JP5861846B2 - Power converter and manufacturing method thereof - Google Patents
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 28
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 223
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 223
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 149
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 claims description 65
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 65
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 48
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims description 41
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 41
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 36
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims description 35
- 239000000443 aerosol Substances 0.000 claims description 32
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 30
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 30
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 claims description 30
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 claims description 28
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 28
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 27
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 22
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 21
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 21
- 239000007769 metal material Substances 0.000 claims description 20
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 claims description 18
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 18
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 17
- 229910052582 BN Inorganic materials 0.000 claims description 16
- PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N Boron nitride Chemical compound N#B PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 16
- 238000010030 laminating Methods 0.000 claims description 12
- 238000007750 plasma spraying Methods 0.000 claims description 11
- 239000000945 filler Substances 0.000 claims description 10
- 238000005476 soldering Methods 0.000 claims description 8
- 238000005507 spraying Methods 0.000 claims description 8
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 239000010408 film Substances 0.000 description 34
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 34
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 25
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 25
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 24
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 23
- 238000007751 thermal spraying Methods 0.000 description 19
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 13
- 239000000463 material Substances 0.000 description 11
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 10
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 10
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 10
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 9
- 229910000881 Cu alloy Inorganic materials 0.000 description 9
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 8
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 6
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 6
- 239000011889 copper foil Substances 0.000 description 6
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 6
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 6
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 6
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 6
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 6
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 6
- 239000011882 ultra-fine particle Substances 0.000 description 6
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 5
- 239000004519 grease Substances 0.000 description 5
- 238000012387 aerosolization Methods 0.000 description 4
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 4
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 4
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 4
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 239000006071 cream Substances 0.000 description 3
- 239000003365 glass fiber Substances 0.000 description 3
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 3
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000004080 punching Methods 0.000 description 3
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 2
- PIGFYZPCRLYGLF-UHFFFAOYSA-N Aluminum nitride Chemical compound [Al]#N PIGFYZPCRLYGLF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 238000009770 conventional sintering Methods 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 2
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 2
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 2
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 2
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 2
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 2
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 2
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 2
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 2
- 230000004308 accommodation Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
- 239000011256 inorganic filler Substances 0.000 description 1
- 229910003475 inorganic filler Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 238000001721 transfer moulding Methods 0.000 description 1
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Description
本発明は、インバータ、サーボコントローラ、UPSなど、パワー半導体素子を用いた電力変換器に関する。 The present invention relates to a power converter using a power semiconductor element such as an inverter, a servo controller, or a UPS.
パワー半導体素子などからなる電力変換器は、家庭用エアコン、冷蔵庫などの民生機器から、インバータ、サーボコントローラなどの産業機器まで、広範囲に渡る分野で用いられている。 Power converters composed of power semiconductor elements and the like are used in a wide range of fields from consumer equipment such as home air conditioners and refrigerators to industrial equipment such as inverters and servo controllers.
パワー半導体素子は、消費電力の点から、金属ベース基板やセラミックス基板などの配線板に搭載される。この配線板にパワー半導体素子などの1つまたは複数の回路素子を搭載し、プラスチックケース枠を接着し、シリコーンゲルやエポキシ樹脂などで封止することによってパワー半導体モジュールを構成する。 The power semiconductor element is mounted on a wiring board such as a metal base substrate or a ceramic substrate from the viewpoint of power consumption. One or a plurality of circuit elements such as a power semiconductor element are mounted on the wiring board, a plastic case frame is bonded, and the power semiconductor module is configured by sealing with a silicone gel or an epoxy resin.
一方、製造コストを低減するために、トランスファー成形方式によるフルモードパワー半導体モジュールもある(例えば、特許文献1参照)。 On the other hand, in order to reduce the manufacturing cost, there is a full mode power semiconductor module using a transfer molding method (see, for example, Patent Document 1).
通常、電力変換器は、上記のパワー半導体モジュールを主回路に用い、この主回路とその他の電源回路や制御用の回路から構成されている。電源回路や制御用の回路は、IC、LSI、抵抗、コンデンサ、リアクトルなどの各種部品から構成されているが、通常、プリント配線板に実装される。 Usually, a power converter uses the power semiconductor module described above as a main circuit, and is composed of the main circuit and other power supply circuits and control circuits. The power supply circuit and the control circuit are composed of various parts such as an IC, an LSI, a resistor, a capacitor, and a reactor, but are usually mounted on a printed wiring board.
図17に従来の電力変換器の構造の一例を示す。パワー半導体モジュール10は、ヒートシンク7の上に放熱性を高めるために放熱グリスを介し搭載される。そして、電子回路部品が搭載されたプリント配線板9a、プリント配線板9bを上部に配置し、ピン等で接合される。そして、ケース8で覆われて、電力変換器200が構成されている。
FIG. 17 shows an example of the structure of a conventional power converter. The
図17において、パワー半導体モジュール10は、絶縁基板11、接続リード端子18,18A、絶縁樹脂19、パワー半導体素子4、アルミワイヤ12、ケース本体20および蓋21を備えている。絶縁基板11は、金属ベース15の表面に絶縁層16が形成され、絶縁層16の表面に回路パターン17が形成されたものである。金属ベース15は、例えばアルミニウム板、アルミニウム合金による板、銅板、銅合金による板などである。絶縁層16は、例えば、酸化珪素、酸化アルミニウム、窒化アルミニウムなどの無機フィラーを含有したエポキシ樹脂を固化して形成した絶縁層である。回路パターン17は、例えば銅の薄膜を形成したパターンである。
In FIG. 17, the
絶縁基板11上には樹脂(エポキシ、PPS、PBTなど)製のケース本体20が固着されて収容空間が形成される。絶縁基板11の回路パターン17にはパワー半導体素子4の裏面電極や接続リード端子18,18Aがはんだ付けにより接合(接続・固定)され、パワー半導体素子4の表面電極と回路パターン17とはアルミワイヤ12により接続される。そして、ケース本体20で形成される収容空間内に、熱伝導性が高いシリコーンゲルやエポキシ樹脂などの絶縁樹脂19が充填されてパワー回路を封止し、ケース本体20の開口部をケース本体20と同じ樹脂製の蓋21で覆っており、蓋21を接続リード端子18,18Aが貫通している。
A case body 20 made of resin (epoxy, PPS, PBT, etc.) is fixed on the insulating substrate 11 to form an accommodation space. The back electrode of the power semiconductor element 4 and the
プリント配線板9a,9bは、例えばガラスエポキシ(ガラスファイバで強化されたエポキシ樹脂)で構成される電気絶縁性の基板本体23a,23bにそれぞれ例えば銅箔からなる回路パターン24a,24bが形成されたものである。プリント配線板9aには表面実装型の電子回路部品6c,6d,6eがはんだ付けで実装されており、プリント配線板9bには穴挿入実装型の電子回路部品6f,6gがはんだ付けで実装されている。プリント配線板9a,9bは支柱25,25Aを介してヒートシンク7に支持固定される。
For the printed wiring boards 9a and 9b, circuit patterns 24a and 24b made of, for example, copper foil are formed on electrically insulating substrate bodies 23a and 23b made of, for example, glass epoxy (epoxy resin reinforced with glass fiber). Is. Surface-mounted electronic circuit components 6c, 6d, and 6e are mounted on the printed wiring board 9a by soldering, and hole insertion mounting type electronic circuit components 6f and 6g are mounted on the printed wiring board 9b by soldering. ing. The printed wiring boards 9a and 9b are supported and fixed to the
パワー半導体モジュール10は、パワー半導体モジュール10の上部に配置されるプリント配線板9a,9bと接続リード端子18,18Aを介して接続される。図17では、接続リード端子18がプリント配線板9bの回路パターン24bと配線26で接続されるとともに、接続リード端子18Aがプリント配線板9aの回路パターン24aに直接接続される構成が示されている。
The
しかしながら、パワー半導体モジュールは、絶縁基板にパワー半導体素子を実装しており、ヒートシンクまでに、多数の材料が介在するため、一定の熱抵抗があり、必ずしも冷却特性が十分ではなく、パワー半導体から発生する熱を十分に逃がすことができなかった。 However, a power semiconductor module has a power semiconductor element mounted on an insulating substrate, and a large number of materials intervene up to the heat sink. Therefore, there is a certain thermal resistance, and the cooling characteristics are not always sufficient. I couldn't release enough heat.
ここで熱抵抗が低減できるほど、運転時のパワー半導体素子の温度は低くすることが可能であり、その結果、パワー半導体素子のチップサイズが小さくでき、コストの低減に繋げられる。 Here, as the thermal resistance can be reduced, the temperature of the power semiconductor element during operation can be lowered. As a result, the chip size of the power semiconductor element can be reduced, leading to cost reduction.
また、パワー半導体モジュールは、ひとつの製品となっており、電力変換器の内部に配置するためには一定の容積が必要なため、小形化の妨げとなるとともに、電力変換器のコストの低減の妨げとなっていた。 In addition, the power semiconductor module is a single product that requires a certain volume to be placed inside the power converter, which hinders downsizing and reduces the cost of the power converter. It was a hindrance.
本発明は、このような問題に鑑みてなされたものであって、その目的とするところは、放熱性に優れ、小形化が可能であって、低コスト化の要求に応える優れた電力変換器を提供することにある。 The present invention has been made in view of such problems, and its object is to provide an excellent power converter that is excellent in heat dissipation, can be miniaturized, and meets the demand for cost reduction. Is to provide.
本発明は、このような目的を達成するために、上面および下面を有する金属ブロックの上面にパワー半導体素子からなる第1の回路素子が実装されてなるパワー半導体ユニットと、前記金属ブロックを収めることが可能な孔が明けられたプリント配線板に第2の回路素子が実装されてなるプリント配線板ユニットと、冷却用ヒートシンクとを備え、前記金属ブロックが前記孔にはめ込まれるようにして前記パワー半導体ユニットと前記プリント配線板ユニットとが一体とされた電力変換回路組立体が構成されているとともに、前記金属ブロックの下面と前記金属ブロックの側面の少なくとも一部とに直接セラミックス材料が放熱用絶縁層として形成されてなり、前記下面の放熱用絶縁層と前記側面の放熱用絶縁層とはつながるように設けられ、前記金属ブロックの下面が前記放熱用絶縁層を介して前記冷却用ヒートシンクの上面に当接するようにして前記電力変換回路組立体が前記冷却用ヒートシンクに取付けられた構成とする(請求項1の発明)。 In order to achieve such an object, the present invention includes a power semiconductor unit in which a first circuit element made of a power semiconductor element is mounted on an upper surface of a metal block having an upper surface and a lower surface, and the metal block. The power semiconductor includes a printed wiring board unit in which a second circuit element is mounted on a printed wiring board in which a hole capable of being formed is mounted and a heat sink for cooling, and the metal block is fitted in the hole. A power conversion circuit assembly in which the unit and the printed wiring board unit are integrated is configured, and a ceramic material is directly applied to the lower surface of the metal block and at least a part of the side surface of the metal block. is formed becomes as provided so as to connect the heat radiation insulating layer of the side and the lower surface of the heat radiating insulating layer The lower surface of the metal block is said to through the heat radiating insulating layer so as to contact with the upper surface of the cooling heat sink power conversion circuit assembly is configured to attached to the cooling heat sink (the invention of claim 1 ).
この発明によれば、熱容量が高く放熱性に優れた金属ブロックがセラミックス材料からなる放熱用絶縁層を介して冷却用ヒートシンクと直接接することから、パワー半導体素子からなる第1の回路素子の下部の熱抵抗を小さくすることができるので、放熱性を向上させることができる。したがって、パワー半導体素子として、よりコストが低く、より面積の小さいパワー半導体チップを採用することが可能となる。 According to the present invention, since the metal block having a high heat capacity and excellent heat dissipation is in direct contact with the cooling heat sink via the heat dissipation insulating layer made of the ceramic material, the lower part of the first circuit element made of the power semiconductor element is formed. Since heat resistance can be reduced, heat dissipation can be improved. Therefore, it is possible to employ a power semiconductor chip with lower cost and smaller area as the power semiconductor element.
また、金属ブロックの上面にパワー半導体素子からなる第1の回路素子が実装されてなるパワー半導体ユニットと、プリント配線板に第2の回路素子が実装されてなるプリント配線板ユニットとが、金属ブロックがプリント配線板の孔にはめ込まれるようにして一体とされ、電力変換回路組立体が構成されていることにより、従来のパワー半導体モジュールのようにパワー半導体素子からなる主回路部だけを独立したケースに収納する必要がないため、上記ケースに設けた接続リード端子を介して他の電子回路部品が搭載されたプリント配線板と接続する必要がなく、電力変換器の容積を低減することが可能となる。 Further, a power semiconductor unit in which a first circuit element made of a power semiconductor element is mounted on an upper surface of the metal block, and a printed wiring board unit in which a second circuit element is mounted on a printed wiring board include a metal block. Is integrated into the hole of the printed wiring board, and the power conversion circuit assembly is configured, so that only the main circuit portion consisting of power semiconductor elements is independent as in the case of conventional power semiconductor modules. Therefore, it is not necessary to connect to the printed wiring board on which other electronic circuit components are mounted via the connection lead terminals provided in the case, and the volume of the power converter can be reduced. Become.
さらに、専用のパワー半導体モジュールを用いる必要がないので、電力変換器のコスト低減に繋がる。 Furthermore, since it is not necessary to use a dedicated power semiconductor module, the cost of the power converter is reduced.
金属ブロックと冷却用ヒートシンクとの間での放電経路となり得る金属ブロックの側面の少なくとも一部にも放熱用絶縁層が下面の放熱用絶縁層とつながるように設けられることにより、絶縁性をより高めることができる。 Insulation is further improved by providing a heat-dissipating insulating layer connected to the heat-dissipating insulating layer on the lower surface on at least a part of the side surface of the metal block that can be a discharge path between the metal block and the cooling heat sink. be able to.
また、前記金属ブロックの下面と前記プリント配線板の下面における前記金属ブロックの周辺領域とに直接セラミックス材料が前記放熱用絶縁層として形成されてなる構成とすることができる(請求項2の発明)。 Further, a ceramic material can be directly formed as the heat-dissipating insulating layer on the lower surface of the metal block and the peripheral area of the metal block on the lower surface of the printed wiring board (Invention of Claim 2 ). .
