JP5541774B2 - Physical quantity sensor and physical quantity measuring method - Google Patents
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Description
本発明は、半導体レーザから放射したレーザ光と物体からの戻り光との自己結合効果によって生じる干渉の情報から、物体の変位や速度を計測する物理量センサおよび物理量計測方法に関するものである。 The present invention relates to a physical quantity sensor and a physical quantity measuring method for measuring displacement and velocity of an object from information on interference caused by a self-coupling effect between laser light emitted from a semiconductor laser and return light from the object.
ＦＭＣＷ（Frequency Modulated Continuous Wave ）レーダやタイムオブフライトタイプのセンサなどの、干渉原理を利用した変位（速度）測定手法においては、ビートや干渉縞の周波数を基に測定対象の変位や速度を算出する際、一般的にＦＦＴ（Fast Fourier Transform）などの信号処理や干渉縞の計数処理などが用いられる。しかし、ＦＦＴによって高分解能を実現するためには、長いサンプリング時間と高いサンプリング周期のデータが必要で、莫大な処理時間を要するという問題点がある。また、干渉縞の計数処理においては、半波長未満の変位を測定するためにセンサを物理的に振動させたり、干渉縞の振幅の解析を行ったりする必要があり、測定対象の周期運動である振動しか計測することができないという問題点があり、さらに干渉縞の計数処理に時間がかかるという問題点があった。 Displacement (velocity) measurement methods using the principle of interference, such as FMCW (Frequency Modulated Continuous Wave) radar and time-of-flight sensors, calculate the displacement and speed of the measurement object based on the frequency of beats and interference fringes In general, signal processing such as FFT (Fast Fourier Transform) or interference fringe counting processing is generally used. However, in order to realize high resolution by FFT, there is a problem that long sampling time and data with a high sampling period are required, and enormous processing time is required. In addition, in the interference fringe counting process, it is necessary to physically vibrate the sensor or analyze the amplitude of the interference fringe in order to measure a displacement of less than a half wavelength, which is the periodic motion of the measurement target. There is a problem that only vibrations can be measured, and there is another problem that it takes time to count interference fringes.
一方、発明者は、半導体レーザの自己結合効果を用いた波長変調型のレーザ計測器を提案した（特許文献１参照）。このレーザ計測器の構成を図２４に示す。図２４のレーザ計測器は、物体２１０にレーザ光を放射する半導体レーザ２０１と、半導体レーザ２０１の光出力を電気信号に変換するフォトダイオード２０２と、半導体レーザ２０１からの光を集光して物体２１０に照射すると共に、物体２１０からの戻り光を集光して半導体レーザ２０１に入射させるレンズ２０３と、半導体レーザ２０１に発振波長が連続的に増加する第１の発振期間と発振波長が連続的に減少する第２の発振期間とを交互に繰り返させるレーザドライバ２０４と、フォトダイオード２０２の出力電流を電圧に変換して増幅する電流−電圧変換増幅器２０５と、電流−電圧変換増幅器２０５の出力電圧を２回微分する信号抽出回路２０６と、信号抽出回路２０６の出力電圧に含まれるＭＨＰの数を数える計数回路２０７と、物体２１０との距離及び物体２１０の速度を算出する演算装置２０８と、演算装置２０８の算出結果を表示する表示装置２０９とを有する。
On the other hand, the inventor has proposed a wavelength modulation type laser measuring instrument using the self-coupling effect of a semiconductor laser (see Patent Document 1). The configuration of this laser measuring instrument is shown in FIG. 24 includes a
レーザドライバ２０４は、時間に関して一定の変化率で増減を繰り返す三角波駆動電流を注入電流として半導体レーザ２０１に供給する。これにより、半導体レーザ２０１は、発振波長が一定の変化率で連続的に増加する第１の発振期間と発振波長が一定の変化率で連続的に減少する第２の発振期間とを交互に繰り返すように駆動される。図２５は、半導体レーザ２０１の発振波長の時間変化を示す図である。図２５において、Ｐ１は第１の発振期間、Ｐ２は第２の発振期間、λａは各期間における発振波長の最小値、λｂは各期間における発振波長の最大値、Ｔｔは三角波の周期である。
The
半導体レーザ２０１から出射したレーザ光は、レンズ２０３によって集光され、物体２１０に入射する。物体２１０で反射された光は、レンズ２０３によって集光され、半導体レーザ２０１に入射する。フォトダイオード２０２は、半導体レーザ２０１の光出力を電流に変換する。電流−電圧変換増幅器２０５は、フォトダイオード２０２の出力電流を電圧に変換して増幅し、信号抽出回路２０６は、電流−電圧変換増幅器２０５の出力電圧を２回微分する。計数回路２０７は、信号抽出回路２０６の出力電圧に含まれるモードホップパルス（ＭＨＰ）の数を第１の発振期間Ｐ１と第２の発振期間Ｐ２の各々について数える。演算装置２０８は、半導体レーザ２０１の最小発振波長λａと最大発振波長λｂと第１の発振期間Ｐ１におけるＭＨＰの数と第２の発振期間Ｐ２におけるＭＨＰの数に基づいて、物体２１０との距離及び物体２１０の速度を算出する。このような自己結合型のレーザ計測器によれば、半導体レーザ２０１の半波長程度の分解能の変位計測と、半導体レーザ２０１の波長変調量に反比例した分解能の距離計測とを行うことができる。
Laser light emitted from the
自己結合型のレーザ計測器によれば、従来のＦＭＣＷレーダやタイムオブフライトタイプのセンサなどに比べて、測定対象の変位や速度を高い分解能で計測することができる。しかしながら、自己結合型のレーザ計測器では、ＦＦＴと同じように変位や速度の算出にある程度の計測時間（特許文献１の例では、半導体レーザの発振波長変調の搬送波の半周期）が必要となるため、速度の変化が速い測定対象の計測においては計測誤差を生じるという問題点があった。また、信号処理においてＭＨＰの数を数える必要があるため、半導体レーザの半波長未満の分解能を実現することが難しいという問題点があった。
According to the self-coupled laser measuring instrument, it is possible to measure the displacement and speed of the measurement object with a higher resolution than conventional FMCW radars and time-of-flight sensors. However, a self-coupled laser measuring instrument requires a certain amount of measurement time (in the example of
本発明は、上記課題を解決するためになされたもので、物体の変位や速度を高い分解能で計測することができ、計測に要する時間を短縮することができる物理量センサおよび物理量計測方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made to solve the above-described problems, and provides a physical quantity sensor and a physical quantity measuring method capable of measuring the displacement and speed of an object with high resolution and reducing the time required for the measurement. For the purpose.
本発明の物理量センサは、測定対象にレーザ光を放射する半導体レーザと、発振波長が連続的に単調増加する第１の発振期間と発振波長が連続的に単調減少する第２の発振期間のうち少なくとも一方が繰り返し存在するように前記半導体レーザを動作させる発振波長変調手段と、前記半導体レーザから放射されたレーザ光と前記測定対象からの戻り光との自己結合効果によって生じる干渉波形を含む電気信号を検出する検出手段と、この検出手段の出力信号に含まれる前記干渉波形の周期を干渉波形が入力される度に計測する信号抽出手段と、この信号抽出手段の計測結果を記憶する記憶手段と、この記憶手段に記憶された１つの干渉波形の周期を補正対象の干渉波形の周期としたとき、この補正対象の干渉波形の周期に対して、その直前と直後のうち少なくとも一方において計測され前記記憶手段に記憶された干渉波形の周期の移動平均値を算出する移動平均値算出手段と、前記補正対象の干渉波形の周期と前記移動平均値とを比較することにより前記補正対象の干渉波形の周期を補正し、この補正の結果に従って前記記憶手段に記憶された周期を更新する周期補正手段と、この周期補正手段で補正された個々の周期の基準周期に対する変化量に基づいて、前記測定対象の変位と速度のうち少なくとも一方を算出する物理量算出手段とを備え、前記移動平均値算出手段は、前記補正対象の干渉波形の周期の直前に計測され前記記憶手段に記憶された所定数の干渉波形の周期の移動平均値と前記補正対象の干渉波形の周期の直後に計測され前記記憶手段に記憶された所定数の干渉波形の周期の移動平均値とを算出し、前記周期補正手段は、前記移動平均値算出手段が算出した２つの移動平均値のうち小さい方をＴ１、大きい方をＴ２とし、Ｔｘ＝Ｔ１＋α・（Ｔ２−Ｔ１）としたとき（０≦α≦１）、前記補正対象の干渉波形の周期が前記Ｔｘの所定数ｋ倍未満の場合は（ｋは１未満の正の値）、この補正対象の干渉波形の周期と次に計測された干渉波形の周期とを合わせた周期を補正後の干渉波形の周期とし、周期を合わせた波形を１つの波形とし、前記補正対象の干渉波形の周期が前記Ｔｘの（ｍ−０．５）倍以上で且つ前記Ｔｘの（ｍ＋０．５）倍未満の場合は（ｍは２以上の自然数）、前記補正対象の干渉波形の周期をｍ等分した周期をそれぞれ補正後の周期とし、補正後の周期の波形がｍ個あるものとすることを特徴とするものである。
また、本発明の物理量センサの１構成例において、前記物理量算出手段は、前記干渉波形の周期を計測するサンプリングクロックの周波数と、前記基準周期と、前記半導体レーザの平均波長と、前記周期補正手段で補正された周期の前記基準周期に対する変化量とから、前記測定対象の変位と速度のうち少なくとも一方を算出することを特徴とするものである。
The physical quantity sensor of the present invention includes a semiconductor laser that emits laser light to a measurement target, a first oscillation period in which the oscillation wavelength continuously increases monotonously, and a second oscillation period in which the oscillation wavelength continuously decreases monotonously. An oscillation wavelength modulation means for operating the semiconductor laser so that at least one of them repeatedly exists, and an electrical signal including an interference waveform generated by a self-coupling effect between the laser light emitted from the semiconductor laser and the return light from the measurement target Detection means for detecting the signal, signal extraction means for measuring the period of the interference waveform included in the output signal of the detection means every time the interference waveform is input, and storage means for storing the measurement result of the signal extraction means; When the period of one interference waveform stored in the storage means is the period of the interference waveform to be corrected, the period of the interference waveform to be corrected is The moving average value calculating means for calculating the moving average value of the period of the interference waveform measured at least one of the later and stored in the storage means is compared with the period of the interference waveform to be corrected and the moving average value. Thus, the period of the interference waveform to be corrected is corrected, the period correction means for updating the period stored in the storage means according to the result of the correction, and the reference period of each period corrected by the period correction means Physical quantity calculation means for calculating at least one of the displacement and speed of the measurement object based on the amount of change , and the moving average value calculation means is measured immediately before the period of the interference waveform to be corrected and stored in the memory A predetermined number of interference waves measured immediately after the period of the interference waveform period to be corrected and the period of the correction target interference waveform stored in the storage means and stored in the storage means The period correcting means calculates the moving average value of the two moving average values calculated by the moving average value calculating means as T1 and T2 as the larger moving average value, and Tx = T1 + α · (T2 −T1) (0 ≦ α ≦ 1), when the period of the interference waveform to be corrected is less than a predetermined number k times Tx (k is a positive value less than 1), this interference to be corrected The period obtained by combining the period of the waveform and the period of the next measured interference waveform is defined as the period of the corrected interference waveform, the combined period is defined as one waveform, and the period of the interference waveform to be corrected is Tx. (M−0.5) times or more and less than (m + 0.5) times Tx (m is a natural number of 2 or more), the period of the interference waveform to be corrected is divided into m equal periods. the cycle after correction, the waveform of the period after the correction is assumed to be m number It is an butterfly.
Further, in one configuration example of the physical quantity sensor of the present invention, the physical quantity calculating means includes a sampling clock frequency for measuring the period of the interference waveform, the reference period, the average wavelength of the semiconductor laser, and the period correcting means. At least one of the displacement and the velocity of the measurement object is calculated from the amount of change of the period corrected in
また、本発明の物理量センサの１構成例において、前記物理量算出手段は、前記測定対象が静止しているときの前記干渉波形の周期または前記補正の直前に計測された所定数の干渉波形の周期の平均を前記基準周期とすることを特徴とするものである。
また、本発明の物理量センサの１構成例は、さらに、前記検出手段の出力信号に含まれる前記干渉波形の数を、前記第１の発振期間と前記第２の発振期間の各々について数える計数手段と、この計数手段によって干渉波形の数を数える期間における最小発振波長と最大発振波長と前記計数手段の計数結果とから前記測定対象との距離を算出する距離算出手段と、この距離算出手段が算出した距離から前記干渉波形の周期を求める周期算出手段とを備え、前記物理量算出手段は、前記周期算出手段が求めた周期を前記基準周期とすることを特徴とするものである。
また、本発明の物理量センサの１構成例は、さらに、前記検出手段の出力信号に含まれる前記干渉波形の数を、前記第１の発振期間と前記第２の発振期間の各々について数える計数手段と、前記第１の発振期間における干渉波形の数と前記第２の発振期間における干渉波形の数との平均値を算出することにより前記半導体レーザと前記測定対象との平均距離に比例した干渉波形の数である距離比例個数を求める距離比例個数算出手段と、前記距離比例個数から前記干渉波形の周期を算出する周期算出手段とを備え、前記物理量算出手段は、前記周期算出手段が求めた周期を前記基準周期とすることを特徴とするものである。
Further, in one configuration example of the physical quantity sensor of the present invention, the physical quantity calculation means may calculate the period of the interference waveform when the measurement object is stationary or the period of a predetermined number of interference waveforms measured immediately before the correction. Is the reference period.
