JP5915610B2 - Resin composition - Google Patents

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Description

本発明は、樹脂組成物に関する。   The present invention relates to a resin composition.

多層プリント配線板の製造技術として、絶縁層と導体層を交互に積み重ねるビルドアップ方式による製造方法が知られている。ビルドアップ方式による製造方法において、一般に、絶縁層は樹脂組成物を熱硬化させて形成される。   As a manufacturing technique of a multilayer printed wiring board, a manufacturing method by a build-up method in which insulating layers and conductor layers are alternately stacked is known. In the manufacturing method by the build-up method, the insulating layer is generally formed by thermosetting a resin composition.

例えば、特許文献1には、エポキシ樹脂と、活性エステル化合物と、4−ジメチルアミノピリジンを含む硬化促進剤とを含有する樹脂組成物を熱硬化させて絶縁層を形成する技術が開示されている。特許文献2には、エポキシ樹脂と、活性エステル化合物とを含有する樹脂組成物を熱硬化させて絶縁層を形成する技術が開示されており、硬化促進剤として1−ベンジル−2−フェニルイミダゾールを含む樹脂組成物が具体的に開示されている(実施例)。   For example, Patent Document 1 discloses a technique for forming an insulating layer by thermally curing a resin composition containing an epoxy resin, an active ester compound, and a curing accelerator containing 4-dimethylaminopyridine. . Patent Document 2 discloses a technique for thermally curing a resin composition containing an epoxy resin and an active ester compound to form an insulating layer, and 1-benzyl-2-phenylimidazole is used as a curing accelerator. The resin composition containing is specifically disclosed (Example).

特開2011−178857号公報JP 2011-178857 A 国際公開第2013/027732号International Publication No. 2013/027732

多層プリント配線板の製造に際し、絶縁層を形成するための樹脂組成物は、熱硬化時に速やかに硬化することが望まれ、硬化促進剤が好適に使用される。しかしながら、硬化促進剤を含む従来の樹脂組成物に関しては、樹脂組成物の保管時に徐々に硬化が進み粘度が増す場合があり、多層プリント配線板を製造するにあたって所期の回路埋め込み性、部品埋め込み性等を達成し難い場合があることを本発明者らは見出した。   In the production of a multilayer printed wiring board, the resin composition for forming an insulating layer is desired to be quickly cured at the time of thermal curing, and a curing accelerator is preferably used. However, with regard to conventional resin compositions containing a curing accelerator, the curing may gradually progress and the viscosity may increase during storage of the resin composition. The present inventors have found that it may be difficult to achieve sex and the like.

本発明の課題は、保管時には硬化の進行が抑制され、熱硬化時には速やかに硬化して絶縁層をもたらすことのできる、硬化潜在性に優れる樹脂組成物を提供することにある。   An object of the present invention is to provide a resin composition having excellent curing potential, which can suppress the progress of curing during storage and can be quickly cured during thermal curing to provide an insulating layer.

本発明者らは、上記の課題につき鋭意検討した結果、特定の化合物を含む硬化促進剤を用いることにより上記課題を解決できることを見出し、本発明を完成するに至った。   As a result of intensive studies on the above problems, the present inventors have found that the above problems can be solved by using a curing accelerator containing a specific compound, and have completed the present invention.

すなわち、本発明は以下の内容を含む。
[1] (A)エポキシ樹脂、(B)活性エステル硬化剤、及び(C)硬化促進剤を含む樹脂組成物であって、
(C)成分が、4位に電子求引基を有するピリジン化合物及び1位に電子求引基を有するイミダゾール化合物からなる群から選択される1種以上を含む樹脂組成物。
[2] 電子求引基が、ハメットの置換基定数σ値が0より大きい基である[1]に記載の樹脂組成物。
[3] 4位に電子求引基を有するピリジン化合物が、4位にハロゲン原子、シアノ基、ニトロ基、置換基を有していてもよいフェニル基、カルボニル基、チオカルボニル基、スルホニル基、若しくはホスホリル基を有するピリジン化合物である[1]又は[2]に記載の樹脂組成物。
[4] 1位に電子求引基を有するイミダゾール化合物が、1位にシアノ基、置換基を有していてもよいフェニル基、置換基を有していてもよいビニル基、置換基を有していてもよいカルボキシメチレン基、置換基を有していてもよい炭素原子数2又は3のシアノアルキレン基、カルボニル基、若しくはスルホニル基を有するイミダゾール化合物である[1]〜[3]のいずれかに記載の樹脂組成物。
[5] 4位に電子求引基を有するピリジン化合物が、4位にシアノ基若しくはカルボニル基を有するピリジン化合物である[1]〜[4]のいずれかに記載の樹脂組成物。
[6] 1位に電子求引基を有するイミダゾール化合物が、1位に置換基を有していてもよいフェニル基、カルボニル基、若しくはスルホニル基を有するイミダゾール化合物である[1]〜[5]のいずれかに記載の樹脂組成物。
[7] (C)成分が、4−ベンゾイルピリジン、4−シアノピリジン、イソニコチン酸エチル、1,1’‐カルボニルジイミダゾール、1,1’−スルホニルジイミダゾール、1−(4−シアノフェニル)イミダゾール、及び1−(4−ニトロフェニル)−1H−イミダゾールからなる群から選択される1種以上を含む[1]〜[6]のいずれかに記載の樹脂組成物。
[8] (A)成分のエポキシ基の合計数と(B)成分の反応基の合計数との比が、1:0.2〜1:2である[1]〜[7]のいずれかに記載の樹脂組成物。
[9] さらに(D)無機充填材を含む[1]〜[8]のいずれかに記載の樹脂組成物。
[10] 樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、(D)成分の含有量が30〜90質量%である[9]に記載の樹脂組成物。
[11] 樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、(D)成分の含有量が50〜90質量%である[9]に記載の樹脂組成物。
[12] (D)成分の平均粒径が、0.01〜5μmである[9]〜[11]のいずれかに記載の樹脂組成物。
[13] (A)成分がビスフェノールA型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂、グリシジルエステル型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、及びジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂からなる群から選択される1種以上を含む[1]〜[12]のいずれかに記載の樹脂組成物。
[14] さらに(E)熱可塑性樹脂を含む[1]〜[13]のいずれかに記載の樹脂組成物。
[15] 多層プリント配線板の絶縁層用樹脂組成物である[1]〜[14]のいずれかに記載の樹脂組成物。
[16] 多層プリント配線板のビルドアップ絶縁層用樹脂組成物である[1]〜[15]のいずれかに記載の樹脂組成物。
[17] [1]〜[16]のいずれかに記載の樹脂組成物の層を含むシート状積層材料。
[18] [1]〜[16]のいずれかに記載の樹脂組成物を熱硬化して得られる硬化物。
[19] ガラス転移温度(Tg)が100〜250℃である[18]に記載の硬化物。
[20] 粗化処理後の硬化物表面にメッキにより導体層を形成したとき、該硬化物表面と該導体層とのピール強度が、0.25〜0.8kgf/cmである[18]又は[19]に記載の硬化物。
[21] [18]〜[20]のいずれかに記載の硬化物により形成された絶縁層を含む多層プリント配線板。
[22] [21]に記載の多層プリント配線板を含む半導体装置。
That is, the present invention includes the following contents.
[1] A resin composition comprising (A) an epoxy resin, (B) an active ester curing agent, and (C) a curing accelerator,
(C) The resin composition containing 1 or more types selected from the group which a component consists of a pyridine compound which has an electron withdrawing group in 4-position, and an imidazole compound which has an electron withdrawing group in 1-position.
[2] The resin composition according to [1], wherein the electron withdrawing group is a group having a Hammett's substituent constant σ m value larger than 0.
[3] A pyridine compound having an electron withdrawing group at the 4-position has a halogen atom, a cyano group, a nitro group, a phenyl group optionally having a substituent at the 4-position, a carbonyl group, a thiocarbonyl group, a sulfonyl group, Alternatively, the resin composition according to [1] or [2], which is a pyridine compound having a phosphoryl group.
[4] An imidazole compound having an electron withdrawing group at the 1-position has a cyano group, a phenyl group which may have a substituent, a vinyl group which may have a substituent, and a substituent at the 1-position. Any of [1] to [3] which is an imidazole compound having a carboxymethylene group which may be substituted, a cyanoalkylene group having 2 or 3 carbon atoms which may have a substituent, a carbonyl group or a sulfonyl group A resin composition according to claim 1.
[5] The resin composition according to any one of [1] to [4], wherein the pyridine compound having an electron withdrawing group at the 4-position is a pyridine compound having a cyano group or a carbonyl group at the 4-position.
[6] The imidazole compound having an electron withdrawing group at the 1-position is an imidazole compound having a phenyl group, a carbonyl group, or a sulfonyl group that may have a substituent at the 1-position [1] to [5]. The resin composition in any one of.
[7] Component (C) is 4-benzoylpyridine, 4-cyanopyridine, ethyl isonicotinate, 1,1′-carbonyldiimidazole, 1,1′-sulfonyldiimidazole, 1- (4-cyanophenyl) The resin composition according to any one of [1] to [6], comprising at least one selected from the group consisting of imidazole and 1- (4-nitrophenyl) -1H-imidazole.
[8] Any of [1] to [7], wherein the ratio of the total number of epoxy groups in component (A) to the total number of reactive groups in component (B) is 1: 0.2 to 1: 2. The resin composition described in 1.
[9] The resin composition according to any one of [1] to [8], further including (D) an inorganic filler.
[10] The resin composition according to [9], in which the content of the component (D) is 30 to 90% by mass when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass.
[11] The resin composition according to [9], wherein the content of the component (D) is 50 to 90% by mass when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass.
[12] The resin composition according to any one of [9] to [11], wherein the average particle diameter of the component (D) is 0.01 to 5 μm.
[13] The component (A) is selected from the group consisting of bisphenol A type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, naphthylene ether type epoxy resin, glycidyl ester type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, and dicyclopentadiene type epoxy resin. The resin composition in any one of [1]-[12] containing 1 or more types.
[14] The resin composition according to any one of [1] to [13], further comprising (E) a thermoplastic resin.
[15] The resin composition according to any one of [1] to [14], which is a resin composition for an insulating layer of a multilayer printed wiring board.
[16] The resin composition according to any one of [1] to [15], which is a resin composition for a buildup insulating layer of a multilayer printed wiring board.
[17] A sheet-shaped laminated material including a layer of the resin composition according to any one of [1] to [16].
[18] A cured product obtained by thermosetting the resin composition according to any one of [1] to [16].
[19] The cured product according to [18], which has a glass transition temperature (Tg) of 100 to 250 ° C.
[20] When the conductor layer is formed by plating on the surface of the cured product after the roughening treatment, the peel strength between the surface of the cured product and the conductor layer is 0.25 to 0.8 kgf / cm [18] or Hardened | cured material as described in [19].
[21] A multilayer printed wiring board including an insulating layer formed of the cured product according to any one of [18] to [20].
[22] A semiconductor device including the multilayer printed wiring board according to [21].

本発明によれば、保管時には硬化の進行が抑制され、熱硬化時には速やかに硬化して絶縁層をもたらすことのできる、硬化潜在性に優れる樹脂組成物を提供することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the progress of hardening can be suppressed at the time of storage, and it can provide the resin composition excellent in the cure latency which can harden | cure rapidly at the time of thermosetting, and can provide an insulating layer.

本発明の樹脂組成物を熱硬化して得られる硬化物は、高いガラス転移温度(Tg)と低い線熱膨張係数を示す。すなわち、本発明の樹脂組成物は、熱硬化時には優れた硬化特性をもたらすことができる。   A cured product obtained by thermosetting the resin composition of the present invention exhibits a high glass transition temperature (Tg) and a low linear thermal expansion coefficient. That is, the resin composition of the present invention can provide excellent curing characteristics during thermosetting.

<用語の説明>
本明細書において、「4位に電子求引基を有するピリジン化合物」という用語は、4位が電子求引基で置換されており、2位、3位、5位及び6位が未置換であるピリジンと、4位が電子求引基で置換されており、2位、3位、5位及び6位の1以上の位置が置換基で置換されているピリジンの双方を意味する。
<Explanation of terms>
In the present specification, the term “pyridine compound having an electron withdrawing group at the 4-position” is substituted at the 4-position with an electron-withdrawing group, and the 2-position, 3-position, 5-position and 6-position are unsubstituted. It means both a certain pyridine and a pyridine in which the 4-position is substituted with an electron-attracting group and one or more positions of the 2-position, 3-position, 5-position and 6-position are substituted with a substituent.

本明細書において、「1位に電子求引基を有するイミダゾール化合物」という用語は、1位が電子求引基で置換されており、2位、4位及び5位が未置換であるイミダゾールと、1位が電子求引基で置換されており、2位、4位及び5位の1以上の位置が置換基で置換されているイミダゾールの双方を意味する。   In the present specification, the term “imidazole compound having an electron withdrawing group at the 1-position” refers to an imidazole substituted at the 1-position with an electron-withdrawing group and unsubstituted at the 2-position, 4-position and 5-position. It means both imidazole substituted at the 1-position with an electron withdrawing group and at least one position at the 2-position, 4-position and 5-position with a substituent.

本明細書において、化合物又は基についていう「置換基を有していてもよい」という用語は、該化合物又は基の水素原子が置換基で置換されていない場合、及び、該化合物又は基の水素原子の一部又は全部が置換基で置換されている場合の双方を意味する。   In this specification, the term “optionally substituted” for a compound or group refers to the case where the hydrogen atom of the compound or group is not substituted with a substituent, and the hydrogen of the compound or group. It means both when a part or all of the atoms are substituted with a substituent.

本明細書において、「置換基」という用語は、特に説明のない限り、ハロゲン原子、アルキル基、シクロアルキル基、アルコキシ基、シクロアルキルオキシ基、アリール基、アリールオキシ基、アリールアルキル基、アリールアルコキシ基、1価の複素環基、アミノ基、シリル基、アシル基、アシルオキシ基、カルボキシ基、アルデヒド基、スルホ基、シアノ基、ニトロ基、ヒドロキシ基、メルカプト基及びオキソ基を意味する。   In this specification, the term “substituent” means a halogen atom, an alkyl group, a cycloalkyl group, an alkoxy group, a cycloalkyloxy group, an aryl group, an aryloxy group, an arylalkyl group, an arylalkoxy, unless otherwise specified. Group, monovalent heterocyclic group, amino group, silyl group, acyl group, acyloxy group, carboxy group, aldehyde group, sulfo group, cyano group, nitro group, hydroxy group, mercapto group and oxo group.

置換基として用いられるハロゲン原子としては、例えば、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、及びヨウ素原子が挙げられる。   As a halogen atom used as a substituent, a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom are mentioned, for example.

置換基として用いられるアルキル基は、直鎖状又は分岐状のいずれであってもよい。該アルキル基の炭素原子数は、好ましくは1〜20、より好ましくは1〜14、さらに好ましくは1〜12、さらにより好ましくは1〜6、特に好ましくは1〜3である。該アルキル基としては、例えば、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、ブチル基、sec−ブチル基、イソブチル基、tert−ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基、ヘプチル基、オクチル基、ノニル基、デシル、及びウンデシル基が挙げられる。後述するように、置換基として用いられるアルキル基は、さらに置換基(「二次置換基」)を有していてもよい。斯かる二次置換基を有するアルキル基としては、例えば、ハロゲン原子で置換されたアルキル基が挙げられ、具体的には、トリフルオロメチル基、トリクロロメチル基、テトラフルオロエチル基、テトラクロロエチル基等が挙げられる。   The alkyl group used as a substituent may be either linear or branched. The number of carbon atoms of the alkyl group is preferably 1-20, more preferably 1-14, still more preferably 1-12, even more preferably 1-6, and particularly preferably 1-3. Examples of the alkyl group include a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an isopropyl group, a butyl group, a sec-butyl group, an isobutyl group, a tert-butyl group, a pentyl group, a hexyl group, a heptyl group, an octyl group, and a nonyl group. , Decyl, and undecyl groups. As will be described later, the alkyl group used as a substituent may further have a substituent (“secondary substituent”). Examples of such an alkyl group having a secondary substituent include an alkyl group substituted with a halogen atom, specifically, a trifluoromethyl group, a trichloromethyl group, a tetrafluoroethyl group, a tetrachloroethyl group, and the like. Is mentioned.

置換基として用いられるシクロアルキル基の炭素原子数は、好ましくは3〜20、より好ましくは3〜12、さらに好ましくは3〜6である。該シクロアルキル基としては、例えば、シクロプロピル基、シクロブチル基、シクロペンチル基、及びシクロヘキシル基等が挙げられる。   The number of carbon atoms of the cycloalkyl group used as a substituent is preferably 3 to 20, more preferably 3 to 12, and still more preferably 3 to 6. Examples of the cycloalkyl group include a cyclopropyl group, a cyclobutyl group, a cyclopentyl group, and a cyclohexyl group.

置換基として用いられるアルコキシ基は、直鎖状又は分岐状のいずれであってもよい。該アルコキシ基の炭素原子数は、好ましくは1〜20、より好ましくは1〜12、さらに好ましくは1〜6である。該アルコキシ基としては、例えば、メトキシ基、エトキシ基、プロピルオキシ基、イソプロピルオキシ基、ブトキシ基、sec−ブトキシ基、イソブトキシ基、tert−ブトキシ基、ペンチルオキシ基、ヘキシルオキシ基、ヘプチルオキシ基、オクチルオキシ基、ノニルオキシ基、及びデシルオキシ基が挙げられる。   The alkoxy group used as a substituent may be either linear or branched. The number of carbon atoms of the alkoxy group is preferably 1-20, more preferably 1-12, still more preferably 1-6. Examples of the alkoxy group include methoxy group, ethoxy group, propyloxy group, isopropyloxy group, butoxy group, sec-butoxy group, isobutoxy group, tert-butoxy group, pentyloxy group, hexyloxy group, heptyloxy group, Examples include octyloxy group, nonyloxy group, and decyloxy group.

置換基として用いられるシクロアルキルオキシ基の炭素原子数は、好ましくは3〜20、より好ましくは3〜12、さらに好ましくは3〜6である。該シクロアルキルオキシ基としては、例えば、シクロプロピルオキシ基、シクロブチルオキシ基、シクロペンチルオキシ基、及びシクロヘキシルオキシ基が挙げられる。   The number of carbon atoms of the cycloalkyloxy group used as a substituent is preferably 3 to 20, more preferably 3 to 12, and still more preferably 3 to 6. Examples of the cycloalkyloxy group include a cyclopropyloxy group, a cyclobutyloxy group, a cyclopentyloxy group, and a cyclohexyloxy group.

置換基として用いられるアリール基は、芳香族炭化水素から芳香環上の水素原子を1個除いた基である。置換基として用いられるアリール基の炭素原子数は、好ましくは6〜24、より好ましくは6〜18、さらに好ましくは6〜14、さらにより好ましくは6〜10である。該アリール基としては、例えば、フェニル基、ナフチル基、及びアントラセニル基が挙げられる。   The aryl group used as a substituent is a group obtained by removing one hydrogen atom on an aromatic ring from an aromatic hydrocarbon. The number of carbon atoms of the aryl group used as a substituent is preferably 6 to 24, more preferably 6 to 18, still more preferably 6 to 14, and even more preferably 6 to 10. Examples of the aryl group include a phenyl group, a naphthyl group, and an anthracenyl group.

置換基として用いられるアリールオキシ基の炭素原子数は、好ましくは6〜24、より好ましくは6〜18、さらに好ましくは6〜14、さらにより好ましくは6〜10である。置換基として用いられるアリールオキシ基としては、例えば、フェノキシ基、1−ナフチルオキシ基、及び2−ナフチルオキシ基が挙げられる。   The number of carbon atoms of the aryloxy group used as a substituent is preferably 6 to 24, more preferably 6 to 18, still more preferably 6 to 14, and even more preferably 6 to 10. Examples of the aryloxy group used as a substituent include a phenoxy group, a 1-naphthyloxy group, and a 2-naphthyloxy group.

置換基として用いられるアリールアルキル基の炭素原子数は、好ましくは7〜25、より好ましくは7〜19、さらに好ましくは7〜15、さらにより好ましくは7〜11である。該アリールアルキル基としては、例えば、フェニル−C〜C12アルキル基、ナフチル−C〜C12アルキル基、及びアントラセニル−C〜C12アルキル基が挙げられる。 The number of carbon atoms of the arylalkyl group used as a substituent is preferably 7 to 25, more preferably 7 to 19, still more preferably 7 to 15, and even more preferably 7 to 11. Examples of the arylalkyl group include a phenyl-C 1 -C 12 alkyl group, a naphthyl-C 1 -C 12 alkyl group, and an anthracenyl-C 1 -C 12 alkyl group.

置換基として用いられるアリールアルコキシ基の炭素原子数は、好ましくは7〜25、より好ましくは7〜19、さらに好ましくは7〜15、さらにより好ましくは7〜11である。該アリールアルコキシ基としては、例えば、フェニル−C〜C12アルコキシ基、及びナフチル−C〜C12アルコキシ基が挙げられる。 The number of carbon atoms of the arylalkoxy group used as a substituent is preferably 7 to 25, more preferably 7 to 19, still more preferably 7 to 15, and even more preferably 7 to 11. Examples of the arylalkoxy group include a phenyl-C 1 -C 12 alkoxy group and a naphthyl-C 1 -C 12 alkoxy group.

置換基として用いられる1価の複素環基とは、複素環式化合物の複素環から水素原子1個を除いた基をいう。該1価の複素環基の炭素原子数は、好ましくは3〜21、より好ましくは3〜15、さらに好ましくは3〜9である。該1価の複素環基には、1価の芳香族複素環基(ヘテロアリール基)も含まれる。該1価の複素環としては、例えば、チエニル基、ピロリル基、フラニル基、フリル基、ピリジル基、ピリダジニル基、ピリミジル基、ピラジニル基、トリアジニル基、ピロリジル基、ピペリジル基、キノリル基、及びイソキノリル基が挙げられる。   The monovalent heterocyclic group used as a substituent refers to a group obtained by removing one hydrogen atom from a heterocyclic ring of a heterocyclic compound. The number of carbon atoms of the monovalent heterocyclic group is preferably 3-21, more preferably 3-15, and still more preferably 3-9. The monovalent heterocyclic group includes a monovalent aromatic heterocyclic group (heteroaryl group). Examples of the monovalent heterocyclic ring include thienyl group, pyrrolyl group, furanyl group, furyl group, pyridyl group, pyridazinyl group, pyrimidyl group, pyrazinyl group, triazinyl group, pyrrolidyl group, piperidyl group, quinolyl group, and isoquinolyl group. Is mentioned.

置換基として用いられるアシル基は、式:−C(=O)−Rで表される基(式中、Rはアルキル基又はアリール基)をいう。Rで表されるアルキル基は直鎖状又は分岐状のいずれであってもよい。Rで表されるアリール基としては、例えば、フェニル基、ナフチル基、及びアントラセニル基が挙げられる。該アシル基の炭素原子数は、好ましくは2〜20、より好ましくは2〜13、さらに好ましくは2〜7である。該アシル基としては、例えば、アセチル基、プロピオニル基、ブチリル基、イソブチリル基、ピバロイル基、及びベンゾイル基が挙げられる。   The acyl group used as a substituent refers to a group represented by the formula: —C (═O) —R (wherein R is an alkyl group or an aryl group). The alkyl group represented by R may be linear or branched. Examples of the aryl group represented by R include a phenyl group, a naphthyl group, and an anthracenyl group. The number of carbon atoms of the acyl group is preferably 2 to 20, more preferably 2 to 13, and further preferably 2 to 7. Examples of the acyl group include an acetyl group, a propionyl group, a butyryl group, an isobutyryl group, a pivaloyl group, and a benzoyl group.

置換基として用いられるアシルオキシ基は、式:−O−C(=O)−Rで表される基(式中、Rはアルキル基又はアリール基)をいう。Rで表されるアルキル基は直鎖状又は分岐状のいずれであってもよい。Rで表されるアリール基としては、例えば、フェニル基、ナフチル基、及びアントラセニル基が挙げられる。該アシルオキシ基の炭素原子数は、好ましくは2〜20、より好ましくは2〜13、さらに好ましくは2〜7である。該アシルオキシ基としては、例えば、アセトキシ基、プロピオニルオキシ基、ブチリルオキシ基、イソブチリルオキシ基、ピバロイルオキシ基、及びベンゾイルオキシ基が挙げられる。   The acyloxy group used as a substituent refers to a group represented by the formula: —O—C (═O) —R (wherein R is an alkyl group or an aryl group). The alkyl group represented by R may be linear or branched. Examples of the aryl group represented by R include a phenyl group, a naphthyl group, and an anthracenyl group. The number of carbon atoms of the acyloxy group is preferably 2 to 20, more preferably 2 to 13, and further preferably 2 to 7. Examples of the acyloxy group include an acetoxy group, a propionyloxy group, a butyryloxy group, an isobutyryloxy group, a pivaloyloxy group, and a benzoyloxy group.

上述の置換基は、さらに置換基(以下、「二次置換基」という場合がある。)を有していてもよい。二次置換基としては、特に記載のない限り、上述の置換基と同じものを用いてよい。   The above-described substituent may further have a substituent (hereinafter sometimes referred to as “secondary substituent”). As the secondary substituent, the same substituents as described above may be used unless otherwise specified.

以下、本発明をその好適な実施形態に即して詳細に説明する。   Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to preferred embodiments thereof.

[樹脂組成物]
本発明の樹脂組成物は、(A)エポキシ樹脂、(B)活性エステル硬化剤、及び(C)硬化促進剤を含み、(C)成分が、4位に電子求引基を有するピリジン化合物及び1位に電子求引基を有するイミダゾール化合物からなる群から選択される1種以上を含むことを特徴とする。
[Resin composition]
The resin composition of the present invention comprises (A) an epoxy resin, (B) an active ester curing agent, and (C) a curing accelerator, and (C) a pyridine compound having an electron withdrawing group at the 4-position; It includes one or more selected from the group consisting of imidazole compounds having an electron withdrawing group at the 1-position.