また、前記孔は、導体層からなるスルーホール部の開口部であって、前記金属ブロックは、前記スルーホール部にはんだ付で固定されているとともに、前記プリント配線板の下面における前記金属ブロックの周辺領域は、前記スルーホール部のランド面である構成とすることができる(請求項3の発明)。 The hole is an opening of a through hole portion made of a conductor layer, and the metal block is fixed to the through hole portion by soldering, and the metal block on the lower surface of the printed wiring board The peripheral region may be configured to be a land surface of the through-hole portion (invention of claim 3 ).
また、前記パワー半導体ユニットは、前記金属ブロックの上面の一部分に直接セラミックス材料を積層して形成された中継電極用絶縁層と、前記中継電極用絶縁層の上面に金属材料を積層して形成された中継電極とを備え、前記第1の回路素子からのボンディングワイヤまたはリードフレームを前記中継電極に接合するとともに、前記中継電極と前記プリント配線板の上面側の回路パターン部とを接続した構成とすることができる(請求項4の発明)。 The power semiconductor unit is formed by laminating a ceramic material directly on a part of the upper surface of the metal block and laminating a metal material on the upper surface of the relay electrode insulating layer. A relay wire, a bonding wire or a lead frame from the first circuit element is bonded to the relay electrode, and the relay electrode and a circuit pattern portion on the upper surface side of the printed wiring board are connected to each other. (Invention of claim 4 ).
この構成によれば、第1の回路素子からのボンディングワイヤまたはリードフレームを中継電極に接合するとともに、中継電極とプリント配線板の上面側の回路パターン部とを接続していることにより、第1の回路素子とプリント配線板の上面側の回路パターン部とは上記中継電極を介して接続されている。 According to this configuration, the bonding wire or the lead frame from the first circuit element is bonded to the relay electrode, and the relay electrode and the circuit pattern portion on the upper surface side of the printed wiring board are connected to each other. The circuit element and the circuit pattern portion on the upper surface side of the printed wiring board are connected via the relay electrode.
このため、パワー半導体素子からなる第1の回路素子が動作時に発生し、第1の回路素子からのボンディングワイヤまたはリードフレームに沿って伝達される熱は、主に中継電極およびセラミックス材料からなる中継電極用絶縁層を介して熱容量が高く放熱性に優れた金属ブロックの方に伝わり、プリント配線板の上面側の回路パターン部の方に伝わる熱量が十分に小さく抑制されるので、電力変換器における放熱性をより向上させることができる。 For this reason, the first circuit element made of the power semiconductor element is generated during operation, and the heat transferred along the bonding wire or the lead frame from the first circuit element is mainly made of the relay electrode and the ceramic material. Since it is transmitted to the metal block with high heat capacity and excellent heat dissipation through the insulating layer for electrodes, the amount of heat transmitted to the circuit pattern part on the upper surface side of the printed wiring board is suppressed sufficiently small, so in the power converter The heat dissipation can be further improved.
また、前記中継電極は、金属材料として銅粒子を溶射して形成した構成とすることができる(請求項8の発明)。 The relay electrode may be formed by spraying copper particles as a metal material (invention of claim 8 ).
また、前記中継電極と前記プリント配線板の上面側の回路パターン部とをボンディングワイヤまたはリードフレームを介して接続した構成とすることができる(請求項5の発明)。 Further, it can be configured that is connected via the relay electrode and the upper surface side of the circuit pattern portion and a bonding wire or lead frame of the printed circuit board (invention of claim 5).
また、前記放熱用絶縁層および/または前記中継電極用絶縁層は、熱伝導率が1〜200W/m・Kであり、かつ厚さが10〜500μmである構成とすることができる(請求項6の発明)。 The heat dissipation insulating layer and / or the relay electrode insulating layer may have a thermal conductivity of 1 to 200 W / m · K and a thickness of 10 to 500 μm. 6 invention).
また、前記放熱用絶縁層および/または前記中継電極用絶縁層は、酸化珪素、酸化アルミニウム、窒化珪素、窒化アルミニウム、窒化ホウ素からなるフィラー群の少なくとも1種類からなる構成とすることができ(請求項7の発明)、さらに、前記放熱用絶縁層および/または前記中継電極用絶縁層は、前記フィラー群の少なくとも1種によるセラミックス微粒子をプラズマ溶射法にて堆積させることにより形成した構成とすること(請求項9の発明)や、前記放熱用絶縁層および/または前記中継電極用絶縁層は、前記フィラー群の少なくとも1種によるセラミックス微粒子をエアロゾルデポジション法にて堆積させることにより形成した構成とすることもできる(請求項10の発明)。
Further, the heat dissipation insulating layer and / or the relay electrode insulating layer can be made of at least one filler group consisting of silicon oxide, aluminum oxide, silicon nitride, aluminum nitride, and boron nitride. Item 7 ), and further, the heat dissipation insulating layer and / or the relay electrode insulating layer is formed by depositing ceramic fine particles of at least one of the filler groups by plasma spraying. (Invention of Claim 9 ), The heat dissipation insulating layer and / or the relay electrode insulating layer is formed by depositing ceramic fine particles of at least one kind of the filler group by an aerosol deposition method. (Invention of claim 10 ).
本発明によれば、放熱性に優れ、小形化が可能であって、低コスト化の要求に応える優れた電力変換器を提供することができる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, it is excellent in heat dissipation, can be reduced in size, and can provide the outstanding power converter which responds to the request | requirement of cost reduction.
以下、図面を参照しながら、本発明の実施形態について詳細に説明する。なお、本発明は、下記の実施形態に限定されるものではなく、その要旨を変更しない範囲内で適宜変形して実施することができるものである。また、以下の説明に際し、全図にわたり、特に言及がない限り、共通する部分または要素には、共通する参照符号が付されている。
<第1の実施形態>
図1は本発明の第1の実施形態にかかる電力変換器の構成を示す断面図である。図1において、上面1bおよび下面1aを有する金属ブロック1の上面1bに例えばIGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)などのパワー半導体素子4が実装されてなるパワー半導体ユニット51と、金属ブロック1を収めることが可能な孔14が明けられたプリント配線板5に電子回路部品6a,6bが実装されてなるプリント配線板ユニット52とが、金属ブロック1が孔14にはめ込まれるようにして一体とされ、電力変換回路組立体53が構成されている。なお、以下では、金属ブロック1の上面1bおよび下面1aをそれぞれ「表面1b」および「裏面1a」とも称する。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In addition, this invention is not limited to the following embodiment, In the range which does not change the summary, it can implement suitably. In the following description, common parts or elements are denoted by common reference symbols throughout the drawings unless otherwise specified.
<First Embodiment>
FIG. 1 is a cross-sectional view showing a configuration of a power converter according to a first embodiment of the present invention. In FIG. 1, a power semiconductor unit 51 in which a power semiconductor element 4 such as an IGBT (Insulated Gate Bipolar Transistor) is mounted on a top surface 1b of a
金属ブロック1は、その下面1a側に直接セラミックス材料が放熱用絶縁層2として形成されて、絶縁金属ブロック3を構成している。放熱用絶縁層2として具体的には、金属ブロック1の下面1aに下面部放熱用絶縁層2aが形成されているとともに、金属ブロック1の側面1cの一部に側面部放熱用絶縁層2bが形成されている。側面部放熱用絶縁層2bは下面部放熱用絶縁層2aにつながるように形成されている。
The
プリント配線板5は、例えばガラスエポキシ(ガラスファイバで強化されたエポキシ樹脂)で構成される電気絶縁性の基板本体23に例えば銅箔からなる回路パターン24が形成されたものである。また、上記の孔14は、金属ブロック1の例えば正方形、長方形などの形状に合わせて、プリント配線板5に形成される貫通孔である。なお、以下では、基板本体23の上面501および下面502をそれぞれ「表面501」及び「裏面502」とも称する。また、基板本体23の上面501が部品実装面となっている。
The printed wiring board 5 is obtained by forming a
電力変換回路組立体53は、金属ブロック1の下面1aが放熱用絶縁層2(下面部放熱用絶縁層2a)を介して冷却用ヒートシンク7の上面7aに当接するようにして冷却用ヒートシンク7に取付けられている。さらに、電力変換回路組立体53を上方側から覆うケース8が冷却用ヒートシンク7に取付けられ、電力変換器100が構成されている。
The power conversion circuit assembly 53 is attached to the
電力変換器100では、金属ブロック1の上面1bに実装されたパワー半導体素子4により主回路が構成されるとともに、プリント配線板5に実装された電子回路部品6a,6bにより、その他の電源回路や制御用の回路が構成されている。電子回路部品6a,6bとしては例えばIC、LSI、抵抗、コンデンサ、リアクトルなどの各種部品が用いられる。
In the
電力変換器100では、図1に示されるように、パワー半導体素子4とプリント配線板5の回路パターン24とで回路を形成するために、アルミワイヤ12によりお互いを接続している。
In the
このように、電力変換器100では、金属ブロック1の上面1bにパワー半導体素子4が実装されたパワー半導体ユニット51と、プリント配線板5に電子回路部品6a,6bが実装されたプリント配線板ユニット52とが、金属ブロック1がプリント配線板5の孔14にはめ込まれるようにして一体とされているので、従来のパワー半導体モジュールのようにパワー半導体素子からなる主回路部だけを独立したケースに収納する必要がなく、パワー半導体素子4とプリント配線板5の回路パターン24とをアルミワイヤ12などにより直接的に接続することができ、これにより、電力変換器としての容積を従来よりも低減することが可能となっている。
Thus, in the
また、電力変換器100では、金属ブロック1を、導電性および熱伝導性のよい金属材料の銅で構成するとともに、その厚さを1.0〜5.0mm程度として、熱容量が高く放熱性に優れたものとしている。
Further, in the
そして、電力変換器100では、後述のように、金属ブロック1の下面1a側に形成される放熱用絶縁層2を例えば酸化アルミニウム、窒化珪素、窒化アルミニウム、窒化ホウ素など熱伝導性に優れたセラミックス材により形成するようにしている。なお、放熱用絶縁層2では、熱伝導率は1〜200W/m・Kであることが好ましく、また、厚さは10〜500μmであることが好ましい。
In the
このように、電力変換器100では、パワー半導体素子4が実装された、熱容量が高く放熱性に優れた金属ブロック1の下面1aが、熱伝導性に優れたセラミックス材よりなる放熱用絶縁層2(下面部放熱用絶縁層2a)を介して、冷却用ヒートシンク7に直接接するように構成しているので、パワー半導体素子4下部の熱抵抗を十分に小さくすることができ、優れた放熱性を備えている。
As described above, in the
また、電力変換器100では、金属ブロック1と冷却用ヒートシンク7との間での放電経路となり得る金属ブロック1の側面1cの一部にも側面部放熱用絶縁層2bが下面部放熱用絶縁層2aとつながるようにして配置されるため、良好な絶縁性が実現され得る。
Further, in the
なお、図1では金属ブロック1にパワー半導体素子4が2個実装された構成例を示しているが、金属ブロック1に実装されるパワー半導体素子4の個数は、1個でもよく、また、3個以上であってもよい。
1 shows a configuration example in which two power semiconductor elements 4 are mounted on the
また、金属ブロック1を形成する金属材料は銅に限るものではなく、例えば銅合金、アルミニウム、アルミニウム合金なども適用可能である。
Further, the metal material forming the
また、冷却用ヒートシンク7を形成する金属材料としては、例えば銅、銅合金、アルミニウム、アルミニウム合金などが適用可能である。
Moreover, as a metal material which forms the
続いて、この電力変換器100の製造方法について図2および図3を参照して説明する。図2および図3は、本発明の第1の実施形態にかかる電力変換器の製造方法を示す断面図である。
Then, the manufacturing method of this
まず、絶縁金属ブロック3の製作方法について説明する。最初に、1.0〜5.0mm程度の銅板を、プレス加工により、正方形または長方形に打ち抜いて、金属ブロック1を製作する(図2(a))。
First, a method for manufacturing the insulating metal block 3 will be described. First, a
次に、マスク30をして、溶射法もしくはエアロゾルデポジション法によりセラミックス粉末を積層することにより、金属ブロック1の片面(下面1a)側に放熱用絶縁層2を形成する。放熱用絶縁層2としては、金属ブロック1の下面1aに下面部放熱用絶縁層2aを形成するとともに金属ブロック1の側面1cの一部に側面部放熱用絶縁層2bを形成する。側面部放熱用絶縁層2bは下面部放熱用絶縁層2aにつながるように形成する(図2(b)〜図2(c))。
Next, the insulating
溶射法のうち、例えばプラスマ溶射法で金属ブロック1の片面(下面1a)側に放熱用絶縁層2を形成する場合は、セラミックス粉末には酸化珪素、酸化アルミニウム、窒化珪素、窒化アルミニウム、窒化ホウ素からなる1種類以上を用いる。雰囲気としては大気圧もしくは減圧下でマスク30を介して金属ブロック1に溶射を行い、放熱用絶縁層2を堆積させて絶縁金属ブロック3を形成する。
Among the thermal spraying methods, for example, when the heat
