JP5588807B2 - Controller for environmental test apparatus, environmental test apparatus having the same, and debugger for environmental test apparatus - Google Patents

Controller for environmental test apparatus, environmental test apparatus having the same, and debugger for environmental test apparatus Download PDF

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Description

本発明は、データログ機能を有する環境試験装置用コントローラ、及びこれを有する環境試験装置、並びにこの環境試験装置用デバッガに関する。   The present invention relates to a controller for an environmental test apparatus having a data log function, an environmental test apparatus having the controller, and a debugger for the environmental test apparatus.

電子機器や電子部品等の性能や耐久性等を評価する技術として、下記特許文献1のように、高温環境、低温環境、高湿度環境等の人工的な環境を装置の試験槽内において作りだし、この試験槽内に被試験物を置いて評価を行う環境試験装置が従来から知られている。試験槽内の環境は、ユーザからの操作入力や、コントローラに格納されたシーケンスプログラム等を基にして、加熱器や冷却器などの制御対象機器を制御することで作り出される。   As a technique for evaluating the performance and durability of electronic devices and electronic parts, as shown in Patent Document 1 below, an artificial environment such as a high-temperature environment, a low-temperature environment, and a high-humidity environment is created in the test chamber of the apparatus. 2. Description of the Related Art Conventionally, an environmental test apparatus that performs evaluation by placing an object to be tested in this test tank is known. The environment in the test chamber is created by controlling a control target device such as a heater or a cooler based on an operation input from the user or a sequence program stored in the controller.

また、この特許文献1の環境試験装置では、試験槽内の温度や湿度などの環境状態を検出する環境センサを備え、この環境センサから取得した環境状態データをログとして記憶している。   In addition, the environmental test apparatus of Patent Document 1 includes an environmental sensor that detects an environmental state such as temperature and humidity in the test tank, and stores environmental state data acquired from the environmental sensor as a log.

特開2007−225154号公報JP 2007-225154 A

ところで、環境試験装置において試験槽内の温度や湿度が異常に高くなる等の不具合が発生する場合がある。   By the way, in the environmental test apparatus, there are cases where problems such as abnormally high temperature and humidity in the test tank occur.

しかしながら、特許文献1の環境試験装置では、ログとして記憶されているのは環境状態データのみであるため、この不具合がユーザの誤操作により発生したのか、制御対象機器の誤動作により発生したのか、シーケンスプログラムに問題があるのかなどの不具合の原因を特定することはできなかった。従って、不具合の原因の特定を行うためには、不具合の原因の仮説を多く立て、その仮説を一つ一つ検証する他なく、多大な手間を要していた。   However, since only the environmental state data is stored as a log in the environmental test apparatus of Patent Document 1, whether this failure has occurred due to a user's erroneous operation or a malfunction of the control target device, a sequence program It was not possible to identify the cause of the problem, such as whether or not there was a problem. Therefore, in order to identify the cause of the defect, it has been necessary to make a lot of time and effort to make many hypotheses of the cause of the defect and verify each hypothesis.

本発明は、上記の問題点に鑑みてされたものであり、環境試験装置において発生した不具合の原因の特定を容易に行うことができるログを記憶可能な環境試験装置用コントローラ、及びこの環境試験装置用コントローラを有する環境試験装置、並びにこの環境試験装置用デバッガを提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above problems, and a controller for an environmental test apparatus capable of storing a log that can easily identify the cause of a failure occurring in the environmental test apparatus, and the environmental test. It is an object of the present invention to provide an environmental test apparatus having an apparatus controller and a debugger for the environmental test apparatus.

上記の課題を解決するために、本発明の環境試験装置用コントローラは、データログ機能を有する環境試験装置用コントローラであって、前記環境試験装置の制御対象機器をシーケンス制御するメインモジュールと、前記コントローラに対するユーザの操作入力をイベントデータとして取得する入力サブモジュールと、前記メインモジュールから前記制御対象機器へ出力される制御データをイベントデータとして取得するI/Oサブモジュールと、前記環境試験装置の環境状態を検出する環境センサから環境状態データを取得するセンサ入力サブモジュールとを含む、前記メインモジュールと通信可能な複数のサブモジュールとを備え、前記複数のサブモジュールは、前記サブモジュール内の内部時刻を計時する内部クロックと、前記サブモジュールのログであるサブモジュールログが記憶されるログメモリとを各サブモジュールに有し、前記入力サブモジュール及び前記I/Oサブモジュールは、前記イベントデータを取得した場合に、この取得時において前記内部クロックが計時した内部時刻をイベント取得時刻データとし、前記イベントデータと前記イベント取得時刻データとを含むサブモジュールログを前記ログメモリに記憶し、前記センサ入力サブモジュールは、前記内部クロックから所定の時間間隔毎に出力される記録トリガの出力時に、前記環境センサから環境状態データを取得し、この取得時において前記内部クロックが計時した内部時刻を環境状態取得時刻データとし、前記環境状態取得時刻データと前記環境状態データとを含むサブモジュールログを前記ログメモリに記憶し、前記サブモジュール各々における、前記ログメモリに記憶されたサブモジュールログの前記メインモジュールへの送信は、前記メインモジュールが処理に余裕があるときに、この送信時において前記内部クロックが計時した内部時刻を送信時内部時刻データとして前記サブモジュールログに付して行うものであり、前記メインモジュールは、現在時刻を計時するリアルタイムクロックと、前記環境試験装置全体のログが記憶されるメインメモリとを有し、前記サブモジュール各々から前記サブモジュールログを受信した場合に、この受信時において前記リアルタイムクロックが計時した前記サブモジュールログの受信時刻データ、前記サブモジュールログに付された前記送信時内部時刻データ、及び前記サブモジュールログに含まれる前記イベント取得時刻データ又は環境状態取得時刻データを用いて、前記リアルタイムクロックを基準としたイベント取得調整時刻データ、又は前記リアルタイムクロックを基準とした環境状態取得調整時刻データを算出し、算出したイベント取得調整時刻データと前記イベントデータとを対応付けてイベントログデータとして、又は算出した環境状態取得調整時刻データと前記環境状態データとを対応付けて環境状態ログデータとして前記メインメモリに記憶すると共に、このイベント取得調整時刻データ及び環境状態取得調整時刻データを用いて、前記イベントデータに時間的に対応する前記環境状態データを求めて、前記メインメモリに記憶することを特徴とする。   In order to solve the above problems, an environmental test apparatus controller of the present invention is an environmental test apparatus controller having a data log function, and a main module that performs sequence control on a device to be controlled by the environmental test apparatus, An input submodule that acquires user operation input to the controller as event data, an I / O submodule that acquires control data output from the main module to the control target device as event data, and an environment of the environmental test apparatus A plurality of submodules communicable with the main module, including a sensor input submodule that acquires environmental state data from an environmental sensor that detects a state, and the plurality of submodules includes an internal time in the submodule. An internal clock that counts the time Each submodule has a log memory in which a submodule log, which is a log of a module, is stored, and the input submodule and the I / O submodule acquire the event data when the event data is acquired. The internal time counted by the internal clock is set as event acquisition time data, a submodule log including the event data and the event acquisition time data is stored in the log memory, and the sensor input submodule receives a predetermined value from the internal clock. At the time of outputting a recording trigger that is output every time interval, environmental state data is acquired from the environmental sensor, and the internal time measured by the internal clock at the time of acquisition is used as environmental state acquisition time data, and the environmental state acquisition time data And a submodule log including the environmental status data The sub module log stored in the memory and stored in the log memory in each of the sub modules is transmitted to the main module when the main module has sufficient processing. The measured internal time is added to the sub-module log as transmission internal time data, and the main module stores a real-time clock for measuring the current time and a main log in which the entire environmental test apparatus log is stored. And when the submodule log is received from each of the submodules, the reception time data of the submodule log measured by the real-time clock at the time of reception, and the transmission attached to the submodule log Internal time data and sub module log Using the event acquisition time data or environmental state acquisition time data included, the event acquisition adjustment time data based on the real time clock or the environmental state acquisition adjustment time data based on the real time clock was calculated and calculated. The event acquisition adjustment time data and the event data are associated with each other as event log data, or the calculated environmental state acquisition adjustment time data and the environmental state data are associated with each other and stored in the main memory as environment state log data. Using the event acquisition adjustment time data and the environmental state acquisition adjustment time data, the environmental state data temporally corresponding to the event data is obtained and stored in the main memory.

上記の構成によれば、所定の時間間隔毎に記憶される環境試験装置の環境状態データに加えて、コントローラに対するユーザの操作入力データ、及びこの操作入力が行われた際の環境試験装置の環境状態データ、並びに環境試験装置の制御対象機器に対して出力される制御データ、及び制御データが出力された際の環境試験装置の環境状態データもログとして記憶することができる。これにより、環境試験装置に不具合が発生した場合でも、このログを調べることで、不具合がユーザの誤操作により発生したのか、或いは制御対象機器の誤動作により発生したのか等の不具合原因の特定を従来装置に比べて容易に行うことができる。
また、メインモジュールは処理に余裕があるときに、サブモジュールからサブモジュールログを受信してメインメモリにログを記憶するようにされているので、環境試験装置全体のログの記憶動作がメインモジュールのシーケンス制御に支障をきたすことはない。
According to said structure, in addition to the environmental condition data of the environmental test apparatus memorize | stored for every predetermined time interval, the user's operation input data with respect to a controller, and the environment of the environmental test apparatus at the time of this operation input being performed The status data, the control data output to the control target device of the environmental test apparatus, and the environmental status data of the environmental test apparatus when the control data is output can also be stored as a log. As a result, even if a failure occurs in the environmental test device, the conventional device can identify the cause of the failure, such as whether the failure has occurred due to an erroneous operation of the user or a malfunction of the control target device by examining this log. This can be done more easily than
In addition, when the main module has enough processing capacity, it receives the sub module log from the sub module and stores the log in the main memory. There is no hindrance to sequence control.

また、本発明の環境試験装置用コントローラにおいて、前記メインモジュールにおける前記イベントデータと前記環境状態データとの対応付けは、前記イベント取得調整時刻データに対して時間的に最も近い前記環境状態取得調整時刻データを求めて行ってもよい。上記の構成によれば、イベントデータの取得時刻と同じ時刻に環境状態データが取得されていない場合においても、イベントデータと環境状態データとの対応付けを行うことができる。   In the environmental test apparatus controller of the present invention, the association between the event data and the environmental state data in the main module is the environmental state acquisition adjustment time closest in time to the event acquisition adjustment time data. You may ask for data. According to the above configuration, the event data and the environmental state data can be associated even when the environmental state data is not acquired at the same time as the acquisition time of the event data.

また、本発明の環境試験装置用コントローラにおいて、前記メインメモリに記憶されている任意の前記環境状態ログデータに含まれる前記環境状態データの値が、前記環境状態取得調整時刻データにおいて1つ前及び1つ後の前記環境状態ログデータに含まれる前記環境状態データの値と実質的に同じ場合には、この任意の環境状態ログデータに含まれる環境状態データが前記イベントデータと時間的に対応付けられている場合を除いて、前記任意の環境状態ログデータを前記メインメモリから消去してもよい。上記の構成によれば、環境試験装置の環境状態が安定しており、環境状態データの値に変化がない期間において、この期間の最初と最後の環境状態ログデータ及び、環境状態データがイベントデータと時間的に対応付けられている環境状態ログデータを残して、その他の環境状態ログデータは消去される。従って、メインメモリに記憶させるデータ量を少なくすることができ、メインメモリの記憶容量を節約することができる。   Further, in the environmental test apparatus controller of the present invention, the value of the environmental state data included in any of the environmental state log data stored in the main memory is the previous one in the environmental state acquisition adjustment time data and When the value of the environmental status data included in the next environmental status log data is substantially the same, the environmental status data included in the arbitrary environmental status log data is temporally associated with the event data. The arbitrary environmental state log data may be deleted from the main memory except when it is set. According to the above configuration, in the period when the environmental state of the environmental test apparatus is stable and the value of the environmental state data does not change, the first and last environmental state log data and the environmental state data of this period are the event data. The other environmental status log data is deleted while leaving the environmental status log data temporally associated with. Therefore, the amount of data stored in the main memory can be reduced, and the storage capacity of the main memory can be saved.

また、本発明の環境試験装置用コントローラにおいて、前記サブモジュール各々は、不具合の発生を検知する不具合検知手段を更に有しており、前記不具合検知手段が不具合を検知した場合、前記サブモジュールは前記メインモジュールに不具合検知データを送信し、前記メインモジュールは、前記サブモジュールから前記不具合検知データを受信した場合、前記環境試験装置全体のログの前記メインメモリへの記憶を所定の時間継続した後に、この記憶動作を停止してもよい。上記の構成によれば、環境試験装置に不具合が発生した場合に、この不具合発生時から所定期間の間は、環境試験装置全体のログの記憶は継続されるため、不具合原因の特定をより正確に行うことができる。また、所定期間経過後はこの記録動作は停止されるので、不具合からコントローラを保全することができる。   Moreover, in the controller for an environmental test apparatus according to the present invention, each of the submodules further includes a failure detection unit that detects occurrence of a failure, and when the failure detection unit detects a failure, the submodule When the failure detection data is transmitted to the main module, and the main module receives the failure detection data from the submodule, after continuing the storage of the log of the entire environmental test apparatus in the main memory for a predetermined time, This storage operation may be stopped. According to the above configuration, when a failure occurs in the environmental test device, the log storage of the entire environmental test device is continued for a predetermined period from the time of occurrence of the failure. Can be done. Further, since this recording operation is stopped after a predetermined period of time, the controller can be maintained from malfunctions.

また、本発明の環境試験装置用コントローラにおいて、前記センサ入力モジュールは、リングメモリを更に有し、前記内部クロックが計時する所定の時間間隔よりも短い時間間隔毎に、前記環境センサから前記環境状態データを取得し、この取得時において前記内部クロックが計時した内部時刻を環境状態取得時刻データとし、前記環境状態取得時刻データと取得した環境状態データとを含む小サイクルログを前記リングメモリに記録しており、前記サブモジュールの何れかにおいて前記不具合検知手段が不具合を検知した場合に、前記リングメモリに記憶された前記小サイクルログを前記メインモジュールに送信し、前記メインモジュールは、前記入力サブモジュールから受信した前記小サイクルログを前記メインメモリに記憶してもよい。上記の構成によれば、不具合発生前の一定期間の環境状態データを詳細にログとして記憶することができるので、不具合原因の特定をより容易に行うことができる。   Moreover, in the controller for an environmental test apparatus according to the present invention, the sensor input module further includes a ring memory, and from the environmental sensor to the environmental state every time interval shorter than a predetermined time interval timed by the internal clock. Data is acquired, and the internal time counted by the internal clock at the time of acquisition is used as environmental state acquisition time data, and a small cycle log including the environmental state acquisition time data and the acquired environmental state data is recorded in the ring memory. And when the failure detection means detects a failure in any of the submodules, the small cycle log stored in the ring memory is transmitted to the main module, and the main module receives the input submodule. The small cycle log received from the main memory may be stored in the main memoryAccording to the above configuration, the environmental condition data for a certain period before the occurrence of the failure can be stored in detail as a log, so that the cause of the failure can be identified more easily.

