JP5696118B2 - 不揮発性メモリシステムのためのウィーブシーケンスカウンタ - Google Patents
不揮発性メモリシステムのためのウィーブシーケンスカウンタ Download PDFInfo
- Publication number
- JP5696118B2 JP5696118B2 JP2012221681A JP2012221681A JP5696118B2 JP 5696118 B2 JP5696118 B2 JP 5696118B2 JP 2012221681 A JP2012221681 A JP 2012221681A JP 2012221681 A JP2012221681 A JP 2012221681A JP 5696118 B2 JP5696118 B2 JP 5696118B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- page
- nvm
- value
- wsc
- data
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 230000003068 static effect Effects 0.000 claims description 50
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 48
- 238000013507 mapping Methods 0.000 claims description 32
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 13
- 238000009941 weaving Methods 0.000 claims 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 34
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 230000006870 function Effects 0.000 description 9
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 6
- 238000013519 translation Methods 0.000 description 6
- 230000008859 change Effects 0.000 description 5
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 4
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 4
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 230000006399 behavior Effects 0.000 description 1
- 230000001413 cellular effect Effects 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F12/00—Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F12/00—Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
- G06F12/02—Addressing or allocation; Relocation
- G06F12/0223—User address space allocation, e.g. contiguous or non contiguous base addressing
- G06F12/023—Free address space management
- G06F12/0238—Memory management in non-volatile memory, e.g. resistive RAM or ferroelectric memory
- G06F12/0246—Memory management in non-volatile memory, e.g. resistive RAM or ferroelectric memory in block erasable memory, e.g. flash memory
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2212/00—Indexing scheme relating to accessing, addressing or allocation within memory systems or architectures
- G06F2212/72—Details relating to flash memory management
- G06F2212/7202—Allocation control and policies
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2212/00—Indexing scheme relating to accessing, addressing or allocation within memory systems or architectures
- G06F2212/72—Details relating to flash memory management
- G06F2212/7207—Details relating to flash memory management management of metadata or control data
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2212/00—Indexing scheme relating to accessing, addressing or allocation within memory systems or architectures
- G06F2212/72—Details relating to flash memory management
- G06F2212/7211—Wear leveling
Description
110:システムオンチップ(SoC)
112:SoCコントロール回路
114:メモリ
118:NVMインターフェイス
120:不揮発性メモリ(NVM)
200:電子装置
210:ファイルシステム
212:NVMドライバ
216:NVMバスコントローラ
218:NVMインターフェイス
220:NVM
300:NVMシステム
400:NVMシステム
700:NVMシステム
Claims (18)
- 不揮発性メモリ(NVM)のページのプログラミングをウィービングするための方法において、
