JP5590942B2 - Imaging apparatus, optical interference imaging system, program, and adjustment method of imaging apparatus - Google Patents
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Description
本発明は、装置内部の部材の調整が可能な撮影装置、光干渉断層撮影システム、プログラム及び撮影装置の調整方法に関する。 The present invention relates to an imaging apparatus capable of adjusting members inside the apparatus, an optical coherence tomography system, a program, and an adjustment method for the imaging apparatus.
近年,低コヒーレンス干渉計または白色干渉計の技術を応用した光干渉断層計による撮影装置が実用化されている。オプティカルコヒーレンストモグラフィー(以下OCT:Optical Coherence Tomography)とも呼ばれるこの方法・装置は,医療分野,特に眼科領域において眼底網膜の断層像を得る目的で用いられている。これによれば、光源からの光を分割して測定光および参照光を作り出し、測定光は撮影対象に照射される。被検眼に照射された測定光の戻り光と参照光はビームスプリッタで合成されて干渉光となって回折格子に入射し分光され、センサで電気信号に変換される。この干渉光の信号に基づいて撮影対象の断層画像を得ることができる。 In recent years, an imaging apparatus using an optical coherence tomography applying a technology of a low coherence interferometer or a white interferometer has been put into practical use. This method and apparatus, which is also called optical coherence tomography (hereinafter referred to as OCT), is used for the purpose of obtaining a tomographic image of the fundus retina in the medical field, particularly in the ophthalmic region. According to this, the light from the light source is divided to create the measurement light and the reference light, and the measurement light is irradiated to the imaging target. The return light and the reference light of the measurement light irradiated on the eye to be examined are combined by a beam splitter, become interference light, enter the diffraction grating, and are dispersed, and converted into an electrical signal by the sensor. A tomographic image to be imaged can be obtained based on the interference light signal.
このOCT撮影装置において前述した干渉光の光束、回折格子及びセンサの位置関係は断層像の画質に大きく影響するため精密に位置合わせがされている必要がある。この調整の技術として、特許文献1においては圧電素子によりミラーおよび回折格子を移動することでラインセンサに対する干渉光の位置合わせを行う技術が開示されている。また特許文献2においては、センサに対する光の照射状態に基づいて回折格子に対するファイバ端の位置を調整する技術が開示されている。
In this OCT imaging apparatus, the positional relationship between the light beam of the interference light, the diffraction grating, and the sensor described above greatly affects the image quality of the tomographic image, so that it needs to be precisely aligned. As a technique for this adjustment,
しかしながら、かかる特許文献のいずれにも調整のよしあしをユーザが確認することは考慮されていない。調整の具合は画質のよしあしとして画像に現れるものの、その他の要因によっても画質は変わり、形成された断層画像におけるノイズや明るさの情報からでは、調整が適切になされているか否かを正確に確認することは困難であった。 However, it is not considered in any of these patent documents that the user confirms whether the adjustment is correct. Although adjustments appear in the image as good image quality, the image quality also changes depending on other factors, and the noise and brightness information in the formed tomographic image confirms whether the adjustment has been made properly. It was difficult to do.
本発明はかかる課題を解決するためになされたものであり、低コヒーレンス光を発する光源と、前記低コヒーレンス光を複数の測定光と複数の参照光に分割するとともに、撮影対象を経由した前記複数の測定光のそれぞれと、各測定光に対応する参照物体を経由した前記参照光との干渉光をそれぞれ生成する干渉光生成手段と、前記生成された複数の干渉光を受光して、それぞれに対応する電気信号に変換する撮像手段と、前記撮像手段が前記複数の干渉光を受光して得られたそれぞれの電気信号に基づき、前記撮影対象の画像を形成する画像形成手段と、前記撮像手段の受光面と前記撮像手段が受光する前記複数の干渉光の光束との相対位置を調整する調整手段と、前記撮像手段が受光する前記複数の干渉光のそれぞれの受光状態を並べて表示させる表示制御手段とを有することを特徴とする。 The present invention has been made to solve such a problem, and a light source that emits low-coherence light , the low-coherence light is divided into a plurality of measurement lights and a plurality of reference lights, and the plurality of the plurality of light-transmitting objects that pass through an imaging target Each of the measurement light and interference light generating means for generating interference light with the reference light via the reference object corresponding to each measurement light, and receiving the generated plurality of interference lights , respectively Imaging means for converting into a corresponding electrical signal, image forming means for forming the image to be photographed based on the respective electrical signals obtained by the imaging means receiving the plurality of interference lights, and the imaging means side by side of the adjustment means the light receiving surface and the imaging means to adjust the relative positions of the light beams of the plurality of interference light received, each of the light receiving state of the plurality of interference light before Symbol imaging means for receiving It characterized by having a display control means for controlling shown.
OCT撮影装置においてを形成するための元信号となるスペクトルを各々表示し、撮像部の受光面と入射する光の相対位置を調整可能とすることで、撮像手段の受光面と撮像手段に到達する光束の位置合わせが適切になされているかを正確に確認することができる。 Each spectrum that is an original signal for forming in the OCT imaging apparatus is displayed, and the relative position between the light receiving surface of the imaging unit and the incident light can be adjusted, thereby reaching the light receiving surface of the imaging unit and the imaging unit. It is possible to accurately check whether the alignment of the light beam is properly performed.
以下に適宜図面を参照しながら本発明の実施例を具体的に説明する。 Embodiments of the present invention will be specifically described below with reference to the drawings as appropriate.
