JP5566485B2 - Backlight device, control method therefor, and image display device - Google Patents

Backlight device, control method therefor, and image display device Download PDF

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Description

本発明は、バックライト装置及びその制御方法、画像表示装置に関するものである。   The present invention relates to a backlight device, a control method therefor, and an image display device.

画像表示装置として、カラーフィルタを有するカラー液晶パネルの背面に、白色光を照射するバックライト装置を組み合わせた構成が一般的となっている。バックライト装置の光源としては、冷陰極管（ＣＣＦＬ：Ｃｏｌｄ Ｃａｔｈｏｄｅ Ｆｌｕｏｒｅｓｃｅｎｔ Ｌａｍｐ）等の蛍光ランプが主流であった。近年、消費電力、寿命、色再現性、環境負荷の面で優位な発光ダイオード（ＬＥＤ：Ｌｉｇｈｔ Ｅｍｉｔｔｉｎｇ Ｄｉｏｄｅ）を光源として用いたＬＥＤバックライト装置も用いられるようになってきている。   As an image display device, a configuration in which a backlight device for irradiating white light is combined with a back surface of a color liquid crystal panel having a color filter is generally used. As a light source of the backlight device, a fluorescent lamp such as a cold cathode fluorescent lamp (CCFL) has been mainly used. In recent years, LED backlight devices using light emitting diodes (LEDs), which are superior in terms of power consumption, lifetime, color reproducibility, and environmental load, as a light source have come to be used.

液晶パネルの表示領域に対応するＬＥＤバックライト装置の領域を複数のブロック（ＬＥＤブロックという）に分割し、ＬＥＤブロック毎にＬＥＤを設け、各ＬＥＤブロックのＬＥＤの輝度を独立して制御可能な画像表示装置がある（例えば特許文献１を参照）。カラー液晶パネルの表示領域のうち、暗い映像を表示する領域に光を照射するＬＥＤブロックの輝度を落とすことで消費電力が低減し、表示される画像のコントラストが向上する。このような、表示画像の内容（明るさ）に応じてＬＥＤブロック毎に行うＬＥＤの輝度制御をローカルディミング制御と呼ぶ。   An image in which the LED backlight device area corresponding to the display area of the liquid crystal panel is divided into a plurality of blocks (referred to as LED blocks), an LED is provided for each LED block, and the brightness of the LEDs of each LED block can be controlled independently. There is a display device (see, for example, Patent Document 1). The power consumption is reduced by reducing the luminance of the LED block that irradiates light to the dark video display area in the display area of the color liquid crystal panel, and the contrast of the displayed image is improved. Such LED brightness control performed for each LED block in accordance with the content (brightness) of the display image is referred to as local dimming control.

特許文献２は、仕切られた複数のＬＥＤブロック毎にＬＥＤが配置された直下型方式のバックライト装置において、各ＬＥＤブロックのＬＥＤの光を光ファイバー等で外部の測定装置に導き測定することで、ＬＥＤブロック毎の輝度を測定する方法を開示している。   In Patent Document 2, in a direct type backlight device in which LEDs are arranged for each of a plurality of partitioned LED blocks, the LED light of each LED block is guided to an external measuring device by an optical fiber or the like, and measured. A method for measuring the luminance of each LED block is disclosed.

特開２００１−１４２４０９号公報JP 2001-142409 A 特開２００８−１５９５５０号公報JP 2008-159550 A

ローカルディミング制御によりＬＥＤブロック毎の輝度制御を行うと、ＬＥＤブロック毎の経年劣化のばらつきによる輝度むらが問題となる。ＬＥＤブロックを順次時分割点灯し、光センサで輝度検出することで、他のＬＥＤブロックからの光の影響を受けずに、各ＬＥＤブロックの輝度を精度良く測定できる。そして、測定結果に基づいてＬＥＤブロック毎にＬＥＤの輝度を補正することで、ＬＥＤブロック毎の輝度ばらつきを補正し、輝度むらを抑制できると考えられる。このように、ＬＥＤブロック毎のＬＥＤの経年劣化による輝度の変動を補正する処理を、本明細書では「ＬＥＤ劣化補正処理」と呼ぶ。   When luminance control for each LED block is performed by local dimming control, luminance unevenness due to variation in aging deterioration for each LED block becomes a problem. By sequentially lighting the LED blocks in a time-division manner and detecting the luminance with an optical sensor, the luminance of each LED block can be accurately measured without being affected by light from other LED blocks. And it is thought that the brightness | luminance variation for every LED block is correct | amended by correcting the brightness | luminance of LED for every LED block based on a measurement result, and a brightness nonuniformity can be suppressed. As described above, the process of correcting the luminance variation due to the aging deterioration of the LED for each LED block is referred to as “LED deterioration correction process” in the present specification.

ＬＥＤバックライトの構造として、導光板を用いず、液晶パネルの背面全面にＬＥＤを配置するものを直下型と呼ぶ。直下型ＬＥＤバックライト装置のＬＥＤブロック数は数百にも及ぶ。この数百のＬＥＤブロック全てに対し１つずつＬＥＤ劣化補正処理を実行すると、全てのＬＥＤブロックのＬＥＤ劣化補正処理が完了するまでに長い時間が必要となる（例えば数分程度）。そこで、ユーザが画像表示装置を使用した後の空き時間に、バックグラウンドで自動的にＬＥＤ劣化補正処理を実施することが考えられる。   As a structure of the LED backlight, a structure in which LEDs are arranged on the entire back surface of the liquid crystal panel without using a light guide plate is called a direct type. There are hundreds of LED blocks in the direct type LED backlight device. If one LED deterioration correction process is executed for all of these hundreds of LED blocks, a long time is required until the LED deterioration correction process for all the LED blocks is completed (for example, about several minutes). Thus, it is conceivable that the LED deterioration correction process is automatically performed in the background during the idle time after the user uses the image display device.

複数のＬＥＤブロックを時分割で１つずつ順次点灯させていくことで全ＬＥＤブロックに対しＬＥＤ劣化補正処理を行う場合、点灯するＬＥＤブロックの数が少ないので、ＬＥ
Ｄの発熱によるバックライト装置の温度への影響が少なくなる。全てのＬＥＤブロックに対するＬＥＤ劣化補正処理を完了するまでには長い時間を要するため、ＬＥＤ劣化補正処理を実行している期間にバックライト装置の温度が変動（低下）してしまう可能性がある。 When performing LED deterioration correction processing for all LED blocks by sequentially lighting a plurality of LED blocks one by one in a time-sharing manner, the number of LED blocks to be lit is small.
The influence of the heat generated by D on the temperature of the backlight device is reduced. Since it takes a long time to complete the LED deterioration correction processing for all the LED blocks, the temperature of the backlight device may fluctuate (decrease) during the period in which the LED deterioration correction processing is being executed.

ＬＥＤの発光効率には温度依存性があるため、ＬＥＤ劣化補正処理の実行期間にバックライト装置の温度が変動すると、ＬＥＤブロック毎にＬＥＤの発光特性がばらつく可能性がある。そうすると、全てのＬＥＤブロックに対してＬＥＤ劣化補正処理を行っても、十分に輝度むらを抑制することができない可能性がある。   Since the light emission efficiency of the LED has temperature dependence, if the temperature of the backlight device fluctuates during the execution period of the LED deterioration correction process, the light emission characteristics of the LED may vary from one LED block to another. Then, even if the LED deterioration correction process is performed on all the LED blocks, there is a possibility that the luminance unevenness cannot be sufficiently suppressed.

そこで、本発明は、光源ブロックの輝度検出を実行している期間の温度変動を抑制することができるバックライト装置及びその制御方法、画像表示装置を提供することを目的とする。 In view of the above, an object of the present invention is to provide a backlight device, a control method thereof, and an image display device that can suppress temperature fluctuations during a period in which luminance detection of a light source block is performed.

本発明は、複数の光源ブロックを有する光源装置であって、
前記複数の光源ブロックを１つずつ発光させて、各光源ブロックの輝度値を検出する輝度検出手段と、
光源ブロックの温度を検出する温度検出手段と、
前記温度検出手段で検出した温度に基づいて、前記複数の光源ブロックのうちのある光源ブロックの輝度値を検出した後、次の検出対象の光源ブロックの輝度値を検出する前に、当該次の検出対象の光源ブロックを含む少なくとも１つ以上の光源ブロックを、当該次の検出対象の光源ブロックの温度が基準温度に近づくように所定期間発光させる点灯処理を実行する制御手段と、
を有する光源装置である。
The present invention is a light source device having a plurality of light source blocks,
Luminance detection means for causing the plurality of light source blocks to emit light one by one and detecting the luminance value of each light source block;
Temperature detecting means for detecting the temperature of the light source block;
After detecting the luminance value of a certain light source block of the plurality of light source blocks based on the temperature detected by the temperature detecting means, before detecting the luminance value of the next light source block to be detected, the next Control means for performing a lighting process of causing at least one light source block including the light source block to be detected to emit light for a predetermined period so that the temperature of the light source block to be detected next approaches a reference temperature ;
Is a light source device.

本発明は、複数の光源ブロックを有する光源装置の制御方法であって、
前記複数の光源ブロックを１つずつ発光させて、各光源ブロックの輝度値を検出する輝度検出工程と、
光源ブロックの温度を検出する温度検出工程と、
前記温度検出工程で検出した温度に基づいて、前記複数の光源ブロックのうちのある光源ブロックの輝度値を検出した後、次の検出対象の光源ブロックの輝度値を検出する前に、当該次の検出対象の光源ブロックを含む少なくとも１つ以上の光源ブロックを、当該次の検出対象の光源ブロックの温度が基準温度に近づくように所定期間発光させる点灯処理を実行する制御工程と、
を有する光源装置の制御方法である。 The present invention is a method of controlling a light source device having a plurality of light source blocks,
A luminance detection step of causing the plurality of light source blocks to emit light one by one and detecting a luminance value of each light source block;
A temperature detection step for detecting the temperature of the light source block;
After detecting the luminance value of a certain light source block of the plurality of light source blocks based on the temperature detected in the temperature detecting step, before detecting the luminance value of the next light source block to be detected, the next A control step of performing a lighting process of causing at least one light source block including the light source block to be detected to emit light for a predetermined period so that the temperature of the light source block to be detected next approaches the reference temperature ;
Is a method of controlling a light source device having

本発明によれば、光源ブロックの輝度検出を実行している期間の温度変動を抑制することができるバックライト装置及びその制御方法、画像表示装置を提供することができる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the backlight apparatus which can suppress the temperature fluctuation in the period which is performing the brightness | luminance detection of a light source block, its control method, and an image display apparatus can be provided.

