JP5750242B2 - Resist composition - Google Patents

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本発明は、レジスト組成物に関し、より詳細には、半導体の微細加工に用いられるレジスト組成物に関する。   The present invention relates to a resist composition, and more particularly to a resist composition used for fine processing of semiconductors.

リソグラフィ技術を用いた半導体の微細加工に用いられるレジスト組成物は、樹脂を含有してなる。
例えば、特許文献1には、モノマーA及びモノマーDに由来する構造単位を有する樹脂と、トリルジフェニルスルホニウム パーフルオロブタンスルホナートからなる酸発生剤と、式(C1)で表される塩とを含むレジスト組成物が記載されている。

Figure 0005750242
A resist composition used for microfabrication of a semiconductor using a lithography technique contains a resin.
For example, Patent Document 1 includes a resin having a structural unit derived from monomer A and monomer D, an acid generator composed of tolyldiphenylsulfonium perfluorobutanesulfonate, and a salt represented by formula (C1). A resist composition is described.
Figure 0005750242

特開2002−122994号公報JP 2002-122994 A

従来のレジスト組成物では、得られるパターンの解像度及びラインエッジラフネス(LER)が必ずしも満足できない場合があった。   Conventional resist compositions may not always satisfy the resolution and line edge roughness (LER) of the pattern obtained.

本願は、以下の発明を提供する。
〔1〕式(I)で表される酸発生剤、樹脂および式(II)で表される化合物を含有するレジスト組成物。

Figure 0005750242
[式(I)中、
及びQは、互いに独立に、フッ素原子又は炭素数1〜6のペルフルオロアルキル基を表す。
は、単結合又は置換基を有していてもよい炭素数1〜17の飽和炭化水素基を表し、該飽和炭化水素基に含まれるメチレン基は酸素原子又はカルボニル基で置換されていてもよい。
は、直鎖状又は分岐状の炭素数1〜36の脂肪族炭化水素基、炭素数3〜36の脂環式炭化水素基あるいは炭素数6〜36の芳香族炭化水素基であり、該脂肪族炭化水素基、脂環式炭化水素基及び芳香族炭化水素基は置換基を有していてもよく、該脂肪族炭化水素基及び脂環式炭化水素基に含まれるメチレン基は酸素原子又はカルボニル基で置換されていてもよい。
は、有機カチオンを表す。]
Figure 0005750242
[式(II)中、
は、置換基を有していてもよい炭素数1〜10の脂肪族炭化水素基、置換基を有してもよい炭素数4〜36の脂環式炭化水素基、置換基を有していてもよい炭素数3〜36の芳香族炭化水素基、又は置換基を有していてもよい炭素数3〜36の複素環基を表す。該脂肪族炭化水素基及び該脂環式炭化水素基に含まれるメチレン基は、酸素原子またはカルボニル基で置換されていてもよい。
Z'は、有機カチオンを表す。] The present application provides the following inventions.
[1] A resist composition containing an acid generator represented by formula (I), a resin, and a compound represented by formula (II).
Figure 0005750242
[In the formula (I),
Q 1 and Q 2 each independently represent a fluorine atom or a C 1-6 perfluoroalkyl group.
X 1 represents a single bond or a saturated hydrocarbon group having 1 to 17 carbon atoms which may have a substituent, and the methylene group contained in the saturated hydrocarbon group is substituted with an oxygen atom or a carbonyl group. Also good.
Y 1 is a linear or branched aliphatic hydrocarbon group having 1 to 36 carbon atoms, an alicyclic hydrocarbon group having 3 to 36 carbon atoms, or an aromatic hydrocarbon group having 6 to 36 carbon atoms, The aliphatic hydrocarbon group, alicyclic hydrocarbon group and aromatic hydrocarbon group may have a substituent, and the methylene group contained in the aliphatic hydrocarbon group and alicyclic hydrocarbon group is oxygen. It may be substituted with an atom or a carbonyl group.
Z + represents an organic cation. ]
Figure 0005750242
[In the formula (II),
R A has an optionally substituted aliphatic hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms, an alicyclic hydrocarbon group having 4 to 36 carbon atoms that may have a substituent, and a substituent. Represents an aromatic hydrocarbon group having 3 to 36 carbon atoms which may be substituted, or a heterocyclic group having 3 to 36 carbon atoms which may have a substituent. The methylene group contained in the aliphatic hydrocarbon group and the alicyclic hydrocarbon group may be substituted with an oxygen atom or a carbonyl group.
Z ′ + represents an organic cation. ]

〔2〕Xが、−CO−O−[CH−(hは、0〜10の整数を表す)である〔1〕記載のレジスト組成物。
〔3〕Yが式(Y1)又は式(Y2)で表される基である〔1〕又は〔2〕記載のレジスト組成物。

Figure 0005750242
[式(Y1)及び式(Y2)中、
環に含まれる水素原子は、ハロゲン原子、水酸基、炭素数1〜12のアルキル基、炭素数1〜12のアルコキシ基、炭素数6〜12のアリール基、炭素数7〜12のアラルキル基、グリシジルオキシ基又は炭素数2〜4のアシル基で置換されていてもよく、環に含まれるメチレン基は、カルボニル基又は酸素原子で置換されていてもよい。
*は、Xとの結合手を表す。]
〔4〕Z'が、式(III)で表されるカチオンである〔1〕〜〔3〕のいずれか記載のレジスト組成物。
Figure 0005750242
[式(III)中、
、R及びRは、それぞれ独立に、置換基を有していてもよい炭素数1〜10の脂肪族炭化水素基、置換基を有してもよい炭素数4〜36の脂環式炭化水素基、置換基を有していてもよい炭素数3〜36の芳香族炭化水素基又は置換基を有していてもよい炭素数3〜36の複素環基を表す。該脂肪族炭化水素基、脂環式炭化水素基、芳香族炭化水素基、複素環基に含まれる炭素原子は、硫黄原子、酸素原子又はカルボニル基で置換されていてもよい。R、R及びRのうちの2つが互いに結合して環を形成してもよい。] [2] The resist composition according to [1], wherein X 1 is —CO—O— [CH 2 ] h — (h represents an integer of 0 to 10).
[3] The resist composition according to [1] or [2], wherein Y 1 is a group represented by formula (Y1) or formula (Y2).
Figure 0005750242
[In Formula (Y1) and Formula (Y2),
The hydrogen atom contained in the ring is a halogen atom, a hydroxyl group, an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 12 carbon atoms, an aryl group having 6 to 12 carbon atoms, an aralkyl group having 7 to 12 carbon atoms, or glycidyl. It may be substituted with an oxy group or an acyl group having 2 to 4 carbon atoms, and the methylene group contained in the ring may be substituted with a carbonyl group or an oxygen atom.
* Represents a bond to X 1. ]
[4] The resist composition according to any one of [1] to [3], wherein Z ′ + is a cation represented by the formula (III).
Figure 0005750242
[In the formula (III),
R B , R C and R D are each independently an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms which may have a substituent, or an aliphatic hydrocarbon group having 4 to 36 carbon atoms which may have a substituent. It represents a cyclic hydrocarbon group, an optionally substituted aromatic hydrocarbon group having 3 to 36 carbon atoms, or an optionally substituted heterocyclic group having 3 to 36 carbon atoms. The carbon atom contained in the aliphatic hydrocarbon group, alicyclic hydrocarbon group, aromatic hydrocarbon group or heterocyclic group may be substituted with a sulfur atom, oxygen atom or carbonyl group. Two of R B , R C and R D may be bonded to each other to form a ring. ]

〔5〕Rが、炭素数1〜8のアルキル基又は式(IV)で表される基である〔1〕〜〔4〕のいずれか記載のレジスト組成物。

Figure 0005750242
[式(IV)中、
環に含まれる水素原子は、ハロゲン原子、水酸基、炭素数1〜12のアルキル基、炭素数1〜12のアルコキシ基、炭素数6〜12のアリール基、炭素数7〜12のアラルキル基、グリシジルオキシ基又は炭素数2〜4のアシル基で置換されていてもよく、環に含まれるメチレン基は、カルボニル基又は酸素原子で置換されていてもよい。
*は、酸素原子との結合手を表す。]
〔6〕樹脂が、酸に不安定な基を有し、かつアルカリ水溶液に不溶又は難溶であり、酸と作用してアルカリ水溶液で溶解しえる樹脂である〔1〕〜〔5〕のいずれか記載のレジスト組成物。
〔7〕上記〔6〕記載の組成物と塩基性化合物とを含有するレジスト組成物。
〔8〕塩基性化合物が、ジイソプロピルアニリンである〔7〕記載のレジスト組成物。 [5] The resist composition according to any one of [1] to [4], wherein R A is an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms or a group represented by formula (IV).
Figure 0005750242
[In the formula (IV),
The hydrogen atom contained in the ring is a halogen atom, a hydroxyl group, an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 12 carbon atoms, an aryl group having 6 to 12 carbon atoms, an aralkyl group having 7 to 12 carbon atoms, or glycidyl. It may be substituted with an oxy group or an acyl group having 2 to 4 carbon atoms, and the methylene group contained in the ring may be substituted with a carbonyl group or an oxygen atom.
* Represents a bond with an oxygen atom. ]
[6] Any one of [1] to [5], wherein the resin has an acid labile group and is insoluble or hardly soluble in an aqueous alkali solution and can be dissolved in an aqueous alkali solution by acting with an acid. A resist composition as described above.
[7] A resist composition comprising the composition according to [6] above and a basic compound.
[8] The resist composition according to [7], wherein the basic compound is diisopropylaniline.

〔9〕(1)上記〔1〕〜〔7〕のいずれか記載のレジスト組成物を基板上に塗布する工程、
(2)塗布後の組成物から溶剤を除去して組成物層を形成する工程、
(3)組成物層に露光機を用いて露光する工程、
(4)露光後の組成物層を加熱する工程、
(5)加熱後の組成物層を、現像装置を用いて現像する工程を含むことを特徴とするパターン形成方法。
[9] (1) A step of applying the resist composition according to any one of [1] to [7] on a substrate,
(2) a step of removing the solvent from the composition after coating to form a composition layer;
(3) a step of exposing the composition layer using an exposure machine;
(4) A step of heating the composition layer after exposure,
(5) A pattern forming method comprising a step of developing the heated composition layer using a developing device.

本発明のレジスト組成物によれば、得られるパターンの解像度及びLERをより改善することができる。   According to the resist composition of the present invention, the resolution and LER of the resulting pattern can be further improved.

本発明のレジスト組成物は、式(I)で表される酸発生剤(以下「酸発生剤(A)」という場合がある)を含有する。

Figure 0005750242
[式(I)中、
及びQは、互いに独立に、フッ素原子又は炭素数1〜6のペルフルオロアルキル基を表す。
は、単結合又は置換基を有していてもよい炭素数1〜17の飽和炭化水素基を表し、該飽和炭化水素基に含まれるメチレン基は酸素原子又はカルボニル基で置換されていてもよい。
は、直鎖状又は分岐状の炭素数1〜36の脂肪族炭化水素基、炭素数3〜36の脂環式炭化水素基あるいは炭素数6〜36の芳香族炭化水素基であり、該脂肪族炭化水素基、脂環式炭化水素基及び芳香族炭化水素基は置換基を有していてもよく、該脂肪族炭化水素基及び脂環式炭化水素基に含まれるメチレン基は酸素原子又はカルボニル基で置換されていてもよい。
は、有機カチオンを表す。] The resist composition of the present invention contains an acid generator represented by formula (I) (hereinafter sometimes referred to as “acid generator (A)”).
Figure 0005750242
[In the formula (I),
Q 1 and Q 2 each independently represent a fluorine atom or a C 1-6 perfluoroalkyl group.
X 1 represents a single bond or a saturated hydrocarbon group having 1 to 17 carbon atoms which may have a substituent, and the methylene group contained in the saturated hydrocarbon group is substituted with an oxygen atom or a carbonyl group. Also good.
Y 1 is a linear or branched aliphatic hydrocarbon group having 1 to 36 carbon atoms, an alicyclic hydrocarbon group having 3 to 36 carbon atoms, or an aromatic hydrocarbon group having 6 to 36 carbon atoms, The aliphatic hydrocarbon group, alicyclic hydrocarbon group and aromatic hydrocarbon group may have a substituent, and the methylene group contained in the aliphatic hydrocarbon group and alicyclic hydrocarbon group is oxygen. It may be substituted with an atom or a carbonyl group.
Z + represents an organic cation. ]

本明細書では、特に断りのない限り、同様の置換基を有するいずれの化学構造式も、炭素数を適宜選択しながら、後述する具体的な各置換基を適用することができる。直鎖状、分岐状又は環状いずれかをとることができるものは、特記ない限りそのいずれをも含み、また、同一の基において、直鎖状、分岐状及び/又は環状の部分構造が混在していてもよい。立体異性体が存在する場合は、それらの立体異性体の全てを包含する。
さらに、「(メタ)アクリル」とは、「CH2=CH−CO−」又は「CH2=C(CH3)−CO−」の構造を有する少なくとも1種を意味する。同様に「(メタ)アクリレート」及び「(メタ)アクリル酸」とは、それぞれ「アクリレート及びメタクリレートの少なくとも1種」並びに「アクリル酸及びメタクリル酸の少なくとも1種」を意味する。
In this specification, unless otherwise specified, specific chemical substituents described later can be applied to any chemical structural formula having the same substituents while appropriately selecting the number of carbon atoms. Those which can take any of linear, branched or cyclic are included unless otherwise specified, and in the same group, linear, branched and / or cyclic partial structures are mixed. It may be. When stereoisomers exist, all of those stereoisomers are included.
Further, "(meth) acryl" means at least one having the structure of "CH 2 = CH-CO-" or "CH 2 = C (CH 3) -CO- ". Similarly, “(meth) acrylate” and “(meth) acrylic acid” mean “at least one of acrylate and methacrylate” and “at least one of acrylic acid and methacrylic acid”, respectively.

ペルフルオロアルキル基としては、ペルフルオロメチル基、ペルフルオロエチル基、ペルフルオロ−n−プロピル基、ペルフルオロイソプロピル基、ペルフルオロ−n−ブチル基、ペルフルオロ−sec−ブチル基、ペルフルオロ−tert−ブチル基、ペルフルオロ−n−ペンチル基、ペルフルオロ−n−ヘキシル基などが挙げられる。なかでも、ペルフルオロメチル基が好ましい。   Examples of perfluoroalkyl groups include perfluoromethyl group, perfluoroethyl group, perfluoro-n-propyl group, perfluoroisopropyl group, perfluoro-n-butyl group, perfluoro-sec-butyl group, perfluoro-tert-butyl group, perfluoro-n- A pentyl group, a perfluoro-n-hexyl group, etc. are mentioned. Of these, a perfluoromethyl group is preferable.

飽和炭化水素基としては、例えば、アルキレン基、シクロアルキレン基を含む基が挙げられる。
アルキレン基としては、例えば、メチレン基、ジメチレン基、トリメチレン基、テトラメチレン基、ペンタメチレン基、ヘキサメチレン基、ヘプタメチレン基、オクタメチレン基、ノナメチレン基、デカメチレン基、ウンデカメチレン基、ドデカメチレン基、トリデカメチレン基、テトラデカメチレン基、ペンタデカメチレン基、ヘキサデカメチレン基、ヘプタデカメチレン基、エチレン基、プロピレン基、イソプロピレン基、sec−ブチレン基及びtert−ブチレン基などが挙げられる。
Examples of the saturated hydrocarbon group include a group containing an alkylene group or a cycloalkylene group.
Examples of the alkylene group include a methylene group, a dimethylene group, a trimethylene group, a tetramethylene group, a pentamethylene group, a hexamethylene group, a heptamethylene group, an octamethylene group, a nonamethylene group, a decamethylene group, an undecamethylene group, and a dodecamethylene group. , Tridecamethylene group, tetradecamethylene group, pentadecamethylene group, hexadecamethylene group, heptacamethylene group, ethylene group, propylene group, isopropylene group, sec-butylene group and tert-butylene group.

シクロアルキレン基を含む基としては、式(X−A)〜式(X−C)で表される基が挙げられる。

Figure 0005750242
[式(X−A)〜式(X−C)中、
1A及びX1Bは、それぞれ独立に、置換基を有していてもよい炭素数1〜6のアルキレン基を表す。ただし、式(X−A)〜式(X−C)で表される基の炭素数は1〜17である。] Examples of the group containing a cycloalkylene group include groups represented by formula (X 1 -A) to formula (X 1 -C).
Figure 0005750242
[In the formula (X 1 -A) to formula (X 1 -C),
X 1A and X 1B each independently represent an alkylene group having 1 to 6 carbon atoms which may have a substituent. However, the number of carbon atoms of the group represented by the formula (X 1 -A) ~ Formula (X 1 -C) is 1 to 17. ]

脂肪族炭化水素基としては、例えば、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、ヘプチル基、2−エチルヘキシル基、オクチル基、ノニル基、デシル基、ウンデシル基、ドデシル基などの直鎖状又は分岐状のアルキル基が挙げられる。
脂環式炭化水素基としては、例えば、シクロプロピル基、シクロブチル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、シクロヘプチル基、シクロオクチル基、シクロノニル基、シクロデシル基、ノルボルニル基、1−アダマンチル基、2−アダマンチル基、イソボルニル基などのシクロアルキル基が挙げられる。
Examples of the aliphatic hydrocarbon group include methyl group, ethyl group, n-propyl group, isopropyl group, n-butyl group, sec-butyl group, tert-butyl group, n-pentyl group, n-hexyl group, heptyl. And linear or branched alkyl groups such as 2-ethylhexyl group, octyl group, nonyl group, decyl group, undecyl group and dodecyl group.
Examples of the alicyclic hydrocarbon group include a cyclopropyl group, a cyclobutyl group, a cyclopentyl group, a cyclohexyl group, a cycloheptyl group, a cyclooctyl group, a cyclononyl group, a cyclodecyl group, a norbornyl group, a 1-adamantyl group, and a 2-adamantyl group. And cycloalkyl groups such as isobornyl group.

芳香族炭化水素基としては、例えば、フェニル基、ナフチル基、アントラニル基、p−メチルフェニル基、p−tert−ブチルフェニル基、p−アダマンチルフェニル基;トリル基、キシリル基、クメニル基、メシチル基、ビフェニル基、アントリル基、フェナントリル基、2,6−ジエチルフェニル基、2−メチル−6−エチルフェニル等のアリール基等が挙げられる。なかでも、フェニル基、ナフチル基、アントラニル基、p−メチルフェニル基、p−tert−ブチルフェニル基、p−アダマンチルフェニル基などが適している。   Examples of the aromatic hydrocarbon group include a phenyl group, a naphthyl group, an anthranyl group, a p-methylphenyl group, a p-tert-butylphenyl group, a p-adamantylphenyl group; a tolyl group, a xylyl group, a cumenyl group, and a mesityl group. , Aryl groups such as biphenyl group, anthryl group, phenanthryl group, 2,6-diethylphenyl group, 2-methyl-6-ethylphenyl, and the like. Of these, phenyl, naphthyl, anthranyl, p-methylphenyl, p-tert-butylphenyl, p-adamantylphenyl and the like are suitable.

酸発生剤(A)の有効成分となる式(I)で表される塩(以下、塩(I)と記載することがある)のアニオンにおいて、Q1およびQ2は、それぞれ独立にフッ素原子または−CFであることが好ましく、両方ともフッ素原子がより好ましい。 In the anion of the salt represented by the formula (I) (hereinafter sometimes referred to as the salt (I)) that is an active ingredient of the acid generator (A), Q 1 and Q 2 are each independently a fluorine atom or it is preferably -CF 3, both a fluorine atom is more preferable.

炭素数1〜17の飽和炭化水素基に含まれるメチレン基は、酸素原子又はカルボニル基で置換されていてもよい。   The methylene group contained in the saturated hydrocarbon group having 1 to 17 carbon atoms may be substituted with an oxygen atom or a carbonyl group.

における置換基としては、ハロゲン原子、水酸基、カルボキシル基、直鎖状又は分岐状の炭素数1〜12の脂肪族炭化水素基、炭素数3〜20の脂環式炭化水素基、炭素数6〜20の芳香族炭化水素基、炭素数7〜21のアラルキル基、グリシジルオキシ基あるいは炭素数2〜4のアシル基等が挙げられる。 Examples of the substituent for X 1 include a halogen atom, a hydroxyl group, a carboxyl group, a linear or branched aliphatic hydrocarbon group having 1 to 12 carbon atoms, an alicyclic hydrocarbon group having 3 to 20 carbon atoms, and a carbon number. Examples thereof include an aromatic hydrocarbon group having 6 to 20 carbon atoms, an aralkyl group having 7 to 21 carbon atoms, a glycidyloxy group, and an acyl group having 2 to 4 carbon atoms.