Moreover, in one configuration example of the physical quantity sensor of the present invention, the counting unit further counts the number of the interference waveforms included in the output signal of the detection unit for each of the first oscillation period and the second oscillation period. A distance calculating means for calculating a distance from the object to be measured from a minimum oscillation wavelength, a maximum oscillation wavelength and a counting result of the counting means in a period in which the number of interference waveforms is counted by the counting means, and the distance calculating means calculates Period calculation means for obtaining the period of the interference waveform from the measured distance, wherein the physical quantity calculation means uses the period obtained by the period calculation means as the reference period.
Moreover, in one configuration example of the physical quantity sensor of the present invention, the counting unit further counts the number of the interference waveforms included in the output signal of the detection unit for each of the first oscillation period and the second oscillation period. And calculating an average value of the number of interference waveforms in the first oscillation period and the number of interference waveforms in the second oscillation period to obtain an interference waveform proportional to the average distance between the semiconductor laser and the measurement object. Distance proportional number calculating means for obtaining a distance proportional number that is the number of distances, and period calculating means for calculating the period of the interference waveform from the distance proportional number, wherein the physical quantity calculating means is the period obtained by the period calculating means. Is the reference period.
また、本発明の物理量計測方法は、発振波長が連続的に単調増加する第１の発振期間と発振波長が連続的に単調減少する第２の発振期間のうち少なくとも一方が繰り返し存在するように半導体レーザを動作させる発振手順と、前記半導体レーザから放射されたレーザ光と測定対象からの戻り光との自己結合効果によって生じる干渉波形を含む電気信号を検出する検出手順と、この検出手順で得られた出力信号に含まれる前記干渉波形の周期を干渉波形が入力される度に計測する信号抽出手順と、この信号抽出手順の計測結果を記憶手段に記憶させる記憶手順と、前記記憶手段に記憶された１つの干渉波形の周期を補正対象の干渉波形の周期としたとき、この補正対象の干渉波形の周期に対して、その直前と直後のうち少なくとも一方において計測され前記記憶手段に記憶された干渉波形の周期の移動平均値を算出する移動平均値算出手順と、前記補正対象の干渉波形の周期と前記移動平均値とを比較することにより前記補正対象の干渉波形の周期を補正し、この補正の結果に従って前記記憶手段に記憶された周期を更新する周期補正手順と、この周期補正手順で補正された個々の周期の基準周期に対する変化量に基づいて、前記測定対象の変位と速度のうち少なくとも一方を算出する物理量算出手順とを含み、前記移動平均値算出手順は、前記補正対象の干渉波形の周期の直前に計測され前記記憶手段に記憶された所定数の干渉波形の周期の移動平均値と前記補正対象の干渉波形の周期の直後に計測され前記記憶手段に記憶された所定数の干渉波形の周期の移動平均値とを算出し、前記周期補正手順は、前記移動平均値算出手順で算出した２つの移動平均値のうち小さい方をＴ１、大きい方をＴ２とし、Ｔｘ＝Ｔ１＋α・（Ｔ２−Ｔ１）としたとき（０≦α≦１）、前記補正対象の干渉波形の周期が前記Ｔｘの所定数ｋ倍未満の場合は（ｋは１未満の正の値）、この補正対象の干渉波形の周期と次に計測された干渉波形の周期とを合わせた周期を補正後の干渉波形の周期とし、周期を合わせた波形を１つの波形とし、前記補正対象の干渉波形の周期が前記Ｔｘの（ｍ−０．５）倍以上で且つ前記Ｔｘの（ｍ＋０．５）倍未満の場合は（ｍは２以上の自然数）、前記補正対象の干渉波形の周期をｍ等分した周期をそれぞれ補正後の周期とし、補正後の周期の波形がｍ個あるものとすることを特徴とするものである。 Further, the physical quantity measuring method of the present invention is a semiconductor in which at least one of the first oscillation period in which the oscillation wavelength continuously increases monotonically and the second oscillation period in which the oscillation wavelength continuously decreases monotonously exists. An oscillation procedure for operating the laser, a detection procedure for detecting an electrical signal including an interference waveform caused by a self-coupling effect between the laser light emitted from the semiconductor laser and the return light from the measurement object, and the detection procedure A signal extraction procedure for measuring the period of the interference waveform included in the output signal every time the interference waveform is input, a storage procedure for storing the measurement result of the signal extraction procedure in the storage device, and a storage procedure stored in the storage device. When the period of the single interference waveform is the period of the interference waveform to be corrected, the period of the interference waveform to be corrected is at least one of immediately before and after The moving average value calculation procedure for calculating the moving average value of the period of the interference waveform measured and stored in the storage means is compared with the period of the interference waveform to be corrected and the moving average value of the correction target. Based on the period correction procedure for correcting the period of the interference waveform and updating the period stored in the storage means according to the result of the correction, and the amount of change of each period corrected in the period correction procedure with respect to the reference period, A physical quantity calculation procedure for calculating at least one of the displacement and speed of the measurement target , wherein the moving average value calculation procedure is measured immediately before the period of the interference waveform to be corrected and stored in the storage means. Calculating a moving average value of a number of interference waveforms and a moving average value of a predetermined number of interference waveforms measured immediately after the period of the interference waveform to be corrected and stored in the storage unit; The cycle correction procedure is when the smaller one of the two moving average values calculated in the moving average value calculating procedure is T1, and the larger one is T2, and Tx = T1 + α · (T2−T1) (0 ≦ α ≦). 1) When the cycle of the interference waveform to be corrected is less than a predetermined number k times the Tx (k is a positive value less than 1), the cycle of the interference waveform to be corrected and the interference waveform measured next And the period of the interference waveform to be corrected is one waveform, and the period of the interference waveform to be corrected is equal to or greater than (m−0.5) times the Tx. If it is less than (m + 0.5) times Tx (m is a natural number of 2 or more), the period obtained by equally dividing the period of the interference waveform to be corrected into m equals the period after correction, and the period after correction It is characterized in that there are m waveforms .
本発明によれば、個々の干渉波形の周期に基づいて算出を行うことにより、測定対象の変位や速度を従来よりも高い分解能で計測することができる。また、従来の自己結合型のレーザ計測器では、搬送波の半周期の計測時間がかかるのに対して、本発明では、１つ１つの干渉波形の周期から測定対象の変位や速度を求めることができるので、計測に要する時間を大幅に短縮することができ、速度の変化が速い測定対象にも対応することができる。さらに、本発明では、信号抽出手段で計測された補正対象の干渉波形の周期を、その直前と直後のうち少なくとも一方において計測された干渉波形の周期の移動平均値と比較することにより、干渉波形の周期の誤差を補正することができるので、変位や速度の計測精度を向上させることができる。 According to the present invention, by calculating based on the period of each interference waveform, it is possible to measure the displacement and speed of the measurement object with higher resolution than before. Further, in the conventional self-coupled laser measuring instrument, it takes a measurement time of a half cycle of the carrier wave, but in the present invention, the displacement and speed of the measurement object can be obtained from the period of each interference waveform. Therefore, the time required for measurement can be greatly shortened, and it is possible to deal with a measurement object whose speed changes rapidly. Furthermore, in the present invention, by comparing the period of the interference waveform to be corrected, measured by the signal extraction means, with the moving average value of the period of the interference waveform measured at least one of immediately before and immediately after, the interference waveform Since the error of the period can be corrected, the measurement accuracy of displacement and speed can be improved.
［第１の実施の形態］
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。図１は本発明の第１の実施の形態に係る物理量センサの構成を示すブロック図である。
図１の物理量センサは、測定対象の物体１０にレーザ光を放射する半導体レーザ１と、半導体レーザ１の光出力を電気信号に変換するフォトダイオード２と、半導体レーザ１からの光を集光して放射すると共に、物体１０からの戻り光を集光して半導体レーザ１に入射させるレンズ３と、半導体レーザ１を駆動する発振波長変調手段となるレーザドライバ４と、フォトダイオード２の出力電流を電圧に変換して増幅する電流−電圧変換増幅部５と、電流−電圧変換増幅部５の出力電圧から搬送波を除去するフィルタ部６と、フィルタ部６の出力電圧に含まれる自己結合信号であるモードホップパルス（以下、ＭＨＰとする）の周期を計測する信号抽出部７と、信号抽出部７が計測した個々の周期に基づいて物体１０の変位や速度を算出する演算部８と、演算部８の算出結果を表示する表示部９とを有する。
[First Embodiment]
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a physical quantity sensor according to the first embodiment of the present invention.
The physical quantity sensor in FIG. 1 condenses the light from the
フォトダイオード２と電流−電圧変換増幅部５とは、検出手段を構成している。以下、説明容易にするために、半導体レーザ１には、モードホッピング現象を持たない型（ＶＣＳＥＬ型、ＤＦＢレーザ型）のものが用いられているものと想定する。
The
レーザドライバ４は、時間に関して一定の変化率で増減を繰り返す三角波駆動電流を注入電流として半導体レーザ１に供給する。これにより、半導体レーザ１は、注入電流の大きさに比例して発振波長が一定の変化率で連続的に増加する第１の発振期間Ｐ１と発振波長が一定の変化率で連続的に減少する第２の発振期間Ｐ２とを交互に繰り返すように駆動される。このときの半導体レーザ１の発振波長の時間変化は、図２５に示したとおりである。本実施の形態では、半導体レーザ１の発振波長の変化速度が一定であることが必要である。
The
半導体レーザ１から出射したレーザ光は、レンズ３によって集光され、物体１０に入射する。物体１０で反射された光は、レンズ３によって集光され、半導体レーザ１に入射する。ただし、レンズ３による集光は必須ではない。フォトダイオード２は、半導体レーザ１の内部又はその近傍に配置され、半導体レーザ１の光出力を電流に変換する。電流−電圧変換増幅部５は、フォトダイオード２の出力電流を電圧に変換して増幅する。
Laser light emitted from the
フィルタ部６は、変調波から重畳信号を抽出する機能を有するものである。図２（Ａ）は電流−電圧変換増幅部５の出力電圧波形を模式的に示す図、図２（Ｂ）はフィルタ部６の出力電圧波形を模式的に示す図である。これらの図は、フォトダイオード２の出力に相当する図２（Ａ）の波形（変調波）から、図２の半導体レーザ１の発振波形（搬送波）を除去して、図２（Ｂ）のＭＨＰ波形（干渉波形）を抽出する過程を表している。
The