図1は本発明によるOCT撮影装置(以下OCT装置と称する)の基本構成を表すブロック図である。OCT装置100は、図1に示されるように全体としてマイケルソン干渉計を構成しており、スペクトラルドメイン方式のOCT(以下SD−OCTと称する)または光干渉断層撮影装置である。
FIG. 1 is a block diagram showing a basic configuration of an OCT imaging apparatus (hereinafter referred to as an OCT apparatus) according to the present invention. As shown in FIG. 1, the
光源101から出射した低コヒーレンス光である出射光104はシングルモードファイバ110に導かれて光カプラ156に入射し、光カプラ156にて第1の光路と第2の光路と第3の光路の3つの光路を通る出射光104−1〜3に分割される。更に、この3つの出射光104−1〜3のそれぞれは、光路を形成する光ファイバを通り、偏光コントローラ153−1を通過し、干渉光生成部である光カプラ131−1〜3にて参照光105−1〜3と測定光106−1〜3とに分割される。このように分割された3つの測定光106−1〜3は、撮影対象である被検眼107における網膜127のそれぞれの測定個所によって反射あるいは散乱された戻り光108−1〜3となって戻される。そして、干渉光生成部である光カプラ131−1〜3によって、参照光路を経由してきた参照光105−1〜3と合波され合成光142−1〜3となる。この合成光142−1〜3は、測定光と参照光の光路長の違いに応じて干渉し、干渉光となる。合成光142−1〜3は、偏光コントローラ153−3を通過し、光ファイバ端から出射する。出射した光は分光部である透過型回折格子141によって波長毎に分光され、レンズ143を介して撮像部であるラインセンサ139に入射され、その光をラインセンサ139が受光する。撮像部であるラインセンサ139はセンサ素子毎に各波長の光を受光して光強度を電気信号に変換し、その信号を用いて、不図示の画像形成部にて被検眼107の断層画像が構成される。なお、ここで光強度は、単位時間あたりにセンサに入射する光量である。
The outgoing light 104, which is low-coherence light emitted from the
撮像部であるラインセンサ139は調整部である電動ステージ210により合成光142−1〜3が受光する受光面と、合成光の光束との相対位置関係を調整できる。ここで光束とは光線の束を意味する。また、受光面と光束との相対位置とは、受光面と光束の幾何学的な位置関係を意味し、ラインセンサ139に向かう光束の受光面に対する入射角と、入射位置または範囲を意味する。この調整は、電動ステージ210がラインセンサ139を並進または回転させることにより実現する。この電動ステージ210は制御部として機能するコンピュータ125によって制御される。本実施例においては、電動ステージ210はコンピュータ125の不図示の操作部において入力された調整の指示に応じて、コンピュータ125が電動ステージ210の制御命令を発行し、これに応じて電動ステージ210はセンサの位置を変更することとなる。撮像部やその他の光学部材が振動や熱等によって相対位置関係がずれていると、回折格子141を介して撮像部が受光する光の光束とラインセンサとの位置がずれてしまう。すると、ラインセンサ139の一部の画素で本来受光すべき光量を受光できない。これにより、ラインセンサ139により得られる信号強度が下がってしまうため、得られる画像の画質が劣化する等の問題が生じる。そこで、ラインセンサ139とラインセンサ139が受光する光の光束との位置関係を調整して、適切に受光できるようにする必要がある。これにより、ラインセンサ139が受光する参照光または合成光の受光状態を変更することができる。そして、このような調整に応じて、不図示の表示部に表示される受光状態の表示がコンピュータ125の表示制御により切り替わることとなる。受光状態の表示例については後述する。
The
次に、参照光105の参照光路について説明する。光カプラ131−1〜3によって分割された3つの参照光105−1〜3のそれぞれは、偏光コントローラ153−2を通過し、レンズ135−1にて略平行光となって、出射される。次に、参照光105−1〜3は分散補償用ガラス115を通過し、レンズ135−2にて、参照物体の例であるミラー114−1〜3に集光される。次に、参照光105−1〜3は参照物体の例であるミラー114−1〜3にて方向を変え、再び光カプラ131−1〜3に向かう。そして、参照光105−1〜3は光カプラ131−1〜3を通過し、ラインセンサ139に導かれる。なお、分散補償用ガラス115は被検眼107および走査光学系を測定光106が往復した時の分散を、参照光105に対して補償するものである。
Next, the reference light path of the reference light 105 will be described. Each of the three reference beams 105-1 to 105-3 divided by the optical couplers 131-1 to 131-3 passes through the polarization controller 153-2 and is emitted as substantially parallel light by the lens 135-1. Next, the reference beams 105-1 to 105-3 pass through the dispersion compensation glass 115, and are collected by the lens 135-2 on mirrors 114-1 to 114 which are examples of the reference object. Next, the directions of the reference beams 105-1 to 105-3 are changed by mirrors 114-1 to 114-3, which are examples of reference objects, and are directed to the optical couplers 131-1 to 131-3 again. Then, the reference beams 105-1 to 105-3 pass through the optical couplers 131-1 to 131-3 and are guided to the
更に、117−1〜3は電動ステージであり、矢印で図示している方向に移動することで、参照光105の光路長を変更することができる。この電動ステージ117−1〜3はコンピュータ125により制御され、参照光105−1〜3の光路長を各々独立に、あるいは同時に変更することが可能である。 Further, reference numerals 117-1 to 3 are electric stages, and the optical path length of the reference beam 105 can be changed by moving in the direction shown by the arrows. The electric stages 117-1 to 117-3 are controlled by the computer 125, and the optical path lengths of the reference beams 105-1 to 105-3 can be changed independently or simultaneously.
次に、測定光106の測定光路について説明する。光カプラ131−1〜3によって分割された測定光106−1〜3のそれぞれは、偏光コントローラ153−4を通過し、レンズ120−3にて、略平行光となって出射され、走査光学系を構成するXYスキャナ119のミラーに入射される。ここでは、簡単のため、XYスキャナ119は一つのミラーとして記したが、実際にはXスキャン用ミラーとYスキャン用ミラーとの2枚のミラーが近接して配置され、網膜127上を光軸に垂直な方向にラスタースキャンするものである。また、測定光106−1〜3のそれぞれの中心はXYスキャナ119のミラーの回転中心と略一致するようにレンズ120−1、3等が調整されている。レンズ120−1、120−2は測定光106−1〜3が網膜127を走査するための光学系であり、測定光106を角膜126の付近を支点として、網膜127をスキャンする役割がある。測定光106−1〜3はそれぞれ網膜上の任意の位置に結像するように構成されている。
Next, the measurement optical path of the measurement light 106 will be described. Each of the measurement beams 106-1 to 106-3 divided by the optical couplers 131-1 to 131-3 passes through the polarization controller 153-4, and is emitted as substantially parallel light by the lens 120-3. Is incident on the mirror of the
また、117−4は電動ステージであり、矢印で図示している方向に移動することができ、付随するレンズ120−2の位置を、調整・制御することができる。レンズ120−2の位置を調整することで、被検眼107の網膜127の所望の層に測定光106−1〜3のそれぞれを集光し、観察することができる。測定光106−1〜3は被検眼107に入射すると、網膜127からの反射や散乱により戻り光108−1〜3となり、光カプラ131−1〜3を通過し、ラインセンサ139に導かれる。なお、電動ステージ117−4はコンピュータ125により制御される。以上の構成により3つの測定光を同時にスキャンすることができる。
Reference numeral 117-4 denotes an electric stage which can move in the direction shown by the arrow, and can adjust and control the position of the associated lens 120-2. By adjusting the position of the lens 120-2, each of the measurement beams 106-1 to 106-3 can be condensed and observed on a desired layer of the retina 127 of the eye 107 to be examined. When the measurement beams 106-1 to 106-3 enter the eye 107 to be examined, the reflected beams 108-1 to 108-3 are reflected and scattered from the retina 127, pass through the optical couplers 131-1 to 131-3, and are guided to the
次に、検出系の構成について説明する。網膜127にて反射や散乱された戻り光108−1〜3と参照光105−1〜3とは光カプラ131−1〜3により合波される。そして、合波された合成光142−1〜3は分光器に入射し、スペクトルが得られる。これらのスペクトルに対し、コンピュータ125が断層像の再構成処理を行うことで断層像を得ることができる。 Next, the configuration of the detection system will be described. The return beams 108-1 to 108-3 and the reference beams 105-1 to 105-3 reflected and scattered by the retina 127 are combined by the optical couplers 131-1 to 131-3. Then, the combined synthesized light 142-1 to 142-3 enter the spectroscope, and a spectrum is obtained. A tomogram can be obtained by the computer 125 performing a tomogram reconstruction process on these spectra.
