JP5910481B2 - Connector and connector inspection method - Google Patents
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Description
本発明はコネクタ及びコネクタの検査方法に関し、特に、ハウジングから突出して基板に先端を半田付けされる端子と、端子の突出する方向に沿って延びる延長部を有する固定部材とを備えるコネクタ及びコネクタの検査方法に関する。 The present invention relates to a connector and a method for inspecting a connector, and more particularly, to a connector and a connector including a terminal protruding from a housing and soldered to a substrate and a fixing member having an extension extending along a protruding direction of the terminal. It relates to the inspection method.
電子部品の小型化への要求に応えるため、小さなスペースに実装しても基板への固定を維持できるコネクタが提案されている。 In order to meet the demand for miniaturization of electronic components, a connector that can be fixed to a board even when mounted in a small space has been proposed.
例えば、特許文献1に開示されるコネクタでは、コネクタのハウジングの外壁部に固定金具を設置し、さらに、この固定金具と基板とを半田付けすることで、コネクタと基板との固定強度を高めている。さらに、このコネクタでは、ハウジングの外壁面から端子の突き出す方向に沿って、端子の先端まで延びる延長部が設置されている。この延長部の設置により、相手側コネクタをハウジングから抜き挿ししても、コネクタと基板との固定を補強してコネクタの基板への固定を維持している。
For example, in the connector disclosed in
しかし、特許文献1に開示されるコネクタでは、光学検査機を用いて、端子の先端と基板とを半田付けした半田付け部の状態を検査しようとすると、光学検査機による入光や受光を延長部が遮ってしまう。そのため、光学検査機を用いた検査ができないことがあった。
However, in the connector disclosed in
本発明は、このような問題点を解決するためになされたものであり、コネクタと基板との固定強度を維持しつつ、光学検査機により半田付け部の状態を検査できるコネクタを提供することを目的とする。 The present invention has been made to solve such problems, and provides a connector capable of inspecting the state of a soldered portion by an optical inspection machine while maintaining the fixing strength between the connector and the substrate. Objective.
本発明にかかるコネクタは、正面において相手側コネクタと抜き挿しされるハウジングと、前記ハウジングの背面から突出して基板に先端を半田付けされる端子と、前記ハウジングの側面に取り付けられて前記基板に固定される固定部材とを備えたコネクタであって、前記固定部材は、前記端子の突出する方向に沿って延びる延長部を有し、前記延長部は、光を透過する透過部を含むことを特徴とするものである。このような構成により、コネクタと基板との固定強度を維持しつつ、光学検査機により半田付け部の状態を検査することができる。 The connector according to the present invention includes a housing that is inserted into and removed from the mating connector on the front surface, a terminal that protrudes from the back surface of the housing and soldered to the substrate, and is attached to the side surface of the housing and fixed to the substrate. The fixing member includes an extending portion that extends along a direction in which the terminal protrudes, and the extending portion includes a transmitting portion that transmits light. It is what. With such a configuration, the state of the soldering portion can be inspected by the optical inspection machine while maintaining the fixing strength between the connector and the substrate.
ここで、前記透過部には透明な材料からなる透明部材が設置されているとよい。このような構成により、コネクタと基板との固定強度をより確実に維持しつつ、光学検査機により半田付け部の状態を検査することができる。 Here, a transparent member made of a transparent material may be installed in the transmission part. With such a configuration, the state of the soldered portion can be inspected by the optical inspection machine while maintaining the fixing strength between the connector and the substrate more reliably.
また、前記透過部には前記固定部材を貫通する穴が形成されていてもよい。このような構成により、簡単な構造の固定部材を用いて、コネクタと基板との固定強度を維持しつつ、光学検査機により半田付け部の状態を検査することができる。 In addition, a hole penetrating the fixing member may be formed in the transmission part. With such a configuration, it is possible to inspect the state of the soldering portion with an optical inspection machine while maintaining the fixing strength between the connector and the substrate using a fixing member having a simple structure.
また、前記延長部は透明であることが好ましい。このような構成により、光学検査機を用いて半田付け部の状態をより確実に検査することができる。 The extension is preferably transparent. With such a configuration, the state of the soldered portion can be more reliably inspected using an optical inspection machine.