先述のとおり、硬化促進剤を含有する従来の樹脂組成物においては、保管時に徐々に硬化が進み粘度が増す場合があった。保管時であっても硬化が進むほどに極めて反応し易い部分と、熱硬化処理に伴う加熱によってはじめて硬化が進むような適度な反応性を呈する部分とが混在する従来の樹脂組成物の系においては、硬化潜在性が不良であることに加えて、熱硬化により得られる硬化物の特性にも改善の余地があった。すなわち、このような反応性の大きく異なる部分が混在する樹脂組成物においては、相分離が生じ易く相分離構造が粗大化し易い傾向にあり、例えば、高いガラス転移温度(Tg)等の所期の物性を得るには不利な場合があった。これに対し、本発明の樹脂組成物は、上記特定の(A)乃至(C)成分を組み合わせて使用することにより、保管時には硬化の進行が抑制され、熱硬化時には速やかに硬化して硬化物をもたらすことができる。このように、反応性にムラのない本発明の樹脂組成物においては、樹脂組成物全体をほぼ同時に硬化させることができ、相分離が起こった場合であっても相分離構造が粗大化する前に硬化反応を終了し得る。詳しくは後述することとするが、本発明の樹脂組成物は、ガラス転移温度(Tg)や線熱膨張係数等の特性において一層優れる硬化物をもたらす。斯かる効果は、硬化剤として活性エステル硬化剤を使用した場合にとりわけ顕著に奏されることを確認しており、活性エステル硬化剤と上記特定の硬化促進剤との組み合わせにより相乗的に発現するものである。   As described above, in a conventional resin composition containing a curing accelerator, curing may gradually progress during storage and the viscosity may increase. In a conventional resin composition system in which a part that is extremely reactive as curing progresses even at the time of storage and a part that exhibits appropriate reactivity such that curing proceeds only by heating associated with the thermosetting process are mixed. In addition to the poor curing potential, there was room for improvement in the properties of the cured product obtained by thermal curing. That is, in a resin composition in which such highly different portions are mixed, phase separation tends to occur and the phase separation structure tends to be coarsened. For example, the desired glass transition temperature (Tg) and the like can be obtained. There were cases where it was disadvantageous to obtain physical properties. On the other hand, the resin composition of the present invention is used by combining the specific components (A) to (C) described above, so that the progress of curing is suppressed during storage, and the cured product is rapidly cured during thermal curing. Can bring. Thus, in the resin composition of the present invention having no unevenness in reactivity, the entire resin composition can be cured almost simultaneously, and even when phase separation occurs, before the phase separation structure becomes coarse The curing reaction can be completed. Although mentioned later in detail, the resin composition of this invention brings about the hardened | cured material which is further excellent in characteristics, such as a glass transition temperature (Tg) and a linear thermal expansion coefficient. It has been confirmed that such an effect is particularly prominent when an active ester curing agent is used as a curing agent, and is synergistically expressed by a combination of the active ester curing agent and the specific curing accelerator. Is.

以下、(A)乃至(C)成分について説明する。   Hereinafter, the components (A) to (C) will be described.

<(A)成分>
本発明の樹脂組成物に含まれる(A)成分は、エポキシ樹脂である。
<(A) component>
The component (A) contained in the resin composition of the present invention is an epoxy resin.

エポキシ樹脂としては、特に制限はないが、例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、アントラセン型エポキシ樹脂、フルオレン型エポキシ樹脂、グリシジルアミン型エポキシ樹脂、グリシジルエステル型エポキシ樹脂、トリスフェノールエポキシ樹脂、リン含有エポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂、線状脂肪族エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、ビスフェノールAノボラック型エポキシ樹脂、ブタジエン構造を有するエポキシ樹脂、複素環式エポキシ樹脂、スピロ環含有エポキシ樹脂、シクロヘキサンジメタノール型エポキシ樹脂、トリメチロール型エポキシ樹脂、ビスフェノール類のジグリシジルエーテル化物、ナフタレンジオールのジグリシジルエーテル化物、フェノール類のグリシジルエーテル化物、及びアルコール類のジグリシジルエーテル化物、並びにこれらのエポキシ樹脂のアルキル置換体、ハロゲン化物及び水素添加物等が挙げられる。中でも、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂、グリシジルエステル型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、及びジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂からなる群から選択されるエポキシ樹脂が好ましい。これらのエポキシ樹脂は、1種単独で使用してもよく、2種以上を組み合わせて使用してもよい。   The epoxy resin is not particularly limited. For example, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, naphthylene ether type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, dicyclo Pentadiene type epoxy resin, anthracene type epoxy resin, fluorene type epoxy resin, glycidylamine type epoxy resin, glycidyl ester type epoxy resin, trisphenol epoxy resin, phosphorus-containing epoxy resin, alicyclic epoxy resin, linear aliphatic epoxy resin, Phenol novolac type epoxy resin, cresol novolac type epoxy resin, bisphenol A novolac type epoxy resin, epoxy resin having butadiene structure, heterocyclic epoxy resin, containing spiro ring Poxy resin, cyclohexanedimethanol type epoxy resin, trimethylol type epoxy resin, diglycidyl etherified product of bisphenols, diglycidyl etherified product of naphthalenediol, glycidyl etherified product of phenols, and diglycidyl etherified product of alcohols, and these And alkyl-substituted products, halides, and hydrogenated products of epoxy resins. Among these, an epoxy resin selected from the group consisting of bisphenol A type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, naphthylene ether type epoxy resin, glycidyl ester type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, and dicyclopentadiene type epoxy resin is preferable. These epoxy resins may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

エポキシ樹脂は、1分子中に2個以上のエポキシ基を有するエポキシ樹脂を含むことが好ましい。エポキシ樹脂の不揮発成分を100質量%とした場合に、少なくとも50質量%以上は1分子中に2個以上のエポキシ基を有するエポキシ樹脂であるのが好ましい。中でも、1分子中に2個以上のエポキシ基を有し、温度20℃で液状のエポキシ樹脂(以下、「液状エポキシ樹脂」という。)と、1分子中に2個以上(好ましくは3個以上)のエポキシ基を有し、温度20℃で固体状のエポキシ樹脂(以下、「固体状エポキシ樹脂」という。)とを含むことが好ましい。エポキシ樹脂として、液状エポキシ樹脂と固体状エポキシ樹脂とを併用することで、優れた可撓性を有する樹脂組成物が得られる。また、樹脂組成物を硬化して形成される絶縁層の破断強度も向上する。   The epoxy resin preferably contains an epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule. When the nonvolatile component of the epoxy resin is 100% by mass, at least 50% by mass or more is preferably an epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule. Among them, two or more epoxy groups in one molecule and a liquid epoxy resin (hereinafter referred to as “liquid epoxy resin”) at a temperature of 20 ° C. and two or more (preferably three or more) per molecule. And an epoxy group which is solid at a temperature of 20 ° C. (hereinafter referred to as “solid epoxy resin”). By using a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin in combination as an epoxy resin, a resin composition having excellent flexibility can be obtained. Moreover, the breaking strength of the insulating layer formed by curing the resin composition is also improved.

液状エポキシ樹脂としては、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、又はグリシジルエステル型エポキシ樹脂が好ましく、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、又はグリシジルエステル型エポキシ樹脂がより好ましい。液状エポキシ樹脂の具体例としては、DIC(株)製の「HP4032」、「HP4032D」、、「HP4032SS」(ナフタレン型エポキシ樹脂)、三菱化学(株)製の「828US」(ビスフェノールA型エポキシ樹脂)、「jER828EL」(ビスフェノールA型エポキシ樹脂)、「jER807」(ビスフェノールF型エポキシ樹脂)、「jER152」(フェノールノボラック型エポキシ樹脂)、新日鉄住金化学(株)製の「ZX1059」(ビスフェノールA型エポキシ樹脂とビスフェノールF型エポキシ樹脂の混合品)、ナガセケムテックス(株)製の「EX−721」(グリシジルエステル型エポキシ樹脂)等が挙げられる。これらは1種単独で用いてもよく、又は2種以上を併用してもよい。   As the liquid epoxy resin, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, phenol novolac type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, or glycidyl ester type epoxy resin are preferable, bisphenol A type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, or A glycidyl ester type epoxy resin is more preferable. Specific examples of the liquid epoxy resin include “HP4032”, “HP4032D”, “HP4032SS” (naphthalene type epoxy resin) manufactured by DIC Corporation, and “828US” (bisphenol A type epoxy resin manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation). ), “JER828EL” (bisphenol A type epoxy resin), “jER807” (bisphenol F type epoxy resin), “jER152” (phenol novolac type epoxy resin), “ZX1059” (bisphenol A type) manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd. Epoxy resin and bisphenol F type epoxy resin), “EX-721” (glycidyl ester type epoxy resin) manufactured by Nagase ChemteX Corporation, and the like. These may be used individually by 1 type, or may use 2 or more types together.

固体状エポキシ樹脂としては、4官能ナフタレン型エポキシ樹脂、ナフトールノボラックエポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、トリスフェノールエポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂又はジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂が好ましく、4官能ナフタレン型エポキシ樹脂、ナフトールノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂又はジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂がより好ましく、ナフトールノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂又はジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂がさらに好ましい。固体状エポキシ樹脂の具体例としては、DIC(株)製の「HP−4700」、「HP−4710」(4官能ナフタレン型エポキシ樹脂)、「N−690」(クレゾールノボラック型エポキシ樹脂)、「N−695」(クレゾールノボラック型エポキシ樹脂)、「HP−7200」(ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂)、「EXA7311」、「EXA7311−G3」、「HP6000」、「EXA7311−G4」、「EXA7311−G4S」(ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂)、日本化薬(株)製の「EPPN−502H」(トリスフェノールエポキシ樹脂)、「NC7000L」(ナフトールノボラックエポキシ樹脂)、「NC3000H」、「NC3000」、「NC3000L」、「NC3100」(ビフェニル型エポキシ樹脂)、新日鉄住金化学(株)製の「ESN475V」(ナフトールノボラック型エポキシ樹脂)、「ESN485」(ナフトールノボラック型エポキシ樹脂)、三菱化学(株)製の「YL6121」(ビフェニル型エポキシ樹脂)、「YX4000H」、「YX4000HK」(ビキシレノール型エポキシ樹脂)、大阪ガスケミカル(株)製の「PG−100」、「CG−500」、三菱化学(株)製の「YL7800」(フルオレン型エポキシ樹脂)等が挙げられる。   Examples of solid epoxy resins include tetrafunctional naphthalene type epoxy resins, naphthol novolak epoxy resins, cresol novolac type epoxy resins, dicyclopentadiene type epoxy resins, trisphenol epoxy resins, biphenyl type epoxy resins, naphthylene ether type epoxy resins, A cyclopentadiene type epoxy resin is preferable, a tetrafunctional naphthalene type epoxy resin, a naphthol novolak type epoxy resin, a biphenyl type epoxy resin, a naphthylene ether type epoxy resin or a dicyclopentadiene type epoxy resin is more preferable, and a naphthol novolak type epoxy resin, biphenyl. Type epoxy resin, naphthylene ether type epoxy resin or dicyclopentadiene type epoxy resin is more preferable. Specific examples of the solid epoxy resin include “HP-4700”, “HP-4710” (tetrafunctional naphthalene type epoxy resin), “N-690” (cresol novolac type epoxy resin) manufactured by DIC Corporation, “ N-695 "(cresol novolac type epoxy resin)," HP-7200 "(dicyclopentadiene type epoxy resin)," EXA7311 "," EXA7311-G3 "," HP6000 "," EXA7311-G4 "," EXA7311-G4S " ”(Naphthylene ether type epoxy resin),“ EPPN-502H ”(trisphenol epoxy resin) manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.,“ NC7000L ”(naphthol novolac epoxy resin),“ NC3000H ”,“ NC3000 ”,“ NC3000L ” ”,“ NC3100 ”(biphenyl type XES resin), "ESN475V" (naphthol novolak type epoxy resin) manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd., "ESN485" (naphthol novolak type epoxy resin), "YL6121" (biphenyl type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation , “YX4000H”, “YX4000HK” (bixylenol type epoxy resin), “PG-100”, “CG-500” manufactured by Osaka Gas Chemical Co., Ltd., “YL7800” (fluorene type epoxy manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation) Resin) and the like.

エポキシ樹脂として、液状エポキシ樹脂と固体状エポキシ樹脂とを併用する場合、それらの量比(液状エポキシ樹脂:固体状エポキシ樹脂)は、質量比で、1:0.1〜1:6の範囲が好ましい。液状エポキシ樹脂と固体状エポキシ樹脂との量比を斯かる範囲とすることにより、i)接着フィルムの形態で使用する場合に適度な粘着性がもたらされる、ii)接着フィルムの形態で使用する場合に十分な可撓性が得られ、取り扱い性が向上する、並びにiii)十分な破断強度を有する絶縁層を得ることができるなどの効果が得られる。上記i)〜iii)の効果の観点から、液状エポキシ樹脂と固体状エポキシ樹脂の量比(液状エポキシ樹脂:固体状エポキシ樹脂)は、質量比で、1:0.3〜1:5の範囲がより好ましく、1:0.6〜1:4.5の範囲がさらに好ましく、1:0.8〜1:4の範囲が特に好ましい。   When the liquid epoxy resin and the solid epoxy resin are used in combination as the epoxy resin, the quantitative ratio thereof (liquid epoxy resin: solid epoxy resin) is in the range of 1: 0.1 to 1: 6 by mass ratio. preferable. By making the quantitative ratio of the liquid epoxy resin and the solid epoxy resin within such a range, i) suitable adhesiveness is obtained when used in the form of an adhesive film, ii) when used in the form of an adhesive film Sufficient flexibility and handleability are improved, and iii) an insulating layer having sufficient breaking strength can be obtained. From the viewpoint of the effects i) to iii) above, the quantitative ratio of liquid epoxy resin to solid epoxy resin (liquid epoxy resin: solid epoxy resin) is in the range of 1: 0.3 to 1: 5 by mass ratio. Is more preferable, the range of 1: 0.6 to 1: 4.5 is more preferable, and the range of 1: 0.8 to 1: 4 is particularly preferable.

樹脂組成物中の(A)成分の含有量は、3〜50質量%が好ましく、5〜45質量%がより好ましく、5〜40質量%が更に好ましく、7〜35質量%が特に好ましい。
なお、本発明において、樹脂組成物中の各成分の含有量は、別途明示のない限り、樹脂組成物中の不揮発成分の合計を100質量%としたときの値である。
3-50 mass% is preferable, as for content of (A) component in a resin composition, 5-45 mass% is more preferable, 5-40 mass% is still more preferable, and 7-35 mass% is especially preferable.
In addition, in this invention, content of each component in a resin composition is a value when the sum total of the non-volatile component in a resin composition shall be 100 mass% unless there is separate description.

エポキシ樹脂のエポキシ当量は、好ましくは50〜3000、より好ましくは80〜2000、さらに好ましくは110〜1000である。この範囲となることで、硬化物の架橋密度が十分となり表面粗度の低い絶縁層をもたらす。なお、エポキシ当量は、JIS K7236に従って測定することができ、1当量のエポキシ基を含む樹脂の質量である。   The epoxy equivalent of the epoxy resin is preferably 50 to 3000, more preferably 80 to 2000, and still more preferably 110 to 1000. By being in this range, the crosslink density of the cured product is sufficient and an insulating layer having a low surface roughness is obtained. The epoxy equivalent can be measured according to JIS K7236, and is the mass of a resin containing 1 equivalent of an epoxy group.

<(B)成分>
本発明の樹脂組成物に含まれる(B)成分は、活性エステル硬化剤である。
<(B) component>
The component (B) contained in the resin composition of the present invention is an active ester curing agent.

活性エステル硬化剤としては、特に制限はないが、一般にフェノールエステル類、チオフェノールエステル類、N−ヒドロキシアミンエステル類、複素環ヒドロキシ化合物のエステル類等の反応活性の高いエステル基を1分子中に2個以上有する化合物が好ましく用いられる。活性エステル硬化剤は、カルボン酸化合物及び/又はチオカルボン酸化合物とヒドロキシ化合物及び/又はチオール化合物との縮合反応によって得られるものが好ましい。中でも、カルボン酸化合物とヒドロキシ化合物とから得られる活性エステル硬化剤が好ましく、カルボン酸化合物とフェノール化合物及び/又はナフトール化合物とから得られる活性エステル硬化剤がより好ましい。   Although there is no restriction | limiting in particular as an active ester hardening | curing agent, Generally ester groups with high reaction activity, such as phenol ester, thiophenol ester, N-hydroxyamine ester, ester of heterocyclic hydroxy compound, are contained in 1 molecule. A compound having two or more is preferably used. The active ester curing agent is preferably obtained by a condensation reaction between a carboxylic acid compound and / or a thiocarboxylic acid compound and a hydroxy compound and / or a thiol compound. Among these, an active ester curing agent obtained from a carboxylic acid compound and a hydroxy compound is preferable, and an active ester curing agent obtained from a carboxylic acid compound and a phenol compound and / or a naphthol compound is more preferable.

カルボン酸化合物としては、例えば、炭素原子数1〜20(好ましくは2〜10、より好ましくは2〜8)の脂肪族カルボン酸、炭素原子数7〜20(好ましくは7〜10)の芳香族カルボン酸が挙げられる。好適な脂肪族カルボン酸としては、例えば、酢酸、マロン酸、コハク酸、マレイン酸、イタコン酸等が挙げられる。好適な芳香族カルボン酸としては、例えば、安息香酸、フタル酸、イソフタル酸、テレフタル酸、ピロメリット酸等が挙げられる。   Examples of the carboxylic acid compound include an aliphatic carboxylic acid having 1 to 20 carbon atoms (preferably 2 to 10 and more preferably 2 to 8) and an aromatic having 7 to 20 carbon atoms (preferably 7 to 10). Carboxylic acid is mentioned. Suitable aliphatic carboxylic acids include, for example, acetic acid, malonic acid, succinic acid, maleic acid, itaconic acid and the like. Suitable examples of the aromatic carboxylic acid include benzoic acid, phthalic acid, isophthalic acid, terephthalic acid, pyromellitic acid and the like.

フェノール化合物としては、例えば、炭素原子数6〜40(好ましくは6〜30、より好ましくは6〜23、さらに好ましくは6〜22)のフェノール化合物が挙げられ、好適な具体例としては、ハイドロキノン、レゾルシン、ビスフェノールA、ビスフェノールF、ビスフェノールS、フェノールフタリン、メチル化ビスフェノールA、メチル化ビスフェノールF、メチル化ビスフェノールS、フェノール、o−クレゾール、m−クレゾール、p−クレゾール、カテコール、ジヒドロキシベンゾフェノン、トリヒドロキシベンゾフェノン、テトラヒドロキシベンゾフェノン、フロログルシン、ベンゼントリオール、ジシクロペンタジエン型ジフェノール等が挙げられる。フェノール化合物としてはまた、フェノールノボラックを使用してもよい。   Examples of the phenol compound include phenol compounds having 6 to 40 carbon atoms (preferably 6 to 30, more preferably 6 to 23, and further preferably 6 to 22). Specific examples include hydroquinone, Resorcin, bisphenol A, bisphenol F, bisphenol S, phenol phthalin, methylated bisphenol A, methylated bisphenol F, methylated bisphenol S, phenol, o-cresol, m-cresol, p-cresol, catechol, dihydroxybenzophenone, tri Examples thereof include hydroxybenzophenone, tetrahydroxybenzophenone, phloroglucin, benzenetriol, dicyclopentadiene type diphenol and the like. A phenol novolac may also be used as the phenol compound.

ナフトール化合物としては、例えば、炭素原子数10〜40(好ましくは10〜30、より好ましくは10〜20)のナフトール化合物が挙げられ、好適な具体例としては、α−ナフトール、β−ナフトール、1,5−ジヒドロキシナフタレン、1,6−ジヒドロキシナフタレン、2,6−ジヒドロキシナフタレン等が挙げられる。ナフトール化合物としてはまた、ナフトールノボラックを使用してもよい。   Examples of the naphthol compound include naphthol compounds having 10 to 40 carbon atoms (preferably 10 to 30, more preferably 10 to 20), and specific examples include α-naphthol, β-naphthol, , 5-dihydroxynaphthalene, 1,6-dihydroxynaphthalene, 2,6-dihydroxynaphthalene and the like. A naphthol novolak may also be used as the naphthol compound.

活性エステル硬化剤の好適な具体例としては、ジシクロペンタジエン型ジフェノール構造を含む活性エステル化合物、ナフタレン構造を含む活性エステル化合物、フェノールノボラックのアセチル化物を含む活性エステル化合物、フェノールノボラックのベンゾイル化物を含む活性エステル化合物が挙げられ、中でもナフタレン構造を含む活性エステル化合物、ジシクロペンタジエン型ジフェノール構造を含む活性エステル化合物がより好ましい。なお本発明において、「ジシクロペンタジエン型ジフェノール構造」とは、フェニレン−ジシクロペンタレン−フェニレンからなる2価の構造単位を表す。   Preferable specific examples of the active ester curing agent include an active ester compound containing a dicyclopentadiene type diphenol structure, an active ester compound containing a naphthalene structure, an active ester compound containing an acetylated product of phenol novolac, and a benzoylated product of phenol novolac. The active ester compound containing is mentioned, Among these, the active ester compound containing a naphthalene structure and the active ester compound containing a dicyclopentadiene type diphenol structure are more preferable. In the present invention, the “dicyclopentadiene type diphenol structure” represents a divalent structural unit composed of phenylene-dicyclopentalene-phenylene.

活性エステル硬化剤の市販品としては、ジシクロペンタジエン型ジフェノール構造を含む活性エステル化合物として、「EXB9451」、「EXB9460」、「EXB9460S」、「HPC−8000−65T」(DIC(株)製)、ナフタレン構造を含む活性エステル化合物として「EXB9416−70BK」(DIC(株)製)、フェノールノボラックのアセチル化物を含む活性エステル化合物として「DC808」(三菱化学(株)製)、フェノールノボラックのベンゾイル化物を含む活性エステル化合物として「YLH1026」(三菱化学(株)製)などが挙げられる。   Commercially available active ester curing agents include "EXB9451", "EXB9460", "EXB9460S", "HPC-8000-65T" (manufactured by DIC Corporation) as active ester compounds containing a dicyclopentadiene type diphenol structure. "EXB9416-70BK" (manufactured by DIC Corporation) as an active ester compound containing a naphthalene structure, "DC808" (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation) as an active ester compound containing an acetylated product of phenol novolac, and a benzoylated product of phenol novolac Examples of the active ester compound containing YLH1026 (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation).

活性エステル硬化剤は、1種単独で使用してもよく、2種以上を組み合わせて使用してもよい。   An active ester hardening | curing agent may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

樹脂組成物中における(A)成分と(B)成分との量比は、(A)成分のエポキシ基の合計数と(B)成分の反応基の合計数との比([(A)成分のエポキシ基の合計数]:[(B)成分の反応基の合計数])で、1:0.2〜1:2の範囲が好ましく、1:0.3〜1:1.5がより好ましく、1:0.4〜1:1がさらに好ましい。ここで、(A)成分のエポキシ基の合計数とは、各エポキシ樹脂の固形分質量をエポキシ当量で除した値をすべてのエポキシ樹脂について合計した値であり、(B)成分の反応基の合計数とは、各活性エステル硬化剤の固形分質量を反応基当量で除した値をすべての活性エステル硬化剤について合計した値である。   The quantity ratio of the component (A) and the component (B) in the resin composition is the ratio of the total number of epoxy groups in the component (A) and the total number of reactive groups in the component (B) ([(A) component The total number of epoxy groups]: [total number of reactive groups in component (B)]) is preferably in the range of 1: 0.2 to 1: 2, more preferably 1: 0.3 to 1: 1.5. Preferably, 1: 0.4 to 1: 1 is more preferable. Here, the total number of epoxy groups in the component (A) is a value obtained by totaling the values obtained by dividing the solid mass of each epoxy resin by the epoxy equivalent for all epoxy resins, and the reactive groups in the component (B). A total number is the value which totaled the value which remove | divided the solid content mass of each active ester hardening | curing agent by the reactive group equivalent about all the active ester hardening | curing agents.

<(C)成分>
本発明の樹脂組成物に含まれる(C)成分は、4位に電子求引基を有するピリジン化合物及び1位に電子求引基を有するイミダゾール化合物からなる群から選択される1種以上を含む硬化促進剤である。
<(C) component>
Component (C) contained in the resin composition of the present invention contains one or more selected from the group consisting of a pyridine compound having an electron withdrawing group at the 4-position and an imidazole compound having an electron-withdrawing group at the 1-position. It is a curing accelerator.

本発明においては、斯かる特定の硬化促進剤を(A)成分及び(B)成分と組み合わせて用いることによって、硬化潜在性に優れる樹脂組成物を実現したものである。   In this invention, the resin composition which is excellent in hardening latency is implement | achieved by using such a specific hardening accelerator in combination with (A) component and (B) component.

4位に電子求引基を有するピリジン化合物及び1位に電子求引基を有するイミダゾール化合物において、電子求引基としては、ピリジン環及びイミダゾール環に対して電子求引性を示す限り特に制限はないが、ハメットの置換基定数σ値が0より大きい基が好ましい。 In the pyridine compound having an electron withdrawing group at the 4-position and the imidazole compound having an electron withdrawing group at the 1-position, the electron-withdrawing group is not particularly limited as long as it exhibits an electron-withdrawing property with respect to the pyridine ring and the imidazole ring. A group having a Hammett's substituent constant σ m value of greater than 0 is preferred.

ここで、ハメットの置換基定数について説明する。ハメット則は、ベンゼン誘導体の反応又は平衡に及ぼす置換基の影響を定量的に論ずるために、ハメットが提唱した経験則である(1935年)。ハメット則において求められた置換基定数にはσ値とσ値があり、これらの値は種々の基について明らかにされている。例えば、岩波理化学辞典第5版(1999年)、Chem.Rev.,vol.91,pp.165−195(1991)等の文献において、各基のσ値とσ値を確認することができる。σ値及びσ値ともに、その値が大きいほど強い電子求引性を示す傾向にある。本発明においては、σ値に着目したものであり、(A)成分及び(B)成分との組み合わせにおいて硬化潜在性に優れる樹脂組成物を得る観点から、電子求引基は、ハメットの置換基定数σ値が、より好ましくは0.05以上、さらに好ましくは0.1以上、さらにより好ましくは0.15以上、特に好ましくは0.2以上、0.25以上、0.3以上、又は0.35以上である。該σ値の上限は特に制限はないが、通常、2以下、好ましくは1.8以下、より好ましくは1.6以下、さらに好ましくは1.4以下、さらにより好ましくは1.2以下、特に好ましくは1.1以下又は1.0以下である。 Here, Hammett's substituent constant will be described. Hammett's rule is an empirical rule proposed by Hammett (1935) to quantitatively discuss the influence of substituents on the reaction or equilibrium of benzene derivatives. Substituent constants determined by Hammett's rule include σ p values and σ m values, and these values have been clarified for various groups. For example, Iwanami Rikagaku Dictionary 5th edition (1999), Chem. Rev. , Vol. 91, pp. In documents such as 165-195 (1991), the σ p value and σ m value of each group can be confirmed. a sigma p value and sigma m value both tend to exhibit strong electron-withdrawing greater the value. In the present invention, the σ m value is focused. From the viewpoint of obtaining a resin composition having excellent curing latency in combination with the component (A) and the component (B), the electron withdrawing group is a Hammett substitution. The group constant σ m value is more preferably 0.05 or more, still more preferably 0.1 or more, still more preferably 0.15 or more, particularly preferably 0.2 or more, 0.25 or more, 0.3 or more, Or it is 0.35 or more. The upper limit of the σ m value is not particularly limited, but is usually 2 or less, preferably 1.8 or less, more preferably 1.6 or less, still more preferably 1.4 or less, even more preferably 1.2 or less, Particularly preferably, it is 1.1 or less or 1.0 or less.