実施例の画像表示装置の構成部品図Component diagram of image display device of embodiment 直下型ＬＥＤバックライトモジュールの一部を拡大視した模式図Schematic diagram enlarging a part of a direct type LED backlight module 直下型ＬＥＤバックライトモジュールの構成を示すブロック図Block diagram showing the configuration of the direct type LED backlight module ＬＥＤブロック番号Ｎ＝ｎのＬＥＤ劣化補正処理のフローチャートFlowchart of LED deterioration correction process for LED block number N = n ＬＥＤ温度変動抑制処理が挿入されるＬＥＤ劣化補正処理のフローチャートFlowchart of LED deterioration correction processing in which LED temperature fluctuation suppression processing is inserted ＬＥＤ劣化補正処理の経過時間、ステップ、ＬＥＤ温度の関係の一例An example of the relationship between the elapsed time, step, and LED temperature of LED deterioration correction processing ＬＥＤブロック番号の割り当ての一例を示す模式図Schematic diagram showing an example of LED block number assignment ＬＥＤ温度変動抑制処理（Ｎ＝２１）で点灯するＬＥＤブロックLED block that lights up in LED temperature fluctuation suppression processing (N = 21) ＬＥＤ温度変動抑制処理（Ｎ＝３４）で点灯するＬＥＤブロックLED block that lights up in LED temperature fluctuation suppression process (N = 34) ＬＥＤ劣化補正処理の経過時間、ステップ、ＬＥＤ温度の関係の一例An example of the relationship between the elapsed time, step, and LED temperature of LED deterioration correction processing

（実施例１）
図１は、本発明を適用できる画像表示装置の構成部品図である。カラー液晶パネル１０５の背面に白色光を照射するバックライトとして、直下型ＬＥＤバックライトモジュール１０１を用いる。直下型ＬＥＤバックライトモジュール１０１は、縦方向に２０個、横方向に３２個の、合計６４０個のＬＥＤブロック１０６（光源ブロック）に分割され、ＬＥＤブロック毎に（光源ブロック単位で）それぞれ独立に輝度制御可能とする。 Example 1
FIG. 1 is a component diagram of an image display apparatus to which the present invention can be applied. A direct type LED backlight module 101 is used as a backlight for irradiating the back surface of the color liquid crystal panel 105 with white light. The direct type LED backlight module 101 is divided into a total of 640 LED blocks 106 (light source blocks), 20 in the vertical direction and 32 in the horizontal direction, and each LED block (in units of light source blocks) is independently provided. Brightness control is possible.

ＬＥＤブロック１０６の分割数が多いほど、ローカルディミング制御における表示領域の分割精度が向上する。一つのＬＥＤブロックは、直下型ＬＥＤバックライトモジュール１０１の発光面を分割した複数の分割領域の一つを発光させる一又は複数のＬＥＤ（光源）の集合である。   As the number of divisions of the LED block 106 is increased, the division accuracy of the display area in the local dimming control is improved. One LED block is a set of one or a plurality of LEDs (light sources) that emit light in one of a plurality of divided regions obtained by dividing the light emitting surface of the direct type LED backlight module 101.

直下型ＬＥＤバックライトモジュール１０１は点光源であるＬＥＤを多数集めたものであるが、拡散板１０２を用いてＬＥＤからの白色光を十分に拡散させることで面発光させ、面光源として機能させる。拡散板１０２で拡散され、様々な入射角度で入射した白色光は集光シート１０３で正面方向に集光されることにより、正面の輝度が向上する。   The direct type LED backlight module 101 is a collection of a large number of LEDs that are point light sources, and the diffuser plate 102 is used to sufficiently diffuse white light from the LEDs to cause surface emission and function as a surface light source. White light diffused by the diffuser plate 102 and incident at various incident angles is condensed in the front direction by the condensing sheet 103, whereby the front luminance is improved.

反射型偏光フィルム１０４は、入射した白色光を効率的に偏光することで、カラー液晶パネル１０５で表示される輝度を向上させる。カラー液晶パネル１０５は、照射された白色光をＲＧＢの画素毎に透過率変調することでカラー映像を表示する。直下型ＬＥＤバックライトモジュール１０１、拡散板１０２、集光シート１０３、反射型偏光フィルム１０４は、バックライト装置を構成する。   The reflective polarizing film 104 improves the brightness displayed on the color liquid crystal panel 105 by efficiently polarizing incident white light. The color liquid crystal panel 105 displays a color image by modulating the transmittance of the irradiated white light for each RGB pixel. The direct type LED backlight module 101, the diffusion plate 102, the condensing sheet 103, and the reflective polarizing film 104 constitute a backlight device.

本実施例では直下型ＬＥＤバックライトモジュール１０１を用いたが、フレーム部分に複数のＬＥＤを配置し、導光板でカラー液晶パネル１０５全体に配光するエッジライト型を用いることも可能である。   In this embodiment, the direct type LED backlight module 101 is used, but it is also possible to use an edge light type in which a plurality of LEDs are arranged in a frame portion and light is distributed over the entire color liquid crystal panel 105 by a light guide plate.

図２（Ａ）は直下型ＬＥＤバックライトモジュール１０１の一部を拡大視した模式図である。縦４個、横４個の合計１６個のＬＥＤブロック１０６のグループ毎に、光センサ１０７が１つ設けられる。１つのＬＥＤブロック１０６のみを発光させて、拡散板１０２で反射した白色光を当該ＬＥＤブロック１０６の属するグループに対応する光センサ１０７で輝度検出することで、当該ＬＥＤブロック１０６の輝度を検出する。このようにして検出されるＬＥＤブロック１０６毎の輝度値に基づいて、ＬＥＤブロック１０６毎に、ＬＥＤの経年劣化による輝度低下を補正することが可能となる。直下型ＬＥＤバックライトモジュール１０１全体では、光センサ１０７が合計４０個設けられる。   FIG. 2A is a schematic view in which a portion of the direct type LED backlight module 101 is enlarged. One photosensor 107 is provided for each group of 16 LED blocks 106 in a total of 4 vertically and 4 horizontally. The luminance of the LED block 106 is detected by causing only one LED block 106 to emit light and detecting the luminance of the white light reflected by the diffuser plate 102 by the optical sensor 107 corresponding to the group to which the LED block 106 belongs. Based on the brightness value of each LED block 106 detected in this manner, it is possible to correct the brightness decrease due to the aging degradation of the LED for each LED block 106. In the entire direct type LED backlight module 101, a total of 40 photosensors 107 are provided.

図２（Ｂ）は、ＬＥＤブロック１０６を拡大視した模式図である。１つのＬＥＤブロック１０６は、直列接続された合計４個の白色ＬＥＤ１０８で構成される。直下型ＬＥＤバックライトモジュール１０１を構成する複数の白色ＬＥＤは、ＬＥＤブロック単位で輝度制御することができる。なお、白色ＬＥＤ１０８の代わりに、赤色ＬＥＤ、緑色ＬＥＤ、青色ＬＥＤなど多色のＬＥＤを組み合わせて白色光を得る構成にすることも可能である。   FIG. 2B is a schematic view in which the LED block 106 is enlarged. One LED block 106 includes a total of four white LEDs 108 connected in series. The plurality of white LEDs constituting the direct type LED backlight module 101 can be controlled in luminance in units of LED blocks. Note that, instead of the white LED 108, it is possible to obtain a white light by combining multi-color LEDs such as a red LED, a green LED, and a blue LED.

図２（Ｃ）は温度センサ１１１（温度検出手段）を実装したＬＥＤブロック１１０の模式図である。温度センサ１１１を実装したＬＥＤブロック１１０は、直下型ＬＥＤバックライトモジュール１０１の中央付近にひとつ配置される。温度センサ１１１にはチップ型のサーミスタを用いる。温度センサ１１１は、直下型ＬＥＤバックライトモジュール１０
１の温度を検出する。本実施例では、ＬＥＤブロック１１０の温度センサ１１１で検出される温度を、ＬＥＤブロックのＬＥＤの動作環境温度（周囲温度）を代表する温度とし、後述するＬＥＤ劣化補正処理において「ＬＥＤ温度」として参照する。ただし、温度センサ１１１は、所定数のＬＥＤブロックからなるグループ毎に１つずつ設けても良い。その場合、直下型ＬＥＤバックライトモジュール１０１には複数の温度センサが配置される。温度センサが複数設けられる構成とした場合、あるＬＥＤブロックの動作環境温度を、そのＬＥＤブロックが属するグループに対応する温度センサにより検出される温度により代表させることができる。 FIG. 2C is a schematic diagram of the LED block 110 on which the temperature sensor 111 (temperature detection means) is mounted. One LED block 110 on which the temperature sensor 111 is mounted is disposed near the center of the direct type LED backlight module 101. A chip-type thermistor is used for the temperature sensor 111. The temperature sensor 111 is a direct type LED backlight module 10.
1 temperature is detected. In this embodiment, the temperature detected by the temperature sensor 111 of the LED block 110 is a temperature representative of the operating environment temperature (ambient temperature) of the LED of the LED block, and is referred to as “LED temperature” in the LED deterioration correction process described later. To do. However, one temperature sensor 111 may be provided for each group of a predetermined number of LED blocks. In that case, a plurality of temperature sensors are arranged in the direct type LED backlight module 101. When a plurality of temperature sensors are provided, the operating environment temperature of a certain LED block can be represented by the temperature detected by the temperature sensor corresponding to the group to which the LED block belongs.

図３は、直下型ＬＥＤバックライトモジュール１０１の構成を示すブロック図である。ＬＥＤブロック２０２はＬＥＤドライバ２０１により点灯（発光）させられ、電流量制御およびＰＷＭ制御によって、ＬＥＤブロック２０２毎に独立に輝度調整可能である。電流量およびＰＷＭによるデューティ比の変更は、マイコン２１０（発光制御手段）からの制御信号に基づいて行われる。電流量およびＰＷＭによるデューティ比は、光源制御手段が光源ブロックの光源を発光させる際の指令値（又は発光量）に相当する。   FIG. 3 is a block diagram showing a configuration of the direct type LED backlight module 101. The LED block 202 is turned on (emitted) by the LED driver 201, and the brightness can be adjusted independently for each LED block 202 by current amount control and PWM control. The duty ratio is changed by the current amount and PWM based on a control signal from the microcomputer 210 (light emission control means). The current amount and the duty ratio by PWM correspond to a command value (or light emission amount) when the light source control means causes the light source of the light source block to emit light.

縦４個×横４個のＬＥＤブロック集合２１１にひとつずつ、当該グループに属するＬＥＤブロックの輝度を検出する光センサ２０４を設ける。光センサ２０４にはＬＥＤブロック２０３の発光スペクトルをカバーする感度を持つフォトダイオードを用いる。或る１つのＬＥＤブロックのみが発光した場合の当該ＬＥＤブロックの輝度は、そのＬＥＤブロックの属するＬＥＤブロック集合に対応する光センサ２０４による検出値と、当該ＬＥＤブロックと光センサ２０４との位置関係と、に基づき算出できる。光センサ２０４によって、ＬＥＤブロック２０２毎の輝度を検出することができるため、ＬＥＤブロック２０２毎の経年劣化による輝度低下を補正することが可能になる。 One photosensor 204 for detecting the luminance of the LED blocks belonging to the group is provided for each of the four LED blocks x 211 in the horizontal direction. The optical sensor 204 uses a photodiode having sensitivity to cover the emission spectrum of the LED blocks 2 03. When only one LED block emits light, the brightness of the LED block is the detection value by the light sensor 204 corresponding to the LED block set to which the LED block belongs, and the positional relationship between the LED block and the light sensor 204. , Based on Since the brightness of each LED block 202 can be detected by the optical sensor 204, it is possible to correct a decrease in brightness due to deterioration over time for each LED block 202.

直下型ＬＥＤバックライトモジュール１０１全体では、縦４個×横４個のＬＥＤブロック集合２１１が全４０個設けられ、従って光センサ２０４も全４０個設けられる。全４０個の光センサ２０４からの検出値は、検出値を切り替えるためのマルチプレクサ２０５へ入力する。マイコン２１０によりマルチプレクサ２０５の切り替え制御を行うことで、４０個の光センサ２０４のうちどの光センサ２０４からの検出値を後段の機能ブロックに出力するか選択することができる。   In the entire direct type LED backlight module 101, a total of 40 LED blocks 211 of 4 × 4 are provided, and therefore 40 photosensors 204 are also provided. Detection values from all 40 photosensors 204 are input to a multiplexer 205 for switching the detection values. By performing switching control of the multiplexer 205 by the microcomputer 210, it is possible to select which optical sensor 204 out of the 40 optical sensors 204 is to be output to the subsequent functional block.

