21 and the insertion test pin unit 23 are electrically insulated. The outer shape of the insulating member 24 is substantially the same shape as the accommodation space 2320, and the outer periphery thereof is formed to be slightly smaller than the accommodation space 2320 so as to be accommodated in the accommodation space 2320. In addition, the length along the front and rear of the insulating member 24 is slightly shorter than the length along the front and rear of the accommodation space 2320 (specifically, shorter than the thickness of the flange 2111 of the continuity test pin 21).

絶縁部材２４には、その前端面から後端面に貫通して設けられた挿通孔２４１が、複数個形成される。各挿通孔２４１の内部には、導通検査ピン２１のロッド部２１１が挿通される。各挿通孔２４１は、連結ブロック部２３２の前端面に形成されている貫通孔２３２１と対応する位置に形成されており、挿通孔２４１内を挿通された導通検査ピン２１の接触部２１２は、上述したとおり、対応する貫通孔２３２１を介して、連結ブロック部２３２の前側に突き出た状態とされる。 A plurality of insertion holes 241 are formed in the insulating member 24 so as to penetrate from the front end surface to the rear end surface. The rod portion 211 of the continuity test pin 21 is inserted into each insertion hole 241. Each insertion hole 241 is formed at a position corresponding to the through hole 2321 formed in the front end surface of the connection block portion 232, and the contact portion 212 of the conduction inspection pin 21 inserted through the insertion hole 241 is described above. As it did, it will be in the state protruded to the front side of the connection block part 232 through the corresponding through-hole 2321. FIG.

＜ｂ．組立態様＞
ピンユニット２０の組立態様について、引き続き、図５、図６を参照しながら説明する。上述したとおり、ピンユニット２０が備える一群の導通検査ピン２１は、共通の連結部２２に圧入されることによって、当該連結部２２を介して一体に保持される。この一体に保持された一群の導通検査ピン２１の前側から、絶縁部材２４が配設される。具体的には、絶縁部材２４の各挿通孔２４１に、導通検査ピン２１のロッド部２１１におけるフランジ２１１１よりも前側の部分が挿通された状態となされる。 <B. Assembly mode>
The assembly mode of the pin unit 20 will be described with reference to FIGS. 5 and 6. As described above, the group of continuity test pins 21 included in the pin unit 20 are integrally held via the connection portion 22 by being press-fitted into the common connection portion 22. An insulating member 24 is disposed from the front side of the group of continuity test pins 21 held integrally. Specifically, a portion of the rod portion 211 of the continuity test pin 21 on the front side of the flange 2111 is inserted into each insertion hole 241 of the insulating member 24.

続いて、一群の導通検査ピン２１の前側から、挿入検査ピンユニット２３が配設されるとともに、挿入検査ピンユニット２３と連結部２２とが、連結部２２の長尺方向の端部において、ビス２２２などで互いに固定される。これによって、一群の導通検査ピン２１と挿入検査ピンユニット２３とが、その間に絶縁部材２４を挟み込んだ状態で、一体に保持されることになり、連結ブロック部２３２の各貫通孔２３２１から、導通検査ピン２１の接触部２１２が突き出た状態となる。これによって、ピンユニット２０が得られる。 Subsequently, the insertion inspection pin unit 23 is disposed from the front side of the group of continuity inspection pins 21, and the insertion inspection pin unit 23 and the connection portion 22 are connected to each other at the end of the connection portion 22 in the longitudinal direction. They are fixed to each other by 222 or the like. As a result, the group of continuity test pins 21 and the insertion test pin unit 23 are held together with the insulating member 24 sandwiched between them. The contact portion 212 of the inspection pin 21 protrudes. Thereby, the pin unit 20 is obtained.

このようにして得られるピンユニット２０において、導通検査ピン２１のフランジ２１１１は、連結部２２の前端面と絶縁部材２４の後端面との間に挟み込まれた状態となり、さらに、絶縁部材２４の前端面は、収容空間２３２０の前端面に当接した状態となる。つまり、挿入検査ピンユニット２３は、絶縁部材２４を介して、各導通検査ピン２１のフランジ２１１１を、連結部２２に押しあてる。したがって、各導通検査ピン２１が、連結部２２に対して前方に位置ずれを起こす、といった事態が生じないようになっている。 In the pin unit 20 obtained in this way, the flange 2111 of the continuity test pin 21 is sandwiched between the front end face of the connecting portion 22 and the rear end face of the insulating member 24, and further, the front end of the insulating member 24 The surface is in contact with the front end surface of the accommodation space 2320. That is, the insertion inspection pin unit 23 presses the flange 2111 of each continuity inspection pin 21 against the connecting portion 22 via the insulating member 24. Therefore, a situation in which each continuity test pin 21 is displaced forward with respect to the connecting portion 22 does not occur.

また、ピンユニット２０において、一群の導通検査ピン２１と挿入検査ピンユニット２３との間に、絶縁部材２４が挟み込まれた状態となっており、各導通検査ピン２１は、この絶縁部材２４によって、挿入検査ピンユニット２３と電気的に絶縁された状態となる。したがって、各導通検査ピン２１同士が、挿入検査ピンユニット２３を介して電気的に導通する、といった事態が生じないようになっている。これによって、導通検査の信頼性が担保される。 Further, in the pin unit 20, an insulating member 24 is sandwiched between a group of continuity inspection pins 21 and the insertion inspection pin unit 23, and each continuity inspection pin 21 is The insertion inspection pin unit 23 is electrically insulated. Therefore, a situation in which the continuity test pins 21 are electrically connected via the insertion test pin unit 23 does not occur. This ensures the reliability of the continuity test.

