JP5637720B2 - Tomographic imaging method and tomographic imaging apparatus control device - Google Patents

Tomographic imaging method and tomographic imaging apparatus control device Download PDF

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Description

本発明は、断層撮像装置および断層撮像装置の制御装置に関する。   The present invention relates to a tomographic imaging apparatus and a tomographic imaging apparatus control apparatus.

現在、光学機器を用いた眼科用機器として、様々なものが使用されている。例えば、眼を観察する光学機器として、前眼部撮影機、眼底カメラ、共焦点レーザー走査検眼鏡等がある。これらの中でも、低コヒーレンス光を利用した光コヒーレンストモグラフィ(OCT:Optical Coherence Tomography)による光断層撮像装置は、被検査物の断層像を高解像度に得ることができる装置である。よって、眼科用機器として網膜の専門外来では必要不可欠な装置になりつつある。以下、本装置をOCT装置として説明する。   Currently, various types of ophthalmic equipment using optical equipment are used. For example, as an optical device for observing eyes, there are an anterior ocular segment photographing machine, a fundus camera, a confocal laser scanning ophthalmoscope, and the like. Among these, an optical tomography apparatus based on optical coherence tomography (OCT) using low-coherence light is an apparatus that can obtain a tomographic image of an inspection object with high resolution. Therefore, it is becoming an indispensable device for specialized retina outpatients as an ophthalmic device. Hereinafter, this apparatus will be described as an OCT apparatus.

上記OCT装置は、低コヒーレント光を、参照光と測定光とに分け、測定光を被検査物に照射し、その被検査物からの戻り光と参照光を干渉させることによって被検査物の断層を測定することができる。つまり、測定光を被検査物上でスキャンすることで2次元や3次元の断層像を得ることができる。ただし、被検査物が眼のような生体である場合、眼の動きによる画像の歪みが問題となる。そこで、高速で高感度に測定することが求められている。   The OCT apparatus divides low-coherent light into reference light and measurement light, irradiates the inspection object with the measurement light, and causes the return light from the inspection object and the reference light to interfere with each other. Can be measured. That is, a two-dimensional or three-dimensional tomographic image can be obtained by scanning the measurement light on the inspection object. However, when the object to be inspected is a living body such as an eye, image distortion due to eye movement becomes a problem. Therefore, it is required to measure at high speed and with high sensitivity.

高速かつ高感度に測定するための方法の一つとして、被検査物の複数点を同時に測定する方法が特許文献1に公開されている。それによると、一つの光源からの光をスリットで分割することによって複数の光源を作り出す。そしてそれらの光を、ビームスプリッタにより、複数の測定光と参照光にそれぞれ分ける。測定光は被検査物に照射され、被検査物からの戻り光と参照光をビームスプリッタで合成する。そして、複数の合成光はグレーティングに入射されて、2次元センサで同時に検出される。このように特許文献1は、複数の測定光による同時測定で高速化を可能としている。   As one of the methods for measuring at high speed and with high sensitivity, a method of simultaneously measuring a plurality of points on an inspection object is disclosed in Patent Document 1. According to this, a plurality of light sources are created by dividing light from one light source by slits. These lights are divided into a plurality of measurement lights and reference lights by a beam splitter. The measurement light is irradiated onto the inspection object, and the return light from the inspection object and the reference light are combined by the beam splitter. Then, the plurality of combined lights are incident on the grating and are simultaneously detected by the two-dimensional sensor. As described above, Patent Document 1 enables speeding up by simultaneous measurement using a plurality of measurement lights.

特表2008−508068Special table 2008-508068

しかし、複数の測定光を用いて複数点を同時に測定するOCT装置の3次元データから、2次元の強度像(測定光に対して垂直な断面画像)を作成する場合、装置構成によって断面画像内の各領域の差が目立つ2次元強度像になる。   However, when creating a two-dimensional intensity image (a cross-sectional image perpendicular to the measurement light) from the three-dimensional data of an OCT apparatus that measures a plurality of points simultaneously using a plurality of measurement lights, the inside of the cross-sectional image depends on the device configuration. It becomes a two-dimensional intensity image in which the difference in each region is conspicuous.

例えば、複数点の測定を同時に行った断層画像から一枚の断面画像を作る場合、光学系の構成によって、接続部分が目立つ画像になる。つまり、複数点の測定それぞれに対する光学系が完全に等価なものであれば問題にならないが、そうでない場合には、断層像の深さ方向に依存してコントラストが異なったり、分解能が異なったりすることが起こる。   For example, when one cross-sectional image is created from tomographic images obtained by simultaneously measuring a plurality of points, the connection portion becomes an image that stands out depending on the configuration of the optical system. In other words, it is not a problem if the optical systems for each of the multiple points are completely equivalent. Otherwise, the contrast and resolution differ depending on the depth direction of the tomographic image. Things happen.

本発明は上記課題を解決するためになされたものであり、複数の測定光を用いて得られた複数の合成光の信号から断面画像を取得する断層撮像装置において、断層撮像装置内の光学系により生じる断面画像内の相違を目立ちにくくすることを目的とする。   The present invention has been made to solve the above-described problem, and in a tomographic imaging apparatus that acquires cross-sectional images from signals of a plurality of combined lights obtained using a plurality of measurement lights, an optical system in the tomographic imaging apparatus It is intended to make the difference in the cross-sectional image caused by the inconspicuous.

本発明の断層撮像装置は、複数の測定光を被検査物に照射することで得られる複数の戻り光と参照光とを合成し、当該合成により得られた複数の合成光より、前記被検査物の断面画像を取得する断層撮像装置であって、光学系を介して前記複数の合成光を検出して、当該複数の合成光の信号を取得するセンサと、前記複数の合成光の信号間の相違であって、前記光学系と前記センサの構成による前記被検査物の深さ方向の相違を補正した信号を生成する補正手段と、前記補正された前記複数の合成光の信号から、前記被検査物の前記測定光に対して垂直な断面画像を生成する生成手段とを有することを特徴とする。 The tomographic imaging apparatus of the present invention synthesizes a plurality of return lights and reference light obtained by irradiating a test object with a plurality of measurement lights, and from the plurality of synthesized lights obtained by the synthesis, A tomographic imaging apparatus that acquires a cross-sectional image of an object, wherein the plurality of combined lights are detected via an optical system and a signal of the plurality of combined lights is acquired between the signals of the plurality of combined lights a difference, the correcting means for generating a signal obtained by correcting the difference in the depth direction of the inspection object by the configuration of the said optical system sensor, the corrected signal or al of the plurality of combined lights And generating means for generating a cross-sectional image perpendicular to the measurement light of the inspection object.

本発明によれば、複数の測定光を用いて得られた複数の合成光の信号から断面画像を取得する断層撮像装置において、断層撮像装置内の光学系により生じる断面画像内の相違を目立ちにくくすることが出来る。   According to the present invention, in a tomographic imaging apparatus that acquires a cross-sectional image from a plurality of combined light signals obtained using a plurality of measurement lights, differences in the cross-sectional image caused by the optical system in the tomographic imaging apparatus are hardly noticeable. I can do it.