また、本発明の環境試験装置用コントローラにおいて、前記センサ入力モジュールの前記内部クロックが前記記録トリガを出力する時間間隔を、特定の条件のときに、変更してもよい。上記の構成によれば、環境状態データを取得する時間間隔を変更することができる。   In the controller for an environmental test apparatus of the present invention, the time interval at which the internal clock of the sensor input module outputs the recording trigger may be changed when a specific condition is satisfied. According to said structure, the time interval which acquires environmental condition data can be changed.

また、本発明の環境試験装置用コントローラにおいて、前記特定の条件のときは、前記環境試験装置の状態が、前記環境試験装置において不具合が発生する可能性が高い状態であるとユーザが予め設定した状態にあるときであり、この特定の条件のときにおいて、前記センサ入力モジュールにおける前記内部クロックが前記記録トリガを出力する時間間隔を短くしてもよい。上記の構成によれば、環境試験装置が不具合を発生する可能性が高い状態にあるときに、環境状態データを詳細にログとして記憶することができるので、不具合が発生した場合において、このログを確認することで、不具合原因の特定をより容易に行うことができる。   In the environmental test apparatus controller according to the present invention, the user sets in advance that the state of the environmental test apparatus is highly likely to cause a failure in the environmental test apparatus under the specific condition. In this state, the time interval at which the internal clock in the sensor input module outputs the recording trigger may be shortened under this specific condition. According to the above configuration, when the environmental test apparatus is in a state where there is a high possibility that a failure will occur, environmental state data can be stored in detail as a log. By checking, it is possible to more easily identify the cause of the malfunction.

また、本発明の環境試験装置用コントローラにおいて、前記特定の条件のときは、前記環境試験装置において、ユーザが予測することができない不具合が発生しているときであり、この特定の条件ときにおいて、前記センサ入力モジュールにおける前記内部クロックが前記記録トリガを出力する時間間隔を短くしてもよい。上記の構成によれば、環境試験装置において不具合が発生しているときに、環境状態データを詳細にログとして記憶することができるので、このログを確認することで、不具合原因の特定をより容易に行うことができる。   Moreover, in the controller for an environmental test apparatus of the present invention, the specific condition is a time when a failure that cannot be predicted by a user has occurred in the environmental test apparatus. The time interval at which the internal clock in the sensor input module outputs the recording trigger may be shortened. According to the above configuration, when a failure occurs in the environmental test apparatus, environmental state data can be stored in detail as a log. By checking this log, it is easier to identify the cause of the failure. Can be done.

また、本発明の環境試験装置用コントローラにおいて、前記入力サブモジュールの前記ログメモリから、又は前記メインモジュールの前記メインメモリから、前記入力サブモジュールが取得した前記イベントデータ、及び前記イベント取得調整時刻データ又は前記イベント取得時刻データを読み込み、前記コントローラの操作入力手順を再現可能なマクロを生成可能なマクロ生成手段を更に有していてもよい。上記の構成によれば、コントローラへの操作入力手順をマクロにすることができるので、ユーザ各々が有する環境試験装置の操作のノウハウや技能等の共有化を図ることができる。   In the environmental test apparatus controller according to the present invention, the event data acquired by the input submodule and the event acquisition adjustment time data from the log memory of the input submodule or from the main memory of the main module. Alternatively, it may further include a macro generation unit that reads the event acquisition time data and generates a macro that can reproduce the operation input procedure of the controller. According to said structure, since the operation input procedure to a controller can be made into a macro, sharing of the know-how, skill, etc. of operation of the environmental test apparatus which each user has can be aimed at.

また、本発明の環境試験装置用コントローラにおいて、ネットワークを介して他の環境試験装置と通信可能な通信制御手段を更に有し、前記通信制御手段により、他の環境試験装置との間で前記メインメモリに記憶されている前記環境試験装置全体のログの授受が可能にされていると共に、他の環境試験装置のコントローラの遠隔操作が可能にされていてもよい。上記の構成によれば、遠隔地に設置された環境試験装置のコントローラのメインメモリに記憶された環境試験装置全体のログを取得することができるので、その結果、遠隔地に設置された環境試験装置の不具合の原因をその設置場所に行かずとも特定することができる。また、環境試験装置のコントローラの遠隔操作が可能であるため、遠隔地からリモートメンテナンスを行うことができる。   The controller for an environmental test apparatus according to the present invention further includes communication control means capable of communicating with another environmental test apparatus via a network, and the main communication with the other environmental test apparatus by the communication control means. The log of the entire environmental test apparatus stored in the memory may be exchanged, and remote control of a controller of another environmental test apparatus may be possible. According to the above configuration, it is possible to obtain a log of the entire environmental test apparatus stored in the main memory of the controller of the environmental test apparatus installed in the remote place, and as a result, the environmental test installed in the remote place. The cause of the malfunction of the device can be identified without going to the installation location. In addition, since remote control of the controller of the environmental test apparatus is possible, remote maintenance can be performed from a remote location.

また、本発明の環境試験装置は、前記環境試験装置用コントローラを有している。   Moreover, the environmental test apparatus of this invention has the said controller for environmental test apparatuses.

また、本発明の環境試験装置用デバッガは、前記環境試験装置と、前記環境試験装置をシーケンス制御可能なPLC処理手段とを有する環境試験装置用デバッガであって、前記PLC処理手段は、前記メインメモリに記憶された前記環境試験装置全体のログを用いて、前記環境試験装置の運転の再現が可能であることを特徴とする。上記環境試験装置全体のログを用いて環境試験装置の運転を再現することができるため、環境試験装置の不具合の原因をより容易に特定することができる。   The debugger for an environmental test apparatus according to the present invention is an environmental test apparatus debugger having the environmental test apparatus and PLC processing means capable of controlling the sequence of the environmental test apparatus. It is possible to reproduce the operation of the environmental test apparatus using a log of the entire environmental test apparatus stored in a memory. Since the operation of the environmental test apparatus can be reproduced using the log of the entire environmental test apparatus, the cause of the malfunction of the environmental test apparatus can be identified more easily.

また、本発明の環境試験装置用デバッガにおいて、前記環境センサは、前記環境試験装置の槽内に備えられており、前記環境状態データは、前記環境試験装置の槽内環境データを含むものであり、前記PLC処理手段は、前記メインメモリに記憶された前記環境試験装置全体のログを用いて、前記メインモジュールの前記制御対象機器に対するシーケンス制御の再現が可能である共に、前記環境試験装置全体のログを用いた理論式により前記環境試験装置の槽内の環境状態のシミュレートが可能であってもよい。上記の構成によれば、環境試験装置全体のログを用いて制御対象機器のシーケンス制御の再現が可能であると共に、環境試験装置全体のログを用いた理論式により環境試験装置の槽内の環境状態をシミュレートすることができる。従って、実際に環境センサにより取得して前記メインメモリに記憶された環境状態ログデータの槽内環境データと、環境試験装置全体のログを用いた理論式によりシミュレートされた槽内環境とを比較することで、環境試験装置の不具合の原因の特定をより容易に行うことができる。   In the environmental test apparatus debugger of the present invention, the environmental sensor is provided in a tank of the environmental test apparatus, and the environmental state data includes in-tank environment data of the environmental test apparatus. The PLC processing means can reproduce sequence control for the control target device of the main module using a log of the entire environmental test apparatus stored in the main memory, and It may be possible to simulate the environmental condition in the tank of the environmental test apparatus by a theoretical formula using a log. According to the above configuration, it is possible to reproduce the sequence control of the device to be controlled using the log of the entire environmental test apparatus, and the environment in the tank of the environmental test apparatus by the theoretical formula using the log of the entire environmental test apparatus. The state can be simulated. Therefore, the in-vessel environment data of the environmental state log data actually obtained by the environmental sensor and stored in the main memory is compared with the in-vessel environment simulated by a theoretical formula using the log of the entire environmental test apparatus. By doing so, it is possible to more easily identify the cause of the malfunction of the environmental test apparatus.

また、本発明の環境試験装置用デバッガにおいて、前記槽内環境データは、前記環境試験装置の槽内の、温度、湿度、圧力、風速から選択的に採用されてもよい。   In the environmental test apparatus debugger of the present invention, the in-tank environment data may be selectively adopted from temperature, humidity, pressure, and wind speed in the tank of the environmental test apparatus.

また、本発明の環境試験装置用デバッガにおいて、前記環境試験装置の外部環境状態の再現が可能な環境再現装置を更に有し、前記環境状態データは、前記環境試験装置の外部環境データを含むものであり、前記メインメモリに記憶された前記環境状態ログデータに含まれる前記外部環境データを用いて、前記環境再現装置が前記環境試験装置の外部環境状態の再現が可能であってもよい。上記の構成によれば、環境再現装置により環境試験装置の外部環境状態も再現してデバッグを行うことができるので、環境試験装置の不具合原因をより容易に特定することができる。   The environmental test apparatus debugger of the present invention further includes an environment reproduction apparatus capable of reproducing the external environment state of the environmental test apparatus, and the environmental state data includes external environment data of the environmental test apparatus. The environment reproduction device may be capable of reproducing the external environment state of the environment test device using the external environment data included in the environment state log data stored in the main memory. According to the above configuration, the environment reproduction apparatus can also reproduce and debug the external environment state of the environment test apparatus, so that the cause of the malfunction of the environment test apparatus can be identified more easily.

また、本発明の環境試験装置用デバッガにおいて、前記外部環境データは、前記環境試験装置の外部の、温度、湿度、及び圧力、並びに前記環境試験装置の電源電圧、消費電力、及び通信情報から選択的に採用されてもよい。   Further, in the environmental test apparatus debugger of the present invention, the external environment data is selected from temperature, humidity, and pressure outside the environmental test apparatus, and power supply voltage, power consumption, and communication information of the environmental test apparatus. May be employed.

また、本発明の環境試験装置用コントローラは、データログ機能を有する環境試験装置用コントローラであって、現在時刻を計時するリアルタイムクロックと、所定の時間間隔毎に記録トリガを出力するサイクルタイマと、前記環境試験装置全体のログが記憶される記憶手段と、前記コントローラに対してユーザから操作入力される操作入力データを取得する入力取得手段と、前記環境試験装置の環境状態を検出する環境センサから環境状態データを取得する環境状態取得手段と、シーケンスプログラムが格納されており、このシーケンスプログラム、前記入力取得手段により取得された前記操作入力データ、及び、前記環境状態取得手段により取得された前記環境状態データに基づいて、前記環境試験装置の制御対象機器の設定を変更するための制御データを作成し、この制御データを前記制御対象機器に対して出力する制御手段とを有し、前記サイクルタイマの記録トリガの出力時において、前記リアルタイムクロックが計時した現在時刻データと、前記環境状態取得手段が取得した環境状態データとを対応付けて前記記憶手段に記憶し、前記入力取得手段が前記操作入力データを取得した場合、又は前記制御手段が前記制御データを出力した場合、この取得時又は出力時において前記リアルタイムクロックが計時した現在時刻データと、この取得時又は出力時において前記環境状態取得手段が取得した環境状態データと、前記操作入力データ又は前記制御データとを対応付けて前記記憶手段に記憶することを特徴とする。
Further, the environmental test apparatus controller of the present invention is an environmental test apparatus controller having a data log function, a real-time clock for measuring the current time, a cycle timer for outputting a recording trigger at every predetermined time interval, environment sensor for detecting a storage unit logs across the environmental testing apparatus is stored, an input acquisition means for acquiring an operation input data to be operated input by the user to the controller, the environmental condition before Symbol environmental tester An environmental state acquisition unit for acquiring environmental state data from the sequence program is stored, the sequence program, the operation input data acquired by the input acquisition unit, and the environmental state acquisition unit Change the setting of the control target device of the environmental test device based on the environmental state data Create the control data of the order, and a control means for outputting the control data to the control target device, when the output of the recording trigger the cycle timer, current and time data to which the real time clock has timed, When the environmental condition data acquired by the environmental condition acquisition unit is associated with the storage unit and stored in the storage unit, the input acquisition unit acquires the operation input data, or the control unit outputs the control data. The current time data timed by the real-time clock at the time of acquisition or output, the environmental state data acquired by the environmental state acquisition means at the time of acquisition or output, and the operation input data or the control data are associated with each other. And storing in the storage means.

上記の構成によれば、所定の時間間隔毎に記憶される環境試験装置の環境状態データに加えて、コントローラに対するユーザの操作入力データ、及びこの操作入力が行われた際の環境試験装置の環境状態データ、並びに環境試験装置の制御対象機器に対して出力される制御データ、及び制御データが出力された際の環境試験装置の環境状態データもログとして記憶することができる。これにより、環境試験装置に不具合が発生した場合でも、このログを調べることで、不具合がユーザの誤操作により発生したのか、或いは制御対象機器の誤動作により発生したのか等の、不具合原因の特定を従来装置に比べて容易に行うことができる。   According to said structure, in addition to the environmental condition data of the environmental test apparatus memorize | stored for every predetermined time interval, the user's operation input data with respect to a controller, and the environment of the environmental test apparatus at the time of this operation input being performed The status data, the control data output to the control target device of the environmental test apparatus, and the environmental status data of the environmental test apparatus when the control data is output can also be stored as a log. As a result, even if a failure occurs in the environmental test device, it is possible to identify the cause of the failure by examining this log, such as whether the failure has occurred due to an erroneous operation by the user or a malfunction of the controlled device. This can be easily performed as compared with the apparatus.

本発明によれば、環境試験装置において発生した不具合の原因の特定を容易に行うことができる。   According to the present invention, it is possible to easily identify the cause of a failure that has occurred in an environmental test apparatus.