ハロゲン原子としては、フッ素、塩素、臭素、ヨウ素原子が挙げられる。
アラルキル基としては、例えば、ベンジル、フェネチル、フェニルプロピル、トリチル、ナフチルメチル基、ナフチルエチル基等が挙げられる。
アシル基としては、アセチル、プロピオニル、ブチリル等が挙げられる。
Examples of the halogen atom include fluorine, chlorine, bromine and iodine atoms.
Examples of the aralkyl group include benzyl, phenethyl, phenylpropyl, trityl, naphthylmethyl group, naphthylethyl group, and the like.
Examples of the acyl group include acetyl, propionyl, butyryl and the like.

としては、好ましくは、式(X−1)で表される基が挙げられる。

Figure 0005750242
[式(X−1)中、
a1は、単結合又は置換基を有していてもよい炭素数1〜15の飽和炭化水素基を表し、該飽和炭化水素基に含まれるメチレン基は酸素原子又はカルボニル基で置換されていてもよい。
*は、−C(Q)(Q)−との結合手を表す。]
a1における置換基は、Xにおける置換基と同様のものが挙げられる。 X 1 is preferably a group represented by the formula (X 1 -1).
Figure 0005750242
[In the formula (X 1 -1),
X a1 represents a single bond or a saturated hydrocarbon group having 1 to 15 carbon atoms which may have a substituent, and the methylene group contained in the saturated hydrocarbon group is substituted with an oxygen atom or a carbonyl group. Also good.
* Represents a bond with —C (Q 1 ) (Q 2 ) —. ]
Examples of the substituent in X a1 include the same substituents as in X 1 .

としては、具体的には、下記の基が挙げられる。

Figure 0005750242
Specific examples of X 1 include the following groups.
Figure 0005750242

は、−CO−O−X10−、−CO−O−X11−CO−O−、−X11−O−CO−、−X11−O−X12−であることが適しており、−CO−O−X10−、−CO−O−X11−CO−O−が好ましい。ただし、X10、X11及びX12は、互いに独立に、単結合あるいは直鎖状又は分岐状の炭素数1〜15のアルキレン基を表す。さらに、−CO−O−[CH−(hは、0〜10の整数を表す)がより好ましい。 X 1 is suitably —CO—O—X 10 —, —CO—O—X 11 —CO—O—, —X 11 —O—CO—, —X 11 —O—X 12 —. And —CO—O—X 10 — and —CO—O—X 11 —CO—O— are preferable. However, X < 10 >, X < 11 > and X < 12 > represent a single bond or a linear or branched C1-C15 alkylene group mutually independently. Furthermore, —CO—O— [CH 2 ] h — (h represents an integer of 0 to 10) is more preferable.

における置換基としては、例えば、ハロゲン原子、水酸基、直鎖状又は分岐状の炭素数1〜12の脂肪族炭化水素基、炭素数6〜20の芳香族炭化水素基、炭素数7〜21のアラルキル基、炭素数1〜12のアルコキシ基、グリシジルオキシ基及び炭素数2〜4のアシル基からなる群から選択される1以上が挙げられる。 Examples of the substituent in Y 1 include a halogen atom, a hydroxyl group, a linear or branched aliphatic hydrocarbon group having 1 to 12 carbon atoms, an aromatic hydrocarbon group having 6 to 20 carbon atoms, and 7 to 7 carbon atoms. One or more selected from the group consisting of 21 aralkyl groups, C1-C12 alkoxy groups, glycidyloxy groups, and C2-C4 acyl groups.

アルコキシ基としては、メトキシ基、エトキシ基、n−プロピポキシ基、イソプロポキシ基、n−ブトキシ基、sec−ブトキシ基、tert−ブトキシ基、n−ペントキシ基、n−ヘキトキシ基、ヘプトキシ基、オクトキシ基、2−エチルヘキトキシ基、ノニルオキシ基、デシルオキシ基、ウンデシルオキシ基、ドデシルオキシ基等が挙げられる。
は、置換基を有してもよい炭素数4〜36の脂環式炭化水素基が適している。
As an alkoxy group, a methoxy group, an ethoxy group, an n-propoxy group, an isopropoxy group, an n-butoxy group, a sec-butoxy group, a tert-butoxy group, an n-pentoxy group, an n-hexoxy group, a heptoxy group, an octoxy group , 2-ethylhexoxy group, nonyloxy group, decyloxy group, undecyloxy group, dodecyloxy group and the like.
Y 1 is suitably an alicyclic hydrocarbon group having 4 to 36 carbon atoms which may have a substituent.

式(I)で表される塩のアニオンとしては、以下の式(IA)、式(IB)、式(IC)、式(ID)等が挙げられる。なかでも、式(IA)及び式(IB)で表されるアニオン等が適している。   Examples of the anion of the salt represented by the formula (I) include the following formula (IA), formula (IB), formula (IC), formula (ID) and the like. Among these, anions represented by formula (IA) and formula (IB) are suitable.

Figure 0005750242
[式(IA)、式(IB)、式(IC)及び式(ID)中、
、Q及びYは、式(I)における定義と同じである。
10、X11及びX12は、互いに独立に、単結合あるいは直鎖状又は分岐状の炭素数1〜15のアルキレン基を表す。]
Figure 0005750242
[In formula (IA), formula (IB), formula (IC) and formula (ID),
Q 1 , Q 2 and Y 1 are the same as defined in formula (I).
X 10 , X 11 and X 12 each independently represent a single bond or a linear or branched alkylene group having 1 to 15 carbon atoms. ]

は、式(Y0)で表される基が好ましい。

Figure 0005750242
[式(Y1)中、
環W’は、炭素数3〜36の脂環式炭化水素基を表し、該脂環式炭化水素基に含まれるメチレン基は、酸素原子又はカルボニル基で置換されていてもよい。
は、互いに独立に、ハロゲン原子、水酸基、直鎖状又は分岐状の炭素数1〜12の脂肪族炭化水素基、炭素数6〜20の芳香族炭化水素基、炭素数7〜21のアラルキル基、炭素数1〜12のアルコキシ基、グリシジルオキシ基あるいは炭素数2〜4のアシル基を表す。
xは、0〜8の整数を表す。xが2以上の場合、複数のRは、同一でも異なってもよい。
は、水素原子あるいは直鎖状又は分岐状の炭素数1〜6の炭化水素基を表すか、環W’に含まれる炭素原子と互いに結合して環を形成していてもよい。] Y 1 is preferably a group represented by the formula (Y0).
Figure 0005750242
[In the formula (Y1),
Ring W ′ represents an alicyclic hydrocarbon group having 3 to 36 carbon atoms, and the methylene group contained in the alicyclic hydrocarbon group may be substituted with an oxygen atom or a carbonyl group.
R b is independently of each other a halogen atom, a hydroxyl group, a linear or branched aliphatic hydrocarbon group having 1 to 12 carbon atoms, an aromatic hydrocarbon group having 6 to 20 carbon atoms, or 7 to 21 carbon atoms. An aralkyl group, an alkoxy group having 1 to 12 carbon atoms, a glycidyloxy group, or an acyl group having 2 to 4 carbon atoms is represented.
x represents an integer of 0 to 8. When x is 2 or more, the plurality of R b may be the same or different.
R a represents a hydrogen atom or a linear or branched hydrocarbon group having 1 to 6 carbon atoms, or may be bonded to a carbon atom contained in the ring W ′ to form a ring. ]

炭化水素としては、飽和又は不飽和の炭化水素基を含み、上述したように、脂肪族炭化水素基、脂環式炭化水素基、芳香族炭化水素基、アリール、アラルキル基又はこれらの組み合わせ等が挙げられる。
環としては、芳香族又は非芳香族の炭化水素環又は複素環等が挙げられる。これらは、さらに組み合わされて多環縮合環を形成してもよい。
xは、好ましくは0〜6の整数、より好ましくは0〜4の整数を表す。
環W’として、式(W1)〜式(W25)などが挙げられる。なかでも、式(W12)、式(W13)で表される基などが好ましい。
The hydrocarbon includes a saturated or unsaturated hydrocarbon group, and as described above, an aliphatic hydrocarbon group, an alicyclic hydrocarbon group, an aromatic hydrocarbon group, an aryl, an aralkyl group, or a combination thereof. Can be mentioned.
Examples of the ring include an aromatic or non-aromatic hydrocarbon ring or a heterocyclic ring. These may be further combined to form a polycyclic fused ring.
x preferably represents an integer of 0 to 6, more preferably an integer of 0 to 4.
Examples of the ring W ′ include formula (W1) to formula (W25). Of these, groups represented by formula (W12) and formula (W13) are preferred.

Figure 0005750242
Figure 0005750242

なかでも、Yは、式(Y1)又は式(Y2)で表される基であるものがより好ましい。

Figure 0005750242
[式(Y1)及び式(Y2)中、
環に含まれる水素原子は、ハロゲン原子、水酸基、炭素数1〜12のアルキル基、炭素数1〜12のアルコキシ基、炭素数6〜12のアリール基、炭素数7〜12のアラルキル基、グリシジルオキシ基又は炭素数2〜4のアシル基で置換されていてもよく、環に含まれるメチレン基は、カルボニル基又は酸素原子で置換されていてもよい。
*は、Xとの結合手を表す。] Among these, Y 1 is more preferably a group represented by the formula (Y1) or the formula (Y2).
Figure 0005750242
[In Formula (Y1) and Formula (Y2),
The hydrogen atom contained in the ring is a halogen atom, a hydroxyl group, an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 12 carbon atoms, an aryl group having 6 to 12 carbon atoms, an aralkyl group having 7 to 12 carbon atoms, or glycidyl. It may be substituted with an oxy group or an acyl group having 2 to 4 carbon atoms, and the methylene group contained in the ring may be substituted with a carbonyl group or an oxygen atom.
* Represents a bond to X 1. ]

としては、さらに、環W’に含まれる水素原子が置換されていないか又は炭化水素基のみで置換された基(ただし、該環W’に含まれるメチレン基は、酸素原子で置換されていてもよい。)及び水酸基又は水酸基を含む基で置換された基(ただし、ラクトン構造を有するものを除く)並びに環W’に含まれる隣接する2つのメチレン基が酸素原子とカルボニル基とで置換されたラクトン構造を有する基及び環W’に含まれる1つのメチレン基がカルボニル基で置換されたケトン構造を有する基、環W’に含まれる水素原子が芳香族炭化水素基又は芳香環を有する基で置換された基、環W’に含まれる1つのメチレン基が酸素原子で置換されたエーテル構造を有する基などが挙げられる。 Y 1 is a group in which a hydrogen atom contained in ring W ′ is not substituted or substituted only with a hydrocarbon group (provided that the methylene group contained in ring W ′ is substituted with an oxygen atom). And a group substituted with a hydroxyl group or a group containing a hydroxyl group (excluding those having a lactone structure) and two adjacent methylene groups contained in the ring W ′ are an oxygen atom and a carbonyl group. A group having a substituted lactone structure and a group having a ketone structure in which one methylene group contained in ring W ′ is substituted with a carbonyl group, and a hydrogen atom contained in ring W ′ represents an aromatic hydrocarbon group or an aromatic ring. And a group having an ether structure in which one methylene group contained in the ring W ′ is substituted with an oxygen atom, and the like.

環W’に含まれる水素原子が置換されていないか又は炭化水素基のみで置換された(該炭化水素基に含まれるメチレン基は、酸素原子で置換されていてもよい。)Yとしては、例えば、以下の基が挙げられる。

Figure 0005750242
The hydrogen atom contained in the ring W ′ is not substituted or substituted only with a hydrocarbon group (the methylene group contained in the hydrocarbon group may be substituted with an oxygen atom) as Y 1 For example, the following groups may be mentioned.
Figure 0005750242

環W’に含まれる水素原子が水酸基又は水酸基を含む基で置換されたY(ただし、ラクトン構造を有さない。)としては、例えば、以下の基が挙げられる。

Figure 0005750242
Examples of Y 1 in which a hydrogen atom contained in ring W ′ is substituted with a hydroxyl group or a group containing a hydroxyl group (however, having no lactone structure) include the following groups.
Figure 0005750242

環W’に含まれる隣接する2つのメチレン基がカルボニル基と酸素原子とで置換されたラクトン構造を有するYとしては、例えば、以下の基が挙げられる。

Figure 0005750242
Examples of Y 1 having a lactone structure in which two adjacent methylene groups contained in ring W ′ are substituted with a carbonyl group and an oxygen atom include the following groups.
Figure 0005750242

環W’に含まれる1つのメチレン基がカルボニル基で置換されたケトン構造を有するYとしては、例えば、以下の基が挙げられる。

Figure 0005750242
Examples of Y 1 having a ketone structure in which one methylene group contained in ring W ′ is substituted with a carbonyl group include the following groups.
Figure 0005750242

環W’に含まれる水素原子が芳香族炭化水素基又は芳香環を有する基で置換されたYとしては、例えば、以下の基が挙げられる。

Figure 0005750242
Examples of Y 1 in which the hydrogen atom contained in the ring W ′ is substituted with an aromatic hydrocarbon group or a group having an aromatic ring include the following groups.
Figure 0005750242

環W’に含まれる1つのメチレン基が酸素原子で置換されたエーテル構造を有するYとしては、例えば、以下の基が挙げられる。

Figure 0005750242
Examples of Y 1 having an ether structure in which one methylene group contained in ring W ′ is substituted with an oxygen atom include the following groups.
Figure 0005750242

式(IA)で表されるアニオンとしては、例えば、下記のもの等が例示される。
式(IA)中、環W’に含まれる水素原子が炭化水素基のみで置換された(該炭化水素基に含まれるメチレン基は酸素原子で置換されていてもよい。)アニオンとしては、例えば、下記のもの等が挙げられる。
Examples of the anion represented by the formula (IA) include the following.
In the formula (IA), an anion in which a hydrogen atom contained in the ring W ′ is substituted only with a hydrocarbon group (a methylene group contained in the hydrocarbon group may be substituted with an oxygen atom) includes, for example, The following can be mentioned.

Figure 0005750242
Figure 0005750242

Figure 0005750242
Figure 0005750242

式(IA)中、環W’に含まれる水素原子が水酸基又は水酸基を含む基で置換されたアニオン(ただし、ラクトン構造を有さない。)としては、例えば、下記のもの等が挙げられる。   In the formula (IA), examples of the anion in which the hydrogen atom contained in the ring W ′ is substituted with a hydroxyl group or a group containing a hydroxyl group (but not having a lactone structure) include the following.

Figure 0005750242
Figure 0005750242

Figure 0005750242
Figure 0005750242


Figure 0005750242

Figure 0005750242

式(IA)中、環W’に含まれる隣接する2つのメチレン基が酸素原子とカルボニル基とで置換されたラクトン構造を有するアニオンとしては、例えば、下記のもの等が挙げられる。   In the formula (IA), examples of the anion having a lactone structure in which two adjacent methylene groups included in the ring W ′ are substituted with an oxygen atom and a carbonyl group include the following.


Figure 0005750242

Figure 0005750242

式(IA)中、環W’に含まれるメチレン基がカルボニル基で置換されたケトン構造を有するアニオンとしては、例えば、下記のもの等が挙げられる。   In the formula (IA), examples of the anion having a ketone structure in which the methylene group contained in the ring W ′ is substituted with a carbonyl group include the following.


Figure 0005750242

Figure 0005750242

式(IA)中、環W’に含まれる水素原子が芳香族炭化水素基又は芳香環を有する基で置換されたアニオンとしては、例えば、下記のもの等が挙げられる。   In formula (IA), examples of the anion in which the hydrogen atom contained in ring W ′ is substituted with an aromatic hydrocarbon group or a group having an aromatic ring include the following.


Figure 0005750242

Figure 0005750242

式(IA)中、環W’に含まれるメチレン基が酸素原子で置換されたエーテル構造を有するアニオンとしては、例えば、下記のもの等が挙げられる。   In the formula (IA), examples of the anion having an ether structure in which the methylene group contained in the ring W ′ is substituted with an oxygen atom include the followings.

Figure 0005750242
Figure 0005750242

式(IB)で表されるアニオンとして、例えば、下記のもの等が挙げられる。
式(IB)中、環W’に含まれる水素原子が置換されていないか又は炭化水素基のみで置換された(環W’に含まれるメチレン基は酸素原子で置換されていてもよい。)アニオンとしては、例えば、下記のもの等が挙げられる。
Examples of the anion represented by the formula (IB) include the following.
In formula (IB), the hydrogen atom contained in ring W ′ is not substituted or substituted only with a hydrocarbon group (the methylene group contained in ring W ′ may be substituted with an oxygen atom). Examples of the anion include the following.

Figure 0005750242
Figure 0005750242

Figure 0005750242
Figure 0005750242

式(IB)中、環W’に含まれる水素原子が水酸基又は水酸基を含む基で置換されたアニオンとしては、例えば、下記のもの等が挙げられる。   In formula (IB), examples of the anion in which the hydrogen atom contained in ring W ′ is substituted with a hydroxyl group or a group containing a hydroxyl group include the following.

Figure 0005750242
Figure 0005750242

式(IB)中、環W’に含まれる隣接する2つのメチレン基が酸素原子とカルボニル基とで置換されたラクトン構造を有するアニオンとしては、例えば、下記のもの等が挙げられる。   In the formula (IB), examples of the anion having a lactone structure in which two adjacent methylene groups contained in the ring W ′ are substituted with an oxygen atom and a carbonyl group include the following.

Figure 0005750242
Figure 0005750242

式(IB)中、環W’に含まれる1つのメチレン基がカルボニル基で置換されたケトン構造を有するアニオンとしては、例えば、下記のもの等が挙げられる。   In the formula (IB), examples of the anion having a ketone structure in which one methylene group contained in the ring W ′ is substituted with a carbonyl group include the followings.

Figure 0005750242
Figure 0005750242

式(IB)中、環W’に含まれる水素原子が芳香族炭化水素基で置換されたアニオンとしては、例えば、下記のもの等が挙げられる。   In the formula (IB), examples of the anion in which the hydrogen atom contained in the ring W ′ is substituted with an aromatic hydrocarbon group include the following.


Figure 0005750242

Figure 0005750242

式(IC)で表されるアニオンとしては、例えば、下記のもの等が挙げられる。
式(IC)中、環W’に含まれる水素原子が置換されていないか又は炭化水素基のみで置換された(環W’に含まれるメチレン基は酸素原子で置換されていてもよい。)アニオンとしては、例えば、下記のもの等が挙げられる。
Examples of the anion represented by the formula (IC) include the following.
In formula (IC), the hydrogen atom contained in ring W ′ is not substituted or substituted only with a hydrocarbon group (the methylene group contained in ring W ′ may be substituted with an oxygen atom). Examples of the anion include the following.

Figure 0005750242
Figure 0005750242

式(IC)中、環W’に含まれる水素原子が水酸基又は水酸基を含む基で置換されたアニオンとしては、例えば、下記のもの等が挙げられる。   In formula (IC), examples of the anion in which the hydrogen atom contained in ring W ′ is substituted with a hydroxyl group or a group containing a hydroxyl group include the following.

Figure 0005750242
Figure 0005750242

式(IC)中、環W’に含まれる1つのメチレン基がカルボニル基で置換されたケトン構造を有するアニオンとしては、例えば、下記のもの等が挙げられる。   In the formula (IC), examples of the anion having a ketone structure in which one methylene group contained in the ring W ′ is substituted with a carbonyl group include the following.

Figure 0005750242
Figure 0005750242

式(ID)で表されるアニオンとしては、例えば、下記のもの等が挙げられる。   Examples of the anion represented by the formula (ID) include the following.

式(ID)中、環W’に含まれる水素原子が置換されていないか又は炭化水素基のみで置換された(環W’に含まれるメチレン基は酸素原子で置換されていてもよい。)アニオンとしては、例えば、下記のもの等が挙げられる。   In formula (ID), the hydrogen atom contained in ring W ′ is not substituted or is substituted only with a hydrocarbon group (the methylene group contained in ring W ′ may be substituted with an oxygen atom). Examples of the anion include the following.

Figure 0005750242
Figure 0005750242

式(ID)中、環W’に含まれる水素原子が水酸基又は水酸基を含む基で置換されたアニオンとしては、例えば、下記のもの等が挙げられる。   In formula (ID), examples of the anion in which the hydrogen atom contained in ring W ′ is substituted with a hydroxyl group or a group containing a hydroxyl group include the following.

Figure 0005750242
Figure 0005750242

式(ID)中、環W’に含まれる1つのメチレン基がカルボニル基で置換されたケトン構造を有するアニオンとしては、例えば、下記のもの等が挙げられる。   In the formula (ID), examples of the anion having a ketone structure in which one methylene group contained in the ring W ′ is substituted with a carbonyl group include the following.

Figure 0005750242
Figure 0005750242

式(I)で表される塩におけるZとしては、例えば、式(IXz)、式(IXb)、式(IXc)又は式(IXd)などのカチオン等が挙げられる。 Examples of Z + in the salt represented by the formula (I) include cations such as the formula (IXz), the formula (IXb), the formula (IXc), and the formula (IXd).