本発明の実施形態を説明する図である。It is a figure explaining embodiment of this invention. 第一の実施形態における装置構成を説明する図である。It is a figure explaining the apparatus structure in 1st embodiment. 第一の実施形態における分光器を説明する図である。It is a figure explaining the spectrometer in 1st embodiment. 第一の実施形態における模型眼の(a)2次元強度像、(b)領域をまたぐ断層像である。(A) Two-dimensional intensity image of model eye in first embodiment, (b) Tomographic image straddling region. 第一の実施形態における信号処理工程を説明する図である。It is a figure explaining the signal processing process in 1st embodiment. 第二の実施形態における断層像の3次元配置を説明する図である。It is a figure explaining the three-dimensional arrangement | positioning of the tomogram in 2nd embodiment. 第三の実施形態における(a)信号処理工程、(b)波長フィルタを示す図である。It is a figure which shows the (a) signal processing process in 3rd embodiment, and the (b) wavelength filter. 第三の実施形態における2次元強度像の(a)フィルタのない場合、(b)深さフィルタを用いる場合、(c)光フィルタを用いる場合を示す図である。It is a figure which shows the case where there is no (a) filter of the two-dimensional intensity image in 3rd embodiment, (b) When using a depth filter, (c) When using an optical filter.

本実施形態に係る光干渉断層撮像装置は、複数の測定光を測定光路を介して被検査物に照射し、その戻り光は測定光路を介して検出位置に導かれる。測定光は、スキャナによって被検査物を走査することができる。参照光は、参照光路を介して検出位置に導かれる。検出位置に導かれた戻り光と参照光は合成光としてセンサによって検出される。参照光路にはミラーが配置されており、ステージによってコヒーレンスゲートの位置を調整することができる。尚、以下の各構成における処理は、コンピュータが代替装置として機能することにより記録媒体に格納されたコンピュータプログラムを読み取り、各処理を行ってもよい。   The optical coherence tomography apparatus according to the present embodiment irradiates a test object with a plurality of measurement lights via a measurement optical path, and the return light is guided to a detection position via the measurement optical path. The measuring light can scan the inspection object with a scanner. The reference light is guided to the detection position via the reference light path. The return light and the reference light guided to the detection position are detected as combined light by the sensor. A mirror is arranged in the reference optical path, and the position of the coherence gate can be adjusted by the stage. The processing in each of the following configurations may be performed by reading a computer program stored in a recording medium when the computer functions as an alternative device.

(第一の実施形態)
以下、第一の実施形態について、図を用いて詳細に説明する。本実施形態は、複数の測定光を用いるOCT装置であって、分光器の構成によって発生する特性の相違による画像の接続部分を目立ちにくくする。
(First embodiment)
Hereinafter, the first embodiment will be described in detail with reference to the drawings. The present embodiment is an OCT apparatus that uses a plurality of measurement lights, and makes a connection portion of an image less noticeable due to a difference in characteristics generated by the configuration of a spectrometer.

図2は、本実施形態における光断層画像装置の構成を示す図である。OCT装置200は、図2に示されるように、全体としてマイケルソン干渉系を構成している。   FIG. 2 is a diagram illustrating a configuration of the optical tomographic image apparatus according to the present embodiment. As shown in FIG. 2, the OCT apparatus 200 forms a Michelson interference system as a whole.

(光学系)
光源201から出射した光である出射光204はシングルモードファイバ210に導かれて光カプラ256に入射し、光カプラ256にて第1の光路と第2の光路と第3の光路の3つの光路を通る出射光204−1〜3に分割される。さらに、この3つの出射光204−1〜3のそれぞれは、偏光コントローラ253−1を通過し、光カプラ231−1〜3にて参照光205−1〜3と測定光206−1〜3とに分割される。このように分割された3つの測定光206−1〜3は、観察対象である被検眼207における網膜227のそれぞれの測定個所によって反射あるいは散乱された戻り光208−1〜3となって戻される。そして、光カプラ231−1〜3によって、参照光路を経由してきた参照光205−1〜3と合成され合成光242−1〜3となる。合成光242−1〜3は、透過型回折格子241によって波長毎に分光され、ラインセンサ239に入射される。ラインセンサ239はセンサ素子毎に各波長の光強度を電圧に変換し、コンピュータ225はその値に基づいて、被検眼207の断層像を生成する。
(Optical system)
Outgoing light 204, which is light emitted from the light source 201, is guided to the single mode fiber 210 and enters the optical coupler 256, and the optical coupler 256 uses the three optical paths of the first optical path, the second optical path, and the third optical path. Is divided into outgoing lights 204-1 through 204-1. Further, each of the three outgoing lights 204-1 to 204-3 passes through the polarization controller 253-1, and the optical couplers 231-1 to 231-3 reference light 205-1 to measurement light 206-1 to 206-1. It is divided into. The three measurement beams 206-1 to 206-3 divided in this way are returned as return beams 208-1 to 208-3 reflected or scattered by the respective measurement locations of the retina 227 in the eye 207 to be observed. . Then, the optical couplers 231-1 to 231-3 combine with the reference beams 205-1 to 205-1 that have passed through the reference beam path to become combined beams 242-1 to 242-3. The combined lights 242-1 to 242-3 are spectrally separated for each wavelength by the transmission diffraction grating 241 and are incident on the line sensor 239. The line sensor 239 converts the light intensity of each wavelength into a voltage for each sensor element, and the computer 225 generates a tomographic image of the eye 207 to be examined based on the value.

ここで、光源201について説明する。光源201は代表的な低コヒーレント光源であるSLD(Super Luminescent Diode)である。波長は眼を測定することを鑑みると、近赤外光が適する。さらに波長は、得られる断層像の横方向の分解能に影響するため、なるべく短波長であることが望ましく、ここでは中心波長840nm、波長幅50nmとする。観察対象の測定部位によっては、他の波長を選んでも良い。光源の種類は、ここではSLDを選択したが、低コヒーレント光が出射できればよく、ASE(Amplified Spontaneous Emission)等も用いることができる。   Here, the light source 201 will be described. The light source 201 is an SLD (Super Luminescent Diode) which is a typical low-coherent light source. In consideration of measuring the eye, near-infrared light is suitable for the wavelength. Furthermore, since the wavelength affects the resolution in the lateral direction of the obtained tomographic image, it is desirable that the wavelength be as short as possible. Here, the center wavelength is 840 nm and the wavelength width is 50 nm. Other wavelengths may be selected depending on the measurement site to be observed. As the type of light source, SLD is selected here, but it is only necessary to emit low-coherent light, and ASE (Amplified Spontaneous Emission) can also be used.

