JP5504503B2 - Pattern generation method, pattern generation apparatus, and laser processing apparatus - Google Patents
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Description
本発明は、マイクロミラーデバイスの複数のマイクロミラーを個別に傾動して所定のパターンを生成する方法に関し、詳しくは、光を少なくとも2回以上、繰り返し放射して同一のパターンを継続して生成する際にも、パターンの生成を安定化させようとするパターン生成方法及びパターン生成装置並びにレーザ加工装置に係るものである。 The present invention relates to a method of generating a predetermined pattern by individually tilting a plurality of micromirrors of a micromirror device, and more specifically, continuously generating the same pattern by repeatedly emitting light at least twice. In particular, the present invention relates to a pattern generation method, a pattern generation apparatus, and a laser processing apparatus that attempt to stabilize the generation of patterns.
従来のこの種のパターン生成方法は、レーザ光を発生するレーザ発振器から、複数のマイクロミラーがマトリクス状に配列されたマイクロミラーデバイスに向けて照射し、被加工物の加工パターンに対応させて上記各マイクロミラーを個別に傾動し、該マイクロミラーで反射されるレーザ光の断面形状を上記加工パターンに対応した形状を有する変調光に変換するものとなっていた(例えば、特許文献1参照)。 In this conventional pattern generation method, a laser oscillator that generates laser light irradiates a micromirror device in which a plurality of micromirrors are arranged in a matrix, and corresponds to the processing pattern of the workpiece. Each micromirror is tilted individually, and the cross-sectional shape of the laser light reflected by the micromirror is converted into modulated light having a shape corresponding to the processing pattern (see, for example, Patent Document 1).
この場合、一般に、図3に示すように、マイクロミラーデバイス10の各マイクロミラー12の裏面側には、各マイクロミラー12の傾動情報を記憶する例えばCMOSトランジスター等の記憶素子13が設けられている。 In this case, generally, as shown in FIG. 3, a storage element 13 such as a CMOS transistor for storing tilt information of each micromirror 12 is provided on the back side of each micromirror 12 of the micromirror device 10. .
しかし、このような従来のパターン生成方法においては、マイクロミラー12を傾動して所定のパターンを生成した際に、図3に示すように、レーザ光L1の一部が隣接するマイクロミラー12の隙間から内部に侵入して記憶素子13に照射し、フォト電流を発生させて記憶素子13に記憶されたマイクロミラー12の傾動情報を消失させてしまうことがあった。したがって、レーザ光を少なくとも2回以上、繰り返し照射して所定形状のパターンを所定深さで加工しようとする場合、上記フォト電流の発生により記憶素子13に記憶されたマイクロミラー12の傾動情報が消失して、マイクロミラー12の傾動状態が維持できないという問題があった。それ故、所定のパターンを所定深さでレーザ加工することができなかった。 However, in such a conventional pattern generation method, when the micromirror 12 is tilted to generate a predetermined pattern, as shown in FIG. In some cases, the storage element 13 is penetrated into the storage element 13 to irradiate the storage element 13, and a photocurrent is generated to erase the tilt information of the micromirror 12 stored in the storage element 13. Therefore, when the laser beam is repeatedly irradiated at least twice to process a pattern with a predetermined shape at a predetermined depth, the tilt information of the micromirror 12 stored in the storage element 13 is lost due to the generation of the photocurrent. As a result, the tilted state of the micromirror 12 cannot be maintained. Therefore, the predetermined pattern cannot be laser processed at a predetermined depth.
そこで、本発明は、このような問題点に対処し、光を少なくとも2回以上、繰り返し放射して同一のパターンを継続して生成する際にも、パターンの生成を安定化させようとするパターン生成方法及びパターン生成装置並びにレーザ加工装置を提供することを目的とする。 Therefore, the present invention addresses such problems, and a pattern that stabilizes pattern generation even when light is repeatedly emitted at least twice and the same pattern is continuously generated. An object of the present invention is to provide a generation method, a pattern generation apparatus, and a laser processing apparatus.
上記目的を達成するために、第1の発明によるパターン生成方法は、転送されるパターン情報に基づいて個別に傾動する複数のマイクロミラーをマトリクス状に配列して有すると共に、該各マイクロミラーの裏面側に夫々対応して前記パターン情報に対応する前記各マイクロミラーの傾動情報を記憶する記憶素子を設けたマイクロミラーデバイスに光源から光を放射して、前記マイクロミラーデバイスにおける反射光により光の照射対象物上に所定のパターンを生成するパターン生成方法であって、前記マイクロミラーデバイスに前記光源から光を間欠的に少なくとも2回以上、繰り返し放射して同一のパターンを継続して生成する際に、前記光の放射回数が予め設定された所定回数に達するまでは、前記光源から1ショットの光が放射された後、次の1ショットの光の放射が行われるまでの間の、隣接する前記マイクロミラーの隙間から侵入した前記光の漏れ光により、前記記憶素子が記憶する前記傾動情報が消失して、前記マイクロミラーを支持する軸の弾性復元力により前記マイクロミラーが回動を開始する前のタイミングで直前に転送されたパターン情報と同一のパターン情報を前記マイクロミラーデバイスに転送するものである。 In order to achieve the above object, a pattern generation method according to a first invention has a plurality of micromirrors that are individually tilted based on transferred pattern information and arranged in a matrix, and the back surface of each micromirror. Light is emitted from a light source to a micromirror device provided with a storage element for storing tilt information of each micromirror corresponding to the pattern information corresponding to each side, and light is irradiated by reflected light from the micromirror device A pattern generation method for generating a predetermined pattern on an object, wherein when the same pattern is continuously generated by repeatedly emitting light from the light source to the micromirror device at least twice or more repeatedly Until the number of times the light is emitted reaches a predetermined number of times, one shot of light is emitted from the light source. After, the until emission of the next shot of light is performed by the leakage light of the light entering from the gap of the micromirrors adjacent said tilt information is lost to the memory element stores, the Pattern information identical to the pattern information transferred immediately before the micro mirror starts to rotate is transferred to the micro mirror device at the timing before the micro mirror starts to rotate by the elastic restoring force of the shaft supporting the micro mirror.