次に、信号抽出部７は、フィルタ部６の出力電圧に含まれるＭＨＰの周期をＭＨＰが発生する度に計測する。ここで、自己結合信号であるＭＨＰについて説明する。図３に示すように、ミラー層１０１３から物体１０までの距離をＬ、レーザの発振波長をλとすると、以下の共振条件を満足するとき、物体１０からの戻り光と半導体レーザ１の光共振器内のレーザ光は強め合い、レーザ出力がわずかに増加する。
Ｌ＝ｑλ／２ ・・・（１）
式（１）において、ｑは整数である。この現象は、物体１０からの散乱光が極めて微弱であっても、半導体レーザ１の共振器内の見かけの反射率が増加することにより、増幅作用が生じ、十分観測できる。
Next, the signal extraction unit 7 measures the period of MHP included in the output voltage of the
L = qλ / 2 (1)
In Formula (1), q is an integer. This phenomenon can be sufficiently observed even if the scattered light from the
図４は、半導体レーザ１の発振波長をある一定の割合で変化させたときの発振波長とフォトダイオード２の出力波形との関係を示す図である。式（１）に示したＬ＝ｑλ／２を満足したときに、戻り光と光共振器内のレーザ光の位相差が０°（同位相）になって、戻り光と光共振器内のレーザ光とが最も強め合い、Ｌ＝ｑλ／２＋λ／４のときに、位相差が１８０°（逆位相）になって、戻り光と光共振器内のレーザ光とが最も弱め合う。そのため、半導体レーザ１の発振波長を変化させていくと、レーザ出力が強くなるところと弱くなるところとが交互に繰り返し現れ、このときのレーザ出力をフォトダイオード２で検出すると、図４に示すように一定周期の階段状の波形が得られる。このような波形は一般的には干渉縞と呼ばれる。この階段状の波形、すなわち干渉縞の１つ１つがＭＨＰである。前記のとおり、ある一定時間において半導体レーザ１の発振波長を変化させた場合、測定距離に比例してＭＨＰの数は変化する。
FIG. 4 is a diagram showing the relationship between the oscillation wavelength and the output waveform of the
図５は信号抽出部７の構成例を示すブロック図である。信号抽出部７は、２値化部７０と、周期測定部７１とから構成される。
図６（Ａ）〜図６（Ｄ）は信号抽出部７の動作を説明するための図であり、図６（Ａ）はフィルタ部６の出力電圧の波形、すなわちＭＨＰの波形を模式的に示す図、図６（Ｂ）は図６（Ａ）に対応する２値化部７０の出力を示す図、図６（Ｃ）は信号抽出部７に入力されるサンプリングクロックＣＬＫを示す図、図６（Ｄ）は図６（Ｂ）に対応する周期測定部７１の測定結果を示す図である。
FIG. 5 is a block diagram illustrating a configuration example of the signal extraction unit 7. The signal extraction unit 7 includes a
6 (A) to 6 (D) are diagrams for explaining the operation of the signal extraction unit 7. FIG. 6 (A) schematically shows the waveform of the output voltage of the
まず、信号抽出部７の２値化部７０は、図６（Ａ）に示すフィルタ部６の出力電圧がハイレベル（Ｈ）かローレベル（Ｌ）かを判定して、図６（Ｂ）のような判定結果を出力する。このとき、２値化部７０は、フィルタ部６の出力電圧が上昇してしきい値ＴＨ１以上になったときにハイレベルと判定し、フィルタ部６の出力電圧が下降してしきい値ＴＨ２（ＴＨ２＜ＴＨ１）以下になったときにローレベルと判定することにより、フィルタ部６の出力を２値化する。
First, the
周期測定部７１は、２値化部７０の出力の立ち上がりエッジの周期（すなわち、ＭＨＰの周期）を立ち上がりエッジが発生する度に測定する。このとき、周期測定部７１は、図６（Ｃ）に示すサンプリングクロックＣＬＫの周期を１単位としてＭＨＰの周期を測定する。図６（Ｄ）の例では、周期測定部７１は、ＭＨＰの周期としてＴα，Ｔβ，Ｔγを順次測定している。図６（Ｃ）、図６（Ｄ）から明らかなように、周期Ｔα，Ｔβ，Ｔγの大きさは、それぞれ５［ｓａｍｐｌｉｎｇｓ］、４［ｓａｍｐｌｉｎｇｓ］、２［ｓａｍｐｌｉｎｇｓ］である。サンプリングクロックＣＬＫの周波数は、ＭＨＰの取り得る最高周波数に対して十分に高いものとする。
The
次に、演算部８は、信号抽出部７の計測結果に基づいて、１つ１つのＭＨＰの周期の変化から物体１０の変位と速度を算出する。図７は演算部８の構成例を示すブロック図である。演算部８は、記憶部８０と、移動平均値算出部８１と、周期補正部８２と、物理量算出部８３とから構成される。
Next, the
記憶部８０は、信号抽出部７の計測結果を記憶する。移動平均値算出部８１は、記憶部８０に記憶された、現時刻より前の時刻に計測されたＭＨＰの周期を補正対象のＭＨＰの周期としたとき、この補正対象のＭＨＰの周期の直前に計測された所定数のＭＨＰの周期と補正対象のＭＨＰの周期の直後に計測された所定数のＭＨＰの周期との移動平均値Ｔａｖｅを算出する。ここで、補正対象のＭＨＰの周期をＴｉ、補正対象のＭＨＰの前後からそれぞれ所定数ｋ個のＭＨＰの周期を算出に用いるとすると、移動平均値Ｔａｖｅは次式のようになる。
The
移動平均値算出部８１は、信号抽出部７から新たな計測結果が出力され記憶部８０に格納される度に、移動平均値算出済みの現在の補正対象の周期よりも１回新しい計測結果を新たな補正対象の周期として、移動平均値Ｔａｖｅの算出処理を行う。
周期補正部８２は、移動平均値算出部８１が算出した移動平均値Ｔａｖｅと補正対象のＭＨＰの周期Ｔとを比較することにより、補正対象のＭＨＰの周期Ｔを補正する。図８（Ａ）〜図８（Ｆ）は周期補正部８２の動作を説明するための図である。
Each time a new measurement result is output from the signal extraction unit 7 and stored in the
The
周期補正部８２は、図８（Ａ）に示すように補正対象のＭＨＰの周期Ｔが０．５Ｔａｖｅ未満の場合、図８（Ｂ）に示すように補正対象のＭＨＰの周期Ｔと次に計測されたＭＨＰの周期Ｔｎｅｘｔとを合わせた周期を補正後のＭＨＰの周期Ｔ’とする。
周期補正部８２は、補正対象のＭＨＰの周期Ｔが０．５Ｔａｖｅ以上１．５Ｔａｖｅ未満の場合、補正対象のＭＨＰの周期Ｔを補正しない。
When the period T of the correction target MHP is less than 0.5 Tave as shown in FIG. 8A, the
The
また、周期補正部８２は、図８（Ｃ）に示すように補正対象のＭＨＰの周期Ｔが１．５Ｔａｖｅ以上２．５Ｔａｖｅ未満の場合、図８（Ｄ）に示すように補正対象のＭＨＰの周期Ｔを２等分した周期をそれぞれ補正後の周期Ｔ１’，Ｔ２’とする。
また、周期補正部８２は、図８（Ｅ）に示すように補正対象のＭＨＰの周期Ｔが２．５Ｔａｖｅ以上３．５Ｔａｖｅ未満の場合、図８（Ｆ）に示すように補正対象のＭＨＰの周期Ｔを３等分した周期をそれぞれ補正後の周期Ｔ１’，Ｔ２’，Ｔ３’とする。３．５Ｔａｖｅ以上についても同様である。すなわち、周期補正部８２は、補正対象のＭＨＰの周期Ｔが（ｍ−０．５）Ｔａｖｅ以上で（ｍ＋０．５）Ｔａｖｅ未満の場合（ｍは２以上の自然数）、補正対象のＭＨＰの周期Ｔをｍ等分した周期をそれぞれ補正後の周期とする。
Further, when the period T of the correction target MHP is 1.5 Tave or more and less than 2.5 Tave as shown in FIG. 8C, the
Further, when the period T of the MHP to be corrected is 2.5 Tave or more and less than 3.5 Tave as shown in FIG. 8E, the
周期補正部８２は、記憶部８０に記憶されている信号抽出部７の計測結果を、補正結果に従って更新する。したがって、図８（Ａ）、図８（Ｂ）に示した例の場合には、信号抽出部７の２つの計測結果が１つに合成されることになり、図８（Ｃ）、図８（Ｄ）に示した例の場合には、信号抽出部７の１つの計測結果が２つに分割されることになる。また、補正対象のＭＨＰの周期よりも前に計測されたＭＨＰの周期は、周期補正部８２によって既に補正されていることになる。周期補正部８２は、以上のような補正処理を信号抽出部７から計測結果が出力される度に行う。
The
図９は信号抽出部７の計測結果の補正原理を説明するための図であり、フィルタ部６の出力電圧の波形、すなわちＭＨＰの波形を模式的に示す図である。ただし、説明を簡単にするため、ここでの原理は物体１０が静止している場合もしくは物体１０の振動の中心が変化しない場合を説明しており、補正対象のＭＨＰの周期の比較対象として移動平均値Ｔａｖｅの代わりに、基準周期Ｔ０を用いている。基準周期Ｔ０は、物体１０が静止していたときのＭＨＰの周期、算出された距離におけるＭＨＰの周期、もしくは周期補正部８２による周期補正の直前に計測された一定数のＭＨＰの周期の移動平均値のいずれかである。物体１０の振動の中心が変化する場合の周期補正の原理については後述する。
FIG. 9 is a diagram for explaining the principle of correcting the measurement result of the signal extraction unit 7, and schematically showing the waveform of the output voltage of the
ＭＨＰの周期は物体１０との距離によって異なるが、物体１０との距離が不変であれば、ＭＨＰは同じ周期で出現する。しかし、ノイズのために、ＭＨＰの波形には欠落が生じたり、信号として数えるべきでない波形が生じたりして、ＭＨＰの周期に誤差が生じる。
信号の欠落が生じると、欠落が生じた箇所でのＭＨＰの周期Ｔｗは、本来の周期のおよそ２倍になる。つまり、ＭＨＰの周期が基準周期Ｔ０のおよそ２倍以上の場合には、信号に欠落が生じていると判断できる。そこで、周期Ｔｗを２等分することで、信号の欠落を補正することができる。
The period of MHP differs depending on the distance to the
When signal loss occurs, the MHP cycle Tw at the location where the loss occurs is approximately twice the original cycle. That is, when the MHP cycle is approximately twice or more the reference cycle T0, it can be determined that the signal is missing. Therefore, the signal loss can be corrected by dividing the period Tw into two equal parts.
また、ノイズをカウントした箇所でのＭＨＰの周期Ｔｓは、本来の周期のおよそ０．５倍になる。つまり、ＭＨＰの周期が基準周期Ｔ０のおよそ０．５倍未満の場合には、信号を過剰に数えていると判断できる。そこで、周期Ｔｓと次に計測される周期Ｔnextとを加算することで、誤って数えたノイズを補正することができる。 Further, the MHP cycle Ts at the location where noise is counted is approximately 0.5 times the original cycle. That is, when the MHP cycle is less than about 0.5 times the reference cycle T0, it can be determined that the signals are excessively counted. Therefore, by adding the period Ts and the next measured period Tnext, it is possible to correct erroneously counted noise.
以上が、ＭＨＰの周期補正の基本原理である。次に、信号に欠落が生じたと見なす周期Ｔｗを決めるためのしきい値を基準周期Ｔ０（実際に用いるのは移動平均値Ｔａｖｅ）の２倍の値とせずに、１．５倍とする理由について説明する。半導体レーザ１の発振波長変化が線形である場合、ＭＨＰの周期は基準周期Ｔ０を中心にして正規分布する（図１０）。
The above is the basic principle of MHP cycle correction. Next, the reason for setting the threshold for determining the period Tw to be regarded as the occurrence of the loss of the signal to 1.5 times instead of being twice the reference period T0 (actually used is the moving average value Tave). Will be described. When the oscillation wavelength change of the
ここで、ＭＨＰの波形に欠落が生じた場合を考える。ＭＨＰの強度が小さいために計測時に欠落が生じた場合のＭＨＰの周期は、本来のＭＨＰの周期がＴ０を中心とした正規分布であるために、平均値が２Ｔ０、標準偏差２σの正規分布（図１１のｆ）になる。ｊ［％］のＭＨＰが欠落したときに、第１の発振期間Ｐ１または第２の発振期間Ｐ２のいずれかにおいて信号抽出部７がＭＨＰの数を数えた結果、ＭＨＰの数がＮであったとすると、この欠落によって周期が２倍になったＭＨＰの周期の度数はＮｗ（＝ｊ［％］・Ｎ）である。また、計測時の欠落によって減少した後のおおよそＴ０の周期の度数は、図１１に示すｇであり、図１１のｈに示す度数の減少分は２Ｎｗ（＝２ｊ［％］）である。したがって、第１の発振期間Ｐ１または第２の発振期間Ｐ２のいずれかにおいて、ＭＨＰの欠落が生じなかった場合の本来のＭＨＰの数Ｎ’は以下の式で表すことができる。
Ｎ’＝Ｎ＋ｊ［％］＝Ｎ＋Ｎｗ ・・・（３）
Here, consider a case where a loss occurs in the MHP waveform. Since the original MHP cycle is a normal distribution centered on T0, the MHP cycle when a loss occurs during measurement because the strength of the MHP is small is normal distribution with an average value of 2T0 and a standard deviation of 2σ ( It becomes f) of FIG. When j [%] MHP is missing, the signal extraction unit 7 counts the number of MHPs in either the first oscillation period P1 or the second oscillation period P2, and as a result, the number of MHPs is N. Then, the frequency of the MHP cycle in which the cycle is doubled due to this omission is Nw (= j [%] · N). Further, the frequency of the period of approximately T0 after being decreased due to the missing at the time of measurement is g shown in FIG. 11, and the decrease of the frequency shown in h of FIG. 11 is 2Nw (= 2j [%]). Therefore, the original number N ′ of MHPs when no MHP loss occurs in either the first oscillation period P1 or the second oscillation period P2 can be expressed by the following equation.
N ′ = N + j [%] = N + Nw (3)
次に、ＭＨＰの周期の計測結果を補正するためのしきい値について考える。ここで、計測時の欠落によって周期が２倍になったＭＨＰの周期の度数Ｎｗのうちノイズによってｐ［％］が２分割された場合を仮定する。欠落したＭＨＰのうち２分割されたＭＨＰの周期の度数は、Ｎｗ’（＝ｊ・ｐ［％］・Ｎ）である。再度２分割されたＭＨＰの周期の度数分布は、図１２のようになる。Ｎｗとみなす周期のしきい値を１．５Ｔ０にすると、周期が０．５Ｔ０以下のＭＨＰの周期の度数は０．５Ｎｗ’（＝０．５ｐ［％］・Ｎｗ）、周期が０．５Ｔ０から１．５Ｔ０までのＭＨＰの周期の度数はＮｗ’（＝ｐ［％］・Ｎｗ）、周期が１．５Ｔ０以上のＭＨＰの周期の度数は０．５Ｎｗ’（＝０．５ｐ［％］・Ｎｗ）となる。 Next, a threshold for correcting the measurement result of the MHP cycle will be considered. Here, it is assumed that p [%] is divided into two by noise out of the frequency Nw of the MHP period whose period is doubled due to missing during measurement. Of the missing MHPs, the frequency of the MHP period divided into two is Nw ′ (= j · p [%] · N). The frequency distribution of the period of the MHP divided into two again is as shown in FIG. When the threshold value of the period regarded as Nw is 1.5T0, the frequency of the MHP period with a period of 0.5T0 or less is 0.5Nw ′ (= 0.5p [%] · Nw), and the period is from 0.5T0. The frequency of the MHP period up to 1.5T0 is Nw ′ (= p [%] · Nw), and the frequency of the MHP period of 1.5T0 or more is 0.5 Nw ′ (= 0.5 p [%] · Nw). )
よって、全てのＭＨＰの周期の度数分布は図１３のようになり、上記のＴｓに対応する周期の度数Ｎｓのしきい値を０．５Ｔ０、上記のＴｗに対応する周期の度数Ｎｗのしきい値を１．５Ｔ０にすると、計数結果Ｎは以下の式で表すことができる。
Ｎ＝（Ｎ’−２Ｎｗ）＋（Ｎｗ−Ｎｗ’）＋２Ｎｗ’＝Ｎ’−Ｎｗ＋Ｎｗ’
・・・（４）
Accordingly, the frequency distribution of all MHP cycles is as shown in FIG. 13, and the threshold of the frequency Ns corresponding to the above Ts is 0.5T0, and the frequency Nw corresponding to the above Tw is the threshold. When the value is 1.5T0, the count result N can be expressed by the following equation.