次に、参照光205の参照光路について説明する。光カプラ231−1〜3によって分割された3つの参照光205−1〜3のそれぞれは、偏光コントローラ253−2を通過し、レンズ235−1にて略平行光となって、出射される。次に、参照光205−1〜3は分散補償用ガラス215を通過し、レンズ235−2にて、ミラー214に集光される。そして、参照光205−1〜3はミラー214にて方向を変え、再び光カプラ231−1〜3に向かう。参照光205−1〜3は光カプラ231−1〜3を通過し、ラインセンサ239に導かれる。なお、分散補償用ガラス215は被検眼207および走査光学系を測定光206が往復した時の分散を、参照光205に対して補償するものである。なお、日本人の平均的な眼球の直径として代表的な値を想定し23mmとする。さらに、217−1は電動ステージであり、矢印で図示している方向に移動することができ、参照光205の光路長を、調整することができる。また、電動ステージ217−1はコンピュータ225により制御される。なお、本実施例においては、ミラー214や電動ステージ217−1および分散補償用ガラス215を、3つの光路で同じのものを使用したが、それぞれ別々の構成としても良い。   Next, the reference light path of the reference light 205 will be described. Each of the three reference lights 205-1 to 205-1 to 203-1, which is divided by the optical couplers 231-1 to 231-1, passes through the polarization controller 253-2 and is emitted as substantially parallel light by the lens 235-1. Next, the reference beams 205-1 to 205-2 pass through the dispersion compensation glass 215, and are collected on the mirror 214 by the lens 235-2. Then, the directions of the reference beams 205-1 to 205-1 to 3 are changed by the mirror 214 and travel again toward the optical couplers 231-1 to 231-1. The reference beams 205-1 to 203-1 are passed through the optical couplers 231-1 to 231-1 and guided to the line sensor 239. The dispersion compensating glass 215 compensates the reference light 205 for dispersion when the measurement light 206 reciprocates through the eye 207 and the scanning optical system. A typical value is assumed to be 23 mm for the average Japanese eyeball diameter. Furthermore, 217-1 is an electric stage, which can move in the direction shown by the arrow, and can adjust the optical path length of the reference beam 205. The electric stage 217-1 is controlled by the computer 225. In the present embodiment, the mirror 214, the electric stage 217-1, and the dispersion compensation glass 215 are the same in the three optical paths, but may have different configurations.

次に、測定光206の測定光路について説明する。光カプラ231−1〜3によって分割された測定光206−1〜3のそれぞれは、偏光コントローラ253−4を通過し、レンズ220−3にて、略平行光となって出射され、走査光学系を構成するXYスキャナ219のミラーに入射される。ここでは、簡単のため、XYスキャナ219は一つのミラーとして記したが、実際にはXスキャン用ミラーとYスキャン用ミラーとの2枚のミラーが近接して配置され、網膜227上を光軸に垂直な方向にラスタースキャンするものである。また、測定光206−1〜3のそれぞれの中心はXYスキャナ219のミラーの回転中心とほぼ一致するようにレンズ220−1、3等が調整されている。レンズ220−1、220−2は測定光206−1〜3が網膜227を走査するための光学系であり、測定光206を角膜226の付近を支点として、網膜227をスキャンする役割がある。測定光206−1〜3はそれぞれ網膜上の任意の位置に結像するように構成されている。   Next, the measurement optical path of the measurement light 206 will be described. Each of the measurement lights 206-1 to 206-3 divided by the optical couplers 231-1 to 231-3 passes through the polarization controller 253-4, and is emitted as substantially parallel light by the lens 220-3. Is incident on the mirror of the XY scanner 219 constituting the. Here, for the sake of simplicity, the XY scanner 219 is described as a single mirror, but in reality, two mirrors, an X scan mirror and a Y scan mirror, are arranged close to each other, and an optical axis is placed on the retina 227. Raster scan in a direction perpendicular to Further, the lenses 220-1, 3 and the like are adjusted so that the respective centers of the measuring beams 206-1 to 206-3 are substantially coincident with the rotation center of the mirror of the XY scanner 219. The lenses 220-1 and 220-2 are optical systems for the measurement light 206-1 to 206-3 to scan the retina 227, and have a role of scanning the retina 227 with the measurement light 206 near the cornea 226 as a fulcrum. The measuring beams 206-1 to 206-3 are each configured to form an image at an arbitrary position on the retina.

また、217−2は電動ステージであり、矢印で図示している方向に移動することができ、付随するレンズ220−2の位置を、調整することができる。レンズ220−2の位置を調整することで、被検眼207の網膜227の所望の層に測定光206−1〜3のそれぞれを集光し、観察することができる。測定光206−1〜3は被検眼207に入射されると、網膜227からの反射や散乱により戻り光208−1〜3となり、光カプラ231−1〜3を通過し、ラインセンサ239に導かれる。なお、電動ステージ217−2はコンピュータ225により制御される。以上の構成をとることにより、3つの測定光を同時にスキャンすることができる。   Reference numeral 217-2 denotes an electric stage which can be moved in the direction indicated by the arrow, and the position of the associated lens 220-2 can be adjusted. By adjusting the position of the lens 220-2, each of the measurement lights 206-1 to 206-3 can be condensed and observed on a desired layer of the retina 227 of the eye 207 to be examined. When the measurement light 206-1 to 206-1 is incident on the eye 207 to be examined, the return light 208-1 to 208-3 is reflected or scattered from the retina 227, passes through the optical couplers 231-1 to 231-3, and is guided to the line sensor 239. It is burned. The electric stage 217-2 is controlled by the computer 225. By adopting the above configuration, three measurement beams can be scanned simultaneously.

次に、検出系の構成について説明する。網膜227にて反射や散乱された戻り光208−1〜3と参照光205−1〜3とは光カプラ231−1〜3により合成される。そして、合成された合成光242−1〜3は分光器に入射し、スペクトルが得られる。これらのスペクトルに対し、コンピュータ225が信号処理を行う。   Next, the configuration of the detection system will be described. The return lights 208-1 to 208-3 reflected and scattered by the retina 227 and the reference lights 205-1 to 205-1 are combined by the optical couplers 231-1 to 231-3. Then, the synthesized light beams 242-1 to 242-3 are incident on the spectroscope to obtain a spectrum. The computer 225 performs signal processing on these spectra.

(分光器)
ここで、分光器について具体的に説明する。この構成では、複数の合成光を一個のラインセンサで処理するため、2次元センサに比べて低コスト、制御の簡略化を実現することができる。
(Spectrometer)
Here, the spectroscope will be specifically described. In this configuration, since a plurality of combined lights are processed by one line sensor, the cost can be reduced and the control can be simplified as compared with the two-dimensional sensor.

