JP5709269B2 - ビット検査方法 - Google Patents
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Description
形状測定工程は、表面11と背面12とが非平行である超硬チップ10の表面11から背面12までの厚さ寸法を複数の測定点Pで測定する工程である。本実施形態の説明上では測定点P(以下、区別が必要な場合は「PA,PB,PC」とする)を3つとした例を挙げて説明する。3つの測定点PA,PB,PCは、超硬チップ10の厚さが変化するX軸方向に間隔をあけて設定されている。超硬チップ10の厚さ寸法が厚い方から、測定点PA,PB,PCの順で設定されている。なお、測定点Pの位置および数は、超硬チップの形状に応じて適宜設定される。測定点PBは、測定点PA,PCの中間点である。超硬チップ10の表面11の背面12に対する傾斜角度をθ、隣り合う測定点PA,PB間の距離をe1、隣り合う測定点PB,PC間の距離をe2(=e1)としている。
x1=e1・tanθ・・・式(1)
x2=e2・tanθ・・・式(2)
基準厚さ寸法決定工程は、測定された厚さ寸法の平均値を基準厚さ寸法とする工程である。本実施形態では、測定点PBにおける超硬チップ10の厚さ寸法が基準厚さ寸法となる。
補正係数算出工程は、各測定点における厚さ寸法と基準厚さ寸法との差からエコー値の補正係数を算出する肯定である。超硬チップ10の厚さ寸法に応じた補正について説明する。この補正は焦点距離による補正と、減衰による補正を組み合わせて行う。
まず、焦点距離による補正を説明する。焦点距離による補正は、超音波探触子2の距離振幅特性を超硬チップ10内の距離振幅特性に変換し、超音波探触子の焦点距離から離れた点におけるエコー高の低下の効果を補正するものである。
E’(x)=E(x)/f(x)・・・式(3)
Fm=(Cw/Cm)×Fw・・・式(4)
次に減衰による補正について説明する。減衰による補正は、超硬チップ10内において超音波の伝播距離が異なることによる減衰効果の誤差を補正するものである。図5の(a)に示すように、上面と下面が平行な厚さLの試験片に、上面直角方向から超音波を送信すると、試験片を0回往復する(表面で反射する)反射波W1、1回往復する反射波W2、2回往復する反射波W3・・・(図5の(b)参照)といった反射波が得られる。
次式で表わされる。
α=−20×log(P2/P1)/2L [dB/mm]・・・式(5)
P1:一回目の反射波の音圧(Pa)
P2:二回目の反射波の音圧(Pa)
L:材料の厚さ(mm)
P2/P1=10^(−α・2L/20)
P1/P2=10^(α・2L/20)・・・式(6)
P’/Pd=10^(α・2t/20)・・・式(7)
Rp(t)=10^(α・t/10)・・・式(8)
Rp(t+Δt)=10^{α・(t+Δt)/10}
Rp(t)=10^(α・t/10)
Rp(t−Δt)=10^{α・(t−Δt)/10}
ここで、焦点距離を合わせた位置における減衰効果を基準として、端部の減衰効果の補正を行うことを考えると、減衰効果の補正係数At(Δt)は、下記の式(9)のように設定できる。
At(Δt)=Rp(t+Δt)/{Rp(t)}
=10^{α・(t+Δt)/10}/{10^(α・t/10)}
=10^(α・t/10)×10^(α・Δt/10)/{10^(α・t/10)}
=10^(α・Δt/10)・・・式(9)