他方、本発明にかかるコネクタの検査方法は、前記コネクタを前記基板に取り付け、端子と基板とを半田付けした半田付け部の状態を検査するコネクタの検査方法であって、前記透過部を介して前記半田付け部に光を照射すること、又は、前記透過部を介して前記半田付け部からの反射光を受光することにより前記半田付け部の状態を検査することを特徴とするものである。これにより、前記延長部を有するコネクタであっても、光学検査機により半田付け部の状態を検査できる。 On the other hand, the connector inspection method according to the present invention is a connector inspection method for inspecting a state of a soldered portion in which the connector is attached to the substrate and the terminal and the substrate are soldered, and the connector is inspected. The state of the soldering part is inspected by irradiating the soldering part with light or receiving reflected light from the soldering part through the transmission part. Thereby, even if it is a connector which has the said extension part, the state of a soldering part can be test | inspected with an optical inspection machine.
他方、前記ハウジングの前記基板に取り付けられる側を下方とし、前記ハウジングの前記基板とは反対側の面の側を上方とすると、
前記端子は複数本あって、
複数本の前記端子には、
前記背面から列をなして突出する複数の下側列端子と、
前記背面から前記下側端子より上方において列をなして突出する複数の上側列端子とがあり、
前記複数の上側列端子が、列をなして前記基板に半田付けされることにより、それら半田付け箇所が、上側列半田付け部列を形成し、
前記複数の下側列端子は、前記背面と前記上側列半田付け部列との間に半田付けされ、
前記上側列端子は、
前記背面から突出する突出部と、
前記基板に向かい屈曲する屈曲部と、
前記突出部と前記屈曲部とを繋ぎ、前記突出部及び前記屈曲部よりも径の細いくびれ部とを有することを特徴としてもよい。これにより、端子の実装密度を向上させつつ、コネクタと基板との固定強度を維持しつつ、光学検査機により半田付け部の状態を検査できる。
On the other hand, when the side of the housing attached to the substrate is the lower side, and the side of the surface opposite to the substrate of the housing is the upper side,
There are a plurality of the terminals,
The plurality of terminals include
A plurality of lower row terminals protruding in rows from the back;
There are a plurality of upper row terminals protruding in rows from the back side above the lower side terminals,
The plurality of upper row terminals are soldered to the substrate in a row, so that the soldered portions form an upper row soldering portion row,
The plurality of lower row terminals are soldered between the back surface and the upper row soldering portion row,
The upper row terminal is
A protrusion protruding from the back surface;
A bent portion that bends toward the substrate;
The projecting portion and the bent portion may be connected, and the projecting portion and a constricted portion having a diameter smaller than that of the bent portion may be provided. Thereby, the state of the soldering portion can be inspected by the optical inspection machine while improving the mounting density of the terminals and maintaining the fixing strength between the connector and the substrate.
本発明により、コネクタと基板との固定強度を維持しつつ、光学検査機により半田付け部の状態を検査できるコネクタを提供することができる。 According to the present invention, it is possible to provide a connector capable of inspecting the state of the soldered portion with an optical inspection machine while maintaining the fixing strength between the connector and the substrate.
(第1実施形態)
以下、図1及び図2を参照して本発明の第1実施形態にかかるコネクタについて説明する。
(First embodiment)
The connector according to the first embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS.
図1は基板に固定されるコネクタの一実施形態を示す。図2は固定部材4の外観を示す。図1に示すように、コネクタ1は固定部材4を介して基板10に固定される。コネクタ1は、ハウジング2と、端子3と、固定部材4とを備える。
FIG. 1 shows an embodiment of a connector fixed to a substrate. FIG. 2 shows the appearance of the
ハウジング2は、その正面において、図示しない相手側コネクタと抜き挿して脱着することができる。ハウジング2は、固定部材4を保持する保持手段としての固定部材保持部22を側面21に備える。固定部材保持部22は、後述する固定部材4のハウジング嵌合部43を嵌め込むことのできる溝を有している。