マルチプレクサ２０５で選択した検出値は、ローパスフィルタ２０６に入力される。ＬＥＤブロック２０２はＰＷＭ制御によって間欠的に点灯するため、光センサ２０４の検出値も間欠出力となる。これをローパスフィルタ２０６で積分して、平滑化された検出値として出力する。   The detection value selected by the multiplexer 205 is input to the low pass filter 206. Since the LED block 202 is intermittently turned on by PWM control, the detection value of the optical sensor 204 also becomes an intermittent output. This is integrated by the low-pass filter 206 and output as a smoothed detection value.

ローパスフィルタ２０６で積分した検出値はＡ／Ｄコンバータ２０７へ入力される。Ａ／Ｄコンバータ２０７は、入力される検出値をデジタル変換する。デジタル変換された検出値はマイコン２１０へ入力される。   The detection value integrated by the low-pass filter 206 is input to the A / D converter 207. The A / D converter 207 digitally converts the input detection value. The digitally converted detection value is input to the microcomputer 210.

マイコン２１０には不揮発メモリ２０８が接続される。不揮発メモリ２０８には、ＬＥＤ劣化補正処理の結果得られた補正パラメータ（補正値）等が保持される。また、マイコン２１０には温度センサ２０９が接続される。温度センサ２０９は、ＬＥＤの温度をＬＥＤ劣化補正処理期間に検出する。 A nonvolatile memory 208 is connected to the microcomputer 210. The nonvolatile memory 208 holds correction parameters (correction values) obtained as a result of the LED deterioration correction process. A temperature sensor 209 is connected to the microcomputer 210. The temperature sensor 209 detects the LED temperature during the LED deterioration correction processing period.

以上のブロック図で示される構成を有する画像表示装置において、マイコン２１０は、直下型ＬＥＤバックライトモジュール１０１のＬＥＤ劣化補正処理を行う。ＬＥＤ劣化補正処理では、マイコン２１０は、合計６４０個のＬＥＤブロック２０２を順次ひとつずつ時分割で点灯する。ここで、ＬＥＤ劣化補正処理において、一のＬＥＤブロック２０２の
みを発光させ、同時に複数のＬＥＤブロック２０２を点灯しないのは、以下の理由による。すなわち、複数のＬＥＤブロック２０２を発光させると、光センサが輝度検出対象のＬＥＤブロック以外のＬＥＤブロックの光を検出してしまい、補正に誤差が生じる可能性があるからである。 In the image display apparatus having the configuration shown in the above block diagram, the microcomputer 210 performs LED deterioration correction processing of the direct type LED backlight module 101. In the LED deterioration correction process, the microcomputer 210 turns on a total of 640 LED blocks 202 sequentially one by one in a time-sharing manner. Here, in the LED deterioration correction process, only one LED block 202 is caused to emit light, and the plurality of LED blocks 202 are not simultaneously turned on for the following reason. That is, if a plurality of LED blocks 202 are caused to emit light, the optical sensor detects light from LED blocks other than the LED block whose luminance is to be detected, which may cause an error in correction.

ＬＥＤ劣化補正処理では、マイコン２１０は、ＬＥＤドライバ２０１によりＬＥＤブロック２０２を順次時分割点灯させ、光センサ２０４から出力された検出値を点灯させたＬＥＤブロック２０２に応じてマルチプレクサ２０５で選択する。これにより、ローパスフィルタ２０６を通過して積分された検出値がＡ／Ｄコンバータ２０７でデジタル変換され、デジタル変換された検出値がマイコン２１０に入力される。マイコン２１０は、入力される検出値と、不揮発メモリ２０８に保持された目標検出値との比較に基づき、点灯させたＬＥＤブロック２０２のＬＥＤを発光させる際の指令値（電流値、ＰＷＭデューティ比等）を補正する補正パラメータを更新する。ＬＥＤを発光させる際の電流値、ＰＷＭデューティ比等の指令値が補正されることにより、ＬＥＤの発光量が補正される。マイコン２１０が、このようなＬＥＤ劣化補正処理を、全てのＬＥＤブロック２０２に対して順次時分割で実行することで、各ＬＥＤブロック２０２の経年劣化による輝度低下が補正され、画像表示装置の表示画面全体での輝度むらを抑制することができる。   In the LED deterioration correction process, the microcomputer 210 sequentially lights the LED blocks 202 in a time-division manner by the LED driver 201 and selects the detection value output from the optical sensor 204 by the multiplexer 205 according to the LED blocks 202 that are turned on. As a result, the detection value integrated through the low-pass filter 206 is digitally converted by the A / D converter 207, and the digitally converted detection value is input to the microcomputer 210. Based on the comparison between the input detection value and the target detection value held in the nonvolatile memory 208, the microcomputer 210 emits a command value (current value, PWM duty ratio, etc.) when the LED of the lit LED block 202 emits light. ) Is updated. The light emission amount of the LED is corrected by correcting the command value such as the current value and PWM duty ratio when the LED is caused to emit light. The microcomputer 210 sequentially performs such LED deterioration correction processing on all the LED blocks 202 in a time-sharing manner, thereby correcting the luminance decrease due to the aging deterioration of each LED block 202, and the display screen of the image display device. The luminance unevenness in the whole can be suppressed.

ＬＥＤブロック２０２を順次時分割点灯する期間、温度センサ２０９はＬＥＤ温度を検出する。ＬＥＤ劣化補正処理を行っていない通常動作時は、ローカルディミング制御が行われる場合であっても、多数のＬＥＤブロックが点灯するため、ＬＥＤの廃熱によってＬＥＤ温度が高くなる。   The temperature sensor 209 detects the LED temperature during a period in which the LED blocks 202 are sequentially lit in a time-division manner. During normal operation in which the LED deterioration correction process is not performed, even when local dimming control is performed, a large number of LED blocks are lit, so that the LED temperature increases due to the waste heat of the LEDs.

一方で、ＬＥＤ劣化補正処理の実行期間は、ＬＥＤブロック２０２を順次ひとつずつ時分割点灯するため、ＬＥＤからの廃熱が殆ど無くなり、通常動作時に温まっていたバックライト装置は温度低下していく。ＬＥＤ劣化補正処理期間にＬＥＤ温度が変動すると、ＬＥＤの発光効率が変化してＬＥＤ劣化補正処理による補正を精度良く行えない可能性がある。そこで、本実施例では、ＬＥＤブロック２０２を１つずつ順次点灯していくＬＥＤ劣化補正処理期間の途中に、全てのＬＥＤブロック２０２を一斉点灯する処理を挿入する。これにより、ＬＥＤの廃熱を一時的に増加させ、バックライト装置の温度低下を抑制する。本実施例では、このようにＬＥＤ劣化補正処理の実行期間の途中に挿入する全ＬＥＤブロックの一斉点灯処理を、ＬＥＤ温度変動抑制処理と呼ぶ。なお、ＬＥＤ温度変動抑制処理では、必ずしも全てのＬＥＤブロックを一斉点灯する必要はない。バックライト装置の温度低下を抑制し、各ＬＥＤブロックのＬＥＤ劣化補正処理が実行される時のＬＥＤの周囲温度の変動を抑制する効果を奏するのであれば、６４０個のうちの一部のＬＥＤブロックを点灯するのでも良い。   On the other hand, during the execution period of the LED deterioration correction process, the LED blocks 202 are sequentially time-divisionally turned on one by one. If the LED temperature fluctuates during the LED deterioration correction processing period, there is a possibility that the light emission efficiency of the LED changes and correction by the LED deterioration correction processing cannot be performed with high accuracy. Therefore, in the present embodiment, a process for lighting all the LED blocks 202 simultaneously is inserted in the middle of the LED deterioration correction processing period in which the LED blocks 202 are sequentially turned on one by one. Thereby, the waste heat of LED is increased temporarily and the temperature fall of a backlight apparatus is suppressed. In this embodiment, the simultaneous lighting process of all the LED blocks inserted in the middle of the execution period of the LED deterioration correction process is referred to as an LED temperature fluctuation suppressing process. In the LED temperature fluctuation suppressing process, it is not always necessary to turn on all the LED blocks simultaneously. If it is effective to suppress the temperature decrease of the backlight device and to suppress the fluctuation of the ambient temperature of the LED when the LED deterioration correction process of each LED block is executed, some of the 640 LED blocks It is also possible to light up.

直下型ＬＥＤバックライトモジュール１０１の合計６４０個のＬＥＤブロック２０２には、それぞれＬＥＤブロック番号Ｎ＝ｎが割り振られている。ｎは１から６４０の整数である。図４は、マイコン２１０により実施されるＬＥＤブロック番号Ｎ＝ｎのＬＥＤブロックのＬＥＤ劣化補正処理の手順を示すフローチャートである。図４のフローチャートで表される処理が、本発明の補正処理に相当する。 The LED block number N = n is assigned to each of the total 640 LED blocks 202 of the direct type LED backlight module 101. n is an integer from 1 to 640. FIG. 4 is a flowchart showing the procedure of the LED deterioration correction process for the LED block with the LED block number N = n, which is performed by the microcomputer 210. The process represented by the flowchart of FIG. 4 corresponds to the correction process of the present invention .

まず初めに、ステップＳ１０１では、マイコン２１０は、不揮発メモリ２０８に保持されたＬＥＤブロック番号Ｎ＝ｎの補正パラメータＡ（Ｎ＝ｎ）を読み出す。 First, in step S101, the microcomputer 210 reads the correction parameter A (N = n) of the LED block number N = n held in the nonvolatile memory 208.

次に、ステップＳ１０２では、マイコン２１０は、補正パラメータＡ（Ｎ＝ｎ）と直下型ＬＥＤバックライトモジュール１０１全体で一律に定める基準点灯デューティ比Ｂとの積から、ＬＥＤブロック番号Ｎ＝ｎの点灯デューティ比Ｃ（Ｎ＝ｎ）を算出する。例えば
、マイコン２１０は、補正パラメータＡ（Ｎ＝ｎ）＝１．０３１、基準点灯デューティ比Ｂ＝６０．４２５パーセントの積から、点灯デューティ比Ｃ（Ｎ＝ｎ）＝６２．２９８パーセントを算出する。 Next, in step S102, the microcomputer 210 turns on the LED block number N = n from the product of the correction parameter A (N = n) and the reference lighting duty ratio B uniformly determined for the entire direct type LED backlight module 101. Duty ratio C (N = n) is calculated. For example, the microcomputer 210 calculates the lighting duty ratio C (N = n) = 62.298% from the product of the correction parameter A (N = n) = 1.031 and the reference lighting duty ratio B = 60.425%. .