Figure 0005750242
[式(IXz)中、
、P及びPは、互いに独立に、直鎖状又は分岐状の炭素数1〜30のアルキル基、炭素数3〜30の脂環式炭化水素基あるいは炭素数6〜20の芳香族炭化水素基を表す。
、P及びPのいずれかがアルキル基である場合、該アルキル基は、水酸基、直鎖状又は分岐状の炭素数1〜12のアルコキシ基あるいは炭素数3〜12の環式炭化水素基で置換されていてもよく、
、P及びPのいずれかが脂環式炭化水素基又は芳香族炭化水素である場合には、水素原子、水酸基、ハロゲン原子、直鎖状又は分岐状の炭素数1〜12のアルキル基、直鎖状又は分岐状の炭素数1〜12のアルコキシ基あるいは炭素数4〜36の脂環式炭化水素を表し、該脂環式炭化水素基に含まれる水素原子は、ハロゲン原子、水酸基、直鎖状又は分岐状の炭素数1〜12のアルキル基、直鎖状又は分岐状の炭素数1〜12のアルコキシ基、炭素数6〜12のアリール基、炭素数7〜12のアラルキル基、グリシジルオキシ基あるいは炭素数2〜4のアシル基で置換されていてもよい。
式(IXb)中、P及びPは、互いに独立に、水素原子、水酸基、直鎖状又は分岐状の炭素数1〜12のアルキル基あるいは炭素数1〜12のアルコキシ基を表す。
Figure 0005750242
[In the formula (IXz),
P a , P b and P c are each independently a linear or branched alkyl group having 1 to 30 carbon atoms, an alicyclic hydrocarbon group having 3 to 30 carbon atoms or an aromatic group having 6 to 20 carbon atoms. Represents a group hydrocarbon group.
When any one of P a , P b and P c is an alkyl group, the alkyl group is a hydroxyl group, a linear or branched alkoxy group having 1 to 12 carbon atoms, or a cyclic carbonization having 3 to 12 carbon atoms. May be substituted with a hydrogen group,
When any of P a , P b and P c is an alicyclic hydrocarbon group or an aromatic hydrocarbon, a hydrogen atom, a hydroxyl group, a halogen atom, a linear or branched C 1-12 carbon atom Represents an alkyl group, a linear or branched alkoxy group having 1 to 12 carbon atoms or an alicyclic hydrocarbon having 4 to 36 carbon atoms, and the hydrogen atom contained in the alicyclic hydrocarbon group is a halogen atom, Hydroxyl group, linear or branched alkyl group having 1 to 12 carbon atoms, linear or branched alkoxy group having 1 to 12 carbon atoms, aryl group having 6 to 12 carbon atoms, aralkyl having 7 to 12 carbon atoms Group, a glycidyloxy group, or an acyl group having 2 to 4 carbon atoms.
In formula (IXb), P 4 and P 5 each independently represent a hydrogen atom, a hydroxyl group, a linear or branched alkyl group having 1 to 12 carbon atoms, or an alkoxy group having 1 to 12 carbon atoms.

式(IXc)中、
及びPは、互いに独立に、直鎖状又は分岐状炭素数1〜12のアルキル基あるいは炭素数3〜12のシクロアルキル基を表すか、PとPとが一緒になって、炭素数3〜12の環を形成してもよい。
は、水素原子を表し、Pは、直鎖状又は分岐状の炭素数1〜12のアルキル基、炭素数3〜12のシクロアルキル基、置換されていてもよい炭素数6〜20の芳香族炭化水素基を表すか、PとPとが一緒になって、炭素数3〜12の環を形成してもよい。
In formula (IXc),
P 6 and P 7 each independently represent a linear or branched alkyl group having 1 to 12 carbon atoms or a cycloalkyl group having 3 to 12 carbon atoms, or P 6 and P 7 are combined together. A ring having 3 to 12 carbon atoms may be formed.
P 8 represents a hydrogen atom, and P 9 is a linear or branched alkyl group having 1 to 12 carbon atoms, a cycloalkyl group having 3 to 12 carbon atoms, or an optionally substituted carbon atom having 6 to 20 carbon atoms. Or P 8 and P 9 may be combined to form a ring having 3 to 12 carbon atoms.

式(IXd)中、
10〜P21は、互いに独立に、水素原子、水酸基、炭素数1〜12のアルキル基又は炭素数1〜12のアルコキシ基を表す。
Eは、硫黄原子又は酸素原子を表す。
mは、0又は1を表す。]
In formula (IXd),
P 10 to P 21 are independently of each other, represent a hydrogen atom, a hydroxyl group, an alkyl group or an alkoxy group having 1 to 12 carbon atoms having 1 to 12 carbon atoms.
E represents a sulfur atom or an oxygen atom.
m represents 0 or 1. ]

アルキル基、脂環式炭化水素基、アルコキシ基、シクロアルキル基、環、芳香族炭化水素基等は、上記と同様である。
環式炭化水素基としては、飽和又は不飽和のいずれでもよく、例えば、脂環式炭化水素基及び芳香族炭化水素基が挙げられる。
とPとが一緒になって形成する環としては、硫黄原子を少なくとも1つ含有する複素環が挙げられる。例えば、チイラン、チアン、チイン、チアゾリン、イアゾリジン、オキサチオラン、テトラヒドロチオフェニウム基等が例示される。なかでも、テトラヒドロチオフェニウム基が好ましい。
における芳香族炭化水素基の置換基としては、炭素数1〜12のアルキル基等が挙げられる。
とPとが一緒になって形成する環としては、以下の基などが挙げられる。

Figure 0005750242
ここで、*は硫黄原子との結合手を示す。 The alkyl group, alicyclic hydrocarbon group, alkoxy group, cycloalkyl group, ring, aromatic hydrocarbon group and the like are the same as described above.
The cyclic hydrocarbon group may be either saturated or unsaturated, and examples thereof include an alicyclic hydrocarbon group and an aromatic hydrocarbon group.
Examples of the ring formed by combining P 6 and P 7 include a heterocyclic ring containing at least one sulfur atom. For example, thiirane, thiane, thiin, thiazoline, iazolidine, oxathiolane, tetrahydrothiophenium group and the like are exemplified. Of these, a tetrahydrothiophenium group is preferable.
The substituent of the aromatic hydrocarbon group for P 9, include alkyl groups of 1 to 12 carbon atoms.
Examples of the ring formed by combining P 8 and P 9 include the following groups.
Figure 0005750242
Here, * indicates a bond with a sulfur atom.

前記の式(IXz)で表されるカチオンの中でも、例えば、式(IXa)で表されるカチオン等が好ましい。

Figure 0005750242
Among the cations represented by the formula (IXz), for example, a cation represented by the formula (IXa) is preferable.
Figure 0005750242

[式(IXa)中、P〜Pは、互いに独立に、水素原子、水酸基、ハロゲン原子、直鎖状又は分岐状の炭素数1〜12のアルキル基、直鎖状又は分岐状の炭素数1〜12のアルコキシ基あるいは炭素数4〜36の脂環式炭化水素を表し、該脂環式炭化水素基に含まれる水素原子は、ハロゲン原子、水酸基、直鎖状又は分岐状の炭素数1〜12のアルキル基、直鎖状又は分岐状の炭素数1〜12のアルコキシ基、炭素数6〜12のアリール基、炭素数7〜12のアラルキル基、グリシジルオキシ基あるいは炭素数2〜4のアシル基で置換されていてもよい。] [In Formula (IXa), P 1 to P 3 are each independently a hydrogen atom, a hydroxyl group, a halogen atom, a linear or branched alkyl group having 1 to 12 carbon atoms, or a linear or branched carbon atom. Represents an alkoxy group having 1 to 12 carbon atoms or an alicyclic hydrocarbon having 4 to 36 carbon atoms, and the hydrogen atom contained in the alicyclic hydrocarbon group is a halogen atom, a hydroxyl group, a linear or branched carbon number; 1 to 12 alkyl groups, linear or branched alkoxy groups having 1 to 12 carbon atoms, aryl groups having 6 to 12 carbon atoms, aralkyl groups having 7 to 12 carbon atoms, glycidyloxy groups, or 2 to 4 carbon atoms The acyl group may be substituted. ]

特に、脂環式炭化水素基として、アダマンチル骨格、イソボルニル骨格を含むものが適しており、好ましくは2−アルキル−2−アダマンチル基、1−(1−アダマンチル)−1−アルキル基及びイソボルニル基等が挙げられる。   In particular, those containing an adamantyl skeleton and an isobornyl skeleton are suitable as the alicyclic hydrocarbon group, preferably a 2-alkyl-2-adamantyl group, a 1- (1-adamantyl) -1-alkyl group, an isobornyl group, and the like. Is mentioned.

式(IXa)で表されるカチオンとしては、例えば、下記のもの等が挙げられる。

Figure 0005750242
Examples of the cation represented by the formula (IXa) include the followings.

Figure 0005750242

式(IXa)で表されるカチオンの中でも、式(IXe)で表されるカチオンが、その製造が容易であること等の理由により、好ましく挙げられる。   Among the cations represented by the formula (IXa), the cation represented by the formula (IXe) is preferably used because of its easy production.

Figure 0005750242
[式(IXe)中、P22、P23及びP24は、互いに独立に、水素原子、水酸基、ハロゲン原子、直鎖状又は分岐状の炭素数1〜12のアルキル基あるいは直鎖状又は分岐状の炭素数1〜12のアルコキシ基を表す。]
Figure 0005750242
[In Formula (IXe), P 22 , P 23, and P 24 are each independently a hydrogen atom, a hydroxyl group, a halogen atom, a linear or branched alkyl group having 1 to 12 carbon atoms, or a linear or branched group. Represents an alkoxy group having 1 to 12 carbon atoms. ]

前記式(IXb)で表されるカチオンとしては、例えば、下記のもの等が挙げられる。

Figure 0005750242
Examples of the cation represented by the formula (IXb) include the followings.
Figure 0005750242

前記式(IXc)で表されるカチオンとしては、例えば、下記のもの等が挙げられる。

Figure 0005750242
Examples of the cation represented by the formula (IXc) include the followings.

Figure 0005750242

前記式(IXd)で表されるカチオンとしては、例えば、下記のもの等が挙げられる。

Figure 0005750242
Examples of the cation represented by the formula (IXd) include the followings.

Figure 0005750242

Figure 0005750242
Figure 0005750242

上述したアニオン及びカチオンは、任意に組合せることができる。
例えば、式(I)で表される塩としては、式(Xa)〜式(Xi)で表される化合物が挙げられる。

Figure 0005750242
The anions and cations described above can be arbitrarily combined.
For example, the salt represented by the formula (I) includes compounds represented by the formula (Xa) to the formula (Xi).
Figure 0005750242

[式(Xa)〜(Xi)中、
25、P26及びP27は、互いに独立に、水素原子、直鎖状又は分岐状の炭素数1〜4の脂肪族炭化水素基あるいは炭素数4〜36の脂環式炭化水素基を表す。
28及びP29は、互いに独立に、直鎖状又は分岐状の炭素数1〜12の脂肪族炭化水素基あるいは炭素数4〜36の脂環式炭化水素基を表すか、あるいはP28とP29とが一緒になってSを含んで炭素数2〜6の環を形成してもよい。
30は、直鎖状又は分岐状の炭素数1〜12の脂肪族炭化水素基、炭素数4〜36の脂環式炭化水素基あるいは置換されていてもよい炭素数6〜20の芳香族炭化水素基を表すか、あるいはP30とP31とが一緒になって炭素数3〜12の環を形成してもよい。ここで、該環に含まれるメチレン基は、任意に、酸素原子、硫黄原子又はカルボニル基で置換されていてもよい。
及びQは、上記と同義である。
13は、単結合またはメチレン基を表す。]
[In the formulas (Xa) to (Xi),
P 25 , P 26 and P 27 each independently represent a hydrogen atom, a linear or branched aliphatic hydrocarbon group having 1 to 4 carbon atoms or an alicyclic hydrocarbon group having 4 to 36 carbon atoms. .
P 28 and P 29 each independently represent a linear or branched aliphatic hydrocarbon group having 1 to 12 carbon atoms or an alicyclic hydrocarbon group having 4 to 36 carbon atoms, or P 28 and may form a ring of 2 to 6 carbon atoms include S + and P 29 together.
P 30 is a linear or branched aliphatic hydrocarbon group having 1 to 12 carbon atoms, an alicyclic hydrocarbon group having 4 to 36 carbon atoms, or an optionally substituted aromatic group having 6 to 20 carbon atoms. It may represent a hydrocarbon group, or P 30 and P 31 may form a ring having 3 to 12 carbon atoms together. Here, the methylene group contained in the ring may be optionally substituted with an oxygen atom, a sulfur atom or a carbonyl group.
Q 1 and Q 2 are as defined above.
X 13 represents a single bond or a methylene group. ]

28とP29とが一緒になって形成する環としては、テトラヒドロチオフェニウム基、チアン−1−イウム環、1,4−オキサチアン−4−イウム環などが挙げられる。中でも、好ましくはテトラヒドロチオフェニウム基などである。
30とP31とが一緒になって形成する環としては、上述した式(W13)〜式(W15)の基、オキソシクロヘプタン環、オキソシクロヘキサン環、オキソノルボルナン環、オキソアダマンタン環などが挙げられる。
Examples of the ring and P 28 and P 29 are formed together, tetrahydrothiophenium group, thian-1-ium ring, such as 1,4-oxathian-4-ium ring. Among these, a tetrahydrothiophenium group is preferable.
Examples of the ring formed by combining P 30 and P 31 include the groups of the above formulas (W13) to (W15), oxocycloheptane ring, oxocyclohexane ring, oxonorbornane ring, oxoadamantane ring, and the like. It is done.

上記の組合せのうち、以下の塩が好ましい。

Figure 0005750242
Of the above combinations, the following salts are preferred.
Figure 0005750242

本発明のレジスト組成物では、酸発生剤の含有量は、後述する樹脂100質量部に対して、1〜20質量部であることが好ましく、さらに1〜15質量部であることがより好ましい。   In the resist composition of this invention, it is preferable that content of an acid generator is 1-20 mass parts with respect to 100 mass parts of resin mentioned later, and it is more preferable that it is 1-15 mass parts.

本発明のレジスト組成物は、樹脂(以下「樹脂(B)」という場合がある)を含有する。樹脂(B)は、酸に不安定な基を有し、アルカリ水溶液に不溶又は難溶な樹脂であり、酸と作用した該樹脂はアルカリ水溶液で溶解し得る樹脂である。   The resist composition of the present invention contains a resin (hereinafter sometimes referred to as “resin (B)”). The resin (B) is a resin having an acid labile group and insoluble or hardly soluble in an alkaline aqueous solution, and the resin that has reacted with an acid is a resin that can be dissolved in an alkaline aqueous solution.

酸に不安定な基としては、酸素原子に隣接する炭素原子が4級炭素原子であるアルキルエステルを有する基、脂環式エステルなどのカルボン酸エステルを有する基、酸素原子に隣接する炭素原子が4級炭素原子であるラクトン環を有する基などが挙げられる。
ここで、4級炭素原子とは、水素原子以外の置換基と結合していて水素とは結合していない炭素原子を意味し、酸に不安定な基としては、エーテル結合のα位の炭素原子が3つの炭素原子と結合した4級炭素原子であることが好ましい。
Examples of the acid labile group include a group having an alkyl ester in which the carbon atom adjacent to the oxygen atom is a quaternary carbon atom, a group having a carboxylic acid ester such as an alicyclic ester, And a group having a lactone ring which is a quaternary carbon atom.
Here, the quaternary carbon atom means a carbon atom bonded to a substituent other than a hydrogen atom and not bonded to hydrogen, and an acid labile group is a carbon at the α-position of an ether bond. It is preferred that the atom is a quaternary carbon atom bonded to three carbon atoms.

酸に不安定な基の1種であるカルボン酸エステルを有する基を−COORのRエステルとして例示(−COO−C(CH33 をtert−ブチルエステルという形式で称する。)すると、
tert−ブチルエステルに代表される酸素原子に隣接する炭素原子が4級炭素原子であるアルキルエステル;
メトキシメチルエステル、エトキシメチルエステル、1−エトキシエチルエステル、1−イソブトキシエチルエステル、1−イソプロポキシエチルエステル、1−エトキシプロピルエステル、1−(2−メトキシエトキシ)エチルエステル、1−(2−アセトキシエトキシ)エチルエステル、1−〔2−(1−アダマンチルオキシ)エトキシ〕エチルエステル、1−〔2−(1−アダマンタンカルボニルオキシ)エトキシ〕エチルエステル、テトラヒドロ−2−フリルエステル及びテトラヒドロ−2−ピラニルエステルなどのアセタール型エステル;
イソボルニルエステル及び1−アルキルシクロアルキルエステル、2−アルキル−2−アダマンチルエステル、1−(1−アダマンチル)−1−アルキルアルキルエステルなどの酸素原子に隣接する炭素原子が4級炭素原子である脂環式エステルなどが挙げられる。
When a group having a carboxylic acid ester which is one of acid labile groups is exemplified as an R ester of —COOR (—COO—C (CH 3 ) 3 is referred to in the form of tert-butyl ester).
an alkyl ester in which the carbon atom adjacent to the oxygen atom represented by tert-butyl ester is a quaternary carbon atom;
Methoxymethyl ester, ethoxymethyl ester, 1-ethoxyethyl ester, 1-isobutoxyethyl ester, 1-isopropoxyethyl ester, 1-ethoxypropyl ester, 1- (2-methoxyethoxy) ethyl ester, 1- (2- Acetoxyethoxy) ethyl ester, 1- [2- (1-adamantyloxy) ethoxy] ethyl ester, 1- [2- (1-adamantanecarbonyloxy) ethoxy] ethyl ester, tetrahydro-2-furyl ester and tetrahydro-2- Acetal-type esters such as pyranyl esters;
The carbon atom adjacent to the oxygen atom such as isobornyl ester, 1-alkyl cycloalkyl ester, 2-alkyl-2-adamantyl ester, 1- (1-adamantyl) -1-alkylalkyl ester is a quaternary carbon atom. Examples include alicyclic esters.

このようなカルボン酸エステルを有する基としては、(メタ)アクリル酸エステル、ノルボルネンカルボン酸エステル、トリシクロデセンカルボン酸エステル、テトラシクロデセンカルボン酸エステルを有する基が挙げられる。   Examples of the group having a carboxylic acid ester include a group having a (meth) acrylic acid ester, a norbornene carboxylic acid ester, a tricyclodecene carboxylic acid ester, and a tetracyclodecene carboxylic acid ester.

本発明の樹脂組成物の樹脂は、酸に不安定な基とオレフィン性二重結合とを有するモノマーを付加重合して製造することができる。
かかるモノマーとしては、酸に不安定な基として、2−アルキル−2−アダマンチル基、1−(1−アダマンチル)−1−アルキルアルキル基などのような脂環式構造などの嵩高い基を含むモノマーが、得られるレジストの解像度が優れる傾向があることから好ましい。
The resin of the resin composition of the present invention can be produced by addition polymerization of a monomer having an acid labile group and an olefinic double bond.
Such monomers include bulky groups such as alicyclic structures such as 2-alkyl-2-adamantyl groups and 1- (1-adamantyl) -1-alkylalkyl groups as acid labile groups. Monomers are preferred because the resolution of the resulting resist tends to be excellent.

具体的な嵩高い基を含むモノマーとしては、例えば、(メタ)アクリル酸2−アルキル−2−アダマンチル、(メタ)アクリル酸1−(1−アダマンチル)−1−アルキルアルキル、5−ノルボルネン−2−カルボン酸2−アルキル−2−アダマンチル、5−ノルボルネン−2−カルボン酸1−(1−アダマンチル)−1−アルキルアルキル、α−クロロアクリル酸2−アルキル−2−アダマンチル、α−クロロアクリル酸1−(1−アダマンチル)−1−アルキルアルキルなどが挙げられる。   Specific examples of the monomer containing a bulky group include 2-alkyl-2-adamantyl (meth) acrylate, 1- (1-adamantyl) -1-alkylalkyl (meth) acrylate, and 5-norbornene-2. -2-alkyl-2-adamantyl carboxylate, 1- (1-adamantyl) -1-alkylalkyl 5-norbornene-2-carboxylate, 2-alkyl-2-adamantyl α-chloroacrylate, α-chloroacrylic acid 1- (1-adamantyl) -1-alkylalkyl and the like.

とりわけ(メタ)アクリル酸2−アルキル−2−アダマンチルやα−クロロアクリル酸2−アルキル−2−アダマンチルをモノマーとして用いた場合は、得られるレジストの解像度が優れる傾向があることから好ましい。   In particular, when 2-alkyl-2-adamantyl (meth) acrylate or 2-alkyl-2-adamantyl α-chloroacrylate is used as a monomer, it is preferable because the resolution of the resulting resist tends to be excellent.

