JP5663464B2 - 3次元形状計測システム - Google Patents
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Description
(1)平面状の鏡面を有する鏡面板を四方に配置して接合することで底面が開放された箱形であり、天面側から見て前記鏡面板の全部または一部が天面方向に傾斜され、前記底面側から対象物体を被せて使用するスタジオ装置と、前記スタジオ装置の天面側に配置され、前記スタジオ装置の内部に指定のパターン映像を投影する投影装置と、前記スタジオ装置の天面側に配置され、前記スタジオ装置の内部を撮影する撮影装置と、前記投影装置でパターン映像を投影した状態で前記撮影装置により撮影されたスタジオ装置内の画像から前記スタジオ装置内に配置される対象物体の上面から見た形状及び各鏡面板に映る前後左右の形状を3次元情報として取得し、この3次元情報に基づいて全周3次元画像を作成する画像処理手段と、前記画像処理手段で作成された全周3次元画像を表示する表示手段とを具備し、前記四方に配置される鏡面板は、互いに対向する鏡面それぞれの前面に透過軸が互いに直交する偏光手段を備える態様とする。
(3)(1)において、前記鏡面板は、反射型偏光板である態様とする。
(4)(1)において、前記鏡面板は、反射面の前面に反射防止フィルムを配置してなる態様とする。
(7)(5)において、前記反射光混合防止手段は、前記四方に配置される鏡面板の隣り合う鏡面板をそれぞれ異なるフレームで順次撮影する態様とする。
(第1の実施形態)
図1は第1の実施形態に係る3次元形状計測システムの構成を示すブロック図である。このシステムは、スタジオ装置10と計測処理装置11とで構成される。まず、スタジオ装置10は、パネルの一方面を鏡面加工した平面鏡101〜104を鏡面が内側になるようにして接合することで、少なくとも底面が開放された箱状となっており、基台に載置した対象物体の上から被せることで、対象物体を撮影するためのスタジオを形成する。天面は天板を備えていてもよいが、その場合には撮影用の穴を形成しておく。側面の平面鏡101〜104は天面に対して角度φmだけ内方向に狭まるように傾斜するようになされている。
この復元プロセスでは、まず、記憶装置111Cから領域A1n,A2nの3次元情報及びテクスチャ情報を読み出す(ステップS21)。この時点で、カウントnをいったん0にリセットし(ステップS22)、さらにカウントnにn+1をセットして(ステップS23)、領域A1n,A2nそれぞれで得られた情報より、方向n=1すなわち領域A11,A21に映る対象物体Tの3次元形状を算出する(ステップS24)。このステップS24の処理をnがn>5となるまで繰り返し(ステップS25)、これによって領域A12,A13,A14,A22,A23,A24それぞれに映る対象物体Tの3次元形状(虚像)と領域A15,A25の上方から見た対象物体Tの3次元形状(実像)とが得られる。上記の各領域における3次元形状が取得されると、その5方向の形状を統合して全周3次元モデルを作成し(ステップS26)、表示装置114に表示する(ステップS27)。
次に、第2の実施形態に係る3次元形状計測システムについて説明する。尚、このシステムの構成は、第1の実施形態に係る3次元形状計測システムの構成と同様であり、また、計測する際の装置の設置状況と計測状況を示す概念図も第1の実施形態の場合と同様であるので、ここではその説明を省略する。
まず、復元プロセスにおいて、波長分割によって反射光の混合を防止する場合について説明する。図10は波長分割による反射光混合防止を実現する復元プロセスにおける処理の流れを示すフローチャートであり、図6に示すフローチャートと異なる点は領域n毎に対応する波長を抽出する処理(ステップS28)を追加した点にある。この場合、計測プロセスにおいて、図5のステップS11で投影するパターンの波長を、図8における虚像領域A11及びA13に対応する領域ではλA、虚像領域A12及びA14に対応する領域ではλB、実像領域に対応する領域A15ではλCとする。そして、λA、λB、λCを同時に投影したものを撮影し(ステップS15)、3次元形状情報として格納する(ステップS16)。この前提の元で、復元プロセスは第1の実施形態と基本的に同じ処理を行うが、図10に示すように、3次元形状を算出するステップS24に入る前に、3次元座標算出のための取得画像から、領域に対応する波長λA、λB、λCをRGBの明度値や彩度または色相によってフィルタリングして抽出する(ステップS28)。これにより、隣り合う平面鏡による反射光及び上方からの直接光を波長で切り分けることができる。
Claims (7)
- 平面状の鏡面を有する鏡面板を四方に配置して接合することで底面が開放された箱形であり、天面側から見て前記鏡面板の全部または一部が天面方向に傾斜され、前記底面側から対象物体を被せて使用するスタジオ装置と、
前記スタジオ装置の天面側に配置され、前記スタジオ装置の内部に指定のパターン映像を投影する投影装置と、
前記スタジオ装置の天面側に配置され、前記スタジオ装置の内部を撮影する撮影装置と、
前記投影装置でパターン映像を投影した状態で前記撮影装置により撮影されたスタジオ装置内の画像から前記スタジオ装置内に配置される対象物体の上面から見た形状及び各鏡面板に映る前後左右の形状を3次元情報として取得し、この3次元情報に基づいて全周3次元画像を作成する画像処理手段と、
前記画像処理手段で作成された全周3次元画像を表示する表示手段と
を具備し、
前記四方に配置される鏡面板は、互いに対向する鏡面それぞれの前面に透過軸が互いに直交する偏光手段を備えることを特徴とする3次元形状計測システム。 - 前記鏡面板は、平面鏡の前面に透過型偏光板を配置してなることを特徴とする請求項1記載の3次元形状計測システム。
- 前記鏡面板は、反射型偏光板であることを特徴とする請求項1記載の3次元形状計測システム。
- 前記鏡面板は、反射面の前面に反射防止フィルムを配置してなることを特徴とする請求項1記載の3次元形状計測システム。
- 平面状の鏡面を有する鏡面板を四方に配置して接合することで底面が開放された箱形であり、天面側から見て前記鏡面板の全部または一部が天面方向に傾斜され、前記底面側から対象物体を被せて使用するスタジオ装置と、
前記スタジオ装置の天面側に配置され、前記スタジオ装置の内部に指定のパターン映像を投影する投影装置と、
前記スタジオ装置の天面側に配置され、前記スタジオ装置の内部を撮影する撮影装置と、
前記投影装置でパターン映像を投影した状態で前記撮影装置により撮影されたスタジオ装置内の画像から前記スタジオ装置内に配置される対象物体の上面から見た形状及び各鏡面板に映る前後左右の形状を3次元情報として取得し、この3次元情報に基づいて全周3次元画像を作成する画像処理手段と、
前記画像処理手段で作成された全周3次元画像を表示する表示手段と、
前記四方に配置される鏡面板の隣り合う鏡面の反射光の混合を波長分割または時分割によって防止する反射光混合防止手段と
を具備することを特徴とする3次元形状計測システム。 - 前記反射光混合防止手段は、前記投影装置に対して前記四方に配置される鏡面板の隣り合う鏡面の領域に異なる波長のパターンを投影させ、前記撮影装置の撮影結果から波長別に映像を抽出することを特徴とする請求項5記載の3次元形状計測システム。
- 前記反射光混合防止手段は、前記四方に配置される鏡面板の隣り合う鏡面板をそれぞれ異なるフレームで順次撮影することを特徴とする請求項5記載の3次元形状計測システム。
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JP2011281813A JP5663464B2 (ja) | 2011-12-22 | 2011-12-22 | 3次元形状計測システム |
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