JP5691034B2 - Waveguide type optical protection device and waveguide type optical protection device - Google Patents

Waveguide type optical protection device and waveguide type optical protection device Download PDF

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Description

本発明は導波路型光保護素子及び導波路型光保護装置に関するものであり、例えば、導波路型光回路用の導波路型光保護装置の感度を向上するための構成に関するものである。   The present invention relates to a waveguide-type optical protection element and a waveguide-type optical protection device, and, for example, relates to a configuration for improving the sensitivity of a waveguide-type optical protection device for a waveguide-type optical circuit.

近年、光通信シムテムの進展に伴って光通信ネットワークが大容量化され、それに対応して様々な機能を有する光デバイスが開発されている。特に、半導体光増幅器を利用する光ネットワークにおいて、光スイッチの切り替えや装置の瞬断等の動作において、半導体光増幅器への入力光信号平均パワーが非常に小さい状態が続いた後に、急激に光信号パワーが増大すると、光サージが発生し、後段に接続された受信回路は光サージによってダメージを被ることになる。   In recent years, with the progress of optical communication systems, the capacity of optical communication networks has been increased, and optical devices having various functions have been developed accordingly. In particular, in an optical network that uses a semiconductor optical amplifier, the optical signal suddenly changes after the average optical signal input power to the semiconductor optical amplifier continues to be very low in operations such as switching an optical switch or instantaneous interruption of the device. When the power increases, an optical surge is generated, and the receiving circuit connected in the subsequent stage is damaged by the optical surge.

したがって、大きな光サージが発生しないように回路設計等において工夫されてきたが、従来の光サージ抑制方法は、光通信装置の大型化或いは複雑化を招くとともに、高コストであるという問題がある。また、速度的に光サージを十分に抑圧できない場合もある。   Therefore, the circuit design or the like has been devised so as not to generate a large optical surge, but the conventional optical surge suppression method has a problem that the optical communication apparatus is increased in size or complexity and is expensive. In some cases, the optical surge cannot be sufficiently suppressed in terms of speed.

そこで、受光素子の前段に光リミッタ回路或いは光リミッタ素子を設けることによって、光サージによる受信回路の損傷をより少なくすることが提案されている。従来の光リミッタ回路としては、光非線形材料を光共振器内に挿入した非線形エタロン、或いは、非対称ファブリペロー共振器に可飽和吸収体を挿入した非線形素子を利用した光リミッタ回路等が提案されている。   Therefore, it has been proposed that an optical limiter circuit or an optical limiter element is provided in front of the light receiving element to reduce damage to the receiving circuit due to an optical surge. As a conventional optical limiter circuit, an optical limiter circuit using a nonlinear etalon in which an optical nonlinear material is inserted in an optical resonator or a nonlinear element in which a saturable absorber is inserted in an asymmetric Fabry-Perot resonator has been proposed. Yes.

しかしながら、これらの素子は面型の構成であり、導波路で構成される各種光回路への集積が困難であるという課題があるため、マッハツェンダー干渉導波路を用いた光リミッタ回路が提案されている(例えば、特許文献1参照)。   However, since these elements have a planar configuration and are difficult to integrate into various optical circuits composed of waveguides, optical limiter circuits using Mach-Zehnder interference waveguides have been proposed. (For example, refer to Patent Document 1).

図5は、従来のマッハツェンダー型干渉導波路を用いた光リミッタ回路の概念的構成図であり、光入力導波路201、光入力導波路201に入力した光信号を分岐する光分岐導波路202、光分岐導波路202に並列に接続する第1アーム導波路203及び第2アーム導波路204、第1アーム導波路203及び第2アーム導波路204の出力端に接続される光結合導波路205、光結合波導波路205に接続されて光信号を出力する光出力導波路206からなる。   FIG. 5 is a conceptual configuration diagram of an optical limiter circuit using a conventional Mach-Zehnder type interference waveguide. The optical input waveguide 201 and an optical branching waveguide 202 that branches an optical signal input to the optical input waveguide 201 are shown in FIG. The first arm waveguide 203 and the second arm waveguide 204 connected in parallel to the optical branching waveguide 202, and the optical coupling waveguide 205 connected to the output ends of the first arm waveguide 203 and the second arm waveguide 204. The optical output waveguide 206 is connected to the optical coupling wave waveguide 205 and outputs an optical signal.

このマッハツェンダー型干渉導波路は、InP基板上に、InP下部クラッド層、InGaAsPコア層及びInP上部クラッド層を順次成膜して、所定形状にエッチングすることによって構成する。ここで、第1アーム導波路203に不純物ドーピング等により吸収係数を高めて、第1アーム導波路203と第2アーム導波路204の吸収係数に差が生じるようにそれぞれの吸収係数を設定する。   This Mach-Zehnder type interference waveguide is formed by sequentially forming an InP lower cladding layer, an InGaAsP core layer, and an InP upper cladding layer on an InP substrate and etching them into a predetermined shape. Here, the absorption coefficient is increased in the first arm waveguide 203 by impurity doping or the like, and the respective absorption coefficients are set so that a difference occurs in the absorption coefficient between the first arm waveguide 203 and the second arm waveguide 204.