このような構成により、複数のマイクロミラーをマトリクス状に配列して有するマイクロミラーデバイスに光源から光を間欠的に少なくとも2回以上、繰り返し放射して同一のパターンを継続して生成する際に、光の放射回数が予め設定された所定回数に達するまでは、光源から1ショットの光が放射された後、次の1ショットの光の放射が行われるまでの間の、隣接する前記マイクロミラーの隙間から侵入した前記光の漏れ光により、前記記憶素子が記憶する前記傾動情報が消失して、前記マイクロミラーを支持する軸の弾性復元力により前記マイクロミラーが回動を開始する前のタイミングで直前に転送されたパターン情報と同一のパターン情報をマイクロミラーデバイスに転送して各マイクロミラーの裏面側に夫々対応して設けた記憶素子に上記パターン情報に対応した各マイクロミラーの傾動情報を記憶させ、該傾動情報に基づいて複数のマイクロミラーを個別に傾動し、マイクロミラーデバイスにおける反射光により光の照射対象物上に所定のパターンを生成する。 With such a configuration, when the same pattern is continuously generated by intermittently emitting light from a light source at least twice or more to a micromirror device having a plurality of micromirrors arranged in a matrix, Until the number of times of light emission reaches a predetermined number of times set in advance, after one shot of light is emitted from the light source, until the next one shot of light is emitted , the adjacent micromirrors The tilt information stored in the storage element is lost due to the light leakage of the light that has entered from the gap, and the micromirror starts rotating due to the elastic restoring force of the shaft that supports the micromirror. Memory provided corresponding to the back side of each micromirror by transferring the same pattern information as the pattern information transferred immediately before to the micromirror device The tilt information of each micromirror corresponding to the pattern information is stored in the child, and a plurality of micromirrors are individually tilted based on the tilt information, and the light is reflected on the object to be irradiated by the reflected light from the micromirror device. Generate a pattern.
また、第2の発明によるパターン生成装置は、光を間欠的に放射する光源と、マトリクス状に配列した複数のマイクロミラーの裏面側に夫々対応して設けられた記憶素子に前記各マイクロミラーの傾動情報を記憶し、該傾動情報に基づいて前記各マイクロミラーを個別に傾動し、前記光源から入射する光を反射して光の照射対象物上に所定のパターンを生成させるマイクロミラーデバイスと、前記傾動情報に対応したパターン情報を前記マイクロミラーデバイスに転送して前記記憶素子に前記傾動情報を記憶させる制御手段と、を備えたパターン生成装置であって、前記制御手段は、前記マイクロミラーデバイスに前記光源から光を間欠的に少なくとも2回以上、繰り返し放射させて同一のパターンを継続して生成させる際に、前記光の放射回数が予め設定された所定回数に達するまでは、前記光源から1ショットの光が放射された後、次の1ショットの光の放射が行われるまでの間の、隣接する前記マイクロミラーの隙間から侵入した前記光の漏れ光により、前記記憶素子が記憶する前記傾動情報が消失して、前記マイクロミラーを支持する軸の弾性復元力により前記マイクロミラーが回動を開始する前のタイミングで直前に転送されたパターン情報と同一のパターン情報を転送して前記記憶素子に前記傾動情報を記憶させるものである。 According to a second aspect of the present invention, there is provided a pattern generating apparatus comprising: a light source that intermittently emits light; and a storage element provided corresponding to each of the back surfaces of a plurality of micromirrors arranged in a matrix. A micromirror device that stores tilt information, tilts each micromirror individually based on the tilt information, reflects light incident from the light source, and generates a predetermined pattern on a light irradiation target; Control means for transferring pattern information corresponding to the tilt information to the micromirror device and storing the tilt information in the storage element, the control means comprising the micromirror device When the same pattern is continuously generated by repeatedly emitting light from the light source intermittently at least twice or more, the light emission Until a few reaches a predetermined number of times set in advance, after one shot of light emitted from the light source, the until emission of the next shot of light takes place, from the gap of the micromirrors adjacent The tilt information stored in the storage element disappears due to the leaked light of the light that has entered, and immediately before the micromirror starts to rotate due to the elastic restoring force of the shaft that supports the micromirror. The same pattern information as the transferred pattern information is transferred, and the tilt information is stored in the storage element.
このような構成により、複数のマイクロミラーをマトリクス状に配列して有するマイクロミラーデバイスに光源から光を間欠的に少なくとも2回以上、繰り返し放射させて同一のパターンを継続して生成させる際に、制御手段で光の放射回数が予め設定された所定回数に達するまでは、光源から1ショットの光が放射された後、次の1ショットの光の放射が行われるまでの間の、隣接する前記マイクロミラーの隙間から侵入した前記光の漏れ光により、前記記憶素子が記憶する前記傾動情報が消失して、前記マイクロミラーを支持する軸の弾性復元力により前記マイクロミラーが回動を開始する前のタイミングで直前に転送されたパターン情報と同一のパターン情報をマイクロミラーデバイスに転送して各マイクロミラーの裏面側に夫々対応して設けた記憶素子に上記パターン情報に対応した各マイクロミラーの傾動情報を記憶させ、該傾動情報に基づいて複数のマイクロミラーを個別に傾動し、マイクロミラーデバイスにおける反射光により光の照射対象物上に所定のパターンを生成する。 With such a configuration, when a micromirror device having a plurality of micromirrors arranged in a matrix form is continuously radiated light from a light source at least twice or more repeatedly to continuously generate the same pattern, until it reaches a predetermined number of times the radiation preset times of light control means, after one shot of light emitted from the light source, the until emission of the next shot of light takes place, adjacent the Before the micromirror starts to rotate due to the elastic restoring force of the shaft that supports the micromirror, due to the leakage light of the light that has entered through the gap between the micromirrors, the tilt information stored in the storage element is lost. corresponding respectively to transfer the same pattern information and transferred pattern information immediately before the micro mirror device on the back side of each of the micromirrors in the timing The tilt information of each micromirror corresponding to the pattern information is stored in the storage element provided, the plurality of micromirrors are tilted individually based on the tilt information, and the light irradiation object is reflected by the reflected light in the micromirror device. A predetermined pattern is generated on the top.