なお、ピンユニット２０において、収容空間２３２０の前後の深さを深くするとともにこれに応じて絶縁部材２４の前後に沿う長さを長くすれば、導通検査ピン２１のロッド部２１１が、絶縁部材２４の挿通孔２４１に挿通される部分の長さが長くなる。その結果、導通検査ピン２１を十分に絶縁することができるという利点が得られる。一方、収容空間２３２０の前後の深さを浅くするとともにこれに応じて絶縁部材２４の前後に沿う長さを短く抑えれば、収容空間２３２０を形成する加工が比較的簡単になるという利点が得られる。 In the pin unit 20, if the depth of the accommodation space 2320 is increased and the length along the front and rear of the insulating member 24 is increased accordingly, the rod portion 211 of the continuity test pin 21 is connected to the insulating member 24. The length of the portion inserted through the insertion hole 241 becomes longer. As a result, there is an advantage that the continuity test pin 21 can be sufficiently insulated. On the other hand, if the depth before and after the accommodation space 2320 is reduced and the length along the front and rear of the insulating member 24 is reduced accordingly, the advantage that the processing for forming the accommodation space 2320 becomes relatively simple. It is done.

＜ｃ．支持部材２００＞
再び図２〜図４を参照する。上述したとおり、検査部１３は、複数のピンユニット２０を備える。検査部１３が備える当該一群のピンユニット２０は、収容凹部１３０内で前後に変位可能に配置された支持部材２００に支持されており、これによって、ピンユニット２０が、ホルダ１２に保持されているコネクタ９に対して近接離間する方向に進退可能に配設される。 <C. Support Member 200>
Reference is again made to FIGS. As described above, the inspection unit 13 includes a plurality of pin units 20. The group of pin units 20 included in the inspection unit 13 is supported by a support member 200 that is displaceable back and forth within the accommodation recess 130, and thus the pin unit 20 is held by the holder 12. The connector 9 is disposed so as to be able to advance and retreat in the direction of approaching and separating.

支持部材２００は、具体的には、例えば、平面視矩形状の薄板部材であり、その主面に、各ピンユニット２０が備える一群の導通検査ピン２１の各ロッド部２１１を挿通させる貫通孔２０１が形成されている。この貫通孔２０１に、検査部１３が備える一群のピンユニット２０の各々の各導通検査ピン２１のロッド部２１１（具体的には、ロッド部２１１における連結部２２の後方側に突き出る部分）が挿通されることによって、当該一群のピンユニット２０が、共通の支持部材２００に支持されることになる。ただし、貫通孔２０１の内径は、ロッド部２１１の外径よりも僅かに大きく形成されており、ロッド部２１１が、貫通孔２０１内で前後にスライド移動できるようになっている。 Specifically, the support member 200 is, for example, a thin plate member having a rectangular shape in plan view, and a through hole 201 through which each rod portion 211 of the group of continuity test pins 21 provided in each pin unit 20 is inserted. Is formed. The rod part 211 (specifically, the part protruding to the rear side of the connecting part 22 in the rod part 211) of each continuity inspection pin 21 of each group of pin units 20 provided in the inspection part 13 is inserted into the through hole 201. As a result, the group of pin units 20 are supported by the common support member 200. However, the inner diameter of the through-hole 201 is slightly larger than the outer diameter of the rod portion 211, and the rod portion 211 can be slid back and forth within the through-hole 201.

＜ii．付勢部３０＞
付勢部３０の構成について、引き続き図２〜図４を参照しながら説明する。付勢部３０は、検査部１３が備える一群のピンユニット２０を、ホルダ１２に保持されているコネクタ９に接近させる方向に、弾性的に付勢する。ただし、上述したとおり、検査部１３が備える一群のピンユニット２０は、収容凹部１３０内で前後に変位可能に配置された支持部材２００に支持されており、付勢部３０は、この支持部材２００に当接してこれを当該コネクタ９に接近させる方向に付勢することによって、支持部材２００に支持されている一群のピンユニット２０を、当該コネクタ９に接近させる方向に付勢する。 <Ii. Energizing section 30>
The configuration of the urging unit 30 will be described with reference to FIGS. The urging unit 30 elastically urges the group of pin units 20 included in the inspection unit 13 in a direction in which the urging unit 30 approaches the connector 9 held by the holder 12. However, as described above, the group of pin units 20 included in the inspection unit 13 is supported by the support member 200 that is displaceable back and forth within the accommodation recess 130, and the urging unit 30 is supported by the support member 200. The group of pin units 20 supported by the support member 200 is urged in the direction in which the connector 9 is brought close to the connector 9.

付勢部３０は、具体的には、例えば、複数（図示の例では、４個）の進退ロッド３１を含んで構成される。ここにおいて、各進退ロッド３１は、支持部材２００の後端面に一端が固定された軸部３１１と、軸部３１１に外嵌されたコイルバネ３１２とを備える。一群の進退ロッド３１の各軸部３１１は、例えば、平面視矩形状に形成されている支持部材２００の四隅の各々に設けられる。また、各コイルバネ３１２は、後方部材１３３の前端面と支持部材２００の後端面との間に、縮短状態で配設される。この構成によると、支持部材２００は、一群のコイルバネ３１２によって、前方に弾性的に付勢され、これによって、支持部材２００に支持された一群のピンユニット２０が、前方（すなわち、ホルダ１２に保持されたコネクタ９に接近する方向）に、弾性的に付勢されることになる。 Specifically, the urging unit 30 includes, for example, a plurality of (four in the illustrated example) advance / retreat rods 31. Here, each advance / retreat rod 31 includes a shaft portion 311 having one end fixed to the rear end surface of the support member 200, and a coil spring 312 externally fitted to the shaft portion 311. Each shaft portion 311 of the group of advance / retreat rods 31 is provided at each of the four corners of the support member 200 formed in a rectangular shape in plan view, for example. Each coil spring 312 is disposed between the front end surface of the rear member 133 and the rear end surface of the support member 200 in a contracted state. According to this configuration, the support member 200 is elastically biased forward by the group of coil springs 312, whereby the group of pin units 20 supported by the support member 200 is held forward (that is, held by the holder 12). In the direction of approaching the connector 9).