図3に、図2に示した分光器の部分を詳細に説明するために、3つの合成光(242−1〜3)が分光器に入射した場合の構成を示す。ファイバ端260−1〜3がお互いに離れて配置してあり、ファイバ端260−1〜3からそれぞれ合成光242−1〜3が、分光器に入射する。この際、合成光242−1〜3がレンズ235の主面に垂直に入射するように、即ちテレセントリックになるようにファイバ端260−1〜3の向きが予め調整されている。レンズ235で3つの合成光242−1〜3はそれぞれ略平行光になり、3つの合成光242−1〜3はともに透過型回折格子241に入射する。光量の損失を低減するために、透過型回折格子241は光学系の瞳近傍に配置され、透過型回折格子241の表面に絞りを設ける必要がある。また透過型回折格子241はレンズ235の主面に対して傾いて配置されるため、透過型回折格子241の表面における合成光242−1〜3の各光束は楕円形となる。そのため透過型回折格子241の表面に設けた絞りは楕円形にする必要がある。透過型回折格子241で回折された合成光242−1〜3は、それぞれレンズ243に入射する。ここで図3における回折した合成光242−1〜3は、中心波長のみの光束を示しており、その他の波長の回折した合成光は簡単のため主光線のみを記載している。レンズ243に入射したそれぞれの回折した合成光242−1〜3は、ラインセンサ239上に結像され、矢印261−1〜3で示した範囲にそれぞれ分光スペクトルが観察される。表1は、本実施形態で使用する測定光の波長の上限と下限および中心波長の840nmについて、各合成光と回折格子とラインセンサの関係(ラインセンサ上にいおける各合成光の分布特性)をまとめたものである。透過型回折格子241への入射角の違いにより回折角が異なり、その結果結像位置が合成光によって異なることがわかる。さらに1画素あたり12μmのセンサ素子で検出するときの画素数がそれぞれの合成光によって変わることとなる。   FIG. 3 shows a configuration when three synthesized lights (242-1 to 3) are incident on the spectroscope in order to explain in detail the part of the spectroscope shown in FIG. 2. The fiber ends 260-1 to 260-3 are arranged away from each other, and the combined lights 242-1 to 242-3 are incident on the spectroscope from the fiber ends 260-1 to 260-3, respectively. At this time, the directions of the fiber ends 260-1 to 260-1 are adjusted in advance so that the combined beams 242-1 to 242-3 are perpendicularly incident on the main surface of the lens 235, that is, telecentric. With the lens 235, the three combined lights 242-1 to 242-3 become substantially parallel lights, and the three combined lights 242-1 to 242-3 are all incident on the transmissive diffraction grating 241. In order to reduce the loss of the amount of light, the transmissive diffraction grating 241 is disposed near the pupil of the optical system, and it is necessary to provide a stop on the surface of the transmissive diffraction grating 241. In addition, since the transmissive diffraction grating 241 is disposed to be inclined with respect to the main surface of the lens 235, each light beam of the combined lights 242-1 to 242-3 on the surface of the transmissive diffraction grating 241 has an elliptical shape. Therefore, the diaphragm provided on the surface of the transmissive diffraction grating 241 needs to be elliptical. The combined lights 242-1 to 242-3 diffracted by the transmissive diffraction grating 241 are incident on the lens 243, respectively. Here, the diffracted synthesized lights 242-1 to 242-3 in FIG. 3 show light beams having only the center wavelength, and the diffracted synthesized lights of other wavelengths are shown only as principal rays for simplicity. Each of the diffracted combined lights 242-1 to 242-3 incident on the lens 243 is imaged on the line sensor 239, and a spectrum is observed in the range indicated by the arrows 261-1 to 261-3. Table 1 shows the relationship between each synthesized light, diffraction grating, and line sensor (distribution characteristics of each synthesized light on the line sensor) for the upper and lower limits of the wavelength of the measurement light used in this embodiment and the center wavelength of 840 nm. Is a summary. It can be seen that the diffraction angle varies depending on the incident angle to the transmission diffraction grating 241, and as a result, the imaging position varies depending on the combined light. Further, the number of pixels when detecting with a sensor element of 12 μm per pixel varies depending on each combined light.

Figure 0005637720
Figure 0005637720

(信号処理)
図1を用いて実施例1における信号処理工程を説明する。
(Signal processing)
The signal processing process in Example 1 is demonstrated using FIG.

工程A1で、測定を開始する。この状態は、OCT装置200が起動されていて、後述する被検眼が測定位置に配置されている。さらに測定に必要な調整が操作者によって行われ、測定が開始された状態である。   In step A1, measurement is started. In this state, the OCT apparatus 200 is activated, and an eye to be examined which will be described later is arranged at the measurement position. Further, the adjustment necessary for the measurement is performed by the operator, and the measurement is started.

工程A2で、複数の合成光の信号を取得する。ここでは、3本の測定光206−1〜3をXYスキャナ219で走査することにより得られる信号をラインセンサ239で検出し、検出したデータをコンピュータ225が第一の取得手段として機能して取得する。図2中で示した座標系において、x方向には例えば512ライン、y方向には例えば200ライン走査するものとする。ただし、y方向は、重なり部分を除けば3本の測定光で500ラインになるように調整してある。ラインセンサ139には3本の測定光による合成光242−1〜3が入射し、一次元配列のA−Scanデータ(4096画素)が取得される。そしてx方向の連続する512ライン分を、2次元配列のB−Scanデータを単位として保存する(4096×512画素、12ビット)。走査が終了すればこのデータが1測定につき200個保存されることになる。   In step A2, a plurality of combined light signals are acquired. Here, a signal obtained by scanning the three measuring beams 206-1 to 206-3 with the XY scanner 219 is detected by the line sensor 239, and the detected data is acquired by the computer 225 functioning as a first acquisition unit. To do. In the coordinate system shown in FIG. 2, for example, 512 lines are scanned in the x direction and 200 lines are scanned in the y direction. However, the y direction is adjusted to be 500 lines with three measurement lights except for the overlapping portion. The line sensor 139 receives the combined light 242-1 to 242-3 by the three measurement lights, and acquires one-dimensional array of A-Scan data (4096 pixels). Then, 512 continuous lines in the x direction are stored in units of two-dimensional B-Scan data (4096 × 512 pixels, 12 bits). When scanning is completed, 200 pieces of this data are stored per measurement.

このようにして測定した模型眼の画像を図4に示す。図4に示す画像は、ファイバの長さの機差を補正するコヒーレンスゲートの位置の調整が行われていない状態で撮像した画像ある。なお、模型眼とは、生体眼同様の光学特性、大きさ、容量を持つガラス球である。模型眼の眼底部には、同心円および放射状の模様が配置されている。また、コヒーレンスゲートとは、測定光路において、参照光路と光学距離が一致する位置のことであり、ミラー214の位置を移動させることによってコヒーレンスゲートの位置を調整することができる。   An image of the model eye thus measured is shown in FIG. The image shown in FIG. 4 is an image taken in a state where the position of the coherence gate that corrects the mechanical difference in the fiber length is not adjusted. The model eye is a glass sphere having optical characteristics, size, and capacity similar to those of a living eye. Concentric circles and radial patterns are arranged on the fundus of the model eye. The coherence gate is a position in the measurement optical path where the optical distance coincides with the reference optical path, and the position of the coherence gate can be adjusted by moving the position of the mirror 214.

図4(a)は2次元強度像、図4(b)は3本の測定領域をまたぐ1ライン目の断層像である。3本の測定光それぞれに対して白抜きの矢印で示される幅の第1の領域401、第2の領域402、第3の領域403がある。そして、それらの境界に点線で囲まれた重なり部分404、405が存在する。   4A is a two-dimensional intensity image, and FIG. 4B is a tomographic image of the first line across three measurement regions. There are a first region 401, a second region 402, and a third region 403 having a width indicated by a white arrow for each of the three measurement beams. Then, there are overlapping portions 404 and 405 surrounded by dotted lines at their boundaries.