本発明の第一実施形態に係る環境試験装置の構成図である。It is a block diagram of the environmental test apparatus which concerns on 1st embodiment of this invention. 本発明の第一実施形態に係る環境試験装置用コントローラの構成図である。It is a block diagram of the controller for environmental test apparatuses which concerns on 1st embodiment of this invention. 環境試験装置全体ログの生成タイミングを表すタイムチャートである。It is a time chart showing the production | generation timing of the environmental test apparatus whole log. 本発明の第二実施形態に係る環境試験装置用コントローラの構成図である。It is a block diagram of the controller for environmental test apparatuses which concerns on 2nd embodiment of this invention. ログメモリに記憶されるサブモジュールログ、メインメモリに記憶される環境試験全体ログについて説明する説明図である。It is explanatory drawing explaining the submodule log memorize | stored in log memory, and the environmental test whole log memorize | stored in main memory. 環境試験装置全体ログの生成タイミングを表すタイムチャートである。It is a time chart showing the production | generation timing of the environmental test apparatus whole log. リングメモリに記憶するログの生成タイミングを表すタイムチャートである。It is a time chart showing the production | generation timing of the log memorize | stored in a ring memory. イベント取得調整時刻データの算出方法について説明する説明図である。It is explanatory drawing explaining the calculation method of event acquisition adjustment time data. イベントデータと環境状態データとの対応付けの方法について説明する説明図である。It is explanatory drawing explaining the matching method of event data and environmental state data. 環境状態データの記録方法について説明する説明図である。It is explanatory drawing explaining the recording method of environmental condition data. メインモジュールの処理動作についてのフローチャートである。It is a flowchart about the processing operation of a main module. 入力サブモジュールの処理動作についてのフローチャートである。It is a flowchart about the processing operation of an input submodule. I/Oサブモジュールの処理動作についてのフローチャートである。It is a flowchart about the processing operation of an I / O submodule. センサ入力サブモジュールの処理動作についてのフローチャートである。It is a flowchart about the processing operation of a sensor input submodule. 環境試験装置用デバッガの構成図である。It is a block diagram of the debugger for environmental test apparatuses.

(第一実施形態)
本発明の第一実施形態を、図1〜図3を参照して説明する。
(First embodiment)
A first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.

(環境試験装置)
まず、第一実施形態に係る環境試験装置用コントローラを有する環境試験装置について説明する。
(Environmental test equipment)
First, an environmental test apparatus having an environmental test apparatus controller according to the first embodiment will be described.

図1に示すように、環境試験装置50は、データログ機能を有するコントローラ1、LCD(Liquid Crystal Display)パネル31、設定ボタン32、試験槽51、複数の制御対象機器80、及び環境センサ90を備えている。   As shown in FIG. 1, the environmental test apparatus 50 includes a controller 1 having a data log function, an LCD (Liquid Crystal Display) panel 31, a setting button 32, a test tank 51, a plurality of control target devices 80, and an environmental sensor 90. I have.

LCDパネル31は、コントローラ1の後述の操作入力部3から入力された表示データに基づいて、環境試験装置50の試験条件、制御対象機器80の設定や制御対象機器80の現在の状態等をユーザに対して表示するものである。設定ボタン32は、コントローラ1に対するユーザからの操作入力を受け付けるものであり、受け付けた操作入力データをコントローラ1の操作入力部3へ出力する。なお、操作入力データとは、試験槽51の環境設定(例えば、試験室51aの温度設定)や、制御対象機器80の設定(例えば、後述の加熱器82のON・OFF)等のユーザが操作入力して設定するデータである。   The LCD panel 31 displays the test conditions of the environmental test apparatus 50, the setting of the control target device 80, the current state of the control target device 80, and the like based on display data input from the operation input unit 3 described later of the controller 1. Is displayed. The setting button 32 receives an operation input from the user for the controller 1, and outputs the received operation input data to the operation input unit 3 of the controller 1. The operation input data refers to the user's operation such as the environment setting of the test chamber 51 (for example, temperature setting of the test chamber 51a) and the setting of the control target device 80 (for example, ON / OFF of the heater 82 described later). Data to be entered and set.

(試験槽)
試験槽51は、槽内に電子機器や電子部品等の被試験物Wを置き、この被試験物に対して環境試験を実施する槽である。試験槽51は、図1に示すように、被試験物Wが置かれる試験室51aとこれから仕切られた空調室51bとから構成されている。また、空調室51bには、複数の制御対象機器80が配されている。
(Test tank)
The test tank 51 is a tank in which an object to be tested W such as an electronic device or an electronic component is placed in the tank and an environmental test is performed on the object to be tested. As shown in FIG. 1, the test tank 51 includes a test chamber 51 a in which the DUT W is placed and an air conditioning chamber 51 b partitioned from the test chamber 51 a. A plurality of control target devices 80 are arranged in the air conditioning room 51b.

(制御対象機器)
制御対象機器80は、試験槽51の試験室51aにおいて人工的な環境状態を作り出す機器である。制御対象機器80は、コントローラ1の後述する制御部4から出力される制御データに基づいて機器の設定(能力)の変更等が行われる。
(Controlled equipment)
The control target device 80 is a device that creates an artificial environmental state in the test chamber 51 a of the test tank 51. In the control target device 80, the setting (capability) of the device is changed based on control data output from a control unit 4 described later of the controller 1.

制御対象機器80は、本実施形態においては、送風機81、加熱器82、及び冷却器83である。送風機81は、試験室51aと空調室51bとの間で空気を循環させることができる。加熱器82及び冷却器83は、空調室51bの温度を所定の温度に加熱・冷却することができる。また、加熱器82及び冷却器83は、送風機81の上流側に配されており、これにより、この加熱器82及び冷却器83により所定の温度に調整された空調室51bの空気を、試験室51aに送り込み、試験室51aを所定の温度に調整することができる。なお、本実施形態においては、制御対象機器80は、送風機81、加熱器82、及び冷却器83であるが、特にこれに限定されるものではなく、例えば試験室51aの空気を加湿することができる加湿器等でもよく、試験槽51の試験室51aにおいて人工的な環境状態を作り出すことが可能な機器であればよい。   In this embodiment, the control target device 80 is a blower 81, a heater 82, and a cooler 83. The blower 81 can circulate air between the test chamber 51a and the air conditioning chamber 51b. The heater 82 and the cooler 83 can heat and cool the temperature of the air conditioning chamber 51b to a predetermined temperature. Further, the heater 82 and the cooler 83 are arranged on the upstream side of the blower 81, and thereby the air in the air conditioning chamber 51 b adjusted to a predetermined temperature by the heater 82 and the cooler 83 is transferred to the test chamber. The test chamber 51a can be adjusted to a predetermined temperature. In addition, in this embodiment, although the control object apparatus 80 is the air blower 81, the heater 82, and the cooler 83, it is not specifically limited to this, For example, humidifying the air of the test chamber 51a. A humidifier or the like that can be used may be used as long as the device can create an artificial environmental state in the test chamber 51a of the test tank 51.

(環境センサ)
環境センサ90は、環境試験装置50の環境状態を検出するセンサであり、検出した環境状態データはコントローラ1の後述するセンサ入力部5に出力される。この環境センサ90は、図1に示すように、試験槽51の試験室51aに配され、試験室51a内の環境状態を検出する槽内環境センサ群91と、試験槽51の槽外に配され、環境試験装置50が設置された場所の環境状態を検出する外部環境センサ群92とから構成されている。なお、外部環境センサ群92は省略することができる。
(Environmental sensor)
The environmental sensor 90 is a sensor that detects the environmental state of the environmental test apparatus 50, and the detected environmental state data is output to a sensor input unit 5 described later of the controller 1. As shown in FIG. 1, the environmental sensor 90 is disposed in a test chamber 51 a of the test chamber 51, and is disposed outside the test chamber 51 and an in-tank environmental sensor group 91 that detects an environmental state in the test chamber 51 a. And an external environmental sensor group 92 for detecting the environmental state of the place where the environmental test apparatus 50 is installed. The external environment sensor group 92 can be omitted.

槽内環境センサ群91は、少なくとも試験室51a内の温度、湿度、圧力、風速のいずれかを検出することができる。なお、槽内環境センサ群91は、空調室51b内に配された制御対象機器80各々の状態を検出できるものでもよい。また、外部環境センサ群92は、少なくとも環境試験装置の設置場所の温度、湿度、及び圧力や、環境試験装置50の電源電圧、消費電力、通信情報のいずれかを検出することができる。   The in-tank environmental sensor group 91 can detect at least one of temperature, humidity, pressure, and wind speed in the test chamber 51a. The in-tank environmental sensor group 91 may be capable of detecting the state of each control target device 80 arranged in the air conditioning room 51b. The external environment sensor group 92 can detect at least one of the temperature, humidity, and pressure of the installation location of the environmental test apparatus, and the power supply voltage, power consumption, and communication information of the environmental test apparatus 50.

(コントローラ)
コントローラ1は、図2に示すように、環境試験装置50全体のログである後述の環境試験装置全体ログ240を記憶するデータログ部2、ユーザからコントローラ1に対して入力される操作入力データを取得する入力取得手段である操作入力部3と、環境試験装置50の制御対象機器80に対して制御データを出力する制御手段である制御部4と、環境センサ90から環境状態データを取得する環境状態取得手段であるセンサ入力部5とを備えている。
(controller)
As shown in FIG. 2, the controller 1 includes a data log unit 2 that stores a later-described environmental test apparatus overall log 240 that is a log of the entire environmental test apparatus 50, and operation input data input to the controller 1 from the user. An operation input unit 3 that is an input acquisition unit to acquire, a control unit 4 that is a control unit that outputs control data to the control target device 80 of the environmental test apparatus 50, and an environment in which environmental state data is acquired from the environmental sensor 90 And a sensor input unit 5 which is a state acquisition unit.

(操作入出力部)
操作入力部3は、制御部4から出力された表示制御データ、及びセンサ入力部5が取得した環境状態データ等を基に表示データを作成し、この表示データをLCDパネル31に出力する。また操作入力部3は、設定ボタン32から出力された操作入力データを取得し、この取得した操作入力データをデータログ部2、及び制御部4に出力する。
(Operation input / output unit)
The operation input unit 3 creates display data based on the display control data output from the control unit 4 and the environmental state data acquired by the sensor input unit 5, and outputs the display data to the LCD panel 31. Further, the operation input unit 3 acquires the operation input data output from the setting button 32 and outputs the acquired operation input data to the data log unit 2 and the control unit 4.

(制御部)
制御部4には、シーケンスプログラムが格納されており、制御部4は、このシーケンスプログラム、操作入力部3が取得した操作入力データ、及びセンサ入力部5が取得した環境状態データに基づいて制御データを作成し、この制御データを制御対象機器80に対して出力する。この制御データが入力された制御対象機器80は、制御データに基づいて、能力(設定)が変更されることになる。制御部4は、制御対象機器80に対する制御データの出力時において、この制御データをデータログ部2に対しても出力する。
(Control part)
The control unit 4 stores a sequence program. The control unit 4 controls the control data based on the sequence program, the operation input data acquired by the operation input unit 3, and the environmental state data acquired by the sensor input unit 5. And the control data is output to the control target device 80. The capability (setting) of the control target device 80 to which the control data is input is changed based on the control data. The control unit 4 also outputs this control data to the data log unit 2 when the control data is output to the control target device 80.

(センサ入力部)
センサ入力部5は、環境センサ90から出力された環境状態データを取得し、この環境状態データを、データログ部2、操作入力部3、及び制御部4に出力する。
(Sensor input part)
The sensor input unit 5 acquires the environmental state data output from the environmental sensor 90 and outputs the environmental state data to the data log unit 2, the operation input unit 3, and the control unit 4.

(データログ部)
データログ部2は、サイクルタイマ21、後述の環境試験装置全体ログ240を記憶する記憶手段である記憶部22、及びリアルタイムクロック(RTC)23を有している。
(Data log part)
The data log unit 2 includes a cycle timer 21, a storage unit 22 that is a storage unit that stores an entire environmental test apparatus log 240 described later, and a real-time clock (RTC) 23.

サイクルタイマ21は、記録トリガを記憶部22に対して所定の時間間隔毎に出力をするものである。本実施の形態においては、60秒間隔毎に記録トリガを出力するように設定されている。また、リアルタイムクロック23は、現在時刻の計時を行うものである。ここで、「現在時刻」とは、本実施形態においては、環境試験装置50の装置起動時からの経過時間のことをいう。   The cycle timer 21 outputs a recording trigger to the storage unit 22 at predetermined time intervals. In the present embodiment, the recording trigger is set to be output every 60 seconds. The real-time clock 23 measures the current time. Here, the “current time” refers to an elapsed time from when the environmental test apparatus 50 is activated in the present embodiment.

環境試験装置全体ログ240の生成(記憶)タイミングについて、図3を参照して説明する。   The generation (storage) timing of the entire environmental test apparatus log 240 will be described with reference to FIG.

記憶部22は、サイクルタイマ21から記録トリガが出力された場合、この記録トリガの出力時において、リアルタイムクロック23が計時した現在時刻データと、センサ入力部5が取得した環境状態データとを対応付けて記憶部22に記憶する。   When a recording trigger is output from the cycle timer 21, the storage unit 22 associates the current time data measured by the real-time clock 23 with the environmental state data acquired by the sensor input unit 5 when the recording trigger is output. And stored in the storage unit 22.

また、記憶部22は、操作入力部3から操作入力データ(図中のSW1、SW2、DS=85(温度を85℃に設定))を取得した場合、即ち、操作入力部3が設定ボタン32から入力データを取得した場合、この取得時においてリアルタイムクロック23が計時した現在時刻データと、センサ入力部5が取得した環境状態データと、操作入力データとを対応付けて記憶部22に記憶する。   Further, the storage unit 22 acquires operation input data (SW1, SW2, DS = 85 (temperature is set to 85 ° C.)) from the operation input unit 3, that is, the operation input unit 3 sets the setting button 32. When the input data is acquired, the current time data counted by the real-time clock 23 at the time of acquisition, the environmental state data acquired by the sensor input unit 5, and the operation input data are stored in the storage unit 22 in association with each other.