例えば、支持部材２００に支持されている一群のピンユニット２０の全てにおいて、各挿入検査ピン部２３１がコネクタ９のハウジング９２内で何にも突き当たらずに撓み空間９２３内に真っ直ぐに挿入され得る状況を想定する。この状況においては、付勢部３０の付勢力を受けて支持部材２００が前方に付勢されることによって、支持部材２００の前端面が各ピンユニット２０の連結部２２の後端面に突き当たった状態となり、さらに、各ピンユニット２０の連結部２２の前端面の一部がカバー部材１３２の後端面に突き当たった状態となる（図３〜図４、図８〜図９に示される状態）。この状態における支持部材２００の位置を、以下「正常位置」ともいう。 For example, in all of the group of pin units 20 supported by the support member 200, each insertion inspection pin portion 231 can be inserted straight into the bending space 923 without hitting anything in the housing 92 of the connector 9. Assume the situation. In this situation, the support member 200 is urged forward by receiving the urging force of the urging portion 30, so that the front end surface of the support member 200 abuts against the rear end surface of the connecting portion 22 of each pin unit 20. Further, a part of the front end surface of the connecting portion 22 of each pin unit 20 is in contact with the rear end surface of the cover member 132 (the state shown in FIGS. 3 to 4 and FIGS. 8 to 9). Hereinafter, the position of the support member 200 in this state is also referred to as a “normal position”.

一方、支持部材２００に支持されている一群のピンユニット２０の少なくとも１つにおいて、いずれかの挿入検査ピン部２３１が、コネクタ９のハウジング９２内で何かに突き当たった状態となると、挿入検査ピン部２３１がコネクタ９内に深く入り込むことができず、当該ピンユニット２０は、付勢部３０の弾性力に逆らって、上記の位置から後方に位置ずれを起こすことになる（つまり、ピンユニット２０の連結部２２の前端面とカバー部材１３２の後端面との間に隙間ができる）。その結果、支持部材２００は、正常位置よりも後方側に位置ずれを起こすことになる（図１０〜図１３に示される状態）。 On the other hand, when at least one of the group of pin units 20 supported by the support member 200 is in a state in which any of the insertion inspection pin portions 231 hit something in the housing 92 of the connector 9, the insertion inspection pin The portion 231 cannot penetrate deeply into the connector 9, and the pin unit 20 is displaced backward from the above position against the elastic force of the biasing portion 30 (that is, the pin unit 20 A gap is formed between the front end surface of the connecting portion 22 and the rear end surface of the cover member 132). As a result, the support member 200 is displaced rearward from the normal position (the state shown in FIGS. 10 to 13).

＜iii．位置検知部４０＞
位置検知部４０は、検査部１３が備える一群のピンユニット２０の進退方向に沿う位置を検知する。ただし、上述したとおり、一群のピンユニット２０は、共通の支持部材２００に支持されており、位置検知部４０は、この支持部材２００の進退方向に沿う位置を検知することによって、ピンユニット２０の進退方向に沿う位置を検知する。 <Iii. Position detection unit 40>
The position detection unit 40 detects a position along the advancing / retreating direction of the group of pin units 20 provided in the inspection unit 13. However, as described above, the group of pin units 20 are supported by the common support member 200, and the position detection unit 40 detects the position along the advancing / retreating direction of the support member 200, thereby A position along the advancing / retreating direction is detected.

位置検知部４０は、具体的には、例えば、支持部材２００の位置を検知する位置検知スイッチ４１と、位置検知スイッチ４１と接続された回路部４２と、位置検知スイッチ４１の検出結果に基づいて一群のピンユニット２０の位置状態を判定する判定部４３とを備える。 Specifically, the position detection unit 40 is based on, for example, a position detection switch 41 that detects the position of the support member 200, a circuit unit 42 connected to the position detection switch 41, and a detection result of the position detection switch 41. And a determination unit 43 that determines a position state of the group of pin units 20.

位置検知スイッチ４１は、具体的には、例えば、接点を内蔵した直方体状の本体部４１１と、その上面から突出したボタン部４１２とを含む一般的なマイクロスイッチにより構成され（図１１、図１３参照）、例えば、通常状態で内部の接点がオフ状態となっており、ボタン部４１２が押圧されると当該押圧力が内部の接点に伝達されて当該接点がオン状態に切り替るようになっている。この位置検知スイッチ４１は、ボタン部４１２が、正常位置にある支持部材２００の下端面と対向する位置にくるように配設される。したがって、支持部材２００が正常位置にある状態では、ボタン部４１２が押圧されてオン状態が維持され、支持部材２００が正常位置よりも後方に位置ずれを起こすと、ボタン部４１２の押圧状態が解除されてオフ状態に切り替る。 Specifically, the position detection switch 41 is configured by a general micro switch including, for example, a rectangular parallelepiped main body portion 411 having a built-in contact and a button portion 412 protruding from the upper surface thereof (FIGS. 11 and 13). For example, the internal contact is in an off state in a normal state, and when the button portion 412 is pressed, the pressing force is transmitted to the internal contact so that the contact is turned on. Yes. The position detection switch 41 is disposed such that the button portion 412 is located at a position facing the lower end surface of the support member 200 at the normal position. Therefore, when the support member 200 is in the normal position, the button portion 412 is pressed and the on state is maintained. When the support member 200 is displaced rearward from the normal position, the pressed state of the button portion 412 is released. To switch off.