さらに、光分岐導波路202の分岐比と、第1アーム導波路203及び第2アーム導波路204の長さを調整して、光入力が弱い場合に第1アーム導波路203と第2アーム導波路204が光結合導波路205に結合する直前での光強度を等しく、且つ、同相にする。   Further, by adjusting the branching ratio of the optical branching waveguide 202 and the lengths of the first arm waveguide 203 and the second arm waveguide 204, the first arm waveguide 203 and the second arm waveguide are reduced when the optical input is weak. The light intensity immediately before the waveguide 204 is coupled to the optical coupling waveguide 205 is made equal and in phase.

このように光回路を構成し、光入力パワーを増加させていくと、光吸収によって第1アーム導波路203の温度のみが局所的に上昇する。半導体は一般に熱光学係数が大きく10−4−1程度であるので、第1アーム導波路203が、1mm程度の長さであれば、10℃程度の温度上昇で光の位相がπ程度シフトする。 When the optical circuit is configured in this way and the optical input power is increased, only the temperature of the first arm waveguide 203 is locally increased by light absorption. Since a semiconductor generally has a large thermo-optic coefficient of about 10 −4 K −1 , if the first arm waveguide 203 has a length of about 1 mm, the light phase shifts by about π with a temperature increase of about 10 ° C. To do.

マッハツェンダー型干渉導波路においては、光結合導波路205直前で第1アーム導波路203と第2アーム導波路204からの光の位相が同相でないと光出力導波路206への結合効率が低下する。そのため、入射パワーが低い領域では透過出力光の出射パワーは入射パワーに比例して増加するが、入射パワーが所定の強度を超えると出射パワーが相対的に抑制されるリミッタ型の光入出力特性を有するため光保護回路の機能を有する。   In the Mach-Zehnder type interference waveguide, the coupling efficiency to the optical output waveguide 206 decreases unless the phases of the light from the first arm waveguide 203 and the second arm waveguide 204 are in phase immediately before the optical coupling waveguide 205. . Therefore, the output power of the transmitted output light increases in proportion to the incident power in the region where the incident power is low, but the limiter type light input / output characteristics that the output power is relatively suppressed when the incident power exceeds the predetermined intensity Therefore, it has a function of an optical protection circuit.

特開2009−222796号公報JP 2009-2222796 A

しかしながら、熱による吸収係数の増大効果は小さいので、高感度な光保護回路としては、不十分である。そこで、第1アーム導波路203を光非線形材料で構成することが考えられる。非線形材料は、光強度に応じて屈折率が変化するため、第1アーム導波路203と第2アーム導波路204の二本の導波路を伝搬した光が合波するときの位相差が光強度に依存し、結果として、透過率が光強度に依存する。   However, since the effect of increasing the absorption coefficient by heat is small, it is insufficient as a highly sensitive photoprotection circuit. Therefore, it can be considered that the first arm waveguide 203 is made of an optical nonlinear material. Since the refractive index of the nonlinear material changes according to the light intensity, the phase difference when the light propagated through the two waveguides of the first arm waveguide 203 and the second arm waveguide 204 is combined is the light intensity. As a result, the transmittance depends on the light intensity.

そこで、光分岐導波路202の分岐比を適当な値に設定して導波路間初期位相差を調整すると非線形な入出力特性が得られる。図6は、光入出力特性図であり、あるレベル以上の高強度な光を入射すると、透過率が下がることによって光出力が減衰して光保護回路として機能する。   Therefore, nonlinear input / output characteristics can be obtained by setting the branching ratio of the optical branching waveguide 202 to an appropriate value and adjusting the initial phase difference between the waveguides. FIG. 6 is a light input / output characteristic diagram. When high-intensity light of a certain level or more is incident, the light output is attenuated due to a decrease in transmittance, and functions as a light protection circuit.

しかしながら、この場合も、光非線形性が大きい材料が無いため、透過率が下がるのに必要な光強度が高く、高感度な光回路用の保護回路として不十分であるという問題がある。さらに、マッハツェンダー型干渉導波路は二本のアーム導波路の形成に際して高い精度が要求されると共に、平面的サイズが大きくなるという問題がある。   However, even in this case, since there is no material having a large optical nonlinearity, there is a problem that the light intensity required for lowering the transmittance is high, which is insufficient as a protective circuit for a highly sensitive optical circuit. Furthermore, the Mach-Zehnder type interference waveguide requires a high accuracy when forming the two arm waveguides, and has a problem that the planar size becomes large.

したがって、本発明は、導波路自体の屈折率変化の光強度依存性を用いることなく、簡単且つ小型の構成で高感度な光保護機能を実現することを目的とする。   Therefore, an object of the present invention is to realize a highly sensitive optical protection function with a simple and small configuration without using the light intensity dependency of the refractive index change of the waveguide itself.

上記の課題を解決するために、
(1)本発明は、導波路型光保護素子において、入力導波路と、相変化材料膜が積層された導波路と、出力導波路とが直列に接続され、前記相変化材料膜の一部が結晶相であり、残りがアモルファス相であり、前記相変化材料膜は結晶相の状態で前記導波路を導波する導波光に対して吸収性を有する材料からなり、且つ、前記導波光の光強度が予め設定した閾値を超えた場合に前記出力導波路への前記導波光の導波を遮断する光保護機能を有することを特徴とする。
To solve the above problem,
(1) According to the present invention, in the waveguide type optical protection element, an input waveguide, a waveguide on which a phase change material film is laminated, and an output waveguide are connected in series, and a part of the phase change material film There is a crystal phase, Ri remain amorphous phase der, the phase change material film is made of a material having absorptive to guided light guided through the waveguide in a state of crystalline phase, and the guided wave It has a light protection function of blocking the guided wave of the guided light to the output waveguide when the light intensity of the light exceeds a preset threshold value .