電子装置のコントロール回路を使用してウィーブシーケンスカウンタ(WSC)の現在値を識別する段階であって、WSCは、NVMの各ページがプログラムされるシーケンスを識別するものである段階と、
前記コントロール回路を使用して、NVMの第1ブロックの第1ページをユーザデータの第1セットでプログラミングする段階と、
前記コントロール回路を使用して、前記第1ページをWSCの現在値に関連付ける段階と、
前記第1のページのプログラミングに応答して、前記コントロール回路を使用して、WSCを、インクリメントされたWSC値へ逐次にインクリメントする段階と、
前記コントロール回路を使用して、前記データの第1セットが、NVMに最初に記憶される新たなデータであることを決定する段階と、
前記決定に応答して、前記コントロール回路を使用して、前記第1ページをホストウィーブシーケンスカウンタ(HWSC)値に関連付ける段階であって、HWSC値は、前記WSCの現在値に等しいものである段階と、
を備えた方法。 - 前記コントロール回路を使用して、NVMの第2ブロックの第2ページをユーザデータの第2セットでプログラミングする段階と、
前記コントロール回路を使用して、前記第2ページを前記インクリメントされたWSC値に関連付ける段階と、
を更に備えた請求項1に記載の方法。 - 前記関連付ける段階は、WSCの現在値を前記第1ページのメタデータへプログラミングすることを含む、請求項1又は2に記載の方法。
- 前記第1ページをHWSC値に関連付ける段階は、HWSC値を前記第1ページのメタデータへプログラミングすることを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記コントロール回路を使用して、前記データの第1セットが前記NVMの異なるページから前記第1ページへ移動される古いデータであることを決定する段階と、
前記決定に応答して、前記コントロール回路を使用して、前記第1ページをホストウィーブシーケンスカウンタ(HWSC)値に関連付ける段階であって、HWSC値は、前記異なるページのHWSC値に等しいものである段階と、
を更に備えた請求項1又は2に記載の方法。 - 前記WSCを逐次にインクリメントする段階は、前記WSCがNVMの寿命全体にわたってより高い値へとインクリメントし続けるように、ロールオーバーなしに前記WSCの現在値をインクリメントすることを含む、請求項1又は2に記載の方法。
- 前記WSCを逐次にインクリメントする段階は、前記WSCの値が所定数の書き込みサイクルの後にゼロへロールオーバーするように、ロールオーバーを伴って前記WSCの現在値をインクリメントすることを含む、請求項1又は2に記載の方法。
- 不揮発性メモリ(NVM)システムのウェアレベリングを行う装置において、
現在ウィーブシーケンスカウンタ(WSC)値を識別する手段であって、WSC値は、NVMのページがプログラムされる順序を指示するものである手段と、
前記NVMの特定のページに対してホストウィーブシーケンスカウンタ(HWSC)値を識別する手段であって、HWSC値は、前記特定ページのデータが最初にNVM内にセーブされたときを指示するものである手段と、
前記現在WSC値と前記HWSC値との間の差の値を計算する手段と、
前記計算された差に少なくとも一部分基づいて、前記特定のページが高サイクルブロックへ移動するのに適したスタティックページであることを決定する手段と、
を備えた装置。 - 前記決定手段は、
前記計算された差を所定のスレッシュホールド値と比較する手段と、
前記差が前記スレッシュホールド値より大きいことを決定する手段と、
前記差が前記スレッシュホールド値より大きいことを決定する前記手段に応答して、前記特定のページをスタティックページとして識別する手段と、
を含む請求項8に記載の装置。 - 前記NVMの次のページへ進む手段と、
現在WSC値を識別する前記手段、HWSCを識別する前記手段、前記計算手段、及び前記決定手段を、次のページに対して繰り返すための手段と、
を更に備えた請求項8又は9に記載の装置。 - 前記特定ページのデータを前記高サイクルブロックの新たなページへ移動する手段と、 前記特定ページのHWSC値を前記新たなページに関連付ける手段と、
を更に備えた請求項8又は9に記載の装置。 - 前記特定ページのデータを前記高サイクルブロックの新たなページへ移動する手段と、 前記現在WSC値を前記新たなページのWSC値に関連付ける手段と、
を更に備えた請求項8又は9に記載の装置。 - 特定ページがスタティックページであるかどうか決定するための前記手段は、前記特定ページに関連したファイルのサイズ、前記特定ページに関連したファイルを書き込むのに要する時間量、及び前記特定ページに関連したファイルに関するシステム発見的情報、のうちの少なくとも1つに更に基づく、請求項8又は9に記載の装置。
- 前記スタティックページは、比較的長い期間中不変のままであるデータを含むページである、請求項8又は9に記載の装置。
- 不揮発性メモリ(NVM)にアクセスするメモリインターフェイスにおいて、
NVMへプログラムされるべき特定のデータセットを識別し、
ウィーブシーケンスカウンタ(WSC)の現在値を決定し、WSCは、ページがNVM内でプログラムされる順序を指示するものであり、
前記特定のデータセットをNVMの特定のページへプログラムするように指令し、
前記WSCの現在値を前記特定のページのメタデータに記憶するように指令し、
前記NVMのページへデータをプログラムした後、前記WSCの現在値を次の値へ逐次インクリメントし、
ホストウィーブシーケンスカウンタ(HWSC)を前記特定のページのメタデータに記憶するように指令し、
前記特定のデータセットがNVM内に最初にプログラムされた新たなデータであるのに応答して前記HWSCの値を前記WSCの現在値に等しくセットし、
前記特定のデータセットが異なるページから移動された古いデータであるのに応答して前記HWSCの値を異なるページに関連した以前のHWSC値に等しくセットする、
ように動作するコントロール回路を備えたメモリインターフェイス。 - 前記コントロール回路は、更に、
前記NVMの各ページのWSC値に続いて時間シーケンス順に前記NVMの各ページを検査することにより前記NVMの論理的−物理的マッピングテーブルを再構築するように動作する、請求項15に記載のメモリインターフェイス。 - 前記コントロール回路は、更に、
インコヒレントなデータを含むNVMの破損ページを識別し、
前記破損ページに関連したWSC値を決定し、
前記破損ページに関連したWSC値より大きなWSC値に関連したページを無視する、ことにより、前記NVMにおいてロールバック動作を遂行するように働く、請求項15又は16に記載のメモリインターフェイス。 - 前記ページを無視することは、前記NVMの論理的−物理的マッピングテーブルの再構築中にページを無視することを含む、請求項17に記載のメモリインターフェイス。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US13/234,984 | 2011-09-16 | ||
