JP5819746B2 - Laser processing equipment - Google Patents

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Description

本発明は、レーザ発振器から出力されたレーザ光を偏向して加工対象の所定位置に照射し、加工するレーザ加工装置に関するものである。   The present invention relates to a laser processing apparatus that deflects a laser beam output from a laser oscillator and irradiates a predetermined position to be processed to process the laser beam.

近年、レーザ加工機には、経年変化による加工精度の低下防止と高い生産性の維持が求められている。レーザの加工機の加工精度は、ガルバノスキャナのミラーの位置決め精度に依存しており、ガルバノスキャナのミラーの位置決め精度が低下したまま生産を続けると、加工不良となる可能性が高くなる。そして、加工不良品が発生すると、大きな経済的な損失を招く恐れがある。また、加工不良品を作ると、生産を留めて、その原因の究明と対策を行う必要がある。そして、加工不良の原因の解明には、長時間を要することも多い。   In recent years, laser processing machines are required to prevent deterioration in processing accuracy due to aging and to maintain high productivity. The processing accuracy of the laser processing machine depends on the positioning accuracy of the mirror of the galvano scanner. If production is continued with the positioning accuracy of the mirror of the galvano scanner lowered, the possibility of processing failure increases. And when a processing defect occurs, there is a risk of causing a large economic loss. In addition, if a defective product is made, it is necessary to stop production and investigate the cause and take countermeasures. And it often takes a long time to elucidate the cause of processing defects.

特許文献1では、揺動角度によらず、ミラーを高速で位置決めすることができるガルバノスキャナの制御方法及びガルバノスキャナ並びにこのようなガルバノスキャナによりレーザを照射してプリント基板に穴明けを行うレーザ加工機が記載されている。この特許文献1では、図1(本願明細書図17)に記載されているように、指令信号215と現在位置242との偏差に基づいてミラーを揺動させるアクチュエータ110を動作させるため、揺動角度に応じたアクチュエータ110のゲイン変化を計測しておき、ゲイン変化をなくすように、アクチュエータ110の操作量を補正する。これにより、揺動角度に応じたトルク定数(ゲイン変化をトルク定数の変化とみなすことができるため以降ゲインと呼ぶ)の変動の影響を抑えることができるので、走査領域全体で応答特性が一様になり、位置決め速度を向上させることができることが記載されている。   In Patent Document 1, a galvano scanner control method and a galvano scanner capable of positioning a mirror at a high speed regardless of a swing angle, and laser processing for piercing a printed board by irradiating a laser with such a galvano scanner. The machine is listed. In Patent Document 1, as described in FIG. 1 (FIG. 17 of the present specification), the actuator 110 that swings the mirror is operated based on the deviation between the command signal 215 and the current position 242. The gain change of the actuator 110 according to the angle is measured, and the operation amount of the actuator 110 is corrected so as to eliminate the gain change. As a result, it is possible to suppress the influence of fluctuations in the torque constant (gain change can be regarded as a change in the torque constant) according to the swing angle, so that the response characteristics are uniform over the entire scanning region. It is described that the positioning speed can be improved.

また、特許文献2には、精度不良が発生する前に事前に注意を促す機械特性診断機能を持ったガルバノスキャナ制御装置が記載されている。   Further, Patent Document 2 describes a galvano scanner control device having a mechanical characteristic diagnosis function that calls attention in advance before a poor accuracy occurs.

そして、その構成として特許文献2の図2(本願明細書図19)に記載されているように、ガルバノスキャナの周波数特性を計測する為の加振信号を発生する加振信号発生部12と、加振信号によりガルバノスキャナを動作させた際の周波数特性を算出する周波数特性計算部13と、ガルバノスキャナの周波数特性の特徴とガルバノスキャナの機械状態が記載された機械状態診断データと、周波数特性計算部の算出した周波数特性と機械特性診断データに基づいて、ガルバノスキャナが正常な状態か異常な状態かを診断する機械状態診断部15と、機械特性診断部の診断結果を出力する表示部16とを備えている。   Then, as described in FIG. 2 (FIG. 19 of the present specification) of Patent Document 2 as the configuration, an excitation signal generator 12 that generates an excitation signal for measuring the frequency characteristics of the galvano scanner, A frequency characteristic calculation unit 13 for calculating a frequency characteristic when the galvano scanner is operated by an excitation signal, machine state diagnosis data describing the characteristics of the frequency characteristic of the galvano scanner and the machine state of the galvano scanner, and frequency characteristic calculation A machine state diagnosis unit 15 for diagnosing whether the galvano scanner is in a normal state or an abnormal state based on the frequency characteristic calculated by the unit and the machine characteristic diagnosis data; and a display unit 16 for outputting a diagnosis result of the mechanical characteristic diagnosis unit; It has.

これらの従来技術において、特に特許文献1の明細書の記載と図を引用しながら従来技術について説明する。図12は、従来のレーザ加工機におけるガルバノスキャナサーボ機構の構成を示すブロック図である。   Among these prior arts, the prior art will be described with reference to the description and the drawings of Patent Document 1 in particular. FIG. 12 is a block diagram showing a configuration of a galvano scanner servo mechanism in a conventional laser beam machine.

ガルバノスキャナ100の電磁揺動アクチュエータ110は、揺動軸111を揺動させる。揺動軸111の一方の端部にはミラーマウント131を介してミラー130が装着されており、他方の端部には角度検出器120が取り付けられている。以上の構成より、揺動軸111の揺動に応じてミラー130の向きが変わり、ミラー130に入射したレーザビーム30
の出射方向が変化するようになっている。揺動軸111に連結されたミラー130の揺動角度は、角度検出器120により検出される。上位制御装置10は、NCプログラムに基づき、レーザビーム30により所定の位置を加工するために、ミラー130の目標位置決め角度11をガルバノスキャナ制御装置20に指令する。図示を省略するレーザ発振器から出力されたレーザビーム30はミラー130により反射され、Fθレンズ140を介して対象物の加工位置に照射される。図中では、ミラー130の3通りの揺動角度に対応した、点A、点B、点Cの3つの加工位置を示している。
The electromagnetic swing actuator 110 of the galvano scanner 100 swings the swing shaft 111. A mirror 130 is attached to one end of the swing shaft 111 via a mirror mount 131, and an angle detector 120 is attached to the other end. With the configuration described above, the direction of the mirror 130 changes according to the swing of the swing shaft 111, and the laser beam 30 incident on the mirror 130.
The emission direction of the light is changed. The swing angle of the mirror 130 connected to the swing shaft 111 is detected by the angle detector 120. The host controller 10 instructs the galvano scanner controller 20 on the target positioning angle 11 of the mirror 130 in order to process a predetermined position with the laser beam 30 based on the NC program. A laser beam 30 output from a laser oscillator (not shown) is reflected by a mirror 130 and irradiated onto a processing position of an object through an Fθ lens 140. In the drawing, three machining positions of point A, point B, and point C corresponding to the three swing angles of the mirror 130 are shown.

図13は、従来のガルバノスキャナ制御装置20を構成するスキャナサーボ機構のブロック線図であり、破線より左側はサーボ処理プロセッサのソフトウェアにより実行される部分であり、右側はハードウェアの接続関係と信号の流れを示している。   FIG. 13 is a block diagram of a scanner servomechanism constituting the conventional galvano scanner control device 20. The left side from the broken line is a portion executed by the software of the servo processor, and the right side is a hardware connection relation and signal. Shows the flow.

目標軌道生成処理部210は、目標位置決め角度11に基づき、都度ガルバノスキャナの揺動角度目標値215を計算し、スキャナサーボ機構の目標軌道を生成する。この目標値215は、減算手段222により検出されたスキャナの揺動角度255を減算されて偏差225となる。この偏差225は、補償要素220で制御演算処理を施されて操作量信号226が算出される。操作量信号226はD/A変換器230でアナログ信号に変換され、電流制御系240の指令値(駆動信号)21になる。電流制御系240の出力側には、ガルバノアクチュエータ110の電機子が接続され、これと直列に電流検出抵抗241が接続されている。電流検出抵抗241の端子電圧は、差動増幅器242で検出され、電流信号として電流制御系240にフィードバックされる。揺動軸111に結合されたエンコーダ120は、揺動量に応じてパルス(位置信号)22を発生し、このパルスがパルスカウンタ250で計数されて揺動角度255としてフィードバックされる。   The target trajectory generation processing unit 210 calculates the galvano scanner swing angle target value 215 each time based on the target positioning angle 11, and generates the target trajectory of the scanner servo mechanism. The target value 215 is a deviation 225 by subtracting the swing angle 255 of the scanner detected by the subtracting means 222. This deviation 225 is subjected to a control calculation process by the compensation element 220 to calculate an operation amount signal 226. The manipulated variable signal 226 is converted into an analog signal by the D / A converter 230 and becomes a command value (drive signal) 21 of the current control system 240. The armature of the galvano actuator 110 is connected to the output side of the current control system 240, and a current detection resistor 241 is connected in series with the armature. The terminal voltage of the current detection resistor 241 is detected by the differential amplifier 242 and fed back to the current control system 240 as a current signal. The encoder 120 coupled to the swing shaft 111 generates a pulse (position signal) 22 according to the swing amount, and this pulse is counted by a pulse counter 250 and fed back as a swing angle 255.

これらの処理を繰り返すことにより、ミラー130は徐々に目標位置に接近する。位置決めが完了すると、ガルバノスキャナ制御装置20から上位制御装置10に位置決め完了信号12が送られる。   By repeating these processes, the mirror 130 gradually approaches the target position. When the positioning is completed, a positioning completion signal 12 is sent from the galvano scanner control device 20 to the host control device 10.

図14は、特許文献1のガルバノアクチュエータの断面図である。揺動軸111を囲む様に円筒状のインナーヨーク112が配置され、その外側には円筒状の空隙Gを隔てて、周方向に4分割された永久磁石113a、113b、113c、113dが配置されている。永久磁石113a〜113dは半径方向に分極するように磁化されており、永久磁石113aと永久磁石113c及び永久磁石113bと永久磁石113dがそれぞれ同一方向に磁化されている。永久磁石113a〜113dの外側には、アウターヨーク114が配置され、これらが磁気回路を形成している。そして、永久磁石113a〜113dおよびインナーヨーク112によって形成される磁界により、空隙Gには略半径方向の磁束Mが生じている。また空隙Gには電機子のコイルを構成する素線群115a、115b、115c、115dが図示のように配置されている。   FIG. 14 is a cross-sectional view of the galvano actuator of Patent Document 1. A cylindrical inner yoke 112 is disposed so as to surround the swing shaft 111, and permanent magnets 113a, 113b, 113c, and 113d that are divided into four in the circumferential direction are disposed outside the cylindrical inner yoke 112 with a cylindrical gap G therebetween. ing. The permanent magnets 113a to 113d are magnetized so as to be polarized in the radial direction, and the permanent magnet 113a and the permanent magnet 113c, and the permanent magnet 113b and the permanent magnet 113d are magnetized in the same direction. An outer yoke 114 is disposed outside the permanent magnets 113a to 113d, and these form a magnetic circuit. The magnetic flux M in the substantially radial direction is generated in the gap G by the magnetic field formed by the permanent magnets 113 a to 113 d and the inner yoke 112. In the gap G, the wire groups 115a, 115b, 115c, and 115d constituting the armature coil are arranged as shown in the figure.

以上の構成により、コイルに通電すると、素線群115a、115b、115c、115dには図示の方向に電流が流れ、磁束と電流の相互作用により、素線群115a〜115dには円周方向に力(ローレンツ力)が作用する。コイルすなわち素線群115a〜
115d は揺動軸111に固定されているので、この力は揺動軸111を駆動するトルクとなる。このトルクはコイルを流れる電流に比例し、その比例定数がゲインである。
With the above configuration, when the coil is energized, current flows through the wire groups 115a, 115b, 115c, and 115d in the direction shown in the figure, and the wire groups 115a to 115d run in the circumferential direction due to the interaction between magnetic flux and current. Force (Lorentz force) acts. Coil, that is, strand group 115a ~
Since 115 d is fixed to the swing shaft 111, this force becomes a torque for driving the swing shaft 111. This torque is proportional to the current flowing through the coil, and its proportionality constant is the gain.