具体的には、(メタ)アクリル酸2−アルキル−2−アダマンチルとしては、例えば、アクリル酸2−メチル−2−アダマンチル、メタクリル酸2−メチル−2−アダマンチル、アクリル酸2−エチル−2−アダマンチル、メタクリル酸2−エチル−2−アダマンチル、アクリル酸2−n−ブチル−2−アダマンチルなどが挙げられ、α−クロロアクリル酸2−アルキル−2−アダマンチルとしては、例えば、α−クロロアクリル酸2−メチル−2−アダマンチル、α−クロロアクリル酸2−エチル−2−アダマンチルなどが挙げられる。   Specifically, as 2-alkyl-2-adamantyl (meth) acrylate, for example, 2-methyl-2-adamantyl acrylate, 2-methyl-2-adamantyl methacrylate, 2-ethyl-2-acrylate Examples thereof include adamantyl, 2-ethyl-2-adamantyl methacrylate, 2-n-butyl-2-adamantyl acrylate, and the like. Examples of α-chloroacrylic acid 2-alkyl-2-adamantyl include α-chloroacrylic acid. Examples include 2-methyl-2-adamantyl and 2-ethyl-2-adamantyl α-chloroacrylate.

これらの中でも(メタ)アクリル酸2−エチル−2−アダマンチル又は(メタ)アクリル酸2−イソプロピル−2−アダマンチルを用いた場合、得られるレジストの感度が優れ耐熱性にも優れる傾向があることから好ましい。   Among these, when 2-ethyl-2-adamantyl (meth) acrylate or 2-isopropyl-2-adamantyl (meth) acrylate is used, the resulting resist tends to have excellent sensitivity and heat resistance. preferable.

(メタ)アクリル酸2−アルキル−2−アダマンチルは、通常、2−アルキル−2−アダマンタノール又はその金属塩とアクリル酸ハライド又はメタクリル酸ハライドとの反応により製造できる。   (Meth) acrylic acid 2-alkyl-2-adamantyl can be usually produced by a reaction of 2-alkyl-2-adamantanol or a metal salt thereof with acrylic acid halide or methacrylic acid halide.

本発明に用いられる樹脂は、酸に不安定な基を有するモノマーに由来する構造単位に加えて、酸に安定なモノマーに由来する構造単位を含んでいてもよい。ここで、酸に安定なモノマーに由来する構造とは、本発明の酸発生剤(A)によって開裂しない構造を意味する。
具体的には、アクリル酸やメタクリル酸のような遊離のカルボン酸基を有するモノマーに由来する構造単位、無水マレイン酸や無水イタコン酸のような脂肪族不飽和ジカルボン酸無水物に由来する構造単位、2−ノルボルネンに由来する構造単位、(メタ)アクリロニトリルに由来する構造単位、酸素原子に隣接する炭素原子が2級炭素原子または3級炭素原子のアルキルエステルや1−アダマンチルエステルである(メタ)アクリル酸エステル類に由来する構造単位、p−又はm−ヒドロキシスチレンなどのスチレン系モノマーに由来する構造単位、ラクトン環がアルキル基で置換されていてもよい(メタ)アクリロイロキシ−γ−ブチロラクトンに由来する構造単位などを挙げることができる。尚、1−アダマンチルエステルは、酸素原子に隣接する炭素原子が4級炭素原子であるが、酸に安定な基であり、1−アダマンチルエステルには水酸基などが結合していてもよい。
The resin used in the present invention may contain a structural unit derived from an acid-stable monomer in addition to a structural unit derived from a monomer having an acid-labile group. Here, the structure derived from an acid-stable monomer means a structure that is not cleaved by the acid generator (A) of the present invention.
Specifically, a structural unit derived from a monomer having a free carboxylic acid group such as acrylic acid or methacrylic acid, or a structural unit derived from an aliphatic unsaturated dicarboxylic anhydride such as maleic anhydride or itaconic anhydride , A structural unit derived from 2-norbornene, a structural unit derived from (meth) acrylonitrile, a carbon atom adjacent to the oxygen atom is a secondary carbon atom or an alkyl ester or 1-adamantyl ester of a tertiary carbon atom (meth) Structural units derived from acrylates, structural units derived from styrene monomers such as p- or m-hydroxystyrene, derived from (meth) acryloyloxy-γ-butyrolactone in which the lactone ring may be substituted with an alkyl group And a structural unit. In the 1-adamantyl ester, the carbon atom adjacent to the oxygen atom is a quaternary carbon atom.

具体的な酸に安定なモノマーとしては、(メタ)アクリル酸3−ヒドロキシ−1−アダマンチル、(メタ)アクリル酸3,5−ジヒドロキシ−1−アダマンチル、α−(メタ)アクリロイロキシ−γ−ブチロラクトン、β−(メタ)アクリロイロキシ−γ−ブチロラクトン、式(a)で示される構造単位を導くモノマー、式(b)で示される構造単位を導くモノマー、ヒドロキシスチレン、ノルボルネンなどの分子内にオレフィン性二重結合を有する脂環式化合物、無水マレイン酸などの脂肪族不飽和ジカルボン酸無水物、無水イタコン酸などが例示される。   Specific examples of acid-stable monomers include 3-hydroxy-1-adamantyl (meth) acrylate, 3,5-dihydroxy-1-adamantyl (meth) acrylate, α- (meth) acryloyloxy-γ-butyrolactone, β- (meth) acryloyloxy-γ-butyrolactone, a monomer deriving the structural unit represented by the formula (a), a monomer deriving the structural unit represented by the formula (b), hydroxystyrene, norbornene, etc. Examples thereof include an alicyclic compound having a bond, an aliphatic unsaturated dicarboxylic acid anhydride such as maleic anhydride, and itaconic anhydride.

これらの中でも、特に、p−又はm−ヒドロキシスチレンなどのスチレン系モノマーに由来する構造単位、(メタ)アクリル酸3−ヒドロキシ−1−アダマンチルに由来する構造単位、(メタ)アクリル酸3,5−ジヒドロキシ−1−アダマンチルに由来する構造単位、式(a)で示される構造単位、式(b)で示される構造単位のいずれかを含む樹脂から得られるレジストは、基板への接着性及びレジストの解像性が向上する傾向にあることから好ましい。   Among these, in particular, structural units derived from styrene monomers such as p- or m-hydroxystyrene, structural units derived from 3-hydroxy-1-adamantyl (meth) acrylate, (meth) acrylic acid 3,5 A resist obtained from a resin containing any one of a structural unit derived from -dihydroxy-1-adamantyl, a structural unit represented by formula (a), and a structural unit represented by formula (b) has the following characteristics: This is preferable because the resolution of the image tends to be improved.

Figure 0005750242
(式中、R1及びR2は、互いに独立に、水素原子又はメチル基を表し、R3及びR4は、互いに独立に水素原子、メチル基、トリフルオロメチル基又はハロゲン原子を表し、i及びjは、1〜3の整数を表す。iが2または3のときには、R3は互いに異なる基であってもよく、jが2または3のときには、R4は互いに異なる基であってもよい。)
Figure 0005750242
(In the formula, R 1 and R 2 each independently represent a hydrogen atom or a methyl group; R 3 and R 4 each independently represent a hydrogen atom, a methyl group, a trifluoromethyl group, or a halogen atom; And j represents an integer of 1 to 3. When i is 2 or 3, R 3 may be a different group, and when j is 2 or 3, R 4 may be a different group. Good.)

(メタ)アクリル酸3−ヒドロキシ−1−アダマンチル、(メタ)アクリル酸3、5−ジヒドロキシ−1−アダマンチルなどのモノマーは、市販されているが、例えば対応するヒドロキシアダマンタンを(メタ)アクリル酸又はそのハライドと反応させることにより、製造することもできる。   Monomers such as (meth) acrylic acid 3-hydroxy-1-adamantyl and (meth) acrylic acid 3,5-dihydroxy-1-adamantyl are commercially available. For example, the corresponding hydroxyadamantane is converted to (meth) acrylic acid or It can also be produced by reacting with the halide.

また、(メタ)アクリロイロキシ−γ−ブチロラクトンなどのモノマーは、ラクトン環がアルキル基で置換されていてもよいα−もしくはβ−ブロモ−γ−ブチロラクトンにアクリル酸もしくはメタクリル酸を反応させるか、又はラクトン環がアルキル基で置換されていてもよいα−もしくはβ−ヒドロキシ−γ−ブチロラクトンにアクリル酸ハライドもしくはメタクリル酸ハライドを反応させることにより製造できる。   In addition, a monomer such as (meth) acryloyloxy-γ-butyrolactone is obtained by reacting α- or β-bromo-γ-butyrolactone, in which the lactone ring may be substituted with an alkyl group, with acrylic acid or methacrylic acid, or lactone It can be produced by reacting an α- or β-hydroxy-γ-butyrolactone whose ring may be substituted with an alkyl group with an acrylic acid halide or a methacrylic acid halide.

式(a)、式(b)で示される構造単位を与えるモノマーは、具体的には例えば、次のような水酸基を有する脂環式ラクトンの(メタ)アクリル酸エステル、それらの混合物等が挙げられる。これらのエステルは、例えば対応する水酸基を有する脂環式ラクトンと(メタ)アクリル酸類との反応により製造し得る(例えば、特開2000−26446号公報参照。)。   Specific examples of the monomer that gives the structural unit represented by formula (a) or formula (b) include (meth) acrylic acid esters of alicyclic lactones having a hydroxyl group such as the following, and mixtures thereof. It is done. These esters can be produced, for example, by a reaction between a corresponding alicyclic lactone having a hydroxyl group and (meth) acrylic acid (see, for example, JP-A No. 2000-26446).

Figure 0005750242
Figure 0005750242

ここで、(メタ)アクリロイロキシ−γ−ブチロラクトンとしては、例えば、α−アクリロイロキシ−γ−ブチロラクトン、α−メタクリロイロキシ−γ−ブチロラクトン、α−アクリロイロキシ−β,β−ジメチル−γ−ブチロラクトン、α−メタクリロイロキシ−β,β−ジメチル−γ−ブチロラクトン、α−アクリロイロキシ−α−メチル−γ−ブチロラクトン、α−メタクリロイロキシ−α−メチル−γ−ブチロラクトン、β−アクリロイロキシ−γ−ブチロラクトン、β−メタクリロイロキシ−γ−ブチロラクトン、β−メタクリロイロキシ−α−メチル−γ−ブチロラクトンなどが挙げられる。   Here, as (meth) acryloyloxy-γ-butyrolactone, for example, α-acryloyloxy-γ-butyrolactone, α-methacryloyloxy-γ-butyrolactone, α-acryloyloxy-β, β-dimethyl-γ-butyrolactone, α- Methacryloyloxy-β, β-dimethyl-γ-butyrolactone, α-acryloyloxy-α-methyl-γ-butyrolactone, α-methacryloyloxy-α-methyl-γ-butyrolactone, β-acryloyloxy-γ-butyrolactone, β- Examples include methacryloyloxy-γ-butyrolactone, β-methacryloyloxy-α-methyl-γ-butyrolactone, and the like.

KrFエキシマレーザ露光、EUV露光の場合は、樹脂の構造単位として、p−又はm−ヒドロキシスチレンなどのスチレン系モノマーに由来する構造単位を用いても充分な透過率を得ることができる。このような共重合樹脂を得る場合は、該当する(メタ)アクリル酸エステルモノマーとアセトキシスチレン、及びスチレンをラジカル重合した後、酸によって脱アセチルすることによって得ることができる。
スチレン系モノマーに由来する構造単位を導くモノマーとしては、例えば、以下の化合物が挙げられる。
In the case of KrF excimer laser exposure and EUV exposure, sufficient transmittance can be obtained even when a structural unit derived from a styrene monomer such as p- or m-hydroxystyrene is used as the structural unit of the resin. Such a copolymer resin can be obtained by radically polymerizing the corresponding (meth) acrylic acid ester monomer, acetoxystyrene, and styrene and then deacetylating with an acid.
Examples of the monomer that derives the structural unit derived from the styrene monomer include the following compounds.

Figure 0005750242
Figure 0005750242

以上のモノマーのうち、4−ヒドロキシスチレン又は4−ヒドロキシ−α−メチルスチレンが特に好ましい。   Of the above monomers, 4-hydroxystyrene or 4-hydroxy-α-methylstyrene is particularly preferred.

また、2−ノルボルネンに由来する構造単位を含む樹脂は、その主鎖に直接脂環式骨格を有するために頑丈な構造となり、ドライエッチング耐性に優れるという特性を示す。2−ノルボルネンに由来する構造単位は、例えば対応する2−ノルボルネンの他に無水マレイン酸や無水イタコン酸のような脂肪族不飽和ジカルボン酸無水物を併用したラジカル重合により主鎖へ導入し得る。したがって、ノルボルネン構造の二重結合が開いて形成されるものは式(c)で表すことができ、無水マレイン酸無水物及び無水イタコン酸無水物の二重結合が開いて形成されるものはそれぞれ式(d)及び式(e)で表すことができる。   Moreover, since the resin containing a structural unit derived from 2-norbornene has an alicyclic skeleton directly in the main chain, it has a sturdy structure and exhibits excellent dry etching resistance. The structural unit derived from 2-norbornene can be introduced into the main chain by radical polymerization using, in addition to the corresponding 2-norbornene, an aliphatic unsaturated dicarboxylic anhydride such as maleic anhydride or itaconic anhydride. Therefore, the one formed by opening the double bond of the norbornene structure can be represented by the formula (c), and the one formed by opening the double bond of maleic anhydride and itaconic anhydride is respectively It can represent with Formula (d) and Formula (e).

Figure 0005750242
Figure 0005750242

ここで、式(c)中のR5及びR6は、互いに独立に、水素原子、炭素数1〜3のアルキル基、カルボキシル基、シアノ基もしくは−COOU(Uはアルコール残基である)を表すか、あるいは、R5及びR6が結合して、−C(=O)OC(=O)−で示されるカルボン酸無水物残基を表す。
5及びR6が基−COOUである場合は、カルボキシル基がエステル基となったものであり、Uに相当するアルコール残基としては、例えば、置換されていてもよい炭素数1〜8程度のアルキル基、2−オキソオキソラン−3−又は−4−イル基などを挙げることができる。ここで、該アルキル基は、水酸基や脂環式炭化水素残基などが置換基として結合していてもよい。
5及びR6がアルキル基である場合の具体例としては、メチル基、エチル基、プロピル基などが挙げられ、水酸基が結合したアルキル基の具体例としては、ヒドロキシメチル基、2−ヒドロキシエチル基などが挙げられる。
Here, R 5 and R 6 in formula (c) are each independently a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms, a carboxyl group, a cyano group, or —COOU (U is an alcohol residue). Or R 5 and R 6 are bonded to each other to represent a carboxylic anhydride residue represented by —C (═O) OC (═O) —.
When R 5 and R 6 are a group —COOU, the carboxyl group is an ester group, and the alcohol residue corresponding to U has, for example, about 1 to 8 carbon atoms that may be substituted. And an alkyl group, a 2-oxooxolan-3- or -4-yl group. Here, in the alkyl group, a hydroxyl group, an alicyclic hydrocarbon residue, or the like may be bonded as a substituent.
Specific examples when R 5 and R 6 are alkyl groups include a methyl group, an ethyl group, and a propyl group. Specific examples of the alkyl group to which a hydroxyl group is bonded include a hydroxymethyl group and 2-hydroxyethyl group. Group and the like.

このように、酸に安定な構造単位を与えるモノマーである、式(c)で示されるノルボネン構造の具体例としては、次のような化合物を挙げることができる。
2−ノルボルネン、
2−ヒドロキシ−5−ノルボルネン、
5−ノルボルネン−2−カルボン酸、
5−ノルボルネン−2−カルボン酸メチル、
5−ノルボルネン−2−カルボン酸2−ヒドロキシ−1−エチル、
5−ノルボルネン−2−メタノール、
5−ノルボルネン−2,3−ジカルボン酸無水物。
As described above, specific examples of the norbornene structure represented by the formula (c), which is a monomer that gives a stable structural unit to an acid, include the following compounds.
2-norbornene,
2-hydroxy-5-norbornene,
5-norbornene-2-carboxylic acid,
Methyl 5-norbornene-2-carboxylate,
2-hydroxy-1-ethyl 5-norbornene-2-carboxylate,
5-norbornene-2-methanol,
5-norbornene-2,3-dicarboxylic anhydride.

なお、式(c)中のR5及びR6の−COOUのUが、酸素原子に隣接する炭素原子が4級炭素原子である脂環式エステルなどの酸に不安定な基であれば、ノルボルネン構造を有するといえども、酸に不安定な基を有する構造単位である。ノルボルネン構造と酸に不安定な基を含むモノマーとしては、例えば、5−ノルボルネン−2−カルボン酸−t−ブチル、5−ノルボルネン−2−カルボン酸1−シクロヘキシル−1−メチルエチル、5−ノルボルネン−2−カルボン酸1−メチルシクロヘキシル、5−ノルボルネン−2−カルボン酸2−メチル−2−アダマンチル、5−ノルボルネン−2−カルボン酸2−エチル−2−アダマンチル、5−ノルボルネン−2−カルボン酸1−(4−メチルシクロヘキシル)−1−メチルエチル、5−ノルボルネン−2−カルボン酸1−(4−ヒドロキシシクロヘキシル)−1−メチルエチル、5−ノルボルネン−2−カルボン酸1−メチル−1−(4−オキソシクロヘキシル)エチル、5−ノルボルネン−2−カルボン酸1−(1−アダマンチル)−1−メチルエチルなどが例示される。 In addition, if U of R 5 and R 6 —COOU in the formula (c) is an acid labile group such as an alicyclic ester in which the carbon atom adjacent to the oxygen atom is a quaternary carbon atom, Although it has a norbornene structure, it is a structural unit having an acid labile group. Examples of the monomer containing a norbornene structure and an acid labile group include, for example, 5-norbornene-2-carboxylic acid-t-butyl, 5-norbornene-2-carboxylic acid 1-cyclohexyl-1-methylethyl, and 5-norbornene. 2-carboxylate 1-methylcyclohexyl, 5-norbornene-2-carboxylic acid 2-methyl-2-adamantyl, 5-norbornene-2-carboxylic acid 2-ethyl-2-adamantyl, 5-norbornene-2-carboxylic acid 1- (4-methylcyclohexyl) -1-methylethyl, 5-norbornene-2-carboxylic acid 1- (4-hydroxycyclohexyl) -1-methylethyl, 5-norbornene-2-carboxylic acid 1-methyl-1- (4-Oxocyclohexyl) ethyl, 5-norbornene-2-carboxylic acid 1- (1-adama) Chill) -1-methylethyl and the like.

さらに、酸に安定な基として、式(b1)で表される構造単位及びフッ素原子を含有す
る構造単位を含有してもよい。
Further, the acid-stable group may contain a structural unit represented by the formula (b1) and a structural unit containing a fluorine atom.

Figure 0005750242
Figure 0005750242

[式(b1)中、
b’は、水素原子、メチル基又はトリフルオロメチル基を表す。
ARは、炭素数1〜30の直鎖状、分岐状又は環状の炭化水素基を表し、該炭化水素基に含まれる水素原子の少なくとも1個以上がフッ素原子に置換されている。該炭化水素基に含まれるメチレン基は、酸素原子、硫黄原子又は−N(R)−で置換されていてもよく、該炭化水素基に含まれる水素原子は、水酸基あるいは直鎖状又は分岐状の炭素数1〜6の脂肪族炭化水素基で置換されていてもよい。
は、水素原子又は炭素数1〜6のアルキル基を表す。]
[In the formula (b1),
R b ′ represents a hydrogen atom, a methyl group or a trifluoromethyl group.
AR represents a linear, branched or cyclic hydrocarbon group having 1 to 30 carbon atoms, and at least one hydrogen atom contained in the hydrocarbon group is substituted with a fluorine atom. The methylene group contained in the hydrocarbon group may be substituted with an oxygen atom, a sulfur atom or —N (R c ) —, and the hydrogen atom contained in the hydrocarbon group may be a hydroxyl group, a straight chain or a branched chain It may be substituted with an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 6 carbon atoms.
R c represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms. ]

式(b1)で表される構造単位を導くモノマーとしては、具体的には、以下のモノマー
を挙げることができる。
Specific examples of the monomer for deriving the structural unit represented by the formula (b1) include the following monomers.

Figure 0005750242
Figure 0005750242

Figure 0005750242
Figure 0005750242

本発明のレジスト組成物では、樹脂(B)は、パターニング露光用の放射線の種類や酸に不安定な基の種類などによっても変動するが、通常、樹脂における酸に不安定な基を有するモノマーに由来する構造単位の含有量を10〜80モル%の範囲に調整する。   In the resist composition of the present invention, the resin (B) varies depending on the type of radiation for patterning exposure and the type of acid-labile group, but usually a monomer having an acid-labile group in the resin. The content of the structural unit derived from is adjusted to a range of 10 to 80 mol%.

そして、酸に不安定な基を有するモノマーに由来する構造単位として、特に、メタクリル酸2−アルキル−2−アダマンチル、アクリル酸2−アルキル−2−アダマンチルメタクリル酸1−(1−アダマンチル)−1−アルキルアルキル、アクリル酸2−アルキル−2−アダマンチルメタアクリル酸1−(1−アダマンチル)−1−アルキルアルキルに由来する構造単位を含む場合は、該構造単位が樹脂を構成する全構造単位のうち15モル%以上となると、樹脂が脂環基を有するために頑丈な構造となり、与えるレジストのドライエッチング耐性の面で有利である。   And as a structural unit derived from a monomer having an acid-labile group, in particular, 2-alkyl-2-adamantyl methacrylate, 2-alkyl-2-adamantyl acrylate 1- (1-adamantyl) -1 -When alkyl-alkyl, a structural unit derived from 2-alkyl-2-adamantyl methacrylic acid 1- (1-adamantyl) -1-alkylalkyl is included, the structural unit is composed of all structural units constituting the resin. When the content is 15 mol% or more, the resin has an alicyclic group and thus has a sturdy structure, which is advantageous in terms of dry etching resistance of the resist to be provided.