回路部４２は、例えば、図７に示されるように、位置検知スイッチ４１、および、有無検知スイッチ５０が、導線等により直列に接続された構成とすることができる。ここで、有無検知スイッチ５０は、ホルダ１２にコネクタ９が保持されているか否かを検知するスイッチである。有無検知スイッチ５０は、具体的には、例えば、ホルダ１２に保持されるコネクタ９（図示の例では、当該コネクタ９に取り付けられたクランプ）に接触可能な位置に配置され、ホルダ１２にコネクタ９が保持された状態で、オン状態を維持し、ホルダ１２にコネクタ９が保持されていない状態となると、オフ状態に切り替るように設けられたスイッチである。 For example, as illustrated in FIG. 7, the circuit unit 42 may have a configuration in which a position detection switch 41 and a presence / absence detection switch 50 are connected in series by a conductive wire or the like. Here, the presence / absence detection switch 50 is a switch for detecting whether or not the connector 9 is held by the holder 12. Specifically, for example, the presence / absence detection switch 50 is disposed at a position where it can contact a connector 9 held in the holder 12 (in the illustrated example, a clamp attached to the connector 9). The switch is provided so as to be switched to an off state when the connector 9 is not held by the holder 12 while the on state is maintained in a state where is held.

この回路部４２は、位置検知スイッチ４１と有無検知スイッチ５０との両方が電気的に閉状態となった場合に、全体として導通する。ただし、ここでは、例えば、位置検知スイッチ４１は、オフ状態（すなわち、支持部材２００が正常位置にない状態）で電気的に閉状態となるように設定され、有無検知スイッチ５０は、オン状態（すなわち、コネクタ９がホルダ１２に保持されている状態）で電気的に閉状態となるように設定される。つまり、回路部４２は、コネクタ９がホルダ１２に保持されており、かつ、支持部材２００が正常位置にない場合に、導通状態となる。 This circuit part 42 is electrically connected as a whole when both the position detection switch 41 and the presence / absence detection switch 50 are electrically closed. However, here, for example, the position detection switch 41 is set to be in an electrically closed state in an off state (that is, a state in which the support member 200 is not in a normal position), and the presence / absence detection switch 50 is in an on state ( That is, the connector 9 is set to be electrically closed in a state where the connector 9 is held by the holder 12. That is, the circuit unit 42 is in a conductive state when the connector 9 is held by the holder 12 and the support member 200 is not in the normal position.

判定部４３は、回路部４２の導通の有無に応じて、一群のピンユニット２０の位置状態を判定する。すなわち、判定部４３は、回路部４２に対して直列に接続されており、コネクタ９がホルダ１２に保持されている状況において、回路部４２が非導通状態の場合に、一群のピンユニット２０の位置状態について肯定的な判定結果を出力し、回路部４２が導通状態の場合に、一群のピンユニット２０の位置状態について否定的な判定結果を出力する。つまり、判定部４３は、コネクタ９がホルダ１２に保持されている状況において、支持部材２００が正常位置にない場合に、一群のピンユニット２０の位置状態について否定的な判定結果を出力することになる。判定部４３は、具体的には、例えば、電源と電球、ブザー、あるいは、判定結果を表示できる液晶ディスプレイ等の表示装置などを用いて構成することができる。 The determination unit 43 determines the position state of the group of pin units 20 according to whether the circuit unit 42 is conductive. That is, the determination unit 43 is connected in series to the circuit unit 42, and when the circuit unit 42 is in a non-conductive state in a situation where the connector 9 is held by the holder 12, A positive determination result is output for the position state, and a negative determination result is output for the position state of the group of pin units 20 when the circuit unit 42 is in the conductive state. That is, the determination unit 43 outputs a negative determination result regarding the position state of the group of pin units 20 when the support member 200 is not in the normal position in a state where the connector 9 is held by the holder 12. Become. Specifically, the determination unit 43 can be configured using, for example, a power source, a light bulb, a buzzer, or a display device such as a liquid crystal display capable of displaying the determination result.

＜３．検査の態様＞
コネクタ検査装置１００における検査の態様について説明する。コネクタ検査装置１００において、コネクタ９を検査する場合、まず、検査対象となるコネクタ９がホルダ１２に保持された状態とされる。続いて、レバー１４が操作されることによって、検査部１３がセット位置から検査位置に移動される。この状態において、検査部１３が備える一群のピンユニット２０は、付勢部３０からの付勢力を受けて、ホルダ１２に保持されているコネクタ９に接近する方向に弾性的に付勢される。 <3. Inspection mode>
An inspection mode in the connector inspection apparatus 100 will be described. When inspecting the connector 9 in the connector inspection device 100, first, the connector 9 to be inspected is held in the holder 12. Subsequently, when the lever 14 is operated, the inspection unit 13 is moved from the set position to the inspection position. In this state, the group of pin units 20 included in the inspection unit 13 is urged elastically in a direction approaching the connector 9 held by the holder 12 by receiving the urging force from the urging unit 30.

コネクタ検査装置１００は、この状態において、導通検査ピン２１の導通が確認され、かつ、判定部４３が一群のピンユニット２０の位置状態について肯定的な判定結果を出力した場合に、検査対象となるコネクタ９が良品であると判定する。この構成によると、以下に例示する様々な状況において、信頼できる判定結果を得ることができる。 In this state, the connector inspection device 100 is subject to inspection when the continuity of the continuity inspection pin 21 is confirmed and the determination unit 43 outputs a positive determination result regarding the position state of the group of pin units 20. It is determined that the connector 9 is a non-defective product. According to this configuration, a reliable determination result can be obtained in various situations exemplified below.

＜ａ．コネクタ９が良品の場合＞
図８、図９を参照する。いま、検査対象となるコネクタ９が良品であるとする。この場合、ランス９２２が端子９１に引っ掛かった状態となっており、ランス９２２は、撓み空間９２３から退避した状態となっている。 <A. When connector 9 is non-defective>
Please refer to FIG. 8 and FIG. Assume that the connector 9 to be inspected is a non-defective product. In this case, the lance 922 is caught by the terminal 91, and the lance 922 is retracted from the bending space 923.

