JP6000695B2 - Charged particle beam drawing apparatus and charged particle beam drawing method - Google Patents

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Description

本発明は、荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法に関する。   The present invention relates to a charged particle beam writing apparatus and a charged particle beam writing method.

近年の大規模集積回路(LSI)の高集積化及び大容量化に伴って、半導体デバイスに要求される回路線幅は益々微小になってきている。半導体デバイスに所望の回路パターンを形成するためには、リソグラフィ技術が用いられており、このリソグラフィ技術では、マスク(レチクル)と称される原画パターンを用いたパターン転写が行われている。このパターン転写に用いる高精度なマスクを製造するためには、優れた解像度を有する荷電粒子ビーム描画装置が用いられている。   With the recent high integration and large capacity of large scale integrated circuits (LSIs), circuit line widths required for semiconductor devices are becoming increasingly smaller. In order to form a desired circuit pattern on a semiconductor device, a lithography technique is used. In this lithography technique, pattern transfer using an original pattern called a mask (reticle) is performed. In order to manufacture a high-accuracy mask used for this pattern transfer, a charged particle beam drawing apparatus having an excellent resolution is used.

この荷電粒子ビーム描画装置の一例としては、マスクやブランクなどの試料に描画する描画パターンを複数のストライプ領域に分割するとともに、各ストライプ領域を多数のサブ領域に分割し、試料が載置されたステージをストライプ領域の長手方向に移動させつつ、電子ビームを主偏向により各サブ領域に位置決めし、副偏向によりサブ領域の所定位置にショットして図形を描画する荷電粒子ビーム描画装置が開発されている。   As an example of this charged particle beam drawing apparatus, a drawing pattern drawn on a sample such as a mask or a blank is divided into a plurality of stripe regions, and each stripe region is divided into a number of sub-regions, and the sample is placed. A charged particle beam lithography system has been developed that moves the stage in the longitudinal direction of the stripe area, positions the electron beam in each sub-area by main deflection, and draws a figure by shooting at a predetermined position in the sub-area by sub-deflection. Yes.

このような荷電粒子ビーム描画装置では、描画パターンの微細化に伴って描画時間は増大しており(例えば、数十時間程度)、その描画中に地震が発生することがある。この描画中の地震発生により、描画パターンの描画精度が低下するため、場合によっては描画精度が許容範囲外となるパターンエラーが発生してしまう。このため、描画中に地震の震度が許容値より大きくなった場合には、通常、その描画がマニュアル操作により中止され、マスクはスクラップ処理などによって廃棄されてしまう。   In such a charged particle beam drawing apparatus, the drawing time increases as the drawing pattern becomes finer (for example, about several tens of hours), and an earthquake may occur during the drawing. Due to the occurrence of an earthquake during the drawing, the drawing accuracy of the drawing pattern is lowered, and in some cases, a pattern error that causes the drawing accuracy to be outside the allowable range occurs. For this reason, when the seismic intensity of an earthquake becomes larger than an allowable value during drawing, the drawing is usually stopped by a manual operation, and the mask is discarded by scrap processing or the like.

一方、前述のマニュアル操作による描画中止以外にも、震災後の復旧を容易にすることを目的として、地震警報に応じて所定の地震対策動作を実行する技術が提案されている(例えば、特許文献1参照)。あるいは、半導体製造装置における地震被害を最小限に抑制することを目的として、地震情報と、半導体製造装置が設けられている場所の環境情報とに基づいて地震の揺れを予測し、その予測結果に基づいて地震対策を実行する技術も提案されている(例えば、特許文献2参照)。また、地震振動により製造装置が受ける被害を軽減することを目的として、地震情報と、製造装置の状態を示す情報とに基づいて、地震対策を実行する技術も提案されている(例えば、特許文献3参照)。   On the other hand, in addition to the drawing cancellation by the above-mentioned manual operation, a technique for executing a predetermined earthquake countermeasure operation in response to an earthquake alarm has been proposed for the purpose of facilitating recovery after the earthquake (for example, a patent) Reference 1). Alternatively, for the purpose of minimizing earthquake damage in semiconductor manufacturing equipment, earthquake vibration is predicted based on earthquake information and environmental information of the location where the semiconductor manufacturing equipment is installed, and the prediction result A technique for executing earthquake countermeasures based on this has also been proposed (see, for example, Patent Document 2). In addition, for the purpose of reducing damage to the manufacturing apparatus due to earthquake vibration, a technique for executing an earthquake countermeasure based on earthquake information and information indicating the state of the manufacturing apparatus has been proposed (for example, Patent Documents). 3).

特開2001−134865号公報JP 2001-134865 A 特開2008−218508号公報JP 2008-218508 A 特開2009−10233号公報JP 2009-10233 A

しかしながら、前述のような技術では、描画パターンの描画精度に関わらず、地震の震度などに応じて描画が中止されてしまう。通常、地震の震度が許容値より大きくても、描画パターンに要求される描画精度が低い場合には、パターンエラーが生じず、描画を中止する必要がない。それにもかかわらず、地震の震度が許容値より大きくなると、描画が中止されてしまう。このように、描画パターンに要求される描画精度に関わらず、不必要に描画が中止されるため、描画効率が低下してしまう。一方、描画パターンに要求される描画精度が高い場合には、地震の震度が許容値以下であっても、パターンエラーが生じて描画を中止する必要があるが、地震の震度が許容値より大きくならない限り、描画が中止されない。このように、要求される描画精度に応じた適切な描画の中断あるいは中止が行われず、描画パターンの描画精度が低下してしまう。   However, with the technique as described above, drawing is stopped according to the seismic intensity of the earthquake, regardless of the drawing pattern drawing accuracy. Usually, even if the seismic intensity of the earthquake is larger than the allowable value, if the drawing accuracy required for the drawing pattern is low, a pattern error does not occur, and there is no need to stop drawing. Nevertheless, if the seismic intensity of the earthquake becomes larger than the allowable value, the drawing is stopped. In this manner, drawing efficiency is reduced because drawing is unnecessarily stopped regardless of the drawing accuracy required for the drawing pattern. On the other hand, when the drawing accuracy required for the drawing pattern is high, even if the seismic intensity of the earthquake is below the allowable value, it is necessary to stop drawing because of a pattern error, but the seismic intensity of the earthquake is larger than the allowable value. The drawing will not be stopped unless it becomes necessary. As described above, appropriate drawing according to the required drawing accuracy is not interrupted or stopped, and the drawing pattern drawing accuracy is lowered.

また、ステージを移動させながら電子ビームの照射を行う描画では、地震発生に応じて電子ビームの出射を停止する停止割り込みが描画途中で指示されても、ハードウエアは描画処理中であるため、その出射停止処理を実行するまでに時間がかかったり、あるいは、その停止割り込みが描画を優先するソフトウエアにより遅らされたりする。このため、出射停止処理が迅速に行われず、地震到達前までに完全に描画を停止することができないことから、地震到達による振動により描画パターンの描画精度が低下してしまう。また、電子ビームの出射を停止した場合には、その電子ビームの出射停止による不具合(例えば、描画再開時の電子ビームの安定待ち時間など)が生じ、描画効率が低下してしまう。さらに、描画途中に描画が停止された試料は廃棄されることから、最初から描画をやり直すことになるため、数十時間を要した描画作業が無駄となり、やはり描画効率が低下してしまう。   Also, in drawing that irradiates the electron beam while moving the stage, even if a stop interrupt that stops the emission of the electron beam in response to the occurrence of an earthquake is instructed during drawing, the hardware is still in the drawing process. It takes time to execute the emission stop process, or the stop interrupt is delayed by software that prioritizes drawing. For this reason, since the emission stop process is not performed quickly and drawing cannot be completely stopped before the earthquake arrives, the drawing pattern drawing accuracy decreases due to vibration caused by the earthquake arrival. Further, when the emission of the electron beam is stopped, a defect due to the stop of the emission of the electron beam (for example, the stabilization waiting time of the electron beam when drawing is resumed) occurs, and the drawing efficiency is lowered. Furthermore, since the sample whose drawing has been stopped in the middle of drawing is discarded, drawing is started again from the beginning, so that drawing work that takes several tens of hours is wasted, and drawing efficiency is lowered.

本発明が解決しようとする課題は、地震振動による描画効率及び描画精度の低下を抑止することができる荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法を提供することである。   The problem to be solved by the present invention is to provide a charged particle beam drawing apparatus and a charged particle beam drawing method capable of suppressing a reduction in drawing efficiency and drawing accuracy due to earthquake vibration.

本発明の実施の一形態に係る第2の荷電粒子ビーム描画装置は、試料を支持するステージと、ステージを平面方向に移動させるステージ移動部と、ステージ移動部により移動しているステージ上の試料に荷電粒子ビームを偏向照射して描画を行う描画部と、緊急地震速報を受信する速報受信部と、ステージ移動部によりステージを平面方向に移動させながら描画部によりステージ上の試料に荷電粒子ビームを偏向照射して描画を行う描画制御部であって、速報受信部により緊急地震速報が受信された場合、ステージ移動部によるステージの移動を停止し、停止したステージ上の試料における荷電粒子ビームが偏向照射される偏向領域内の全描画を完了させる描画制御部とを備え、描画制御部は、ステージ移動部によるステージの移動を停止した場合、描画を行う場合のステージの移動方向と逆方向にステージ移動部によりステージを退避させる。 A second charged particle beam drawing apparatus according to an embodiment of the present invention includes a stage that supports a sample, a stage moving unit that moves the stage in a plane direction, and a sample on the stage that is moved by the stage moving unit. A charged particle beam is applied to the sample on the stage by the drawing unit while moving the stage in the plane direction by the stage moving unit by the drawing unit that performs drawing by deflecting and irradiating the charged particle beam to the beam, the earthquake early warning receiving unit Is a drawing control unit that performs drawing by deflecting irradiation, and when the earthquake early warning is received by the early warning receiving unit, the stage moving by the stage moving unit is stopped, and the charged particle beam on the sample on the stopped stage is and a drawing control unit to complete the entire drawing deflection region being deflected radiation, the drawing control unit stops the movement of the stage by the stage moving section If, Ru retracts the stage by the stage moving portion in a direction opposite to the movement direction of the stage in the case of performing drawing.