なお、プラスマ溶射法により金属ブロック1上に放熱用絶縁層2として下面部放熱用絶縁層2aに加えて側面部放熱用絶縁層2bも形成するため、例えば図2(b)に示すように金属ブロック1の側面1cの一部をマスク30から露出させた状態で、セラミックス粉末を原料粉末31A及び31Bとして溶射する。この際、(図示されない)溶射ノズルの方向を調整して、金属ブロック1の下面1aに正対する原料粉末31Aの方向に加えて斜め方向の原料粉末31Bも利用することによって、金属ブロック1上に、下面1aの下面部放熱用絶縁層2aに加えて、側面1cの一部にも下面部放熱用絶縁層2aとつながる側面部放熱用絶縁層2bを形成する。金属ブロック1の側面1cのうち、側面部放熱用絶縁層2bによって覆う範囲は、金属ブロック1と冷却用ヒートシンク7との間に生じ得る電位差など、絶縁のための条件を勘案して決定される。
In addition to the lower surface heat radiation insulating layer 2a, the side surface heat radiation insulating layer 2b is also formed on the
放熱用絶縁層2の厚みは溶射時間をコントロールすることにより調整できる。放熱用絶縁層2の厚みは10〜500μmが好ましい。上記のようにして形成された放熱用絶縁層2は、絶縁特性として、例えば厚み200μmで交流破壊電圧5kV以上を有しており、耐電圧定格が1200Vのパワー素子にも用いることができる。
The thickness of the insulating
次に、エアロゾルデポジション法で金属ブロック1の片面(下面1a)側に放熱用絶縁層2を堆積させる場合について説明する。エアロゾルデポジション法とは、微粒子あるいは超微粒子原料をガスと混合してエアロゾル化し、ノズルを通して基板に皮膜を形成する技術である。ガスにはヘリウムもしくは空気が用いられる。装置は、図示しないエアロゾル化チャンバーと成膜チャンバーから構成することができる。成膜チャンバーは、真空ポンプで50Pa〜1kPa前後に減圧する。原料である微粒子または超微粒子材料は乾燥された状態でエアロゾル化チャンバー内でガスと攪拌・混合してエアロゾル化され、両チャンバーの圧力差により生じるガスの流れにより成膜チャンバーに搬送され、スリット状のノズルを通過することで加速され、成膜対象である金属ブロック1の片面(下面1a)側に噴射される。原料微粒子には、機械的に粒径0.1〜2μmに粉砕したセラミックス粉末を用いる。ガス搬送された超微粒子は、減圧されたチャンバー内の微小開口のノズルを通すことで数百m/secまで加速される。成膜速度や成膜体の密度は使用されるセラミックス微粒子の粒径や凝集状態、乾燥状態などに大きく依存するため、エアロゾル化チャンバーと成膜チャンバーとの間に凝集粒子の解砕器や分級装置を用いている。
Next, a case where the heat
そして、放熱用絶縁層2を膜として形成するためには、粒径0.1〜2μmの微粒子のセラミックスを高速で基板上に吹き付け、その時の衝突エネルギーにて10〜30nm前後の微結晶粒子に破砕され、新生面が形成されて表面が活性化され、粒子同士が結合されることで、ち密なナノ結晶組織のセラミックス膜が形成される。また、特に温度をかけることなく常温で形成可能である。
And, in order to form the insulating
エアロゾルデポジションの微粒子には、粒子径が0.1〜2μm程度の酸化アルミニウム、窒化珪素、窒化アルミニウム、窒化ホウ素のいずれかを用いることが好ましい。必要な膜厚を得るため、所定の時間、マスク30を用い微粒子を吹き付け、図2(c)に示す放熱用絶縁層2を形成する。
It is preferable to use any one of aluminum oxide, silicon nitride, aluminum nitride, and boron nitride having a particle size of about 0.1 to 2 μm for the aerosol deposition fine particles. In order to obtain a required film thickness, fine particles are sprayed using a
なお、エアロゾルデポジション法により金属ブロック1上に放熱用絶縁層2として下面部放熱用絶縁層2aに加えて側面部放熱用絶縁層2bも形成するため、上述のプラスマ溶射法の場合と同様に、例えば図2(b)に示すように金属ブロック1の側面1cの一部をマスク30から露出させた状態で、セラミックス微粒子を原料粉末31A及び31Bとして吹き付ける。この際、(図示されない)ノズルの方向を調整して、金属ブロック1の下面1aに正対する原料粉末31Aの方向に加えて斜め方向の原料粉末31Bも利用することによって、金属ブロック1上に、下面1aの下面部放熱用絶縁層2aに加えて、側面1cの一部にも下面部放熱用絶縁層2aとつながる側面部放熱用絶縁層2bを形成する。金属ブロック1の側面1cのうち、側面部放熱用絶縁層2bによって覆う範囲は、金属ブロック1と冷却用ヒートシンク7との間に生じ得る電位差など、絶縁のための条件を勘案して決定される。
In addition, in addition to the lower surface heat radiation insulating layer 2a as the heat
ここで、微粒子には窒化珪素、窒化アルミニウム、窒化ホウ素いずれかのフィラーに酸化アルミニウムの皮膜を形成したもの、もしくは、窒化珪素、窒化アルミニウム、窒化ホウ素いずれかのフィラーに酸化珪素の皮膜を形成したものも適用可能である。これらの微粒子を用いれば、2種類以上のセラミックスを複合した絶縁層が形成できる。 Here, the fine particles are formed by forming a film of aluminum oxide on a filler of silicon nitride, aluminum nitride, or boron nitride, or formed a film of silicon oxide on a filler of silicon nitride, aluminum nitride, or boron nitride. Things are also applicable. If these fine particles are used, an insulating layer composed of two or more kinds of ceramics can be formed.
放熱用絶縁層2の厚みは、溶射法と同様の10〜500μmが好ましい。上記のようにして形成された放熱用絶縁層2は、絶縁特性として、例えば厚み200μmで交流破壊電圧5kV以上を有しており、耐電圧定格が1200Vのパワー素子にも用いることができる。
The thickness of the heat
次に、絶縁金属ブロック3における金属ブロック1の上面1bに、パワー半導体素子4をはんだ28aでの接合により接合する(図2(d))。はんだ付けは、ペレット状のはんだを利用し、水素還元が可能な炉において行なうと良い。水素還元が可能な炉を使うのは、金属ブロック1の表面の酸化膜を水素還元により除去し、活性化させることにより、はんだとの濡れ性を向上させるためである。はんだ材料には例えば、SnPbAgからなる高温はんだ、SnAgCu系からなる鉛フリーはんだを用いる。はんだ付けの温度は、はんだの融点に応じて設定される。
Next, the power semiconductor element 4 is bonded to the upper surface 1b of the
パワー半導体素子4と金属ブロック1と間のはんだ層28aにボイドが残留すると、熱抵抗が高くなり、パワー半導体素子4から生じる熱を効率よく放熱することができない。そこで、ボイドを発生しないように、はんだが溶融している状態で、1.3kPa(10Torr)以下の真空引きを行なう。
If voids remain in the
そして、予め、絶縁金属ブロック3を収めることが可能な孔14が形成されたプリント配線板5に絶縁金属ブロック1をはめ込む。この時、絶縁金属ブロック3がプリント配線板5と一体となるよう接着剤29などで固定する(図2(e))。
Then, the insulating
次に、パワー半導体素子4とプリント配線板5の回路パターン24とで回路を形成するために、アルミワイヤ12によりお互いを接続する(図3(a))。アルミワイヤ12は、線径が125〜500μmのアルミワイヤで、接合は超音波接合にて行う。なお、お互いの接合には、リードフレームやリボン状のアルミを用いても良い。
Next, in order to form a circuit with the power semiconductor element 4 and the
次に、プリント配線板5に各種の電子回路部品6a,6bをはんだ28aでの接合により実装する。実装は通常、クリームはんだを用い、リフロー炉で行う(図3(b))。これにより、パワー半導体ユニット51とプリント配線板ユニット52とが一体化された電力変換回路組立体53が構成される。
Next, various electronic circuit components 6a and 6b are mounted on the printed wiring board 5 by joining with
最後に、電力変換回路組立体53を、冷却用ヒートシンク7に放熱グリスを介して搭載し、ケース8を被せ、電力変換器100を構成する(図3(c))。
Finally, the power conversion circuit assembly 53 is mounted on the
上述のように、本実施形態の電力変換器における金属ブロック1の下面1a(裏面)側に形成される放熱用絶縁層2には、エアロゾルデポジション法またはプラズマ溶射法によるセラミックス材の絶縁層を採用したため、以下のような利点がある。
(1)絶縁耐圧の向上
エアロゾルデポジション法では、室温(常温)で成膜が可能であり、かつ音速レベルのスピードでサブミクロンオーダーのセラミックス微粒子を基板に衝突させるため、活性な新生面が露出したセラミックス微粒子が結合する。また、プラズマ溶射法によっても同様である。いずれの方法においても、非常にち密な電気絶縁膜であるセラミックス微粒子層を形成することが可能となり、膜内に空孔(ボイド)が含まれないため、従来の焼結法により形成されたセラミックス板よりも単位長さ当たりの破壊電圧が10倍程度向上する。
(2)熱抵抗の低下
熱伝導率はバルクと同等であり、熱伝導率は例えば酸化アルミニウム(Al2O3)で約20W/m・K、窒化アルミニウム(AlN)で約160〜180W/m・K 、窒化珪素(Si3N4)で約80W/m・K程度確保できる。これに加えて単位長さ当たりの破壊電圧が向上するため、放熱用絶縁層2を薄く形成することができ、このため全体の熱抵抗が低くなる。
As described above, the insulating
(1) Improvement of dielectric strength With the aerosol deposition method, film formation is possible at room temperature (room temperature), and submicron-order ceramic fine particles collide with the substrate at the speed of sound speed, exposing an active new surface. Ceramic fine particles are bonded. The same applies to the plasma spraying method. In any method, it is possible to form a ceramic fine particle layer which is a very dense electrical insulating film, and since no voids are contained in the film, ceramics formed by a conventional sintering method The breakdown voltage per unit length is improved about 10 times compared with the plate.
(2) Decrease in thermal resistance The thermal conductivity is equivalent to that of bulk, and the thermal conductivity is about 20 W / m · K for aluminum oxide (Al 2 O 3 ) and about 160 to 180 W / m for aluminum nitride (AlN), for example. • About 80 W / m · K can be secured with K and silicon nitride (Si 3 N 4 ). In addition, since the breakdown voltage per unit length is improved, the heat-dissipating
上述の点により、高絶縁と低熱抵抗とを共に確保することが可能となる。 With the above points, it is possible to ensure both high insulation and low thermal resistance.
このように、本実施形態の電力変換器は、パワー半導体素子4が実装される金属ブロック1の下面1a(裏面)が、熱伝導性に優れたセラミックス材よりなる放熱用絶縁層2を介して、冷却用ヒートシンク7に直接接するように構成しているので、パワー半導体素子4下部の熱抵抗を十分に小さくすることができ、優れた放熱性を備えたものとなっている。
As described above, in the power converter according to the present embodiment, the lower surface 1a (back surface) of the
また、本実施形態の電力変換器は、上述の図1の構成に限定されるものではなく、例えば図4のような構成とすることもできる。図4は本発明の第1の実施形態にかかる電力変換器の異なる構成を示す断面図である。図4(b)に示す電力変換器100Aにおいて、金属ブロック1Aの上面1Abにパワー半導体素子4が実装されてなるパワー半導体ユニット51Aと、金属ブロック1Aを収めることが可能な孔14Aが明けられたプリント配線板5Aに電子回路部品6a,6bが実装されてなるプリント配線板ユニット52Aとが、金属ブロック1Aが孔14Aにはめ込まれるようにして一体とされ、電力変換回路組立体53Aが構成されている。電力変換回路組立体53Aは、金属ブロック1Aの下面1Aaが放熱用絶縁層2Aを介して冷却用ヒートシンク7の上面7aに当接するようにして冷却用ヒートシンク7に取付けられている。さらに、電力変換回路組立体53Aを上方側から覆うケース8が冷却用ヒートシンク7に取付けられ、電力変換器100Aが構成されている。
Further, the power converter according to the present embodiment is not limited to the configuration shown in FIG. 1 described above, and may be configured as shown in FIG. 4, for example. FIG. 4 is a cross-sectional view showing a different configuration of the power converter according to the first embodiment of the present invention. In the
この図4の構成例では、図1の構成例における絶縁金属ブロック3の代わりに、図4(a)に示す、金属ブロック1Aの下面1Aa側に放熱用絶縁層2Aが形成された絶縁金属ブロック3Aを用いる。厚さd1の金属ブロック1Aの側面部における上面1Ab側の部分には切り欠き部13が形成されている。金属ブロック1Aの厚さ方向における切り欠き部13の長さd2はプリント配線板5Aの厚さ寸法に合わせておく。図2(b)〜図2(c)に示した製造方法と同様にして、金属ブロック1Aに、マスク30をし、溶射法もしくはエアロゾルデポジション法によりセラミクッス粉末を積層することにより放熱用絶縁層2Aを形成することによって、絶縁金属ブロック3Aを構成することができる。
In the configuration example of FIG. 4, instead of the insulating metal block 3 in the configuration example of FIG. 1, the insulating metal block shown in FIG. 4A in which a
ここで、金属ブロック1A上の放熱用絶縁層2Aとして具体的には、金属ブロック1Aの下面1Aaに下面部放熱用絶縁層2Aaが形成されているとともに、金属ブロック1の側面部における下面1Aa側の部分の側面1Acに側面部放熱用絶縁層2Abが形成されている。側面部放熱用絶縁層2Abは下面部放熱用絶縁層2Aaにつながるように形成されている。
Here, as the heat dissipation insulating layer 2A on the metal block 1A, specifically, the lower surface heat dissipation insulating layer 2Aa is formed on the lower surface 1Aa of the metal block 1A, and the lower surface 1Aa side of the side surface of the
そして、図2(d)〜図3(c)に示した製造方法と同様にして、図4(b)に示す電力変換器100Aを構成することができる。
And the
なお、プリント配線板5Aには、切り欠き部13を備えた金属ブロック1Aを収めることが可能な孔14Aが形成されており、プリント配線板5Aの孔14Aに絶縁金属ブロック3Aがプリント配線板5Aの下面502側からはめ込まれ、絶縁金属ブロック3Aがプリント配線板5Aと一体となるように接着剤29などで固定される。
<第2の実施形態>
図5は本発明の第2の実施形態にかかる電力変換器の構成を示す断面図である。図5において、上面1Bbおよび下面1Baを有する金属ブロック1Bの上面1Bbに例えばIGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)などのパワー半導体素子4が実装されてなるパワー半導体ユニット51Bと、金属ブロック1Bを収めることが可能な孔27dを有するスルーホール部27が形成されたプリント配線板5Bに電子回路部品6a,6bが実装されてなるプリント配線板ユニット52Bとが、金属ブロック1Bが孔27dにはめ込まれるようにして一体とされ、電力変換回路組立体53Bが構成されている。なお、以下では、金属ブロック1Bの上面1Bbおよび下面1Baをそれぞれ「表面1Bb」および「裏面1Ba」とも称する。
The printed wiring board 5A has a hole 14A in which the metal block 1A having the notch 13 can be accommodated, and the insulating metal block 3A is inserted into the hole 14A of the printed wiring board 5A. The insulating metal block 3A is fixed with an adhesive 29 or the like so as to be integrated with the printed wiring board 5A.