上述したとおり、コネクタ検査装置１００において、検査部１３がセット位置から検査位置に移動されると、検査部１３が備える一群のピンユニット２０は、付勢部３０からの付勢力を受けて、ホルダ１２に保持されているコネクタ９に接近する方向に弾性的に付勢される。ここで、コネクタ９が良品の場合、各ピンユニット２０の各挿入検査ピン部２３１は、コネクタ９のハウジング９２内で何にも突き当たらずに撓み空間９２３内に真っ直ぐに挿入され、各ピンユニット２０は、連結部２２の前端面の一部がカバー部材１３２に突き当たった状態となる。その結果、支持部材２００は正常位置に配置される。この状態で、導通検査ピン２１の接触部２１２は、端子９１に接触し、電気的な導通が得られる。 As described above, in the connector inspection apparatus 100, when the inspection unit 13 is moved from the set position to the inspection position, the group of pin units 20 included in the inspection unit 13 receives the urging force from the urging unit 30, and the holder 12 is elastically biased in a direction approaching the connector 9 held by the connector 12. Here, when the connector 9 is a non-defective product, each insertion inspection pin portion 231 of each pin unit 20 is inserted straight into the bending space 923 without hitting anything in the housing 92 of the connector 9, and each pin unit 20 is a state in which a part of the front end surface of the connecting portion 22 abuts against the cover member 132. As a result, the support member 200 is disposed at a normal position. In this state, the contact portion 212 of the continuity test pin 21 contacts the terminal 91, and electrical continuity is obtained.

つまり、コネクタ９が良品である場合、導通検査ピン２１の導通が確認されるとともに、判定部４３から一群のピンユニット２０の位置状態について肯定的な判定結果が出力されることになり、コネクタ検査装置１００は、検査対象となるコネクタ９が良品である旨の肯定的な判定結果を出力する。このように、コネクタ検査装置１００においては、半挿入状態となっている端子９１が存在しないコネクタ９を、良品として正しく判定することができる。 That is, when the connector 9 is a non-defective product, the continuity of the continuity test pin 21 is confirmed, and a positive determination result is output from the determination unit 43 regarding the position state of the group of pin units 20. The apparatus 100 outputs a positive determination result that the connector 9 to be inspected is a non-defective product. Thus, in the connector inspection apparatus 100, the connector 9 in which the terminal 91 that is in the half-inserted state does not exist can be correctly determined as a non-defective product.

＜ｂ．コネクタ９が良品でない場合＞
図１０、図１１を参照する。いま、検査対象となるコネクタ９において、少なくとも１つの端子９１が半挿入状態となっているとする。この場合、半挿入状態となっている端子９１には、ランス９２２が引っ掛かった状態となっておらず、ランス９２２は、撓み空間９２３内に突出した状態となっている。 <B. When the connector 9 is not good>
Please refer to FIG. 10 and FIG. Now, it is assumed that at least one terminal 91 is half inserted in the connector 9 to be inspected. In this case, the lance 922 is not in a state of being hooked on the terminal 91 that is in a half-inserted state, and the lance 922 is in a state of protruding into the bending space 923.

上述したとおり、コネクタ検査装置１００において、検査部１３がセット位置から検査位置に移動されると、検査部１３が備える一群のピンユニット２０は、付勢部３０からの付勢力を受けて、ホルダ１２に保持されているコネクタ９に接近する方向に弾性的に付勢される。ここで、コネクタ９に半挿入状態の端子９１がある場合、当該端子９１と対応するランス９２２の撓み空間９２３に挿入される挿入検査ピン部２３１は、当該撓み空間９２３内に突出しているランス９２２に突き当たり、撓み空間９２３内に深く入り込むことができず、当該ピンユニット２０は、付勢部３０の弾性力に逆らって、後方に位置ずれを起こすことになる。その結果、支持部材２００は正常位置よりも後方にずれた位置に配置される。この状態では、導通検査ピン２１の接触部２１２は、端子９１に接触できず、電気的な導通が得られない。 As described above, in the connector inspection apparatus 100, when the inspection unit 13 is moved from the set position to the inspection position, the group of pin units 20 included in the inspection unit 13 receives the urging force from the urging unit 30, and the holder 12 is elastically biased in a direction approaching the connector 9 held by the connector 12. Here, when the connector 9 has the terminal 91 in a half-inserted state, the insertion inspection pin portion 231 inserted into the bending space 923 of the lance 922 corresponding to the terminal 91 is protruded into the bending space 923. The pin unit 20 cannot move deeply into the bending space 923 and is displaced rearward against the elastic force of the urging portion 30. As a result, the support member 200 is disposed at a position shifted backward from the normal position. In this state, the contact portion 212 of the continuity test pin 21 cannot contact the terminal 91, and electrical continuity cannot be obtained.

つまり、コネクタ９が良品でない場合、導通検査ピン２１の導通が確認されず、判定部４３から一群のピンユニット２０の位置状態について否定的な判定結果が出力されることになり、コネクタ検査装置１００は、否定的な判定結果を出力する。このように、コネクタ検査装置１００においては、半挿入状態となっている端子９１が存在するコネクタ９を、良品でないとして正しく判定することができる。 That is, when the connector 9 is not a good product, the continuity of the continuity test pins 21 is not confirmed, and the determination unit 43 outputs a negative determination result regarding the position state of the group of pin units 20. Outputs a negative determination result. Thus, in the connector inspection apparatus 100, the connector 9 in which the terminal 91 in the half-inserted state is present can be correctly determined as not being a good product.

