JP5561449B1 - 液晶表示素子 - Google Patents
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Abstract
Description
前記第一基板上に、透明導電性材料からなる共通電極と、マトリクス状に配置される複数個のゲートバスライン及びデータバスラインと、
前記ゲートバスラインとデータバスラインとの交叉部に、薄膜トランジスタと、該トランジスタにより駆動され透明導電性材料からなる画素電極とを各画素毎に有し、
前記液晶層と、前記第一基板と第二基板のそれぞれの間にホモジニアス配向を誘起する配向膜層を有し、各配向膜の配向方向は平行であり、
前記画素電極と共通電極とはこれらの電極間にフリンジ電界を形成するために、前記画素電極と共通電極との間の電極間距離:Rが前記第一の基板と第二の基板との距離:Gより小さく、
前記共通電極は、前記第一基板のほぼ全面に、前記画素電極より第一基板に近い位置に配置され、
該液晶組成物が、負の誘電率異方性を有し、ネマチック相−等方性液体の転移温度が60℃以上であり、誘電率異方性の絶対値が2以上であり、一般式(I)
本発明における液晶組成物は、第一成分として一般式(I)で表される化合物を1種または2種以上含有する。
一般式(I)で表される化合物の合計含有量は、組成物全体の含有量の内、下限値としては10質量%が好ましく、15質量%がより好ましく、20質量%が更に好ましく、25質量%が特に好ましく、27質量%が最も好ましく、上限値としては65質量%が好ましく、55質量%がより好ましく、50質量%が更に好ましく、47質量%が特に好ましく、45質量%が最も好ましい。
一般式(I−a)〜一般式(I−e)で表される化合物群から選ばれる化合物は、1種〜10種含有することが好ましく、1種〜8種含有することが特に好ましく、1種〜5種含有することが特に好ましく、2種以上の化合物を含有することも好ましい。
で表される構造が好ましい。
一般式(II)で表される化合物において、R3は炭素原子数1〜8のアルキル基又は炭素原子数2〜8のアルケニル基であることが好ましく、炭素原子数1〜8のアルキル基であることがより好ましく、炭素原子数2〜5のアルキル基であることが更に好ましく、R4は炭素原子数1〜8のアルキル基、炭素原子数1〜8のアルコキシ基であることが好ましく、炭素原子数1〜8のアルコキシ基であることがより好ましく、炭素原子数2〜5のアルコキシ基であることがさらに好ましい。
本願発明の液晶組成物において、一般式(III)で表される化合物群の総含有率は、下限値としては2質量%が好ましく、3質量%がより好ましく、4質量%が更に好ましく、5質量%が特に好ましく、上限値としては35質量%が好ましく、28質量%がより好ましく、23質量%が更に好ましく、19質量%が特に好ましく、17質量%が最も好ましい。
A1及びA2はそれぞれ独立して、1,4-シクロヘキシレン基、1,4-フェニレン基又はテトラヒドロピラン−2,5−ジイル基を表すが、A1又は/及びA2が1,4-フェニレン基を表す場合、該1,4-フェニレン基中の1つ以上の水素原子はフッ素原子に置換されていてもよく、
Z1及びZ2はそれぞれ独立して単結合、−OCH2−、−OCF2−、−CH2O−、又は−CF2O−を表し、
n1及びn2はそれぞれ独立して、0、1、2又は3を表すが、n1+n2は1〜3であり、A1、A2、Z1及び/又はZ2が複数存在する場合にはそれらは同一であっても異なっていてもよいが、前記一般式(II)、及び一般式(III)で表される化合物を除く。)
一般式(IV)で表される化合物は具体的には次に記載する一般式(IV−1)〜(IV−5)
Zは、13000以下が好ましく、12000以下がより好ましく、11000以下が特に好ましい。
(液晶表示素子)
上記のような本発明の液晶組成物は、FFSモードの液晶表示素子に適用される。以下、図1〜6を参照にして、本発明に係るFFSモードの液晶表示素子の例を説明する。