工程A3で、OCT装置200内(断層撮像装置内)の特性に応じた信号処理を行う。前述の通り、OCT装置200の特性は、ラインセンサ139上における合成光の分布特性に影響する。よって、コンピュータ225は、合成光の分布特性を取得する第二の取得手段としても機能する。ここで、2次元強度像(測定光の照射方向に対して垂直な断面画像)について説明する。OCT装置の場合、分光器で検出される光の強度Idetは参照光および戻り光の電場、それぞれEr、Es、波数kを用いて次のように表わされる。 In step A3, signal processing corresponding to the characteristics in the OCT apparatus 200 (in the tomographic imaging apparatus) is performed. As described above, the characteristics of the OCT apparatus 200 affect the distribution characteristics of the combined light on the line sensor 139. Therefore, the computer 225 also functions as a second acquisition unit that acquires the distribution characteristics of the combined light. Here, a two-dimensional intensity image (a cross-sectional image perpendicular to the irradiation direction of the measurement light) will be described. In the case of the OCT apparatus, the intensity I det of light detected by the spectroscope is expressed as follows using the electric fields of reference light and return light, Er, Es, and wave number k, respectively.

Figure 0005637720
Figure 0005637720

右辺の第1項が参照光の自己相関成分I、第2項が参照光と戻り光の相互相関でいわゆる干渉成分Irs、第3項が戻り光の自己相関成分Iとなる。SLO装置は、戻り光を検出するため、第3項の波数に対する積分がSLO像に相当する。一方OCT装置では、第2項の干渉成分から断層像を生成する。また、第3項は第1項、第2項に比べて小さいため、ラインセンサを用いるOCT装置で検出することは難しい。しかし、第2項の干渉成分を積分することでSLO像に相当する2次元強度像を作る。図5を用いてこの信号処理を詳しく説明する。 Autocorrelation component of the first term of the right side is the reference light I r, the second term is called the interference component I rs in the cross-correlation of the reference light and return light, the third term is the return light of the autocorrelation component I s. Since the SLO device detects the return light, the integration with respect to the wave number of the third term corresponds to the SLO image. On the other hand, the OCT apparatus generates a tomographic image from the interference component of the second term. Further, since the third term is smaller than the first and second terms, it is difficult to detect with the OCT apparatus using the line sensor. However, a two-dimensional intensity image corresponding to the SLO image is created by integrating the interference component of the second term. This signal processing will be described in detail with reference to FIG.

工程S1−1で、各合成光の波形を切り出し、整形する。まず、各A−Scanデータにゼロの要素を追加して全体として2のn乗のデータ、例えば2048にする。こうすることによって、断層像にした時のピクセル分解能を向上させることができる。   In step S1-1, the waveform of each synthesized light is cut out and shaped. First, a zero element is added to each A-Scan data to make 2 n data as a whole, for example, 2048. By doing so, the pixel resolution when the tomographic image is obtained can be improved.

工程S1−2で、ノイズ除去を行う。ノイズの除去は参照光の成分および干渉成分に含まれる固定パターンを除去する。ここでは、あらかじめ取得した参照光の成分で引き算を行ってもよいし、B−Scanデータの各波長の平均値を用いてもよい。これによって数式1の第2項の成分を抜き出すことができる。   In step S1-2, noise is removed. Noise removal removes the fixed pattern included in the reference light component and the interference component. Here, subtraction may be performed with the reference light component acquired in advance, or an average value of each wavelength of the B-Scan data may be used. As a result, the component of the second term of Formula 1 can be extracted.

工程S1−3で、断層像を生成する。まず各測定光のA−Scanデータは波長に対して等間隔なデータであるため、波長波数変換を行い、波数に対して等間隔なデータにする。次に、このデータに離散フーリエ変換を施し、深さに対する強度データを得ることができる。   In step S1-3, a tomographic image is generated. First, since the A-Scan data of each measurement light is data that is equally spaced with respect to the wavelength, wavelength wave number conversion is performed to obtain data that is equally spaced with respect to the wave number. Next, this data can be subjected to discrete Fourier transform to obtain intensity data with respect to depth.

ただし、この分光器においては、各検出光のラインセンサに結像する領域が異なるため、一画素あたりの数値的な深さ方向の分解能および深さ方向の減衰特性(Roll−OFF)が異なる。そのため、z方向にリサンプリングを行って深さ方向の分解能を揃える。ここでは、一画素あたりの基準となる距離は第二の測定光(測定領域が中央部の測定光)の分解能とする。さらに、深さ方向の減衰特性をあわせるための補正を行う。ここでは、すべての測定光の減衰特性をあらかじめ測定またはシュミレーションして保持しておき、中央の測定光の強度に換算することによって補正を行う。当然、分光器による特性の差異だけでなく、測定経路による分散なども適宜補正する。   However, in this spectrometer, since the regions of the detection light that are imaged on the line sensors are different, the numerical resolution in the depth direction and the attenuation characteristics in the depth direction (Roll-OFF) per pixel are different. Therefore, resampling is performed in the z direction to make the resolution in the depth direction uniform. Here, the reference distance per pixel is the resolution of the second measurement light (measurement light having a central measurement area). Further, correction is performed to match the attenuation characteristics in the depth direction. Here, the attenuation characteristics of all measurement lights are measured or simulated in advance, and correction is performed by converting them to the intensity of the central measurement light. Naturally, not only the difference in characteristics due to the spectroscope, but also the dispersion due to the measurement path, etc. are corrected as appropriate.

工程S1−4で、深さフィルタを施す。つまり、z方向にリサンプリングを行ったため、各測定光のB−Scan像の配列の長さが異なっている状態である。これを深さフィルタによって同じ長さを切り出す。このようにすることによって、断層像を得ることができる。さらに、各測定領域において、ノイズや透過率が異なることによる画像のダイナミックレンジが同じようになるように調整する。つまり、境界領域404、405において異なる測定光で測定した同じ位置のB−Scanの断層像が同じになるように、各測定領域全体の画像を調整する。こうして得られた断層像は、測定光によらず同様の深さ分解能および深さ方向の減衰特性を持つことになる。   In step S1-4, a depth filter is applied. That is, since resampling is performed in the z direction, the lengths of the B-Scan image arrays of the respective measurement lights are different. This is cut out to the same length by a depth filter. In this way, a tomographic image can be obtained. Further, in each measurement region, adjustment is made so that the dynamic range of the image due to different noise and transmittance is the same. That is, the entire image of each measurement region is adjusted so that the B-Scan tomographic images at the same position measured with different measurement lights in the boundary regions 404 and 405 are the same. The tomogram obtained in this way has the same depth resolution and attenuation characteristics in the depth direction regardless of the measurement light.

工程A4で、各領域の2次元強度像を得る。ここでは、工程S3で得たB−Scanの断層像の信号をライン毎に積分することで、各領域200×512の2次元強度像となる。   In step A4, a two-dimensional intensity image of each region is obtained. Here, the signal of the B-Scan tomographic image obtained in step S3 is integrated for each line, thereby obtaining a two-dimensional intensity image of each region 200 × 512.