また、上記の例において、仮に、例えば、導通検査ピン２１と端子９１との間に金属片などが混入しているために、導通検査ピン２１の導通が確認されてしまったとしても、判定部４３から一群のピンユニット２０の位置状態について否定的な判定結果が出力されるので、コネクタ検査装置１００は、否定的な判定結果を出力する。したがって、コネクタ検査装置１００は、半挿入状態となっている端子９１が存在するコネクタ９を、良品として誤判定するおそれがない。 In the above example, even if, for example, a metal piece or the like is mixed between the continuity test pin 21 and the terminal 91, the continuity of the continuity test pin 21 is confirmed. Since a negative determination result is output from 43 regarding the position state of the group of pin units 20, the connector inspection device 100 outputs a negative determination result. Therefore, the connector inspection apparatus 100 has no risk of erroneously determining the connector 9 in which the terminal 91 in the half-inserted state exists as a non-defective product.

＜ｃ．ピンユニット２０に変形が生じている場合＞
図１２、図１３を参照する。いま、検査部１３が備える一群のピンユニット２０の少なくとも１つのピンユニット２０において、少なくとも１つの挿入検査ピン部２３１に、曲がりなどの変形が生じているとする。 <C. When the pin unit 20 is deformed>
Please refer to FIG. 12 and FIG. Now, in at least one pin unit 20 of the group of pin units 20 included in the inspection unit 13, it is assumed that at least one insertion inspection pin unit 231 is deformed such as a bend.

上述したとおり、コネクタ検査装置１００において、検査部１３がセット位置から検査位置に移動されると、検査部１３が備える一群のピンユニット２０は、付勢部３０からの付勢力を受けて、ホルダ１２に保持されているコネクタ９に接近する方向に弾性的に付勢される。ここで、少なくとも１つの挿入検査ピン部２３１が曲がっている場合、この曲がった挿入検査ピン部２３１は、撓み空間９２３内に真っ直ぐに入り込むことができず、例えば、端子９１に突き当たる可能性がある。 As described above, in the connector inspection apparatus 100, when the inspection unit 13 is moved from the set position to the inspection position, the group of pin units 20 included in the inspection unit 13 receives the urging force from the urging unit 30, and the holder 12 is elastically biased in a direction approaching the connector 9 held by the connector 12. Here, when at least one insertion inspection pin part 231 is bent, the bent insertion inspection pin part 231 cannot directly enter the bending space 923 and may hit the terminal 91, for example. .

一方、曲がった挿入検査ピン部２３１は、近傍の導通検査ピン２１に接触している可能性もある。ここでは、挿入検査ピン部２３１は金属により形成されているため、曲がった挿入検査ピンユニット２３が、途中で導通検査ピン２１に接触しつつ、先端で端子９１に接触してしまうと、導通検査ピン２１の接触部２１２が端子９１に接触していないにもかかわらず、挿入検査ピン部２３１を介して、導通検査ピン２１の電気的な導通が得られてしまう可能性がある。つまり、仮に、検査対象となるコネクタ９に、半挿入状態となっている端子９１が存在していたとしても、導通検査ピン２１の導通が確認されてしまう可能性がある。 On the other hand, the bent insertion inspection pin portion 231 may be in contact with the nearby continuity inspection pin 21. Here, since the insertion inspection pin portion 231 is made of metal, if the bent insertion inspection pin unit 23 comes in contact with the continuity inspection pin 21 in the middle and contacts the terminal 91 at the tip, the continuity inspection is performed. Even though the contact portion 212 of the pin 21 is not in contact with the terminal 91, there is a possibility that electrical continuity of the continuity inspection pin 21 may be obtained through the insertion inspection pin portion 231. That is, even if the connector 91 to be inspected has the terminal 91 in a half-inserted state, the continuity of the continuity test pin 21 may be confirmed.

ところが、このような状況においては、挿入検査ピン部２３１の先端が端子９１に突き当たった状態となっているため、当該ピンユニット２０は、付勢部３０の弾性力に逆らって、上記の位置から後方に位置ずれを起こすことになる。その結果、支持部材２００が正常位置よりも後方にずれた位置に配置される。つまり、このような状況においては、判定部４３から一群のピンユニット２０の位置状態について否定的な判定結果が出力されることになる。このため、コネクタ検査装置１００は、たとえ導通検査ピン２１による導通が確認されたとしても、否定的な判定結果を出力する。このように、コネクタ検査装置１００においては、半挿入状態となっている端子９１が存在するコネクタ９を、良品として誤判定するおそれがない。 However, in such a situation, since the tip of the insertion inspection pin portion 231 is in contact with the terminal 91, the pin unit 20 moves from the above position against the elastic force of the biasing portion 30. This will cause rearward displacement. As a result, the support member 200 is disposed at a position shifted rearward from the normal position. That is, in such a situation, the determination unit 43 outputs a negative determination result regarding the position state of the group of pin units 20. For this reason, the connector inspection apparatus 100 outputs a negative determination result even if continuity by the continuity inspection pin 21 is confirmed. Thus, in the connector inspection apparatus 100, there is no possibility that the connector 9 in which the terminal 91 in the half-inserted state exists is erroneously determined as a good product.

＜４．効果＞
上記の実施の形態によると、コネクタ９に対して進退可能に配置されたピンユニット２０の進退方向に沿う位置を検知する位置検知部４０を備える。この構成によると、導通検査ピン２１と端子９１との間に電気的な導通が取られるか否かの情報に加え、さらに、ピンユニット２０の位置が適切であるか否かの情報を加味して、コネクタ９を良否判定することができる。したがって、誤判定の可能性が低減され、信頼できる判定結果を得ることができる。 <4. Effect>
According to said embodiment, the position detection part 40 which detects the position along the advancing / retreating direction of the pin unit 20 arrange | positioned so that advancing / retreating with respect to the connector 9 is provided. According to this configuration, in addition to the information on whether or not electrical continuity is established between the continuity test pin 21 and the terminal 91, the information on whether or not the position of the pin unit 20 is appropriate is added. Thus, the quality of the connector 9 can be determined. Therefore, the possibility of erroneous determination is reduced, and a reliable determination result can be obtained.