また、上記第2の荷電粒子ビーム描画装置において、描画制御部は、ステージ移動部によるステージの退避距離を地震の震度に応じて変更することが望ましい。   In the second charged particle beam drawing apparatus, it is preferable that the drawing control unit changes the retract distance of the stage by the stage moving unit according to the seismic intensity of the earthquake.

本発明によれば、地震振動による描画効率及び描画精度の低下を抑止することができる。   According to the present invention, it is possible to suppress a reduction in drawing efficiency and drawing accuracy due to earthquake vibration.

本発明の第1の実施形態に係る荷電粒子ビーム描画装置の概略構成を示す図である。1 is a diagram showing a schematic configuration of a charged particle beam drawing apparatus according to a first embodiment of the present invention. 図1に示す荷電粒子ビーム描画装置が行うショットデータ生成を説明するための説明図である。It is explanatory drawing for demonstrating the shot data generation which the charged particle beam drawing apparatus shown in FIG. 1 performs. 図1に示す荷電粒子ビーム描画装置が用いる描画精度レベル毎の震度の許容値及び停止値を説明するための説明図である。It is explanatory drawing for demonstrating the allowable value and stop value of the seismic intensity for every drawing precision level which the charged particle beam drawing apparatus shown in FIG. 1 uses. 図1に示す荷電粒子ビーム描画装置が行う描画処理の流れを示すフローチャートである。3 is a flowchart showing a flow of drawing processing performed by the charged particle beam drawing apparatus shown in FIG. 1. 本発明の第2の実施形態に係る荷電粒子ビーム描画装置の概略構成を示す図である。It is a figure which shows schematic structure of the charged particle beam drawing apparatus which concerns on the 2nd Embodiment of this invention. 図5に示す荷電粒子ビーム描画装置が行うステージ停止動作を説明するための説明図である。It is explanatory drawing for demonstrating the stage stop operation | movement which the charged particle beam drawing apparatus shown in FIG. 5 performs. 図5に示す荷電粒子ビーム描画装置が行う描画処理の流れを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the flow of the drawing process which the charged particle beam drawing apparatus shown in FIG. 5 performs. 図5に示す荷電粒子ビーム描画装置が備える描画制御部の変形例の概略構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows schematic structure of the modification of the drawing control part with which the charged particle beam drawing apparatus shown in FIG. 5 is provided. 図8に示す描画制御部が用いる退避距離レベル情報を説明するための説明図である。It is explanatory drawing for demonstrating the retraction distance level information which the drawing control part shown in FIG. 8 uses.

(第1の実施形態)
第1の実施形態について図1乃至図4を参照して説明する。
(First embodiment)
A first embodiment will be described with reference to FIGS.

図1に示すように、第1の実施形態に係る荷電粒子ビーム描画装置1は、荷電粒子ビームによる描画を行う描画部2と、その描画部2を制御する制御部3とを備えている。この荷電粒子ビーム描画装置1は、荷電粒子ビームとして例えば電子ビームを用いた可変成形型の描画装置の一例である。なお、荷電粒子ビームは電子ビームに限られるものではなく、イオンビームなどの他の荷電粒子ビームであっても良い。   As shown in FIG. 1, the charged particle beam drawing apparatus 1 according to the first embodiment includes a drawing unit 2 that performs drawing using a charged particle beam, and a control unit 3 that controls the drawing unit 2. The charged particle beam drawing apparatus 1 is an example of a variable shaping type drawing apparatus using, for example, an electron beam as a charged particle beam. The charged particle beam is not limited to the electron beam, and may be another charged particle beam such as an ion beam.

描画部2は、描画対象となる試料Wを収容する描画室2aと、その描画室2aに連通する光学鏡筒2bとを有している。この光学鏡筒2bは、描画室2aの上面に設けられており、電子ビームを成形及び偏向し、描画室2a内の試料Wに対して照射するものである。   The drawing unit 2 includes a drawing chamber 2a that houses a sample W to be drawn, and an optical barrel 2b that communicates with the drawing chamber 2a. The optical barrel 2b is provided on the upper surface of the drawing chamber 2a, and shapes and deflects an electron beam and irradiates the sample W in the drawing chamber 2a.

描画室2a内には、試料Wを支持するステージ11や、そのステージ11を平面方向に移動させるステージ移動部12と、ステージ11に対して試料Wを位置決めするアライメント用の撮像部13が設けられている。この撮像部13としては、例えば、CCD(電荷結合素子)カメラなどを用いることが可能である。ステージ11は水平面内で互いに直交するX方向とY方向に移動可能に形成されており、そのステージ11の載置面上には、例えばマスクやブランクなどの試料Wが載置される。ステージ移動部12は、ステージ11を水平面内でX方向及びY方向に移動させる移動機構である。また、描画室2aの外周面には、振動を検知する振動センサ14が設けられている。この振動センサ14としては、例えば、加速度センサなどを用いることが可能であり、その設置個数は特に限定されない。   In the drawing chamber 2a, a stage 11 that supports the sample W, a stage moving unit 12 that moves the stage 11 in a plane direction, and an imaging unit 13 for alignment that positions the sample W with respect to the stage 11 are provided. ing. As the imaging unit 13, for example, a CCD (charge coupled device) camera or the like can be used. The stage 11 is formed to be movable in the X direction and the Y direction orthogonal to each other in a horizontal plane, and a sample W such as a mask or a blank is placed on the placement surface of the stage 11. The stage moving unit 12 is a moving mechanism that moves the stage 11 in the X direction and the Y direction within a horizontal plane. A vibration sensor 14 for detecting vibration is provided on the outer peripheral surface of the drawing chamber 2a. As this vibration sensor 14, an acceleration sensor etc. can be used, for example, The number of installation is not specifically limited.

光学鏡筒2b内には、電子ビームBを出射する電子銃21と、その電子ビームBを集光する照明レンズ22と、ビーム成形用の第1の成形アパーチャ23と、投影用の投影レンズ24と、ビーム成形用の成形偏向器25と、ビーム成形用の第2の成形アパーチャ26と、試料W上にビーム焦点を結ぶ対物レンズ27と、試料Wに対するビームショット位置を制御するための副偏向器28及び主偏向器29とが配置されている。   In the optical barrel 2b, an electron gun 21 for emitting an electron beam B, an illumination lens 22 for condensing the electron beam B, a first shaping aperture 23 for beam shaping, and a projection lens 24 for projection. A shaping deflector 25 for beam shaping, a second shaping aperture 26 for beam shaping, an objective lens 27 for focusing the beam on the sample W, and sub-deflection for controlling the beam shot position with respect to the sample W. A device 28 and a main deflector 29 are arranged.

このような描画部2では、電子ビームBが電子銃21から出射され、照明レンズ22により第1の成形アパーチャ23に照射される。この第1の成形アパーチャ23は例えば矩形状の開口を有している。これにより、電子ビームBが第1の成形アパーチャ23を通過すると、その電子ビームの断面形状は矩形状に成形され、投影レンズ24により第2の成形アパーチャ26に投影される。なお、この投影位置は成形偏向器25により偏向可能であり、投影位置の変更により電子ビームBの形状と寸法を制御することが可能である。その後、第2の成形アパーチャ26を通過した電子ビームBは、その焦点が対物レンズ27によりステージ11上の試料Wに合わされて照射される。なお、副偏向器28及び主偏向器29により、ステージ11上の試料Wに対する電子ビームBのショット位置を制御することが可能である。   In such a drawing unit 2, the electron beam B is emitted from the electron gun 21 and is irradiated onto the first shaping aperture 23 by the illumination lens 22. The first shaping aperture 23 has, for example, a rectangular opening. Thereby, when the electron beam B passes through the first shaping aperture 23, the cross-sectional shape of the electron beam is shaped into a rectangular shape and projected onto the second shaping aperture 26 by the projection lens 24. The projection position can be deflected by the shaping deflector 25, and the shape and size of the electron beam B can be controlled by changing the projection position. Thereafter, the electron beam B that has passed through the second shaping aperture 26 is irradiated with the focus of the electron beam B being adjusted to the sample W on the stage 11 by the objective lens 27. The shot position of the electron beam B with respect to the sample W on the stage 11 can be controlled by the sub deflector 28 and the main deflector 29.

制御部3は、描画データを記憶する描画データ記憶部31と、その描画データを処理してショットデータを生成するショットデータ生成部32と、描画部2を制御する描画制御部33と、地震の震度情報を受信する震度受信部34と、ステージ11上の試料Wの位置ずれ量を検出する位置ずれ量検出部35と、電子ビームBのドリフト量を検出するドリフト量検出部36とを備えている。なお、前述の各部はハードウエアやソフトウエアあるいはそれらの両方により構成されている。   The control unit 3 includes a drawing data storage unit 31 that stores drawing data, a shot data generation unit 32 that processes the drawing data to generate shot data, a drawing control unit 33 that controls the drawing unit 2, an earthquake A seismic intensity receiver 34 that receives seismic intensity information, a misalignment detector 35 that detects the misalignment of the sample W on the stage 11, and a drift detector 36 that detects the drift of the electron beam B are provided. Yes. Note that the above-described units are configured by hardware, software, or both.