The
端子3は、ハウジング2から外部へ向かって突き出すようにして、ハウジング2の背面23に保持されている。コネクタ1を基板10に固定すると、端子3の先端が基板10の半田付け部11の形成される位置に到達するように、端子3は適宜、加工されている。
The
図2に示すように、固定部材4は、固定部材基部41と、固定部材基部41から延びる延長部42とを有する板状体である。図1を併せて参照すると、固定部材基部41は、固定部材保持部22の溝に嵌め込まれるハウジング嵌合部43と、基板10の固定溝12に半田付けにより固定される第1基板固定部44とを有する。ハウジング嵌合部43を固定部材保持部22の溝に嵌め込ませて固定部材4をハウジング2に保持させると、延長部42は端子3の突き出す方向に沿って端子3の先端まで延びるように加工されている。延長部42は、基板10の固定溝13に半田付けにより固定される第2基板固定部45と、透過部47とを備える。透過部47は、延長部42を貫通する孔46に、例えば、プラスチックやガラスなどの透明な材料からなる透明板を嵌め込まれて形成されている。これにより、固定部材4は、固定部材として必要な機械的強度を維持しつつ、透過部47において光を透過させることができる。
As shown in FIG. 2, the
固定部材4は、ハウジング嵌合部43を固定部材保持部22の溝に嵌め込まれることでハウジング2に保持される。さらに、第1基板固定部44及び第2基板固定部45を基板10の固定溝12及び固定溝13にそれぞれ半田付けして、コネクタ1を基板10に固定する。ここで、コネクタ1は、基板10の固定溝12及び固定溝13にそれぞれ第1基板固定部44及び第2基板固定部45を半田付けして固定部材4を介して基板10に固定されている。また、端子3の先端を基板10にそれぞれ半田付けして、半田付け部11が形成される。これにより、コネクタ1と基板10との固定強度が高められ、相手側コネクタをハウジング2に抜き挿ししてコネクタ1との脱着を繰り返しても、コネクタ1は基板10との固定を維持することができる。
The fixing
なお、固定部材4の延長部42は、端子3の突き出す方向に沿って端子3の先端まで延びるように加工されていたが、端子3の突き出す方向に沿って延びるよう加工されていればよい。
In addition, although the
(使用方法)
図3は、光学検査機50を用いてコネクタ1の半田付け部11の状態を検査する工程を模式的に示す。図3に示すように、光学検査機50は、半田付け部11に向けて照明光やレーザなどの光を照射する光源51と、半田付け部11から反射される光を受け付ける受光部52と、受光部52より得られた光を電気信号に変換し画像データを作成する画像変換部(図示略)と、画像変換部により得られた画像を表示することのできる表示部(図示略)とを備える。光源51はコネクタ1の上方に配置され、受光部52はコネクタ1の側方、かつ、半田付け部11から上方に傾斜して延びる仮想直線Aに沿って配置される。なお、この仮想直線Aと基板10の主面のなす角度は例えば、45度である。
(how to use)
FIG. 3 schematically shows a process of inspecting the state of the
光学検査機50により、光源51から半田付け部11に向かって光を照射する。すると、光は、半田付け部11から反射して、透過部47を透過して、受光部52により受光される。続いて、受光部52から出力される受光信号に基づいて画像変換部により画像データを作成して、この画像データに基づく画像が表示部により表示される。すなわち、光学検査機50を用いて、半田付け部11の状態を検査することができる。なお、光源51と受光部52の位置を交換しても、光源51から照射される光を透過部47により透過させることができ、光学検査機50により半田付け部11の状態を検査することができる。
Light is irradiated from the
以上、第1の実施形態にかかるコネクタは、コネクタと基板との固定強度を維持しつつ、光学検査機により半田付け部の状態を検査できる。 As mentioned above, the connector concerning 1st Embodiment can test | inspect the state of a soldering part with an optical inspection machine, maintaining the fixed intensity | strength of a connector and a board | substrate.
(第2実施形態)
以下、図4を参照して本発明の第2実施形態にかかるコネクタについて説明する。第2実施形態にかかるコネクタは、上記した第1実施形態にかかるコネクタと比較して、固定部材のみを異にしており、他の部材については共通するため説明を省略する。また、第1実施形態の固定部材4と共通する箇所には相当する符号を付することにより説明を簡略化する。
(Second Embodiment)
Hereinafter, a connector according to a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. The connector according to the second embodiment differs from the connector according to the first embodiment described above only in the fixing member, and the description of the other members is omitted because they are common. Moreover, description is simplified by attaching | subjecting the code | symbol corresponding to the location which is common with the fixing
図4に示すように、第2実施形態にかかるコネクタに用いられる固定部材140は、透過部において、透明板を省略したことのみを固定部材4と異にしており、他の箇所については固定部材4と共通する。固定部材140は、透明板の無い比較的簡単な構造でありつつも、透過部147において孔146から光を透過させることができるとともに、固定部材として必要な機械的強度を有している。すなわち、第2実施形態にかかるコネクタは、比較的簡単な構造の固定部材140を介して基板10に固定されて、基板10との固定強度を維持しつつ、光学検査機により半田付け部の状態を検査できる。
As shown in FIG. 4, the fixing
(第3実施形態)
以下、図5を参照して本発明の第3実施形態にかかるコネクタについて説明する。第3実施形態にかかるコネクタは、上記した第1実施形態にかかるコネクタと比較して、固定部材のみを異にしており、他の部材については共通するため説明を省略する。また、第1実施形態の固定部材4と共通する箇所には相当する符号を付することにより説明を簡略化する。
(Third embodiment)