なお、従来技術において硬化促進剤として用いられる4−ジメチルアミノピリジンに関しては、4位にジメチルアミノ基を有するピリジン化合物である。ジメチルアミノ基は電子供与基であり、そのσ値は−0.16である。同様に従来技術において硬化促進剤として用いられる1−ベンジル−2−フェニルイミダゾールに関しては、1位にベンジル基を有するイミダゾール化合物である。ベンジル基は電子供与基であり、そのσ値は−0.08である。 Note that 4-dimethylaminopyridine used as a curing accelerator in the prior art is a pyridine compound having a dimethylamino group at the 4-position. The dimethylamino group is an electron donating group, and its σ m value is −0.16. Similarly, 1-benzyl-2-phenylimidazole used as a curing accelerator in the prior art is an imidazole compound having a benzyl group at the 1-position. The benzyl group is an electron donating group, and the σ m value is −0.08.

ハメットの置換基定数σ値が0より大きい基としては、例えば、ハロゲン原子(種類に応じておよそ0.34〜0.39の範囲)、シアノ基(0.56)、ニトロ基(0.71)、置換基を有していてもよいフェニル基(種類に応じておよそ0.06〜0.30の範囲)、置換基を有していてもよいビニル基(種類に応じておよそ0.02〜0.77の範囲)、置換基を有していてもよいカルボキシメチレン基(種類に応じて0.07以上)、置換基を有していてもよい炭素原子数2又は3のシアノアルキレン基(種類に応じておよそ0.05〜0.97の範囲)、カルボニル基(他方の結合手に結合する基の種類に応じておよそ0.23〜0.63の範囲)、チオカルボニル基(他方の結合手に結合する基の種類に応じておよそ0.25〜0.30の範囲)、スルホニル基(他方の結合手に結合する基の種類に応じておよそ0.51〜1.10の範囲)、及びホスホリル基(他方の結合手に結合する基の種類に応じておよそ0.13〜0.81)が挙げられる。括弧内の値は、ハメットの置換基定数σ値を示す。 Examples of the group having Hammett's substituent constant σ m value larger than 0 include, for example, a halogen atom (in the range of about 0.34 to 0.39 depending on the type), a cyano group (0.56), a nitro group (0. 71), an optionally substituted phenyl group (in the range of approximately 0.06 to 0.30 depending on the type), and an optionally substituted vinyl group (approximately 0.00. 02 to 0.77), a carboxymethylene group which may have a substituent (0.07 or more depending on the type), and a cyanoalkylene having 2 or 3 carbon atoms which may have a substituent A group (in the range of about 0.05 to 0.97 depending on the type), a carbonyl group (in the range of about 0.23 to 0.63 depending on the type of the group bonded to the other bond), a thiocarbonyl group ( Approximately 0.25 depending on the type of group attached to the other bond 0.30), a sulfonyl group (approximately 0.51-1.10 depending on the type of group bonded to the other bond), and a phosphoryl group (type of group bonded to the other bond) Depending on the case, about 0.13 to 0.81) may be mentioned. Values in parentheses indicate Hammett's substituent constant σ m value.

(A)成分及び(B)成分との組合せにおいて優れた硬化潜在性を有する樹脂組成物を得る観点から、4位に電子求引基を有するピリジン化合物は、
4位にハロゲン原子、シアノ基、ニトロ基、置換基を有していてもよいフェニル基、置換基を有していてもよいビニル基、置換基を有していてもよいカルボキシメチレン基、置換基を有していてもよい炭素原子数2又は3のシアノアルキレン基、カルボニル基、チオカルボニル基、スルホニル基、若しくはホスホリル基を有するピリジン化合物であることが好ましく;
4位にハロゲン原子、シアノ基、ニトロ基、置換基を有していてもよいフェニル基、カルボニル基、チオカルボニル基、スルホニル基、若しくはホスホリル基を有するピリジン化合物であることがより好ましく;
4位にハロゲン原子、シアノ基、ニトロ基、置換基を有していてもよいフェニル基、カルボニル基、スルホニル基、若しくはホスホリル基を有するピリジン化合物であることがさらに好ましく;
4位にシアノ基若しくはカルボニル基を有するピリジン化合物であることがさらにより好ましく;
4位にカルボニル基を有するピリジン化合物であることが特に好ましい。
From the viewpoint of obtaining a resin composition having excellent curing latency in combination with the component (A) and the component (B), a pyridine compound having an electron withdrawing group at the 4-position is
4-position halogen atom, cyano group, nitro group, phenyl group which may have a substituent, vinyl group which may have a substituent, carboxymethylene group which may have a substituent, substitution It is preferably a pyridine compound having a cyanoalkylene group having 2 or 3 carbon atoms which may have a group, a carbonyl group, a thiocarbonyl group, a sulfonyl group, or a phosphoryl group;
More preferably, it is a pyridine compound having a halogen atom, a cyano group, a nitro group, an optionally substituted phenyl group, a carbonyl group, a thiocarbonyl group, a sulfonyl group, or a phosphoryl group at the 4-position;
More preferably, it is a pyridine compound having a halogen atom, a cyano group, a nitro group, an optionally substituted phenyl group, a carbonyl group, a sulfonyl group, or a phosphoryl group at the 4-position;
Even more preferably, it is a pyridine compound having a cyano group or a carbonyl group at the 4-position;
A pyridine compound having a carbonyl group at the 4-position is particularly preferable.

(A)成分及び(B)成分との組合せにおいて優れた硬化潜在性を有する樹脂組成物を得る観点から、1位に電子求引基を有するイミダゾール化合物は、
1位にハロゲン原子、シアノ基、ニトロ基、置換基を有していてもよいフェニル基、置換基を有していてもよいビニル基、置換基を有していてもよいカルボキシメチレン基、置換基を有していてもよい炭素原子数2又は3のシアノアルキレン基、カルボニル基、チオカルボニル基、スルホニル基、若しくはホスホリル基を有するイミダゾール化合物であることが好ましく;
1位にシアノ基、置換基を有していてもよいフェニル基、置換基を有していてもよいビニル基、置換基を有していてもよいカルボキシメチレン基、置換基を有していてもよい炭素原子数2又は3のシアノアルキレン基、カルボニル基、若しくはスルホニル基を有するイミダゾール化合物であることがより好ましく;
1位にシアノ基、置換基を有していてもよいフェニル基、置換基を有していてもよいビニル基、置換基を有していてもよい炭素原子数2又は3のシアノアルキレン基、カルボニル基、若しくはスルホニル基を有するイミダゾール化合物であることがさらに好ましく;
1位に置換基を有していてもよいフェニル基、カルボニル基、若しくはスルホニル基を有するイミダゾール化合物であることがさらにより好ましく;
1位にカルボニル基を有するイミダゾール化合物であることが特に好ましい。
From the viewpoint of obtaining a resin composition having excellent curing latency in combination with the component (A) and the component (B), an imidazole compound having an electron withdrawing group at the 1-position is
1-position halogen atom, cyano group, nitro group, phenyl group which may have a substituent, vinyl group which may have a substituent, carboxymethylene group which may have a substituent, substitution An imidazole compound having a cyanoalkylene group having 2 or 3 carbon atoms which may have a group, a carbonyl group, a thiocarbonyl group, a sulfonyl group, or a phosphoryl group;
1-position has a cyano group, a phenyl group which may have a substituent, a vinyl group which may have a substituent, a carboxymethylene group which may have a substituent, and a substituent. More preferably an imidazole compound having a cyanoalkylene group having 2 or 3 carbon atoms, a carbonyl group, or a sulfonyl group;
A 1-position cyano group, a phenyl group which may have a substituent, a vinyl group which may have a substituent, a cyanoalkylene group having 2 or 3 carbon atoms which may have a substituent, More preferably, it is an imidazole compound having a carbonyl group or a sulfonyl group;
Even more preferably, it is an imidazole compound having a phenyl group, a carbonyl group, or a sulfonyl group which may have a substituent at the 1-position;
Particularly preferred is an imidazole compound having a carbonyl group at the 1-position.

(C)成分が4位に置換基を有していてもよいフェニル基を有するピリジン化合物又は1位に置換基を有していてもよいフェニル基を有するピリジン化合物を含む場合、フェニル基が有していてもよい置換基の例は先述のとおりである。フェニル基が複数の置換基を有する場合、それらは同一でも相異なっていてもよい。中でも、フェニル基が有していてもよい置換基としては、ハロゲン原子、アルキル基、シアノ基、ニトロ基及びアルデヒド基からなる群から選択される1以上の基が好ましく、ハロゲン原子、シアノ基、ニトロ基及びアルデヒド基からなる群から選択される1以上の基がより好ましい。これらの置換基は二次置換基を有していてもよい。従ってトリフルオロメチル基等のフルオロアルキル基も当然本願の置換基に含まれる。   When the component (C) includes a pyridine compound having a phenyl group optionally having a substituent at the 4-position or a pyridine compound having a phenyl group optionally having a substituent at the 1-position, the phenyl group is present. Examples of the substituent that may be used are as described above. When the phenyl group has a plurality of substituents, they may be the same or different. Among these, as the substituent that the phenyl group may have, one or more groups selected from the group consisting of a halogen atom, an alkyl group, a cyano group, a nitro group, and an aldehyde group are preferable, and a halogen atom, a cyano group, More preferred is one or more groups selected from the group consisting of nitro groups and aldehyde groups. These substituents may have a secondary substituent. Accordingly, a fluoroalkyl group such as a trifluoromethyl group is naturally included in the substituent of the present application.

(C)成分が4位に置換基を有していてもよいビニル基を有するピリジン化合物又は1位に置換基を有していてもよいビニル基を有するピリジン化合物を含む場合、ビニル基が有していてもよい置換基の例は先述のとおりである。ビニル基が複数の置換基を有する場合、それらは同一でも相異なっていてもよい。中でも、ビニル基が有していてもよい置換基としては、ハロゲン原子、アルキル基、シアノ基、ニトロ基及びアルデヒド基からなる群から選択される1以上の基が好ましく、ハロゲン原子、シアノ基、ニトロ基及びアルデヒド基からなる群から選択される1以上の基がより好ましい。これらの置換基は二次置換基を有していてもよい。従ってトリフルオロメチル基等のフルオロアルキル基も当然本願の置換基に含まれる。   When the component (C) includes a pyridine compound having a vinyl group which may have a substituent at the 4-position or a pyridine compound having a vinyl group which may have a substituent at the 1-position, the vinyl group is present. Examples of the substituent that may be used are as described above. When the vinyl group has a plurality of substituents, they may be the same or different. Among them, the substituent that the vinyl group may have is preferably one or more groups selected from the group consisting of a halogen atom, an alkyl group, a cyano group, a nitro group, and an aldehyde group, a halogen atom, a cyano group, More preferred is one or more groups selected from the group consisting of nitro groups and aldehyde groups. These substituents may have a secondary substituent. Accordingly, a fluoroalkyl group such as a trifluoromethyl group is naturally included in the substituent of the present application.

(C)成分が4位に置換基を有していてもよいカルボキシメチレン基を有するピリジン化合物又は1位に置換基を有していてもよいカルボキシメチレン基を有するイミダゾール化合物を含む場合、カルボキシメチレン基が有していてもよい置換基の例は先述のとおりである。カルボキシメチレン基が複数の置換基を有する場合、それらは同一でも相異なっていてもよい。中でも、カルボキシメチレン基が有していてもよい置換基としては、ハロゲン原子、シアノ基及びニトロ基からなる群から選択される1以上の基が好ましい。   When the component (C) includes a pyridine compound having a carboxymethylene group optionally having a substituent at the 4-position or an imidazole compound having a carboxymethylene group optionally having a substituent at the 1-position, the carboxymethylene Examples of the substituent that the group may have are as described above. When the carboxymethylene group has a plurality of substituents, they may be the same or different. Especially, as a substituent which a carboxymethylene group may have, 1 or more groups selected from the group which consists of a halogen atom, a cyano group, and a nitro group are preferable.

(C)成分が4位に置換基を有していてもよい炭素原子数2又は3のシアノアルキレン基を有するピリジン化合物又は1位に置換基を有していてもよい炭素原子数2又は3のシアノアルキレン基を有するイミダゾール化合物を含む場合、炭素原子数2又は3のシアノアルキレン基が有していてもよい置換基の例は先述のとおりである。炭素原子数2又は3のシアノアルキレン基が複数の置換基を有する場合、それらは同一でも相異なっていてもよい。なお、炭素原子数2又は3のシアノアルキレン基とは、シアノメチレン基、シアノエチレン基を意味し、その炭素原子数に置換基の炭素原子数は含まれない。炭素原子数2又は3のシアノアルキレン基が有していてもよい置換基としては、ハロゲン原子、シアノ基及びニトロ基からなる群から選択される1以上の基が好ましい。   (C) A pyridine compound having a cyanoalkylene group having 2 or 3 carbon atoms which may have a substituent at the 4-position, or 2 or 3 carbon atoms which may have a substituent at the 1-position When the imidazole compound having a cyanoalkylene group is included, examples of the substituent that the cyanoalkylene group having 2 or 3 carbon atoms may have are as described above. When the cyanoalkylene group having 2 or 3 carbon atoms has a plurality of substituents, they may be the same or different. The cyanoalkylene group having 2 or 3 carbon atoms means a cyanomethylene group or a cyanoethylene group, and the number of carbon atoms of the substituent is not included in the number of carbon atoms. The substituent which the cyanoalkylene group having 2 or 3 carbon atoms may have is preferably one or more groups selected from the group consisting of a halogen atom, a cyano group and a nitro group.

(C)成分が4位にカルボニル基を有するピリジン化合物又は1位にカルボニル基を有するイミダゾール化合物を含む場合、カルボニル基の他方の結合手(すなわち、ピリジン4位又はイミダゾール1位とは反対側の結合手)に結合する基(以下、「カルボニル基に結合する1価の基」ともいう。)は特に限定されないが、好ましくは水素原子、ヒドロキシ基、置換基を有していてもよいアルキル基、置換基を有していてもよいアルコキシ基、置換基を有していてもよいアリール基、置換基を有していてもよいアリールオキシ基、置換基を有していてもよい1価の複素環基、置換基を有していてもよい複素環オキシ基、置換基を有していてもよいアミノ基、置換基を有していてもよいアルキルカルボニル基、置換基を有していてもアリールカルボニル基、置換基を有していてもよい複素環カルボニル基、置換基を有していてもよいアルキルジチオ基、置換基を有していてもよいアリールジチオ基、又は置換基を有していてもよい複素環ジチオ基である。   When the component (C) includes a pyridine compound having a carbonyl group at the 4-position or an imidazole compound having a carbonyl group at the 1-position, the other bond of the carbonyl group (that is, opposite to the 4-position of pyridine or the 1-position of imidazole) Group (hereinafter also referred to as “monovalent group bonded to a carbonyl group”) is not particularly limited, but is preferably a hydrogen atom, a hydroxy group, or an alkyl group which may have a substituent. , An alkoxy group which may have a substituent, an aryl group which may have a substituent, an aryloxy group which may have a substituent, a monovalent which may have a substituent A heterocyclic group, a heterocyclic oxy group which may have a substituent, an amino group which may have a substituent, an alkylcarbonyl group which may have a substituent, and a substituent; Arylca A carbonyl group, a heterocyclic carbonyl group which may have a substituent, an alkyldithio group which may have a substituent, an aryldithio group which may have a substituent, or a substituent. It may be a heterocyclic dithio group.

カルボニル基に結合する1価の基において、アルキル基の炭素原子数は、好ましくは1〜20、より好ましくは1〜15、さらに好ましくは1〜12、さらにより好ましくは1〜9、特に好ましくは1〜6、1〜4、又は1〜3である。上記炭素原子数に置換基の炭素原子数は含まれない。該アルキル基としては、例えば、メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、ペンチル基、へキシル基、ヘプチル基、オクチル基、ノニル基、デシル基、ウンデシル基、ドデシル基、トリデシル基、テトラデシル基、ペンタデシル基、ヘキサデシル基、ヘプタデシル基、オクタデシル基、ノナデシル基及びイコシル基が挙げられる。   In the monovalent group bonded to the carbonyl group, the number of carbon atoms of the alkyl group is preferably 1-20, more preferably 1-15, still more preferably 1-12, even more preferably 1-9, particularly preferably. 1-6, 1-4, or 1-3. The number of carbon atoms of the substituent is not included in the number of carbon atoms. Examples of the alkyl group include a methyl group, an ethyl group, a propyl group, a butyl group, a pentyl group, a hexyl group, a heptyl group, an octyl group, a nonyl group, a decyl group, an undecyl group, a dodecyl group, a tridecyl group, and a tetradecyl group. , Pentadecyl group, hexadecyl group, heptadecyl group, octadecyl group, nonadecyl group and icosyl group.

カルボニル基に結合する1価の基において、アルコキシ基の炭素原子数は、好ましくは1〜20、より好ましくは1〜15、さらに好ましくは1〜12、さらにより好ましくは1〜9、特に好ましくは1〜6、1〜4、又は1〜3である。上記炭素原子数に置換基の炭素原子数は含まれない。該アルコキシ基としては、例えば、メトキシ基、エトキシ基、プロポキシ基、ブトキシ基、ペンチルオキシ基、へキシルオキシ基、ヘプチルオキシ基、オクチルオキシ基、ノニルオキシ基、デシルオキシ基、ウンデシルオキシ基、ドデシルオキシ基、トリデシルオキシ基、テトラデシルオキシ基、ペンタデシルオキシ基、ヘキサデシルオキシ基、ヘプタデシルオキシ基、オクタデシルオキシ基、ノナデシルオキシ基及びイコシルオキシ基が挙げられる。   In the monovalent group bonded to the carbonyl group, the number of carbon atoms of the alkoxy group is preferably 1-20, more preferably 1-15, still more preferably 1-12, even more preferably 1-9, particularly preferably. 1-6, 1-4, or 1-3. The number of carbon atoms of the substituent is not included in the number of carbon atoms. Examples of the alkoxy group include a methoxy group, an ethoxy group, a propoxy group, a butoxy group, a pentyloxy group, a hexyloxy group, a heptyloxy group, an octyloxy group, a nonyloxy group, a decyloxy group, an undecyloxy group, and a dodecyloxy group. , Tridecyloxy group, tetradecyloxy group, pentadecyloxy group, hexadecyloxy group, heptadecyloxy group, octadecyloxy group, nonadecyloxy group and icosyloxy group.

カルボニル基に結合する1価の基において、アリール基の炭素原子数は、好ましくは6〜18、より好ましくは6〜14、さらに好ましくは6〜12、さらにより好ましくは6〜10である。上記炭素原子数に置換基の炭素原子数は含まれない。該アリール基としては、例えば、フェニル基、ナフチル基、アントラセニル基が挙げられ、中でもフェニル基が好ましい。   In the monovalent group bonded to the carbonyl group, the number of carbon atoms of the aryl group is preferably 6 to 18, more preferably 6 to 14, still more preferably 6 to 12, and still more preferably 6 to 10. The number of carbon atoms of the substituent is not included in the number of carbon atoms. Examples of the aryl group include a phenyl group, a naphthyl group, and an anthracenyl group, and among them, a phenyl group is preferable.

カルボニル基に結合する1価の基において、アリールオキシ基の炭素原子数は、好ましくは6〜18、より好ましくは6〜14、さらに好ましくは6〜12、さらにより好ましくは6〜10である。上記炭素原子数に置換基の炭素原子数は含まれない。該アリールオキシ基としては、例えば、フェノキシ基、ナフチルオキシ基、アントラセニルオキシ基が挙げられ、中でもフェノキシ基が好ましい。   In the monovalent group bonded to the carbonyl group, the number of carbon atoms of the aryloxy group is preferably 6 to 18, more preferably 6 to 14, still more preferably 6 to 12, and still more preferably 6 to 10. The number of carbon atoms of the substituent is not included in the number of carbon atoms. Examples of the aryloxy group include a phenoxy group, a naphthyloxy group, and an anthracenyloxy group, and among them, a phenoxy group is preferable.

カルボニル基に結合する1価の基において、1価の複素環基の炭素原子数は、好ましくは3〜21、より好ましくは3〜15、さらに好ましくは3〜9、さらにより好ましくは3〜5である。該1価の複素環基には、1価の芳香族複素環基(ヘテロアリール基)も含まれる。該1価の複素環基としては、例えば、チエニル基、ピロリル基、フラニル基、イミダゾリル基、フリル基、ピリジル基、ピリダジニル基、ピリミジル基、ピラジニル基、トリアジニル基、ピロリジル基、ピペリジル基、キノリル基、及びイソキノリル基が挙げられ、中でもイミダゾリル基、ピリジル基が好ましい。   In the monovalent group bonded to the carbonyl group, the number of carbon atoms of the monovalent heterocyclic group is preferably 3 to 21, more preferably 3 to 15, still more preferably 3 to 9, and even more preferably 3 to 5. It is. The monovalent heterocyclic group includes a monovalent aromatic heterocyclic group (heteroaryl group). Examples of the monovalent heterocyclic group include thienyl group, pyrrolyl group, furanyl group, imidazolyl group, furyl group, pyridyl group, pyridazinyl group, pyrimidyl group, pyrazinyl group, triazinyl group, pyrrolidyl group, piperidyl group, quinolyl group. And an isoquinolyl group, among which an imidazolyl group and a pyridyl group are preferable.

カルボニル基に結合する1価の基において、複素環オキシ基の炭素原子数は、好ましくは3〜21、より好ましくは3〜15、さらに好ましくは3〜9、さらにより好ましくは3〜5である。該複素環オキシ基には、芳香族複素環オキシ基(ヘテロアリールオキシ基)も含まれる。該複素環オキシ基としては、例えば、チエニルオキシ基、ピロリルオキシ基、フラニルオキシ基、イミダゾリルオキシ基、フリルオキシ基、ピリジルオキシ基、ピリダジニルオキシ基、ピリミジルオキシ基、ピラジニルオキシ基、トリアジニルオキシ基、ピロリジルオキシ基、ピペリジルオキシ基、キノリルオキシ基、及びイソキノリルオキシ基が挙げられ、中でもイミダゾリルオキシ基、ピリジルオキシ基が好ましい。   In the monovalent group bonded to the carbonyl group, the number of carbon atoms of the heterocyclic oxy group is preferably 3 to 21, more preferably 3 to 15, still more preferably 3 to 9, and even more preferably 3 to 5. . The heterocyclic oxy group also includes an aromatic heterocyclic oxy group (heteroaryloxy group). Examples of the heterocyclic oxy group include thienyloxy group, pyrrolyloxy group, furanyloxy group, imidazolyloxy group, furyloxy group, pyridyloxy group, pyridazinyloxy group, pyrimidyloxy group, pyrazinyloxy group, and triazinyloxy group. Pyrrolidyloxy group, piperidyloxy group, quinolyloxy group and isoquinolyloxy group, among which imidazolyloxy group and pyridyloxy group are preferable.

カルボニル基に結合する1価の基において、アルキルカルボニル基の炭素原子数は、好ましくは2〜21、より好ましくは2〜16、さらに好ましくは2〜13、さらにより好ましくは2〜10、特に好ましくは2〜7、2〜5、又は2〜4である。上記炭素原子数に置換基の炭素原子数は含まれない。該アルキルカルボニル基としては、例えば、メチルカルボニル基、エチルカルボニル基、プロピルカルボニル基、ブチルカルボニル基、ペンチルカルボニル基、へキシルカルボニル基、ヘプチルカルボニル基、オクチルカルボニル基、ノニルカルボニル基、及びデシルカルボニル基が挙げられる。   In the monovalent group bonded to the carbonyl group, the number of carbon atoms of the alkylcarbonyl group is preferably 2 to 21, more preferably 2 to 16, still more preferably 2 to 13, even more preferably 2 to 10, and particularly preferably. Is 2-7, 2-5, or 2-4. The number of carbon atoms of the substituent is not included in the number of carbon atoms. Examples of the alkylcarbonyl group include a methylcarbonyl group, an ethylcarbonyl group, a propylcarbonyl group, a butylcarbonyl group, a pentylcarbonyl group, a hexylcarbonyl group, a heptylcarbonyl group, an octylcarbonyl group, a nonylcarbonyl group, and a decylcarbonyl group. Is mentioned.

カルボニル基に結合する1価の基において、アリールカルボニル基の炭素原子数は、好ましくは7〜19、より好ましくは7〜15、さらに好ましくは7〜13、さらにより好ましくは7〜11である。上記炭素原子数に置換基の炭素原子数は含まれない。該アリールカルボニル基としては、例えば、フェニルカルボニル基、ナフチルカルボニル基、アントラセニルカルボニル基が挙げられる。   In the monovalent group bonded to the carbonyl group, the number of carbon atoms of the arylcarbonyl group is preferably 7-19, more preferably 7-15, still more preferably 7-13, and even more preferably 7-11. The number of carbon atoms of the substituent is not included in the number of carbon atoms. Examples of the arylcarbonyl group include a phenylcarbonyl group, a naphthylcarbonyl group, and an anthracenylcarbonyl group.

カルボニル基に結合する1価の基において、複素環カルボニル基の炭素原子数は、好ましくは4〜22、より好ましくは4〜16、さらに好ましくは4〜10、さらにより好ましくは4〜6である。上記炭素原子数に置換基の炭素原子数は含まれない。該複素環カルボニル基には、芳香族複素環カルボニル基(ヘテロアリールカルボニル基)も含まれる。該複素環カルボニル基としては、例えば、チエニルカルボニル基、ピロリルカルボニル基、フラニルカルボニル基、イミダゾリルカルボニル基、フリルカルボニル基、ピリジルカルボニル基、ピリダジニルカルボニル基、ピリミジルカルボニル基、ピラジニルカルボニル基、トリアジニルカルボニル基、ピロリジルカルボニル基、ピペリジルカルボニル基、キノリルカルボニル基、及びイソキノリルカルボニル基が挙げられ、中でもイミダゾリルカルボニル基、ピリジルカルボニル基が好ましい。   In the monovalent group bonded to the carbonyl group, the number of carbon atoms of the heterocyclic carbonyl group is preferably 4 to 22, more preferably 4 to 16, still more preferably 4 to 10, and even more preferably 4 to 6. . The number of carbon atoms of the substituent is not included in the number of carbon atoms. The heterocyclic carbonyl group also includes an aromatic heterocyclic carbonyl group (heteroarylcarbonyl group). Examples of the heterocyclic carbonyl group include thienylcarbonyl group, pyrrolylcarbonyl group, furanylcarbonyl group, imidazolylcarbonyl group, furylcarbonyl group, pyridylcarbonyl group, pyridazinylcarbonyl group, pyrimidylcarbonyl group, Examples include a radinylcarbonyl group, a triazinylcarbonyl group, a pyrrolidylcarbonyl group, a piperidylcarbonyl group, a quinolylcarbonyl group, and an isoquinolylcarbonyl group, and among them, an imidazolylcarbonyl group and a pyridylcarbonyl group are preferable.