描画データ記憶部31は、試料Wにパターンを描画するための描画データを記憶する記憶部である。この描画データは、半導体集積回路の設計者などによって作成された設計データ(レイアウトデータ)が荷電粒子ビーム描画装置1に入力可能に、すなわち荷電粒子ビーム描画装置1用のフォーマットに変換されたデータであり、外部装置から描画データ記憶部31に入力されて保存されている。描画データ記憶部31としては、例えば、磁気ディスク装置や半導体ディスク装置(フラッシュメモリ)などを用いることが可能である。   The drawing data storage unit 31 is a storage unit that stores drawing data for drawing a pattern on the sample W. The drawing data is data obtained by allowing design data (layout data) created by a semiconductor integrated circuit designer or the like to be input to the charged particle beam drawing apparatus 1, that is, converted into a format for the charged particle beam drawing apparatus 1. Yes, it is input from the external device to the drawing data storage unit 31 and stored. For example, a magnetic disk device or a semiconductor disk device (flash memory) can be used as the drawing data storage unit 31.

なお、前述の設計データは、通常、多数の微小なパターンを含んでおり、そのデータ量はかなりの大容量になっている。この設計データがそのまま他のフォーマットに変換されると、変換後のデータ量はさらに増大してしまう。このため、描画データでは、データの階層化やパターンのアレイ表示などの方法により、データ量の圧縮化が図られている。このような描画データが、チップ領域の描画パターン、または、同一描画条件である複数のチップ領域を仮想的にマージして一つのチップに見立てた仮想チップ領域の描画パターンなどを規定するデータとなる。   The design data described above usually includes a large number of minute patterns, and the amount of data is considerably large. If this design data is converted into another format as it is, the data amount after conversion further increases. For this reason, in the drawing data, the amount of data is reduced by a method such as data hierarchization or pattern array display. Such drawing data is data that defines a drawing pattern of a chip area or a drawing pattern of a virtual chip area that is virtually merged into a plurality of chip areas that have the same drawing conditions. .

ショットデータ生成部32は、図2に示すように、描画データにより規定される描画パターンPをストライプ状(短冊状)の複数のストライプ領域R1に分割し、さらに、各ストライプ領域R1を行列状の多数のサブ領域R2に分割する。加えて、ショットデータ生成部32は、各サブ領域R2内の図形Zの形状や大きさ、位置などを決定し、さらに、図形Zを一回のショットで描画不可能である場合には、描画可能な複数の部分領域に分割し、ショットデータを生成する。なお、ストライプ領域R1の短手方向(Y方向)の長さは電子ビームBを主偏向で偏向可能な長さに設定されている。   As shown in FIG. 2, the shot data generation unit 32 divides the drawing pattern P defined by the drawing data into a plurality of striped (strip-shaped) stripe regions R1, and each stripe region R1 has a matrix shape. Divide into a number of sub-regions R2. In addition, the shot data generation unit 32 determines the shape, size, position, and the like of the figure Z in each sub-region R2, and if the figure Z cannot be drawn with a single shot, the drawing is generated. The shot data is generated by dividing into a plurality of possible partial areas. The length of the stripe region R1 in the short direction (Y direction) is set to a length that allows the electron beam B to be deflected by main deflection.

描画制御部33は、前述の描画パターンPを描画する際、ステージ11をストライプ領域R1の長手方向(X方向)に移動させつつ、電子ビームBを主偏向器29により各サブ領域R2に位置決めし、副偏向器28によりサブ領域R2の所定位置にショットして図形Zを描画する。その後、一つのストライプ領域R1の描画が完了すると、ステージ11をY方向にステップ移動させてから次のストライプ領域R1の描画を行い、これを繰り返して試料Wの描画領域の全体に電子ビームBによる描画を行う。なお、描画中には、ステージ11が一方向に連続的に移動しているため、描画原点がステージ11の移動に追従するように、主偏向器29によってサブ領域R2の描画原点をトラッキングさせている。   The drawing control unit 33 positions the electron beam B in each sub-region R2 by the main deflector 29 while moving the stage 11 in the longitudinal direction (X direction) of the stripe region R1 when drawing the drawing pattern P described above. Then, the figure Z is drawn by shooting at a predetermined position of the sub-region R2 by the sub-deflector 28. Thereafter, when drawing of one stripe region R1 is completed, the stage 11 is moved stepwise in the Y direction, and then the next stripe region R1 is drawn. This is repeated, and the entire drawing region of the sample W is irradiated with the electron beam B. Draw. Since the stage 11 is continuously moving in one direction during drawing, the drawing origin of the sub-region R2 is tracked by the main deflector 29 so that the drawing origin follows the movement of the stage 11. Yes.

このように電子ビームBは、副偏向器28と主偏向器29によって偏向され、連続的に移動するステージ11に追従しながら、その照射位置が決められる。ステージ11のX方向の移動を連続的に行うとともに、そのステージ11の移動に電子ビームBのショット位置を追従させることで、描画時間を短縮することができる。ただし、第1の実施形態では、ステージ11のX方向の移動を連続して行っているが、これに限るものではなく、例えば、ステージ11を停止させた状態で一つのサブ領域R2の描画を行い、次のサブ領域R2に移動するときは描画を行わないステップアンドリピート方式の描画方法を用いても良い。   Thus, the irradiation position of the electron beam B is determined while following the stage 11 which is deflected by the sub deflector 28 and the main deflector 29 and continuously moves. The drawing time can be shortened by continuously moving the stage 11 in the X direction and making the shot position of the electron beam B follow the movement of the stage 11. However, in the first embodiment, the stage 11 is continuously moved in the X direction. However, the present invention is not limited to this. For example, one stage R2 is drawn while the stage 11 is stopped. However, when moving to the next sub-region R2, a step-and-repeat drawing method in which drawing is not performed may be used.

前述の描画制御部33は、描画精度レベル情報を記憶する描画精度レベル情報記憶部33aと、中断位置情報を記憶する中断位置情報記憶部33bとを有している。これらの描画精度レベル情報記憶部33aや中断位置情報記憶部33bとしては、例えば、磁気ディスク装置や半導体ディスク装置(フラッシュメモリ)などを用いることが可能である。   The above-described drawing control unit 33 includes a drawing accuracy level information storage unit 33a that stores drawing accuracy level information, and an interruption position information storage unit 33b that stores interruption position information. For example, a magnetic disk device or a semiconductor disk device (flash memory) can be used as the drawing accuracy level information storage unit 33a and the interruption position information storage unit 33b.

描画精度レベル情報は、描画パターンPの描画精度レベル毎に震度の許容値及び停止値が設定されている情報である。この震度の許容値とは、震度がその許容値より大きい場合に描画を完全に中止するための値であり、震度の停止値とは、震度がその停止値以上であった場合に描画を中断するための値である。また、中断位置情報は、描画が中断した場合にその中断する際のストライプ領域R1及びサブ領域R2を特定する情報、例えば、ストライプ番号及びサブ番号などの位置情報である。この中断位置情報は、描画の中断が解除される際に用いられ、その中断位置から描画が再開されることになる。   The drawing accuracy level information is information in which an allowable value and a stop value of seismic intensity are set for each drawing accuracy level of the drawing pattern P. The seismic intensity tolerance is a value that completely stops drawing when the seismic intensity is greater than the tolerance, and the seismic intensity stop value interrupts drawing when the seismic intensity is greater than or equal to the stopping value. It is a value to do. The interruption position information is information for specifying the stripe region R1 and the subregion R2 when the drawing is interrupted, for example, position information such as a stripe number and a subnumber. This interruption position information is used when the drawing interruption is released, and drawing is resumed from the interruption position.

ここで、例えば、図3に示すように、描画パターンPの描画精度レベルがレベル1である場合には、震度の許容値が5であり、停止値が4であり、描画パターンPの描画精度レベルがレベル2である場合には、震度の許容値が4であり、停止値が3であり、描画パターンPの描画精度レベルがレベル3である場合には、震度の許容値が3であり、停止値が2である。このように描画精度レベルが高くなるほど、描画精度は高くなるため、その逆に震度の許容値及び停止値は小さくなっていく。   Here, for example, as shown in FIG. 3, when the drawing accuracy level of the drawing pattern P is level 1, the allowable value of seismic intensity is 5, the stop value is 4, and the drawing accuracy of the drawing pattern P When the level is level 2, the allowable value of seismic intensity is 4, the stop value is 3, and when the drawing accuracy level of the drawing pattern P is level 3, the allowable value of seismic intensity is 3. The stop value is 2. Thus, the higher the drawing accuracy level, the higher the drawing accuracy, and conversely, the seismic intensity tolerance value and the stop value become smaller.