US13/234,984 US9477590B2 (en) | 2011-09-16 | 2011-09-16 | Weave sequence counter for non-volatile memory systems |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013065309A JP2013065309A (ja) | 2013-04-11 |
JP5696118B2 true JP5696118B2 (ja) | 2015-04-08 |
Family
ID=47002645
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012221681A Expired - Fee Related JP5696118B2 (ja) | 2011-09-16 | 2012-09-14 | 不揮発性メモリシステムのためのウィーブシーケンスカウンタ |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9477590B2 (ja) |
EP (1) | EP2570929B1 (ja) |
JP (1) | JP5696118B2 (ja) |
KR (2) | KR101494051B1 (ja) |
CN (1) | CN102999431B (ja) |
TW (2) | TWI564715B (ja) |
WO (1) | WO2013040537A1 (ja) |
Families Citing this family (46)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20110035540A1 (en) * | 2009-08-10 | 2011-02-10 | Adtron, Inc. | Flash blade system architecture and method |
US8909851B2 (en) | 2011-02-08 | 2014-12-09 | SMART Storage Systems, Inc. | Storage control system with change logging mechanism and method of operation thereof |
US20120203993A1 (en) * | 2011-02-08 | 2012-08-09 | SMART Storage Systems, Inc. | Memory system with tiered queuing and method of operation thereof |
US8935466B2 (en) | 2011-03-28 | 2015-01-13 | SMART Storage Systems, Inc. | Data storage system with non-volatile memory and method of operation thereof |
US9098399B2 (en) | 2011-08-31 | 2015-08-04 | SMART Storage Systems, Inc. | Electronic system with storage management mechanism and method of operation thereof |
US9021231B2 (en) | 2011-09-02 | 2015-04-28 | SMART Storage Systems, Inc. | Storage control system with write amplification control mechanism and method of operation thereof |
US9021319B2 (en) | 2011-09-02 | 2015-04-28 | SMART Storage Systems, Inc. | Non-volatile memory management system with load leveling and method of operation thereof |
US9063844B2 (en) | 2011-09-02 | 2015-06-23 | SMART Storage Systems, Inc. | Non-volatile memory management system with time measure mechanism and method of operation thereof |
US9239781B2 (en) | 2012-02-07 | 2016-01-19 | SMART Storage Systems, Inc. | Storage control system with erase block mechanism and method of operation thereof |
US9298252B2 (en) | 2012-04-17 | 2016-03-29 | SMART Storage Systems, Inc. | Storage control system with power down mechanism and method of operation thereof |
US8949689B2 (en) | 2012-06-11 | 2015-02-03 | SMART Storage Systems, Inc. | Storage control system with data management mechanism and method of operation thereof |
US10210175B2 (en) | 2012-09-28 | 2019-02-19 | Oracle International Corporation | Techniques for lifecycle state management and in-database archiving |
US9671962B2 (en) | 2012-11-30 | 2017-06-06 | Sandisk Technologies Llc | Storage control system with data management mechanism of parity and method of operation thereof |
US9123445B2 (en) | 2013-01-22 | 2015-09-01 | SMART Storage Systems, Inc. | Storage control system with data management mechanism and method of operation thereof |
US9214965B2 (en) | 2013-02-20 | 2015-12-15 | Sandisk Enterprise Ip Llc | Method and system for improving data integrity in non-volatile storage |