基準点灯デューティ比Ｂは、ＬＥＤのＰＷＭ制御における点灯時間割合の基準値を示し、表示画面全体としての表示輝度を決めるものである。補正パラメータＡ（Ｎ＝ｎ）は、ＬＥＤ劣化補正処理を実施することで更新される。ＬＥＤブロック２０２の輝度劣化が大きくなるほど、補正パラメータの値は大きい値に更新される。これにより、ＬＥＤブロック２０２の輝度劣化が大きくなるほど、算出される点灯デューティ比Ｃ（Ｎ＝ｎ）も大きくなるので、結果として、ＬＥＤブロック２０２の輝度が目標値に維持される。 The reference lighting duty ratio B indicates the reference value of the lighting time ratio in the PWM control of the LED, and determines the display luminance as the entire display screen. The correction parameter A (N = n) is updated by performing the LED deterioration correction process. As the luminance deterioration of the LED block 202 increases, the value of the correction parameter is updated to a larger value. As a result, as the luminance deterioration of the LED block 202 increases, the calculated lighting duty ratio C (N = n) also increases. As a result, the luminance of the LED block 202 is maintained at the target value.

次に、ステップＳ１０３では、マイコン２１０は、不揮発メモリ２０８に保持されたＬＥＤブロック番号Ｎ＝ｎの目標検出値Ｄ（Ｎ＝ｎ）を読み出す。目標検出値Ｄ（Ｎ＝ｎ）は、表示画面全体の輝度むらが抑制されるように全てのＬＥＤブロックの輝度が調整された状態で、ＬＥＤブロック番号Ｎ＝ｎのＬＥＤブロックのみを点灯させた場合に、光センサ２０４で検出されるべき検出値である。 Next, in step S103, the microcomputer 210 reads the target detection value D (N = n) of the LED block number N = n held in the nonvolatile memory 208. For the target detection value D (N = n) , only the LED block with the LED block number N = n is lit in a state where the luminance of all the LED blocks is adjusted so that the luminance unevenness of the entire display screen is suppressed. In this case, the detected value is to be detected by the optical sensor 204.

表示画面全体の輝度むらが抑制されるように全てのＬＥＤブロックの輝度が調整された状態とは、ＬＥＤブロック間の輝度のばらつきが許容レベル以下になるように各ＬＥＤブロックの輝度がそれぞれ調整された状態である。目標検出値Ｄ（Ｎ＝ｎ）は、本発明における、輝度検出手段により検出される光源ブロックの輝度値の目標値に相当する。目標検出値Ｄ（Ｎ＝ｎ）は工場の出荷調整時に決定され、光センサ２０４の受光感度のばらつきや、ＬＥＤブロック２０２と光センサ２０４の位置関係に応じた値となる。本実施例では光センサ２０４は複数（１６個）のＬＥＤブロックのグループ毎に設けられるので、目標検出値Ｄ（Ｎ＝ｎ）は、ＬＥＤブロック番号Ｎ＝ｎのＬＥＤブロックが属するグループに対応する光センサと当該ＬＥＤブロックとの位置関係に応じて定められる。 The state in which the brightness of all LED blocks is adjusted so that the brightness unevenness of the entire display screen is suppressed is that the brightness of each LED block is adjusted so that the variation in brightness between the LED blocks is below an allowable level. It is in the state. Goal detection value D (N = n) is the present invention, corresponds to the target value of the brightness value of the light source blocks detected by the brightness detection means. The target detection value D (N = n) is determined at the time of factory shipment adjustment, and is a value corresponding to variations in the light receiving sensitivity of the optical sensor 204 and the positional relationship between the LED block 202 and the optical sensor 204. In this embodiment, since the optical sensor 204 is provided for each group of a plurality (16) of LED blocks, the target detection value D (N = n) corresponds to the group to which the LED block with the LED block number N = n belongs. It is determined according to the positional relationship between the light sensor and the LED block.

ステップＳ１０４では、目標検出値Ｄ（Ｎ＝ｎ）と、ＬＥＤブロック番号Ｎ＝ｎのＬＥＤブロックを点灯デューティ比Ｃ（Ｎ＝ｎ）で点灯させた際の光センサ２０４による検出値Ｄ’（Ｎ＝ｎ）と、の比に基づき、新しい補正パラメータＡ’（Ｎ＝ｎ）が算出される。例えば、目標検出値Ｄ（Ｎ＝ｎ）＝１３２８、検出値Ｄ’（Ｎ＝ｎ）＝１２４２の場合、マイコン２１０は、新しい補正パラメータＡ’（Ｎ＝ｎ）＝１．０６９を算出する。経年劣化によりブロック番号Ｎ＝ｎのＬＥＤブロックのＬＥＤの輝度が低下しているほど、実際の検出値Ｄ’（Ｎ＝ｎ）は目標検出値Ｄ（Ｎ＝ｎ）より小さくなるので、新しい補正パラメータＡ’（Ｎ＝ｎ）は大きい値が算出される。 In step S104, the target detection value D (N = n), LED block number N = the LED block lighting duty ratio of n C detection value D by the optical sensor 204 when is lit by (N = n) '(N = N) , a new correction parameter A ′ (N = n) is calculated. For example, when the target detection value D (N = n) = 1328 and the detection value D ′ (N = n) = 1242, the microcomputer 210 calculates a new correction parameter A ′ (N = n) = 1.068. Since the actual detection value D ′ (N = n) is smaller than the target detection value D (N = n) as the luminance of the LED of the LED block with the block number N = n decreases due to aging, a new correction is made. A large value is calculated for the parameter A ′ (N = n) .

次に、ステップＳ１０５で、マイコン２１０は、算出した新しい補正パラメータＡ’（Ｎ＝ｎ）により、不揮発メモリ２０８に保持する補正パラメータＡ（Ｎ＝ｎ）を更新する。以上でＬＥＤブロック番号Ｎ＝ｎのＬＥＤブロックのＬＥＤ劣化補正処理のフローが終了する。このＬＥＤ劣化補正処理をＬＥＤブロック番号１〜６４０のＬＥＤブロックについて順次実行していくことになるが、本実施例のバックライト装置では、一又は複数のＬＥＤ劣化補正処理を実行する毎に、ＬＥＤ温度変動抑制処理が挿入される。 Next, in step S105, the microcomputer 210 updates the correction parameter A (N = n) held in the nonvolatile memory 208 with the calculated new correction parameter A ′ (N = n) . This completes the flow of the LED deterioration correction process for the LED block with the LED block number N = n. This LED deterioration correction processing is sequentially executed for the LED blocks of LED block numbers 1 to 640. In the backlight device of this embodiment, each time one or a plurality of LED deterioration correction processing is executed, A temperature fluctuation suppression process is inserted.

図５は、直下型ＬＥＤバックライトモジュール１０１の合計６４０個のＬＥＤブロック２０２に対するＬＥＤ劣化補正処理を、ＬＥＤ温度変動抑制処理を挿入しながら順次実行する処理のフローチャートである。図５のフローチャートで表される処理が、本発明における点灯処理に相当する。 FIG. 5 is a flowchart of processing for sequentially executing LED deterioration correction processing for a total of 640 LED blocks 202 of the direct type LED backlight module 101 while inserting LED temperature fluctuation suppression processing. The process represented by the flowchart of FIG. 5 corresponds to the lighting process in the present invention .

まず、ステップＳ２０１で、マイコン２１０は、温度センサ２０９により、ＬＥＤ劣化補正処理開始時のＬＥＤ温度Ｔ０（最初にＬＥＤ劣化補正処理が実行された後のＬＥＤ温度。初期温度。本実施例では、初期温度を、温度変動抑制処理に係る所定期間を長くするか否かを判断する基準温度とする。）を検出する。マイコン２１０は、ユーザが画像表示装置を使用した後の空き時間にバックグラウンドでＬＥＤ劣化補正処理を行う。ユーザが画像表示装置を使用した後は、バックライト装置が十分に温度エージングされ温まってい
るので、バックライト装置の温度が安定した状況下でＬＥＤ劣化補正処理を実行することができ、精度良く補正を行うことができる。 First, in step S <b> 201, the microcomputer 210 causes the temperature sensor 209 to use the LED temperature T 0 at the start of the LED deterioration correction process (the LED temperature after the first LED deterioration correction process is executed. Initial temperature . In this embodiment, The initial temperature is set as a reference temperature for determining whether or not to extend the predetermined period related to the temperature fluctuation suppressing process . The microcomputer 210 performs the LED deterioration correction process in the background during the idle time after the user uses the image display device. After the user uses the image display device, the backlight device is sufficiently temperature-aged and warmed, so that the LED degradation correction process can be executed under the condition that the temperature of the backlight device is stable, and the correction is performed with high accuracy. It can be performed.

ステップＳ２０２では、マイコン２１０は、図４のフローチャートで示した通りに、ＬＥＤブロック番号Ｎ＝ｎのＬＥＤブロックのＬＥＤ劣化補正処理を実施する。次に、マイコン２１０は、ステップＳ２０３でＬＥＤブロック番号Ｎ＝ｎのＬＥＤブロックのＬＥＤ劣化補正処理を実施した後のＬＥＤ温度Ｔ（Ｎ＝ｎ）を検出する。ＬＥＤブロック番号Ｎ＝ｎのＬＥＤ劣化補正処理期間はＬＥＤブロック番号Ｎ＝ｎのＬＥＤブロックのみが点灯しているため、廃熱が少なくなりＬＥＤ温度は低下する。なお、複数のＬＥＤブロックのグループ毎に温度センサを設けている場合、ＬＥＤ温度Ｔ（Ｎ＝ｎ）は、ＬＥＤブロック番号Ｎ＝ｎのＬＥＤブロックの属するグループに対応する温度センサによる検出値としてもよい。すなわち、直前に補正処理が実行されたＬＥＤブロックの属するグループに対応する温度センサにより、ＬＥＤ温度を検出する。 In step S202, the microcomputer 210 performs the LED deterioration correction process for the LED block with the LED block number N = n, as shown in the flowchart of FIG. Next, the microcomputer 210 detects the LED temperature T (N = n) after performing the LED deterioration correction process of the LED block with the LED block number N = n in step S203. During the LED deterioration correction processing period of LED block number N = n, only the LED block of LED block number N = n is lit, so the waste heat is reduced and the LED temperature is lowered. In addition, when the temperature sensor is provided for each group of the plurality of LED blocks, the LED temperature T (N = n) may be a detected value by the temperature sensor corresponding to the group to which the LED block with the LED block number N = n belongs. Good. That is, the LED temperature is detected by the temperature sensor corresponding to the group to which the LED block for which correction processing has been performed immediately before belongs.

ステップＳ２０４では、マイコン２１０は、ＬＥＤ温度Ｔ（Ｎ＝ｎ）がＬＥＤ劣化補正処理開始時のＬＥＤ温度Ｔ０よりも閾値ａ以上低くなっている（Ｔ（Ｎ＝ｎ）＜Ｔ０−ａ）か否かを判断する。閾値ａは、全てのＬＥＤブロックについてＬＥＤ劣化補正処理を実施した直後における直下型ＬＥＤバックライトモジュールの輝度むらが所定の許容レベル以下になるようなＬＥＤ劣化補正処理期間のＬＥＤ温度変動幅に基づき定められる。 In step S204, the microcomputer 210, LED temperature T (N = n) is lower than the threshold value a than LED temperature T 0 during the LED deterioration correcting process starts (T (N = n) < T 0 -a) Determine whether or not. The threshold value a is determined based on the LED temperature fluctuation range during the LED deterioration correction processing period in which the luminance unevenness of the direct type LED backlight module immediately after the LED deterioration correction processing is performed on all the LED blocks is equal to or less than a predetermined allowable level. It is done.