また、上記の実施の形態によると、挿入検査ピンユニット２３が、金属により形成されている。この構成によると、例えば、ランス９２２の撓み空間９２３が狭い小型のコネクタ９に対応するべく、挿入検査ピン部２３１の形状を細くした場合であっても、挿入検査ピン部２３１に十分な強度をもたせることが可能となり、挿入検査ピン部２３１の変形や折れを十分に抑制できる。 Moreover, according to said embodiment, the insertion test | inspection pin unit 23 is formed with the metal. According to this configuration, for example, even when the shape of the insertion inspection pin portion 231 is narrowed so as to correspond to the small connector 9 in which the bending space 923 of the lance 922 is narrow, the insertion inspection pin portion 231 has sufficient strength. Therefore, the insertion inspection pin portion 231 can be sufficiently prevented from being deformed or broken.

また、上記の実施の形態によると、複数の導通検査ピン２１が挿入検査ピンユニット２３を介して互いに導通することが回避され、これによって、導通検査の信頼性を担保できる。 Moreover, according to said embodiment, it is avoided that the some conduction | electrical_connection inspection pin 21 mutually conduct | electrically_connects via the insertion test | inspection pin unit 23, and this can ensure the reliability of a conduction | electrical_connection inspection.

また、上記の実施の形態によると、複数のピンユニット２０が共通の支持部材２００に支持される。この構成によると、支持部材２００の位置を検知することによって、複数のピンユニット２０のいずれかにおける位置ずれを、効率的に検知することができる。例えば、各ピンユニット２０の位置を個別に検知する構成とした場合、ピンユニット２０の個数と同数個の位置検知スイッチ４１等を設ける必要があるところ、上記の実施の形態では、位置検知スイッチ４１等は１つですむため、スペース効率が向上するとともに、製造コストも抑えられる。 Further, according to the above embodiment, the plurality of pin units 20 are supported by the common support member 200. According to this configuration, by detecting the position of the support member 200, it is possible to efficiently detect a positional shift in any of the plurality of pin units 20. For example, when the position of each pin unit 20 is individually detected, it is necessary to provide the same number of position detection switches 41 and the like as the number of pin units 20, but in the above embodiment, the position detection switches 41 are provided. Since only one is required, the space efficiency is improved and the manufacturing cost is reduced.

＜５．変形例＞
上述した実施の各形態は本発明の好ましい具体例を例示したものに過ぎず、本発明は上述した実施の形態に限定されない。 <5. Modification>
Each of the above-described embodiments is merely a preferred specific example of the present invention, and the present invention is not limited to the above-described embodiment.

例えば、上記の実施の形態においては、挿入検査ピンユニット２３は金属により形成されているとしたが、挿入検査ピンユニット２３は必ずしも金属である必要がなく、例えば、樹脂により形成されてもよい。挿入検査ピンユニット２３を樹脂により形成する場合、絶縁部材２４は省略されるとともに、収容空間２３２０も形成されない。 For example, in the above embodiment, the insertion inspection pin unit 23 is made of metal. However, the insertion inspection pin unit 23 is not necessarily made of metal, and may be made of resin, for example. When the insertion inspection pin unit 23 is formed of resin, the insulating member 24 is omitted and the accommodation space 2320 is not formed.

例えば、導通検査ピン２１の先端に微小なゴミなどが付着している場合、コネクタ９が良品であり（すなわち、ランス９２２が端子９１に適切に引っ掛かっており）、挿入検査ピン部２３１がランス９２２の撓み空間９２３に深く差し込まれて導通検査ピン２１が端子９１と当接可能な位置まで差し込まれた状態となっているにもかかわらず、導通が確認されない可能性がある。仮に、位置検知部４０を備えないとすると、このような状況が生じた場合に、これをコネクタ検査装置側の不備として検知する術がなく、当該コネクタ検査装置にて検査されたコネクタの全てが、良品でないと判定され続けてしまう。これに対し、この変形例に係るコネクタ検査装置１００では、このような状況では、導通検査ピン２１の導通が確認されないにもかかわらず、判定部４３が一群のピンユニット２０の位置状態について肯定的な判定結果を出力することになるので、導通検査ピン２１の先端に微小なゴミが付着しているために導通が確認されていない可能性があると速やかに検知できる。 For example, when a minute dust or the like is attached to the tip of the continuity test pin 21, the connector 9 is a good product (that is, the lance 922 is properly hooked on the terminal 91), and the insertion test pin portion 231 is the lance 922. However, even though the continuity test pin 21 is inserted to a position where it can contact the terminal 91, the continuity may not be confirmed. If the position detection unit 40 is not provided, when such a situation occurs, there is no way to detect this as a deficiency on the connector inspection device side, and all the connectors inspected by the connector inspection device , Will continue to be judged as non-defective. On the other hand, in the connector inspection apparatus 100 according to this modification, in such a situation, the determination unit 43 is positive about the position state of the group of pin units 20 even though the continuity of the continuity test pins 21 is not confirmed. Therefore, it is possible to quickly detect that there is a possibility that the continuity is not confirmed because a minute dust adheres to the tip of the continuity test pin 21.

また、上記の実施の形態においては、検査部１３備える複数のピンユニット２０の全てが、共通の支持部材２００に支持されるとしたが、必ずしもこの構成である必要はない。例えば、複数個の支持部材２００を設け、各支持部材２００に１以上のピンユニット２０をそれぞれ支持させる構成としてもよい。この場合、複数の支持部材２００の各々に対応する位置検知スイッチ４１を設ければよい。 Further, in the above embodiment, all of the plurality of pin units 20 provided in the inspection unit 13 are supported by the common support member 200, but this configuration is not necessarily required. For example, a plurality of support members 200 may be provided, and each support member 200 may support one or more pin units 20. In this case, a position detection switch 41 corresponding to each of the plurality of support members 200 may be provided.