US9329928B2 (en) | 2013-02-20 | 2016-05-03 | Sandisk Enterprise IP LLC. | Bandwidth optimization in a non-volatile memory system |
US9183137B2 (en) | 2013-02-27 | 2015-11-10 | SMART Storage Systems, Inc. | Storage control system with data management mechanism and method of operation thereof |
US9470720B2 (en) | 2013-03-08 | 2016-10-18 | Sandisk Technologies Llc | Test system with localized heating and method of manufacture thereof |
US9043780B2 (en) | 2013-03-27 | 2015-05-26 | SMART Storage Systems, Inc. | Electronic system with system modification control mechanism and method of operation thereof |
US10049037B2 (en) | 2013-04-05 | 2018-08-14 | Sandisk Enterprise Ip Llc | Data management in a storage system |
US9170941B2 (en) | 2013-04-05 | 2015-10-27 | Sandisk Enterprises IP LLC | Data hardening in a storage system |
US9543025B2 (en) | 2013-04-11 | 2017-01-10 | Sandisk Technologies Llc | Storage control system with power-off time estimation mechanism and method of operation thereof |
US10546648B2 (en) | 2013-04-12 | 2020-01-28 | Sandisk Technologies Llc | Storage control system with data management mechanism and method of operation thereof |
US9632926B1 (en) | 2013-05-16 | 2017-04-25 | Western Digital Technologies, Inc. | Memory unit assignment and selection for internal memory operations in data storage systems |
US9313874B2 (en) | 2013-06-19 | 2016-04-12 | SMART Storage Systems, Inc. | Electronic system with heat extraction and method of manufacture thereof |
US9898056B2 (en) | 2013-06-19 | 2018-02-20 | Sandisk Technologies Llc | Electronic assembly with thermal channel and method of manufacture thereof |
US9367353B1 (en) | 2013-06-25 | 2016-06-14 | Sandisk Technologies Inc. | Storage control system with power throttling mechanism and method of operation thereof |
US9244519B1 (en) | 2013-06-25 | 2016-01-26 | Smart Storage Systems. Inc. | Storage system with data transfer rate adjustment for power throttling |
US9146850B2 (en) | 2013-08-01 | 2015-09-29 | SMART Storage Systems, Inc. | Data storage system with dynamic read threshold mechanism and method of operation thereof |
US9361222B2 (en) | 2013-08-07 | 2016-06-07 | SMART Storage Systems, Inc. | Electronic system with storage drive life estimation mechanism and method of operation thereof |
US9431113B2 (en) | 2013-08-07 | 2016-08-30 | Sandisk Technologies Llc | Data storage system with dynamic erase block grouping mechanism and method of operation thereof |
US9448946B2 (en) | 2013-08-07 | 2016-09-20 | Sandisk Technologies Llc | Data storage system with stale data mechanism and method of operation thereof |
US9152555B2 (en) | 2013-11-15 | 2015-10-06 | Sandisk Enterprise IP LLC. | Data management with modular erase in a data storage system |
KR102168169B1 (ko) | 2014-01-07 | 2020-10-20 | 삼성전자주식회사 | 비휘발성 메모리 시스템의 메모리 맵핑 방법 및 이를 제공하는 시스템 |
FR3020712B1 (fr) * | 2014-04-30 | 2017-09-01 | Proton World Int Nv | Compteur bidirectionnel en memoire flash |
KR102287760B1 (ko) | 2014-10-29 | 2021-08-09 | 삼성전자주식회사 | 메모리 시스템 및 상기 메모리 시스템의 동작 방법 |