このように、入力導波路と出力導波路との間に一部が結晶相となった相変化材料膜が積層された導波路を設けることにより、簡単且つ小型の構成で高感度な光保護機能を実現することができる。即ち、結晶相となった部分が相変化の核となるので、弱い光強度の光パルスを入力しても、アモルファス相から結晶相に変化し、それによって高感度な光保護機能が実現できる。   In this way, by providing a waveguide in which a phase-change material film partly in a crystalline phase is laminated between the input waveguide and the output waveguide, a highly sensitive optical protection function with a simple and small configuration Can be realized. That is, since the portion that has become the crystal phase becomes the nucleus of the phase change, even if a light pulse with a weak light intensity is input, the phase changes from the amorphous phase to the crystalline phase, thereby realizing a highly sensitive light protection function.

(2)また、本発明は、上記(1)において、前記相変化材料膜の内の結晶相の割合を制御することによって、前記閾値を制御することを特徴とする。結晶相となった部分が核となる相変化の閾値は、相変化材料膜の内の結晶相の割合に依存するので、相変化材料膜の内の結晶相の割合により光保護閾値を制御することが可能になる。 (2) Regarding the above (1), by controlling the ratio of the crystal phase of said phase change material film, and controlling said threshold. Since the phase change threshold value in which the crystal phase portion becomes a nucleus depends on the ratio of the crystal phase in the phase change material film, the light protection threshold value is controlled by the ratio of the crystal phase in the phase change material film. It becomes possible.

(3)また、本発明は、上記(2)において、前記相変化材料膜の内の結晶相の割合が、体積比で、前記相変化材料膜全体の0.1%〜10.0%であることを特徴とする。0.1%未満であると、相変化が生ずるための光強度が高くなるので感度が低下し、一方、10.0%を超えると損失が大きく、誤動作が発生しやすくなる。   (3) Further, in the above (2), the present invention provides that the ratio of the crystal phase in the phase change material film is 0.1% to 10.0% of the whole phase change material film by volume ratio. It is characterized by being. If it is less than 0.1%, the light intensity for causing a phase change is increased, so that the sensitivity is lowered. On the other hand, if it exceeds 10.0%, loss is large and malfunction is likely to occur.

(4)また、本発明は、上記(1)乃至(3)のいずれかにおいて、前記相変化材料膜の膜厚は、10nm〜100nmであることを特徴とする。10nm未満であると、相変化材料膜全体が結晶化しても信号光を実効的に完全に吸収するのに不十分であり、一方、100nmを超えるとそれ以上厚く設ける意味がなくなる。   (4) Moreover, the present invention is characterized in that, in any one of the above (1) to (3), the thickness of the phase change material film is 10 nm to 100 nm. If it is less than 10 nm, even if the entire phase change material film is crystallized, it is insufficient to effectively absorb the signal light. On the other hand, if it exceeds 100 nm, it is meaningless to make it thicker.

(5)また、本発明は、導波路型光保護回路装置において、入力導波路と、相変化材料膜が積層された導波路と、出力導波路とが直列に接続され、前記相変化材料膜の一部が結晶相であり、残りがアモルファス相であり、前記相変化材料膜は、結晶相の状態で前記導波路を導波する導波光に対して吸収性を有する材料からなり、且つ、前記導波光の光強度が予め設定した閾値を超えた場合に前記出力導波路への前記導波光の導波を遮断する光保護機能を有する導波路型光保護素子と、前記相変化材料膜に該相変化材料膜の結晶状態を制御する光を照射する光照射手段を備えたことを特徴とする。
(5) Further, in the waveguide type optical protection circuit device according to the present invention, an input waveguide, a waveguide in which a phase change material film is laminated, and an output waveguide are connected in series, and the phase change material film is part of the crystal phase, Ri remain amorphous phase der, the phase change material film is made of a material having absorptive to guided light guided through the waveguide in a state of crystalline phase, and A waveguide-type optical protection element having an optical protection function for blocking the waveguide of the guided light to the output waveguide when the light intensity of the guided light exceeds a preset threshold, and the phase change material film And a light irradiation means for irradiating light for controlling the crystal state of the phase change material film.

このように、上述の導波路型光保護素子は、一旦、結晶相に相変化した場合には、継続使用する場合には、初期状態復帰させる必要があるので、相変化材料膜に該相変化材料膜の結晶状態を制御する光を照射する光照射手段を設ける必要がある。   As described above, the above-mentioned waveguide type optical protection element needs to be returned to the initial state when it is used continuously when the phase is changed to the crystalline phase. It is necessary to provide light irradiation means for irradiating light for controlling the crystal state of the material film.

(6)また、本発明は、上記(5)において、前記光照射手段が、位置調整可能な光ファイバを備えていることを特徴とする。このように、光照射手段が、位置調整可能な光ファイバを備えることによって、微小領域へのスポット照射と広面積照射のための光学系を単一の光学系で構成することができる。   (6) Further, in the above (5), the present invention is characterized in that the light irradiation means includes an optical fiber whose position can be adjusted. As described above, when the light irradiating means includes the position-adjustable optical fiber, an optical system for spot irradiation to a minute region and wide area irradiation can be configured by a single optical system.