また、上記の実施の形態においては、支持部材２００の位置を検知することによって、これに支持されているピンユニット２０の位置を検知していたが、支持部材２００を設けずに、検査部１３が備える１以上のピンユニット２０の各位置を個別に検出する構成としてもよい。この場合、検査部１３が備える１以上のピンユニット２０の各々に対応する位置検知スイッチ４１を設ければよい。また、検査部１３が備える１以上のピンユニット２０の各々を付勢する付勢部３０を別個に設ければよい。 In the above embodiment, the position of the pin unit 20 supported by the position of the support member 200 is detected by detecting the position of the support member 200. However, the inspection unit 13 is not provided without providing the support member 200. It is good also as a structure which detects each position of the 1 or more pin unit 20 with which it comprises. In this case, a position detection switch 41 corresponding to each of the one or more pin units 20 included in the inspection unit 13 may be provided. Moreover, what is necessary is just to provide separately the energizing part 30 which energizes each of the 1 or more pin units 20 with which the test | inspection part 13 is provided.

また、上記の実施の形態において、検査部１３が備えるピンユニット２０の個数は、いくつであってもよく、例えば１個であってもよい。また、上記の実施の形態において、１個のピンユニット２０が備える導通検査ピン２１の個数は、いくつであってもよく、例えば１個であってもよい。 Moreover, in said embodiment, the number of the pin units 20 with which the test | inspection part 13 is provided may be any number, for example, may be one. In the above-described embodiment, the number of the continuity test pins 21 included in one pin unit 20 may be any number, for example, one.

また、検査部１３をホルダ１２に対して相対的に移動させる構成は、上記に例示したものに限られず、例えば、レバー１４とブロック体１３１とがリンク部材などにより連結された構成であってもよいし、ブロック体１３１をリニアモータなどにより駆動する構成であってもよい。また、ブロック体１３１に対してホルダ１２が移動される構成であってもよい。 Moreover, the structure which moves the test | inspection part 13 relatively with respect to the holder 12 is not restricted to what was illustrated above, For example, even if it is the structure by which the lever 14 and the block body 131 were connected by the link member etc. Alternatively, the block body 131 may be driven by a linear motor or the like. Moreover, the structure by which the holder 12 is moved with respect to the block body 131 may be sufficient.

９コネクタ
９１端子
９２ハウジング
９２２ランス
１２ホルダ
１３検査部
１４レバー
２０ピンユニット
２１導通検査ピン
２２連結部
２３挿入検査ピンユニット
２３１挿入検査ピン部
２４絶縁部材
２００支持部材
３０付勢部
４０位置検知部
４１位置検知スイッチ
４２回路部
４３判定部
１００コネクタ検査装置 DESCRIPTION OF SYMBOLS 9 Connector 91 Terminal 92 Housing 922 Lance 12 Holder 13 Inspection part 14 Lever 20 Pin unit 21 Continuity inspection pin 22 Connection part 23 Insertion inspection pin unit 231 Insertion inspection pin part 24 Insulation member 200 Support member 30 Energizing part 40 Position detection part 41 Position detection switch 42 Circuit unit 43 Judgment unit 100 Connector inspection device

Claims

A terminal is accommodated in the housing, and a connector that prevents the terminal from coming off is inspected by the lance that is deformable and deformed provided in the housing being restored and deformed at a normal position and hooked on the terminal. A connector inspection device,
A pin unit arranged so as to be able to advance and retreat in a direction approaching and separating from the connector;
A biasing portion that resiliently biases the pin unit in a direction to approach the connector;
A position detector for detecting a position along the advancing and retracting direction of the pin unit;
A holder capable of holding the connector;
Detecting whether or not the connector is held by the holder, and a presence / absence detection switch connected in series with the position detection unit;
With
The pin unit is
A continuity test pin for conducting a continuity test of the terminal based on the presence or absence of electrical continuity with the terminal;
An insertion inspection pin that enters the bending space of the lance;
A connector inspection device.

The connector inspection device according to claim 1,
A control unit for determining the quality of the continuity test by the continuity test pin;
The position detection unit includes a determination unit that determines a position state of the pin unit,
When both the control unit and the determination unit output a positive determination result, it is determined that the connector to be inspected is a non-defective product.
Connector inspection device.

The connector inspection device according to claim 1 or 2,
The insertion inspection pin is made of metal;
Connector inspection device.

The connector inspection device according to claim 3,
The pin unit includes a plurality of the continuity inspection pins and a plurality of the insertion inspection pins.
The plurality of insertion inspection pins are integrally formed via a connecting block to form one insertion inspection pin unit;
The pin unit is
An insulating member disposed between the plurality of continuity inspection pins and the insertion inspection pin unit, and electrically insulating the plurality of continuity inspection pins and the insertion inspection pin unit;
A connector inspection device further comprising:

The connector inspection device according to claim 1 or 2,
The insertion inspection pin is made of resin;
Connector inspection device.

The connector inspection device according to any one of claims 1 to 5,
A support member that supports the pin unit and is arranged so as to be able to advance and retreat in the advance and retreat direction of the pin unit
With
The urging portion urges the pin unit supported by the support member in a direction to approach the connector by urging the support member in a direction to contact the support member and approach the connector. And
The position detection unit detects a position along the forward / backward direction of the pin unit by detecting a position along the forward / backward direction of the support member,
Connector inspection device.

The connector inspection device according to claim 6,
A plurality of the pin units are provided,
The plurality of pin units are supported by the common support member;
Connector inspection device.