N = (N′−2Nw) + (Nw−Nw ′) + 2Nw ′ = N′−Nw + Nw ′
... (4)
式（４）より、補正された結果は以下のようになり、計数時にＭＨＰの欠落が生じなかった場合の本来のＭＨＰの数Ｎ’が算出されることが分かる。
Ｎ−０．５Ｎｗ’＋（０．５Ｎｗ’＋（Ｎｗ−Ｎｗ’））
＝（Ｎ−Ｎｗ＋Ｎｗ’）＋（０．５Ｎｗ’＋（Ｎｗ−Ｎｗ’））
＝Ｎ’ ・・・（５）
From the equation (4), it can be seen that the corrected result is as follows, and the original number N ′ of MHPs when no missing MHPs are calculated at the time of counting is calculated.
N−0.5Nw ′ + (0.5Nw ′ + (Nw−Nw ′))
= (N-Nw + Nw ') + (0.5Nw' + (Nw-Nw '))
= N '(5)
以上のことから、度数Ｎｗを求める際の周期のしきい値を基準周期Ｔ０の１．５倍とすれば、計数結果Ｎを補正できることが分かる。ＭＨＰの周期Ｔと計数結果Ｎとは、三角波の半周期あたりのサンプリングクロック数をＭとすると、Ｔ＝Ｍ／Ｎの関係にあり、Ｍは一定値であるから、信号に欠落が生じたと見なす周期Ｔｗを決めるためのしきい値は、計数結果Ｎの場合と同様に、基準周期Ｔ０の１．５倍とすればよいことが分かる。 From the above, it can be seen that the counting result N can be corrected by setting the cycle threshold value for obtaining the frequency Nw to 1.5 times the reference cycle T0. The MHP cycle T and the counting result N are in a relationship of T = M / N, where M is the number of sampling clocks per half cycle of the triangular wave. Since M is a constant value, it is considered that a signal has been lost. It can be seen that the threshold for determining the cycle Tw may be 1.5 times the reference cycle T0, as in the case of the count result N.
次に、物理量算出部８３は、周期補正部８２によって補正されたＭＨＰの個々の周期の基準周期Ｔ０に対する変化から物体１０の変位と速度を算出する。前記のとおり、基準周期Ｔ０は、物体１０が静止していたときのＭＨＰの周期、算出された距離におけるＭＨＰの周期、もしくは周期補正部８２による周期補正の直前に計測された一定数のＭＨＰの周期の移動平均値のいずれかである。サンプリングクロックの周波数をｆａｄ［Ｈｚ］、基準周期をＴ０［ｓａｍｐｌｉｎｇｓ］、半導体レーザ１の発振平均波長をλ［ｍ］とし、補正後のＭＨＰの周期が基準周期Ｔ０からｎ［ｓａｍｐｌｉｎｇｓ］長くなったとすると、この補正後のＭＨＰの周期における物体１０の変位Ｄ［ｍ］は次式のようになる。
Ｄ＝ｎ×λ／（２×Ｔ０） ・・・（６）
Next, the physical
D = n × λ / (2 × T0) (6)
補正後のＭＨＰの周期が基準周期Ｔ０からｎ［ｓａｍｐｌｉｎｇｓ］短くなった場合には、式（６）の周期変化量ｎの符号を負にすればよい。半導体レーザ１の発振波長が増加する第１の発振期間Ｐ１において、変位Ｄが正の場合、物体１０の移動方向は半導体レーザ１から遠ざかる方向であり、変位Ｄが負の場合、物体１０の移動方向は半導体レーザ１に接近する方向である。また、発振波長が減少する第２の発振期間Ｐ２において、変位Ｄが正の場合、物体１０の移動方向は半導体レーザ１に接近する方向であり、変位Ｄが負の場合、物体１０の移動方向は半導体レーザ１から遠ざかる方向である。
When the corrected MHP cycle is shortened by n [samplings] from the reference cycle T0, the sign of the cycle variation amount n in equation (6) may be negative. In the first oscillation period P1 in which the oscillation wavelength of the
また、補正後のＭＨＰの周期は（Ｔ０＋ｎ）／ｆａｄなので、この補正後のＭＨＰの周期における物体１０の速度Ｖ［ｍ／ｓ］は次式のようになる。
Ｖ＝ｎ×λ／（２×Ｔ０）×ｆａｄ／（Ｔ０＋ｎ） ・・・（７）
Since the corrected MHP cycle is (T0 + n) / fad, the velocity V [m / s] of the
V = n × λ / (2 × T0) × fad / (T0 + n) (7)
物理量算出部８３は、式（６）により物体１０の変位Ｄを算出することができ、式（７）により物体１０の速度Ｖを算出することができる。例えばサンプリングクロックの周波数ｆａｄを１６［ＭＨｚ］、基準周期Ｔ０を１６０［ｓａｍｐｌｉｎｇｓ］、半導体レーザ１の平均波長を８５０［ｎｍ］とし、補正後のＭＨＰの周期が基準周期Ｔ０から１［ｓａｍｐｌｉｎｇｓ］長くなったとすると、このＭＨＰの周期における物体１０の変位Ｄは５．３１［ｎｍ］、速度Ｖは１．０５［ｍｍ／ｓ］と計算できる。物理量算出部８３は、以上のような算出処理を補正されたＭＨＰの各周期に対して行う。
表示部９は、物理量算出部８３の算出結果を表示する。
The physical
The
ここで、半導体レーザ１の発振波長変調の搬送波（三角波）の半周期あたりの、物体１０との距離に関係するＭＨＰの数をＮｌとする。物体１０の最大速度の絶対値を搬送波１周期あたりの変位に直したときにλ／２×Ｎａとすると、搬送波半周期あたりのＭＨＰの数は、Ｎｌ±Ｎａとなる。搬送波１周期あたりの変位がλ／２×Ｎｂの速度で動いているとき、搬送波半周期あたりのＭＨＰの数はＮｌ＋Ｎｂになるので、この数に対応するＭＨＰの周期が観測される。物体１０の変位Ｄや速度Ｖを求めるには、個々のＭＨＰの周期から搬送波半周期あたりのＭＨＰの数を逆算し、このＭＨＰの数から物体１０の変位Ｄや速度Ｖを算出すればよい。上記の式（６）、式（７）は、このような導出原理に基づくものである。
Here, the number of MHPs related to the distance from the
特許文献１に開示された自己結合型のレーザ計測器では、物体の変位と速度の分解能は半導体レーザの半波長λ／２程度である。これに対して、本実施の形態では、変位Ｄと速度Ｖの分解能はλ／２×ｎ／Ｔ０なので、半波長λ／２未満の分解能を実現することができ、従来よりも高分解能の計測を実現することができる。
In the self-coupled laser measuring instrument disclosed in
以上のように、本実施の形態では、物体１０の変位Ｄや速度Ｖを従来よりも高い分解能で計測することができる。また、特許文献１に開示された自己結合型のレーザ計測器では、搬送波の半周期の計測時間がかかるのに対して、本実施の形態では、１つ１つのＭＨＰの周期から物体１０の変位Ｄや速度Ｖを求めることができるので、計測に要する時間を大幅に短縮することができ、速度の変化が速い物体１０にも対応することができる。さらに、本実施の形態では、ＭＨＰの周期の誤差を補正することができるので、変位Ｄや速度Ｖの計測精度を向上させることができる。
As described above, in the present embodiment, the displacement D and the velocity V of the
なお、個々のＭＨＰの周期は、物体１０が静止していても正規分布でばらつきがあるため、算出した変位に対して移動平均などの処理を施すとよい。
また、本実施の形態では、物体１０の変位と速度の両方を計測しているが、どちらか一方だけを計測してもよいことは言うまでもない。
Note that the period of each MHP varies in a normal distribution even when the
Moreover, in this Embodiment, although both the displacement and speed of the
また、本実施の形態では、基準周期Ｔ０を物体１０が静止している状態でのＭＨＰの周期としたが、これに限るものではなく、演算部８は、周期補正の直前に計測された一定数のＭＨＰの周期の移動平均値を基準周期Ｔ０としてもよい。この方法によれば、静止させることができない物体１０の場合であっても、基準周期Ｔ０を求めることができる。
In the present embodiment, the reference period T0 is the MHP period in a state where the
次に、物体１０の振動の中心が変化する場合の周期補正の原理について説明する。ＭＨＰの周波数は、物体１０との距離に比例した周波数（このときの周期が基準周期Ｔ０）と物体１０の速度に比例する周波数との和で表すことができる。物体１０がある状態でＭＨＰの周期がＴの場合、個々のＭＨＰの周期の確率分布はノイズなどによってばらつきが生じ、Ｔを中心とした概ね正規分布になる。よって、物体１０が静止している場合、個々のＭＨＰの周期の確率分布も基準周期Ｔ０を中心とした正規分布になり、静止している期間のＭＨＰの周期の度数分布は、図１０に示したように基準周期Ｔ０を中心とした正規分布になる。
Next, the principle of period correction when the center of vibration of the
ここで、図１４に示すように物体１０が等速運動している場合を考える。自己結合型のレーザセンサでは、物体１０の速度の変化によるＭＨＰの周波数の変化割合と比較すると、物体１０との距離の変化によるＭＨＰの周期の変化は非常に小さい。このため、個々のＭＨＰの周期の確率分布は、図１４のＡ点でもＢ点でも、物体１０との平均距離に相当するＴ０から速度の大きさの分だけ周期が変化した値Ｔを中心とした正規分布になるため、Ａ点からＢ点の期間のＭＨＰの周期の度数分布も、Ｔを中心とした正規分布になる（図１５）。
Here, consider a case where the
次に、図１６（Ａ）、図１６（Ｂ）に示すように物体１０の速度が変化している場合を考える。ここでは、簡略化するために、折れ線運動を考える。すなわち、物体１０との距離Ｌを期間Ａにおける距離ＬＡと期間Ｂにおける距離ＬＢに簡略化し、同様に物体１０の速度Ｖを期間Ａにおける速度ＶＡと期間Ｂにおける速度ＶＢに簡略化する。このように物体１０の運動を簡略化すると、ＭＨＰの周期の度数分布は図１７のようになる。図１７においてＴＡは期間Ａにおける物体１０の平均速度に対応するＭＨＰの周期、ＴＢは期間Ｂにおける物体１０の平均速度に対応するＭＨＰの周期である。
Next, consider a case where the speed of the
物体１０の速度変化がなだらかに変化しているとしたら、図１６（Ａ）、図１６（Ｂ）の時刻ｔでの物体１０の速度は速度ＶＡとＶＢとの間にあるので、ＭＨＰの周期も周期ＴＡとＴＢとの間にある。このときのＭＨＰの周期をＴＸとすると、信号に欠落が生じて２つのＭＨＰが１つになった場合のＭＨＰの周期の確率分布は、２ＴＸを中心とした正規分布になると考えられる。また、周期ＴＸのＭＨＰがノイズで２分割された場合のＭＨＰの２つの確率分布は、０．５ＴＸを軸にした対称の形になる。したがって、ＴＡからＴＢの間の値と考えられるＴＸの周期補正を考える場合、基準周期Ｔ０の代わりに、ＴＡとＴＢの移動平均値Ｔａｖｅを基準として周期補正を行うことが妥当である。以上が、物体１０の振動の中心が変化する場合のＭＨＰの周期補正の原理である。
If the speed change of the
［第２の実施の形態］
次に、本発明の第２の実施の形態について説明する。本実施の形態は、補正対象のＭＨＰの周期の比較対象として移動平均値Ｔａｖｅを用いる代わりに、補正対象のＭＨＰの周期の直前に計測された所定数のＭＨＰの周期の移動平均値ＴＡと補正対象のＭＨＰの周期の直後に計測された所定数のＭＨＰの周期の移動平均値ＴＢとを用いるものである。本実施の形態においても物理量センサの構成は第１の実施の形態と同様であるので、図１、図７の符号を用いて説明する。
[Second Embodiment]
Next, a second embodiment of the present invention will be described. In the present embodiment, instead of using the moving average value Tave as the comparison target of the correction target MHP cycle, the correction is performed with the moving average value TA of the predetermined number of MHP cycles measured immediately before the correction target MHP cycle. A moving average value TB of a predetermined number of MHP cycles measured immediately after the target MHP cycle is used. Also in this embodiment, the configuration of the physical quantity sensor is the same as that of the first embodiment, and therefore, description will be made using the reference numerals in FIGS.