Hereinafter, a connector according to a third embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. The connector according to the third embodiment differs from the connector according to the first embodiment described above only in the fixing member, and the description of the other members is omitted because they are common. Moreover, description is simplified by attaching | subjecting the code | symbol corresponding to the location which is common with the fixing
図5に示すように、第3実施形態にかかるコネクタに用いられる固定部材240は、固定部材として必要な強度を有するとともに、透明な材料、例えば、プラスチックやガラスなどの材料からなる板状体である。固定部材240は、固定部材基部241と、固定部材基部241から延びる延長部242とを備える。固定部材基部241は、透明な材料からなることのみ固定部材基部41と異にしており、他については共通する。延長部242は、透明な材料からなること、及び、透明板の嵌め込みと孔の形成を省略したことを延長部42と異にしており、他については固定部材4と共通している。延長部242は、透明な材料からなる板状体であることから、全面に渡って光を透過させることができる。つまり、延長部242における透過部247は、延長部242の全面に渡るものである。
As shown in FIG. 5, the fixing
固定部材240は、固定部材として必要な機械的強度を有するとともに、透過部247において光を透過させることができる。すなわち、第3実施形態にかかるコネクタは、固定部材240を介して基板10に固定されるので、光学検査機による光をより確実に透過させることができる。すなわち、第3実施形態にかかるコネクタは、固定部材240を介して基板10に固定されるので、基板10との固定強度を維持しつつ、光学検査機により半田付け部の状態をより確実に検査できる。
The fixing
(第4実施形態)
次に、本発明の第4実施形態にかかるコネクタについて説明する。第4実施形態にかかるコネクタは、ハウジングの外壁面から突出する多数の端子を、この外壁面に沿って複数列に並ぶように基板に半田付けしたコネクタにおける課題を解決するためになされたものである。このようなコネクタでは、端子の実装密度向上のため、この外壁面から比較的遠い列に半田付けされる端子は、この外壁面から比較的近い列に半田付けされる端子と比較して、この外壁面の上部から突出させる。光学検査機を用いて、ハウジングの外壁面から比較的近い列に半田付けされる端子の半田付け部の状態を検査しようとすると、光学検査機による入光や受光をこの外壁面から比較的遠い列に半田付けされる端子が遮ってしまう。そのため、光学検査機により半田付け部の状態を検査できないという課題が生じる。
(Fourth embodiment)
Next, a connector according to a fourth embodiment of the present invention will be described. The connector according to the fourth embodiment is made to solve the problem in the connector in which a large number of terminals protruding from the outer wall surface of the housing are soldered to the substrate so as to be arranged in a plurality of rows along the outer wall surface. is there. In such a connector, in order to improve the mounting density of the terminal, the terminal soldered to the row relatively far from the outer wall surface is compared with the terminal soldered to the row relatively far from the outer wall surface. Project from the top of the outer wall. If an optical inspection machine is used to inspect the state of the soldered portion of the terminal soldered to a relatively close row from the outer wall surface of the housing, light incident and light reception by the optical inspection machine is relatively far from this outer wall surface. The terminals that are soldered to the row block. Therefore, the subject that the state of a soldering part cannot be test | inspected with an optical inspection machine arises.
以下、図6を参照して第4実施形態にかかるコネクタについて説明する。第4実施形態にかかるコネクタは、上記した第1実施形態にかかるコネクタと比較して、端子を異にしており、他の部材については共通するため説明を省略する。また、第1実施形態と共通する箇所には相当する符号を付することにより説明を簡略化する。図6は、第4実施形態にかかるコネクタの上面図及び側面図を示す。 The connector according to the fourth embodiment will be described below with reference to FIG. The connector according to the fourth embodiment has different terminals as compared with the connector according to the first embodiment described above, and the description of the other members is omitted because they are common. Further, the portions common to the first embodiment are denoted by the corresponding reference numerals to simplify the description. FIG. 6 shows a top view and a side view of the connector according to the fourth embodiment.