再構成処理は一般的なOCT像の生成工程によればよく、固定ノイズ除去、波長波数変換、フーリエ変換を行うことで断層像を生成することができる。図2は上述したOCT装置により撮影される眼底網膜上の領域と断層像の例を図示したものであり、眼底501には、黄斑502、視神経乳頭503および血管504などがある。3本の測定光106−1〜3は、それぞれに対応して第1の走査範囲505、第2の走査範囲506、第3の走査範囲507を走査する。それぞれの領域は、第1の走査範囲−第2の走査範囲間の重なり508、第2の走査範囲−第3の走査範囲間の重なり509のように20%程度重なっている。座標軸は図に示したように設定され、x方向の走査をFast−Scan、y方向をSlow−Scanと呼び、z方向は、紙面の裏から表に向かっているとする。
The reconstruction process may be performed by a general OCT image generation process, and a tomographic image can be generated by performing fixed noise removal, wavelength wave number conversion, and Fourier transform. FIG. 2 illustrates an example of a region on the retina of the fundus and a tomographic image taken by the OCT apparatus described above. The
ここでは、一本の測定光あたりx方向には例えば1024ライン、y方向には例えば1024ライン走査するものとする。ただしy方向は重なり部分を除けば3本の測定光で512ラインを走査しており、最終的には図2(a)に示す一点鎖線の矩形領域が眼底上での撮影範囲となり、この領域において断層像が取得されることになる。 Here, for example, 1024 lines are scanned in the x direction and 1024 lines are scanned in the y direction per one measuring beam. However, in the y direction, 512 lines are scanned with three measurement lights except for an overlapping portion. Finally, a rectangular area indicated by an alternate long and short dash line shown in FIG. 2A is an imaging range on the fundus. A tomographic image is acquired at.
一方近赤外光源180から照射された近赤外光190はハーフミラー200、照明光学系150、測定光路内に挿入されたダイクロイックミラー220を介して眼底127に照射される。眼底で反射した近赤外光は再び同一の光路を戻り、ハーフミラー200、結像光学計160を介して二次元のエリアセンサ170上で結像する。このようにして撮像された眼底の二次元画像はコンピュータ125に入力される。この二次元画像はOCT撮影の領域を観察するために用いられる。
On the other hand, near-infrared light 190 emitted from the near-infrared
なお、測定光路における230はシャッタであり、コンピュータ125の制御による不図示の駆動装置により、測定光106−1〜3の眼底127に対する入射を開放または遮断することができるようになっている。
Incidentally,
以下、表示画面とラインセンサの受光状態の関係を図3及び図4を用いて説明する。図3はラインセンサ139上に投影された各参照光のスペクトルの表示例を示す図である。図示するように、センサ上には3つのスペクトル144−1〜3が投影されており、ラインセンサ139から読み出された信号は、SR1〜3に示す領域毎に再構成処理されて断層像が生成される。そして、この断層像を元に表示制御部であるコンピュータ125により表示用の画像データが生成され、不図示の表示部に表示されることとなる。また、図4はラインセンサ139が受光する光の光束とラインセンサ139の受光面との位置関係を示す図である。図4では、ラインセンサ139の受光面が示されており、受光面に対して紙面の表から裏へと向かう方向に入射する光のスペクトルが斜線で示されている。
Hereinafter, the relationship between the display screen and the light receiving state of the line sensor will be described with reference to FIGS. FIG. 3 is a diagram illustrating a display example of the spectrum of each reference light projected on the
図3(a)は表示の一例であり、ラインセンサ139が受光面で受光する光量に応じた電気信号の値をそのまま表示した例である。なお、図3(a)において横軸はラインセンサの位置であると同時に波長に対応し、縦軸は波長毎の信号強度に対応している。なお、横軸に周波数を取って周波数ごとの強度を表示してもよい。
FIG. 3A is an example of display, and is an example in which the value of the electrical signal corresponding to the amount of light received by the
この図3(a)に示す状態に対応する受光状態が図4(a)に示される。図4(a)では、各測定光に対応するスペクトル144−1乃至144−3がラインセンサ139の受光面に対して適切に入射されている。そのため、図3(a)に示されるスペクトルのピークは大きく、スペクトル間のばらつきも少ない。このように、スペクトルの形状を表示させることで、ラインセンサの受光状態をユーザに視覚的に分かり易く提示することができる。
A light receiving state corresponding to the state shown in FIG. 3A is shown in FIG. In FIG. 4A, the spectrums 144-1 to 144-3 corresponding to each measurement light are appropriately incident on the light receiving surface of the
図3(b)はその他の表示例であり、ラインセンサ139と参照光の光束との位置関係がずれている場合の表示である。図3(b)においてはスペクトル144−1及びスペクトル144−2がスペクトル144−3に対して小さくなっている。これはラインセンサ139の領域SR1及びSR2に該当する部分で受光する光が弱くなっているために起こる現象である。このような場合、参照光の光束とラインセンサ139の受光面が相対的に回転してしまっていると考えられる。あるいは、スペクトル144−1及びスペクトル144−2に対応する参照光を導光する光学部品がずれてしまっているとも考えられる。
FIG. 3B shows another display example, in which the positional relationship between the
この図3(b)に示す状態に対応する受光状態が図4(b)に示される。図4(b)では、各測定光の光束に対してラインセンサ139が傾いてしまっている。そして、特にスペクトル144−1が適切にラインセンサ139に入射していない。これに対応して、図3(b)ではスペクトル144−1のピークが小さくなっている。このように、ラインセンサ139と光の位置がずれている場合には、スペクトルの形状が変わり、ラインセンサ139の受光状態を視覚的にユーザに提示することが出来る。
FIG. 4B shows a light receiving state corresponding to the state shown in FIG. In FIG. 4B, the
上述の図3(a)及び図3(b)の表示に対して述べた効果は、特にマルチビーム型のOCT装置に限らず、シングルビーム型のOCT装置に対しても同様の効果を有するものである。なお、マルチビーム型の装置の場合には、表示されるスペクトルが複数になるため、各スペクトルの形状同士を比較できるように表示することにより、受光状態を分かりやすく表示し、ラインセンサと光の相対位置のずれをユーザに提示することが出来る。シングルビーム型のOCT装置では、一つのスペクトルの形状により受光状態を判定することとなるが、これに比べ、マルチビーム型では複数形状の比較が可能であるためより本発明に係る表示による効果が期待できる。加えて、マルチビーム複数の測定光を用いたOCT撮影装置においては、各測定光による測定領域毎に画質が異なることがないよう、各々の合成光をラインセンサに対して適切に位置合わせする必要がある。そのため、図3に例示される表示により各測定光に対応するスペクトルを調整する必要性は、シングルビームに比較して高く、この点からも図3に例示される表示の意義が大きい。 The effects described above with respect to the display in FIGS. 3A and 3B are not limited to the multi-beam type OCT apparatus, but have the same effect on a single beam type OCT apparatus. It is. In the case of a multi-beam type device, since there are a plurality of spectra to be displayed, by displaying so that the shapes of the spectra can be compared with each other, the light receiving state is displayed in an easy-to-understand manner, and the line sensor and the light The relative position shift can be presented to the user. In the single beam type OCT apparatus, the light receiving state is determined by the shape of one spectrum. In contrast, in the multi beam type, a plurality of shapes can be compared. I can expect. In addition, in the OCT imaging apparatus using a plurality of measurement beams of multi-beams, it is necessary to appropriately align each combined light with respect to the line sensor so that the image quality does not differ for each measurement region by each measurement light. There is. Therefore, the necessity of adjusting the spectrum corresponding to each measurement light by the display illustrated in FIG. 3 is higher than that of a single beam, and the display illustrated in FIG. 3 is also significant from this point.
図3(c)はその他の表示例を示す図であり、図3(a)と比較して、各スペクトルの大きさが小さい。これは、ラインセンサ139と参照光の光束とが相対的に回転はしていないものの、相対的に並行移動してしまっており、ラインセンサ139の各部位が受光する光が全体的に弱くなってしまっていると考えられる。
FIG. 3C is a diagram showing another display example, and the size of each spectrum is smaller than that in FIG. This is because although the
この図3(c)に示す状態に対応する受光状態が図4(c)に示される。図4(c)では、光速に対してラインセンサ139が長手方向と直交する方向にずれており、そのため各スペクトルの受光状態が一様に悪化している事が分かる。
A light receiving state corresponding to the state shown in FIG. 3C is shown in FIG. In FIG. 4C, it can be seen that the
図3(d)はその他の表示例であり、各スペクトル144−1乃至144−3に対応させて、各スペクトルのピークの大きさを数値として表示させる例である。ピークの大きさは各参照光の光量または光強度を示す特徴量として用いられている。このように、ピークの大きさを数値として表示することで、スペクトルの形状だけでなく、ピークの数値としても調整すべき量をユーザに提示することができるというメリットがある。図3(c)のように一様にスペクトルが小さくなっている場合には、スペクトルの形状を見ただけでは受光状態に問題があるか否かが不明確な場合があるが、数値を表示することで、このような場合にも受光状態の異常をユーザに分かり易く提示することができる。 FIG. 3D shows another display example in which the peak size of each spectrum is displayed as a numerical value corresponding to each spectrum 144-1 to 144-3. The size of the peak is used as a feature amount indicating the light amount or light intensity of each reference light. Thus, by displaying the peak size as a numerical value, there is an advantage that it is possible to present not only the shape of the spectrum but also the amount to be adjusted as the numerical value of the peak to the user. When the spectrum is uniformly small as shown in FIG. 3 (c), it may be unclear whether there is a problem in the light receiving state by just looking at the shape of the spectrum, but numerical values are displayed. Thus, even in such a case, the abnormality of the light receiving state can be presented to the user in an easily understandable manner.
〔変形例〕上述の実施例では、ラインセンサによる光の受光状態の表示として光のスペクトルを表示する例を示したが、これに限らず、スペクトルのピーク値や面積を表示することとしてもよい。また、各測定光に対応する参照光または干渉光を受光するラインセンサの領域SR1乃至SR3の夫々に閾値以上の光が当たっているか否かを示す表示を行ってもよい。 [Modification] In the above-described embodiments, the light spectrum is displayed as an indication of the light reception state by the line sensor. However, the present invention is not limited to this, and the peak value or area of the spectrum may be displayed. . In addition, a display may be performed to indicate whether or not light of a threshold value or more is applied to each of the region SR1 to SR3 of the line sensor that receives reference light or interference light corresponding to each measurement light.
また上述の実施例では、複数の測定光を有するマルチビーム型の光干渉断層撮影装置として一つの光源から出射された光を光カプラで分割する例を示したが、これに限らず複数の光源を有していてもよい。この場合には、光強度の高い単一光源を用いずに、光強度が相対的に小さい複数の光源を利用することができる。また、ラインセンサを測定光毎に独立に設けてもよい。この場合には、各ラインセンサを独立に調整する必要が生じるが、センサが受光する光の光束とセンサの位置関係をより精密に調整することができる。 In the above-described embodiment, an example in which light emitted from one light source is divided by an optical coupler as a multi-beam type optical coherence tomography apparatus having a plurality of measurement lights is not limited to this. You may have. In this case, a plurality of light sources having relatively low light intensity can be used without using a single light source having high light intensity. Moreover, you may provide a line sensor independently for every measurement light. In this case, it is necessary to adjust each line sensor independently, but the positional relationship between the light flux received by the sensor and the sensor can be adjusted more precisely.
更に、上述の実施例ではラインセンサの位置を調整する例を示したが、これに限らず、ラインセンサが受光する光の光束とラインセンサの位置関係を調整できればよい。例えば、光ファイバのファイバ端の位置やファイバ端から出射する光の向きを調整しても、ファイバ端と分光部の間にあるレンズの位置を調整しても、回折格子の位置を調整しても、回折格子とラインセンサの間にあるレンズの位置を調整してもよい。予めラインセンサを精密に位置決めできる場合には、光学部材の位置を調整することで、受光状態の調整が可能になる Furthermore, although the example which adjusts the position of a line sensor was shown in the above-mentioned Example, not only this but the light beam which a line sensor receives, and the positional relationship of a line sensor should just be adjusted. For example, adjusting the position of the diffraction grating, adjusting the position of the fiber end of the optical fiber and the direction of the light emitted from the fiber end, or adjusting the position of the lens between the fiber end and the spectroscopic unit Alternatively, the position of the lens between the diffraction grating and the line sensor may be adjusted. If the line sensor can be precisely positioned in advance, the light receiving state can be adjusted by adjusting the position of the optical member.
本実施例では、実施例1の表示例で示したスペクトルの表示とともにAスキャン画像またはAスキャンのプロファイルやBスキャン画像などを表示させる。また、表示画面上のアイコンを走査することにより調整及びその確認が可能な表示画面を提供する。表示画面に用いるスペクトル情報やAスキャン画像、Bスキャン画像はコンピュータ125がラインセンサ139の出力を取得し、作成する。アイコンの画像や表示の配置などの設定情報は予めコンピュータ125に格納されている。取得した情報や設定情報に基づいて表示画面の画像データを生成し、表示制御する処理はコンピュータ125が実行する。また、表示画面においては、ユーザがコンピュータ125に接続された不図示のマウスやキーボードを用いてボタンやその他アイコンをクリックすることが可能である。この操作情報はコンピュータ125が取得して、操作情報に応じて電動ステージ210の制御を実行する。新たに取得されたラインセンサ139からの出力に基づいてコンピュータ125が新たな表示画面の画像データを生成し、表示部に表示させる表示制御を行う。これにより表示画面が切り替わることとなる。
In the present embodiment, an A-scan image, an A-scan profile, a B-scan image, and the like are displayed together with the spectrum display shown in the display example of the first embodiment. In addition, a display screen that can be adjusted and confirmed by scanning an icon on the display screen is provided. The computer 125 acquires the output of the
図5は調整用の表示画面の一例である。スペクトル表示領域600には先述の実施例における図3に例示したような3つのスペクトルが表示される。スペクトルの表示はコンピュータ125がラインセンサ139の出力を連続的に処理し、表示制御することで表示が逐次更新される。
FIG. 5 is an example of a display screen for adjustment. In the spectrum display area 600, three spectra as illustrated in FIG. 3 in the above-described embodiment are displayed. The display of the spectrum is sequentially updated by the computer 125 continuously processing the output of the
また、603−1〜3は断層信号表示領域であり、3つのスペクトル144−1〜3を再構成処理して得られた信号が表示される。なお本実施形態においてはAスキャン画像またはAスキャンラインのプロファイルと呼ぶこととする。一方断層像表示領域605はXスキャン用ミラーを駆動することにより得られた複数のAスキャンを周知の補間処理により二次元画像として表示する領域である。以降の説明ではこの複数のAスキャンから構成される断層像をBスキャン画像と呼ぶ。図5に示す表示例では参照光が表示された状態であるため、断層信号表示領域603−1乃至603−3と、断層像表示領域605にはAスキャン画像またはBスキャン画像は表示されない。
Reference numerals 603-1 to 603 denote tomographic signal display areas on which signals obtained by reconstructing the three spectra 1444-1 to 144-3 are displayed. In this embodiment, the profile is called an A-scan image or A-scan line profile. On the other hand, the tomographic
領域選択ボタン606−1〜3は3つの測定光による断層像のいずれを表示するか選択するためのアイコンである。領域Aと表示されたスイッチを装置のオペレータが押下することで図2(a)に示すA−A’の断面に対応する断層画像が断層像表示領域605に表示される。領域Bの表示を押下することでB−B’の断面が、領域Cの表示を押下することでC−C’の断面が表示されることとなる。本実施例においてはスペクトル表示されているのは参照光であるため、スペクトル表示領域600または断層信号表示領域603−1乃至603−3の表示が変更されることはない。
The area selection buttons 606-1 to 606-3 are icons for selecting which of the tomographic images by the three measurement lights are displayed. When the operator of the apparatus presses the switch indicated as area A, a tomographic image corresponding to the cross section A-A ′ shown in FIG. 2A is displayed in the tomographic
次に図のスライダ604−1およびスライダ604−2は電動ステージ210を駆動することによりラインセンサ139のスペクトルに対する位置を調整するためのスライダである。これをオペレータが操作することによって各々センサのスペクトルに対する高さおよび回転を調整することができるようになっている。なお、ここでいう高さとは、ラインセンサの長手方向と直交する方向の変位または移動量のことであり、回転とは、ラインセンサ139の長手方向に対する中心点を通り、受光面を含む平面と直交する軸を中心とした回転を指す。なお、回転の中心はラインセンサ139の長手方向に対する中点に限られない。また、受光面を含む平面外にも並進または回転移動ができるようにしてもよい。例えば、モータと送りねじを用いて3軸方向に移動可能としてもよい。このスライダの操作に応じて、スペクトル表示領域600の表示が切り替わることとなるため、ユーザは画面上の操作によりラインセンサの位置を調整できるとともに、その調整の結果を表示画面で確認することができる。
Next, a slider 604-1 and a slider 604-2 in the figure are sliders for adjusting the position of the
また光源ボタン607−1および607−2は光源101の電源をON又はOFFするものであり、これにより光源101からの低コヒーレンス光の出射が止まり、スペクトル表示領域600にはスペクトルが表示されなくなる。シャッタボタン608−1および608−2はこれをオペレータが操作することで、シャッタ230を駆動して測定光106−1〜3の光路を遮断又は解放することができる。シャッタ230により光路を開放すると、被検眼が対物レンズの先に配置されている場合には網膜の断層情報を含む干渉光が得られ、干渉光のスペクトルがスペクトル表示領域600に表示されることとなる。
The light source buttons 607-1 and 607-2 turn on or off the power of the
上述の表示例では、シャッタ230を動作させ測定光を遮断した状態で、参照光のみを用いて分光器の調整を行ったが、これは本発明においては必須ではなく模型眼等の安定した標準的な被写体を用いて調整を行うようにしてもよい。この場合はシャッタボタン608−1がオペレータにより押下され、シャッタ230が開放された状態で調整が行われる。本実施例において、被写体として多層膜を形成した模型眼がOCT撮影装置にセットされ、シャッタボタン608−1によりシャッタを開放した際の調整用画面は図6に例示されるようなものとなる。すなわち、断層像表示領域605には模型眼の断層像が、断層信号表示領域603−1〜3には各々のスペクトルから生成された断層信号(Aスキャンプロファイル)が表示されている。
In the above-described display example, the spectroscope is adjusted using only the reference light in a state where the measurement light is blocked by operating the
このような表示により、例えば各測定光の受光状態とAスキャンプロファイルの両方を参照することにより、あるAスキャンプロファイルについて信号成分の大小を確認し、それに基づいて調整の要否をユーザが判定できるよう、情報を提示することができる。 With such a display, for example, by referring to both the light receiving state of each measurement light and the A scan profile, the magnitude of the signal component can be confirmed for a certain A scan profile, and the user can determine whether adjustment is necessary based on the magnitude. Information can be presented.
また、Aスキャンプロファイルと共にBスキャン画像も参照することにより、例えばBスキャン画像においてノイズが多くなっている領域等において、干渉光のスペクトルに異常がないかどうかを確認し、原因を特定するための情報を提示することができる。なお、Aスキャン画像及びBスキャン画像が表示された状態で、シャッタボタン608−2を押下して光路を遮蔽することにより、参照光を表示させることも可能である。 Further, by referring to the B scan image together with the A scan profile, for example, in the region where the noise is high in the B scan image, it is confirmed whether there is any abnormality in the spectrum of the interference light, and the cause is specified. Information can be presented. It is also possible to display the reference light by pressing the shutter button 608-2 to block the optical path in a state where the A scan image and the B scan image are displayed.
断層像表示領域605の表示はその上部に設けられた領域選択ボタン606−1〜3によって切り替えることができる。図6は中央の領域Aが選択されている状態を示しており、領域Aの測定光によるBスキャン像が断層像表示領域605に表示されている。選択される領域を切り替えると、選択された位置のBスキャン画像が断層像表示領域605に表示される。これと共に、選択された領域に対応する干渉光のスペクトルがスペクトル表示領域600に表示され、Aスキャンプロファイルが断層信号表示領域603−1乃至603−3に表示されることとなる。このようにして、領域選択ボタン606−1乃至606−3の選択に応じて表示が切り替わることとなる。なお、領域の選択に応じて、撮影対象のどの位置に照射された測定光に基づく干渉光を表示させるかは予め決まっているものとする。例えば、各測定光について中央の位置の干渉光を用いても、端部の干渉光を用いてもよい。また、複数のAスキャン位置に対応する干渉光のスペクトルの平均を取って表示してもよい。
The display of the tomographic
このように、領域の選択に応じてスペクトル及びAスキャン画像及びBスキャン画像の表示が切り替わることにより、領域毎に画像における信号の強度を確認することができる。 As described above, the display of the spectrum, the A-scan image, and the B-scan image is switched according to the selection of the region, whereby the intensity of the signal in the image can be confirmed for each region.
本実施例に係る光干渉撮影装置では、ユーザが手動で分光器の調整をするモードに加えて、自動的に分光器の調整を実行するモードを実行することができる。コンピュータ125により表示制御される表示画面の例を図7に示す。この表示画面では、自動調整の実行を指示するボタン602をアイコンとして表示させ、ユーザが不図示の操作部により画面上のボタンを押下することにより、自動調整が実行されることとなる。 In the optical interference imaging apparatus according to the present embodiment, in addition to the mode in which the user manually adjusts the spectrometer, a mode in which the spectrometer is automatically adjusted can be executed. An example of a display screen whose display is controlled by the computer 125 is shown in FIG. On this display screen, a button 602 for instructing execution of automatic adjustment is displayed as an icon, and automatic adjustment is executed when the user presses a button on the screen using an operation unit (not shown).
次に上述したOCT撮影装置において、被検眼の撮影に先立って行われる分光器の調整方法について、図8を参照しながら説明する。なお以下に説明する処理は図1に示すコンピュータ125上で実行される制御プログラムが各部の動作を制御することによって実現する。 Next, a method for adjusting a spectroscope performed in the above-described OCT imaging apparatus prior to imaging of the eye to be examined will be described with reference to FIG. The processing described below is realized by a control program executed on the computer 125 shown in FIG. 1 controlling the operation of each unit.
〔ステップS100〕コンピュータ125はモニタ130上に分光器の調整用画面を表示する。表示画面については先述の実施例2と同様のため説明を省略するが、自動調整ボタン602が配置される点が異なっている。
[Step S100] The computer 125 displays a spectrometer adjustment screen on the
〔ステップS200〕コンピュータ125はオペレータにより自動調整ボタン602が押下されたかどうかを検出し、押下されていない場合はステップS300の手動モードに、押下されていた場合はステップS400の自動モードに処理を移行する。 [Step S200] The computer 125 detects whether or not the automatic adjustment button 602 has been pressed by the operator. If the button has not been pressed, the process proceeds to the manual mode in step S300, and if not, the process proceeds to the automatic mode in step S400. To do.
〔ステップS300〕コンピュータ125は図7に示した各操作ボタンの押下を監視し、オペレータの操作により調整を行う手動モードに移行する。手動モードではオペレータの操作により手動でラインセンサ139の位置が調整されるモードである。このモードでは、ラインセンサ139の高さをスライダ604−1で、回転をスライダ604−2で調整しながらスペクトル表示領域600に表示される各スペクトルの高さが揃い若しくは所定範囲の差に収まり、かつできるだけ高くなるように調整する。
[Step S300] The computer 125 monitors the pressing of each operation button shown in FIG. 7, and shifts to a manual mode in which adjustment is performed by an operator's operation. In the manual mode, the position of the
まず本実施例においては、シャッタ230が測定光106−1〜3を遮断した状態で調整が行われるものとする。すなわち、シャッタボタン608−2がオペレータにより押下され、シャッタ230は測定光を遮断し、ラインセンサ139に対しては参照光105−1〜3のみのスペクトルが入射するものとする。したがって検出された信号を再構成処理しても断層像を生成することはできないが、被写体に依存する干渉成分自体は各スペクトルのバランスを見るためには不要な信号であるため、好適である。
First, in this embodiment, it is assumed that the adjustment is performed with the
また本実施例では上述したように測定光を遮断しているため、断層信号表示領域603−1〜3および断層像表示領域605には何の表示もされない。次に手動モードによるラインセンサの位置調整について具体的に説明する。
In the present embodiment, since the measurement light is blocked as described above, nothing is displayed in the tomographic signal display areas 603-1 to 603-3 and the tomographic
例えば、調整開始直後にスペクトル表示領域600に表示されるスペクトルの形状が図3(b)に示すような状態であった場合、オペレータがスライダ604−2を操作するとコンピュータ125は電動ステージ210を駆動してラインセンサ139を回転する。更にスライダ604−1を操作することで、オペレータはスペクトル表示領域600に表示されるスペクトル144−1〜3の形状を見ながら、それらの高さが揃い、かつ最も高くなるようにラインセンサ139の位置を調整する。
For example, if the shape of the spectrum displayed in the spectrum display region 600 immediately after the start of adjustment is in the state shown in FIG. 3B, the computer 125 drives the electric stage 210 when the operator operates the slider 604-2. Then, the
ラインセンサとスペクトルの位置関係が図4(c)に示すような場合、ラインセンサで検出されるスペクトルは図3(c)の状態に対応している。ここでスライダ604−2が操作されると、コンピュータ125はラインセンサ139を回転駆動し、図4(b)の状態となる。次にスライダ604−1が操作されるとコンピュータ125はラインセンサ139を並行に移動させ、最終的に図4(a)の状態となる。これでラインセンサが各スペクトルに対して適切に位置合わせがされた状態となる。
When the positional relationship between the line sensor and the spectrum is as shown in FIG. 4C, the spectrum detected by the line sensor corresponds to the state of FIG. When the slider 604-2 is operated here, the computer 125 rotationally drives the
また上述したようにオペレータがラインセンサの位置合わせを行う際に、コンピュータ125が逐次入力する各スペクトルの面積あるいはピーク値を各々計算し、計算された数値はスペクトル表示領域600内のスペクトルの近傍に表示してもよい。このようにすると、各スペクトルの高さおよびバランスを確認しやすくなるため好ましい。 Further, as described above, when the operator aligns the line sensor, the area or peak value of each spectrum that is sequentially input by the computer 125 is calculated, and the calculated numerical value is in the vicinity of the spectrum in the spectrum display region 600. It may be displayed. This is preferable because the height and balance of each spectrum can be easily confirmed.
図3(d)は表示の形態の一例であり、各スペクトルに対してコンピュータ125が計算したピーク値を矢印と共に表示している。この例においてはスペクトルのピーク値を表示しているが、もちろん面積等の他の数値であってもよいし、表示の位置も図7に示す表示画面上のどこであってもよい。 FIG. 3D is an example of a display form, and the peak values calculated by the computer 125 for each spectrum are displayed together with arrows. In this example, the peak value of the spectrum is displayed. Of course, other numerical values such as an area may be used, and the display position may be anywhere on the display screen shown in FIG.
〔ステップS400〕ステップS200において自動調整ボタン602がオペレータにより押下されると、コンピュータ125は自動モードに移行する。本モードではステップS300において説明した調整が自動的に行われる。 [Step S400] When the automatic adjustment button 602 is pressed by the operator in step S200, the computer 125 shifts to the automatic mode. In this mode, the adjustment described in step S300 is automatically performed.
以下に図9を用いて後述するに示すフローチャートに沿って自動モードの処理の流れを説明する。 The flow of the automatic mode process will be described below with reference to the flowchart shown in FIG.
〔ステップS410〕コンピュータ125は光源101の電源をONにし、更にシャッタ230を動作させて測定光106−1〜3を遮断する。これにより、ラインセンサ139には参照光105−1〜3のスペクトルのみが入射することとなる。
[Step S410] The computer 125 turns on the power of the
〔ステップS420〕コンピュータ125はラインセンサ139の位置を3つのスペクトルいずれも入射しない状態に移動する。図10(a)はこの時のラインセンサとスペクトルの位置関係およびラインセンサで検出されるスペクトルの強度を表しており、このステップにおいてスペクトルは全く検出されていない。また、この時ラインセンサ139は予め所定の角度回転させておけば、後続するステップにおいて回転方向の調整は基本的に一方向を基準として行えばよいので好ましい。この角度は予めラインセンサとスペクトルの間において、装置の組み立て誤差等により発生し得る相対的なずれ量を見積もり、そこから求められる角度を十分越える値とすればよい。
[Step S420] The computer 125 moves the position of the
〔ステップS430〕コンピュータ125はラインセンサ139を図10(a)において上向きの矢印で示す方向に平行移動しながら逐次ラインセンサ139からのスペクトルの検出結果を入力する。ここでは中央のスペクトル144−2の高さを監視するようにし、それが最大となる位置で移動を停止する。この時の状態を図10(b)に示す。
[Step S430] The computer 125 sequentially inputs the spectrum detection result from the
〔ステップS440〕コンピュータ125はラインセンサ139で検出したスペクトルの高さの差が許容範囲かどうかをチェックし、許容範囲であればステップS460に、そうでなければステップS450に処理を進める。この許容範囲はスペクトル間の差により生ずる画質の差に基づいて決めればよい。すなわち、スペクトルの高さは被写体の構造を抽出する感度に影響し、スペクトルの高さが低いと全体的に感度は下がるため、再構成して得られる断層像は暗くなる。したがって図2(a)に示す各走査範囲505〜507の間でどの程度の差を許容するかを主観評価等によって決定すれば、スペクトルの高さに関してその許容範囲を決めることができる。
[Step S440] The computer 125 checks whether or not the difference in spectral height detected by the
〔ステップS450〕コンピュータ125は図10(b)において矢印で示す向きにラインセンサ139を回転しながら逐次ラインセンサ139からのスペクトルの検出結果を入力する。本ステップにおいては3つのスペクトル144−1〜3の高さを全て監視し、3つの高さがほぼ同じとなる角度において回転を停止する。この時の状態をこの時の状態を図10(c)に示す。
[Step S450] The computer 125 sequentially inputs the spectrum detection results from the
〔ステップS460〕コンピュータ125は3つのスペクトルの高さおよびそれらの差が規定範囲であるかどうかをチェックし、規定範囲内であれば調整を終了し、そうでない場合は再びステップSS430に処理を移す。ここで処理がステップS430に移った場合は図10(c)に示すようにラインセンサ139が移動され、再び同様の処理が繰り返されることとなる。
[Step S460] The computer 125 checks whether or not the heights of the three spectra and the difference between them are within the specified range. If they are within the specified range, the adjustment is terminated. If not, the process returns to Step SS430. . When the process moves to step S430, the
ここでスペクトルの高さに関する規定範囲は、ステップS440で説明したように各走査範囲における画質とその差に基づいて決めておけばよい。 Here, the specified range related to the height of the spectrum may be determined based on the image quality in each scanning range and the difference as described in step S440.
以上説明したように、本発明によれば複数の測定光を有する断層像撮影装置の分光器調整において、センサと合成光の位置を適切に調整することが可能となる。なお、本実施形態ではラインセンサ139で検出されるスペクトルの特性を表す指標としてその高さを用いたが、本発明はこれに限定されることはなく、例えばスペクトルの面積を用いるようにしてもよい。
As described above, according to the present invention, it is possible to appropriately adjust the position of the sensor and the combined light in the spectroscopic adjustment of the tomographic imaging apparatus having a plurality of measurement lights. In the present embodiment, the height is used as an index representing the characteristics of the spectrum detected by the
〔変形例〕参照光による調整だけでなく、干渉信号を含めたスペクトルを用いて分光器の調整を行うこととしてもよい。処理の流れについては基本的に実施例1と同様である。ただし、ラインセンサ139により検出されるスペクトルには干渉信号が含まれているため、ステップS440、ステップS460においてスペクトルの高さを評価する際、干渉信号を含めた高さで調整を行う。
[Modification] In addition to the adjustment using the reference light, the spectroscope may be adjusted using a spectrum including an interference signal. The processing flow is basically the same as in the first embodiment. However, since the spectrum detected by the
またはステップS410において初期設定を行う際、まずシャッタ230を閉じた状態で3つのスペクトル144−1〜3を取得してコンピュータ125内部のメモリに記憶する。次にシャッタ230を解放した状態で取得したスペクトルから減算して、干渉信号のみを求め、この信号の振幅を指標とするようにしてもよい。
Alternatively, when performing the initial setting in step S410, first, the three spectra 144-1 to 144-3 are acquired with the
このようにすることにより、標準的な被写体に対しては同じレベルの画質を保つように分光器を調整することが可能となる。 In this way, the spectroscope can be adjusted so as to maintain the same level of image quality for a standard subject.
