JP5608025B2 - ガス濃度測定方法及びガス濃度測定装置 - Google Patents
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Description
図1は、本発明に係るガス濃度測定装置の概略図である。図2(a)は、本発明に係るガス濃度測定装置の集光部の概略構成図である。図2(b)は、図2(a)に示すA−A線拡大断面図の一例を示す図である。図2(c)は、本発明に係るガス濃度測定装置の集光部の光の焦点とバンドル型光ファイバの一方の端面部との関係を示す概略図である。
ここで、I0は極大透過光量(単位:A.U.)、Iは極小透過光量(単位:A.U.)、Kは特定の温室効果ガス(例えば、二酸化炭素)の吸収係数(単位:cm2)、Cは特定の温室効果ガス(例えば、二酸化炭素)の濃度(単位:molecules・cm-3)、Lは大気圏の厚さ(単位:cm)である。尚、前記吸収係数Kは、前記法則式(1)に予め代入されている。
以下に本発明の実施例1について説明するが、本発明はその適用が本実施例に限定されるものでない。
上述した実施例1に対応する比較例1として、図1−図6に示したガス濃度測定装置1のうち、本発明に係る構成(温度制御手段302、光量検知手段303、濃度算出手段304、測定繰り返し手段305)を取り外し、ソリッド型ガラス製エタロンを備えたガス濃度測定装置を、比較例1のガス濃度測定装置とし、実施例1と同様の条件にて、別の日時に、二酸化炭素の濃度の測定を開始した。
上述した実施例1に対応する比較例2として、図1−図6に示したガス濃度測定装置1のうち、本発明に係るバンドル型光ファイバ4を取り外すとともに、当該バンドル型光ファイバ4の代わりに、市販のシングルモード光ファイバを取り付けた。更に、本発明に係るファイバ型狭帯域光フィルタ31を取り外すとともに、市販のガラス板型狭帯域光フィルタを取り付けた。当該ガラス板型狭帯域光フィルタの取付後のガス濃度測定装置を、比較例2のガス濃度測定装置とし、実施例1と同様の条件にて、別の日時に、二酸化炭素の濃度の測定を開始した。二酸化炭素の濃度の測定を実行したところ、信号光の強度が弱く、二酸化炭素の濃度の実測は不可能であった。
実施例2として、図1−図6に示したガス濃度測定装置1のうち、本発明に係るバンドル型光ファイバ4を取り外すとともに、当該バンドル型光ファイバ4の代わりに、全ての光ファイバのコア径が250μmであり、中心の光ファイバの外周を6つの光ファイバで取り囲むように隣接配置された第二のバンドル型光ファイバを取り付けた。第二のバンドル型光ファイバの取付後のガス濃度測定装置を、実施例2のガス濃度測定装置とし、実施例1と同様の条件にて、別の日時に、二酸化炭素の濃度の測定を実行した。すると、太陽光取り込み調整がうまくできなかった。
上述した実施例1に対応する参考例として、光スペクトラムアナライザー(参考例のガス濃度測定装置)による測定を、実施例1の測定と同時に実施した。当該二酸化炭素濃度の測定を、9時頃から15時頃まで継続して実行し、図9に示す二酸化炭素濃度の経時変化を示すチャートを得ることが出来た。図9に示すように、当該測定装置は二酸化炭素の濃度を安定に計測することが出来ているが、一つの二酸化炭素の濃度を測定するのに要する時間は約3分であり、実施例1と比較して、測定時間が長いことが理解される。
2 集光部
3 測定部
31 ファイバ型狭帯域光フィルタ
33 ファイバ型ファブリペロエタロン
34 検出手段
35 加熱冷却手段
36 温度センサ
4 バンドル型光ファイバ
5 制御ボックス
6 PC
301 受付手段
302 温度制御手段
303 光量検知手段
304 濃度算出手段
305 測定繰り返し手段
306 記憶手段
Claims (5)
- 被測定対象のガスの吸収波長を選択的に透過可能なファイバ型ファブリペロエタロンとファイバ型狭帯域フィルタを介して、太陽光より得た自然光から、前記ガス濃度を測定するガス濃度測定装置において、
ユーザから上限許容温度と下限許容温度と前記ガスの濃度の測定回数との入力を受け付ける受付手段と、
前記上限許容温度と前記下限許容温度と前記測定回数との入力が受け付けられると、前記ファイバ型ファブリペロエタロンの温度を前記下限許容温度から前記上限許容温度まで上昇させるとともに、当該上限許容温度から当該下限許容温度まで前記ファイバ型ファブリペロエタロンの温度を下降させる温度制御手段と、
前記ファイバ型ファブリペロエタロンの温度変化に対応して、当該ファイバ型ファブリペロエタロンの透過光量を検出する検出手段と、
前記検出したファイバ型ファブリペロエタロンの透過光量のうち、一回の温度上昇に対して一組の極大透過光量及び極小透過光量と、一回の温度下降に対して一組の極大透過光量及び極小透過光量とを検知した場合、2つの極大透過光量及び2つの極小透過光量をそれぞれ平均して、1つの極大透過光量及び1つの極小透過光量を算出する光量検知手段と、