<Second Embodiment>
FIG. 5 is a cross-sectional view showing a configuration of a power converter according to the second embodiment of the present invention. In FIG. 5, a power semiconductor unit 51B in which a power semiconductor element 4 such as an IGBT (Insulated Gate Bipolar Transistor) is mounted on the upper surface 1Bb of the metal block 1B having the upper surface 1Bb and the lower surface 1Ba, and the metal block 1B can be accommodated. A printed wiring board unit 52B in which electronic circuit components 6a and 6b are mounted on a printed wiring board 5B in which a through-
プリント配線板5Bは、例えばガラスエポキシ(ガラスファイバで強化されたエポキシ樹脂)で構成される電気絶縁性の基板本体23に例えば銅箔からなる回路パターン24が形成されたものである。基板本体23には貫通孔が設けられているとともに、この貫通孔の内周面と、基板本体23の上面501および下面502における上記貫通孔の周縁部とに例えば銅箔からなる導体層が一体的に設けられ、これによりスルーホール部27の導体部が形成されている。ここで、上記貫通孔の内周面に設けられる導体層部分を貫通導体部27aとし、基板本体23の上面501および下面502における上記貫通孔の周縁部に設けられる各導体層部分をそれぞれ上面ランド導体部27bおよび下面ランド導体部27cとする。貫通導体部27aは、金属ブロック1Bの例えば正方形、長方形などの形状に合わせた孔27dを有している。なお、以下では、基板本体23の上面501および下面502をそれぞれ「表面501」及び「裏面502」とも称する。また、基板本体23の上面501が部品実装面となっている。
The printed wiring board 5B is obtained by forming a
金属ブロック1Bの下面1Baおよびその周辺領域、すなわち金属ブロック1Bの下面1Baとプリント配線板5Bの下面502側における金属ブロック1Bの周辺領域とに直接セラミックス材料が放熱用絶縁層2Bとして形成されている。ここで、図5の構成では、放熱用絶縁層2Bが形成される、プリント配線板5Bの下面502側における金属ブロック1Bの周辺領域をスルーホール部27の下面ランド導体部27cのランド面としている。
A ceramic material is directly formed as a heat-insulating insulating layer 2B on the lower surface 1Ba of the metal block 1B and its peripheral region, that is, the lower surface 1Ba of the metal block 1B and the peripheral region of the metal block 1B on the
電力変換回路組立体53Bは、金属ブロック1Bの下面1Baが放熱用絶縁層2Bを介して冷却用ヒートシンク7の上面7aに当接するようにして冷却用ヒートシンク7に取付けられている。さらに、電力変換回路組立体53Bを上方側から覆うケース8が冷却用ヒートシンク7に取付けられ、電力変換器100Bが構成されている。
The power conversion circuit assembly 53B is attached to the
電力変換器100Bでは、金属ブロック1Bの上面1Bbに実装されたパワー半導体素子4により主回路が構成されるとともに、プリント配線板5Bに実装された電子回路部品6a,6bにより、その他の電源回路や制御用の回路が構成されている。電子回路部品6a,6bとしては例えばIC、LSI、抵抗、コンデンサ、リアクトルなどの各種部品が用いられる。
In the
電力変換器100Bでは、図5に示されるように、パワー半導体素子4とプリント配線板5Bの回路パターン24とで回路を形成するために、アルミワイヤ12によりお互いを接続している。
In the
このように、電力変換器100Bでは、金属ブロック1Bの上面1Bbにパワー半導体素子4が実装されたパワー半導体ユニット51Bと、プリント配線板5Bに電子回路部品6a,6bが実装されたプリント配線板ユニット52Bとが、金属ブロック1Bがプリント配線板5Bの孔27dにはめ込まれるようにして一体とされているので、従来のパワー半導体モジュールのようにパワー半導体素子からなる主回路部だけを独立したケースに収納する必要がなく、パワー半導体素子4とプリント配線板5Bの回路パターン24とをアルミワイヤ12などにより直接的に接続することができ、これにより、電力変換器としての容積を従来よりも低減することが可能となっている。
Thus, in the
また、電力変換器100Bでは、金属ブロック1Bを、導電性および熱伝導性のよい金属材料の銅で構成するとともに、その厚さを1.0〜5.0mm程度として、熱容量が高く放熱性に優れたものとしている。
In the
そして、電力変換器100Bでは、後述のように、金属ブロック1Bの下面1Baおよびその周辺領域における放熱用絶縁層2Bを例えば酸化アルミニウム、窒化珪素、窒化アルミニウム、窒化ホウ素など熱伝導性に優れたセラミックス材により形成するようにしている。なお、放熱用絶縁層2Bでは、熱伝導率は1〜200W/m・Kであることが好ましく、また、厚さは10〜500μmであることが好ましい。
In the
このように、電力変換器100Bでは、パワー半導体素子4が実装された、熱容量が高く放熱性に優れた金属ブロック1Bの下面1Baおよびその周辺領域が、熱伝導性に優れたセラミックス材よりなる放熱用絶縁層2Bを介して、冷却用ヒートシンク7に直接接するように構成しているので、パワー半導体素子4下部の熱抵抗を十分に小さくすることができ、優れた放熱性を備えている。
As described above, in the
なお、図5では金属ブロック1Bにパワー半導体素子4が2個実装された構成例を示しているが、金属ブロック1Bに実装されるパワー半導体4の個数は、1個でもよく、また、3個以上であってもよい。 FIG. 5 shows a configuration example in which two power semiconductor elements 4 are mounted on the metal block 1B, but the number of power semiconductors 4 mounted on the metal block 1B may be one or three. It may be the above.
また、金属ブロック1Bを形成する金属材料は銅に限るものではなく、例えば銅合金、アルミニウム、アルミニウム合金なども適用可能である。 Further, the metal material forming the metal block 1B is not limited to copper, and for example, a copper alloy, aluminum, an aluminum alloy, or the like is also applicable.
また、冷却用ヒートシンク7を形成する金属材料としては、例えば銅、銅合金、アルミニウム、アルミニウム合金などが適用可能である。
Moreover, as a metal material which forms the
続いて、この電力変換器100Bの製造方法について図5を参照して説明する。図6および図7は、本発明の第2の実施形態にかかる電力変換器の製造方法を示す断面図である。
Then, the manufacturing method of this
まず、最初に、1.0〜5.0mm程度の銅板を、プレス加工により、正方形または長方形に打ち抜いて、金属ブロック1Bを製作する(図6(a))。 First, a copper block having a thickness of about 1.0 to 5.0 mm is punched into a square or a rectangle by pressing to produce a metal block 1B (FIG. 6A).
次に、例えばガラスエポキシで構成される電気絶縁性の基板本体23に例えば銅箔からなる回路パターン24を形成するとともに、それぞれ例えば銅箔からなる貫通導体部27a、上面ランド導体部27bおよび下面ランド導体部27cを備えたスルーホール部27を形成することにより、プリント配線板5Bを構成する(図6(b))。スルーホール部27の孔27dは、金属ブロック1Bを収めることが可能な形状としておく。
Next, a
次に、プリント配線板5Bのスルーホール部27の孔27dに金属ブロック1Bを挿入し、はんだ28bでの接合により固定する(図6(c))。この時、プリント配線板5Bと金属ブロック1Bとの接合力をより高めるため、接着剤なども併用して固定しても良い。
Next, the metal block 1B is inserted into the
次に、金属ブロック1Bにパワー半導体素子4をはんだ28aでの接合により実装するとともに、プリント配線板5Bには各種の電子回路部品6a,6bをはんだ28aでの接合により実装する(図6(d))。これらの実装は、通常、クリームはんだを用い、リフロー炉で行う。はんだ材料には例えばSnPbAgからなる高温はんだ、SnAgCu系からなる鉛フリーはんだなどを用いる。はんだ付けの温度は、はんだの融点に応じて設定される。パワー半導体素子4と金属ブロック1Bとを接合するはんだ層28aにボイドが残留すると、熱抵抗が高くなり、パワー半導体素子4から生じる熱を効率よく放熱することができない。そこで、ボイドを発生しないように、はんだが溶融している状態で、1.3kPa(10Torr)以下の真空引きを行なう。
Next, the power semiconductor element 4 is mounted on the metal block 1B by bonding with
また、パワー半導体4とプリント配線板5Bの回路パターン24とで回路を形成するために、アルミワイヤ12によりお互いを接続する。アルミワイヤ12は、線径が125〜500μmのAlワイヤで、接合は超音波接合にて行う。なお、お互いの接合にはリードフレームやリボン状のアルミを用いても良い。
Further, in order to form a circuit with the power semiconductor 4 and the
次に、マスク30Aをして、溶射法もしくはエアロゾルデポジション法によりセラミックス粉末31を積層することにより、金属ブロック1Bの下面1Baおよびその周辺領域に放熱用絶縁層2Bを形成する(図6(e)〜図7(a))。
Next, the mask 30A is formed and the
溶射法のうち、例えばプラスマ溶射法で金属ブロック1Bの下面1Baおよびその周辺領域に放熱用絶縁層2Bを形成する場合は、セラミックス粉末には酸化珪素、酸化アルミニウム、窒化珪素、窒化アルミニウム、窒化ホウ素からなる1種類以上を用いる。雰囲気としては大気圧もしくは減圧下でマスク30Aを介して金属ブロック1Bの下面1Baおよびその周辺領域に溶射を行い、放熱用絶縁層2Bを堆積させる。放熱用絶縁層2Bの厚みは溶射時間をコントロールすることにより調整できる。放熱用絶縁層2Bの厚みは10〜500μmが好ましい。 Among the thermal spraying methods, for example, when the heat-dissipation insulating layer 2B is formed on the lower surface 1Ba of the metal block 1B and its peripheral region by the plasma spraying method, the ceramic powder is made of silicon oxide, aluminum oxide, silicon nitride, aluminum nitride, boron nitride. One or more types consisting of As the atmosphere, thermal spraying is performed on the lower surface 1Ba of the metal block 1B and its peripheral region through the mask 30A under atmospheric pressure or reduced pressure, thereby depositing the heat insulating layer 2B. The thickness of the heat radiation insulating layer 2B can be adjusted by controlling the spraying time. The thickness of the heat radiation insulating layer 2B is preferably 10 to 500 μm.
放熱用絶縁層2Bは、その形成範囲として、金属ブロック1Bの下面1Ba側の露出面全体が被覆されるように形成する。また、スルーホール部27は銅からなるため、スルーホール部27の下面ランド導体部27cのランド面にも放熱用絶縁層2Bを形成して被覆し、金属ブロック1Bとスルーホール部27とが、後工程で取り付けられる冷却用ヒートシンク7から電気的に絶縁されるようにする。なお、金属ブロック1Bの下面1Ba側の露出面に形成される放熱用絶縁層2Bと、スルーホール部27の下面ランド導体部27cのランド面に形成される放熱用絶縁層2Bとは、互いに連続した絶縁層となるように形成する。また、スルーホール部27の下面ランド導体部27cの側面端部には放熱用絶縁層2Bが形成されず、この側面端部が露出面となるが、この部分には図示されない樹脂コーテイングを施すことにより絶縁被覆を施す。
The heat radiation insulating layer 2B is formed so as to cover the entire exposed surface on the lower surface 1Ba side of the metal block 1B. Further, since the through
上記のようにして形成された放熱用絶縁層2Bは、絶縁特性として、例えば厚み200μmで交流破壊電圧5kV以上を有しており、耐電圧定格が1200Vのパワー素子にも用いることができる。 The heat-dissipating insulating layer 2B formed as described above has, for example, a thickness of 200 μm and an AC breakdown voltage of 5 kV or more as an insulating property, and can also be used for a power element having a withstand voltage rating of 1200 V.
次に、エアロゾルデポジション法で金属ブロック1Bの下面1Baおよびその周辺領域に放熱用絶縁層2Bを堆積させる場合について説明する。上述の第1の実施形態で説明したように、エアロゾルデポジション法とは、微粒子あるいは超微粒子原料をガスと混合してエアロゾル化し、ノズルを通して基板に皮膜を形成する技術である。ガスにはヘリウムもしくは空気が用いられる。装置は、図示しないエアロゾル化チャンバーと成膜チャンバーから構成することができる。成膜チャンバーは、真空ポンプで50Pa〜1kPa前後に減圧する。原料である微粒子または超微粒子材料は乾燥された状態でエアロゾル化チャンバー内でガスと攪拌・混合してエアロゾル化され、両チャンバーの圧力差により生じるガスの流れにより成膜チャンバーに搬送され、スリット状のノズルを通過することで加速され、成膜対象である金属ブロック1Bの下面1Baおよびその周辺領域に噴射される。原料微粒子には、機械的に粒径0.1〜2μmに粉砕したセラミックス粉末を用いる。ガス搬送された超微粒子は、減圧されたチャンバー内の微小開口のノズルを通すことで数百m/secまで加速される。成膜速度や成膜体の密度は使用されるセラミックス微粒子の粒径や凝集状態、乾燥状態などに大きく依存するため、エアロゾル化チャンバーと成膜チャンバーとの間に凝集粒子の解砕器や分級装置を用いている。 Next, the case where the heat-dissipating insulating layer 2B is deposited on the lower surface 1Ba of the metal block 1B and its peripheral region by the aerosol deposition method will be described. As described in the first embodiment, the aerosol deposition method is a technique in which fine particles or ultrafine particle raw materials are mixed with gas to form an aerosol, and a film is formed on a substrate through a nozzle. Helium or air is used as the gas. The apparatus can be composed of an aerosolization chamber and a film formation chamber (not shown). The film forming chamber is depressurized by a vacuum pump to around 50 Pa to 1 kPa. The raw fine or ultrafine particle material is dried to be aerosolized by stirring and mixing with gas in the aerosol chamber and transported to the film formation chamber by the gas flow generated by the pressure difference between the two chambers. , And is sprayed onto the lower surface 1Ba of the metal block 1B to be deposited and its peripheral region. As the raw material fine particles, ceramic powder mechanically pulverized to a particle size of 0.1 to 2 μm is used. The ultrafine particles transported by the gas are accelerated up to several hundreds m / sec by passing through a nozzle having a minute opening in a decompressed chamber. The film formation speed and the density of the film are largely dependent on the particle size, aggregated state, and dry state of the ceramic fine particles used, so the aggregated particle crusher and classification between the aerosolization chamber and the film formation chamber The device is used.