ＬＥＤ温度Ｔ（Ｎ＝ｎ）がＬＥＤ劣化補正処理開始時のＬＥＤ温度Ｔ０よりも閾値ａ以上低くなっていた場合、マイコン２１０は、ステップＳ２０５でＬＥＤ温度変動抑制処理の点灯期間ｔを、点灯期間調整幅ｂだけ長くする。点灯期間調整幅ｂは、ＬＥＤ温度Ｔ（Ｎ＝ｎ）とＬＥＤ劣化補正処理開始時のＬＥＤ温度Ｔ０の差の大きさに応じて適宜変更するようにしても良い。点灯期間ｔは、本発明の点灯処理において制御手段が複数の光源ブロックを発光させる際の所定期間に相当する。 When the LED temperature T (N = n) is lower than the LED temperature T 0 at the start of the LED deterioration correction process by a threshold value a or more, the microcomputer 210 turns on the lighting period t of the LED temperature fluctuation suppression process in step S205. The period adjustment width b is increased. Lighting period adjustment width b is, LED temperature T (N = n) and may be changed according to the magnitude of the difference of the LED temperature T 0 during the LED deterioration correcting process starts. The lighting period t corresponds to a predetermined period when the control unit causes the plurality of light source blocks to emit light in the lighting process of the present invention.

ステップＳ２０６では、マイコン２１０は、ＬＥＤ温度Ｔ（Ｎ＝ｎ）がＬＥＤ劣化補正処理開始時のＬＥＤ温度Ｔ０よりも閾値ａ以上高くなっている（Ｔ（Ｎ＝ｎ）＞Ｔ０＋ａ）か否かを判断する。ＬＥＤブロック番号Ｎ＝ｎ−１におけるＬＥＤ温度変動抑制処理の点灯期間ｔが長いと、ＬＥＤ温度が必要以上に上昇する場合がある。また、環境温度の上昇によりＬＥＤ温度がＬＥＤ温度変動抑制処理により予期される温度よりも高い温度まで上昇する場合も考えられる。 In step S206, the microcomputer 210, or LED temperature T (N = n) is higher than the threshold value a than LED temperature T 0 during the LED deterioration correcting process starts (T (N = n)> T 0 + a) Judge whether or not. If the lighting period t of the LED temperature fluctuation suppression process in the LED block number N = n−1 is long, the LED temperature may rise more than necessary. Further, there may be a case where the LED temperature rises to a temperature higher than the temperature expected by the LED temperature fluctuation suppressing process due to the increase in the environmental temperature.

ＬＥＤ温度Ｔ（Ｎ＝ｎ）がＬＥＤ劣化補正処理開始時のＬＥＤ温度Ｔ０よりも閾値以上高い場合は、マイコン２１０は、ステップＳ２０７でＬＥＤ温度変動抑制処理の点灯期間ｔを、点灯期間調整幅ｂだけ短くする。なお、ここでは閾値を、上述した点灯期間調整幅ｂだけ長くする場合と同じ閾値ａとする。点灯期間ｔを長くするか否かの判定と短くするか否かの判定とで、閾値を異ならせても良い。 If the LED temperature T (N = n) is higher than the LED temperature T 0 at the start of the LED deterioration correction process by a threshold or more, the microcomputer 210 sets the lighting period t of the LED temperature fluctuation suppression process in step S207, and the lighting period adjustment width. Shorten by b. Here, the threshold value is set to the same threshold value a as when the lighting period adjustment width b is increased. The threshold value may be different depending on whether the lighting period t is increased or not.

ステップＳ２０８では、マイコン２１０は、ＬＥＤ温度変動抑制処理を、点灯期間ｔ実行する。ＬＥＤ温度変動抑制処理における電流量を、通常点灯時の電流量よりも大きくすることで、短い点灯期間ｔでＬＥＤ温度の変動（低下）を抑制できる。ＬＥＤ温度変動抑制処理において光源ブロックを発光させる際の所定輝度及び所定期間を適当に調整することで、ＬＥＤ温度の低下抑制効果を調節することができる。 In step S208, the microcomputer 210 performs the LED temperature fluctuation suppression process during the lighting period t. By making the amount of current in the LED temperature fluctuation suppression process larger than the amount of current during normal lighting, fluctuation (decrease) in LED temperature can be suppressed in a short lighting period t . A predetermined luminance and a predetermined period of time for emitting the light source block in L ED temperature fluctuation suppressing processing by appropriately adjusting, it is possible to adjust the effect of preventing the reduction of the LED temperature.

ステップＳ２０９では、マイコン２１０は、ｎ＜６４０であれば全ＬＥＤブロックのＬＥＤ劣化補正処理が済んでいない為、ステップＳ２１０でｎ＝ｎ＋１と置き換えて次のＬＥＤブロック２０２のＬＥＤ劣化補正処理へ進む。ｎ＝６４０であれば、マイコン２１０は、全ＬＥＤブロックのＬＥＤ劣化補正処理が終了する。   In step S209, if n <640, the microcomputer 210 has not completed the LED deterioration correction processing for all the LED blocks, and therefore in step S210, replaces n = n + 1 and proceeds to the LED deterioration correction processing for the next LED block 202. If n = 640, the microcomputer 210 ends the LED deterioration correction process for all LED blocks.

図６（Ａ）は、図５のフローチャートに示すＬＥＤ劣化補正処理を実施した場合の、経過時間と処理ステップ及びＬＥＤ温度との関係の一例を示す図である。ＬＥＤブロック番号Ｎ＝１のステップＳ２０２でＬＥＤ劣化補正処理が行われた後のＬＥＤ温度Ｔ（Ｎ=１
）は、ＬＥＤ劣化補正処理開始時のＬＥＤ温度Ｔ０から低下している。 FIG. 6A is a diagram illustrating an example of the relationship between the elapsed time, the process step, and the LED temperature when the LED deterioration correction process illustrated in the flowchart of FIG. 5 is performed. LED temperature T (N = 1 ) after LED deterioration correction processing is performed in step S202 of LED block number N = 1.
) Is lower than the LED temperature T 0 at the start of the LED deterioration correction process.

ここで、ＬＥＤ温度Ｔ（Ｎ＝１）は、ＬＥＤ劣化補正処理開始時のＬＥＤ温度Ｔ０よりも閾値ａ以上低くなっていないので、ステップＳ２０８でＬＥＤ温度変動抑制処理が点灯期間ｔの期間行われる。ＬＥＤブロック番号Ｎ＝２のステップＳ２０２でＬＥＤ劣化補正処理が行われた後のＬＥＤ温度Ｔ（Ｎ=２）もＬＥＤ劣化補正処理開始時のＬＥＤ温度Ｔ
０より閾値ａ以上低くなっていないのでステップＳ２０８でＬＥＤ温度変動抑制処理が点灯期間ｔの期間行われる。 Here, since the LED temperature T (N = 1) is not lower than the LED temperature T 0 at the start of the LED deterioration correction process by a threshold value a or more, the LED temperature fluctuation suppression process is performed in the period of the lighting period t in step S208. Is called. The LED temperature T (N = 2) after the LED deterioration correction process is performed in step S202 of the LED block number N = 2 is also the LED temperature T at the start of the LED deterioration correction process.
Since the threshold value a is not lower than 0 by 0 , the LED temperature fluctuation suppression process is performed during the lighting period t in step S208.

ＬＥＤブロック番号Ｎ＝３のステップＳ２０２でＬＥＤ劣化補正処理が行われた後のＬＥＤ温度Ｔ（Ｎ=３）は、ＬＥＤ劣化補正処理開始時のＬＥＤ温度Ｔ０より閾値ａ以上低
くなっている。従って、ステップＳ２０５でＬＥＤ温度変動抑制処理がｔ＋ｂに長くされ、ステップＳ２０８でＬＥＤ温度変動抑制処理が点灯期間ｔ＋ｂの期間行われる。このＬＥＤ温度変動抑制処理の結果、図６（Ａ）に示すように、ＬＥＤ劣化補正処理期間のＬＥＤ温度の変動が、初期温度Ｔ０から閾値ａ以内に収まるように調節されることになる。従って、ＬＥＤの発光効率の温度依存性に起因するＬＥＤ劣化補正処理の精度低下を抑えることが可能になる。 LED block number N = after LED deterioration correcting process is performed in 3 steps S202 LED temperature T (N = 3) is lower than the threshold value a from the LED temperature T 0 during the LED deterioration correcting process starts. Accordingly, the LED temperature fluctuation suppression process is lengthened to t + b in step S205, and the LED temperature fluctuation suppression process is performed in the lighting period t + b in step S208. The result of this LED temperature fluctuation suppressing processing, as shown in FIG. 6 (A), the variation of the LED temperature of the LED deterioration correcting process period, will be adjusted to fit the initial temperature T 0 within the threshold a. Therefore, it is possible to suppress a decrease in accuracy of the LED deterioration correction process due to the temperature dependence of the light emission efficiency of the LED.

なお、点灯期間調整幅ｂの大きさは任意に設定可能であり、例えば、初期値ｔの半分（ｔ／２）、初期値ｔと等しい値などとしてもよい。   Note that the lighting period adjustment width b can be arbitrarily set, and may be, for example, half the initial value t (t / 2), a value equal to the initial value t, or the like.

図５に示す処理では、１つのＬＥＤブロックについてＬＥＤ劣化補正処理を実行するたびにＬＥＤ温度変動抑制処理が挿入されるが、複数のＬＥＤブロックについてＬＥＤ劣化補正処理を実行するたびにＬＥＤ温度変動抑制処理を挿入しても良い。   In the process shown in FIG. 5, the LED temperature fluctuation suppression process is inserted every time the LED deterioration correction process is executed for one LED block, but the LED temperature fluctuation suppression is executed every time the LED deterioration correction process is executed for a plurality of LED blocks. Processing may be inserted.

すなわち、図５に示す処理ではＬＥＤブロック番号Ｎ＝ｎが１増えるたびにステップＳ２０８のＬＥＤ温度変動抑制処理が実行されるが、ＬＥＤブロック番号Ｎ＝ｎが所定数増えるたびにステップＳ２０８のＬＥＤ温度変動抑制処理が実行されるようにしても良い。   That is, in the process shown in FIG. 5, the LED temperature fluctuation suppression process of step S208 is executed every time the LED block number N = n increases by 1, but the LED temperature of step S208 is increased every time the LED block number N = n increases by a predetermined number. The fluctuation suppressing process may be executed.

図６（Ｂ）は、２個のＬＥＤブロックについてＬＥＤ劣化補正処理を実行するたびにＬＥＤ温度変動抑制処理を挿入するようにした場合の、経過時間と処理ステップ及びＬＥＤ温度との関係の一例を示す図である。図６（Ｂ）に示すように、１つのＬＥＤブロックについてのＬＥＤ劣化補正処理期間におけるＬＥＤ温度の低下量が小さければ、２個或いはそれ以上のＬＥＤブロックについてのＬＥＤ劣化補正処理を連続して実行することもできる。   FIG. 6B shows an example of the relationship between the elapsed time, the processing step, and the LED temperature when the LED temperature fluctuation suppression process is inserted every time the LED deterioration correction process is executed for two LED blocks. FIG. As shown in FIG. 6B, if the LED temperature decrease amount in the LED deterioration correction processing period for one LED block is small, the LED deterioration correction processing for two or more LED blocks is continuously executed. You can also

また、図５のフローチャートのステップＳ２０５では、点灯期間ｔを長くしているが、代わりに、或いは合わせて、ＬＥＤ温度変動抑制処理において発光させるＬＥＤブロックの発光輝度を高くするようにしても良い。これによっても、ＬＥＤ温度を高くすることができる。また、ステップＳ２０７では、点灯期間ｔを短くしているが、代わりに、或いは合わせて、ＬＥＤ温度変動抑制処理において発光させるＬＥＤブロックの発光輝度を低くするようにしても良い。これによっても、ＬＥＤ温度を低くすることができる。 In step S205 in the flowchart of FIG. 5, the lighting period t is lengthened, but instead or in combination, the light emission luminance of the LED block that emits light in the LED temperature fluctuation suppression process may be increased. This also makes it possible to increase the LED temperature. In step S207, the lighting period t is shortened, but instead or in combination, the light emission luminance of the LED block that emits light in the LED temperature fluctuation suppression process may be lowered. This also makes it possible to lower the LED temperature.