また、記憶部22は、制御対象機器80が制御部4からの制御データに基づいて設定が変更された(図中のH1(ON)(加熱器82がON))場合、即ち制御部4から制御対象機器80へ制御データが出力された場合、この出力時においてリアルタイムクロック23が計時した現在時刻データと、センサ入力部5が取得した環境状態データと、制御データとを対応付けて記憶部22に記憶する。   In addition, the storage unit 22 is configured to change the setting of the control target device 80 based on the control data from the control unit 4 (H1 (ON) (heater 82 is ON) in the figure), that is, from the control unit 4. When the control data is output to the control target device 80, the storage unit 22 associates the current time data counted by the real-time clock 23, the environmental state data acquired by the sensor input unit 5, and the control data at the time of output. To remember.

以上のように、本実施形態のコントローラ1は、所定の時間間隔毎に記憶される環境試験装置50の環境状態データに加えて、コントローラ1に対するユーザからの操作入力、及びこの操作入力が行われた際の環境試験装置50の環境状態データ、並びにコントローラ1から制御対象機器80に対して出力される制御データ及び、制御データが出力された際の環境試験装置50の環境状態データもログとして記憶することができる。これにより、環境試験装置50に不具合が発生した場合でも、このログを調べることで、不具合がユーザの誤操作により発生したのか、制御対象機器80の誤動作により発生したのか、或いはシーケンスプログラムに問題があったのか等の不具合原因の特定を従来装置に比べて容易に行うことができる。   As described above, the controller 1 of the present embodiment performs the operation input from the user and the operation input to the controller 1 in addition to the environmental state data of the environmental test apparatus 50 stored at predetermined time intervals. The environmental state data of the environmental test apparatus 50 at the time, the control data output from the controller 1 to the control target device 80, and the environmental state data of the environmental test apparatus 50 when the control data is output are also stored as logs. can do. As a result, even if a failure occurs in the environmental test apparatus 50, by checking this log, whether the failure has occurred due to a user's erroneous operation, a malfunction of the control target device 80, or a problem has occurred in the sequence program. It is possible to easily identify the cause of a malfunction such as whether or not it is compared with a conventional apparatus.

(第二実施形態)
次に、本発明の第二実施形態について説明する。尚、以下の説明においては、上述した実施形態と同一の箇所については同一の符号を付し、その説明を適宜省略する。
(Second embodiment)
Next, a second embodiment of the present invention will be described. In the following description, the same portions as those in the above-described embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted as appropriate.

第二実施形態に係るコントローラ100が第一実施形態のコントローラ1と異なる点は、図4に示すように、コントローラ100がモジュール構成にされていることである。   The difference between the controller 100 according to the second embodiment and the controller 1 according to the first embodiment is that the controller 100 has a module configuration as shown in FIG.

(コントローラ)
コントローラ100は、制御対象機器80をシーケンス制御するメインモジュール200、メインモジュール200と通信可能な複数のサブモジュール300とから構成されている。
(controller)
The controller 100 includes a main module 200 that controls the control target device 80 in sequence, and a plurality of sub modules 300 that can communicate with the main module 200.

(サブモジュール)
サブモジュール300は、コントローラ100に対するユーザの操作入力をイベントデータとして取得する入力サブモジュール330と、メインモジュール200から制御対象機器80へ出力される制御データをイベントデータとして取得するI/Oサブモジュール340と、環境センサ90から環境状態データを取得するセンサ入力サブモジュール350とからなる。
(Sub module)
The sub module 300 acquires an input operation of a user operation on the controller 100 as event data, and an I / O sub module 340 acquires control data output from the main module 200 to the control target device 80 as event data. And a sensor input sub-module 350 that acquires environmental state data from the environmental sensor 90.

各サブモジュール300は、サブモジュール300内の内部時刻を計時する内部クロック310(310a、310b、310c)、サブモジュール300内のログである後述のサブモジュールログ360(360a、360b、360c)が記憶されるログメモリ320(320a、320b、320c)、及び不具合の発生を検知する不具合検知手段である不具合検知部327(327a、327b、327c)を有している。   Each submodule 300 stores an internal clock 310 (310a, 310b, 310c) for measuring the internal time in the submodule 300, and a later-described submodule log 360 (360a, 360b, 360c) that is a log in the submodule 300. Log memory 320 (320a, 320b, 320c), and a defect detection unit 327 (327a, 327b, 327c) that is a defect detection means for detecting the occurrence of a defect.

内部クロック310が計時する内部時刻は、メインモジュール200との間で通信を行うと初期化(リセット)される(後で説明する図8を参照)。つまり、内部クロック310が計時する内部時刻は、メインモジュール200との間で行われた最後の通信からの経過時間である。   The internal time measured by the internal clock 310 is initialized (reset) when communication is performed with the main module 200 (see FIG. 8 described later). That is, the internal time measured by the internal clock 310 is an elapsed time from the last communication performed with the main module 200.

また、不具合検知部327は、不具合を検知した場合、メインモジュール200に対して不具合検知データを出力する。なお、入力サブモジュール330及びI/Oサブモジュール340においては、センサ入力サブモジュール350に対しても不具合検知データを出力する。   Further, the defect detection unit 327 outputs defect detection data to the main module 200 when a defect is detected. Note that the input submodule 330 and the I / O submodule 340 also output defect detection data to the sensor input submodule 350.

(入力サブモジュール)
入力サブモジュール330は、メインモジュール200から出力された表示制御データ、及びセンサ入力サブモジュール350が取得した環境状態データ等を基に表示データを作成し、この表示データをLCDパネル31に出力する。また入力サブモジュール330は、設定ボタン32から出力された操作入力データをイベントデータとして取得し、この取得時において内部クロック310aが計時した内部時刻をイベント取得時刻データとし、図5に示すように、イベントデータ(操作入力データ)とイベント取得時刻データとを含むサブモジュールログ360aをログメモリ320aに記憶する。
(Input submodule)
The input submodule 330 creates display data based on the display control data output from the main module 200 and the environmental state data acquired by the sensor input submodule 350, and outputs the display data to the LCD panel 31. The input submodule 330 acquires the operation input data output from the setting button 32 as event data, and uses the internal time counted by the internal clock 310a at the time of acquisition as event acquisition time data, as shown in FIG. A submodule log 360a including event data (operation input data) and event acquisition time data is stored in the log memory 320a.

(I/Oサブモジュール)
I/Oサブモジュール340は、メインモジュール200から制御対象機器80に出力される制御データをイベントデータとして取得する。そして、このイベントデータの取得時において、内部クロック310bが計時した内部時刻をイベント取得時刻データとし、図5に示すように、イベントデータ(制御データ)とイベント取得時刻データとを含むサブモジュールログ360bをログメモリ320bに記憶する。なお、I/Oサブモジュール340の制御データの取得時と、この制御データによる制御対象機器80の設定(能力)の変更時とは、同じ時刻である。
(I / O submodule)
The I / O submodule 340 acquires control data output from the main module 200 to the control target device 80 as event data. When the event data is acquired, the internal time counted by the internal clock 310b is set as event acquisition time data. As shown in FIG. 5, the submodule log 360b including event data (control data) and event acquisition time data is used. Is stored in the log memory 320b. The time when the control data of the I / O submodule 340 is acquired and the time when the setting (capability) of the control target device 80 is changed by the control data are the same time.

(センサ入力サブモジュール)
センサ入力サブモジュール350は、内部クロック310cをサイクルタイマとして用い、この内部クロック310cにより計時される所定の時間間隔毎に環境センサ90から環境状態データを取得する。具体的には、内部クロック310cから所定の時間間隔毎に出力される記録トリガの出力時において、環境センサ90から環境状態データを取得する。また、この環境状態データの取得時において内部クロック310cが計時した内部時刻を環境状態取得時刻データとし、図5に示すように、この環境状態取得時刻データと環境状態データとを含むサブモジュールログ360cをログメモリ320cに記憶する。
(Sensor input submodule)
The sensor input submodule 350 uses the internal clock 310c as a cycle timer, and acquires environmental state data from the environmental sensor 90 at predetermined time intervals timed by the internal clock 310c. Specifically, environmental state data is acquired from the environmental sensor 90 when a recording trigger is output from the internal clock 310c at predetermined time intervals. Further, the internal time counted by the internal clock 310c at the time of acquisition of the environmental state data is set as environmental state acquisition time data, and as shown in FIG. 5, the submodule log 360c including the environmental state acquisition time data and the environmental state data is included. Is stored in the log memory 320c.

なお、本実施形態においては、内部クロック310cから出力される記録トリガは、通常のときにおいては60秒間隔毎に、特定の条件のときにおいては5秒間隔毎に出力される。つまり、通常のときから特定の条件のときに移行した場合、記録トリガの出力間隔は、60秒間隔から5秒間隔に変更されることになる。   In the present embodiment, the recording trigger output from the internal clock 310c is output every 60 seconds under normal conditions and every 5 seconds under specific conditions. That is, when a transition is made from a normal time to a specific condition, the recording trigger output interval is changed from the 60-second interval to the 5-second interval.

なお、この特定の条件のときには、環境試験装置50の状態が、環境試験装置50において不具合が発生する可能性が高い状態であるとユーザが予め設定した状態にあるとき(予測可能な現象が発生しているとき)と、環境試験装置50において、ユーザが予測することができない不具合が発生しているとき(予測不可能な現象が発生しているとき)がある。   In this specific condition, when the state of the environmental test apparatus 50 is in a state set in advance by the user as a state where there is a high possibility that a failure will occur in the environmental test apparatus 50 (a predictable phenomenon occurs). In the environmental test apparatus 50 and when there is a problem that the user cannot predict (when an unpredictable phenomenon occurs).

環境試験装置50の状態が、環境試験装置50において不具合が発生する可能性が高い状態であるとユーザが予め設定した状態にあるときとは、図6に示すように、試験室51aの環境状態が設定環境の所定の範囲にあるとき(例えば、試験室51aの温度が設定温度に近づき、その5℃前後にあるとき)や、制御対象機器80の能力を変更したときなどである。つまり、試験室51aの環境状態が設定環境の所定の範囲にあるときや、制御対象機器80の能力を変更するときは、環境試験装置50において不具合が発生する可能性が高いときである。このように、環境試験装置50が不具合を発生する可能性が高い状態にあるときに、予め環境状態データを取得する時間間隔を短くして詳細に(記録密度を高く)ログとして記憶しているので、不具合が発生した場合において、このログを確認することで、不具合原因の特定をより容易に行うことができる。なお、試験室51aの環境状態が設定環境の所定の範囲から外れた場合など、特定の条件のときから通常のときに移行(復帰)した場合は、この移行時、又は移行時から所定の時間(例えば3分後)経過後に、内部クロック310cから出力される記録トリガの時間間隔は、5秒間隔から60秒間隔に戻される。   When the state of the environmental test apparatus 50 is in a state preset by the user that there is a high possibility that a failure will occur in the environmental test apparatus 50, as shown in FIG. Is within a predetermined range of the set environment (for example, when the temperature of the test chamber 51a approaches the set temperature and is around 5 ° C.), or when the capability of the control target device 80 is changed. That is, when the environmental state of the test chamber 51a is within a predetermined range of the setting environment, or when the ability of the control target device 80 is changed, there is a high possibility that a failure will occur in the environmental test apparatus 50. As described above, when the environmental test apparatus 50 is in a state where there is a high possibility of occurrence of a malfunction, the time interval for acquiring environmental state data is shortened in advance and stored in detail (higher recording density) as a log. Therefore, when a problem occurs, the cause of the problem can be identified more easily by checking this log. If the environment condition of the test chamber 51a deviates from the predetermined range of the setting environment, or if it has transitioned (returned) from a specific condition to a normal time, this transition or a predetermined time from the transition After (for example, after 3 minutes), the time interval of the recording trigger output from the internal clock 310c is returned from the 5 second interval to the 60 second interval.

これに対して、環境試験装置50において、ユーザが予測することができない不具合が発生しているときとは、環境試験装置50の装置電源の予期せぬ停電や電圧降下、外部環境(例えば、環境試験装置50が設置された場所の室温や湿度)の急変や、通信制御部25を介した他の環境試験装置50との外部通信があり、メインモジュール200に割込み制御が発生しているときなどがある。このように、不具合が発生しているときに、環境状態データを詳細にログとして記憶することができるので、このログを確認することで、不具合原因の特定をより容易に行うことができる。   On the other hand, in the environmental test apparatus 50, when the malfunction which a user cannot predict has occurred, the power failure of the apparatus power supply of the environmental test apparatus 50, a voltage drop, external environment (for example, environmental When there is an abrupt change in the place where the test apparatus 50 is installed (room temperature or humidity), or there is external communication with another environmental test apparatus 50 via the communication control unit 25, interrupt control is generated in the main module 200, etc. There is. As described above, since the environmental state data can be stored in detail as a log when a problem occurs, the cause of the problem can be identified more easily by checking this log.

また、センサ入力サブモジュール350は、リング構造を有するリングメモリ325を有しており、図7に示すように、内部クロック310cにより計時される所定の時間間隔(60秒間隔)よりも短い時間間隔で、環境状態データを取得する。具体的には、内部クロック310cは、5秒間隔毎に小記録トリガを出力しており、この出力時において環境センサから環境状態データを取得する。また、この取得時において内部クロック310cが計時した内部時刻を環境状態取得時刻データとし、環境状態取得時刻データと取得した環境状態データとを含む小サイクルログをリングメモリ325に記録する。そして、サブモジュール300の何れかにおいて不具合検知部327が不具合を検知した場合、センサ入力サブモジュール350は、リングメモリ325に記憶された小サイクルログをメインモジュール200に送信する。   The sensor input submodule 350 includes a ring memory 325 having a ring structure, and as shown in FIG. 7, a time interval shorter than a predetermined time interval (60-second interval) measured by the internal clock 310c. To get environmental status data. Specifically, the internal clock 310c outputs a small recording trigger every 5 seconds, and acquires environmental state data from the environmental sensor at the time of output. Further, the internal time measured by the internal clock 310c at the time of acquisition is set as environmental state acquisition time data, and a small cycle log including the environmental state acquisition time data and the acquired environmental state data is recorded in the ring memory 325. When the failure detection unit 327 detects a failure in any of the submodules 300, the sensor input submodule 350 transmits the small cycle log stored in the ring memory 325 to the main module 200.

(メインモジュール)
メインモジュール200は、リアルタイムクロック23、環境試験装置50全体のログが記憶されるメインメモリ24、ネットワークを介して他の環境試験装置50と通信可能な通信制御手段である通信制御部25、及びコントローラの操作入力手順を再現可能なマクロを生成可能なマクロ生成手段であるマクロ生成部27を有している。
(Main module)
The main module 200 includes a real-time clock 23, a main memory 24 in which logs of the entire environmental test apparatus 50 are stored, a communication control unit 25 that is a communication control unit capable of communicating with other environmental test apparatuses 50 via a network, and a controller. A macro generation unit 27 which is a macro generation unit capable of generating a macro capable of reproducing the operation input procedure.