そして、放熱用絶縁層2Bを膜として形成するためには、粒径0.1〜2μmの微粒子のセラミックスを高速で基板上に吹き付け、その時の衝突エネルギーにて10〜30nm前後の微結晶粒子に破砕され、新生面が形成されて表面が活性化され、粒子同士が結合されることで、ち密なナノ結晶組織のセラミックス膜が形成される。また、特に温度をかけることなく常温で形成可能である。 Then, in order to form the heat-insulating insulating layer 2B as a film, fine ceramic particles having a particle size of 0.1 to 2 μm are sprayed on the substrate at a high speed, and the impact energy at that time makes fine crystal particles of about 10 to 30 nm. By crushing, forming a new surface, activating the surface, and bonding the particles together, a ceramic film having a dense nanocrystalline structure is formed. Further, it can be formed at normal temperature without applying any temperature.
エアロゾルデポジションの微粒子には、粒子径が0.1〜2μm程度の酸化アルミニウム、窒化珪素、窒化アルミニウム、窒化ホウ素のいずれかを用いることが好ましい。必要な膜厚を得るため、所定の時間、マスク30を用い微粒子を吹き付け、図6(e)〜図7(a)に示すように絶縁層2Bを形成する。
It is preferable to use any one of aluminum oxide, silicon nitride, aluminum nitride, and boron nitride having a particle size of about 0.1 to 2 μm for the aerosol deposition fine particles. In order to obtain a required film thickness, fine particles are sprayed using a
ここで、微粒子には窒化珪素、窒化アルミニウム、窒化ホウ素いずれかのフィラーに酸化アルミニウムの皮膜を形成したもの、もしくは、窒化珪素、窒化アルミニウム、窒化ホウ素いずれかのフィラーに酸化珪素の皮膜を形成したものも適用可能である。これらの微粒子を用いれば、2種類以上のセラミックスを複合した放熱用絶縁層2Bが形成できる。 Here, the fine particles are formed by forming a film of aluminum oxide on a filler of silicon nitride, aluminum nitride, or boron nitride, or formed a film of silicon oxide on a filler of silicon nitride, aluminum nitride, or boron nitride. Things are also applicable. If these fine particles are used, a heat radiation insulating layer 2B in which two or more kinds of ceramics are combined can be formed.
放熱用絶縁層2Bの厚みは、溶射法と同様の10〜500μmが好ましい。上記のようにして形成された放熱用絶縁層2Bは例えば厚み200μmで交流破壊電圧5kV以上を有しており、耐電圧定格が1200Vのパワー素子にも用いることができる。 The thickness of the heat-dissipating insulating layer 2B is preferably 10 to 500 μm as in the thermal spraying method. The heat radiation insulating layer 2B formed as described above has, for example, a thickness of 200 μm and an AC breakdown voltage of 5 kV or more, and can also be used for a power element having a withstand voltage rating of 1200 V.
最後に、パワー半導体ユニット51Bとプリント配線板ユニット52Bとが一体化されるとともに金属ブロック1Bの下面1Baおよびその周辺領域に放熱用絶縁層2Bが形成された電力変換回路ユニット53Bを、冷却用ヒートシンク7に放熱グリスを介して搭載し、ケース8を被せ、電力変換器100Bを構成する(図7(b))。
Finally, a power conversion circuit unit 53B in which the power semiconductor unit 51B and the printed wiring board unit 52B are integrated and the heat radiation insulating layer 2B is formed in the lower surface 1Ba of the metal block 1B and its peripheral region is replaced with a cooling heat sink. 7 is mounted via heat dissipating grease and covered with a case 8 to constitute a
上述のように、本実施形態の電力変換器における金属ブロック1Bの下面1Ba(裏面)およびその周辺領域に形成される放熱用絶縁層2Bには、エアロゾルデポジション法またはプラズマ溶射法によるセラミックス材の絶縁層を採用したため、以下のような利点がある。
(1)絶縁耐圧の向上
エアロゾルデポジション法では、室温(常温)で成膜が可能であり、かつ音速レベルのスピードでサブミクロンオーダーのセラミックス微粒子を基板に衝突させるため、活性な新生面が露出したセラミックス微粒子が結合する。また、プラズマ溶射法によっても同様である。いずれの方法においても、非常にち密な電気絶縁膜であるセラミックス微粒子層を形成することが可能となり、膜内に空孔(ボイド)が含まれないため、従来の焼結法により形成されたセラミックス板よりも単位長さ当たりの破壊電圧が10倍程度向上する。
(2)熱抵抗の低下
熱伝導率はバルクと同等であり、熱伝導率は例えば酸化アルミニウム(Al2O3)で約20W/m・K、窒化アルミニウム(AlN)で約160〜180W/m・K、窒化珪素(Si3N4)で約80W/m・K程度確保できる。これに加えて単位長さ当たりの破壊電圧が向上するため、絶縁層2Bを薄く形成することができ、このため全体の熱抵抗が低くなる。
As described above, the heat radiation insulating layer 2B formed on the lower surface 1Ba (back surface) of the metal block 1B and the peripheral region thereof in the power converter of the present embodiment is made of ceramic material by the aerosol deposition method or the plasma spraying method. The use of an insulating layer has the following advantages.
(1) Improvement of dielectric strength With the aerosol deposition method, film formation is possible at room temperature (room temperature), and submicron-order ceramic fine particles collide with the substrate at the speed of sound speed, exposing an active new surface. Ceramic fine particles are bonded. The same applies to the plasma spraying method. In any method, it is possible to form a ceramic fine particle layer which is a very dense electrical insulating film, and since no voids are contained in the film, ceramics formed by a conventional sintering method The breakdown voltage per unit length is improved about 10 times compared with the plate.
(2) Decrease in thermal resistance The thermal conductivity is equivalent to that of bulk, and the thermal conductivity is about 20 W / m · K for aluminum oxide (Al 2 O 3 ) and about 160 to 180 W / m for aluminum nitride (AlN), for example. • About 80 W / m · K can be secured with K and silicon nitride (Si 3 N 4 ). In addition, since the breakdown voltage per unit length is improved, the insulating layer 2B can be thinly formed, and thus the overall thermal resistance is lowered.
上述の点により、高絶縁と低熱抵抗とを共に確保することが可能となる。 With the above points, it is possible to ensure both high insulation and low thermal resistance.
このように、本実施形態の電力変換器は、パワー半導体素子4が実装される金属ブロック1Bの下面1Ba(裏面)およびその周辺領域が、熱伝導性に優れたセラミックス材よりなる放熱用絶縁層2Bを介して、冷却用ヒートシンク7に直接接するように構成しているので、上述した第1の実施形態の電力変換器と同様に、パワー半導体素子4下部の熱抵抗を十分に小さくすることができ、優れた放熱性を備えたものとなっている。
As described above, the power converter according to the present embodiment includes the insulating layer for heat dissipation in which the lower surface 1Ba (back surface) of the metal block 1B on which the power semiconductor element 4 is mounted and its peripheral region are made of a ceramic material having excellent thermal conductivity. Since it is configured so as to be in direct contact with the cooling
また、本実施形態の電力変換器は、上述の図5の構成に限定されるものではなく、例えば図8のような構成とすることもできる。図8は本発明の実施形態にかかる電力変換器の異なる構成を示す断面図である。図8(b)に示す電力変換器100Cおいて、金属ブロック1Cの上面1Cbにパワー半導体素子4が実装されてなるパワー半導体ユニット51Cと、金属ブロック1Cを収めることが可能な孔27dを有するスルーホール部27が形成されたプリント配線板5Cに電子回路部品6a,6bが実装されてなるプリント配線板ユニット52Cとが、金属ブロック1Cが孔27dにはめ込まれるようにして一体とされ、電力変換回路組立体53Cが構成されている。電力変換回路組立体53Cは、金属ブロック1Cの下面1Caが放熱用絶縁層2Cを介して冷却用ヒートシンク7の上面7aに当接するようにして冷却用ヒートシンク7に取付けられている。さらに、電力変換回路組立体53Cを上方側から覆うケース8が冷却用ヒートシンク7に取付けられ、電力変換器100Cが構成されている。
Further, the power converter of the present embodiment is not limited to the configuration of FIG. 5 described above, and may be configured as shown in FIG. 8, for example. FIG. 8 is a cross-sectional view showing a different configuration of the power converter according to the embodiment of the present invention. In the power converter 100C shown in FIG. 8B, a power semiconductor unit 51C in which the power semiconductor element 4 is mounted on the upper surface 1Cb of the metal block 1C, and a through
この図8の構成例では、図5の構成例における金属ブロック1Bの代わりに、図8(a)に示す金属ブロック1Cを用いる。厚さd1の金属ブロック1Cの側面部における上面1Cb側の部分には切り欠き部13が形成されている。金属ブロック1Cの厚さ方向における切り欠き部13の長さd2は、スルーホール部27におけるプリント配線板5Cの厚さ寸法に合わせておく。また、プリント配線板5Cのスルーホール部27における孔27dは、金属ブロック1Cにおける上面1Cb側の長さd2の部分を収めることが可能な形状としておく。
In the configuration example of FIG. 8, a metal block 1C shown in FIG. 8A is used instead of the metal block 1B in the configuration example of FIG. A cutout portion 13 is formed in a portion of the side surface of the metal block 1C having the thickness d1 on the upper surface 1Cb side. The length d2 of the notch 13 in the thickness direction of the metal block 1C is matched with the thickness dimension of the printed wiring board 5C in the through
上記のように構成した金属ブロック1Cおよびプリント配線板5Cを用いることにより、図6(c)〜図7(b)に示した製造方法と同様にして、図8(b)に示す電力変換器100Cを構成することができる。
<第3の実施形態>
図9は本発明の第3の実施形態にかかる電力変換器の構成を示す断面図であり、図9(a)〜図9(b)に2通りの構成例を示している。
By using the metal block 1C and the printed wiring board 5C configured as described above, the power converter shown in FIG. 8B is obtained in the same manner as the manufacturing method shown in FIGS. 6C to 7B. 100C can be configured.
<Third Embodiment>
FIG. 9 is a cross-sectional view showing a configuration of a power converter according to a third embodiment of the present invention, and two configuration examples are shown in FIGS. 9 (a) to 9 (b).
第3の実施形態にかかる電力変換器は、上述の第1の実施形態にかかる電力変換器において、特に、上面および下面を有する金属ブロックの上面の一部分に直接セラミックス材料を積層して形成された中継電極用絶縁膜と、この中継電極用絶縁膜の上面に金属材料を積層して形成された中継電極とを備え、上記金属ブロックの上面に実装されたパワー半導体素子からのボンディングワイヤなどを上記中継電極に接合するとともに、上記中継電極とプリント配線板の回路パターンとをボンディングワイヤなどを介して接続するようにしたものであり、それ以外の点では第1の実施形態にかかる電力変換器と同様である。 The power converter according to the third embodiment is formed by laminating a ceramic material directly on a part of the upper surface of a metal block having an upper surface and a lower surface in the power converter according to the first embodiment described above. A relay electrode insulating film, and a relay electrode formed by laminating a metal material on the upper surface of the relay electrode insulating film, and bonding wires from a power semiconductor element mounted on the upper surface of the metal block In addition to joining to the relay electrode, the relay electrode and the circuit pattern of the printed wiring board are connected via a bonding wire or the like, and otherwise the power converter according to the first embodiment and It is the same.
