JP5540300B2 - 光シャッターの性能評価用分析装置 - Google Patents
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Description
2 光源
3 光シャッター
4 光電変換素子
5 オシロスコープ
6 光源
7 レーザービーム
8 分光器
9 解析装置
Claims (5)
- 光量を可変的に制御するシャッター装置の性能を評価するための光シャッターの性能評価用分析装置であって、
時間的に周波数が変化する光を発生する光発生部と、
前記光発生部で発生した光の周波数スペクトル分布を計測する周波数スペクトル分析装置と、
を備え、
前記周波数スペクトル分析装置は、前記シャッター装置が開閉動作せず開いている期間に前記シャッター装置を通過した光の第1の周波数スペクトル分布を計測すると共に前記シャッター装置が開閉動作している間を含む期間に前記シャッター装置を通過した光の第2の周波数スペクトル分布を計測する第1の計測、並びに、前記シャッター装置が開閉動作している間を含む期間において、前記シャッター装置を通過する前の光の第1の周波数スペクトル分布を計測すると共に前記シャッター装置を通過した後の光の第2の周波数スペクトル分布を計測する第2の計測のいずれかを実行し、
前記第1の周波数スペクトル分布と前記第2の周波数スペクトル分布とに基づいて、前記シャッター装置のシャッター速度または立ち上がり性能を評価することを特徴とする光シャッターの性能評価用分析装置。 - 前記光発生部として、チャープパルスレーザーを用いたことを特徴とする請求項1記載の光シャッターの性能評価用分析装置。
- 前記第1の周波数スペクトル分布と前記第2の周波数スペクトル分布との強度比を演算し、該強度比を周波数から時間の関数に変換し、時間の関数に変換された前記強度比に基づいて、前記シャッター装置のシャッター速度または立ち上がり性能を評価することを特徴とする請求項1又は2記載の光シャッターの性能評価用分析装置。
- 前記シャッター装置が閉じている所定時間における、前記時間の関数に変換された強度比に基づいて、前記シャッター装置の遮光性能を評価することを特徴とする請求項3記載の光シャッターの性能評価用分析装置。
- 前記時間の関数に変換された強度比の時間に関する増加又は減少の割合に基づいて、前記シャッター装置のシャッター速度を評価することを特徴とする請求項3又は4記載の光シャッターの性能評価用分析装置。
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