KR102263046B1 (ko) | 2014-10-29 | 2021-06-09 | 삼성전자주식회사 | 메모리 장치, 메모리 시스템, 상기 메모리 장치의 동작 방법 및 상기 메모리 시스템의 동작 방법 |
KR102252378B1 (ko) | 2014-10-29 | 2021-05-14 | 삼성전자주식회사 | 메모리 장치, 메모리 시스템, 상기 메모리 장치의 동작 방법 및 상기 메모리 시스템의 동작 방법 |
KR102553170B1 (ko) | 2016-06-08 | 2023-07-10 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 메모리 시스템 및 메모리 시스템의 동작 방법 |
KR20180019419A (ko) | 2016-08-16 | 2018-02-26 | 삼성전자주식회사 | 메모리 컨트롤러, 메모리 시스템 및 그 동작방법 |
US10949113B2 (en) * | 2018-01-10 | 2021-03-16 | SK Hynix Inc. | Retention aware block mapping in flash-based solid state drives |
KR102626048B1 (ko) * | 2018-03-21 | 2024-01-18 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 메모리 컨트롤러, 이를 포함하는 메모리 시스템 및 이의 동작 방법 |
CN110471788B (zh) * | 2018-05-08 | 2024-03-15 | 美光科技公司 | 异步功率损耗影响的数据结构 |
US11379410B2 (en) | 2019-09-13 | 2022-07-05 | Oracle International Corporation | Automated information lifecycle management of indexes |
US11620234B2 (en) | 2020-06-29 | 2023-04-04 | Western Digital Technologies, Inc. | Operation-deterministic write operations for data recovery and integrity checks |
KR20220072242A (ko) * | 2020-11-25 | 2022-06-02 | 삼성전자주식회사 | 비휘발성 메모리 장치의 데이터 기입 방법 및 이를 수행하는 비휘발성 메모리 장치 |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07182246A (ja) | 1993-11-25 | 1995-07-21 | Sanyo Electric Co Ltd | 不揮発性メモリの制御装置及び制御方法 |
WO1996035169A1 (en) | 1995-05-05 | 1996-11-07 | Silicon Graphics, Inc. | Page migration in a non-uniform memory access (numa) system |
US6000006A (en) * | 1997-08-25 | 1999-12-07 | Bit Microsystems, Inc. | Unified re-map and cache-index table with dual write-counters for wear-leveling of non-volatile flash RAM mass storage |
US6282700B1 (en) | 1998-05-21 | 2001-08-28 | Hewlett Packard Company | Mechanism for maintaining revisions of objects in flash memory |
US7966462B2 (en) | 1999-08-04 | 2011-06-21 | Super Talent Electronics, Inc. | Multi-channel flash module with plane-interleaved sequential ECC writes and background recycling to restricted-write flash chips |
US6763424B2 (en) * | 2001-01-19 | 2004-07-13 | Sandisk Corporation | Partial block data programming and reading operations in a non-volatile memory |
US7631138B2 (en) * | 2003-12-30 | 2009-12-08 | Sandisk Corporation | Adaptive mode switching of flash memory address mapping based on host usage characteristics |
US7120051B2 (en) | 2004-12-14 | 2006-10-10 | Sandisk Corporation | Pipelined programming of non-volatile memories using early data |
US7516267B2 (en) | 2005-11-03 | 2009-04-07 | Intel Corporation | Recovering from a non-volatile memory failure |
FR2899716A1 (fr) | 2006-04-07 | 2007-10-12 | St Microelectronics Sa | Procede de securisation de blocs de donnees dans une memoire programmable electriquement |
JP2008033801A (ja) * | 2006-07-31 | 2008-02-14 | Victor Co Of Japan Ltd | メモリデータ管理装置 |
US7689762B2 (en) * | 2007-05-03 | 2010-03-30 | Atmel Corporation | Storage device wear leveling |
JP5164506B2 (ja) * | 2007-10-02 | 2013-03-21 | 三菱電機株式会社 | フラッシュメモリ管理装置及びフラッシュメモリ管理方法及びプログラム |