カルボニル基に結合する1価の基において、アルキルジチオ基の炭素原子数は、好ましくは1〜20、より好ましくは1〜15、さらに好ましくは1〜12、さらにより好ましくは1〜9、特に好ましくは1〜6、1〜4、又は1〜3である。上記炭素原子数に置換基の炭素原子数は含まれない。該アルキルジチオ基としては、例えば、メチルジチオ基、エチルジチオ基、プロピルジチオ基、ブチルジチオ基、ペンチルジチオ基、へキシルジチオ基、ヘプチルジチオ基、オクチルジチオ基、ノニルジチオ基、及びデシルジチオ基が挙げられる。   In the monovalent group bonded to the carbonyl group, the alkyldithio group preferably has 1 to 20, more preferably 1 to 15, still more preferably 1 to 12, still more preferably 1 to 9, and particularly preferably. Is 1-6, 1-4, or 1-3. The number of carbon atoms of the substituent is not included in the number of carbon atoms. Examples of the alkyldithio group include a methyldithio group, an ethyldithio group, a propyldithio group, a butyldithio group, a pentyldithio group, a hexyldithio group, a heptyldithio group, an octyldithio group, a nonyldithio group, and a decyldithio group.

カルボニル基に結合する1価の基において、アリールジチオ基の炭素原子数は、好ましくは6〜18、より好ましくは6〜14、さらに好ましくは6〜12、さらにより好ましくは6〜10である。上記炭素原子数に置換基の炭素原子数は含まれない。該アリールジチオ基としては、例えば、フェニルジチオ基、ナフチルジチオ基、アントラセニルジチオ基が挙げられる。   In the monovalent group bonded to the carbonyl group, the number of carbon atoms of the aryldithio group is preferably 6 to 18, more preferably 6 to 14, still more preferably 6 to 12, and still more preferably 6 to 10. The number of carbon atoms of the substituent is not included in the number of carbon atoms. Examples of the aryldithio group include a phenyldithio group, a naphthyldithio group, and an anthracenyldithio group.

カルボニル基に結合する1価の基において、複素環ジチオ基の炭素原子数は、好ましくは3〜21、より好ましくは3〜15、さらに好ましくは3〜9、さらにより好ましくは3〜5である。該複素環ジチオ基には、芳香族複素環ジチオ基(ヘテロアリールジチオ基)も含まれる。該複素環ジチオ基としては、例えば、チエニルジチオ基、ピロリルジチオ基、フラニルジチオ基、イミダゾリルジチオ基、フリルジチオ基、ピリジルジチオ基、ピリダジニルジチオ基、ピリミジルジチオ基、ピラジニルジチオ基、トリアジニルジチオ基、ピロリジルジチオ基、ピペリジルジチオ基、キノリルジチオ基、及びイソキノリルジチオ基が挙げられる。   In the monovalent group bonded to the carbonyl group, the number of carbon atoms of the heterocyclic dithio group is preferably 3 to 21, more preferably 3 to 15, still more preferably 3 to 9, and even more preferably 3 to 5. . The heterocyclic dithio group also includes an aromatic heterocyclic dithio group (heteroaryl dithio group). Examples of the heterocyclic dithio group include thienyl dithio group, pyrrolyl dithio group, furanyl dithio group, imidazolyl dithio group, furyl dithio group, pyridyl dithio group, pyridazinyl dithio group, pyrimidyl dithio group, pyrazinyl dithio group, triazinyl dithio group, pyrrole Examples thereof include a dildithio group, a piperidyldithio group, a quinolyldithio group, and an isoquinolyldithio group.

カルボニル基に結合する1価の基が有していてもよい置換基の例は先述のとおりである。カルボニル基に結合する1価の基が複数の置換基を有する場合、それらは同一でも相異なっていてもよい。中でも、カルボニル基に結合する1価の基が有していてもよい置換基としては、ハロゲン原子、アミノ基及びアリール基からなる群から選択される1種以上の基が好ましい。このうち、アリール基の場合は、炭素原子数6〜14のアリール基が好ましく、フェニル基、ナフチル基、アントラセニル基がより好ましく、アントラセニル基がさらに好ましい。これらの置換基は二次置換基を有していてもよい。従ってアントラキノリル基等のオキシアリール基も当然本願の置換基に含まれる。   Examples of the substituent that the monovalent group bonded to the carbonyl group may have are as described above. When the monovalent group bonded to the carbonyl group has a plurality of substituents, they may be the same or different. Especially, as a substituent which the monovalent group couple | bonded with a carbonyl group may have, 1 or more types of groups selected from the group which consists of a halogen atom, an amino group, and an aryl group are preferable. Among these, in the case of an aryl group, an aryl group having 6 to 14 carbon atoms is preferable, a phenyl group, a naphthyl group, and an anthracenyl group are more preferable, and an anthracenyl group is further preferable. These substituents may have a secondary substituent. Accordingly, an oxyaryl group such as an anthraquinolyl group is naturally included in the substituent of the present application.

(C)成分が4位にチオカルボニル基を有するピリジン化合物又は1位にチオカルボニル基を有するイミダゾール化合物を含む場合、チオカルボニル基の他方の結合手(すなわち、ピリジン4位又はイミダゾール1位とは反対側の結合手)に結合する基(以下、「チオカルボニル基に結合する1価の基」ともいう。)は特に限定されないが、好ましくは水素原子、メルカプト基、置換基を有していてもよいアルキル基、置換基を有していてもよいアリール基、置換基を有していてもよい1価の複素環基、又は置換基を有していてもよいアミノ基である。   When the component (C) includes a pyridine compound having a thiocarbonyl group at the 4-position or an imidazole compound having a thiocarbonyl group at the 1-position, the other bond of the thiocarbonyl group (that is, pyridine 4-position or imidazole 1-position is The group (hereinafter also referred to as “monovalent group bonded to the thiocarbonyl group”) bonded to the other side bond is not particularly limited, but preferably has a hydrogen atom, a mercapto group, or a substituent. An alkyl group which may have a substituent, an aryl group which may have a substituent, a monovalent heterocyclic group which may have a substituent, or an amino group which may have a substituent.

チオカルボニル基に結合する1価の基において、アルキル基、アリール基、複素環基は、カルボニル基に結合する1価の基について説明したとおりである。   In the monovalent group bonded to the thiocarbonyl group, the alkyl group, aryl group, and heterocyclic group are as described for the monovalent group bonded to the carbonyl group.

チオカルボニル基に結合する1価の基が有していてもよい置換基の例は、カルボニル基に結合する1価の基について説明したとおりである。   Examples of the substituent that the monovalent group bonded to the thiocarbonyl group may have are as described for the monovalent group bonded to the carbonyl group.

(C)成分が4位にスルホニル基を有するピリジン化合物又は1位にスルホニル基を有するイミダゾール化合物を含む場合、スルホニル基の他方の結合手(すなわち、ピリジン4位又はイミダゾール1位とは反対側の結合手)に結合する基(以下、「スルホニル基に結合する1価の基」ともいう。)は特に限定されないが、好ましくは置換基を有していてもよいアルキル基、置換基を有していてもよいアリール基、置換基を有していてもよい1価の複素環基、又は置換基を有していてもよいアミノ基である。   When the component (C) includes a pyridine compound having a sulfonyl group at the 4-position or an imidazole compound having a sulfonyl group at the 1-position, the other bond of the sulfonyl group (that is, opposite to the 4-position of pyridine or the 1-position of imidazole) Group (hereinafter also referred to as “monovalent group bonded to a sulfonyl group”) is not particularly limited, but preferably has an alkyl group which may have a substituent, or a substituent. An aryl group which may be substituted, a monovalent heterocyclic group which may have a substituent, or an amino group which may have a substituent.

スルホニル基に結合する1価の基において、アルキル基、アリール基、複素環基は、カルボニル基に結合する1価の基について説明したとおりである。   In the monovalent group bonded to the sulfonyl group, the alkyl group, aryl group, and heterocyclic group are as described for the monovalent group bonded to the carbonyl group.

スルホニル基に結合する1価の基が有していてもよい置換基の例は、カルボニル基に結合する1価の基について説明したとおりである。   Examples of the substituent that the monovalent group bonded to the sulfonyl group may have are as described for the monovalent group bonded to the carbonyl group.

(C)成分が4位にホスホリル基を有するピリジン化合物又は1位にホスホリル基を有するイミダゾール化合物を含む場合、ホスホリル基の他方の2つの結合手(すなわち、ピリジン4位又はイミダゾール1位とは結合していない2つの結合手)に結合する基(以下、「ホスホリル基に結合する1価の基」ともいう。)は特に限定されないが、好ましくは個々独立して水素原子、ヒドロキシ基、置換基を有していてもよいアルキル基、置換基を有していてもよいアリール基、置換基を有していてもよい1価の複素環基、置換基を有していてもよいアルコキシ基、置換基を有していてもよいアリールオキシ基、又は置換基を有していてもよい複素環オキシ基である。   When the component (C) includes a pyridine compound having a phosphoryl group at the 4-position or an imidazole compound having a phosphoryl group at the 1-position, the other two bonds of the phosphoryl group (ie, bonded to the 4-position of pyridine or the 1-position of imidazole) Group (hereinafter also referred to as “monovalent group bonded to a phosphoryl group”) is not particularly limited, but preferably each independently a hydrogen atom, a hydroxy group, or a substituent. An alkyl group which may have a substituent, an aryl group which may have a substituent, a monovalent heterocyclic group which may have a substituent, an alkoxy group which may have a substituent, An aryloxy group which may have a substituent, or a heterocyclic oxy group which may have a substituent.

ホスホリル基に結合する1価の基において、アルキル基、アリール基、1価の複素環基、アルコキシ基、アリールオキシ基、複素環オキシ基は、カルボニル基に結合する1価の基について説明したとおりである。   In the monovalent group bonded to the phosphoryl group, the alkyl group, aryl group, monovalent heterocyclic group, alkoxy group, aryloxy group, and heterocyclic oxy group are as described for the monovalent group bonded to the carbonyl group. It is.

ホスホリル基に結合する1価の基が有していてもよい置換基の例は、カルボニル基に結合する1価の基について説明したとおりである。   The example of the substituent which the monovalent group couple | bonded with a phosphoryl group may have is as having demonstrated the monovalent group couple | bonded with a carbonyl group.

(C)成分に使用される1位に電子求引基を有するイミダゾール化合物は、酸塩の形態であってもよい。酸塩の形成に使用される酸としては、有機酸が挙げられる。好適な有機酸としては、例えば、炭素原子数1〜10の1価又は多価のカルボン酸(例えば、グルコール酸、クエン酸、トリメリット酸など)、メチル硫酸、エチル硫酸、p−トルエンスルホン酸が挙げられる。1位に電子求引基を有するイミダゾール化合物が酸塩の形態である場合、炭素原子数1〜10の1価又は多価のカルボン酸の塩であることが好ましく、中でもトリメリット酸塩であることが好ましい。   The imidazole compound having an electron withdrawing group at the 1-position used for the component (C) may be in the form of an acid salt. Examples of the acid used for forming the acid salt include organic acids. Suitable organic acids include, for example, monovalent or polyvalent carboxylic acids having 1 to 10 carbon atoms (for example, glycolic acid, citric acid, trimellitic acid, etc.), methyl sulfuric acid, ethyl sulfuric acid, p-toluenesulfonic acid. Is mentioned. When the imidazole compound having an electron withdrawing group at the 1-position is in the form of an acid salt, it is preferably a salt of a monovalent or polyvalent carboxylic acid having 1 to 10 carbon atoms, and especially a trimellitic acid salt. It is preferable.

先述のとおり、(C)成分に使用される4位に電子求引基を有するピリジン化合物は、4位以外の位置(すなわち、2位、3位、5位、6位)に置換基を有していてもよい。また、(C)成分に使用される1位に電子求引基を有するイミダゾール化合物は、1位以外の位置(すなわち、2位、4位、5位)に置換基を有していてもよい。これらの置換基は先述のとおりであるが、中でもアルキル基及びアリール基からなる群から選択される1以上の基が好ましい。このうち、アルキル基の場合は、炭素原子数1〜12のアルキル基が好ましい。アリール基の場合は、炭素原子数6〜12のアリール基が好ましく、フェニル基、ナフチル基、アントラセニル基が好ましく、フェニル基がより好ましい。これらの置換基は二次置換基を有していてもよく、例えば、トリフルオロメチル基等のフルオロアルキル基、パーフルオロフェニル基等のフルオロアリール基も当然本願の置換基に含まれる。   As described above, the pyridine compound having an electron withdrawing group at the 4-position used for the component (C) has a substituent at a position other than the 4-position (that is, the 2-position, 3-position, 5-position, and 6-position). You may do it. Further, the imidazole compound having an electron withdrawing group at the 1-position used for the component (C) may have a substituent at positions other than the 1-position (that is, the 2-position, 4-position, and 5-position). . These substituents are as described above. Among them, one or more groups selected from the group consisting of an alkyl group and an aryl group are preferable. Among these, in the case of an alkyl group, a C1-C12 alkyl group is preferable. In the case of an aryl group, an aryl group having 6 to 12 carbon atoms is preferable, a phenyl group, a naphthyl group, and an anthracenyl group are preferable, and a phenyl group is more preferable. These substituents may have a secondary substituent. For example, a fluoroalkyl group such as a trifluoromethyl group and a fluoroaryl group such as a perfluorophenyl group are naturally included in the substituent of the present application.

一実施形態において、(C)成分に使用される4位に電子求引基を有するピリジン化合物及び1位に電子求引基を有するイミダゾール化合物はそれぞれ下記式(1)及び式(2)で表される。   In one embodiment, the pyridine compound having an electron withdrawing group at the 4-position and the imidazole compound having an electron withdrawing group at the 1-position used for the component (C) are represented by the following formulas (1) and (2), respectively. Is done.

Figure 0005915610
〔式(1)中、Xは電子求引基を表し、Rは置換基を表し、m1は0〜4の整数を表す。〕
Figure 0005915610
[In the formula (1), X 1 represents an electron withdrawing group, R 1 represents a substituent, m1 represents an integer of 0-4. ]

Figure 0005915610
〔式(2)中、Xは電子求引基を表し、Rは置換基を表し、m2は0〜3の整数を表す。〕
Figure 0005915610
Wherein (2), X 2 represents an electron withdrawing group, R 2 represents a substituent, m2 represents an integer of 0 to 3. ]

式(1)及び式(2)中、X及びXは電子求引基を表し、ハメットの置換基定数σm値が0より大きい基が好ましい。(A)成分及び(B)成分との組み合わせにおいて優れた硬化潜在性を有する樹脂組成物を得る観点から、X及びXのハメットの置換基定数σ値は、より好ましくは0.05以上、さらに好ましくは0.1以上、さらにより好ましくは0.15以上、特に好ましくは0.2以上、0.25以上、0.3以上、又は0.35以上である。該σ値の上限は特に制限はないが、通常、2以下、好ましくは1.8以下、より好ましくは1.6以下、さらに好ましくは1.4以下、さらにより好ましくは1.2以下、特に好ましくは1.1以下又は1.0以下である。 In Formula (1) and Formula (2), X 1 and X 2 represent an electron withdrawing group, and a Hammett's substituent constant σm value is preferably larger than 0. From the viewpoint of obtaining a resin composition having excellent curing latency in combination with the component (A) and the component (B), the Hammett substituent constant σ m value of X 1 and X 2 is more preferably 0.05. Above, more preferably 0.1 or more, still more preferably 0.15 or more, particularly preferably 0.2 or more, 0.25 or more, 0.3 or more, or 0.35 or more. The upper limit of the σ m value is not particularly limited, but is usually 2 or less, preferably 1.8 or less, more preferably 1.6 or less, still more preferably 1.4 or less, even more preferably 1.2 or less, Particularly preferably, it is 1.1 or less or 1.0 or less.

式(1)中、Xとしては、
ハロゲン原子、シアノ基、ニトロ基、置換基を有していてもよいフェニル基、置換基を有していてもよいビニル基、置換基を有していてもよいカルボキシメチレン基、置換基を有していてもよい炭素原子数2又は3のシアノアルキレン基、式:−C(=O)−Rで表される基、式:−C(=S)−Rで表される基、式:−S(=O)−Rで表される基、又は式:−P(=O)(−Rで表される基が好ましく;
ハロゲン原子、シアノ基、ニトロ基、置換基を有していてもよいフェニル基、式:−C(=O)−Rで表される基、式:−C(=S)−Rで表される基、式:−S(=O)−Rで表される基、又は式:−P(=O)(−Rで表される基がより好ましく;
ハロゲン原子、シアノ基、ニトロ基、置換基を有していてもよいフェニル基、式:−C(=O)−Rで表される基、式:−S(=O)−Rで表される基、又は式:−P(=O)(−Rで表される基がさらに好ましく;
シアノ基又は式:−C(=O)−Rで表される基がさらにより好ましく;
式:−C(=O)−Rで表される基が特に好ましい。
ここで、Rは上記「カルボニル基に結合する1価の基」について説明したとおりであり、Rは上記「チオカルボニル基に結合する1価の基」について説明したとおりであり、Rは上記「スルホニル基に結合する1価の基」について説明したとおりであり、Rは上記「ホスホリル基に結合する1価の基」について説明したとおりである。
In formula (1), as X 1 ,
Halogen atom, cyano group, nitro group, phenyl group which may have a substituent, vinyl group which may have a substituent, carboxymethylene group which may have a substituent, An optionally substituted cyanoalkylene group having 2 or 3 carbon atoms, a group represented by the formula: —C (═O) —R 3 , a group represented by the formula: —C (═S) —R 4 ; A group represented by the formula: —S (═O) 2 —R 5 or a group represented by the formula: —P (═O) (— R 6 ) 2 is preferable;
Halogen atom, a cyano group, a nitro group, which may have a substituent phenyl group of the formula: -C (= O) group represented by -R 3, wherein: at -C (= S) -R 4 A group represented by the formula: —S (═O) 2 —R 5 , or a group represented by the formula: —P (═O) (— R 6 ) 2 is more preferable;
A halogen atom, a cyano group, a nitro group, an optionally substituted phenyl group, a group represented by the formula: —C (═O) —R 3 , a formula: —S (═O) 2 —R 5 Or a group represented by the formula: —P (═O) (— R 6 ) 2 is more preferable;
A cyano group or a group represented by the formula: —C (═O) —R 3 is even more preferred;
A group represented by the formula: —C (═O) —R 3 is particularly preferred.
Here, R 3 is as described above for the “monovalent group bonded to the carbonyl group”, R 4 is as described for the above “monovalent group bonded to the thiocarbonyl group”, and R 5 Is as described for the “monovalent group bonded to the sulfonyl group”, and R 6 is as described for the “monovalent group bonded to the phosphoryl group”.

式(2)中、Xとしては、
ハロゲン原子、シアノ基、ニトロ基、置換基を有していてもよいフェニル基、置換基を有していてもよいビニル基、置換基を有していてもよいカルボキシメチレン基、置換基を有していてもよい炭素原子数2又は3のシアノアルキレン基、式:−C(=O)−Rで表される基、式:−C(=S)−Rで表される基、式:−S(=O)−Rで表される基、又は式:−P(=O)(−Rで表される基が好ましく;
シアノ基、置換基を有していてもよいフェニル基、置換基を有していてもよいビニル基、置換基を有していてもよいカルボキシメチレン基、置換基を有していてもよい炭素原子数2又は3のシアノアルキレン基、式:−C(=O)−Rで表される基、又は式:−S(=O)−Rで表される基がより好ましく;
シアノ基、置換基を有していてもよいフェニル基、置換基を有していてもよいビニル基、置換基を有していてもよい炭素原子数2又は3のシアノアルキレン基、式:−C(=O)−Rで表される基、又は式:−S(=O)−Rで表される基がさらに好ましく;
置換基を有していてもよいフェニル基、式:−C(=O)−Rで表される基、又は式:−S(=O)−Rで表される基がさらにより好ましく;
式:−C(=O)−Rで表される基が特に好ましい。
ここで、R、R、R及びRは、上記のとおりである。
In formula (2), as X 2 ,
Halogen atom, cyano group, nitro group, phenyl group which may have a substituent, vinyl group which may have a substituent, carboxymethylene group which may have a substituent, An optionally substituted cyanoalkylene group having 2 or 3 carbon atoms, a group represented by the formula: —C (═O) —R 3 , a group represented by the formula: —C (═S) —R 4 ; A group represented by the formula: —S (═O) 2 —R 5 or a group represented by the formula: —P (═O) (— R 6 ) 2 is preferable;
A cyano group, an optionally substituted phenyl group, an optionally substituted vinyl group, an optionally substituted carboxymethylene group, and an optionally substituted carbon A cyanoalkylene group having 2 or 3 atoms, a group represented by the formula: —C (═O) —R 3 , or a group represented by the formula: —S (═O) 2 —R 5 is more preferable;
A cyano group, a phenyl group which may have a substituent, a vinyl group which may have a substituent, a cyanoalkylene group having 2 or 3 carbon atoms which may have a substituent, a formula:- More preferably a group represented by C (═O) —R 3 or a group represented by the formula: —S (═O) 2 —R 5 ;
A phenyl group which may have a substituent, a group represented by the formula: —C (═O) —R 3 , or a group represented by the formula: —S (═O) 2 —R 5 is even more. Preferably;
A group represented by the formula: —C (═O) —R 3 is particularly preferred.
Here, R 3 , R 4 , R 5 and R 6 are as described above.

式(1)及び式(2)中、R及びRは置換基を表し、アルキル基及びアリール基からなる群から選択される基が好ましい。このうち、アルキル基の場合は、炭素原子数1〜12のアルキル基が好ましい。アリール基の場合は、炭素原子数6〜12のアリール基が好ましく、フェニル基、ナフチル基、アントラセニル基がより好ましく、フェニル基がさらに好ましい。 In Formula (1) and Formula (2), R 1 and R 2 represent a substituent, and a group selected from the group consisting of an alkyl group and an aryl group is preferable. Among these, in the case of an alkyl group, a C1-C12 alkyl group is preferable. In the case of an aryl group, an aryl group having 6 to 12 carbon atoms is preferable, a phenyl group, a naphthyl group, and an anthracenyl group are more preferable, and a phenyl group is further preferable.

式(1)中、m1は0〜4の整数を表し、好ましくは0〜3の整数、より好ましくは0〜2の整数、さらに好ましくは0又は1である。   In formula (1), m1 represents an integer of 0 to 4, preferably an integer of 0 to 3, more preferably an integer of 0 to 2, and still more preferably 0 or 1.

式(2)中、m2は0〜3の整数を表し、好ましくは0〜2の整数、より好ましくは0又は1である。   In formula (2), m2 represents an integer of 0 to 3, preferably an integer of 0 to 2, more preferably 0 or 1.

(C)成分において、4位に電子求引基を有するピリジン化合物は、1種単独で使用してもよく、2種以上を組み合わせて使用してもよい。   In the component (C), the pyridine compound having an electron withdrawing group at the 4-position may be used alone or in combination of two or more.

(C)成分において、1位に電子求引基を有するイミダゾール化合物は、1種単独で使用してもよく、2種以上を組み合わせて使用してもよい。   In the component (C), the imidazole compound having an electron withdrawing group at the 1-position may be used alone or in combination of two or more.

(C)成分に好適に使用し得る4位に電子求引基を有するピリジン化合物の具体例としては、4−ニトロピリジン、4−シアノピリジン、4−フルオロピリジン、イソニアジド、イソニコチン酸、4−ピリジンカルボキシアルデヒド、チオイソニコチンアミド、4−アセチルピリジン、エチル−4−ピリジルケトン、ジ(4−ピリジル)−ケトン、イソニコチン酸メチル、イソニコチン酸ドデシル、イソニコチン酸フェニル、イソニコチン酸アミド、N−エチルイソニコチン酸アミド、4−メチルスルホニルピリジン、4−フェニルスルホニルピリジン、4−トシルピリジン、4−メシルピリジン、4−ピリジンスルホンアミド、4−フェニルピリジン、4−(p−トリル)−ピリジン、及びジフェニル(4−ピリジニル)ホスフィンオキシドが挙げられる。   Specific examples of the pyridine compound having an electron withdrawing group at the 4-position that can be suitably used as the component (C) include 4-nitropyridine, 4-cyanopyridine, 4-fluoropyridine, isoniazid, isonicotinic acid, 4- Pyridine carboxaldehyde, thioisonicotinamide, 4-acetylpyridine, ethyl-4-pyridyl ketone, di (4-pyridyl) -ketone, methyl isonicotinate, dodecyl isonicotinate, phenyl isonicotinate, isonicotinic acid amide, N-ethylisonicotinamide, 4-methylsulfonylpyridine, 4-phenylsulfonylpyridine, 4-tosylpyridine, 4-mesylpyridine, 4-pyridinesulfonamide, 4-phenylpyridine, 4- (p-tolyl) -pyridine And diphenyl (4-pyridinyl) phosphineoxy And the like.

(C)成分に好適に使用し得る1位に電子求引基を有するイミダゾール化合物の具体例としては、1−アセチルイミダゾール、1−ビニルイミダゾール、1−イミダゾール酢酸、N−tert−ブトキシカルボニルイミダゾール、1−(4−ホルミルフェニル)イミダゾール、1,1’−オキサリルジイミダゾール、1−(4−シアノフェニル)イミダゾール1−シアノイミダゾール、1,1’−チオカルボニルビス−1H−イミダゾール、1−(メチルジチオカルボニル)イミダゾール、1,1’−スルホニルジイミダゾール、N−メタンスルホニルイミダゾール、1−(p−トルエンスルホニル)イミダゾール、1−(2,4,6−トリメチルベンゼンスルホニル)イミダゾール、1−(2,4,6−トリイソプロピルベンゼンスルホニル)イミダゾール、1−(トリフルオロメタンスルホニル)イミダゾール1−(2−トリフルオロメチルフェニル)イミダゾール、1−(3−トリフルオロメチルフェニル)イミダゾール、1−(4−トリフルオロメチルフェニル)イミダゾール、及び1−(4−ニトロフェニル)−1H−イミダゾール挙げられる。 Specific examples of the imidazole compound having an electron withdrawing group at the 1-position that can be suitably used for the component (C) include 1-acetylimidazole, 1-vinylimidazole, 1-imidazoleacetic acid, N-tert-butoxycarbonylimidazole, 1- (4-formylphenyl) imidazole, 1,1′-oxalyldiimidazole, 1- (4-cyanophenyl) imidazole , 1-cyanoimidazole, 1,1′-thiocarbonylbis-1H-imidazole, 1- ( Methyldithiocarbonyl) imidazole, 1,1′-sulfonyldiimidazole, N-methanesulfonylimidazole, 1- (p-toluenesulfonyl) imidazole, 1- (2,4,6-trimethylbenzenesulfonyl) imidazole, 1- (2 , 4,6-Triisopropylbenzenesulfonyl ) Imidazole, 1- (trifluoromethanesulfonyl) imidazole , 1- (2-trifluoromethylphenyl) imidazole, 1- (3-trifluoromethylphenyl) imidazole, 1- (4-trifluoromethylphenyl) imidazole, and 1 - (4-nitrophenyl)-1H-imidazole.