このような描画精度レベル情報が描画精度レベル情報記憶部33aにあらかじめ保存されており、その描画精度レベル情報が用いられて震度の許容値及び停止値が設定される。例えば、描画する描画パターンPの描画精度レベルがレベル1である場合には、震度の許容値が5に設定され、さらに、震度の停止値が4に設定される。他の描画精度レベルの場合も同様に、描画精度レベルに応じて震度の許容値及び停止値が設定される。その後、設定された震度の許容値及び停止値が用いられ、描画処理が実行されることになる。このように、震度の許容値及び停止値は、描画パターンPの描画精度レベルに応じて設定されることになる。なお、震度の許容値や停止は、キーボードやマウスなどの入力部(図示せず)に対する操作者の入力操作により変更可能である。   Such drawing accuracy level information is stored in advance in the drawing accuracy level information storage unit 33a, and the allowable value and stop value of seismic intensity are set using the drawing accuracy level information. For example, when the drawing accuracy level of the drawing pattern P to be drawn is level 1, the allowable value of seismic intensity is set to 5, and further, the stop value of seismic intensity is set to 4. Similarly, in the case of other drawing accuracy levels, an allowable value and a stop value of seismic intensity are set according to the drawing accuracy level. Thereafter, the set seismic intensity tolerance and stop value are used, and the drawing process is executed. Thus, the allowable value and stop value of seismic intensity are set according to the drawing accuracy level of the drawing pattern P. In addition, the allowable value and the stop of the seismic intensity can be changed by an operator's input operation on an input unit (not shown) such as a keyboard or a mouse.

震度受信部34は、緊急地震速報あるいは振動センサ14からの地震情報を受信する。例えば、緊急地震速報の地震情報には、地震の震度に関する震度情報や到達時刻に関する到達時刻情報などの各種情報が含まれている。また、振動センサ14からの地震情報は、地震の震度に関する震度情報であり、例えば、加速度情報である。したがって、震度受信部34は、緊急地震速報の震度情報から地震の震度を取得したり、あるいは、振動センサ14の震度情報(例えば、加速度情報)に基づいて地震の震度を求めたりする。なお、震度と加速度との相関関係はあらかじめグラフや表などの情報として震度受信部34により記憶されており、その相関情報と加速度情報から加速度が震度に換算される。   The seismic intensity receiving unit 34 receives earthquake early warning or earthquake information from the vibration sensor 14. For example, the earthquake information of the earthquake early warning includes various types of information such as seismic intensity information about the seismic intensity of the earthquake and arrival time information about the arrival time. The earthquake information from the vibration sensor 14 is seismic intensity information related to the seismic intensity of the earthquake, for example, acceleration information. Therefore, the seismic intensity receiving unit 34 acquires the seismic intensity of the earthquake from the seismic intensity information of the emergency earthquake warning, or obtains the seismic intensity of the earthquake based on the seismic intensity information (for example, acceleration information) of the vibration sensor 14. The correlation between seismic intensity and acceleration is stored in advance by the seismic intensity receiving unit 34 as information such as graphs and tables, and acceleration is converted into seismic intensity from the correlation information and acceleration information.

位置ずれ量検出部35は、ステージ11上の試料Wの位置ずれ量を検出するものである。この位置ずれ量検出部35は、撮像部13により撮像された画像を受信し、受信した画像(例えば、試料エッジ像)に基づいて試料Wの位置ずれ量を検出する。撮像部13は、ステージ11に対して試料Wを位置決めするアライメント用に設けられており、試料Wのエッジを撮像する。このため、描画前に撮像したエッジ像と描画再開直前に撮像したエッジ像とを比較することにより、それらのエッジ像のずれ量に基づいて、描画途中での地震による試料Wの位置ずれ量を検出することが可能である。   The displacement amount detection unit 35 detects the displacement amount of the sample W on the stage 11. The positional deviation amount detection unit 35 receives the image captured by the imaging unit 13 and detects the positional deviation amount of the sample W based on the received image (for example, a sample edge image). The imaging unit 13 is provided for alignment for positioning the sample W with respect to the stage 11 and images the edge of the sample W. Therefore, by comparing the edge image captured before drawing with the edge image captured immediately before resuming drawing, the amount of displacement of the sample W due to the earthquake during drawing is calculated based on the amount of deviation of the edge images. It is possible to detect.

ドリフト量検出部36は、ステージ11上の基準マーク(図示せず)を走査して検出することで、今回のマーク位置と前回のマーク位置との差分から電子ビームBのドリフト量を求め、求めたドリフト量をドリフト検出結果データとして描画制御部33に送信する。このドリフト検出結果データは必要に応じて描画制御部33により保存される。描画制御部33は、受信したドリフト検出結果データに基づいてドリフト補正量を算出し、その算出したドリフト補正量に基づいて電子ビームBの偏向量を制御し、その電子ビームBのドリフトを補正する。   The drift amount detector 36 scans and detects a reference mark (not shown) on the stage 11 to determine and determine the drift amount of the electron beam B from the difference between the current mark position and the previous mark position. The obtained drift amount is transmitted to the drawing control unit 33 as drift detection result data. The drift detection result data is saved by the drawing control unit 33 as necessary. The drawing controller 33 calculates a drift correction amount based on the received drift detection result data, controls the deflection amount of the electron beam B based on the calculated drift correction amount, and corrects the drift of the electron beam B. .

ここで、基準マークはドリフト量を求めるためのマークであり、ステージ11の表面に形成されている。例えば、この基準マークは十字形状に形成されており、また、表面と異なる反射率を有する材料により形成されている。なお、ドリフト量を検出する検出手段としては、ドリフト量を求めることが可能な手段であれば良く、その手段は特に限定されるものではない。   Here, the reference mark is a mark for obtaining the drift amount, and is formed on the surface of the stage 11. For example, the reference mark is formed in a cross shape, and is formed of a material having a reflectance different from that of the surface. The detecting means for detecting the drift amount may be any means capable of obtaining the drift amount, and the means is not particularly limited.

次に、前述の荷電粒子ビーム描画装置1が行う描画処理(描画動作)について説明する。   Next, a drawing process (drawing operation) performed by the above-described charged particle beam drawing apparatus 1 will be described.

図4に示すように、まず、描画データが描画データ記憶部31から読み出され、描画が開始される(ステップS1)。次いで、読み出した描画データに基づいてその描画データの描画精度レベルが描画制御部33により定義される(ステップS2)。   As shown in FIG. 4, first, drawing data is read from the drawing data storage unit 31, and drawing is started (step S1). Next, the drawing control unit 33 defines the drawing accuracy level of the drawing data based on the read drawing data (step S2).

ここで、描画データ内には、その描画データの描画精度レベルが含まれており、この描画精度レベルから、描画する描画データの描画精度レベルが描画制御部33により定義され、さらに、その定義された描画精度レベルに基づいて、描画精度レベル情報記憶部33aにより記憶された描画精度レベル情報から震度の許容値及び停止値が設定される。   Here, the drawing data includes the drawing accuracy level of the drawing data, and the drawing control unit 33 defines the drawing accuracy level of the drawing data to be drawn from the drawing accuracy level. Based on the drawing accuracy level, an allowable value and a stop value of seismic intensity are set from the drawing accuracy level information stored in the drawing accuracy level information storage unit 33a.

例えば、描画データに含まれる描画精度レベルがレベル1である場合には、これから描画する描画パターンの描画精度レベルはレベル1に定義され、さらに、図3に示すように、そのレベル1に対応する震度の許容値が5に、震度の停止値が4に設定される。なお、描画パターンの描画精度は、例えば、回路パターンの線幅に依存するため、線幅が狭い回路パターンは、振動によるずれ量が大きくなると、そのパターンのずれ量によっては切断状態になるため、より高い描画精度となる傾向にある。   For example, when the drawing accuracy level included in the drawing data is level 1, the drawing accuracy level of the drawing pattern to be drawn is defined as level 1, and further corresponds to level 1 as shown in FIG. The seismic intensity tolerance is set to 5, and the seismic intensity stop value is set to 4. In addition, since the drawing accuracy of the drawing pattern depends on, for example, the line width of the circuit pattern, a circuit pattern with a narrow line width becomes a cut state depending on the amount of deviation of the pattern when the amount of deviation due to vibration increases. There is a tendency for higher drawing accuracy.

次いで、ステップS2の処理後、描画が完了したか否かが判断され(ステップS3)、描画が完了していないと判断されると(ステップS3のNO)、地震(振動)が発生したか否かが判断され(ステップS4)、地震が発生していないと判断されると(ステップS4のNO)、描画が実行され(ステップS5)、処理がステップS3に戻される。これにより、描画が完了するまで、あるいは、地震が発生するまで描画が継続される。なお、地震の発生は、例えば、震度受信部34により地震情報、特に、震度情報が受信されたか否かによって判断される。   Next, after the process of step S2, it is determined whether or not drawing has been completed (step S3). If it is determined that drawing has not been completed (NO in step S3), whether or not an earthquake (vibration) has occurred. Is determined (step S4), and if it is determined that an earthquake has not occurred (NO in step S4), drawing is executed (step S5), and the process returns to step S3. Thereby, drawing is continued until drawing is completed or an earthquake occurs. The occurrence of an earthquake is determined, for example, by whether or not earthquake information, in particular, seismic intensity information has been received by the seismic intensity receiver 34.

その後、ステップS3において、描画が完了したと判断されると(ステップS3のYES)、描画が中止され(ステップS6)、処理が終了する。また、ステップS4において、地震が発生したと判断されると(ステップS4のYES)、地震の震度が前述で設定された許容値より大きいか否かが判断される(ステップS7)。なお、地震の震度は、震度受信部34により受信された震度情報から取得される。   Thereafter, when it is determined in step S3 that the drawing has been completed (YES in step S3), the drawing is stopped (step S6), and the process ends. If it is determined in step S4 that an earthquake has occurred (YES in step S4), it is determined whether or not the seismic intensity of the earthquake is greater than the allowable value set above (step S7). The seismic intensity of the earthquake is acquired from the seismic intensity information received by the seismic intensity receiving unit 34.