なお、分子内にオレフィン性二重結合を有する脂環式化合物及び脂肪族不飽和ジカルボ
ン酸無水物をモノマーとする場合には、これらは付加重合しにくい傾向があるので、この
点を考慮し、これらは過剰に使用することが好ましい。
In addition, when using an alicyclic compound having an olefinic double bond in the molecule and an aliphatic unsaturated dicarboxylic acid anhydride as monomers, these tend to be difficult to undergo addition polymerization. These are preferably used in excess.

さらに、用いられるモノマーとしてはオレフィン性二重結合が同じでも酸に不安定な基
が異なるモノマーを併用してもよいし、酸に不安定な基が同じでもオレフィン性二重結合
が異なるモノマーを併用してもよいし、酸に不安定な基とオレフィン性二重結合との組合
せが異なるモノマーを併用してもよい。
Further, as the monomer used, monomers having the same olefinic double bond but different acid labile groups may be used in combination, or monomers having the same acid labile group but different olefinic double bonds may be used. You may use together, and you may use together the monomer from which the combination of an acid labile group and an olefinic double bond differs.

樹脂(B)の重量平均分子量は、好ましくは2,500以上100,000以下であり、より好ましくは2,700以上50,000以下であり、さらに好ましくは3,000以上40,000以下である。   The weight average molecular weight of the resin (B) is preferably 2,500 or more and 100,000 or less, more preferably 2,700 or more and 50,000 or less, and further preferably 3,000 or more and 40,000 or less. .

本発明のレジスト組成物は、式(II)で表される化合物(以下「化合物(II)」と記載する場合がある)を含有する。

Figure 0005750242
[式(II)中、
は、置換基を有していてもよい炭素数1〜10の脂肪族炭化水素基、置換基を有してもよい炭素数4〜36の脂環式炭化水素基、置換基を有していてもよい炭素数3〜36の芳香族炭化水素基又は置換基を有していてもよい炭素数3〜36の複素環基を表す。
Z’は、有機カチオンを表す。] The resist composition of the present invention contains a compound represented by the formula (II) (hereinafter sometimes referred to as “compound (II)”).
Figure 0005750242
[In the formula (II),
R A has an optionally substituted aliphatic hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms, an alicyclic hydrocarbon group having 4 to 36 carbon atoms that may have a substituent, and a substituent. Represents an optionally substituted aromatic hydrocarbon group having 3 to 36 carbon atoms or an optionally substituted heterocyclic group having 3 to 36 carbon atoms.
Z ′ + represents an organic cation. ]

式(II)で表される化合物のアニオンにおいて、脂肪族炭化水素基、脂環式炭化水素基、芳香族炭化水素基は、上記と同様のものが挙げられる。
複素環基としては、ピロール基、フリル基、チエニル基、インドール基、ベンゾフリル基及びカルバゾリル基等が挙げられる。
In the anion of the compound represented by the formula (II), examples of the aliphatic hydrocarbon group, the alicyclic hydrocarbon group, and the aromatic hydrocarbon group are the same as those described above.
Examples of the heterocyclic group include a pyrrole group, a furyl group, a thienyl group, an indole group, a benzofuryl group, and a carbazolyl group.

における置換基としては、ハロゲン原子、水酸基、炭素数1〜12のアルキル基、炭素数1〜12のアルコキシ基、炭素数6〜12のアリール基、炭素数7〜12のアラルキル基、グリシジルオキシ基又は炭素数2〜4のアシル基等が挙げられる。なかでも、ハロゲン原子、特に、フッ素原子が好ましい。 Examples of the substituent in RA include a halogen atom, a hydroxyl group, an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 12 carbon atoms, an aryl group having 6 to 12 carbon atoms, an aralkyl group having 7 to 12 carbon atoms, and glycidyl. Examples thereof include an oxy group or an acyl group having 2 to 4 carbon atoms. Among these, a halogen atom, particularly a fluorine atom is preferable.

としては、炭素数1〜8のアルキル基又は式(IV)で表される基であることが好ましい。

Figure 0005750242
[式(IV)中、
環に含まれる水素原子は、ハロゲン原子、水酸基、炭素数1〜12のアルキル基、炭素数1〜12のアルコキシ基、炭素数6〜12のアリール基、炭素数7〜12のアラルキル基、グリシジルオキシ基又は炭素数2〜4のアシル基で置換されていてもよく、環に含まれるメチレン基は、カルボニル基又は酸素原子で置換されていてもよい。
*は、酸素原子との結合手を表す。] R A is preferably a C 1-8 alkyl group or a group represented by the formula (IV).
Figure 0005750242
[In the formula (IV),
The hydrogen atom contained in the ring is a halogen atom, a hydroxyl group, an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 12 carbon atoms, an aryl group having 6 to 12 carbon atoms, an aralkyl group having 7 to 12 carbon atoms, or glycidyl. It may be substituted with an oxy group or an acyl group having 2 to 4 carbon atoms, and the methylene group contained in the ring may be substituted with a carbonyl group or an oxygen atom.
* Represents a bond with an oxygen atom. ]

における置換基としてフッ素原子を含むアニオンとしては、フロロ酢酸、ジフロロ酢酸、トリフロロ酢酸、ペンタフロロプロピオン酸、ヘプタフロロ酪酸、ノナフロロペンタン酸、パーフロロドデカン酸、パーフロロトリデカン酸、パーフロロシクロヘキサンカルボン酸及び2,2−ビストリフロロメチルプロピオン酸に由来するアニオン等が挙げられる。 The anion containing a fluorine atom as a substituent in R A, fluoroacetic acid, difluoro acetic acid, trifluoroacetic acid, pentafluorobenzene acid, Heputafuroro acid, nona fluorosilicone pentanoic acid, perfluoro dodecanoic acid, perfluoro tridecane acid, perfluorotridecanoic carboxylic And anions derived from acid and 2,2-bistrifluoromethylpropionic acid.

また、アニオンとしては、式(IIA−1)〜式(IIA−18)で表されるアニオン等が挙げられる。

Figure 0005750242
Examples of the anion include anions represented by formula (IIA-1) to formula (IIA-18).
Figure 0005750242

式(II)で表される化合物のカチオンとしては、酸発生剤におけるZと同様の有機カチオンが挙げられる。
例えば、式(III)で表されるカチオンが好ましい。

Figure 0005750242
[式(III)中、
、R及びRは、それぞれ独立に、置換基を有していてもよい炭素数1〜10の脂肪族炭化水素基、置換基を有してもよい炭素数4〜36の脂環式炭化水素基、置換基を有していてもよい炭素数3〜36の芳香族炭化水素基又は置換基を有していてもよい炭素数3〜36の複素環基を表す。これら基に含まれる炭素原子は、硫黄原子、酸素原子又はカルボニル基で置換されていてもよい。R、R及びRのうちの2つが互いに結合して環を形成してもよい。] Examples of the cation of the compound represented by the formula (II) include the same organic cation as Z + in the acid generator.
For example, a cation represented by the formula (III) is preferable.
Figure 0005750242
[In the formula (III),
R B , R C and R D are each independently an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms which may have a substituent, or an aliphatic hydrocarbon group having 4 to 36 carbon atoms which may have a substituent. It represents a cyclic hydrocarbon group, an optionally substituted aromatic hydrocarbon group having 3 to 36 carbon atoms, or an optionally substituted heterocyclic group having 3 to 36 carbon atoms. The carbon atom contained in these groups may be substituted with a sulfur atom, an oxygen atom or a carbonyl group. Two of R B , R C and R D may be bonded to each other to form a ring. ]

、R及びRにおける置換基としては、例えば、ハロゲン原子、水酸基、炭素数1〜12のアルキル基、炭素数1〜12のアルコキシ基、炭素数6〜12のアリール基、炭素数7〜12のアラルキル基、グリシジルオキシ基又は炭素数2〜4のアシル基等が挙げられる。なかでも、ハロゲン原子、特に、フッ素原子が好ましい。
、R及びRが形成する環としては、硫黄原子を少なくとも1つ含む環であればよく、例えば、チイラン、チアン、チイン、チアゾリン、イアゾリジン、オキサチオラン、テトラヒドロチオフェニウム基等が例示される。
Examples of the substituent in R B , R C and R D include a halogen atom, a hydroxyl group, an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 12 carbon atoms, an aryl group having 6 to 12 carbon atoms, and a carbon number. A 7-12 aralkyl group, a glycidyloxy group, a C2-C4 acyl group, etc. are mentioned. Among these, a halogen atom, particularly a fluorine atom is preferable.
The ring formed by R B , R C and R D may be any ring containing at least one sulfur atom. Is done.

具体的には、式(IIB−1)〜式(IIB−96)で表されるカチオンが挙げられる。

Figure 0005750242
Specific examples include cations represented by formula (IIB-1) to formula (IIB-96).
Figure 0005750242


Figure 0005750242

Figure 0005750242

Figure 0005750242
Figure 0005750242

Figure 0005750242
Figure 0005750242

Figure 0005750242
Figure 0005750242

Figure 0005750242
Figure 0005750242

Figure 0005750242
Figure 0005750242

Figure 0005750242
Figure 0005750242

式(II)で表される化合物としては、カルボン酸スルホニウム塩、カルボン酸ヨードニウム塩、カルボン酸とヒドロキシイミド骨格を有する化合物との脱水縮合反応により生成されるカルボキシイミド化合物が好ましい。なかでも、カルボン酸スルホニウム塩を用いることがより好ましい。   As the compound represented by the formula (II), a carboxylic acid sulfonium salt, a carboxylic acid iodonium salt, and a carboxyimide compound produced by a dehydration condensation reaction between a carboxylic acid and a compound having a hydroxyimide skeleton are preferable. Among these, it is more preferable to use a carboxylic acid sulfonium salt.

カルボン酸とヒドロキシイミド骨格を有する化合物との脱水縮合反応により生成されるカルボキシイミド化合物としては、式(IIB−97)〜式(IIB−99)で表されるカチオンが挙げられる。

Figure 0005750242
Examples of the carboximide compound produced by a dehydration condensation reaction between a carboxylic acid and a compound having a hydroxyimide skeleton include cations represented by formulas (IIB-97) to (IIB-99).
Figure 0005750242

式(II)で表される化合物としては、下記表1に示す化合物が挙げられる。   Examples of the compound represented by the formula (II) include compounds shown in Table 1 below.

Figure 0005750242
Figure 0005750242

式(II)で表される化合物は、例えば、スルホニウムヒドロキシド、ヨードニウムヒドロキシド、アンモニウムヒドロキシドとカルボン酸とを適当な溶剤中で、反応させることによって合成できる。スルホニウムヒドロキシド、ヨードニウムヒドロキシド、アンモニウムヒドロキシドは、スルホニウムヨージド、ヨードニウムヨージド、アンモニウムヨージドを、適当な溶剤中で、酸化銀と反応させることによって得られる。   The compound represented by the formula (II) can be synthesized, for example, by reacting sulfonium hydroxide, iodonium hydroxide, ammonium hydroxide and carboxylic acid in a suitable solvent. Sulfonium hydroxide, iodonium hydroxide, and ammonium hydroxide can be obtained by reacting sulfonium iodide, iodonium iodide, and ammonium iodide with silver oxide in an appropriate solvent.

式(II)で表される化合物の製造方法としては、例えば、下記の反応式で表される製造方法が挙げられる。

Figure 0005750242
[式中、Z'及びRは、上記と同じ意味を表す。Xはハロゲン原子を表す。] As a manufacturing method of the compound represented by Formula (II), the manufacturing method represented by the following reaction formula is mentioned, for example.
Figure 0005750242
[Wherein, Z ′ and R A represent the same meaning as described above. X represents a halogen atom. ]

Z'としては、トリフェニルスルホニウムアイオダイド等が挙げられる。
Z'及びR−CO−Agを反応させることによって、式(II)で表される化合物を得ることができる。
Examples of Z ′ + X include triphenylsulfonium iodide.
A compound represented by the formula (II) can be obtained by reacting Z ′ + X and R A —CO 2 —Ag.

式(II)で表される化合物の含量は、レジスト組成物の全固形分に対し、0.1〜20重量%が適当であり、好ましくは0.5〜10重量%、さらに好ましくは1〜7重量%である。   The content of the compound represented by the formula (II) is suitably 0.1 to 20% by weight, preferably 0.5 to 10% by weight, more preferably 1 to 2% by weight based on the total solid content of the resist composition. 7% by weight.

また、本発明の樹脂組成物をレジスト組成物として用いる場合、塩基性化合物、好ましくは、塩基性含窒素有機化合物、特に好ましくはアミン又はアンモニウム塩を含有させる。塩基性化合物をクエンチャーとして添加することにより、露光後の引き置きに伴う酸の失活による性能劣化を改良することができる。クエンチャーに用いられる塩基性化合物の具体的な例としては、以下の各式で示されるようなものが挙げられる。   When the resin composition of the present invention is used as a resist composition, it contains a basic compound, preferably a basic nitrogen-containing organic compound, particularly preferably an amine or ammonium salt. By adding a basic compound as a quencher, it is possible to improve the performance degradation due to the deactivation of the acid accompanying the holding after exposure. Specific examples of the basic compound used for the quencher include those represented by the following formulas.

Figure 0005750242
Figure 0005750242

式中、R11、R12及びR17は、それぞれ独立に、水素原子、アルキル基、シクロアルキル基又はアリール基を表す。該アルキル基は、好ましくは1〜6個程度の炭素原子を有し、該シクロアルキル基は好ましくは5〜10個程度の炭素原子を有し、該アリール基は、好ましくは6〜10個程度の炭素原子を有する。さらに、該アルキル基、シクロアルキル基又はアリール基上の水素原子の少なくとも1個は、それぞれ独立に、ヒドロキシル基、アミノ基又は1〜6個の炭素数を有するアルコキシ基で置換されていてもよい。該アミノ基上の水素原子の少なくとも1個は、それぞれ独立に1〜4個の炭素数を有するアルキル基で置換されていてもよい。 In the formula, R 11 , R 12 and R 17 each independently represents a hydrogen atom, an alkyl group, a cycloalkyl group or an aryl group. The alkyl group preferably has about 1 to 6 carbon atoms, the cycloalkyl group preferably has about 5 to 10 carbon atoms, and the aryl group preferably has about 6 to 10 carbon atoms. Of carbon atoms. Furthermore, at least one hydrogen atom on the alkyl group, cycloalkyl group or aryl group may be independently substituted with a hydroxyl group, an amino group or an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms. . At least one hydrogen atom on the amino group may be independently substituted with an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms.

13及びR14は、それぞれ独立に、水素原子、アルキル基、シクロアルキル基、アリール基又はアルコキシ基を表す。該アルキル基は、好ましくは1〜6個程度の炭素原子を有し、該シクロアルキル基は、好ましくは5〜10個程度の炭素原子を有し、該アリール基は、好ましくは6〜10個程度の炭素原子を有し、該アルコキシ基は、好ましくは1〜6個の炭素原子を有する。あるいは、R13とR14とが結合して芳香環を形成していてもよい。
さらに、該アルキル基、シクロアルキル基、アリール基又はアルコキシ基上の水素原子の少なくとも1個は、それぞれ独立に、ヒドロキシル基、アミノ基又は1〜6個程度の炭素原子を有するアルコキシ基で置換されていてもよい。該アミノ基上の水素原子の少なくとも1個は、1〜4個の炭素原子を有するアルキル基で置換されていてもよい。
R 13 and R 14 each independently represents a hydrogen atom, an alkyl group, a cycloalkyl group, an aryl group or an alkoxy group. The alkyl group preferably has about 1 to 6 carbon atoms, the cycloalkyl group preferably has about 5 to 10 carbon atoms, and the aryl group preferably has 6 to 10 carbon atoms. The alkoxy group preferably has 1 to 6 carbon atoms. Alternatively, R 13 and R 14 may be bonded to form an aromatic ring.
Furthermore, at least one hydrogen atom on the alkyl group, cycloalkyl group, aryl group or alkoxy group is each independently substituted with a hydroxyl group, an amino group or an alkoxy group having about 1 to 6 carbon atoms. It may be. At least one of the hydrogen atoms on the amino group may be substituted with an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms.

15は、それぞれ独立に、水素原子、アルキル基、シクロアルキル基、アリール基、アルコキシ基又はニトロ基を表す。該アルキル基は、好ましくは1〜6個程度の炭素原子を有し、該シクロアルキル基は、好ましくは5〜10個程度の炭素原子を有し、該アリール基は、好ましくは6〜10個程度の炭素原子を有し、該アルコキシ基は、好ましくは1〜6個の炭素原子を有する。
さらに、該アルキル基、シクロアルキル基、アリール基又はアルコキシ基上の水素原子の少なくとも1個は、それぞれ独立に、ヒドロキシル基、アミノ基又は1〜6個程度の炭素原子を有するアルコキシ基で置換されていてもよい。該アミノ基上の水素原子の少なくとも1個は、1〜4個の炭素原子を有するアルキル基で置換されていてもよい。
R 15 each independently represents a hydrogen atom, an alkyl group, a cycloalkyl group, an aryl group, an alkoxy group or a nitro group. The alkyl group preferably has about 1 to 6 carbon atoms, the cycloalkyl group preferably has about 5 to 10 carbon atoms, and the aryl group preferably has 6 to 10 carbon atoms. The alkoxy group preferably has 1 to 6 carbon atoms.
Furthermore, at least one hydrogen atom on the alkyl group, cycloalkyl group, aryl group or alkoxy group is each independently substituted with a hydroxyl group, an amino group or an alkoxy group having about 1 to 6 carbon atoms. It may be. At least one of the hydrogen atoms on the amino group may be substituted with an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms.

16は、アルキル基又はシクロアルキル基を表す。該アルキル基は、好ましくは1〜6個程度の炭素原子を有し、該シクロアルキル基は、好ましくは5〜10個程度の炭素原子を有する。さらに該アルキル基又はシクロアルキル基上の水素原子の少なくとも1個は、それぞれ独立に、ヒドロキシル基、アミノ基、1〜6個の炭素原子を有するアルコキシ基で置換されていてもよい。該アミノ基上の水素原子の少なくとも1個は、1〜4個の炭素原子を有するアルキル基で置換されていてもよい。 R 16 represents an alkyl group or a cycloalkyl group. The alkyl group preferably has about 1 to 6 carbon atoms, and the cycloalkyl group preferably has about 5 to 10 carbon atoms. Furthermore, at least one hydrogen atom on the alkyl group or cycloalkyl group may be independently substituted with a hydroxyl group, an amino group, or an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms. At least one of the hydrogen atoms on the amino group may be substituted with an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms.

18、R19及びR20は、それぞれ独立にアルキル基、シクロアルキル基又はアリール基を表す。該アルキル基は、好ましくは1〜6個程度の炭素原子を有し、該シクロアルキル基は、好ましくは5〜10個程度の炭素原子を有し、該アリール基は、好ましくは6〜10個程度の炭素原子を有する。さらに、該アルキル基、シクロアルキル基又はアリール基上の水素原子の少なくとも1個は、それぞれ独立に、ヒドロキシル基、アミノ基、1〜6個の炭素原子を有するアルコキシ基で置換されていてもよい。該アミノ基上の水素原子の少なくとも1個は、1〜4個の炭素原子を有するアルキル基で置換されていてもよい。 R 18 , R 19 and R 20 each independently represents an alkyl group, a cycloalkyl group or an aryl group. The alkyl group preferably has about 1 to 6 carbon atoms, the cycloalkyl group preferably has about 5 to 10 carbon atoms, and the aryl group preferably has 6 to 10 carbon atoms. Has about carbon atoms. Further, at least one hydrogen atom on the alkyl group, cycloalkyl group or aryl group may be independently substituted with a hydroxyl group, an amino group, or an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms. . At least one of the hydrogen atoms on the amino group may be substituted with an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms.

Wは、アルキレン基、カルボニル基、イミノ基、スルフィド基又はジスルフィド基を表す。該アルキレン基は、好ましくは2〜6程度の炭素原子を有する。
また、R11〜R20において、直鎖構造と分岐構造の両方をとり得るものについては、そのいずれでもよい。
芳香環としては、芳香族炭化水素(アリール又はアラルキル等)、芳香族複素環等が挙げられる。芳香族複素環としては、芳香族炭化水素の任意の炭素原子が酸素原子、硫黄原子又は窒素原子で置き換わった環等があげられる。好ましくは、芳香族炭化水素である。
W represents an alkylene group, a carbonyl group, an imino group, a sulfide group or a disulfide group. The alkylene group preferably has about 2 to 6 carbon atoms.
Further, in R 11 to R 20 , any of those that can take both a linear structure and a branched structure may be used.
Examples of the aromatic ring include aromatic hydrocarbons (such as aryl or aralkyl) and aromatic heterocycles. Examples of the aromatic heterocycle include a ring in which an arbitrary carbon atom of an aromatic hydrocarbon is replaced with an oxygen atom, a sulfur atom, or a nitrogen atom. Preferably, it is an aromatic hydrocarbon.

