JP5782864B2 - Contact position detection device and machine tool - Google Patents

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Description

本発明は、ワーク又は工具等の対象物への接触位置を検出する接触位置検出装置、及び、これを用いてワークの形状測定又は工具の折損検出等を行う工作機械に関する。   The present invention relates to a contact position detection device that detects a contact position of a workpiece or a tool with respect to an object, and a machine tool that performs workpiece shape measurement or tool breakage detection using the contact position detection device.

一般に、マシニングセンタ(工作機械)は、テーブルに載置されたワーク及び主軸に装着された工具をXYZ方向へ相対移動させると共に、主軸の回転により工具を回転させることによって、ワークに対してフライス加工、中ぐり加工又はねじ立て等の種々の加工を行うことができる。工作機械は、複数種の工具を収容しており、目的の加工に応じて主軸に装着する工具を交換しながら、種々の加工を連続的に行っている。また工作機械は、機械加工の終了後にタッチセンサを主軸に装着し、ワーク及びタッチセンサを相対移動させ、ワークの表面にタッチセンサを接触させることによって、ワークの表面形状を測定することができる。   In general, a machining center (machine tool) mills a workpiece by moving the workpiece mounted on the table and the tool mounted on the spindle in the XYZ directions and rotating the tool by rotating the spindle. Various processes such as boring or tapping can be performed. The machine tool accommodates a plurality of types of tools, and continuously performs various types of processing while exchanging tools to be mounted on the spindle according to the target processing. In addition, the machine tool can measure the surface shape of the workpiece by attaching the touch sensor to the spindle after the machining, moving the workpiece and the touch sensor relative to each other, and bringing the touch sensor into contact with the surface of the workpiece.

このような工作機械では、ワーク及びタッチセンサをXY方向に相対移動させると共に、タッチセンサをZ方向へ昇降させ、タッチセンサがワークに接触した位置(及び/又はワークから離れた位置)を検出することによってワークの表面形状を測定する。しかしタッチセンサが機械式接点によるものである場合、タッチセンサがワークに接触した際に、接点でチャタリングが発生する虞がある。チャタリングが発生すると、タッチセンサがワークに接触した位置を誤検出する虞があり、ワークの表面形状の測定精度が低下するという問題がある。   In such a machine tool, the workpiece and the touch sensor are relatively moved in the X and Y directions, and the touch sensor is moved up and down in the Z direction to detect a position where the touch sensor contacts the workpiece (and / or a position away from the workpiece). By measuring the surface shape of the workpiece. However, when the touch sensor is based on a mechanical contact, there is a possibility that chattering may occur at the contact when the touch sensor contacts the workpiece. When chattering occurs, there is a possibility that the position where the touch sensor touches the workpiece may be erroneously detected, and there is a problem that the measurement accuracy of the surface shape of the workpiece is lowered.

特許文献1においては、タッチセンサの検出値をサンプリングして順にシフトレジスタへ記憶し、タッチセンサがワークに接触したことを示す検出値が所定回数連続する場合に、タッチセンサがワークの表面に接触したと判定し、このときのタッチセンサの位置を接触位置として取得する構成のチャタリング除去装置が提案されている。この装置では、所定回数未満の検知結果が除外されるため、簡単な構成でチャタリングの除去を行うことができる。   In Patent Document 1, the detection value of the touch sensor is sampled and stored in the shift register in order, and when the detection value indicating that the touch sensor has contacted the workpiece continues for a predetermined number of times, the touch sensor contacts the surface of the workpiece. It has been determined that the chattering removing apparatus is configured to acquire the position of the touch sensor at this time as the contact position. In this apparatus, since detection results less than the predetermined number are excluded, chattering can be removed with a simple configuration.

特許文献2においては、工具をZ軸方向へ移動させてテーブルに設けられたタッチセンサに接触させることで、設定された第1所定位置と、この第1所定位置から所定距離だけ離れた第2所定位置とに工具が到達したことを検出して工具の位置を検出し、検出した第1所定位置に対応する位置及び第2所定位置に対応する位置と、第1所定位置及び第2所定位置の間の所定距離との変位差を演算し、この変位差に基づいて工具の移動制御の補正を行う数値制御工作機が提案されている。また特許文献2に記載の数値制御工作機械は、工具がタッチセンサに接触した位置に応じて、工具に折損が生じているか否かを検知することができる。   In Patent Literature 2, a tool is moved in the Z-axis direction and brought into contact with a touch sensor provided on a table, whereby a first predetermined position set and a second distance apart from the first predetermined position by a predetermined distance. The position of the tool is detected by detecting that the tool has reached the predetermined position, the position corresponding to the detected first predetermined position and the position corresponding to the second predetermined position, and the first predetermined position and the second predetermined position. There has been proposed a numerically controlled machine tool that calculates a displacement difference from a predetermined distance between the two and corrects the movement control of the tool based on the displacement difference. Further, the numerically controlled machine tool described in Patent Document 2 can detect whether or not the tool is broken according to the position where the tool contacts the touch sensor.

特開2010−157975号公報JP 2010-157975 A 実開平5−83802号公報Japanese Utility Model Publication No. 5-83802

しかしながら特許文献1に記載のチャタリング除去装置は、ワークに接触したことを示す検出値が所定回数連続した場合に初めて接触したとの判定を行う構成であるため、実際にタッチセンサがワークに接触した時点と、チャタリング除去装置が接触の判定を行う時点との間に時間差が生じるという問題がある。この時間差によってワークに対する接触位置の検出精度が低下し、ワークの表面形状の測定精度が低下するという問題がある。また工作機械が工具の折損検出を行う場合についても同様に、検出精度が低下するという問題がある。   However, since the chattering removal apparatus described in Patent Document 1 is configured to determine that the first contact is made when a detection value indicating contact with the workpiece continues for a predetermined number of times, the touch sensor actually contacts the workpiece. There is a problem in that there is a time difference between the time point and the time point when the chattering removal device determines contact. Due to this time difference, there is a problem that the detection accuracy of the contact position with respect to the workpiece is lowered and the measurement accuracy of the surface shape of the workpiece is lowered. Similarly, when the machine tool detects breakage of a tool, there is a problem that detection accuracy is lowered.

また特許文献2に記載の数値制御工作機においても同様にタッチセンサにてチャタリングが発生することから、特許文献1に記載の技術を採用することが考えられる。しかしこの場合にも、タッチセンサに対する工具の接触位置の検知精度が低下し、工具の移動制御に対する補正の精度が低下するという問題がある。また特許文献2に記載の数値制御工作機にて工具の折損検知を行う場合も同様に、折損の検知精度が低下するという問題がある。   Further, in the numerically controlled machine tool described in Patent Document 2, chattering is similarly generated by the touch sensor. Therefore, it is conceivable to employ the technique described in Patent Document 1. However, also in this case, there is a problem that the detection accuracy of the contact position of the tool with respect to the touch sensor is lowered, and the accuracy of correction for the tool movement control is lowered. Similarly, when the breakage detection of a tool is performed with the numerically controlled machine tool described in Patent Document 2, there is a problem that the breakage detection accuracy is lowered.

本発明は、斯かる事情に鑑みてなされたものであって、その目的とするところは、タッチセンサにて発生するチャタリングを除去して接触位置の検出精度が低下することを防止できると共に、チャタリング除去に伴う検出の遅れによって接触位置の検出精度が低下することを防止できる接触位置検出装置及び工作機械を提供することにある。   The present invention has been made in view of such circumstances, and an object of the present invention is to eliminate chattering generated by the touch sensor and prevent the detection accuracy of the contact position from being lowered, and chattering. An object of the present invention is to provide a contact position detection device and a machine tool that can prevent the detection accuracy of a contact position from being lowered due to a detection delay associated with removal.

本発明に係る接触位置検出装置は、対象物への接触の有無を検知するセンサの検知結果を時系列にサンプリングする接触検知手段と、前記センサ及び前記対象物の相対的な位置を変位させる変位手段と、前記位置を時系列的にサンプリングする位置検知手段とを備え、前記センサが対象物に接触した位置を検出する接触位置検出装置であって、前記接触検知手段の検知結果を時系列的に複数回分記憶する検知結果記憶手段と、前記位置検知手段がサンプリングした位置を時系列的に複数回分記憶する位置記憶手段と、前記接触検知手段による接触有りの検知結果が所定回数連続した場合に、対象物への接触を確定する接触確定手段と、前記所定回数連続した接触有りの検知結果のうちの初回の検知結果を前記接触検知手段がサンプリングした時点より前の接触有りの検知結果を、前記検知結果記憶手段に記憶した検知結果から抽出し、抽出した検知結果に対応するサンプリング時に前記位置検知手段がサンプリングした位置を、前記位置記憶手段から取得する位置取得手段と、前記接触検知手段による接触有りの最初の検知結果から、前記接触確定手段が接触を確定した検知結果までのサンプリング数を計数するカウンタとを備え、前記位置取得手段は、前記接触確定手段が接触を確定した場合に、前記カウンタの計数値に基づいて、接触有りの最初の検知結果に対応する位置を取得するようにしてあり、前記位置取得手段が取得した位置を、前記センサが前記対象物に接触した位置として検出するようにしてあることを特徴とする。 The contact position detection device according to the present invention includes a contact detection unit that samples a detection result of a sensor that detects presence or absence of contact with an object in time series, and a displacement that displaces a relative position between the sensor and the object. And a position detection means for sampling the position in time series, wherein the sensor detects a position in contact with the object, and the detection result of the contact detection means is detected in time series. When the detection result storage means for storing a plurality of times, the position storage means for storing the position sampled by the position detection means for a plurality of times in a time series, and the detection result with contact by the contact detection means continue for a predetermined number of times. The contact detection means for sampling the contact detection means for determining the contact with the object and the first detection result among the detection results for the presence of the contact that has been repeated for the predetermined number of times. Get the contact there detection result before the point, the detection result extracted from the detection results stored in the storage means, said position detecting means at the time of sampling corresponding to the extracted detection result sampled position, from the position storage means A position acquisition unit, and a counter that counts the number of samplings from the first detection result with contact by the contact detection unit to the detection result with the contact determination unit determining contact, and the position acquisition unit includes: When the contact confirmation means confirms contact, the position corresponding to the first detection result with contact is acquired based on the count value of the counter, and the position acquired by the position acquisition means is The sensor is configured to detect a position in contact with the object.

また、本発明に係る接触位置検出装置は、前記位置取得手段が、前記最初の検知結果が前記接触検知手段にてサンプリングされた時点から、前記接触確定手段が接触を確定した時点までの時間が所定時間より長い場合、前記接触確定手段が接触を確定した時点から前記所定時間前の時点に対応する位置を、前記位置記憶手段が記憶した複数回分の位置から取得するようにしてあることを特徴とする。   In the contact position detection device according to the present invention, the time from the time when the position acquisition unit samples the first detection result by the contact detection unit to the time when the contact determination unit determines the contact. When the time is longer than a predetermined time, the position corresponding to the time point before the predetermined time from the time point when the contact determination means determines the contact is obtained from the position of the plurality of times stored in the position storage means. And

また、本発明に係る接触位置検出装置は、前記接触検知手段が、サンプリングした検知結果をシフトレジスタに順にシフトして記憶するようにしてあることを特徴とする。   The contact position detecting device according to the present invention is characterized in that the contact detection means shifts and stores the sampled detection results in order in a shift register.

また、本発明に係る工作機械は、装着された工具にてワークの加工を行う工作機械において、上述の接触位置検出装置が、前記対象物を前記ワークとして検出した接触位置に応じて、前記ワークの形状を測定する測定手段を備えることを特徴とする。   In addition, the machine tool according to the present invention is a machine tool that processes a workpiece with a mounted tool, and the above-described contact position detection device detects the workpiece as the workpiece according to the contact position. It is characterized by comprising measuring means for measuring the shape.