前記算出された極大透過光量と前記極小透過光量との比と、ランベルト・ベールの法則式とに基づいて前記ガスの濃度を算出する濃度算出手段と、
前記極大透過光量となる極大温度と、前記極小透過光量となる極小温度とを含む所定温度範囲を一周期として設定し、当該設定された周期で、前記ファイバ型ファブリペロエタロンの温度の上昇及び下降を前記測定回数だけ周期的に変更させ、一周期毎に得られる極大透過光量と極小透過光量とに基づいて一周期毎に得られる前記ガスの濃度を連続して算出させる測定繰り返し手段とを備え、
前記受付手段は、一回の温度上昇に対して一組の極大透過光量及び極小透過光量と、一回の温度下降に対して一組の極大透過光量及び極小透過光量とが検知されなかった場合に、前記入力された上限許容温度と下限許容温度とでは前記ガスの濃度を測定することが出来ない旨を表示画面に表示して、ユーザに、再度、上限許容温度と下限許容温度との入力を受け付ける
ことを特徴とするガス濃度測定装置。 - 前記ファイバ型ファブリペロエタロンの温度が変更され得る部分である温度可変部およびファイバ型狭帯域フィルタは、温度制御が±1℃の恒温器環境の中に保管されて使用される
請求項1に記載のガス濃度測定装置。 - 集光部のコンデンサレンズによって集光された太陽光の焦点半径と同程度の半径に複数の光ファイバを束ねたバンドル型光ファイバを備え、
前記バンドル型光ファイバの一方の端面部が、前記集光部のコンデンサレンズにより集光された光の焦点位置に配置された状態で、当該集光部のコンデンサレンズに取り付けられ、前記バンドル型光ファイバの他方の端面部が、前記ファイバ型狭帯域フィルタを介して前記ファイバ型ファブリペロエタロンに取り付けられ、
前記コンデンサレンズを前後に移動する機構を設け、前記バンドル型光ファイバを通過して検出される光量が最大になる位置で、前記コンデンサレンズが固定される
請求項1又は2に記載のガス濃度測定装置。 - 前記バンドル型光ファイバの中心部を通った光を信号光として前記ファイバ型狭帯域フィルタと前記ファイバ型ファブリペロエタロンとに伝送し、前記バンドル型光ファイバの外周部から出射した光を参照光として検出し、前記信号光を前記参照光で除算した値を、前記ファイバ型ファブリペロエタロンの透過光量として採用する
請求項3に記載のガス濃度測定装置。 - 被測定対象のガスの吸収波長を選択的に透過可能なファイバ型ファブリペロエタロンとファイバ型狭帯域フィルタを介して、太陽光より得た自然光から、前記ガス濃度を測定するガス濃度測定方法において、
ユーザから上限許容温度と下限許容温度と前記ガスの濃度の測定回数との入力を受け付ける受付ステップと、
前記上限許容温度と前記下限許容温度と前記測定回数との入力が受け付けられると、前記ファイバ型ファブリペロエタロンの温度を前記下限許容温度から前記上限許容温度まで上昇させるとともに、当該上限許容温度から当該下限許容温度まで前記ファイバ型ファブリペロエタロンの温度を下降させる温度制御ステップと、
前記ファイバ型ファブリペロエタロンの温度変化に対応して、当該ファイバ型ファブリペロエタロンの透過光量を検出する検出ステップと、
前記検出したファイバ型ファブリペロエタロンの透過光量のうち、一回の温度上昇に対して一組の極大透過光量及び極小透過光量と、一回の温度下降に対して一組の極大透過光量及び極小透過光量とを検知した場合、2つの極大透過光量及び2つの極小透過光量をそれぞれ平均して、1つの極大透過光量及び1つの極小透過光量を算出する光量検知ステップと、
前記算出された極大透過光量と前記極小透過光量との比と、ランベルト・ベールの法則式とに基づいて前記ガスの濃度を算出する濃度算出ステップと、
前記極大透過光量となる極大温度と、前記極小透過光量となる極小温度とを含む所定温度範囲を一周期として設定し、当該設定された周期で、前記ファイバ型ファブリペロエタロンの温度の上昇及び下降を前記測定回数だけ周期的に変更させ、一周期毎に得られる極大透過光量と極小透過光量とに基づいて一周期毎に得られる前記ガスの濃度を連続して算出させる測定繰り返しステップと、
一回の温度上昇に対して一組の極大透過光量及び極小透過光量と、一回の温度下降に対して一組の極大透過光量及び極小透過光量とが検知されなかった場合に、前記入力された上限許容温度と下限許容温度とでは前記ガスの濃度を測定することが出来ない旨を表示画面に表示して、ユーザに、再度、上限許容温度と下限許容温度との入力を受け付けるステップと
を含むことを特徴とするガス濃度測定方法。
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JP2010212660A JP5608025B2 (ja) | 2010-09-22 | 2010-09-22 | ガス濃度測定方法及びガス濃度測定装置 |
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