図9(a)に示す電力変換器100Dにおいて、パワー半導体ユニット51Dは、上面1Dbおよび下面1Daを有する金属ブロック1Dと、金属ブロック1Dの下面1Daおよびこれに連接する側面1Dcの一部を覆うように形成された放熱用絶縁層2Dと、金属ブロック1Dの上面1Dbの一部分に形成された中継電極用絶縁層42と、中継電極用絶縁層42の上面に形成された中継電極41と、金属ブロック1Dの上面1Dbにはんだ28aにより接合されたパワー半導体素子4とを備え、パワー半導体素子4からのボンディングワイヤ43aを中継電極41に接合している。そして、パワー半導体ユニット51Dの中継電極41とプリント配線板5Dの上面501側の回路パターン24とをボンディングワイヤ43bで接続している。なお、図9(a)では、説明の便宜上、パワー半導体素子4と中継電極41とを接続するボンディングワイヤを43aとし、中継電極41とプリント配線板5Dの上面501側の回路パターン24とを接続するボンディングワイヤを43bとしている。なお、以下では、金属ブロック1Dの上面1Dbおよび下面1Daをそれぞれ「表面1Db」および「裏面1Da」とも称する。
In the
電力変換器100Dにおいても、パワー半導体ユニット51Dとプリント配線板ユニット52Dとを一体として、電力変換回路組立体53Dを構成しているが、プリント配線板5Dに電子回路部品6a,6bが実装されたプリント配線板ユニット52Dの構成は上述の電力変換器100におけるプリント配線板ユニット52と同様である。
Also in the
パワー半導体ユニット51Dでは、金属ブロック1Dを、導電性および熱伝導性のよい金属材料の銅で構成するとともに、その厚さを1.0〜5.0mm程度として、熱容量が高く放熱性に優れたものとしている。
In the power semiconductor unit 51D, the
そして、パワー半導体ユニット51Dでは、金属ブロック1Dの下面1Da側に形成される放熱用絶縁層2Dを例えば酸化アルミニウム、窒化珪素、窒化アルミニウム、窒化ホウ素など熱伝導性に優れたセラミックス材により形成するようにしている。なお、放熱用絶縁層2Dでは、熱伝導率は1〜200W/m・Kであることが好ましく、また、厚さは10〜500μmであることが好ましい。
In the power semiconductor unit 51D, the heat
このように、パワー半導体ユニット51Dでは、上面1Db側にパワー半導体素子4が実装された、熱容量が高く放熱性に優れた金属ブロック1Dの下面1Da側に、熱伝導性に優れたセラミックス材よりなる放熱用絶縁層2Dを形成しているので、この放熱用絶縁層2Dを介して冷却用ヒートシンク7に直接接することにより、パワー半導体素子4下部の熱抵抗を十分に小さくすることができ、優れた放熱性を備えたものとすることができる。
Thus, in the power semiconductor unit 51D, the power semiconductor element 4 is mounted on the upper surface 1Db side, and the lower surface 1Da side of the
なお、図9(a)では金属ブロック1Dにパワー半導体素子4が1個実装された構成例を示しているが、金属ブロック1Dに実装されるパワー半導体素子4の個数は、2個でもよく、また、3個以上であってもよい。また、金属ブロック1Dを形成する金属材料は銅に限るものではなく、例えば銅合金、アルミニウム、アルミニウム合金なども適用可能である。
9A shows a configuration example in which one power semiconductor element 4 is mounted on the
また、パワー半導体ユニット51Dでは、金属ブロック1Dの上面1Db側に形成される中継電極用絶縁層42も例えば酸化アルミニウム、窒化珪素、窒化アルミニウム、窒化ホウ素など熱伝導性に優れたセラミックス材により形成するようにしている。なお、中継電極用絶縁層42では、熱伝導率は1〜200W/m・Kであることが好ましく、また、厚さは10〜500μmであることが好ましい。
In the power semiconductor unit 51D, the relay
そして、中継電極用絶縁層42の上面に形成される中継電極41は例えば銅などの熱伝導性に優れた金属材料により形成するようにしている。なお、中継電極41を形成する金属材料は銅に限るものではなく、例えば銅合金、アルミニウム、アルミニウム合金なども適用可能である。
The
次に、図9(b)に示す電力変換器100Eは、上述の図9(a)に示した電力変換器100Dに対して、パワー半導体素子4と中継電極41とをリードフレーム44aで接続するとともに、中継電極41とプリント配線板5Eの上面501側の回路パターン24とをリードフレーム44bで接続するようにした点が異なるものであり、それ以外の点は同様である。以下では、主に、図9(a)に示した電力変換器100Dについて説明する。
Next, the
図10は、本発明の第3の実施形態にかかる電力変換器における熱の流れを模式的に示す図であって、上述の図9(a)に示した電力変換器100Dの一部分の断面構造を示すものである。図10において、パワー半導体ユニット51Dは冷却用ヒートシンク7の上面7aに放熱用絶縁層2Dが当接するようにして搭載されるとともに、中継電極41がボンディングワイヤ43bを介してプリント配線板5Dの上面501側の回路パターン24と接続されている。
FIG. 10 is a diagram schematically showing a heat flow in the power converter according to the third embodiment of the present invention, and is a partial cross-sectional structure of the
図10において、パワー半導体ユニット51Dにおけるパワー半導体素子4として例えばIGBTを実装した構成では、IGBTの裏面のコレクタ電極が金属ブロック1Dの上面1Dbに接合され、IGBTの表面に形成されているエミッタ電極とゲート電極とがそれぞれボンディングワイヤ43aにより中継電極41に接続される。
In FIG. 10, in the configuration in which, for example, an IGBT is mounted as the power semiconductor element 4 in the power semiconductor unit 51D, the collector electrode on the back surface of the IGBT is joined to the upper surface 1Db of the
図10において、パワー半導体ユニット51Dにおけるパワー半導体素子4が動作時に発熱した場合の熱の流れを白抜き矢印h1〜h4により模式的に示している。白抜き矢印h1〜h4の幅は流れる熱量の大小を定性的に示している。なお、図10では、パワー半導体素子4から左側のボンディングワイヤ43aに沿って流れる熱の流れのみを示している。 In FIG. 10, the flow of heat when the power semiconductor element 4 in the power semiconductor unit 51D generates heat during operation is schematically shown by white arrows h1 to h4. The widths of the white arrows h1 to h4 qualitatively indicate the amount of heat flowing. In FIG. 10, only the flow of heat flowing from the power semiconductor element 4 along the left bonding wire 43 a is shown.
図10において、パワー半導体ユニット51Dにおけるパワー半導体素子4が動作時に発生する熱は、パワー半導体素子4からはんだ層28a、金属ブロック1Dおよび放熱用絶縁層2Dを介して冷却用ヒートシンク7に伝達されるとともに、パワー半導体素子4からボンディングワイヤ43aを介してプリント配線板5Dの上面501側の回路パターン24側にも伝達される。しかしながら、電力変換器100Dでは、金属ブロック1D上に中継電極用絶縁層42を介して形成された中継電極41を備え、パワー半導体素子4からのボンディングワイヤ43aを中継電極41に接合した上で、中継電極41から別のボンディングワイヤ43bを介してプリント配線板5Dの上面501側の回路パターン24に接続している。このため、電力変換器100Dでは、パワー半導体素子4からボンディングワイヤ43aを経由して流れてくる熱は大部分が中継電極41、熱伝導性に優れたセラミックス材料からなる中継電極用絶縁層42および金属ブロック1Dを介して冷却用ヒートシンク7に伝達され、中継電極41からボンディングワイヤ43bを介してプリント配線板5Dの回路パターン24側に伝達される熱量は十分に小さく抑制されたものとなる。これにより、プリント配線板部52D側に伝わる熱量を抑制することができ、プリント配線板部52Dを形成するプリント配線板5D、電子回路部品6aなどに対する加熱を効果的に抑制することができる。
In FIG. 10, heat generated during operation of the power semiconductor element 4 in the power semiconductor unit 51D is transferred from the power semiconductor element 4 to the
また、上述のような電力変換器100Dは、図10に示されるように、パワー半導体素子4が動作時に発生する熱を、パワー半導体素子4→はんだ層28a→金属ブロック1Dという第1の伝熱経路と、パワー半導体素子4→ボンディングワイヤ43a→中継電極41→中継電極用絶縁層42→金属ブロック1Dという第2伝熱経路との2つの伝熱経路で効率良く金属ブロック1Dに伝達できるので、熱容量が高く放熱性に優れた金属ブロック1Dの機能をより有効に生かしたものとなっている。
Further, as shown in FIG. 10, the
このように、本発明の第3の実施形態にかかる電力変換器では、パワー半導体ユニットのパワー半導体素子が動作時に発生する熱のうち、パワー半導体ユニットに接続されたプリント配線板ユニット側に伝わる熱量を抑制し、プリント配線板などに対する加熱を効果的に抑制することができるとともに、電力変換器における放熱性をより向上させることができる。 Thus, in the power converter according to the third embodiment of the present invention, the amount of heat transferred to the printed wiring board unit connected to the power semiconductor unit among the heat generated by the power semiconductor element of the power semiconductor unit during operation. It is possible to suppress the heating to the printed wiring board and the like, and to further improve the heat dissipation in the power converter.
続いて、本発明の第3の実施形態にかかる電力変換器の製造方法について図11ないし図13を参照して説明する。図11ないし図13は、本発明の第3の実施形態にかかる電力変換器の製造方法を示す断面図である。 Then, the manufacturing method of the power converter concerning the 3rd Embodiment of this invention is demonstrated with reference to FIG. 11 thru | or FIG. 11 to 13 are cross-sectional views illustrating a method for manufacturing a power converter according to the third embodiment of the present invention.
最初に、1.0〜5.0mm程度の銅板を、プレス加工により、正方形または長方形に打ち抜いて、金属ブロック1Dを製作する(図11(a))。
First, a
次に、マスク30をあてて、溶射法もしくはエアロゾルデポジション法により例えば酸化アルミニウム粉などのセラミックス粉末を積層することにより、金属ブロック1Dの下面1Da側に放熱用絶縁層2Dを形成する。放熱用絶縁層2Dとしては、金属ブロック1Dの下面1Daに下面部放熱用絶縁層2Daを形成するとともに金属ブロック1Dの側面1Dcの一部に側面部放熱用絶縁層2Dbを形成する。側面部放熱用絶縁層2Dbは下面部放熱用絶縁層2Daにつながるように形成する(図11(b)〜図11(c))。放熱用絶縁層2Dの形成に用いるセラミックス微粒子の材料、および絶縁層の形成方法は、溶射法、エアロゾルデポジション法とも上述の図2(b)〜図2(c)で説明した放熱用絶縁層2と同様である。
Next, by applying a
放熱用絶縁層2Dの厚みは、溶射法またはエアロゾルデポジション法のいずれで形成したものでも、上述のように10〜500μmが好ましい。上記のようにして形成された放熱用絶縁層2Dは、絶縁特性として、例えば厚み200μmで交流破壊電圧5kV以上を有しており、耐電圧定格が1200Vのパワー素子にも用いることができる。
The thickness of the heat
次に、金属ブロック1Dの上面1Dbにもマスク30Bをあてて、溶射法もしくはエアロゾルデポジション法により例えば酸化アルミニウム粉などのセラミックス粉末31を積層することにより、金属ブロック1Dの上面1Db側に中継電極用絶縁層42を形成する(図11(d)〜図12(a))。この中継電極用絶縁層42は金属ブロック1Dの上面1Dbにおける全面ではなく一部分に形成する。中継電極用絶縁層42の形成に用いるセラミックス微粒子の材料、および絶縁層の形成方法は、溶射法、エアロゾルデポジション法とも上述の放熱用絶縁層2Dと同様である。
Next, a
中継電極用絶縁層42の厚みは、溶射法またはエアロゾルデポジション法のいずれで形成したものでも、上述のように10〜500μmが好ましい。
As described above, the thickness of the relay
次に、中継電極用絶縁層42の上に銅製の中継電極41を積層する。銅を堆積させる方法は、放熱用絶縁層2Dと同様にプラズマ溶射法を用いる。すなわち、金属ブロック1Dの上面1Dbに形成されている中継電極用絶縁層42にマスク30Cをあてて、銅粒子32を溶射し、中継電極41を形成する(図12(b)〜(c))。
Next, the
これにより、金属ブロック1Dの下面1Da側に放熱用絶縁層2Dが形成されるとともに、上面1Dbの一部には中継電極41が中継電極用絶縁層42を介して形成された絶縁金属ブロック3Dが完成する(図12(d))。
As a result, the
次に、絶縁金属ブロック3Dにおける金属ブロック1Dの上面1Dbにパワー半導体素子4をはんだ28aでの接合により接合する(図12(e))。このはんだ28aによる実装は、上述の図2(d)で説明した実装方法と同様にして行なう。
Next, the power semiconductor element 4 is joined to the upper surface 1Db of the
次に、予め、絶縁金属ブロック3Dを収めることが可能な孔14が形成されたプリント配線板5Dに絶縁金属ブロック3Dをはめ込む。この時、絶縁金属ブロック3Dがプリント配線板5Dと一体となるよう接着剤29などで固定する(図13(a))。
Next, the insulating
次に、ボンディングワイヤ43aによりパワー半導体素子4と中継電極41との接続を行なう(図13(b))。ボンディングワイヤ43aは、線径が125〜500μmのAlワイヤを使用して超音波接合する。なお、パワー半導体素子4と中継電極41との接続には、ボンディングワイヤ43aの代わりに例えばリードフレームを使用しても良い。
Next, the power semiconductor element 4 and the
さらに、ボンディングワイヤ43bにより中継電極41とプリント配線板5Dの上面501側の回路パターン24との接続を行なう(図13(b))。ボンディングワイヤ43bは、上述のボンディングワイヤ43aと同様に線径が125〜500μmのAlワイヤを使用して超音波接合する。なお、中継電極41とプリント配線板5Dの上面501側の回路パターン24との接続には、ボンディングワイヤ43bの代わりにリードフレームやリボン状のアルミを用いても良い。
Further, the
次に、プリント配線板5Dに各種の電子回路部品6a,6bをはんだ28aでの接合により実装する。実装は通常、クリームはんだを用い、リフロー炉で行う(図13(c))。これにより、パワー半導体ユニット51Dとプリント配線板ユニット52Dとが一体化された電力変換回路組立体53Dが構成される。
Next, various electronic circuit components 6a and 6b are mounted on the printed wiring board 5D by joining with
最後に、パワー半導体ユニット51Dとプリント配線板ユニット52Dとが一体化されるとともに金属ブロック1Dの下面1Daに放熱用絶縁層2Dが形成された電力変換回路組立体53Dを、冷却用ヒートシンク7に放熱グリスを介して搭載し、ケース8を被せ、電力変換器100Dを構成する(図13(d))。
Finally, the power conversion circuit assembly 53D in which the power semiconductor unit 51D and the printed wiring board unit 52D are integrated and the heat
上述のように、第3の実施形態にかかる電力変換器では、特に、金属ブロックの上面(表面)に接合されたパワー半導体素子からのボンディングワイヤまたはリードフレームを中継電極に接合した上で、この中継電極とプリント配線板の回路パターンとを接続していることにより、パワー半導体素子が動作時に発生し、パワー半導体素子からのボンディングワイヤまたはリードフレームに沿って伝達される熱は、主に中継電極および熱伝導性に優れたセラミックス材料からなる中継電極用絶縁層を介して熱容量が高く放熱性に優れた金属ブロックの方に伝わるので、プリント配線板の回路パターンの方に伝わる熱量は十分に小さく抑制することができる。 As described above, in the power converter according to the third embodiment, the bonding wire or the lead frame from the power semiconductor element bonded to the upper surface (surface) of the metal block is bonded to the relay electrode. By connecting the relay electrode and the circuit pattern of the printed wiring board, the power semiconductor element is generated during operation, and the heat transferred along the bonding wire or lead frame from the power semiconductor element is mainly used for the relay electrode. In addition, the amount of heat transferred to the circuit pattern on the printed wiring board is sufficiently small because it is transmitted to the metal block with high heat capacity and excellent heat dissipation through the insulating layer for relay electrodes made of ceramic material with excellent heat conductivity. Can be suppressed.