また、本発明に係る工作機械は、装着された工具にてワークの加工を行う工作機械において、上述の接触位置検出装置が、前記対象物を前記工具として検出した接触位置に応じて、前記工具の折損を検出する折損検出手段を備えることを特徴とする。   Further, the machine tool according to the present invention is a machine tool that processes a workpiece with a mounted tool, and the above-described contact position detecting device detects the object as the tool according to the contact position. It is characterized by comprising a breakage detecting means for detecting the breakage.

本発明においては、接触を検知するセンサの検知結果をサンプリングして時系列的に複数回分記憶しておき、接触有りの検知結果が所定回数連続した場合に、対象物への接触検知を確定する。これにより、所定回数未満の検知結果が除外されるため、チャタリングによる誤検知の影響を除去することができる。
またセンサ及び対象物の相対的な位置を検知し、検知位置をサンプリングして時系列的に複数回分記憶しておく。上記のように対象物への接触検知を確定した場合、接触検知を確定した所定回数の検知結果の初回分をサンプリングしたタイミングより以前に遡って接触有りの検知結果を抽出し、抽出した検知結果に対応するサンプリング時にサンプリングした検知位置を取得する。取得した検知位置をセンサ及び対象物が接触した位置とすることによって、チャタリングを除去して接触を確定する以前に遡ったセンサの位置を最終的なセンサの接触位置の検出結果とすることができる。チャタリングはセンサ及び対象物の接触によって発生するため、接触確定以前に検知位置を遡ることによって、実際の接触位置に近い検出結果を得ることができ、接触位置の検出精度を向上することができる。
In the present invention, the detection result of the sensor for detecting contact is sampled and stored in a plurality of times in a time series, and the detection of contact with the object is confirmed when the detection result with contact continues for a predetermined number of times. . As a result, detection results less than the predetermined number are excluded, so that the influence of erroneous detection due to chattering can be eliminated.
Further, the relative positions of the sensor and the object are detected, and the detected positions are sampled and stored a plurality of times in time series. When the detection of contact with the object is confirmed as described above, the detection result with contact is extracted retroactively from the timing of sampling the first detection result of the predetermined number of times when the contact detection is confirmed, and the extracted detection result The detection position sampled at the time of sampling corresponding to is acquired. By setting the acquired detection position as the position where the sensor and the object are in contact with each other, it is possible to use the position of the sensor retroactively before removing the chattering and confirming the contact as the detection result of the final sensor contact position. . Since chattering occurs due to the contact between the sensor and the object, the detection result close to the actual contact position can be obtained by tracing the detection position before the contact is determined, and the detection accuracy of the contact position can be improved.

また、検知位置は時系列的に複数回分記憶する。即ち検知した順に検知位置を記憶していき、記憶可能数に達した後は、最も古い検知位置を削除して新しい検知位置を記憶する(いわゆるFIFO(First In First Out))。接触確定以前に遡って検知位置を取得する際には、時系列的に記憶した検知位置の中から、センサによる接触有りの検知結果に対応する最初の(最も古い)検知位置を取得してもよい。これにより、検知位置の記憶数(記憶容量)は、チャタリングの発生から検知結果が安定するまでの時間程度のサンプリング結果を記憶できればよい。また検知位置を遡って取得する処理が容易である。   In addition, the detection positions are stored a plurality of times in time series. That is, the detection positions are stored in the order of detection, and after reaching the storable number, the oldest detection positions are deleted and new detection positions are stored (so-called FIFO (First In First Out)). When acquiring the detection position retroactively before the contact is confirmed, the first (oldest) detection position corresponding to the detection result with contact by the sensor is acquired from the detection positions stored in time series. Good. As a result, the number of stored detection positions (storage capacity) is only required to be able to store a sampling result of about the time from the occurrence of chattering until the detection result is stabilized. Further, it is easy to obtain the detection position retrospectively.

また、本発明においては、接触有りの最前の検知結果から接触確定までのサンプリング数をカウンタにて計数し、接触確定後にこのカウンタの値に基づいて最前の検知結果を取得する。これにより、接触確定以前に遡って検知位置を取得する処理を容易に行うことができる。   In the present invention, the number of samplings from the most recent detection result with contact until the contact is confirmed is counted by a counter, and the most recent detection result is acquired based on the value of this counter after the contact is confirmed. Thereby, the process which acquires a detection position retroactively before contact determination can be performed easily.

また、本発明においては、接触確定から遡って検知位置を取得する最大の時間を所定時間として予め定めておく。この所定時間は、設計段階又は製造工程のテスト段階等において、チャタリングの発生からセンサの検知結果が安定するまでの時間を測定し、この測定結果に基づいて決定することができる。
接触確定後、記憶した複数回分の検知位置から最前の検知位置を取得するが、最前の検知位置のサンプリングから接触確定までの時間が上記の所定時間より長い場合、最前の検知位置を最終的な接触位置とするのではなく、接触確定から所定時間遡った時点に対応する検知位置を取得し、取得した検知位置を最終的な接触位置とする。これにより、チャタリング以前に例えば外乱ノイズなどの影響でセンサの誤検知が発生した場合であっても、この誤検知の影響を除外することができる。
In the present invention, the maximum time for acquiring the detection position retrospectively from the contact confirmation is determined in advance as a predetermined time. The predetermined time can be determined based on the measurement result obtained by measuring the time from the occurrence of chattering until the detection result of the sensor is stabilized in the design stage or the test stage of the manufacturing process.
After the contact is confirmed, the most recent detection position is acquired from the stored detection positions for a plurality of times, but if the time from the sampling of the most recent detection position until the contact is confirmed is longer than the predetermined time, the most recent detection position is finally determined Instead of using the contact position, a detection position corresponding to a time point that is a predetermined time after the contact confirmation is acquired, and the acquired detection position is set as the final contact position. Thereby, even if it is a case where the erroneous detection of a sensor generate | occur | produces by the influence of disturbance noise etc. before chattering, the influence of this erroneous detection can be excluded.

また、本発明においては、センサの検知結果をシフトレジスタに記憶する。サンプリングを行う毎に記憶した検知結果を順にシフトすることによって、時系列的な記憶を容易に実現できる。なお、検知位置の記憶についても同様に、シフトレジスタを用いる構成としてよい。   In the present invention, the detection result of the sensor is stored in the shift register. By sequentially shifting the stored detection results every time sampling is performed, time-series storage can be easily realized. Similarly, a shift register may be used for storing the detection position.

また、本発明においては、上述のような接触位置検出装置を用いて、ワークに対するセンサの接触位置を検出し、検出結果に応じてワークの形状測定を行う。これによりチャタリングの影響を除外しつつ、ワークに対する高精度な接触位置の検出を行うことができ、ワークの形状測定を高精度に行うことができる。   Moreover, in this invention, the contact position of the sensor with respect to a workpiece | work is detected using the above contact position detection apparatuses, and the shape measurement of a workpiece | work is performed according to a detection result. Accordingly, it is possible to detect the contact position with high accuracy with respect to the workpiece while excluding the influence of chattering, and it is possible to measure the shape of the workpiece with high accuracy.

また、本発明においては、上述のような接触位置検出装置を用いて、工具に対するセンサの接触位置を検出し、検出結果に応じて工具の折損検出を行う。これによりチャタリングの影響を除外しつつ、工具に対する高精度な接触位置の検出を行うことができ、工具の折損検出を高精度に行うことができる。   In the present invention, the contact position detection device as described above is used to detect the contact position of the sensor with respect to the tool, and the breakage of the tool is detected according to the detection result. Thereby, it is possible to detect the contact position with high accuracy with respect to the tool while excluding the influence of chattering, and to detect breakage of the tool with high accuracy.

本発明による場合は、接触有りの検知結果が所定回数連続した場合に対象物への接触検知を確定し、接触確定以前に遡って検知位置を取得し、取得した検知位置をセンサ及び対象物の接触位置として検出する構成とすることにより、チャタリングによる接触位置の検出精度低下を防止できると共に、チャタリング除去に伴う検出の遅れによって接触位置の検出精度が低下することを防止できる。よって工作機械におけるワークの形状測定及び/又は工具の折損検出を高精度に行うことができる。   In the case of the present invention, the detection of contact with the object is confirmed when the detection result with contact continues for a predetermined number of times, the detection position is acquired retroactively before the contact is determined, and the acquired detection position is determined based on the sensor and the object. By adopting a configuration in which the contact position is detected, it is possible to prevent a decrease in detection accuracy of the contact position due to chattering, and it is possible to prevent a decrease in detection accuracy of the contact position due to a detection delay caused by chattering removal. Therefore, the workpiece shape measurement and / or tool breakage detection in the machine tool can be performed with high accuracy.

マシニングセンタの外観を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the external appearance of a machining center. マシニングセンタの主要部分の構成を示す正面図である。It is a front view which shows the structure of the principal part of a machining center. マシニングセンタの電気的構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the electrical structure of a machining center. 接触位置検出処理を説明するためのタイミングチャートである。It is a timing chart for demonstrating a contact position detection process. 接触位置検出処理を説明するためのタイミングチャートである。It is a timing chart for demonstrating a contact position detection process. 接触位置検出処理の手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the procedure of a contact position detection process. 接触確定処理の手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the procedure of a contact decision process. 接触確定処理の手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the procedure of a contact decision process. 接触位置確定処理の手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the procedure of a contact position confirmation process. 実施の形態2に係るマシニングセンタの構成を説明するための模式図である。FIG. 6 is a schematic diagram for explaining a configuration of a machining center according to a second embodiment.

(実施の形態1)
以下、本発明をその実施の形態を示す図面に基づき具体的に説明する。図1は、マシニングセンタ(工作機械)の外観を示す斜視図である。また図2は、マシニングセンタの主要部分の構成を示す正面図である。本実施の形態に係るマシニングセンタは、加工対象であるワーク(図示は省略する)と工具とを相対移動させて、ワークに所望の機械加工(例えば、スライス削り、穴あけ又は切削等)を施すことができる工作機械である。マシニングセンタは金属製の基台1を備え、基台1の下部の四隅には脚部がそれぞれ設けられ、これら4つの脚部が床面などに設置されることにより、マシニングセンタが所定場所に設置される。基台1は、マシニングセンタの前後方向に長い直方体状の鋳造品である。
(Embodiment 1)
Hereinafter, the present invention will be specifically described with reference to the drawings showing embodiments thereof. FIG. 1 is a perspective view showing an appearance of a machining center (machine tool). FIG. 2 is a front view showing the configuration of the main part of the machining center. The machining center according to the present embodiment can perform desired machining (for example, slicing, drilling, cutting, etc.) on a workpiece by relatively moving a workpiece (not shown) to be processed and a tool. It is a machine tool that can. The machining center includes a metal base 1, and legs are provided at the four corners of the lower part of the base 1, and these four legs are installed on the floor or the like, so that the machining center is installed at a predetermined place. The The base 1 is a rectangular parallelepiped casting that is long in the front-rear direction of the machining center.

マシニングセンタの基台1の後部上にはコラム座部3が設けられ、コラム座部3には鉛直上方へ延びる柱状のコラム4が立設されている。コラム4には、その前面に沿って上下移動可能に主軸ヘッド5が設けられている。主軸ヘッド5には、加工用の工具6が装着される主軸5Aと、主軸5Aに装着された工具6を他の工具6に交換するための工具交換機構7とが設けられている。また図1において図示は省略するが、コラム4の上部にはZ軸モータ67(図3参照)が設けてあり、Z軸モータ67の回転によって主軸ヘッド5を上下に移動させることができる。   A column seat 3 is provided on the rear portion of the base 1 of the machining center, and a columnar column 4 extending vertically upward is erected on the column seat 3. The column 4 is provided with a spindle head 5 that can move up and down along the front surface thereof. The spindle head 5 is provided with a spindle 5A on which a machining tool 6 is mounted, and a tool exchange mechanism 7 for exchanging the tool 6 mounted on the spindle 5A with another tool 6. Although not shown in FIG. 1, a Z-axis motor 67 (see FIG. 3) is provided at the top of the column 4, and the spindle head 5 can be moved up and down by the rotation of the Z-axis motor 67.