地震の震度が許容値より大きいと判断されると(ステップS7のYES)、処理はステップS6に進められる。一方、地震の震度が許容値より大きくない、すなわち許容値以下であると判断されると(ステップS7のNO)、地震の震度が前述で設定された停止値以上であるか否かが判断される(ステップS8)。   If it is determined that the seismic intensity of the earthquake is greater than the allowable value (YES in step S7), the process proceeds to step S6. On the other hand, if it is determined that the seismic intensity of the earthquake is not greater than the allowable value, that is, is less than or equal to the allowable value (NO in step S7), it is determined whether or not the seismic intensity of the earthquake is greater than or equal to the stop value set above. (Step S8).

地震の震度が停止値以上でないと判断されると(ステップS8のNO)、処理はステップS5に進められる。一方、地震の震度が停止値以上であると判断されると(ステップS8のYES)、描画が一時停止される(ステップS9)。   If it is determined that the seismic intensity of the earthquake is not equal to or greater than the stop value (NO in step S8), the process proceeds to step S5. On the other hand, if it is determined that the seismic intensity is equal to or greater than the stop value (YES in step S8), the drawing is temporarily stopped (step S9).

この描画の中断時には、描画制御部33は、描画途中のサブ領域R2の描画を完了させてから描画部2による描画を中止し、さらに、その描画部2による描画が中止されたストライプ領域R1及びサブ領域R2を特定する情報、例えば、ストライプ番号及びサブ番号などの位置情報を中断位置情報として中断位置情報記憶部33bに記憶する。   When the drawing is interrupted, the drawing control unit 33 completes the drawing of the sub-region R2 in the middle of drawing and then stops drawing by the drawing unit 2, and further, the stripe region R1 in which drawing by the drawing unit 2 is stopped and Information for specifying the sub-region R2, for example, position information such as a stripe number and a sub-number, is stored as interruption position information in the interruption position information storage unit 33b.

その後、描画が再開可能であるか否かが判断され(ステップS10)、描画が再開可能でないと判断されると(ステップS10のNO)、処理がステップS6に進められる。
一方、描画が再開可能であると判断されると(ステップS10のYES)、キャリブレーションが行われ(ステップS11)、処理がステップS5に進められる。
Thereafter, it is determined whether drawing can be resumed (step S10). If it is determined that drawing cannot be resumed (NO in step S10), the process proceeds to step S6.
On the other hand, if it is determined that drawing can be resumed (YES in step S10), calibration is performed (step S11), and the process proceeds to step S5.

ここで、ステップS10における描画が再開可能であるか否かの判断では、振動センサ14からの地震情報により地震が収束したか否かが判断される。このとき、振動が所定の許容値以下であることが確認され、地震の収束が特定される。また、位置ずれ量検出部35により検出された試料Wの位置ずれ量が所定の許容値以下であるか否かが確認され、その位置ずれ量が許容値以下であれば描画を再開し、許容値より大きければ描画を中止する。さらに、振動センサ14からの地震情報により検知した最大の震度、すなわち最大の加速度が所定の許容値より大きい場合にも、描画を中止する。なお、各許容値は描画制御部33にあらかじめ設定されているが、キーボードやマウスなどの入力部(図示せず)に対する操作者の入力操作により変更可能である。   Here, in determining whether drawing can be resumed in step S <b> 10, it is determined whether the earthquake has converged based on the earthquake information from the vibration sensor 14. At this time, it is confirmed that the vibration is equal to or less than a predetermined allowable value, and the convergence of the earthquake is specified. In addition, it is confirmed whether or not the positional deviation amount of the sample W detected by the positional deviation amount detection unit 35 is equal to or smaller than a predetermined allowable value. If it is greater than the value, drawing is stopped. Furthermore, drawing is also stopped when the maximum seismic intensity detected from the earthquake information from the vibration sensor 14, that is, when the maximum acceleration is greater than a predetermined allowable value. Each allowable value is set in advance in the drawing control unit 33, but can be changed by an operator's input operation on an input unit (not shown) such as a keyboard or a mouse.

また、ステップS11におけるキャリブレーションでは、ドリフト量検出部36によりドリフト量の検出、すなわち測定が行われ、そのドリフト検出結果データが描画制御部33に送信される。描画制御部33は、受信したドリフト検出結果データに基づいてドリフト補正量を求め、さらに、中断位置情報に基づいて、再開するストライプ領域及びサブ領域からショットデータの再生成を行い、求めたドリフト補正量に基づいて電子ビームBのドリフトを補正しながら描画を行う。   In the calibration in step S <b> 11, the drift amount detection unit 36 detects the drift amount, that is, measures, and transmits the drift detection result data to the drawing control unit 33. The drawing control unit 33 obtains a drift correction amount based on the received drift detection result data, and further regenerates shot data from the restarted stripe region and sub-region based on the interruption position information, thereby obtaining the obtained drift correction. Drawing is performed while correcting the drift of the electron beam B based on the amount.

以上説明したように、第1の実施形態によれば、震度受信部34により震度情報が受信された場合、描画部2による描画中の描画パターンの描画精度と、震度受信部34により受信された震度情報の震度とに応じて、描画部2による描画を中止する。これにより、地震の震度に加え、描画パターンPの要求される描画精度に応じて描画が中止されることになる。したがって、地震の震度が高くても、描画パターンの要求される描画精度が低いため、描画を中止しなくともパターンエラーを生ぜず、描画効率の低下を抑止することができる。一方、地震の震度が低くても、描画パターンの要求される描画精度が高いため、描画を中止してパターンエラーの発生を防止するので、描画精度の低下を防止することができる。   As described above, according to the first embodiment, when seismic intensity information is received by the seismic intensity receiving unit 34, the drawing accuracy of the drawing pattern being drawn by the drawing unit 2 and the seismic intensity receiving unit 34 have received it. Drawing by the drawing unit 2 is stopped according to the seismic intensity of the seismic intensity information. Thereby, drawing is stopped according to the drawing accuracy required for the drawing pattern P in addition to the seismic intensity of the earthquake. Therefore, even if the seismic intensity of the earthquake is high, the required drawing accuracy of the drawing pattern is low, so that it is possible to suppress a reduction in drawing efficiency without causing a pattern error without stopping drawing. On the other hand, even if the seismic intensity of the earthquake is low, the required drawing accuracy of the drawing pattern is high, so that drawing is stopped and the occurrence of a pattern error is prevented, so that a reduction in drawing accuracy can be prevented.

また、描画パターンPを複数のストライプ領域R1に分割し、ストライプ領域R1を複数のサブ領域R2に分割し、ストライプ領域R1毎に描画部2による描画を行うとき、震度受信部34により震度情報が受信された場合、描画途中のサブ領域R2の描画を完了させてから描画部2による描画を中止することによって、描画再開時に、描画中断のサブ領域R2内で描画中断前後の描画位置を合わせるような処理を行う必要がなくなり、描画再開時に容易に描画を開始することが可能となるので、描画効率を向上させることができる。   Further, when the drawing pattern P is divided into a plurality of stripe regions R1, the stripe region R1 is divided into a plurality of sub-regions R2, and drawing is performed by the drawing unit 2 for each stripe region R1, seismic intensity information is received by the seismic intensity receiving unit 34. If received, the drawing by the drawing unit 2 is stopped after the drawing of the sub-region R2 in the middle of drawing is completed, so that the drawing position before and after the drawing interruption is matched within the drawing interruption sub-region R2 when drawing is resumed. This eliminates the need to perform a simple process and allows drawing to be started easily when drawing is resumed, thereby improving drawing efficiency.

また、描画部2による描画が中止されたストライプ領域R1及びサブ領域R2を特定する情報を記憶することによって、描画再開時に描画を中断した位置を容易に把握することが可能となる。これにより、描画を中断した位置から正確に描画を再開することができ、結果として、精度が高い描画を行うことができる。さらに、描画再開時に描画の再開位置を容易に把握することが可能であるため、すぐに描画を再開することができ、結果として、描画効率を向上させることができる。   In addition, by storing information specifying the stripe region R1 and the sub-region R2 where drawing by the drawing unit 2 has been stopped, it is possible to easily grasp the position where drawing was interrupted when drawing was resumed. Thereby, drawing can be restarted accurately from the position where drawing was interrupted, and as a result, highly accurate drawing can be performed. Furthermore, since it is possible to easily grasp the drawing restart position when drawing is resumed, drawing can be resumed immediately, and as a result, drawing efficiency can be improved.

また、位置ずれ量検出部35により検出された試料Wの位置ずれ量に応じて、描画部2による描画を再開することによって、地震の振動により試料Wが所定の許容値より大きくずれていた場合には、その試料Wに対して描画が再開されない。これにより、描画を再開してもパターンエラーなどの描画不良となる場合には、描画が再開されないため、無駄な描画を行うことを防止することが可能となる。したがって、無駄な描画時間の発生を抑え、描画効率を向上させることができる。   Further, when the drawing by the drawing unit 2 is resumed in accordance with the amount of positional deviation of the sample W detected by the positional deviation amount detection unit 35, the sample W is greatly displaced from a predetermined allowable value due to earthquake vibration. In this case, drawing is not resumed for the sample W. Accordingly, even if drawing is resumed, if drawing failure such as a pattern error occurs, drawing is not resumed, so that it is possible to prevent unnecessary drawing. Therefore, generation of useless drawing time can be suppressed and drawing efficiency can be improved.