工程A5で、3本の測定光で取得した全体の2次元強度像を得る。ここでは、重なり領域を排除し、各画像のXY方向の位置を合せ、必要に応じてコントラストの調整を行い、全体の2次元強度像を得る。   In step A5, an entire two-dimensional intensity image acquired with the three measuring beams is obtained. Here, the overlapping area is eliminated, the positions of the images in the XY directions are aligned, and the contrast is adjusted as necessary to obtain an entire two-dimensional intensity image.

このように装置特性に応じた信号処理が行われたOCT装置を用いて、被検眼の測定を行う。   Thus, the eye to be examined is measured using the OCT apparatus in which the signal processing according to the apparatus characteristics is performed.

以上のように異なる測定光であっても、境界領域における同じ位置の断層像を同じにすることで、分光器の特性を主とする画像間の相違を少なくし、接続部分の目立たない2次元強度像を得ることが可能になる。   Even in the case of different measurement lights as described above, by making the tomographic images at the same position in the boundary region the same, the difference between the images mainly due to the characteristics of the spectroscope is reduced, and the two-dimensional inconspicuous connection portion. An intensity image can be obtained.

当然ながら、装置特性に応じた信号処理が成された3次元の断層像のデータも生成され、各領域をまたぐXZ平面、各XY平面も接続部の目立たない画像が得られる。   Naturally, data of a three-dimensional tomographic image that has been subjected to signal processing in accordance with the device characteristics is also generated, and an image in which the XZ plane and each XY plane straddling each region are not conspicuous is obtained.

(第二の実施形態)
第二の実施形態について説明する。ここでは、主に第一の実施形態との差異について説明する。本実施形態は、各測定光によってコヒーレンスゲートの位置を変えて測定する場合である。つまり、OCT測定においては、減衰特性によって、コヒーレンスゲートが被検査物の測定位置に近いほど強い信号強度が得られる。そのため、湾曲していたり、傾いていたりする眼底を測定する場合は、それぞれの測定光のコヒーレンスゲートの位置を最適に配置することが望ましい。その結果、2次元強度像を作った際には各領域の差が目立つようになる。なお、実施例1は模型眼を使用した例を示したが、本実施形態においては、被検眼を実際に測定している。
(Second embodiment)
A second embodiment will be described. Here, differences from the first embodiment will be mainly described. In the present embodiment, measurement is performed by changing the position of the coherence gate with each measurement light. That is, in the OCT measurement, due to the attenuation characteristic, the stronger the signal intensity is obtained the closer the coherence gate is to the measurement position of the object to be inspected. Therefore, when measuring a fundus that is curved or tilted, it is desirable to optimally arrange the position of the coherence gate of each measurement light. As a result, when creating a two-dimensional intensity image, the difference between the regions becomes noticeable. In addition, although Example 1 showed the example which used the model eye, in this embodiment, the eye to be examined is actually measured.

装置構成の差異は、電動ステージ217−1上の参照ミラーがそれぞれの測定光に対して独立に制御できるようになっていることである。これによってコヒーレンスゲートの位置をそれぞれ独立に調整することができる。   The difference in the apparatus configuration is that the reference mirror on the electric stage 217-1 can be controlled independently for each measurement light. As a result, the position of the coherence gate can be independently adjusted.

次に、図1、図5を用いて信号処理工程を説明するが、実施例1との差異について説明する。   Next, the signal processing process will be described with reference to FIGS. 1 and 5, but differences from the first embodiment will be described.

工程A2で、複数の合成光を取得する。まず、測定領域ごとの深さ位置を設定する。この設定方法は、あらかじめアライメント時などに縦および横の断層像を取得し、その情報をもとに決定する。なお、アライメントについては一般的であるのでその説明は省略する。その後、各領域の測定を行う。ここでは、第1の領域と第3の領域における、コヒーレンスゲートの位置が同じで、第2の領域のコヒーレンスゲートの位置がその他に比べて網膜に近い位置ある場合とする。   In step A2, a plurality of combined lights are acquired. First, the depth position for each measurement region is set. In this setting method, vertical and horizontal tomographic images are acquired in advance at the time of alignment or the like and determined based on the information. Since the alignment is general, the description thereof is omitted. Thereafter, each region is measured. Here, it is assumed that the position of the coherence gate is the same in the first region and the third region, and the position of the coherence gate in the second region is closer to the retina than the others.

工程A3で、装置特性に応じた信号処理を行う。ここでは、コヒーレンスゲートが各測定光によって違う場合を説明する。
工程S1−1で、波形整形を行う。
工程S1−2で、ノイズ除去を行う。
In step A3, signal processing according to the device characteristics is performed. Here, a case where the coherence gate is different for each measurement light will be described.
In step S1-1, waveform shaping is performed.
In step S1-2, noise is removed.

工程S1−3で、断層像生成を行う。まず各測定光のA−Scanデータに対し、波長波数変換を行い、離散フーリエ変換を施し深さに対する強度データを得る。ここでは、それぞれの測定領域に対し、同等の分光器を用いているため、深さ分解能およびコヒーレンスゲートからの減衰特性は互いに同じであるとする。しかしながら、コヒーレンスゲートの位置が異なるため、コヒーレンスゲートの位置が一番遠い画像におけるコヒーレンスゲートの位置に合わせて、画像を作る。なお、コヒーレンスゲートの位置の判断は、参照ミラーの位置により判断すればよい。   In step S1-3, tomographic image generation is performed. First, wavelength wave number conversion is performed on the A-Scan data of each measurement light, and discrete Fourier transform is performed to obtain intensity data with respect to depth. Here, since the same spectrometer is used for each measurement region, it is assumed that the depth resolution and the attenuation characteristics from the coherence gate are the same. However, since the position of the coherence gate is different, an image is created in accordance with the position of the coherence gate in the image farthest from the coherence gate. Note that the position of the coherence gate may be determined based on the position of the reference mirror.

ここで、図6に各領域のB−Scanの断層像の相対的な位置関係を模式的に示す。各測定光のB−Scan像は、点線で示された第1の断層像601、実線で示された第2の断層像602、破線で示された第3の断層像603である。第1の断層像と第3の断層像のコヒーレンスゲートの位置は第2の断層像のコヒーレンスゲートの位置より被検査物から遠い。その結果、それぞれ第1の追加データ604、第3の追加データは、深い位置に追加される。一方、第2の追加データ605は浅い位置に追加される。追加されるデータは、例えば、ノイズレベルの平均やゼロである。こうすることにより、すべての領域おける深さ方向の範囲が一致する。そして、深さ方向の減衰特性は、各領域において同じになるように補正を行う。この結果、同じ層のコントラストは各層で連続的になる。   Here, FIG. 6 schematically shows the relative positional relationship between the B-Scan tomographic images in each region. The B-Scan image of each measurement light is a first tomographic image 601 indicated by a dotted line, a second tomographic image 602 indicated by a solid line, and a third tomographic image 603 indicated by a broken line. The position of the coherence gate of the first tomographic image and the third tomographic image is farther from the inspection object than the position of the coherence gate of the second tomographic image. As a result, the first additional data 604 and the third additional data are added at deep positions, respectively. On the other hand, the second additional data 605 is added at a shallow position. The added data is, for example, an average noise level or zero. By doing so, the ranges in the depth direction in all regions coincide. Then, the attenuation characteristics in the depth direction are corrected so as to be the same in each region. As a result, the contrast of the same layer is continuous in each layer.