開示の導波路型光保護素子及び導波路型光保護装置によれば、相変化材料を用いることによって、導波路自体の屈折率変化の光強度依存性を用いることなく、簡単且つ小型の構成で高感度な光保護機能を実現することが可能になる。   According to the disclosed waveguide-type optical protection element and waveguide-type optical protection device, by using a phase change material, a simple and compact configuration can be achieved without using the light intensity dependency of the refractive index change of the waveguide itself. A highly sensitive light protection function can be realized.

本発明の実施の形態の導波路型光保護装置の概念的斜視図である。It is a notional perspective view of the waveguide type optical protection device of an embodiment of the invention. 本発明の実施例1の導波路型光保護素子の構成説明図である。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is structure explanatory drawing of the waveguide type optical protection element of Example 1 of this invention. 本発明の実施例1の導波路型光保護素子の光入出力特性図である。It is an optical input-output characteristic figure of the waveguide type optical protection element of Example 1 of this invention. 本発明の実施例2の導波路型光保護装置の概念的構成図である。It is a notional block diagram of the waveguide type optical protection apparatus of Example 2 of this invention. 従来のマッハツェンダー型干渉導波路を用いた光リミッタ回路の概念的構成図である。It is a conceptual block diagram of the optical limiter circuit using the conventional Mach-Zehnder type | mold interference waveguide. 光非線形材料を用いたマッハツェンダー型干渉導波路による光リミッタ回路の光入出力特性図である。It is an optical input / output characteristic diagram of an optical limiter circuit using a Mach-Zehnder type interference waveguide using an optical nonlinear material.

ここで、図1を参照して、本発明の実施の形態を説明する。図1は本発明の実施の形態の導波路型光保護装置の概念的斜視図である。導波路型光保護装置は、基板11、下部クラッド層12、導波路13、上部クラッド層14、及び、導波路13の一部の頂面に設けられた相変化材料膜15とからなる。導波路13の一端側は入力導波路16となり、他端側は出力導波路18となり、相変化材料膜15が光吸収部17となる。   Here, an embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 1 is a conceptual perspective view of a waveguide type optical protection apparatus according to an embodiment of the present invention. The waveguide type optical protection device includes a substrate 11, a lower cladding layer 12, a waveguide 13, an upper cladding layer 14, and a phase change material film 15 provided on a part of the top surface of the waveguide 13. One end side of the waveguide 13 becomes the input waveguide 16, the other end side becomes the output waveguide 18, and the phase change material film 15 becomes the light absorbing portion 17.

この相変化材料膜15の光伝搬方向の長さは任意であるが、例えば、2μm〜15μmであり、大半はアモルファス相部15であり、表面側に設けられた結晶相部15は相変化材料膜15の体積の0.1%〜10.0%とする。この結晶相部15は単一のスポットでも良いし、複数個のスポットでも良く、結晶相部15が相変化の核となるので、弱い光強度の光パルスを入力しても、アモルファス相から結晶相に変化する。 This length of the optical propagation direction of the phase change material layer 15 is arbitrary, for example, a 2Myuemu~15myuemu, mostly an amorphous phase portion 15 1, the crystal phase portion 15 2 provided on the surface side phase The change material film 15 has a volume of 0.1% to 10.0%. The crystalline phase section 15 2 may be a single spot, may be a plurality of spots, the crystal phase section 15 2 is the core of the phase change, entering the weak light intensity light pulses, an amorphous phase To a crystalline phase.

入力導波路16から信号光が入射すると、信号光の強度が小さな場合には、アモルファス相部15での吸収はほとんど生じないので、そのまま透過して、出力導波路18からそのまま出力する。 When the signal light incident from the input waveguide 16, when the intensity of the signal light is small, since the absorption in the amorphous phase portion 15 1 hardly occurs, and transmitted as it is, is output as it is from the output waveguide 18.

一方、信号光の強度が閾値を超えると、光吸収部17の吸収係数の大きな結晶相部15を核として相変化を起こし全体が結晶相となる。結晶相は吸収係数が大きいので、導波路13の透過率が低下し、後段の出力導波路18への光を遮断し、光保護装置として機能する。この時、結晶相部15の形状及び体積により光保護装置が動作する閾値を調整することができる。 On the other hand, when the intensity of the signal light exceeds the threshold, the whole undergoes a phase change to a large crystal phase section 15 2 of the absorption coefficient of the light absorbing portion 17 as a nucleus is a crystal phase. Since the crystalline phase has a large absorption coefficient, the transmittance of the waveguide 13 is lowered, and the light to the output waveguide 18 in the subsequent stage is blocked, thereby functioning as a light protection device. In this case, it is possible to adjust the threshold light protection device operates by the shape and volume of the crystal phase portion 15 2.

相変化材料膜15が結晶相となった場合、初期状態に復帰させる必要があり、そのために、レーザ光照射光学系19によりパルスレーザ光を照射して、アモルファス相へ相変化させる。例えば、パルス幅が1ns〜100ns、例えば、20ns程度の高強度、例えば、100mW程度のパルスレーザ光を照射する。一方、相変化材料膜15の表面に相変化の核となる結晶相15を形成するためには、パルス幅が100ns〜500ns、例えば、500ns程度の低強度の、例えば、10mW程度のスポットパルスレーザ光を照射する。なお、照射するレーザ光の波長は、相変化材料の状態にかかわらず相変化材料が吸収できる波長であれば良いが、通常は、入手が容易なレーザの発光波長である650nmを用いる。 When the phase change material film 15 becomes a crystalline phase, it is necessary to return to the initial state. For this purpose, the laser beam irradiation optical system 19 irradiates a pulse laser beam to change the phase to the amorphous phase. For example, pulse laser light with a high intensity of about 1 ns to 100 ns, for example, about 20 ns, for example, about 100 mW is irradiated. Meanwhile, in order to form a crystalline phase 15 2 as a phase change of the nucleus surface of the phase change material layer 15, the pulse width of 100Ns~500ns, for example, low intensity of about 500 ns, for example, 10 mW approximately spot pulse Irradiate with laser light. Note that the wavelength of the laser light to be irradiated may be any wavelength that can be absorbed by the phase change material regardless of the state of the phase change material, but normally, 650 nm which is an easily available laser emission wavelength is used.