本実施の形態の移動平均値算出部８１は、記憶部８０に記憶された、現時刻より前の時刻に計測されたＭＨＰの周期を補正対象のＭＨＰの周期としたとき、この補正対象のＭＨＰの周期の直前に計測された所定数のＭＨＰの周期の移動平均値ＴＡと補正対象のＭＨＰの周期の直後に計測された所定数のＭＨＰの周期の移動平均値ＴＢとを算出する。移動平均値算出部８１は、信号抽出部７から新たな計測結果が出力され記憶部８０に格納される度に、移動平均値算出済みの現在の補正対象の周期よりも１回新しい計測結果を新たな補正対象の周期として、移動平均値ＴＡ，ＴＢの算出処理を行う。
The moving average
周期補正部８２は、移動平均値算出部８１が算出した移動平均値ＴＡ，ＴＢと補正対象のＭＨＰの周期とを比較することにより、補正対象のＭＨＰの周期を補正する。すなわち、周期補正部８２は、ＴＡ＜ＴＢで、補正対象のＭＨＰの周期が０．５ＴＡ未満の場合、図８（Ａ）、図８（Ｂ）の場合と同様に補正対象のＭＨＰの周期と次に計測されたＭＨＰの周期とを合わせた周期を補正後のＭＨＰの周期とする。周期補正部８２は、ＴＡ＜ＴＢで、補正対象のＭＨＰの周期が０．５ＴＡ以上１．５ＴＢ未満の場合、補正対象のＭＨＰの周期を補正しない。周期補正部８２は、ＴＡ＜ＴＢで、補正対象のＭＨＰの周期が（ｍ−０．５）ＴＢ以上で（ｍ＋０．５）ＴＢ未満の場合（ｍは２以上の自然数）、図８（Ｃ）、図８（Ｄ）、図８（Ｅ）、図８（Ｆ）の場合と同様に補正対象のＭＨＰの周期をｍ等分した周期をそれぞれ補正後の周期とする。
The
また、周期補正部８２は、ＴＡ＞ＴＢで、補正対象のＭＨＰの周期が０．５ＴＢ未満の場合、補正対象のＭＨＰの周期と次に計測されたＭＨＰの周期とを合わせた周期を補正後のＭＨＰの周期とする。周期補正部８２は、ＴＡ＞ＴＢで、補正対象のＭＨＰの周期が０．５ＴＢ以上１．５ＴＡ未満の場合、補正対象のＭＨＰの周期を補正しない。周期補正部８２は、ＴＡ＞ＴＢで、補正対象のＭＨＰの周期が（ｍ−０．５）ＴＡ以上で（ｍ＋０．５）ＴＡ未満の場合、補正対象のＭＨＰの周期をｍ等分した周期をそれぞれ補正後の周期とする。
In addition, when TA> TB and the correction target MHP cycle is less than 0.5 TB, the
第１の実施の形態と同様に、周期補正部８２は、記憶部８０に記憶されている信号抽出部７の計測結果を、補正結果に従って更新する。補正対象のＭＨＰの周期よりも前に計測されたＭＨＰの周期は、周期補正部８２によって既に補正されていることになる。つまり、移動平均値算出部８１が算出する移動平均値ＴＡは、補正済みの計測結果から算出されることになる。周期補正部８２は、以上のような補正処理を信号抽出部７から新たな計測結果が出力され記憶部８０に格納される度に行う。
Similar to the first embodiment, the
移動平均値算出部８１と周期補正部８２以外の動作は、第１の実施の形態と同じである。こうして、本実施の形態では、第１の実施の形態と同様の効果を得ることができる。
なお、第１の実施の形態と第２の実施の形態とを統一した思想で表現すると、周期補正部８２の動作は以下のようになる。すなわち、周期補正部８２は、移動平均値算出部８１が算出した２つの移動平均値のうち小さい方をＴ１、大きい方をＴ２とし、Ｔｘ＝Ｔ１＋α・（Ｔ２−Ｔ１）としたとき（０≦α≦１）、補正対象のＭＨＰの周期がｋ・Ｔｘ未満の場合は（ｋは１未満の正の値）、補正対象のＭＨＰの周期と次に計測されたＭＨＰの周期とを合わせた周期を補正後のＭＨＰの周期とし、周期を合わせた波形を１つの波形とする。また、周期補正部８２は、補正対象のＭＨＰの周期が（ｍ−０．５）・Ｔｘ以上で（ｍ＋０．５）・Ｔｘ未満の場合は（ｍは２以上の自然数）、補正対象のＭＨＰの周期をｍ等分した周期をそれぞれ補正後の周期とし、補正後の周期の波形がｍ個あるものとする。
Operations other than the moving average
If the first embodiment and the second embodiment are expressed by a unified idea, the operation of the
［第３の実施の形態］
次に、本発明の第３の実施の形態について説明する。本実施の形態は基準周期Ｔ０の他の求め方を説明するものである。図１８は本発明の第３の実施の形態に係る演算部８の構成例を示すブロック図である。演算部８は、記憶部８０と、移動平均値算出部８１と、周期補正部８２と、物理量算出部８３と、計数部８４と、距離算出部８５と、周期算出部８６とから構成される。物理量センサの全体の構成は第１、第２の実施の形態と同じでよいが、半導体レーザ１の発振波長の変化速度が一定で、かつ発振波長の最大値λｂおよび発振波長の最小値λａがそれぞれ一定で、それらの差λｂ−λａも一定である必要がある。
[Third Embodiment]
Next, a third embodiment of the present invention will be described. In the present embodiment, another method for obtaining the reference period T0 will be described. FIG. 18 is a block diagram showing a configuration example of the
計数部８４は、フィルタ部６の出力に含まれるＭＨＰの数を第１の発振期間Ｐ１と第２の発振期間Ｐ２の各々について数える。計数部８４は、論理ゲートからなるカウンタを利用するものでもよいし、ＦＦＴ（Fast Fourier Transform）を利用してＭＨＰの周波数（すなわち単位時間あたりのＭＨＰの数）を計測するものでもよい。
The
次に、距離算出部８５は、半導体レーザ１の最小発振波長λａと最大発振波長λｂと計数部８４が数えたＭＨＰの数に基づいて、物体１０との距離を算出する。本実施の形態では、物体１０の状態を所定の条件を満たす微小変位状態、あるいは微小変位状態よりも動きが大きい変位状態のいずれかであるとする。発振期間Ｐ１と発振期間Ｐ２の１期間あたりの物体１０の平均変位をＶとしたとき、微小変位状態とは（λｂ−λａ）／λｂ＞Ｖ／Ｌｂを満たす状態であり（ただし、Ｌｂは時刻ｔのときの距離）、変位状態とは（λｂ−λａ）／λｂ≦Ｖ／Ｌｂを満たす状態である。
Next, the
まず、距離算出部８５は、現時刻ｔにおける距離の候補値Ｌα（ｔ），Ｌβ（ｔ）と速度の候補値Ｖα（ｔ），Ｖβ（ｔ）を次式のように算出する。
Ｌα（ｔ）＝λａ×λｂ×（ＭＨＰ（ｔ−１）＋ＭＨＰ（ｔ））
／｛４×（λｂ−λａ）｝ ・・・（８）
Ｌβ（ｔ）＝λａ×λｂ×（｜ＭＨＰ（ｔ−１）−ＭＨＰ（ｔ）｜）
／｛４×（λｂ−λａ）｝ ・・・（９）
Ｖα（ｔ）＝（ＭＨＰ（ｔ−１）−ＭＨＰ（ｔ））×λｂ／４ ・・・（１０）
Ｖβ（ｔ）＝（ＭＨＰ（ｔ−１）＋ＭＨＰ（ｔ））×λｂ／４ ・・・（１１）
First, the
Lα (t) = λa × λb × (MHP (t−1) + MHP (t))
/ {4 × (λb−λa)} (8)
Lβ (t) = λa × λb × (| MHP (t−1) −MHP (t) |)
/ {4 × (λb−λa)} (9)
Vα (t) = (MHP (t−1) −MHP (t)) × λb / 4 (10)
Vβ (t) = (MHP (t−1) + MHP (t)) × λb / 4 (11)
式（８）〜式（１１）において、ＭＨＰ（ｔ）は現時刻ｔにおいて算出されたＭＨＰの数、ＭＨＰ（ｔ−１）はＭＨＰ（ｔ）の１回前に算出されたＭＨＰの数である。例えば、ＭＨＰ（ｔ）が第１の発振期間Ｐ１の計数結果であるとすれば、ＭＨＰ（ｔ−１）は第２の発振期間Ｐ２の計数結果であり、逆にＭＨＰ（ｔ）が第２の発振期間Ｐ２の計数結果であるとすれば、ＭＨＰ（ｔ−１）は第１の発振期間Ｐ１の計数結果である。 In Expressions (8) to (11), MHP (t) is the number of MHPs calculated at the current time t, and MHP (t−1) is the number of MHPs calculated one time before MHP (t). is there. For example, if MHP (t) is the counting result of the first oscillation period P1, MHP (t-1) is the counting result of the second oscillation period P2, and conversely, MHP (t) is the second counting period. If it is the counting result of the oscillation period P2, the MHP (t−1) is the counting result of the first oscillation period P1.
候補値Ｌα（ｔ），Ｖα（ｔ）は物体１０が微小変位状態にあると仮定して計算した値であり、候補値Ｌβ（ｔ），Ｖβ（ｔ）は物体１０が変位状態にあると仮定して計算した値である。距離算出部８５は、式（８）〜式（１１）の計算を計数部８４によってＭＨＰの数が測定される時刻毎（発振期間毎）に行う。
The candidate values Lα (t) and Vα (t) are values calculated on the assumption that the
続いて、距離算出部８５は、微小変位状態と変位状態の各々について、現時刻ｔにおける距離の候補値と、直前の時刻における距離の候補値との差である履歴変位を次式のように算出する。なお、式（１２）、式（１３）では、現時刻ｔの１回前に算出された距離の候補値をＬα（ｔ−１），Ｌβ（ｔ−１）としている。
Ｖｃａｌα（ｔ）＝Ｌα（ｔ）−Ｌα（ｔ−１） ・・・（１２）
Ｖｃａｌβ（ｔ）＝Ｌβ（ｔ）−Ｌβ（ｔ−１） ・・・（１３）
Subsequently, the
Vcalα (t) = Lα (t) −Lα (t−1) (12)
Vcalβ (t) = Lβ (t) −Lβ (t−1) (13)
履歴変位Ｖｃａｌα（ｔ）は物体１０が微小変位状態にあると仮定して計算した値であり、履歴変位Ｖｃａｌβ（ｔ）は物体１０が変位状態にあると仮定して計算した値である。距離算出部８５は、式（１２）〜式（１３）の計算を計数部８４によってＭＨＰの数が測定される時刻毎に行う。なお、式（１０）〜式（１３）においては、物体１０が本実施の形態の物理量センサに近づく方向を正の速度、遠ざかる方向を負の速度と定めている。
次に、距離算出部８５は、式（８）〜式（１３）の算出結果を用いて、物体１０の状態を判定する。
The history displacement Vcalα (t) is a value calculated on the assumption that the
Next, the
特許文献１に記載されているように、距離算出部８５は、物体１０が微小変位状態にあると仮定して計算した履歴変位Ｖｃａｌα（ｔ）の符号が一定で、かつ物体１０が微小変位状態にあると仮定して計算した速度の候補値Ｖα（ｔ）と履歴変位Ｖｃａｌα（ｔ）の絶対値の平均値とが等しい場合、物体１０が微小変位状態で等速度運動していると判定する。
As described in
また、特許文献１に記載されているように、距離算出部８５は、物体１０が変位状態にあると仮定して計算した履歴変位Ｖｃａｌβ（ｔ）の符号が一定で、かつ物体１０が変位状態にあると仮定して計算した速度の候補値Ｖβ（ｔ）と履歴変位Ｖｃａｌβ（ｔ）の絶対値の平均値とが等しい場合、物体１０が変位状態で等速度運動していると判定する。
Moreover, as described in
また、特許文献１に記載されているように、距離算出部８５は、物体１０が微小変位状態にあると仮定して計算した履歴変位Ｖｃａｌα（ｔ）の符号がＭＨＰの数が測定される時刻毎に反転し、かつ物体１０が微小変位状態にあると仮定して計算した速度の候補値Ｖα（ｔ）と履歴変位Ｖｃａｌα（ｔ）の絶対値の平均値とが一致しない場合、物体１０が微小変位状態で等速度運動以外の運動をしていると判定する。
Further, as described in
なお、速度の候補値Ｖβ（ｔ）に着目すると、Ｖβ（ｔ）の絶対値は定数となり、この値は半導体レーザ１の波長変化率（λｂ−λａ）／λｂと等しい。そこで、距離算出部８５は、物体１０が変位状態にあると仮定して計算した速度の候補値Ｖβ（ｔ）の絶対値が波長変化率と等しく、かつ物体１０が微小変位状態にあると仮定して計算した速度の候補値Ｖα（ｔ）と履歴変位Ｖｃａｌα（ｔ）の絶対値の平均値とが一致しない場合、物体１０が微小変位状態で等速度運動以外の運動をしていると判定してもよい。
Focusing on the velocity candidate value Vβ (t), the absolute value of Vβ (t) is a constant, and this value is equal to the wavelength change rate (λb−λa) / λb of the
また、特許文献１に記載されているように、距離算出部８５は、物体１０が変位状態にあると仮定して計算した履歴変位Ｖｃａｌβ（ｔ）の符号がＭＨＰの数が測定される時刻毎に反転し、かつ物体１０が変位状態にあると仮定して計算した速度の候補値Ｖβ（ｔ）と履歴変位Ｖｃａｌβ（ｔ）の絶対値の平均値とが一致しない場合、物体１０が変位状態で等速度運動以外の運動をしていると判定する。
Further, as described in
なお、速度の候補値Ｖα（ｔ）に着目すると、Ｖα（ｔ）の絶対値は定数となり、この値は半導体レーザ１の波長変化率（λｂ−λａ）／λｂと等しい。したがって、距離算出部８５は、物体１０が微小変位状態にあると仮定して計算した速度の候補値Ｖα（ｔ）の絶対値が波長変化率と等しく、かつ物体１０が変位状態にあると仮定して計算した速度の候補値Ｖβ（ｔ）と履歴変位Ｖｃａｌβ（ｔ）の絶対値の平均値とが一致しない場合、物体１０が変位状態で等速度運動以外の運動をしていると判定してもよい。
When attention is paid to the velocity candidate value Vα (t), the absolute value of Vα (t) is a constant, and this value is equal to the wavelength change rate (λb−λa) / λb of the
距離算出部８５は、上記の判定結果に基づいて物体１０との距離を確定する。すなわち、距離算出部８５は、物体１０が微小変位状態で等速度運動していると判定された場合、距離の候補値Ｌα（ｔ）を物体１０との距離とし、物体１０が変位状態で等速度運動していると判定された場合、距離の候補値Ｌβ（ｔ）を物体１０との距離とする。