ここで、ガルバノスキャナは、限られた角度範囲でミラーを揺動させる動作を行うが、この角度範囲内でのガルバノスキャナの特性は、必ずしも一様ではない。すなわち、図7に示したガルバノアクチュエータ110の場合、永久磁石113a〜113dの中央付近の磁束Mは半径方向を向いているが、端部に近づくにつれて半径方向に対して傾き、密度も低くなる。このため、素線群115a〜115dが永久磁石113a〜113dの端部に近づくと、ゲインの低下が生じる。   Here, the galvano scanner performs an operation of swinging the mirror within a limited angular range, but the characteristics of the galvano scanner within this angular range are not necessarily uniform. That is, in the case of the galvano actuator 110 shown in FIG. 7, the magnetic flux M near the center of the permanent magnets 113a to 113d is directed in the radial direction, but as it approaches the end, it is inclined with respect to the radial direction and the density decreases. For this reason, when the strand group 115a-115d approaches the edge part of permanent magnet 113a-113d, the fall of a gain will arise.

図15は、特許文献1における揺動角度とゲインの関係を示すグラフであり、揺動角度θBは揺動の中心、揺動角度θAはプラス側、揺動角度θCはマイナス側の角度で、図5における加工位置A、B、Cに対応する揺動角度である。   FIG. 15 is a graph showing the relationship between the swing angle and the gain in Patent Document 1. The swing angle θB is the center of swing, the swing angle θA is the plus side, and the swing angle θC is the minus side angle. 5 is a swing angle corresponding to the processing positions A, B, and C in FIG.

図16は、特許文献1における揺動角度がθA、θB、θCである加工位置A、B、Cにおけるサーボ機構の偏差信号のグラフを重ねた図である。   FIG. 16 is a diagram in which graphs of deviation signals of the servo mechanism at the machining positions A, B, and C where the swing angles are θA, θB, and θC in Patent Document 1 are superimposed.

同図から明らかなように、位置Bでは適切な応答を示しているが、位置Aや位置Cではオーバーシュートが生じている。すなわち、揺動角度によりゲインが変化するため、ある角度で良好な位置決め応答性を持つサーボ機構が、別の角度ではオーバーシュートを生じたり、オーバーダンピングになったりするという問題を生じる。   As is clear from the figure, an appropriate response is shown at position B, but overshoot occurs at positions A and C. That is, since the gain varies depending on the swing angle, a servo mechanism having a good positioning response at one angle may cause overshoot or overdamping at another angle.

しかし、コイルに作用する磁場の強度を揺動角度によらず一様にすることは困難であり、同じ電流を流しても揺動角度に応じて回転子に作用するトルクの大きさが変動する。他の構造によってトルクを発生するガルバノスキャナであっても同様に、揺動角度によってゲインが全く変動しないようにすることは困難である。   However, it is difficult to make the intensity of the magnetic field acting on the coil uniform regardless of the swing angle, and the magnitude of the torque acting on the rotor varies depending on the swing angle even if the same current is passed. . Similarly, even in a galvano scanner that generates torque by another structure, it is difficult to prevent the gain from changing at all depending on the swing angle.

そこで、特許文献1では、揺動角度によらず、ミラーを高速で位置決めすることができるガルバノスキャナの制御方法及びガルバノスキャナ、並びに、このようなガルバノスキャナによりーザを照射してプリント基板に穴明けを行うレーザ加工機を提供することを目的としている。   Therefore, in Patent Document 1, a galvano scanner control method and a galvano scanner capable of positioning a mirror at a high speed regardless of a swing angle, and a printed circuit board by irradiating a user with such a galvano scanner. It aims at providing the laser processing machine which drills.

その手段として、指令信号と現在位置との偏差に基づいてミラーを揺動させるアクチュエータを動作させ、前記ミラーに入射する光の出射角を制御するようにしたガルバノスキャナにおいて、揺動角度に応じた前記アクチュエータのゲイン変化を計測する手段を設け、実動作に先立ってこの手段により前記アクチュエータのゲイン変化を計測すると共にその結果を記憶し、実動作時には前記ゲイン変化をなくすように、前記アクチュエータの操作量を補正することを特徴としている。   As a means for this, in the galvano scanner which operates an actuator that swings the mirror based on the deviation between the command signal and the current position and controls the emission angle of the light incident on the mirror, A means for measuring the gain change of the actuator is provided, and the gain change of the actuator is measured by this means prior to the actual operation and the result is stored, and the operation of the actuator is performed so as to eliminate the gain change during the actual operation. It is characterized by correcting the amount.

図17は、特許文献1に記載のゲイン計測機能を備えたガルバノスキャナ制御装置50を構成するスキャナサーボ機構のブロック図であり、破線より左側はサーボ処理プロセッサのソフトウェアにより実行される部分を、右側はハードウェアの接続関係と信号の流れを、それぞれ示している。なお、図13と同等の機能のものは同一の符号を付し、重複する説明を省略する。   FIG. 17 is a block diagram of the scanner servomechanism constituting the galvano scanner control device 50 having the gain measurement function described in Patent Document 1. The left side from the broken line shows the part executed by the software of the servo processor. Shows the hardware connection and signal flow. In addition, the thing of the function equivalent to FIG. 13 attaches | subjects the same code | symbol, and abbreviate | omits the overlapping description.

加振信号生成処理部260は小振幅の正弦波信号を発生する。なお、この正弦波の周波数は、制御対象であるスキャナアクチュエータの共振周波数や、アンプの各種ノイズの周波数、摩擦の影響が顕著な低い周波数領域等を避け、伝達関数が慣性体としての二重積分特性を示す周波数に設定されている。   The excitation signal generation processing unit 260 generates a small amplitude sine wave signal. The frequency of this sine wave avoids the resonance frequency of the scanner actuator to be controlled, the frequency of various noises of the amplifier, the frequency region where the influence of friction is significantly low, etc., and the transfer function is a double integral as an inertial body. It is set to a frequency that indicates the characteristics.

信号接続遮断処理部261は加振信号生成処理部260から出力される信号を加算処理部262に接続または遮断する。加算処理部262は加振信号生成処理部260および目標値生成処理部210から出力される目標値215を加算し、減算手段222に出力する。   The signal connection cutoff processing unit 261 connects or blocks the signal output from the excitation signal generation processing unit 260 to the addition processing unit 262. The addition processing unit 262 adds the target value 215 output from the excitation signal generation processing unit 260 and the target value generation processing unit 210 and outputs the result to the subtraction unit 222.

補償要素220の出力は、信号接続切替処理部227の端子aとゲイン変動補償部300に入力され、ゲイン変動補償部300の出力は、信号接続切替処理部227の端子bに入力される。信号接続切替処理部227の出力は、端子cからD/A変換器230に入力される。   The output of the compensation element 220 is input to the terminal a of the signal connection switching processing unit 227 and the gain fluctuation compensation unit 300, and the output of the gain fluctuation compensation unit 300 is input to the terminal b of the signal connection switching processing unit 227. The output of the signal connection switching processing unit 227 is input to the D / A converter 230 from the terminal c.

ゲイン計測信号処理部270には、揺動角度255が信号接続遮断処理部271を介して入力されると共に、操作量信号226が信号接続遮断処理部272を介して入力され、処理結果284はメモリ290内の指定されたアドレスに記憶される。   A swing angle 255 is input to the gain measurement signal processing unit 270 via the signal connection cutoff processing unit 271, and an operation amount signal 226 is input via the signal connection cutoff processing unit 272. The processing result 284 is stored in the memory. Stored at the specified address in 290.

次に、ゲイン計測信号処理部270について説明する。図18は、特許文献1に係るゲイン計測信号処理部の構成を示すブロック図である。第1のディジタルフィルタ273の入力側は信号接続遮断処理部271に接続され、出力信号は第1のピークホールド277を介して除算処理部279に入力される。第2のディジタルフィルタ274の入力側は信号接続遮断処理部272に接続され、出力信号は第2のピークホールド278を介して除算処理部279に入力される。第1および第2のディジタルフィルタ273,274は、加振信号生成処理部260によって生成される正弦波の周波数と同一の周波数成分を通過させ、他の成分は遮断するバンドパス特性を持っている。なお、図18における283はタイミング信号である。   Next, the gain measurement signal processing unit 270 will be described. FIG. 18 is a block diagram illustrating a configuration of a gain measurement signal processing unit according to Patent Document 1. The input side of the first digital filter 273 is connected to the signal connection cutoff processing unit 271, and the output signal is input to the division processing unit 279 via the first peak hold 277. The input side of the second digital filter 274 is connected to the signal connection cutoff processing unit 272, and the output signal is input to the division processing unit 279 via the second peak hold 278. The first and second digital filters 273 and 274 have a band-pass characteristic that allows the same frequency component as the frequency of the sine wave generated by the excitation signal generation processing unit 260 to pass and blocks the other components. . Note that reference numeral 283 in FIG. 18 denotes a timing signal.

次に、特許文献1の動作を説明する。上述したように、揺動角度に応じてゲインが変化する。したがって、応答波形の変動を抑制するためには、個々のスキャナ及びそのセッティングに応じて図15に示したゲインの変動を計測する必要がある。   Next, the operation of Patent Document 1 will be described. As described above, the gain changes according to the swing angle. Therefore, in order to suppress the response waveform fluctuation, it is necessary to measure the gain fluctuation shown in FIG. 15 according to each scanner and its setting.

そこで、位置決めに先立ち、以下の手順で揺動角度に応じたゲインを測定する。先ず、信号接続遮断処理部261、271、272を接続側にすると共に、信号接続切替処理部227の端子cを端子aに接続し、補償要素220の出力信号が直接D/A変換器230に入力されるようにする。この状態で、目標値生成処理部210は計測すべき揺動角度に対応する目標値215を設定すると共に、加振信号生成処理部260は小振幅の正弦波信号を発生する。加振信号生成処理部260から出力される正弦波信号は加算処理部262により目標値215に加算されるので、揺動軸111は計測すべき揺動角度を中心として正弦波状に駆動される。   Therefore, prior to positioning, the gain corresponding to the swing angle is measured by the following procedure. First, the signal connection cutoff processing units 261, 271, and 272 are set to the connection side, the terminal c of the signal connection switching processing unit 227 is connected to the terminal a, and the output signal of the compensation element 220 is directly input to the D / A converter 230. To be entered. In this state, the target value generation processing unit 210 sets the target value 215 corresponding to the swing angle to be measured, and the excitation signal generation processing unit 260 generates a small amplitude sine wave signal. Since the sine wave signal output from the excitation signal generation processing unit 260 is added to the target value 215 by the addition processing unit 262, the oscillating shaft 111 is driven in a sine wave shape around the oscillation angle to be measured.

揺動角度255と操作量信号226は、サンプル周期ごとに取り込まれ、それぞれ第1および第2のディジタルフィルタ273,274によって処理される。第1および第2のディジタルフィルタ273,274は、加振信号生成処理部260によって生成される正弦波の周波数と同一の周波数成分を通過させ、他の成分は遮断するバンドパス特性を持っているので、加振開始後しばらく時間が経過するとこれらフィルタの出力には加振信号に対応した制御対象の入力信号成分275、加振信号に対応した制御対象の出力信号成分276が現れる。なお、第1および第2のディジタルフィルタ273,274は同一の処理を行うので、入力信号成分275と出力信号成分276の間の伝達特性を調べる際にはフィルタの影響は相殺される。   The swing angle 255 and the manipulated variable signal 226 are taken in every sample period and processed by the first and second digital filters 273 and 274, respectively. The first and second digital filters 273 and 274 have a band-pass characteristic that allows the same frequency component as the frequency of the sine wave generated by the excitation signal generation processing unit 260 to pass and blocks the other components. Therefore, when a certain amount of time elapses after the start of vibration, an input signal component 275 to be controlled corresponding to the vibration signal and an output signal component 276 to be controlled corresponding to the vibration signal appear in the outputs of these filters. Since the first and second digital filters 273 and 274 perform the same processing, the influence of the filter is canceled when the transfer characteristics between the input signal component 275 and the output signal component 276 are examined.

入力信号成分275と出力信号成分276は、それぞれ第1および第2のピークホールド処理部277,278に入力され、正弦波状の信号のピーク値がホールドされ、出力として入力信号振幅281、出力信号振幅282が得られる。   The input signal component 275 and the output signal component 276 are input to the first and second peak hold processing units 277 and 278, respectively, and the peak value of the sinusoidal signal is held, and the input signal amplitude 281 and the output signal amplitude are output as outputs. 282 is obtained.

十分な時間が経過した後、タイミング信号283により除算処理部279で除算処理が行われ、入力信号振幅281を出力信号振幅282で割り算し、制御対象ゲインの逆数284が算出され、メモリ290の中の計測時の揺動角度に対応するアドレス291で指定される番地に記憶される。   After a sufficient time has elapsed, the division processing unit 279 performs division processing using the timing signal 283, divides the input signal amplitude 281 by the output signal amplitude 282, and calculates the inverse number 284 of the control target gain. Is stored at the address specified by the address 291 corresponding to the swing angle at the time of measurement.

以上図17と図18を用いて説明した一連の処理を、可動範囲内で揺動角度の目標値を少しずつ変えながら繰り返すことで、可動範囲全体に対するゲイン変化の計測が行われ、メモリ290に記憶される。   The series of processing described above with reference to FIGS. 17 and 18 is repeated while changing the target value of the swing angle little by little within the movable range, thereby measuring the gain change with respect to the entire movable range. Remembered.

加工時には、信号接続遮断処理部261、271、272を遮断側にすると共に、信号接続切替処理227の端子cを端子bに接続し、補償要素部220の出力信号がゲイン変動補償部300を介してD/A変換器230に入力されるようにする。すると、ゲイン変動補償部300は揺動角255、すなわち揺動角θに応じてメモリ290を参照し、ゲインの変化を打ち消すように(例えば、測定により得られたゲインの最大値に等しくなるように)操作量信号226を増幅し、D/A変換器230に出力する。この結果、揺動角度θによらずゲインが一定になるので、ミラーを高速で位置決めすることができ、加工速度を向上させることができる。   At the time of processing, the signal connection cutoff processing units 261, 271, and 272 are set to the cutoff side, the terminal c of the signal connection switching processing 227 is connected to the terminal b, and the output signal of the compensation element unit 220 passes through the gain fluctuation compensation unit 300. To be input to the D / A converter 230. Then, the gain fluctuation compensator 300 refers to the memory 290 in accordance with the rocking angle 255, that is, the rocking angle θ, so as to cancel the gain change (for example, to be equal to the maximum gain value obtained by the measurement). A) The manipulated variable signal 226 is amplified and output to the D / A converter 230. As a result, since the gain is constant regardless of the swing angle θ, the mirror can be positioned at a high speed and the processing speed can be improved.

次に特許文献2について、詳細に説明する。特許文献2の図2と図4を、本願の明細書の図19と図20に示す。   Next, Patent Document 2 will be described in detail. 2 and 4 of Patent Document 2 are shown in FIGS. 19 and 20 of the specification of the present application.

図19に記載されているように、ガルバノスキャナの周波数特性を計測する為の加振信号を発生する加振信号発生部12と、加振信号によりガルバノスキャナを動作させた際の周波数特性を算出する周波数特性計算部13と、ガルバノスキャナの周波数特性の特徴とガルバノスキャナの機械状態が記載された機械状態診断データと、周波数特性計算部の算出した周波数特性と機械特性診断データに基づいて、ガルバノスキャナが正常な状態か異常な状態かを診断する機械状態診断部15と、機械特性診断部の診断結果を出力する表示部16とを備えている。図20は、ガルバノスキャナのミラーとシャフト間のねじれ方向の剛性が低下した場合の周波数特性の変化を示す図で、第1共振周波数Fk1が低下することから、ミラー異常の機械状態診断結果を示している。   As shown in FIG. 19, an excitation signal generator 12 that generates an excitation signal for measuring the frequency characteristic of the galvano scanner, and a frequency characteristic when the galvano scanner is operated by the excitation signal are calculated. Based on the frequency characteristic calculator 13, the machine state diagnosis data describing the characteristics of the frequency characteristic of the galvano scanner and the machine state of the galvano scanner, and the frequency characteristic and mechanical characteristic diagnosis data calculated by the frequency characteristic calculator A machine state diagnosis unit 15 that diagnoses whether the scanner is in a normal state or an abnormal state, and a display unit 16 that outputs a diagnosis result of the machine characteristic diagnosis unit are provided. FIG. 20 is a diagram showing a change in frequency characteristics when the torsional rigidity between the mirror and the shaft of the galvano scanner is lowered. Since the first resonance frequency Fk1 is lowered, the mechanical state diagnosis result of the mirror abnormality is shown. ing.

特開2005−234215号公報JP 2005-234215 A 特開2009−192837号公報JP 2009-192837 A

しかし、特許文献1には、ガルバノスキャナのアクチュエータの経年劣化の診断機能がなく、換言すると、ガルバノスキャナの加工精度が劣化しているか否を診断する機能が無い。また、加工精度が悪化した場合にも、その要因を推定する機能もない。さらに、その対策を示す表示機能もない。よって、加工誤差が発生する前に防止する予防保全の機能は無く、加工誤差の発生を未然に防ぐ事はできない。   However, Patent Document 1 does not have a function for diagnosing aging degradation of an actuator of a galvano scanner, in other words, there is no function for diagnosing whether the processing accuracy of a galvano scanner has deteriorated. Further, even when the machining accuracy deteriorates, there is no function for estimating the factor. Furthermore, there is no display function to show the countermeasures. Therefore, there is no preventive maintenance function for preventing the machining error before it occurs, and the occurrence of the machining error cannot be prevented in advance.

また、特許文献2では、ガルバノスキャナの機械特性(共振周波数とゲイン)のみに着目しているため、共振振動数に影響を及ぼさない、故障或いは劣化が起こった場合には、それらの劣化及びそれらの要因の診断をする事ができない。また、ガルバノスキャナは、所定の角度でミラーを回転させて、レーザ光を移動して加工するが、特許文献2では、一点の角度における記載のみで、ミラーがどの位置(回転角度)での機械特性を測定すれば良いのかが記載されていない。さらに、ミラーの回転位置の影響についても記載されていない。また、ミラーの回転角度が、機械特性に及ぼす影響についての示唆もない。   Further, since Patent Document 2 focuses only on the mechanical characteristics (resonance frequency and gain) of the galvano scanner, if a failure or deterioration occurs that does not affect the resonance frequency, the deterioration and those It is not possible to diagnose the cause of this. Further, the galvano scanner rotates the mirror at a predetermined angle and moves and processes the laser beam. However, in Patent Document 2, the machine at which position (rotation angle) the mirror is only described at a single angle. It is not described whether the characteristics should be measured. Furthermore, there is no description about the influence of the rotational position of the mirror. There is no suggestion about the influence of the rotation angle of the mirror on the mechanical characteristics.

これらの従来技術に対し、本願は、ミラーの回転角度に対するスキャナの特性変化を、ゲインの経時変化(例えば、出荷時から診断時までの変化)を利用して診断する。具体的には、回転角度をパラメータとしてゲインを測定し、その経時変化の度合いと特徴から、予め作成しておいた、診断データベースと比較することにより、スキャナの劣化の診断を行うものである。また、加工不良を招く、ガルバノスキャナのミラー位置決め精度低下の有無(正常か否か)の診断と、その原因(要因)と対策を表示する機能をもたせることにより、位置決め精度の低下を防止し、不良品の発生を防止する。これら位置決め精度(加工精度)劣化の診断機能と、推定要因と対策を表示することにより、メンテナンスを容易にすると共に、メンテナンスの時間を短縮し、生産性の低下を防止することを目的としている。   In contrast to these conventional techniques, the present application diagnoses a change in the characteristics of the scanner with respect to the rotation angle of the mirror using a change in gain over time (for example, a change from the time of shipment to the time of diagnosis). Specifically, the gain is measured using the rotation angle as a parameter, and the deterioration of the scanner is diagnosed by comparing it with a diagnostic database prepared in advance based on the degree and characteristics of the change over time. In addition, by providing a function to display the cause (factor) and countermeasures for the presence or absence (normal or not) of the mirror positioning accuracy of the galvano scanner leading to processing defects, Prevent the generation of defective products. By displaying the positioning accuracy (machining accuracy) deterioration diagnosis function, estimation factors, and countermeasures, it is intended to facilitate maintenance, shorten maintenance time, and prevent productivity reduction.

上記課題を解決するために、揺動角度に応じた前記アクチュエータのゲイン変化を計測する計測手段と、前記計測手段によって実動作に先立って計測されたゲイン変化を記憶する記憶手段と、実動作時に前記記憶手段に記憶されたゲイン変化をなくすように前記アクチュエータの操作量を補正する補正手段を備え、予め定めた複数の種類のパターンと所定時間経過後のアクチュエータの測定結果とを比較して前記複数の種類のパターンから前記測定結果と近いパターンを判定し、判定した前記パターンから、ガルバノスキャナの加工精度劣化の診断、及び、その要因推定と対策を表示する機能を備えていることを特徴とする。 In order to solve the above-described problem, a measuring unit that measures a gain change of the actuator according to a swing angle, a storage unit that stores a gain change measured by the measuring unit prior to an actual operation, and an actual operation The correction means for correcting the operation amount of the actuator so as to eliminate the gain change stored in the storage means, and comparing a plurality of predetermined patterns with the measurement result of the actuator after a predetermined time has passed. It is characterized by determining a pattern close to the measurement result from a plurality of types of patterns, and from the determined pattern , diagnosing processing accuracy degradation of the galvano scanner, and displaying the factor estimation and countermeasures. To do.

更には、ゲイン変化の経時変化の特徴と供に、位置偏差のバラツキの大きさも参照して、ガルバノスキャナの加工精度劣化の診断、及び、その要因推定と対策を表示する機能を備えていることを特徴とする。   In addition to the characteristics of gain change over time, it also has a function of diagnosing the deterioration of processing accuracy of the galvano scanner and displaying its factor estimation and countermeasures with reference to the magnitude of variation in position deviation. It is characterized by.

この構成により、スキャナの位置決め性能劣化の程度と要因を、ミラー回転角度全域において、広く診断する事が可能となる。換言すると、ミラー可動範囲で、加工精度劣化の診断を行う事が可能となる。これにより、装置の予防保全の範囲を拡大でき、位置決め性能劣化(加工精度の低下)の程度とその要因を推察することが可能となり、装置の加工精度の低下を防ぐ事が可能となる。   With this configuration, it is possible to widely diagnose the degree and factor of the scanner positioning performance deterioration over the entire mirror rotation angle. In other words, it is possible to diagnose machining accuracy deterioration within the mirror movable range. As a result, the range of preventive maintenance of the apparatus can be expanded, the degree of positioning performance deterioration (decrease in machining accuracy) and its factor can be inferred, and the apparatus can be prevented from lowering in machining accuracy.