また、ドリフト量検出部36により検出された電子ビームBのドリフト量を補正するドリフト補正量を求め、描画部2による描画を再開することによって、描画再開後にドリフト補正量に基づいて電子ビームBのドリフトを補正することが可能になるので、描画再開後も精度良く描画を行うことができる。   Further, a drift correction amount for correcting the drift amount of the electron beam B detected by the drift amount detection unit 36 is obtained, and drawing by the drawing unit 2 is resumed, so that the drawing of the electron beam B is resumed based on the drift correction amount after resuming drawing. Since drift can be corrected, drawing can be performed with high accuracy even after drawing is resumed.

(第2の実施形態)
第2の実施形態について図5乃至図7を参照して説明する。なお、第2の実施形態では、第1の実施形態との相違点について説明し、第1の実施形態で説明した部分と同一部分は同一符号で示し、その説明も省略する。
(Second Embodiment)
A second embodiment will be described with reference to FIGS. In the second embodiment, differences from the first embodiment will be described, the same parts as those described in the first embodiment will be denoted by the same reference numerals, and the description thereof will also be omitted.

図5に示すように、第2の実施形態に係る荷電粒子ビーム描画装置1は、第1の実施形態に係る撮像部13や位置ずれ量検出部35、ドリフト量検出部36を備えていない(図1参照)。また、描画制御部33は、第1の実施形態に係る描画精度レベル情報記憶部33a及び中断位置情報記憶部33bを備えていない(図1参照)。震度受信部34は、緊急地震速報(気象庁などの機関から主要動到達前に発信される速報)を受信する速報受信部として機能する。   As illustrated in FIG. 5, the charged particle beam drawing apparatus 1 according to the second embodiment does not include the imaging unit 13, the positional deviation amount detection unit 35, and the drift amount detection unit 36 according to the first embodiment ( (See FIG. 1). The drawing control unit 33 does not include the drawing accuracy level information storage unit 33a and the interruption position information storage unit 33b according to the first embodiment (see FIG. 1). The seismic intensity receiving unit 34 functions as a breaking news receiving unit that receives emergency earthquake breaking news (breaking news transmitted from an organization such as the Japan Meteorological Agency before arrival of main motion).

描画制御部33は、震度受信部34による緊急地震速報の受信に応じて、ステージ移動部12によるステージ11の移動を停止する。具体的には、描画制御部33は、震度受信部34により緊急地震速報が受信されると、ステージ移動部12によるステージ11の移動を停止し、その停止したステージ11上の試料Wにおける電子ビームBが偏向照射される偏向領域、すなわち主偏向領域内の全描画を完了させ、その後、描画を行う場合の移動方向と逆方向にステージ11を退避させる。   The drawing control unit 33 stops the movement of the stage 11 by the stage moving unit 12 in response to the reception of the earthquake early warning by the seismic intensity receiving unit 34. Specifically, the drawing control unit 33 stops the movement of the stage 11 by the stage moving unit 12 when an earthquake early warning is received by the seismic intensity receiving unit 34, and the electron beam on the sample W on the stopped stage 11. All drawing in the deflection area where B is deflected, that is, the main deflection area is completed, and then the stage 11 is retracted in the direction opposite to the moving direction when drawing is performed.

ここで、図6に示すように、描画はストライプ領域R1に対して描画進行方向D1(描画中のステージ11の移動方向と逆方向)に順次行われていく(図6中の上図参照)。なお、図6では、ストライプ領域R1において、斜線でハッチングされている領域が描画済領域R1aであり、ハッチングされていない領域が未描画領域R1bである。描画は、窓枠と呼ばれる主偏向領域A1内のストライプ領域R1に対してサブ領域R2毎に行われる。具体的には、ステージ11の移動に応じて主偏向領域A1内に入ってきたストライプ領域R1の一部に対し、例えば、図6中の下から上に順次サブ領域R2の描画が行われていく。なお、主偏向領域A1は、主偏向器29により電子ビームBが偏向されて照射されるステージ11上の試料Wの領域である。   Here, as shown in FIG. 6, drawing is sequentially performed on the stripe region R1 in the drawing progress direction D1 (opposite to the moving direction of the stage 11 during drawing) (see the upper diagram in FIG. 6). . In FIG. 6, in the stripe region R1, a hatched region is a drawn region R1a, and a non-hatched region is an undrawn region R1b. Drawing is performed for each sub-region R2 with respect to the stripe region R1 in the main deflection region A1 called a window frame. Specifically, for example, the sub-region R2 is sequentially drawn from the bottom to the top in FIG. 6 on a part of the stripe region R1 that has entered the main deflection region A1 according to the movement of the stage 11. Go. The main deflection area A1 is an area of the sample W on the stage 11 that is irradiated with the electron beam B deflected by the main deflector 29.

このような描画中、震度受信部34により緊急地震速報が受信されると、ステージ移動部12によるステージ11の移動が停止され、その停止位置でのステージ11上の試料Wの主偏向領域A1内の全描画、すなわち主偏向領域A1内の全サブ領域R2のすべての描画が完了させられる(図6中の中央図参照)。つまり、ステージ11が止まると、その停止位置で描画できるだけのパターン(主偏向領域A1内の全パターン)を十分に描画した後で、描画は窓枠待ちの状態となる。   During such drawing, when an earthquake early warning is received by the seismic intensity receiver 34, the movement of the stage 11 by the stage moving unit 12 is stopped, and within the main deflection area A1 of the sample W on the stage 11 at the stop position. In other words, all the drawing of all sub-regions R2 in the main deflection region A1 is completed (see the central view in FIG. 6). That is, when the stage 11 stops, the drawing is in a window frame waiting state after sufficiently drawing a pattern that can be drawn at the stop position (all patterns in the main deflection area A1).

前述のサブ領域R2の縦一列(図6中の上下方向の一列)を描画する描画時間は、例えば250ms(ミリセコンド)であり、通常数百msであって1秒以下となる。ステージ11の停止後、描画対象となる主偏向領域A1内の全サブ領域R2としては、最大でもサブ領域R2の縦一列となり、最小はサブ領域R2の一つとなる。したがって、ステージ11の停止から主偏向領域A1内の全サブ領域R2の描画完了に要する時間は、最大でも数百msであって1秒以下となる。このため、震源と荷電粒子ビーム描画装置1の設置場所との距離の問題はあるが、その設置場所が震源から数十キロ程度離れていれば地震到達まで少なくとも数秒を要するため、地震到達前に主偏向領域A1内の全サブ領域R2のすべての描画を完了させることは十分に可能である。なお、一例として、ストライプ領域R1の縦幅(図6中の上下方向の長さ)は512μmであり、サブ領域R2の横幅(図6中の左右方向の長さ)は25.6μmである。   The drawing time for drawing the vertical row (vertical row in FIG. 6) of the sub-region R2 described above is, for example, 250 ms (milliseconds), and is usually several hundred ms, which is 1 second or less. After the stage 11 is stopped, all the sub-regions R2 in the main deflection region A1 to be drawn become a vertical row of the sub-region R2 at the maximum, and the minimum is one of the sub-regions R2. Therefore, the time required to complete the drawing of all the sub-regions R2 in the main deflection region A1 from the stop of the stage 11 is several hundred ms at most and is one second or less. For this reason, there is a problem of the distance between the epicenter and the place where the charged particle beam drawing apparatus 1 is installed, but it takes at least several seconds to reach the earthquake if the installation location is several tens of kilometers away from the epicenter. It is sufficiently possible to complete all the drawing of all the sub-regions R2 in the main deflection region A1. As an example, the vertical width (length in the vertical direction in FIG. 6) of the stripe region R1 is 512 μm, and the horizontal width (length in the horizontal direction in FIG. 6) of the sub-region R2 is 25.6 μm.

前述のステージ11停止後の描画が完了すると、窓枠待ちの状態が維持されたまま、ステージ11は描画を行う場合の移動方向と逆方向に退避させられ、すなわち主偏向領域A1は描画進行方向D1の逆方向D2に移動する(図6中の下図参照)。なお、このとき、ステージ11が描画を行う場合の移動方向と同じ方向に退避すると、描画が再開してしまう。これを防ぐため、描画を行う場合の移動方向と逆方向にステージ11を退避させる必要がある。   When the drawing after the stop of the stage 11 is completed, the stage 11 is retracted in the direction opposite to the moving direction when drawing is performed while the window frame waiting state is maintained. That is, the main deflection area A1 is drawn in the drawing traveling direction. It moves in the direction D2 opposite to D1 (see the lower diagram in FIG. 6). At this time, if the stage 11 retreats in the same direction as the moving direction when drawing, drawing is resumed. In order to prevent this, it is necessary to retract the stage 11 in the direction opposite to the moving direction for drawing.

ここで、ステージ11の退避距離は、あらかじめ所定距離として描画制御部33に設定されているが、これに限るものではなく、例えば、描画制御部33が地震の震度に応じてステージ11の退避距離を変更するようにしても良い。この場合には、緊急地震速報内の震度情報を用いて地震の震度を把握することが可能である。   Here, the retreat distance of the stage 11 is set in advance in the drawing control unit 33 as a predetermined distance, but is not limited to this. For example, the retraction distance of the stage 11 is determined by the drawing control unit 33 according to the seismic intensity of the earthquake. May be changed. In this case, it is possible to grasp the seismic intensity of the earthquake using the seismic intensity information in the earthquake early warning.