通信制御部25は、メインモジュール200とサブモジュール300との間の通信の制御を行う。また、通信制御部25は、他の環境試験装置50の通信制御部25とネットワークを介して通信を行うことで、メインメモリ24に記憶されている環境試験装置全体ログ240や後述するコントローラ100の操作入力手順を再現可能なマクロの授受、及び他の環境試験装置50のコントローラ100の遠隔操作が可能にされている。これにより、遠隔地に設置された環境試験装置50のコントローラ100のメインメモリ24に記憶された環境試験装置全体ログ240を取得することができるので、その結果、遠隔地に設置された環境試験装置全体ログ240の不具合の原因をその設置場所に行かずとも解析することができる。また、環境試験装置全体ログ240を使用してコントローラ100の遠隔操作が可能であるため、遠隔地からリモートメンテナンスを行うことができる。   The communication control unit 25 controls communication between the main module 200 and the sub module 300. Further, the communication control unit 25 communicates with the communication control unit 25 of the other environmental test apparatus 50 via the network, so that the environmental test apparatus whole log 240 stored in the main memory 24 and the controller 100 described later are stored. It is possible to send and receive macros that can reproduce the operation input procedure and to remotely operate the controller 100 of another environmental test apparatus 50. As a result, the entire environmental test apparatus log 240 stored in the main memory 24 of the controller 100 of the environmental test apparatus 50 installed in the remote place can be acquired. As a result, the environmental test apparatus installed in the remote place is obtained. The cause of the failure in the entire log 240 can be analyzed without going to the installation location. Further, since the controller 100 can be remotely operated using the entire environmental test apparatus log 240, remote maintenance can be performed from a remote location.

またさらに、通信制御部25は、外部記憶メディア26との間で、環境試験装置全体ログ240や後述するコントローラ100の操作入力手順を再現可能なマクロの授受が可能にされている。   Furthermore, the communication control unit 25 can exchange macros that can reproduce an operation input procedure of the entire environmental test apparatus log 240 and the controller 100 described later with the external storage medium 26.

マクロ生成部27は、メインメモリ24に記憶された、入力サブモジュール330から受信したイベントデータ(操作入力データ)、及び後述のイベント取得調整時刻データを読み込み、コントローラ100の操作入力手順を再現可能なマクロを生成することができる。これにより、ユーザ各々が有する環境試験装置50の操作のノウハウや技能等の共有化を図ることができる。   The macro generation unit 27 can read event data (operation input data) received from the input submodule 330 and event acquisition adjustment time data, which will be described later, stored in the main memory 24 and reproduce the operation input procedure of the controller 100. Macros can be generated. As a result, it is possible to share the know-how, skills, etc. of operation of the environmental test apparatus 50 possessed by each user.

なお、操作マクロの生成方法としては、例えば、メインメモリ24に記憶されている環境試験装置全体ログ240から必要なデータを取り出し、パーソナルコンピュータなどの編集装置により、取り出したデータを編集し、コントローラ100において実行可能なプログラムとして操作マクロを生成する方法などがある。このように生成した操作マクロはメインメモリ24に記憶され、ユーザの操作入力により実行可能にされている。なお、操作マクロ自体をメインモジュール200のシーケンスプログラムに組み込むことが可能にされていてもよい。   As a method for generating an operation macro, for example, necessary data is extracted from the entire environmental test apparatus log 240 stored in the main memory 24, and the extracted data is edited by an editing device such as a personal computer. There is a method of generating an operation macro as an executable program. The operation macro generated in this way is stored in the main memory 24 and can be executed by a user operation input. Note that the operation macro itself may be incorporated into the sequence program of the main module 200.

なお、本実施形態にはメインメモリ24に記憶されたイベントデータ、及び後述のイベント取得調整時刻データを読み込んでマクロを生成しているが、入力サブモジュール330のログメモリ320aに記憶されているイベントデータ及びイベント取得時刻データを読み込んでマクロを生成するようにされていてもよい。   In this embodiment, the event data stored in the main memory 24 and event acquisition adjustment time data described later are read to generate a macro. However, the event stored in the log memory 320 a of the input submodule 330 is used. Data and event acquisition time data may be read to generate a macro.

メインモジュール200には、シーケンスプログラムが格納されており、このシーケンスプログラム、及び各サブモジュール300から受信したデータに基づいて制御データを作成し、この制御データをI/Oサブモジュール340を介して制御対象機器80に出力する。また、入力サブモジュール330に対しては、LCDパネル31に表示させる情報を含む表示制御データを出力する。   The main module 200 stores a sequence program, creates control data based on the sequence program and data received from each submodule 300, and controls the control data via the I / O submodule 340. Output to the target device 80. Further, display control data including information to be displayed on the LCD panel 31 is output to the input submodule 330.

また、メインモジュール200は、処理に余裕があるとき(タスクの空き時間)に各サブモジュール300に対してログ送信要求を出力し、サブモジュールログ360を受信する。また、メインモジュール200は、サブモジュールログ360を受信した場合、この受信時においてリアルタイムクロック23が計時した現在時刻である受信時刻データ、サブモジュールログ360に付された送信時内部時刻データ、及びサブモジュールログ360が含むイベント取得時刻データ又は環境状態取得時刻データを用いて、リアルタイムクロック23を基準としたイベント取得調整時刻データ、又はリアルタイムクロック23を基準とした環境状態取得調整時刻データを算出する。   Further, the main module 200 outputs a log transmission request to each submodule 300 and receives the submodule log 360 when there is a margin in processing (task idle time). When the main module 200 receives the submodule log 360, the main module 200 receives the reception time data that is the current time measured by the real-time clock 23 at the time of reception, the transmission internal time data attached to the submodule log 360, and the submodule log 360. Using the event acquisition time data or environment state acquisition time data included in the module log 360, event acquisition adjustment time data based on the real time clock 23 or environment state acquisition adjustment time data based on the real time clock 23 is calculated.

以下、入力サブモジュール330から受信したサブモジュールログ360aに含まれるイベントデータを用いてイベント取得調整時刻データを算出する方法について、図8を参照して具体的に説明する。図8に示すように、メインモジュール200は、入力サブモジュール330から、送信時内部時刻データが付されたサブモジュールログ360aを受信する。送信時内部時刻データとは、入力サブモジュール330において、メインモジュール200への送信時に内部クロック310aが計時した内部時刻である。   Hereinafter, a method for calculating the event acquisition adjustment time data using the event data included in the submodule log 360a received from the input submodule 330 will be specifically described with reference to FIG. As shown in FIG. 8, the main module 200 receives from the input submodule 330 the submodule log 360 a to which the transmission internal time data is attached. The internal time data at the time of transmission is the internal time measured by the internal clock 310a at the time of transmission to the main module 200 in the input submodule 330.

まず、メインモジュール200は、送信時内部時刻データの値からイベント取得時刻データの値を減算して、入力サブモジュール330においてイベントデータを取得した時刻からサブモジュールログ360aの送信時までに経過した時間(以下、経過時間)を算出する。次に、メインモジュール200におけるサブモジュールログ360aの受信時刻と、入力サブモジュール330におけるサブモジュールログ360aの送信時刻とは同じ時刻であるとみなし、受信時刻データの値から経過時間を減算した値を、イベント取得調整時刻データとする。このようにすることで、サブモジュールログ360aのイベント取得時刻データを、リアルタイムクロック23を基準としたイベント取得調整時刻データとすることができる。   First, the main module 200 subtracts the value of the event acquisition time data from the value of the internal time data at the time of transmission, and the time elapsed from the time when the event data was acquired by the input submodule 330 to the time of transmission of the submodule log 360a (Hereinafter, elapsed time) is calculated. Next, the reception time of the sub module log 360a in the main module 200 and the transmission time of the sub module log 360a in the input sub module 330 are considered to be the same time, and a value obtained by subtracting the elapsed time from the value of the reception time data is Event acquisition adjustment time data. By doing in this way, the event acquisition time data of the submodule log 360a can be used as event acquisition adjustment time data based on the real time clock 23.

なお、I/Oサブモジュール340から受信したサブモジュールログ360bに含まれるイベントデータを用いてイベント取得調整時刻データを算出する方法、及びセンサ入力サブモジュール350から受信したサブモジュールログ360cに含まれる環境状態データを用いて環境状態調整時刻データを算出する方法については、上記と同様の方法で算出することができるので説明は省略する。   Note that a method for calculating event acquisition adjustment time data using event data included in the submodule log 360b received from the I / O submodule 340, and an environment included in the submodule log 360c received from the sensor input submodule 350. The method for calculating the environmental condition adjustment time data using the state data can be calculated by the same method as described above, and thus the description thereof is omitted.

このようにして算出したイベント取得調整時刻データは、イベントデータに対応付けられて、図5に示すように、イベントログデータ241としてメインメモリ24に記憶される。同様に、環境状態取得調整時刻データは、環境状態データに対応付けられて、環境状態ログデータ242としてメインメモリ24に記憶される。   The event acquisition adjustment time data calculated in this manner is associated with the event data and stored in the main memory 24 as event log data 241 as shown in FIG. Similarly, the environmental state acquisition adjustment time data is stored in the main memory 24 as environmental state log data 242 in association with the environmental state data.

また、イベントログデータ241には、このイベントログデータ241に含まれるイベントデータに時間的に対応する環境状態データが含まれている。このイベントデータに時間的に対応する環境状態データは、イベント取得調整時刻データ、及び環境状態取得調整データを用いて求められる。具体的には、図9に示すように、イベント取得調整時刻データに対して、最も時間的に近い環境状態取得調整データを求めて、この環境状態取得調整データに対応する環境状態データをイベントログデータに含ませる。このようにすることで、イベントデータの取得時刻と同じ時刻に環境状態データが取得されていない場合においても、イベントデータと環境状態データとの対応付けを行うことができる。   Further, the event log data 241 includes environmental state data corresponding temporally to the event data included in the event log data 241. The environmental state data corresponding temporally to the event data is obtained using the event acquisition adjustment time data and the environmental state acquisition adjustment data. Specifically, as shown in FIG. 9, the environmental condition acquisition adjustment data that is closest in time to the event acquisition adjustment time data is obtained, and the environmental condition data corresponding to this environmental condition acquisition adjustment data is stored in the event log. Include in data. By doing in this way, even when the environmental state data is not acquired at the same time as the acquisition time of the event data, it is possible to associate the event data with the environmental state data.

また、図10に示すように、メインメモリ24に記憶されている任意の環境状態ログデータ242に含まれる環境状態データの値が、環境状態取得調整時刻データにおいて1つ前及び1つ後の環境状態ログデータ242に含まれる環境状態データの値と実質的に同じ場合には、この任意の環境状態ログデータ242が含む環境状態データがイベントデータと時間的に対応付けられている場合を除いて、当該環境状態ログデータ242をメインメモリ24から消去する。このようにすることで、環境試験装置50の環境状態が安定しており、環境状態データの値に変化がない期間において、この期間の最初と最後の環境状態ログデータ242を残して、その他の環境状態ログデータ242は消去されることになる。その結果、メインメモリ24に記憶させるデータ量を少なくすることができ、メインメモリ24の記憶容量を節約することができる。なお『実質的に同じ』とは、環境状態データの値が完全に同じであることを意味するわけではなく、図10に示すように、ユーザの許容する誤差範囲内にあればよいことを意味する。また、図10においては、説明の便宜上、イベントログデータ241と環境状態ログデータ242とを纏めた環境試験装置全体ログ240を図示している。   In addition, as shown in FIG. 10, the values of the environmental state data included in the arbitrary environmental state log data 242 stored in the main memory 24 are the environments immediately before and after the environmental state acquisition adjustment time data. When the value of the environmental status data included in the status log data 242 is substantially the same, except when the environmental status data included in the arbitrary environmental status log data 242 is temporally associated with the event data. The environmental status log data 242 is deleted from the main memory 24. By doing so, in the period when the environmental state of the environmental test apparatus 50 is stable and the value of the environmental state data does not change, the first and last environmental state log data 242 of this period are left and other The environmental state log data 242 will be deleted. As a result, the amount of data stored in the main memory 24 can be reduced, and the storage capacity of the main memory 24 can be saved. Note that “substantially the same” does not mean that the values of the environmental state data are completely the same, but as long as it is within an error range allowed by the user as shown in FIG. To do. Further, in FIG. 10, for convenience of explanation, the entire environmental test apparatus log 240 in which the event log data 241 and the environmental state log data 242 are collected is illustrated.

(コントローラの処理動作)
次にコントローラ100の処理動作について、図11〜14を参照しつつ説明する。
(Processing of the controller)
Next, the processing operation of the controller 100 will be described with reference to FIGS.

(メインモジュールの動作)
まず、メインモジュールの処理動作について、図11を参照して説明する。
(Main module operation)
First, the processing operation of the main module will be described with reference to FIG.

メインモジュール200は、環境試験装置50の装置電源が起動された場合、リアルタイムクロック23が計時した現在時刻を起動時刻データとしてメインメモリ24に記憶すると共に、各サブモジュール300と初期通信を行う(A1)。   When the power supply of the environmental test apparatus 50 is activated, the main module 200 stores the current time measured by the real-time clock 23 in the main memory 24 as activation time data and performs initial communication with each submodule 300 (A1). ).

次に、メインモジュール200は、処理に余裕があるか否か(タスクの空き時間であるか否か)を判断する(A2)。処理に余裕がないと判断した場合(A2:NO)には、制御対象機器80に対してシーケンス制御を行い(A3)、A6の処理に移る。   Next, the main module 200 determines whether or not there is a margin for processing (whether or not it is a task idle time) (A2). If it is determined that there is not enough processing (A2: NO), the control target device 80 is subjected to sequence control (A3), and the process proceeds to A6.

一方、処理に余裕があると判断した場合(A2:YES)には、各サブモジュール300に対して、ログ要求を送信する(A4)。次に、各サブモジュール300から受信したサブモジュールログ360から、環境試験装置全体ログ240(イベントログデータ241及び環境状態ログデータ242)を生成し、メインメモリ24に記憶する(A5)。また、この時、イベントデータに時間的に対応する環境状態データを求めて、この求めた環境状態データをイベントログデータ241に含めて記憶する。A5の処理が終了すると、A6の処理に移る。   On the other hand, when it is determined that there is a margin in processing (A2: YES), a log request is transmitted to each submodule 300 (A4). Next, the entire environmental test apparatus log 240 (event log data 241 and environmental status log data 242) is generated from the submodule log 360 received from each submodule 300 and stored in the main memory 24 (A5). At this time, environmental state data corresponding to the event data in time is obtained, and the obtained environmental state data is included in the event log data 241 and stored. When the process of A5 is completed, the process proceeds to A6.

A6の処理では、サブモジュール300の何れかから不具合検知データを受信したか否かを判断する。不具合検知データを受信していないと判断した場合(A6:NO)には、A2の処理に移る。   In the process of A6, it is determined whether failure detection data is received from any of the submodules 300. If it is determined that the defect detection data has not been received (A6: NO), the process proceeds to A2.

一方、不具合検知データを受信したと判断した場合(A6:YES)には、メインモジュール200は、センサ入力サブモジュール350から小サイクルログを受信すると共に、サブモジュール300へのログ要求の送信、各サブモジュール300からサブモジュールログ360の受信、及び上記A5の処理と同様の環境試験装置全体ログ240のメインメモリ24への記憶を、所定の時間の間継続する(A7)。その後、サブモジュール300へ記録停止命令を送信し、且つ環境試験装置全体ログ240のメインメモリ24への記録動作を停止して(A8)、本処理動作を終了する。このように、不具合の発生時から所定期間経過後には、環境試験装置全体ログ240のメインメモリ24への記録動作は停止されるので、不具合からコントローラ100を保全することができる。なお、所定時間とは、不具合の原因の特定に必要なサブモジュールログ360をサブモジュール300から受信して、このサブモジュールログ360を用いて生成された環境試験装置全体ログ240をメインメモリ24に記憶するまでにかかる時間である。   On the other hand, when it is determined that the defect detection data has been received (A6: YES), the main module 200 receives the small cycle log from the sensor input submodule 350 and transmits a log request to the submodule 300. The reception of the submodule log 360 from the submodule 300 and the storage of the entire environmental test apparatus log 240 in the main memory 24 similar to the processing of A5 are continued for a predetermined time (A7). Thereafter, a recording stop command is transmitted to the submodule 300, and the recording operation to the main memory 24 of the entire environmental test apparatus log 240 is stopped (A8), and this processing operation is terminated. As described above, the recording operation of the environmental test apparatus entire log 240 in the main memory 24 is stopped after a predetermined period has elapsed since the occurrence of the malfunction, so that the controller 100 can be protected from the malfunction. The predetermined time is a time when the submodule log 360 necessary for specifying the cause of the malfunction is received from the submodule 300, and the entire environmental test apparatus log 240 generated using the submodule log 360 is stored in the main memory 24. This is the time it takes to memorize.

(入力サブモジュールの処理動作)
次に、入力サブモジュール330の処理動作について、図12を参照して説明する。
(Processing of input submodule)
Next, the processing operation of the input submodule 330 will be described with reference to FIG.

入力サブモジュール330は、メインモジュール200からの初期通信時に、内部クロック310aが計時する内部時刻を初期化する(B1)。次に、設定ボタン32から操作入力データを取得したか否かを判断する(B2)。操作入力データを取得したと判断した場合(B2:YES)には、この取得時において内部クロック310aが計時した内部時刻をイベント取得時刻データとし、イベントデータ(操作入力データ)とイベント取得時刻データとを含むサブモジュールログ360aをログメモリ320aに記憶し(B3)、B6の処理に移る。   The input submodule 330 initializes the internal time measured by the internal clock 310a during initial communication from the main module 200 (B1). Next, it is determined whether or not operation input data has been acquired from the setting button 32 (B2). When it is determined that the operation input data has been acquired (B2: YES), the internal time counted by the internal clock 310a at the time of acquisition is set as event acquisition time data, and event data (operation input data), event acquisition time data, Is stored in the log memory 320a (B3), and the process proceeds to B6.

一方、操作入力データを取得したと判断していないと判断した場合(B2:NO)には、不具合検知部327aが不具合を検知したか否かを判断する(B4)。不具合検知部327aが不具合を検知していないと判断した場合(B4:NO)には、B6の処理に移る。   On the other hand, if it is determined that the operation input data has not been acquired (B2: NO), it is determined whether the defect detection unit 327a has detected a defect (B4). If the defect detection unit 327a determines that no defect has been detected (B4: NO), the process proceeds to B6.

一方、不具合検知部327aが不具合を検知したと判断した場合(B4:YES)には、入力サブモジュール330は、メインモジュール200、及びセンサ入力サブモジュール350に不具合検知データを送信して(B5)、B2の処理に移る。   On the other hand, when the defect detection unit 327a determines that a defect has been detected (B4: YES), the input submodule 330 transmits defect detection data to the main module 200 and the sensor input submodule 350 (B5). , B2 is started.

B6の処理では、入力サブモジュール330は、メインモジュール200からログ要求を受信したか否かを判断する。ログ要求を受信していないと判断した場合(B6:NO)には、B8の処理に移る。   In the process of B6, the input submodule 330 determines whether or not a log request has been received from the main module 200. If it is determined that the log request has not been received (B6: NO), the process proceeds to B8.

一方、ログ要求を受信したと判断した場合(B6:YES)には、入力サブモジュール330は、ログメモリ320aに記憶されているサブモジュールログ360aをメインモジュール200に送信し(B7)、B8の処理に移る。なお、メインモジュール200に送信したサブモジュールログ360aはログメモリ320aから削除してもよい。また、入力サブモジュール330が、ログ要求を受信した時において、処理に余裕がない(タスクの空き時間ではない)場合には、次にメインモジュール200からログ要求を受信した際に、サブモジュールログ360aを送信するようにされていてもよい。   On the other hand, if it is determined that the log request has been received (B6: YES), the input submodule 330 transmits the submodule log 360a stored in the log memory 320a to the main module 200 (B7). Move on to processing. The sub module log 360a transmitted to the main module 200 may be deleted from the log memory 320a. Further, when the input submodule 330 receives a log request and there is not enough processing (not a task idle time), the next time the log request is received from the main module 200, the submodule log 360a may be transmitted.

B8の処理では、メインモジュール200から記録停止命令を受信したか否かを判断する。記録停止命令を受信していないと判断した場合(B8:NO)には、B2の処理に移る。   In the process of B8, it is determined whether or not a recording stop command is received from the main module 200. If it is determined that the recording stop command has not been received (B8: NO), the process proceeds to B2.

一方で、記録停止命令を受信したと判断した場合(B8:YES)には、設定ボタン32からの操作入力データの取得を停止して、サブモジュールログ360aのログメモリ320aへの記録を停止し(B9)、本処理動作を終了する。   On the other hand, if it is determined that a recording stop command has been received (B8: YES), acquisition of operation input data from the setting button 32 is stopped, and recording of the submodule log 360a to the log memory 320a is stopped. (B9) This processing operation ends.

(I/Oサブモジュールの処理動作)
I/Oサブモジュール340の処理動作は、図13に示すように、上記入力サブモジュールの動作と略同様であり、設定ボタン32から出力された操作入力データをメインモジュール200から制御対象機器80に出力される制御データに、内部クロック310aを内部クロック310bに、ログメモリ320aをログメモリ320bに、サブモジュールログ360aをサブモジュールログ360bに、不具合検知部327aを不具合検知部327bに読み替えるだけなので説明は省略する。
(Processing operation of I / O submodule)
As shown in FIG. 13, the processing operation of the I / O submodule 340 is substantially the same as the operation of the input submodule, and the operation input data output from the setting button 32 is transferred from the main module 200 to the control target device 80. Since the internal clock 310a is replaced with the internal clock 310b, the log memory 320a is replaced with the log memory 320b, the submodule log 360a is replaced with the submodule log 360b, and the defect detector 327a is replaced with the defect detector 327b. Is omitted.

(センサ入力サブモジュールの処理動作)
次に、センサ入力サブモジュール350の処理動作について、図14を参照して説明する。
(Processing of sensor input submodule)
Next, the processing operation of the sensor input submodule 350 will be described with reference to FIG.

センサ入力サブモジュール350は、メインモジュール200からの初期通信時に、内部クロック310cが計時する内部時刻を初期化する(D1)。次に、内部クロック310cから所定の時間間隔(通常のとき:60秒間隔、特定の条件のとき:5秒間隔)毎に出力される記録トリガが出力(サイクルアップ)されたか否かを判断する(D2)。記録トリガが出力されたと判断した場合(D2:YES)には、この記録トリガの出力時(環境状態データの取得時)において内部クロック310cが計時した内部時刻を環境状態取得時刻データとし、この記録トリガの出力時に環境センサ90から取得した環境状態データと環境状態取得時刻データとを含むサブモジュールログ360cをログメモリ320cに記憶し(D3)、D8の処理に移る。なお、内部クロック310cは、5秒間隔毎に小記録トリガを出力しており、小記録トリガの出力時(環境状態データの取得時)において内部クロック310cが計時した内部時刻を環境状態取得時刻データとし、この小記録トリガの出力時において、環境センサ90から取得した環境状態データと環境状態取得時刻データとを含む小サイクルログがリングメモリ325に記憶される。   The sensor input submodule 350 initializes the internal time measured by the internal clock 310c during initial communication from the main module 200 (D1). Next, it is determined whether or not a recording trigger output from the internal clock 310c at every predetermined time interval (normal: 60 seconds, specific conditions: 5 seconds) is output (cycled up). (D2). When it is determined that the recording trigger has been output (D2: YES), the internal time measured by the internal clock 310c when the recording trigger is output (when the environmental state data is acquired) is used as the environmental state acquisition time data. The submodule log 360c including the environmental status data acquired from the environmental sensor 90 and the environmental status acquisition time data when the trigger is output is stored in the log memory 320c (D3), and the process proceeds to D8. Note that the internal clock 310c outputs a small recording trigger every 5 seconds, and the internal time measured by the internal clock 310c at the time of outputting the small recording trigger (when acquiring the environmental state data) is the environmental state acquisition time data. When the small recording trigger is output, a small cycle log including the environmental state data acquired from the environmental sensor 90 and the environmental state acquisition time data is stored in the ring memory 325.

一方、記録トリガが出力されていないと判断した場合(D2:NO)には、環境試験装置50の状態が、環境試験装置50において不具合が発生する可能性が高い状態にあるか(又は予測可能な現象が発生したか)否かを判断する(D4)。不具合が発生する可能性が高い状態にあるか、又は予測可能な現象が発生したと判断した場合(D4:YES)には、内部クロック310cが出力する記録トリガの時間間隔を5秒に変更し(D5)、D8の処理に移る。
On the other hand, if it is determined that the recording trigger is not output (D2: NO), the state of the environmental test apparatus 50 is in a state where there is a high possibility that a failure will occur in the environmental test apparatus 50 (or prediction is possible). (D4). If it is determined that a failure is likely to occur or a predictable phenomenon has occurred (D4: YES), the time interval of the recording trigger output by the internal clock 310c is changed to 5 seconds. (D5) The process proceeds to D8 .

一方で予測可能な現象が発生していない場合(D4:NO)には、環境試験装置50において、ユーザが予測することができない不具合が発生したか否かを判断する(D6)。具体的には、不具合検知部327cが不具合を検知したと判断した場合、又は他のサブモジュール300から不具合検知データを受信したと判断した場合には、環境試験装置50に不具合が発生したと判断する。それ以外の場合には、環境試験装置50に不具合が発生していないと判断する。   On the other hand, when a predictable phenomenon has not occurred (D4: NO), it is determined whether or not a failure that cannot be predicted by the user has occurred in the environmental test apparatus 50 (D6). Specifically, when the failure detection unit 327c determines that a failure has been detected, or when it has been determined that failure detection data has been received from another submodule 300, it is determined that a failure has occurred in the environmental test apparatus 50. To do. In other cases, it is determined that no problem has occurred in the environmental test apparatus 50.

不具合が発生したと判断した場合(D6:YES)には、内部クロック310cが出力する記録トリガの時間間隔を5秒に変更し、リングメモリ325に記憶されている小サイクルログをメインモジュール200に送信し(D7)、D2の処理に移る。一方で、不具合が発生していないと判断した場合(D6:NO)には、D8の処理に移る。なお、不具合検知部327cが不具合を検知したと判断した場合には、メインモジュール200に不具合検知データを送信する。   If it is determined that a failure has occurred (D6: YES), the time interval of the recording trigger output by the internal clock 310c is changed to 5 seconds, and the small cycle log stored in the ring memory 325 is stored in the main module 200. Transmit (D7) and move to processing of D2. On the other hand, when it is determined that no defect has occurred (D6: NO), the process proceeds to D8. If the defect detection unit 327c determines that a defect has been detected, the defect detection data is transmitted to the main module 200.

D8の処理では、センサ入力サブモジュール350は、メインモジュール200からログ要求を受信したか否かを判断する。ログ要求を受信していないと判断した場合(D8:NO)には、D10の処理に移る。   In the process of D8, the sensor input submodule 350 determines whether or not a log request has been received from the main module 200. If it is determined that a log request has not been received (D8: NO), the process proceeds to D10.

ログ要求を受信したと判断した場合(D8:YES)には、センサ入力サブモジュール350は、ログメモリ320cに記憶されているサブモジュールログ360cをメインモジュール200に送信し(D9)、D10の処理に移る。なお、メインモジュール200に送信したサブモジュールログ360cはログメモリ320cから削除してもよい。また、センサ入力サブモジュール350が、ログ要求を受信した時において、処理に余裕がない(タスクの空き時間ではない)場合には、次にメインモジュール200からログ要求を受信した際に、サブモジュールログ360cを送信するようにされていてもよい。   If it is determined that the log request has been received (D8: YES), the sensor input submodule 350 transmits the submodule log 360c stored in the log memory 320c to the main module 200 (D9), and the process of D10 Move on. The submodule log 360c transmitted to the main module 200 may be deleted from the log memory 320c. Also, when the sensor input submodule 350 receives a log request and there is not enough processing (not a task idle time), the submodule receives the log request from the main module 200 next time. The log 360c may be transmitted.

D10の処理では、メインモジュール200から記録停止命令を受信したか否かを判断する。記録停止命令を受信していないと判断した場合(D10:NO)には、D2の処理に移る。   In the process of D10, it is determined whether or not a recording stop command is received from the main module 200. If it is determined that the recording stop command has not been received (D10: NO), the process proceeds to D2.