また、この場合の導波路13としては、Si、SiGe、InP、GaAs、InGaAsP、InAlAs、InGaAs、GaN、GaNAs等の半導体単結晶が望ましい。材料の選択に際して、光信号の波長帯における吸収率の低い材料を選択する必要があり、例えば、1.3μm〜1.55μm帯においてはSi或いはInGaAsPが望ましい。   In this case, the waveguide 13 is preferably a semiconductor single crystal such as Si, SiGe, InP, GaAs, InGaAsP, InAlAs, InGaAs, GaN, or GaNAs. In selecting the material, it is necessary to select a material having a low absorption rate in the wavelength band of the optical signal. For example, Si or InGaAsP is desirable in the 1.3 μm to 1.55 μm band.

また、基板構造としては、導波路を単結晶コア層とするためには、基板貼り合わせ技術或いはラテラルシーディング法によって形成したSOI(Sbmiconductor on Insulator)基板や、熱伝導率の高いサファイア基板を用いたSOS(Silicon on Sapphire)基板を用いることが望ましい。   Also, as a substrate structure, in order to make the waveguide a single crystal core layer, an SOI (Sbmicductor on Insulator) substrate formed by a substrate bonding technique or a lateral seeding method, or a sapphire substrate having high thermal conductivity is used. It is desirable to use a conventional SOS (Silicon on Sapphire) substrate.

また、相変化材料膜15を構成する相変化材料としては、α−Si、α−Ge、α−GaSb、α−GaAs、α−Sb、GeSe等のテトラヘドラル系材料、Ge−Sb−Te系カルコゲナイド系材料、Sb−Te系カルコゲナイト材料、AsSe或いはAs等のカルコゲナイド材料、NiO、HfO、ZrO、或いは、ZnO等の遷移金属酸化物材料等の相変化型光ディスク等で実績のある材料が望ましい。特に、相変化に伴う光吸収率の変化の大きなGe−Sb−Te、Ge−Sb−Te、Ge−Sb−Te、Ge−Sb−Te等のGe−Sb−Te系カルコゲナイド系材料が望ましい。 Examples of the phase change material constituting the phase change material film 15 include tetrahedral materials such as α-Si, α-Ge, α-GaSb, α-GaAs, α-Sb, GeSe, and Ge-Sb-Te chalcogenides. Phase change type optical discs such as Ni-based materials, Sb-Te based chalcogenite materials, chalcogenide materials such as As 2 Se 3 or As 2 S 3 , NiO, HfO 2 , ZrO 2 , or transition metal oxide materials such as ZnO Proven materials are desirable. In particular, the change in the optical absorption due to the phase change large Ge 2 -Sb 2 -Te 5, Ge 1 -Sb 4 -Te 7, Ge 1 -Sb 2 -Te 4, Ge 6 -Sb 2 -Te 9 etc. A Ge—Sb—Te chalcogenide material is desirable.

このように、本発明の実施の形態においては、一部を結晶化した相変化材料薄膜を有する導波路を利用しているので、簡単且つ小型な構成でしきい値パワーの低い光保護装置を構成することが可能になる。   As described above, in the embodiment of the present invention, since the waveguide having the phase-change material thin film partially crystallized is used, an optical protection device having a simple and small configuration and a low threshold power is provided. It becomes possible to configure.

また、相変化材料薄膜部分の結晶相とアモルファス相との間の相変化や、結晶相部分の大きさ及び個数を制御できる光学系を設け、光保護装置を初期状態に復帰したり、光保護装置の動作しきい値を調整したりすることが可能となる。   In addition, an optical system that can control the phase change between the crystal phase and the amorphous phase of the phase change material thin film portion and the size and number of the crystal phase portions is provided to restore the light protection device to the initial state or to protect the light. It is possible to adjust the operation threshold of the apparatus.

以上を前提として、次に、図2及び図3を参照して本発明の実施例1の導波路型光保護素子を説明する。図2は本発明の実施例1の導波路型光保護素子の構成説明図であり、図2(a)は概略的透視平面図であり、また、図2(b)は図2(a)における一点鎖線の面に沿った概略的断面図である。   Based on the above, the waveguide type optical protection element according to the first embodiment of the present invention will be described next with reference to FIGS. FIG. 2 is a configuration explanatory view of the waveguide type optical protection element of Example 1 of the present invention, FIG. 2 (a) is a schematic perspective plan view, and FIG. 2 (b) is FIG. 2 (a). It is a schematic sectional drawing in alignment with the surface of the dashed-dotted line in.

図に示すようにSOI基板を用いて、シリコン基板21上に形成した厚さが、200nmのSiO膜を下部クラッド層22とし、その上に形成した単結晶シリコン層をストライプ状にエッチングして例えば、幅が400nmで高さが220nmの単結晶シリコンコア層23を形成する。 As shown in the figure, using a SOI substrate, a 200 nm thick SiO 2 film formed on the silicon substrate 21 is used as the lower cladding layer 22, and the single crystal silicon layer formed thereon is etched in a stripe shape. For example, the single crystal silicon core layer 23 having a width of 400 nm and a height of 220 nm is formed.

この単結晶シリコンコア層23の一部の表面に、メタルマスクを用いたマスクスパッタリング法を用いて厚さが30nmで、光伝搬方向の長さが10μmのGe−Sb−Te組成のGST膜24を形成する。この時、GST膜24は全体がアモルファス相となる。 A portion of the surface of the monocrystalline silicon core layer 23, in 30nm thickness by using a mask sputtering method using a metal mask, the light propagation direction length 10μm Ge 2 -Sb 2 -Te 5 of composition A GST film 24 is formed. At this time, the entire GST film 24 is in an amorphous phase.

次いで、全面に厚さが1.5μmのSiO膜を100℃の成膜温度で成膜させて上部クラッド層25とする。この時、上部クラッド層25の成膜温度が100℃であるので、GST膜24は全体がアモルファス相のままである。なお、上部クラッド層25の成膜温度を高めると結晶相となる。 Next, an SiO 2 film having a thickness of 1.5 μm is formed on the entire surface at a film forming temperature of 100 ° C. to form the upper clad layer 25. At this time, since the deposition temperature of the upper cladding layer 25 is 100 ° C., the entire GST film 24 remains in an amorphous phase. Note that when the deposition temperature of the upper cladding layer 25 is increased, a crystalline phase is obtained.

次いで、スポット径が1500nmで、波長が650nmで、10mW/μmの強度で500nsのパルス幅のパルスレーザ光を照射することによって、GST膜24の一部を結晶相に相転移させて結晶相部24とすることによって、本発明の実施例1の導波路型光保護素子20が完成する。なお、残りの部分はアモルファス相部24のままである。ここで、単結晶シリコンコア層23の一端側は入力導波路26となり、他端側は出力導波路28となり、GST膜24を設けた部分が光吸収部27となる。 Next, by irradiating a pulse laser beam having a spot diameter of 1500 nm, a wavelength of 650 nm, an intensity of 10 mW / μm 2 and a pulse width of 500 ns, a part of the GST film 24 is phase-transitioned into the crystal phase, and the crystal phase by a part 24 2, optical waveguide protection element 20 of example 1 of the present invention is completed. Incidentally, the remaining portion will remain in the amorphous phase portion 24 1. Here, one end side of the single crystal silicon core layer 23 becomes the input waveguide 26, the other end side becomes the output waveguide 28, and the portion provided with the GST film 24 becomes the light absorbing portion 27.

Ge−Sb−Te組成のGST膜24は、光通信に利用される1.3μm〜1.65μmの波長の光に対して、結晶相での吸収は大きく、アモルファス相での吸収は少なく、複素屈折率の虚数部kは、アモルファス相で0.1以下、結晶相で1.0程度である。例えば、波長1.5μmの入力光が弱い場合、GST膜24のほとんどがアモルファス相であるので透過率は高い。 Ge 2 -Sb 2 -Te 5 GST film 24 composition, with respect to light having a wavelength of 1.3μm~1.65μm utilized in optical communication, large absorption in the crystal phase, absorption in the amorphous phase The imaginary part k of the complex refractive index is less than 0.1 in the amorphous phase and about 1.0 in the crystal phase. For example, when input light having a wavelength of 1.5 μm is weak, the transmittance is high because most of the GST film 24 is in an amorphous phase.

図3は、本発明の実施例1の導波路型光保護素子の光入出力特性図であり、一部結晶状態の直線と全結晶状態の直線の傾きの対比から明らかなように、傾きが大きいほど透過率が高くなる。   FIG. 3 is a light input / output characteristic diagram of the waveguide-type photoprotective element according to Example 1 of the present invention. As is apparent from the comparison of the inclinations of the straight lines in the partial crystal state and the straight line in the entire crystal state, The larger the value, the higher the transmittance.

したがって、入射パワーの増大ともに出射パワーも増大するが、光パワーがある閾値を超えると結晶相部24において光吸収による温度上昇が進行し、その周囲で結晶化温度を超えて、GST膜24の結晶化が進む。結晶化が進むにつれて、その周囲の温度が次々と結晶化温度を超えて全体が結晶化し、導波路の吸収が急激に増大して、傾きが小さい直線上の透過率を示す状態に変化する。 Thus, although also increases the output power to increase both the incident power, the temperature rise due to light absorption exceeds a certain threshold optical power and in the crystalline phase section 24 2 is advanced beyond the crystallization temperature at around, GST film 24 Crystallization proceeds. As the crystallization progresses, the surrounding temperature exceeds the crystallization temperature one after another, and the whole crystallizes, the absorption of the waveguide increases rapidly, and changes to a state showing transmittance on a straight line with a small inclination.

これらの一部結晶状態から全結晶状態への相変化過程は1μs程度の時間で進展するので、後段の受光素子、光変調素子、光偏向素子、或いは、光増幅素子等の光素子への過大な光入力を阻止し、光保護素子として機能する。   Since the phase change process from the partial crystal state to the full crystal state progresses in a time of about 1 μs, it is excessive to an optical element such as a light receiving element, a light modulating element, a light deflecting element, or an optical amplifying element in the subsequent stage. Function as a light protection element.

光保護素子を初期状態に復帰させるには、強いレーザ光を全結晶状態になったGST膜24に照射することによって、GST膜24全体をアモルファス化し、その後、弱いレーザ光をスポット状に照射することによって、GST膜24の表面の一部を結晶化させる。   In order to return the light protection element to the initial state, the entire GST film 24 is amorphized by irradiating the GST film 24 in an all-crystal state with strong laser light, and then the weak laser light is irradiated in a spot shape. As a result, part of the surface of the GST film 24 is crystallized.

なお、GST膜24が全く結晶化していない場合、GST膜24における光吸収が少ないため、非常に強い入力光でなければ、結晶相に相変化しないので光保護素子として機能しない。また、結晶相部24の大きさ、個数を変えることによって、保護回路が動作する閾値を調整することができる。 Note that when the GST film 24 is not crystallized at all, light absorption in the GST film 24 is small, and unless it is very strong input light, it does not function as a light protection element because it does not change into a crystalline phase. The crystal phase portion 24 2 of the size, by changing the number, it is possible to adjust the threshold protection circuit operates.

次に、図4を参照して、本発明の実施例2の導波路型光保護装置を説明する。図4は、本発明の実施例2の導波路型光保護装置の概念的構成図であり、上記の実施例1の導波路型光保護素子20とパルスレーザ光を照射するレーザ光照射光学系30を組み合わせたものである。   Next, with reference to FIG. 4, the waveguide type optical protection apparatus of Example 2 of this invention is demonstrated. FIG. 4 is a conceptual configuration diagram of the waveguide-type photoprotection device according to the second embodiment of the present invention. The waveguide-type photoprotection element 20 according to the first embodiment and a laser beam irradiation optical system that irradiates pulse laser light. 30.

レーザ光照射光学系は、光ファイバ31、コリメートレンズ32、収束レンズ33とからなり、収束レンズ33はコリメートレンズ32の焦点距離より短いレンズを用いる。また、光ファイバ31は、円形コア、楕円コア、あるいは、複数のコアからなるファイバ、あるいは、フォトニック結晶ファイバ、ホーリーファイバなどが利用可能である。   The laser light irradiation optical system includes an optical fiber 31, a collimating lens 32, and a converging lens 33. The converging lens 33 uses a lens shorter than the focal length of the collimating lens 32. As the optical fiber 31, a circular core, an elliptical core, a fiber composed of a plurality of cores, a photonic crystal fiber, a holey fiber, or the like can be used.

光ファイバ31の端面でのモードフィールド断面形状と、ファイバ端面位置を調整することによって、結晶相部24の近傍での集光スポット形状と個数を調整することが可能である。GST膜24の全体がアモルファス相の場合、光ファイバ31の位置を調整してGST膜24上でのスポットを小さく、波長650nm、10mW/μm程度の強度で500ns程度のパルス幅の弱い光パルスを照射することによって、その一部を結晶相に相転移させる。 A mode field cross-sectional shape at the end face of the optical fiber 31, by adjusting the fiber end face position, it is possible to adjust the condensing spot shape and number of the vicinity of the crystal phase portion 24 2. When the entire GST film 24 is in an amorphous phase, the position of the optical fiber 31 is adjusted to reduce the spot on the GST film 24, and the light pulse with a wavelength of 650 nm, an intensity of about 10 mW / μm 2 and a pulse width of about 500 ns is weak. Is partly transformed into a crystalline phase.

強い光信号の入射によりGST膜24の全体が結晶化した場合には、光ファイバ31の位置を調整して、GST膜24上でのスポットを大きくし、波長650nm、100mW/μm程度の強度で20ns程度のパルス幅の強い光パルスを照射することによって、アモルファス化し、その後、一部を結晶化させる。 When the entire GST film 24 is crystallized by the incidence of a strong optical signal, the position of the optical fiber 31 is adjusted to increase the spot on the GST film 24, and the intensity is about 650 nm, 100 mW / μm 2. By irradiating with a light pulse having a strong pulse width of about 20 ns, it becomes amorphous, and then a part thereof is crystallized.

このように、本発明の実施例2においては、位置調整可能な光ファイバを備えたレーザ光照射光学系を有しているので、光ファイバの位置を調整することよって、アモルファス化と一部結晶化の切り替えが可能になる。   As described above, the second embodiment of the present invention has the laser beam irradiation optical system including the position-adjustable optical fiber. Therefore, by adjusting the position of the optical fiber, the amorphization and the partial crystal can be achieved. Can be switched.

また、一部結晶化の際のビームスポットサイズ、レーザ光強度、パルス幅等を調整することによって、結晶相部24の位置、サイズ、個数を任意に設定することができ、それによって、光保護素子の閾値を任意に設定することができる。 The beam spot size at the time of some crystallization, laser light intensity, by adjusting the pulse width or the like, the position of the crystal phase portion 24 2, the size, number and can be set arbitrarily, thereby light The threshold value of the protection element can be set arbitrarily.

以上の説明においては、上部クラッド層の成膜後もGST膜はアモルファス状態である場合を説明したが、上部クラッド層の成膜温度を高めてGST膜を結晶状態としても良いものである。この場合には、予め全体をアモルファス相に相転移させるため、強いレーザ光を全面に照射して全体をアモルファス相に相転移させる。また、アモルファス相と結晶相間の相転移は、GST膜の近傍にヒータを用意し、その一部だけ、あるいは全体を加熱できるようにしても同様の動作をさせることが出来ることは言うまでもない。   In the above description, the case where the GST film is in an amorphous state even after the upper clad layer is formed has been described. However, the GST film may be in a crystalline state by increasing the film formation temperature of the upper clad layer. In this case, in order to cause the entire phase to transition to the amorphous phase in advance, the entire surface is irradiated with intense laser light to cause the entire phase to transition to the amorphous phase. Needless to say, the phase transition between the amorphous phase and the crystalline phase can be achieved by preparing a heater in the vicinity of the GST film and heating only a part or the whole of the heater.

11 基板
12 下部クラッド層
13 導波路
14 上部クラッド層
15 相変化材料膜
15 アモルファス相部
15 結晶相部
16 入力導波路
17 光吸収部
18 出力導波路
19 レーザ光照射光学系
20 導波路型光保護素子
21 シリコン基板
22 下部クラッド層
23 単結晶シリコンコア層
24 GST膜
25 上部クラッド層
24 アモルファス相部
24 結晶相部
26 入力導波路
27 光吸収部
28 出力導波路
30 レーザ光照射光学系
31 光ファイバ
32 コリメートレンズ
33 収束レンズ
201 光入力導波路
202 光分岐導波路
203 第1アーム導波路
204 第2アーム導波路
205 光結合導波路
206 光出力導波路
DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Substrate 12 Lower clad layer 13 Waveguide 14 Upper clad layer 15 Phase change material film 15 1 Amorphous phase portion 15 2 Crystal phase portion 16 Input waveguide 17 Light absorption portion 18 Output waveguide 19 Laser light irradiation optical system 20 Waveguide type Optical protection element 21 Silicon substrate 22 Lower clad layer 23 Single crystal silicon core layer 24 GST film 25 Upper clad layer 24 1 Amorphous phase portion 24 2 Crystal phase portion 26 Input waveguide 27 Light absorption portion 28 Output waveguide 30 Laser light irradiation optics System 31 Optical fiber 32 Collimating lens 33 Converging lens 201 Optical input waveguide 202 Optical branching waveguide 203 First arm waveguide 204 Second arm waveguide 205 Optical coupling waveguide 206 Optical output waveguide

Claims (6)

入力導波路と、
相変化材料膜が積層された導波路と、
出力導波路と
が直列に接続され、
前記相変化材料膜の一部が結晶相であり、残りがアモルファス相であり、
前記相変化材料膜は結晶相の状態で前記導波路を導波する導波光に対して吸収性を有する材料からなり、且つ、前記導波光の光強度が予め設定した閾値を超えた場合に前記出力導波路への前記導波光の導波を遮断する光保護機能を有することを特徴とする導波路型光保護素子。
An input waveguide;
A waveguide on which a phase change material film is laminated;
The output waveguide is connected in series,
Some of the phase change material film is in the crystalline phase, Ri remain amorphous phase der,
The phase change material film is made of a material that absorbs guided light guided through the waveguide in a crystalline phase, and the light intensity of the guided light exceeds a preset threshold value. A waveguide-type optical protection element characterized by having an optical protection function that blocks the guided light from being guided to an output waveguide .
前記相変化材料膜の内の結晶相の割合を制御することによって、前記閾値を制御することを特徴とする請求項1に記載の導波路型光保護素子。 2. The waveguide type optical protection element according to claim 1, wherein the threshold value is controlled by controlling a ratio of a crystal phase in the phase change material film. 前記相変化材料膜の内の結晶相の割合が、体積比で、前記相変化材料膜全体の0.1%〜10.0%であることを特徴とする請求項2に記載の導波路型光保護素子。   3. The waveguide type according to claim 2, wherein a ratio of a crystal phase in the phase change material film is 0.1% to 10.0% of the whole phase change material film in volume ratio. Light protection element. 前記相変化材料膜の膜厚は、10nm〜100nmであることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載の導波路型光保護素子。   4. The waveguide-type photoprotective element according to claim 1, wherein the phase change material film has a thickness of 10 nm to 100 nm. 入力導波路と、
相変化材料膜が積層された導波路と、
出力導波路と
が直列に接続され、
前記相変化材料膜の一部が結晶相であり、残りがアモルファス相であり、前記相変化材料膜は、結晶相の状態で前記導波路を導波する導波光に対して吸収性を有する材料からなり、且つ、前記導波光の光強度が予め設定した閾値を超えた場合に前記出力導波路への前記導波光の導波を遮断する光保護機能を有する導波路型光保護素子と、
前記相変化材料膜に該相変化材料膜の結晶状態を制御する光を照射する光照射手段を備えたことを特徴とする導波路型光保護装置。
An input waveguide;
A waveguide on which a phase change material film is laminated;
The output waveguide is connected in series,
A partially crystalline phase of the phase change material film, Ri remain amorphous phase der, the phase change material layer has an absorption against guided light guided through the waveguide in a state of crystalline phase A waveguide-type optical protection element made of a material and having an optical protection function for blocking the guided light to the output waveguide when the light intensity of the guided light exceeds a preset threshold ;
A waveguide type optical protection device comprising: a light irradiation means for irradiating the phase change material film with light for controlling a crystal state of the phase change material film.
前記光照射手段が、位置調整可能な光ファイバを備えていることを特徴とする請求項5に記載の導波路型光保護装置。   6. The waveguide type optical protection device according to claim 5, wherein the light irradiation means includes an optical fiber whose position is adjustable.
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