主軸ヘッド5には、加工軸に相当する主軸5Aが回転可能に装着され、主軸5Aを回転駆動するための主軸モータ61(図3参照)が上部に備えられている。主軸5Aの下端には工具6が着脱可能に装着され、主軸5Aが主軸モータ61により回転駆動されることによって工具6が回転し、テーブル8に固定したワークの加工が行われる。主軸5Aは、主軸ヘッド5の上下移動によって上方の交換位置と下方の加工位置との間を移動する。工具交換機構7は、工具6を支持する工具ホルダを複数格納する工具マガジン14と、主軸5Aに装着された工具ホルダと工具マガジン14に格納された他の工具ホルダとを把持して搬送し、工具交換を行う工具交換アーム15とを備えている。   A spindle 5A corresponding to a machining axis is rotatably mounted on the spindle head 5, and a spindle motor 61 (see FIG. 3) for rotating the spindle 5A is provided at the top. A tool 6 is detachably attached to the lower end of the main shaft 5A. When the main shaft 5A is rotationally driven by a main shaft motor 61, the tool 6 is rotated and a workpiece fixed to the table 8 is processed. The spindle 5A moves between an upper exchange position and a lower machining position by the vertical movement of the spindle head 5. The tool change mechanism 7 holds and conveys a tool magazine 14 that stores a plurality of tool holders that support the tool 6, a tool holder that is mounted on the spindle 5A, and another tool holder that is stored in the tool magazine 14, And a tool changing arm 15 for changing the tool.

また基台1上には、主軸ヘッド5の下方に、ワークを着脱可能に固定することができるテーブル8が配置してある。テーブル8は、サーボモータであるX軸モータ63及びY軸モータ65(図3参照)により、X軸方向(左右方向)及びY軸方向(前後方向)へ移動制御される。詳しくは、テーブル8の下側には直方体状の支持台10が設けてあり、支持台10にはX軸方向に沿って延びる1対のX軸送りガイドを設け、1対のX軸送りガイド上にテーブル8を移動可能に支持している。また基台1の上部には、長手方向(Y軸方向)に沿って延びる1対のY軸送りガイドを設け、1対のY軸送りガイド上に支持台10を移動可能に支持している。基台1上に設けたY軸モータ65がY軸送りガイドに沿ってY軸方向に支持台10を移動駆動すると共に、支持台10上に設けたX軸モータ63がX軸送りガイドに沿ってX軸方向にテーブル8を移動駆動する。   Further, on the base 1, a table 8 is disposed below the spindle head 5 so that a work can be detachably fixed. The table 8 is controlled to move in the X-axis direction (left-right direction) and the Y-axis direction (front-rear direction) by an X-axis motor 63 and a Y-axis motor 65 (see FIG. 3) which are servo motors. Specifically, a rectangular parallelepiped support base 10 is provided below the table 8, and the support base 10 is provided with a pair of X-axis feed guides extending along the X-axis direction, and a pair of X-axis feed guides. A table 8 is movably supported on the top. In addition, a pair of Y-axis feed guides extending in the longitudinal direction (Y-axis direction) is provided on the upper portion of the base 1, and the support base 10 is movably supported on the pair of Y-axis feed guides. . A Y-axis motor 65 provided on the base 1 moves and drives the support base 10 in the Y-axis direction along the Y-axis feed guide, and an X-axis motor 63 provided on the support base 10 follows the X-axis feed guide. Then, the table 8 is driven to move in the X-axis direction.

X軸送りガイドには、テレスコピック式に収縮するテレスコピックカバー11、12がテーブル8の左右両側に設けてある。Y軸送りガイドには、テレスコピックカバー13とY軸後カバーとが、支持台10の前後にそれぞれ設けてある。テーブル8及び支持台10がそれぞれいずれの方向に移動した場合であっても、X軸送りガイド及びY軸送りガイドは常にテレスコピックカバー11、12、13及びY軸後カバーによって覆われる。テレスコピックカバー11、12、13及びY軸後カバーは、ワークの加工領域から飛散する切粉などがX軸送りガイド及びY軸送りガイド等へ落下することを防止するためのものである。   The X-axis feed guide is provided with telescopic covers 11 and 12 that contract telescopically on both the left and right sides of the table 8. In the Y-axis feed guide, a telescopic cover 13 and a Y-axis rear cover are provided on the front and rear sides of the support base 10, respectively. The X-axis feed guide and the Y-axis feed guide are always covered by the telescopic covers 11, 12, 13 and the Y-axis rear cover, regardless of which direction the table 8 and the support base 10 are moved. The telescopic covers 11, 12, 13 and the Y-axis rear cover are for preventing chips or the like scattered from the workpiece processing region from dropping onto the X-axis feed guide, the Y-axis feed guide, and the like.

コラム4の背面側には、箱状の制御ボックス9が設けられており、制御ボックス9の内部にはマシニングセンタの動作を制御するための制御部20(図3参照)が収容されている。図3は、マシニングセンタの電気的構成を示すブロック図である。マシニングセンタは、制御ボックス9に収容された制御部20に、複数のサーボアンプ30及び入出力ユニット40が通信バスを介して接続されており、これらが通信バスを介して情報を送受信しながら工作に係る処理を行っている。   A box-shaped control box 9 is provided on the back side of the column 4, and a control unit 20 (see FIG. 3) for controlling the operation of the machining center is accommodated in the control box 9. FIG. 3 is a block diagram showing an electrical configuration of the machining center. In the machining center, a plurality of servo amplifiers 30 and input / output units 40 are connected to a control unit 20 accommodated in a control box 9 via a communication bus, and these can be used for work while transmitting and receiving information via the communication bus. Such processing is performed.

図示のマシニングセンタは、4つのサーボアンプ30を備えており、第1のサーボアンプ30には主軸モータ61及び主軸エンコーダ62が接続され、第2のサーボアンプ30にはX軸モータ63及びX軸エンコーダ64が接続され、第3のサーボアンプ30にはY軸モータ65及びY軸エンコーダ66が接続され、第4のサーボアンプ30にはZ軸モータ67及びZ軸エンコーダ68が接続されている。また入出力ユニット40にはタッチセンサ50が接続されている。   The illustrated machining center includes four servo amplifiers 30, a spindle motor 61 and a spindle encoder 62 are connected to the first servo amplifier 30, and an X-axis motor 63 and an X-axis encoder are connected to the second servo amplifier 30. 64, a Y-axis motor 65 and a Y-axis encoder 66 are connected to the third servo amplifier 30, and a Z-axis motor 67 and a Z-axis encoder 68 are connected to the fourth servo amplifier 30. A touch sensor 50 is connected to the input / output unit 40.

制御部20は、CPU(Central Processing Unit)21、制御クロック発生部(図3において単に制御クロックと記載する)22、記憶部23及び通信I/F(インタフェース)24等を備えて構成されている。CPU21は、制御クロック発生部22が発生する所定周期のクロック信号に基づいて動作し、各種の演算処理を実行してマシニングセンタの各部の動作を制御する処理を行う。記憶部23は、DRAM(Dynamic Random Access Memory)又はSRAM(Static Random Access Memory)等のメモリ素子で構成され、CPU21の演算処理の過程で発生したデータ、又は、サーボアンプ30若しくは入出力ユニット40との通信により送受信したデータ等を一時的に記憶する。   The control unit 20 includes a CPU (Central Processing Unit) 21, a control clock generation unit (simply described as a control clock in FIG. 3) 22, a storage unit 23, a communication I / F (interface) 24, and the like. . The CPU 21 operates based on a clock signal of a predetermined period generated by the control clock generator 22, and performs various arithmetic processes to control operations of the respective parts of the machining center. The storage unit 23 is composed of a memory element such as a DRAM (Dynamic Random Access Memory) or an SRAM (Static Random Access Memory), and data generated during the arithmetic processing of the CPU 21, or the servo amplifier 30 or the input / output unit 40. Temporarily store data transmitted and received by the communication.

制御部20の通信I/F24は、通信バスに接続されており、サーボアンプ30又は入出力ユニット40との通信を行う。通信I/F24は、CPU21から送信指示が与えられた場合に、記憶部23から送信データを読み出して通信バスへ出力することにより送信処理を行う。また通信I/F24は、サーボアンプ30又は入出力ユニット40からのデータを受信した場合に、受信データを記憶部23に記憶し、CPU21へデータを受信した旨を通知する。   The communication I / F 24 of the control unit 20 is connected to a communication bus and communicates with the servo amplifier 30 or the input / output unit 40. When a transmission instruction is given from the CPU 21, the communication I / F 24 performs transmission processing by reading transmission data from the storage unit 23 and outputting it to the communication bus. Further, when receiving data from the servo amplifier 30 or the input / output unit 40, the communication I / F 24 stores the received data in the storage unit 23 and notifies the CPU 21 that the data has been received.

また制御部20は、サーボアンプ30及び入出力ユニット40との間で周期的に通信を行っているが、CPU21の負荷を低減するために、サーボアンプ30と入出力ユニット40とではそれぞれ異なる周期で通信を行う。具体的には、制御の優先度が高いサーボアンプ30と制御部20との通信周期は短く設定し、優先度が低い入出力ユニット40と制御部20との通信周期は長く設定してある。   Further, the control unit 20 periodically communicates with the servo amplifier 30 and the input / output unit 40. However, in order to reduce the load on the CPU 21, the servo amplifier 30 and the input / output unit 40 have different periods. Communicate with. Specifically, the communication cycle between the servo amplifier 30 having a high control priority and the control unit 20 is set short, and the communication cycle between the input / output unit 40 having a low priority and the control unit 20 is set long.

サーボアンプ30は、CPU31、サーボクロック発生部(図3において単にサーボクロックと記載する)32、記憶部33、通信I/F34、モータI/F35及びエンコーダI/F36等を備えて構成されている。CPU31は、サーボクロック発生部32が発生する所定周期のクロック信号に基づいて動作する。記憶部33は、DRAM又はSRAM等のメモリ素子で構成され、CPU31の演算処理の過程で発生したデータ、制御部20との通信により送受信したデータ、及び、エンコーダI/F36に入力されたデータ等を一時的に記憶する。通信I/F34は、通信バスに接続されており、制御部20との通信を周期的に行う。   The servo amplifier 30 includes a CPU 31, a servo clock generation unit (simply described as a servo clock in FIG. 3) 32, a storage unit 33, a communication I / F 34, a motor I / F 35, an encoder I / F 36, and the like. . The CPU 31 operates based on a clock signal having a predetermined period generated by the servo clock generator 32. The storage unit 33 is configured by a memory element such as a DRAM or SRAM, and data generated during the arithmetic processing of the CPU 31, data transmitted / received through communication with the control unit 20, data input to the encoder I / F 36, etc. Is temporarily stored. The communication I / F 34 is connected to a communication bus and periodically communicates with the control unit 20.

またサーボアンプ30のモータI/F35は、主軸モータ61、X軸モータ63、Y軸モータ65又はZ軸モータ67等のモータに接続され、CPU31の制御に従って、モータを回転駆動するための制御信号を出力する。主軸モータ61は、主軸5Aを回転させるためのものである。X軸モータ63及びY軸モータ65は、テーブル8をそれぞれX軸方向及びY軸方向へ移動させるものである。Z軸モータ67は、主軸ヘッド5をZ軸方向へ移動させるものである。(X軸モータ63、Y軸モータ65及Z軸モータ67は、主軸5Aに装着された工具6又はタッチセンサ50と、テーブル8に載置されたワークとの相対位置を変位させる変位手段である。)   The motor I / F 35 of the servo amplifier 30 is connected to a motor such as a main shaft motor 61, an X-axis motor 63, a Y-axis motor 65, or a Z-axis motor 67, and a control signal for driving the motor to rotate according to the control of the CPU 31. Is output. The main shaft motor 61 is for rotating the main shaft 5A. The X-axis motor 63 and the Y-axis motor 65 move the table 8 in the X-axis direction and the Y-axis direction, respectively. The Z-axis motor 67 moves the spindle head 5 in the Z-axis direction. (The X-axis motor 63, the Y-axis motor 65, and the Z-axis motor 67 are displacement means for displacing the relative positions of the tool 6 or the touch sensor 50 mounted on the main shaft 5A and the workpiece placed on the table 8. .)