さらに、前記光源は、前記パターン情報の転送が正しく行われたことを示す応答信号が前記マイクロミラーデバイスから前記制御手段に返送されるタイミングで1ショットの光を放射するものである。これにより、パターン情報の転送が正しく行われたことを示す応答信号がマイクロミラーデバイスから制御手段に返送されたタイミングで光源から1ショットの光を放射する。 Furthermore, the light source emits one shot of light at a timing when a response signal indicating that the transfer of the pattern information is correctly performed is returned from the micromirror device to the control unit. Thus, one shot of light is emitted from the light source at the timing when the response signal indicating that the pattern information has been correctly transferred is returned from the micromirror device to the control means.
さらにまた、前記光源は、前記光の照射対象物を加工可能な高エネルギーのレーザ光を放射するレーザ光源である。これにより、レーザ光源から高エネルギーのレーザ光を放射して光の照射対象物を加工する。 Furthermore, the light source is a laser light source that emits a high-energy laser beam capable of processing the object to be irradiated with the light. As a result, a high-energy laser beam is emitted from the laser light source to process the light irradiation target.
そして、前記光源は、前記光の照射対象物に塗布された感光性樹脂を感光させる紫外線を放射するものである。これにより、光源から紫外線を放射して光の照射対象物に塗布された感光性樹脂を感光させる。 And the said light source radiates | emits the ultraviolet-ray which makes photosensitive resin apply | coated to the said irradiation object of light. Thereby, the photosensitive resin applied to the object to be irradiated with light is emitted by radiating ultraviolet rays from the light source.
また、第3の発明のレーザ加工装置は、レーザ光を間欠的に放射するレーザ光源と、マトリクス状に配列した複数のマイクロミラーの裏面側に夫々対応して設けられた記憶素子に前記各マイクロミラーの傾動情報を記憶し、該傾動情報に基づいて前記各マイクロミラーを個別に傾動し、前記レーザ光源から入射するレーザ光を反射して光の照射対象物上に所定のパターンを生成させるマイクロミラーデバイスと、前記傾動情報に対応したパターン情報を前記マイクロミラーデバイスに転送し前記記憶素子に前記傾動情報を記憶させる制御手段と、を備えて、前記マイクロミラーデバイスで前記光照射対象物側に反射されたレーザ光により前記光照射対象物をレーザ加工するレーザ加工装置であって、前記制御手段は、前記マイクロミラーデバイスに前記レーザ光源からレーザ光を間欠的に少なくとも2回以上、繰り返し放射させて同一のパターンを継続して生成させる際に、前記レーザ光の放射回数が予め設定された所定回数に達するまでは、前記レーザ光源から1ショットのレーザ光が放射された後、次の1ショットのレーザ光の放射が行われるまでの間の、隣接する前記マイクロミラーの隙間から侵入した前記光の漏れ光により、前記記憶素子が記憶する前記傾動情報が消失して、前記マイクロミラーを支持する軸の弾性復元力により前記マイクロミラーが回動を開始する前のタイミングで直前に転送されたパターン情報と同一のパターン情報を転送して前記記憶素子に前記傾動情報を記憶させるものである。 According to a third aspect of the present invention, there is provided a laser processing apparatus comprising: a laser light source that intermittently emits laser light; and a storage element provided corresponding to each of the back surfaces of a plurality of micromirrors arranged in a matrix. A micro that stores tilt information of a mirror, tilts each micro mirror individually based on the tilt information, reflects a laser beam incident from the laser light source, and generates a predetermined pattern on a light irradiation object. A mirror device, and control means for transferring pattern information corresponding to the tilt information to the micromirror device and storing the tilt information in the storage element, and on the light irradiation object side of the micromirror device. A laser processing apparatus for laser processing the object to be irradiated with reflected laser light, wherein the control means includes the micromirror device. When the same pattern is continuously generated by repeatedly emitting laser light from the laser light source intermittently at least twice, until the number of times the laser light is emitted reaches a preset number of times. The leakage light of the light that has entered from the gap between the adjacent micromirrors until the next one shot of laser light is emitted after the one shot of laser light is emitted from the laser light source , The same pattern information transferred immediately before the micro mirror starts rotating due to the elastic restoring force of the shaft supporting the micro mirror when the tilt information stored in the storage element disappears Information is transferred and the tilt information is stored in the storage element.
このような構成により、複数のマイクロミラーをマトリクス状に配列して有するマイクロミラーデバイスにレーザ光源からレーザ光を間欠的に少なくとも2回以上、繰り返し照射させて同一のパターンを継続して生成させる際に、制御手段でレーザ光の放射回数が予め設定された所定回数に達するまでは、レーザ光源から1ショットのレーザ光が放射された後、次の1ショットのレーザ光の放射が行われるまでの間の、隣接する前記マイクロミラーの隙間から侵入した前記光の漏れ光により、前記記憶素子が記憶する前記傾動情報が消失して、前記マイクロミラーを支持する軸の弾性復元力により前記マイクロミラーが回動を開始する前のタイミングで直前に転送されたパターン情報と同一のパターン情報をマイクロミラーデバイスに転送してマイクロミラーデバイスの複数のマイクロミラーの裏面側に夫々対応して設けられた記憶素子に上記パターン情報に対応した各マイクロミラーの傾動情報を記憶させ、該傾動情報に基づいて各マイクロミラーを個別に傾動し、マイクロミラーデバイスにおける反射光により光照射対象物上に所定のパターンを生成させ、このレーザ光により光照射対象物をレーザ加工する。 With such a configuration, when a micromirror device having a plurality of micromirrors arranged in a matrix is repeatedly irradiated with laser light from a laser light source at least twice or more to continuously generate the same pattern. In addition, until the number of times the laser light is emitted by the control unit reaches a predetermined number of times set in advance, after one shot of laser light is emitted from the laser light source, the next one shot of laser light is emitted. The tilt information stored in the storage element disappears due to the light leakage light that has entered through the gap between the adjacent micromirrors, and the micromirror is caused by the elastic restoring force of the shaft that supports the micromirror. the same pattern information and the pattern information transferred immediately before the previous timing of starting the rotation is transferred to the micro-mirror device The tilt information of each micromirror corresponding to the pattern information is stored in the memory elements provided corresponding to the back surfaces of the plurality of micromirrors of the micromirror device, and each micromirror is individually stored based on the tilt information. It tilts, a predetermined pattern is generated on the light irradiation object by the reflected light from the micromirror device, and the light irradiation object is laser processed by this laser light.