中でも、(A)成分及び(B)成分との組合せにおいて特に優れた硬化潜在性を有する樹脂組成物を得る観点から、(C)成分は、4−ベンゾイルピリジン、4−シアノピリジン、イソニコチン酸エチル1,1’−スルホニルジイミダゾール、1−(4−シアノフェニル)イミダゾール、及び1−(4−ニトロフェニル)−1H−イミダゾールからなる群から選択される1種以上を含むことが好ましく、4−ベンゾイルピリジン、及びイソニコチン酸エチルからなる群から選択される1種以上を含むことがより好ましい。 Among these, from the viewpoint of obtaining a resin composition having particularly excellent curing latency in combination with the component (A) and the component (B), the component (C) includes 4-benzoylpyridine, 4-cyanopyridine, and isonicotinic acid. It preferably contains one or more selected from the group consisting of ethyl , 1,1′-sulfonyldiimidazole, 1- (4-cyanophenyl) imidazole, and 1- (4-nitrophenyl) -1H-imidazole, More preferably, it contains at least one selected from the group consisting of 4-benzoylpyridine and ethyl isonicotinate .

樹脂組成物中の(C)成分の含有量は、(A)成分と(B)成分の不揮発成分合計量を100質量%としたとき、好ましくは0.05〜3質量%の範囲、より好ましくは0.1〜2質量%の範囲で使用することが好ましい。   The content of the component (C) in the resin composition is preferably in the range of 0.05 to 3% by mass, more preferably 100% by mass when the total amount of the non-volatile components of the component (A) and the component (B) is 100% by mass. Is preferably used in the range of 0.1 to 2% by mass.

<(D)成分>
本発明の樹脂組成物は、必要に応じて、さらに(D)無機充填材を含んでもよい。
<(D) component>
The resin composition of the present invention may further contain (D) an inorganic filler as necessary.

無機充填材としては、例えば、シリカ、アルミナ、ガラス、コーディエライト、シリコン酸化物、硫酸バリウム、タルク、クレー、雲母粉、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、炭酸カルシウム、炭酸マグネシウム、酸化マグネシウム、窒化ホウ素、窒化アルミニウム、窒化マンガン、ホウ酸アルミニウム、チタン酸バリウム、チタン酸ストロンチウム、チタン酸カルシウム、チタン酸マグネシウム、チタン酸ビスマス、酸化チタン、ジルコン酸バリウム、ジルコン酸カルシウム、リン酸ジルコニウム、及びリン酸タングステン酸ジルコニウム等が挙げられる。これらの中でも無定形シリカ、溶融シリカ、結晶シリカ、合成シリカ、中空シリカ等のシリカが特に好適である。またシリカとしては球状シリカが好ましい。無機充填材は1種単独で使用してもよく、2種以上を組み合わせて使用してもよい。市販されている球状溶融シリカとして、(株)アドマテックス製「SOC2」、「SOC1」が挙げられる。   Examples of inorganic fillers include silica, alumina, glass, cordierite, silicon oxide, barium sulfate, talc, clay, mica powder, aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, calcium carbonate, magnesium carbonate, magnesium oxide, and nitride. Boron, aluminum nitride, manganese nitride, aluminum borate, barium titanate, strontium titanate, calcium titanate, magnesium titanate, bismuth titanate, titanium oxide, barium zirconate, calcium zirconate, zirconium phosphate, and phosphoric acid Examples thereof include zirconium tungstate. Among these, silica such as amorphous silica, fused silica, crystalline silica, synthetic silica, and hollow silica is particularly suitable. Moreover, spherical silica is preferable as the silica. An inorganic filler may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type. Examples of commercially available spherical fused silica include “SOC2” and “SOC1” manufactured by Admatechs.

無機充填材の平均粒径は、樹脂組成物の流動性を高めて十分な回路埋め込み性、部品埋め込み性を実現する観点から、0.01μm〜5μmの範囲が好ましく、0.05μm〜2μmの範囲がより好ましく、0.1μm〜1μmの範囲がさらに好ましく、0.3μm〜0.8μmがさらにより好ましい。無機充填材の平均粒径はミー(Mie)散乱理論に基づくレーザー回折・散乱法により測定することができる。具体的にはレーザー回折散乱式粒度分布測定装置により、無機充填材の粒度分布を体積基準で作成し、そのメディアン径を平均粒径とすることで測定することができる。測定サンプルは、無機充填材を超音波により水中に分散させたものを好ましく使用することができる。レーザー回折散乱式粒度分布測定装置としては、株式会社堀場製作所製LA−500等を使用することができる。   The average particle size of the inorganic filler is preferably in the range of 0.01 μm to 5 μm, preferably in the range of 0.05 μm to 2 μm, from the viewpoint of increasing the fluidity of the resin composition and realizing sufficient circuit embedding property and component embedding property. Is more preferable, the range of 0.1 μm to 1 μm is still more preferable, and 0.3 μm to 0.8 μm is even more preferable. The average particle diameter of the inorganic filler can be measured by a laser diffraction / scattering method based on Mie scattering theory. Specifically, the particle size distribution of the inorganic filler can be prepared on a volume basis by a laser diffraction / scattering particle size distribution measuring apparatus, and the median diameter can be measured as the average particle diameter. As the measurement sample, an inorganic filler dispersed in water by ultrasonic waves can be preferably used. As a laser diffraction scattering type particle size distribution measuring apparatus, LA-500 manufactured by Horiba, Ltd. can be used.

無機充填材は、耐湿性及び分散性を高める観点から、アミノシラン系カップリング剤、エポキシシラン系カップリング剤、メルカプトシラン系カップリング剤、シラン系カップリング剤、オルガノシラザン化合物、チタネート系カップリング剤などの1種以上の表面処理剤で処理されていることが好ましい。表面処理剤の市販品としては、例えば、信越化学工業(株)製「KBM403」(3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン)、信越化学工業(株)製「KBM803」(3−メルカプトプロピルトリメトキシシラン)、信越化学工業(株)製「KBE903」(3−アミノプロピルトリエトキシシラン)、信越化学工業(株)製「KBM573」(N−フェニル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン)、信越化学工業(株)製「SZ−31」(ヘキサメチルジシラザン)等が挙げられる。   Inorganic fillers are aminosilane coupling agents, epoxysilane coupling agents, mercaptosilane coupling agents, silane coupling agents, organosilazane compounds, titanate coupling agents from the viewpoint of improving moisture resistance and dispersibility. It is preferable that it is processed with 1 or more types of surface treating agents. Examples of commercially available surface treatment agents include “KBM403” (3-glycidoxypropyltrimethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., and “KBM803” (3-mercaptopropyltrimethoxy manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.). Silane), Shin-Etsu Chemical "KBE903" (3-aminopropyltriethoxysilane), Shin-Etsu Chemical "KBM573" (N-phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane), Shin-Etsu Chemical "SZ-31" (Hexamethyldisilazane) manufactured by Co., Ltd.

表面処理剤による表面処理の程度は、無機充填材の単位表面積当たりのカーボン量によって評価することができる。無機充填材の単位表面積当たりのカーボン量は、無機充填材の分散性向上の観点から、0.02mg/m以上が好ましく、0.1mg/m以上がより好ましく、0.2mg/m以上が更に好ましい。一方、樹脂ワニスの溶融粘度やシート形態での溶融粘度の上昇を防止する観点から、1mg/m以下が好ましく、0.8mg/m以下がより好ましく、0.5mg/m以下が更に好ましい。 The degree of surface treatment with the surface treatment agent can be evaluated by the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler. Carbon content per unit surface area of the inorganic filler, from the viewpoint of improving dispersibility of the inorganic filler is preferably 0.02 mg / m 2 or more, 0.1 mg / m 2 or more preferably, 0.2 mg / m 2 The above is more preferable. On the other hand, 1 mg / m 2 or less is preferable, 0.8 mg / m 2 or less is more preferable, and 0.5 mg / m 2 or less is more preferable from the viewpoint of preventing an increase in the melt viscosity of the resin varnish or the sheet form. preferable.

無機充填材の単位表面積当たりのカーボン量は、表面処理後の無機充填材を溶剤(例えば、メチルエチルケトン(MEK))により洗浄処理した後に測定することができる。具体的には、溶剤として十分な量のMEKを表面処理剤で表面処理された無機充填材に加えて、25℃で5分間超音波洗浄する。上澄液を除去し、固形分を乾燥させた後、カーボン分析計を用いて無機充填材の単位表面積当たりのカーボン量を測定することができる。カーボン分析計としては、堀場製作所製「EMIA−320V」等を使用することができる。   The amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler can be measured after the surface-treated inorganic filler is washed with a solvent (for example, methyl ethyl ketone (MEK)). Specifically, a sufficient amount of MEK as a solvent is added to the inorganic filler surface-treated with the surface treatment agent and ultrasonically cleaned at 25 ° C. for 5 minutes. After removing the supernatant and drying the solid, the carbon amount per unit surface area of the inorganic filler can be measured using a carbon analyzer. As the carbon analyzer, “EMIA-320V” manufactured by HORIBA, Ltd. can be used.

樹脂組成物中の(D)成分の含有量は、線熱膨張係数の低い絶縁層を得る観点から、好ましくは30質量%以上、より好ましくは40質量%以上、さらに好ましくは50質量%以上、さらにより好ましくは60質量%以上、特に好ましくは70質量%以上である。(D)成分の含有量の上限は、得られる絶縁層の機械強度の観点から、好ましくは90質量%以下、より好ましくは85質量%以下である。したがって一実施形態において、樹脂組成物中の(D)成分の含有量は、好ましくは30〜90質量%、より好ましくは40〜90質量%、さらに好ましくは50〜90質量%である。   The content of the component (D) in the resin composition is preferably 30% by mass or more, more preferably 40% by mass or more, further preferably 50% by mass or more, from the viewpoint of obtaining an insulating layer having a low linear thermal expansion coefficient. Still more preferably, it is 60 mass% or more, Most preferably, it is 70 mass% or more. The upper limit of the content of the component (D) is preferably 90% by mass or less, more preferably 85% by mass or less, from the viewpoint of mechanical strength of the obtained insulating layer. Therefore, in one embodiment, content of (D) component in a resin composition becomes like this. Preferably it is 30-90 mass%, More preferably, it is 40-90 mass%, More preferably, it is 50-90 mass%.

一実施形態において、本発明の樹脂組成物は、上述の(A)成分、(B)成分、(C)成分及び(D)成分を含む。樹脂組成物は、(A)成分としてビスフェノールA型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂、グリシジルエステル型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、及びジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂からなる群から選択される1種以上を、(D)成分としてシリカを、それぞれ含むことが好ましい。特に優れた硬化潜在性を実現する観点から、本発明の樹脂組成物は、(A)成分としてビスフェノールA型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂、グリシジルエステル型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、及びジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂からなる群から選択される1種以上を、(B)成分としてカルボン酸化合物とフェノール化合物及び/又はナフトール化合物とから得られる活性エステル硬化剤を、(C)成分として4位にシアノ基若しくはカルボニル基を有するピリジン及び/又は1位に置換基を有していてもよいフェニル基、カルボニル基若しくはスルホニル基を有するイミダゾールを含む硬化促進剤を、(D)成分としてシリカを、それぞれ含むことが好ましい。   In one Embodiment, the resin composition of this invention contains the above-mentioned (A) component, (B) component, (C) component, and (D) component. The resin composition is selected from the group consisting of bisphenol A type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, naphthylene ether type epoxy resin, glycidyl ester type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, and dicyclopentadiene type epoxy resin as component (A). It is preferable that one or more selected components each contain silica as component (D). From the standpoint of realizing particularly excellent curing potential, the resin composition of the present invention comprises bisphenol A type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, naphthylene ether type epoxy resin, glycidyl ester type epoxy resin, biphenyl as component (A). An active ester curing agent obtained from a carboxylic acid compound and a phenol compound and / or a naphthol compound as a component (B), using at least one selected from the group consisting of a type epoxy resin and a dicyclopentadiene type epoxy resin ( (C) a curing accelerator containing a pyridine having a cyano group or a carbonyl group at the 4-position and / or an imidazole having a phenyl group, a carbonyl group or a sulfonyl group optionally having a substituent at the 1-position (D) It is preferable that silica is included as a component.

<(E)成分>
本発明の樹脂組成物は、必要に応じて、さらに(E)熱可塑性樹脂を含んでもよい。
<(E) component>
The resin composition of the present invention may further contain (E) a thermoplastic resin, if necessary.

熱可塑性樹脂としては、例えば、フェノキシ樹脂、ポリビニルアセタール樹脂、ポリオレフィン樹脂、ポリブタジエン樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリエーテルスルホン樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、及びポリスルホン樹脂等が挙げられる。熱可塑性樹脂は1種単独で用いてもよく、又は2種以上を併用してもよい。   Examples of the thermoplastic resin include phenoxy resin, polyvinyl acetal resin, polyolefin resin, polybutadiene resin, polyimide resin, polyamideimide resin, polyethersulfone resin, polyphenylene ether resin, and polysulfone resin. A thermoplastic resin may be used individually by 1 type, or may use 2 or more types together.

熱可塑性樹脂のポリスチレン換算の重量平均分子量は8,000〜70,000の範囲が好ましく、10,000〜60,000の範囲がより好ましく、20,000〜60,000の範囲がさらに好ましい。熱可塑性樹脂のポリスチレン換算の重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)法で測定される。具体的には、熱可塑性樹脂のポリスチレン換算の重量平均分子量は、測定装置として(株)島津製作所製LC−9A/RID−6Aを、カラムとして昭和電工(株)製Shodex K−800P/K−804L/K−804Lを、移動相としてクロロホルム等を用いて、カラム温度40℃にて測定し、標準ポリスチレンの検量線を用いて算出することができる。   The weight average molecular weight in terms of polystyrene of the thermoplastic resin is preferably in the range of 8,000 to 70,000, more preferably in the range of 10,000 to 60,000, and still more preferably in the range of 20,000 to 60,000. The weight average molecular weight in terms of polystyrene of the thermoplastic resin is measured by a gel permeation chromatography (GPC) method. Specifically, the polystyrene-reduced weight average molecular weight of the thermoplastic resin is LC-9A / RID-6A manufactured by Shimadzu Corporation as a measuring device, and Shodex K-800P / K- manufactured by Showa Denko KK as a column. 804L / K-804L can be measured at a column temperature of 40 ° C. using chloroform or the like as a mobile phase, and can be calculated using a standard polystyrene calibration curve.

フェノキシ樹脂としては、例えば、ビスフェノールA骨格、ビスフェノールF骨格、ビスフェノールS骨格、ビスフェノールアセトフェノン骨格、ノボラック骨格、ビフェニル骨格、フルオレン骨格、ジシクロペンタジエン骨格、ノルボルネン骨格、ナフタレン骨格、アントラセン骨格、アダマンタン骨格、テルペン骨格、及びトリメチルシクロヘキサン骨格からなる群から選択される1種以上の骨格を有するフェノキシ樹脂が挙げられる。フェノキシ樹脂の末端は、フェノール性水酸基、エポキシ基等のいずれの官能基でもよい。フェノキシ樹脂は1種単独で用いてもよく、又は2種以上を併用してもよい。フェノキシ樹脂の具体例としては、三菱化学(株)製の「1256」及び「4250」(いずれもビスフェノールA骨格含有フェノキシ樹脂)、「YX8100」(ビスフェノールS骨格含有フェノキシ樹脂)、及び「YX6954」(ビスフェノールアセトフェノン骨格含有フェノキシ樹脂)が挙げられ、その他にも、東都化成(株)製の「FX280」及び「FX293」、三菱化学(株)製の「YL7553」、「YL6794」、「YL7213」、「YL7290」及び「YL7482」等が挙げられる。   Examples of the phenoxy resin include bisphenol A skeleton, bisphenol F skeleton, bisphenol S skeleton, bisphenolacetophenone skeleton, novolac skeleton, biphenyl skeleton, fluorene skeleton, dicyclopentadiene skeleton, norbornene skeleton, naphthalene skeleton, anthracene skeleton, adamantane skeleton, terpene Examples thereof include phenoxy resins having a skeleton and one or more skeletons selected from the group consisting of a trimethylcyclohexane skeleton. The terminal of the phenoxy resin may be any functional group such as a phenolic hydroxyl group or an epoxy group. A phenoxy resin may be used individually by 1 type, or may use 2 or more types together. Specific examples of the phenoxy resin include “1256” and “4250” (both bisphenol A skeleton-containing phenoxy resin), “YX8100” (bisphenol S skeleton-containing phenoxy resin), and “YX6954” (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation). In addition, “FX280” and “FX293” manufactured by Toto Kasei Co., Ltd., “YL7553”, “YL6794”, “YL7213” manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, YL7290 "," YL7482 ", etc. are mentioned.

ポリビニルアセタール樹脂の具体例としては、電気化学工業(株)製の電化ブチラール4000−2、5000−A、6000−C、6000−EP、積水化学工業(株)製のエスレックBHシリーズ、BXシリーズ、KSシリーズ、BLシリーズ、BMシリーズ等が挙げられる。   Specific examples of the polyvinyl acetal resin include: Electric Butyral 4000-2, 5000-A, 6000-C, 6000-EP manufactured by Denki Kagaku Kogyo Co., Ltd., S-Lec BH Series, BX Series manufactured by Sekisui Chemical Co., Ltd. KS series, BL series, BM series, etc. are mentioned.

ポリイミド樹脂の具体例としては、新日本理化(株)製の「リカコートSN20」及び「リカコートPN20」が挙げられる。ポリイミド樹脂の具体例としてはまた、2官能性ヒドロキシル基末端ポリブタジエン、ジイソシアネート化合物及び四塩基酸無水物を反応させて得られる線状ポリイミド(特開2006−37083号公報記載のもの)、ポリシロキサン骨格含有ポリイミド(特開2002−12667号公報及び特開2000−319386号公報等に記載のもの)等の変性ポリイミドが挙げられる。   Specific examples of the polyimide resin include “Rika Coat SN20” and “Rika Coat PN20” manufactured by Shin Nippon Rika Co., Ltd. Specific examples of the polyimide resin include linear polyimide obtained by reacting a bifunctional hydroxyl group-terminated polybutadiene, a diisocyanate compound and a tetrabasic acid anhydride (described in JP-A-2006-37083), a polysiloxane skeleton. Examples thereof include modified polyimides such as containing polyimide (described in JP-A No. 2002-12667 and JP-A No. 2000-319386).

ポリアミドイミド樹脂の具体例としては、東洋紡績(株)製の「バイロマックスHR11NN」及び「バイロマックスHR16NN」が挙げられる。ポリアミドイミド樹脂の具体例としてはまた、日立化成工業(株)製のポリシロキサン骨格含有ポリアミドイミド「KS9100」、「KS9300」等の変性ポリアミドイミドが挙げられる。   Specific examples of the polyamide-imide resin include “Bilomax HR11NN” and “Bilomax HR16NN” manufactured by Toyobo Co., Ltd. Specific examples of the polyamideimide resin also include modified polyamideimides such as polysiloxane skeleton-containing polyamideimides “KS9100” and “KS9300” manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.

ポリエーテルスルホン樹脂の具体例としては、住友化学(株)製の「PES5003P」等が挙げられる。   Specific examples of the polyethersulfone resin include “PES5003P” manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd.

ポリスルホン樹脂の具体例としては、ソルベイアドバンストポリマーズ(株)製のポリスルホン「P1700」、「P3500」等が挙げられる。   Specific examples of the polysulfone resin include polysulfone “P1700” and “P3500” manufactured by Solvay Advanced Polymers Co., Ltd.

樹脂組成物中の(E)成分の含有量は、好ましくは0.1〜20質量%、より好ましくは0.5〜10質量%である。   Content of (E) component in a resin composition becomes like this. Preferably it is 0.1-20 mass%, More preferably, it is 0.5-10 mass%.

<その他の成分>
本発明の樹脂組成物は、必要に応じて、さらに(F)活性エステル硬化剤以外の硬化剤、(G)難燃剤及び(H)ゴム粒子等の添加剤を含んでもよい。
<Other ingredients>
The resin composition of the present invention may further contain additives such as (F) a curing agent other than the active ester curing agent, (G) a flame retardant, and (H) rubber particles, if necessary.

−(F)活性エステル硬化剤以外の硬化剤−
活性エステル硬化剤以外の硬化剤としては、エポキシ樹脂を硬化する機能を有する限り特に限定されないが、例えば、フェノール系硬化剤、ナフトール系硬化剤、ベンゾオキサジン系硬化剤、及びシアネートエステル系硬化剤が挙げられる。斯かる硬化剤は1種単独で使用してもよく、又は2種以上を組み合わせて使用してもよい。
-(F) Curing agents other than active ester curing agents-
The curing agent other than the active ester curing agent is not particularly limited as long as it has a function of curing the epoxy resin. For example, a phenol-based curing agent, a naphthol-based curing agent, a benzoxazine-based curing agent, and a cyanate ester-based curing agent are included. Can be mentioned. Such a hardening | curing agent may be used individually by 1 type, or may be used in combination of 2 or more type.

フェノール系硬化剤及びナフトール系硬化剤としては、耐熱性及び耐水性の観点から、ノボラック構造を有するフェノール系硬化剤、又はノボラック構造を有するナフトール系硬化剤が好ましい。また、導体層(回路配線)との密着性の観点から、含窒素フェノール系硬化剤が好ましく、トリアジン骨格含有フェノール系硬化剤がより好ましい。中でも、耐熱性、耐水性、及び導体層との密着性(剥離強度)を高度に満足させる観点から、トリアジン骨格含有フェノールノボラック樹脂が好ましい。   As the phenol-based curing agent and the naphthol-based curing agent, a phenol-based curing agent having a novolak structure or a naphthol-based curing agent having a novolak structure is preferable from the viewpoint of heat resistance and water resistance. Moreover, from a viewpoint of adhesiveness with a conductor layer (circuit wiring), a nitrogen-containing phenol type hardening | curing agent is preferable and a triazine frame | skeleton containing phenol type hardening | curing agent is more preferable. Among these, a triazine skeleton-containing phenol novolak resin is preferable from the viewpoint of highly satisfying heat resistance, water resistance, and adhesiveness (peel strength) to the conductor layer.

フェノール系硬化剤及びナフトール系硬化剤の具体例としては、例えば、明和化成(株)製の「MEH−7700」、「MEH−7810」、「MEH−7851」、日本化薬(株)製の「NHN」、「CBN」、「GPH」、東都化成(株)製の「SN170」、「SN180」、「SN190」、「SN475」、「SN485」、「SN495」、「SN375」、「SN395」、DIC(株)製の「LA7052」、「LA7054」、「LA3018」等が挙げられる。   Specific examples of the phenol-based curing agent and the naphthol-based curing agent include, for example, “MEH-7700”, “MEH-7810”, “MEH-7785” manufactured by Meiwa Kasei Co., Ltd., and Nippon Kayaku Co., Ltd. “NHN”, “CBN”, “GPH”, “SN170”, “SN180”, “SN190”, “SN475”, “SN485”, “SN495”, “SN375”, “SN395” manufactured by Toto Kasei Co., Ltd. "LA7052", "LA7054", "LA3018", etc. manufactured by DIC Corporation.

ベンゾオキサジン系硬化剤の具体例としては、昭和高分子(株)製の「HFB2006M」、四国化成工業(株)製の「P−d」、「F−a」が挙げられる。   Specific examples of the benzoxazine-based curing agent include “HFB2006M” manufactured by Showa Polymer Co., Ltd., “Pd” and “Fa” manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd.

シアネートエステル系硬化剤としては、例えば、ビスフェノールAジシアネート、ポリフェノールシアネート(オリゴ(3−メチレン−1,5−フェニレンシアネート)、4,4’−メチレンビス(2,6−ジメチルフェニルシアネート)、4,4’−エチリデンジフェニルジシアネート、ヘキサフルオロビスフェノールAジシアネート、2,2−ビス(4−シアネート)フェニルプロパン、1,1−ビス(4−シアネートフェニルメタン)、ビス(4−シアネート−3,5−ジメチルフェニル)メタン、1,3−ビス(4−シアネートフェニル−1−(メチルエチリデン))ベンゼン、ビス(4−シアネートフェニル)チオエーテル、及びビス(4−シアネートフェニル)エーテル等の2官能シアネート樹脂、フェノールノボラック及びクレゾールノボラック等から誘導される多官能シアネート樹脂、これらシアネート樹脂が一部トリアジン化したプレポリマーなどが挙げられる。シアネートエステル系硬化剤の具体例としては、ロンザジャパン(株)製の「PT30」及び「PT60」(いずれもフェノールノボラック型多官能シアネートエステル樹脂)、「BA230」(ビスフェノールAジシアネートの一部又は全部がトリアジン化され三量体となったプレポリマー)等が挙げられる。   Examples of cyanate ester-based curing agents include bisphenol A dicyanate, polyphenol cyanate (oligo (3-methylene-1,5-phenylene cyanate), 4,4′-methylenebis (2,6-dimethylphenyl cyanate), 4,4. '-Ethylidene diphenyl dicyanate, hexafluorobisphenol A dicyanate, 2,2-bis (4-cyanate) phenylpropane, 1,1-bis (4-cyanatephenylmethane), bis (4-cyanate-3,5-dimethyl) Bifunctional cyanate resins such as phenyl) methane, 1,3-bis (4-cyanatephenyl-1- (methylethylidene)) benzene, bis (4-cyanatephenyl) thioether, and bis (4-cyanatephenyl) ether, phenol Novolac and K Examples include polyfunctional cyanate resins derived from sol novolac, prepolymers in which these cyanate resins are partly triazines, etc. Specific examples of cyanate ester curing agents include “PT30” manufactured by Lonza Japan Co., Ltd. “PT60” (both phenol novolac-type polyfunctional cyanate ester resins), “BA230” (prepolymer in which a part or all of bisphenol A dicyanate is triazine-modified), and the like.

本発明の樹脂組成物が(F)成分を含む場合、良好な硬化潜在性を得る観点から、(B)成分の反応基の合計数に対する(F)成分の反応基の合計数の比率([(F)成分の反応基の合計数]/[(B)成分の反応基の合計数])は、好ましくは1以下、より好ましくは0.8以下、さらに好ましくは0.6以下、さらにより好ましくは0.5以下、特に好ましくは0.4以下である。   When the resin composition of the present invention contains the component (F), the ratio of the total number of reactive groups in the component (F) to the total number of reactive groups in the component (B) ([ (F) Total number of reactive groups in component] / [Total number of reactive groups in component (B)]) is preferably 1 or less, more preferably 0.8 or less, even more preferably 0.6 or less, and even more. Preferably it is 0.5 or less, particularly preferably 0.4 or less.