一方で、記録停止命令を受信したと判断した場合(D10:YES)には、環境センサ90からの環境状態データの取得を停止して、サブモジュールログ360cのログメモリ320cへの記録を停止し(D11)、本処理動作を終了する。   On the other hand, if it is determined that the recording stop command has been received (D10: YES), the acquisition of the environmental state data from the environmental sensor 90 is stopped, and the recording of the submodule log 360c in the log memory 320c is stopped. (D11), this processing operation ends.

(環境試験装置用デバッガ)
次に、環境試験装置用デバッガについて説明する。
(Debugger for environmental test equipment)
Next, a debugger for an environmental test apparatus will be described.

環境試験装置用デバッガとして、編集装置を用いたデバッガがある。編集装置を用いたデバッガとは、PLCの編集装置(パーソナルコンピュータなど)にシーケンスプログラム、及びメインメモリ24に記憶されている環境試験装置全体ログ240を格納し、このシーケンスプログラムに基づいて、環境試験装置全体ログ240をステップ実行させて確認するデバッガである。このデバッガは、編集装置により、メインメモリ24に記憶されている環境試験装置全体ログ240のイベントデータ及び環境状態データを、イベント取得調整時刻データ及び環境状態取得調整時刻データを用いて、リアルタイムクロック23を基準とした記憶(取得)順序にソートし、時間的に隣り合うイベントデータ又は環境状態データとの取得調整時刻データの時間間隔は考慮せずに、連続的にステップ実行して、シーケンスプログラムの動作を確認するものである。この編集装置を用いたデバッガは、極めて単純であり、実行時間は関係ないため非常に短時間でシーケンスプログラムの動作を確認することができる。   There is a debugger using an editing device as a debugger for an environmental test device. The debugger using the editing device is a PLC editing device (such as a personal computer) that stores the sequence program and the entire environmental test device log 240 stored in the main memory 24. Based on this sequence program, the environmental test is performed. This is a debugger that confirms the entire apparatus log 240 by executing steps. The debugger uses the editing device to convert the event data and environmental state data of the entire environmental test apparatus log 240 stored in the main memory 24 into the real-time clock 23 using the event acquisition adjustment time data and the environmental state acquisition adjustment time data. In order of storage (acquisition) based on the above, and step by step continuously without considering the time interval of acquisition adjustment time data with temporally adjacent event data or environmental state data, This is to confirm the operation. The debugger using this editing apparatus is very simple and does not relate to the execution time, so that the operation of the sequence program can be confirmed in a very short time.

また、その他の環境試験装置用デバッガとして、環境再現装置を用いたデバッガがある。この環境再現装置を用いたデバッガについて、図15を参照して説明する。   As another environment test apparatus debugger, there is a debugger using an environment reproduction apparatus. A debugger using this environment reproduction apparatus will be described with reference to FIG.

デバッガ500は、環境試験装置50、環境試験装置50をシーケンス制御するPLC処理手段であるPLC処理部510、及び環境再現装置520を有している。   The debugger 500 includes an environment test apparatus 50, a PLC processing unit 510 that is a PLC processing means for controlling the environment test apparatus 50 in sequence, and an environment reproduction apparatus 520.

環境再現装置520は、環境試験装置50を収容する再現槽530、及びデバッガ用制御対象機器540を有している。   The environment reproduction apparatus 520 includes a reproduction tank 530 that accommodates the environment test apparatus 50 and a debugger control target device 540.

再現槽530は、環境試験装置50の外部環境状態を再現するための槽であり、環境試験装置50が置かれる再現室530aとこれから仕切られた空調室530bとから構成されている。空調室530bには、複数のデバッガ用制御対象機器540が配されている。   The reproduction tank 530 is a tank for reproducing the external environment state of the environmental test apparatus 50, and includes a reproduction chamber 530a in which the environmental test apparatus 50 is placed and an air-conditioning room 530b partitioned therefrom. A plurality of debugger controlled devices 540 are arranged in the air conditioning room 530b.

(デバッガ用制御対象機器)
デバッガ用制御対象機器540は、再現槽530の再現室530aにおいて、環境試験装置50の外部環境状態を再現することが可能な機器である。デバッガ用制御対象機器540は、PLC処理部510から出力される制御データに基づいて機器の設定(能力)が変更される。
(Controlled device for debugger)
The debugger control target device 540 is a device capable of reproducing the external environment state of the environmental test apparatus 50 in the reproduction chamber 530a of the reproduction tank 530. In the debugger control target device 540, the setting (capability) of the device is changed based on the control data output from the PLC processing unit 510.

デバッガ用制御対象機器540は、本実施形態においては、送風機541、加熱器542、及び冷却器543である。送風機541は、再現室530aと空調室530bとの間で空気を循環させることができる。加熱器542及び冷却器543は、空調室530bの温度を所定の温度に加熱・冷却することができる。また、加熱器542及び冷却器543は、送風機541の上流側に配されており、これにより、この加熱器542及び冷却器543により所定の温度に調整された空調室530bの空気を、再現室530aに送り込み、再現室530aを所定の温度に調整することができる。なお、本実施形態においては、デバッガ用制御対象機器540は、送風機541、加熱器542、及び冷却器543であるが、特にこれに限定されるものではなく、例えば再現室530aの空気を加湿することができる加湿器等でもよく、再現槽530の再現室530aにおいて人工的な環境状態を作り出すことが可能な機器であればよい。   In the present embodiment, the debugger control target device 540 is a blower 541, a heater 542, and a cooler 543. The blower 541 can circulate air between the reproduction chamber 530a and the air conditioning chamber 530b. The heater 542 and the cooler 543 can heat and cool the temperature of the air conditioning chamber 530b to a predetermined temperature. In addition, the heater 542 and the cooler 543 are arranged on the upstream side of the blower 541, and thereby the air in the air-conditioning chamber 530b adjusted to a predetermined temperature by the heater 542 and the cooler 543 is regenerated into the reproduction chamber. The reproduction chamber 530a can be adjusted to a predetermined temperature. In this embodiment, the debugger control target device 540 is the blower 541, the heater 542, and the cooler 543, but is not particularly limited thereto, and for example, humidifies the air in the reproduction chamber 530a. It is possible to use a humidifier or the like capable of generating an artificial environment in the reproduction chamber 530a of the reproduction tank 530.

PLC処理部510は、環境試験装置50をシーケンス制御するためのシーケンスプログラムが格納されている。PLC処理部510は、このシーケンスプログラム、及びコントローラ100のメインメモリ24に記憶された環境試験装置全体ログ240を用いて、環境試験装置全体ログ240の運転の再現を行うことができる。   The PLC processing unit 510 stores a sequence program for controlling the environmental test apparatus 50 in sequence. The PLC processing unit 510 can reproduce the operation of the entire environmental test apparatus log 240 using this sequence program and the entire environmental test apparatus log 240 stored in the main memory 24 of the controller 100.

具体的には、PLC処理部510は、環境試験装置50のコントローラ100のメインメモリ24に記憶された環境試験装置全体ログ240を用いて、メインモジュール200の制御対象機器80に対するシーケンス制御の再現を行うことができる。   Specifically, the PLC processing unit 510 reproduces the sequence control for the control target device 80 of the main module 200 using the entire environmental test apparatus log 240 stored in the main memory 24 of the controller 100 of the environmental test apparatus 50. It can be carried out.

また、環境試験装置50の試験槽51の槽内の環境状態は、予め設計により選択された制御対象機器80の動作により作り出されているので、この設計に基づく試験槽51の槽内の環境状態をシミュレートすることが可能な理論式が存在する。PLC処理部510は、この理論式により環境試験装置50の試験室51aの環境状態(槽内の環境状態)をシミュレートすることができる。これにより、実際に環境センサ90により取得してメインメモリ24に記憶された環境状態ログデータ242の槽内環境データと、環境試験装置全体ログ240を用いた理論式によりシミュレートされた試験室51aの環境状態とを比較することで、環境試験装置50の不具合の原因の特定をより容易に行うことができる。   Moreover, since the environmental state in the tank of the test tank 51 of the environmental test apparatus 50 is created by the operation of the control target device 80 selected in advance by design, the environmental state in the tank of the test tank 51 based on this design. There is a theoretical formula that can simulate The PLC processing unit 510 can simulate the environmental state (environmental state in the tank) of the test chamber 51a of the environmental test apparatus 50 using this theoretical formula. Thereby, the test chamber 51a simulated by the theoretical formula using the in-vessel environment data of the environmental state log data 242 actually acquired by the environmental sensor 90 and stored in the main memory 24, and the entire environmental test apparatus log 240. By comparing the environmental conditions, it is possible to more easily identify the cause of the malfunction of the environmental test apparatus 50.

また、PLC処理部510は、メインメモリ24に記憶された環境状態ログデータ242に含まれる外部環境データを用いて、デバッガ用制御対象機器540を制御する。これにより、環境試験装置50の外部環境状態を再現することができるため、環境試験装置50の不具合の原因の特定をより容易に行うことができる。   Further, the PLC processing unit 510 controls the debugger control target device 540 using the external environment data included in the environment state log data 242 stored in the main memory 24. Thereby, since the external environmental state of the environmental test apparatus 50 can be reproduced, the cause of the malfunction of the environmental test apparatus 50 can be identified more easily.

以上、本発明の実施例を説明したが、具体例を例示したに過ぎず、特に本発明を限定するものではなく、具体的構成などは、適宜設計変更可能である。また、発明の実施の形態に記載された、作用及び効果は、本発明から生じる最も好適な作用及び効果を列挙したに過ぎず、本発明による作用及び効果は、本発明の実施の形態に記載されたものに限定されるものではない。   The embodiments of the present invention have been described above, but only specific examples have been illustrated, and the present invention is not particularly limited. Specific configurations and the like can be appropriately changed in design. Further, the actions and effects described in the embodiments of the present invention only list the most preferable actions and effects resulting from the present invention, and the actions and effects according to the present invention are described in the embodiments of the present invention. It is not limited to what was done.

1 コントローラ
3 操作入力部(入力取得手段)
4 制御部(制御手段)
5 センサ入力部(環境状態取得手段)
21 サイクルタイマ
22 記憶部(記憶手段)
23 リアルタイムクロック
24 メインメモリ
25 通信制御部(通信制御手段)
27 マクロ生成部(マクロ生成手段)
50 環境試験装置
80 制御対象機器
90 環境センサ
100 コントローラ
200 メインモジュール
240 環境試験装置全体ログ
241 イベントログデータ
242 環境状態ログデータ
300 サブモジュール
310 内部クロック
320 ログメモリ
325 リングメモリ
327 不具合検知部(不具合検知手段)
330 入力サブモジュール
340 I/Oサブモジュール
350 センサ入力サブモジュール
360 サブモジュールログ
500 環境試験装置用デバッガ
510 PLC処理部(PLC処理手段)
520 環境再現装置
1 controller 3 operation input unit (input acquisition means)
4 Control unit (control means)
5 Sensor input unit (environmental state acquisition means)
21 cycle timer 22 storage section (storage means)
23 real time clock 24 main memory 25 communication control unit (communication control means)
27 Macro generator (macro generator)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 50 Environmental test apparatus 80 Control object apparatus 90 Environmental sensor 100 Controller 200 Main module 240 Whole environmental test apparatus log 241 Event log data 242 Environmental state log data 300 Submodule 310 Internal clock 320 Log memory 325 Ring memory 327 Defect detection part (defect detection) means)
330 Input Submodule 340 I / O Submodule 350 Sensor Input Submodule 360 Submodule Log 500 Debugger for Environmental Test Equipment 510 PLC Processing Unit (PLC Processing Means)
520 Environmental reproduction device

Claims (17)