このような化合物として、具体的には、ヘキシルアミン、ヘプチルアミン、オクチルアミン、ノニルアミン、デシルアミン、アニリン、2−,3−又は4−メチルアニリン、4−ニトロアニリン、1−又は2−ナフチルアミン、エチレンジアミン、テトラメチレンジアミン、ヘキサメチレンジアミン、4,4’−ジアミノ−1,2−ジフェニルエタン、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジメチルジフェニルメタン、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジエチルジフェニルメタン、ジブチルアミン、ジペンチルアミン、ジヘキシルアミン、ジヘプチルアミン、ジオクチルアミン、ジノニルアミン、ジデシルアミン、N−メチルアニリン、ピペリジン、ジフェニルアミン、トリエチルアミン、トリメチルアミン、トリプロピルアミン、トリブチルアミン、トリペンチルアミン、トリヘキシルアミン、トリヘプチルアミン、トリオクチルアミン、トリノニルアミン、トリデシルアミン、メチルジブチルアミン、メチルジペンチルアミン、メチルジヘキシルアミン、メチルジシクロヘキシルアミン、メチルジヘプチルアミン、メチルジオクチルアミン、メチルジノニルアミン、メチルジデシルアミン、エチルジブチルアミン、エチルジペンチルアミン、エチルジヘキシルアミン、エチルジヘプチルアミン、エチルジオクチルアミン、エチルジノニルアミン、エチルジデシルアミン、ジシクロヘキシルメチルアミン、トリス〔2−(2−メトキシエトキシ)エチル〕アミン、トリイソプロパノールアミン、N,N−ジメチルアニリン、2,6−ジイソプロピルアニリン、イミダゾール、ピリジン、4−メチルピリジン、4−メチルイミダゾール、ビピリジン、2,2’−ジピリジルアミン、ジ−2−ピリジルケトン、1,2−ジ(2−ピリジル)エタン、1,2−ジ(4−ピリジル)エタン、1,3−ジ(4−ピリジル)プロパン、1,2−ビス(2−ピリジル)エチレン、1,2−ビス(4−ピリジル)エチレン、1,2−ビス(4−ピリジルオキシ)エタン、4,4’−ジピリジルスルフィド、4,4’−ジピリジルジスルフィド、1,2−ビス(4−ピリジル)エチレン、2,2’−ジピコリルアミン、3,3’−ジピコリルアミン、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド、テトライソプロピルアンモニウムヒドロキシド、テトラブチルアンモニウムヒドロキシド、テトラ−n−ヘキシルアンモニウムヒドロキシド、テトラ−n−オクチルアンモニウムヒドロキシド、フェニルトリメチルアンモニウムヒドロキシド、3−トリフルオロメチルフェニルトリメチルアンモニウムヒドロキシド、(2−ヒドロキシエチル)トリメチルアンモニウムヒドロキシド(通称:コリン)などを挙げることができる。   Specific examples of such compounds include hexylamine, heptylamine, octylamine, nonylamine, decylamine, aniline, 2-, 3- or 4-methylaniline, 4-nitroaniline, 1- or 2-naphthylamine, and ethylenediamine. , Tetramethylenediamine, hexamethylenediamine, 4,4′-diamino-1,2-diphenylethane, 4,4′-diamino-3,3′-dimethyldiphenylmethane, 4,4′-diamino-3,3′- Diethyldiphenylmethane, dibutylamine, dipentylamine, dihexylamine, diheptylamine, dioctylamine, dinonylamine, didecylamine, N-methylaniline, piperidine, diphenylamine, triethylamine, trimethylamine, tripropylamine, tributylamine , Tripentylamine, trihexylamine, triheptylamine, trioctylamine, trinonylamine, tridecylamine, methyldibutylamine, methyldipentylamine, methyldihexylamine, methyldicyclohexylamine, methyldiheptylamine, methyldioctylamine Methyldinonylamine, methyldidecylamine, ethyldibutylamine, ethyldipentylamine, ethyldihexylamine, ethyldiheptylamine, ethyldioctylamine, ethyldinonylamine, ethyldidecylamine, dicyclohexylmethylamine, tris [2- (2-methoxyethoxy) ethyl] amine, triisopropanolamine, N, N-dimethylaniline, 2,6-diisopropylaniline, imidazole, pyridine 4-methylpyridine, 4-methylimidazole, bipyridine, 2,2'-dipyridylamine, di-2-pyridyl ketone, 1,2-di (2-pyridyl) ethane, 1,2-di (4-pyridyl) ethane 1,3-di (4-pyridyl) propane, 1,2-bis (2-pyridyl) ethylene, 1,2-bis (4-pyridyl) ethylene, 1,2-bis (4-pyridyloxy) ethane, 4,4′-dipyridyl sulfide, 4,4′-dipyridyl disulfide, 1,2-bis (4-pyridyl) ethylene, 2,2′-dipicolylamine, 3,3′-dipicolylamine, tetramethylammonium hydroxy , Tetraisopropylammonium hydroxide, tetrabutylammonium hydroxide, tetra-n-hexylammonium hydroxide, tetra-n -Octylammonium hydroxide, phenyltrimethylammonium hydroxide, 3-trifluoromethylphenyltrimethylammonium hydroxide, (2-hydroxyethyl) trimethylammonium hydroxide (common name: choline), and the like can be given.

さらには、特開平11−52575号公報に開示されているような、ピペリジン骨格を有するヒンダードアミン化合物をクエンチャーとすることもできる。   Furthermore, a hindered amine compound having a piperidine skeleton as disclosed in JP-A-11-52575 can be used as a quencher.

本発明のレジスト組成物は、その全固形分量を基準に、樹脂を80〜99.9重量%程度、そして酸発生剤を0.1〜20重量%程度の範囲で含有することが好ましい。
また、化学増幅型レジスト組成物としてクエンチャーである塩基性化合物を用いる場合は、レジスト組成物の全固形分量を基準に、0.01〜1重量%程度の範囲で含有するのが好ましい。
レジスト組成物としては、さらに、必要に応じて、増感剤、溶解抑止剤、他の樹脂、界面活性剤、安定剤、染料など、各種の添加物を少量含有することもできる。
The resist composition of the present invention preferably contains about 80 to 99.9% by weight of resin and about 0.1 to 20% by weight of acid generator based on the total solid content.
Further, when a basic compound that is a quencher is used as the chemically amplified resist composition, it is preferably contained in a range of about 0.01 to 1% by weight based on the total solid content of the resist composition.
The resist composition can further contain small amounts of various additives such as sensitizers, dissolution inhibitors, other resins, surfactants, stabilizers, and dyes as necessary.

本発明のレジスト組成物は、通常、上記の各成分が溶剤に溶解された状態でレジスト液組成物とされ、シリコンウェハなどの基体上に、スピンコーティングなどの通常工業的に用いられている方法によって塗布される。ここで用いる溶剤は、各成分を溶解し、適当な乾燥速度を有し、溶剤が蒸発した後に均一で平滑な塗膜を与えるものであればよく、この分野で通常工業的に用いられている溶剤が使用できる。   The resist composition of the present invention is usually used as a resist solution composition in a state in which each of the above components is dissolved in a solvent, and is usually used in industrial processes such as spin coating on a substrate such as a silicon wafer. Applied by. The solvent used here may be any solvent that dissolves each component, has an appropriate drying rate, and gives a uniform and smooth coating film after the solvent evaporates, and is usually used industrially in this field. A solvent can be used.

例えば、エチルセロソルブアセテート、メチルセロソルブアセテート及びプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートのようなグリコールエーテルエステル類、プロピレングリコールモノメチルエーテルのようなグリコールエーテル類、乳酸エチル、酢酸ブチル、酢酸アミル及びピルビン酸エチルのようなエステル類、アセトン、メチルイソブチルケトン、2−ヘプタノン及びシクロヘキサノンのようなケトン類、γ−ブチロラクトンのような環状エステル類などを挙げることができる。これらの溶剤は、それぞれ単独で、又は2種以上組み合わせて用いることができる。   For example, glycol ether esters such as ethyl cellosolve acetate, methyl cellosolve acetate and propylene glycol monomethyl ether acetate, glycol ethers such as propylene glycol monomethyl ether, esters such as ethyl lactate, butyl acetate, amyl acetate and ethyl pyruvate And ketones such as acetone, methyl isobutyl ketone, 2-heptanone and cyclohexanone, and cyclic esters such as γ-butyrolactone. These solvents can be used alone or in combination of two or more.

本発明のパターン形成方法は、
(1)上述した本発明のレジスト組成物を基板上に塗布する工程、
(2)塗布後の組成物から溶剤を除去して組成物層を形成する工程、
(3)組成物層に露光機を用いて露光する工程、
(4)露光後の組成物層を加熱する工程、
(5)加熱後の組成物層を、現像装置を用いて現像する工程を含む。
The pattern forming method of the present invention comprises:
(1) The process of apply | coating the resist composition of this invention mentioned above on a board | substrate,
(2) a step of removing the solvent from the composition after coating to form a composition layer;
(3) a step of exposing the composition layer using an exposure machine;
(4) A step of heating the composition layer after exposure,
(5) The process which develops the composition layer after a heating using a image development apparatus is included.

レジスト組成物の基体上への塗布は、スピンコーターなど、通常、用いられる装置によって行うことができる。   Application of the resist composition onto the substrate can be performed by a commonly used apparatus such as a spin coater.

溶剤の除去は、例えば、ホットプレート等の加熱装置を用いて溶剤を蒸発させることにより行われるか、あるいは減圧装置を用いて行われ、溶剤が除去された組成物層が形成される。この場合の温度は、例えば、50〜200℃程度が例示される。また、圧力は、1〜1.0×10Pa程度が例示される。 The removal of the solvent is performed, for example, by evaporating the solvent using a heating device such as a hot plate or by using a decompression device to form a composition layer from which the solvent has been removed. As for the temperature in this case, about 50-200 degreeC is illustrated, for example. The pressure is exemplified by about 1 to 1.0 × 10 5 Pa.

得られた組成物層は、露光機を用いて露光する。ここでの露光機は液浸露光機であってもよい。この際、通常、求められるパターンに相当するマスクを介して露光が行われる。露光光源としては、KrFエキシマレーザ(波長248nm)、ArFエキシマレーザ(波長193nm)、F2レーザ(波長157nm)のような紫外域のレーザ光を放射するもの、固体レーザ光源(YAG又は半導体レーザ等)からのレーザ光を波長変換して遠紫外域または真空紫外域の高調波レーザ光を放射するもの等、種々のものを用いることができる。 The obtained composition layer is exposed using an exposure machine. The exposure machine here may be an immersion exposure machine. At this time, exposure is usually performed through a mask corresponding to a required pattern. The exposure light source emits ultraviolet laser light such as KrF excimer laser (wavelength 248 nm), ArF excimer laser (wavelength 193 nm), F 2 laser (wavelength 157 nm), solid-state laser light source (YAG or semiconductor laser, etc.) Various types of laser beam can be used, such as those that convert the wavelength of the laser beam from) to radiate a harmonic laser beam in the far ultraviolet region or the vacuum ultraviolet region.

露光後の組成物層は、脱保護基反応を促進するための加熱処理が行われる。加熱温度としては、通常50〜200℃程度、好ましくは70〜150℃程度である。
加熱後の組成物層を、現像装置を用いて、通常、アルカリ現像液を利用して現像する。ここで用いられるアルカリ現像液は、この分野で用いられる各種のアルカリ性水溶液であればよい。例えば、テトラメチルアンモニウムヒドロキシドや(2−ヒドロキシエチル)トリメチルアンモニウムヒドロキシド(通称コリン)の水溶液等が挙げられる。
現像後、超純水でリンスし、基板及びパターン上に残った水を除去することが好ましい。
The composition layer after the exposure is subjected to heat treatment for promoting the deprotection group reaction. As heating temperature, it is about 50-200 degreeC normally, Preferably it is about 70-150 degreeC.
The heated composition layer is usually developed using an alkali developer using a developing device. The alkaline developer used here may be various alkaline aqueous solutions used in this field. Examples thereof include an aqueous solution of tetramethylammonium hydroxide and (2-hydroxyethyl) trimethylammonium hydroxide (commonly called choline).
After development, it is preferable to rinse with ultrapure water to remove water remaining on the substrate and the pattern.

以下、本発明を実施例によって詳細に説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。
実施例及び比較例中、含有量及び使用量を表す%及び部は、特記ないかぎり質量基準である。また重量平均分子量は、ポリスチレンを標準品として、ゲルパーミュエーションクロマトグラフィー(東ソー株式会社製HLC−8120GPC型、カラムは”TSKgel Multipore HXL−M”3本、溶媒はテトラヒドロフラン)により求めた値である。
EXAMPLES Hereinafter, although an Example demonstrates this invention in detail, this invention is not limited to these.
In Examples and Comparative Examples, “%” and “part” representing content and use amount are based on mass unless otherwise specified. The weight average molecular weight is a value obtained by gel permeation chromatography (HLC-8120GPC type, manufactured by Tosoh Corporation, three columns are “TSKgel Multipore HXL-M”, and the solvent is tetrahydrofuran) using polystyrene as a standard product. .

カラム:TSKgel Multipore HXL-M x 3 + guardcolumn(東ソー社製)
溶離液:テトラヒドロフラン
流量:1.0mL/min
検出器:RI検出器
カラム温度:40℃
注入量:100μl
分子量標準:標準ポリスチレン(東ソー社製)
Column: TSKgel Multipore H XL -M x 3 + guardcolumn (manufactured by Tosoh Corporation)
Eluent: Tetrahydrofuran Flow rate: 1.0 mL / min
Detector: RI detector Column temperature: 40 ° C
Injection volume: 100 μl
Molecular weight standard: Standard polystyrene (manufactured by Tosoh Corporation)

また、化合物の構造はNMR(日本電子製GX−270型又はEX−270型)、質量分析(LCはAgilent製1100型、MASSはAgilent製LC/MSD型又はLC/MSD TOF型)で確認した。   Moreover, the structure of the compound was confirmed by NMR (JEOL GX-270 type or EX-270 type) and mass spectrometry (LC: Agilent 1100 type, MASS: Agilent LC / MSD type or LC / MSD TOF type). .

式(II)で表される化合物C1の合成
トリフェニルスルホニウムアイオダイド5.00部及びメタノール20.00部を仕込み、23℃で30分間攪拌し、酢酸銀2.00部及びイオン交換水100.00部の懸濁液を30分かけて滴下した。さらに、23℃で1時間攪拌し、ろ過した。得られた濾液を濃縮し、イオン交換水100.00部を添加攪拌し、ろ過した。得られた濾液を濃縮し、乾燥することにより、化合物(C1)3.59部を得た。

Figure 0005750242
Synthesis of Compound C1 Represented by Formula (II) 5.00 parts of triphenylsulfonium iodide and 20.00 parts of methanol were charged and stirred at 23 ° C. for 30 minutes, and 2.00 parts of silver acetate and 100. 00 parts of the suspension was added dropwise over 30 minutes. Furthermore, it stirred at 23 degreeC for 1 hour, and filtered. The obtained filtrate was concentrated, and 100.00 parts of ion-exchanged water was added and stirred, followed by filtration. The obtained filtrate was concentrated and dried to obtain 3.59 parts of compound (C1).

Figure 0005750242

MS(ESI(+)Spectrum):M 263.1
MS(ESI(−)Spectrum):M 59.0
1H−NMR(ジメチルスルホキシド−d6、内部標準物質テトラメチルシラン):δ(ppm)1.49(s,3H)、7.70−7.90(m,15H)
MS (ESI (+) Spectrum): M + 263.1
MS (ESI (-) Spectrum): M - 59.0
1 H-NMR (dimethyl sulfoxide-d 6 , internal standard substance tetramethylsilane): δ (ppm) 1.49 (s, 3H), 7.70-7.90 (m, 15H)

式(II)で表される化合物C2の合成

Figure 0005750242
化合物(C2−a)21.25部及びアセトニトリル100.00部を仕込み、23℃で30分間攪拌した。その後、酸化銀12.42部を仕込み、23℃で4時間攪拌し、ろ過した。得られた濾物に、tert−ブチルメチルエーテル63.75部を添加し、23℃で30分間攪拌し、ろ過した。得られた濾物を乾燥することにより、化合物(C2−a)の銀塩30.69部を得た。 Synthesis of compound C2 represented by formula (II)
Figure 0005750242
21.25 parts of compound (C2-a) and 100.00 parts of acetonitrile were charged and stirred at 23 ° C. for 30 minutes. Thereafter, 12.42 parts of silver oxide was charged, stirred at 23 ° C. for 4 hours, and filtered. To the obtained filtrate, 63.75 parts of tert-butyl methyl ether was added, stirred at 23 ° C. for 30 minutes, and filtered. The obtained filtrate was dried to obtain 30.69 parts of a silver salt of the compound (C2-a).

トリフェニルスルホニウムアイオダイド6.48部及びメタノール50.00部を仕込み、23℃で30分間攪拌し、化合物(C2−a)の銀塩5.00部及びイオン交換水150.00部の懸濁液を1時間かけて滴下した。さらに、23℃で5時間攪拌し、ろ過した。得られた濾液を濃縮し、メタノール30.75部を添加攪拌した。その後、濃縮し、さらに、得られた濃縮物に酢酸エチル21.64部を添加した。23℃で1時間攪拌し、析出物をろ過した。得られた濾物を乾燥することにより、白色粉体として、化合物(C2)3.45部を得た。   6.48 parts of triphenylsulfonium iodide and 50.00 parts of methanol were added and stirred at 23 ° C. for 30 minutes to suspend 5.00 parts of the silver salt of compound (C2-a) and 150.00 parts of ion-exchanged water. The solution was added dropwise over 1 hour. Furthermore, it stirred at 23 degreeC for 5 hours, and filtered. The obtained filtrate was concentrated, and 30.75 parts of methanol was added and stirred. Thereafter, the mixture was concentrated, and 21.64 parts of ethyl acetate was added to the obtained concentrate. The mixture was stirred at 23 ° C. for 1 hour, and the precipitate was filtered. The obtained filtrate was dried to obtain 3.45 parts of compound (C2) as a white powder.

MS(ESI(+)Spectrum):M 263.1
MS(ESI(−)Spectrum):M 193.1
1H−NMR(ジメチルスルホキシド−d6、内部標準物質テトラメチルシラン):δ(ppm)1.70−2.00(m,11H)、2.25−2.30(m,2H)、7.70−7.90(m,15H)
MS (ESI (+) Spectrum): M + 263.1
MS (ESI (-) Spectrum): M - 193.1
1 H-NMR (dimethyl sulfoxide-d 6 , internal standard substance tetramethylsilane): δ (ppm) 1.70-2.00 (m, 11H), 2.25-2.30 (m, 2H), 7 .70-7.90 (m, 15H)

式(II)で表される化合物C3の合成

Figure 0005750242
ジフェニルヨードニウムクロライド5.26部及びメタノール50.00部を仕込み、23℃で30分間攪拌し、化合物(C2−a)の銀塩5.00部及びイオン交換水150.00部の懸濁液を1時間かけて滴下した。さらに、23℃で3時間攪拌し、ろ過した。得られた濾液を濃縮し、メタノール30.00部を添加攪拌した。その後、濃縮し、さらに、得られた濃縮物に酢酸エチル20.00部及びtert−ブチルメチルエーテル10.00部を添加した。23℃で1時間攪拌し、析出物をろ過することにより、化合物(C3)3.05部を得た。 Synthesis of compound C3 represented by formula (II)
Figure 0005750242
Charge 5.26 parts of diphenyliodonium chloride and 50.00 parts of methanol and stir at 23 ° C. for 30 minutes to obtain a suspension of 5.00 parts of the silver salt of compound (C2-a) and 150.00 parts of ion-exchanged water. The solution was added dropwise over 1 hour. Furthermore, it stirred at 23 degreeC for 3 hours, and filtered. The obtained filtrate was concentrated, and 30.00 parts of methanol was added and stirred. Thereafter, the mixture was concentrated, and 20.00 parts of ethyl acetate and 10.00 parts of tert-butyl methyl ether were added to the resulting concentrate. The mixture was stirred at 23 ° C. for 1 hour, and the precipitate was filtered to obtain 3.05 parts of compound (C3).