前記半導体層13には、アモルファスシリコン、多結晶ポリシリコンなどを用いることができるが、ZnO、IGZO(In−Ga−Zn−O)、ITO等の透明半導体膜を用いると、光吸収に起因する光キャリアの弊害を抑制でき、素子の開口率を増大する観点からも好ましい。
さらに、ショットキー障壁の幅や高さを低減する目的で半導体層13とドレイン電極16またはソース電極17との間にオーミック接触層15を設けても良い。オーミック接触層には、n型アモルファスシリコンやn型多結晶ポリシリコン等のリン等の不純物を高濃度に添加した材料を用いることができる。
Δn :25℃における屈折率異方性
Δε :25℃における誘電率異方性
η :20℃における粘度(mPa・s)
γ1 :25℃における回転粘度(mPa・s)
VHR:周波数60Hz,印加電圧1Vの条件下で60℃における電圧保持率(%)
焼き付き :
液晶表示素子の焼き付き評価は、表示エリア内に所定の固定パターンを1000時間表示させた後に、全画面均一な表示を行ったときの固定パターンの残像のレベルを目視にて以下の4段階評価で行った。
○残像ごく僅かに有るも許容できるレベル
△残像有り許容できないレベル
×残像有りかなり劣悪
滴下痕 :
液晶表示装置の滴下痕の評価は、全面黒表示した場合における白く浮かび上がる滴下痕を目視にて以下の4段階評価で行った。
○残像ごく僅かに有るも許容できるレベル
△残像有り許容できないレベル
×残像有りかなり劣悪
プロセス適合性 :
プロセス適合性は、ODFプロセスにおいて、定積計量ポンプを用いて1回に50pLずつ液晶を滴下することを100000回行い、次の「0〜100回、101〜200回、201〜300回、・・・・99901〜100000回」の各100回ずつ滴下された液晶量の変化を以下の4段階で評価した。
○変化が僅かに有るも許容できるレベル
△変化が有り許容できないレベル(斑発生により歩留まりが悪化)
×変化が有りかなり劣悪(液晶漏れや真空気泡が発生)
低温での溶解性:
低温での溶解性評価は、液晶組成物を調製後、2mLのサンプル瓶に液晶組成物を1g秤量し、これに温度制御式試験槽の中で、次を1サイクル「−20℃(1時間保持)→昇温(0.1℃/毎分)→0℃(1時間保持)→昇温(0.1℃/毎分)→20℃(1時間保持)→降温(−0.1℃/毎分)→0℃(1時間保持)→降温(−0.1℃/毎分)→−20℃」として温度変化を与え続け、目視にて液晶組成物からの析出物の発生を観察し、以下の4段階評価を行った。
尚、実施例において化合物の記載について以下の略号を用いる。
(側鎖)
−n −CnH2n+1 炭素原子数nの直鎖状アルキル基
−On −OCnH2n+1 炭素原子数nの直鎖状アルコキシ基
−V −C=CH2 ビニル基
−Vn −C=C−CnH2n+1 炭素原子数(n+1)の1−アルケン
(環構造)
次に示す組成を有する液晶組成物(液晶組成物1)を調製し、その物性値を測定した。この結果を次の表に示す。
液晶組成物1と同等のTNI、同等のΔnの値及び同等のΔεの値を有するように設計した次に示す組成を有する液晶組成物(液晶組成物2)を調製し、その物性値を測定した。この結果を次の表に示す。
液晶組成物1,2と同等のTNI、同等のΔnの値及び同等のΔεの値を有するように設計した次に示す組成を有する液晶組成物(液晶組成物3)を調製し、その物性値を測定した。この結果を次の表に示す。
液晶組成物1〜3を用いて、TV用として一般的であるセル厚3.5μmの垂直配向液晶表示素子(VAモードの液晶表示素子)を作製した。
組成物1〜3と同等のTNI、同等のΔnの値及び同等のΔεの値を有するように設計した次に示す組成を有する液晶組成物(液晶組成物4)を調製し、その物性値を測定した。この結果を次の表に示す。
液晶組成物1〜4と同等のTNI、同等のΔnの値及び同等のΔεの値を有するように設計した次に示す組成を有する液晶組成物(液晶組成物5)を調製し、その物性値を測定した。この結果を次の表に示す。
液晶組成物1〜5と同等のTNI、同等のΔnの値及び同等のΔεの値を有するように設計した次に示す組成を有する液晶組成物(液晶組成物6)を調製し、その物性値を測定した。この結果を次の表に示す。
液晶組成物1〜6と同等のTNI、同等のΔnの値及び同等のΔεの値を有するように設計した次に示す組成を有する液晶組成物(液晶組成物7)を調製し、その物性値を測定した。この結果を次の表に示す。
液晶組成物1〜7と同等のTNI、同等のΔnの値及び同等のΔεの値を有するように設計した次に示す組成を有する液晶組成物(液晶組成物8)を調製し、その物性値を測定した。この結果を次の表に示す。
液晶組成物1〜8と同等のTNI、同等のΔnの値及び同等のΔεの値を有するように設計した次に示す組成を有する液晶組成物(液晶組成物9)を調製し、その物性値を測定した。この結果を次の表に示す。
液晶組成物7〜9を用いて、比較例1〜3と同様のVAモードの液晶表示素子を作製した。
液晶組成物7〜9と同等のTNI、同等のΔnの値及び同等のΔεの値を有するように設計した次に示す組成を有する液晶組成物(液晶組成物10)を調製し、その物性値を測定した。この結果を次の表に示す。
液晶組成物1〜10と同等のTNI、同等のΔnの値及び同等のΔεの値を有するように設計した次に示す組成を有する液晶組成物を調製し、その物性値を測定した。この結果を次の表に示す。
液晶組成物7〜11と同等のTNI、同等のΔnの値及び同等のΔεの値を有するように設計した次に示す組成を有する液晶組成物(液晶組成物12)を調製し、その物性値を測定した。この結果を次の表に示す。
2 第一の基板
3 電極層
4 配向膜
5 液晶層
6 カラーフィルタ
7 第二の基板
11 ゲート電極
12 ゲート絶縁膜
13 半導体層
14 絶縁層
15 オーミック接触層
16 ドレイン電極
17 ソース電極
18 絶縁保護層
21 画素電極
22 共通電極
23 ストレイジキャパシタ
25 データバスライン
27 ソースバスライン
29 共通ライン
Claims (4)
- 対向に配置された第一の透明絶縁基板と、第二の透明絶縁基板と、前記第一の基板と第二の基板間に液晶組成物を含有する液晶層を挟持し、
前記第一基板上に、透明導電性材料からなる共通電極と、マトリクス状に配置される複数個のゲートバスライン及びデータバスラインと、
前記ゲートバスラインとデータバスラインとの交叉部に、薄膜トランジスタと、該トランジスタにより駆動され透明導電性材料からなる画素電極とを各画素毎に有し、
前記液晶層と、前記第一基板と第二基板のそれぞれの間にホモジニアス配向を誘起する配向膜層を有し、各配向膜の配向方向は平行であり、
前記画素電極と共通電極とはこれらの電極間にフリンジ電界を形成するために、前記画素電極と共通電極との間の電極間距離:Rが前記第一の基板と第二の基板との距離:Gより小さく、
前記共通電極は、前記第一基板のほぼ全面に、前記画素電極より第一基板に近い位置に配置され、
該液晶組成物が、負の誘電率異方性を有し、ネマチック相−等方性液体の転移温度が60℃以上であり、誘電率異方性の絶対値が2以上であり、一般式(I)
- 下記一般式(IV)
A1及びA2はそれぞれ独立して、1,4-シクロヘキシレン基、1,4-フェニレン基又はテトラヒドロピラン−2,5−ジイル基を表すが、A1又は/及びA2が1,4-フェニレン基を表す場合、該1,4-フェニレン基中の1つ以上の水素原子はフッ素原子に置換されていてもよく、
Z1及びZ2はそれぞれ独立して単結合、−OCH2−、−OCF2−、−CH2O−、又は−CF2O−を表し、
n1及びn2はそれぞれ独立して、0、1、2又は3を表すが、n1+n2は1〜3であり、A1、A2、Z1及び/又はZ2が複数存在する場合にはそれらは同一であっても異なっていてもよいが、前記一般式(II)、及び一般式(III)で表される化合物を除く。)で表される化合物を1種以上含有する請求項1記載の液晶表示素子。 - 該画素電極が櫛形であるか又は、スリットを有する請求項1記載の液晶表示素子。
- 電極間距離(R)が0である請求項1記載の液晶表示素子。
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