−(G)難燃剤−
難燃剤としては、例えば、有機リン系難燃剤、有機系窒素含有リン化合物、窒素化合物、シリコーン系難燃剤、金属水酸化物等が挙げられる。難燃剤は、1種単独で使用してもよく、2種以上を組み合わせて使用してもよい。樹脂組成物層中の(G)成分の含有量は特に限定されないが、0.5〜10質量%が好ましく、1〜9質量%がより好ましい。
-(G) Flame retardant-
Examples of the flame retardant include an organic phosphorus flame retardant, an organic nitrogen-containing phosphorus compound, a nitrogen compound, a silicone flame retardant, and a metal hydroxide. A flame retardant may be used individually by 1 type and may be used in combination of 2 or more type. Although content of (G) component in a resin composition layer is not specifically limited, 0.5-10 mass% is preferable and 1-9 mass% is more preferable.

−(H)ゴム粒子−
ゴム粒子としては、例えば、後述する有機溶剤に溶解せず、上述の(A)成分及び(B)成分(含む場合は(E)成分及び(F)成分)などとも相溶しないものが使用される。このようなゴム粒子は、一般には、ゴム成分の分子量を有機溶剤や樹脂に溶解しないレベルまで大きくし、粒子状とすることで調製される。
-(H) Rubber particles-
As the rubber particles, for example, those that do not dissolve in the organic solvent described later, and are incompatible with the above-described components (A) and (B) (when included, the components (E) and (F)) are used. The Such rubber particles are generally prepared by increasing the molecular weight of the rubber component to a level at which it does not dissolve in an organic solvent or resin and making it into particles.

ゴム粒子としては、例えば、コアシェル型ゴム粒子、架橋アクリロニトリルブタジエンゴム粒子、架橋スチレンブタジエンゴム粒子、アクリルゴム粒子などが挙げられる。コアシェル型ゴム粒子は、コア層とシェル層とを有するゴム粒子であり、例えば、外層のシェル層がガラス状ポリマーで構成され、内層のコア層がゴム状ポリマーで構成される2層構造、又は外層のシェル層がガラス状ポリマーで構成され、中間層がゴム状ポリマーで構成され、コア層がガラス状ポリマーで構成される3層構造のものなどが挙げられる。ガラス状ポリマー層は、例えば、メチルメタクリレート重合物などで構成され、ゴム状ポリマー層は、例えば、ブチルアクリレート重合物(ブチルゴム)などで構成される。ゴム粒子は1種単独で用いてもよく、又は2種以上を併用してもよい。   Examples of the rubber particles include core-shell type rubber particles, cross-linked acrylonitrile butadiene rubber particles, cross-linked styrene butadiene rubber particles, and acrylic rubber particles. The core-shell type rubber particles are rubber particles having a core layer and a shell layer. For example, a two-layer structure in which an outer shell layer is made of a glassy polymer and an inner core layer is made of a rubbery polymer, or Examples include a three-layer structure in which the outer shell layer is made of a glassy polymer, the intermediate layer is made of a rubbery polymer, and the core layer is made of a glassy polymer. The glassy polymer layer is made of, for example, methyl methacrylate polymer, and the rubbery polymer layer is made of, for example, butyl acrylate polymer (butyl rubber). A rubber particle may be used individually by 1 type, or may use 2 or more types together.

ゴム粒子の平均粒径は、好ましくは0.005μm〜1μmの範囲であり、より好ましくは0.2μm〜0.6μmの範囲である。ゴム粒子の平均粒径は、動的光散乱法を用いて測定することができる。例えば、適当な有機溶剤にゴム粒子を超音波などにより均一に分散させ、濃厚系粒径アナライザー(FPAR−1000;大塚電子(株)製)を用いて、ゴム粒子の粒度分布を質量基準で作成し、そのメディアン径を平均粒径とすることで測定することができる。   The average particle size of the rubber particles is preferably in the range of 0.005 μm to 1 μm, more preferably in the range of 0.2 μm to 0.6 μm. The average particle diameter of the rubber particles can be measured using a dynamic light scattering method. For example, rubber particles are uniformly dispersed in an appropriate organic solvent by ultrasonic waves, etc., and a particle size distribution of rubber particles is created on a mass basis using a concentrated particle size analyzer (FPAR-1000; manufactured by Otsuka Electronics Co., Ltd.). And it can measure by making the median diameter into an average particle diameter.

樹脂組成物中の(H)成分の含有量は、好ましくは1〜10質量%、より好ましくは2〜5質量%である。   The content of the component (H) in the resin composition is preferably 1 to 10% by mass, more preferably 2 to 5% by mass.

本発明の樹脂組成物は、必要に応じて、他の添加剤を含んでいてもよく、斯かる他の添加剤としては、例えば、有機銅化合物、有機亜鉛化合物及び有機コバルト化合物等の有機金属化合物、並びに有機フィラー、増粘剤、消泡剤、レベリング剤、密着性付与剤、及び着色剤等の樹脂添加剤等が挙げられる。   The resin composition of the present invention may contain other additives as necessary. Examples of such other additives include organic metals such as organic copper compounds, organic zinc compounds, and organic cobalt compounds. Examples include compounds and resin additives such as organic fillers, thickeners, antifoaming agents, leveling agents, adhesion-imparting agents, and coloring agents.

本発明の樹脂組成物は、多層プリント配線板の絶縁層を形成するための樹脂組成物(多層プリント配線板の絶縁層用樹脂組成物)として好適に使用することができる。本発明の樹脂組成物は硬化潜在性に優れることから、多層プリント配線板の製造に際し所期の回路埋め込み性を実現し得る。中でも、ビルドアップ方式による多層プリント配線板の製造において、絶縁層を形成するための樹脂組成物(多層プリント配線板のビルドアップ絶縁層用樹脂組成物)として好適に使用することができ、その上にメッキにより導体層が形成される絶縁層を形成するための樹脂組成物(メッキにより導体層を形成する多層プリント配線板のビルドアップ絶縁層用樹脂組成物)としてさらに好適に使用することができる。また、本発明の樹脂組成物は、所期の流動性及び部品埋め込み性を実現し得ることから、多層プリント配線板が部品内蔵回路板である場合にも好適に使用することができる。すなわち、本発明の樹脂組成物は、部品内蔵回路板の部品を埋め込むための樹脂組成物(部品埋め込み用樹脂組成物)として好適に使用することができる。   The resin composition of the present invention can be suitably used as a resin composition (resin composition for an insulating layer of a multilayer printed wiring board) for forming an insulating layer of a multilayer printed wiring board. Since the resin composition of the present invention is excellent in curing latency, the desired circuit embedding property can be realized in the production of a multilayer printed wiring board. Among them, in the production of multilayer printed wiring boards by the build-up method, it can be suitably used as a resin composition for forming an insulating layer (resin composition for build-up insulating layers of multilayer printed wiring boards). It can be more suitably used as a resin composition for forming an insulating layer in which a conductor layer is formed by plating (a resin composition for a build-up insulating layer of a multilayer printed wiring board in which a conductor layer is formed by plating). . In addition, since the resin composition of the present invention can realize the desired fluidity and component embedding property, it can be suitably used even when the multilayer printed wiring board is a component built-in circuit board. That is, the resin composition of the present invention can be suitably used as a resin composition for embedding components on a component-embedded circuit board (resin composition for embedding components).

[シート状積層材料]
本発明の樹脂組成物は、ワニス状態で塗布して各種用途に使用することもできるが、工業的には一般に、該樹脂組成物の層を含むシート状積層材料の形態で用いることが好適である。
[Sheet laminated material]
The resin composition of the present invention can be applied in a varnish state and used for various applications, but industrially, it is generally preferable to use it in the form of a sheet-like laminated material including a layer of the resin composition. is there.

シート状積層材料としては、以下に示す接着フィルム、プリプレグが好ましい。   As the sheet-like laminated material, the following adhesive films and prepregs are preferable.

一実施形態において、接着フィルムは、支持体と、該支持体と接合している樹脂組成物層(接着層)とを含んでなり、樹脂組成物層(接着層)が本発明の樹脂組成物から形成される。   In one embodiment, the adhesive film includes a support and a resin composition layer (adhesive layer) bonded to the support, and the resin composition layer (adhesive layer) is the resin composition of the present invention. Formed from.

樹脂組成物層の厚さは、用途によっても異なるが、多層プリント配線板の絶縁層として使用する場合、好ましくは100μm以下、より好ましくは80μm以下、さらに好ましくは60μm以下、さらにより好ましくは50μm以下である。樹脂組成物層の厚さの下限は、用途によっても異なるが、多層プリント配線板の絶縁層として使用する場合、通常、10μm以上である。   The thickness of the resin composition layer varies depending on the use, but when used as an insulating layer of a multilayer printed wiring board, it is preferably 100 μm or less, more preferably 80 μm or less, still more preferably 60 μm or less, and even more preferably 50 μm or less. It is. Although the minimum of the thickness of a resin composition layer changes with uses, when using as an insulating layer of a multilayer printed wiring board, it is 10 micrometers or more normally.

支持体としては、プラスチック材料からなるフィルムが好適に用いられる。プラスチック材料としては、例えば、ポリエチレンテレフタレート(以下、「PET」と略称することがある。)、ポリエチレンナフタレート(以下、「PEN」と略称することがある。)等のポリエステル、ポリカーボネート(以下、「PC」と略称することがある。)、ポリメチルメタクリレート(PMMA)等のアクリル、環状ポリオレフィン、トリアセチルセルロース(TAC)、ポリエーテルサルファイド(PES)、ポリエーテルケトン、ポリイミドなどが挙げられる。中でも、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレートが好ましく、安価なポリエチレンテレフタレートが特に好ましい。好適な一実施形態において、支持体は、ポリエチレンテレフタレートフィルムである。   A film made of a plastic material is preferably used as the support. Examples of the plastic material include polyesters such as polyethylene terephthalate (hereinafter sometimes abbreviated as “PET”) and polyethylene naphthalate (hereinafter sometimes abbreviated as “PEN”), polycarbonate (hereinafter referred to as “PET”). PC ”), acrylic such as polymethyl methacrylate (PMMA), cyclic polyolefin, triacetyl cellulose (TAC), polyether sulfide (PES), polyether ketone, polyimide and the like. Among these, polyethylene terephthalate and polyethylene naphthalate are preferable, and inexpensive polyethylene terephthalate is particularly preferable. In a preferred embodiment, the support is a polyethylene terephthalate film.

支持体は、樹脂組成物層と接合する側の表面にマット処理、コロナ処理を施してあってもよい。また、支持体としては、樹脂組成物層と接合する側の表面に離型層を有する離型層付き支持体を使用してもよい。   The support may be subjected to a mat treatment or a corona treatment on the surface to be joined to the resin composition layer. Further, as the support, a support with a release layer having a release layer on the surface to be bonded to the resin composition layer may be used.

支持体の厚さは、特に限定されないが、5〜75μmの範囲が好ましく、10〜60μmの範囲がより好ましい。なお、支持体が離型層付き支持体である場合、離型層付き支持体全体の厚みが上記範囲であることが好ましい。   Although the thickness of a support body is not specifically limited, The range of 5-75 micrometers is preferable and the range of 10-60 micrometers is more preferable. In addition, when a support body is a support body with a release layer, it is preferable that the thickness of the whole support body with a release layer is the said range.

接着フィルムは、例えば、有機溶剤に樹脂組成物を溶解した樹脂ワニスを調製し、この樹脂ワニスを、ダイコーターなどを用いて支持体上に塗布し、更に有機溶剤を乾燥させて樹脂組成物層を形成させることにより製造することができる。   The adhesive film is prepared, for example, by preparing a resin varnish in which a resin composition is dissolved in an organic solvent, applying the resin varnish on a support using a die coater, and drying the organic solvent. Can be produced.

有機溶剤としては、例えば、アセトン、メチルエチルケトン(MEK)及びシクロヘキサノン等のケトン類、酢酸エチル、酢酸ブチル、セロソルブアセテート、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート及びカルビトールアセテート等の酢酸エステル類、セロソルブ及びブチルカルビトール等のカルビトール類、トルエン及びキシレン等の芳香族炭化水素類、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド(DMAc)及びN−メチルピロリドン等のアミド系溶媒等を挙げることができる。有機溶剤は1種単独で使用してもよく、2種以上を組み合わせて使用してもよい。   Examples of the organic solvent include ketones such as acetone, methyl ethyl ketone (MEK) and cyclohexanone, acetates such as ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate and carbitol acetate, cellosolve and butyl carbitol, etc. Carbitols, aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene, amide solvents such as dimethylformamide, dimethylacetamide (DMAc), and N-methylpyrrolidone. An organic solvent may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

乾燥は、加熱、熱風吹きつけ等の公知の方法により実施してよい。乾燥条件は特に限定されないが、樹脂組成物層中の有機溶剤の含有量が10質量%以下、好ましくは5質量%以下となるように乾燥させる。樹脂ワニス中の有機溶剤の沸点によっても異なるが、例えば30質量%〜60質量%の有機溶剤を含む樹脂ワニスを用いる場合、50〜150℃で3〜10分間乾燥させることにより、樹脂組成物層を形成することができる。   Drying may be performed by a known method such as heating or hot air blowing. The drying conditions are not particularly limited, but the drying is performed so that the content of the organic solvent in the resin composition layer is 10% by mass or less, preferably 5% by mass or less. Depending on the boiling point of the organic solvent in the resin varnish, for example, when a resin varnish containing 30% by mass to 60% by mass of the organic solvent is used, the resin composition layer is dried at 50 to 150 ° C. for 3 to 10 minutes. Can be formed.

接着フィルムにおいて、樹脂組成物層の支持体と接合していない面(即ち、支持体とは反対側の面)には、支持体に準じた保護フィルムをさらに積層することができる。保護フィルムの厚さは、特に限定されるものではないが、例えば、1μm〜40μmである。保護フィルムを積層することにより、樹脂組成物層の表面へのゴミ等の付着やキズを防止することができる。接着フィルムは、ロール状に巻きとって保管することが可能である。接着フィルムが保護フィルムを有する場合、保護フィルムを剥がすことによって使用可能となる。   In the adhesive film, a protective film according to the support can be further laminated on the surface of the resin composition layer that is not joined to the support (that is, the surface opposite to the support). Although the thickness of a protective film is not specifically limited, For example, they are 1 micrometer-40 micrometers. By laminating the protective film, it is possible to prevent dust and the like from being attached to the surface of the resin composition layer and scratches. The adhesive film can be stored in a roll shape. When an adhesive film has a protective film, it can be used by peeling off the protective film.

一実施形態において、プリプレグは、シート状繊維基材に本発明の樹脂組成物を含浸させて形成される。   In one embodiment, the prepreg is formed by impregnating the sheet-like fiber base material with the resin composition of the present invention.

プリプレグに用いるシート状繊維基材は特に限定されず、ガラスクロス、アラミド不織布、液晶ポリマー不織布等のプリプレグ用基材として常用されているものを用いることができる。多層プリント配線板の絶縁層の形成に用いる場合には、厚さが50μm以下の薄型のシート状繊維基材が好適に用いられ、特に厚さが10μm〜40μmのシート状繊維基材が好ましく、10μm〜30μmのシート状繊維基材がより好ましく、10〜20μmのシート状繊維基材が更に好ましい。   The sheet-like fiber base material used for a prepreg is not specifically limited, What is used normally as base materials for prepregs, such as a glass cloth, an aramid nonwoven fabric, a liquid crystal polymer nonwoven fabric, can be used. When used for forming an insulating layer of a multilayer printed wiring board, a thin sheet-like fiber substrate having a thickness of 50 μm or less is preferably used, and particularly a sheet-like fiber substrate having a thickness of 10 μm to 40 μm is preferable. A sheet-like fiber substrate of 10 μm to 30 μm is more preferable, and a sheet-like fiber substrate of 10 to 20 μm is more preferable.

プリプレグは、ホットメルト法、ソルベント法等の公知の方法により製造することができる。   The prepreg can be produced by a known method such as a hot melt method or a solvent method.

プリプレグの厚さは、上述の接着フィルムにおける樹脂組成物層と同様の範囲とし得る。   The thickness of the prepreg can be in the same range as the resin composition layer in the adhesive film described above.

シート状積層材料において、樹脂組成物層の最低溶融粘度は、多層プリント配線板の具体的な設計(内層回路基板の回路厚さ、ライン/スペース比、部品内蔵回路板の製造に際しては部品収容のためのキャビティ寸法等)に応じて、良好な回路埋め込み性、部品埋め込み性を達成するための最適値が異なる。よって、シート状積層材料を製造するにあたっては、樹脂組成物層が所期の最低溶融粘度を示すように設計する。しかしながら、硬化促進剤を含む従来の樹脂組成物を使用したシート状積層材料に関しては、保管時に徐々に樹脂組成物の硬化が進み粘度が増す場合があり、多層プリント配線板の製造に使用する際には所期の値よりも著しく高い最低溶融粘度を示す場合があった。   In the sheet-like laminated material, the minimum melt viscosity of the resin composition layer is determined based on the specific design of the multilayer printed wiring board (the circuit thickness of the inner layer circuit board, the line / space ratio, The optimum values for achieving good circuit embeddability and component embeddability differ depending on the cavity size and the like. Therefore, when manufacturing a sheet-like laminated material, it designs so that a resin composition layer may show desired minimum melt viscosity. However, with regard to a sheet-like laminated material using a conventional resin composition containing a curing accelerator, the viscosity of the resin composition may gradually increase during storage, and the viscosity may increase. Sometimes had a minimum melt viscosity significantly higher than the expected value.

これに対し、本発明の樹脂組成物の層を含むシート状積層材料は、保管時の樹脂組成物の硬化の進行が抑制され、所期の最低溶融粘度を有利に保つことができる。一実施形態において、本発明のシート状積層材料は、その製造直後の樹脂組成物層の最低溶融粘度をV(ポイズ)とし、室温(25℃)にて7日間保管した後の樹脂組成物層の最低溶融粘度をV(ポイズ)とするとき、V/Vの比(以下、「増粘倍率」ともいう。)は、好ましくは2以下、より好ましくは1.8以下、さらに好ましくは1.6以下、さらにより好ましくは1.5以下、特に好ましくは1.4以下、1.3以下又は1.2以下である。増粘倍率の下限は好ましくは1である。 On the other hand, in the sheet-like laminated material including the resin composition layer of the present invention, the progress of curing of the resin composition during storage is suppressed, and the desired minimum melt viscosity can be advantageously maintained. In one embodiment, the sheet-shaped laminated material of the present invention is a resin composition after the minimum melt viscosity of the resin composition layer immediately after its manufacture is V 1 (poise) and stored at room temperature (25 ° C.) for 7 days. When the minimum melt viscosity of the layer is V 2 (poise), the ratio of V 2 / V 1 (hereinafter also referred to as “thickening ratio”) is preferably 2 or less, more preferably 1.8 or less, Preferably it is 1.6 or less, More preferably, it is 1.5 or less, Especially preferably, it is 1.4 or less, 1.3 or less or 1.2 or less. The lower limit of the thickening factor is preferably 1.

ここで、樹脂組成物層の「最低溶融粘度」とは、樹脂組成物層の樹脂が溶融した際に樹脂組成物層が呈する最低の粘度をいう。詳細には、一定の昇温速度で樹脂組成物層を加熱して樹脂を溶融させると、初期の段階は溶融粘度が温度上昇とともに低下し、その後、ある温度を超えると温度上昇とともに溶融粘度が上昇する。「最低溶融粘度」とは、斯かる極小点の溶融粘度をいう。樹脂組成物層の最低溶融粘度は、動的粘弾性法により測定することができる。具体的には、樹脂組成物層の最低溶融粘度は、測定開始温度60℃、昇温速度5℃/分、振動数1Hz、ひずみ1degの条件で動的粘弾性測定を行うことにより得ることができる。動的粘弾性測定装置としては、例えば、(株)ユー・ビー・エム社製の「Rheosol−G3000」が挙げられる。   Here, the “minimum melt viscosity” of the resin composition layer refers to the lowest viscosity exhibited by the resin composition layer when the resin of the resin composition layer is melted. Specifically, when the resin composition layer is heated at a constant temperature increase rate to melt the resin, the initial stage of the melt viscosity decreases with increasing temperature, and then, when the temperature exceeds a certain temperature, the melt viscosity decreases with increasing temperature. To rise. “Minimum melt viscosity” refers to the melt viscosity at such a minimum point. The minimum melt viscosity of the resin composition layer can be measured by a dynamic viscoelastic method. Specifically, the minimum melt viscosity of the resin composition layer can be obtained by performing dynamic viscoelasticity measurement under the conditions of a measurement start temperature of 60 ° C., a temperature increase rate of 5 ° C./min, a frequency of 1 Hz, and a strain of 1 deg. it can. Examples of the dynamic viscoelasticity measuring apparatus include “Rheosol-G3000” manufactured by UBM Co., Ltd.

[硬化物]
本発明の硬化物は、本発明の樹脂組成物を熱硬化して得られる。
[Cured product]
The cured product of the present invention is obtained by thermosetting the resin composition of the present invention.

樹脂組成物の熱硬化条件は特に限定されず、例えば、多層プリント配線板の絶縁層を形成するに際して通常採用される条件を使用してよい。   The thermosetting conditions for the resin composition are not particularly limited, and for example, the conditions normally employed when forming the insulating layer of the multilayer printed wiring board may be used.

例えば、樹脂組成物の熱硬化条件は、樹脂組成物の組成等によっても異なるが、硬化温度は120℃〜240℃の範囲(好ましくは150℃〜210℃の範囲、より好ましくは170℃〜190℃の範囲)、硬化時間は5分間〜90分間の範囲(好ましくは10分間〜75分間、より好ましくは15分間〜60分間)とすることができる。   For example, although the thermosetting conditions of the resin composition vary depending on the composition of the resin composition, the curing temperature is in the range of 120 ° C to 240 ° C (preferably in the range of 150 ° C to 210 ° C, more preferably in the range of 170 ° C to 190 ° C. C.) and the curing time can be in the range of 5 minutes to 90 minutes (preferably 10 minutes to 75 minutes, more preferably 15 minutes to 60 minutes).

樹脂組成物を熱硬化させる前に、樹脂組成物を硬化温度よりも低い温度にて予備加熱してもよい。例えば、樹脂組成物を熱硬化させるのに先立ち、50℃以上120℃未満(好ましくは60℃以上110℃以下、より好ましくは70℃以上100℃以下)の温度にて、樹脂組成物を5分間以上(好ましくは5分間〜150分間、より好ましくは15分間〜120分間)予備加熱してもよい。   Before the resin composition is thermally cured, the resin composition may be preheated at a temperature lower than the curing temperature. For example, prior to thermosetting the resin composition, the resin composition is kept at a temperature of 50 ° C. or higher and lower than 120 ° C. (preferably 60 ° C. or higher and 110 ° C. or lower, more preferably 70 ° C. or higher and 100 ° C. or lower) for 5 minutes. Preheating may be performed as described above (preferably 5 minutes to 150 minutes, more preferably 15 minutes to 120 minutes).

先述のとおり、本発明の樹脂組成物は、保管時には硬化の進行が抑制されるが、熱硬化時には速やかに硬化して所期の特性を有する硬化物をもたらす。詳細には、本発明の硬化物は、高いガラス転移温度(Tg)を示すことができる。例えば、本発明の硬化物は、好ましくは100℃以上、より好ましくは120℃以上、さらに好ましくは140℃以上、さらにより好ましくは160℃以上、特に好ましくは165℃以上、170℃以上、175℃以上、180℃以上又は185℃以上のTgを示すことができる。本発明の硬化物のTgの上限は特に制限されないが、通常、250℃以下である。したがって、一実施形態において、本発明の硬化物のTgは100℃〜250℃である。
硬化物のTgは、例えば、熱機械分析等の公知の方法により測定することができる。熱機械分析装置としては、例えば、(株)リガク製の「Thermo Plus TMA8310」が挙げられる。
As described above, the resin composition of the present invention suppresses the progress of curing during storage, but quickly cures during thermal curing, resulting in a cured product having the desired characteristics. Specifically, the cured product of the present invention can exhibit a high glass transition temperature (Tg). For example, the cured product of the present invention is preferably 100 ° C or higher, more preferably 120 ° C or higher, still more preferably 140 ° C or higher, even more preferably 160 ° C or higher, particularly preferably 165 ° C or higher, 170 ° C or higher, 175 ° C. As described above, Tg of 180 ° C. or higher or 185 ° C. or higher can be shown. Although the upper limit of Tg of the hardened | cured material of this invention is not restrict | limited in particular, Usually, it is 250 degrees C or less. Therefore, in one Embodiment, Tg of the hardened | cured material of this invention is 100 to 250 degreeC.
The Tg of the cured product can be measured by a known method such as thermomechanical analysis. Examples of the thermomechanical analyzer include “Thermo Plus TMA8310” manufactured by Rigaku Corporation.

本発明の硬化物はまた、低い線熱膨張係数を示すことができる。例えば、本発明の硬化物は、好ましくは25ppm以下、より好ましくは20ppm以下、さらに好ましくは20ppm未満、さらにより好ましくは18ppm以下、特に好ましくは17ppm以下、16ppm以下、15ppm以下、14ppm以下又は13ppm以下の線熱膨張係数を示すことができる。硬化物の線熱膨張係数の下限は特に制限されないが、通常、1ppm以上である。
硬化物の線熱膨張係数は、例えば、熱機械分析等の公知の方法により測定することができる。熱機械分析装置としては、例えば、(株)リガク製の「Thermo Plus TMA8310」が挙げられる。本発明において、硬化物の線熱膨張係数は、引張加重法で熱機械分析を行った際の、平面方向の25〜150℃の線熱膨張係数である。
The cured product of the present invention can also exhibit a low coefficient of linear thermal expansion. For example, the cured product of the present invention is preferably 25 ppm or less, more preferably 20 ppm or less, even more preferably less than 20 ppm, even more preferably 18 ppm or less, particularly preferably 17 ppm or less, 16 ppm or less, 15 ppm or less, 14 ppm or less, or 13 ppm or less. The linear thermal expansion coefficient can be shown. Although the minimum of the linear thermal expansion coefficient of hardened | cured material is not restrict | limited in particular, Usually, it is 1 ppm or more.
The linear thermal expansion coefficient of the cured product can be measured by a known method such as thermomechanical analysis. Examples of the thermomechanical analyzer include “Thermo Plus TMA8310” manufactured by Rigaku Corporation. In this invention, the linear thermal expansion coefficient of hardened | cured material is a linear thermal expansion coefficient of 25-150 degreeC of a plane direction at the time of performing a thermomechanical analysis by the tension load method.