工程S1−4で、深さフィルタを行う。ただし、ここではすべての領域における画素数が同じになるように調整しているため、特定の層を抽出するような場合以外は必要ない。   In step S1-4, a depth filter is performed. However, since the number of pixels in all the regions is adjusted to be the same here, it is not necessary except when a specific layer is extracted.

工程A4で、各領域の2次元強度像を得る。ここでは、工程S3で得たB−Scanの断層像の信号をライン毎に積分することで、各領域200×512の2次元強度像となる。   In step A4, a two-dimensional intensity image of each region is obtained. Here, the signal of the B-Scan tomographic image obtained in step S3 is integrated for each line, thereby obtaining a two-dimensional intensity image of each region 200 × 512.

工程A5で、3本の測定光で取得した全体の2次元強度像を得る。ここでは、重なり領域を排除し、各画像のXY方向の位置を合せ、全体の2次元強度像を得ることができる。   In step A5, an entire two-dimensional intensity image acquired with the three measuring beams is obtained. Here, the overlapping area is eliminated, and the positions of the images in the X and Y directions can be matched to obtain an entire two-dimensional intensity image.

以上のようにすることによって、コヒーレンスゲートの位置による2次元強度像の相違を少なくし、接続部分の目立たない2次元強度像を作ることができる。   By doing so, it is possible to reduce the difference in the two-dimensional intensity image depending on the position of the coherence gate and to create a two-dimensional intensity image in which the connected portion is not conspicuous.

当然、3次元の断層像のデータも生成され、各領域をまたぐXZ平面、各XY平面も接続部の目立たない画像が得られる。   Naturally, data of a three-dimensional tomographic image is also generated, and an image in which the XZ plane straddling each region and each XY plane are inconspicuous is obtained.

(第三の実施形態)
第三の実施形態について説明する。ここでは、主に第一の実施形態との差異について説明する。これは、光源を測定領域ごとに用意する場合である。つまり、SLD光源によっては光量が十分でない場合があり、ひとつの光源からの光を分岐して、複数の測定領域を同時に照射できない場合がある。一方、複数の光源を用いた場合、同じメーカーの光源であってもスペクトル形状や波長帯域などの特性が異なる。この結果、各領域の2次元強度像に差が出る。
(Third embodiment)
A third embodiment will be described. Here, differences from the first embodiment will be mainly described. This is a case where a light source is prepared for each measurement region. That is, depending on the SLD light source, the amount of light may not be sufficient, and the light from one light source may be branched to irradiate a plurality of measurement regions simultaneously. On the other hand, when a plurality of light sources are used, characteristics such as spectrum shape and wavelength band are different even if the light sources are from the same manufacturer. As a result, a difference appears in the two-dimensional intensity image of each region.

装置構成の差異は、主に光源201がそれぞれ別の3つの光源を用いること、独立で等価な分光器を3つ配置することである。   The difference in apparatus configuration is mainly that the light source 201 uses three different light sources, and three independent and equivalent spectrometers are arranged.

次に、信号処理工程の差異について説明する。図7(a)に図1におけるA3の信号処理工程を示す。ここでは、波長スペクトルおよび帯域が異なる場合の処理について説明する。   Next, the difference in the signal processing process will be described. FIG. 7A shows the signal processing step A3 in FIG. Here, processing when the wavelength spectrum and the band are different will be described.

工程S3−1で、A2の工程からの信号に対し、波長フィルタを施す。図7(b)に波長スペクトルを示す。各測定光で同じ波長帯域を切り出すように調整する。同じ帯域の切り出しは、各分光器にそれぞれの測定光を入れてデータを比較して決定する。ここでは、第2の領域の光源に合うように分光器の切り出し位置を設定する。   In step S3-1, a wavelength filter is applied to the signal from step A2. FIG. 7B shows the wavelength spectrum. Adjustment is performed so as to cut out the same wavelength band for each measurement light. The extraction of the same band is determined by putting each measurement light into each spectrometer and comparing the data. Here, the cutout position of the spectroscope is set so as to match the light source in the second region.

工程S3−2で、波形整形を行う。各光源スペクトルの形状が異なる場合には、各参照光が中央の計測光のスペクトルと同じになるように補正を行う。当然これに限らず、各測定光をそれぞれの参照光で除算をする規格化であってもよい。   In step S3-2, waveform shaping is performed. When the shape of each light source spectrum is different, correction is performed so that each reference light becomes the same as the spectrum of the central measurement light. Of course, the present invention is not limited to this, and standardization in which each measurement light is divided by each reference light may be used.

工程S3−3で、ノイズの除去を行う。これは数式1における干渉光の成分を抜き出す。   In step S3-3, noise is removed. This extracts the component of the interference light in Equation 1.

工程A4で、各領域の2次元強度像を得る。ここでは、工程S3−2で得た干渉光のスペクトルを各画素で2乗平均したのちにライン毎に積分する。その結果、各領域200×512の2次元強度像となる。   In step A4, a two-dimensional intensity image of each region is obtained. Here, the spectrum of the interference light obtained in step S3-2 is square-averaged at each pixel and then integrated for each line. As a result, a two-dimensional intensity image of each region 200 × 512 is obtained.

工程A5で、3本の測定光で取得した全体の2次元強度像を得る。ここでは、重なり領域を排除し、各画像のXY方向の位置を合わせる。さらに、各測定領域において、ノイズや透過率が異なることによる画像のダイナミックレンジが同じようになるように調整し、全体の2次元強度像を得る。   In step A5, an entire two-dimensional intensity image acquired with the three measuring beams is obtained. Here, the overlapping area is excluded and the positions of the images in the XY directions are matched. Further, in each measurement region, adjustment is made so that the dynamic range of the image due to different noise and transmittance is the same, and an entire two-dimensional intensity image is obtained.

以上のように異なる光源の測定光であっても、各測定領域の相違を少なくし、接続部分の目立たない2次元強度像を得ることが可能になる。   As described above, even with measurement light from different light sources, it is possible to reduce the difference between the measurement regions and obtain a two-dimensional intensity image in which the connection portion is not conspicuous.

ここで、図8に処理の違いによる一本の測定光で撮影した眼底の2次元強度像を示す。(a)フィルタを用いない場合、(b)深さフィルタを用いる場合、(c)波長フィルタを用いる場合である。深さフィルタの範囲を積極的に狭めることによって特定領域の層の構造を抜き出すことができる。また、波長フィルタによって特定の波長を強調することができる。例えば、造影剤やマーカーなどに反応する波長を選択することによってそれらの位置を認識することができる。このように、特定の深さ領域に対応する2次元強度像、特定の波長に対応する2次元強度像、さらに断層像を用いることによって、より多くの情報を得ることができる。当然、画面に表示にあたっては、すべてを表示しても、切り換えて表示してもよい。   Here, FIG. 8 shows a two-dimensional intensity image of the fundus imaged with a single measurement light due to a difference in processing. (A) when no filter is used, (b) when a depth filter is used, and (c) when a wavelength filter is used. The layer structure of a specific region can be extracted by actively narrowing the range of the depth filter. A specific wavelength can be emphasized by the wavelength filter. For example, by selecting a wavelength that reacts with a contrast agent or a marker, the position can be recognized. In this way, more information can be obtained by using a two-dimensional intensity image corresponding to a specific depth region, a two-dimensional intensity image corresponding to a specific wavelength, and a tomographic image. Of course, when displaying on the screen, all may be displayed or switched.