これにより、本発明の第3の実施形態にかかる電力変換器では、パワー半導体ユニットからプリント配線板ユニットに流れ出す熱量を効果的に抑制することができるため、プリント配線板ユニットにおけるプリント配線板などに対する加熱を効果的に抑制することができるとともに、電力変換器における放熱性をより向上させることができる。
<第4の実施形態>
図14は本発明の第4の実施形態にかかる電力変換器の構成を示す断面図であり、図14(a)〜図14(b)に2通りの構成例を示している。
Thus, in the power converter according to the third embodiment of the present invention, the amount of heat flowing from the power semiconductor unit to the printed wiring board unit can be effectively suppressed. While heating can be suppressed effectively, the heat dissipation in a power converter can be improved more.
<Fourth Embodiment>
FIG. 14 is a cross-sectional view showing a configuration of a power converter according to the fourth embodiment of the present invention, and two configuration examples are shown in FIGS. 14 (a) to 14 (b).
本発明の第4の実施形態に係る電力変換器は、上述の第2の実施形態の電力変換器において、特に、上面および下面を有する金属ブロックの上面の一部分に直接セラミックス材料を積層して形成された中継電極用絶縁層と、この中継電極用絶縁層の上面に金属材料を積層して形成された中継電極とを備え、上記金属ブロックの上面に実装されたパワー半導体素子からのボンディングワイヤなどを上記中継電極に接合するとともに、上記中継電極とプリント配線板の回路パターンとをボンディングワイヤなどを介して接続するようにしたものであり、それ以外の点では第2の実施形態にかかる電力変換器と同様である。 The power converter according to the fourth embodiment of the present invention is the power converter according to the second embodiment described above, in particular, by laminating a ceramic material directly on a part of the upper surface of a metal block having an upper surface and a lower surface. A relay electrode formed by laminating a metal material on the upper surface of the relay electrode insulating layer, and a bonding wire from a power semiconductor element mounted on the upper surface of the metal block. Is joined to the relay electrode, and the relay electrode and the circuit pattern of the printed wiring board are connected via a bonding wire or the like. Otherwise, the power conversion according to the second embodiment It is the same as the vessel.
図14(a)に示す電力変換器100Fにおいて、パワー半導体ユニット51Fは、上面1Fbおよび下面1Faを有する金属ブロック1Fと、金属ブロック1Fの上面1Fbの一部分に形成された中継電極用絶縁層42と、中継電極用絶縁層42の上面に形成された中継電極41と、金属ブロック1Fの上面1Fbにはんだ28aにより接合されたパワー半導体素子4とを備え、パワー半導体素子4からのボンディングワイヤ43aを中継電極41に接合している。そして、パワー半導体ユニット51Fの中継電極41とプリント配線板5Fの上面501側の回路パターン24とをボンディングワイヤ43bで接続している。なお、図14(a)では、説明の便宜上、パワー半導体素子4と中継電極41とを接続するボンディングワイヤを43aとし、中継電極41とプリント配線板5Dの上面501側の回路パターン24とを接続するボンディングワイヤを43bとしている。なお、以下では、金属ブロック1Fの上面1Fbおよび下面1Faをそれぞれ「表面1Fb」および「裏面1Fa」とも称する。
In the
電力変換器100Fにおいても、パワー半導体ユニット51Fとプリント配線板ユニット52Fとを一体として、電力変換回路組立体53Fを構成しているが、プリント配線板5Fに電子回路部品6a,6bが実装されたプリント配線板ユニット52Fの構成は上述の電力変換器100Bにおけるプリント配線板ユニット52Bと同様である。
Also in the
パワー半導体ユニット51Fでは、金属ブロック1Fを、導電性および熱伝導性のよい金属材料の銅で構成するとともに、その厚さを1.0〜5.0mm程度として、熱容量が高く放熱性に優れたものとしている。
In the power semiconductor unit 51F, the
また、金属ブロック1Fの下面1Faおよびその周辺領域、すなわち金属ブロック1Fの下面1Faとプリント配線板5Fの下面502側における金属ブロック1Fの周辺領域とに直接セラミックス材料が放熱用絶縁層2Fとして形成されている。ここで、図14の構成では、放熱用絶縁層2Fが形成される、プリント配線板5Fの下面502側における金属ブロック1Fの周辺領域をスルーホール部27の下面ランド導体部27cのランド面としている。
Further, a ceramic material is directly formed as a heat-dissipating insulating layer 2F on the lower surface 1Fa of the
そして、金属ブロック1Fの下面1Faとプリント配線板5Fの下面502側における金属ブロック1Fの周辺領域に形成される放熱用絶縁層2Fを例えば酸化アルミニウム、窒化珪素、窒化アルミニウム、窒化ホウ素など熱伝導性に優れたセラミックス材により形成するようにしている。なお、放熱用絶縁層2Fでは、熱伝導率は1〜200W/m・Kであることが好ましく、また、厚さは10〜500μmであることが好ましい。
The heat insulating layer 2F formed in the peripheral area of the
このように、電力変換器100Fでは、上面1Fb側にパワー半導体素子4が実装された、熱容量が高く放熱性に優れた金属ブロック1Fの下面1Faとプリント配線板5Fの下面502側における金属ブロック1Fの周辺領域に、熱伝導性に優れたセラミックス材よりなる放熱用絶縁層2Fを形成しているので、パワー半導体ユニット51Fにおける金属ブロック1Fの下面1Faが放熱用絶縁層2Fを介して冷却用ヒートシンク7に直接接することにより、パワー半導体素子4下部の熱抵抗を十分に小さくすることができ、優れた放熱性を備えたものとすることができる。
As described above, in the
なお、図14(a)では金属ブロック1Fにパワー半導体素子4が1個実装された構成例を示しているが、金属ブロック1Fに実装されるパワー半導体素子4の個数は、2個でもよく、また、3個以上であってもよい。また、金属ブロック1Fを形成する金属材料は銅に限るものではなく、例えば銅合金、アルミニウム、アルミニウム合金なども適用可能である。
FIG. 14A shows a configuration example in which one power semiconductor element 4 is mounted on the
また、パワー半導体ユニット51Fでは、金属ブロック1Fの上面1Fb側に形成される中継電極用絶縁層42も例えば酸化アルミニウム、窒化珪素、窒化アルミニウム、窒化ホウ素など熱伝導性に優れたセラミックス材により形成するようにしている。なお、中継電極用絶縁層42では、熱伝導率は1〜200W/m・Kであることが好ましく、また、厚さは10〜500μmであることが好ましい。
In the power semiconductor unit 51F, the relay
そして、中継電極用絶縁層42の上面に形成される中継電極41は例えば銅などの熱伝導性に優れた金属材料により形成するようにしている。なお、中継電極41を形成する金属材料は銅に限るものではなく、例えば銅合金、アルミニウム、アルミニウム合金なども適用可能である。
The
次に、図14(b)に示す電力変換器100Gは、上述の図14(a)に示した電力変換器100Fに対して、パワー半導体素子4と中継電極41とをリードフレーム44aで接続するとともに、中継電極41とプリント配線板5Gの上面501側の回路パターン24とをリードフレーム44bで接続するようにした点が異なるものであり、それ以外の点は同様である。以下では、主に、図14(a)に示した電力変換器100Fについて説明する。
Next, the power converter 100G shown in FIG. 14B connects the power semiconductor element 4 and the
続いて、本発明の第4の実施形態にかかる電力変換器の製造方法について図15および図16を参照して説明する。図15および図16は、本発明の第4の実施形態にかかる電力変換器の製造方法を示す断面図である。 Then, the manufacturing method of the power converter concerning the 4th Embodiment of this invention is demonstrated with reference to FIG. 15 and FIG. 15 and 16 are cross-sectional views illustrating a method for manufacturing a power converter according to the fourth embodiment of the present invention.
最初に、1.0〜5.0mm程度の銅板を、プレス加工により、正方形または長方形に打ち抜いて、金属ブロック1Fを製作する(図15(a))。
First, a
次に、金属ブロック1Fの上面1Fbにマスク30Bをあてて、溶射法もしくはエアロゾルデポジション法により例えば酸化アルミニウム粉などのセラミックス粉末31を積層することにより、金属ブロック1Fの上面1Fb側に中継電極用絶縁層42を形成する(図15(b)〜図15(c))。中継電極用絶縁層42は金属ブロック1Fの上面1Fbにおける全面ではなく一部分に形成する。中継電極用絶縁層42の形成に用いるセラミックス微粒子の材料、および絶縁層の形成方法は、溶射法、エアロゾルデポジション法とも上述の図6(e)〜図7(a)で説明した放熱用絶縁層2Bと同様である。
Next, a
中継電極用絶縁層42の厚みは、溶射法またはエアロゾルデポジション法のいずれで形成したものでも、上述のように10〜500μmが好ましい。
As described above, the thickness of the relay
次に、中継電極用絶縁層42の上に銅製の中継電極41を積層する。銅を堆積させる方法は、放熱用絶縁層と同様にプラズマ溶射法を用いる。すなわち、金属ブロック1Fの上面1Fbに形成されている中継電極用絶縁層42にマスク30Cをあてて、銅粒子32を溶射し、中継電極41を形成する(図15(d)〜図15(e))。
Next, the
これにより、金属ブロック1Fの上面1Fbの一部に中継電極41が中継電極用絶縁層42を介して形成された中継電極付き金属ブロック103Fが完成する(図15(f))。
Thereby, the
次に、上述の図6(c)と同様に、プリント配線板5Fのスルーホール部27の孔27dに金属ブロック1Fを挿入し、はんだ28bでの接合により固定する(図15(g))。この時、プリント配線板5Fと金属ブロック1Fとの接合力をより高めるため、接着剤なども併用して固定しても良い。
Next, similarly to the above-described FIG. 6C, the
次に、金属ブロック1Fにパワー半導体素子4をはんだ28aでの接合により実装するとともに、プリント配線板5Fには各種の電子回路部品6a,6bをはんだ28aでの接合により実装する(図16(a))。これらのはんだ28aによる実装は、上述の図6(d)で説明した実装方法と同様にして行なう。
Next, the power semiconductor element 4 is mounted on the
次に、ボンディングワイヤ43aによりパワー半導体素子4と中継電極41との接続を行なう(図16(a))。ボンディングワイヤ43aは、線径が125〜500μmのAlワイヤを使用して超音波接合する。なお、パワー半導体素子4と中継電極41との接続には、ボンディングワイヤ43aの代わりに例えばリードフレームを使用しても良い。
Next, the power semiconductor element 4 and the
さらに、ボンディングワイヤ43bにより中継電極41とプリント配線板5Fの上面501側の回路パターン24との接続を行なう(図16(a))。ボンディングワイヤ43bは、上述のボンディングワイヤ43aと同様に線径が125〜500μmのAlワイヤを使用して超音波接合する。なお、中継電極41とプリント配線板5Fの上面501側の回路パターン24との接続には、ボンディングワイヤ43bの代わりにリードフレームやリボン状のアルミを用いても良い。
Further, the
次に、マスク30Aをあてて、溶射法もしくはエアロゾルデポジション法により例えば酸化アルミニウム粉などのセラミックス粉末31を積層することにより、金属ブロック1Fの下面1Faおよびその周辺領域に放熱用絶縁層2Fを形成する(図16(b)〜図16(c))。放熱用絶縁層2Fの形成に用いるセラミックス微粒子の材料、および絶縁層の形成方法は、溶射法、エアロゾルデポジション法とも上述の図6(e)〜図7(a)で説明した絶縁層2Bと同様である。
Next, the insulating layer 2F for heat radiation is formed on the lower surface 1Fa of the
放熱用絶縁層2Fの厚みは、溶射法またはエアロゾルデポジション法のいずれで形成したものでも、上述のように10〜500μmが好ましい。上記のようにして形成された放熱用絶縁層2Fは、絶縁特性として、例えば厚み200μmで交流破壊電圧5kV以上を有しており、耐電圧定格が1200Vのパワー素子にも用いることができる。 The thickness of the heat-dissipating insulating layer 2F is preferably 10 to 500 μm as described above, regardless of whether it is formed by thermal spraying or aerosol deposition. The heat radiation insulating layer 2F formed as described above has, for example, a thickness of 200 μm and an AC breakdown voltage of 5 kV or more as an insulating property, and can also be used for a power element having a withstand voltage rating of 1200 V.
最後に、パワー半導体ユニット51Fとプリント配線板ユニット52Fとが一体化されるとともに金属ブロック1Fの下面1Faおよびその周辺領域に放熱用絶縁層2Fが形成された電力変換回路組立体53Fを、冷却用ヒートシンク7に放熱グリスを介して搭載し、ケース8を被せ、電力変換器100Fを構成する(図16(d))。
Finally, the power conversion circuit assembly 53F in which the power semiconductor unit 51F and the printed wiring board unit 52F are integrated and the heat insulating layer 2F is formed in the lower surface 1Fa of the
以上説明した第4の実施形態にかかる電力変換器では、上述の第3の実施形態にかかる電力変換器と同様に、特に、金属ブロックの上面(表面)に接合されたパワー半導体素子からのボンディングワイヤまたはリードフレームを中継電極に接合した上で、この中継電極とプリント配線板の回路パターンとを接続していることにより、パワー半導体素子が動作時に発生し、パワー半導体素子からのボンディングワイヤまたはリードフレームに沿って伝達される熱は、主に中継電極および熱伝導性に優れたセラミックス材料からなる中継電極用絶縁層を介して熱容量が高く放熱性に優れた金属ブロックの方に伝わるので、プリント配線板の回路パターンの方に伝わる熱量は十分に小さく抑制することができる。 In the power converter according to the fourth embodiment described above, as in the case of the power converter according to the third embodiment described above, in particular, bonding from a power semiconductor element bonded to the upper surface (surface) of the metal block. By connecting the wire or lead frame to the relay electrode and connecting the relay electrode and the circuit pattern of the printed wiring board, the power semiconductor element is generated during operation, and the bonding wire or lead from the power semiconductor element is generated. The heat transferred along the frame is transferred to the metal block, which has high heat capacity and excellent heat dissipation, mainly through the relay electrode and the insulating layer for relay electrode made of ceramic material with excellent thermal conductivity. The amount of heat transmitted to the circuit pattern of the wiring board can be suppressed to be sufficiently small.
これにより、本発明の第4の実施形態にかかる電力変換器では、パワー半導体ユニットからプリント配線板ユニットに流れ出す熱量を効果的に抑制することができるため、プリント配線板ユニットにおけるプリント配線板などに対する加熱を効果的に抑制することができるとともに、電力変換器における放熱性をより向上させることができる。 Thus, in the power converter according to the fourth embodiment of the present invention, the amount of heat flowing from the power semiconductor unit to the printed wiring board unit can be effectively suppressed. While heating can be suppressed effectively, the heat dissipation in a power converter can be improved more.
1A,1B,1C,1D,1E,1F,1G:金属ブロック
1a,1Aa,1Ba,1Ca,1Da,1Fa:下面(裏面)
1b,1Ab,1Bb,1Cb,1Db,1Fb:上面(表面)
1c,1Ac,1Bc,1Cc,1Dc,1Fc:側面
2,2A,2B,2C,2D,2E,2F,2G:放熱用絶縁層
2a,2Aa,2Da:下面部放熱用絶縁層
2b,2Ab,2Db:側面部放熱用絶縁層
3,3A,3D,3E:絶縁金属ブロック
4:パワー半導体素子(第1の回路素子)
5,5A,5B,5C,5D,5E,5F,5G:プリント配線板
6a,6b,6c,6d,6e,6f,6g:電子回路部品(第2の回路素子)
7:冷却用ヒートシンク
7a:上面
8:ケース
9a,9b:プリント配線板
10:パワー半導体モジュール
11:絶縁基板
12:アルミワイヤ
13:切り欠き部
14,14A:孔
15:金属ベース
16:絶縁層
17:回路パターン
18,18A:接続リード端子
19:絶縁樹脂
20:ケース本体
21:蓋
23,23a,23b:基板本体
24,24a,24b:回路パターン
25,25A:支柱
26:配線
27:スルーホール部
27a:貫通導体部
27b:上面ランド導体部
27c:下面ランド導体部
27d:孔
28a,28b:はんだ
29:接着剤
30,30A,30B,30C:マスク
31,31A,31B:原料粉末(セラミックス粉末)
32:銅粒子
41:中継電極
42:中継電極用絶縁層
43a,43b:ボンディングワイヤ
44a,44b:リードフレーム
51,51A,51B,51C,51D,51E,51F,51G:パワー半導体ユニット
52,52A,52B,52C,52D,52E,52F,52G:プリント配線板ユニット
53,53A,53B,53C,53D,53E,53F,53G:電力変換回路組立体
100,100A,100B,100C,100D,100E,100F,100G,200:電力変換器
103F:中継電極付き金属ブロック
501:上面(表面)
502:下面(裏面)
h1,h2,h3,h4:熱の流れ
1A, 1B, 1C, 1D, 1E, 1F, 1G: Metal block 1a, 1Aa, 1Ba, 1Ca, 1Da, 1Fa: Lower surface (back surface)
1b, 1Ab, 1Bb, 1Cb, 1Db, 1Fb: upper surface (surface)
1c, 1Ac, 1Bc, 1Cc, 1Dc, 1Fc:
5, 5A, 5B, 5C, 5D, 5E, 5F, 5G: Printed wiring boards 6a, 6b, 6c, 6d, 6e, 6f, 6g: Electronic circuit components (second circuit elements)
7: Heat sink for cooling 7a: Upper surface 8: Case 9a, 9b: Printed wiring board 10: Power semiconductor module 11: Insulating substrate 12: Aluminum wire 13: Notch 14, 14A: Hole 15: Metal base 16: Insulating layer 17 :
32: Copper particles 41: Relay electrode 42: Insulating layer for relay electrode 43a, 43b: Bonding wire 44a, 44b: Lead frame 51, 51A, 51B, 51C, 51D, 51E, 51F, 51G: Power semiconductor unit 52, 52A, 52B, 52C, 52D, 52E, 52F, 52G: Printed wiring board unit 53, 53A, 53B, 53C, 53D, 53E, 53F, 53G: Power
502: Lower surface (back surface)
h1, h2, h3, h4: heat flow
Claims (10)
前記金属ブロックを収めることが可能な孔が明けられたプリント配線板に第2の回路素子が実装されてなるプリント配線板ユニットと、
冷却用ヒートシンクとを備え、
前記金属ブロックが前記孔にはめ込まれるようにして前記パワー半導体ユニットと前記プリント配線板ユニットとが一体とされた電力変換回路組立体が構成されているとともに、
前記金属ブロックの下面と前記金属ブロックの側面の少なくとも一部とに直接セラミックス材料が放熱用絶縁層として形成されてなり、
前記下面の放熱用絶縁層と前記側面の放熱用絶縁層とはつながるように設けられ、
前記金属ブロックの下面が前記放熱用絶縁層を介して前記冷却用ヒートシンクの上面に当接するようにして前記電力変換回路組立体が前記冷却用ヒートシンクに取付けられた ことを特徴とする電力変換器。 A power semiconductor unit in which a first circuit element made of a power semiconductor element is mounted on an upper surface of a metal block having an upper surface and a lower surface;
A printed wiring board unit in which a second circuit element is mounted on a printed wiring board having a hole capable of accommodating the metal block;
With a heat sink for cooling,
A power conversion circuit assembly is configured in which the power semiconductor unit and the printed wiring board unit are integrated so that the metal block is fitted into the hole,
A ceramic material is directly formed as a heat dissipation insulating layer on the lower surface of the metal block and at least a part of the side surface of the metal block ,
The heat radiation insulating layer on the lower surface and the heat radiation insulating layer on the side surface are provided to be connected,
The power converter, wherein the power conversion circuit assembly is attached to the cooling heat sink such that the lower surface of the metal block is in contact with the upper surface of the cooling heat sink via the insulating layer for heat dissipation.
前記金属ブロックの下面と前記プリント配線板の下面における前記金属ブロックの周辺領域とに直接セラミックス材料が前記放熱用絶縁層として形成されてなることを特徴とする電力変換器。 The power converter according to claim 1, wherein
A power converter, wherein a ceramic material is directly formed as the insulating layer for heat dissipation on a lower surface of the metal block and a peripheral region of the metal block on a lower surface of the printed wiring board.
前記孔は、導体層からなるスルーホール部の開口部であって、
前記金属ブロックは、前記スルーホール部にはんだ付で固定されているとともに、
前記プリント配線板の下面における前記金属ブロックの周辺領域は、前記スルーホール部のランド面であることを特徴とする電力変換器。 The power converter according to claim 2 , wherein
The hole is an opening of a through hole portion made of a conductor layer,
The metal block is fixed to the through hole portion by soldering,
The power converter, wherein a peripheral region of the metal block on a lower surface of the printed wiring board is a land surface of the through hole portion.
前記パワー半導体ユニットは、前記金属ブロックの上面の一部分に直接セラミックス材料を積層して形成された中継電極用絶縁層と、
前記中継電極用絶縁層の上面に金属材料を積層して形成された中継電極とを備え、
前記第1の回路素子からのボンディングワイヤまたはリードフレームを前記中継電極に接合するとともに、
前記中継電極と前記プリント配線板の上面側の回路パターン部とを接続したことを特徴とする電力変換器。 The power converter according to claim 1, wherein
The power semiconductor unit includes a relay electrode insulating layer formed by laminating a ceramic material directly on a part of the upper surface of the metal block;
A relay electrode formed by laminating a metal material on the upper surface of the insulating layer for the relay electrode,
Bonding a bonding wire or a lead frame from the first circuit element to the relay electrode;
A power converter, wherein the relay electrode and a circuit pattern portion on an upper surface side of the printed wiring board are connected.
前記中継電極と前記プリント配線板の上面側の回路パターン部とをボンディングワイヤまたはリードフレームを介して接続したことを特徴とする電力変換器。 The power converter according to claim 4 , wherein
A power converter, wherein the relay electrode and the circuit pattern portion on the upper surface side of the printed wiring board are connected via a bonding wire or a lead frame.
前記放熱用絶縁層および/または前記中継電極用絶縁層は、熱伝導率が1〜200W/m・Kであり、かつ厚さが10〜500μmであることを特徴とする電力変換器。 The power converter according to claim 1 or 4 ,
The heat dissipation insulating layer and / or the relay electrode insulating layer has a thermal conductivity of 1 to 200 W / m · K and a thickness of 10 to 500 μm.
前記放熱用絶縁層および/または前記中継電極用絶縁層は、酸化珪素、酸化アルミニウム、窒化珪素、窒化アルミニウム、窒化ホウ素からなるフィラー群の少なくとも1種類からなることを特徴とする電力変換器。 The power converter according to claim 1 or 4 ,
The heat dissipation insulating layer and / or the relay electrode insulating layer is made of at least one of a filler group made of silicon oxide, aluminum oxide, silicon nitride, aluminum nitride, and boron nitride.
前記中継電極は、金属材料として銅粒子を溶射して形成することを特徴とする電力変換器を製造する方法。 The method of manufacturing the power converter according to claim 4 ,
The method for manufacturing a power converter, wherein the relay electrode is formed by spraying copper particles as a metal material.
前記放熱用絶縁層および/または前記中継電極用絶縁層は、前記フィラー群の少なくとも1種によるセラミックス微粒子をプラズマ溶射法にて堆積させることにより形成することを特徴とする電力変換器を製造する方法。 The method of manufacturing the power converter according to claim 7 ,
The method of manufacturing a power converter, wherein the insulating layer for heat dissipation and / or the insulating layer for a relay electrode is formed by depositing ceramic fine particles of at least one of the filler groups by a plasma spraying method. .
前記放熱用絶縁層および/または前記中継電極用絶縁層は、前記フィラー群の少なくとも1種によるセラミックス微粒子をエアロゾルデポジション法にて堆積させることにより形成することを特徴とする電力変換器を製造する方法。 The method of manufacturing the power converter according to claim 7 ,
The heat radiating insulating layer and / or the relay electrode insulating layer, to produce a power converter, characterized by formed by depositing the ceramic particles according to at least one of the filler group at the aerosol deposition method Way .
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013541637A JP5861846B2 (en) | 2011-11-02 | 2012-11-02 | Power converter and manufacturing method thereof |
Applications Claiming Priority (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011240961 | 2011-11-02 | ||
JP2011240961 | 2011-11-02 | ||
JP2012079472 | 2012-03-30 | ||
JP2012079472 | 2012-03-30 | ||
PCT/JP2012/007037 WO2013065316A1 (en) | 2011-11-02 | 2012-11-02 | Power converter |
JP2013541637A JP5861846B2 (en) | 2011-11-02 | 2012-11-02 | Power converter and manufacturing method thereof |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2013065316A1 JPWO2013065316A1 (en) | 2015-04-02 |
JP5861846B2 true JP5861846B2 (en) | 2016-02-16 |
Family
ID=48191688
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013541637A Active JP5861846B2 (en) | 2011-11-02 | 2012-11-02 | Power converter and manufacturing method thereof |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5861846B2 (en) |
DE (1) | DE112012004593B4 (en) |
WO (1) | WO2013065316A1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110676236A (en) * | 2019-08-27 | 2020-01-10 | 华东光电集成器件研究所 | Thick film power hybrid integrated circuit |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2015151644A1 (en) | 2014-03-31 | 2015-10-08 | 富士電機株式会社 | Power conversion apparatus |
JP6699111B2 (en) | 2015-08-18 | 2020-05-27 | 富士電機株式会社 | Semiconductor device and method of manufacturing semiconductor device |
JP7033060B2 (en) | 2015-09-03 | 2022-03-09 | ルミレッズ ホールディング ベーフェー | How to make an LED device |
JP2023183301A (en) * | 2022-06-15 | 2023-12-27 | 日立Astemo株式会社 | Power conversion device |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000228466A (en) * | 1999-02-08 | 2000-08-15 | Hitachi Ltd | Semiconductor device, its manufacture, and electronic device |
JP3410398B2 (en) * | 1999-08-26 | 2003-05-26 | ティーディーケイ株式会社 | Power amplification module |
JP2003031741A (en) * | 2001-07-13 | 2003-01-31 | Sumitomo Electric Ind Ltd | Semiconductor integrated device |
EP1528847B1 (en) * | 2003-10-29 | 2007-08-08 | POWER ONE ITALY S.p.A. | Heat dissipating insert, circuit comprising said insert and production method |
DE102004002743A1 (en) * | 2004-01-20 | 2005-08-04 | Stefan Kienitz | Cooling body for power electronics especially in automotive field has a thick coating of ceramic or hard material applied by thermal spraying or vapor deposition |
JP2006179856A (en) * | 2004-11-25 | 2006-07-06 | Fuji Electric Holdings Co Ltd | Insulating substrate and semiconductor device |
JP2007305772A (en) * | 2006-05-11 | 2007-11-22 | Fuji Electric Device Technology Co Ltd | Semiconductor device and manufacturing method thereof |
DE102007037297A1 (en) * | 2007-08-07 | 2009-02-19 | Continental Automotive Gmbh | Circuit carrier structure with improved heat dissipation |
JP2009081246A (en) * | 2007-09-26 | 2009-04-16 | Daikin Ind Ltd | Semiconductor mounting substrate, and manufacturing method thereof |
JP5246143B2 (en) * | 2009-11-24 | 2013-07-24 | 富士電機株式会社 | SEMICONDUCTOR MODULE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND ELECTRIC DEVICE |
JP2012074425A (en) * | 2010-09-28 | 2012-04-12 | Daikin Ind Ltd | Power module |
-
2012
- 2012-11-02 WO PCT/JP2012/007037 patent/WO2013065316A1/en active Application Filing
- 2012-11-02 JP JP2013541637A patent/JP5861846B2/en active Active
- 2012-11-02 DE DE112012004593.9T patent/DE112012004593B4/en active Active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110676236A (en) * | 2019-08-27 | 2020-01-10 | 华东光电集成器件研究所 | Thick film power hybrid integrated circuit |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2013065316A1 (en) | 2013-05-10 |
DE112012004593T5 (en) | 2014-08-21 |
JPWO2013065316A1 (en) | 2015-04-02 |
DE112012004593B4 (en) | 2020-10-01 |
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