また、ガルバノスキャナのゲインは、出荷からの経年変化などにより変化すると、その結果として、位置決め精度の悪化を引き起こす可能性がある。このため、ゲインの出荷時からの変化をモニターして、予めデータベースとして作成・搭載していた、「ゲインの変化パターンとその変動要因」と、照合することにより、その変化のパターンと変化量の大きさから、ガルバノスキャナの位置決め精度の低下の有無とその要因を知る事ができる。   Further, if the gain of the galvano scanner changes due to changes over time from shipment, the positioning accuracy may be deteriorated as a result. For this reason, by monitoring changes in gain from the time of shipment and collating them with the “gain change pattern and its fluctuation factors” created and installed in advance as a database, the change pattern and amount of change can be determined. From the size, it is possible to know whether or not the positioning accuracy of the galvano scanner has deteriorated and its cause.

このため、ゲインの診断機能をガルバノスキャナに持たせることにより、ガルバノスキャナのミラー位置決め精度低下の有無の診断と、その原因と対策を表示することが可能となる。そして、これらにより、ガルバノスキャナの位置決め精度(加工精度)の低下を防止し、不良品の発生を防止する事ができる。   Therefore, by providing the galvano scanner with a gain diagnosis function, it is possible to display the diagnosis of the presence or absence of the mirror positioning accuracy of the galvano scanner and the cause and countermeasure. Thus, it is possible to prevent a decrease in positioning accuracy (processing accuracy) of the galvano scanner and to prevent generation of defective products.

図6は、ガルバノスキャナ100の横断面図である。ガルバノスキャナ100は、電磁揺動アクチュエータ110と角度検出器120から構成されている。電磁揺動アクチュエータ110は,永久磁石113とコイル115、アウタヨーク114で構成される磁気回路を持つ。永久磁石113は、ストッパーリング116で軸方向に固定され、揺動軸111に接着されており,
揺動軸は2つの軸受112で保持される。磁石と電流が印加されたコイルにより発生する力であるローレンツ力が揺動軸111に加わり,揺動軸111が回転する。角度検出器120は、角度検出ユニット121と揺動軸111に取り付けられたスケールディスク122から構成されている。揺動軸111の他端には、ミラーマウント131を介して、ミラー130が固定されている。このように、ガルバノスキャナ100は、永久磁石113、軸受112、角度検出器(エンコーダ)120、ミラー130等の機械部品から構成されている。このため、ゲインはこれらの材料および機械要素の特性変化の影響を受ける。
FIG. 6 is a cross-sectional view of the galvano scanner 100. The galvano scanner 100 includes an electromagnetic oscillation actuator 110 and an angle detector 120. The electromagnetic oscillating actuator 110 has a magnetic circuit including a permanent magnet 113, a coil 115, and an outer yoke 114. The permanent magnet 113 is fixed in the axial direction by a stopper ring 116 and bonded to the swing shaft 111.
The swing shaft is held by two bearings 112. A Lorentz force, which is a force generated by a magnet and a coil to which a current is applied, is applied to the swing shaft 111, and the swing shaft 111 rotates. The angle detector 120 includes an angle detection unit 121 and a scale disk 122 attached to the swing shaft 111. A mirror 130 is fixed to the other end of the swing shaft 111 via a mirror mount 131. As described above, the galvano scanner 100 includes mechanical parts such as the permanent magnet 113, the bearing 112, the angle detector (encoder) 120, and the mirror 130. For this reason, the gain is affected by changes in the properties of these materials and machine elements.

このために、予め作成しておいたトルク診断テーブル(ゲインの変化パターン(特徴)と位置決め精度の低下要因)と、診断時(経年時)のゲインの変化を照合することにより、位置決め精度低下の程度とその要因推定を行うことができる。また、同時に位置決め精度低下に対する対策を表示することができる。   For this purpose, the torque diagnosis table (gain change pattern (features) and factors that reduce the positioning accuracy) prepared in advance is compared with the gain change at the time of diagnosis (age) to reduce the positioning accuracy. The degree and its factor can be estimated. At the same time, it is possible to display a countermeasure against a decrease in positioning accuracy.

ゲイン診断機能を備えたガルバノスキャナ制御装置を構成するスキャナサーボ機構のブロック線図。The block diagram of the scanner servo mechanism which comprises the galvano scanner control apparatus provided with the gain diagnostic function. ゲイン診断機能説明図。Gain diagnosis function explanatory drawing. ゲイン診断テーブル。Gain diagnostic table. ゲイン診断手順のフローチャート(方法A)。The flowchart (method A) of a gain diagnostic procedure. ゲイン診断手順のフローチャート(方法B)。Flow chart of gain diagnosis procedure (Method B). ゲイン診断手順のフローチャート(方法C)。Flow chart of procedure for gain diagnosis (Method C). ゲイン計測信号処理部の構成を示すブロック図。The block diagram which shows the structure of a gain measurement signal process part. ガルバノスキャナの断面図Cross section of galvano scanner ガルバノミラーサーボ機構の構成を示すブロック図。The block diagram which shows the structure of a galvanometer mirror servo mechanism. 第2の実施例のゲイン診断機能説明図。Explanatory drawing of the gain diagnostic function of 2nd Example. 第2の実施例のゲイン診断手順。The gain diagnosis procedure of the second embodiment. 第3の実施例のガルバノスキャナ制御装置(位置偏差信号診断機能付き)。The galvano scanner control device of the third embodiment (with a position deviation signal diagnosis function). 第3の実施例の位置偏差信号診断機能。Position deviation signal diagnosis function of the third embodiment. 従来のガルバノミラーサーボ機構の構成を示すブロック図。The block diagram which shows the structure of the conventional galvanometer mirror servomechanism. 従来のガルバノスキャナ制御装置を構成するスキャナサーボ機構のブロック線図。The block diagram of the scanner servo mechanism which comprises the conventional galvano scanner control apparatus. 従来(特許文献1)のガルバノアクチュエータの断面図。Sectional drawing of the conventional galvano actuator (patent document 1). 従来(特許文献1)のガルバノアクチュエータの揺動角度とゲインの関係。The relationship between the swing angle and gain of a conventional galvano actuator (Patent Document 1). 揺動角度がθA、θB、θCである加工位置において同じストロークの位置決めを行ったときのサーボ機構の偏差信号のグラフを重ねた図である。It is the figure which piled up the graph of the deviation signal of a servo mechanism when positioning of the same stroke is performed in the processing position whose rocking angles are θA, θB, and θC. 従来(特許文献1)のゲイン計測機能を備えたガルバノスキャナ制御装置を構成するスキャナサーボ機構のブロック図。The block diagram of the scanner servo mechanism which comprises the galvano scanner control apparatus provided with the conventional gain measurement function (patent document 1). 従来(特許文献1)のゲイン計測信号処理部の構成を示すブロック図。The block diagram which shows the structure of the conventional gain measurement signal processing part (patent document 1). 従来(特許文献2)のプリント基板穴明け用レーザ加工機の構成図である。It is a block diagram of the conventional laser processing machine for printed circuit board drilling (patent document 2). 従来(特許文献2)のガルバノスキャナのミラーとシャフト間のねじれ方向の剛性が低下した場合の周波数特性の変化を示す図。The figure which shows the change of the frequency characteristic when the rigidity of the twist direction between the mirror of a conventional galvano scanner and a shaft falls.

以下、本発明を実施するための実施例1について図面を用いて説明する。   Hereinafter, a first embodiment for carrying out the present invention will be described with reference to the drawings.

本実施例では、ゲイン診断機能を持つ、ガルバノスキャナ制御装置を、図1から図7を用いて説明する。図7は、本実施例のガルバノミラーサーボ機構の構成を示すブロック図である。なお、図12と同等機能のものは同一の符号を付し、重複する説明を省略する。ここで、500はゲイン診断機能を備えたガルバノスキャナ制御装置を示している。ゲイン診断機能については後述するが、製品出荷時のゲインと診断時のゲインを比較して得た、そのゲインの変化のパターンを、予めデータベースとして作成・搭載しておいた、「ゲインの変化パターンとその変動要因」に、照合することにより、位置決め精度低下の有無と要因推定を行うと共に、その対策を表示する。また、上位制御装置1000は、従来の機能に加えて、ゲイン診断機能の実施の有無、また、その実施タイミング(時期)を指示する。また、上位制御装置1000は、実施例1のような、ゲイン診断機能だけ実施する場合と、本実施例2で示すように、ゲイン診断機能と供に、位置偏差信号もガルバノスキャナの診断に用いる場合の、機能の切り替えも行う。なお、本発明の診断機能の実施の有無(タイミング)は、ガルバノスキャナ制御装置が、ゲインを更新するタイミング(つまり、加工前のゲイン計測時)で行ってもよい。   In the present embodiment, a galvano scanner control device having a gain diagnosis function will be described with reference to FIGS. FIG. 7 is a block diagram showing the configuration of the galvanometer mirror servo mechanism of this embodiment. In addition, the thing of an equivalent function is attached | subjected the same code | symbol as FIG. 12, and the overlapping description is abbreviate | omitted. Here, reference numeral 500 denotes a galvano scanner control device having a gain diagnosis function. The gain diagnosis function will be described later, but the gain change pattern obtained by comparing the gain at the time of product shipment and the gain at the time of diagnosis was created and installed in advance as a database. And the variation factor thereof, the presence / absence of a decrease in positioning accuracy and the factor estimation are performed, and the countermeasures are displayed. In addition to the conventional functions, the host controller 1000 instructs whether or not to execute the gain diagnosis function and the execution timing (time). Further, the host control apparatus 1000 uses the position deviation signal for the diagnosis of the galvano scanner together with the gain diagnosis function as shown in the second embodiment when performing only the gain diagnosis function as in the first embodiment. If necessary, the function is switched. Note that the presence or absence (timing) of the execution of the diagnostic function of the present invention may be performed at the timing when the galvano scanner control device updates the gain (that is, at the time of gain measurement before processing).

図6は、本実施例のガルバノスキャナ100の断面図の説明図である。この構造の説明は前述したので、図14の従来のガルバノスキャナと図6の本実施例との違いについて、説明する。図14の従来例では、コイル115が回転する、いわゆる、移動コイル方式のガルバノスキャナであるが、本実施例は、磁石113が回転する、いわゆる、移動マグネット方式のスキャナである。このスキャナは、前述したように、永久磁石113、軸受112、角度検出器(エンコーダ)120、ミラー130等の機械部品から構成されているために、ゲインは、これらの磁石、機械要素の影響を受ける。   FIG. 6 is an explanatory diagram of a cross-sectional view of the galvano scanner 100 of the present embodiment. Since this structure has been described above, the difference between the conventional galvano scanner of FIG. 14 and the present embodiment of FIG. 6 will be described. The conventional example of FIG. 14 is a so-called moving coil type galvano scanner in which the coil 115 rotates, but this embodiment is a so-called moving magnet type scanner in which the magnet 113 rotates. As described above, since this scanner is composed of mechanical parts such as the permanent magnet 113, the bearing 112, the angle detector (encoder) 120, and the mirror 130, the gain affects the influence of these magnets and machine elements. receive.

このために、予め測定・作成しておいた、「トルク診断テーブル(ゲインの変化パターンとその変動要因)と、診断時のゲインの変化量を照合することにより、上述した磁石や機械要素による、位置決め精度低下の程度とその要因推定を行うことができる。また、同時にその、その対策を表示することができる。本発明は、図14の従来のガルバノスキャナにも適用できることはいうまでもない。 For this purpose, the "torque diagnosis table (gain change pattern and its variation factor), which has been measured and created in advance, and the amount of gain change at the time of diagnosis are collated. It is possible to estimate the degree of positioning accuracy and its factor, and to display the countermeasures at the same time, and it goes without saying that the present invention can also be applied to the conventional galvano scanner of FIG.

図1は、ゲイン診断機能を備えたガルバノスキャナ制御装置を構成するスキャナサーボ機構のブロック線図である。なお、図17と同等機能のものは同一の符号を付し、重複する説明を省略する。   FIG. 1 is a block diagram of a scanner servomechanism constituting a galvano scanner control device having a gain diagnosis function. In addition, the thing of an equivalent function is attached | subjected the same code | symbol as FIG. 17, and the overlapping description is abbreviate | omitted.

従来のガルバノスキャナ制御装置(図17)との違いは、以下のとおりである。従来のガルバノスキャナ装置では、位置決め前に、可動範囲(揺動角度θ)における、ゲインをゲイン計測信号処理で計測した後に、可動範囲内でゲインの変動が無くなるように、補正係数284を算出して、メモリ290に収納する。そして、加工時に、ゲイン変動補償300が、揺動角度に応じて、メモリ290を参照して、ゲインの変化を打ち消すように、操作量226を増幅する。この結果、揺動角度θによらずゲインが一定になるので、ミラーを高速で位置決めする事が可能となり、加工速度を向上できる。   The difference from the conventional galvano scanner control device (FIG. 17) is as follows. In the conventional galvano scanner device, before the positioning, the gain in the movable range (oscillation angle θ) is measured by the gain measurement signal processing, and then the correction coefficient 284 is calculated so that the gain does not fluctuate within the movable range. And stored in the memory 290. Then, at the time of processing, the gain variation compensation 300 amplifies the operation amount 226 so as to cancel the gain change with reference to the memory 290 according to the swing angle. As a result, the gain is constant regardless of the swing angle θ, so that the mirror can be positioned at a high speed and the processing speed can be improved.

一方、本発明では、ガルバノスキャナの加工精度の低下を防止する事を目的に、ガルバノスキャナの劣化診断とその推定要因、及び対策を表示させることを可能とするために、従来の制御装置に、ゲイン診断機能を持たせている。   On the other hand, in the present invention, in order to prevent deterioration of the processing accuracy of the galvano scanner and to display the deterioration diagnosis of the galvano scanner and its estimation factor, and countermeasures, in the conventional control device, Gain diagnosis function is provided.

ゲイン診断機能は、経年変化、例えば、製品出荷時のゲインと診断時のゲインを比較して得た、ゲインの変化の大きさ・パターンを、予めデータベースとして作成・搭載していたゲインの変化パターンと、照合することにより、位置決め精度低下の有無とその要因推定を行うと供に、その対策を表示する。このゲインの診断を行うために、ゲイン診断部400と診断データベース410、そして、ゲイン診断結果を表示する表示部420を設けている。   The gain diagnosis function is a gain change pattern that has been created and installed in advance as a database for the magnitude and pattern of gain change obtained by comparing aging, for example, gain at product shipment and gain at diagnosis. By checking, the presence / absence of a decrease in positioning accuracy and the cause estimation are performed, and the countermeasure is displayed. In order to perform the gain diagnosis, a gain diagnosis unit 400, a diagnosis database 410, and a display unit 420 that displays the gain diagnosis result are provided.

ゲイン診断部400の診断機能について、図2を用いて説明する。揺動角度に対するゲインは、従来のガルバノスキャナ制御装置と同様の構成と手順で自動測定されるため、ここでは、説明を省略する。   The diagnosis function of the gain diagnosis unit 400 will be described with reference to FIG. Since the gain with respect to the swing angle is automatically measured by the same configuration and procedure as those of the conventional galvano scanner control device, description thereof is omitted here.

ゲイン診断部400では、メモリ290に記憶されている、製品出荷時のゲイン401と、診断時に、新たに、ゲイン計測信号処理270で計測したゲイン284の比較を行い、そのゲインの変化のパターンを、診断データベース410に記録されている、「トルク診断テーブル(図3)のゲイン変化パターン」402と比較して、ゲイン変化のパターンが、ゲイン診断テーブルの、(1)〜(5)のどのパターンに該当するのかを見極め、位置決め精度低下の有無とその要因推定、及び、その対策を表示部420に表示する。   In the gain diagnosis unit 400, the gain 401 at the time of product shipment stored in the memory 290 is newly compared with the gain 284 measured by the gain measurement signal processing 270 at the time of diagnosis, and the change pattern of the gain is obtained. As compared with the “gain change pattern of torque diagnosis table (FIG. 3)” 402 recorded in the diagnosis database 410, the gain change pattern is any of the patterns (1) to (5) of the gain diagnosis table. The display unit 420 displays the presence / absence of a decrease in positioning accuracy, estimation of the cause thereof, and countermeasures thereof.

図2では、出荷時のゲイン(実線)と診断時のゲイン(点線)が殆ど同じである。このため、ゲイン変動のパターンは、診断データベース410のトルク診断テーブル図3の、ゲイン変化パターンの「(1)正常」に当たるため、診断結果403は、「正常」を表示部420に表示している。 In FIG. 2, the gain at the time of shipment (solid line) and the gain at the time of diagnosis (dotted line) are almost the same. For this reason, the gain variation pattern corresponds to “(1) normal” of the gain change pattern in the torque diagnostic table FIG. 3 of the diagnostic database 410, and therefore, the diagnostic result 403 displays “normal” on the display unit 420. .

次に、診断データベース410に記録されている、トルク診断テーブルについて、図3を用いて、詳細に説明する。トルク診断テーブルは、ゲイン変化、特徴、診断結果、対策を、代表的な5つのゲイン変化に分類している。代表的な5つは、以下のとおりである。出荷時と診断時のゲイン変動のパターンから、以下のどのパターンに分類できるか判定(選択)する。   Next, the torque diagnosis table recorded in the diagnosis database 410 will be described in detail with reference to FIG. The torque diagnosis table classifies gain changes, characteristics, diagnosis results, and countermeasures into five typical gain changes. The typical five are as follows. It is determined (selected) which pattern can be classified from the pattern of gain fluctuation at the time of shipment and at the time of diagnosis.

(パターン1)正常型:出荷時と診断時のゲインが同じ(変動が所定値以下)。
(パターン2)全可動範囲で低下型:全可動範囲で、出荷時より診断時のゲインが小さい。
(パターン3)最大値の位置が移動型:ゲイン最大値の位置が、出荷時と診断時でずれている。
(パターン4)中心付近のみ変動型:診断時のゲインが、回転中心付近のみで変動する。
(パターン5)中央・左右で極大型:診断時のゲインが、中央部と左右部でピークが存在する。
(Pattern 1) Normal type: The gain at the time of shipment is the same as that at the time of diagnosis (variation is a predetermined value or less).
(Pattern 2) Decreasing type over the entire movable range: The gain during diagnosis is smaller than that at the time of shipment over the entire movable range.
(Pattern 3) The position of the maximum value is moving type: The position of the maximum gain value is shifted between the time of shipment and the time of diagnosis.
(Pattern 4) Variation type only near the center: The gain at the time of diagnosis varies only near the rotation center.
(Pattern 5) Extremely large at the center, left and right: Gain at the time of diagnosis has peaks at the center and left and right.

ここで、出荷時と診断時のゲインの比較は、A.両者とも測定データを直接比較しても良いし、B.特許文献1のように、出荷時のゲインは、測定結果から4次近似式を作成し、それを用いて診断時の測定結果と比較しても良い。B.の方法は、A.に比べて、計算メモリが小さく、診断速度を上げる事が可能である。   Here, the comparison of gain at the time of shipment and diagnosis is as follows. Both may compare the measured data directly. As in Patent Document 1, the gain at the time of shipment may be compared with the measurement result at the time of diagnosis by creating a fourth-order approximate expression from the measurement result. B. The method of A. Compared to the above, the calculation memory is small, and the diagnostic speed can be increased.

診断結果(推定原因)とその対策は、図3に示すとおりである。具体的には、(1)の場合は、診断結果は、正常で、対策は不要である。(2)の場合は、診断結果は、熱減磁でゲイン低下、或いは、全周軸受損傷で、対策は、ゲイン更新、応答速度の設定変更、軸受交換、ガルバノスキャナ交換である。(3)の場合は、診断結果は、エンコーダとミラーのメカ中心のずれ、スキャナ異常動作等によるミラー平たん度の悪化、で、対策は、ゲイン更新、エンコーダとミラーの中心出し、ミラー交換である。(4)の場合は、中心部における微動駆動における軸受のフレッチング摩耗で対策は、ゲイン更新、フレッチング摩耗を防止する定期的な保全動作の実行で、それでも改善されない時は軸受交換である。定期的な保全動作とは、スキャナを左右の最大角度で回転させる等である。(5)の場合、診断結果は、スキャナ取扱い時の落下などによる、軸受のブルネル打痕、或いは、フレッチング摩耗で、対策は、ゲイン更新、或いは、軸受交換である。なお、選択された、診断結果と対策は、表示部に表示される。   The diagnosis result (presumed cause) and countermeasures are as shown in FIG. Specifically, in the case of (1), the diagnosis result is normal and no countermeasure is required. In the case of (2), the diagnosis result is thermal gain demagnetization and gain reduction or all-around bearing damage, and countermeasures are gain update, response speed setting change, bearing replacement, and galvano scanner replacement. In the case of (3), the diagnosis result is the deviation of the mechanical center between the encoder and the mirror, the deterioration of the mirror flatness due to the abnormal operation of the scanner, etc. The countermeasures are the gain update, the centering of the encoder and mirror, and the mirror replacement is there. In the case of (4), the countermeasure against the fretting wear of the bearing in the fine drive at the center is the execution of periodic maintenance operation for preventing the gain update and fretting wear, and if the improvement is not improved, the bearing is replaced. Periodic maintenance operations include rotating the scanner at the left and right maximum angles. In the case of (5), the diagnosis result is a Brunel dent in the bearing or fretting wear due to a drop during handling of the scanner, and the countermeasure is a gain update or a bearing replacement. The selected diagnosis result and countermeasure are displayed on the display unit.

上述したように、ゲインの経時変化のパターンから、位置決め精度低下の有無とその要因、及びその対策を表示する事ができる。   As described above, it is possible to display the presence / absence of a decrease in positioning accuracy, its cause, and countermeasures from the pattern of gain change with time.

次に、図4aないし図4cを用いて、ゲイン診断手順を示す。製品出荷時(初期値)と診断時(経年時)のゲインの測定は、特許公知例1と同じ手順で行う。すなわち、図17と図18で説明した手順により、ゲイン計測信号処理で行う。このため、ここでは、各部位の動作の詳細説明は省略する。また、同じ動作(機能)のものは、同じ番号が振られている。   Next, a gain diagnosis procedure will be described with reference to FIGS. 4A to 4C. The gain measurement at the time of product shipment (initial value) and at the time of diagnosis (age) is performed according to the same procedure as in Patent Document 1. That is, the gain measurement signal processing is performed according to the procedure described in FIGS. For this reason, detailed description of the operation of each part is omitted here. The same operation (function) is given the same number.

まず、ステップS101でガルバノスキャナ制御装置をゲイン計測モードで起動し、次にステップS102で回転角度に対するゲイン計測を行う。これにより、診断時の(最新の)、ゲインが分かる。次に、ステップS103でメモリに記憶されている前回(出荷時)測定のゲインと、今回測定(診断時)測定のゲインをゲイン診断部へ送信出荷時(前回)と診断時(今回)のゲインを、ゲイン診断部400へ送る。ここで、メモリ290には、前回測定したゲインが記憶されている。メモリには、今回のゲイン計測結果が上書きされるため、今回のゲインが計測・上書きされる前に、前回のゲイン計測結果を取りだし、次に、ステップS104で今回のゲイン計測結果を取り出し比較する事により、ゲインの変化を知る事が出来る。もちろん、メモリに余裕があれば、前回の結果と今回のゲインを別々に、メモリ290に記憶してもよい。   First, in step S101, the galvano scanner control device is activated in the gain measurement mode, and then in step S102, gain measurement with respect to the rotation angle is performed. Thereby, the gain at the time of diagnosis (latest) is known. Next, the gain of the previous (shipment) measurement and the gain of the current measurement (during diagnosis) stored in the memory in step S103 are transmitted to the gain diagnosis unit. Is sent to the gain diagnosis unit 400. Here, the memory 290 stores the previously measured gain. Since the current gain measurement result is overwritten in the memory, the previous gain measurement result is taken out before the current gain is measured and overwritten, and then the current gain measurement result is taken out and compared in step S104. You can know the change in gain. Of course, if there is room in the memory, the previous result and the current gain may be stored in the memory 290 separately.

上述したように、前回のゲイン計測結果と今回のゲイン計測結果から、その変動のパターンを知る事ができる。また、メモリ290には、出荷時の正常なゲインを記録させておき、出荷時と診断時(経年点)のゲインを比較することも可能である。   As described above, the variation pattern can be known from the previous gain measurement result and the current gain measurement result. It is also possible to record the normal gain at the time of shipment in the memory 290 and compare the gain at the time of shipment and the time of diagnosis (age point).

ここでは、前回のゲイン計測が、出荷時のゲイン計測であることを想定している。しかし、前回の測定と今回の測定の時間間隔を、自由に設定できる事は、言うまでもない。具体的には、製品加工の前後、或いは、定期点検期間、或いは、ユーザのニーズに合わせて、自由に、ゲイン変化の測定間隔を設定できる。   Here, it is assumed that the previous gain measurement is a gain measurement at the time of shipment. However, it goes without saying that the time interval between the previous measurement and the current measurement can be set freely. Specifically, the gain change measurement interval can be freely set before and after the product processing, the periodic inspection period, or the user's needs.

次に、図4a(方法A)ではステップS105でゲイン変動の各パターンとゲイン診断部で測定した測定結果を比較し、トルク診断テーブルの5つのパターンの中から、最も近いものを判定する。また、ゲイン変化のパターンが複数パターンで構成される場合には、それらの全てを表示させてもよい。そして、ステップS106で判定したゲイン変動パターンから、診断結果、対策を表示部に送信する。最後に、ステップS107で表示部に、診断結果と対策を表示する。また、ゲインの測定結果から4次近似式を作成し、その上でゲイン変化の各パターンのどのパターンに当てはまるかの判定を行うようにすることもできる。   Next, in FIG. 4A (Method A), each pattern of gain fluctuation is compared with the measurement result measured by the gain diagnosis unit in Step S105, and the closest one of the five patterns in the torque diagnosis table is determined. Further, when the gain change pattern is composed of a plurality of patterns, all of them may be displayed. Then, the diagnosis result and countermeasure are transmitted to the display unit from the gain fluctuation pattern determined in step S106. Finally, in step S107, the diagnosis result and the countermeasure are displayed on the display unit. It is also possible to create a fourth-order approximation expression from the gain measurement result, and then determine which pattern of each pattern of gain change is applicable.

ここで、図4aのステップS105で行われるパターンと測定結果との比較について他の実施例を説明する。図4b(方法B)は図4aのステップS105を5つの判断ステップに分けて処理を行っている。ステップS115でパターン1(正常)と比較してあてはまるかの判定を行い、以下順次ステップS116でパターン2(全可動範囲で低下)、ステップS117でパターン3(最大値の位置が移動)、ステップS118でパターン4(中心付近のみ変動)、ステップS119でパターン5(中央・左右で極大)に当てはまるかの判定を行い、いずれかのパターンにあてはまると判定された場合はステップS120へ進み、判定したゲイン変動パターンにより診断結果と対策を表示する。また、いずれのパターンにも当てはまらなかった場合は、ステップS122で要調査のメッセージを表示部に表示するようにする。この実施例では先に行われるパターンほど優先順位が高く、一度判定に合格すると即そのパターンであると判定するようになっている。図4bにおける実施例においては、パターン1〜5の順番で処理を行っているが、この順番を優先度が高いパターンの順番に並べ替えることも可能である。   Here, another embodiment of the comparison between the pattern and the measurement result performed in step S105 of FIG. 4a will be described. FIG. 4B (method B) performs processing by dividing step S105 of FIG. 4A into five determination steps. In step S115, it is determined whether or not this is the case with pattern 1 (normal). Thereafter, in step S116, pattern 2 (decreases in the entire movable range), in step S117, pattern 3 (the position of the maximum value moves), step S118. Is determined to apply to pattern 4 (changes only near the center), and in step S119, it is determined whether it applies to pattern 5 (maximum at the center and left and right). The diagnosis result and countermeasure are displayed by the fluctuation pattern. If none of the patterns is applicable, a message requiring investigation is displayed on the display unit in step S122. In this embodiment, the pattern performed earlier has a higher priority, and once the determination is passed, the pattern is immediately determined to be the pattern. In the embodiment in FIG. 4b, the processing is performed in the order of the patterns 1 to 5, but this order can be rearranged to the order of the patterns having higher priority.

図4c(方法C)は図4aのステップS105のパターン判定を並列処理した実施例である。この実施例ではステップS134完了後、ステップS135でパターン1からパターン5のそれぞれに当てはまるかの判定を同時に行うようになっている。その後、ステップS136で一致したパターンから、診断結果、対策を表示部に送信し、ステップS137で表示部で診断結果と対策を表示するようになっている。この実施例において、例えば、測定結果が複数の形状が複合しているような形状、例えばパターン2(全可動範囲で低下)とパターン4(中心付近のみ変動)が複合したような形状と判定した場合は、パターン2とパターン4の両方に一致していると判定し、両方の診断結果と対策を表示部に表示することが可能である。   FIG. 4c (method C) is an embodiment in which the pattern determination in step S105 of FIG. 4a is processed in parallel. In this embodiment, after step S134 is completed, it is determined at step S135 whether the pattern 1 to pattern 5 are applicable. Thereafter, diagnosis results and countermeasures are transmitted from the matched pattern in step S136 to the display unit, and the diagnosis results and countermeasures are displayed on the display unit in step S137. In this embodiment, for example, the measurement result is determined to be a shape in which a plurality of shapes are combined, for example, a shape in which pattern 2 (decreasing in the entire movable range) and pattern 4 (changes only near the center) are combined. In this case, it is possible to determine that both the pattern 2 and the pattern 4 match, and display both diagnosis results and countermeasures on the display unit.

また第1実施例の表示項目について、診断結果と対策だけではなく、ゲイン変化パターンを表示することも可能である。   In addition to the diagnosis results and countermeasures, the gain change pattern can be displayed for the display items of the first embodiment.

図4aおよび図4bに示した一連の動作は、特許公知例1のように、位置決め前に行っても良いし、或いは、定期点検期間、或いは、ユーザのニーズに合わせて、自由に行う事が可能である。また、加工精度が悪化した場合等に、その要因調査として活用しても良い。   The series of operations shown in FIGS. 4a and 4b may be performed before positioning as in Patent Document 1, or may be performed freely according to a periodic inspection period or the needs of the user. Is possible. Further, when the processing accuracy deteriorates, it may be used as a factor investigation.

図5に、ゲイン計測信号処理部の構成を示すブロック図を示す。図18に示す、従来のゲイン計測信号処理部の構成を示すブロック図と基本的に同じである。同じ機能の物は、同じ番号で示しており、その説明は省略する。   FIG. 5 is a block diagram showing the configuration of the gain measurement signal processing unit. This is basically the same as the block diagram showing the configuration of the conventional gain measurement signal processing unit shown in FIG. Items having the same function are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted.

図18の従来例では、ディジタルフィルタの周波数は、加振信号生成部260によって生成される正弦波の周波数と同一の周波数を通過させ、他の成分は遮断するバンドパス特性を持っていると記載されている。しかし、その正弦波の周波数は、明記されていなかった。具体的には、図17の説明のように、「この正弦波の周波数は、制御対象であるスキャナアクチュエータの共振周波数や、アンプの各種ノイズの周波数、摩擦の影響が顕著な低い周波数領域等を避け、伝達関数が慣性体としての二重積分特性を示す周波数に設定されている」と、記載されているが、それがいくつなのかは、明記されていない。 In the conventional example of FIG. 18, the frequency of the digital filter is described as having a band-pass characteristic that allows the same frequency as the frequency of the sine wave generated by the excitation signal generation unit 260 to pass and blocks other components. Has been. However, the frequency of the sine wave was not specified. Specifically, as explained in FIG. 17, “the frequency of this sine wave is the resonance frequency of the scanner actuator to be controlled, the frequency of various noises of the amplifier, the frequency region where the influence of friction is remarkable, etc. The transfer function is set to a frequency that exhibits a double integral characteristic as an inertial body ", but it is not specified how many.

本発明では、ガルバノスキャナの共振周波数の影響を受けないで、また、摩擦の影響を受けない、1kHzに設定している。さらに詳細に説明すると、摩擦の影響は、実験的に、500Hz以下から顕在化し始めるため、この周波数より高い周波数が望ましい。また、ガルバノスキャナの共振周波は、スキャナの構造に依存し変動するため、多くのスキャナへの適用性を考慮すると、一次共振の反共振が低いもので、2kHz程度であることから、本実施例では、1kHzに設定している。もちろん、個々のガルバノスキャナの特性に特化した周波数に設定してもよい。   In the present invention, the frequency is set to 1 kHz which is not affected by the resonance frequency of the galvano scanner and is not affected by friction. More specifically, since the influence of friction starts to manifest from 500 Hz or less experimentally, a frequency higher than this frequency is desirable. Further, since the resonance frequency of the galvano scanner varies depending on the structure of the scanner, considering the applicability to many scanners, the anti-resonance of the primary resonance is low and is about 2 kHz. Then, it is set to 1 kHz. Of course, you may set to the frequency specialized to the characteristic of each galvanometer scanner.

以上、述べたように、図5のディジタルフィルタ273aと274aは、1kHzの周波数を通過させ、他の成分は遮断するバンドパス特性を持っている。また、図1の加振信号生成処理260で生成される正弦波の周波数は、1kHzである。   As described above, the digital filters 273a and 274a in FIG. 5 have a bandpass characteristic that allows a frequency of 1 kHz to pass and blocks other components. Further, the frequency of the sine wave generated by the excitation signal generation process 260 of FIG. 1 is 1 kHz.

また、図17の従来例では、正弦波の振幅については、小振幅としか記載されておらず、その振幅が明記されていない。また、その最適な振幅を示唆する記載もない。一方、本発明では、正弦波の振幅は、その振幅をパラメータとしたゲインの変動測定結果から、ゲインのばらつきを小さくするために、正弦波の振幅を最適化している。具体的には、本発明の正弦波の振幅は、図6のガルバノスキャナ100の、角度検出器120のスケールディスク122に角度検出用に取り付けられている、回折格子の数で規定される最小の回転角度よりも大きく、揺動軸111(ミラー130、スケールディスク122)が、回転するような正弦波の振幅としている。具体的には、スケールディスク122に取り付けられている回折格子の数を、例えば、mとすると、このスケールディスクの回折格子の数で決まる、回折格子間距離Pは、P=360/m(deg)である。一般に、このような、角度検出器120では、回折格子間をさらに、フーリエイメージ方式により位相補間回路で、n逓倍している。これにより、高い分解能を実現している。   In the conventional example of FIG. 17, the amplitude of the sine wave is only described as a small amplitude, and the amplitude is not specified. There is no description suggesting the optimum amplitude. On the other hand, in the present invention, the amplitude of the sine wave is optimized from the gain fluctuation measurement result using the amplitude as a parameter in order to reduce the gain variation. Specifically, the amplitude of the sine wave of the present invention is the minimum specified by the number of diffraction gratings attached to the scale disk 122 of the angle detector 120 for angle detection of the galvano scanner 100 of FIG. The amplitude of the sine wave is larger than the rotation angle so that the swing shaft 111 (mirror 130, scale disk 122) rotates. Specifically, if the number of diffraction gratings attached to the scale disk 122 is, for example, m, the distance P between diffraction gratings determined by the number of diffraction gratings of the scale disk is P = 360 / m (deg ). In general, in such an angle detector 120, the space between diffraction gratings is further multiplied by n by a phase interpolation circuit using a Fourier image method. Thereby, high resolution is realized.

ここで、前記の正弦波の振幅を、回折格子間距離P(deg)より小さいP/6(deg)として、ゲイン測定を行ったところ、ゲイン変動が発生しないような狭い範囲「3P(deg)」でも、特定の周期で変動する誤差が入ってくる事が、周期成分分析結果から明らかになった。さらに、詳細に説明すると、P/2、P/3、P/4の変動周期の変動が、ゲインの測定結果に現れることが明らかになった。この原因としては、位相補間回路での逓倍に起因する内挿誤差と推定される。 Here, when the gain is measured by setting the amplitude of the sine wave to P / 6 (deg) which is smaller than the distance between diffraction gratings P (deg), a narrow range “3P (deg) where no gain fluctuation occurs. However, it has become clear from the results of periodic component analysis that errors that vary with a specific period are included. More specifically, it has become clear that fluctuations in the fluctuation period of P / 2, P / 3, and P / 4 appear in the gain measurement result. This is presumed to be an interpolation error caused by multiplication in the phase interpolation circuit.

そこで、正弦波の振幅をパラメータにして実験を行った結果、振幅が、格子間距離P(deg)より小さいと、測定結果が、前記の内挿誤差の影響を受けて大きくなる事が分かった。一方、正弦波振幅が格子間距離Pよりも大きくなると、それだけ、空間分解能が低下する。この事から、正弦波の振幅は、2P〜3P(deg)が適切であることが分かった。そこで、本実施例では、正弦波の振幅を2P〜3P(deg)にしている。   Therefore, as a result of an experiment using the amplitude of the sine wave as a parameter, it was found that if the amplitude is smaller than the interstitial distance P (deg), the measurement result becomes larger due to the influence of the interpolation error. . On the other hand, when the sine wave amplitude becomes larger than the interstitial distance P, the spatial resolution is lowered accordingly. From this, it was found that 2P to 3P (deg) is appropriate for the amplitude of the sine wave. Therefore, in this embodiment, the amplitude of the sine wave is set to 2P to 3P (deg).

第2実施例について、図8と図9を用いて説明する。第1実施例では、ゲインの変化の特徴(パターン)を事前に作成したゲイン診断テーブルのパターン(図3)と照会して診断を行っていたため、共通に劣化の程度を評価する事ができなかった。そこで本実施例では、ゲインの変化量から共通の手順で診断でき、またその劣化の度合いを示す機能を設けている。具体的な手順を図8に示す。ステップS101からS105は、第1の実施例と同じで、ステップS154以降が新たな手順を示している。   A second embodiment will be described with reference to FIGS. In the first embodiment, since the diagnosis is performed by referring to the gain diagnosis table pattern (FIG. 3) created in advance for the gain change feature (pattern), the degree of deterioration cannot be evaluated in common. It was. In this embodiment, therefore, a diagnosis can be performed from a gain change amount by a common procedure, and a function indicating the degree of deterioration is provided. A specific procedure is shown in FIG. Steps S101 to S105 are the same as those in the first embodiment, and steps S154 and after show a new procedure.

具体的には、ステップS154でゲイン診断部で、前回と今回のゲインの差分を計算し、ゲイン変動を前回の測定結果で規格化する。ここで、前回のゲインは、4次近似式で近似して、その近似式と、今回測定したゲインとの差分を、前回のゲインで規格化している。そして、規格化したゲイン変動の最大値、ΔGを求める。   Specifically, in step S154, the gain diagnosing unit calculates the difference between the previous gain and the current gain, and normalizes the gain fluctuation with the previous measurement result. Here, the previous gain is approximated by a quaternary approximate expression, and the difference between the approximate expression and the gain measured this time is normalized by the previous gain. Then, a standardized maximum value of gain fluctuation, ΔG, is obtained.

次に、ステップS155でゲイン変動ΔGから、その値の大きさにより、4段階に分類し、その大きさから、表示する診断結果を決める。具体的には、下記のとおりである。
(a) ΔG<0.3%の場合 :「正常」の表示
(b) 0.3%<ΔG<0.5%の場合:「要監視」の表示
(c) 0.5%<ΔGの場合:今回測定のゲインを用いて4次近似式を作成し、この新規ゲイン近似式と今回の測定結果のゲイン変動ΔGnの大きさにより、2つに分類して表示するようになっている。
・ΔGn<0.5%の場合:ゲインの更新
・0.5%<ΔGnの場合:ゲイン変化パターンに合わせた対策を表示
Next, in step S155, the gain fluctuation ΔG is classified into four levels according to the magnitude of the value, and the diagnosis result to be displayed is determined based on the magnitude. Specifically, it is as follows.
(A) When ΔG <0.3%: Display of “Normal” (b) When 0.3% <ΔG <0.5%: Display of “Needs monitoring” (c) 0.5% <ΔG Case: A quaternary approximation formula is created using the gain of the current measurement, and the new gain approximation formula and the magnitude of the gain fluctuation ΔGn of the current measurement result are displayed in two categories.
・ If ΔGn <0.5%: Renewal of gain ・ If 0.5% <ΔGn: Display measures according to gain change pattern

ここで、(c)0.5%<ΔGの場合については、今回測定のゲインを用いて4次近似式を作成し、この新規ゲイン近似式と今回の測定結果のゲイン変動ΔGnの大きさにより、2つに分類して表示する。これは、ゲイン近似式を更新する事により、今回の測定値との誤差が、0.5%以下になれば、新規ゲインを用いれば、整定のバラツキを所定の値以下に抑える事ができるためである。換言すれば、ゲインを前回の測定結果から、今回の新しい測定結果(ゲイン)に変更すれば、位置決め誤差を、装置の許容範囲に収める事ができる。   Here, in the case of (c) 0.5% <ΔG, a fourth-order approximation formula is created using the gain of the current measurement, and the new gain approximation formula and the magnitude of the gain fluctuation ΔGn of the current measurement result are used. It is classified into two and displayed. This is because, by updating the gain approximation formula, if the error from the current measurement value is 0.5% or less, the variation in settling can be suppressed to a predetermined value or less by using a new gain. It is. In other words, if the gain is changed from the previous measurement result to the new measurement result (gain) this time, the positioning error can be kept within the allowable range of the apparatus.

一方、ゲイン近似式を更新しても、測定値との誤差が、0.5%以下に収まらない場合には、ゲイン以外の要因が支配的であると推察されるので、ゲインの変化のパターン応じた対策(図8)を表示する。なお、ここでは、ΔGが0.5%を基準値として選んだが、必要とする位置決め精度に応じて、その値を変更すれば良いのは、明らかである。また、S105のパターンの判定がS154の前にあるが、S155で0.5%<
ΔGnの場合のみS105の処理を行うようにすると、パターン判定の数が少なくて済むため、より効率的に判定が可能である。また、S105の処理は図4b、図4cで示した、これと同様の処理で置き換えることも可能である。
On the other hand, even if the gain approximation formula is updated, if the error from the measured value does not fall below 0.5%, it is assumed that factors other than the gain are dominant. The corresponding countermeasure (FIG. 8) is displayed. Here, ΔG is selected as 0.5% as the reference value, but it is obvious that the value may be changed according to the required positioning accuracy. In addition, the determination of the pattern in S105 is before S154, but in S155, 0.5% <
If the process of S105 is performed only in the case of ΔGn, the number of pattern determinations can be reduced, so that determination can be made more efficiently. Further, the process of S105 can be replaced with the same process as shown in FIGS. 4b and 4c.

図8は、第2実施例の、ゲイン診断テーブルを示している。これは、図9の手順に従って、それぞれのゲイン変化量から得られるゲイン変動量を算出し、そのゲイン変動量ΔGの大きさから、診断結果を共通的に表示する事を示している。そして、図9の手順のように、前回(出荷時)と今回(診断時)のゲイン変動量が、0.5%よりも大きい場合には、今回の測定ゲインから、ゲインの近似式を更新して、その更新したゲイン近似式に対して、今回測定値の誤差が、0.5%以下であれば、更新したゲイン近似式を用いれば位置決め精度を所定の値に収める事ができるので、診断結果の表示としては、「ゲインの更新」を示す。そして、それでも、ゲインの変動が、0.5%に収まらない場合には、その他の要因が主原因であるので、其々の、ゲイン変化の特徴に応じた、図8に示す対策を表示する。具体的には、例えば図8(5)の場合には、まず前回と今回のゲイン変動率ΔGが0.5%を超えているので、ゲインの近似式を更新する。次に、そのゲイン変動ΔGn(近似式と今回の測定値の誤差)が、0.5%より小さければ、「ゲインの更新」を表示し、0.5%よりも大きい場合には、「軸受交換」を表示する。   FIG. 8 shows a gain diagnosis table of the second embodiment. This indicates that the gain fluctuation amount obtained from each gain change amount is calculated according to the procedure of FIG. 9, and the diagnosis result is commonly displayed from the magnitude of the gain fluctuation amount ΔG. Then, as in the procedure of FIG. 9, when the gain fluctuation amount at the previous time (shipment time) and the current time (diagnosis) is larger than 0.5%, the approximate expression of the gain is updated from the current measurement gain. Then, if the error of the current measurement value is 0.5% or less with respect to the updated gain approximation formula, the positioning accuracy can be kept within a predetermined value by using the updated gain approximation formula. The display of the diagnosis result indicates “gain update”. If the gain fluctuation does not fall within 0.5%, other factors are the main causes, so the countermeasures shown in FIG. 8 corresponding to the characteristics of each gain change are displayed. . Specifically, for example, in the case of FIG. 8 (5), the gain fluctuation rate ΔG of the previous time and the current time exceeds 0.5%, and therefore the gain approximate expression is updated. Next, if the gain fluctuation ΔGn (the error between the approximate expression and the current measurement value) is smaller than 0.5%, “gain update” is displayed. “Replace” is displayed.

以上述べたように、本実施例においても、第1の実施例と同様に、ガルバノスキャナの診断が可能となるために、第1実施例と同様に、位置決め精度の劣化診断、つまり、加工精度の劣化診断が可能となり、また、その劣化の程度を4段階で表示する事が可能となる。そして、劣化の程度が4段階で表示されるために、スキャナの保守が容易になり、高い加工精度の維持と、位置決め精度劣化の対策を容易に行う事ができる。   As described above, in this embodiment as well, the galvano scanner can be diagnosed as in the first embodiment. Therefore, as in the first embodiment, the deterioration diagnosis of positioning accuracy, that is, the machining accuracy is performed. Can be diagnosed, and the degree of the deterioration can be displayed in four stages. Since the degree of deterioration is displayed in four stages, the maintenance of the scanner is facilitated, and high processing accuracy can be maintained and measures for deterioration of positioning accuracy can be easily performed.

第3実施例について、図10と図11を用いて説明する。本実施例では、ゲイン診断だけでなく位置偏差信号診断も行えるガルバノスキャナ制御装置であり、2つの診断機能を併用する事により、より確度の高い、診断機能(性能)を提供する事を目的としている。
図10は、第3実施におけるガルバノスキャナ制御装置510を構成するスキャナサーボ機構のブロック線図である。既に説明した図1に示された第1実施例と同一の符号を付された構成と、同一の機能を有する部分については、説明を省略する。第3実施例と第1実施例との違いは、第3実施例では、図10に示すように、位置偏差信号診断部430をゲイン診断部2と供に備えていることである。
A third embodiment will be described with reference to FIGS. The present embodiment is a galvano scanner control device that can perform not only gain diagnosis but also position deviation signal diagnosis, and is intended to provide a more accurate diagnosis function (performance) by using two diagnosis functions together. Yes.
FIG. 10 is a block diagram of a scanner servo mechanism constituting the galvano scanner control device 510 in the third embodiment. The description of the components having the same functions as those of the first embodiment shown in FIG. The difference between the third embodiment and the first embodiment is that, in the third embodiment, a position deviation signal diagnostic unit 430 is provided with the gain diagnostic unit 2 as shown in FIG.