以上のように本実施形態によれば、各測定光に対応する光源を個別に用いた場合であっても、接続部分の目立たない2次元強度像を生成することができる。   As described above, according to the present embodiment, it is possible to generate a two-dimensional intensity image in which the connection portion is not conspicuous even when the light sources corresponding to each measurement light are individually used.

また、造影剤やマーカーなどを用いて撮像を行う場合,これらに合わせた波長を選択することにより、造影剤の目的とする部位等の位置の状態を確認できる画像を得ることができる。   When imaging is performed using a contrast agent, a marker, or the like, an image that can confirm the state of the position of a target region or the like of the contrast agent can be obtained by selecting a wavelength according to these.

Claims (7)

複数の測定光を被検査物に照射することで得られる複数の戻り光と参照光とを合成し、当該合成により得られた複数の合成光より、前記被検査物の断面画像を取得する断層撮像装置であって、
光学系を介して前記複数の合成光を検出して、当該複数の合成光の信号を取得するセンサと、
前記複数の合成光の信号間の相違であって、前記光学系と前記センサの構成による前記被検査物の深さ方向の相違を補正した信号を生成する補正手段と、
前記補正された前記複数の合成光の信号から、前記被検査物の前記測定光に対して垂直な断面画像を生成する生成手段とを有することを特徴とする断層撮像装置。
A tomography that combines a plurality of return lights and reference light obtained by irradiating the inspection object with a plurality of measurement lights, and acquires a cross-sectional image of the inspection object from the plurality of combined lights obtained by the combination An imaging device,
A sensor that detects the plurality of combined lights through an optical system and acquires signals of the plurality of combined lights;
Correction means for generating a signal that is a difference between the signals of the plurality of combined lights and that corrects a difference in the depth direction of the inspection object due to the configuration of the optical system and the sensor;
The corrected signal or al of the plurality of the combined light, the tomographic imaging apparatus characterized by having a generating means for generating a vertical cross-sectional image with respect to the measurement light of the object.
前記相違は、前記センサ上における前記複数の合成光それぞれの分解能および減衰特性の少なくともいずれか一つの相違であることを特徴とする請求項1に記載の断層撮像装置。 The tomographic imaging apparatus according to claim 1, wherein the difference is at least one of a resolution and an attenuation characteristic of each of the plurality of combined lights on the sensor. 前記相違は、前記断層撮像装置内の分光器の特性、前記断層撮像装置内の光源の特性、前記複数の合成光ぞれぞれの参照光路の長さの違いとの少なくともいずれか一つに基づく相違であることを特徴とする請求項1に記載の断層撮像装置。 The difference is at least one of a characteristic of a spectroscope in the tomographic imaging apparatus, a characteristic of a light source in the tomographic imaging apparatus, and a difference in length of a reference light path of each of the plurality of combined lights. The tomographic imaging apparatus according to claim 1, wherein the difference is based on the difference . 前記生成手段が、
補正された前記複数の合成光の信号のそれぞれに対応する複数の断面画像を生成し、
前記複数の断面画像のコントラストを調整して、前記断面画像を生成することを特徴とする請求項1に記載の断層撮像装置。
The generating means is
Generating a plurality of cross-sectional images corresponding to each of the corrected composite light signals,
The tomographic imaging apparatus according to claim 1 , wherein the cross-sectional image is generated by adjusting a contrast of the plurality of cross-sectional images .
前記生成手段は、波長スペクトルに基づき、前記複数の測定光の照射方向に対して垂直な面の断面画像を生成することを特徴とする請求項4に記載の断層撮像装置。   The tomographic imaging apparatus according to claim 4, wherein the generation unit generates a cross-sectional image of a plane perpendicular to an irradiation direction of the plurality of measurement lights based on a wavelength spectrum. 複数の測定光を被検査物に照射することで得られる複数の戻り光と参照光とを合成し、当該合成により得られた複数の合成光より、前記被検査物の断面画像を取得する断層撮像装置の制御装置であって、
光学系を介して前記複数の合成光を検出して、当該複数の合成光の信号を取得する取得手段と、
前記複数の合成光の信号間の相違であって、前記光学系と前記センサの構成による前記被検査物の深さ方向の相違を補正した信号を生成する補正手段と、
前記補正された前記複数の合成光の信号から、前記被検査物の前記測定光に対して垂直な断面画像を生成する生成手段とを有することを特徴とする断層撮像装置の制御装置。
A tomography that combines a plurality of return lights and reference light obtained by irradiating the inspection object with a plurality of measurement lights, and acquires a cross-sectional image of the inspection object from the plurality of combined lights obtained by the combination A control device for an imaging device,
Detecting a plurality of combined light through an optical system, a resulting unit preparative you get the signals of the plurality of combined light,
Correction means for generating a signal that is a difference between the signals of the plurality of combined lights and that corrects a difference in the depth direction of the inspection object due to the configuration of the optical system and the sensor;
The corrected signal or al of the plurality of the combined light, the control device of the tomography apparatus characterized by having a generating means for generating a vertical cross-sectional image with respect to the measurement light of the inspection object.
コンピュータを、
複数の測定光を被検査物に照射することで得られる複数の戻り光と参照光とを合成し、当該合成により得られた複数の合成光より、前記被検査物の断面画像を取得する断層撮像装置の制御装置であって、
光学系を介して前記複数の合成光を検出して、当該複数の合成光の信号を取得する取得手段と、
前記複数の合成光の信号間の相違であって、前記光学系と前記センサの構成による前記被検査物の深さ方向の相違を補正した信号を生成する補正手段と、
前記補正された前記複数の合成光の信号から、前記被検査物の前記測定光に対して垂直な断面画像を生成する生成手段とを有することを特徴とする断層撮像装置の制御装置として機能させるためのコンピュータプログラム。
Computer
A tomography that combines a plurality of return lights and reference light obtained by irradiating the inspection object with a plurality of measurement lights, and acquires a cross-sectional image of the inspection object from the plurality of combined lights obtained by the combination A control device for an imaging device,
Detecting a plurality of combined light through an optical system, a resulting unit preparative you get the signals of the plurality of combined light,
Correction means for generating a signal that is a difference between the signals of the plurality of combined lights and that corrects a difference in the depth direction of the inspection object due to the configuration of the optical system and the sensor;
The corrected signal or al of the plurality of the combined light, as a control device for tomographic imaging apparatus characterized by comprising a generating means for generating a vertical cross-sectional image with respect to the measurement light of the inspection object Computer program to make it function.
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