（実施例２）
実施例１では、ＬＥＤ劣化補正処理期間に挿入するＬＥＤ温度変動抑制処理において、全てのＬＥＤブロック２０２を一斉に点灯させる例を説明した。実施例２では、ＬＥＤ温度変動抑制処理による電力消費を低減するために、ＬＥＤ温度変動抑制処理において不要なＬＥＤブロックの点灯を抑制する例を説明する。 (Example 2)
In the first embodiment, the example in which all the LED blocks 202 are turned on all at once in the LED temperature fluctuation suppression process inserted in the LED deterioration correction process period has been described. In Example 2, an example will be described in which lighting of an unnecessary LED block is suppressed in the LED temperature fluctuation suppression process in order to reduce power consumption by the LED temperature fluctuation suppression process.

以下、ＬＥＤ劣化補正処理を行うＬＥＤブロック１０６の順序の一例と、各ＬＥＤブロック１０６のＬＥＤ劣化補正処理後に実行されるＬＥＤ温度変動抑制処理で点灯させる必要のないＬＥＤブロック１０６の一例を示す。なお、特に言及しない点については、実施例１と同様である。   Hereinafter, an example of the order of the LED blocks 106 that perform the LED deterioration correction process and an example of the LED blocks 106 that do not need to be lit in the LED temperature fluctuation suppression process that is executed after the LED deterioration correction process of each LED block 106 are shown. Note that points not particularly mentioned are the same as those in the first embodiment.

図７は、直下型ＬＥＤバックライトモジュール１０１を、縦方向に５個、横方向に７個の、合計３５個のＬＥＤブロック１０６に分割した場合のＬＥＤブロック番号Ｎ＝ｎの割り当てを示す模式図である。図７に示すように、直下型ＬＥＤバックライトモジュール１０１の最も外周側にあるＬＥＤブロックから、より内周側（中央側）に位置するＬＥＤブロック向かって、ＬＥＤブロック番号Ｎ＝ｎを割り当てる。そして、実施例１と同様、マイコン２１０は、ＬＥＤ劣化補正処理を、このＬＥＤブロック番号Ｎ＝ｎの順に行う。温度センサを実装したＬＥＤブロック１１０にはＬＥＤブロック番号Ｎ＝３５を割り当て、ＬＥＤ劣化補正処理を最後に行う。   FIG. 7 is a schematic diagram showing the assignment of the LED block number N = n when the direct type LED backlight module 101 is divided into a total of 35 LED blocks 106, 5 in the vertical direction and 7 in the horizontal direction. It is. As shown in FIG. 7, the LED block number N = n is assigned from the LED block on the outermost peripheral side of the direct type LED backlight module 101 toward the LED block located on the inner peripheral side (center side). As in the first embodiment, the microcomputer 210 performs the LED deterioration correction process in the order of the LED block number N = n. An LED block number N = 35 is assigned to the LED block 110 on which the temperature sensor is mounted, and the LED deterioration correction process is performed last.

本実施例では、ＬＥＤ劣化補正処理が未実行のＬＥＤブロックのいずれにも隣接しないＬＥＤブロックの温度は、当該ＬＥＤ劣化補正処理が未実行のＬＥＤブロックの温度変動に影響しないと考える。そこで、ＬＥＤ劣化補正処理が未実行のＬＥＤブロックのいずれにも隣接しないＬＥＤブロックの温度が初期温度Ｔ０から閾値ａ以上低下することを許容する。従って、或る時点でＬＥＤ劣化補正処理が未実行のＬＥＤブロックのいずれにも隣接しないＬＥＤブロックは、その時点以降に行われるＬＥＤ温度変動抑制処理において点灯させない。言い換えると、或る時点で、ＬＥＤ劣化補正処理が未実行のＬＥＤブロック、およびＬＥＤ劣化補正処理が未実行のＬＥＤブロックに隣接するＬＥＤブロックだけを、その時点以降に行われるＬＥＤ温度変動抑制処理において点灯させる。このようにしても、その時点以降に行われるＬＥＤ劣化補正処理の対象となるＬＥＤブロックのＬＥＤ温度の変動は、初期温度Ｔ０から閾値以内に抑えることができるので、ＬＥＤ劣化補正処理による補正の精度低下を十分に抑制できる。 In this embodiment, it is considered that the temperature of an LED block that is not adjacent to any LED block for which the LED deterioration correction process has not been performed does not affect the temperature fluctuation of the LED block for which the LED deterioration correction process has not been performed. Therefore, allowing the temperature of the LED blocks LED deterioration correcting process is not adjacent to any of the LED blocks unexecuted is lowered than the threshold value a from the initial temperature T 0. Therefore, an LED block that is not adjacent to any LED block that has not been subjected to the LED deterioration correction process at a certain point in time is not turned on in the LED temperature fluctuation suppression process performed after that point. In other words, at a certain point in time, only LED blocks that have not been subjected to LED deterioration correction processing and LED blocks that are adjacent to LED blocks that have not been subjected to LED deterioration correction processing are subjected to LED temperature fluctuation suppression processing that is performed after that point. Light up. Even in this case, the fluctuation of the LED temperature of the LED block to be subjected to the LED deterioration correction process performed after that time can be suppressed within the threshold value from the initial temperature T 0 . The decrease in accuracy can be sufficiently suppressed.

なお、ここでは、あるＬＥＤブロックと辺又は頂点を共有するＬＥＤブロックを、そのＬＥＤブロックに隣接するＬＥＤブロックとする。ＬＥＤブロック番号Ｎ＝１のＬＥＤブロック１０６に隣接するＬＥＤブロックは、ＬＥＤブロック番号Ｎ＝２，２０，２１のＬＥＤブロック１０６である。ＬＥＤブロック番号Ｎ＝２２のＬＥＤブロック１０６に隣接するＬＥＤブロックは、ＬＥＤブロック番号Ｎ＝２，３，４，２３，３５，３３，３２，２１のＬＥＤブロック１０６である。   Here, an LED block sharing a side or vertex with a certain LED block is defined as an LED block adjacent to the LED block. The LED blocks adjacent to the LED block 106 with the LED block number N = 1 are the LED blocks 106 with the LED block numbers N = 2, 20, and 21. The LED blocks adjacent to the LED block 106 with the LED block number N = 22 are the LED blocks 106 with the LED block numbers N = 2, 3, 4, 23, 35, 33, 32, and 21.

ＬＥＤブロック番号Ｎ＝１から２０までのＬＥＤブロック１０６のそれぞれのＬＥＤ劣化補正処理の実行後に行われるＬＥＤ温度変動抑制処理においては、全てのＬＥＤブロック１０６を点灯する。ＬＥＤブロック番号Ｎ＝ｎ（ｎ＝１〜２０）のＬＥＤブロックについては、そのＬＥＤブロックのＬＥＤ劣化補正処理の実行後の時点でＬＥＤ劣化補正処理が未実行のＬＥＤブロック（ＬＥＤブロック番号Ｎ＝ｎ＋１〜３５）のいずれかに隣接するからである。   In the LED temperature fluctuation suppression process performed after the execution of the respective LED deterioration correction processes of the LED blocks 106 with the LED block numbers N = 1 to 20, all the LED blocks 106 are turned on. For the LED block with the LED block number N = n (n = 1 to 20), the LED block for which the LED deterioration correction processing has not been executed at the time after execution of the LED deterioration correction processing for the LED block (LED block number N = n + 1) It is because it adjoins any of -35).

図８は、ＬＥＤブロック番号Ｎ＝２１のＬＥＤブロック１０６のＬＥＤ劣化補正処理後に実行するＬＥＤ温度変動抑制処理において、点灯させるＬＥＤブロック１０６及び点灯させないＬＥＤブロック１０６を示す図である。図８に示すように、ＬＥＤブロック番号Ｎ＝２１のＬＥＤブロック１０６のＬＥＤ劣化補正処理の実行後に行われるＬＥＤ温度変動抑制処理では、ＬＥＤブロック番号Ｎ＝１のＬＥＤブロック１０６は点灯させない。   FIG. 8 is a diagram showing the LED block 106 to be lit and the LED block 106 not to be lit in the LED temperature fluctuation suppressing process executed after the LED deterioration correction process of the LED block 106 with the LED block number N = 21. As shown in FIG. 8, in the LED temperature fluctuation suppressing process performed after the execution of the LED deterioration correction process for the LED block 106 with the LED block number N = 21, the LED block 106 with the LED block number N = 1 is not lit.

ＬＥＤブロック番号Ｎ＝１のＬＥＤブロックは、ＬＥＤブロック番号Ｎ＝２１のＬＥＤブロック１０６のＬＥＤ劣化補正処理が実行されて以降にＬＥＤ劣化補正処理の対象となるＬＥＤブロック（ＬＥＤブロック番号Ｎ＝２２以降のＬＥＤブロック）には隣接しない。ＬＥＤブロック番号Ｎ＝２１のＬＥＤブロック１０６のＬＥＤ劣化補正処理の実行後は、ＬＥＤブロック番号Ｎ＝１のＬＥＤブロック１０６が隣接するＬＥＤブロック１０６のＬＥＤ劣化補正処理は行われない。よって、ＬＥＤブロック番号Ｎ＝１のＬＥＤブロック１０６が大きく温度変動したとしても、ＬＥＤブロック番号Ｎ＝２２以降のＬＥＤブロックのＬＥＤ劣化補正処理による補正の精度が低下することを抑制できる。ＬＥＤブロック番号Ｎ＝１のＬＥＤブロックを点灯させないことで、ＬＥＤ温度変動抑制処理を行うために必要な消費電力の削減が期待出来る。   The LED block with the LED block number N = 1 is the LED block (LED block number N = 22 or later) that is subject to the LED deterioration correction process after the LED deterioration correction process of the LED block 106 with the LED block number N = 21 is executed. LED block). After execution of the LED deterioration correction process for the LED block 106 with the LED block number N = 21, the LED deterioration correction process for the LED block 106 with which the LED block 106 with the LED block number N = 1 is adjacent is not performed. Therefore, even if the temperature of the LED block 106 with the LED block number N = 1 greatly fluctuates, it can be suppressed that the accuracy of correction by the LED deterioration correction processing of the LED blocks with the LED block number N = 22 or later is lowered. By not lighting the LED block with the LED block number N = 1, it is possible to expect a reduction in power consumption necessary for performing the LED temperature fluctuation suppressing process.