前述のように、描画は主偏向領域A1内に入ってきたストライプ領域R1の一部に対して実行されていく。このため、ステージ11が停止状態となっても地震がある程度大きく、地震到達後にステージ11が振動し、ストライプ領域R1の一部が主偏向領域A1内に入ってくると、描画が再開されてしまう。この場合には、地震到達後にも描画が実行されることになるため、描画精度が低下することになる。ところが、前述のようにステージ11の退避を行うことによって、地震到達後、ステージ11の振動によりストライプ領域R1の一部が主偏向領域A1内に入ってくるようなことが防止される。これにより、地震到達後の描画実行、すなわち振動中の描画実行を抑えることが可能となるので、描画精度の低下を抑止することができる。   As described above, drawing is performed on a part of the stripe region R1 that has entered the main deflection region A1. For this reason, even if the stage 11 is stopped, the earthquake is large to some extent, and when the stage 11 vibrates after reaching the earthquake and a part of the stripe region R1 enters the main deflection region A1, drawing is resumed. . In this case, since the drawing is executed even after the earthquake arrives, the drawing accuracy is lowered. However, by retracting the stage 11 as described above, it is possible to prevent a part of the stripe region R1 from entering the main deflection region A1 due to the vibration of the stage 11 after reaching the earthquake. As a result, it is possible to suppress drawing execution after the arrival of the earthquake, that is, drawing execution during vibration, so that a reduction in drawing accuracy can be suppressed.

なお、描画制御部33は、前述のステージ11の退避を行う以外にも、例えば、試料Wに対する電子ビームBの照射を停止するようにしても良い。一例として、描画制御部33は、電子銃21から出射された電子ビームBが第2の成形アパーチャ26を通過しないように成形偏向器25を制御する。これにより、電子ビームBは第2の成形アパーチャ26により遮られ、試料Wに対する電子ビームBの照射が停止されることになる。なお、振動中の描画実行をより確実に防止するため、電子銃21からの電子ビームBの出射自体が停止されても良いが、電子ビームBの出射が停止されることによる不具合(例えば、描画再開時の電子ビームBの安定待ち時間の発生など)を考慮すると、前述のステージ11の退避や第2の成形アパーチャ26による遮断を行う方が望ましい。   Note that the drawing control unit 33 may stop the irradiation of the electron beam B on the sample W, for example, in addition to retracting the stage 11 described above. As an example, the drawing control unit 33 controls the shaping deflector 25 so that the electron beam B emitted from the electron gun 21 does not pass through the second shaping aperture 26. As a result, the electron beam B is blocked by the second shaping aperture 26, and the irradiation of the electron beam B on the sample W is stopped. Note that the emission of the electron beam B from the electron gun 21 may be stopped in order to more surely prevent the execution of drawing during vibration. However, a malfunction caused by the stop of the emission of the electron beam B (for example, drawing) In view of the occurrence of the stabilization waiting time of the electron beam B at the time of resumption, it is preferable that the stage 11 is retracted or blocked by the second shaping aperture 26 described above.

次に、前述の荷電粒子ビーム描画装置1が行う描画処理(描画動作)について説明する。   Next, a drawing process (drawing operation) performed by the above-described charged particle beam drawing apparatus 1 will be described.

図7に示すように、描画データが描画データ記憶部31から読み出され、描画が開始される(ステップS21)。次いで、描画が完了したか否かが判断される(ステップS22)。ここで、描画が完了したと判断されると(ステップS22のYES)、処理が終了する。一方、描画が完了していないと判断されると(ステップS22のNO)、地震(振動)が発生したか否かが判断され(ステップS23)、その判断は地震が発生するまで繰り返される(ステップS23のNO)。   As shown in FIG. 7, the drawing data is read from the drawing data storage unit 31, and drawing is started (step S21). Next, it is determined whether drawing has been completed (step S22). If it is determined that drawing has been completed (YES in step S22), the process ends. On the other hand, if it is determined that drawing has not been completed (NO in step S22), it is determined whether or not an earthquake (vibration) has occurred (step S23), and this determination is repeated until an earthquake occurs (step S23). NO of S23).

このように、地震発生は描画中絶えず検出されていることになる。この地震発生の判断は、例えば、震度受信部34により緊急地震速報が受信されたか否かの判定によって行われ、震度受信部34により緊急地震速報が受信されたと判定されると、地震が発生したと判断される。   In this way, the occurrence of earthquakes is constantly detected during drawing. The determination of the occurrence of the earthquake is made, for example, by determining whether or not an earthquake early warning is received by the seismic intensity receiving unit 34, and if it is determined that the earthquake early warning is received by the seismic intensity receiving unit 34, an earthquake has occurred. It is judged.

その後、地震が発生したと判断されると(ステップS23のYES)、ステージ11が停止され(ステップS24)、その停止したステージ11上の試料Wにおける主偏向領域A1内の全描画が完了させられ(ステップS25)、その完了に応じてステージ11は描画用の移動方向(描画移動方向)と逆方向に所定の退避距離だけ移動する(ステップS26)。   Thereafter, when it is determined that an earthquake has occurred (YES in step S23), the stage 11 is stopped (step S24), and all drawing in the main deflection region A1 in the sample W on the stopped stage 11 is completed. (Step S25) In response to the completion, the stage 11 moves by a predetermined retraction distance in the direction opposite to the drawing movement direction (drawing movement direction) (Step S26).

次に、描画再開が指示されたか否かが判断され(ステップS27)、その判断は描画再開が指示されるまで繰り返される(ステップS27のNO)。ここで、描画再開が指示されたと判断されると(ステップS27のYES)、ステージ11が描画用の移動方向に移動し(ステップS28)、描画が再開され、処理はステップS22に戻る。   Next, it is determined whether or not drawing resumption is instructed (step S27), and this determination is repeated until drawing resumption is instructed (NO in step S27). If it is determined that drawing resumption is instructed (YES in step S27), the stage 11 moves in the drawing movement direction (step S28), drawing is resumed, and the process returns to step S22.

ここで、前述の描画再開の指示は、例えば、地震がおさまった後、操作者が入力部の再開ボタンなどを押下することで行われても良く、また、振動センサ14からの地震情報、すなわち震度情報を震度受信部34により受信し、その震度情報から地震がおさまった(例えば、振動が所定値以下になった)ことを判断することで行われても良い。いずれにしても、描画制御部33は、再開ボタンの押下や震度情報に基づいて地震がおさまったか否かを判断し、地震がおさまったと判断した場合に、ステージ11を描画用の移動方向に移動させて描画を再開する。   Here, the drawing resumption instruction described above may be performed, for example, by the operator pressing the resumption button of the input unit after the earthquake has stopped, and the earthquake information from the vibration sensor 14, that is, The seismic intensity information may be received by the seismic intensity receiving unit 34, and it may be determined by determining from the seismic intensity information that the earthquake has stopped (for example, the vibration has become a predetermined value or less). In any case, the drawing control unit 33 determines whether or not the earthquake has stopped based on pressing of the restart button or seismic intensity information, and moves the stage 11 in the drawing moving direction when determining that the earthquake has stopped. To resume drawing.

以上説明したように、第2の実施形態によれば、震度受信部34により緊急地震速報が受信されると、ステージ移動部12によるステージ11の移動を停止し、その停止したステージ11上の試料Wにおいて電子ビームBが偏向照射される偏向領域、すなわち主偏向領域A1内の全描画を完了させる。これにより、地震到達前に主偏向領域A1内の全描画が完了し、迅速に描画が中止されることになるので、描画精度の低下を抑止することができる。また、ステージ11の移動を停止するだけで、描画が中止されるので、電子ビームBの出射停止による不具合(例えば、描画再開時の電子ビームBの安定待ち時間など)の発生を防止することが可能となるので、描画効率の低下を抑止することができる。さらに、描画途中に描画が停止された試料を廃棄する必要がなく、最初から描画をやり直すことがなくなり、数十時間を要した描画作業を無駄とすることがないため、描画効率の低下を抑止することができる。   As described above, according to the second embodiment, when an earthquake early warning is received by the seismic intensity receiving unit 34, the stage moving unit 12 stops moving the stage 11, and the sample on the stopped stage 11 is stopped. In W, the entire drawing in the deflection region to which the electron beam B is deflected, that is, the main deflection region A1, is completed. Thereby, all the drawing in the main deflection area A1 is completed before the earthquake arrives, and the drawing is quickly stopped, so that it is possible to prevent the drawing accuracy from being lowered. Further, since the drawing is stopped only by stopping the movement of the stage 11, it is possible to prevent the occurrence of problems due to the stop of the emission of the electron beam B (for example, the stabilization waiting time of the electron beam B when drawing is resumed). As a result, a reduction in drawing efficiency can be suppressed. In addition, there is no need to discard samples that have been stopped during drawing, so there is no need to redo the drawing from the beginning, and drawing work that takes tens of hours is not wasted. can do.

また、描画を行う場合のステージ11の移動方向と逆方向にステージ移動部12によりステージ11を退避させることによって、前述のように地震到達後のステージ11の振動による描画再開を防止し、地震到達後の描画実行、すなわち振動中の描画実行を抑えることが可能となるので、描画精度の低下を確実に抑止することができる。なお、ステージ移動部12によるステージ11の退避距離を地震の震度に応じて変更する場合には、振動中の描画実行を確実に抑えることが可能となるので、描画精度の低下をより確実に抑止することができる。また、描画部2による試料Wに対する電子ビームBの照射を停止する場合にも、振動中の描画実行を抑えることが可能となるので、描画精度の低下を確実に抑止することができる。   Further, by retreating the stage 11 by the stage moving unit 12 in the direction opposite to the moving direction of the stage 11 when drawing, the drawing restart due to the vibration of the stage 11 after the arrival of the earthquake is prevented as described above, and the arrival of the earthquake Since subsequent drawing execution, that is, drawing execution during vibration can be suppressed, it is possible to reliably prevent a reduction in drawing accuracy. In addition, when changing the retreat distance of the stage 11 by the stage moving part 12 according to the seismic intensity of an earthquake, since it becomes possible to suppress drawing execution during a vibration reliably, the fall of drawing accuracy is suppressed more reliably. can do. In addition, even when the irradiation of the electron beam B to the sample W by the drawing unit 2 is stopped, it is possible to suppress drawing execution during vibration, and thus it is possible to reliably prevent a reduction in drawing accuracy.