エンコーダI/F36は、主軸エンコーダ62、X軸エンコーダ64、Y軸エンコーダ66又はZ軸エンコーダ68等のエンコーダに接続されている。(X軸エンコーダ64、Y軸エンコーダ66及びZ軸エンコーダ68は、主軸5Aに装着された工具6又はタッチセンサ50と、テーブル8に載置されたワークとの相対位置を検知する位置検知手段である。)これらのエンコーダは対応するモータの回転位置情報を検出してサーボアンプ30へ出力しており、エンコーダI/F36は、CPU31の制御に基づいて、エンコーダから入力された情報をサンプリングし、サンプリングした情報を時系列的に記憶部33に記憶する。CPU31は、エンコーダからの情報に基づいて、主軸5Aの回転速度、並びに、ワーク(又はテーブル8)に対する主軸5AのX軸方向、Y軸方向及びZ軸方向の位置(座標)等を算出することができる。記憶部33に記憶する情報は、算出した主軸5Aの座標情報であってよい。   The encoder I / F 36 is connected to an encoder such as a main shaft encoder 62, an X axis encoder 64, a Y axis encoder 66, or a Z axis encoder 68. (The X-axis encoder 64, the Y-axis encoder 66, and the Z-axis encoder 68 are position detection means for detecting the relative position between the tool 6 or the touch sensor 50 mounted on the spindle 5A and the workpiece placed on the table 8. These encoders detect the rotational position information of the corresponding motor and output it to the servo amplifier 30, and the encoder I / F 36 samples the information input from the encoder based on the control of the CPU 31, The sampled information is stored in the storage unit 33 in time series. Based on information from the encoder, the CPU 31 calculates the rotational speed of the spindle 5A, the positions (coordinates) of the spindle 5A in the X-axis direction, the Y-axis direction, and the Z-axis direction with respect to the workpiece (or table 8). Can do. The information stored in the storage unit 33 may be the calculated coordinate information of the spindle 5A.

第2〜第4のサーボアンプ30の記憶部33には、制御部20との通信周期の数周期分に亘るエンコーダの検知結果が、X軸方向、Y軸方向又はZ軸方向の座標情報として記憶され、記憶された座標情報は通信バスを介した通信によって制御部20へ送信される。制御部20は、各サーボアンプ30から受信した座標情報を時系列的に記憶部23に記憶する。(即ち、サーボアンプ30の記憶部33及び制御部20の記憶部23は、座標情報を時系列的に複数回分記憶する検知位置記憶手段である。)なお後述のタッチセンサ50は主軸5Aに装着されるものであり、記憶部23に記憶する座標情報は、タッチセンサ50の位置(座標)情報でもある。   In the storage unit 33 of the second to fourth servo amplifiers 30, the detection results of the encoder over several cycles of the communication cycle with the control unit 20 are stored as coordinate information in the X-axis direction, the Y-axis direction, or the Z-axis direction. The stored coordinate information is transmitted to the control unit 20 by communication via the communication bus. The control unit 20 stores the coordinate information received from each servo amplifier 30 in the storage unit 23 in time series. (That is, the storage unit 33 of the servo amplifier 30 and the storage unit 23 of the control unit 20 are detection position storage means for storing coordinate information for a plurality of times in time series.) Note that a touch sensor 50 described later is mounted on the spindle 5A. The coordinate information stored in the storage unit 23 is also position (coordinate) information of the touch sensor 50.

入出力ユニット40は、シフトレジスタ用クロック発生部(図3においては単にシフトクロックと記載)41、シフトレジスタ42及び通信I/F43等を備えて構成されている。入出力ユニット40にはタッチセンサ50が接続されており、タッチセンサ50が出力する信号は、入出力ユニット40のシフトレジスタ42に入力されている。タッチセンサ50は、対象物に対する接触の有無を検知するセンサであり、例えば接触有りの場合にハイレベルの信号を出力し、接触なしの場合にローレベルの信号を出力する。   The input / output unit 40 is configured to include a shift register clock generation unit (indicated simply as a shift clock in FIG. 3) 41, a shift register 42, a communication I / F 43, and the like. A touch sensor 50 is connected to the input / output unit 40, and a signal output from the touch sensor 50 is input to the shift register 42 of the input / output unit 40. The touch sensor 50 is a sensor that detects the presence or absence of contact with an object. For example, the touch sensor 50 outputs a high level signal when there is a contact, and outputs a low level signal when there is no contact.

シフトレジスタ用クロック発生部41は所定周期のクロック信号を生成して出力しており、シフトレジスタ42はこのクロック信号に応じてタッチセンサ50の出力信号を取り込む(サンプリングする)と共に、記憶した情報を1ビットずつシフトする。シフトレジスタ42は、N(例えばN=4)ビットの情報を記憶することができ、タッチセンサ50のN回分のサンプリング結果を記憶することができる。(即ち、シフトレジスタ42は、接触検知サンプリング手段であり、接触検知結果記憶手段である。)   The shift register clock generator 41 generates and outputs a clock signal having a predetermined cycle. The shift register 42 captures (samples) the output signal of the touch sensor 50 in accordance with the clock signal and stores the stored information. Shift one bit at a time. The shift register 42 can store N (for example, N = 4) bits of information, and can store N sampling results of the touch sensor 50. (That is, the shift register 42 is a contact detection sampling unit and a contact detection result storage unit.)

通信I/F43は、通信バスに接続されており、制御部20との通信を周期的に行う。なお通信I/F43は、少なくともシフトレジスタ42に入力されるクロック信号のN(シフトレジスタ42のサイズ)周期に1回の周期で制御部20との通信を行い、シフトレジスタ42に記憶された値を制御部20へ送信する。制御部20は、入出力ユニット40から受信した情報(シフトレジスタ42の値)を、入出力ユニット40との通信周期の数周期分に亘って記憶部23に記憶している。(即ち、制御部20の記憶部23は、接触検知の結果を時系列的に複数回分記憶する接触検知結果記憶手段でもある。)   The communication I / F 43 is connected to the communication bus and periodically communicates with the control unit 20. The communication I / F 43 communicates with the control unit 20 at least once every N (the size of the shift register 42) cycle of the clock signal input to the shift register 42, and the value stored in the shift register 42. Is transmitted to the control unit 20. The control unit 20 stores the information received from the input / output unit 40 (the value of the shift register 42) in the storage unit 23 over several communication cycles with the input / output unit 40. (That is, the storage unit 23 of the control unit 20 is also a contact detection result storage unit that stores the contact detection results for a plurality of times in time series.)

マシニングセンタがテーブル8に載置されたワークの表面形状を測定する場合、主軸5Aにタッチセンサ50を装着し、X軸モータ63及びY軸モータ65の駆動によりテーブル8をX軸方向及びY軸方向へ移動させながら、Z軸モータ67の駆動により主軸ヘッド5をZ軸方向へ移動させ、タッチセンサ50がワークの表面に接触した位置を測定する。   When the machining center measures the surface shape of the workpiece placed on the table 8, the touch sensor 50 is mounted on the spindle 5A, and the table 8 is driven in the X-axis direction and the Y-axis direction by driving the X-axis motor 63 and the Y-axis motor 65. The spindle head 5 is moved in the Z-axis direction by driving the Z-axis motor 67 while moving to the position, and the position at which the touch sensor 50 contacts the surface of the workpiece is measured.

タッチセンサ50は、ワークの表面に接触していない場合にローレベルの信号を出力し、ワークの表面に接触した場合にハイレベルの信号を出力する。入出力ユニット40は、シフトレジスタ用クロック発生部41が発生するクロック信号の周期でタッチセンサ50の出力信号をサンプリングし、ハイレベル又はローレベルの1ビットの値をシフトレジスタ42に記憶する。またクロック信号に応じてシフトレジスタ42は記憶した値を順次的にシフトしており、これによりタッチセンサ50の検知結果が時系列的に記憶される。入出力ユニット40は制御部20と周期的に通信を行っており、シフトレジスタ42に記憶したNビットの値を制御部20へ送信する。なお、入出力ユニット40及び制御部20の通信周期は、シフトレジスタ用クロック発生部41が発生するクロック信号の周期よりも長い。   The touch sensor 50 outputs a low level signal when it is not in contact with the surface of the workpiece, and outputs a high level signal when it is in contact with the surface of the workpiece. The input / output unit 40 samples the output signal of the touch sensor 50 at the cycle of the clock signal generated by the shift register clock generation unit 41, and stores a high-level or low-level 1-bit value in the shift register 42. Further, the shift register 42 sequentially shifts the stored value in accordance with the clock signal, whereby the detection result of the touch sensor 50 is stored in time series. The input / output unit 40 periodically communicates with the control unit 20, and transmits the N-bit value stored in the shift register 42 to the control unit 20. The communication cycle between the input / output unit 40 and the control unit 20 is longer than the cycle of the clock signal generated by the shift register clock generation unit 41.

また各サーボアンプ30は、エンコーダI/F36に入力されるエンコーダ(X軸エンコーダ64、Y軸エンコーダ66又はZ軸エンコーダ68)の信号を所定周期(サーボクロック発生部32が発生するクロック信号の周期であってよく、又はそれ以外の周期であってもよい)でサンプリングし、ワークに対する主軸5A(に装着されたタッチセンサ50)のX軸方向、Y軸方向又はZ軸方向に関する位置の検知結果を記憶部33に時系列的に記憶する。サーボアンプ30は制御部20と周期的に通信を行っており、記憶部33に記憶した検知位置の情報を制御部20へ送信する。なお、サーボアンプ30及び制御部20の通信周期は、検知位置のサンプリング周期よりも長い。   Each servo amplifier 30 outputs a signal of the encoder (X-axis encoder 64, Y-axis encoder 66, or Z-axis encoder 68) input to the encoder I / F 36 at a predetermined cycle (the cycle of the clock signal generated by the servo clock generator 32). And may be a period other than that), and the detection result of the position of the spindle 5A (touch sensor 50 attached to the workpiece) with respect to the workpiece in the X-axis direction, the Y-axis direction, or the Z-axis direction. Are stored in the storage unit 33 in time series. The servo amplifier 30 periodically communicates with the control unit 20, and transmits information on the detection position stored in the storage unit 33 to the control unit 20. The communication cycle of the servo amplifier 30 and the control unit 20 is longer than the sampling cycle of the detection position.

制御部20は、サーボアンプ30との通信により受信したX軸方向、Y軸方向及びZ軸方向に関する検知位置の情報を記憶部23に時系列的に記憶すると共に、入出力ユニット40との通信により受信したタッチセンサ50の検知結果の情報を記憶部23に時系列的に記憶する。即ち、制御部20の記憶部23には、タッチセンサ50の接触有無の検知結果とX軸方向、Y軸方向及びZ軸方向の検知位置とが時系列的に記憶され、各検知結果をサンプリングした際の検知位置が対応付けて記憶される。また制御部20の記憶部23に記憶されるタッチセンサ50の検知結果及び検知位置の情報量は限られており、新たな情報をサーボアンプ30又は入出力ユニット40から受信した場合、最も古い情報が破棄される。   The control unit 20 stores, in the storage unit 23, information on the detected position regarding the X-axis direction, the Y-axis direction, and the Z-axis direction received through communication with the servo amplifier 30 in time series, and communication with the input / output unit 40. The information of the detection result of the touch sensor 50 received by is stored in the storage unit 23 in time series. That is, the storage unit 23 of the control unit 20 stores the detection result of the presence or absence of the touch sensor 50 and the detection position in the X-axis direction, the Y-axis direction, and the Z-axis direction in time series, and samples each detection result. The detected position at the time of the recording is stored in association with each other. Further, the amount of information of the detection result and detection position of the touch sensor 50 stored in the storage unit 23 of the control unit 20 is limited, and when new information is received from the servo amplifier 30 or the input / output unit 40, the oldest information is received. Is destroyed.