The
また、距離算出部８５は、物体１０が微小変位状態で等速度運動以外の運動をしていると判定された場合、距離の候補値Ｌα（ｔ）を物体１０との距離とする。ただし、実際の距離は、距離の候補値Ｌα（ｔ）の平均値となる。また、距離算出部８５は、物体１０が変位状態で等速度運動以外の運動をしていると判定された場合、距離の候補値Ｌβ（ｔ）を物体１０との距離とする。ただし、実際の距離は、距離の候補値Ｌβ（ｔ）の平均値となる。
The
次に、周期算出部８６は、距離算出部８５が算出した距離からＭＨＰの周期を求め、この周期を基準周期Ｔ０として物理量算出部８３に設定する。ＭＨＰの周波数は測定距離に比例し、ＭＨＰの周期は測定距離に反比例する。そこで、ＭＨＰの周期と距離との関係を予め求めて周期算出部８６のデータベース（不図示）に登録しておけば、周期算出部８６は、距離算出部８５によって算出された距離に対応するＭＨＰの周期をデータベースから取得することにより、ＭＨＰの周期を求めることができる。あるいは、ＭＨＰの周期と距離との関係を示す数式を予め求めて設定しておけば、周期算出部８６は、距離算出部８５によって算出された距離を数式に代入することにより、ＭＨＰの周期を算出することができる。
Next, the
記憶部８０、移動平均値算出部８１、周期補正部８２および物理量算出部８３の動作は、第１、第２の実施の形態で説明したとおりである。
本実施の形態によれば、静止させることができない物体１０の場合であっても、基準周期Ｔ０を求めることができる。
The operations of the
According to the present embodiment, the reference period T0 can be obtained even in the case of the
［第４の実施の形態］
次に、本発明の第４の実施の形態について説明する。本実施の形態は、基準周期Ｔ０の他の求め方を説明するものである。図１９は本発明の第４の実施の形態に係る演算部８の構成例を示すブロック図である。演算部８は、記憶部８０と、移動平均値算出部８１と、周期補正部８２と、物理量算出部８３と、フィルタ部６の出力電圧に含まれるＭＨＰの数を数える計数部８７と、計数部８７の計数結果等を記憶する記憶部８８と、計数部８７の計数結果の平均値を算出することにより、半導体レーザ１と物体１０との平均距離に比例したＭＨＰの数（以下、距離比例個数とする）ＮＬを求める距離比例個数算出部８９と、計数部８７の１回前の計数結果とこの計数結果よりも過去の計数結果を用いて算出された距離比例個数ＮＬの２倍数との大小関係に応じて計数部８７の最新の計数結果に正負の符号を付与する符号付与部９０と、距離比例個数ＮＬからＭＨＰの周期を算出する周期算出部９１とから構成される。物理量センサの全体の構成は第１、第２の実施の形態と同じでよい。
[Fourth Embodiment]
Next, a fourth embodiment of the present invention will be described. In the present embodiment, another method for obtaining the reference period T0 will be described. FIG. 19 is a block diagram showing a configuration example of the
計数部８７は、フィルタ部６の出力に含まれるＭＨＰの数を第１の発振期間Ｐ１と第２の発振期間Ｐ２の各々について数える。計数部８７は、論理ゲートからなるカウンタを利用するものでもよいし、ＦＦＴを利用してＭＨＰの周波数（すなわち単位時間あたりのＭＨＰの数）を計測するものでもよい。計数部８７の計数結果は、記憶部８８に格納される。
The
距離比例個数算出部８９は、計数部８７の計数結果から距離比例個数ＮＬを求める。図２０は距離比例個数算出部８９の動作を説明するための図であり、計数部８７の計数結果の時間変化を示す図である。図２０において、Ｎｕは第１の発振期間Ｐ１の計数結果、Ｎｄは第２の発振期間Ｐ２の計数結果である。
The distance proportional
物体１０の距離変化率が半導体レーザ１の発振波長変化率よりも小さく、物体１０が単振動している場合、計数結果Ｎｕの時間変化と計数結果Ｎｄの時間変化は、図２０に示すように互いの位相差が１８０度の正弦波形となる。特許文献１では、このときの物体１０の状態を微小変位状態としている。
When the rate of change of the distance of the
図２５から明らかなように、第１の発振期間Ｐ１と第２の発振期間Ｐ２は交互に訪れるので、計数結果Ｎｕと計数結果Ｎｄも交互に現れる。計数結果Ｎｕ，Ｎｄは、距離比例個数ＮＬと物体１０の変位に比例したＭＨＰの数（以下、変位比例個数とする）ＮＶとの和もしくは差である。距離比例個数ＮＬは、図２０に示した正弦波形の平均値に相当する。また、計数結果ＮｕまたはＮｄと距離比例個数ＮＬとの差が、変位比例個数ＮＶに相当する。 As is clear from FIG. 25, the first oscillation period P1 and the second oscillation period P2 alternate, so that the count result Nu and the count result Nd also appear alternately. The counting results Nu and Nd are the sum or difference of the distance proportional number NL and the number of MHPs proportional to the displacement of the object 10 (hereinafter referred to as the displacement proportional number) NV. The distance proportional number NL corresponds to the average value of the sine waveform shown in FIG. The difference between the counting result Nu or Nd and the distance proportional number NL corresponds to the displacement proportional number NV.
距離比例個数算出部８９は、次式に示すように現時刻ｔの２回前までに計測された偶数回分の計数結果の平均値を算出することにより、距離比例個数ＮＬを算出する。
ＮＬ＝｛Ｎ（ｔ−２）＋Ｎ（ｔ−３）｝／２ ・・・（１４）
The distance proportional
NL = {N (t−2) + N (t−3)} / 2 (14)
式（１４）において、Ｎ（ｔ−２）は現時刻ｔの２回前に計測されたＭＨＰの数Ｎであることを表し、Ｎ（ｔ−３）は現時刻ｔの３回前に計測されたＭＨＰの数Ｎであることを表している。現時刻ｔの計数結果Ｎ（ｔ）が第１の発振期間Ｐ１の計数結果Ｎｕであれば、２回前の計数結果Ｎ（ｔ−２）も第１の発振期間Ｐ１の計数結果Ｎｕであり、３回前の計数結果Ｎ（ｔ−３）は第２の発振期間Ｐ２の計数結果Ｎｄである。反対に、現時刻ｔの計数結果Ｎ（ｔ）が第２の発振期間Ｐ２の計数結果Ｎｄであれば、２回前の計数結果Ｎ（ｔ−２）も第２の発振期間Ｐ２の計数結果Ｎｄであり、３回前の計数結果Ｎ（ｔ−３）は第１の発振期間Ｐ１の計数結果Ｎｕである。 In equation (14), N (t−2) represents the number N of MHPs measured two times before the current time t, and N (t−3) is measured three times before the current time t. This indicates that the number of MHPs is N. If the count result N (t) at the current time t is the count result Nu of the first oscillation period P1, the count result N (t-2) two times before is also the count result Nu of the first oscillation period P1. The count result N (t−3) three times before is the count result Nd in the second oscillation period P2. On the other hand, if the count result N (t) at the current time t is the count result Nd of the second oscillation period P2, the count result N (t-2) two times before is also the count result of the second oscillation period P2. Nd, and the count result N (t−3) three times before is the count result Nu in the first oscillation period P1.
式（１４）は２回分の計数結果で距離比例個数ＮＬを求める場合の式であるが、２ｍ（ｍは正の整数）回の計数結果を用いる場合、距離比例個数算出部８９は、次式のように距離比例個数ＮＬを算出する。
ＮＬ＝｛Ｎ（ｔ−２ｍ−１）＋Ｎ（ｔ−２ｍ）＋・・・＋Ｎ（ｔ−２）｝／２ｍ
・・・（１５）
Expression (14) is an expression when the distance proportional number NL is obtained from the count results for two times. When the count result of 2m (m is a positive integer) is used, the distance proportional
NL = {N (t−2m−1) + N (t−2m) +... + N (t−2)} / 2m
... (15)
ただし、式（１４）、式（１５）は物体１０との距離及び物体１０の速度の計測開始初期に用いる式で、途中からは式（１４）の代わりに後述する符号付き計数結果を用いる次式により距離比例個数ＮＬを算出する。
ＮＬ＝｛Ｎ’（ｔ−２）＋Ｎ’（ｔ−３）｝／２ ・・・（１６）
Ｎ’（ｔ−２）は２回前の計数結果Ｎ（ｔ−２）に後述する符号付与処理を施した後の符号付き計数結果、Ｎ’（ｔ−３）は３回前の計数結果Ｎ（ｔ−３）に符号付与処理を施した後の符号付き計数結果である。式（１６）が使用されるのは、現時刻ｔの計数結果Ｎ（ｔ）がＭＨＰの数の計測開始から７回目の計数結果になったとき以降である。
However, Expressions (14) and (15) are expressions used at the beginning of measurement of the distance to the
NL = {N ′ (t−2) + N ′ (t−3)} / 2 (16)
N ′ (t−2) is a count result with a sign after performing a later-described code addition process on the count result N (t−2) two times before, and N ′ (t−3) is a count result three times before. It is a count result with a code | symbol after performing a code | symbol provision process to N (t-3). Expression (16) is used after the count result N (t) at the current time t becomes the seventh count result from the start of the measurement of the number of MHPs.
また、計測開始初期に式（１５）を用いる場合には、途中からは式（１５）の代わりに符号付き計数結果を用いる次式により距離比例個数ＮＬを算出する。
ＮＬ＝｛Ｎ’（ｔ−２ｍ−１）＋Ｎ’（ｔ−２ｍ）＋・・・＋Ｎ’（ｔ−２）｝／２ｍ
・・・（１７）
式（１７）が使用されるのは、現時刻ｔの計数結果Ｎ（ｔ）がＭＨＰの数の計測開始から（２ｍ×２＋３）回目の計数結果になったとき以降である。
Further, in the case where the equation (15) is used at the beginning of measurement, the distance proportional number NL is calculated from the middle using the following equation using the signed count result instead of the equation (15).
NL = {N ′ (t−2m−1) + N ′ (t−2m) +... + N ′ (t−2)} / 2m
... (17)
Expression (17) is used after the count result N (t) at the current time t becomes the (2m × 2 + 3) th count result from the start of measuring the number of MHPs.
距離比例個数ＮＬは、記憶部８８に格納される。距離比例個数算出部８９は、以上のような距離比例個数ＮＬの算出処理を、計数部８７によってＭＨＰの数が測定される時刻毎（発振期間毎）に行う。
なお、距離比例個数ＮＬの算出に用いる計数結果が十分に多いときは、奇数回分の計数結果で距離比例個数ＮＬを算出してもよい。
The distance proportional number NL is stored in the
When the count results used for calculating the distance proportional number NL are sufficiently large, the distance proportional number NL may be calculated from the odd number of count results.
次に、符号付与部９０は、現時刻ｔの１回前に計測された計数結果Ｎ（ｔ−１）と距離比例個数ＮＬの２倍数２ＮＬとの大小関係に応じて計数部８７の計数結果Ｎ（ｔ）に正負の符号を付与する。符号付与部９０は、具体的には以下の式を実行する。
Ｉｆ Ｎ（ｔ−１）≧２ＮＬ Ｔｈｅｎ Ｎ’（ｔ）→−Ｎ（ｔ） ・・・（１８）
Ｉｆ Ｎ（ｔ−１）＜２ＮＬ Ｔｈｅｎ Ｎ’（ｔ）→＋Ｎ（ｔ） ・・・（１９）
Next, the
If N (t−1) ≧ 2NL Then N ′ (t) → −N (t) (18)
If N (t−1) <2NL Then N ′ (t) → + N (t) (19)
図２１は符号付与部９０の動作を説明するための図であり、計数部８７の計数結果の時間変化を示す図である。物体１０の距離変化率が半導体レーザ１の発振波長変化率よりも大きい場合、計数結果Ｎｕの時間変化は、図２１の１７０で示す負側の波形が正側に折り返された形になり、同様に計数結果Ｎｄの時間変化は、図２１の１７１で示す負側の波形が正側に折り返された形になる。特許文献１では、この計数結果の折り返しが生じている部分における物体１０の状態を変位状態としている。一方、計数結果の折り返しが生じていない部分における物体１０の状態は、上記の微小変位状態である。
FIG. 21 is a diagram for explaining the operation of the
変位状態を含む振動における物体１０の物理量を求めるためには、物体１０が変位状態であるか微小変位状態であるかを判定し、物体１０が変位状態である場合には、正側に折り返されている計数結果が図２１の１７０，１７１で示した軌跡を描くように補正する必要がある。式（１８）、式（１９）は、物体１０が変位状態であるか微小変位状態であるかを判定するための式である。図２１において計数結果の折り返しが生じている変位状態では、Ｎ（ｔ−１）≧２ＮＬが成立する。したがって、式（１８）に示すように、Ｎ（ｔ−１）≧２ＮＬが成立する場合には、計数部８７の現時刻ｔの計数結果Ｎ（ｔ）に負の符号を与えたものを符号付き計数結果Ｎ’（ｔ）とする。
In order to obtain the physical quantity of the
一方、図２０および図２１において計数結果の折り返しが生じていない微小変位状態では、Ｎ（ｔ−１）＜２ＮＬが成立する。したがって、式（１９）に示すように、Ｎ（ｔ−１）＜２ＮＬが成立する場合には、計数部８７の現時刻ｔの計数結果Ｎ（ｔ）に正の符号を与えたものを符号付き計数結果Ｎ’（ｔ）とする。
On the other hand, N (t−1) <2NL is established in the minute displacement state in which the counting result is not folded in FIGS. Therefore, as shown in Expression (19), when N (t−1) <2NL is established, the count result N (t) at the current time t of the
符号付き計数結果Ｎ’（ｔ）は、記憶部８８に格納される。符号付与部９０は、以上のような符号付与処理を、計数部８７によってＭＨＰの数が測定される時刻毎（発振期間毎）に行う。
なお、式（１８）の成立条件をＮ（ｔ−１）＞２ＮＬにして、式（１９）の成立条件をＮ（ｔ−１）≦２ＮＬにしてもよい。
The signed count result N ′ (t) is stored in the
Note that the condition for establishing equation (18) may be N (t−1)> 2NL, and the condition for establishing equation (19) may be N (t−1) ≦ 2NL.
次に、周期算出部９１は、距離比例個数ＮＬからＭＨＰの周期Ｔを次式のように算出する。
Ｔ＝Ｃ／（２×ｆ×ＮＬ） ・・・（２０）
ここで、ｆは三角波の周波数、Ｃは光速である。周期算出部９１は、式（２０）によって算出した周期を基準周期Ｔ０として物理量算出部８３に設定する。
Next, the
T = C / (2 × f × NL) (20)
Here, f is the frequency of the triangular wave, and C is the speed of light. The
記憶部８０、移動平均値算出部８１、周期補正部８２および物理量算出部８３の動作は、第１、第２の実施の形態で説明したとおりである。
本実施の形態によれば、静止させることができない物体１０の場合であっても、基準周期Ｔ０を求めることができる。
The operations of the
According to the present embodiment, the reference period T0 can be obtained even in the case of the
［第５の実施の形態］
次に、本発明の第５の実施の形態について説明する。第１〜第４の実施の形態では、半導体レーザ１を三角波状に発振させていたが、これに限るものではなく、図２２に示すように半導体レーザ１を鋸波状に発振させてもよい。すなわち、本実施の形態では、第１の発振期間Ｐ１または第２の発振期間Ｐ２のいずれか一方が繰り返し存在するように半導体レーザ１を動作させればよい。ただし、第３の実施の形態については、半導体レーザ１を三角波状に発振させる必要がある。
[Fifth Embodiment]
Next, a fifth embodiment of the present invention will be described. In the first to fourth embodiments, the
本実施の形態のように半導体レーザ１を鋸波状に発振させる場合においても、半導体レーザ１の発振波長の変化速度が一定であることが必要である。第１の発振期間Ｐ１または第２の発振期間Ｐ２における動作は、三角波発振の場合と同様である。図２２に示すように第１の発振期間Ｐ１のみが繰り返し存在する鋸波状の発振の場合は第１の発振期間Ｐ１の処理を繰り返し行えばよく、第２の発振期間Ｐ２のみが繰り返し存在する鋸波状の発振の場合は第２の発振期間Ｐ２の処理を繰り返し行えばよいことは言うまでもない。
Even when the
［第６の実施の形態］
次に、本発明の第６の実施の形態について説明する。第１〜第５の実施の形態では、ＭＨＰ波形を含む電気信号を検出する検出手段としてフォトダイオード２と電流−電圧変換増幅部５とを用いたが、フォトダイオードを使用することなくＭＨＰ波形を抽出することも可能である。図２３は本発明の第６の実施の形態に係る物理量センサの構成を示すブロック図であり、図１と同様の構成には同一の符号を付してある。本実施の形態の物理量センサは、第１の実施の形態のフォトダイオード２と電流−電圧変換増幅部５の代わりに、検出手段として電圧検出部１２を用いるものである。
[Sixth Embodiment]
Next, a sixth embodiment of the present invention will be described. In the first to fifth embodiments, the
電圧検出部１２は、半導体レーザ１の端子間電圧、すなわちアノード−カソード間電圧を検出して増幅する。半導体レーザ１から放射されたレーザ光と物体１０からの戻り光とによって干渉が生じるとき、半導体レーザ１の端子間電圧には、ＭＨＰ波形が現れる。したがって、半導体レーザ１の端子間電圧からＭＨＰ波形を抽出することが可能である。
The
フィルタ部６は、電圧検出部１２の出力電圧から搬送波を除去する。物理量センサのその他の構成は、第１の実施の形態と同じである。
こうして、本実施の形態では、フォトダイオードを使用することなくＭＨＰ波形を抽出することができ、第１の実施の形態と比較して物理量センサの部品を削減することができ、物理量センサのコストを低減することができる。また、本実施の形態では、フォトダイオードを使用しないので、外乱光による影響を除去することができる。
The
Thus, in the present embodiment, the MHP waveform can be extracted without using a photodiode, and the physical quantity sensor components can be reduced as compared with the first embodiment, thereby reducing the cost of the physical quantity sensor. Can be reduced. In this embodiment, since no photodiode is used, the influence of disturbance light can be eliminated.
なお、第１〜第６の実施の形態において少なくとも信号抽出部７と演算部８とは、例えばＣＰＵ、メモリおよびインタフェースを備えたコンピュータとこれらのハードウェア資源を制御するプログラムによって実現することができる。ＣＰＵは、メモリに格納されたプログラムに従って第１〜第６の実施の形態で説明した処理を実行する。
In the first to sixth embodiments, at least the signal extraction unit 7 and the
本発明は、半導体レーザから放射したレーザ光と物体からの戻り光との自己結合効果によって生じる干渉の情報から、物体の物理量を計測する技術に適用することができる。 The present invention can be applied to a technique for measuring a physical quantity of an object from information on interference caused by a self-coupling effect between laser light emitted from a semiconductor laser and return light from the object.
１…半導体レーザ、２…フォトダイオード、３…レンズ、４…レーザドライバ、５…電流−電圧変換増幅部、６…フィルタ部、７…信号抽出部、８…演算部、９…表示部、１０…物体、１２…電圧検出部、７０…２値化部、７１…周期測定部、８０，８８…記憶部、８１…移動平均値算出部、８２…周期補正部、８３…物理量算出部、８４，８７…計数部、８５…距離算出部、８６，９１…周期算出部、８９…距離比例個数算出部、９０…符号付与部。
DESCRIPTION OF
Claims (10)
発振波長が連続的に単調増加する第１の発振期間と発振波長が連続的に単調減少する第２の発振期間のうち少なくとも一方が繰り返し存在するように前記半導体レーザを動作させる発振波長変調手段と、
前記半導体レーザから放射されたレーザ光と前記測定対象からの戻り光との自己結合効果によって生じる干渉波形を含む電気信号を検出する検出手段と、
この検出手段の出力信号に含まれる前記干渉波形の周期を干渉波形が入力される度に計測する信号抽出手段と、
この信号抽出手段の計測結果を記憶する記憶手段と、
この記憶手段に記憶された１つの干渉波形の周期を補正対象の干渉波形の周期としたとき、この補正対象の干渉波形の周期に対して、その直前と直後のうち少なくとも一方において計測され前記記憶手段に記憶された干渉波形の周期の移動平均値を算出する移動平均値算出手段と、
前記補正対象の干渉波形の周期と前記移動平均値とを比較することにより前記補正対象の干渉波形の周期を補正し、この補正の結果に従って前記記憶手段に記憶された周期を更新する周期補正手段と、
この周期補正手段で補正された個々の周期の基準周期に対する変化量に基づいて、前記測定対象の変位と速度のうち少なくとも一方を算出する物理量算出手段とを備え、
前記移動平均値算出手段は、前記補正対象の干渉波形の周期の直前に計測され前記記憶手段に記憶された所定数の干渉波形の周期の移動平均値と前記補正対象の干渉波形の周期の直後に計測され前記記憶手段に記憶された所定数の干渉波形の周期の移動平均値とを算出し、
前記周期補正手段は、前記移動平均値算出手段が算出した２つの移動平均値のうち小さい方をＴ１、大きい方をＴ２とし、Ｔｘ＝Ｔ１＋α・（Ｔ２−Ｔ１）としたとき（０≦α≦１）、前記補正対象の干渉波形の周期が前記Ｔｘの所定数ｋ倍未満の場合は（ｋは１未満の正の値）、この補正対象の干渉波形の周期と次に計測された干渉波形の周期とを合わせた周期を補正後の干渉波形の周期とし、周期を合わせた波形を１つの波形とし、前記補正対象の干渉波形の周期が前記Ｔｘの（ｍ−０．５）倍以上で且つ前記Ｔｘの（ｍ＋０．５）倍未満の場合は（ｍは２以上の自然数）、前記補正対象の干渉波形の周期をｍ等分した周期をそれぞれ補正後の周期とし、補正後の周期の波形がｍ個あるものとすることを特徴とする物理量センサ。 A semiconductor laser that emits laser light to the object to be measured;
Oscillation wavelength modulation means for operating the semiconductor laser so that at least one of a first oscillation period in which the oscillation wavelength continuously increases monotonously and a second oscillation period in which the oscillation wavelength continuously decreases monotonously exists ,
Detection means for detecting an electrical signal including an interference waveform generated by a self-coupling effect between the laser light emitted from the semiconductor laser and the return light from the measurement object;
Signal extraction means for measuring the period of the interference waveform included in the output signal of the detection means every time the interference waveform is input;
Storage means for storing the measurement result of the signal extraction means;
When the period of one interference waveform stored in the storage means is the period of the interference waveform to be corrected, the period of the interference waveform to be corrected is measured at least one of immediately before and immediately after the period of the interference waveform to be corrected. A moving average value calculating means for calculating a moving average value of the period of the interference waveform stored in the means;
Period correction means for correcting the period of the interference waveform to be corrected by comparing the period of the interference waveform to be corrected and the moving average value, and updating the period stored in the storage means according to the result of the correction When,
A physical quantity calculating means for calculating at least one of the displacement and the velocity of the measurement object based on the amount of change of the individual period with respect to the reference period corrected by the period correcting means ,
The moving average value calculation means is measured immediately before the period of the correction target interference waveform and stored in the storage means. The moving average value of the predetermined number of interference waveform periods and immediately after the correction target interference waveform period. And a moving average value of a period of a predetermined number of interference waveforms measured and stored in the storage means,
The period correcting means has T1 as the smaller one of the two moving average values calculated by the moving average value calculating means and T2, and Tx = T1 + α · (T2−T1) (0 ≦ α ≦). 1) When the cycle of the interference waveform to be corrected is less than a predetermined number k times the Tx (k is a positive value less than 1), the cycle of the interference waveform to be corrected and the interference waveform measured next And the period of the interference waveform to be corrected is one waveform, and the period of the interference waveform to be corrected is equal to or greater than (m−0.5) times the Tx. If it is less than (m + 0.5) times Tx (m is a natural number of 2 or more), the period obtained by equally dividing the period of the interference waveform to be corrected into m equals the period after correction, and the period after correction A physical quantity sensor characterized in that there are m waveforms .
前記物理量算出手段は、前記干渉波形の周期を計測するサンプリングクロックの周波数と、前記基準周期と、前記半導体レーザの平均波長と、前記周期補正手段で補正された周期の前記基準周期に対する変化量とから、前記測定対象の変位と速度のうち少なくとも一方を算出することを特徴とする物理量センサ。 The physical quantity sensor according to claim 1,
The physical quantity calculation means includes a sampling clock frequency for measuring the period of the interference waveform, the reference period, an average wavelength of the semiconductor laser, and a change amount of the period corrected by the period correction means with respect to the reference period. Then, at least one of the displacement and the velocity of the measurement object is calculated.