MS(ESI(+)Spectrum):M 281.0
MS(ESI(−)Spectrum):M 193.1
MS (ESI (+) Spectrum): M + 281.0
MS (ESI (-) Spectrum): M - 193.1

式(II)で表される化合物C4の合成

Figure 0005750242
(C4−a)で表される塩4.77部及びメタノール50.00部を仕込み、23℃で30分間攪拌し、化合物(C2−a)の銀塩5.00部及びイオン交換水150.00部の懸濁液を1時間かけて滴下した。さらに、23℃で3時間攪拌し、ろ過した。得られた濾液を濃縮し、メタノール30.00部を添加攪拌した。その後、濃縮し、得られた濃縮物に、メチル−tert−ブチルエーテル30部を添加し、攪拌した後、2層に分離した上澄み液を除去して下層を取り出し、これを濃縮した。得られた濃縮液に酢酸エチル30.00部を添加し、攪拌した後、2層に分離した上澄み液を除去し、下層を取り出してこれを濃縮することによって、化合物(C4)1.48部を得た。 Synthesis of compound C4 represented by formula (II)
Figure 0005750242
4.77 parts of the salt represented by (C4-a) and 50.00 parts of methanol are charged and stirred at 23 ° C. for 30 minutes, and 5.00 parts of the silver salt of compound (C2-a) and 150. 00 parts of the suspension was added dropwise over 1 hour. Furthermore, it stirred at 23 degreeC for 3 hours, and filtered. The obtained filtrate was concentrated, and 30.00 parts of methanol was added and stirred. Thereafter, the mixture was concentrated, and 30 parts of methyl-tert-butyl ether was added to the resulting concentrate, followed by stirring. After removing the supernatant liquid separated into two layers, the lower layer was taken out and concentrated. After adding 30.00 parts of ethyl acetate to the obtained concentrated liquid and stirring, the supernatant liquid separated into two layers was removed, and the lower layer was taken out and concentrated to obtain 1.48 parts of compound (C4). Got.

MS(ESI(+)Spectrum):M 207.1
MS(ESI(−)Spectrum):M 193.1
MS (ESI (+) Spectrum): M <+> 207.1
MS (ESI (-) Spectrum): M - 193.1

式(II)で表される化合物C5の合成

Figure 0005750242
(C5−a)で表される塩5.66部及びメタノール50.00部を仕込み、23℃で30分間攪拌し、化合物(C2−a)の銀塩5.00部及びイオン交換水150.00部の懸濁液を1時間かけて滴下した。さらに、23℃で3時間攪拌し、ろ過した。得られた濾液を濃縮し、メタノール40.00部を添加攪拌した。その後、濃縮し、さらに、得られた濃縮物に酢酸エチル30.00部を添加した。23℃で1時間攪拌し、析出物をろ過することにより、化合物(C5)3.33部を得た。 Synthesis of Compound C5 Represented by Formula (II)
Figure 0005750242
5.66 parts of the salt represented by (C5-a) and 50.00 parts of methanol are charged and stirred at 23 ° C. for 30 minutes, and 5.00 parts of the silver salt of compound (C2-a) and 150. 00 parts of the suspension was added dropwise over 1 hour. Furthermore, it stirred at 23 degreeC for 3 hours, and filtered. The obtained filtrate was concentrated, and 40.00 parts of methanol was added and stirred. Thereafter, the mixture was concentrated, and 30.00 parts of ethyl acetate was added to the obtained concentrate. The mixture was stirred at 23 ° C. for 1 hour, and the precipitate was filtered to obtain 3.33 parts of the compound (C5).

MS(ESI(+)Spectrum):M 305.1
MS(ESI(−)Spectrum):M 193.1
MS (ESI (+) Spectrum): M + 305.1
MS (ESI (-) Spectrum): M - 193.1

式(II)で表される化合物C6の合成

Figure 0005750242
化合物(C6−a)13.36部及びアセトニトリル80.00部を仕込み、23℃で30分間攪拌した。その後、酸化銀12.42部を仕込み、23℃で4時間攪拌し、ろ過した。得られた濾物に、tert−ブチルメチルエーテル50.00部を添加し、23℃で30分間攪拌し、ろ過した。得られた濾物を乾燥することにより、化合物(C6−a)の銀塩22.93部を得た。 Synthesis of compound C6 represented by formula (II)
Figure 0005750242
13.36 parts of compound (C6-a) and 80.00 parts of acetonitrile were charged and stirred at 23 ° C. for 30 minutes. Thereafter, 12.42 parts of silver oxide was charged, stirred at 23 ° C. for 4 hours, and filtered. To the obtained filtrate was added 50.00 parts of tert-butyl methyl ether, and the mixture was stirred at 23 ° C. for 30 minutes and filtered. The obtained filtrate was dried to obtain 22.93 parts of a silver salt of compound (C6-a).

トリフェニルスルホニウムクロライド4.96部及びメタノール50.00部を仕込み、23℃で30分間攪拌し、化合物(C6−a)の銀塩3.80部及びイオン交換水100.00部の懸濁液を30分間かけて滴下した。さらに、23℃で5時間攪拌し、ろ過した。得られた濾液を濃縮し、メタノール50.00部を添加攪拌した。その後、濃縮し、得られた濃縮物に、メチル−tert−ブチルエーテル30部を添加し、攪拌した後、2層に分離した上澄み液を除去して下層を取り出し、これを濃縮した。得られた濃縮液に酢酸エチル30.00部を添加し、攪拌した後、2層に分離した上澄み液を除去し、下層を取り出してこれを濃縮することによって、化合物(C6)2.29部を得た。   4.96 parts of triphenylsulfonium chloride and 50.00 parts of methanol are charged, and stirred at 23 ° C. for 30 minutes to obtain a suspension of 3.80 parts of the silver salt of compound (C6-a) and 100.00 parts of ion-exchanged water. Was added dropwise over 30 minutes. Furthermore, it stirred at 23 degreeC for 5 hours, and filtered. The obtained filtrate was concentrated, and 50.00 parts of methanol was added and stirred. Thereafter, the mixture was concentrated, and 30 parts of methyl-tert-butyl ether was added to the resulting concentrate, followed by stirring. After removing the supernatant liquid separated into two layers, the lower layer was taken out and concentrated. After adding 30.00 parts of ethyl acetate to the obtained concentrated liquid and stirring, the supernatant liquid separated into two layers was removed, and the lower layer was taken out and concentrated to obtain 2.29 parts of compound (C6). Got.

MS(ESI(+)Spectrum):M 263.1
MS(ESI(−)Spectrum):M 121.0
MS (ESI (+) Spectrum): M + 263.1
MS (ESI (-) Spectrum): M - 121.0

式(II)で表される化合物C7の合成

Figure 0005750242
化合物(C7−a)15.11部及びアセトニトリル80.00部を仕込み、23℃で30分間攪拌した。その後、酸化銀12.42部を仕込み、23℃で4時間攪拌し、ろ過した。得られた濾物に、tert−ブチルメチルエーテル50.00部を添加し、23℃で30分間攪拌し、ろ過した。得られた濾物を乾燥することにより、化合物(C7−a)の銀塩16.98部を得た。 Synthesis of compound C7 represented by formula (II)
Figure 0005750242
15.11 parts of compound (C7-a) and 80.00 parts of acetonitrile were charged and stirred at 23 ° C. for 30 minutes. Thereafter, 12.42 parts of silver oxide was charged, stirred at 23 ° C. for 4 hours, and filtered. To the obtained filtrate was added 50.00 parts of tert-butyl methyl ether, and the mixture was stirred at 23 ° C. for 30 minutes and filtered. The obtained filtrate was dried to obtain 16.98 parts of silver salt of compound (C7-a).

トリフェニルスルホニウムクロライド4.96部及びメタノール50.00部を仕込み、23℃で30分間攪拌し、化合物(C7−a)の銀塩4.06部及びイオン交換水100.00部の懸濁液を30分間かけて滴下した。さらに、23℃で5時間攪拌し、ろ過した。得られた濾液を濃縮し、メタノール50.00部を添加攪拌した。その後、濃縮し、得られた濃縮物に、メチル−tert−ブチルエーテル30部を添加し、攪拌した後、2層に分離した上澄み液を除去して下層を取り出し、これを濃縮した。得られた濃縮液に酢酸エチル30.00部を添加し、攪拌した後、2層に分離した上澄み液を除去し、下層を取り出してこれを濃縮することによって、化合物(C7)1.48部を得た。   4.96 parts of triphenylsulfonium chloride and 50.00 parts of methanol were added and stirred at 23 ° C. for 30 minutes to obtain a suspension of 4.06 parts of the silver salt of compound (C7-a) and 100.00 parts of ion-exchanged water. Was added dropwise over 30 minutes. Furthermore, it stirred at 23 degreeC for 5 hours, and filtered. The obtained filtrate was concentrated, and 50.00 parts of methanol was added and stirred. Thereafter, the mixture was concentrated, and 30 parts of methyl-tert-butyl ether was added to the resulting concentrate, followed by stirring. After removing the supernatant liquid separated into two layers, the lower layer was taken out and concentrated. After adding 30.00 parts of ethyl acetate to the obtained concentrated liquid and stirring, the supernatant liquid separated into two layers was removed, and the lower layer was taken out and concentrated to obtain 1.48 parts of compound (C7). Got.

MS(ESI(+)Spectrum):M 263.1
MS(ESI(−)Spectrum):M 137.0
MS (ESI (+) Spectrum): M + 263.1
MS (ESI (-) Spectrum): M - 137.0

〔樹脂B1の合成〕
モノマーE、モノマーF、モノマーB、モノマーC、モノマーDをモル比28:14:6:21:31で仕込み、全モノマー量の1.5重量倍のジオキサンを加えて溶液とした。そこに開始剤としてアゾビスイソブチロニトリルとアゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)を全モノマー量に対してそれぞれ1mol%、3mol%添加し、75℃で約5時間加熱した。その後、反応液を、大量のメタノールと水の混合溶媒に注いで沈殿させる操作を3回行って精製し、重量平均分子量が8.5×10の共重合体を収率74%で得た。この共重合体は、次式の各構造単位を有するものであり、これを樹脂B1とする。

Figure 0005750242
[Synthesis of Resin B1]
Monomer E, monomer F, monomer B, monomer C, and monomer D were charged at a molar ratio of 28: 14: 6: 21: 31, and 1.5 weight times dioxane of the total monomer amount was added to obtain a solution. 1 mol% and 3 mol% of azobisisobutyronitrile and azobis (2,4-dimethylvaleronitrile) as initiators were added to the total monomer amount, respectively, and heated at 75 ° C. for about 5 hours. Thereafter, the reaction solution was purified by pouring it into a mixed solvent of a large amount of methanol and water three times to obtain a copolymer having a weight average molecular weight of 8.5 × 10 3 in a yield of 74%. . This copolymer has each structural unit of the following formula, and this is designated as resin B1.
Figure 0005750242

〔樹脂B2の合成〕
モノマーA、モノマーB、モノマーDをモル比50:25:25で仕込み、全モノマー量の1.5重量倍のジオキサンを加えて溶液とした。そこに開始剤としてアゾビスイソブチロニトリルとアゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)を全モノマー量に対してそれぞれ1mol%、3mol%添加し、77℃で約5時間加熱した。その後、反応液を、大量のメタノールと水の混合溶媒に注いで沈殿させる操作を3回行って精製し、重量平均分子量が8.1×10の共重合体を収率55%で得た。この共重合体は、次式の各構造単位を有するものであり、これを樹脂B2とする。

Figure 0005750242
[Synthesis of Resin B2]
Monomer A, monomer B, and monomer D were charged at a molar ratio of 50:25:25, and 1.5 weight times dioxane of the total monomer amount was added to prepare a solution. 1 mol% and 3 mol% of azobisisobutyronitrile and azobis (2,4-dimethylvaleronitrile) as initiators were added to the total monomer amount, respectively, and heated at 77 ° C. for about 5 hours. Thereafter, the reaction solution was purified by pouring it into a mixed solvent of a large amount of methanol and water three times to obtain a copolymer having a weight average molecular weight of 8.1 × 10 3 in a yield of 55%. . This copolymer has each structural unit of the following formula, and this is designated as resin B2.
Figure 0005750242

[樹脂B3の合成]
メタクリル酸2−エチル−2−アダマンチル 39.7g(0.16モル)とp−アセトキシスチレン 103.8g(0.64モル)をイソプロパノール 265gに溶解して、窒素雰囲気下に75℃まで昇温した。ラジカル開始剤ジメチル2,2−アゾビス(2−メチルプロピオネート)11.05g(0.048モル)をイソプロパノール22.11gに溶解して滴下した。反応溶液を12時間過熱還流した。冷却後、反応液を大量のメタノールに注いで重合物を沈殿ろ過した。得られたメタクリル酸2−エチル−2−アダマンチルとp−アセトキシスチレンの共重合体は250g(メタノール含有)であった。
[Synthesis of Resin B3]
39.7 g (0.16 mol) of 2-ethyl-2-adamantyl methacrylate and 103.8 g (0.64 mol) of p-acetoxystyrene were dissolved in 265 g of isopropanol and heated to 75 ° C. in a nitrogen atmosphere. . The radical initiator dimethyl 2,2-azobis (2-methylpropionate) 11.05 g (0.048 mol) was dissolved in 22.11 g of isopropanol and added dropwise. The reaction solution was heated to reflux for 12 hours. After cooling, the reaction solution was poured into a large amount of methanol, and the polymer was precipitated and filtered. The obtained copolymer of 2-ethyl-2-adamantyl methacrylate and p-acetoxystyrene was 250 g (containing methanol).

得られた共重合体250gと4−ジメチルアミノピリジン10.3g(0.084モル)とをメタノール202gに加えて20時間加熱還流した。冷却後、反応液を氷酢酸7.6g(0.126モル)で中和して、大量の水に注いで沈殿させた。析出した重合物をろ別し、アセトンに溶解させ、大量の水に注いで沈殿させる操作を3回繰り返して精製した。得られたメタクリル酸2−エチル−2−アダマンチルとp−ヒドロキシスチレンの共重合体は95.9gであった。重量平均分子量は約8.6×10(GPCポリスチレン換算)であり、共重合比は約20:80(C13 NMR測定)であった。この樹脂をB3とする。 250 g of the obtained copolymer and 10.3 g (0.084 mol) of 4-dimethylaminopyridine were added to 202 g of methanol and heated to reflux for 20 hours. After cooling, the reaction solution was neutralized with 7.6 g (0.126 mol) of glacial acetic acid and poured into a large amount of water to cause precipitation. The precipitated polymer was separated by filtration, dissolved in acetone, poured into a large amount of water and precipitated, and purified by repeating three times. The obtained copolymer of 2-ethyl-2-adamantyl methacrylate and p-hydroxystyrene was 95.9 g. The weight average molecular weight was about 8.6 × 10 3 (in terms of GPC polystyrene), and the copolymerization ratio was about 20:80 (C13 NMR measurement). This resin is designated as B3.

[樹脂B4の合成]
メタクリル酸2−エチル−2−アダマンチル 59.6g(0.24モル)とp−アセトキシスチレン 90.8g(0.56モル)を用いて、樹脂B3の合成と同様の操作を行って、メタクリル酸2−エチル−2−アダマンチルとp−ヒドロキシスチレンの共重合体は102.8gを得た。重量平均分子量は約8.2×10(GPCポリスチレン換算)であり、共重合比は約30:70(C13 NMR測定)であった。この樹脂をB4とする。
[Synthesis of Resin B4]
Using 59.6 g (0.24 mol) of 2-ethyl-2-adamantyl methacrylate and 90.8 g (0.56 mol) of p-acetoxystyrene, the same operation as the synthesis of Resin B3 was carried out to obtain methacrylic acid. 102.8 g of a copolymer of 2-ethyl-2-adamantyl and p-hydroxystyrene was obtained. The weight average molecular weight was about 8.2 × 10 3 (GPC polystyrene conversion), and the copolymerization ratio was about 30:70 (C13 NMR measurement). This resin is designated as B4.

[樹脂B5の合成]
ラジカル開始剤ジメチル2,2−アゾビス(2−メチルプロピオネート)44.20g(0.192モル)を用いて、樹脂B3の合成と同様の操作を行って、メタクリル酸2−エチル−2−アダマンチルとp−ヒドロキシスチレンの共重合体は82.4gを得た。重量平均分子量は約3.0×10(GPCポリスチレン換算)であり、共重合比は約20:80(C13 NMR測定)であった。この樹脂をB5とする。
[Synthesis of Resin B5]
Using the radical initiator dimethyl 2,2-azobis (2-methylpropionate) 44.20 g (0.192 mol), the same operation as in the synthesis of the resin B3 was carried out to give 2-ethyl-2-methacrylate 82.4 g of adamantyl and p-hydroxystyrene copolymer was obtained. The weight average molecular weight was about 3.0 × 10 3 (GPC polystyrene conversion), and the copolymerization ratio was about 20:80 (C13 NMR measurement). This resin is designated as B5.

[樹脂B6の合成]
ラジカル開始剤ジメチル2,2−アゾビス(2−メチルプロピオネート)44.20g(0.192モル)を用いて、樹脂B3の合成と同様の操作を行って、メタクリル酸2−エチル−2−アダマンチルとp−ヒドロキシスチレンの共重合体は93.6gを得た。重量平均分子量は約3.0×10(GPCポリスチレン換算)であり、共重合比は約30:70(C13 NMR測定)であった。この樹脂をB6とする。
[Synthesis of Resin B6]
Using the radical initiator dimethyl 2,2-azobis (2-methylpropionate) 44.20 g (0.192 mol), the same operation as in the synthesis of the resin B3 was carried out to give 2-ethyl-2-methacrylate 93.6 g of adamantyl and p-hydroxystyrene copolymer was obtained. The weight average molecular weight was about 3.0 × 10 3 (in terms of GPC polystyrene), and the copolymerization ratio was about 30:70 (C13 NMR measurement). This resin is designated as B6.

[樹脂B7の合成]
メタクリル酸2−メチル−2−アダマンチル 75.00g(0.32モル)とp−アセトキシスチレン 77.85g(0.48モル)をイソプロパノール 285gに溶解して、窒素雰囲気下に75℃まで昇温した。ラジカル開始剤ジメチル2,2−アゾビス(2−メチルプロピオネート)41.44g(0.180モル)をイソプロパノール82.88gに溶解して滴下した。反応溶液を12時間過熱還流した。冷却後、反応液を大量のメタノールに注いで重合物を沈殿ろ過した。得られたメタクリル酸2−メチル−2−アダマンチルとp−アセトキシスチレンの共重合体は275g(メタノール含有)であった。
[Synthesis of Resin B7]
75.00 g (0.32 mol) of 2-methyl-2-adamantyl methacrylate and 77.85 g (0.48 mol) of p-acetoxystyrene were dissolved in 285 g of isopropanol and heated to 75 ° C. in a nitrogen atmosphere. . Radical initiator dimethyl 2,2-azobis (2-methylpropionate) 41.44 g (0.180 mol) was dissolved in isopropanol 82.88 g and added dropwise. The reaction solution was heated to reflux for 12 hours. After cooling, the reaction solution was poured into a large amount of methanol, and the polymer was precipitated and filtered. The obtained copolymer of 2-methyl-2-adamantyl methacrylate and p-acetoxystyrene was 275 g (containing methanol).

得られた共重合体275gと4−ジメチルアミノピリジン10.3g(0.084モル)とをメタノール200gに加えて20時間加熱還流した。冷却後、反応液を氷酢酸7.6g(0.126モル)で中和して、大量の水に注いで沈殿させた。析出した重合物をろ別し、アセトンに溶解させ、大量の水に注いで沈殿させる操作を3回繰り返して精製した。得られたメタクリル酸2−メチル−2−アダマンチルとp−ヒドロキシスチレンの共重合体は88.6gであった。重量平均分子量は約4.0×10(GPCポリスチレン換算)であり、共重合比は約40:60(C13 NMR測定)であった。この樹脂をB7とする。 275 g of the obtained copolymer and 10.3 g (0.084 mol) of 4-dimethylaminopyridine were added to 200 g of methanol and heated to reflux for 20 hours. After cooling, the reaction solution was neutralized with 7.6 g (0.126 mol) of glacial acetic acid and poured into a large amount of water to cause precipitation. The precipitated polymer was separated by filtration, dissolved in acetone, poured into a large amount of water and precipitated, and purified by repeating three times. The obtained copolymer of 2-methyl-2-adamantyl methacrylate and p-hydroxystyrene was 88.6 g. The weight average molecular weight was about 4.0 × 10 3 (GPC polystyrene conversion), and the copolymerization ratio was about 40:60 (C13 NMR measurement). This resin is designated as B7.

〔樹脂B8の合成〕
モノマーA、モノマーDをモル比55:45で仕込み、全モノマー量の1.5重量倍のジオキサンを加えて溶液とした。そこに開始剤としてアゾビスイソブチロニトリルとアゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)を全モノマー量に対してそれぞれ0.9mol%、2.7mol%添加し、70℃で約5時間加熱した。その後、反応液を、大量のメタノールと水の混合溶媒に注いで沈殿させる操作を3回行って精製し、重量平均分子量が1.1×10の共重合体を収率68%で得た。この共重合体は、次式の各構造単位を有するものであり、これを樹脂B8とする。

Figure 0005750242
[Synthesis of Resin B8]
Monomer A and monomer D were charged at a molar ratio of 55:45, and 1.5 times the total amount of dioxane was added to form a solution. As initiators, azobisisobutyronitrile and azobis (2,4-dimethylvaleronitrile) were added in an amount of 0.9 mol% and 2.7 mol% based on the total amount of monomers, respectively, and heated at 70 ° C. for about 5 hours. . Thereafter, the reaction solution was purified by pouring it into a large amount of methanol / water mixed solvent and precipitating three times to obtain a copolymer having a weight average molecular weight of 1.1 × 10 4 in a yield of 68%. . This copolymer has each structural unit of the following formula, and this is designated as resin B8.
Figure 0005750242

実施例及び比較例
以下の表2〜表4の各成分を混合して溶解し、さらに孔径0.2μmのフッ素樹脂製フィルターで濾過して、レジスト組成物を調製した。
Examples and Comparative Examples The components shown in Tables 2 to 4 below were mixed and dissolved, and further filtered through a fluororesin filter having a pore size of 0.2 μm to prepare resist compositions.