なお各サーボアンプ30のサンプリングと入出力ユニット40のサンプリングとは必ずしも同期して行う必要はない。また各サーボアンプ30のサンプリングと入出力ユニット40のサンプリングとは必ずしも同じ周期で行う必要はない。サンプリングが非同期で行われる場合、及び/又は、サンプリングが異なる周期で行われる場合、接触有無の検知結果に対して最も近いタイミングでサンプリングされた検知位置を対応付けて記憶すればよい。   The sampling of each servo amplifier 30 and the sampling of the input / output unit 40 are not necessarily performed in synchronization. The sampling of each servo amplifier 30 and the sampling of the input / output unit 40 are not necessarily performed at the same cycle. When sampling is performed asynchronously and / or when sampling is performed at different periods, the detection position sampled at the closest timing to the detection result of the presence or absence of contact may be stored in association with each other.

図4は、接触位置検出処理を説明するためのタイミングチャートであり、タッチセンサ50の出力信号の一例を上段に示し、入出力ユニット40によるシフトレジスタ42へのサンプリングタイミングを下段に示してある。接触位置検出処理は制御部20のCPU21によって行われる処理であり、図示の例では12周期分(A〜F)のサンプリング結果が記憶部23に記憶される。また記憶部23には、サンプリングしたタッチセンサ50の検知結果に対応付けて、X軸方向、Y軸方向及びZ軸方向の検知位置の情報が記憶される。なお記憶部23に記憶する検知結果及び検知位置は、タッチセンサ50の接触によって生じるチャタリングの時間(図示の例では4周期分)と、タッチセンサ50の出力信号が安定して制御部20が接触を確定するまでの時間(図示の例では4周期分)との合計時間より数周期分多い情報量とすることができる。チャタリングの時間は、例えばマシニングセンタの設計段階などで予め測定して決定することができる。   FIG. 4 is a timing chart for explaining the contact position detection processing. An example of the output signal of the touch sensor 50 is shown in the upper part, and the sampling timing to the shift register 42 by the input / output unit 40 is shown in the lower part. The contact position detection process is a process performed by the CPU 21 of the control unit 20. In the illustrated example, sampling results for 12 cycles (A to F) are stored in the storage unit 23. The storage unit 23 stores information on detection positions in the X-axis direction, the Y-axis direction, and the Z-axis direction in association with the sampled detection results of the touch sensor 50. The detection result and the detection position stored in the storage unit 23 are the chattering time (four periods in the illustrated example) generated by the touch sensor 50 contact, and the output signal of the touch sensor 50 is stable and the control unit 20 is in contact. The amount of information can be set to be several cycles longer than the total time with the time until it is determined (four cycles in the illustrated example). The chattering time can be determined by measuring in advance at the design stage of the machining center, for example.

接触位置検出処理において、制御部20のCPU21は、記憶部23に記憶されたタッチセンサ50の検知結果を古いものから順に調べ、接触有りの検知結果が所定回数(図示の例では4回)連続していた場合に、タッチセンサ50のワークへの接触を確定する(図中のタイミングJ)。接触確定後、CPU21は、接触確定に係る所定回数の接触有りの検知結果のうちの初回のもの(タイミングG)より前に遡って、記憶部23に記憶された検知結果から最前の接触有りの検知結果(タイミングC)を取得する(即ち、記憶部23から最前の接触有りの検知結果を取得すればよい)。CPU21は、この検知結果がサンプリングされたタイミングを、ワークへタッチセンサ50が最初に接触したタイミングとし、この検知結果に対応するX軸方向、Y軸方向及びZ軸方向の検知位置を記憶部23から読み出して、ワークに対するタッチセンサ50の接触位置とする。これにより、実際にタッチセンサ50がワークに接触したタイミングに最も近いサンプリングタイミング(タイミングC)に対応した検知位置を、CPU21が記憶部23から取得して接触位置とすることができる。   In the contact position detection process, the CPU 21 of the control unit 20 examines the detection results of the touch sensor 50 stored in the storage unit 23 in order from the oldest one, and the detection result with contact is continuously a predetermined number of times (in the illustrated example, four times). If it is, the touch sensor 50 is confirmed to contact the workpiece (timing J in the figure). After the contact is confirmed, the CPU 21 goes back to the first detection result (timing G) of the predetermined number of contact detection results related to the contact determination, and from the detection result stored in the storage unit 23, the most recent contact is detected. The detection result (timing C) is acquired (that is, the detection result with the latest contact may be acquired from the storage unit 23). The CPU 21 sets the timing at which the detection result is sampled as the timing at which the touch sensor 50 first contacts the workpiece, and stores the detection positions in the X-axis direction, the Y-axis direction, and the Z-axis direction corresponding to the detection result. And the touch position of the touch sensor 50 with respect to the workpiece. As a result, the CPU 21 can acquire the detection position corresponding to the sampling timing (timing C) closest to the timing when the touch sensor 50 actually contacts the workpiece from the storage unit 23 and set it as the contact position.

図5は、接触位置検出処理を説明するためのタイミングチャートであり、図4にて説明した接触位置検出処理に対して更に最大遡及時間の条件を追加したものである。本処理の手順も、図4に示した処理の手順と同様に、CPU21は、接触有りの検知結果が所定回数連続していた場合に、タッチセンサ50のワークへの接触を確定し(タイミングL)、接触確定に係る所定回数の接触有りの検知結果のうちの初回のもの(タイミングI)より前に遡って、記憶部23に記憶された接触有りの検知結果を取得する。このとき、本処理では最大遡及時間(図示の例ではサンプリングの4周期分の時間)が予め設定されており、CPU21は、最大遡及時間の範囲内で検知結果を遡って調べ、最前の接触有りの検知結果(タイミングE)を取得する。   FIG. 5 is a timing chart for explaining the contact position detection process, in which a condition for the maximum retroactive time is further added to the contact position detection process explained in FIG. In the procedure of this process, similarly to the procedure of the process shown in FIG. 4, the CPU 21 determines the contact of the touch sensor 50 to the workpiece when the detection result of the presence of contact has continued for a predetermined number of times (timing L ), The detection result with contact stored in the storage unit 23 is acquired retroactively before the first detection result (timing I) among the predetermined number of detection results with contact according to the contact confirmation. At this time, in this process, the maximum retroactive time (in the example shown, the time for four sampling cycles) is set in advance, and the CPU 21 examines the detection result retroactively within the range of the maximum retroactive time, and there is the most recent contact. The detection result (timing E) is acquired.

このように最大遡及時間を設定しておくことによって、例えば図示のようにノイズなどによるタッチセンサ50の誤検知(タイミングA、B)が生じた場合であっても、CPU21がこの誤検知結果にまで遡って検知位置を接触位置として取得することを防止できる。なお最大遡及時間は、マシニングセンタの設計段階などにおいて予め測定したチャタリングの時間に基づいて決定することができる(例えば、チャタリング時間+数周期分の時間など)。   By setting the maximum retroactive time in this way, even if erroneous detection (timing A, B) of the touch sensor 50 due to noise or the like occurs, for example, as shown in the figure, the CPU 21 determines the erroneous detection result. It is possible to prevent the detection position from being acquired as the contact position retroactively. Note that the maximum retroactive time can be determined based on chattering time measured in advance in the design stage of the machining center (for example, chattering time + several cycles of time, etc.).

図6は、接触位置検出処理の手順を示すフローチャートであり、制御部20のCPU21が行う処理の手順を示したものである。なお、本処理においては、下記のレジスタ、カウンタ及びフラグ等を用いて処理を行うが、これらは記憶部23の記憶領域の一部分又はCPU21のレジスタ等により実現される。
レジスタP1、P2、P3:入出力ユニット40から受信したシフトレジスタ値を一時的に記憶するためのレジスタ。
レジスタ長L:レジスタP1、P2、P3のビット長。
チャタリング除去閾値N:接触有りを確定するための閾値であり、接触有りの検知結果がN回連続した場合に、接触有りと確定する。
カウンタC1:接触有りの連続数をカウントするためのカウンタ。
カウンタC2、C3:レジスタP1、P2、P3のレジスタ長だけシフトするために、シフトを行った回数をカウントするカウンタ。
カウンタC4:最初の接触有りの検知結果からシフトを行った回数をカウントするためのカウンタ。
フラグF1:接触有りの検知結果の有無を示すフラグ。
FIG. 6 is a flowchart showing the procedure of the contact position detection process, and shows the procedure of the process performed by the CPU 21 of the control unit 20. In this processing, processing is performed using the following registers, counters, flags, and the like, which are realized by a part of the storage area of the storage unit 23 or the register of the CPU 21.
Registers P1, P2, P3: registers for temporarily storing shift register values received from the input / output unit 40.
Register length L: Bit length of registers P1, P2, and P3.
Chattering removal threshold N: This is a threshold for determining the presence of contact, and it is determined that there is a contact when the detection result of the presence of contact continues N times.
Counter C1: A counter for counting the continuous number with contact.
Counters C2 and C3: Counters that count the number of shifts to shift by the register length of the registers P1, P2, and P3.
Counter C4: A counter for counting the number of shifts from the first detection result of contact.
Flag F1: A flag indicating whether or not there is a detection result of contact.

接触位置検出処理において、まずCPU21は、上記のレジスタP1〜P3及びカウンタC1〜C4の値を0にクリアすると共に、レジスタ長L及びチャタリング除去閾値Nを読み込む初期化処理を行う(ステップS1)。次いでCPU21は、入出力ユニット40との通信が通信I/F24にて行われたか否かを判定し(ステップS2)、通信が行われていない場合には(S2:NO)、通信が行われるまで待機する。   In the contact position detection process, the CPU 21 first clears the values of the registers P1 to P3 and the counters C1 to C4 to 0, and performs an initialization process for reading the register length L and the chattering removal threshold value N (step S1). Next, the CPU 21 determines whether or not communication with the input / output unit 40 is performed through the communication I / F 24 (step S2). When communication is not performed (S2: NO), communication is performed. Wait until.

入出力ユニット40との通信が行われた場合(S2:YES)、CPU21は、レジスタP3の値をレジスタP2に設定(記憶)し(ステップS3)、入出力ユニット40から受信した検知結果(シフトレジスタ42の値)をレジスタP1、P3に設定する(ステップS4)。即ちレジスタP3には、前回の通信にて入出力ユニット40から受信したシフトレジスタの値が記憶されており、レジスタP1に最新の受信データが設定され、レジスタP2に前回の受信データが設定される。以降の処理は、2つのレジスタP1、P2に設定された前回及び最新の2回分の受信データに対して行われる。   When communication with the input / output unit 40 is performed (S2: YES), the CPU 21 sets (stores) the value of the register P3 in the register P2 (step S3), and the detection result (shift) received from the input / output unit 40. The value of the register 42) is set in the registers P1 and P3 (step S4). That is, the register P3 stores the value of the shift register received from the input / output unit 40 in the previous communication, the latest received data is set in the register P1, and the previous received data is set in the register P2. . Subsequent processing is performed on the previous and latest two received data set in the two registers P1 and P2.

次いでCPU21は、レジスタP1、P2の値に基づいて、接触確定処理を行う(ステップS5)。図7及び図8は、接触確定処理の手順を示すフローチャートであり、CPU21がステップS5にて行う処理の詳細手順を示したものである。接触確定処理において、CPU21は、レジスタP2のMSB(Most Significant Bit)の値(レジスタP2に記憶された最も古い検知結果)が1(接触有り)であるか否かを判定する(ステップS21)。CPU21は、レジスタP2のMSBの値が1でない場合(S21:NO)、カウンタC1の値を0に設定し(ステップS22)、また、レジスタP2のMSBの値が1の場合(S21:YES)、カウンタC1の値に1を加算すると共にフラグF1に1を設定し(ステップS23)、ステップS24へ処理を進める。   Next, the CPU 21 performs contact determination processing based on the values of the registers P1 and P2 (step S5). 7 and 8 are flowcharts showing the procedure of the contact confirmation process, and shows the detailed procedure of the process performed by the CPU 21 in step S5. In the contact determination process, the CPU 21 determines whether or not the MSB (Most Significant Bit) value of the register P2 (the oldest detection result stored in the register P2) is 1 (contact present) (step S21). If the MSB value of the register P2 is not 1 (S21: NO), the CPU 21 sets the value of the counter C1 to 0 (step S22), and if the MSB value of the register P2 is 1 (S21: YES) Then, 1 is added to the value of the counter C1, and 1 is set to the flag F1 (step S23), and the process proceeds to step S24.

次いでCPU21は、カウンタC2の値に1を加算し(ステップS24)、レジスタP2を1ビットだけ左シフト(MSBのデータを破棄し、他のデータをMSB側へ1ビットずつ繰り上げ)する(ステップS25)。その後、CPU21は、フラグF1の値が1であるか否かを判定し(ステップS26)、フラグF1の値が1の場合は(S26:YES)、カウンタC4の値に1を加算して(ステップS27)、ステップS28へ処理を進める。またフラグF1の値が1でない場合(S26:NO)、CPU21は、ステップS28へ処理を進める。   Next, the CPU 21 adds 1 to the value of the counter C2 (step S24), and shifts the register P2 to the left by 1 bit (discards the MSB data and moves the other data to the MSB side by 1 bit) (step S25). ). Thereafter, the CPU 21 determines whether or not the value of the flag F1 is 1 (step S26). If the value of the flag F1 is 1 (S26: YES), the CPU 21 adds 1 to the value of the counter C4 ( The process proceeds to step S27) and step S28. If the value of the flag F1 is not 1 (S26: NO), the CPU 21 advances the process to step S28.

次いでCPU21は、カウンタC1の値がチャタリング除去閾値Nであるか否かを判定する(ステップS28)。カウンタC1の値がチャタリング除去閾値Nである場合(S28:YES)、接触有りの検知結果がN回連続しているため、CPU21は、接触を確定し(ステップS42)、接触確定処理を終了して図6に示すフローチャートの処理へ戻る。   Next, the CPU 21 determines whether or not the value of the counter C1 is the chattering removal threshold value N (step S28). When the value of the counter C1 is the chattering removal threshold value N (S28: YES), since the detection result of presence of contact is N times continuous, the CPU 21 determines the contact (step S42) and ends the contact determination process. Then, the process returns to the process of the flowchart shown in FIG.

カウンタC1の値がチャタリング除去閾値Nでない場合(S28:NO)、CPU21は、カウンタC2の値がレジスタ長Lであるか否かを更に判定する(ステップS29)。カウンタC2の値がレジスタ長Lでない場合(S29:NO)、CPU21は、ステップS21へ処理を戻し、レジスタP2の次のビットについて上記の処理を繰り返し行う。カウンタC2の値がレジスタ長Lの場合(S29:YES)、レジスタP2の全てのビットについて上記の処理を終えているため、CPU21は、カウンタC2の値を0に設定し(ステップS30)、ステップS31へ処理を進める。   If the value of the counter C1 is not the chattering removal threshold N (S28: NO), the CPU 21 further determines whether or not the value of the counter C2 is the register length L (step S29). If the value of the counter C2 is not the register length L (S29: NO), the CPU 21 returns the process to step S21 and repeats the above process for the next bit of the register P2. When the value of the counter C2 is the register length L (S29: YES), the CPU 21 sets the value of the counter C2 to 0 (step S30) because the above processing has been completed for all the bits of the register P2. The process proceeds to S31.

次いでCPU21は、レジスタP1に設定された値について同様の処理を行う。CPU21は、レジスタP1のMSBの値が1であるか否かを判定する(ステップS31)。CPU21は、レジスタP1のMSBの値が1でない場合(S31:NO)、カウンタC1の値を0に設定し(ステップS32)、また、レジスタP1のMSBの値が1の場合(S31:YES)、カウンタC1の値に1を加算すると共にフラグF1に1を設定し(ステップS33)、ステップS34へ処理を進める。   Next, the CPU 21 performs the same process for the value set in the register P1. The CPU 21 determines whether or not the MSB value of the register P1 is 1 (step S31). If the MSB value of the register P1 is not 1 (S31: NO), the CPU 21 sets the value of the counter C1 to 0 (step S32), and if the MSB value of the register P1 is 1 (S31: YES) Then, 1 is added to the value of the counter C1, and 1 is set to the flag F1 (step S33), and the process proceeds to step S34.

次いでCPU21は、カウンタC3の値に1を加算し(ステップS34)、レジスタP1を1ビットだけ左シフトする(ステップS35)。その後、CPU21は、フラグF1の値が1であるか否かを判定し(ステップS36)、フラグF1の値が1の場合は(S36:YES)、カウンタC4の値に1を加算して(ステップS37)、ステップS38へ処理を進める。またフラグF1の値が1でない場合(S36:NO)、CPU21は、ステップS38へ処理を進める。   Next, the CPU 21 adds 1 to the value of the counter C3 (step S34), and shifts the register P1 to the left by 1 bit (step S35). Thereafter, the CPU 21 determines whether or not the value of the flag F1 is 1 (step S36). If the value of the flag F1 is 1 (S36: YES), the CPU 21 adds 1 to the value of the counter C4 ( The process proceeds to step S37) and step S38. If the value of the flag F1 is not 1 (S36: NO), the CPU 21 advances the process to step S38.

次いでCPU21は、カウンタC1の値がチャタリング除去閾値Nであるか否かを判定する(ステップS38)。カウンタC1の値がチャタリング除去閾値Nである場合(S38:YES)、接触有りの検知結果がN回連続しているため、CPU21は、接触を確定し(ステップS42)、接触確定処理を終了して図6に示すフローチャートの処理へ戻る。   Next, the CPU 21 determines whether or not the value of the counter C1 is the chattering removal threshold value N (step S38). When the value of the counter C1 is the chattering removal threshold value N (S38: YES), since the detection result of contact is N times consecutively, the CPU 21 determines the contact (step S42) and ends the contact determination process. Then, the process returns to the process of the flowchart shown in FIG.

カウンタC1の値がチャタリング除去閾値Nでない場合(S38:NO)、CPU21は、カウンタC3の値がレジスタ長Lであるか否かを更に判定する(ステップS39)。カウンタC3の値がレジスタ長Lでない場合(S39:NO)、CPU21は、ステップS31へ処理を戻し、レジスタP1の次のビットについて上記の処理を繰り返し行う。カウンタC3の値がレジスタ長Lの場合(S39:YES)、レジスタP1の全てのビットについて上記の処理を終えているため、CPU21は、カウンタC1の値を0に設定して(ステップS40)、接触無しと判定し(ステップS41)、接触確定処理を終了して図6に示すフローチャートの処理へ戻る。   When the value of the counter C1 is not the chattering removal threshold value N (S38: NO), the CPU 21 further determines whether or not the value of the counter C3 is the register length L (step S39). When the value of the counter C3 is not the register length L (S39: NO), the CPU 21 returns the process to step S31 and repeats the above process for the next bit of the register P1. When the value of the counter C3 is the register length L (S39: YES), the CPU 21 sets the value of the counter C1 to 0 (step S40) because the above processing has been completed for all the bits of the register P1. It determines with there being no contact (step S41), complete | finishes a contact determination process, and returns to the process of the flowchart shown in FIG.

ステップS5の接触確定処理を終えた後、CPU21は、接触確定処理の処理結果に基づいて、接触が確定したか否かを判定する(ステップS6)。接触が確定していない場合(S6:NO)、CPU21は、ステップS2へ処理を戻し、入出力ユニット40との次の通信を待機する。接触が確定した場合(S6:YES)、CPU21は、ワークに対するタッチセンサ50の接触位置を確定する接触位置確定処理を行う(ステップS7)。   After completing the contact confirmation process in step S5, the CPU 21 determines whether or not the contact is confirmed based on the processing result of the contact confirmation process (step S6). When the contact is not confirmed (S6: NO), the CPU 21 returns the process to step S2 and waits for the next communication with the input / output unit 40. When the contact is determined (S6: YES), the CPU 21 performs a contact position determination process for determining the contact position of the touch sensor 50 with respect to the workpiece (step S7).

図9は、接触位置確定処理の手順を示すフローチャートであり、CPU21がステップS7にて行う処理の詳細手順を示したものである。接触位置確定処理において、まずCPU21は、遡及限界値Xの読み出しを行う(ステップS51)。遡及限界値Xは、図5に示した最大遡及時間に対応するものであり、最大遡及時間がサンプリング周期(シフトレジスタ用クロック発生部41が発生するクロック信号の周期)の何周期分に相当するかを示す固定値である。   FIG. 9 is a flowchart showing the procedure of the contact position determination process, and shows the detailed procedure of the process performed by the CPU 21 in step S7. In the contact position determination process, first, the CPU 21 reads the retroactive limit value X (step S51). The retroactive limit value X corresponds to the maximum retroactive time shown in FIG. 5, and the maximum retroactive time corresponds to how many sampling periods (the period of the clock signal generated by the shift register clock generator 41). It is a fixed value indicating

次いでCPU21は、カウンタC4の値が遡及限界値Xより小さいか否かを判定する(ステップS52)。カウンタC4の値が遡及限界値Xより小さい場合(S52:YES)、CPU21は、接触確定処理にて接触を確定したタイミングからカウンタC4の値だけ遡ったタイミングに対応する検知位置を記憶部23から取得し(ステップS53)、この検知位置を接触位置として接触位置確定処理を終了し、図6に示すフローチャートへ処理を戻す。また、カウンタC4の値が遡及限界値X以上の場合(S52:NO)、CPU21は、接触確定処理にて接触を確定したタイミングから遡及限界値Xだけ遡ったタイミングに対応する検知位置を記憶部23から取得し(ステップS54)、この検知位置を接触位置として接触位置確定処理を終了し、図6に示すフローチャートへ処理を戻す。図6の接触位置検出処理では、ステップS7の接触位置確定処理にて確定した接触位置を検出結果とし、処理を終了する。   Next, the CPU 21 determines whether or not the value of the counter C4 is smaller than the retroactive limit value X (step S52). When the value of the counter C4 is smaller than the retroactive limit value X (S52: YES), the CPU 21 stores the detection position corresponding to the timing retroactive by the value of the counter C4 from the timing when the contact is determined in the contact determination process from the storage unit 23. Acquired (step S53), the contact position determination process is terminated with this detected position as the contact position, and the process returns to the flowchart shown in FIG. When the value of the counter C4 is greater than or equal to the retroactive limit value X (S52: NO), the CPU 21 stores the detection position corresponding to the timing retroactive by the retroactive limit value X from the timing of determining the contact in the contact determination process. 23 (step S54), the detected position is set as the contact position, the contact position determination process is terminated, and the process returns to the flowchart shown in FIG. In the contact position detection process of FIG. 6, the contact position determined in the contact position determination process in step S7 is set as a detection result, and the process ends.

以上の構成のマシニングセンタにおいては、タッチセンサ50の出力信号(検知結果)をサンプリングしてシフトレジスタ42、記憶部23に時系列的に記憶し、接触有りの検知結果が所定回数連続した場合に接触を確定する構成とすることにより、所定回数未満の検知結果が除外されるため、チャタリングの影響を除去することができる。また、テーブル8に載置されたワークに対する主軸5Aに装着されたタッチセンサ50の位置をX軸方向、Y軸方向及びZ軸方向の座標情報としてサンプリングして記憶部23、33に時系列的に記憶し、タッチセンサ50の接触を確定した場合に、接触検知を確定した所定回数の検知結果の初回分をサンプリングしたタイミングより以前に遡って、記憶した検知位置を取得して接触位置とする構成とすることにより、チャタリングを除去して接触を確定する以前に遡ったタッチセンサ50の位置を最終的なタッチセンサ50の接触位置の検出結果とすることができる。チャタリングはタッチセンサ50及びワークの接触によって発生するため、接触確定以前に検知位置を遡ることによって、実際の接触位置に近い検出結果を得ることができ、接触位置の検出精度を向上することができる。   In the machining center having the above configuration, the output signal (detection result) of the touch sensor 50 is sampled and stored in the time series in the shift register 42 and the storage unit 23, and the contact is detected when the detection result with contact continues for a predetermined number of times. Since the detection result less than the predetermined number is excluded, the influence of chattering can be eliminated. Further, the position of the touch sensor 50 mounted on the spindle 5A with respect to the workpiece placed on the table 8 is sampled as coordinate information in the X-axis direction, the Y-axis direction, and the Z-axis direction, and stored in the storage units 23 and 33 in time series. When the contact of the touch sensor 50 is determined and the touch sensor 50 is determined to be contacted, the stored detection position is acquired and used as the contact position before the timing at which the first detection result of the predetermined number of times when the contact detection is determined is sampled. By adopting the configuration, the position of the touch sensor 50 that is traced back before the chattering is removed and the contact is determined can be used as the final detection result of the touch position of the touch sensor 50. Since chattering occurs due to contact between the touch sensor 50 and the workpiece, a detection result close to the actual contact position can be obtained by tracing back the detection position before the contact is determined, and the detection accuracy of the contact position can be improved. .

また、接触確定以前に遡って検知位置を取得する際には、時系列的に記憶した検知位置の中から、タッチセンサ50による接触有りの検知結果に対応する最前(最も古い)検知位置を取得する構成とすることにより、遡って検知位置を取得する処理が容易であると共に、検知位置の記憶数(検知位置を記憶するために必要な記憶部23の容量)を、チャタリングの発生から検知結果が安定するまでの時間程度のサンプリング結果を記憶できる小容量とすることができる。   Further, when acquiring the detection position retroactively before the contact is determined, the foremost (oldest) detection position corresponding to the detection result with the touch by the touch sensor 50 is acquired from the detection positions stored in time series. With this configuration, the process of acquiring the detection position retrospectively is easy, and the number of detection positions stored (the capacity of the storage unit 23 necessary for storing the detection positions) is detected from the occurrence of chattering. It is possible to make the capacity small enough to store the sampling result for the time until the time becomes stable.

また、接触確定から遡った最前の接触有りの検知結果が、接触確定から最大遡及時間より前のものである場合、最前の接触有りの検知結果に対応する検知位置を接触位置とするのではなく、最大遡及時間だけ遡った検知結果に対応する検知位置を接触位置とする構成とすることにより、チャタリング以前に例えば外乱ノイズなどの影響でタッチセンサ50の誤検知が発生した場合であっても、この誤検知の影響を除外することができる。   In addition, if the detection result with the latest contact traced back from the contact determination is before the maximum retroactive time from the contact determination, the detection position corresponding to the detection result with the previous contact is not the contact position. By setting the detection position corresponding to the detection result retroactive by the maximum retroactive time as the contact position, even if erroneous detection of the touch sensor 50 occurs due to, for example, disturbance noise before chattering, The influence of this false detection can be excluded.

なお、本実施の形態においては、タッチセンサ50を用いた対象物に対する接触位置の検出を行う構成(接触位置検出装置)をマシニングセンタに適用した例を示したが、接触位置検出装置の適用はマシニングセンタに限らず、その他の種々の対象物に対する接触位置検出を行う機能を有する種々の機器に適用可能である。   In the present embodiment, an example in which a configuration (contact position detection device) for detecting a contact position with respect to an object using the touch sensor 50 is applied to a machining center has been described. However, the contact position detection device is applied to the machining center. The present invention is not limited to this, and can be applied to various devices having a function of detecting contact positions with respect to other various objects.

また、タッチセンサ50の検知結果を入出力ユニット40にてサンプリングし、通信によって制御部20へサンプリング結果を与える構成としたが、これに限るものではなく、制御部20が直接的にタッチセンサ50の検知結果をサンプリングする構成であってもよい。同様に、X軸方向、Y軸方向及びZ軸方向の検知位置についても、サーボアンプ30から制御部20へサンプリング結果を送信するのではなく、制御部20が直接的にサンプリングする構成であってもよい。また、制御部20の記憶部23及び/又はサーボアンプ30の記憶部33は、(検知結果又は検知位置の記憶に関して)シフトレジスタで構成してもよい。   Further, the detection result of the touch sensor 50 is sampled by the input / output unit 40, and the sampling result is given to the control unit 20 by communication. However, the present invention is not limited to this, and the control unit 20 directly controls the touch sensor 50. The detection result may be sampled. Similarly, with respect to the detection positions in the X-axis direction, the Y-axis direction, and the Z-axis direction, the control unit 20 directly samples the sampling result instead of transmitting the sampling result from the servo amplifier 30 to the control unit 20. Also good. Further, the storage unit 23 of the control unit 20 and / or the storage unit 33 of the servo amplifier 30 may be configured with a shift register (with respect to storage of detection results or detection positions).

また、接触確定から遡って接触位置を取得する際に、最大遡及時間(遡及限界値X)にて遡る時間を限定する構成としたが、これを行わない構成としてもよい。最大遡及時間による限定を行うか否かは、制御部20の記憶部23に記憶しておく検知結果の量(何周期分の検知結果を記憶しておくか)、及び、接触を確定する接触有りの検知結果の連続数(即ち、チャタリング除去閾値N)等の条件に基づいて、装置の設計者などが予め判断することができる。   Moreover, when acquiring a contact position retroactively from contact confirmation, it was set as the structure which limits the time to go back by the maximum retroactive time (retroactive limit value X), However, It is good also as a structure which does not perform this. Whether or not to limit the maximum retroactive time depends on the amount of detection results stored in the storage unit 23 of the control unit 20 (how many detection results are stored) and the contact for confirming the contact Based on conditions such as the number of consecutive detection results (that is, chattering removal threshold N) and the like, the designer of the apparatus can make a determination in advance.

(実施の形態2)
上述の実施の形態1に係るマシニングセンタは、タッチセンサ50を用いてワークの形状測定を行う構成であるのに対し、実施の形態2に係るマシニングセンタは、タッチセンサに対する工具6の接触位置の検知結果に応じて、工具6の折損検出を行う構成である。図10は、実施の形態2に係るマシニングセンタの構成を説明するための模式図である。実施の形態2に係るマシニングセンタは、ワークを載置するテーブル8上にタッチセンサ150が設けられている。
(Embodiment 2)
The machining center according to the first embodiment described above is configured to measure the shape of the workpiece using the touch sensor 50, whereas the machining center according to the second embodiment is a detection result of the contact position of the tool 6 with respect to the touch sensor. Accordingly, the breakage of the tool 6 is detected. FIG. 10 is a schematic diagram for explaining the configuration of the machining center according to the second embodiment. In the machining center according to the second embodiment, a touch sensor 150 is provided on a table 8 on which a workpiece is placed.

マシニングセンタの制御部20は、X軸モータ63及びY軸モータ65を駆動することによって、主軸5A(に装着された工具6)の直下にセンサ150が位置するよう、テーブル8をX軸方向及びY軸方向へ移動させることができる。その後、制御部20は、主軸5Aに装着された工具6がタッチセンサ150に接触するまで、Z軸モータ67の駆動によって主軸ヘッド5をZ軸方向の下方へ移動させ、工具6がタッチセンサ150に接触した場合のZ軸方向の座標情報を取得する。   The control unit 20 of the machining center drives the X-axis motor 63 and the Y-axis motor 65 to move the table 8 in the X-axis direction and the Y-axis so that the sensor 150 is positioned directly below the main shaft 5A (the tool 6 attached to the spindle 5A). It can be moved in the axial direction. Thereafter, the control unit 20 moves the spindle head 5 downward in the Z-axis direction by driving the Z-axis motor 67 until the tool 6 attached to the spindle 5A contacts the touch sensor 150, and the tool 6 moves to the touch sensor 150. The coordinate information in the Z-axis direction when touching is acquired.

このときに制御部20が取得するZ軸方向の座標情報は、主軸5Aに装着された工具6の長さに対応する情報である。マシニングセンタには、各工具6の長さに対応して、タッチセンサ150に接触することが期待されるZ軸方向の座標情報が予め記憶されており、予め記憶した座標情報と実際に検出した座標情報との差が閾値を超えた場合に、制御部20は工具6に折損が生じていることを検出する。   The coordinate information in the Z-axis direction acquired by the control unit 20 at this time is information corresponding to the length of the tool 6 attached to the main shaft 5A. In the machining center, coordinate information in the Z-axis direction that is expected to come into contact with the touch sensor 150 corresponding to the length of each tool 6 is stored in advance, and the coordinate information stored in advance and the coordinates actually detected are stored. When the difference from the information exceeds the threshold value, the control unit 20 detects that the tool 6 is broken.

なお、実施の形態2に係るマシニングセンタの折損検出処理では、実施の形態1に係るマシニングセンタのワークの形状測定処理と同様に、タッチセンサ150に対する工具6の接触ありの検知結果が所定回数連続した場合に接触を確定し、接触確定から遡って接触位置(Z軸方向の座標情報)を取得する。   In the breakage detection process of the machining center according to the second embodiment, when the detection result of the touch of the tool 6 with respect to the touch sensor 150 continues for a predetermined number of times, as in the workpiece shape measurement process of the machining center according to the first embodiment. The contact is confirmed, and the contact position (coordinate information in the Z-axis direction) is acquired retrospectively from the contact confirmation.

また、実施の形態2に係るマシニングセンタは、主軸ヘッド5のZ軸方向への移動制御に関して、温度変化による移動量の変化を補正することができる。以下、この補正処理について簡単に説明する(詳細は特許文献2を参照)。マシニングセンタの主軸ヘッド5にはナット部(図示は省略する)が設けられ、このナット部はコラム4に設けられたボールネジ(図示は省略する)と螺合している。ボールネジは回転自在に支持されており、Z軸モータ67によってボールネジが回転駆動されることにより、主軸ヘッド5がZ軸方向へ移動する。   Further, the machining center according to the second embodiment can correct the change in the movement amount due to the temperature change with respect to the movement control of the spindle head 5 in the Z-axis direction. Hereinafter, this correction process will be briefly described (refer to Patent Document 2 for details). The spindle head 5 of the machining center is provided with a nut portion (not shown), and this nut portion is screwed with a ball screw (not shown) provided on the column 4. The ball screw is rotatably supported. When the ball screw is rotationally driven by the Z-axis motor 67, the spindle head 5 moves in the Z-axis direction.

加工の際に主軸ヘッド5がZ軸方向への移動を繰り返すと、主軸ヘッド5のナット部とボールネジとの摩擦によって発熱し、これらの熱がコラム4、ボールネジ及び主軸ヘッド5等に伝わり、各部の温度が上昇する。このとき、コラム4は上方へ膨張し、ボールネジは下方へ膨張し、主軸ヘッド5は下方へ膨張するため、これらの膨張量に応じて主軸ヘッド5の下端面(工具6が装着される位置)は変位する。   When the spindle head 5 repeatedly moves in the Z-axis direction during processing, heat is generated by friction between the nut portion of the spindle head 5 and the ball screw, and the heat is transmitted to the column 4, the ball screw, the spindle head 5, and the like. Temperature rises. At this time, since the column 4 expands upward, the ball screw expands downward, and the spindle head 5 expands downward, the lower end surface of the spindle head 5 (position where the tool 6 is mounted) according to the expansion amount. Is displaced.

そこで実施の形態2に係るマシニングセンタの制御部20は、以下の処理を行うことで加工条件(主軸ヘッド5のZ軸方向への移動量)を補正する。まず制御部20は、主軸ヘッド5の基準位置(例えば工具交換を行う位置)から、主軸5Aに装着された第1の工具がタッチセンサ150に接触するまで(接触確定するまで)、主軸ヘッド5をZ軸方向の下方へ移動させ、第1の工具がタッチセンサ150に接触した位置(この位置をZ1とする)を取得する。次いで制御部20は、予め記憶された第1の工具の寸法及びタッチセンサ150の寸法等によって定義される位置情報(即ち、第1の工具によるタッチセンサ150への接触位置の期待値)と、実際に検出した位置情報Z1との差を変位量D1として算出する。   Therefore, the control unit 20 of the machining center according to the second embodiment corrects the machining conditions (the amount of movement of the spindle head 5 in the Z-axis direction) by performing the following processing. First, the control unit 20 starts from the reference position of the spindle head 5 (for example, the position where the tool is changed) until the first tool mounted on the spindle 5A comes into contact with the touch sensor 150 (until the contact is confirmed). Is moved downward in the Z-axis direction, and the position at which the first tool contacts the touch sensor 150 (this position is referred to as Z1) is acquired. Next, the control unit 20 includes position information defined by the dimensions of the first tool and the dimensions of the touch sensor 150 stored in advance (that is, the expected value of the contact position of the first tool on the touch sensor 150), A difference from the actually detected position information Z1 is calculated as a displacement amount D1.

次いで制御部20は、工具交換を行って主軸5Aに第2の工具(第1の工具とは長さが異なる工具)を装着し、同様にして第2の工具がタッチセンサ150に接触した位置Z2を検出し、変位量D2を算出する。以上の処理によって得られた接触位置Z1、Z2及び変位量D1、D2を用いると、Z軸方向の座標zにおける変位量D(z)を下記の(1)式で表すことができる。   Next, the control unit 20 replaces the tool, attaches the second tool (tool having a different length from the first tool) to the spindle 5A, and similarly, the position where the second tool contacts the touch sensor 150. Z2 is detected and a displacement amount D2 is calculated. When the contact positions Z1 and Z2 and the displacement amounts D1 and D2 obtained by the above processing are used, the displacement amount D (z) at the coordinate z in the Z-axis direction can be expressed by the following equation (1).

D(z)=(D2−D1)/(Z2−Z1)×z+(Z2×D1−Z1×D2)/(Z2−Z1) …(1)   D (z) = (D2-D1) / (Z2-Z1) * z + (Z2 * D1-Z1 * D2) / (Z2-Z1) (1)

上記の(1)式により、Z軸方向の各位置における変位量を算出することができるため、制御部20がこの変位量を打ち消すように主軸ヘッド5のZ軸方向への移動量を補正することによって、マシニングセンタの加工精度を高めることができる。なお、接触位置Z1、Z2を検出する際には、実施の形態1に係るマシニングセンタのワークの形状測定処理と同様に、タッチセンサ150に対する第1の工具又は第2の工具の接触ありの検知結果が所定回数連続した場合に接触を確定し、接触確定から遡って接触位置Z1、Z2を取得する。   Since the displacement amount at each position in the Z-axis direction can be calculated by the above equation (1), the control unit 20 corrects the movement amount of the spindle head 5 in the Z-axis direction so as to cancel the displacement amount. As a result, the machining accuracy of the machining center can be increased. Note that when the contact positions Z1 and Z2 are detected, the detection result of the contact of the first tool or the second tool with respect to the touch sensor 150 is detected as in the workpiece shape measurement process of the machining center according to the first embodiment. Is determined for a predetermined number of times, the contact is determined, and the contact positions Z1 and Z2 are acquired retroactively from the contact determination.

以上の構成の実施の形態2に係るマシニングセンタは、工具6の折損検出又はZ軸方向の移動に係る補正処理を、タッチセンサ150への工具6の接触位置の検知結果に基づいて行うと共に、タッチセンサ150の接触確定から遡って接触位置を取得する構成とすることにより、タッチセンサ150にて発生するチャタリングの影響を除去することができると共に、接触位置の検出精度を向上することができるため、折損検出処理又は補正処理を高精度に行うことができる。   The machining center according to the second embodiment having the above-described configuration performs the correction process related to the breakage detection of the tool 6 or the movement in the Z-axis direction based on the detection result of the contact position of the tool 6 with respect to the touch sensor 150 and the touch. By adopting a configuration in which the contact position is acquired retrospectively from the contact determination of the sensor 150, the influence of chattering generated in the touch sensor 150 can be removed, and the detection accuracy of the contact position can be improved. The breakage detection process or the correction process can be performed with high accuracy.

4 コラム
5 主軸ヘッド
5A 主軸
6 工具
7 工具交換機構
8 テーブル
9 制御ボックス
14 工具マガジン
15 工具交換アーム
20 制御部
21 CPU(接触確定手段、位置取得手段、カウンタ、測定手段、折損検出手段)
22 制御クロック発生部
23 記憶部(位置記憶手段)
24 通信I/F
30 サーボアンプ
31 CPU
32 サーボクロック
33 記憶部(位置記憶手段)
34 通信I/F
35 モータI/F
36 エンコーダI/F(位置検知手段)
40 入出力ユニット
41 シフトレジスタ用クロック発生部
42 シフトレジスタ(接触検知手段)
43 通信I/F
50 タッチセンサ(センサ)
61 主軸モータ
62 主軸エンコーダ
63 X軸モータ(変位手段)
64 X軸エンコーダ
65 Y軸モータ(変位手段)
66 Y軸エンコーダ
67 Z軸モータ(変位手段)
68 Z軸エンコーダ
150 タッチセンサ(センサ)
4 column 5 spindle head 5A spindle 6 tool 7 tool change mechanism 8 table 9 control box 14 tool magazine 15 tool change arm 20 control unit 21 CPU (contact determination means, position acquisition means, counter, measurement means, breakage detection means)
22 control clock generator 23 storage unit (position storage means)
24 Communication I / F
30 Servo amplifier 31 CPU
32 Servo clock 33 Storage section (position storage means)
34 Communication I / F
35 Motor I / F
36 Encoder I / F (position detection means)
40 I / O unit 41 Clock generator for shift register 42 Shift register (contact detection means)
43 Communication I / F
50 Touch sensor (sensor)
61 Spindle motor 62 Spindle encoder 63 X-axis motor (displacement means)
64 X-axis encoder 65 Y-axis motor (displacement means)
66 Y-axis encoder 67 Z-axis motor (displacement means)
68 Z-axis encoder 150 Touch sensor (sensor)

Claims (5)

対象物への接触の有無を検知するセンサの検知結果を時系列にサンプリングする接触検知手段と、前記センサ及び前記対象物の相対的な位置を変位させる変位手段と、前記位置を時系列的にサンプリングする位置検知手段とを備え、前記センサが対象物に接触した位置を検出する接触位置検出装置であって、
前記接触検知手段の検知結果を時系列的に複数回分記憶する検知結果記憶手段と、
前記位置検知手段がサンプリングした位置を時系列的に複数回分記憶する位置記憶手段と、
前記接触検知手段による接触有りの検知結果が所定回数連続した場合に、対象物への接触を確定する接触確定手段と、
前記所定回数連続した接触有りの検知結果のうちの初回の検知結果を前記接触検知手段がサンプリングした時点より前の接触有りの検知結果を、前記検知結果記憶手段に記憶した検知結果から抽出し、抽出した検知結果に対応するサンプリング時に前記位置検知手段がサンプリングした位置を、前記位置記憶手段から取得する位置取得手段と
前記接触検知手段による接触有りの最初の検知結果から、前記接触確定手段が接触を確定した検知結果までのサンプリング数を計数するカウンタと
を備え、
前記位置取得手段は、前記接触確定手段が接触を確定した場合に、前記カウンタの計数値に基づいて、接触有りの最初の検知結果に対応する位置を取得するようにしてあり、
前記位置取得手段が取得した位置を、前記センサが前記対象物に接触した位置として検出するようにしてあること
を特徴とする接触位置検出装置。
Contact detection means for sampling a detection result of a sensor for detecting presence or absence of contact with an object in time series, displacement means for displacing a relative position of the sensor and the object, and the position in time series A position detecting means for sampling, and a contact position detecting device for detecting a position at which the sensor contacts an object,
Detection result storage means for storing the detection results of the contact detection means a plurality of times in a time series;
Position storage means for storing the position sampled by the position detection means a plurality of times in time series;
Contact confirmation means for confirming contact with an object when the detection result of presence of contact by the contact detection means is continued a predetermined number of times;
The initial detection results before the time when the contact detection means is sampled in contact there the detection result of said predetermined number of consecutive contacts there the detection result, and extracted detected from the result stored in the detection result storage means, Position acquisition means for acquiring the position sampled by the position detection means at the time of sampling corresponding to the extracted detection result from the position storage means ;
A counter that counts the number of sampling from the first detection result with contact by the contact detection unit to the detection result with the contact determination unit determining contact ;
The position acquisition means acquires a position corresponding to the first detection result with contact based on the count value of the counter when the contact determination means determines contact,
The contact position detection apparatus characterized in that the position acquired by the position acquisition means is detected as a position where the sensor is in contact with the object.
前記位置取得手段は、前記最初の検知結果が前記接触検知手段にてサンプリングされた時点から、前記接触確定手段が接触を確定した時点までの時間が所定時間より長い場合、前記接触確定手段が接触を確定した時点から前記所定時間前の時点に対応する位置を、前記位置記憶手段が記憶した複数回分の位置から取得するようにしてあること
を特徴とする請求項1に記載の接触位置検出装置。
When the time from the time when the first detection result is sampled by the contact detection unit to the time when the contact determination unit determines contact is longer than a predetermined time, the position acquisition unit determines that the contact determination unit is in contact the position corresponding to a point in time before the predetermined time from the defined point in time, said position storing means the contact position detecting apparatus according to claim 1, characterized in that are to be acquired from a plurality of times of position stored .
前記接触検知手段は、サンプリングした検知結果をシフトレジスタに順にシフトして記憶するようにしてあること
を特徴とする請求項1又は請求項に記載の接触位置検出装置。
The contact detection unit, the contact position detecting apparatus according to claim 1 or claim 2, characterized in that shifting sequentially the detection results of the sampling in the shift register are to be stored.
装着された工具にてワークの加工を行う工作機械において、
請求項1乃至請求項のいずれか1つに記載の接触位置検出装置が、前記対象物を前記ワークとして検出した接触位置に応じて、前記ワークの形状を測定する測定手段を備えること
を特徴とする工作機械。
In machine tools that process workpieces with installed tools,
The contact position detection device according to any one of claims 1 to 3 , further comprising a measurement unit that measures the shape of the workpiece according to the contact position at which the object is detected as the workpiece. A machine tool.
装着された工具にてワークの加工を行う工作機械において、
請求項1乃至請求項のいずれか1つに記載の接触位置検出装置が、前記対象物を前記工具として検出した接触位置に応じて、前記工具の折損を検出する折損検出手段を備えること
を特徴とする工作機械。
In machine tools that process workpieces with installed tools,
The contact position detection device according to any one of claims 1 to 3 , further comprising: a break detection unit that detects breakage of the tool according to a contact position where the object is detected as the tool. A featured machine tool.
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