データログ機能を有する環境試験装置用コントローラであって、
前記環境試験装置の制御対象機器をシーケンス制御するメインモジュールと、
前記コントローラに対するユーザの操作入力をイベントデータとして取得する入力サブモジュールと、前記メインモジュールから前記制御対象機器へ出力される制御データをイベントデータとして取得するI/Oサブモジュールと、前記環境試験装置の環境状態を検出する環境センサから環境状態データを取得するセンサ入力サブモジュールとを含む、前記メインモジュールと通信可能な複数のサブモジュールと
を備え、
前記複数のサブモジュールは、
前記サブモジュール内の内部時刻を計時する内部クロックと、
前記サブモジュールのログであるサブモジュールログが記憶されるログメモリと
を各サブモジュールに有し、
前記入力サブモジュール及び前記I/Oサブモジュールは、前記イベントデータを取得した場合に、この取得時において前記内部クロックが計時した内部時刻をイベント取得時刻データとし、前記イベントデータと前記イベント取得時刻データとを含むサブモジュールログを前記ログメモリに記憶し、
前記センサ入力サブモジュールは、前記内部クロックから所定の時間間隔毎に出力される記録トリガの出力時に、前記環境センサから環境状態データを取得し、この取得時において前記内部クロックが計時した内部時刻を環境状態取得時刻データとし、前記環境状態取得時刻データと前記環境状態データとを含むサブモジュールログを前記ログメモリに記憶し、
前記サブモジュール各々における、前記ログメモリに記憶されたサブモジュールログの前記メインモジュールへの送信は、前記メインモジュールが処理に余裕があるときに、この送信時において前記内部クロックが計時した内部時刻を送信時内部時刻データとして前記サブモジュールログに付して行うものであり、
前記メインモジュールは、
現在時刻を計時するリアルタイムクロックと、
前記環境試験装置全体のログが記憶されるメインメモリと
を有し、
前記サブモジュール各々から前記サブモジュールログを受信した場合に、この受信時において前記リアルタイムクロックが計時した前記サブモジュールログの受信時刻データ、前記サブモジュールログに付された前記送信時内部時刻データ、及び前記サブモジュールログに含まれる前記イベント取得時刻データ又は環境状態取得時刻データを用いて、前記リアルタイムクロックを基準としたイベント取得調整時刻データ、又は前記リアルタイムクロックを基準とした環境状態取得調整時刻データを算出し、算出したイベント取得調整時刻データと前記イベントデータとを対応付けてイベントログデータとして、又は算出した環境状態取得調整時刻データと前記環境状態データとを対応付けて環境状態ログデータとして前記メインメモリに記憶すると共に、このイベント取得調整時刻データ及び環境状態取得調整時刻データを用いて、前記イベントデータに時間的に対応する前記環境状態データを求めて、前記メインメモリに記憶することを特徴とする環境試験装置用コントローラ。
A controller for an environmental test apparatus having a data log function,
A main module that performs sequence control of devices to be controlled by the environmental test apparatus;
An input submodule that acquires user operation input to the controller as event data, an I / O submodule that acquires control data output from the main module to the control target device as event data, and the environmental test apparatus A plurality of sub-modules capable of communicating with the main module, including a sensor input sub-module that acquires environmental state data from an environmental sensor that detects an environmental state;
The plurality of submodules are:
An internal clock for clocking the internal time in the submodule;
Each submodule has a log memory in which a submodule log that is a log of the submodule is stored,
When the input submodule and the I / O submodule acquire the event data, the internal time measured by the internal clock at the time of acquisition is set as event acquisition time data, and the event data and the event acquisition time data A sub-module log including:
The sensor input sub-module acquires environmental state data from the environmental sensor at the time of outputting a recording trigger output at predetermined time intervals from the internal clock, and the internal time measured by the internal clock at the time of acquisition is obtained. As environmental status acquisition time data, a submodule log including the environmental status acquisition time data and the environmental status data is stored in the log memory,
In each of the submodules, the submodule log stored in the log memory is transmitted to the main module when the main module has sufficient processing, and the internal clock timed by the internal clock at the time of transmission is calculated. It is performed by attaching to the submodule log as internal time data at the time of transmission,
The main module is
A real-time clock that counts the current time,
A main memory in which logs of the entire environmental test apparatus are stored;
When the submodule log is received from each of the submodules, the reception time data of the submodule log timed by the real-time clock at the time of reception, the transmission internal time data attached to the submodule log, and Using the event acquisition time data or environmental state acquisition time data included in the submodule log, event acquisition adjustment time data based on the real time clock, or environmental state acquisition adjustment time data based on the real time clock. The calculated event acquisition adjustment time data and the event data are associated with each other as event log data, or the calculated environmental state acquisition adjustment time data and the environmental state data are associated with each other as the environmental state log data. Store in memory And using the event acquisition adjustment time data and the environmental state acquisition adjustment time data to obtain the environmental state data temporally corresponding to the event data and storing the environmental state data in the main memory. Controller for equipment.
前記メインモジュールにおける前記イベントデータと前記環境状態データとの対応付けは、前記イベント取得調整時刻データに対して時間的に最も近い前記環境状態取得調整時刻データを求めて行うことを特徴とする請求項1に記載の環境試験装置用コントローラ。   The association between the event data and the environmental state data in the main module is performed by obtaining the environmental state acquisition adjustment time data that is temporally closest to the event acquisition adjustment time data. The controller for an environmental test apparatus according to 1. 前記メインメモリに記憶されている任意の前記環境状態ログデータに含まれる前記環境状態データの値が、前記環境状態取得調整時刻データにおいて1つ前及び1つ後の前記環境状態ログデータに含まれる前記環境状態データの値と実質的に同じ場合には、この任意の環境状態ログデータに含まれる環境状態データが前記イベントデータと時間的に対応付けられている場合を除いて、前記任意の環境状態ログデータを前記メインメモリから消去することを特徴とする請求項1又は2に記載の環境試験装置用コントローラ。   The value of the environmental status data included in any of the environmental status log data stored in the main memory is included in the environmental status log data one before and one after in the environmental status acquisition adjustment time data. If the environmental state data is substantially the same as the value of the environmental state data, the environmental state data included in the arbitrary environmental state log data is temporally associated with the event data except for the arbitrary environmental state data. The environmental test apparatus controller according to claim 1, wherein the status log data is erased from the main memory. 前記サブモジュール各々は、不具合の発生を検知する不具合検知手段を更に有しており、
前記不具合検知手段が不具合を検知した場合、前記サブモジュールは前記メインモジュールに不具合検知データを送信し、
前記メインモジュールは、前記サブモジュールから前記不具合検知データを受信した場合、前記環境試験装置全体のログの前記メインメモリへの記憶を所定の時間継続した後に、この記憶動作を停止することを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の環境試験装置用コントローラ。
Each of the sub-modules further includes a failure detection means for detecting the occurrence of a failure,
When the failure detection means detects a failure, the sub-module transmits failure detection data to the main module,
The main module, when receiving the defect detection data from the sub-module, stops the storage operation after continuing to store the log of the entire environmental test apparatus in the main memory for a predetermined time. The controller for an environmental test apparatus according to any one of claims 1 to 3.
前記センサ入力モジュールは、リングメモリを更に有し、前記内部クロックが計時する所定の時間間隔よりも短い時間間隔毎に、前記環境センサから前記環境状態データを取得し、この取得時において前記内部クロックが計時した内部時刻を環境状態取得時刻データとし、前記環境状態取得時刻データと取得した環境状態データとを含む小サイクルログを前記リングメモリに記録しており、前記サブモジュールの何れかにおいて前記不具合検知手段が不具合を検知した場合に、前記リングメモリに記憶された前記小サイクルログを前記メインモジュールに送信し、
前記メインモジュールは、前記入力サブモジュールから受信した前記小サイクルログを前記メインメモリに記憶することを特徴とする請求項4に記載の環境試験装置用コントローラ。
The sensor input module further includes a ring memory, acquires the environmental state data from the environmental sensor at time intervals shorter than a predetermined time interval timed by the internal clock, and at the time of acquisition the internal clock The internal time counted by is used as the environmental state acquisition time data, and a small cycle log including the environmental state acquisition time data and the acquired environmental state data is recorded in the ring memory, and the defect occurs in any of the submodules. When the detection means detects a malfunction, the small cycle log stored in the ring memory is transmitted to the main module,
The environmental test apparatus controller according to claim 4, wherein the main module stores the small cycle log received from the input submodule in the main memory.
前記センサ入力モジュールにおける前記内部クロックが前記記録トリガを出力する時間間隔を、特定の条件のときに、変更することを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載の環境試験装置用コントローラ。   6. The environment test apparatus according to claim 1, wherein a time interval at which the internal clock in the sensor input module outputs the recording trigger is changed under a specific condition. controller. 前記特定の条件のときは、前記環境試験装置の状態が、前記環境試験装置において不具合が発生する可能性が高い状態であるとユーザが予め設定した状態にあるときであり、この特定の条件のときにおいて、前記センサ入力モジュールにおける前記内部クロックが前記記録トリガを出力する時間間隔を短くすることを特徴とする請求項6に記載の環境試験装置用コントローラ。   The specific condition is when the state of the environmental test apparatus is in a state set in advance by the user as being in a state where there is a high possibility that a failure occurs in the environmental test apparatus. 7. The controller for an environmental test apparatus according to claim 6, wherein the time interval at which the internal clock in the sensor input module outputs the recording trigger is shortened. 前記特定の条件のときは、前記環境試験装置において、ユーザが予測することができない不具合が発生しているときであり、この特定の条件のときにおいて、前記センサ入力モジュールにおける前記内部クロックが前記記録トリガを出力する時間間隔を短くすることを特徴とする請求項6に記載の環境試験装置用コントローラ。   The specific condition is when a failure that cannot be predicted by the user has occurred in the environmental test apparatus. Under the specific condition, the internal clock in the sensor input module is recorded. The controller for an environmental test apparatus according to claim 6, wherein a time interval for outputting the trigger is shortened. 前記入力サブモジュールの前記ログメモリから、又は前記メインモジュールの前記メインメモリから、前記入力サブモジュールが取得した前記イベントデータ、及び前記イベント取得調整時刻データ又は前記イベント取得時刻データを読み込み、前記コントローラの操作入力手順を再現可能なマクロを生成可能なマクロ生成手段を更に有していることを特徴とする請求項1〜8の何れか一項に記載の環境試験装置用コントローラ。   Read the event data acquired by the input submodule and the event acquisition adjustment time data or the event acquisition time data from the log memory of the input submodule or from the main memory of the main module; The controller for an environmental test apparatus according to claim 1, further comprising a macro generation unit capable of generating a macro capable of reproducing an operation input procedure. ネットワークを介して他の環境試験装置と通信可能な通信制御手段を更に有し、
前記通信制御手段により、他の環境試験装置との間で前記メインメモリに記憶されている前記環境試験装置全体のログの授受が可能にされていると共に、他の環境試験装置のコントローラの遠隔操作が可能にされていること特徴とする請求項1〜9の何れか一項に記載の環境試験装置用コントローラ。
It further has communication control means capable of communicating with other environmental test apparatuses via a network,
The communication control means allows the log of the entire environmental test apparatus stored in the main memory to be exchanged with another environmental test apparatus, and remote operation of the controller of the other environmental test apparatus The controller for an environmental test apparatus according to any one of claims 1 to 9, wherein:
請求項1〜10の何れか一項に記載の環境試験装置用コントローラを有する環境試験装置。   The environmental test apparatus which has a controller for environmental test apparatuses as described in any one of Claims 1-10. 請求項11に記載の環境試験装置と、
前記環境試験装置をシーケンス制御可能なPLC処理手段と
を有する環境試験装置用デバッガであって、
前記PLC処理手段は、前記メインメモリに記憶された前記環境試験装置全体のログを用いて、前記環境試験装置の運転の再現が可能であることを特徴とする環境試験装置用デバッガ。
An environmental test apparatus according to claim 11;
A debugger for an environmental test apparatus having PLC processing means capable of sequence control of the environmental test apparatus,
The environmental test apparatus debugger, wherein the PLC processing means can reproduce the operation of the environmental test apparatus using a log of the entire environmental test apparatus stored in the main memory.
前記環境センサは、前記環境試験装置の槽内に備えられており、
前記環境状態データは、前記環境試験装置の槽内環境データを含むものであり、
前記PLC処理手段は、前記メインメモリに記憶された前記環境試験装置全体のログを用いて、前記メインモジュールの前記制御対象機器に対するシーケンス制御の再現が可能である共に、前記環境試験装置全体のログを用いた理論式により前記環境試験装置の槽内の環境状態のシミュレートが可能であることを特徴とする請求項12に記載の環境試験装置用デバッガ。
The environmental sensor is provided in a tank of the environmental test device,
The environmental state data includes in-vessel environmental data of the environmental test device,
The PLC processing means can reproduce the sequence control for the control target device of the main module using the log of the entire environmental test apparatus stored in the main memory, and the log of the entire environmental test apparatus The debugger for an environmental test apparatus according to claim 12, wherein the environmental condition in the tank of the environmental test apparatus can be simulated by a theoretical formula using the environmental test apparatus.
前記槽内環境データは、前記環境試験装置の槽内の、温度、湿度、圧力、風速から選択的に採用されることを特徴とする請求項13に記載の環境試験装置用デバッガ。   The environmental test apparatus debugger according to claim 13, wherein the internal environment data is selectively adopted from temperature, humidity, pressure, and wind speed in the environmental test apparatus. 前記環境試験装置の外部環境状態の再現が可能な環境再現装置を更に有し、
前記環境状態データは、前記環境試験装置の外部環境データを含むものであり、
前記メインメモリに記憶された前記環境状態ログデータに含まれる前記外部環境データを用いて、前記環境再現装置が前記環境試験装置の外部環境状態の再現が可能であることを特徴とする請求項12〜14の何れか一項に記載の環境試験装置用デバッガ。
It further has an environment reproduction device capable of reproducing the external environment state of the environmental test device,
The environmental condition data includes external environmental data of the environmental test device,
13. The environment reproduction device can reproduce the external environment state of the environmental test device using the external environment data included in the environmental state log data stored in the main memory. The debugger for environmental test apparatuses as described in any one of -14.
前記外部環境データは、前記環境試験装置の外部の、温度、湿度、及び圧力、並びに前記環境試験装置の電源電圧、消費電力、及び通信情報から選択的に採用されることを特徴とする請求項15に記載の環境試験装置用デバッガ。   The external environment data is selectively adopted from temperature, humidity, and pressure outside the environmental test apparatus, and power supply voltage, power consumption, and communication information of the environmental test apparatus. The debugger for an environmental test apparatus according to 15. データログ機能を有する環境試験装置用コントローラであって、
現在時刻を計時するリアルタイムクロックと、
所定の時間間隔毎に記録トリガを出力するサイクルタイマと、
前記環境試験装置全体のログが記憶される記憶手段と、
前記コントローラに対してユーザから操作入力される操作入力データを取得する入力取得手段と
記環境試験装置の環境状態を検出する環境センサから環境状態データを取得する環境状態取得手段と
シーケンスプログラムが格納されており、このシーケンスプログラム、前記入力取得手段により取得された前記操作入力データ、及び、前記環境状態取得手段により取得された前記環境状態データに基づいて、前記環境試験装置の制御対象機器の設定を変更するための制御データを作成し、この制御データを前記制御対象機器に対して出力する制御手段と
を有し、
前記サイクルタイマの記録トリガの出力時において、前記リアルタイムクロックが計時した現在時刻データと、前記環境状態取得手段が取得した環境状態データとを対応付けて前記記憶手段に記憶し、
前記入力取得手段が前記操作入力データを取得した場合、又は前記制御手段が前記制御データを出力した場合、この取得時又は出力時において前記リアルタイムクロックが計時した現在時刻データと、この取得時又は出力時において前記環境状態取得手段が取得した環境状態データと、前記操作入力データ又は前記制御データとを対応付けて前記記憶手段に記憶することを特徴とする環境試験装置用コントローラ。
A controller for an environmental test apparatus having a data log function,
A real-time clock that counts the current time,
A cycle timer that outputs a recording trigger at predetermined time intervals;
Storage means for storing a log of the entire environmental test apparatus;
Input acquisition means for acquiring operation input data input from the user to the controller ;
And environmental status acquisition means for acquiring environmental condition data from the environment sensor for detecting an environmental state before Symbol environmental tester,
A sequence program is stored, and the environmental test apparatus is controlled based on the sequence program, the operation input data acquired by the input acquisition unit, and the environmental state data acquired by the environmental state acquisition unit. Control means for creating control data for changing the setting of the target device and outputting the control data to the control target device ; and
During the output of the recording trigger the cycle timer, and stores the current time data in which the real time clock has timed, in the storage means in association with the environmental condition data the environmental condition acquisition unit has acquired,
When the input acquisition means acquires the operation input data, or when the control means outputs the control data, current time data counted by the real-time clock at the time of acquisition or output, and at the time of acquisition or output A controller for an environmental test apparatus characterized in that the environmental state data acquired by the environmental state acquisition unit and the operation input data or the control data are stored in the storage unit in association with each other.
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