US20100318719A1 (en) | 2009-06-12 | 2010-12-16 | Micron Technology, Inc. | Methods, memory controllers and devices for wear leveling a memory |
US8566506B2 (en) | 2009-08-07 | 2013-10-22 | Intel Corporation | Tracking a lifetime of write operations to a non-volatile memory storage |
US8281065B2 (en) | 2009-09-01 | 2012-10-02 | Apple Inc. | Systems and methods for determining the status of memory locations in a non-volatile memory |
US8296496B2 (en) | 2009-09-17 | 2012-10-23 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Main memory with non-volatile memory and DRAM |
-
2011
- 2011-09-16 US US13/234,984 patent/US9477590B2/en active Active
-
2012
- 2012-09-14 CN CN201210448714.XA patent/CN102999431B/zh active Active
- 2012-09-14 TW TW102111023A patent/TWI564715B/zh not_active IP Right Cessation
- 2012-09-14 JP JP2012221681A patent/JP5696118B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2012-09-14 TW TW101133886A patent/TWI604305B/zh not_active IP Right Cessation
- 2012-09-17 KR KR20120102880A patent/KR101494051B1/ko active IP Right Grant
- 2012-09-17 EP EP12184753.7A patent/EP2570929B1/en active Active
- 2012-09-17 WO PCT/US2012/055698 patent/WO2013040537A1/en active Application Filing
- 2012-11-30 KR KR1020120137917A patent/KR101892302B1/ko active IP Right Grant
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2013065309A (ja) | 2013-04-11 |
CN102999431B (zh) | 2015-07-15 |
US20130073788A1 (en) | 2013-03-21 |
CN102999431A (zh) | 2013-03-27 |
TW201329709A (zh) | 2013-07-16 |
KR20130030244A (ko) | 2013-03-26 |
TWI604305B (zh) | 2017-11-01 |
KR101494051B1 (ko) | 2015-02-16 |
EP2570929A2 (en) | 2013-03-20 |
KR20130030241A (ko) | 2013-03-26 |
US9477590B2 (en) | 2016-10-25 |
WO2013040537A1 (en) | 2013-03-21 |
EP2570929A3 (en) | 2014-05-14 |
KR101892302B1 (ko) | 2018-08-27 |
TWI564715B (zh) | 2017-01-01 |
TW201329711A (zh) | 2013-07-16 |
EP2570929B1 (en) | 2015-05-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5696118B2 (ja) | 不揮発性メモリシステムのためのウィーブシーケンスカウンタ | |
TWI554877B (zh) | 處理用於具有非揮發性記憶體之一系統之不正常關機 | |
TWI448890B (zh) | 記憶體系統、用於判定電子器件中之動態資料的方法及用於在非揮發性記憶體中執行記憶體垃圾收集之方法 | |
US9841917B2 (en) | Systems and methods for configuring non-volatile memory | |
US8737148B2 (en) | Selective retirement of blocks | |
US8949512B2 (en) | Trim token journaling | |
US8478796B2 (en) | Uncorrectable error handling schemes for non-volatile memories | |
US8812816B2 (en) | Garbage collection schemes for index block | |
CN108369818B (zh) | 一种闪存设备的刷新方法和装置 | |
KR20120044324A (ko) | 불휘발성 메모리에 대한 메타데이터 리던던시 스킴 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20131226 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140120 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140417 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20140702 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20141029 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20141106 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20150113 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20150209 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5696118 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |