JP5785933B2 - Analysis device, quality confirmation device, and quality confirmation method - Google Patents

Analysis device, quality confirmation device, and quality confirmation method Download PDF

Info

Publication number
JP5785933B2
JP5785933B2 JP2012508301A JP2012508301A JP5785933B2 JP 5785933 B2 JP5785933 B2 JP 5785933B2 JP 2012508301 A JP2012508301 A JP 2012508301A JP 2012508301 A JP2012508301 A JP 2012508301A JP 5785933 B2 JP5785933 B2 JP 5785933B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
test piece
period
analysis
deterioration
analyzer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2012508301A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPWO2011122541A1 (en
Inventor
浩司 藤本
浩司 藤本
古里 紀明
紀明 古里
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Arkray Inc
Original Assignee
Arkray Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Arkray Inc filed Critical Arkray Inc
Priority to JP2012508301A priority Critical patent/JP5785933B2/en
Publication of JPWO2011122541A1 publication Critical patent/JPWO2011122541A1/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5785933B2 publication Critical patent/JP5785933B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/00029Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor provided with flat sample substrates, e.g. slides
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/00584Control arrangements for automatic analysers
    • G01N35/00594Quality control, including calibration or testing of components of the analyser
    • G01N35/00613Quality control
    • G01N35/00663Quality control of consumables
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/00029Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor provided with flat sample substrates, e.g. slides
    • G01N2035/00039Transport arrangements specific to flat sample substrates, e.g. pusher blade
    • G01N2035/00049Transport arrangements specific to flat sample substrates, e.g. pusher blade for loading/unloading a carousel
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/00029Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor provided with flat sample substrates, e.g. slides
    • G01N2035/00099Characterised by type of test elements
    • G01N2035/00108Test strips, e.g. paper

Description

本発明は、分析装置、品質確認装置、及び品質確認方法に関する。   The present invention relates to an analyzer, a quality confirmation device, and a quality confirmation method.

従来、分析用試験片を用いて尿や血液などの試料(検体)の分析を行うための分析装置(例えば、特許文献1を参照)が公知である。この種の分析装置では、複数の分析用試験片をホッパ状やボックス状の試験片収容部に保管しておき、分析処理を行う際には移送手段を利用して分析用試験片を試験片収容部から1つずつ取り出すようにしている。取り出された分析用試験片は、試料容器内に挿入されて試料中に浸漬されたり、あるいは点着(分注)装置を利用してこの分析用試験片上に試料が点着されるような態様で用いられる。このようにして分析用試験片に試料が点着、添加された後には、例えば分析用試験片の色調変化が光学的な手法を用いて測定され、その測定結果に基づいて特定成分の濃度などが判断される。   Conventionally, an analyzer (for example, refer to Patent Document 1) for analyzing a sample (specimen) such as urine or blood using an analysis test piece is known. In this type of analyzer, a plurality of test specimens for analysis are stored in a hopper-shaped or box-shaped test specimen container, and when performing an analysis process, the analytical test specimens are transferred to the test specimen using a transfer means. One by one is taken out from the accommodating part. The taken-out analytical test specimen is inserted into the sample container and immersed in the specimen, or the specimen is spotted on the analytical specimen using a spotting (dispensing) device. Used in After the sample is spotted and added to the analytical test piece in this way, for example, the color tone change of the analytical test piece is measured using an optical technique, and the concentration of a specific component is determined based on the measurement result. Is judged.

ここで、分析用試験片は、多湿環境下に長期間にわたって曝露されると、試薬部(試薬パッド)に塗布などされている試薬が変質し、品質の低下(劣化)を招く虞がある。試験片収容部における分析用試験片の収容空間は、分析用試験片の品質低下(劣化)を防止するのに適した雰囲気となるように、例えば収容空間を外部空間から画定するための開閉蓋が設けたり、収容空間に乾燥剤を設置する場合がある。しかしながら、このような対策を講じたとしても上記収容空間の密閉性、気密性を十分に確保することは容易ではない。   Here, when the test specimen for analysis is exposed to a humid environment for a long period of time, the reagent applied to the reagent part (reagent pad) may change in quality, leading to a decrease in quality (deterioration). An open / close lid for defining the storage space from the external space, for example, so that the storage space for the analysis test strip in the test strip storage section has an atmosphere suitable for preventing deterioration (deterioration) of the quality of the analysis test strip. Or a desiccant may be installed in the storage space. However, even if such measures are taken, it is not easy to ensure sufficient sealing and airtightness of the accommodation space.

そのため、通常は、分析用試験片を密封状態で保管可能な密封保管容器を分析装置に併設しておき、一日の分析処理が終了する度に余剰の分析用試験片を密封保管容器に保管する内容の指示を分析装置の取扱説明書に記載しておくことが多い。例えば、この取扱説明書の記載を遵守するユーザー(使用者)は、分析装置の主電源をオフにした際に試験片収容部に分析用試験片が残留している場合、分析用試験片の余剰分を密封保管容器へと保管する。これにより、分析装置の主電源がオンにされるまでの稼動停止期間がたとえ長期に及ぶ場合においても、稼動停止期間において分析用試験片が分析装置における試験片収容部ではなく上記密封保管容器に保管される限り、分析用試験片が劣化することがない。   For this reason, normally, a sealed storage container that can store analysis specimens in a sealed state is attached to the analyzer, and excess analysis specimens are stored in a sealed container each time an analysis process is completed. In many cases, the instruction of the content to be performed is described in the instruction manual of the analyzer. For example, a user (user) who observes the description in this instruction manual, if the test specimen for analysis remains in the test specimen container when the main power of the analyzer is turned off, Store excess in sealed containers. As a result, even if the operation stop period until the main power of the analyzer is turned on is long, the test specimen for analysis is not stored in the sealed storage container in the analyzer during the operation stop period. As long as it is stored, the test specimen for analysis does not deteriorate.

特開2000−321270号公報JP 2000-32270 A 特開2009−229232号公報JP 2009-229232 A

しかしながら、分析装置の稼動が停止された際、試験片収容部に残留している分析用試験片を実際に密封保管容器に保管するか否かはユーザー任せであるのが通例である。そのため、分析装置の稼動停止期間中に分析用試験片が試験片収容部内に留置(放置)されている可能性も否定できない。また、この種の分析装置は通常、試験片収容部内に投入される分析用試験片の投入時期や、その投入数を監視していない。以上のことから、分析装置による分析処理の再開時においては、品質の低下など、いわゆる劣化した状態の分析用試験片が分析処理に使用されてしまう可能性がある。その結果、試料の分析誤差が生じ易くなったり分析結果の信頼性が低下するなどの不具合を招く虞があった。   However, when the operation of the analyzer is stopped, it is usually up to the user to actually store the analytical test strip remaining in the test strip container in the sealed storage container. Therefore, it cannot be denied that there is a possibility that the test specimen for analysis is left (leaved) in the test specimen container during the operation stop period of the analyzer. Also, this type of analyzer usually does not monitor the timing and number of the test pieces for analysis put into the test piece container. From the above, when the analysis process is resumed by the analyzer, there is a possibility that a so-called deteriorated analysis test piece such as a quality drop may be used for the analysis process. As a result, there is a possibility that the analysis error of the sample is likely to occur or the reliability of the analysis result is deteriorated.

本発明は上記実情に鑑みてなされたものであり、分析用試験片を用いて試料の分析を行う分析装置において、分析処理に使用される分析用試験片の劣化状況をユーザーに適切に認識させることが可能な技術を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and in an analyzer for analyzing a sample using an analytical test piece, allows the user to appropriately recognize the deterioration status of the analytical test piece used in the analysis process. The purpose is to provide a technology that can do this.

本発明では、上述した課題を解決するため、以下の手段を採用する。
すなわち、本発明は、分析用試験片を用いて試料を分析する分析装置であって、前記分析用試験片を収容するための試験片収容部と、前記試験片収容部における前記分析用試験片の収容期間を判断基準に用いて該分析用試験片の劣化状況を判別する劣化判別手段と、前記判別手段が判別した前記分析用試験片の劣化状況をユーザーに報知する報知手段と、を備える分析装置である。この構成によれば、分析用試験片の収容期間に応じてその劣化状況を判別し、判別結果をユーザーに報知することができる。よって、分析処理に使用される分析用試験片の劣化状況をユーザーに適切に認識させることができる。
The present invention employs the following means in order to solve the above-described problems.
That is, the present invention is an analyzer for analyzing a sample using an analysis test piece, a test piece storage part for storing the analysis test piece, and the analysis test piece in the test piece storage part Deterioration determination means for determining the deterioration status of the analytical test piece using the storage period of the analysis as a criterion, and notification means for informing the user of the deterioration status of the analytical test piece determined by the determination means It is an analysis device. According to this configuration, it is possible to determine the deterioration state according to the storage period of the analysis test piece and notify the user of the determination result. Therefore, it is possible to make the user appropriately recognize the deterioration state of the analysis test piece used for the analysis process.

例えば、本分析装置における前記劣化判別手段は、前記分析用試験片の収容期間が許容曝露期間を超えているかどうかに基づいて該分析用試験片の劣化状況を判別しても良い。この許容曝露期間は、例えば、分析用試験片を分析精度上問題なく使用可能な状態で試験片収容部に維持可能な最長の期間である。この構成では、分析用試験片の収容期間が許容曝露期間を超えた場合に分析用試験片が劣化(例えば、品質の低下)していると判別し、収容期間が該許容曝露期間以内である場合に分析用試験片に劣化は生じていないと判別することができる。   For example, the deterioration determination means in the present analysis apparatus may determine the deterioration state of the analysis test piece based on whether or not the storage period of the analysis test piece exceeds an allowable exposure period. This allowable exposure period is, for example, the longest period in which the test specimen for analysis can be maintained in the test specimen container in a state where the test specimen can be used without any problem in analysis accuracy. In this configuration, when the storage period of the analytical test piece exceeds the allowable exposure period, it is determined that the analytical test piece is deteriorated (for example, the quality is deteriorated), and the storage period is within the allowable exposure period. In this case, it can be determined that the test specimen for analysis has not deteriorated.

また、前記劣化判別手段は、前記試験片収容部に前記分析用試験片が残留しているか否かを判定する残留状態判定部と、前記残留状態判定部によって前記分析用試験片が前記試験片収容部に残留していると判定された場合、該分析用試験片の収容期間を算出する期間算出部と、前記期間算出部により算出された収容期間に基づいて、前記分析用試験片の劣化状況を判別する判別部と、を有しても良い。また、残留状態判定部は、例えば分析装置が起動されるタイミングごとに上記判定を行うようにしても良い。装置起動時に分析用試験片が試験片収容部に残留している場合に、該分析用試験片が長期に亘り曝露環境下に晒され、劣化している可能性が高まるからである。   In addition, the deterioration determining means includes a residual state determining unit that determines whether or not the analytical test piece remains in the test piece storage unit, and the residual test unit determines that the analytical test piece is the test piece. When it is determined that the sample remains in the storage unit, a period calculation unit that calculates the storage period of the analysis test piece, and the deterioration of the analysis test piece based on the storage period calculated by the period calculation unit And a determination unit that determines a situation. Further, the residual state determination unit may perform the above determination at each timing when the analyzer is activated, for example. This is because, when the test specimen for analysis remains in the test specimen container when the apparatus is activated, the possibility that the test specimen for analysis is exposed to the exposure environment for a long time and deteriorates increases.

また、前記期間算出部は、前記残留状態判定部による前記試験片収容部が空になったとの判定が直近になされた時から装置起動時までの経過期間である第1収容期間と、直近における装置稼動停止時から装置起動時までの経過期間である第2収容期間と、をそれぞれ算出し、前記判別部は、前記第1収容期間と前記第2収容期間の少なくとも一方に基づいて、前記分析用試験片の劣化状況を判別するように構成しても良い。   In addition, the period calculation unit includes a first accommodation period, which is an elapsed period from the time when the determination that the test piece accommodation unit has been emptied by the residual state determination unit to the time when the apparatus is activated, and the latest A second accommodation period that is an elapsed period from the time when the apparatus is stopped to the time when the apparatus is activated, and the determination unit performs the analysis based on at least one of the first accommodation period and the second accommodation period. You may comprise so that the deterioration condition of the test piece for an object may be discriminate | determined.

例えば、前記判別部は、前記第1収容期間が許容曝露期間以内である場合に前記分析用試験片が正常であると判別しても良い。そして、前記判別部は、前記第1収容期間および前記第2収容期間のうち第1収容期間のみが該許容曝露期間を超えている場合に該分析用試験片が第1劣化状態であると判別し、前記第1収容期間及び前記第2収容期間の双方が該許容曝露期間を超えている場合に該分析用試験片が第2劣化状態であると判別し、前記第2劣化状態は前記第1劣化状態に比べて劣化度合いが大きいと判別されても良い。   For example, the determination unit may determine that the test specimen for analysis is normal when the first accommodation period is within an allowable exposure period. And the said discrimination | determination part discriminate | determines that this test piece for analysis is a 1st deterioration state, when only the 1st accommodation period exceeds the said allowable exposure period among the said 1st accommodation period and the said 2nd accommodation period. When the first storage period and the second storage period both exceed the permissible exposure period, it is determined that the test specimen for analysis is in the second deterioration state, and the second deterioration state is the second deterioration state. It may be determined that the degree of deterioration is larger than that of the one deterioration state.

また、前記試験片収容部に設けられて且つ前記分析用試験片の収容空間を外部空間から画定するための開閉蓋と、前記開閉蓋の開閉状態を検知する開閉状態検知手段と、を更に備え、前記劣化判別手段は、前記開閉状態検知手段によって検知される前記開閉蓋の開閉状態に基づいた前記分析用試験片の収容状況も判断基準に用いて該分析用試験片の劣化状況を判別しても良い。例えば、前記劣化判別手段は、前記分析用試験片の劣化状況を判別する際、前記収容期間における前記開閉蓋の開閉状態に基づいて該分析用試験片の劣化度合いについて重み付けを行うようにしても良い。   The apparatus further comprises an open / close lid provided in the test strip storage section for defining the analysis test strip storage space from an external space, and an open / closed state detecting means for detecting an open / closed state of the open / close lid. The deterioration determining means determines the deterioration state of the analytical test piece using the accommodation state of the analytical test piece based on the open / closed state of the open / close lid detected by the open / closed state detecting means as a determination criterion. May be. For example, when determining the deterioration state of the analytical test piece, the deterioration determining means may weight the deterioration degree of the analytical test piece based on the open / closed state of the open / close lid during the storage period. good.

ここで、分析用試験片が試験片収容部内において晒される曝露環境は、該分析用試験片の劣化度合いに大いに影響を及ぼす。すなわち、分析用試験片の収容期間における試験片収容部内の湿度が高いほど分析用試験片が劣化し易く、該収容期間における試験片収容部内の温度が高いほど分析用試験片が劣化し易いと言える。そこで、本発明における分析装置は、前記試験片収容部における湿度及び温度の少なくとも一方を検出する曝露環境検出手段を更に備えていても良い。そして、前記劣化判別手段は、前記分析用試験片の収容期間が許容曝露期間を超えているかどうかに基づいて該分析用試験片の劣化状況を判別し、前記許容曝露期間は、前記曝露環境検出手段による検出結果に応じて可変設定されても良い。   Here, the exposure environment to which the test specimen for analysis is exposed in the test specimen container greatly affects the degree of deterioration of the test specimen for analysis. That is, the higher the humidity in the test piece container during the period for storing the test specimen, the easier the test piece for analysis deteriorates, and the higher the temperature in the test piece container for the test period, the more easily the test piece for analysis deteriorates. I can say that. Therefore, the analysis apparatus according to the present invention may further include an exposure environment detection unit that detects at least one of humidity and temperature in the test strip container. The deterioration determining means determines the deterioration state of the analytical test piece based on whether the storage period of the analytical test piece exceeds the allowable exposure period, and the allowable exposure period is determined by detecting the exposure environment. It may be variably set according to the detection result by the means.

例えば、上記構成において、曝露環境検出手段が試験片収容部内の湿度を検出する場合、収容期間において検出された湿度が高いほど、分析用試験片の劣化状況を判別するための基準となる許容曝露期間を、より短い期間として設定しても良い。また、例えば、曝露環境検出手段が試験片収容部内の温度を検出する場合、収容期間において検出された温度が高いほど、許容曝露期間を、より短い期間として設定しても良い。これによれば、分析用試験片が晒される曝露環境の差異に応じて該分析用試験片の劣化状況を的確に判別し、その品質をより精度良く確認することができる。   For example, in the above configuration, when the exposure environment detection means detects the humidity in the test specimen container, the higher the detected humidity during the accommodation period, the higher the allowable exposure that becomes a criterion for determining the deterioration status of the test specimen for analysis. The period may be set as a shorter period. In addition, for example, when the exposure environment detection unit detects the temperature in the test piece container, the allowable exposure period may be set as a shorter period as the temperature detected in the accommodation period is higher. According to this, it is possible to accurately determine the deterioration state of the analytical test piece according to the difference in the exposure environment to which the analytical test piece is exposed, and to check its quality more accurately.

また、本発明は、分析用試験片を用いて試料を分析する分析装置であって、前記分析用試験片を収容するための試験片収容部と、前記試験片収容部に設けられて且つ前記分析用試験片の収容空間を外部空間から画定するための開閉蓋と、前記開閉蓋の開閉状態を検知する開閉状態検知手段と、前記開閉状態検知手段によって検知される前記開閉蓋の開閉状態に基づいた前記分析用試験片の収容状況を判断基準に用いて該分析用試験片の劣化状況を判別する劣化判別手段と、前記劣化判別手段が判別した前記分析用試験片の劣化状況をユーザーに報知する報知手段と、を備えるようにしても良い。また、前記劣化判別手段は、更に、前記試験片収容部における前記分析用試験片の収容期間も判断基準に用いて該分析用試験片の劣化状況を判別しても良い。   Further, the present invention is an analyzer for analyzing a sample using an analytical test strip, the test strip housing portion for housing the analytical test strip, provided in the test strip housing portion, and the An open / close lid for demarcating the accommodation space for the test specimen for analysis from the external space, an open / close state detection means for detecting the open / close state of the open / close lid, and the open / close state of the open / close lid detected by the open / close state detection means A deterioration determining means for determining the deterioration status of the analytical test piece using the storage condition of the analysis test piece based on the determination criterion; and the deterioration status of the analytical test piece determined by the deterioration determining means to the user You may make it provide the alerting | reporting means to alert | report. In addition, the deterioration determining means may further determine the deterioration state of the analytical test piece by using the storage period of the analytical test piece in the test piece storage portion as a determination criterion.

また、本発明は、上記分析装置の試験片収容部に収容されている分析用試験片の品質を確認するための品質確認装置であっても良い。また、本発明は、コンピュータその他の装置などが上記何れかの処理を実行する方法であっても良い。また、本発明は、コンピュータその他の装置などに、以上の何れかの機能を実現させるプログラムであっても良い。また、本発明は、そのようなプログラムをコンピュータなどが読み取り可能な記録媒体に記録したものでも良い。   Further, the present invention may be a quality confirmation device for confirming the quality of an analysis test piece accommodated in the test piece accommodation portion of the analysis device. In addition, the present invention may be a method in which a computer or other device executes any one of the processes described above. The present invention may also be a program that causes a computer or other device to realize any of the functions described above. Further, the present invention may be a program in which such a program is recorded on a computer-readable recording medium.

すなわち、本発明に係る品質確認装置は、分析用試験片を用いて試料を分析する分析装置の試験片収容部に収容されている該分析用試験片の品質を確認するための品質確認装置であって、前記試験片収容部における前記分析用試験片の収容期間を判断基準に用いて該分析用試験片の劣化状況を判別する劣化判別手段と、前記劣化判別手段が判別した分析用試験片の劣化状況をユーザーに報知する報知手段と、を備える品質確認装置である。   That is, the quality confirmation apparatus according to the present invention is a quality confirmation apparatus for confirming the quality of the analysis test piece accommodated in the test piece accommodation portion of the analysis apparatus that analyzes the sample using the analysis test piece. A deterioration determining means for determining a deterioration state of the analytical test piece using a storage period of the analytical test piece in the test piece storage portion as a determination criterion; and an analytical test piece determined by the deterioration determining means It is a quality confirmation apparatus provided with the alerting | reporting means which alert | reports to a user the degradation condition.

また、本発明に係る品質確認方法は、分析用試験片を用いて試料を分析する分析装置の試験片収容部に収容されている該分析用試験片の品質を確認するための品質確認方法であって、前記分析装置のコンピュータが、前記試験片収容部における前記分析用試験片の残存状況を検知する試験片検知ステップと、前記試験片検知ステップにおいて前記分析用試験片が前記試験片収容部に残留していることが検知された場合、該分析用試験片の収容期間を算出する期間算出ステップと、前記期間算出ステップにおいて算出された収容期間に基づいて、前記分析用試験片の劣化状況を判別する判別ステップと、前記判別ステップにおいて判別した前記分析用試験片の劣化状況をユーザーに報知する報知ステップと、を実行する品質確認方法である。   Further, the quality confirmation method according to the present invention is a quality confirmation method for confirming the quality of the analytical test piece accommodated in the test piece accommodating portion of the analyzer for analyzing the sample using the analytical test piece. A test piece detection step in which a computer of the analysis device detects a remaining state of the test piece for analysis in the test piece storage section; and the test piece for analysis is the test piece storage section in the test piece detection step. When it is detected that the test specimen remains in the storage medium, a period calculation step for calculating a storage period of the analytical test piece, and a deterioration state of the analytical test piece based on the storage period calculated in the period calculation step And a notification step of notifying the user of the deterioration status of the analytical test piece determined in the determination step.

また、本発明に係る品質確認プログラムは、分析用試験片を用いて試料を分析する分析装置の試験片収容部に収容されている該分析用試験片の品質を確認するための品質確認プログラムであって、前記分析装置のコンピュータに、前記試験片収容部における前記分析用試験片の残存状況を検知する試験片検知ステップと、前記試験片検知ステップにおいて前記分析用試験片が前記試験片収容部に残留していることが検知された場合、該分析用試験片の収容期間を算出する期間算出ステップと、前記期間算出ステップにおいて算出された収容期間に基づいて、前記分析用試験片の劣化状況を判別する判別ステップと、前記判別ステップにおいて判別した前記分析用試験片の劣化状況をユーザーに報知する報知ステップと、を実行させるプログラムである。   Further, the quality confirmation program according to the present invention is a quality confirmation program for confirming the quality of the analysis test piece accommodated in the test piece accommodation portion of the analyzer that analyzes the sample using the analysis test piece. A test piece detecting step for detecting a remaining state of the test piece for analysis in the test piece containing portion in the computer of the analyzer, and the test piece containing the test piece in the test piece detecting step. When it is detected that the test specimen remains in the storage medium, a period calculation step for calculating a storage period of the analytical test piece, and a deterioration state of the analytical test piece based on the storage period calculated in the period calculation step And a notification step for notifying a user of the deterioration status of the test specimen for analysis determined in the determination step. It is.

また、本発明に係る記録媒体は、分析用試験片を用いて試料を分析する分析装置の試験片収容部に収容されている該分析用試験片の品質を確認するための品質確認プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体であって、前記分析装置のコンピュータに、前記試験片収容部における前記分析用試験片の残存状況を検知する試験片検知ステップと、前記試験片検知ステップにおいて前記分析用試験片が前記試験片収容部に残留していることが検知された場合、該分析用試験片の収容期間を算出する期間算出ステップと、前記期間算出ステップにおいて算出された収容期間に基づいて、前記分析用試験片の劣化状況を判別する判別ステップと、前記判別ステップにおいて判別した前記分析用試験片の劣化状況をユーザーに報知する報知ステップと、を実行させる記録媒体である。   Further, the recording medium according to the present invention records a quality confirmation program for confirming the quality of the analytical test piece accommodated in the test piece accommodating portion of the analyzer that analyzes the sample using the analytical test piece. A computer-readable recording medium, wherein a test piece detection step for detecting a remaining state of the test piece for analysis in the test piece storage unit in the computer of the analyzer, and for the analysis in the test piece detection step When it is detected that the test piece remains in the test piece container, based on the period calculation step for calculating the storage period of the analysis test piece, and the storage period calculated in the period calculation step, A determination step for determining the deterioration status of the analytical test piece, and a report for informing the user of the deterioration status of the analytical test piece determined in the determination step. A step, which is a recording medium to execute.

なお、本発明における課題を解決するための手段は、可能な限り組み合わせることができる。   The means for solving the problems in the present invention can be combined as much as possible.

本発明によれば、分析用試験片を用いて試料の分析を行う分析装置において、分析処理に使用される分析用試験片の劣化状況をユーザーに適切に認識させることが可能な技術を提供することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, in the analyzer which analyzes a sample using an analytical test piece, the technique which can make a user recognize the deterioration condition of the analytical test piece used for an analysis process appropriately is provided. be able to.

実施例1における分析装置を示す概略斜視図である。1 is a schematic perspective view showing an analyzer in Example 1. FIG. 実施例1における分析装置の構成ブロック図である。1 is a configuration block diagram of an analysis apparatus in Embodiment 1. FIG. 実施例1における分析装置の装置本体部の内部構造を示す図である。FIG. 3 is a diagram illustrating an internal structure of an apparatus main body of the analyzer according to the first embodiment. 実施例1における試験片を示す概略斜視図である。1 is a schematic perspective view showing a test piece in Example 1. FIG. 実施例1における分析装置の機能ブロック図である。FIG. 3 is a functional block diagram of an analysis apparatus according to the first embodiment. 試験片品質確認制御ルーチンを示すフローチャート図である。It is a flowchart figure which shows a test piece quality confirmation control routine. 第2の試験片品質確認制御ルーチンを示すフローチャート図である。It is a flowchart figure which shows a 2nd test piece quality confirmation control routine. 実施例3における試験片収容部の概略構成図である。FIG. 6 is a schematic configuration diagram of a test piece housing portion in Example 3. 第3の試験片品質確認制御ルーチンを示すフローチャート図である。It is a flowchart figure which shows a 3rd test piece quality confirmation control routine. 第4の試験片品質確認制御ルーチンを示すフローチャート図である。It is a flowchart figure which shows the 4th test piece quality confirmation control routine. 実施例4における試験片収容部の概略構成図である。FIG. 6 is a schematic configuration diagram of a test piece housing portion in Example 4.

以下、図面を参照して発明を実施するための形態について例示的に詳しく説明する。本実施形態では、本発明に係る分析装置の一例として、分析用試験片(以下、単に「試験片」と称する)を用いて尿(試料)中の化学成分を分析して尿定性試験を行うための化学分析装置について説明する。尿定性試験は、試験片の化学反応による色調変化、すなわち呈色反応を光学装置によって測定することにより、尿中に排泄される糖やタンパクの量あるいは潜血の有無などを検査する試験である。   Hereinafter, exemplary embodiments for carrying out the invention will be described in detail with reference to the drawings. In this embodiment, as an example of the analyzer according to the present invention, a urine qualitative test is performed by analyzing a chemical component in urine (sample) using an analytical test piece (hereinafter simply referred to as “test piece”). A chemical analyzer for this purpose will be described. The urine qualitative test is a test for inspecting the amount of sugar or protein excreted in urine, the presence or absence of occult blood, etc. by measuring a color tone change due to a chemical reaction of a test piece, that is, a color reaction, with an optical device.

但し、本分析装置において分析対象となる試料は尿に限られず、例えば血液やその他の試料の成分を分析しても良い。以下の図面において、既述の図面に記載された部品と同様の部品には同じ番号を付す。また、以下に説明する本発明に係る分析装置の各実施形態の説明は、本発明に係る試験片の品質を確認するための品質確認装置、品質確認装方法、品質確認プログラム、及び該品質確認プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体の各実施形態の説明を兼ねるものである。なお、本実施の形態に記載されている構成要素の寸法、材質、形状、その相対配置等は、特に特定的な記載がない限りは、発明の技術的範囲をそれらのみに限定する趣旨のものではない。また、本実施の形態において「試料」および「検体」は同義の用語として用いるものとする。   However, the sample to be analyzed in this analyzer is not limited to urine, and for example, blood or other sample components may be analyzed. In the following drawings, parts that are the same as the parts described in the previous drawings are given the same numbers. In addition, the description of each embodiment of the analyzer according to the present invention described below includes a quality confirmation device, a quality confirmation apparatus method, a quality confirmation program, and the quality confirmation for confirming the quality of a test piece according to the present invention. This also serves to explain each embodiment of the computer-readable recording medium on which the program is recorded. Note that the dimensions, materials, shapes, relative arrangements, and the like of the components described in this embodiment are intended to limit the technical scope of the invention to those unless otherwise specified. is not. In this embodiment, “sample” and “specimen” are used as synonymous terms.

<実施例1>
図1は、本実施例における析装置1を示す概略斜視図である。図2は、本実施例における分析装置1の構成ブロック図である。図3は、本実施例における分析装置1の装置本体部11の内部構造を示す図である。なお、装置本体部11は、分析装置1を構成する各要素を収容する筐体(ハウジング)である。これらの図に示すように、分析装置1は、装置本体部11、試験片供給部12、ラック設置部13、試料点着装置14、Central Processing Unit(以下「CPU」と称す)15、メモリ16、測光装置17などを主として備えている。また、装置本体部11には、表示パネル111、操作スイッチ群112、およびプリンタ113が設けられている。
<Example 1>
FIG. 1 is a schematic perspective view showing an analyzing apparatus 1 in the present embodiment. FIG. 2 is a configuration block diagram of the analysis apparatus 1 in the present embodiment. FIG. 3 is a diagram illustrating the internal structure of the apparatus main body 11 of the analyzer 1 according to the present embodiment. The apparatus main body 11 is a housing (housing) that accommodates each element constituting the analyzer 1. As shown in these drawings, the analyzer 1 includes an apparatus main body 11, a test piece supply unit 12, a rack installation unit 13, a sample spotting device 14, a Central Processing Unit (hereinafter referred to as “CPU”) 15, and a memory 16. The photometer 17 is mainly provided. Further, the apparatus main body 11 is provided with a display panel 111, an operation switch group 112, and a printer 113.

CPU15は、コンピュータプログラムを実行することで分析装置1を制御する中央処理装置である。メモリ16は、CPU15で実行されるコンピュータプログラムやCPU15が処理するデータを記憶する機能を有するものである。メモリ16は、例えば、揮発性のRandom Access Memory(RAM)、不揮発性のRead Only Memory(ROM)である。ROMには、例えば本分析装置1が機能する上で必要なプログラムやパラメータ、各種検量線データなどが格納されている。RAMには、CPU15にワーク領域を提供するとともに、例えばCPU15に実行させるOperating System(OS)のプログラムやアプリケーションプログラムの一部が一時的に格納される。CPU15は、メモリ16に格納されているプログラムに従って、各種の処理を実行する。   The CPU 15 is a central processing unit that controls the analyzer 1 by executing a computer program. The memory 16 has a function of storing computer programs executed by the CPU 15 and data processed by the CPU 15. The memory 16 is, for example, a volatile random access memory (RAM) or a nonvolatile read only memory (ROM). The ROM stores, for example, programs and parameters necessary for the functioning of the analyzer 1 and various calibration curve data. The RAM provides a work area to the CPU 15 and temporarily stores, for example, a part of an operating system (OS) program and application programs to be executed by the CPU 15. The CPU 15 executes various processes according to programs stored in the memory 16.

図2に示すように、分析装置1は、CPU15と各種の装置とを接続するインターフェース18、ハードディスクドライブ19、記録媒体駆動装置20を有している。インターフェース18は、例えばUniversal Serial Bus(USB)等のシリアルインターフェースや、Peripheral Component Interconnect(PCI)等のパラレルインターフェースなどであっても良い。なお、CPU15と各装置とをインターフェース18で接続しているが、CPU15と各装置との間を異なるインターフェースで接続しても良い。また、複数のインターフェース18をブリッジ接続しても良い。   As shown in FIG. 2, the analysis apparatus 1 includes an interface 18 that connects the CPU 15 and various devices, a hard disk drive 19, and a recording medium drive device 20. The interface 18 may be a serial interface such as Universal Serial Bus (USB) or a parallel interface such as Peripheral Component Interconnect (PCI). In addition, although CPU15 and each apparatus are connected with the interface 18, you may connect between CPU15 and each apparatus with a different interface. A plurality of interfaces 18 may be bridge-connected.

ハードディスクドライブ19は、メモリ16にロードされるプログラムを格納する。また、ハードディスクドライブ19は、CPU15で処理されるデータを記憶する。記録媒体駆動装置20は、例えば、Compact Disc(CD)、Digital Versatile Disk(DVD)、HD−DVD、ブルーレイディスク等の駆動装置である。また、記録媒体駆動装置20は、フラッシュメモリ等の不揮発性メモリを有するカード媒体の入出力装置であっても良い。記録媒体駆動装置20が駆動する媒体は、例えば、ハードディスクドライブ19にインストールされるコンピュータプログラム、入力データ等を格納する。   The hard disk drive 19 stores a program loaded into the memory 16. The hard disk drive 19 stores data processed by the CPU 15. The recording medium driving device 20 is a driving device such as a Compact Disc (CD), Digital Versatile Disk (DVD), HD-DVD, or Blu-ray Disc. Further, the recording medium driving device 20 may be an input / output device for a card medium having a nonvolatile memory such as a flash memory. The medium driven by the recording medium driving device 20 stores, for example, a computer program installed in the hard disk drive 19 and input data.

ここで、図4を参照して試験片2について説明する。試験片2は、図4に示される短冊状の基材21上に、試料と反応させるための試薬を含んだ複数の試薬パッド(試薬部)22が基材21の長手方向に並んで設けられたものである。この試薬パッド22には、試料点着装置14によって、試料である尿の点着(「添加」ということもできる)が行われるようになっている。本実施例においてはこの試験片2が本発明における分析用試験片に相当するものである。なお、本図においては便宜上、7つの試薬パッドが基材21上に並んでいるが、その数は適宜増減されていても勿論構わない。   Here, the test piece 2 is demonstrated with reference to FIG. In the test piece 2, a plurality of reagent pads (reagent parts) 22 containing a reagent for reacting with a sample are arranged side by side in the longitudinal direction of the substrate 21 on a strip-shaped substrate 21 shown in FIG. 4. It is a thing. The reagent pad 22 is subjected to spotting (also referred to as “addition”) of urine as a sample by the sample spotting device 14. In this embodiment, the test piece 2 corresponds to the analytical test piece in the present invention. In this figure, for convenience, seven reagent pads are arranged on the base material 21, but the number may be increased or decreased as appropriate.

また、図2、3に示す測光装置17は、装置本体部1の内部に設置された光学系であり、前述した試験片2の呈色反応を光学的に測定するものである。   A photometric device 17 shown in FIGS. 2 and 3 is an optical system installed inside the apparatus main body 1 and optically measures the color reaction of the test piece 2 described above.

操作スイッチ群112は、ユーザー(使用者)が分析装置1を操作するための各種スイッチであり、例えば分析装置1の主電源のオン、オフを切り替える電源スイッチ、試料の分析処理(測定処理)を開始するための測定開始スイッチ、分析装置1による試料の分析結果をプリンタ113に印字させるための印字スイッチ、などである。   The operation switch group 112 is various switches for the user (user) to operate the analyzer 1. For example, a power switch for switching on / off the main power of the analyzer 1, a sample analysis process (measurement process) A measurement start switch for starting, a print switch for causing the printer 113 to print the analysis result of the sample by the analyzer 1, and the like.

表示パネル111は、例えばLCD(liquid crystal display)や発光ダイオードなどを備えており、CPU15により制御されて各種の情報を表示する。操作スイッチ群112のうち、例えば測定開始スイッチが例えばユーザーによって押下されると試料における上記各種測定項目の測定がなされ、その測定結果に基づいて得られた分析結果(検査結果)が表示パネル111に表示されるようになっている。その他、表示パネル111には、CPU15で処理されるデータやメモリに記憶されるデータなどを表示することができる。また、上述の印字スイッチが押下されると、試料の分析結果がプリンタ113によって、例えば記録用紙に印字出力される。   The display panel 111 includes, for example, an LCD (liquid crystal display), a light emitting diode, and the like, and is controlled by the CPU 15 to display various information. Of the operation switch group 112, for example, when a measurement start switch is pressed by a user, for example, the above measurement items are measured on the sample, and an analysis result (inspection result) obtained based on the measurement result is displayed on the display panel 111. It is displayed. In addition, the display panel 111 can display data processed by the CPU 15 or data stored in the memory. When the above-described print switch is pressed, the sample analysis result is printed out by the printer 113, for example, on a recording sheet.

ラック設置部13は、図3に示した試料ラック131が設置される。この試料ラック131は、試料(図中、符号Uにて表す)としての尿を収容した複数の試料容器132を起立保持するためのラックである。   The rack installation unit 13 is provided with the sample rack 131 shown in FIG. The sample rack 131 is a rack for standing and holding a plurality of sample containers 132 containing urine as a sample (represented by a symbol U in the figure).

試料点着装置14は、ノズル141、装置本体部11内においてノズル141を上下方向及び水平方向に駆動させるノズル駆動装置142を備える。ノズル駆動装置142は、例えばアクチュエータ、又は循環駆動ベルトなどによって構成することができる。ノズル141による尿の吸引に際しては、CPU15がノズル駆動装置142を制御して、ノズル141を尿が収容された試料容器132の上方位置まで移動させた後、該ノズル141を下降する。そして、CPU15は図示しないポンプを駆動させて、ノズル141に試料容器132内の尿を吸引させる。ここで、図中のポジションP1には、以下に説明する試験片供給部12によって試験片2が一枚ずつ供給されるようになっている。   The sample spotting device 14 includes a nozzle 141 and a nozzle driving device 142 that drives the nozzle 141 in the vertical direction and the horizontal direction in the apparatus main body 11. The nozzle driving device 142 can be constituted by, for example, an actuator or a circulation driving belt. When suctioning urine by the nozzle 141, the CPU 15 controls the nozzle driving device 142 to move the nozzle 141 to a position above the sample container 132 in which urine is stored, and then lowers the nozzle 141. Then, the CPU 15 drives a pump (not shown) to cause the nozzle 141 to suck urine in the sample container 132. Here, at the position P1 in the figure, the test piece 2 is supplied one by one by a test piece supply unit 12 described below.

ポジションP1にセットされた試験片2の試薬パッド22には、ノズル141によって所定量の尿が点着される。このような点着動作が試験紙2に設置された試薬パッド22の数だけ繰り返され、点着処理が終了する。試験片2に対する試料の点着処理が終了した後は、洗浄液(例えば蒸留水)を用いてノズル141の洗浄が行われる。ノズル141を洗浄するための構成についての詳しい説明は省略するが、従来既知のもの(例えば、特許文献1、2等に記載のもの)と同様な構成とすることが可能である。   A predetermined amount of urine is spotted by the nozzle 141 on the reagent pad 22 of the test piece 2 set at the position P1. Such spotting operation is repeated by the number of reagent pads 22 set on the test paper 2, and the spotting process is completed. After the sample spotting process on the test piece 2 is completed, the nozzle 141 is cleaned using a cleaning liquid (for example, distilled water). Although a detailed description of the configuration for cleaning the nozzle 141 is omitted, a configuration similar to that conventionally known (for example, those described in Patent Documents 1 and 2, etc.) can be used.

試験片供給部12は試料の分析に用いるための試験片2を収容しておき、この収容しておいた試験片2を一つずつ、前述したポジションP1に移送(輸送、供給)する。試験片供給部12は、複数の試験片2を収容する試験片収容部121と、この試験片収容部121から試験片2を一枚ずつ取り出すための回転ドラム122とを備える。また、試験片収容部121の上部開口には、開閉蓋1211が設けられている。この開閉蓋1211は、試験片収容部121における試験片2の収容空間S1を外部空間S2に対して画定(区画)するものである。また、必要に応じて、試験片収容部121内には乾燥剤を設置するための乾燥剤設置部(図示省略)が設けられている。   The test strip supply unit 12 stores test strips 2 for use in sample analysis, and transfers (transports and supplies) the stored test strips 2 one by one to the above-described position P1. The test strip supply unit 12 includes a test strip storage unit 121 that stores a plurality of test strips 2, and a rotating drum 122 for taking out the test strips 2 one by one from the test strip storage unit 121. In addition, an opening / closing lid 1211 is provided in the upper opening of the test piece housing part 121. The opening / closing lid 1211 defines (divides) the accommodation space S1 of the test piece 2 in the test piece accommodation portion 121 with respect to the external space S2. In addition, a desiccant installation part (not shown) for installing a desiccant is provided in the test piece container 121 as necessary.

試験片供給部12を構成する回転ドラム122は、その外周面に試験片2を1枚のみ嵌入可能とする凹部1221を有している。そして、回転ドラム122が回転することによって凹部1221に嵌入した試験片2は試験片収容部121の外部に排出された後、図示しない移送装置によりポジションP1へと移送される。ポジションP1の近傍には、該ポジションP1へと移送された試験片2を検出する試験片検出センサ124が設けられている。この試験片検出センサ124はインターフェース18を介してCPU15と電気的に接続されており、その出力信号がCPU15へと随時入力される。   The rotating drum 122 constituting the test piece supply unit 12 has a concave portion 1221 that allows only one test piece 2 to be fitted on the outer peripheral surface thereof. Then, the test piece 2 inserted into the recess 1221 by the rotation of the rotary drum 122 is discharged to the outside of the test piece storage unit 121 and then transferred to the position P1 by a transfer device (not shown). In the vicinity of the position P1, a test strip detection sensor 124 for detecting the test strip 2 transferred to the position P1 is provided. The test piece detection sensor 124 is electrically connected to the CPU 15 via the interface 18, and an output signal thereof is input to the CPU 15 as needed.

図5は、本実施例における分析装置1の機能ブロック図である。図5に示す各機能部(31〜38)は、CPU15、メモリ16等を含むコンピュータ、及びコンピュータ上で実行されるプログラム等によって実現することができる。図5に示した試験片供給制御部31は、回転ドラム122の回転動作に関する制御、及び試験片2をポジションP1へと移送するための移送装置に関する制御を行う。また、点着装置制御部32は、ノズル141を移送するためのノズル駆動部142、試験片2の試薬パッド22への試料の点着に関する制御等を実行する。   FIG. 5 is a functional block diagram of the analyzer 1 in the present embodiment. Each functional unit (31 to 38) illustrated in FIG. 5 can be realized by a computer including the CPU 15, the memory 16, and the like, a program executed on the computer, and the like. The test strip supply control unit 31 shown in FIG. 5 performs control related to the rotation operation of the rotary drum 122 and control related to a transfer device for transferring the test strip 2 to the position P1. In addition, the spotting device control unit 32 executes a nozzle driving unit 142 for transferring the nozzle 141, control related to spotting of the sample on the reagent pad 22 of the test piece 2, and the like.

図3に示す測光装置17は、試料点着装置14によって試料が点着された試験片2の各試薬パッド22に対して光を照射したときの反射光を受光して、各試薬パッド22の発色の程度(呈色反応)に応じた情報を得るための装置である。この測光装置17は、発光部171、及び受光部172を有している。発光部171は、例えば特定のピーク波長を有する光を出射可能なものであり、発光ダイオード(Light-emitting Diode、LED)や、半導体レーザなどであっても良い。一方、受光部172は、試料が点着された各試薬パッド22から反射してきた光を受光するためのものであり、例えばフォトダイオードであっても良い。図5に示す測光装置制御部33は、測光装置17における発光部171からの光の照射及び受光部172による反射光の受光に関する制御を実行する。   The photometric device 17 shown in FIG. 3 receives the reflected light when the reagent pad 22 of the test piece 2 on which the sample is spotted by the sample spotting device 14 is irradiated with light. This is an apparatus for obtaining information according to the degree of color development (color reaction). The photometric device 17 includes a light emitting unit 171 and a light receiving unit 172. The light emitting unit 171 can emit light having a specific peak wavelength, for example, and may be a light emitting diode (LED), a semiconductor laser, or the like. On the other hand, the light receiving unit 172 is for receiving light reflected from each reagent pad 22 on which a sample is spotted, and may be, for example, a photodiode. The photometric device control unit 33 shown in FIG. 5 executes control related to light irradiation from the light emitting unit 171 and reception of reflected light by the light receiving unit 172 in the photometric device 17.

測定部34は、受光部172における受光結果を取得する。そして測定部34は、測光装置17から取得した受光結果と、メモリ16に記憶されている検量線データとに基づいて、試料としての尿に含まれるヘモグロビン、グルコース、あるいはタンパク質などの特定成分(測定項目成分)の濃度を演算する。各測定項目成分の測定結果は表示パネル111に表示され、必要に応じてプリンタ113から印字出力される。   The measurement unit 34 acquires the light reception result in the light receiving unit 172. The measuring unit 34 then selects a specific component (measurement) such as hemoglobin, glucose, or protein contained in the urine as a sample based on the light reception result acquired from the photometric device 17 and the calibration curve data stored in the memory 16. The density of the item component is calculated. The measurement result of each measurement item component is displayed on the display panel 111 and printed out from the printer 113 as necessary.

試験片2は、多湿環境下に長期間にわたって曝露されると、試薬パッド22に塗布されている試薬に変質などが起こり、試験片2の品質低下(以下、「劣化」ともいう)を招く虞がある。このように劣化した試験片2を用いて試料の分析処理を行った場合には分析誤差を招きやすく、分析結果の信頼性の低下に繋がる虞がある。   When the test piece 2 is exposed to a humid environment for a long period of time, the reagent applied to the reagent pad 22 may be deteriorated and the quality of the test piece 2 may be deteriorated (hereinafter also referred to as “deterioration”). There is. When the sample analysis process is performed using the test piece 2 thus deteriorated, an analysis error is likely to be caused, and the reliability of the analysis result may be lowered.

分析装置1の試験片収容部121は、その上部開口が開口蓋1211により閉塞され且つその底部開口が回転ドラム122によって閉塞されるなどして、試験片収容部121の内部空間(収容空間)S1はある程度の密閉性(気密性)を有する。そのため、収容空間S1は、外部空間に比べれば試験片2が劣化しにくい雰囲気となってはいるものの、分析装置1の稼動が停止されている稼働停止期間が長期に及ぶ場合にはやはり試験片2の劣化が起こる可能性が高まる。そのため、本分析装置1には、図1に示すようにボトルユニット4が併設されている。   The test piece container 121 of the analyzer 1 has an inner space (accommodation space) S1 of the test piece container 121 such that the upper opening is closed by the opening lid 1211 and the bottom opening is closed by the rotating drum 122. Has a certain degree of hermeticity (airtightness). Therefore, although the accommodation space S1 has an atmosphere in which the test piece 2 is less likely to deteriorate compared to the external space, the test piece is still used when the operation stop period during which the operation of the analyzer 1 is stopped extends for a long time. 2 is likely to occur. For this reason, the analyzer unit 1 is provided with a bottle unit 4 as shown in FIG.

ボトルユニット4は、試験片2を密封状態で保管可能な密封保管容器である。分析装置1の稼動が停止されている稼働停止期間においては、試験片収容部121に試験片2を放置しておくと前述した試験片2の劣化につながる虞があるため、分析処理終了の時点で余った試験片2は試験片収容部121からボトルユニット4へとユーザーによって移しかえられることになっている。具体的には、一日の分析処理の終了時に試験片2が試験片収容部121に残留している場合、余った試験片2をボトルユニット4に保管する内容の指示が分析装置1の取扱説明書に記載されている。   The bottle unit 4 is a sealed storage container that can store the test piece 2 in a sealed state. In the operation stop period in which the operation of the analyzer 1 is stopped, if the test piece 2 is left in the test piece storage unit 121, the test piece 2 described above may be deteriorated. Thus, the surplus test piece 2 is transferred from the test piece storage unit 121 to the bottle unit 4 by the user. Specifically, when the test piece 2 remains in the test piece storage unit 121 at the end of the analysis process of the day, an instruction on the content of storing the surplus test piece 2 in the bottle unit 4 is handled by the analyzer 1. It is described in the instructions.

従って、ユーザーが取扱説明書を遵守する限り、分析装置1による分析処理が終了した時点(ユーザーによる操作スイッチ群112の操作により電源スイッチが押下されて、分析装置1の主電源がオフに切り替えられた時点)で試験片収容部121に残留している試験片2は、ユーザーによってボトルユニット4に保管される。そのため、稼働停止期間がたとえ長期に及ぶ場合においても、試験片収容部121には試験片2が放置されないため劣化することはない。しかし、分析装置1の稼動停止時に余りの試験片2を実際にボトルユニット4へと移すかどうかはユーザー任せであるため、稼動停止期間中において長期に亘り試験片2が試験片収容部121に留置(放置)されてしまう可能性も否定できない。   Therefore, as long as the user observes the instruction manual, when the analysis process by the analyzer 1 is completed (the power switch is pressed by the operation of the operation switch group 112 by the user, the main power supply of the analyzer 1 is switched off). The test piece 2 remaining in the test piece storage unit 121 at the time is stored in the bottle unit 4 by the user. For this reason, even when the operation stop period extends for a long time, the test piece 2 is not left in the test piece storage unit 121, so that it does not deteriorate. However, since it is left up to the user to actually transfer the surplus test piece 2 to the bottle unit 4 when the analyzer 1 is stopped, the test piece 2 is stored in the test piece storage unit 121 for a long time during the operation stop period. There is no denying the possibility of detention.

そこで、本実施例における分析装置1では、試料の分析処理に供される試験片2に劣化が生じているか否か、その品質を確認するための試験片品質確認制御を行う。この試験片品質確認制御は、概略、試験片収容部121における試験片2の収容期間を判断基準に用いて試験片2の劣化状況を判別する。以下、この試験片品質確認制御について詳しく説明する。   Therefore, the analyzer 1 in this embodiment performs test piece quality confirmation control for confirming whether or not the test piece 2 subjected to the sample analysis process has deteriorated. In this test piece quality confirmation control, the deterioration state of the test piece 2 is determined using the storage period of the test piece 2 in the test piece storage unit 121 as a criterion for determination. Hereinafter, the test piece quality confirmation control will be described in detail.

図5に示すように、分析装置1は、そのCPU15やメモリ16などを含むコンピュータにより実現される機能部として、残留状態判定部35、期間算出部36、判別部37、報知部38を備えている。以下、分析装置1のコンピュータにより実行される試験片品質確認制御における処理内容を、図6に基づいて説明する。   As shown in FIG. 5, the analysis apparatus 1 includes a residual state determination unit 35, a period calculation unit 36, a determination unit 37, and a notification unit 38 as functional units realized by a computer including the CPU 15 and the memory 16. Yes. Hereinafter, the processing content in the test piece quality confirmation control executed by the computer of the analyzer 1 will be described with reference to FIG.

図6は、分析装置1のコンピュータにより実行される試験片品質確認制御ルーチンを示すフローチャート図である。本制御ルーチンは、例えば分析装置1の起動時、つまりユーザーによる電源スイッチの押下によって分析装置1の電源がオフの状態からオンの状態に切り替えられたことをトリガとして、メモリ16に格納されているプログラム(「品質確認プログラム」と称する)がCPU15によって実行されることで、本フローチャートにおける各処理が実現される。すなわち、図5において説明した分析装置1の各機能部は、CPU15がメモリ16に格納された品質確認プログラムと協働することにより実現される。   FIG. 6 is a flowchart showing a test piece quality confirmation control routine executed by the computer of the analyzer 1. This control routine is stored in the memory 16, for example, when the analyzer 1 is started, that is, when the power of the analyzer 1 is switched from the off state to the on state by the user pressing the power switch. By executing a program (referred to as a “quality confirmation program”) by the CPU 15, each process in this flowchart is realized. That is, each functional unit of the analyzer 1 described in FIG. 5 is realized by the CPU 15 cooperating with a quality confirmation program stored in the memory 16.

ステップS101において、試験片供給制御部31は、試験片収容部121内に試験片2が残留していればその試験片2がポジションP1に移送されるように、回転ドラム122の回転制御及び移送装置(不図示)の駆動制御を行う。ここで、試験片収容部121内に試験片2が残留していなければ(試験片収容部121の収容空間S1が空であれば)、試験片2がポジションP1へと移送されることがない。そして、試験片収容部121内に試験片2が残留していれば、少なくとも回転ドラム122が数回転する間に試験片2が凹部1221に嵌入するため、その試験片2がポジションP1へと移送される。   In step S101, the test strip supply controller 31 controls the rotation and transfer of the rotating drum 122 so that if the test strip 2 remains in the test strip storage unit 121, the test strip 2 is transferred to the position P1. Drive control of the device (not shown) is performed. Here, if the test piece 2 does not remain in the test piece storage portion 121 (if the storage space S1 of the test piece storage portion 121 is empty), the test piece 2 is not transferred to the position P1. . And if the test piece 2 remains in the test piece accommodating part 121, since the test piece 2 fits into the recessed part 1221 during at least several rotations of the rotating drum 122, the test piece 2 is transferred to the position P1. Is done.

次いで、ステップS102(残留状態判定ステップ)においては、残留状態判定部35が、試験片検出センサ124の出力信号(検出信号)を取得する。そして、この取得した検出信号に基づいて、試験片収容部121内に試験片2が残留(残存)しているか否かを判定する。具体的には、例えば所定の判定期間(例えば、回転ドラム122が数回転するのに要する時間)に亘って連続的、断続的に試験片検出センサ124からの検出信号を取得する。そして、取得した検出信号が、終始、試験片2が検出されないとの内容を示す信号(以下、「試験片未検出信号」ともいう)である場合、残留状態判定部35は、試験片収容部121内に試験片2が残留していない(試験片収容部121における試験片2が空である)と判定し、本ルーチンを一旦終了する。この場合、分析装置1のコンピュータは、品質確認プログラムと同様、メモリ16に格納されている分析用プログラム(図示省略)をCPU15によって実行する。   Next, in step S102 (residual state determination step), the residual state determination unit 35 acquires an output signal (detection signal) of the test piece detection sensor 124. Then, based on the acquired detection signal, it is determined whether or not the test piece 2 remains (residual) in the test piece storage unit 121. Specifically, for example, the detection signal from the test piece detection sensor 124 is acquired continuously and intermittently over a predetermined determination period (for example, the time required for the rotating drum 122 to rotate several times). When the acquired detection signal is a signal indicating that the test piece 2 is not detected from beginning to end (hereinafter, also referred to as “test piece non-detection signal”), the residual state determination unit 35 includes a test piece storage unit. It is determined that the test piece 2 does not remain in 121 (the test piece 2 in the test piece storage unit 121 is empty), and this routine is temporarily ended. In this case, the computer of the analysis apparatus 1 executes the analysis program (not shown) stored in the memory 16 by the CPU 15 as in the quality confirmation program.

上記分析用プログラムは、試験片2の呈色反応を測光装置17によって測定し、試料である尿中に含まれる特定成分を分析するためのプログラムである。この分析用プログラムを分析装置1のコンピュータが実行することにより、CPU15が、試験片収容部121に収容されている試験片2をポジションP1へと移送する試験片供給制御部31、点着装置14を制御して試験片2に試料を点着する点着装置制御部32、測光装置17に関する制御を実行する測光装置制御部33、測光装置17の受光部172から受光結果を取得して特定成分の濃度を演算、分析する測定部34として機能し、試料の分析処理が行われる。   The analysis program is a program for measuring the color reaction of the test piece 2 with the photometric device 17 and analyzing a specific component contained in urine as a sample. When the analysis program is executed by the computer of the analysis apparatus 1, the CPU 15 causes the test piece supply control unit 31 and the spotting device 14 to transfer the test piece 2 accommodated in the test piece accommodation unit 121 to the position P1. The spot receiving device control unit 32 for spotting a sample on the test piece 2, the photometry device control unit 33 for executing control related to the photometry device 17, and the light reception result from the light receiving unit 172 of the photometry device 17 to obtain a specific component It functions as a measurement unit 34 that calculates and analyzes the concentration of the sample, and performs sample analysis processing.

また、ステップS102において残留状態判定部35が、試験片検出センサ124から試験片2を検出したとの内容を示す出力信号(以下、「試験片残留信号」ともいう)を取得した場合、試験片収容部121内に試験片2が残留していると判定し、ステップS103の処理が実行される。   When the residual state determination unit 35 acquires an output signal indicating that the test piece 2 has been detected from the test piece detection sensor 124 (hereinafter, also referred to as “test piece residual signal”) in step S102, the test piece It determines with the test piece 2 remaining in the accommodating part 121, and the process of step S103 is performed.

ステップS103(期間算出ステップ)では、期間算出部36が試験片の収容期間(以下、「試験片収容期間」という)ΔPocを算出する。本実施例では、直近における分析装置1の稼動停止時(以下、「直近稼動停止日時」という)から再び装置が起動される時(以下、「直近起動日時」という)までの経過期間を試験片収容期間ΔPocとして算出することとした。なお、本分析装置1において、ユーザーにより電源スチッチが操作された時期(日時)は例えば分析装置1のハードディスクドライブ19に記録されるようになっている。従って、CPU15は、電源スチッチがオンからオフに切り替えられた直近の時期(日時)をハードディスクドライブ19から読み出すことで直近稼動停止日時を把握することができる。同様に、電源スチッチがオフからオンに切り替えられた直近の時期(日時)をハードディスクドライブ19から読み出すことで、直近起動日時を把握することができる。そして、直近稼動停止日時から直近起動日時に至るまでの期間を試験片収容期間ΔPocとして算出することができる。本ステップの処理が終了すると、ステップS104の処理が実行される。   In step S103 (period calculation step), the period calculation unit 36 calculates a test piece accommodation period (hereinafter referred to as “test piece accommodation period”) ΔPoc. In this example, the elapsed period from the time when the analyzer 1 was most recently stopped (hereinafter referred to as “the most recent operation stop date”) to the time when the device is started again (hereinafter referred to as “the latest start date”) is a test piece. The housing period ΔPoc was calculated. In the analyzer 1, the time (date and time) when the user operates the power switch is recorded in, for example, the hard disk drive 19 of the analyzer 1. Therefore, the CPU 15 can grasp the latest operation stop date and time by reading from the hard disk drive 19 the latest time (date and time) when the power switch is switched from on to off. Similarly, by reading out the latest time (date and time) when the power switch is switched from off to on from the hard disk drive 19, it is possible to grasp the latest start date and time. The period from the most recent operation stop date to the most recent activation date can be calculated as the test piece accommodation period ΔPoc. When the process of this step is completed, the process of step S104 is executed.

ステップS104(判別ステップ)では、判別部37が、ステップS103(期間算出ステップ)において算出された試験片収容期間ΔPocに基づいて、試験片2の劣化状況を判別する。ここでは、判別部37は、試験片収容期間ΔPocが許容曝露期間ΔPocaを超えているかどうかに基づいて試験片2の劣化状況を判別する。この許容曝露期間ΔPocaは、試験片収容部121の収容空間S1内において、試験片2を分析精度上問題なく使用可能な状態で維持可能な最長の期間であり、試験片2に劣化が生じているか否かを判断するための試験片収容期間ΔPocに対して設定される判定基準値である。許容曝露期間ΔPocaとしての適正値(例えば、3日〜5日間程度であってもよい)は、予め実験などの経験則に基づいて求めておくと良い。   In step S104 (determination step), the determination unit 37 determines the deterioration state of the test piece 2 based on the test piece accommodation period ΔPoc calculated in step S103 (period calculation step). Here, the determination unit 37 determines the deterioration state of the test piece 2 based on whether or not the test piece accommodation period ΔPoc exceeds the allowable exposure period ΔPoca. This allowable exposure period ΔPoca is the longest period in which the test piece 2 can be maintained in a usable state without any problem in analysis accuracy in the accommodation space S1 of the test piece accommodation unit 121, and the test piece 2 is deteriorated. This is a determination reference value set for the test piece accommodation period ΔPoc for determining whether or not there is. An appropriate value (for example, about 3 to 5 days) as the allowable exposure period ΔPoca may be obtained in advance based on an empirical rule such as an experiment.

本ステップにおいて、判別部37は試験片収容期間ΔPocが許容曝露期間ΔPocaを超えているか否かを判定する。そして、判別部37は、試験片収容期間ΔPocが許容曝露期間ΔPocaを超えているかどうかに基づいて試験片2の劣化状況を判別する。具体的には、試験片収容期間ΔPocが許容曝露期間ΔPocaを超えていると判定された場合、判別部37は、試験片2が劣化している可能性がある(或いは、劣化している可能性が高いと)と判断し、ステップS105の処理が実行される。一方、試験片収容期間ΔPocが許容曝露期間ΔPoca以内であると判定された場合、試験片2が正常である(つまり、品質が低下していない)と判断する。この場合、本ルーチンを一旦終了し、前述の分析用プログラムが実行される。   In this step, the determination unit 37 determines whether or not the test piece accommodation period ΔPoc exceeds the allowable exposure period ΔPoca. And the discrimination | determination part 37 discriminate | determines the deterioration condition of the test piece 2 based on whether the test piece accommodation period (DELTA) Poc exceeds the allowable exposure period (DELTA) Poca. Specifically, when it is determined that the test piece accommodation period ΔPoc exceeds the allowable exposure period ΔPoca, the determination unit 37 may have the test piece 2 deteriorated (or may have deteriorated). And the process of step S105 is executed. On the other hand, when it is determined that the test piece accommodation period ΔPoc is within the allowable exposure period ΔPoca, it is determined that the test piece 2 is normal (that is, the quality has not deteriorated). In this case, this routine is once ended, and the above-described analysis program is executed.

図2に示したように、分析装置1は報知器39を備えている。ステップS105(報知ステップ)においては、報知部38が報知器39を制御して、試験片2の劣化状況をユーザーに報知する。例えば、報知部38は、試験片収容期間ΔPocが許容曝露期間ΔPocaを超えている場合、試験片2の試薬パッド22が変質しており品質が低下していること、この試験片2を用いて試料の分析を行った場合に各特定成分における測定値に誤差が生じ、分析結果の信頼性が低くなる虞があること等の内容を含んだ情報をユーザーに報知する。なお、報知部38は、試験片収容期間ΔPocが許容曝露期間ΔPoca以内である場合、試験片2の品質が低下していないことを積極的に報知しても良いが、このように試験片2が正常な状態である場合にはユーザーへの報知、警告自体を行わず、試験片2が劣化している可能性が高いときにだけ報知を行うようにしても良い。本ステップの処理が終了すると本ルーチンを一旦終了し、前述の分析用プログラムが実行される。   As shown in FIG. 2, the analysis apparatus 1 includes a notification device 39. In step S105 (notification step), the notification unit 38 controls the notification device 39 to notify the user of the deterioration state of the test piece 2. For example, when the test piece accommodation period ΔPoc exceeds the allowable exposure period ΔPoca, the notification unit 38 uses the test piece 2 that the reagent pad 22 of the test piece 2 has deteriorated and the quality has deteriorated. When the sample is analyzed, an error is generated in the measured value of each specific component, and information including the content that the reliability of the analysis result may be lowered is notified to the user. In addition, when the test piece accommodation period ΔPoc is within the allowable exposure period ΔPoca, the notification unit 38 may actively notify that the quality of the test piece 2 has not deteriorated, but in this way, the test piece 2 In a normal state, notification to the user and warning itself are not performed, and notification may be performed only when there is a high possibility that the test piece 2 is deteriorated. When the processing of this step is completed, this routine is temporarily ended, and the above-described analysis program is executed.

以上のように、本実施例における分析装置1によれば、その起動時に試験片2が試験片収容部121内に残留している場合、試験片収容期間ΔPocに応じて試験片2の劣化状況を判別し、その判別結果がユーザーに報知される。よって、分析処理に使用される試験片2の劣化状況をユーザーに適切に認識させることができる。また、本実施例において、試験片品質確認制御の実行結果は、ハードディスクドライブ19に記憶しておくことができる。これにより、分析装置1による試料の分析処理の結果と、分析処理に供された試験片2の劣化状況とを、いつでも照合することが可能である。本実施例においては残留状態判定部35、期間算出部36、判別部37が本発明における劣化判別手段を構成する。また、報知器39とこの報知器39を制御する報知部38が本発明における報知手段に対応している。   As described above, according to the analyzer 1 in the present embodiment, when the test piece 2 remains in the test piece storage unit 121 at the time of activation, the deterioration state of the test piece 2 according to the test piece storage period ΔPoc. And the determination result is notified to the user. Therefore, it is possible to make the user appropriately recognize the deterioration state of the test piece 2 used for the analysis processing. In the present embodiment, the execution result of the test piece quality confirmation control can be stored in the hard disk drive 19. Thereby, it is possible to always collate the result of the analysis process of the sample by the analyzer 1 and the deterioration state of the test piece 2 subjected to the analysis process. In the present embodiment, the residual state determination unit 35, the period calculation unit 36, and the determination unit 37 constitute a deterioration determination unit in the present invention. Moreover, the alerting | reporting device 39 and the alerting | reporting part 38 which controls this alerting | reporting device 39 respond | corresponds to the alerting | reporting means in this invention.

また、これまでの、或いは後述する分析装置1の実施形態に関する説明は、該分析装置1の試験片収容部121における試験片2の品質を確認するための品質確認装置、品質確認装方法、品質確認プログラムの各実施例としての説明を兼ねる。また、分析装置1のコンピュータに図6に示した各処理フローを実行させる品質確認プログラムは、コンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録する事ができる。そして、コンピュータに、この記録媒体の品質確認プログラムを読み込ませて実行させることにより、その機能を提供させることができる。ここで、コンピュータ読み取り可能な記録媒体とは、データやプログラム等の情報を電気的、磁気的、光学的、機械的、または化学的作用によって蓄積し、コンピュータから読み取ることができる記録媒体をいう。このような記録媒体のうちコンピュータから取り外し可能なものとしては、例えばフレキシブルディスク、光磁気ディスク、CD−ROM、CD−R/W、DVD、DAT、8mmテープ、メモリカード等がある。また、コンピュータに固定された記録媒体としてハードディスクやROM等がある。   Moreover, the description regarding the embodiment of the analyzer 1 which has been described or will be described later is a quality check apparatus, a quality check apparatus, a quality check apparatus for checking the quality of the test piece 2 in the test piece storage unit 121 of the analyzer 1. It also serves as an explanation of each example of the confirmation program. Moreover, the quality confirmation program which makes the computer of the analyzer 1 perform each processing flow shown in FIG. 6 can be recorded on a computer-readable recording medium. Then, the function can be provided by causing the computer to read and execute the recording medium quality confirmation program. Here, the computer-readable recording medium refers to a recording medium in which information such as data and programs is accumulated by electrical, magnetic, optical, mechanical, or chemical action and can be read from a computer. Examples of such a recording medium that can be removed from the computer include a flexible disk, a magneto-optical disk, a CD-ROM, a CD-R / W, a DVD, a DAT, an 8 mm tape, and a memory card. Moreover, there are a hard disk, a ROM, etc. as a recording medium fixed to the computer.

<実施例2>
次に、本実施の形態における第2の実施例について説明する。実施例2に係る分析装置1のハード構成は実施例1と同様である。本実施例では、試験片品質確認制御の内容が実施例1と相違するため、その相違点を中心に説明する。本実施例で説明する試験片品質確認制御において、期間算出部36は、試験片収容部121に収容されている試験片2の収容期間を2種類の異なる期間として算出する。
<Example 2>
Next, a second example of the present embodiment will be described. The hardware configuration of the analyzer 1 according to the second embodiment is the same as that of the first embodiment. In the present embodiment, since the content of the test piece quality confirmation control is different from that of the first embodiment, the difference will be mainly described. In the test piece quality confirmation control described in the present embodiment, the period calculation unit 36 calculates the accommodation periods of the test piece 2 accommodated in the test piece accommodation part 121 as two different periods.

具体的には、第1の試験片収容期間ΔPoc1は、残留状態判定部35による試験片収容部121が空になったとの判定(以下、この判定を「試験片切れ判定」という)が直近になされた時期(以下、「直近試験片切れ日時」という)から直近起動日時までの経過期間である。第2の試験片収容期間ΔPoc2は、実施例1で説明した試験片収容期間であり、直近稼動停止日時から直近起動日時に至るまでの経過期間である。ここで、第1の試験片収容期間ΔPoc1は、上記の通り直近試験片切れ日時から直近起動日時に至るまでの期間であるところ、本実施例では、その期間の途中には第2の試験片収容期間ΔPoc2の始期に相当する直近稼動停止日時が存在する場合を例として説明する。また、第1の試験片収容期間ΔPoc1及び第2の試験片収容期間ΔPoc2の終期は共に直近起動日時であり共通する。すなわち、本実施例では、第2の試験片収容期間ΔPoc2が、第1の試験片収容期間ΔPoc1に包含され、該第1の試験片収容期間ΔPoc1よりも短い期間となる場合について説明するが、この態様に限定されるものではない。   Specifically, in the first test piece accommodation period ΔPoc1, the determination that the test piece accommodation unit 121 is emptied by the residual state determination unit 35 (hereinafter, this determination is referred to as “test piece breakage determination”) is the latest. This is the elapsed period from the date when it was made (hereinafter referred to as “the most recent test piece cut date and time”) to the most recent activation date and time. The second test piece accommodation period ΔPoc2 is the test piece accommodation period described in the first embodiment, and is an elapsed period from the most recent operation stop date and time to the most recent activation date and time. Here, the first test piece accommodation period ΔPoc1 is a period from the most recent test piece expiration date and time to the most recent activation date and time as described above. In this embodiment, the second test piece accommodation period is in the middle of the period. A case will be described as an example where there is a latest operation stop date and time corresponding to the start of the accommodation period ΔPoc2. Further, the final periods of the first test piece accommodation period ΔPoc1 and the second test piece accommodation period ΔPoc2 are both the latest activation date and time, and are common. That is, in the present embodiment, the case where the second test piece accommodation period ΔPoc2 is included in the first test piece accommodation period ΔPoc1 and is shorter than the first test piece accommodation period ΔPoc1 will be described. It is not limited to this aspect.

期間算出部36は、第1の試験片収容期間ΔPoc1及び第2の試験片収容期間ΔPoc2をそれぞれ算出する。そして、判別部37は、第1の試験片収容期間ΔPoc1及び第2の試験片収容期間ΔPoc2の少なくとも一方に基づいて、試験片2の劣化状況を判別する。以下、第1の試験片収容期間ΔPoc1及び第2の試験片収容期間ΔPoc2の双方に基づいて試験片2の劣化状況を判別する制御例について説明する。   The period calculation unit 36 calculates a first test piece accommodation period ΔPoc1 and a second test piece accommodation period ΔPoc2, respectively. Then, the determination unit 37 determines the deterioration state of the test piece 2 based on at least one of the first test piece accommodation period ΔPoc1 and the second test piece accommodation period ΔPoc2. Hereinafter, a control example for determining the deterioration state of the test piece 2 based on both the first test piece accommodation period ΔPoc1 and the second test piece accommodation period ΔPoc2 will be described.

図7は、分析装置1のコンピュータにより実行される第2の試験片品質確認制御ルーチンを示すフローチャート図である。本制御ルーチンは、例えば分析装置1の起動をトリガとしてメモリ16に格納されている品質確認プログラムがCPU15によって実行される結果、図7に示す各処理が実現されるようになっている。なお、図6と同様の処理が行われるステップについては共通の符号を付すことで詳しい説明を省略する。   FIG. 7 is a flowchart showing a second test piece quality confirmation control routine executed by the computer of the analyzer 1. In this control routine, for example, the processing shown in FIG. 7 is realized as a result of the CPU 15 executing a quality confirmation program stored in the memory 16 with the activation of the analyzer 1 as a trigger. In addition, about the step in which the process similar to FIG. 6 is performed, detailed description is abbreviate | omitted by attaching | subjecting a common code | symbol.

ステップS201(期間算出ステップ)では、期間算出部36が第1の試験片収容期間ΔPoc1及び第2の試験片収容期間ΔPoc2をそれぞれ算出する。それぞれの算出方法については既述の通りである。本ステップの処理が終了すると、ステップS202の処理が実行される。   In step S201 (period calculation step), the period calculation unit 36 calculates a first test piece accommodation period ΔPoc1 and a second test piece accommodation period ΔPoc2. Each calculation method is as described above. When the process of this step is finished, the process of step S202 is executed.

ステップS202とステップS203は、判別部37が実行する判別ステップである。この判別ステップでは、判別部37が、第1の試験片収容期間ΔPoc1及び第2の試験片収容期間ΔPoc2のそれぞれと既述した許容曝露期間ΔPocaとを対比し、それぞれの収容期間が許容曝露期間ΔPocaを超えているかどうかを判定する。そして、判別部37は双方の判定結果に基づいて、試験片2の劣化状況を判別する。本実施例において、第2の試験片収容期間ΔPoc2は、第1の試験片収容期間ΔPoc1に包含される期間であり、第1の試験片収容期間ΔPoc1よりも短い。従って、第1の試験片収容期間ΔPoc1が許容曝露期間ΔPoca以内であれば、第2の試験片収容期間ΔPoc2も許容曝露期間ΔPoca以内に収まることになる。   Steps S202 and S203 are determination steps executed by the determination unit 37. In this determination step, the determination unit 37 compares each of the first test piece accommodation period ΔPoc1 and the second test piece accommodation period ΔPoc2 with the allowable exposure period ΔPoca described above, and each accommodation period is the allowable exposure period. It is determined whether or not ΔPoca is exceeded. And the discrimination | determination part 37 discriminate | determines the deterioration condition of the test piece 2 based on both determination results. In the present embodiment, the second test piece accommodation period ΔPoc2 is a period included in the first test piece accommodation period ΔPoc1, and is shorter than the first test piece accommodation period ΔPoc1. Therefore, if the first test strip accommodation period ΔPoc1 is within the allowable exposure period ΔPoca, the second test strip storage period ΔPoc2 is also within the allowable exposure period ΔPoca.

そこで、ステップS202においては、判別部37が、第1の試験片収容期間ΔPoc1が許容曝露期間ΔPocaを超えているか否かを判定する。そして、判別部37は、第1の試験片収容期間ΔPoc1が許容曝露期間ΔPocaを超えていると判定した場合にはステップS203の処理を実行する。一方、第1の試験片収容期間ΔPoc1が許容曝露期間ΔPoca以内であると判定した場合、判別部37は、試験片2が正常であると判別する。この場合、そのまま本ルーチンを終了し、実施例1において説明した分析用プログラムが実行されることで試料が分析処理に供される。なお、本ステップで試験片2が正常であると判別された場合、報知部38は報知器39を作動させて、試験片2が正常である旨をユーザーに報知しても良い。   Therefore, in step S202, the determination unit 37 determines whether or not the first test strip accommodation period ΔPoc1 exceeds the allowable exposure period ΔPoca. If the determination unit 37 determines that the first test piece accommodation period ΔPoc1 exceeds the allowable exposure period ΔPoca, the determination unit 37 performs the process of step S203. On the other hand, when it is determined that the first test piece accommodation period ΔPoc1 is within the allowable exposure period ΔPoca, the determination unit 37 determines that the test piece 2 is normal. In this case, this routine is ended as it is, and the sample is subjected to the analysis process by executing the analysis program described in the first embodiment. When it is determined that the test piece 2 is normal in this step, the notification unit 38 may operate the notification device 39 to notify the user that the test piece 2 is normal.

次いで、ステップS203において、判別部37は、第2の試験片収容期間ΔPoc2が許容曝露期間ΔPocaを超えているか否かを判定する。まず、第2の試験片収容期間ΔPoc2が許容曝露期間ΔPoca以内であると判定された場合について説明する。この場合、第1の試験片収容期間ΔPoc1及び第2の試験片収容期間ΔPoc2のうち、第1の試験片収容期間ΔPoc1のみが許容曝露期間ΔPocaを超えていることを意味する。この場合、判別部37は試験片2が第1劣化状態であると判別し、ステップS204の処理を実行する。なお、この第1劣化状態については後述する。   Next, in step S <b> 203, the determination unit 37 determines whether or not the second test piece accommodation period ΔPoc <b> 2 exceeds the allowable exposure period ΔPoca. First, the case where it is determined that the second test piece accommodation period ΔPoc2 is within the allowable exposure period ΔPoca will be described. In this case, it means that only the first test piece accommodation period ΔPoc1 of the first test piece accommodation period ΔPoc1 and the second test piece accommodation period ΔPoc2 exceeds the allowable exposure period ΔPoca. In this case, the determination unit 37 determines that the test piece 2 is in the first deterioration state, and executes the process of step S204. The first deterioration state will be described later.

一方、ステップS203において、第2の試験片収容期間ΔPoc2が許容曝露期間ΔPocaを超えていると判定された場合、第1の試験片収容期間ΔPoc1及び第2の試験片収容期間ΔPoc2が許容曝露期間ΔPocaを超えていることを意味する。この場合、判別部37は、試験片2が第2劣化状態であると判別し、ステップS205の処理を実行する。   On the other hand, when it is determined in step S203 that the second test piece accommodation period ΔPoc2 exceeds the allowable exposure period ΔPoca, the first test piece accommodation period ΔPoc1 and the second test piece accommodation period ΔPoc2 are the allowable exposure period. It means that ΔPoca is exceeded. In this case, the determination unit 37 determines that the test piece 2 is in the second deterioration state, and executes the process of step S205.

第2の試験片収容期間ΔPoc2は、第1の試験片収容期間ΔPoc1に包含される期間であり、第1の試験片収容期間ΔPoc1よりも短い。そこで、本実施例においては、第1の試験片収容期間ΔPoc1及び第2の試験片収容期間ΔPoc2の双方が(第1の試験片収容期間ΔPoc1のみならず第2の試験片収容期間ΔPoc2も)許容曝露期間ΔPocaを超えた場合に判別される第2劣化状態は、第1の試験片収容期間ΔPoc1のみが許容曝露期間ΔPocaを超えた場合に判別される第1劣化状態に比べて、相対的に試験片2の劣化度合いが大きいものと判断する。例えば、第2劣化状態は、試験片2を試料の分析処理に用いた場合に許容できない分析誤差が生じる可能性があると判断される程度の試験片2の劣化状態と捉えることができる。また、第1劣化状態は、この第2劣化状態までは至らない劣化状態として捉えることができる。   The second test piece accommodation period ΔPoc2 is a period included in the first test piece accommodation period ΔPoc1, and is shorter than the first test piece accommodation period ΔPoc1. Therefore, in the present embodiment, both the first test piece accommodation period ΔPoc1 and the second test piece accommodation period ΔPoc2 (not only the first test piece accommodation period ΔPoc1 but also the second test piece accommodation period ΔPoc2). The second deterioration state that is determined when the allowable exposure period ΔPoca is exceeded is relatively different from the first deterioration state that is determined when only the first test piece accommodation period ΔPoc exceeds the allowable exposure period ΔPoca. It is determined that the degree of deterioration of the test piece 2 is large. For example, the second deterioration state can be regarded as a deterioration state of the test piece 2 to the extent that it is determined that an unacceptable analysis error may occur when the test piece 2 is used for the sample analysis process. Further, the first deterioration state can be regarded as a deterioration state that does not reach the second deterioration state.

ここで、ステップS203において判別部37が試験片2を第1劣化状態であると判別した場合、続くステップS204においては報知部38が報知器39を作動させ、試験片2が第1劣化状態である旨をユーザーに報知する。例えば報知部38は、報知器39に『分析装置の起動時に試験片収容部に試験片が残留していました』等のメッセージを音声、文字等により出力させ、試験片2の残留エラーをユーザーに報知、警告する。本ステップの処理が終了すると本ルーチンを一旦終了し、前述した分析用プログラムが実行される。   Here, when the determination unit 37 determines that the test piece 2 is in the first deterioration state in step S203, the notification unit 38 operates the alarm 39 in the subsequent step S204, and the test piece 2 is in the first deterioration state. Inform the user that there is. For example, the notification unit 38 causes the notification unit 39 to output a message such as “a test piece remained in the test piece storage unit when the analyzer was started” by voice, text, etc. Inform and warn. When the processing of this step is finished, this routine is once finished, and the analysis program described above is executed.

また、ステップS203において判別部37が試験片2を第2劣化状態であると判別した場合、続くステップS205において報知部38は報知器39を作動させ、試験片2が第2劣化状態である旨をユーザーに報知する。例えば報知部38は、報知器39に『試験片が劣化している可能性があります』、『ボトルユニットに保管されている試験片と交換して下さい』、『この試験片を使用すると測定誤差が生じるおそれがあります』等のメッセージを音声、文字等により出力させ、試験片2の劣化エラーをユーザーに報知、警告する。本ステップの処理が終了すると本ルーチンを一旦終了し、前述した分析用プログラムが実行される。   If the determination unit 37 determines that the test piece 2 is in the second deterioration state in step S203, the notification unit 38 operates the alarm 39 in the subsequent step S205, and the test piece 2 is in the second deterioration state. To the user. For example, the notification unit 38 may notify the alarm unit 39 that “the test piece may be deteriorated”, “replace it with a test piece stored in the bottle unit”, or “a measurement error if this test piece is used. Is output by voice, text, etc., and the deterioration error of the test piece 2 is notified and warned to the user. When the processing of this step is finished, this routine is once finished, and the analysis program described above is executed.

以上に説明した試験片品質確認制御によれば、分析装置1の起動時に試験片2が試験片収容部121内に残留している場合、試験片2の劣化状況をユーザーに報知することができる。その際、試験片2の劣化度合いに応じて、報知内容(例えば、メッセージ内容)を変更する事ができるので、ユーザーに試験片2の劣化状況をより詳細に認識させることができる。   According to the test piece quality confirmation control described above, when the test piece 2 remains in the test piece storage unit 121 when the analyzer 1 is activated, the user can be notified of the deterioration status of the test piece 2. . At this time, since the notification content (for example, message content) can be changed according to the degree of deterioration of the test piece 2, the user can be made to recognize the deterioration state of the test piece 2 in more detail.

もっとも、本実施例では、第1の試験片収容期間ΔPoc1及び第2の試験片収容期間ΔPoc2の双方に基づいて試験片2の劣化状況を判別しているが、何れか一方の収容期間に基づいて試験片2の劣化状況を判別しても構わない。ちなみに、第2の試験片収容期間ΔPoc2のみに基づいて劣化状況を判別する例は、実施例1において説明した。そして、第1の試験片収容期間ΔPoc1のみに基づいて劣化状況を判別する場合には、例えば第1の試験片収容期間ΔPoc1が許容曝露期間ΔPocaを超えたと判定されたときに、報知部38が試験片2の残留警告を行うようにしても良い。また、この実施例では、第1の試験片収容期間ΔPoc1及び第2の試験片収容期間ΔPoc2を、共通する許容曝露期間ΔPocaと対比しているが、それぞれ異なる長さの期間として設定される許容曝露期間との対比結果に基づいて試験片2の劣化状況を判別することも可能である。   However, in this embodiment, the deterioration state of the test piece 2 is determined based on both the first test piece accommodation period ΔPoc1 and the second test piece accommodation period ΔPoc2, but based on either one of the accommodation periods. Thus, the deterioration state of the test piece 2 may be determined. Incidentally, the example in which the deterioration state is determined based only on the second test piece housing period ΔPoc2 has been described in the first embodiment. When determining the deterioration state based only on the first test piece accommodation period ΔPoc1, for example, when it is determined that the first test piece accommodation period ΔPoc1 exceeds the allowable exposure period ΔPoca, the notification unit 38 You may make it perform the residual warning of the test piece 2. FIG. Further, in this embodiment, the first test piece accommodation period ΔPoc1 and the second test piece accommodation period ΔPoc2 are compared with the common allowable exposure period ΔPoca, but the tolerances are set as periods of different lengths. It is also possible to determine the deterioration state of the test piece 2 based on the comparison result with the exposure period.

<実施例3>
次に、本実施の形態における第3の実施例について説明する。図8は、実施例3における試験片収容部121の概略構成図である。図8に示すように、試験片収容部121には、開閉蓋1211の開閉状態を検知する開閉検知センサ1212が設けられている。この開閉検知センサ1212は、例えば開閉蓋1211側と試験片収容部121側の何れか一方に取り付けられたマグネットと、他方に設置されたリードスイッチと、を含んで構成されている。リードスイッチはいわゆる磁気センサである。開閉蓋1211の開閉動作に伴い、リードスイッチに対してマグネットが離間、又は接近することにより、リードスイッチのオン、オフの切り替え動作が行われる。本実施例においては開閉検知センサ1212が本発明における開閉状態検知手段に対応する。本実施例の分析装置1では、ユーザーが電源スイッチをオフにした場合においても、図示しないバッテリに蓄えられている電力によって開閉検知センサ1212への電力供給を継続して行うことが可能である。その他の構成については、実施例1において説明した分析装置1と同等である。
<Example 3>
Next, a third example of the present embodiment will be described. FIG. 8 is a schematic configuration diagram of the test piece housing part 121 in the third embodiment. As shown in FIG. 8, the test piece container 121 is provided with an open / close detection sensor 1212 that detects the open / close state of the open / close lid 1211. The open / close detection sensor 1212 includes, for example, a magnet attached to one of the open / close lid 1211 side and the test piece housing part 121 side, and a reed switch installed on the other side. The reed switch is a so-called magnetic sensor. In association with the opening / closing operation of the opening / closing lid 1211, the reed switch is turned on / off by moving the magnet away from or approaching the reed switch. In this embodiment, the open / close detection sensor 1212 corresponds to the open / close state detection means in the present invention. In the analysis apparatus 1 of the present embodiment, even when the user turns off the power switch, it is possible to continuously supply power to the open / close detection sensor 1212 with the power stored in a battery (not shown). About another structure, it is equivalent to the analyzer 1 demonstrated in Example 1. FIG.

本実施例における試験片品質確認制御では、試験片収容部121に収容されている試験片2の収容期間(すなわち、試験片収容期間ΔPoc)の他、収容期間における開閉蓋1211の開閉状態に基づく試験片2の収容状況を判断基準に用いて、該試験片2の劣化状況を判別する。開閉蓋1211が開放されていると、閉鎖されている場合に比して、試験片収容部121の収容空間S1における気密性が低下する。従って、試験片収容期間ΔPocにおいて開閉蓋1211が開放されていた場合、該開閉蓋1211が閉鎖、遮蔽されていた場合に比べて、試験片2はより劣化し易く、その劣化度合いも大きいものとなることが想定される。そこで、この実施例では、判別部37が試験片2の劣化状況を判別する際、試験片収容期間ΔPocにおける開閉蓋1211の開閉状態に基づいて試験片2の劣化度合いについて重み付けを行う。   In the test piece quality confirmation control in the present embodiment, based on the open / close state of the open / close lid 1211 during the storage period in addition to the storage period of the test piece 2 stored in the test piece storage unit 121 (that is, the test piece storage period ΔPoc). Using the accommodation status of the test piece 2 as a criterion, the deterioration status of the test piece 2 is determined. When the opening / closing lid 1211 is opened, the airtightness in the accommodation space S1 of the test piece accommodation unit 121 is lowered as compared with the case where the opening / closing lid 1211 is closed. Therefore, when the open / close lid 1211 is opened during the test piece accommodation period ΔPoc, the test piece 2 is more easily deteriorated and the degree of deterioration is larger than when the open / close lid 1211 is closed and shielded. It is assumed that Therefore, in this embodiment, when the determination unit 37 determines the deterioration state of the test piece 2, the deterioration degree of the test piece 2 is weighted based on the open / close state of the open / close lid 1211 during the test piece accommodation period ΔPoc.

図9は、分析装置1のコンピュータにより実行される第3の試験片品質確認制御ルーチンを示すフローチャート図である。本制御ルーチンも、分析装置1の起動時に、メモリ16に格納されている品質確認プログラムがCPU15によって実行されることで実現される。本フローチャート図において、図6と同様の処理が行われるステップについては共通の符号を付すことで詳しい説明を省略する。   FIG. 9 is a flowchart showing a third test piece quality confirmation control routine executed by the computer of the analyzer 1. This control routine is also realized by the CPU 15 executing the quality confirmation program stored in the memory 16 when the analyzer 1 is started. In this flowchart, steps that are the same as those in FIG. 6 are denoted by common reference numerals, and detailed description thereof is omitted.

ステップS103の処理が終了すると、ステップS301の処理が実行される。ステップS301では、判別部37が開閉検知センサ1212の出力信号に基づいて開閉蓋1211の開閉状態を取得し、開閉蓋1211が開放状態であるか否かを判定する。本ステップにおいて開閉蓋1211が開放状態であると判定された場合にはステップS302に進み、そうでない場合には、ステップS303に進む。   When the process of step S103 ends, the process of step S301 is executed. In step S301, the determination unit 37 acquires the open / close state of the open / close lid 1211 based on the output signal of the open / close detection sensor 1212, and determines whether the open / close lid 1211 is open. If it is determined in this step that the open / close lid 1211 is in the open state, the process proceeds to step S302; otherwise, the process proceeds to step S303.

ステップS302において、判別部37は、試験片収容期間ΔPocが開放時許容曝露期間ΔPoca1を超えているか否かを判定する。試験片収容期間ΔPocが開放時許容曝露期間ΔPoca1を超えていると判定された場合、ステップS304に進み、図6のステップS105と同様、報知部38が報知器39を制御することにより、試験片2が劣化していることをユーザーに報知する。一方、試験片収容期間ΔPocが開放時許容曝露期間ΔPoca1以内である場合、本ステップの処理が終了すると本ルーチンを一旦終了し、分析用プログラムの実行に移行する。   In step S302, the determination unit 37 determines whether or not the test piece accommodation period ΔPoc exceeds the open-time allowable exposure period ΔPoca1. When it is determined that the test piece accommodation period ΔPoc exceeds the open-time allowable exposure period ΔPoca1, the process proceeds to step S304, and the notification unit 38 controls the alarm 39 similarly to step S105 in FIG. Inform the user that 2 has deteriorated. On the other hand, when the test piece accommodation period ΔPoc is within the open-time allowable exposure period ΔPoca1, when the process of this step is completed, the present routine is temporarily terminated, and the execution of the analysis program is started.

一方、ステップS303では、判別部37は、試験片収容期間ΔPocが閉鎖時許容曝露期間ΔPoca2を超えているか否かを判定する。試験片収容期間ΔPocが閉鎖時許容曝露期間ΔPoca2を超えていると判定された場合、ステップS304に進み、そうでない場合には本ルーチンを一旦終了し、分析用プログラムが実行される。   On the other hand, in step S303, the determination unit 37 determines whether or not the test piece accommodation period ΔPoc exceeds the closed allowable exposure period ΔPoca2. If it is determined that the test piece accommodation period ΔPoc exceeds the closing allowable exposure period ΔPoca2, the process proceeds to step S304. If not, this routine is temporarily terminated and the analysis program is executed.

ここで、開放時許容曝露期間ΔPoca1及び閉鎖時許容曝露期間ΔPoca2は共に、許容曝露期間ΔPocaと同様、試験片2に劣化が生じているか否かを判断するための試験片収容期間ΔPocに対して設定される判定基準値である。開放時許容曝露期間ΔPoca1は閉鎖時許容曝露期間ΔPoca2に比べて、相対的に短い期間に設定されている。従って、ステップS302においては、ステップS303に比べて肯定判定され易くなる。これは、試験片2の劣化状況の判別に際して、試験片2の劣化度合いについて開閉蓋1211の開閉状態に基づいて重み付けを行っていることに他ならない。そして、本制御においては、分析装置1の起動時(つまり、直近起動日時)において開閉蓋1211が開放されていた場合には、閉鎖されていた場合に比べて劣化度合いがより大きくなるように試験片2の劣化状況を判別するようにした。これにより、試験片収容部121の密閉度に応じて、より精度良く試験片2の劣化度合いを把握することが可能となる。   Here, both the allowable exposure period ΔPoca1 at the time of opening and the allowable exposure period ΔPoca2 at the time of closing are similar to the allowable exposure period ΔPoca with respect to the test piece accommodation period ΔPoc for determining whether or not the test piece 2 has deteriorated. This is the criterion value to be set. The allowable exposure period ΔPoca1 at the time of opening is set to a relatively short period compared to the allowable exposure period ΔPoca2 at the time of closing. Therefore, in step S302, it becomes easier to make an affirmative determination than in step S303. This is nothing other than weighting the degree of deterioration of the test piece 2 based on the open / closed state of the open / close lid 1211 when determining the deterioration state of the test piece 2. In this control, when the opening / closing lid 1211 is opened when the analyzer 1 is activated (that is, the most recent activation date and time), a test is performed so that the degree of deterioration is greater than when the analysis lid 1 is closed. The deterioration status of the piece 2 was determined. Thereby, according to the sealing degree of the test piece accommodating part 121, it becomes possible to grasp | ascertain the deterioration degree of the test piece 2 more accurately.

なお、ステップS304の処理が行われ、或いはステップS302やS304において否定判定がなされたことで本ルーチンを抜ける際に、分析装置1の起動時に開閉蓋1211が開いていた事実をユーザーに報知するようにしても良い。例えば、報知部38は、報知器39に『起動時に開閉蓋が開いていました』等のメッセージを音声、文字等により出力させても良い。   It should be noted that when the processing of step S304 is performed, or when the negative determination is made in steps S302 and S304 and the routine is exited, the fact that the opening / closing lid 1211 is opened when the analyzer 1 is started is notified to the user. Anyway. For example, the notification unit 38 may cause the notification device 39 to output a message such as “the opening / closing lid was open at the time of activation” by voice, text, or the like.

(変形例1)
次に、本実施例における第1の変形例について説明する。図10は、分析装置1のコンピュータにより実行される第4の試験片品質確認制御ルーチンを示すフローチャート図である。ここでは、図9と相違するステップの処理内容を中心に説明する。この変形例では、試験片収容期間ΔPocにおける開閉蓋1211の開閉状態を考慮して試験片2の劣化状況を判別する点で上記した実施例3に係る制御と同様であるが、更には開閉蓋1211が開放されている期間も考慮して試験片2の劣化状況を判別する。
(Modification 1)
Next, a first modification of the present embodiment will be described. FIG. 10 is a flowchart showing a fourth test piece quality confirmation control routine executed by the computer of the analyzer 1. Here, the processing contents of steps different from those in FIG. 9 will be mainly described. This modification is similar to the control according to the third embodiment described above in that the deterioration state of the test piece 2 is determined in consideration of the open / close state of the open / close lid 1211 during the test piece accommodation period ΔPoc. The deterioration state of the test piece 2 is determined in consideration of the period during which 1211 is open.

本ルーチンにおいて、ステップS103の処理が終了すると、ステップS401の処理が実行される。ステップS401では、判別部37は、試験片収容期間ΔPocにおける開閉蓋1211の開閉状態の履歴(以下、「開閉履歴」と称する)を取得する。なお、本変形例では、開閉検知センサ1212が一定時間ごとに検知した開閉蓋1211の開閉状態は、ハードディスクドライブ19又はメモリ16に逐次、記録されるようにしている。判別部37は、このように記録されているデータを読み出す事で、試験片収容期間ΔPocにおける開閉蓋1211の開閉履歴を取得、入手する事ができる。   In this routine, when the process of step S103 is completed, the process of step S401 is executed. In step S <b> 401, the determination unit 37 acquires a history of the open / close state of the open / close lid 1211 during the test piece accommodation period ΔPoc (hereinafter referred to as “open / close history”). In this modification, the opening / closing state of the opening / closing lid 1211 detected by the opening / closing detection sensor 1212 at regular intervals is sequentially recorded in the hard disk drive 19 or the memory 16. The determination unit 37 can acquire and obtain the opening / closing history of the opening / closing lid 1211 during the test piece accommodation period ΔPoc by reading the data recorded in this way.

ここで、試験片収容期間ΔPoc全体のうち、開閉蓋1211が開放状態にあるトータル期間(以下、「トータル開放収容期間」と称する)の割合を開放収容比率Rtoと定義する。ステップS402では、判別部37は、試験片収容期間ΔPocと、試験片収容期間ΔPocにおける開閉蓋1211の開閉履歴に基づいて、開放収容比率Rtoを算出する。   Here, the ratio of the total period in which the open / close lid 1211 is in the open state (hereinafter referred to as “total open storage period”) in the entire test piece storage period ΔPoc is defined as the open storage ratio Rto. In step S402, the determination unit 37 calculates the open accommodation ratio Rto based on the test piece accommodation period ΔPoc and the opening / closing history of the open / close lid 1211 in the test piece accommodation period ΔPoc.

ステップS403では、判別部37は、開放収容比率Rtoに基づいて可変許容曝露期間ΔPoca3を設定する。可変許容曝露期間ΔPoca3は、許容曝露期間ΔPocaと同様、試験片2に劣化が生じているか否かを判断するための試験片収容期間ΔPocに対して設定される判定基準値である。可変許容曝露期間ΔPoca3は開放収容比率Rtoに応じて可変設定される。例えば、開放収容比率Rtoが高いほど可変許容曝露期間ΔPoca3が短い期間として設定される。これは、開放収容比率Rtoが高いほど試験片2の劣化度合いが大きくなるからである。   In step S403, the determination unit 37 sets a variable allowable exposure period ΔPoca3 based on the open accommodation ratio Rto. The variable permissible exposure period ΔPoca3 is a determination reference value set for the test strip accommodation period ΔPoc for determining whether or not the test strip 2 is deteriorated, like the permissible exposure period ΔPoca. The variable allowable exposure period ΔPoca3 is variably set according to the open accommodation ratio Rto. For example, the variable allowable exposure period ΔPoca3 is set as a shorter period as the open accommodation ratio Rto is higher. This is because the degree of deterioration of the test piece 2 increases as the open accommodation ratio Rto increases.

ステップS404では、判別部37によって、試験片収容期間ΔPocが可変許容曝露期間ΔPoca3を超えているか否かが判定される。ここで、試験片収容期間ΔPocが可変許容曝露期間ΔPoca3を超えていると判定された場合、ステップS405に進む。一方、ステップS404において、試験片収容期間ΔPocが可変許容曝露期間ΔPoca3以内であると判定された場合には本ルーチンを一旦終了し、前述の分析用プログラムが実行される。ステップS405においては、報知部38によって報知器39が制御され、試験片2が劣化していることがユーザーに報知される。その後、本ルーチンを一旦終了し、同じく分析用プログラムが実行される。   In step S404, the determination unit 37 determines whether or not the test piece accommodation period ΔPoc exceeds the variable allowable exposure period ΔPoca3. Here, when it is determined that the test piece accommodation period ΔPoc exceeds the variable allowable exposure period ΔPoca3, the process proceeds to step S405. On the other hand, if it is determined in step S404 that the test strip accommodation period ΔPoc is within the variable permissible exposure period ΔPoca3, this routine is temporarily terminated and the above-described analysis program is executed. In step S405, the notification unit 38 controls the notification device 39 to notify the user that the test piece 2 has deteriorated. Thereafter, this routine is temporarily terminated, and the analysis program is also executed.

以上のように本変形例に係る制御によれば、試験片収容期間ΔPocにおいて開閉蓋1211が開放状態にあたる期間の長さを判断基準として、試験片2の劣化状況を判別することができる。なお、開放収容比率Rtoに代えて、トータル開放収容期間の長さに応じて試験片2の劣化状況を判別しても良い。また、上記の例では、試験片収容期間ΔPoc及び開閉蓋1211の開閉状態の2つのファクターに基づいて試験片2の劣化状況を判別しているが、分析装置1の起動時に試験片収容部121における試験片2の残留が検出された場合、開閉蓋1211の開閉状態のみに基づいて試験片2が劣化しているか否かの判別を行っても構わない。例えば、分析装置1の起動時に試験片2が試験片収容部121に残留していることを検出した場合、判別部37は試験片収容期間ΔPocの長短に関わらず、開放収容比率Rtoが規定比率を超えた場合に試験片2が劣化していると判別しても良く、更に、報知部38がその旨をユーザーに報知しても良い。その際、開放収容比率Rtoが高い場合ほど、試験片2の劣化度合いが高いと判別されても良い。   As described above, according to the control according to the present modification, it is possible to determine the deterioration state of the test piece 2 based on the length of the period in which the open / close lid 1211 is in the open state in the test piece accommodation period ΔPoc. Note that the deterioration state of the test piece 2 may be determined according to the length of the total open storage period instead of the open storage ratio Rto. In the above example, the deterioration state of the test piece 2 is determined based on the two factors of the test piece accommodation period ΔPoc and the open / close state of the open / close lid 1211. However, when the analyzer 1 is started, the test piece accommodation unit 121 is activated. When the remaining test piece 2 is detected, it may be determined whether or not the test piece 2 has deteriorated based only on the open / close state of the open / close lid 1211. For example, when it is detected that the test piece 2 remains in the test piece storage unit 121 when the analyzer 1 is activated, the determination unit 37 determines that the open storage ratio Rto is the specified ratio regardless of the length of the test piece storage period ΔPoc. If it exceeds, it may be determined that the test piece 2 has deteriorated, and the notification unit 38 may notify the user to that effect. At that time, it may be determined that the degree of deterioration of the test piece 2 is higher as the open accommodation ratio Rto is higher.

(変形例2)
次に、第2の変形例について説明する。ここで実施例1に説明した試験片収容期間ΔPoc(実施例2においては第2の試験片収容期間ΔPoc2に対応する)は、直近稼動停止日時〜直近起動日時に至るまでの経過期間として定義されている。直近稼動停止日時において試験片2が試験片収容部121内に残留していた場合、ユーザーがその試験片2をボトルユニット4に移し換えるのであれば、試験片2を試験片収容部121から取り出すために試験片収容期間ΔPocに一度は開閉蓋1211が開放されることが想定される。
(Modification 2)
Next, a second modification will be described. Here, the test piece accommodation period ΔPoc described in the first embodiment (corresponding to the second test piece accommodation period ΔPoc2 in the second embodiment) is defined as an elapsed period from the latest operation stop date / time to the latest start date / time. ing. If the test piece 2 remains in the test piece storage unit 121 at the latest operation stop date and time, the user removes the test piece 2 from the test piece storage unit 121 if the user transfers the test piece 2 to the bottle unit 4. Therefore, it is assumed that the opening / closing lid 1211 is opened once in the test piece accommodation period ΔPoc.

そして、直近起動日時に試験片2が試験片収容部121に残留している場合、次の二つのパターンが想定できる。すなわち、第一のパターンは、直近稼動停止日時において余っていた試験片2が、次回の起動時まで試験片収容部121にそのままの状態で放置されるパターンである。第二のパターンは、直近稼動停止日時において余った試験片2が試験片収容期間ΔPocの何れかのタイミングで回収され、それと同時又はその後にボトルユニット4に保管されていた新たな試験片が試験片収容部121に投入された場合である。第二のパターンでは、分析装置1試験片2の直近稼動停止日時〜直近起動日時までの経過期間が許容曝露期間ΔPocaを超えたとしても、試験片2の実際の収容期間が許容曝露期間ΔPocaを超えていない可能性もある。   And when the test piece 2 remains in the test piece accommodating part 121 at the latest starting date and time, the following two patterns can be assumed. That is, the first pattern is a pattern in which the test piece 2 remaining at the latest operation stop date and time is left as it is in the test piece container 121 until the next activation. In the second pattern, the remaining test piece 2 at the latest operation stop date and time is collected at any timing of the test piece accommodation period ΔPoc, and a new test piece stored in the bottle unit 4 at the same time or after that is tested. This is a case where it is put into the piece housing part 121. In the second pattern, even if the elapsed period from the most recent operation stop date / time to the most recent activation date / time of the analyzer 1 test piece 2 exceeds the allowable exposure period ΔPoca, the actual accommodation period of the test piece 2 is equal to the allowable exposure period ΔPoca. It may not be exceeded.

そこで、本変形例では、直近起動日時に試験片収容部121における試験片2の残留が検出された場合、図10のステップS103、S401と同様の処理を行う事で、判別部37は、試験片収容期間ΔPocにおける開閉蓋1211の開閉履歴を取得する。そして、判別部37は、この開閉蓋1211の開閉履歴に基づいて、上述した第一パターンと第二パターンとの区別を行い、試験片2の劣化状況を判別するようにした。具体的には、試験片収容期間ΔPocのうち、開閉蓋1211が一旦開放されてから、再び閉鎖されるまでの期間(以下、「個別開放収容期間」と称す)ΔIvが算出される。ここで、試験片収容期間ΔPocにおいて個別開放収容期間ΔIvが存在しない場合に第一パターンであると判断し、個別開放収容期間ΔIvが存在する場合に第二パターンであると判断しても良い。そして、本変形例では、第二パターンである場合には、第一パターンである場合に比べて、試験片2の劣化度合いが小さくなるように重み付けを行い、該試験片2の劣化状況を判別しても良い。例えば、第一パターンの場合には図9のステップS302の処理を行い、第二パターンの場合には図9のステップS303の処理を行っても良い。   Therefore, in this modification, when the remaining of the test piece 2 in the test piece storage unit 121 is detected at the most recent activation date and time, the determination unit 37 performs the same process as steps S103 and S401 in FIG. The opening / closing history of the opening / closing lid 1211 during the one-side accommodation period ΔPoc is acquired. And the discrimination | determination part 37 discriminate | determined the deterioration condition of the test piece 2 by distinguishing between the 1st pattern mentioned above and the 2nd pattern based on the opening / closing log | history of this opening / closing lid | cover 1211. Specifically, of the test piece accommodation period ΔPoc, a period (hereinafter referred to as “individual open accommodation period”) ΔIv from when the open / close lid 1211 is once opened until it is closed again is calculated. Here, in the test piece accommodation period ΔPoc, the first pattern may be determined when the individual open accommodation period ΔIv does not exist, and may be determined as the second pattern when the individual open accommodation period ΔIv exists. In this modification, the second pattern is weighted so that the degree of deterioration of the test piece 2 is smaller than that of the first pattern, and the deterioration state of the test piece 2 is determined. You may do it. For example, in the case of the first pattern, the process of step S302 in FIG. 9 may be performed, and in the case of the second pattern, the process of step S303 in FIG. 9 may be performed.

また、更なる変形例としては、試験片収容期間ΔPocに個別開放収容期間ΔIvが存在する場合、その個別開放収容期間ΔIvが所定の閾値ΔIvs以下であるかどうかを判定しても良い。ここで、分析装置1の稼動が停止された時点で余った試験片2をユーザーが試験片収容部121から回収し、新たな試験片を投入するのに要する時間(すなわち試験片の入れ替えに要する時間)として見なす事のできる最長の期間として閾値ΔIvsを設定しておく。そして、個別開放収容期間ΔIvが閾値ΔIvs以内である場合にのみ第二パターンであると判断しても良い。因みに、個別開放収容期間ΔIvが閾値ΔIvsを超える場合には、試験片2の入れ替えが行われたという確度が低いため、試験片2の劣化度合いに関する重み付けを禁止しても良く、或いは、上記した第一パターンと同様に取り扱うようにしても良い。   As a further modification, when the individual open accommodation period ΔIv exists in the test piece accommodation period ΔPoc, it may be determined whether the individual open accommodation period ΔIv is equal to or less than a predetermined threshold value ΔIvs. Here, the time required for the user to collect the surplus test piece 2 from the test piece storage unit 121 at the time when the operation of the analyzer 1 is stopped and to insert a new test piece (that is, required to replace the test piece). The threshold ΔIvs is set as the longest period that can be regarded as (time). Then, the second pattern may be determined only when the individual open accommodation period ΔIv is within the threshold value ΔIvs. Incidentally, when the individual open accommodation period ΔIv exceeds the threshold value ΔIvs, since the accuracy of the replacement of the test piece 2 is low, weighting regarding the degree of deterioration of the test piece 2 may be prohibited, or as described above. You may make it handle similarly to a 1st pattern.

<実施例4>
次に、本実施の形態における第4の実施例について説明する。図11は、実施例4における試験片収容部121の概略構成図である。試験片収容部121には、その収容空間S1の湿度および温度(以下、これらをあわせて「温湿度」と総称する)を測定する温湿度検出センサ1213が設置されている。温湿度検出センサ1213は温度センサ1213A、湿度センサ1213Bを有する。温度センサ1213Aは、例えば白金測温抵抗体によって構成することができる。この白金測温抵抗体は周知のため詳しい説明を省略するが、金属の電気抵抗が温度変化に対して変化する性質を利用した測温抵抗体の1種であり、温度特性が良好で経時変化が少ない白金(Pt)を測温素子に用いたセンサである。但し、温度センサ1213Aはこれに限定されるものではなく、例えば熱電対式やその他の方式を採用した温度センサであっても良い。また、湿度センサ1213Bとしては、例えば静電容量式のものを利用しても良い。本実施例においては温湿度検出センサ1213が、本発明における曝露環境検出手段に対応する。なお、この実施例では、ユーザーが電源スイッチをオフにした後においても、図示しないバッテリに蓄えられている電力によって温湿度検出センサ1213への電力供給を継続して行うことができる。そして、この電力供給を受けて、温湿度検出センサ1213は試験片収容期間ΔPocにおいても一定時間ごとに収容空間S1の温湿度の測定を行う。その他のハード構成については、実施例1において説明した分析装置と同様である。
<Example 4>
Next, a fourth example of the present embodiment will be described. FIG. 11 is a schematic configuration diagram of the test piece storage unit 121 according to the fourth embodiment. The test specimen storage unit 121 is provided with a temperature / humidity detection sensor 1213 for measuring the humidity and temperature of the storage space S1 (hereinafter collectively referred to as “temperature / humidity”). The temperature / humidity detection sensor 1213 includes a temperature sensor 1213A and a humidity sensor 1213B. The temperature sensor 1213A can be composed of, for example, a platinum resistance thermometer. This platinum resistance thermometer is well known and will not be described in detail. However, it is a type of resistance thermometer that utilizes the property that the electrical resistance of metal changes with temperature. It has good temperature characteristics and changes over time. This is a sensor using platinum (Pt) with a small amount as a temperature measuring element. However, the temperature sensor 1213A is not limited to this, and may be, for example, a temperature sensor employing a thermocouple type or other methods. Further, as the humidity sensor 1213B, for example, a capacitance type sensor may be used. In this embodiment, the temperature / humidity detection sensor 1213 corresponds to the exposure environment detection means in the present invention. In this embodiment, even after the user turns off the power switch, the power supply to the temperature / humidity detection sensor 1213 can be continuously performed by the power stored in the battery (not shown). Upon receiving this power supply, the temperature / humidity detection sensor 1213 measures the temperature / humidity of the accommodation space S1 at regular intervals even during the test piece accommodation period ΔPoc. Other hardware configurations are the same as those of the analyzer described in the first embodiment.

ここで、試験片収容期間ΔPocに試験片収容部121内の試験片2が晒される曝露環境は、試験片2の劣化度合いに影響を及ぼす。そこで、本実施例では、温湿度検出センサ1213による検出結果に応じて許容曝露期間を可変設定する。なお、温湿度検出センサ1213の測定結果は、温度履歴データ及び湿度履歴データとしてハードディスクドライブ19に逐次、記憶されるようになっている。   Here, the exposure environment in which the test piece 2 in the test piece storage unit 121 is exposed to the test piece storage period ΔPoc affects the degree of deterioration of the test piece 2. Therefore, in this embodiment, the allowable exposure period is variably set according to the detection result by the temperature / humidity detection sensor 1213. The measurement results of the temperature / humidity detection sensor 1213 are sequentially stored in the hard disk drive 19 as temperature history data and humidity history data.

図6に示した制御フローを参照して説明すると、同図のステップS103において、試験片収容期間ΔPocが算出されることに加え、上記の各履歴データに基づいて許容曝露期間ΔPocaが設定される。すなわち、判別部37は、ハードディスクドライブ19から直近稼動停止日時〜直近起動日時(試験片収容期間ΔPoc)に対応する温度履歴データ及び湿度履歴データを読み出し、当該期間における試験片収容部121の平均温度、平均湿度を算出する。   Referring to the control flow shown in FIG. 6, in step S103 in FIG. 6, in addition to calculating the test piece accommodation period ΔPoc, the allowable exposure period ΔPoca is set based on each history data described above. . That is, the determination unit 37 reads temperature history data and humidity history data corresponding to the most recent operation stop date / time to the most recent start date / time (test piece accommodation period ΔPoc) from the hard disk drive 19, and the average temperature of the test piece accommodation unit 121 during the period Calculate the average humidity.

試験片2は高温、多湿な環境下に晒されるほどその劣化度合いが顕著となる。そこで、試験片収容部121の湿度環境が同等であれば、試験片収容期間ΔPocにおける平均温度が高いほど許容曝露期間ΔPocaがより短い期間として設定される。また、試験片収容部121の温度環境が同等であれば、試験片収容期間ΔPocにおける平均湿度が高いほど許容曝露期間ΔPocaの設定値がより短い期間として設定される。このようにすれば、試験片2の晒される曝露環境の差異に応じて試験片2の劣化状況を的確に判別し、その品質をより精度良く確認することができる。   As the test piece 2 is exposed to a high temperature and high humidity environment, the degree of deterioration becomes more prominent. Therefore, if the humidity environment of the test strip container 121 is the same, the higher the average temperature in the test strip storage period ΔPoc, the shorter the allowable exposure period ΔPoca is set. Moreover, if the temperature environment of the test piece accommodating part 121 is equivalent, the set value of the allowable exposure period ΔPoca is set to be shorter as the average humidity in the test piece accommodating period ΔPoc is higher. In this way, it is possible to accurately determine the deterioration state of the test piece 2 in accordance with the difference in the exposure environment to which the test piece 2 is exposed, and to check the quality with higher accuracy.

なお、本実施例における分析装置1は、温度センサ1213A及び湿度センサ1213Bを備えているが、温度センサ1213A及び湿度センサ1213Bの何れか一方のみを備えるようにしても良い。例えば、温度センサ1213Aのみを備える場合、試験片収容期間ΔPocにおける試験片収容部121の平均温度が高いほど許容曝露期間ΔPocaをより短い期間として設定しても良い。また、分析装置1が湿度センサ1213Bのみを備える場合、試験片収容期間ΔPocにおける試験片収容部121の平均湿度が高いほど、許容曝露期間ΔPocaをより短い期間として設定しても良い。   In addition, although the analyzer 1 in a present Example is provided with the temperature sensor 1213A and the humidity sensor 1213B, you may make it provide only one of the temperature sensor 1213A and the humidity sensor 1213B. For example, when only the temperature sensor 1213A is provided, the allowable exposure period ΔPoca may be set as a shorter period as the average temperature of the test piece container 121 in the test piece accommodation period ΔPoc is higher. Further, when the analysis apparatus 1 includes only the humidity sensor 1213B, the allowable exposure period ΔPoca may be set as a shorter period as the average humidity of the test piece container 121 in the test piece accommodation period ΔPoc is higher.

また、試験片収容期間ΔPocに試験片2が晒される曝露環境に応じて許容曝露期間ΔPocaを可変設定する代わりに、或いは併用して、判別部37は、試験片2の劣化度合いの重み付けを、上記曝露環境に応じて実施しても良い。例えば、判別部37は、試験片収容部121の湿度環境が同等であれば、試験片収容期間ΔPocにおける平均温度が高いほど、試験片2の劣化度合いをより高く判断しても良い。同様に、判別部37は、試験片収容部121の温度環境が同等であれば、試験片収容期間ΔPocにおける平均湿度が高いほど、試験片2の劣化度合いをより高く判断しても良い。これによっても、試験片2が晒される曝露環境に応じて試験片2の劣化状況を的確に判別し、その品質をより精度良く確認することができる。なお、本実施例では、試験片2が晒される曝露環境を反映する代表値として試験片収容部121の温度(湿度)の平均値を用いているが、これに限られるものではなく、例えば温度(湿度)の最大値や中央値などを採用しても良い。   Further, instead of variably setting the allowable exposure period ΔPoca according to the exposure environment to which the test piece 2 is exposed to the test piece accommodation period ΔPoc, or in combination, the determination unit 37 weights the deterioration degree of the test piece 2, You may implement according to the said exposure environment. For example, the determination unit 37 may determine the degree of deterioration of the test piece 2 higher as the average temperature in the test piece accommodation period ΔPoc is higher as long as the humidity environment of the test piece accommodation unit 121 is the same. Similarly, the determination unit 37 may determine the degree of deterioration of the test piece 2 higher as the average humidity in the test piece accommodation period ΔPoc is higher as long as the temperature environment of the test piece accommodation unit 121 is the same. This also makes it possible to accurately determine the deterioration state of the test piece 2 in accordance with the exposure environment to which the test piece 2 is exposed, and to confirm the quality with higher accuracy. In the present embodiment, the average value of the temperature (humidity) of the test specimen container 121 is used as a representative value reflecting the exposure environment to which the test specimen 2 is exposed. However, the present invention is not limited to this. A maximum value or median value of (humidity) may be adopted.

以上、本発明の実施形態を説明したが、本発明に係る分析装置、品質確認装置、品質確認装方法、品質確認プログラム等はこれらに限らず、可能な限りこれらの組合せを含むことができる。また、以上述べた実施の形態は本発明を説明するための一例であって、本発明の本旨を逸脱しない範囲内において上記の実施形態には種々の変更を加え得る。   Although the embodiments of the present invention have been described above, the analysis apparatus, the quality confirmation apparatus, the quality confirmation apparatus method, the quality confirmation program, and the like according to the present invention are not limited to these, and can include combinations thereof as much as possible. The above-described embodiment is an example for explaining the present invention, and various modifications can be made to the above-described embodiment without departing from the spirit of the present invention.

1・・・分析装置
2・・・試験片
11・・・装置本体部
12・・・試験片供給部
14・・・試料点着装置
15・・・CPU
16・・・メモリ
17・・・測光装置
21・・・基材
22・・・試薬パッド
31・・・試験片供給制御部
32・・・点着装置制御部
33・・・測光装置制御部
34・・・測定部
35・・・残留状態判定部
36・・・期間算出部
37・・・判別部
38・・・報知部
121・・・試験片収容部
122・・・回転ドラム
141・・・ノズル
1211・・・開閉蓋
1212・・・開閉検知センサ
1213・・・温湿度検出センサ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Analytical apparatus 2 ... Test piece 11 ... Apparatus main-body part 12 ... Test piece supply part 14 ... Sample spotting apparatus 15 ... CPU
DESCRIPTION OF SYMBOLS 16 ... Memory 17 ... Photometry apparatus 21 ... Base material 22 ... Reagent pad 31 ... Test piece supply control part 32 ... Spotting apparatus control part 33 ... Photometry apparatus control part 34 ... Measurement unit 35 ... Residual state determination unit 36 ... Period calculation unit 37 ... Determination unit 38 ... Notification unit 121 ... Test piece storage unit 122 ... Rotating drum 141 ... Nozzle 1211 ... Open / close lid 1212 ... Open / close detection sensor 1213 ... Temperature / humidity detection sensor

Claims (14)

分析用試験片を用いて試料を分析する分析装置であって、
前記分析用試験片を収容するための試験片収容部と、
前記試験片収容部における前記分析用試験片の収容期間を判断基準に用いて該分析用試験片の劣化状況を判別する劣化判別手段と、
前記劣化判別手段が判別した前記分析用試験片の劣化状況をユーザーに報知する報知手段と、
を備え、
前記劣化判別手段は、
前記試験片収容部に前記分析用試験片が残留しているか否かを判定する残留状態判定部と、
前記残留状態判定部によって前記分析用試験片が前記試験片収容部に残留していると判定された場合、該分析用試験片の収容期間を算出する期間算出部と、
前記期間算出部により算出された収容期間に基づいて、前記分析用試験片の劣化状況を判別する判別部と、
を有する
分析装置。
An analyzer for analyzing a sample using an analytical test piece,
A test piece container for accommodating the test specimen for analysis;
Degradation determining means for determining the degradation status of the analytical test piece using the period of accommodation of the analytical test specimen in the test specimen accommodating section as a criterion.
Informing means for informing the user of the deterioration status of the test specimen for analysis determined by the deterioration determining means;
Bei to give a,
The deterioration determining means includes
A residual state determination unit for determining whether or not the analysis test piece remains in the test piece container;
When it is determined by the residual state determination unit that the analysis test piece remains in the test piece storage unit, a period calculation unit that calculates a storage period of the analysis test piece;
Based on the storage period calculated by the period calculation unit, a determination unit for determining the degradation status of the test specimen for analysis,
An analyzer.
前記劣化判別手段は、前記分析用試験片の収容期間が許容曝露期間を超えているかどうかに基づいて該分析用試験片の劣化状況を判別する、
請求項1に記載の分析装置。
The deterioration determining means determines the deterioration state of the analysis test piece based on whether the storage period of the analysis test piece exceeds an allowable exposure period,
The analyzer according to claim 1.
前記期間算出部は、前記残留状態判定部による前記試験片収容部が空になったとの判定が直近になされた時から装置起動時までの経過期間である第1収容期間と、直近における装置稼動停止時から装置起動時までの経過期間である第2収容期間と、をそれぞれ算出し、
前記判別部は、前記第1収容期間と前記第2収容期間の少なくとも一方に基づいて、前記分析用試験片の劣化状況を判別する、
請求項1又は2に記載の分析装置。
The period calculation unit includes a first storage period that is an elapsed period from the time when the test piece storage unit is empty by the residual state determination unit to the time when the apparatus is started, and the apparatus operation in the latest period. A second accommodation period, which is an elapsed period from the stop to the start of the device, is calculated,
The determination unit determines a deterioration state of the analysis test piece based on at least one of the first storage period and the second storage period.
The analyzer according to claim 1 or 2 .
前記判別部は、
前記第1収容期間が許容曝露期間以内である場合に前記分析用試験片が正常であると判別し、
前記第1収容期間および前記第2収容期間のうち第1収容期間のみが該許容曝露期間を超えている場合に該分析用試験片が第1劣化状態であると判別し、
前記第1収容期間及び前記第2収容期間の双方が該許容曝露期間を超えている場合に該分析用試験片が第2劣化状態であると判別し、
前記第2劣化状態は前記第1劣化状態に比べて劣化度合いが大きいと判別される、
請求項に記載の分析装置。
The discrimination unit
Determining that the test specimen for analysis is normal when the first containment period is within an allowable exposure period;
When only the first accommodation period of the first accommodation period and the second accommodation period exceeds the allowable exposure period, it is determined that the test specimen for analysis is in the first deterioration state,
When both the first storage period and the second storage period exceed the allowable exposure period, it is determined that the test specimen for analysis is in the second deterioration state,
It is determined that the second deterioration state has a higher degree of deterioration than the first deterioration state.
The analyzer according to claim 3 .
前記試験片収容部に設けられて且つ前記分析用試験片の収容空間を外部空間から画定するための開閉蓋と、
前記開閉蓋の開閉状態を検知する開閉状態検知手段と、
を更に備え、
前記劣化判別手段は、前記開閉状態検知手段によって検知される前記開閉蓋の開閉状態に基づいた前記分析用試験片の収容状況も判断基準に用いて該分析用試験片の劣化状況を判別する、
請求項1からの何れか1項に記載の分析装置。
An open / close lid provided in the test piece container and for defining a storage space for the analysis test piece from an external space;
An open / close state detection means for detecting an open / close state of the open / close lid;
Further comprising
The deterioration determining means determines the deterioration state of the analytical test piece using the analysis state of the analytical test piece based on the open / closed state of the open / close lid detected by the open / closed state detecting means as a criterion.
The analyzer according to any one of claims 1 to 4 .
前記劣化判別手段は、前記分析用試験片の劣化状況を判別する際、前記収容期間における前記開閉蓋の開閉状態に基づいて該分析用試験片の劣化度合いについて重み付けを行う、
請求項に記載の分析装置。
The deterioration determining means weights the deterioration degree of the analytical test piece based on the open / closed state of the open / close lid during the accommodation period when determining the deterioration state of the analytical test piece.
The analyzer according to claim 5 .
前記試験片収容部における湿度及び温度の少なくとも一方を測定する曝露環境測定手段を更に備え、
前記劣化判別手段は、前記分析用試験片の収容期間が許容曝露期間を超えているかどうかに基づいて該分析用試験片の劣化状況を判別し、
前記許容曝露期間は、前記曝露環境測定手段による測定結果に応じて可変設定される、
請求項1からの何れか1項に記載の分析装置。
Further comprising an exposure environment measuring means for measuring at least one of humidity and temperature in the test piece container,
The deterioration determining means determines the deterioration state of the analytical test piece based on whether the storage period of the analytical test piece exceeds an allowable exposure period,
The allowable exposure period is variably set according to the measurement result by the exposure environment measurement means.
The analyzer according to any one of claims 1 to 6 .
分析用試験片を用いて試料を分析する分析装置の試験片収容部に収容されている該分析用試験片の品質を確認するための品質確認装置であって、
前記試験片収容部における前記分析用試験片の収容期間を判断基準に用いて該分析用試験片の劣化状況を判別する劣化判別手段と、
前記劣化判別手段が判別した分析用試験片の劣化状況をユーザーに報知する報知手段と、
を備え
前記劣化判別手段は、
前記試験片収容部に前記分析用試験片が残留しているか否かを判定する残留状態判定部と、
前記残留状態判定部によって前記分析用試験片が前記試験片収容部に残留していると判定された場合、該分析用試験片の収容期間を算出する期間算出部と、
前記期間算出部により算出された収容期間に基づいて、前記分析用試験片の劣化状況を判別する判別部と、
を有する
品質確認装置。
A quality confirmation apparatus for confirming the quality of the test specimen for analysis accommodated in the test specimen container of the analyzer for analyzing a sample using the test specimen for analysis,
Degradation determining means for determining the degradation status of the analytical test piece using the period of accommodation of the analytical test specimen in the test specimen accommodating section as a criterion.
Informing means for informing the user of the deterioration status of the test specimen for analysis determined by the deterioration determining means;
Equipped with a,
The deterioration determining means includes
A residual state determination unit for determining whether or not the analysis test piece remains in the test piece container;
When it is determined by the residual state determination unit that the analysis test piece remains in the test piece storage unit, a period calculation unit that calculates a storage period of the analysis test piece;
Based on the storage period calculated by the period calculation unit, a determination unit for determining the degradation status of the test specimen for analysis,
Having a quality confirmation device.
前記劣化判別手段は、前記分析用試験片の収容期間が許容曝露期間を超えているかどうかに基づいて該分析用試験片の劣化状況を判別する、
請求項に記載の品質確認装置。
The deterioration determining means determines the deterioration state of the analysis test piece based on whether the storage period of the analysis test piece exceeds an allowable exposure period,
The quality confirmation apparatus according to claim 8 .
前記期間算出部は、前記残留状態判定部による前記試験片収容部が空になったとの判定が直近になされた時から分析装置起動時までの経過期間である第1収容期間と、直近における分析装置稼動停止時から分析装置起動時までの経過期間である第2収容期間と、をそれぞれ算出し、
前記判別部は、前記第1収容期間と前記第2収容期間の少なくとも一方に基づいて、前記分析用試験片の劣化状況を判別する、
請求項8又は9に記載の品質確認装置。
The period calculation unit includes a first storage period that is an elapsed period from the time when the determination that the test piece storage unit has been emptied by the residual state determination unit to the time when the analyzer is started, and the latest analysis. A second accommodation period, which is an elapsed period from when the apparatus is stopped to when the analyzer is started,
The determination unit determines a deterioration state of the analysis test piece based on at least one of the first storage period and the second storage period.
The quality confirmation apparatus of Claim 8 or 9 .
前記判別部は、
前記第1収容期間が許容曝露期間以内である場合に前記分析用試験片が正常であると判別し、
前記第1収容期間及び前記第2収容期間のうち第1収容期間のみが該許容曝露期間を超えている場合に該分析用試験片が第1劣化状態であると判別し、
前記第1収容期間及び前記第2収容期間の双方が該許容曝露期間を超えている場合に該分析用試験片が第2劣化状態であると判別し、
前記第2劣化状態は前記第1劣化状態に比べて劣化度合いが大きいと判別される、
請求項10に記載の品質確認装置。
The discrimination unit
Determining that the test specimen for analysis is normal when the first containment period is within an allowable exposure period;
When only the first accommodation period of the first accommodation period and the second accommodation period exceeds the allowable exposure period, it is determined that the test specimen for analysis is in the first deterioration state,
When both the first storage period and the second storage period exceed the allowable exposure period, it is determined that the test specimen for analysis is in the second deterioration state,
It is determined that the second deterioration state has a higher degree of deterioration than the first deterioration state.
The quality confirmation apparatus of Claim 10 .
分析用試験片を用いて試料を分析する分析装置の試験片収容部に収容されている該分析用試験片の品質を確認するための品質確認方法であって、
前記分析装置のコンピュータが、
前記試験片収容部に前記分析用試験片が残留しているか否かを判定する残留状態判定ステップと、
前記残留状態判定ステップにおいて前記分析用試験片が前記試験片収容部に残留していることが検知された場合、該分析用試験片の収容期間を算出する期間算出ステップと、
前記期間算出ステップにおいて算出された収容期間に基づいて、前記分析用試験片の劣化状況を判別する判別ステップと、
前記判別ステップにおいて判別した前記分析用試験片の劣化状況をユーザーに報知する報知ステップと、
を実行する品質確認方法。
A quality confirmation method for confirming the quality of the test specimen for analysis accommodated in the test specimen container of the analyzer for analyzing the sample using the test specimen for analysis,
A computer of the analyzer;
A residual state determination step for determining whether or not the analytical test piece remains in the test piece container;
If it is detected in the residual state determination step that the analysis test piece remains in the test piece storage unit, a period calculation step for calculating a storage period of the analysis test piece;
A determination step of determining a deterioration status of the test specimen for analysis based on the storage period calculated in the period calculation step;
An informing step for informing the user of the deterioration status of the analytical test piece determined in the determining step;
Perform the quality confirmation method.
分析用試験片を用いて試料を分析する分析装置の試験片収容部に収容されている該分析用試験片の品質を確認するための品質確認プログラムであって、
前記分析装置のコンピュータに、
前記試験片収容部に前記分析用試験片が残留しているか否かを判定する残留状態判定ステップと、
前記残留状態判定ステップにおいて前記分析用試験片が前記試験片収容部に残留していると判定された場合、該分析用試験片の収容期間を算出する期間算出ステップと、
前記期間算出ステップにおいて算出された収容期間に基づいて、前記分析用試験片の劣化状況を判別する判別ステップと、
前記判別ステップにおいて判別した前記分析用試験片の劣化状況をユーザーに報知する報知ステップと、
を実行させる品質確認プログラム。
A quality confirmation program for confirming the quality of the test specimen for analysis contained in the test specimen container of the analyzer for analyzing the sample using the test specimen for analysis,
In the computer of the analyzer,
A residual state determination step for determining whether or not the analytical test piece remains in the test piece container;
If it is determined in the residual state determination step that the analysis test piece remains in the test piece storage unit, a period calculation step for calculating a storage period of the analysis test piece;
A determination step of determining a deterioration status of the test specimen for analysis based on the storage period calculated in the period calculation step;
An informing step for informing the user of the deterioration status of the analytical test piece determined in the determining step;
A quality confirmation program that runs
分析用試験片を用いて試料を分析する分析装置の試験片収容部に収容されている該分析用試験片の品質を確認するための品質確認プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体であって、
前記分析装置のコンピュータに、
前記試験片収容部に前記分析用試験片が残留しているか否かを判定する残留状態判定
ステップと、
前記残留状態判定ステップにおいて前記分析用試験片が前記試験片収容部に残留していると判定された場合、該分析用試験片の収容期間を算出する期間算出ステップと、
前記期間算出ステップにおいて算出された収容期間に基づいて、前記分析用試験片の劣化状況を判別する判別ステップと、
前記判別ステップにおいて判別した前記分析用試験片の劣化状況をユーザーに報知する報知ステップと、
を実行させる品質確認プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
A computer-readable recording medium having recorded thereon a quality confirmation program for confirming the quality of an analytical test piece accommodated in a test piece accommodating portion of an analyzer for analyzing a sample using the analytical test piece. ,
In the computer of the analyzer,
A residual state determination step for determining whether or not the analytical test piece remains in the test piece container;
If it is determined in the residual state determination step that the analysis test piece remains in the test piece storage unit, a period calculation step for calculating a storage period of the analysis test piece;
A determination step of determining a deterioration status of the test specimen for analysis based on the storage period calculated in the period calculation step;
An informing step for informing the user of the deterioration status of the analytical test piece determined in the determining step;
The computer-readable recording medium which recorded the quality confirmation program which performs this.
JP2012508301A 2010-03-30 2011-03-28 Analysis device, quality confirmation device, and quality confirmation method Active JP5785933B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012508301A JP5785933B2 (en) 2010-03-30 2011-03-28 Analysis device, quality confirmation device, and quality confirmation method

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010078592 2010-03-30
JP2010078592 2010-03-30
JP2012508301A JP5785933B2 (en) 2010-03-30 2011-03-28 Analysis device, quality confirmation device, and quality confirmation method
PCT/JP2011/057593 WO2011122541A1 (en) 2010-03-30 2011-03-28 Analysis apparatus, quality verification apparatus, and quality verification method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2011122541A1 JPWO2011122541A1 (en) 2013-07-08
JP5785933B2 true JP5785933B2 (en) 2015-09-30

Family

ID=44712237

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012508301A Active JP5785933B2 (en) 2010-03-30 2011-03-28 Analysis device, quality confirmation device, and quality confirmation method

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP5785933B2 (en)
WO (1) WO2011122541A1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP4336188A1 (en) * 2022-09-12 2024-03-13 ARKRAY, Inc. Analysis device

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109154594B (en) * 2016-05-11 2020-12-04 豪夫迈·罗氏有限公司 Medical analyte testing system and method of operation thereof

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04115160A (en) * 1990-09-05 1992-04-16 Kyoto Daiichi Kagaku:Kk Automatic analyzer for specimen
JPH06130067A (en) * 1992-10-19 1994-05-13 Hitachi Ltd Automatic liquid specimen analyzer
JPH07287020A (en) * 1994-04-15 1995-10-31 Fuji Photo Film Co Ltd Dry analytical film housing device
JPH11271315A (en) * 1998-03-25 1999-10-08 Hitachi Ltd Automatic urine analyzing device
JP2000310643A (en) * 1999-04-27 2000-11-07 Toshiba Corp Automatic analysis device
JP2009031139A (en) * 2007-07-27 2009-02-12 Canon Inc Biochemical reaction device
JP2009133796A (en) * 2007-12-03 2009-06-18 Hitachi High-Technologies Corp Automatic analyzer
JP2009229232A (en) * 2008-03-21 2009-10-08 Arkray Inc Analyzing system and analyzing device
JP2009270841A (en) * 2008-04-30 2009-11-19 Hitachi High-Technologies Corp Autoanalyzer
JP2010175254A (en) * 2009-01-27 2010-08-12 Panasonic Corp Biosensor management case and biosensor management system

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04115160A (en) * 1990-09-05 1992-04-16 Kyoto Daiichi Kagaku:Kk Automatic analyzer for specimen
JPH06130067A (en) * 1992-10-19 1994-05-13 Hitachi Ltd Automatic liquid specimen analyzer
JPH07287020A (en) * 1994-04-15 1995-10-31 Fuji Photo Film Co Ltd Dry analytical film housing device
JPH11271315A (en) * 1998-03-25 1999-10-08 Hitachi Ltd Automatic urine analyzing device
JP2000310643A (en) * 1999-04-27 2000-11-07 Toshiba Corp Automatic analysis device
JP2009031139A (en) * 2007-07-27 2009-02-12 Canon Inc Biochemical reaction device
JP2009133796A (en) * 2007-12-03 2009-06-18 Hitachi High-Technologies Corp Automatic analyzer
JP2009229232A (en) * 2008-03-21 2009-10-08 Arkray Inc Analyzing system and analyzing device
JP2009270841A (en) * 2008-04-30 2009-11-19 Hitachi High-Technologies Corp Autoanalyzer
JP2010175254A (en) * 2009-01-27 2010-08-12 Panasonic Corp Biosensor management case and biosensor management system

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP4336188A1 (en) * 2022-09-12 2024-03-13 ARKRAY, Inc. Analysis device

Also Published As

Publication number Publication date
JPWO2011122541A1 (en) 2013-07-08
WO2011122541A1 (en) 2011-10-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9285262B2 (en) System for managing bulk liquids and/or solids
US11054433B2 (en) Automated analyzer and control method for same
WO2009142087A1 (en) Automatic analyzer
US9377452B2 (en) Method for monitoring the use of a consumable in a disposable design in one or more analyzers
JP2007517202A (en) Analytical instrument
CN103808950A (en) Reagent station for an automated analysis device
US20130280130A1 (en) Automatic analyzer
JP2009210444A (en) Autoanalyzer
JPWO2012073878A1 (en) Automatic analyzer
JP5785933B2 (en) Analysis device, quality confirmation device, and quality confirmation method
JP6550152B2 (en) Automatic analyzer
JP4416579B2 (en) Automatic analyzer
JP2008292476A (en) Measuring system with distributed functions
JP2013024797A (en) Analyzer and analysis method
JP2008292479A (en) Handheld analyzer for testing sample
CN109690320B (en) Automatic analyzer and analysis method thereof
JP2006292699A (en) Automatic analyzer
JP6503261B2 (en) Automatic analyzer
JP2007322394A (en) Dispensing device and automated analyzer
JP6091964B2 (en) Automatic analyzer
JP5917396B2 (en) Analysis apparatus, analysis system, and analysis method
CN114556112A (en) Automatic analyzer and reagent dispensing method
JP2009229140A (en) Autoanalyzer
JP2002131315A (en) Method for inspecting suitability of analysis element
JP2009047545A (en) Analyzer and deterioration detecting method of light source

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20140131

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20150203

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150323

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20150714

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20150727

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5785933

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250