同様に、それ以降ＬＥＤ劣化補正処理を行うＬＥＤブロック１０６に隣接しないＬＥＤブロック１０６は、ＬＥＤ温度変動抑制処理において点灯させない。言い換えると、未だＬＥＤ劣化補正処理が実行されていないＬＥＤブロック及びそれに隣接するＬＥＤブロックを、ＬＥＤ温度変動抑制処理において点灯させる。   Similarly, the LED block 106 that is not adjacent to the LED block 106 that performs the LED deterioration correction process thereafter is not turned on in the LED temperature fluctuation suppression process. In other words, the LED block for which the LED deterioration correction process has not yet been executed and the LED block adjacent thereto are lit in the LED temperature fluctuation suppressing process.

例えば、ＬＥＤブロック番号Ｎ＝２２のＬＥＤブロック１０６のＬＥＤ劣化補正処理後に実行するＬＥＤ温度変動抑制処理においては、ＬＥＤブロック番号Ｎ＝１，２を除いたＬＥＤブロック１０６を点灯する。ＬＥＤブロック番号Ｎ＝１，２のＬＥＤブロック１０６は、ＬＥＤ劣化補正処理が未実行のＬＥＤブロック（ＬＥＤブロック番号Ｎ＝２３〜３５）のいずれにも隣接しないからである。同様に、ＬＥＤブロック番号Ｎ＝２３のＬＥＤブロック１０６のＬＥＤ劣化補正処理後に実行するＬＥＤ温度変動抑制処理においては、ＬＥＤブロック番号Ｎ＝１〜３を除いたＬＥＤブロック１０６を点灯する。   For example, in the LED temperature fluctuation suppressing process executed after the LED deterioration correction process for the LED block 106 with the LED block number N = 22, the LED blocks 106 except for the LED block numbers N = 1 and 2 are turned on. This is because the LED block 106 with the LED block number N = 1, 2 is not adjacent to any LED block (LED block number N = 23 to 35) for which the LED deterioration correction process has not been executed. Similarly, in the LED temperature fluctuation suppressing process executed after the LED deterioration correction process of the LED block 106 with the LED block number N = 23, the LED blocks 106 except for the LED block numbers N = 1 to 3 are turned on.

図９は、ＬＥＤブロック番号Ｎ＝３４のＬＥＤブロック１０６のＬＥＤ劣化補正処理後に実行するＬＥＤ温度変動抑制処理において点灯するＬＥＤブロック１０６を示す模式図である。この場合、ＬＥＤ劣化補正処理が未実行のＬＥＤブロックはＬＥＤブロック番号Ｎ＝３５のＬＥＤブロックのみであり、これに隣接しないＬＥＤブロック１０６を除いた合計９個のＬＥＤブロック１０６が点灯する。   FIG. 9 is a schematic diagram showing the LED block 106 that is turned on in the LED temperature fluctuation suppressing process executed after the LED deterioration correction process of the LED block 106 with the LED block number N = 34. In this case, the LED blocks for which the LED deterioration correction process has not been executed are only the LED blocks with the LED block number N = 35, and a total of nine LED blocks 106 excluding the LED blocks 106 not adjacent thereto are lit.

本実施例によれば、ＬＥＤ温度変動抑制処理に関わる電力消費を抑制しつつ、ＬＥＤ劣化補正処理期間のＬＥＤ温度の変動を抑制することができ、ＬＥＤの発光効率の温度依存性に起因するＬＥＤ劣化補正処理の精度低下を抑制できる。
なお、本実施例では、或る時点でＬＥＤ劣化補正処理が未実行のＬＥＤブロックのいずれにも隣接しないＬＥＤブロックは、その時点以降に行われるＬＥＤ温度変動抑制処理において点灯させない例を挙げたが、これに限定されない。或る時点でＬＥＤ劣化補正処理が実行済みのＬＥＤブロックは、その時点以降に行われるＬＥＤ温度変動抑制処理において点灯させないようにしてもよい。言い換えると、或る時点でＬＥＤ劣化補正処理が未実行のＬＥＤブロックだけを、その時点以降に行われるＬＥＤ温度変動抑制処理において点灯させるようにしてもよい。この場合、例えばＬＥＤブロック番号Ｎ＝２１のＬＥＤブロック１０６のＬＥＤ劣化補正処理後に実行するＬＥＤ温度変動抑制処理において、つぎのように点灯制御が行われる。すなわち、ＬＥＤブロック番号Ｎ＝１〜２１のＬＥＤブロック１０６は点灯させず、ＬＥＤブロック番号Ｎ＝２２〜３５のＬＥＤブロック１０６を点灯させるように制御が行われる。また、ＬＥＤブロック番号Ｎ＝３４のＬＥＤブロック１
０６のＬＥＤ劣化補正処理後に実行するＬＥＤ温度変動抑制処理において、次のように点灯制御が行われる。すなわち、ＬＥＤブロック番号Ｎ＝１〜３４のＬＥＤブロック１０６は点灯させず、ＬＥＤブロック番号Ｎ＝３５のＬＥＤブロック１０６だけを点灯させるように制御が行われる。 According to the present embodiment, it is possible to suppress the LED temperature fluctuation during the LED deterioration correction processing period while suppressing the power consumption related to the LED temperature fluctuation suppressing process, and the LED caused by the temperature dependence of the light emission efficiency of the LED. A decrease in the accuracy of the deterioration correction process can be suppressed.
In the present embodiment, an example is given in which an LED block that is not adjacent to any LED block that has not been subjected to the LED deterioration correction process at a certain time is not lit in the LED temperature fluctuation suppression process performed after that time. However, the present invention is not limited to this. The LED block for which the LED deterioration correction process has been executed at a certain time may not be lit in the LED temperature fluctuation suppressing process performed after that time. In other words, only LED blocks for which LED deterioration correction processing has not been executed at a certain point in time may be lit in LED temperature fluctuation suppression processing performed after that point. In this case, for example, in the LED temperature fluctuation suppressing process executed after the LED deterioration correction process of the LED block 106 with the LED block number N = 21, the lighting control is performed as follows. That is, the control is performed so that the LED blocks 106 with the LED block numbers N = 1 to 21 are not lit, and the LED blocks 106 with the LED block numbers N = 22 to 35 are lit. LED block 1 with LED block number N = 34
In the LED temperature fluctuation suppression process executed after the LED deterioration correction process of 06, lighting control is performed as follows. That is, the control is performed so that the LED block 106 with the LED block number N = 1 to 34 is not lit and only the LED block 106 with the LED block number N = 35 is lit.

（実施例３）
実施例１では、一又は複数のＬＥＤブロックのＬＥＤ劣化補正処理を行うたびにＬＥＤ温度変動抑制処理を実行する例を説明した。つまり、所定数のＬＥＤブロックのＬＥＤ劣化補正処理を行うたびにＬＥＤ温度変動抑制処理を挿入した。 (Example 3)
In the first embodiment, the example in which the LED temperature fluctuation suppression process is executed every time the LED deterioration correction process for one or a plurality of LED blocks is performed has been described. That is, the LED temperature fluctuation suppression process is inserted every time the LED deterioration correction process for a predetermined number of LED blocks is performed.

一方、本実施例では、一又は複数のＬＥＤブロックのＬＥＤ劣化補正処理を行うたびに、ＬＥＤ温度がＬＥＤ劣化補正処理の開始時のＬＥＤ温度から閾値以上低くなったか否かを判定し、判定結果に応じてＬＥＤ温度変動抑制処理の実行要否を判定する。つまり、ＬＥＤ温度がＬＥＤ劣化補正処理の開始時のＬＥＤ温度より閾値以上低くならなければ、ＬＥＤ温度変動抑制処理は実行されないため、ＬＥＤ温度変動抑制処理の実行間隔は一定ではない。   On the other hand, in this embodiment, every time the LED deterioration correction process for one or a plurality of LED blocks is performed, it is determined whether the LED temperature is lower than the threshold value from the LED temperature at the start of the LED deterioration correction process, and the determination result Whether or not the execution of the LED temperature fluctuation suppression process is necessary is determined. That is, if the LED temperature does not become lower than the LED temperature at the start of the LED deterioration correction process by a threshold or more, the LED temperature fluctuation suppression process is not executed, and therefore the execution interval of the LED temperature fluctuation suppression process is not constant.

図１０は、本実施例のＬＥＤ劣化補正処理を実行した場合の経過時間とＬＥＤ温度及び処理ステップとの関係を示す図である。図１０に示すように、ＬＥＤブロック番号Ｎ＝１のＬＥＤ劣化補正処理の実行後のＬＥＤ温度Ｔ（Ｎ＝１）はＬＥＤ劣化補正処理の開始時のＬＥＤ温度Ｔ０よりも閾値ａ以上低くなっていない。従って、マイコン２１０は、ＬＥＤ温度変動抑制処理を実行せずに、次のＬＥＤブロック番号Ｎ＝２のＬＥＤブロックのＬＥＤ劣化補正処理に進む（ステップＳ２０８の処理をスキップしてステップＳ２１０及びステップＳ２０２に進む）。 FIG. 10 is a diagram illustrating the relationship between the elapsed time, the LED temperature, and the processing steps when the LED deterioration correction process of the present embodiment is executed. As shown in FIG. 10, the LED temperature T (N = 1) after execution of the LED deterioration correction process of the LED block number N = 1 is lower than the LED temperature T 0 at the start of the LED deterioration correction process by a threshold a or more. Not. Therefore, the microcomputer 210 proceeds to the LED deterioration correction process of the next LED block with the LED block number N = 2 without executing the LED temperature fluctuation suppression process (the process of step S208 is skipped and the process proceeds to step S210 and step S202). move on).

ＬＥＤブロック番号Ｎ＝２のＬＥＤ劣化補正処理の実行後のＬＥＤ温度Ｔ（Ｎ＝２）は、ＬＥＤ劣化補正処理の開始時のＬＥＤ温度Ｔ０よりも閾値ａ以上低くなっている。従って、マイコン２１０は、ＬＥＤ温度変動抑制処理を実行した後に次のＬＥＤブロック番号Ｎ＝３のＬＥＤ劣化補正処理に進む。また、ＬＥＤブロック番号Ｎ＝３のＬＥＤ劣化補正処理の実行後のＬＥＤ温度Ｔ（Ｎ＝３）は、ＬＥＤ劣化補正処理の開始時のＬＥＤ温度Ｔ０よりも閾値ａ以上低くなっている。従って、マイコン２１０は、ＬＥＤ温度変動抑制処理を実行した後に次のＬＥＤブロック番号Ｎ＝４のＬＥＤ劣化補正処理に進む。 The LED temperature T (N = 2) after execution of the LED deterioration correction process of the LED block number N = 2 is lower than the LED temperature T 0 at the start of the LED deterioration correction process by a threshold a or more. Therefore, the microcomputer 210 proceeds to the LED deterioration correction process for the next LED block number N = 3 after executing the LED temperature fluctuation suppression process. Further, the LED temperature T (N = 3) after execution of the LED deterioration correction process of the LED block number N = 3 is lower than the LED temperature T 0 at the start of the LED deterioration correction process by a threshold value a or more. Therefore, the microcomputer 210 proceeds to the LED deterioration correction process for the next LED block number N = 4 after executing the LED temperature fluctuation suppression process.

このように、ＬＥＤブロックのＬＥＤ劣化補正処理を実行するたびにＬＥＤ温度変動抑制処理の実行要否を判定することにより、不要なＬＥＤ温度変動抑制処理が実行されることを抑制でき、ＬＥＤ温度変動抑制処理の実行に起因する電力消費を抑制できる。   Thus, it is possible to suppress execution of unnecessary LED temperature fluctuation suppression processing by determining whether or not to execute the LED temperature fluctuation suppression processing every time the LED deterioration correction processing of the LED block is executed, and thus the LED temperature fluctuation The power consumption resulting from the execution of the suppression process can be suppressed.

２０１ ＬＥＤドライバ、２０２ ＬＥＤブロック、２０４ 光センサ、２１０ マイコン 201 LED driver, 202 LED block, 204 optical sensor, 210 microcomputer

Claims (25)

複数の光源ブロックを有する光源装置であって、
前記複数の光源ブロックを１つずつ発光させて、各光源ブロックの輝度値を検出する輝度検出手段と、
光源ブロックの温度を検出する温度検出手段と、
前記温度検出手段で検出した温度に基づいて、前記複数の光源ブロックのうちのある光源ブロックの輝度値を検出した後、次の検出対象の光源ブロックの輝度値を検出する前に、当該次の検出対象の光源ブロックを含む少なくとも１つ以上の光源ブロックを、当該次の検出対象の光源ブロックの温度が基準温度に近づくように所定期間発光させる点灯処理を実行する制御手段と、
を有する光源装置。 A light source device having a plurality of light source blocks,
Luminance detection means for causing the plurality of light source blocks to emit light one by one and detecting the luminance value of each light source block;
Temperature detecting means for detecting the temperature of the light source block;
After detecting the luminance value of a certain light source block of the plurality of light source blocks based on the temperature detected by the temperature detecting means, before detecting the luminance value of the next light source block to be detected, the next Control means for performing a lighting process of causing at least one light source block including the light source block to be detected to emit light for a predetermined period so that the temperature of the light source block to be detected next approaches a reference temperature ;
A light source device. 前記制御手段は、前記温度検出手段で検出した温度が、基準温度に対し閾値以上低い場合、前記所定期間を長くする請求項１に記載の光源装置。 2. The light source device according to claim 1 , wherein the control unit lengthens the predetermined period when the temperature detected by the temperature detection unit is lower than a reference temperature by a threshold value or more. 前記制御手段は、前記温度検出手段で検出した温度が、基準温度に対し閾値以上高い場合、前記所定期間を短くする請求項１又は２に記載の光源装置。 Said control means, said temperature the temperature detected by the detection means, if with respect to the reference temperature equal to or higher than the threshold higher, the light source apparatus according to claim 1 or 2 to shorten the predetermined time period. 前記制御手段は、前記温度検出手段で検出した温度が、基準温度に対し閾値以上低い場合に、前記点灯処理を実行する請求項１から３のいずれか１項に記載の光源装置。 Said control means, said temperature the temperature detected by the detecting means, in the case with respect to the reference temperature threshold value or lower, the light source device according to any one of claims 1 to 3 for executing the lighting process. 前記温度検出手段は、発光面の中央に位置する光源ブロックの温度を検出する請求項１から４のいずれか１項に記載の光源装置。 It said temperature detecting means comprises a light source device according to any one of claims 1 to 4 for detecting the temperature of the light source block located in the center of the light-emitting surface. 前記温度検出手段は、複数の光源ブロックのグループ毎に設けられる温度センサを含み、直前に輝度値の検出が行われた光源ブロックの属するグループに対応する温度センサにより、光源ブロックの温度の検出を行う請求項１から５のいずれか１項に記載の光源装置。 The temperature detection means includes a temperature sensor provided for each group of the plurality of light source blocks, and detects the temperature of the light source block by the temperature sensor corresponding to the group to which the luminance value is detected immediately before. the light source device according to claim 1, any one of 5 to perform. 前記制御手段は、前記点灯処理において、全ての光源ブロックを発光させる請求項１か
ら６のいずれか１項に記載の光源装置。 The light source device according to any one of claims 1 to 6 , wherein the control unit causes all light source blocks to emit light in the lighting process. 前記制御手段は、前記点灯処理において、未だ輝度値の検出を行っていない全ての光源ブロックを発光させる請求項１から６のいずれか１項に記載の光源装置。 The light source device according to any one of claims 1 to 6 , wherein the control unit causes all light source blocks that have not yet been detected for luminance values to emit light in the lighting process. 前記制御手段は、前記点灯処理において、未だ輝度値の検出を行っていない全ての光源ブロックおよびそれらに隣接する光源ブロックを発光させる請求項８に記載の光源装置。 The light source device according to claim 8 , wherein in the lighting process, the control unit causes all light source blocks that have not yet been detected for luminance values and light source blocks adjacent thereto to emit light. 前記制御手段は、検出される輝度値とその目標値との比較に基づき、各光源ブロックの発光量の補正値を決定する請求項１から９のいずれか１項に記載の光源装置。 Wherein, based on the comparison of the brightness value detected and the target value, the light source device according to any one of claims 1 to determine the correction values of the light emission quantity of each light source block 9. 前記目標値は、複数の光源ブロックの間の輝度のばらつきが許容レベル以下になるように、光源ブロックごとに定められる請求項１０に記載の光源装置。 The light source device according to claim 10 , wherein the target value is determined for each light source block so that variations in luminance among the plurality of light source blocks are equal to or less than an allowable level. 前記輝度検出手段は、複数の光源ブロックのグループ毎に設けられる光センサを含み、前記輝度検出手段により検出される光源ブロックの輝度値の目標値は、当該光源ブロックと当該光源ブロックが属するグループに対応する光センサとの位置関係に応じて定められる請求項１０または１１に記載の光源装置。 The luminance detection means includes an optical sensor provided for each group of a plurality of light source blocks, and the target value of the luminance value of the light source block detected by the luminance detection means is the light source block and the group to which the light source block belongs. the light source device according to claim 10 or 11 is determined depending on the positional relationship between the corresponding light sensor. 請求項１から請求項１２のいずれか１項に記載の光源装置と、液晶パネルと、を有する画像表示装置。 An image display device comprising: the light source device according to any one of claims 1 to 12 ; and a liquid crystal panel. 複数の光源ブロックを有する光源装置の制御方法であって、
前記複数の光源ブロックを１つずつ発光させて、各光源ブロックの輝度値を検出する輝度検出工程と、
光源ブロックの温度を検出する温度検出工程と、
前記温度検出工程で検出した温度に基づいて、前記複数の光源ブロックのうちのある光源ブロックの輝度値を検出した後、次の検出対象の光源ブロックの輝度値を検出する前に、当該次の検出対象の光源ブロックを含む少なくとも１つ以上の光源ブロックを、当該次の検出対象の光源ブロックの温度が基準温度に近づくように所定期間発光させる点灯処理を実行する制御工程と、
を有する光源装置の制御方法。 A method of controlling a light source device having a plurality of light source blocks,
A luminance detection step of causing the plurality of light source blocks to emit light one by one and detecting a luminance value of each light source block;
A temperature detection step for detecting the temperature of the light source block;
After detecting the luminance value of a certain light source block of the plurality of light source blocks based on the temperature detected in the temperature detecting step, before detecting the luminance value of the next light source block to be detected, the next A control step of performing a lighting process of causing at least one light source block including the light source block to be detected to emit light for a predetermined period so that the temperature of the light source block to be detected next approaches the reference temperature ;
A method for controlling a light source device. 前記制御工程では、前記温度検出工程で検出した温度が、基準温度に対し閾値以上低い場合、前記所定期間を長くする請求項１４に記載の光源装置の制御方法。 15. The method of controlling a light source device according to claim 14 , wherein, in the control step, the predetermined period is lengthened when the temperature detected in the temperature detection step is lower than a reference temperature by a threshold value or more. 前記制御工程では、前記温度検出工程で検出した温度が、基準温度に対し閾値以上高い場合、前記所定期間を短くする請求項１４又は１５に記載の光源装置の制御方法。 The light source apparatus control method according to claim 14 or 15 , wherein, in the control step, the predetermined period is shortened when the temperature detected in the temperature detection step is higher than a reference temperature by a threshold value or more. 前記制御工程では、前記温度検出工程で検出した温度が、基準温度に対し閾値以上低い場合に、前記点灯処理を実行する請求項１４から１６のいずれか１項に記載の光源装置の制御方法。 Wherein in the control step, the temperature detected by said temperature detecting step, when with respect to the reference temperature threshold value or lower, the control method of the light source apparatus according to any one of claims 14 to 16 for executing the lighting process. 前記温度検出工程では、発光面の中央に位置する光源ブロックの温度を検出する請求項１４から１７のいずれか１項に記載の光源装置の制御方法。 The method of controlling a light source device according to any one of claims 14 to 17 , wherein, in the temperature detection step, the temperature of a light source block located at the center of the light emitting surface is detected. 前記温度検出工程では、複数の光源ブロックのグループ毎に設けられる温度センサのうち、直前に輝度値の検出が行われた光源ブロックの属するグループに対応する温度センサにより、光源ブロックの温度の検出を行う請求項１４から１８のいずれか１項に記載の光源装置の制御方法。 In the temperature detection step, the temperature of the light source block is detected by the temperature sensor corresponding to the group to which the luminance value is detected immediately before, among the temperature sensors provided for each group of the plurality of light source blocks. the method of the light source apparatus according to any one of claims 14 to 18 for. 前記制御工程では、前記点灯処理において、全ての光源ブロックを発光させる請求項１４から１９のいずれか１項に記載の光源装置の制御方法。 Wherein in the control step, in the lighting process, a control method of the light source apparatus according to any one of claims 14 to 19 emit light all the light source blocks. 前記制御工程では、前記点灯処理において、未だ輝度値の検出を行っていない全ての光源ブロックを発光させる請求項１４から１９のいずれか１項に記載の光源装置の制御方法。 Wherein in the control step, in the lighting process, a control method of the light source apparatus according to any one of claims 14 to 19 which still emit all light source blocks is not performed to detect the luminance values. 前記制御工程では、前記点灯処理において、未だ輝度値の検出を行っていない全ての光源ブロックおよびそれらに隣接する光源ブロックを発光させる請求項２１に記載の光源装置の制御方法。 The method of controlling a light source device according to claim 21 , wherein in the control step, in the lighting process, all light source blocks that have not yet been detected for luminance values and light source blocks adjacent to the light source blocks are caused to emit light. 前記制御工程では、検出される輝度値とその目標値との比較に基づき、各光源ブロックの発光量の補正値を決定する請求項１４から２２のいずれか１項に記載の光源装置の制御方法。 In the control step, based on a comparison of the brightness value detected and the target value, the control method of the light source apparatus according to any one of claims 14 to 22 for determining the correction values of the light emission quantity of each light source block . 前記目標値は、複数の光源ブロックの間の輝度のばらつきが許容レベル以下になるように、光源ブロックごとに定められる請求項２３に記載の光源装置の制御方法。 The method of controlling a light source device according to claim 23 , wherein the target value is determined for each light source block so that a variation in luminance among a plurality of light source blocks is equal to or less than an allowable level. 前記輝度検出工程では、複数の光源ブロックのグループ毎に設けられる光センサにより輝度値の検出を行い、
前記輝度検出工程で検出される光源ブロックの輝度値の目標値は、当該光源ブロックと当該光源ブロックが属するグループに対応する光センサとの位置関係に応じて定められる請求項２３または２４に記載の光源装置の制御方法。
In the luminance detection step, a luminance value is detected by an optical sensor provided for each group of a plurality of light source blocks,
Target value of the brightness value of the light source block that is detected by the brightness detection step, according to claim 23 or 24 is determined depending on the positional relationship between the optical sensors corresponding to the group to which the light source block and the light source block belongs Control method of light source device.
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