超音波探傷検査工程は、複数の測定点Pにおいてろう付面3を探傷面として超音波探傷検査を行う工程である。本工程での測定点Pは任意の位置でよく、形状測定工程における測定点と同一でなくてもよい。本工程では、水槽(図示せず)内にビット1と超音波探触子2を漬けて、水中で超音波探傷を行う。水槽内には、ビット1を設置する設置台(図示せず)が設けられている。設置台は、設置角度が調整可能になっており、超硬チップ10の表面11が上向きで且つ水平になるように、ビット1が設置される。図8に示すように、超音波探触子2は、基準厚さ寸法を有する位置(図7の測定点PB)に対応するろう付面3が超音波探触子2の焦点に合うとともに、超音波がろう付面3に直角に入射するように設置される。また、超音波探触子2は、超硬チップ10の表面11に沿って移動させる。これによって、超音波探触子2と超硬チップ10の表面11との距離を一定にしている。このようにしたことで、他の測定点Pにおける測定と比較して、超音波の水中での伝播距離が等しくなるので、測定点Pごとの超音波の水中での減衰量が一定となり、補正対象から外すことができる。本実施形態では、超硬チップ10の表面11が水平になっているので、超音波探触子2は水平に移動すれば、超硬チップ10の表面11に沿って移動することとなり、移動の制御が容易になる。超音波探触子2は、X,Y,Z軸の各方向に移動可能な走査装置(図示せず)に吊り下げされており、水平面に沿って移動可能になっている。
次に、補正工程を行う。補正工程は、超音波探傷検査工程で得られた各測定点の測定エコー値に、対応する超硬チップ10の厚さ寸法から得られる補正係数を乗じて補正エコー値を算出する工程である。なお、各測定点の厚さ寸法は、測定位置と厚さ寸法の関係式である式(1)または式(2)から近似的に求める。そして、この厚さ寸法と基準寸法との差を式(9)に代入して、補正係数を得る。補正工程では、「焦点距離による補正」と「減衰による補正」を組み合わせて補正を行う。なお、「焦点距離による補正」と「減衰による補正」は、適宜一方のみを行ってもよい。超音波の補正エコー値E”(Δt)は、焦点距離による補正によって補正された第一の補正エコー値E’(x)を用いて、下記の式(10)で表される。
E”(Δt)=At(Δt)×E’(x)・・・式(10)
例えば、α=0.2、Δt=2.5(mm)とすると補正係数At(+2.5)=1.122、At(−2.5)=0.891となる。
判定工程は、補正エコー値に基づいてろう付面3のろう付状態の良否を判定する工程である。判定工程では、各測定点Pでの補正エコー値を比較して、反射強度が大きくなっている部分を空隙部分Sと判定する。補正エコー値の比較は、エコー値を二値化して行えば、容易である。また、図9に示すように、補正エコー値の比較は、数値をモニター信号に変換し色彩化処理して画像表示すれば、視覚的に判定しやすくなる。空隙部分Sは、正常な部分と色分けしたり輝度を変えたりして表示される。空隙部分Sが一定割合未満であれば、再利用可能と判定し、一定割合以上であれば、再利用不可であると判定する。
2 超音波探触子
3 ろう付面
10 超硬チップ
11 表面
12 背面
20 母材
Claims (1)
- 使用されたビットの超硬チップと母材とのろう付面を検査するビット検査方法であって、
表面と背面とが非平行である使用済の超硬チップの前記表面から前記背面までの厚さ寸法を測定する形状測定工程と、
測定された前記厚さ寸法の平均値を基準厚さ寸法とする基準厚さ寸法決定工程と、
各測定点における前記厚さ寸法と前記基準厚さ寸法との差からエコー値の補正係数を算出する補正係数算出工程と、
前記基準厚さ寸法を有する位置に対応するろう付面が超音波探触子の焦点に合うように設定するとともに、その超音波探触子を前記超硬チップの表面に沿って移動させて、前記ろう付面を探傷面として超音波探傷検査を行う超音波探傷検査工程と、
前記超音波探傷検査工程で得られた各測定点の測定エコー値に、対応する前記超硬チップの厚さ寸法から得られる前記補正係数を乗じて補正エコー値を算出する補正工程と、
前記補正エコー値に基づいてろう付状態の良否を判定する判定工程と、を備えた
ことを特徴とするビット検査方法。
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