図6に示すように、コネクタ301は、複数本の端子330を含む。ここで、ハウジング302の基板310に取り付けられる側を下方とし、ハウジング302の基板310とは反対側の面の側を上方とする。複数本の端子330は、背面323から列をなして突出する複数の下側列端子331と、下側列端子331の上方において背面323から上側列をなして突出する複数の上側列端子332を含む。
As shown in FIG. 6, the
複数の上側列端子332は、列をなして基板310に半田付けされる。この半田付け箇所が、上側列半田付け部列3110を形成する。下側列端子331は、前記背面323と上側列半田付け部311との間に半田付けされ、下側列半田付け部3111を形成する。これらにより、基板310に半田付けされる端子の面積当たりの本数、すなわち、端子の実装密度を高めることができる。
The plurality of
上側列端子332の一本一本は、背面323から突出する突出部333と、基板310に向かい屈曲する屈曲部334と、突出部333及び屈曲部334を繋ぐくびれ部335とを有する。くびれ部335は、突出部333及び屈曲部334と比較して細い径を有する。このくびれ部335により、コネクタ301の上方への受光、及び、コネクタ301の上方からの入光を、下側端子331の半田付け部3111まで到達させて、光学検査機によりこの半田付け部の状態を検査できる。すなわち、端子の実装密度を高めつつ、コネクタと基板との固定強度を維持しつつ、光学検査機により半田付け部の状態を検査できる。
Each of the
なお、本発明は上記実施形態に限定されず、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれる。 In addition, this invention is not limited to the said embodiment, The deformation | transformation in the range which can achieve the objective of this invention, improvement, etc. are included in this invention.
1、301 コネクタ、2、302 ハウジング、3、330 端子、
4、140、240 固定部材、10、310 基板、23、323 背面、
42、142、242 延長部、47、147、247 透過部
1, 301 connector, 2, 302 housing, 3, 330 terminal,
4, 140, 240 fixing member, 10, 310 substrate, 23, 323 back surface,
42, 142, 242 Extension part, 47, 147, 247 Transmission part
Claims (6)
前記ハウジングの背面から突出して基板に先端を半田付けされる端子と、
前記ハウジングの側面に取り付けられて前記基板に固定される固定部材とを備えたコネクタであって、
前記固定部材は、前記端子の突出する方向に沿って延びる延長部を有し、
前記延長部は、透過部を含み、
前記基板は、前記端子の前記先端が半田付けされる半田付け部を有し、
前記透過部は、前記半田付け部の上方から前記半田付け部に向かって照射されて前記半田付け部から反射される光を透過する
ことを特徴とするコネクタ。 A housing to be inserted into and removed from the mating connector at the front,
A terminal protruding from the back of the housing and soldered to the substrate;
A connector having a fixing member attached to a side surface of the housing and fixed to the substrate,
The fixing member has an extension extending along the protruding direction of the terminal,
The extension includes a transmission part,
The substrate has a soldering portion to which the tip of the terminal is soldered,
The transmissive part transmits light that is irradiated from above the soldering part toward the soldering part and reflected from the soldering part.
前記透過部を介して前記半田付け部に光を照射すること、又は、前記透過部を介して前記半田付け部からの反射光を受光することにより前記半田付け部の状態を検査する検査方法。 A connector inspection method for inspecting a state of a soldered portion in which the connector according to claim 1 is attached to the substrate and the terminal and the substrate are soldered,
An inspection method for inspecting a state of the soldering part by irradiating the soldering part with light through the transmission part or receiving reflected light from the soldering part through the transmission part.
前記端子は複数本あって、
複数本の前記端子には、
前記背面から列をなして突出する複数の下側列端子と、
前記背面から前記下側列端子より上方において列をなして突出する複数の上側列端子とがあり、
前記複数の上側列端子が、列をなした状態で前記基板に第1の半田付け部を介して接続されており、前記第1の半田付け部が、上側列半田付け部列であり、
前記複数の下側列端子は、前記背面と前記上側列半田付け部列との間に第2の半田付け部を介して接続されており、
前記上側列端子は、
前記背面から突出する突出部と、
前記基板に向かい屈曲する屈曲部と、
前記突出部と前記屈曲部とを繋ぎ、前記突出部及び前記屈曲部よりも径の細いくびれ部とを有することを特徴とする前記請求項1乃至4のいずれか一項に記載されるコネクタ。 When the side of the housing attached to the substrate is the lower side, and the side of the surface of the housing opposite to the substrate is the upper side,
There are a plurality of the terminals,
The plurality of terminals include
A plurality of lower row terminals protruding in rows from the back;
There are a plurality of upper row terminals that protrude from the back surface in rows above the lower row terminals,
Wherein the plurality of upper row terminals, the substrate in a state in which a row is connected via a first soldering portion, the first soldering portion, a upper row soldering portion row,
The plurality of lower row terminals are connected via a second soldering portion between the back surface and the upper row soldering portion row ,
The upper row terminal is
A protrusion protruding from the back surface;
A bent portion that bends toward the substrate;
5. The connector according to claim 1, further comprising a narrow portion having a diameter smaller than that of the protruding portion and the bent portion, connecting the protruding portion and the bent portion.
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JP2014120217A (en) | 2014-06-30 |
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