Figure 0005750242
Figure 0005750242

Figure 0005750242
Figure 0005750242

Figure 0005750242
Figure 0005750242

<酸発生剤>
酸発生剤A1

Figure 0005750242
酸発生剤A2
Figure 0005750242
酸発生剤H1:トリルジフェニルスルホニウム パーフルオロブタンスルホネート
<樹脂>
樹脂B1〜B8
<塩基性化合物:クエンチャー>
クエンチャーQ1:2,6−ジイソプロピルアニリン
クエンチャーQ2:テトラブチルアンモニウムヒドロキシド
<溶剤>
プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート 300.0部
プロピレングリコールモノメチルエーテル 20.0部
γ−ブチロラクトン 3.5部 <Acid generator>
Acid generator A1
Figure 0005750242
Acid generator A2
Figure 0005750242
Acid generator H1: Tolyldiphenylsulfonium perfluorobutanesulfonate <Resin>
Resins B1 to B8
<Basic compound: Quencher>
Quencher Q1: 2,6-Diisopropylanilink Enture Q2: Tetrabutylammonium hydroxide <solvent>
Propylene glycol monomethyl ether acetate 300.0 parts Propylene glycol monomethyl ether 20.0 parts γ-butyrolactone 3.5 parts

(フォトレジスト組成物としての評価)
シリコンウェハに、有機反射防止膜用組成物(ARC−29;日産化学(株)製)を塗布して、205℃、60秒の条件でベークすることによって、厚さ78nmの有機反射防止膜を形成した。
次いで、前記の有機反射防止膜の上に、実施例1〜9及び比較例1のレジスト組成物を乾燥後の膜厚が85nmとなるようにスピンコートした。
(Evaluation as a photoresist composition)
An organic antireflective coating composition (ARC-29; manufactured by Nissan Chemical Co., Ltd.) is applied to a silicon wafer and baked at 205 ° C. for 60 seconds to form an organic antireflective coating having a thickness of 78 nm. Formed.
Subsequently, the resist compositions of Examples 1 to 9 and Comparative Example 1 were spin-coated on the organic antireflection film so that the film thickness after drying was 85 nm.

レジスト組成物塗布後、得られたシリコンウェハをダイレクトホットプレート上にて、表2のPB欄に示す温度で60秒間プリベーク(PB)した。このようにしてレジスト膜が形成されたシリコンウェハに、ArFエキシマステッパー〔FPA5000−AS3;(株)キャノン製、NA=0.75、2/3Annular〕用い、露光量を段階的に変化させてラインアンドスペースパターンを露光した。
露光後、ホットプレート上にて、表2のPB欄に示す温度で60秒間ポストエキスポジャーベーク(PEB)を行い、さらに2.38重量%テトラメチルアンモニウムヒドロキシド水溶液で60秒間のパドル現像を行った。
After applying the resist composition, the obtained silicon wafer was pre-baked (PB) for 60 seconds on the direct hot plate at the temperature shown in the PB column of Table 2. The ArF excimer stepper [FPA5000-AS3; manufactured by Canon Inc., NA = 0.75, 2 / 3Annular] is used on the silicon wafer on which the resist film is formed in this manner, and the amount of exposure is changed stepwise to line and space. The pattern was exposed.
After exposure, post exposure bake (PEB) is performed for 60 seconds at the temperature shown in the PB column of Table 2 on the hot plate, and then paddle development is performed for 60 seconds with a 2.38 wt% tetramethylammonium hydroxide aqueous solution. It was.

解像性評価:100nmのラインアンドスペースパターンが1:1となる露光量で露光し、レジストパターンを走査型電子顕微鏡で観察した。85nmを解像しているものを○、解像していないか、解像しているがトップが丸いか、裾引きがあるか、パターン倒れが観察されるものは×とした。   Resolution evaluation: 100 nm line and space pattern was exposed at an exposure amount of 1: 1, and the resist pattern was observed with a scanning electron microscope. A sample with a resolution of 85 nm was marked with ◯. A sample with no resolution, a resolved image with a rounded top, a trailing edge, or a pattern collapse was marked with ×.

ラインエッジラフネス評価(LER):100nmのラインアンドスペースパターンが1:1となる露光量で露光したソグラフィプロセス後のレジストパターンの壁面を走査型電子顕微鏡で観察した。側壁の凹凸の触れ幅が8nm以下であるものを○、8nmを超えるものを×とした。
これらの結果を表5に示す。
Line edge roughness evaluation (LER): The wall surface of the resist pattern after the lithography process exposed at an exposure amount at which a 100 nm line and space pattern is 1: 1 was observed with a scanning electron microscope. When the contact width of the unevenness on the side wall is 8 nm or less, the circle is marked with ◯, and the width exceeding 8 nm is marked with x.
These results are shown in Table 5.

Figure 0005750242
Figure 0005750242

(電子線用レジスト組成物としての評価)
シリコンウェハを、ダイレクトホットプレート上にて、ヘキサメチルジシラザンを用いて90℃で60秒処理した。
次いで、実施例10〜18及び比較例2のレジスト組成物を乾燥後の膜厚が60nmとなるようにスピンコートした。
レジスト組成物塗布後、得られたシリコンウェハをダイレクトホットプレート上にて、表3のPB欄に示す温度で60秒間プリベークした。このようにしてレジスト膜が形成されたシリコンウェハに、電子線描画機〔(株)日立製作所製の「HL−800D 50keV」〕を用い、露光量を段階的に変化させてラインアンドスペースパターンを露光した。
露光後は、ホットプレート上にて、表3のPEB欄に示す温度で60秒間ポストエキスポジャーベークを行い、さらに2.38重量%テトラメチルアンモニウムヒドロキシド水溶液で60秒間のパドル現像を行った。
シリコン基板上のもので現像後のパターンを走査型電子顕微鏡で観察し、その結果を表6に示した。
(Evaluation as a resist composition for electron beams)
The silicon wafer was processed at 90 ° C. for 60 seconds using hexamethyldisilazane on a direct hot plate.
Next, the resist compositions of Examples 10 to 18 and Comparative Example 2 were spin-coated so that the film thickness after drying was 60 nm.
After applying the resist composition, the obtained silicon wafer was pre-baked on a direct hot plate at a temperature shown in the PB column of Table 3 for 60 seconds. Using the electron beam drawing machine ("HL-800D 50 keV" manufactured by Hitachi, Ltd.) on the silicon wafer on which the resist film is formed in this manner, the exposure amount is changed stepwise to form a line and space pattern. Exposed.
After exposure, post-exposure baking was performed for 60 seconds at a temperature shown in the PEB column of Table 3 on a hot plate, and paddle development was further performed for 60 seconds with a 2.38 wt% tetramethylammonium hydroxide aqueous solution.
The pattern after development on the silicon substrate was observed with a scanning electron microscope. The results are shown in Table 6.

解像性評価:100nmのラインアンドスペースパターンが1:1となる露光量で露光し、レジストパターンを走査型電子顕微鏡で観察した。80nmを解像しているものを○、解像していないか、解像しているがトップが丸いか、裾引きがあるか、パターン倒れが観察されるものは×とした。   Resolution evaluation: 100 nm line and space pattern was exposed at an exposure amount of 1: 1, and the resist pattern was observed with a scanning electron microscope. The case where 80 nm is resolved is indicated by ◯, and the case where the resolution is not resolved or the resolution is observed but the top is round, the tail is observed, or the pattern collapse is observed is indicated by ×.

ラインエッジラフネス評価(LER):100nmのラインアンドスペースパターンが1:1となる露光量で露光したリソグラフィプロセス後のレジストパターンの壁面を走査型電子顕微鏡で観察した。側壁の凹凸の触れ幅が8nm以下であるものを○、8nmを超えるものを×とした。   Line edge roughness evaluation (LER): The wall surface of the resist pattern after the lithography process exposed with an exposure amount at which a 100 nm line and space pattern is 1: 1 was observed with a scanning electron microscope. When the contact width of the unevenness on the side wall is 8 nm or less, the circle is marked with ◯, and the width exceeding 8 nm is marked with x.

Figure 0005750242
(EUV用レジスト組成物としての評価)
シリコンウェハを、ダイレクトホットプレート上にて、ヘキサメチルジシラザンを用いて90℃で60秒処理した。
次いで、実施例19〜23のレジスト組成物を、乾燥後の膜厚が50nmとなるようにスピンコートした。
レジスト組成物塗布後、得られたシリコンウェハをダイレクトホットプレート上にて、表4に示す温度で60秒間プリベークした。このようにしてレジスト膜が形成されたシリコンウェハに、EUV露光機を用い、露光量を段階的に変化させてラインアンドスペースパターンを露光した。
露光後は、ホットプレート上にて、表4に示す温度で60秒間ポストエキスポジャーベークを行い、さらに2.38重量%テトラメチルアンモニウムヒドロキシド水溶液で60秒間のパドル現像を行った。
シリコン基板上のもので現像後のパターンを走査型電子顕微鏡で観察し、その結果を表7に示した。
Figure 0005750242
(Evaluation as a resist composition for EUV)
The silicon wafer was processed at 90 ° C. for 60 seconds using hexamethyldisilazane on a direct hot plate.
Next, the resist compositions of Examples 19 to 23 were spin-coated so that the film thickness after drying was 50 nm.
After applying the resist composition, the obtained silicon wafer was pre-baked on a direct hot plate at a temperature shown in Table 4 for 60 seconds. The silicon wafer on which the resist film was formed in this manner was exposed to a line and space pattern using an EUV exposure machine while changing the exposure amount stepwise.
After exposure, post-exposure baking was performed for 60 seconds at a temperature shown in Table 4 on a hot plate, and paddle development was further performed for 60 seconds with a 2.38 wt% tetramethylammonium hydroxide aqueous solution.
The developed pattern on a silicon substrate was observed with a scanning electron microscope. The results are shown in Table 7.

解像性評価:50nmのラインアンドスペースパターンが1:1となる露光量で露光した際のパターンを走査型電子顕微鏡で観察した。45nmを解像しているものを○、解像していないか、解像しているがトップが丸いか、裾引きがあるか、パターン倒れが観察されるものは×とした。   Resolution evaluation: The pattern when exposed with an exposure amount at which the 50 nm line and space pattern was 1: 1 was observed with a scanning electron microscope. A sample with a resolution of 45 nm was marked with ◯. A sample with no resolution, a resolved image with a rounded top, a trailing edge, or a pattern collapse was marked with ×.

ラインエッジラフネス評価(LER):50nmのラインアンドスペースパターンが1:1となる露光量で露光したリソグラフィプロセス後のレジストパターンの壁面を走査型電子顕微鏡で観察した。側壁の凹凸の触れ幅が7nm以下であるものを○、7nmを超えるものを×とした。   Line Edge Roughness Evaluation (LER): The wall surface of the resist pattern after the lithography process exposed with an exposure amount at which a 50 nm line and space pattern is 1: 1 was observed with a scanning electron microscope. When the contact width of the unevenness on the side wall is 7 nm or less, the circle is marked with ◯, and when the width exceeds 7 nm is marked with x.

Figure 0005750242
Figure 0005750242

本発明のレジスト組成物は、高い解像度、良好なラインエッジラフネス(LER)を示すため、ArFやKrFなどのエキシマレーザーリソグラフィならびにArF液浸露光リソグラフィ、EUV露光リソグラフィに好適な化学増幅型フォトレジスト組成として用いることができる。また、液浸露光のほか、ドライ露光などにも用いることができる。さらに、ダブルイメージング用にも用いることができ、工業的に有用である。   Since the resist composition of the present invention exhibits high resolution and good line edge roughness (LER), a chemically amplified photoresist composition suitable for excimer laser lithography such as ArF and KrF, ArF immersion exposure lithography, and EUV exposure lithography. Can be used as In addition to immersion exposure, it can also be used for dry exposure. Furthermore, it can be used for double imaging and is industrially useful.

Claims (9)

式(I)で表される酸発生剤、樹脂および式(II)で表される化合物を含有するレジスト組成物。
Figure 0005750242
[式(I)中、
1及びQ2は、互いに独立に、フッ素原子又は炭素数1〜6のペルフルオロアルキル基を表す。
1は、単結合又は置換基を有していてもよい炭素数1〜17の飽和炭化水素基を表し、該飽和炭化水素基に含まれるメチレン基は酸素原子又はカルボニル基で置換されていてもよい。
1は、直鎖状又は分岐状の炭素数1〜36の脂肪族炭化水素基、炭素数3〜36の脂環式炭化水素基あるいは炭素数6〜36の芳香族炭化水素基であり、該脂肪族炭化水素基、脂環式炭化水素基及び芳香族炭化水素基は置換基を有していてもよく、該脂肪族炭化水素基及び脂環式炭化水素基に含まれるメチレン基は酸素原子又はカルボニル基で置換されていてもよい。ただし、前記置換基としてフッ素原子を除く。
+は、有機カチオンを表す。]
Figure 0005750242
[式(II)中、
Aは、置換基を有してもよい炭素数4〜36の脂環式炭化水素基又は置換基を有していてもよい炭素数3〜36の複素環基を表す。該脂環式炭化水素基に含まれるメチレン基は、酸素原子またはカルボニル基で置換されていてもよい。
Z'+は、有機カチオンを表す。ただし、有機アンモニウムカチオンを除く。
A resist composition comprising an acid generator represented by formula (I), a resin, and a compound represented by formula (II).
Figure 0005750242
[In the formula (I),
Q 1 and Q 2 each independently represent a fluorine atom or a C 1-6 perfluoroalkyl group.
X 1 represents a single bond or a saturated hydrocarbon group having 1 to 17 carbon atoms which may have a substituent, and the methylene group contained in the saturated hydrocarbon group is substituted with an oxygen atom or a carbonyl group. Also good.
Y 1 is a linear or branched aliphatic hydrocarbon group having 1 to 36 carbon atoms, an alicyclic hydrocarbon group having 3 to 36 carbon atoms, or an aromatic hydrocarbon group having 6 to 36 carbon atoms, The aliphatic hydrocarbon group, alicyclic hydrocarbon group and aromatic hydrocarbon group may have a substituent, and the methylene group contained in the aliphatic hydrocarbon group and alicyclic hydrocarbon group is oxygen. It may be substituted with an atom or a carbonyl group. However, a fluorine atom is excluded as the substituent.
Z + represents an organic cation. ]
Figure 0005750242
[In the formula (II),
R A represents an alicyclic hydrocarbon group having 4 to 36 carbon atoms which may have a substituent or a heterocyclic group having 3 to 36 carbon atoms which may have a substituent. The methylene group contained in the alicyclic hydrocarbon group may be substituted with an oxygen atom or a carbonyl group.
Z ′ + represents an organic cation. However, organic ammonium cations are excluded. ]
1が、−CO−O−[CH2h−(hは、0〜10の整数を表す)である請求項1記載のレジスト組成物。 The resist composition according to claim 1 , wherein X 1 is —CO—O— [CH 2 ] h — (h represents an integer of 0 to 10). 1が式(Y1)又は式(Y2)で表される基である請求項1又は2記載のレジスト組成物。
Figure 0005750242
[式(Y1)及び式(Y2)中、
環に含まれる水素原子は、ハロゲン原子、水酸基、炭素数1〜12のアルキル基、炭素数1〜12のアルコキシ基、炭素数6〜12のアリール基、炭素数7〜12のアラルキル基、グリシジルオキシ基又は炭素数2〜4のアシル基で置換されていてもよく、環に含まれるメチレン基は、カルボニル基又は酸素原子で置換されていてもよい。
*は、X1との結合手を表す。]
The resist composition according to claim 1, wherein Y 1 is a group represented by the formula (Y1) or the formula (Y2).
Figure 0005750242
[In Formula (Y1) and Formula (Y2),
The hydrogen atom contained in the ring is a halogen atom, a hydroxyl group, an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 12 carbon atoms, an aryl group having 6 to 12 carbon atoms, an aralkyl group having 7 to 12 carbon atoms, or glycidyl. It may be substituted with an oxy group or an acyl group having 2 to 4 carbon atoms, and the methylene group contained in the ring may be substituted with a carbonyl group or an oxygen atom.
* Represents a bond with X 1 . ]
Z'+が、式(III)で表されるカチオンである請求項1〜3のいずれか記載のレジスト組成物。
Figure 0005750242
[式(III)中、
B、RC及びRDは、それぞれ独立に、置換基を有していてもよい炭素数1〜10の脂肪族炭化水素基、置換基を有してもよい炭素数4〜36の脂環式炭化水素基、置換基を有していてもよい炭素数3〜36の芳香族炭化水素基又は置換基を有していてもよい炭素数3〜36の複素環基を表す。該脂肪族炭化水素基、脂環式炭化水素基、芳香族炭化水素基、複素環基に含まれる炭素原子は、硫黄原子、酸素原子又はカルボニル基で置換されていてもよい。RB、RC及びRDのうちの2つが互いに結合して環を形成してもよい。]
The resist composition according to claim 1, wherein Z ′ + is a cation represented by the formula (III).
Figure 0005750242
[In the formula (III),
R B , R C and R D are each independently an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms which may have a substituent, or an aliphatic hydrocarbon group having 4 to 36 carbon atoms which may have a substituent. It represents a cyclic hydrocarbon group, an optionally substituted aromatic hydrocarbon group having 3 to 36 carbon atoms, or an optionally substituted heterocyclic group having 3 to 36 carbon atoms. The carbon atom contained in the aliphatic hydrocarbon group, alicyclic hydrocarbon group, aromatic hydrocarbon group or heterocyclic group may be substituted with a sulfur atom, oxygen atom or carbonyl group. Two of R B , R C and R D may be bonded to each other to form a ring. ]
Aが、炭素数1〜8のアルキル基又は式(IV)で表される基である請求項1〜4のいずれか記載のレジスト組成物。
Figure 0005750242
[式(IV)中、
環に含まれる水素原子は、ハロゲン原子、水酸基、炭素数1〜12のアルキル基、炭素数1〜12のアルコキシ基、炭素数6〜12のアリール基、炭素数7〜12のアラルキル基、グリシジルオキシ基又は炭素数2〜4のアシル基で置換されていてもよく、環に含まれるメチレン基は、カルボニル基又は酸素原子で置換されていてもよい。
*は、酸素原子との結合手を表す。]
The resist composition according to any one of claims 1 to 4, wherein R A is an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms or a group represented by formula (IV).
Figure 0005750242
[In the formula (IV),
The hydrogen atom contained in the ring is a halogen atom, a hydroxyl group, an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 12 carbon atoms, an aryl group having 6 to 12 carbon atoms, an aralkyl group having 7 to 12 carbon atoms, or glycidyl. It may be substituted with an oxy group or an acyl group having 2 to 4 carbon atoms, and the methylene group contained in the ring may be substituted with a carbonyl group or an oxygen atom.
* Represents a bond with an oxygen atom. ]
樹脂が、酸に不安定な基を有し、かつアルカリ水溶液に不溶又は難溶であり、酸と作用してアルカリ水溶液で溶解しえる樹脂である請求項1〜5のいずれか記載のレジスト組成物。   The resist composition according to any one of claims 1 to 5, wherein the resin is a resin having an acid labile group and insoluble or hardly soluble in an aqueous alkali solution and capable of dissolving in an aqueous alkali solution by acting with an acid. object. 請求項6記載の組成物と塩基性化合物とを含有するレジスト組成物。   A resist composition comprising the composition according to claim 6 and a basic compound. 塩基性化合物が、ジイソプロピルアニリンである請求項7記載のレジスト組成物。   The resist composition according to claim 7, wherein the basic compound is diisopropylaniline. (1)請求項1〜8のいずれか記載のレジスト組成物を基板上に塗布する工程、
(2)塗布後の組成物から溶剤を除去して組成物層を形成する工程、
(3)組成物層に露光機を用いて露光する工程、
(4)露光後の組成物層を加熱する工程、
(5)加熱後の組成物層を、現像装置を用いて現像する工程を含むことを特徴とするパターン形成方法。

(1) The process of apply | coating the resist composition in any one of Claims 1-8 on a board | substrate,
(2) a step of removing the solvent from the composition after coating to form a composition layer;
(3) a step of exposing the composition layer using an exposure machine;
(4) A step of heating the composition layer after exposure,
(5) A pattern forming method comprising a step of developing the heated composition layer using a developing device.

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