ここで、地震の震度に応じてステージ11の退避距離を変更する場合について図8及び図9を参照して詳述する。   Here, the case where the retreat distance of the stage 11 is changed according to the seismic intensity of the earthquake will be described in detail with reference to FIGS.

図8に示すように、描画制御部33は、退避距離レベル情報を記憶する退避距離レベル情報記憶部33cを有している。この退避距離レベル情報記憶部33cとしては、例えば、ROM(Read Only Memory)やRAM(Random Access Memory)、半導体ディスク装置(フラッシュメモリ)、磁気ディスク装置などを用いることが可能である。   As shown in FIG. 8, the drawing control unit 33 includes a retreat distance level information storage unit 33c that stores retreat distance level information. As the retreat distance level information storage unit 33c, for example, a ROM (Read Only Memory), a RAM (Random Access Memory), a semiconductor disk device (flash memory), a magnetic disk device, or the like can be used.

図9に示すように、退避距離レベル情報は、地震の震度ごとに退避距離が設定されている情報である。図9では、一例として、震度が1である場合には退避距離が5cmであり、震度が2である場合には退避距離が10cmであり、震度が3である場合には退避距離が15cmであり、震度が4である場合には退避距離が20cmであり、震度が5である場合には退避距離が30cmであり、震度が6である場合には退避距離が40cmであり、震度が7である場合には退避距離が50cmである。このように震度が大きくなるほど、ステージ11の退避距離は大きくなる。この退避距離レベル情報が退避距離レベル情報記憶部33cにあらかじめ保存されている。   As shown in FIG. 9, the retreat distance level information is information in which a retreat distance is set for each seismic intensity of the earthquake. In FIG. 9, as an example, when the seismic intensity is 1, the retreat distance is 5 cm, when the seismic intensity is 2, the retreat distance is 10 cm, and when the seismic intensity is 3, the retreat distance is 15 cm. Yes, when the seismic intensity is 4, the evacuation distance is 20 cm, when the seismic intensity is 5, the evacuation distance is 30 cm, and when the seismic intensity is 6, the evacuation distance is 40 cm and the seismic intensity is 7 In this case, the evacuation distance is 50 cm. As the seismic intensity increases, the retract distance of the stage 11 increases. The retreat distance level information is stored in advance in the retreat distance level information storage unit 33c.

描画制御部33は、震度情報から把握した地震の震度に対応する退避距離を退避距離レベル情報記憶部33c内の退避距離レベル情報から選択して決定する。例えば、震度が1である場合には、その震度1に対応する退避距離5cmが選択され、退避距離は5cmと決定される。同様に、震度が5である場合には、その震度5に対応する退避距離30cmが選択され、退避距離は30cmと決定される。   The drawing control unit 33 selects and determines the retreat distance corresponding to the seismic intensity of the earthquake grasped from the seismic intensity information from the retreat distance level information in the retreat distance level information storage unit 33c. For example, when the seismic intensity is 1, the retreat distance 5 cm corresponding to the seismic intensity 1 is selected, and the retreat distance is determined to be 5 cm. Similarly, when the seismic intensity is 5, the retreat distance 30 cm corresponding to the seismic intensity 5 is selected, and the retreat distance is determined to be 30 cm.

なお、退避距離レベル情報としては、地震の震度ごとに退避距離が設定されている情報を用いているが、これに限るものではなく、例えば、所定の震度範囲ごとに退避距離が設定されている情報を用いるようにしても良い。この場合、描画制御部33は、震度情報から把握した地震の震度が含まれる所定の震度範囲に対応する退避距離を退避距離レベル情報から選択して決定する。   In addition, as the evacuation distance level information, information in which the evacuation distance is set for each seismic intensity of the earthquake is used. However, the present invention is not limited to this. For example, the evacuation distance is set for each predetermined seismic intensity range. Information may be used. In this case, the drawing control unit 33 selects and determines the retreat distance corresponding to a predetermined seismic intensity range including the seismic intensity of the earthquake grasped from the seismic intensity information from the retreat distance level information.

以上、本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。   As mentioned above, although some embodiment of this invention was described, these embodiment is shown as an example and is not intending limiting the range of invention. These novel embodiments can be implemented in various other forms, and various omissions, replacements, and changes can be made without departing from the scope of the invention. These embodiments and modifications thereof are included in the scope and gist of the invention, and are included in the invention described in the claims and the equivalents thereof.

前述の第1又は第2の実施形態においては、振動センサ14を描画室2aの外周面に設けているが、これに限るものではなく、例えば、荷電粒子ビーム描画装置1を設置した工場の敷地内の四隅にそれぞれ設けるようにしても良い。その振動センサ14の個数や敷地内の四隅という数も限定されるものではなく、もちろん振動センサ14の設置場所も限定されるものではない。   In the first or second embodiment described above, the vibration sensor 14 is provided on the outer peripheral surface of the drawing chamber 2a. However, the present invention is not limited to this. For example, the site of the factory where the charged particle beam drawing apparatus 1 is installed. They may be provided at the four corners. The number of the vibration sensors 14 and the number of the four corners in the site are not limited. Of course, the installation location of the vibration sensor 14 is not limited.

1 荷電粒子ビーム描画装置
2 描画部
2a 描画室
2b 光学鏡筒
3 制御部
11 ステージ
12 ステージ移動部
13 撮像部
14 振動センサ
21 電子銃
22 照明レンズ
23 第1の成形アパーチャ
24 投影レンズ
25 成形偏向器
26 第2の成形アパーチャ
27 対物レンズ
28 副偏向器
29 主偏向器
31 描画データ記憶部
32 ショットデータ生成部
33 描画制御部
33a 描画精度レベル情報記憶部
33b 中断位置情報記憶部
33c 退避距離レベル情報記憶部
34 震度受信部
35 位置ずれ量検出部
36 ドリフト量検出部
A1 主偏向領域
B 電子ビーム
D1 描画進行方向
D2 描画進行方向の逆方向
R1 ストライプ領域
R1a 描画済領域
R1b 未描画領域
R2 サブ領域
W 試料
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Charged particle beam drawing apparatus 2 Drawing part 2a Drawing room 2b Optical barrel 3 Control part 11 Stage 12 Stage moving part 13 Imaging part 14 Vibration sensor 21 Electron gun 22 Illumination lens 23 First shaping aperture 24 Projection lens 25 Molding deflector 26 Second shaping aperture 27 Objective lens 28 Sub deflector 29 Main deflector 31 Drawing data storage unit 32 Shot data generation unit 33 Drawing control unit 33a Drawing accuracy level information storage unit 33b Interruption position information storage unit 33c Retraction distance level information storage Section 34 Seismic intensity receiving section 35 Position shift amount detection section 36 Drift amount detection section A1 Main deflection area B Electron beam D1 Drawing direction D2 Reverse direction of drawing progress R1 Stripe area R1a Drawn area R1b Undrawn area R2 Sub area W Sample

Claims (2)

試料を支持するステージと、
前記ステージを平面方向に移動させるステージ移動部と、
前記ステージ上の試料に荷電粒子ビームを偏向照射して描画を行う描画部と、
緊急地震速報を受信する速報受信部と、
前記ステージ移動部により前記ステージを平面方向に移動させながら前記描画部により前記ステージ上の試料に荷電粒子ビームを偏向照射して描画を行う描画制御部であって、前記速報受信部により前記緊急地震速報が受信された場合、前記ステージ移動部による前記ステージの移動を停止し、停止した前記ステージ上の試料における前記荷電粒子ビームが偏向照射される偏向領域内の全描画を完了させる描画制御部と、を備え
前記描画制御部は、前記ステージ移動部による前記ステージの移動を停止した場合、前記描画を行う場合の前記ステージの移動方向と逆方向に前記ステージ移動部により前記ステージを退避させることを特徴とする荷電粒子ビーム描画装置。
A stage for supporting the sample;
A stage moving unit for moving the stage in a plane direction;
A drawing unit that performs drawing by deflecting a charged particle beam to the sample on the stage; and
A breaking news receiver for receiving earthquake early warnings;
A drawing control unit that performs drawing by deflecting and irradiating a sample on the stage with the drawing unit while moving the stage in a plane direction by the stage moving unit, and the emergency report receiving unit performs the emergency earthquake A drawing control unit for stopping the movement of the stage by the stage moving unit when a preliminary report is received, and completing the entire drawing in the deflection region where the charged particle beam is deflected and irradiated on the sample on the stopped stage; , equipped with a,
The drawing control unit, when stopping the movement of the stage by the stage moving portion, and wherein Rukoto by removing all the stage by the stage moving portion in a direction opposite to the movement direction of the stage for performing the drawing Charged particle beam writing device.
前記描画制御部は、前記ステージ移動部による前記ステージの退避距離を地震の震度に応じて変更することを特徴とする請求項1に記載の荷電粒子ビーム描画装置。 The charged particle beam drawing apparatus according to claim 1 , wherein the drawing control unit changes a retreat distance of the stage by the stage moving unit according to a seismic intensity of the earthquake.
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