本発明の硬化物は、その表面を粗化処理した後に、メッキにより導体層を形成することができる。本発明の硬化物に関しては、粗化処理後の硬化物表面にメッキにより導体層を形成したとき、該硬化物表面と該導体層とのピール強度が、好ましくは0.25kgf/cm以上、より好ましくは0.3kgf/cm以上、さらに好ましくは0.35kgf/cm以上、さらにより好ましくは0.4kgf/cm以上、特に好ましくは0.45kgf/cm以上、0.5kgf/cm以上、0.55kgf/cm以上又は0.6kgf/cm以上である。該ピール強度の上限は特に制限されないが、通常、1.0kgf/cm以下、0.8kgf/cm以下などとなる。したがって、一実施形態において、粗化処理後の硬化物表面にメッキにより導体層を形成したとき、該硬化物表面と該導体層とのピール強度は0.25〜0.8kgf/cmである。なお、硬化物表面と導体層とのピール強度とは、導体層を硬化物表面に対して垂直方向(90度方向)に引き剥がしたときのピール強度(90度ピール強度)をいい、導体層を硬化物表面に対して垂直方向(90度方向)に引き剥がしたときのピール強度を引っ張り試験機で測定することにより求めることができる。引っ張り試験機としては、例えば、(株)TSE製の「AC−50C−SL」等が挙げられる。
粗化処理の手順及び導体層の詳細については後述することとする。
The hardened | cured material of this invention can form a conductor layer by plating, after roughening the surface. Regarding the cured product of the present invention, when a conductor layer is formed by plating on the surface of the cured product after the roughening treatment, the peel strength between the cured product surface and the conductor layer is preferably 0.25 kgf / cm or more. Preferably 0.3 kgf / cm or more, more preferably 0.35 kgf / cm or more, even more preferably 0.4 kgf / cm or more, particularly preferably 0.45 kgf / cm or more, 0.5 kgf / cm or more, 0.55 kgf / Cm or more or 0.6 kgf / cm or more. The upper limit of the peel strength is not particularly limited, but is usually 1.0 kgf / cm or less, 0.8 kgf / cm or less, and the like. Therefore, in one embodiment, when a conductor layer is formed by plating on the surface of the cured product after the roughening treatment, the peel strength between the surface of the cured product and the conductor layer is 0.25 to 0.8 kgf / cm. The peel strength between the cured product surface and the conductor layer refers to the peel strength (90-degree peel strength) when the conductor layer is peeled in the direction perpendicular to the cured product surface (90-degree direction). Can be determined by measuring the peel strength when peeled in the direction perpendicular to the surface of the cured product (90-degree direction) with a tensile tester. Examples of the tensile tester include “AC-50C-SL” manufactured by TSE Corporation.
Details of the roughening process and the conductor layer will be described later.

[多層プリント配線板]
本発明の多層プリント配線板は、本発明の硬化物により形成された絶縁層を含む。
[Multilayer printed wiring board]
The multilayer printed wiring board of this invention contains the insulating layer formed with the hardened | cured material of this invention.

一実施形態において、本発明の多層プリント配線板は、上述の接着フィルムを用いて、下記(I)乃至(IV)の工程を含む方法により製造することができる。
(I)内層回路基板上に、接着フィルムを、該接着フィルムの樹脂組成物層が基板と接合するように積層する工程
(II)接着フィルムの樹脂組成物層を熱硬化して硬化物を形成する工程
(III)硬化物の表面を粗化処理する工程
(IV)硬化物の粗化面に導体層を形成する工程
In one embodiment, the multilayer printed wiring board of the present invention can be produced by the method including the following steps (I) to (IV) using the above-mentioned adhesive film.
(I) Step of laminating an adhesive film on the inner circuit board so that the resin composition layer of the adhesive film is bonded to the substrate (II) Forming a cured product by thermosetting the resin composition layer of the adhesive film (III) Step of roughening the surface of the cured product (IV) Step of forming a conductor layer on the roughened surface of the cured product

工程(I)で用いる「内層回路基板」とは、ガラスエポキシ基板、金属基板、ポリエステル基板、ポリイミド基板、BTレジン基板、熱硬化型ポリフェニレンエーテル基板、ガラス基板等の基板の片面又は両面にパターン加工された導体層(回路)を有し、多層プリント配線板を製造する際に、さらに絶縁層及び導体層が形成されるべき中間製造物をいう。   “Inner layer circuit board” used in step (I) is a glass epoxy board, metal board, polyester board, polyimide board, BT resin board, thermosetting polyphenylene ether board, pattern processing on one or both sides of the board. This means an intermediate product having a conductive layer (circuit) that is to be further formed with an insulating layer and a conductive layer when a multilayer printed wiring board is manufactured.

工程(I)における接着フィルムと内層回路基板との積層は、ロール圧着やプレス圧着等で、接着フィルムの樹脂組成物層が内層回路基板と接合するようにラミネート処理することが好ましい。中でも、減圧下でラミネートする真空ラミネート法がより好ましい。ラミネートの方法は、バッチ式でも連続式であってもよい。   The lamination of the adhesive film and the inner layer circuit board in the step (I) is preferably performed by roll pressing, press pressing, or the like so that the resin composition layer of the adhesive film is bonded to the inner layer circuit board. Among these, a vacuum laminating method of laminating under reduced pressure is more preferable. The laminating method may be a batch type or a continuous type.

ラミネート処理は、一般に、圧着圧力を1kgf/cm〜11kgf/cm(0.098MPa〜1.078MPa)の範囲とし、圧着温度を70〜120℃の範囲とし、圧着時間を5〜180秒の範囲とし、空気圧が20mmHg(26.7hPa)以下の減圧下で実施することが好ましい。
ラミネート処理は、市販されている真空ラミネーターを用いて実施することができる。市販されている真空ラミネーターとしては、例えば、(株)名機製作所製の真空加圧式ラミネーター、ニチゴー・モートン(株)製のバキュームアップリケーター等が挙げられる。
Lamination generally crimping pressure in the range of 1kgf / cm 2 ~11kgf / cm 2 (0.098MPa~1.078MPa), the compression temperature in the range of 70 to 120 ° C., bonding time of 5 to 180 seconds It is preferable to carry out under a reduced pressure with a range of air pressure of 20 mmHg (26.7 hPa) or less.
Lamination treatment can be performed using a commercially available vacuum laminator. Examples of the commercially available vacuum laminator include a vacuum pressure laminator manufactured by Meiki Seisakusho, a vacuum applicator manufactured by Nichigo Morton, and the like.

工程(II)において、接着フィルムの樹脂組成物層を熱硬化して硬化物(絶縁層)を形成する。   In step (II), the resin composition layer of the adhesive film is thermally cured to form a cured product (insulating layer).

斯かる工程(II)の条件は、上記[硬化物]欄において説明したとおりである。なお、支持体は、該工程(II)の前(すなわち、樹脂組成物層を熱硬化させる前)に樹脂組成物層から剥離してもよいし、該工程(II)の後(すなわち、樹脂組成物層を熱硬化して硬化体を形成した後)に硬化体から剥離してもよい。   The conditions of such a process (II) are as having demonstrated in the said [hardened | cured material] column. The support may be peeled off from the resin composition layer before the step (II) (that is, before thermosetting the resin composition layer), or after the step (II) (that is, the resin). After the composition layer is thermally cured to form a cured body, it may be peeled off from the cured body.

工程(III)において、硬化物の表面を粗化処理する。   In step (III), the surface of the cured product is roughened.

粗化処理の手順、条件は特に限定されず、多層プリント配線板の絶縁層を形成するに際して通常使用される公知の手順、条件を採用することができる。例えば、膨潤液による膨潤処理、酸化剤による粗化処理、中和液による中和処理をこの順に実施して硬化物表面を粗化処理することができる。膨潤液としては特に限定されないが、アルカリ溶液、界面活性剤溶液等が挙げられ、好ましくはアルカリ溶液であり、該アルカリ溶液としては、水酸化ナトリウム溶液、水酸化カリウム溶液がより好ましい。市販されている膨潤液としては、例えば、アトテックジャパン(株)製のスウェリング・ディップ・セキュリガンスP、スウェリング・ディップ・セキュリガンスSBU等が挙げられる。膨潤液による膨潤処理は、特に限定されないが、例えば、30〜90℃の膨潤液に硬化物を1分間〜20分間浸漬することにより行うことができる。硬化物の樹脂の膨潤を適度なレベルに抑える観点から、40〜80℃の膨潤液に硬化物を5秒〜15分浸漬させることが好ましい。酸化剤としては、特に限定されないが、例えば、水酸化ナトリウムの水溶液に過マンガン酸カリウムや過マンガン酸ナトリウムを溶解したアルカリ性過マンガン酸溶液が挙げられる。アルカリ性過マンガン酸溶液等の酸化剤による粗化処理は、60℃〜80℃に加熱した酸化剤溶液に硬化物を10分間〜30分間浸漬させて行うことが好ましい。また、アルカリ性過マンガン酸溶液における過マンガン酸塩の濃度は5質量%〜10質量%が好ましい。市販されている酸化剤としては、例えば、アトテックジャパン(株)製のコンセントレート・コンパクトP、ドージングソリューション セキュリガンスP等のアルカリ性過マンガン酸溶液が挙げられる。また、中和液としては、酸性の水溶液が好ましく、市販品としては、例えば、アトテックジャパン(株)製のリダクションショリューシン・セキュリガントPが挙げられる。中和液による処理は、酸化剤溶液による粗化処理がなされた処理面を30〜80℃の中和液に5分間〜30分間浸漬させることにより行うことができる。作業性等の点から、酸化剤溶液による粗化処理がなされた対象物を、40〜70℃の中和液に5分〜20分浸漬する方法が好ましい。   The procedure and conditions for the roughening treatment are not particularly limited, and known procedures and conditions that are usually used when forming the insulating layer of the multilayer printed wiring board can be adopted. For example, the surface of the cured product can be roughened by performing a swelling treatment with a swelling liquid, a roughening treatment with an oxidizing agent, and a neutralization treatment with a neutralizing liquid in this order. Although it does not specifically limit as a swelling liquid, An alkaline solution, surfactant solution, etc. are mentioned, Preferably it is an alkaline solution, As this alkaline solution, a sodium hydroxide solution and a potassium hydroxide solution are more preferable. Examples of commercially available swelling liquids include Swelling Dip Securigans P and Swelling Dip Securigans SBU manufactured by Atotech Japan. Although the swelling process by a swelling liquid is not specifically limited, For example, it can carry out by immersing hardened | cured material in the swelling liquid of 30-90 degreeC for 1 minute-20 minutes. From the viewpoint of suppressing the swelling of the resin of the cured product to an appropriate level, it is preferable to immerse the cured product in a swelling solution at 40 to 80 ° C. for 5 seconds to 15 minutes. Although it does not specifically limit as an oxidizing agent, For example, the alkaline permanganate solution which melt | dissolved potassium permanganate and sodium permanganate in the aqueous solution of sodium hydroxide is mentioned. The roughening treatment with an oxidizing agent such as an alkaline permanganic acid solution is preferably performed by immersing the cured product in an oxidizing agent solution heated to 60 to 80 ° C. for 10 to 30 minutes. The concentration of permanganate in the alkaline permanganate solution is preferably 5% by mass to 10% by mass. Examples of commercially available oxidizing agents include alkaline permanganate solutions such as Concentrate Compact P and Dosing Solution Securigans P manufactured by Atotech Japan Co., Ltd. As the neutralizing solution, an acidic aqueous solution is preferable, and as a commercially available product, for example, Reduction Sholysin Securigant P manufactured by Atotech Japan Co., Ltd. may be mentioned. The treatment with the neutralizing solution can be performed by immersing the treated surface subjected to the roughening treatment with the oxidant solution in the neutralizing solution at 30 to 80 ° C. for 5 to 30 minutes. From the viewpoint of workability and the like, a method of immersing an object subjected to roughening treatment with an oxidant solution in a neutralizing solution at 40 to 70 ° C. for 5 to 20 minutes is preferable.

工程(IV)において、硬化物の粗化面に導体層を形成する。   In step (IV), a conductor layer is formed on the roughened surface of the cured product.

導体層に使用する導体材料は特に限定されない。好適な実施形態では、導体層は、金、白金、銀、銅、アルミニウム、コバルト、クロム、亜鉛、ニッケル、チタン、タングステン、鉄、スズ及びインジウムからなる群から選択される1種以上の金属を含む。導体層は、単金属層であっても合金層であってもよく、合金層としては、例えば、上記の群から選択される2種以上の金属の合金(例えば、ニッケル・クロム合金、銅・ニッケル合金及び銅・チタン合金)から形成された層が挙げられる。中でも、導体層形成の汎用性、コスト、パターニングの容易性等の観点から、クロム、ニッケル、チタン、アルミニウム、亜鉛、金、銀若しくは銅の単金属層、又はニッケル・クロム合金、銅・ニッケル合金、銅・チタン合金の合金層が好ましく、クロム、ニッケル、チタン、アルミニウム、亜鉛、金、銀若しくは銅の単金属層、又はニッケル・クロム合金の合金層がより好ましく、銅の単金属層が更に好ましい。   The conductor material used for the conductor layer is not particularly limited. In a preferred embodiment, the conductor layer comprises one or more metals selected from the group consisting of gold, platinum, silver, copper, aluminum, cobalt, chromium, zinc, nickel, titanium, tungsten, iron, tin, and indium. Including. The conductor layer may be a single metal layer or an alloy layer. As the alloy layer, for example, an alloy of two or more metals selected from the above group (for example, nickel-chromium alloy, copper- A layer formed from a nickel alloy and a copper / titanium alloy). Above all, from the viewpoint of versatility of conductor layer formation, cost, ease of patterning, etc., single metal layer of chromium, nickel, titanium, aluminum, zinc, gold, silver or copper, or nickel-chromium alloy, copper-nickel alloy An alloy layer of copper / titanium alloy is preferable, a single metal layer of chromium, nickel, titanium, aluminum, zinc, gold, silver or copper, or an alloy layer of nickel / chromium alloy is more preferable, and a single metal layer of copper is further preferable.

導体層は、単層構造であっても、異なる種類の金属若しくは合金からなる単金属層又は合金層が2層以上積層した複層構造であってもよい。導体層が複層構造である場合、硬化体の粗化面と接する層は、クロム、亜鉛若しくはチタンの単金属層、又はニッケル・クロム合金の合金層であることが好ましい。   The conductor layer may have a single layer structure or a multilayer structure in which two or more single metal layers or alloy layers made of different types of metals or alloys are laminated. When the conductor layer has a multilayer structure, the layer in contact with the roughened surface of the cured body is preferably a single metal layer of chromium, zinc or titanium, or an alloy layer of nickel / chromium alloy.

導体層の厚さは、所望の多層プリント配線板のデザインによるが、一般に3〜35μm、好ましくは5〜30μmである。   The thickness of the conductor layer is generally 3 to 35 μm, preferably 5 to 30 μm, although it depends on the desired multilayer printed wiring board design.

導体層は、所望の配線パターンを有する。例えば、セミアディティブ法等の従来公知の技術により、硬化物の粗化面に、所望の配線パターンを有する導体層を形成することができる。以下、導体層をセミアディティブ法により形成する例を示す。   The conductor layer has a desired wiring pattern. For example, a conductor layer having a desired wiring pattern can be formed on the roughened surface of the cured product by a conventionally known technique such as a semi-additive method. Hereinafter, an example in which the conductor layer is formed by a semi-additive method will be described.

まず、硬化物の粗化面に、無電解めっきによりめっきシード層を形成する。次いで、形成されためっきシード層上に、所望の配線パターンに対応してめっきシード層の一部を露出させるマスクパターンを形成する。露出しためっきシード層上に、電界めっきにより金属層を形成した後、マスクパターンを除去する。その後、不要なめっきシード層をエッチングなどにより除去して、所望の配線パターンを有する導体層を形成することができる。   First, a plating seed layer is formed on the roughened surface of the cured product by electroless plating. Next, a mask pattern that exposes a part of the plating seed layer corresponding to a desired wiring pattern is formed on the formed plating seed layer. A metal layer is formed by electroplating on the exposed plating seed layer, and then the mask pattern is removed. Thereafter, an unnecessary plating seed layer can be removed by etching or the like to form a conductor layer having a desired wiring pattern.

他の実施形態において、本発明の多層プリント配線板は、上述のプリプレグを用いて製造することができる。製造方法は基本的に接着フィルムを用いる場合と同様である。   In another embodiment, the multilayer printed wiring board of the present invention can be manufactured using the prepreg described above. The manufacturing method is basically the same as when an adhesive film is used.

[半導体装置]
本発明の多層プリント配線板を用いて、半導体装置を製造することができる。
[Semiconductor device]
A semiconductor device can be manufactured using the multilayer printed wiring board of the present invention.

かかる半導体装置としては、電気製品(例えば、コンピューター、携帯電話、デジタルカメラ及びテレビ等)及び乗物(例えば、自動二輪車、自動車、電車、船舶及び航空機等)等に供される各種半導体装置が挙げられる。   Examples of such semiconductor devices include various semiconductor devices used for electrical products (for example, computers, mobile phones, digital cameras, and televisions) and vehicles (for example, motorcycles, automobiles, trains, ships, and aircrafts). .

以下、本発明を実施例により具体的に説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。なお、以下の記載において、「部」及び「%」は、別途明示のない限り、それぞれ「質量部」及び「質量%」を意味する。以下において実施例8及び9は参考例である。 EXAMPLES The present invention will be specifically described below with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples. In the following description, “parts” and “%” mean “parts by mass” and “% by mass”, respectively, unless otherwise specified. In the following, Examples 8 and 9 are reference examples.

<測定方法・評価方法>
まず各種測定方法・評価方法について説明する。
<Measurement method / Evaluation method>
First, various measurement methods and evaluation methods will be described.

〔測定・評価用サンプルの調製〕
(1)内層回路基板の下地処理
内層回路を形成したガラス布基材エポキシ樹脂両面銅張積層板(銅箔の厚さ18μm、基板の厚さ0.4mm、パナソニック(株)製「R1515A」)の両面を、メック(株)製「CZ8101」に浸漬し1μmエッチングして銅表面の粗化処理をおこなった。
[Preparation of samples for measurement and evaluation]
(1) Base treatment of inner layer circuit board Glass cloth base epoxy resin double-sided copper-clad laminate with inner layer circuit (copper foil thickness 18 μm, substrate thickness 0.4 mm, “R1515A” manufactured by Panasonic Corporation) Both surfaces were immersed in “CZ8101” manufactured by Mec Co., Ltd. and etched by 1 μm to roughen the copper surface.

(2)接着フィルムのラミネート処理
実施例及び比較例で作製した接着フィルムを、バッチ式真空加圧ラミネーター(名機(株)製「MVLP-500」)を用いて、樹脂組成物層が内層回路基板と接合するように、内層回路基板の両面にラミネート処理した。ラミネート処理は、30秒間減圧して気圧を13hPa以下とした後、100℃、圧力0.74MPaで30秒間圧着することにより行った。
(2) Laminating treatment of adhesive film The adhesive film produced in the examples and comparative examples was obtained by using a batch type vacuum pressure laminator (“MVLP-500” manufactured by Meiki Co., Ltd.) and the resin composition layer was an inner layer circuit. Lamination was performed on both sides of the inner circuit board so as to be bonded to the board. The laminating process was performed by reducing the pressure for 30 seconds to a pressure of 13 hPa or less, and then pressure bonding at 100 ° C. and a pressure of 0.74 MPa for 30 seconds.

(3)樹脂組成物層の硬化
ラミネート処理された接着フィルムから支持体であるPETフィルムを剥離した。次いで、80℃にて30分間予備加熱した後、180℃にて30分間樹脂組成物層を熱硬化して、内層回路基板の両面上に硬化物(絶縁層)を形成した。
(3) Curing of resin composition layer The PET film as the support was peeled from the laminated adhesive film. Next, after preheating at 80 ° C. for 30 minutes, the resin composition layer was thermally cured at 180 ° C. for 30 minutes to form a cured product (insulating layer) on both surfaces of the inner circuit board.

(4)硬化物の粗化処理
両面上に硬化物が形成された内層回路基板を、膨潤液(アトテックジャパン(株)「スエリングディップ・セキュリガントP」、ジエチレングリコールモノブチルエーテル含有の水酸化ナトリウム水溶液)に60℃で10分間浸漬し、次いで粗化液(アトテックジャパン(株)「コンセントレート・コンパクトP」、過マンガン酸カリウム濃度約6質量%、水酸化ナトリウム濃度約4質量%の水溶液)に80℃で20分間浸漬し、最後に中和液(アトテックジャパン(株)「リダクションショリューシン・セキュリガントP」、硫酸ヒドロキシルアミン水溶液)に40℃で5分間浸漬した。次いで、80℃で30分間乾燥させた。
(4) Roughening treatment of the cured product The inner layer circuit board on which the cured product was formed on both surfaces was swollen (Atotech Japan Co., Ltd. “Swelling Dip Securigant P”, aqueous solution of sodium hydroxide containing diethylene glycol monobutyl ether) And then immersed in a roughening solution (Atotech Japan Co., Ltd. “Concentrate Compact P”, an aqueous solution having a potassium permanganate concentration of about 6% by mass and a sodium hydroxide concentration of about 4% by mass). It was immersed at 20 ° C. for 20 minutes, and finally immersed in a neutralizing solution (Atotech Japan Co., Ltd. “Reduction Sholycine Securigant P”, hydroxylamine sulfate aqueous solution) at 40 ° C. for 5 minutes. Subsequently, it was dried at 80 ° C. for 30 minutes.

(5)導体層の形成
セミアディティブ法に従って、硬化物の粗化面に導体層を形成した。
すなわち、粗化処理後の基板を、PdClを含む無電解メッキ液に40℃で5分間浸漬した後、無電解銅メッキ液に25℃で20分間浸漬した。次いで、150℃にて30分間加熱してアニール処理を行った後、エッチングレジストを形成し、エッチングによりパターン形成した。その後、硫酸銅電解メッキを行い、厚さ30μmの導体層を形成した。アニール処理を190℃にて60分間行い、評価基板を得た。
(5) Formation of conductor layer According to a semi-additive method, a conductor layer was formed on the roughened surface of the cured product.
That is, the roughened substrate was immersed in an electroless plating solution containing PdCl 2 at 40 ° C. for 5 minutes and then immersed in an electroless copper plating solution at 25 ° C. for 20 minutes. Next, after annealing at 150 ° C. for 30 minutes, an etching resist was formed, and a pattern was formed by etching. Thereafter, copper sulfate electrolytic plating was performed to form a conductor layer having a thickness of 30 μm. Annealing treatment was performed at 190 ° C. for 60 minutes to obtain an evaluation substrate.

〔硬化物表面と導体層とのピール強度の測定〕
評価基板の導体層に、幅10mm、長さ100mmの部分の切込みをいれ、この一端を剥がしてつかみ具で掴み、室温中にて、50mm/分の速度で垂直方向に35mmを引き剥がした時の荷重(kgf/cm)を測定し、ピール強度を求めた。測定には、引っ張り試験機((株)TSE製のオートコム型試験機「AC−50C−SL」)を使用した。
[Measurement of peel strength between cured product surface and conductor layer]
When the conductor layer of the evaluation board is cut into a portion with a width of 10 mm and a length of 100 mm, this one end is peeled off and grasped with a gripping tool, and 35 mm is peeled off vertically at a speed of 50 mm / min at room temperature. The load (kgf / cm) was measured to determine the peel strength. For the measurement, a tensile testing machine (Autocom type testing machine “AC-50C-SL” manufactured by TSE Co., Ltd.) was used.

〔硬化物のガラス転移温度(Tg)及び線熱膨張係数の測定〕
実施例及び比較例で作製した接着フィルムを200℃で90分間加熱して樹脂組成物層を熱硬化させた。得られた硬化物を、幅約5mm、長さ約15mmの試験片に切断し、熱機械分析装置((株)リガク製「Thermo Plus TMA8310」)を使用して、引張加重法にて熱機械分析を行った。詳細には、試験片を前記熱機械分析装置に装着した後、荷重1g、昇温速度5℃/分の測定条件にて連続して2回測定した。そして2回目の測定において、ガラス転移温度(Tg)と、25℃から150℃までの範囲における平均線熱膨張係数(ppm)を算出した。
[Measurement of glass transition temperature (Tg) and linear thermal expansion coefficient of cured product]
The adhesive films prepared in Examples and Comparative Examples were heated at 200 ° C. for 90 minutes to thermally cure the resin composition layer. The obtained cured product was cut into a test piece having a width of about 5 mm and a length of about 15 mm, and using a thermomechanical analyzer (“Thermo Plus TMA8310” manufactured by Rigaku Co., Ltd.), a thermal machine was formed by a tensile load method. Analysis was carried out. Specifically, after the test piece was mounted on the thermomechanical analyzer, the test piece was measured twice continuously under the measurement conditions of a load of 1 g and a heating rate of 5 ° C./min. In the second measurement, the glass transition temperature (Tg) and the average linear thermal expansion coefficient (ppm) in the range from 25 ° C. to 150 ° C. were calculated.

〔樹脂組成物層の溶融粘度の測定〕
実施例及び比較例で作製した接着フィルムの樹脂組成物層について、動的粘弾性測定装置((株)ユー・ビー・エム社製「Rheosol−G3000」)を使用して溶融粘度を測定した。試料樹脂組成物1gについて、直径18mmのパラレルプレートを使用して、開始温度60℃から200℃まで昇温速度5℃/分にて昇温し、測定間隔温度2.5℃、振動数1Hz、歪み1degの測定条件にて動的粘弾性率を測定し、最低溶融粘度(ポイズ)を算出した。各樹脂組成物層について、接着フィルム作製直後の初期の最低溶融粘度V(ポイズ)と、25℃で7日間保管した後の最低溶融粘度V(ポイズ)を求め、増粘倍率(V/V)を算出した。
(Measurement of melt viscosity of resin composition layer)
About the resin composition layer of the adhesive film produced in the Example and the comparative example, melt viscosity was measured using the dynamic viscoelasticity measuring apparatus ("Rhesol-G3000" by BM Corporation). About 1 g of the sample resin composition, using a parallel plate with a diameter of 18 mm, the temperature was raised from a starting temperature of 60 ° C. to 200 ° C. at a heating rate of 5 ° C./minute, a measurement interval temperature of 2.5 ° C., a frequency of 1 Hz, The dynamic viscoelastic modulus was measured under a measurement condition of 1 deg strain, and the minimum melt viscosity (poise) was calculated. For each resin composition layer, the initial minimum melt viscosity V 1 (poise) immediately after production of the adhesive film and the minimum melt viscosity V 2 (poise) after storage at 25 ° C. for 7 days were determined, and the viscosity increase ratio (V 2 / V 1 ) was calculated.