本実施例では、ゲイン診断部2により、第1実施例と同様に、ゲイン変動の診断を行う。このため、第1実施例と同様に、ゲイン変動から、ガルバノスキャナの診断を行う事が出来る。このガルバノスキャナの診断機能により、ガルバノスキャナの加工精度の劣化を防止出来るので、高い信頼性を確保することができる。また、劣化の程度と劣化要因がわかるので、計画的な保守と対策が可能となり、生産性を損なうことなく、高い加工精度を維持する事が可能となる。また、第3の実施例では、位置偏差診断部430を設ける事により、位置決め精度の低下の有無とその劣化の程度を、第1の実施例に比べて、より正確に把握することができる。   In this embodiment, gain diagnosis is performed by the gain diagnosis unit 2 in the same manner as in the first embodiment. Therefore, as in the first embodiment, the galvano scanner can be diagnosed from the gain fluctuation. This galvano scanner diagnostic function can prevent deterioration of the processing accuracy of the galvano scanner, so that high reliability can be ensured. In addition, since the degree of deterioration and the cause of deterioration can be known, planned maintenance and countermeasures can be performed, and high machining accuracy can be maintained without impairing productivity. Further, in the third embodiment, by providing the position deviation diagnosis unit 430, it is possible to more accurately grasp the presence / absence of the deterioration of positioning accuracy and the degree of the deterioration as compared with the first embodiment.

図11を用いて、ゲイン診断と位置偏差信号診断とを合わせた診断例を2つ示す。図11(1)では図3に示す、ゲイン診断テーブルの(4)の場合、すなわち、ゲイン変動が中心付近のみにある場合の、位置偏差のばらつきを示している。なお、位置偏差とは、目標位置と実際のレーザ位置(角度検出器120の検出位置)との偏差を示している。なお、位置偏差のバラツキは、横軸に時間をとり、縦軸に位置偏差信号のバラツキを示している。この位置偏差信号のバラツキ測定は、特定の間隔でミラーを一方向に送る動作(以下、送り動作と呼ぶ)での、位置偏差信号のバラツキを示している。図11(1)では、ゲイン診断では、出荷時と診断時の変動は小さいが(0.3%以下)、位置偏差信号のバラツキで見ると、正常な場合と比較して、バラツキが中程度の例を示している。位置偏差の許容バラツキを、例えば、±2μm未満と設定した場合には、下記のような対策を表示する。なお、ゲイン診断の場合には、その要因推定まで行えるが、位置偏差バラツキでは、その要因推定はできない。   Using FIG. 11, two diagnosis examples combining gain diagnosis and position deviation signal diagnosis are shown. FIG. 11 (1) shows the variation in position deviation in the case of (4) of the gain diagnosis table shown in FIG. 3, that is, when the gain fluctuation is only near the center. The position deviation indicates the deviation between the target position and the actual laser position (detection position of the angle detector 120). The positional deviation variation shows time on the horizontal axis and the positional deviation signal variation on the vertical axis. This variation measurement of the positional deviation signal indicates the variation of the positional deviation signal in the operation of sending the mirror in one direction at a specific interval (hereinafter referred to as the feeding operation). In FIG. 11 (1), in gain diagnosis, fluctuations at the time of shipment and diagnosis are small (0.3% or less), but when viewed in terms of variations in the position deviation signal, the variation is moderate compared to the normal case. An example is shown. For example, when the allowable variation in position deviation is set to be less than ± 2 μm, the following countermeasures are displayed. In the case of gain diagnosis, the factor can be estimated, but the factor cannot be estimated if the position deviation varies.

・位置偏差バラツキ ±0.5μm ⇒ 正常(劣化無し)
・位置偏差バラツキ ±1μm ⇒ 要監視
・位置偏差バラツキ ±2μm ⇒ ゲイン更新、軸受交換
・位置偏差バラツキ ±3μm以上 ⇒ ゲイン更新、軸受交換
・ Position deviation variation ± 0.5μm ⇒ Normal (no deterioration)
・ Position deviation variation ± 1μm ⇒ Monitoring required ・ Position deviation variation ± 2μm ⇒ Gain update, bearing replacement ・ Position deviation variation ± 3μm or more ⇒ Gain update, bearing replacement

このように、ゲイン変化だけでは、その変動が小さく、劣化の進捗を見つけられない場合でも、位置偏差信号のバラツキから、ガルバノスキャナの位置決め精度の劣化を見つける事が可能となり、その劣化度合いをより正確に、表示する事が可能となる。この例では、ゲイン診断での劣化度合いは小さいが、位置偏差信号のバラツキが中程度、例えば±3μm程度の例として、「ゲイン更新」の表示を出すようにしている。   In this way, even if the gain change alone is small and the progress of deterioration cannot be found, it is possible to find the deterioration of the positioning accuracy of the galvano scanner from the variation of the position deviation signal, and the degree of deterioration can be further increased. It is possible to display accurately. In this example, the degree of deterioration in gain diagnosis is small, but “gain update” is displayed as an example where the variation in the position deviation signal is moderate, for example, about ± 3 μm.

図11(2)では、図3に示す、ゲイン診断テーブルの(5)の場合、すなわち、ゲインが中央と左右で大きく変動する場合の、位置偏差のばらつきを示している。ゲイン診断の、出荷時と診断時の変動は大きく(1.0%以上)、また、位置偏差信号のバラツキも大きいの例を示している。このように、ゲイン変動診断と位置偏差診断の結果が、同じになる事により、診断の精度を上げる事ができる。   FIG. 11 (2) shows the variation in position deviation in the case of (5) of the gain diagnosis table shown in FIG. 3, that is, when the gain fluctuates greatly between the center and the left and right. In the example, gain diagnosis has a large variation (1.0% or more) at the time of shipment and at the time of diagnosis, and variation in position deviation signal is also large. In this way, the results of gain fluctuation diagnosis and position deviation diagnosis become the same, so that the accuracy of diagnosis can be improved.

100 ガルバノスキャナ
110 電磁揺動アクチュエータ
111 揺動軸
112 軸受
113 永久磁石
120 角度検出器
121 検出ユニット
122 スケールディスク
130 ミラー
215 指令信号
242 現在位置
400 ゲイン診断部
410 診断データベース
420 表示部
430 位置偏差信号診断部
500 ゲイン診断機能を備えたガルバノスキャナ制御装置(第1実施例)
510 位置偏差診断機能を備えたガルバノスキャナ制御装置(第2実施例)
100 Galvano Scanner 110 Electromagnetic Oscillation Actuator 111 Oscillation Shaft 112 Bearing 113 Permanent Magnet 120 Angle Detector 121 Detection Unit 122 Scale Disk 130 Mirror 215 Command Signal 242 Current Position 400 Gain Diagnosis Unit 410 Diagnosis Database 420 Display Unit 430 Position Deviation Signal Diagnosis 500 A galvano scanner control device having a gain diagnosis function (first embodiment)
510 Galvano Scanner Control Device with Position Deviation Diagnosis Function (Second Embodiment)

Claims (4)

指令信号と現在位置との偏差に基づいてミラーを揺動させるアクチュエータを動作させ、前記ミラーに入射する光の出射角を制御するようにしたガルバノスキャナの制御装置において、
揺動角度に応じた前記アクチュエータのゲイン変化を計測する計測手段と、
前記計測手段によって実動作に先立って計測されたゲイン変化を記憶する記憶手段と、
実動作時に前記記憶手段に記憶されたゲイン変化をなくすように前記アクチュエータの操作量を補正する補正手段を備え、
予め定めた複数の種類のパターンと所定時間経過後のアクチュエータの測定結果とを比較して前記複数の種類のパターンから前記測定結果と近いパターンを判定し、
判定した前記パターンから、ガルバノスキャナの加工精度劣化の診断を行う診断部と、診断結果及び要因推定と対策とを表示する表示手段を備える
ことを特徴とするガルバノスキャナの制御装置。
In the control device of the galvano scanner, which operates an actuator that swings the mirror based on the deviation between the command signal and the current position, and controls the emission angle of light incident on the mirror.
Measuring means for measuring a gain change of the actuator according to a swing angle;
Storage means for storing a gain change measured prior to actual operation by the measurement means;
Correction means for correcting the operation amount of the actuator so as to eliminate the gain change stored in the storage means during actual operation;
Comparing the measurement results of the actuator after a predetermined time with a plurality of predetermined patterns and determining a pattern close to the measurement results from the plurality of types of patterns;
A control device for a galvano scanner, comprising: a diagnosis unit for diagnosing deterioration in processing accuracy of a galvano scanner from the determined pattern ; and display means for displaying a diagnosis result, factor estimation, and countermeasures.
請求項1に記載のガルバノスキャナの制御装置において、
前記ゲイン変化の経時変化の特徴と共に、位置偏差のバラツキの大きさも参照して、ガルバノスキャナの加工精度劣化の診断結果、及び、その要因推定と対策を表示する表示手段を備えている
ことを特徴とするガルバノスキャナの制御装置。
The control device for a galvano scanner according to claim 1,
A display means for displaying a diagnosis result of processing accuracy deterioration of the galvano scanner, a factor estimation thereof, and a countermeasure with reference to the variation in position deviation as well as the characteristics of the gain change with time. A control device for a galvano scanner.
請求項1に記載のガルバノスキャナ装置において、前記ゲイン変動率の大きさに応じて、対策の表示を段階的に変えて表示することを特徴とするガルバノスキャナの制御装置。   2. The galvano scanner control device according to claim 1, wherein the display of the countermeasure is changed in stages according to the magnitude of the gain fluctuation rate. 指令信号と現在位置との偏差に基づいてミラーを揺動させるアクチュエータを動作させ、前記ミラーに入射する光の出射角を制御するようにしたガルバノスキャナの制御装置において、
揺動角度に応じた前記アクチュエータのゲイン変化を計測する計測手段と、
前記計測手段によって実動作に先立って計測されたゲイン変化を記憶する記憶手段と、
実動作時に前記記憶手段に記憶されたゲイン変化をなくすように前記アクチュエータの操作量を補正する補正手段を備え、
前記ゲイン変化の経時変化の特徴から、ガルバノスキャナの加工精度劣化の診断を行う診断部と、診断結果及び要因推定と対策とを表示する表示手段を備える
ことを特徴とするガルバノスキャナの制御装置において、
前記ガルバノスキャナの加工精度劣化の診断は、
予め定めた複数の種類のパターンと所定時間経過後のアクチュエータの測定結果とを比較して前記複数の種類のパターンから前記測定結果と近いパターンを判定し、
判定した前記パターンから診断結果および要因推定と対策を表示する
ことを特徴とするガルバノスキャナの制御方法。
In the control device of the galvano scanner, which operates an actuator that swings the mirror based on the deviation between the command signal and the current position, and controls the emission angle of light incident on the mirror.
Measuring means for measuring a gain change of the actuator according to a swing angle;
Storage means for storing a gain change measured prior to actual operation by the measurement means;
Correction means for correcting the operation amount of the actuator so as to eliminate the gain change stored in the storage means during actual operation;
From the characteristics of the gain change over time, a diagnosis unit for diagnosing the processing accuracy deterioration of the galvano scanner, and display means for displaying the diagnosis result, factor estimation, and countermeasures are provided.
In a control device for a galvano scanner,
Diagnosis of processing accuracy degradation of the galvano scanner
Comparing the measurement results of the actuator after a predetermined time with a plurality of predetermined patterns and determining a pattern close to the measurement results from the plurality of types of patterns;
A control method for a galvano scanner, characterized in that a diagnosis result, factor estimation and countermeasures are displayed from the determined pattern.
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