以上説明した実施例においては、ラインセンサ139は検出素子が1列のみから構成されているが、二次元センサまたは複数の列を有するラインセンサであっても本発明は適用することができる。図11はこのようなセンサを用いた場合のスペクトルを例示したものである。ラインセンサ139には139−1および139−2の2列の検出素子が整列しており、これらが各々コンピュータ125に入力される。
In the embodiment described above, the
この時、検出されるスペクトルはそれぞれに対して2つ存在し、検出素子列139−1によるスペクトルが破線で、139−2によるものが実線で示されている。このような場合、ラインセンサ139の位置を調整する上では、これら2つのスペクトルの値が同じまたは所定範囲の差に収まるように調整する。したがって、前述した実施例においてこれら2種類のスペクトルを、図11において例示するようにスペクトル表示領域600に識別可能に表示する。これと共に、これらの高さ、面積等の指標がともに一定の値以上であり、かつ相互のばらつきが所定範囲内になるように調整が行われる。
At this time, there are two spectra to be detected, the spectrum by the detection element array 139-1 is shown by a broken line, and the spectrum by 139-2 is shown by a solid line. In such a case, when adjusting the position of the
〔その他の実施例〕上述の実施例においては、光干渉断層撮影システムまたは画像処理装置内の各機能ブロックに対応する回路が本発明を実現する実施例を説明したが、本発明の実施形態はこれに限られない。例えば、画像処理装置内で行われている処理を複数の装置で分散させシステムとして実現しても、一つの機能ブロックとしてまとめられている処理を複数の回路または装置で分散させて実現してもよい。なお、光干渉断層撮影装置に上述の実施例における画像処理装置及び表示装置の機能を組み込んで光干渉断層撮影装置により本発明を実現することとしてもよい。 [Other Embodiments] In the above-described embodiments, the embodiment in which the circuit corresponding to each functional block in the optical coherence tomography system or the image processing apparatus realizes the present invention has been described. It is not limited to this. For example, the processing performed in the image processing apparatus can be realized by distributing a plurality of devices as a system, or the processing combined as one functional block can be realized by distributing the processing by a plurality of circuits or devices. Good. Note that the present invention may be realized by an optical coherence tomography apparatus by incorporating the functions of the image processing apparatus and the display device in the above-described embodiment into the optical coherence tomography apparatus.
また本発明は、前述の実施例の機能を実現するソフトウェアのプログラムコードを記録した記録媒体をシステムや装置に供給し、そのシステムや装置の演算装置が記録媒体に格納されたプログラムコードをCPUが実行することによって実現される。またコンピュータが読み出したプログラムコードを実行することにより、コンピュータ上で稼動しているオペレーティングシステム(OS)などが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施例の機能が実現される場合も含まれる。このCPUはコンピュータ内に複数含まれていてもよく、この場合複数のCPUで分散させて本発明を実現することとしてもよい。 The present invention also provides a system or apparatus with a recording medium that records software program codes for realizing the functions of the above-described embodiments, and the CPU stores the program code stored in the recording medium by the arithmetic unit of the system or apparatus. It is realized by executing. Also, by executing the program code read by the computer, an operating system (OS) running on the computer performs part or all of the actual processing, and the functions of the above-described embodiments are realized by the processing. This is also included. A plurality of CPUs may be included in the computer. In this case, the present invention may be realized by distributing the CPUs.
またこの場合、記録媒体から読み出されたプログラムコード自体が前述した実施例の機能を実現することになり、そのプログラムまたはプログラムコードを記録した記録媒体が本発明を構成することになる。 In this case, the program code read from the recording medium itself realizes the functions of the above-described embodiments, and the recording medium recording the program or the program code constitutes the present invention.
更に記録媒体から読み出したプログラムコードが、コンピュータ付属の機能拡張カードや機能拡張ユニット内のメモリに書き込まれ、前記拡張カードや拡張ユニット内の演算装置が実際の処理の一部か全部を行い、前述の実施例の機能が実現される場合も含む。この場合、本発明はハードウェアにより実装された回路とソフトウェア及びハードウェアの協働により実現される機能とにより実現される。 Further, the program code read from the recording medium is written in a memory in the function expansion card or function expansion unit attached to the computer, and the arithmetic unit in the expansion card or expansion unit performs part or all of the actual processing. This includes the case where the functions of the embodiment are realized. In this case, the present invention is realized by a circuit implemented by hardware and a function realized by cooperation of software and hardware.
なお、上述した本実施の形態における記述は、本発明に係る好適な眼底断層像撮影装置の制御装置の一例であり、本発明はこれに限定されるものではない。 Note that the description in the present embodiment described above is an example of a suitable fundus tomography apparatus according to the present invention, and the present invention is not limited to this.
100 OCT撮影装置
125 コンピュータ
139 ラインセンサ
141 回折格子
210 電動ステージ
600 スペクトル表示領域
602 自動調整ボタン
604−1 ラインセンサ高さ調整スライダ
604−2 ラインセンサ回転調整スライダ
DESCRIPTION OF
Claims (7)
前記低コヒーレンス光を複数の測定光と複数の参照光に分割するとともに、撮影対象を経由した前記複数の測定光のそれぞれと、各測定光に対応する参照物体を経由した前記参照光との干渉光をそれぞれ生成する干渉光生成手段と、
前記生成された複数の干渉光を受光して、それぞれに対応する電気信号に変換する撮像手段と、
前記撮像手段が前記複数の干渉光を受光して得られたそれぞれの電気信号に基づき、前記撮影対象の画像を形成する画像形成手段と、
前記撮像手段の受光面と前記撮像手段が受光する前記複数の干渉光の光束との相対位置を調整する調整手段と、
前記撮像手段が受光する前記複数の干渉光のそれぞれの受光状態を並べて表示させる表示制御手段とを有することを特徴とする撮影装置。 A light source that emits low coherence light;
The low-coherence light is divided into a plurality of measurement lights and a plurality of reference lights, and interference between each of the plurality of measurement lights passing through the object to be photographed and the reference light passing through a reference object corresponding to each measurement light Interference light generating means for generating light respectively;
Imaging means for receiving the plurality of generated interference lights and converting them into corresponding electrical signals;
Image forming means for forming an image of the object to be photographed based on respective electrical signals obtained by the imaging means receiving the plurality of interference lights; and
And adjusting means for said imaging means and the light receiving surface of the imaging means to adjust the relative positions of the light beams of the plurality of interference light received,
Photographing apparatus before Symbol imaging means and having a display control means for displaying side by side each of the light receiving states of the plurality of interference light received.
前記生成された複数の干渉光を撮像部が受光して、それぞれに対応する電気信号に変換するステップと、
前記撮像部が前記複数の干渉光を受光して得られたそれぞれの電気信号に基づき、前記撮影対象の画像を形成するステップと、
前記撮像部の受光面と前記撮像部が受光する前記複数の干渉光の光束との相対位置を調整するステップと、
前記撮像部が受光する前記複数の干渉光のそれぞれの受光状態を並べて表示させるステップとを有することを特徴とする撮影装置の調整方法。 The low-coherence light emitted from the light source is divided into a plurality of measurement lights and a plurality of reference lights, and each of the plurality of measurement lights passing through the imaging target and the reference via the reference object corresponding to each measurement light Generating interference light with each light,
The imaging unit receives the plurality of generated interference lights and converts them into corresponding electrical signals;
Forming an image of the subject to be photographed based on each electrical signal obtained by the imaging unit receiving the plurality of interference lights; and
Adjusting the relative position between the light receiving surface of the imaging unit and the light beams of the plurality of interference lights received by the imaging unit;
Adjusting method of the imaging device before Symbol imaging unit and having a step of arranging and displaying a respective light receiving state of the plurality of interference light received.
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