<実施例1>
ビスフェノールA型エポキシ樹脂(三菱化学(株)製「828US」、エポキシ当量約180)10部、ビフェニル型エポキシ樹脂(日本化薬(株)製「NC3000L」、エポキシ当量約269)20部、ビキシレノール型エポキシ樹脂(三菱化学(株)製「YX4000HK」、エポキシ当量約185)10部、ナフトール型エポキシ樹脂(新日鉄住金化学(株)製「ESN475V」、エポキシ当量約330)5部、及びフェノキシ樹脂(三菱化学(株)製「YL7553BH30」、固形分30質量%のMEKとシクロヘキサノンの1:1溶液)10部を、ソルベントナフサ25部に撹拌しながら加熱溶解させた。室温にまで冷却した後、そこへトリアジン骨格含有フェノールノボラック系硬化剤(DIC(株)製「LA3018−50P」、水酸基当量約151、固形分50%の2−メトキシプロパノール溶液)10部、活性エステル硬化剤(DIC(株)製「HPC8000−65T」、活性基当量約223、不揮発成分65質量%のトルエン溶液)40部、硬化促進剤(下記構造を有する4−ベンゾイルピリジン、固形分10質量%のMEK溶液)5部、アミノシラン系カップリング剤(信越化学工業(株)製「KBM573」)で表面処理された球形シリカ(平均粒径0.5μm、(株)アドマテックス製「SOC2」)225部を混合し、高速回転ミキサーで均一に分散して、樹脂ワニスを調製した。
<Example 1>
10 parts of bisphenol A type epoxy resin (Mitsubishi Chemical Corporation "828US", epoxy equivalent of about 180), biphenyl type epoxy resin (Nippon Kayaku Co., Ltd. "NC3000L", epoxy equivalent of about 269), xylenol Type epoxy resin (Mitsubishi Chemical Corporation “YX4000HK”, epoxy equivalent of about 185), naphthol type epoxy resin (Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd. “ESN475V”, epoxy equivalent of about 330), and phenoxy resin ( 10 parts of “YL7553BH30” manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, a 1: 1 solution of MEK and cyclohexanone having a solid content of 30% by mass were dissolved in 25 parts of solvent naphtha with stirring. After cooling to room temperature, 10 parts of a triazine skeleton-containing phenol novolac curing agent (“LA3018-50P” manufactured by DIC Corporation, 2-methoxypropanol solution having a hydroxyl equivalent of about 151 and a solid content of 50%), active ester Curing agent (DIC Corporation "HPC8000-65T", active group equivalent of about 223, non-volatile component 65% by weight toluene solution) 40 parts, curing accelerator (4-benzoylpyridine having the following structure, solid content 10% by weight) 5 parts, spherical silica surface treated with an aminosilane coupling agent (“KBM573” manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) (average particle size 0.5 μm, “SOC2” manufactured by Admatechs) 225 The parts were mixed and dispersed uniformly with a high-speed rotary mixer to prepare a resin varnish.

Figure 0005915610
〔ピリジン4位に結合するベンゾイル基のσ値は0.34〕
Figure 0005915610
m value of benzoyl group bonded to 4-position of pyridine is 0.34]

次いで、離型層付きPETフィルム(リンテック(株)製「AL5」、厚さ38μm)の離型層上に、乾燥後の樹脂組成物層の厚さが30μmとなるように樹脂ワニスを均一に塗布し、80〜120℃(平均100℃)で4分間乾燥させて、接着フィルムを作製した。   Next, the resin varnish is uniformly applied on the release layer of the PET film with a release layer (“AL5” manufactured by Lintec Corporation, thickness 38 μm) so that the thickness of the resin composition layer after drying is 30 μm. It apply | coated and dried at 80-120 degreeC (average 100 degreeC) for 4 minutes, and produced the adhesive film.

得られた接着フィルムを用いて、上記〔測定・評価用サンプルの調製〕の手順に従って評価基板を製造した。各評価結果を表1に示す。   Using the obtained adhesive film, an evaluation substrate was produced according to the procedure of [Preparation of measurement / evaluation sample]. Each evaluation result is shown in Table 1.

<実施例2>
ビスフェノールA型エポキシ樹脂(三菱化学(株)製「828US」、エポキシ当量約180)10部を、グリシジルエステル型エポキシ樹脂(ナガセケムテックス(株)製「EX−721」、エポキシ当量約154)10部に変更した以外は、実施例1と同様にして接着フィルムを作製し、評価基板を製造した。各評価結果を表1に示す。
<Example 2>
10 parts of bisphenol A type epoxy resin (Mitsubishi Chemical Corporation "828US", epoxy equivalent of about 180) and glycidyl ester type epoxy resin (Nagase ChemteX Corporation "EX-721", epoxy equivalent of about 154) 10 Except having changed into the part, the adhesive film was produced like Example 1 and the evaluation board | substrate was manufactured. Each evaluation result is shown in Table 1.

<実施例3>
ビフェニル型エポキシ樹脂(日本化薬(株)製「NC3000L」、エポキシ当量約269)の配合量を20部から10部に変更した点、並びにビキシレノール型エポキシ樹脂(三菱化学(株)製「YX4000HK」、エポキシ当量約185)10部及びナフトール型エポキシ樹脂(新日鉄住金化学(株)製「ESN475V」、エポキシ当量約330)5部を、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂(DIC(株)製「HP6000」、エポキシ当量約250)20部及びジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂(DIC(株)製「HP7200HH」、エポキシ当量約283)5部に変更した点以外は、実施例1と同様にして接着フィルムを作製し、評価基板を製造した。各評価結果を表1に示す。
<Example 3>
Biphenyl type epoxy resin (“NC3000L” manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., epoxy equivalent of about 269) was changed from 20 parts to 10 parts, and bixylenol type epoxy resin (“YX4000HK” manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation). ”, 10 parts of an epoxy equivalent of about 185) and 5 parts of a naphthol type epoxy resin (“ ESN475V ”manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd., epoxy equivalent of about 330) are combined with a naphthylene ether type epoxy resin (“ HP6000 ”manufactured by DIC Corporation). , Epoxy equivalent of about 250) and dicyclopentadiene type epoxy resin (DIC Corporation "HP7200HH", epoxy equivalent of about 283). The evaluation board was manufactured. Each evaluation result is shown in Table 1.

<実施例4>
活性エステル硬化剤(DIC(株)製「HPC8000−65T」、活性基当量約223、不揮発成分65質量%のトルエン溶液)40部を、活性エステル硬化剤(DIC(株)製「EXB9416−70BK」、活性基当量約330、不揮発成分70質量%のメチルイソブチルケトン溶液)40部に変更した点、及び硬化促進剤(4−ベンゾイルピリジン、固形分10質量%のMEK溶液)の配合量を5部から8部に変更した点以外は、実施例1と同様にして接着フィルムを作製し、評価基板を製造した。各評価結果を表1に示す。
<Example 4>
40 parts of an active ester curing agent (“HPC8000-65T” manufactured by DIC Corporation, a toluene solution having an active group equivalent of about 223 and 65% by mass of a non-volatile component) was added to an active ester curing agent (“EXB9416-70BK” manufactured by DIC Corporation). , Active group equivalent about 330, methyl isobutyl ketone solution with 70% by mass of non-volatile component) 40 parts, and 5 parts of curing accelerator (4-benzoylpyridine, MEK solution with a solid content of 10% by mass) An adhesive film was produced in the same manner as in Example 1 except that the part was changed from 8 parts to 8 parts, and an evaluation substrate was produced. Each evaluation result is shown in Table 1.

<実施例5>
硬化促進剤(4−ベンゾイルピリジン、固形分10質量%のMEK溶液)5部を、硬化促進剤(下記構造を有するイソニコチン酸エチル、固形分10質量%のMEK溶液)5部に変更した以外は、実施例1と同様にして接着フィルムを作製し、評価基板を製造した。各評価結果を表1に示す。
<Example 5>
Except for changing 5 parts of curing accelerator (4-benzoylpyridine, MEK solution having a solid content of 10% by mass) to 5 parts of curing accelerator (ethyl isonicotinate having the following structure, MEK solution having a solid content of 10% by mass). Produced an adhesive film in the same manner as in Example 1 to produce an evaluation substrate. Each evaluation result is shown in Table 1.

Figure 0005915610
〔ピリジン4位に結合するエトキシカルボニル基のσ値は0.37〕
Figure 0005915610
m value of ethoxycarbonyl group bonded to 4-position of pyridine is 0.37]

<実施例6>
アミノシラン系カップリング剤(信越化学工業(株)製、「KBM573」)で表面処理された球形シリカ(平均粒径0.5μm、(株)アドマテックス製「SOC2」)の配合量を225部から300部に変更した以外は、実施例5と同様にして接着フィルムを作製し、評価基板を製造した。各評価結果を表1に示す。
<Example 6>
From 225 parts of the amount of spherical silica (average particle size 0.5 μm, “SOC2” manufactured by Admatechs Co., Ltd.) surface-treated with an aminosilane coupling agent (“KBM573” manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) An adhesive film was produced in the same manner as in Example 5 except that the amount was changed to 300 parts, and an evaluation substrate was produced. Each evaluation result is shown in Table 1.

<実施例7>
アミノシラン系カップリング剤(信越化学工業(株)製、「KBM573」)で表面処理された球形シリカ(平均粒径0.5μm、(株)アドマテックス製「SOC2」)225部を、アミノシラン系カップリング剤(信越化学工業(株)製、「KBM573」)で表面処理された球形シリカ(平均粒径0.3μm、(株)アドマテックス製「SOC1」)225部に変更した点、及び硬化促進剤(イソニコチン酸エチル、固形分10質量%のMEK溶液)の配合量を5部から8部に変更した点以外は、実施例5と同様にして接着フィルムを作製し、評価基板を製造した。各評価結果を表1に示す。
<Example 7>
225 parts of spherical silica (average particle size 0.5 μm, “SOC2” manufactured by Admatechs Co., Ltd.) surface-treated with an aminosilane coupling agent (“KBM573” manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) Spherical silica surface treated with a ring agent (Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., “KBM573”) (average particle size 0.3 μm, “SOC1” manufactured by Admatex Co., Ltd.) 225 parts, and curing acceleration An adhesive film was produced in the same manner as in Example 5 except that the compounding amount of the agent (ethyl isonicotinate, MEK solution having a solid content of 10% by mass) was changed from 5 parts to 8 parts, and an evaluation substrate was produced. . Each evaluation result is shown in Table 1.

<実施例8>
硬化促進剤(4−ベンゾイルピリジン、固形分10質量%のMEK溶液)5部を、硬化促進剤(下記構造を有する1,1’−カルボニルジイミダゾール、固形分5質量%のMEK溶液)15部に変更した以外は、実施例1と同様にして接着フィルムを作製し、評価基板を製造した。各評価結果を表1に示す。
<Example 8>
5 parts of a curing accelerator (4-benzoylpyridine, MEK solution having a solid content of 10% by mass) and 15 parts of a curing accelerator (1,1′-carbonyldiimidazole having the following structure, MEK solution having a solid content of 5% by mass) An adhesive film was prepared in the same manner as in Example 1 except that the evaluation substrate was manufactured. Each evaluation result is shown in Table 1.

Figure 0005915610
〔イミダゾール1位に結合するイミダゾリルカルボニル基のσ値は0.34程度〕
Figure 0005915610
m value of imidazolylcarbonyl group bonded to imidazole 1-position is about 0.34]

<実施例9>
硬化促進剤(イソニコチン酸エチル、固形分10質量%のMEK溶液)8部を、硬化促進剤(1,1’−カルボニルジイミダゾール、固形分5質量%のMEK溶液)20部に変更した以外は、実施例7と同様にして接着フィルムを作製し、評価基板を製造した。各評価結果を表1に示す。
<Example 9>
Except for changing 8 parts of the curing accelerator (ethyl isonicotinate, MEK solution having a solid content of 10% by mass) to 20 parts of the curing accelerator (1,1′-carbonyldiimidazole, MEK solution having a solid content of 5% by mass). Produced an adhesive film in the same manner as in Example 7 to produce an evaluation substrate. Each evaluation result is shown in Table 1.

<実施例10>
硬化促進剤(4−ベンゾイルピリジン、固形分10質量%のMEK溶液)5部を、硬化促進剤(下記構造を有する4−シアノピリジン、固形分10質量%のMEK溶液)5部に変更した以外は、実施例1と同様にして接着フィルムを作製し、評価基板を製造した。各評価結果を表1に示す。
<Example 10>
Except for changing 5 parts of the curing accelerator (4-benzoylpyridine, MEK solution having a solid content of 10% by mass) to 5 parts of the curing accelerator (4-cyanopyridine having the following structure, MEK solution having a solid content of 10% by mass). Produced an adhesive film in the same manner as in Example 1 to produce an evaluation substrate. Each evaluation result is shown in Table 1.

Figure 0005915610
〔ピリジン4位に結合するシアノ基のσ値は0.56〕
Figure 0005915610
m value of cyano group bonded to 4-position of pyridine is 0.56]

<実施例11>
硬化促進剤(4−ベンゾイルピリジン、固形分10質量%のMEK溶液)5部を、硬化促進剤(下記構造を有する1,1’−スルホニルジイミダゾール、固形分5質量%のDMAc溶液)15部に変更した以外は、実施例1と同様にして接着フィルムを作製し、評価基板を製造した。各評価結果を表1に示す。
<Example 11>
5 parts of a curing accelerator (4-benzoylpyridine, MEK solution having a solid content of 10% by mass) and 15 parts of a curing accelerator (1,1′-sulfonyldiimidazole having the following structure, DMAc solution having a solid content of 5% by mass) An adhesive film was prepared in the same manner as in Example 1 except that the evaluation substrate was manufactured. Each evaluation result is shown in Table 1.

Figure 0005915610
〔イミダゾール1位に結合するイミダゾリルスルホニル基のσ値は0.62程度〕
Figure 0005915610
m value of imidazolylsulfonyl group bonded to 1-position of imidazole is about 0.62]

<実施例12>
硬化促進剤(4−ベンゾイルピリジン、固形分10質量%のMEK溶液)5部を、硬化促進剤(下記構造を有する1−(4−シアノフェニル)イミダゾール、固形分5質量%のMEK溶液)15部に変更した以外は、実施例1と同様にして接着フィルムを作製し、評価基板を製造した。各評価結果を表1に示す。
<Example 12>
5 parts of a curing accelerator (4-benzoylpyridine, MEK solution having a solid content of 10% by mass) is added to a curing accelerator (1- (4-cyanophenyl) imidazole having the following structure, MEK solution having a solid content of 5% by mass): 15 Except having changed into the part, the adhesive film was produced like Example 1 and the evaluation board | substrate was manufactured. Each evaluation result is shown in Table 1.

Figure 0005915610
〔イミダゾール1位に結合する4−シアノフェニル基のσ値は0.20程度〕
Figure 0005915610
m value of 4-cyanophenyl group bonded to imidazole 1-position is about 0.20]

<実施例13>
硬化促進剤(4−ベンゾイルピリジン、固形分10質量%のMEK溶液)5部を、硬化促進剤(下記構造を有する1−(4−ニトロフェニル)−1H−イミダゾール、固形分5質量%のMEK溶液)15部に変更した以外は、実施例1と同様にして接着フィルムを作製し、評価基板を製造した。各評価結果を表1に示す。
<Example 13>
5 parts of a curing accelerator (4-benzoylpyridine, MEK solution having a solid content of 10% by mass) is added to a curing accelerator (1- (4-nitrophenyl) -1H-imidazole having the following structure, MEK having a solid content of 5% by mass). Solution) An adhesive film was produced in the same manner as in Example 1 except that the amount was changed to 15 parts, and an evaluation substrate was produced. Each evaluation result is shown in Table 1.

Figure 0005915610
〔イミダゾール1位に結合する4−ニトロフェニル基のσ値は0.25〕
Figure 0005915610
m value of 4-nitrophenyl group bonded to 1-position of imidazole is 0.25]

<比較例1>
硬化促進剤(4−ベンゾイルピリジン、固形分10質量%のMEK溶液)5部を、硬化促進剤(下記構造を有するN,N−ジメチル−4−アミノピリジン、固形分10質量%のMEK溶液)5部に変更した以外は、実施例1と同様にして接着フィルムを作製し、評価基板を製造した。各評価結果を表1に示す。
<Comparative Example 1>
5 parts of curing accelerator (4-benzoylpyridine, MEK solution having a solid content of 10% by mass) is added to a curing accelerator (N, N-dimethyl-4-aminopyridine having the following structure, MEK solution having a solid content of 10% by mass). Except for changing to 5 parts, an adhesive film was prepared in the same manner as in Example 1 to produce an evaluation substrate. Each evaluation result is shown in Table 1.

Figure 0005915610
〔ピリジン4位に結合するジメチルアミノ基のσ値は−0.16〕
Figure 0005915610
m value of dimethylamino group bonded to 4-position of pyridine is −0.16]

<比較例2>
硬化促進剤(4−ベンゾイルピリジン、固形分10質量%のMEK溶液)5部を、硬化促進剤(下記構造を有する1−ベンジル−2−フェニルイミダゾール、固形分5質量%のMEK溶液)15部に変更した以外は、実施例1と同様にして接着フィルムを作製し、評価基板を製造した。各評価結果を表1に示す。
<Comparative Example 2>
5 parts of a curing accelerator (4-benzoylpyridine, MEK solution having a solid content of 10% by mass) and 15 parts of a curing accelerator (1-benzyl-2-phenylimidazole having the following structure, MEK solution having a solid content of 5% by mass) An adhesive film was prepared in the same manner as in Example 1 except that the evaluation substrate was manufactured. Each evaluation result is shown in Table 1.

Figure 0005915610

〔イミダゾール1位に結合するベンジル基のσ値は−0.08〕
Figure 0005915610

m value of benzyl group bonded to 1-position of imidazole is −0.08]

Figure 0005915610
Figure 0005915610

表1から、4位に電子供与基を有するピリジン化合物又は1位に電子供与基を有するイミダゾール化合物を硬化促進剤として使用する比較例1及び2においては、保管時に樹脂組成物層の硬化が進み樹脂組成物層の粘度が大きく上昇した。
これに対し、4位に電子求引基を有するピリジン化合物又は1位に電子求引基を有するイミダゾール化合物を硬化促進剤として使用する実施例1〜13においては、保管時の樹脂組成物層の粘度の上昇が抑制されることが確認された。さらには、実施例1〜13においては、比較例1及び2に比して高いガラス転移温度(Tg)及び低い線熱膨張係数を有する硬化物(絶縁層)が形成され、熱硬化時の硬化特性にも極めて優れることが確認された。
From Table 1, in Comparative Examples 1 and 2 in which a pyridine compound having an electron donating group at the 4-position or an imidazole compound having an electron donating group at the 1-position is used as a curing accelerator, the curing of the resin composition layer proceeds during storage. The viscosity of the resin composition layer was greatly increased.
In contrast, in Examples 1 to 13 in which a pyridine compound having an electron withdrawing group at the 4-position or an imidazole compound having an electron withdrawing group at the 1-position is used as a curing accelerator, the resin composition layer during storage It was confirmed that the increase in viscosity was suppressed. Furthermore, in Examples 1-13, the hardened | cured material (insulating layer) which has a high glass transition temperature (Tg) and a low linear thermal expansion coefficient compared with the comparative examples 1 and 2 is formed, and hardening at the time of thermosetting It was confirmed that the characteristics were extremely excellent.

Claims (21)

(A)エポキシ樹脂、(B)活性エステル硬化剤、及び(C)硬化促進剤を含む樹脂組成物であって、
(C)成分が、4位に電子求引基を有するピリジン化合物及び1位に電子求引基を有するイミダゾール化合物からなる群から選択される1種以上を含み、
1位に電子求引基を有するイミダゾール化合物が、1位にシアノ基、置換基を有していてもよいフェニル基、置換基を有していてもよいビニル基、置換基を有していてもよいカルボキシメチレン基若しくはスルホニル基を有するイミダゾール化合物である樹脂組成物。
A resin composition comprising (A) an epoxy resin, (B) an active ester curing agent, and (C) a curing accelerator,
(C) component contains 1 or more types selected from the group which consists of a pyridine compound which has an electron withdrawing group in 4-position, and an imidazole compound which has an electron withdrawing group in 1-position,
The imidazole compound having an electron withdrawing group at the 1-position has a cyano group, an optionally substituted phenyl group, an optionally substituted vinyl group, and a substituted group at the 1-position. which may carboxymethylene group, or a resin composition is an imidazole compound having a sulfonyl group.
電子求引基が、ハメットの置換基定数σ値が0より大きい基である請求項1記載の樹脂組成物。 2. The resin composition according to claim 1, wherein the electron withdrawing group is a group having a Hammett's substituent constant [sigma] m value larger than zero. 4位に電子求引基を有するピリジン化合物が、4位にハロゲン原子、シアノ基、ニトロ基、置換基を有していてもよいフェニル基、カルボニル基、チオカルボニル基、スルホニル基、若しくはホスホリル基を有するピリジン化合物である請求項1又は2記載の樹脂組成物。   A pyridine compound having an electron withdrawing group at the 4-position is a halogen atom, a cyano group, a nitro group, or a phenyl group, a carbonyl group, a thiocarbonyl group, a sulfonyl group, or a phosphoryl group optionally having a substituent at the 4-position. The resin composition according to claim 1, wherein the resin composition is a pyridine compound. 4位に電子求引基を有するピリジン化合物が、4位にシアノ基若しくはカルボニル基を有するピリジン化合物である請求項1〜3のいずれか1項記載の樹脂組成物。   The resin composition according to any one of claims 1 to 3, wherein the pyridine compound having an electron-attracting group at the 4-position is a pyridine compound having a cyano group or a carbonyl group at the 4-position. 1位に電子求引基を有するイミダゾール化合物が、1位に置換基を有していてもよいフェニル基、カルボニル基、若しくはスルホニル基を有するイミダゾール化合物である請求項1〜4のいずれか1項記載の樹脂組成物。   The imidazole compound having an electron withdrawing group at the 1-position is an imidazole compound having a phenyl group, a carbonyl group, or a sulfonyl group which may have a substituent at the 1-position. The resin composition as described. (C)成分が、4−ベンゾイルピリジン、4−シアノピリジン、イソニコチン酸エチル1,1’−スルホニルジイミダゾール、1−(4−シアノフェニル)イミダゾール、及び1−(4−ニトロフェニル)−1H−イミダゾールからなる群から選択される1種以上を含む請求項1〜5のいずれか1項記載の樹脂組成物。 Component (C) is 4-benzoylpyridine, 4-cyanopyridine, ethyl isonicotinate , 1,1′-sulfonyldiimidazole, 1- (4-cyanophenyl) imidazole, and 1- (4-nitrophenyl)- The resin composition according to any one of claims 1 to 5, comprising one or more selected from the group consisting of 1H-imidazole. (A)成分のエポキシ基の合計数と(B)成分の反応基の合計数との比が、1:0.2〜1:2である請求項1〜6のいずれか1項記載の樹脂組成物。   The resin according to any one of claims 1 to 6, wherein the ratio of the total number of epoxy groups in component (A) to the total number of reactive groups in component (B) is 1: 0.2 to 1: 2. Composition. さらに(D)無機充填材を含む請求項1〜7のいずれか1項記載の樹脂組成物。   The resin composition according to any one of claims 1 to 7, further comprising (D) an inorganic filler. 樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、(D)成分の含有量が30〜90質量%である請求項8記載の樹脂組成物。   The resin composition according to claim 8, wherein the content of the component (D) is 30 to 90 mass% when the nonvolatile component in the resin composition is 100 mass%. 樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、(D)成分の含有量が50〜90質量%である請求項8記載の樹脂組成物。   The resin composition according to claim 8, wherein the content of the component (D) is 50 to 90 mass% when the nonvolatile component in the resin composition is 100 mass%. (D)成分の平均粒径が、0.01〜5μmである請求項8〜10のいずれか1項記載の樹脂組成物。   (D) The resin composition of any one of Claims 8-10 whose average particle diameter of a component is 0.01-5 micrometers. (A)成分がビスフェノールA型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂、グリシジルエステル型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、及びジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂からなる群から選択される1種以上を含む請求項1〜11のいずれか1項記載の樹脂組成物。   The component (A) is selected from the group consisting of bisphenol A type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, naphthylene ether type epoxy resin, glycidyl ester type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, and dicyclopentadiene type epoxy resin. The resin composition of any one of Claims 1-11 containing the above. さらに(E)熱可塑性樹脂を含む請求項1〜12のいずれか1項記載の樹脂組成物。   The resin composition according to any one of claims 1 to 12, further comprising (E) a thermoplastic resin. 多層プリント配線板の絶縁層用樹脂組成物である請求項1〜13のいずれか1項記載の樹脂組成物。   It is a resin composition for insulating layers of a multilayer printed wiring board, The resin composition of any one of Claims 1-13. 多層プリント配線板のビルドアップ絶縁層用樹脂組成物である請求項1〜14のいずれか1項記載の樹脂組成物。   The resin composition according to claim 1, which is a resin composition for a buildup insulating layer of a multilayer printed wiring board. 請求項1〜15のいずれか1項記載の樹脂組成物の層を含むシート状積層材料。   The sheet-like laminated material containing the layer of the resin composition of any one of Claims 1-15. 請求項1〜15のいずれか1項記載の樹脂組成物を熱硬化して得られる硬化物。   Hardened | cured material obtained by thermosetting the resin composition of any one of Claims 1-15. ガラス転移温度(Tg)が100〜250℃である請求項17記載の硬化物。   The hardened | cured material of Claim 17 whose glass transition temperature (Tg) is 100-250 degreeC. 粗化処理後の硬化物表面にメッキにより導体層を形成したとき、該硬化物表面と該導体層とのピール強度が、0.25〜0.8kgf/cmであり、
前記粗化処理が、硬化物を、30〜90℃の膨潤液に1分間〜20分間浸漬し、60〜80℃の酸化剤溶液に10分間〜30分間浸漬し、30〜80℃の中和液に5分間〜30分間浸漬することにより行われ、
前記ピール強度が、導体層を硬化物表面に対して垂直方向に引き剥がしたときの硬化物表面と導体層とのピール強度である、請求項17又は18記載の硬化物。
When forming a conductive layer by plating the cured product surface after roughening treatment, the peel strength between the cured product surface and the conductor layer, Ri 0.25~0.8kgf / cm der,
In the roughening treatment, the cured product is immersed in a swelling liquid at 30 to 90 ° C. for 1 to 20 minutes, immersed in an oxidant solution at 60 to 80 ° C. for 10 to 30 minutes, and neutralized at 30 to 80 ° C. It is performed by immersing in the liquid for 5 to 30 minutes,
The cured product according to claim 17 or 18 , wherein the peel strength is a peel strength between the surface of the cured product and the conductor layer when the conductor layer is peeled in a direction perpendicular to the surface of the cured product.
請求項17〜19のいずれか1項記載の硬化物により形成された絶縁層を含む多層プリント配線板。   The multilayer printed wiring board containing the insulating layer formed with the hardened | cured material of any one of Claims 17-19. 請求項20記載の多層プリント配線板を含む半導体装置。   A semiconductor device comprising the multilayer printed wiring board according to claim 20.
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