請求項1又は2に係る発明によれば、マイクロミラーデバイスに光を複数回繰り返し放射して同一のパターンを継続して生成する際にも、パターンの生成を安定化させることができる。 According to the first or second aspect of the present invention, pattern generation can be stabilized even when the same pattern is continuously generated by repeatedly emitting light to the micromirror device a plurality of times.
また、請求項3に係る発明によれば、マイクロミラーが傾動中に光源から光が放射されるのを防止することができる。したがって、マイクロミラーデバイスによるパターンの生成をより一層安定化させることができる。 Further, the invention according to claim 3, may be micro mirrors from the light source during tilting is prevented from being emitted. Therefore, the pattern generation by the micromirror device can be further stabilized.
さらに、請求項4に係る発明によれば、光の照射対象物をマイクロミラーデバイスで生成されたパターン形状にレーザ加工することができる。 Furthermore , according to the invention which concerns on Claim 4 , the laser irradiation object can be processed into the pattern shape produced | generated by the micromirror device.
さらにまた、請求項5に係る発明によれば、光の照射対象物に塗布された感光性樹脂をマイクロミラーデバイスで生成されたパターン形状に露光することができる。 Furthermore, according to the invention according to claim 5, it is possible to expose the photosensitive resin applied to the irradiation object light in a pattern shape that is generated by the micro mirror device.
そして、請求項6に係る発明によれば、マイクロミラーデバイスにレーザ光を複数回繰り返し放射させて同一のパターンを継続して生成する際にも、パターンの生成を安定化させてレーザ加工精度を向上することができる。 In the invention according to claim 6, also in generating continuously the same pattern of laser light is a plurality of times repeatedly radiating the micromirror device, the laser machining accuracy by stabilizing the generation of the pattern Can be improved.
以下、本発明の実施形態を添付図面に基づいて詳細に説明する。図1は本発明によるレーザ加工装置の実施形態を示す正面図である。このレーザ加工装置は、マイクロミラーデバイスの複数のマイクロミラーを個別に傾動して加工パターンに対応したパターンを生成してレーザ加工するもので、ステージ1と、パターン生成装置2と、対物レンズ3と、結像レンズ4と、撮像手段5と、照明光源6と、変位手段7と、からなる。 Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a front view showing an embodiment of a laser processing apparatus according to the present invention. This laser processing apparatus tilts a plurality of micromirrors of a micromirror device individually to generate a pattern corresponding to the processing pattern and performs laser processing. The stage 1, the pattern generation apparatus 2, the objective lens 3, The imaging lens 4, the imaging means 5, the illumination light source 6, and the displacement means 7.
上記ステージ1は、上面に光の照射対象物としての被加工物8を載置して水平面内をX軸、Y軸方向に移動させるものであり、図示省略のモータ及びギア等を組み合わせて構成された駆動手段によって移動するようになっている。なお、Y軸方向は、図1において奥行き方向である。 The stage 1 is configured to place a workpiece 8 as a light irradiation target on the upper surface and move it in the horizontal plane in the X-axis and Y-axis directions, and is configured by combining a motor, a gear, etc., not shown. It is moved by the driving means. The Y-axis direction is the depth direction in FIG.
上記ステージ1の上方には、パターン生成装置2が設けられている。このパターン生成装置2は、マイクロミラーデバイスの複数のマイクロミラーを個別に傾動して所定のパターンを生成するものであり、レーザ光源9と、マイクロミラーデバイス10と、制御手段11とを備えている。 A pattern generation device 2 is provided above the stage 1. The pattern generation device 2 generates a predetermined pattern by individually tilting a plurality of micromirrors of a micromirror device, and includes a laser light source 9, a micromirror device 10, and a control unit 11. .
ここで、上記レーザ光源9は、レーザ光L1を放射し、被加工物8に照射して該被加工物8を加工するもので、例えば532nm又は355nmの波長のレーザ光L1を放射するパルスレーザであり、レーザ光L1の放射時間の制御がQスイッチにより行われるものである。 Here, the laser light source 9 emits a laser beam L1, irradiates the workpiece 8, and processes the workpiece 8. For example, a pulse laser that emits a laser beam L1 having a wavelength of 532 nm or 355 nm. The control of the emission time of the laser light L1 is performed by the Q switch.
また、上記レーザ光源9から放射されるレーザ光L1の放射方向前方には、マイクロミラーデバイス10が設けられている。このマイクロミラーデバイス10は、図2に示すように、マトリクス状に配列した複数のマイクロミラー12を備えており、図3に示すように、各マイクロミラー12の裏面側に夫々対応して記憶素子13を設けて該記憶素子13に各マイクロミラー12の傾動情報を記憶し、該傾動情報に基づいて前記各マイクロミラー12を個別に傾動し、前記レーザ光源9から入射するレーザ光L1を反射してレーザ光L1の断面形状を加工パターンに対応した形状に整形するもので、この整形されたレーザ光L1によって被加工物8上に所定のパターンを生成するようになっている。 A micromirror device 10 is provided in front of the laser light L1 emitted from the laser light source 9 in the emission direction. As shown in FIG. 2, the micromirror device 10 includes a plurality of micromirrors 12 arranged in a matrix. As shown in FIG. 3, the micromirror device 10 has a memory element corresponding to the back side of each micromirror 12. 13 is provided to store tilt information of each micromirror 12 in the storage element 13, and each micromirror 12 is tilted individually based on the tilt information, and the laser light L1 incident from the laser light source 9 is reflected. Thus, the cross-sectional shape of the laser beam L1 is shaped into a shape corresponding to the machining pattern, and a predetermined pattern is generated on the workpiece 8 by the shaped laser beam L1.
なお、図3において、符号14はシリコン基板であり、符号15はマイクロミラー12を回動可能に支持する軸である。また、図4(a)に示すように、マイクロミラー12がレーザ光源9から入射するレーザ光L1を被加工物8側に反射させる傾動状態を「ON駆動」といい、同図(b)に実線で示すように、被加工物8側とは異なる方向に反射させる傾動状態を「OFF駆動」という。 In FIG. 3, reference numeral 14 denotes a silicon substrate, and reference numeral 15 denotes a shaft that rotatably supports the micromirror 12. Further, as shown in FIG. 4A, the tilting state in which the micromirror 12 reflects the laser light L1 incident from the laser light source 9 to the workpiece 8 side is called “ON drive”, and FIG. As shown by the solid line, the tilting state in which the light is reflected in a direction different from the workpiece 8 side is referred to as “OFF drive”.
そして、上記レーザ光源9と、マイクロミラーデバイス10に結線されて制御手段11が設けられている。この制御手段11は、マイクロミラーデバイス10により所定のパターンを生成させるための傾動情報をマイクロミラーデバイス10の記憶素子13に転送するもので、例えばパーソナルコンピュータ(以下「制御用PC」という)である。又は、装置に組み込まれた制御回路であってもよい。 A control means 11 is provided connected to the laser light source 9 and the micromirror device 10. The control means 11 transfers tilt information for generating a predetermined pattern by the micromirror device 10 to the storage element 13 of the micromirror device 10, and is, for example, a personal computer (hereinafter referred to as “control PC”). . Alternatively, it may be a control circuit incorporated in the apparatus.
上記パターン生成装置2とステージ1とを結ぶ光軸上にて、ステージ1に載置された被加工物8に対向して対物レンズ3が設けられている。この対物レンズ3は、マイクロミラーデバイス10により光束断面形状が整形されたレーザ光L1を被加工物8上に集光するものであり、ステージ1の面に平行に移動可能とされたレンズホルダー16に着脱可能に保持された倍率の異なる複数種の対物レンズ3a〜3dからなっている。 An objective lens 3 is provided on the optical axis connecting the pattern generation device 2 and the stage 1 so as to face the workpiece 8 placed on the stage 1. The objective lens 3 condenses the laser light L1 whose beam cross-sectional shape is shaped by the micromirror device 10 onto the workpiece 8, and a lens holder 16 that is movable parallel to the surface of the stage 1. It consists of a plurality of types of objective lenses 3a to 3d having different magnifications that are detachably held.
上記パターン生成装置2と対物レンズ3との間の光路上には、結像レンズ4が設けられている。この結像レンズ4は、対物レンズ3と組み合わされて被加工物8上にマイクロミラーデバイス10のマイクロミラー12の像を結像させるものである。 An imaging lens 4 is provided on the optical path between the pattern generation device 2 and the objective lens 3. The imaging lens 4 is combined with the objective lens 3 to form an image of the micromirror 12 of the micromirror device 10 on the workpiece 8.
上記結像レンズ4からパターン生成装置2に向かう光路がビームスプリッタ16によって分岐された光路上には、撮像手段5が設けられている。この撮像手段5は、複数の受光素子をマトリクス状に備えて被加工物8上の二次元画像を撮像するもので、例えばCCDカメラやCMOSカメラ等である。 An imaging unit 5 is provided on the optical path where the optical path from the imaging lens 4 toward the pattern generation device 2 is branched by the beam splitter 16. The image pickup means 5 is provided with a plurality of light receiving elements in a matrix and picks up a two-dimensional image on the workpiece 8 and is, for example, a CCD camera or a CMOS camera.
上記対物レンズ3から結像レンズ4に向かう光路がビームスプリッタ17によって分岐された光路上には、照明光源6が設けられている。この照明光源6は、被加工物8上に照明光L2を照射して撮像手段5による被加工物8表面の撮像を可能にさせるものであり、ハロゲンランプ等である。 An illumination light source 6 is provided on the optical path where the optical path from the objective lens 3 toward the imaging lens 4 is branched by the beam splitter 17. The illumination light source 6 irradiates the workpiece 8 with illumination light L2 to enable the imaging means 5 to image the surface of the workpiece 8 and is a halogen lamp or the like.
上記パターン生成装置2、対物レンズ3、結像レンズ4、撮像手段5、及び照明光源6を含む光学系の本体部を上下動可能に変位手段7が設けられている。この変位手段7は、光学系本体部を上下動させて撮像手段5により撮像された画像が鮮明となるようにフォーカス調整するためのもので、例えばモータとギア等を組み合わせて構成されている。 Displacement means 7 is provided so that the main body of the optical system including the pattern generating device 2, the objective lens 3, the imaging lens 4, the imaging means 5, and the illumination light source 6 can be moved up and down. This displacing means 7 is for adjusting the focus so that the image picked up by the image pickup means 5 becomes clear by moving the optical system main body up and down. For example, the displacement means 7 is configured by combining a motor and a gear.
なお、上記光学系において、パターン生成装置2のマイクロミラーデバイス10を構成する複数のマイクロミラー12面の位置及び撮像手段5の受光面の位置は、それぞれ対物レンズ3の結像位置に対して共役の関係となるようにされている。また、図1において、符号18はレンズホルダー16をX軸方向に移動させるためのモータ、符号19はモータ18に連結されて回転しレンズホルダー16をX軸方向に移動させるボールネジ、符号20はレンズホルダー16をY軸方向に移動させるためのモータ、符号21a〜21dは全反射ミラー、及び符号22は撮像手段5による撮像領域内を均一に照明するフィールドレンズである。 In the above optical system, the positions of the plurality of micromirrors 12 constituting the micromirror device 10 of the pattern generation device 2 and the position of the light receiving surface of the imaging means 5 are respectively conjugate with the imaging position of the objective lens 3. To be in a relationship. In FIG. 1, reference numeral 18 denotes a motor for moving the lens holder 16 in the X-axis direction, reference numeral 19 denotes a ball screw connected to the motor 18 and rotated to move the lens holder 16 in the X-axis direction, and reference numeral 20 denotes a lens. A motor for moving the holder 16 in the Y-axis direction, reference numerals 21 a to 21 d are total reflection mirrors, and reference numeral 22 is a field lens that uniformly illuminates the imaging region of the imaging means 5.
次に、このように構成されたレーザ加工装置の動作及びパターン生成装置2によるパターン生成方法について図5及び図6を参照して説明する。なお、以下の説明においては、レーザ光L1を少なくとも2回以上、繰り返して放射することにより、一つのパターンを加工する場合について述べる。
先ず、ステップS1においては、パターン生成装置2で所定のパターンを生成するための初期設定がなされる。即ち、制御用PCから成る制御手段11において、加工パターンに対応したパターンのビットマップデータがCADデータに基づいて生成されて図示省略のメモリに保存される。また、レーザ光L1の照射回数、レーザ光L1の照射時間t1及びレーザ光源9のパワー等が設定されて上記メモリに保存される。
Next, the operation of the laser processing apparatus configured as described above and the pattern generation method by the pattern generation apparatus 2 will be described with reference to FIGS. In the following description, a case where one pattern is processed by repeatedly emitting the laser beam L1 at least twice will be described.
First, in step S1, an initial setting for generating a predetermined pattern by the pattern generation device 2 is performed. That is, in the control means 11 composed of the control PC, the bitmap data of the pattern corresponding to the processing pattern is generated based on the CAD data and stored in a memory (not shown). Further, the number of times of irradiation with the laser light L1, the irradiation time t1 of the laser light L1, the power of the laser light source 9, and the like are set and stored in the memory.
なお、上記ビットマップデータは、制御手段11に保存されてもよく、マイクロミラーデバイス10に備えた図示省略のメモリに保存されてもよい。また、レーザ照射回数の代わりに加工深さを設定してもよい。この場合、上記レーザ光L1の照射回数は、制御手段11に予め保存された照射回数とレーザ光源9のパワーと加工深さとの関係を示すテーブルを参照して求めることができる。そして、上記レーザ光L1の照射時間t1は、隣接するマイクロミラー12の隙間から侵入したレーザ光L1の漏れ光L1′(図3参照)により、マイクロミラー12の記憶素子13に記憶された傾動情報が消失して、マイクロミラー12を回動可能に支持する軸15の弾性変形復元力により、傾いたマイクロミラー12が水平状態に戻るべく回動を開始するまでの時間t2(図6(b)参照)以内(t1≦t2)に設定される。 The bitmap data may be stored in the control unit 11 or may be stored in a memory (not shown) provided in the micromirror device 10. Further, the processing depth may be set instead of the number of times of laser irradiation. In this case, the number of irradiation times of the laser beam L1 can be obtained by referring to a table showing the relationship between the number of irradiation times stored in advance in the control means 11, the power of the laser light source 9, and the processing depth. The irradiation time t1 of the laser beam L1 is tilt information stored in the storage element 13 of the micromirror 12 due to the leakage light L1 ′ (see FIG. 3) of the laser beam L1 that has entered from the gap between the adjacent micromirrors 12. Disappears and the time t2 until the tilted micromirror 12 starts rotating to return to the horizontal state by the elastic deformation restoring force of the shaft 15 that rotatably supports the micromirror 12 (FIG. 6B). Reference)) (t1 ≦ t2).
パターン生成装置2の初期設定が終了すると、レーザ加工装置の照明光源6が点灯し、撮像手段5がON駆動すると共に、光学系本体部が図示省略の移動手段によって被加工物8に対してX軸、Y軸方向に相対的に移動されて所定位置に位置付けられる。この移動は、例えば制御用PCに予め保存された加工位置データに基づいて行われる。このとき、対物レンズ3は倍率の低い対物レンズ3a〜3cのいずれか一つが選択されている。 When the initial setting of the pattern generating apparatus 2 is completed, the illumination light source 6 of the laser processing apparatus is turned on, the imaging means 5 is turned ON, and the optical system main body is moved to the workpiece 8 by the moving means (not shown). It is relatively moved in the axial and Y-axis directions and positioned at a predetermined position. This movement is performed based on machining position data stored in advance in the control PC, for example. At this time, any one of the objective lenses 3a to 3c having a low magnification is selected as the objective lens 3.
次に、レーザ加工装置の変位手段7が起動して、光学系本体部が上下動され、撮像手段5による被加工物8表面の撮像画像が鮮明となるようにオートフォーカス調整がなされる。そして、ステージ1がさらにX軸、Y軸方向に移動されて加工目標が対物レンズ3の中心に位置付けられる。その後、レンズホルダー16がモータ18によってX軸方向に移動されて対物レンズ3が高倍率の対物レンズ3dに交換される。また、必要に応じてレンズホルダー16がモータ20によってY軸方向に移動され対物レンズ3dの光軸と光学系本体部の光軸合わせがなされる。そして、上述と同様にして、再度オートフォーカス調整が実施される。 Next, the displacement means 7 of the laser processing apparatus is activated, the optical system main body is moved up and down, and autofocus adjustment is performed so that the image picked up on the surface of the workpiece 8 by the image pickup means 5 becomes clear. Then, the stage 1 is further moved in the X-axis and Y-axis directions so that the processing target is positioned at the center of the objective lens 3. Thereafter, the lens holder 16 is moved in the X-axis direction by the motor 18 so that the objective lens 3 is replaced with a high-magnification objective lens 3d. If necessary, the lens holder 16 is moved in the Y-axis direction by the motor 20 to align the optical axis of the objective lens 3d with the optical axis of the optical system main body. Then, the autofocus adjustment is performed again in the same manner as described above.
ステップS2においては、制御手段11からマイクロミラーデバイス10に加工パターンのビットマップデータが転送される(図6(a)参照)。この場合、マイクロミラーデバイス10のメモリに上記ビットマップデータが保存されているときには、制御手段11からパターン転送指令をマイクロミラーデバイス10に送り、上記メモリから上記ビットマップデータをマイクロミラーデバイス10の記憶素子13に転送してもよい。 In step S2, the bitmap data of the processing pattern is transferred from the control means 11 to the micromirror device 10 (see FIG. 6A). In this case, when the bitmap data is stored in the memory of the micromirror device 10, a pattern transfer command is sent from the control means 11 to the micromirror device 10, and the bitmap data is stored in the micromirror device 10 from the memory. It may be transferred to the element 13.
マイクロミラーデバイス10にビットマップデータが転送されると、上記記憶素子13にマイクロミラー12の傾動情報が記憶され、各マイクロミラー12は、この傾動情報に基づいて傾動を開始する(図6(b)参照)。 When the bitmap data is transferred to the micromirror device 10, tilt information of the micromirror 12 is stored in the storage element 13, and each micromirror 12 starts tilting based on this tilt information (FIG. 6B). )reference).
ステップS3においては、制御手段11は、マイクロミラー12が完全に傾動して上記ビットマップデータが正しく転送されたことを示す応答信号をマイクロミラーデバイス10から受信する(図6(c)参照)。 In step S3, the control means 11 receives from the micromirror device 10 a response signal indicating that the micromirror 12 has completely tilted and the bitmap data has been correctly transferred (see FIG. 6C).
ステップS4においては、マイクロミラーデバイス10からの応答信号の受信をトリガーとして制御手段11からレーザ光源9にレーザ光L1の放射指令が送信され、QスイッチのONタイムが制御されてレーザ光源9からレーザ光L1が時間t1だけ放射される(図6(d)参照)。これにより、マイクロミラーデバイス10の複数のマイクロミラー12でレーザ光L1が被加工物8側に反射されて被加工物8上に所定形状のパターンが生成される。その結果、上記レーザ光L1により1回目の加工が行われる。 In step S4, the reception of the response signal from the micromirror device 10 is used as a trigger to transmit a laser beam L1 emission command from the control means 11 to the laser light source 9, and the ON time of the Q switch is controlled to control the laser light source 9 from the laser. Light L1 is emitted only for time t1 (see FIG. 6D). As a result, the laser beam L1 is reflected toward the workpiece 8 by the plurality of micromirrors 12 of the micromirror device 10, and a pattern having a predetermined shape is generated on the workpiece 8. As a result, the first processing is performed by the laser beam L1.
ステップS5においては、レーザ光L1の放射回数がカウントされ、制御手段11のメモリに予め設定して保存された放射回数と比較され、両者が一致したか否かが判定される。ここで、上記カウント数と保存された放射回数とが不一致の場合には、“NO”判定となってステップS2に戻り、レーザ光L1の放射が終了すると直ぐに、前回と同じパターンが制御手段11からマイクロミラーデバイス10に転送される(図6(a)参照)。そして、上記カウント数と保存された放射回数とが一致して“YES”判定となるまでステップS2〜ステップS5が繰り返し実行され、一つのパターンが少なくとも2回以上のレーザ照射により加工される。 In step S5, the number of times of emission of the laser light L1 is counted and compared with the number of times of emission set in advance in the memory of the control means 11, and it is determined whether or not they match. Here, if the count number does not match the stored number of times of emission, the determination is “NO”, the process returns to step S2, and immediately after the emission of the laser beam L1, the same pattern as the previous time is displayed. To the micromirror device 10 (see FIG. 6A). Then, steps S2 to S5 are repeatedly executed until the count number matches the stored number of times of radiation and the determination is “YES”, and one pattern is processed by at least two laser irradiations.
なお、ステップS4において、レーザ光L1がマイクロミラーデバイス10に照射されると、図3に示すように、そのレーザ光L1の一部は、隣接するマイクロミラー12の隙間から内部に侵入し、マイクロミラー12の裏面に設けられた記憶素子13に照射し、フォト電流を発生させる。このフォト電流の発生により、記憶素子13に記憶されたマイクロミラー12の傾動情報は消失し、マイクロミラー12は、それを支持する軸15の弾性変形復元力により水平状態に戻るべく回動を開始しようとする(図6(b)の破線を参照)。しかし、前述したように、t1≦t2となるようにレーザ光L1の放射時間t1が予め設定されているため、マイクロミラー12が水平状態に戻るべく回動を開始する前に、再度同じパターンの転送が行われて記憶素子13に傾動情報が記憶されることになる。したがって、マイクロミラー12の傾動状態は、そのまま維持されることになる(同図(b)参照)。 In step S4, when the laser beam L1 is irradiated to the micromirror device 10, as shown in FIG. 3, a part of the laser beam L1 enters the inside through the gap between the adjacent micromirrors 12, and the micromirror device 10 Irradiate the memory element 13 provided on the back surface of the mirror 12 to generate a photocurrent. Due to the generation of this photocurrent, the tilt information of the micromirror 12 stored in the storage element 13 disappears, and the micromirror 12 starts to return to the horizontal state by the elastic deformation restoring force of the shaft 15 that supports it. Try to do (see the dashed line in FIG. 6B). However, as described above, since the emission time t1 of the laser beam L1 is set in advance so that t1 ≦ t2, the same pattern is again formed before the micromirror 12 starts rotating to return to the horizontal state. The transfer is performed and the tilt information is stored in the storage element 13. Therefore, the tilted state of the micromirror 12 is maintained as it is (see FIG. 5B).
このようにして、パターン生成装置2において、レーザ光L1を少なくとも2回以上、繰り返し放射して同一のパターンを継続して生成する際にも、パターンの生成を安定して行うことが可能となる。 In this manner, the pattern generation apparatus 2 can stably generate the pattern even when the laser beam L1 is repeatedly emitted at least twice and the same pattern is continuously generated. .
以上の説明においては、パターン生成装置2をレーザ加工装置に適用した場合について述べたが、本発明はこれに限定されず、パターン生成装置2を露光装置に適用してもよい。この場合、パターン生成装置2の光源は、紫外線を間欠的に放射するレーザ光源9又はフラッシュランプである。又は、光源は常時点灯させて、スイッチング素子により切り換えて光の放射を間欠的に行ってもよい。 In the above description, the case where the pattern generation apparatus 2 is applied to a laser processing apparatus has been described. However, the present invention is not limited to this, and the pattern generation apparatus 2 may be applied to an exposure apparatus. In this case, the light source of the pattern generation apparatus 2 is a laser light source 9 or a flash lamp that emits ultraviolet rays intermittently. Alternatively, the light source may be always turned on and light may be emitted intermittently by switching with the switching element.
2…パターン生成装置
8…被加工物(光の照射対象物)
9…レーザ光源
10…マイクロミラーデバイス
11…制御手段
12…マイクロミラー
13…記憶素子
15…軸
L1…レーザ光
L1′…漏れ光
2 ... Pattern generator 8 ... Workpiece (light irradiation object)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 9 ... Laser light source 10 ... Micromirror device 11 ... Control means 12 ... Micromirror 13 ... Memory | storage element 15 ... Axis L1 ... Laser beam L1 '... Leakage light
Claims (6)
前記マイクロミラーデバイスに前記光源から光を間欠的に少なくとも2回以上、繰り返し放射して同一のパターンを継続して生成する際に、前記光の放射回数が予め設定された所定回数に達するまでは、前記光源から1ショットの光が放射された後、次の1ショットの光の放射が行われるまでの間の、隣接する前記マイクロミラーの隙間から侵入した前記光の漏れ光により、前記記憶素子が記憶する前記傾動情報が消失して、前記マイクロミラーを支持する軸の弾性復元力により前記マイクロミラーが回動を開始する前のタイミングで直前に転送されたパターン情報と同一のパターン情報を前記マイクロミラーデバイスに転送することを特徴とするパターン生成方法。 A plurality of micromirrors individually tilted based on the transferred pattern information are arranged in a matrix, and the micromirrors corresponding to the pattern information are respectively corresponding to the back side of each micromirror. A pattern generating method for emitting light from a light source to a micromirror device provided with a storage element for storing information, and generating a predetermined pattern on a light irradiation object by reflected light in the micromirror device,
When the same pattern is continuously generated by repeatedly emitting light from the light source to the micromirror device at least twice or more, until the number of times the light is emitted reaches a preset number of times. The memory element is caused by the leakage light of the light that has entered through the gap between the adjacent micromirrors until the next one-shot light is emitted after the one-shot light is emitted from the light source. The tilt information stored in is lost, and the same pattern information as the pattern information transferred immediately before the micromirror starts to rotate due to the elastic restoring force of the shaft supporting the micromirror A pattern generation method comprising transferring to a micromirror device.
前記制御手段は、前記マイクロミラーデバイスに前記光源から光を間欠的に少なくとも2回以上、繰り返し放射させて同一のパターンを継続して生成させる際に、前記光の放射回数が予め設定された所定回数に達するまでは、前記光源から1ショットの光が放射された後、次の1ショットの光の放射が行われるまでの間の、隣接する前記マイクロミラーの隙間から侵入した前記光の漏れ光により、前記記憶素子が記憶する前記傾動情報が消失して、前記マイクロミラーを支持する軸の弾性復元力により前記マイクロミラーが回動を開始する前のタイミングで直前に転送されたパターン情報と同一のパターン情報を転送して前記記憶素子に前記傾動情報を記憶させることを特徴とするパターン生成装置。 Tilt information of each micromirror is stored in a light source that intermittently emits light and a storage element provided corresponding to each of the back surfaces of a plurality of micromirrors arranged in a matrix, and based on the tilt information A micromirror device that tilts each micromirror individually and reflects light incident from the light source to generate a predetermined pattern on a light irradiation target, and pattern information corresponding to the tilt information is the micromirror A pattern generation apparatus comprising: a control unit that transfers the device to the storage element and stores the tilt information in the storage element;
When the control means causes the micromirror device to emit light from the light source intermittently at least twice or more and continuously generate the same pattern, the number of times of emission of the light is predetermined. Until the number of times reaches, the light leakage light that has entered from the gap between the adjacent micromirrors until the next one-shot light is emitted after the one-shot light is emitted from the light source. Thus, the tilt information stored in the storage element disappears, and the same pattern information transferred immediately before the micromirror starts to rotate due to the elastic restoring force of the shaft supporting the micromirror. The pattern generation apparatus is configured to transfer the pattern information and store the tilt information in the storage element.
前記制御手段は、前記マイクロミラーデバイスに前記レーザ光源からレーザ光を間欠的に少なくとも2回以上、繰り返し放射させて同一のパターンを継続して生成させる際に、前記レーザ光の放射回数が予め設定された所定回数に達するまでは、前記レーザ光源から1ショットのレーザ光が放射された後、次の1ショットのレーザ光の放射が行われるまでの間の、隣接する前記マイクロミラーの隙間から侵入した前記光の漏れ光により、前記記憶素子が記憶する前記傾動情報が消失して、前記マイクロミラーを支持する軸の弾性復元力により前記マイクロミラーが回動を開始する前のタイミングで直前に転送されたパターン情報と同一のパターン情報を転送して前記記憶素子に前記傾動情報を記憶させることを特徴とするレーザ加工装置。 The tilt information of each micromirror is stored in a laser light source that intermittently emits laser light and a storage element provided corresponding to each of the back surfaces of a plurality of micromirrors arranged in a matrix. A micromirror device that individually tilts each micromirror and reflects a laser beam incident from the laser light source to generate a predetermined pattern on a light irradiation target; and pattern information corresponding to the tilt information Control means for transferring the light irradiation object to the micromirror device and storing the tilt information in the storage element, and the light irradiation object is reflected by the laser light reflected to the light irradiation object side by the micromirror device. A laser processing apparatus for laser processing,
The control means presets the number of times the laser light is emitted when the micromirror device continuously generates the same pattern by repeatedly emitting laser light from the laser light source at least twice or more. until it reaches a predetermined number of times that is, after the laser beam shot from the laser light source is emitted, the until emission of the next shot of the laser beam is performed, entering from the gap of the micromirrors adjacent The tilt information stored in the storage element disappears due to the leaked light, and is transferred immediately before the micromirror starts to rotate due to the elastic restoring force of the shaft supporting the micromirror. The laser processing apparatus is characterized in that the same pattern information as the obtained pattern information is transferred and the tilt information is stored in the storage element.
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