前記物理量算出手段は、前記測定対象が静止しているときの前記干渉波形の周期または前記補正の直前に計測された所定数の干渉波形の周期の平均を前記基準周期とすることを特徴とする物理量センサ。 The physical quantity sensor according to claim 1 or 2 ,
The physical quantity calculation means uses the average of the period of the interference waveform when the measurement object is stationary or the period of a predetermined number of interference waveforms measured immediately before the correction as the reference period. Physical quantity sensor.
さらに、前記検出手段の出力信号に含まれる前記干渉波形の数を、前記第１の発振期間と前記第２の発振期間の各々について数える計数手段と、
この計数手段によって干渉波形の数を数える期間における最小発振波長と最大発振波長と前記計数手段の計数結果とから前記測定対象との距離を算出する距離算出手段と、
この距離算出手段が算出した距離から前記干渉波形の周期を求める周期算出手段とを備え、
前記物理量算出手段は、前記周期算出手段が求めた周期を前記基準周期とすることを特徴とする物理量センサ。 The physical quantity sensor according to claim 1 or 2 ,
And counting means for counting the number of the interference waveforms included in the output signal of the detection means for each of the first oscillation period and the second oscillation period;
A distance calculating means for calculating a distance from the object to be measured from a minimum oscillation wavelength and a maximum oscillation wavelength and a counting result of the counting means in a period of counting the number of interference waveforms by the counting means;
A period calculating means for determining the period of the interference waveform from the distance calculated by the distance calculating means,
The physical quantity calculation means, wherein the period obtained by the period calculation means is the reference period.
さらに、前記検出手段の出力信号に含まれる前記干渉波形の数を、前記第１の発振期間と前記第２の発振期間の各々について数える計数手段と、
前記第１の発振期間における干渉波形の数と前記第２の発振期間における干渉波形の数との平均値を算出することにより前記半導体レーザと前記測定対象との平均距離に比例した干渉波形の数である距離比例個数を求める距離比例個数算出手段と、
前記距離比例個数から前記干渉波形の周期を算出する周期算出手段とを備え、
前記物理量算出手段は、前記周期算出手段が求めた周期を前記基準周期とすることを特徴とする物理量センサ。 The physical quantity sensor according to claim 1 or 2 ,
And counting means for counting the number of the interference waveforms included in the output signal of the detection means for each of the first oscillation period and the second oscillation period;
By calculating an average value of the number of interference waveforms in the first oscillation period and the number of interference waveforms in the second oscillation period, the number of interference waveforms proportional to the average distance between the semiconductor laser and the measurement target A distance proportional number calculating means for obtaining a distance proportional number,
A period calculating means for calculating a period of the interference waveform from the distance proportional number,
The physical quantity calculation means, wherein the period obtained by the period calculation means is the reference period.
前記半導体レーザから放射されたレーザ光と測定対象からの戻り光との自己結合効果によって生じる干渉波形を含む電気信号を検出する検出手順と、
この検出手順で得られた出力信号に含まれる前記干渉波形の周期を干渉波形が入力される度に計測する信号抽出手順と、
この信号抽出手順の計測結果を記憶手段に記憶させる記憶手順と、
前記記憶手段に記憶された１つの干渉波形の周期を補正対象の干渉波形の周期としたとき、この補正対象の干渉波形の周期に対して、その直前と直後のうち少なくとも一方において計測され前記記憶手段に記憶された干渉波形の周期の移動平均値を算出する移動平均値算出手順と、
前記補正対象の干渉波形の周期と前記移動平均値とを比較することにより前記補正対象の干渉波形の周期を補正し、この補正の結果に従って前記記憶手段に記憶された周期を更新する周期補正手順と、
この周期補正手順で補正された個々の周期の基準周期に対する変化量に基づいて、前記測定対象の変位と速度のうち少なくとも一方を算出する物理量算出手順とを含み、
前記移動平均値算出手順は、前記補正対象の干渉波形の周期の直前に計測され前記記憶手段に記憶された所定数の干渉波形の周期の移動平均値と前記補正対象の干渉波形の周期の直後に計測され前記記憶手段に記憶された所定数の干渉波形の周期の移動平均値とを算出し、
前記周期補正手順は、前記移動平均値算出手順で算出した２つの移動平均値のうち小さい方をＴ１、大きい方をＴ２とし、Ｔｘ＝Ｔ１＋α・（Ｔ２−Ｔ１）としたとき（０≦α≦１）、前記補正対象の干渉波形の周期が前記Ｔｘの所定数ｋ倍未満の場合は（ｋは１未満の正の値）、この補正対象の干渉波形の周期と次に計測された干渉波形の周期とを合わせた周期を補正後の干渉波形の周期とし、周期を合わせた波形を１つの波形とし、前記補正対象の干渉波形の周期が前記Ｔｘの（ｍ−０．５）倍以上で且つ前記Ｔｘの（ｍ＋０．５）倍未満の場合は（ｍは２以上の自然数）、前記補正対象の干渉波形の周期をｍ等分した周期をそれぞれ補正後の周期とし、補正後の周期の波形がｍ個あるものとすることを特徴とする物理量計測方法。 An oscillation procedure for operating the semiconductor laser so that at least one of the first oscillation period in which the oscillation wavelength continuously increases monotonously and the second oscillation period in which the oscillation wavelength continuously decreases monotonously exists;
A detection procedure for detecting an electrical signal including an interference waveform caused by a self-coupling effect between laser light emitted from the semiconductor laser and return light from a measurement object;
A signal extraction procedure for measuring the period of the interference waveform included in the output signal obtained by the detection procedure every time the interference waveform is input;
A storage procedure for storing the measurement result of the signal extraction procedure in the storage means;
When the period of one interference waveform stored in the storage means is the period of the interference waveform to be corrected, the period of the interference waveform to be corrected is measured at least one of immediately before and immediately after the period of the interference waveform to be corrected. A moving average value calculating procedure for calculating a moving average value of the period of the interference waveform stored in the means;
A cycle correction procedure for correcting the cycle of the interference waveform to be corrected by comparing the cycle of the interference waveform to be corrected and the moving average value, and updating the cycle stored in the storage means according to the result of the correction When,
A physical quantity calculation procedure for calculating at least one of the displacement and the velocity of the measurement target based on the amount of change of the individual period with respect to the reference period corrected by the period correction procedure ,
The moving average value calculation procedure includes a moving average value of a predetermined number of interference waveform periods measured immediately before the period of the interference waveform to be corrected and stored in the storage unit, and immediately after the period of the interference waveform to be corrected. And a moving average value of a period of a predetermined number of interference waveforms measured and stored in the storage means,
In the period correction procedure, the smaller one of the two moving average values calculated in the moving average value calculating procedure is T1, the larger one is T2, and Tx = T1 + α · (T2−T1) (0 ≦ α ≦). 1) When the cycle of the interference waveform to be corrected is less than a predetermined number k times the Tx (k is a positive value less than 1), the cycle of the interference waveform to be corrected and the interference waveform measured next And the period of the interference waveform to be corrected is one waveform, and the period of the interference waveform to be corrected is equal to or greater than (m−0.5) times the Tx. If it is less than (m + 0.5) times Tx (m is a natural number of 2 or more), the period obtained by equally dividing the period of the interference waveform to be corrected into m equals the period after correction, and the period after correction A physical quantity measuring method characterized in that there are m waveforms .
前記物理量算出手順は、前記干渉波形の周期を計測するサンプリングクロックの周波数と、前記基準周期と、前記半導体レーザの平均波長と、前記周期補正手順で補正された周期の前記基準周期に対する変化量とから、前記測定対象の変位と速度のうち少なくとも一方を算出することを特徴とする物理量計測方法。 The physical quantity measuring method according to claim 6 ,
The physical quantity calculation procedure includes a sampling clock frequency for measuring the period of the interference waveform, the reference period, an average wavelength of the semiconductor laser, and a change amount of the period corrected by the period correction procedure with respect to the reference period. Then, at least one of the displacement and the velocity of the measurement object is calculated.
前記物理量算出手順は、前記測定対象が静止しているときの前記干渉波形の周期または前記補正の直前に計測された所定数の干渉波形の周期の平均を前記基準周期とすることを特徴とする物理量計測方法。 The physical quantity measuring method according to claim 6 or 7 ,
In the physical quantity calculation procedure, the cycle of the interference waveform when the measurement target is stationary or an average of cycles of a predetermined number of interference waveforms measured immediately before the correction is used as the reference cycle. Physical quantity measurement method.
さらに、前記検出手順で得られた出力信号に含まれる前記干渉波形の数を、前記第１の発振期間と前記第２の発振期間の各々について数える計数手順と、
この計数手順によって干渉波形の数を数える期間における最小発振波長と最大発振波長と前記計数手順の計数結果とから前記測定対象との距離を算出する距離算出手順と、
この距離算出手順で算出した距離から前記干渉波形の周期を求める周期算出手順とを備え、
前記物理量算出手順は、前記周期算出手順で求めた周期を前記基準周期とすることを特徴とする物理量計測方法。 The physical quantity measuring method according to claim 6 or 7 ,
A counting procedure for counting the number of the interference waveforms included in the output signal obtained by the detection procedure for each of the first oscillation period and the second oscillation period;
A distance calculation procedure for calculating the distance to the measurement object from the minimum oscillation wavelength and the maximum oscillation wavelength in the period of counting the number of interference waveforms by this counting procedure and the counting result of the counting procedure;
A cycle calculation procedure for determining the cycle of the interference waveform from the distance calculated by the distance calculation procedure,
In the physical quantity calculation procedure, the period obtained in the period calculation procedure is set as the reference period.
さらに、前記検出手順で得られた出力信号に含まれる前記干渉波形の数を、前記第１の発振期間と前記第２の発振期間の各々について数える計数手順と、
前記第１の発振期間における干渉波形の数と前記第２の発振期間における干渉波形の数との平均値を算出することにより前記半導体レーザと前記測定対象との平均距離に比例した干渉波形の数である距離比例個数を求める距離比例個数算出手順と、
前記距離比例個数から前記干渉波形の周期を算出する周期算出手順とを備え、
前記物理量算出手順は、前記周期算出手順で求めた周期を前記基準周期とすることを特徴とする物理量計測方法。 The physical quantity measuring method according to claim 6 or 7 ,
A counting procedure for counting the number of the interference waveforms included in the output signal obtained by the detection procedure for each of the first oscillation period and the second oscillation period;
By calculating an average value of the number of interference waveforms in the first oscillation period and the number of interference waveforms in the second oscillation period, the number of interference waveforms proportional to the average distance between the semiconductor laser and the measurement target A distance proportional number calculation procedure for obtaining a distance proportional number,
A cycle calculation procedure for calculating the cycle of the interference waveform from the distance proportional number,
In the physical quantity calculation procedure, the period obtained in the period calculation procedure is set as the reference period.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2009273572A JP5541774B2 (en) | 2008-12-08 | 2009-12-01 | Physical quantity sensor and physical quantity measuring method |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2008312091 | 2008-12-08 | ||
| JP2008312091 | 2008-12-08 | ||
| JP2009273572A JP5541774B2 (en) | 2008-12-08 | 2009-12-01 | Physical quantity sensor and physical quantity measuring method |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2010160138A JP2010160138A (en) | 2010-07-22 |
| JP5541774B2 true JP5541774B2 (en) | 2014-07-09 |
Family
ID=42577387
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2009273572A Expired - Fee Related JP5541774B2 (en) | 2008-12-08 | 2009-12-01 | Physical quantity sensor and physical quantity measuring method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP5541774B2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101598344B1 (en) * | 2012-02-29 | 2016-02-29 | 한화탈레스 주식회사 | Fmcw radar system usign adaptive scheduler |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5324299A (en) * | 1976-08-18 | 1978-03-06 | Nec Corp | Fm-cw radar |
| JPS6056220A (en) * | 1983-09-07 | 1985-04-01 | Toyota Motor Corp | Output signal processor for karman's vortex sensor |
| JP2572249B2 (en) * | 1988-01-13 | 1997-01-16 | 日本航空電子工業株式会社 | Laser doppler velocimeter |
| JPH02266230A (en) * | 1989-04-07 | 1990-10-31 | Yamatake Honeywell Co Ltd | Frequency measuring instrument |
| JP3344847B2 (en) * | 1994-11-04 | 2002-11-18 | 東京瓦斯株式会社 | Fluidic gas meter |
| JPH10153654A (en) * | 1996-11-20 | 1998-06-09 | Furukawa Electric Co Ltd:The | Radar device |
| JP3671805B2 (en) * | 2000-03-13 | 2005-07-13 | スズキ株式会社 | Vibration measuring apparatus and method |
| JP5172077B2 (en) * | 2005-05-06 | 2013-03-27 | アズビル株式会社 | Distance / speed meter and distance / speed measurement method |
| JP5530068B2 (en) * | 2007-04-03 | 2014-06-25 | アズビル株式会社 | Distance / speed meter and distance / speed measurement method |
-
2009
- 2009-12-01 JP JP2009273572A patent/JP5541774B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2010160138A (en) | 2010-07-22 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20120921 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130808 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
| A521 | Written amendment |
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|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20131126 |
|
| A521 | Written amendment |
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|
| A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
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|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |